TWM272275U - Burn-in socket assembly - Google Patents
Burn-in socket assembly Download PDFInfo
- Publication number
- TWM272275U TWM272275U TW093216459U TW93216459U TWM272275U TW M272275 U TWM272275 U TW M272275U TW 093216459 U TW093216459 U TW 093216459U TW 93216459 U TW93216459 U TW 93216459U TW M272275 U TWM272275 U TW M272275U
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- base body
- base
- scope
- patent application
- cover
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0458—Details related to environmental aspects, e.g. temperature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)
Description
M272275 四、創作說明(1) 【新型所屬之技術領域】 本創作係有關一種雷 。 路模組電性連接至測試J f 15,尤,、是指-種將積體電 【先前技術】 '電路板的電連接器。 一些電子封努轉 元件之i式安裝^由若:積體電路模組,f以小型化電子 形成連續完整電路之功^主彳 路元件構成之電路中,以 的安全可靠性,在其被;”f積體電路模組在使用時 路模組進行長㈣的高都要進行測試。對積體電 模組儘快失效,從而將:2作,可使存在缺陷之積體電路 掉。-種測試電連接哭積體電路模組筛選並淘汰 性連接至測試電路板:料=積體電路模組’並將其電 有資料輸出之溫度傳感哭安運作測試。通常’帶 模組溫度,資料輸出穿晋凌積體電路模組附近以測試 傳感器輸出之信號來控制模組 =搔牷制為了根據 溫度而損壞積體電路模組。美=此可以避免^過鬲之 示了一種現有測試電連接器。、/ 第,172, 049號就揭 通常,測試電連接器包括基座, 座端子電性連接之積體電路模 ^於基座上並與基 :蓋體,☆其中部設有大體為:形座=部 衣于蓋體第一窗體中之積體電路模組:體政熱片安 安裝于蓋體上給模組加熱。傳感器安加:襄置 的上方測試模組溫度。傳感器與控ς 體上加熱裝置 給控制器,控制器能由傳感器傳‘ :n妾並傳輸信號 J之4 5虎控制模組溫度, M272275
因此避免因過高溫度破壞積體電路模組。 然而,上述之測試連接器,傳感器安裝於遠離積體電 路模組之蓋體上。由於傳感器測試之溫度可能高於積體電 路模組之實際溫度,因此積體電路模組在這個溫度操作下 會低於所需之溫度。因此,有必要設計一種新的電連接哭 以解決上述問題。 °° 【内容】 本創作之目的主要在於提供一種電連接器,其可以& 制積體電路模組在一所需之測試溫度上。 "" 一種電連接器,包括:基體及收容於基體内的若干導 電端子,基體於其中部設有凹陷區以收容積體電路模組, 基體至少一個側邊上設有容置部,且容置部設有收容孔, 傳感器置於收容孔中並與積體電路模組鄰近。 與現有技術相比,本創作之優點在於:當測試電連接 器和積體電路模組進行局溫測试以促進有缺陷之積體電路 模組儘快失效時,傳感器可以置於電連接器容置部之收容 孔中,其鄰近積體電路模組並與控制器相連接以顯示信號 ,控制器可以由傳感器之線性信號來控制整個模組之溫度 ,因此可避免因過高溫度而破壞積體電路模組。 【實施方式】 請參閱第一圖,電連接器1包括絕緣基座1 〇,若干設 有臂部之導電端子(未圖示),滑移部20,一對推動件3〇 及蓋體40。 基座10安裝於測試電路板(未圖示)上,基座10大體
第7頁 M272275 四、創作說明(3) 是矩形構造,其四個拐角處分別向上延伸有定位柱丨丨,鄰 近定位柱11設有第一孔1 3 6。四個螺旋式彈簧1 6組裝於基 座10上,其一端部置於第一孔136中。大體為矩形之第一 凹陷區12設於基座1〇中部,矩形第一窗體120設于第一凹 陷區12中部。基座1〇設有若干通道121,通道121圍繞第一 窗體排列。端子收容於通道1 2 1中。第一凹陷區的每一側 邊部設有一對延長的槽1 2 2。 基座10的兩側邊13設有第一緊固部130及第二緊固部 1 3 3,第一緊固部和第二緊固部之間設有凹陷部1 3 4。第一 緊固部130置於基座1〇側邊13的前端,包括第一u形部131 及與第一U形部分開設置之第二U形部132。一阻擋塊135設 於第一U形部131之頂部。第二緊固部133是一個门形結構 ,置於基座1 0側邊之後端。凹陷部1 3 4通常是矩形,且靠 近第一緊固部130設置。 基座1 0之前邊1 4和後邊1 5中部位置均設有臺階部1 4 0 及容置部1 4 1。臺階1 4 0大體是矩形設置並延伸入第一凹陷 區12。設置於基座1〇前邊14之容置部141從前邊14延伸進 第一凹陷區12。設置於基座10後邊15之容置部141從後邊 1 5向外延伸。每一容置部1 4 1設有本體部1 42和一對從本體 部1 4 2向上延伸並分開設置之頂部1 4 3。頂部1 4 3設有貫穿 其中部之切口 1 44,用以加強頂部1 43之撓性。容置部丨4 1 設有一圓形通孔145用以收容傳感器50。 滑移部2 0大體為矩形,規格上小於基座1 〇第一凹陷區 1 2。第二凹陷區2 1設於滑移部2 0中心區。第二窗體2 2設于
M272275 四、創作說明(4) 第二凹陷區21中部。第二凹陷區21設有若干通道2 2〇與基 座1 0之通道1 2 1對應。滑移部2 〇之每一側邊均分開設有一 對凸起23 ’凸起23底端向下延伸有尾部230,尾部230 —端 設有卡勾。滑移部2 0前邊之中部延伸有舌部2 4,一對分開 设置之延伸部2 4 0從舌部2 4之兩相對邊向上延伸。一對直 立部2 5分別設於滑移部2 0後邊的兩相對端。每一直立部2 5 牙通延伸設有容室2 5 0。一對開口 2 6設於舌部2 4中部和滑 移部件20後邊15之中部,開口 26與基座1〇之台階14〇相匹 酉己σ 推動件30包括一對連接元件31和一支撐元件32。支撐 凡件32包括一支撐部320和從支撐部320豎直延伸之突伸部 321。支撐部320的兩邊設有一對第一鑽孔322。螺栓33將 突伸部320和兩連接元件31之端部樞接於一起。軸34設於 連接π件31之端部,其設有一較短部34〇和一較長部341。 針部35設於另一連接元件31之對應端,針部35包括較短部 3 5 〇及較長部3 5 1。 立蓋體40是框體構形,其四個拐角處向下延伸有四個勾 j41。勾部41與基座1〇之定位部丨丨相匹配。蓋體4〇之四個 另角處與勾部41鄰接設有四個第二孔(未標示)。蓋體側邊 二中部分開設有-對第二鑽孔42,與推動件3〇之第孔 ^ 2對應。 請參閱第二圖,組裝時,推動件30首先組裝於基座1〇 。帶有針部35之連接元件31安裝於第一緊固元件13〇, 5時其端部置於基座10之第一u形部131與第二u形部132之
第9頁 M272275 四、創作說明(5) 間之空間中,針部3 5的較長部3 5 1與第一 U形部1 3 1匹配, 較短部350與第二U形部132匹配。帶有軸34之連接元件31 安裝於第一緊固元件133上,軸34之較長部341在基座10之 第一凹陷區12之上部延伸。 請參閱第三圖,第二步,滑移部2〇安裝於基座1〇上, 突伸部23之尾端23 0收容於基座相應之槽122中,緊靠於基 座10之底部,軸34之較長部341相應收容於滑移部2〇直立 部2 5之谷室2 5 0中。基座1 〇之台階1 4 〇收容於滑移部2 〇之開 σ 2 6 中。 請參閱第四圖,蓋體4〇通過四個螺釘及螺母(未圖示) 牙通弟一鑽孔322和第二鑽孔42安裝於推動件3〇上,彈簧 16之f 一端收容于蓋體40之第二孔中。彈簧16完全處於、自 由狀態。最後,傳感器5〇插入基座1〇之容置部141之圓形 通孔1 4 5中。 使用時’積體電路模組(未圖示)可組裝於滑移部件 2 〇上’積體電路模組之導腳插入滑移部2 〇之通道2 2 〇中, 凸起23、延伸部240及滑移部20之直立部件25可定位積體 電路模組。下推蓋體4 〇驅動支撐元件3 2下移使彈簧壓縮, 因f接兀件3 1之端部由針部3 5固定於基座丨〇上,連接元件 3^隨軸34向後移動,軸34之較長部341驅動滑移部2〇,使 t子f部變形,蓋體40之勾部41與基座1〇之定位柱η相卡 口。s勾部41與定位柱η脫離卡合時,彈簧16被釋放,蓋 體向上運動處於彈簧16被壓縮前之初始位置,連接元件 31與軸3 4 —起回移,滑移部2 〇向前移動到初始位置,端子
第10頁 四、創作說明(6) 臂部偏轉至初始位置,以穩 積體電路模組之導腳。在此^ ,連接設於傳感器附近之 電路模組可以高溫操作一段护j、’树試電連接器〗和積體 路模組儘快失效。操作時,二=力:速存在缺陷之積體電 相連接,並傳輸信號給控制器:ί制?控制器(未圖示) 之信號來控制整個模組溫度,:為可以由傳感器輸出 度而破壞積體電路模組。洌 ° =避免由於過高之溫 個新的積體電路模、组(未圖示)可以組J程可被重復,-上進行測試。 、、破於測試電連接器 例,舉凡熟悉本 等效修飾或變化 惟,以上所述僅為本創作之較佳實施 創作技藝之人士援依本發明之精神所作之 ’皆應涵蓋在以下申請專利範圍内。 M272275 圖式簡單說明 【圖式簡皁說明】 第一圖係本創作電連接器的立體分解圖。 第二圖係本創作電連接器基座和推動件的立體組配圖。 第三圖係本創作電連接器基座、推動件及滑移部的立體組 配圖。 第四圖係本創作電連接器的組配圖。 【元件符號說明】 電 連 接 器 1 基 體 10 定 位 柱 11 第 一 凹 陷 (a 12 第 一 窗 體 120 通 道 121 , 220 槽 122 側 邊 13 第 一 緊 固部 130 第 一 U 形 部 131 第 二 U形部 132 第 二 緊 固 部 133 凹 陷 部 134 阻 擋 塊 135 第 一 孔 136 前 邊 14 台 階 140 容 置 部 141 本 體 部 142 頂 部 143 切 D 144 通 孔 145 後 邊 15 彈 簧 16 滑 移 部 20 第 二 凹 陷 區 21 第 二 窗 體 22 凸 起 23 尾 部 230 舌 部 24 延 伸 部 240 直 立 部 25 容 置 部 250 開 口 26
第12頁
M272275 圖式簡單說明 推 動 件 30 連 接 元 件 31 支 撐 元件 32 支 撐 部 320 突 伸 部 321 第 一 鑽 孔 322 螺 栓 33 軸 34 較 短 部 340 , 350 較 長 部 341 , 351 針 部 35 蓋 體 40 勾 部 41 第 二 鑽 孔 42 傳 感 器 50
第13頁
Claims (1)
- M272275 五、申請專利範圍 J · 一種電連接哭 · 文强时,其包括· 基體’其中部設有凹陷區,以收容積體電路模組; 導電端子,係收容於基0内;其中 ^ 孔,傳感器置於收容孔中。 2.如申請專利範圍第1項所述之電連接器,其 基體至少一個側邊上設赛容置部,且容置部設有收容 孔,偟忒\ rb , 中基體兩相 對側邊均設有容置部。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之電連接器,其中容置部包 括本體部及一對從本體部向上延伸且分開設置之頂部 4 ·如申請專利範圍第3項所述之電連接器,其中頂部貫通 其中部設有切口。 5 ·如申請專利範圍第4項所述之電連接器,其中容置部在 一侧邊向凹陷區延伸,另一側邊向外延伸。 6 ·如申請專利範圍第1項所述之電連接器,其進一步包括 安裝於基體上並能在其上運動之滑移部,一對組裝於 基體上的推動件及組裝於推動件上並可上下運動之蓋 體。 7 · —種測試連接器模組,其包括·· 基體’係用以收容積體電路模組; 導電端子,係收容於基體内;其中 測試連接器模組進一步包括安裝於基體上並能在其 運動之滑移部,一對組裝於基體上的推動彳$及組壯 於推動件上並可上下運動之蓋體,基體與蓋體間2第14頁 M272275 五、申請專利範圍 少設有一個彈忸_ 傳感器並與積^ ^ 土-側邊設有容置部以收容 、償體電路模組鄰近。 8. 如申請專利範圍第?項所述 置部設有本體部及—對從本益杈組,其中谷 之頂部,且容置部設有收容孔向上延伸且分開設置 9. 如申請專利範圍第8項所述 部貫通其中部設有切口。 ^ ^接為权組,其中頂 1 0 ·如申請專利範圍第9項所述之測1 j ^ 性元件一端# ^貝所江 < 劂忒連接器模組,其中彈 收各於基體内,另一端與蓋體底部相抵接 一種測試連接器模組, 基體,係用以收容積 滑移部,係組裝於基 向移動; 蓋體,係組裝於基體 平方向正交的垂直 ;其中, 基體與蓋體之間至少 蓋體在上述垂直方 蓋體間至少設有一 對樞接於基體與蓋 運動時,下端部推 11 其包括: 體電路模組; 體上,並能相對於基體沿水平方 上,並能相對於基體沿與上述水 方向上從一位置移動到另一位置 設有一個彈性元件以驅動基體與 向上彼此間的相互運動;基體與 個推動件,其上端部與下端部相 體上,在盖體沿上述垂直方向上 動滑移部在上述水平方向上運動第15頁
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/826,214 US6965246B2 (en) | 2004-04-16 | 2004-04-16 | Burn-in socket assembly |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWM272275U true TWM272275U (en) | 2005-08-01 |
Family
ID=35095667
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW093216459U TWM272275U (en) | 2004-04-16 | 2004-10-15 | Burn-in socket assembly |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6965246B2 (zh) |
JP (1) | JP3109633U (zh) |
CN (1) | CN2800287Y (zh) |
TW (1) | TWM272275U (zh) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWM282342U (en) * | 2005-05-06 | 2005-12-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector assembly |
TWM288053U (en) * | 2005-08-30 | 2006-02-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
CN201054424Y (zh) * | 2007-05-30 | 2008-04-30 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
US7589521B2 (en) * | 2007-06-28 | 2009-09-15 | Intel Corporation | Universal cover for a burn-in socket |
CN100530854C (zh) * | 2007-12-29 | 2009-08-19 | 山东省科学院海洋仪器仪表研究所 | 温控器测试连接器 |
CN110389292A (zh) * | 2018-04-21 | 2019-10-29 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器组件 |
US11385281B2 (en) * | 2019-08-21 | 2022-07-12 | Micron Technology, Inc. | Heat spreaders for use in semiconductor device testing, such as burn-in testing |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2544015Y2 (ja) * | 1990-10-15 | 1997-08-13 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置 |
CA2073886A1 (en) * | 1991-07-19 | 1993-01-20 | Tatsuya Hashinaga | Burn-in apparatus and method |
JPH06310233A (ja) * | 1993-04-24 | 1994-11-04 | Texas Instr Japan Ltd | ソケット |
US5432456A (en) * | 1993-11-24 | 1995-07-11 | Compaq Computer Corporation | Connector installation GO/NO-GO test fixture |
US5911897A (en) * | 1997-01-13 | 1999-06-15 | Micro Control Company | Temperature control for high power burn-in for integrated circuits |
US6353329B1 (en) * | 2000-03-14 | 2002-03-05 | 3M Innovative Properties Company | Integrated circuit test socket lid assembly |
US20020115315A1 (en) * | 2001-01-10 | 2002-08-22 | Clayton Gary A. | Burn in socket |
US6570398B2 (en) * | 2001-09-24 | 2003-05-27 | Texas Instruments Incorporated | Socket apparatus particularly adapted for LGA type semiconductor devices |
-
2004
- 2004-04-16 US US10/826,214 patent/US6965246B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-10-15 TW TW093216459U patent/TWM272275U/zh not_active IP Right Cessation
-
2005
- 2005-01-05 JP JP2005000015U patent/JP3109633U/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-14 CN CNU2005200166291U patent/CN2800287Y/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3109633U (ja) | 2005-05-19 |
CN2800287Y (zh) | 2006-07-26 |
US6965246B2 (en) | 2005-11-15 |
US20050231224A1 (en) | 2005-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6572396B1 (en) | Low or zero insertion force connector for printed circuit boards and electrical devices | |
US7819686B2 (en) | Burn-in socket | |
JPH0831120B2 (ja) | 携帯用電子カ−ドの受取り装置 | |
US7121858B2 (en) | Socket for ball grid array devices | |
US20070270014A1 (en) | Socket for electrical parts | |
JPH0684551A (ja) | コネクタシステム及びその組立て操作方法 | |
US6957967B2 (en) | Electrical connector with different pitch terminals | |
TWM309769U (en) | Electrical connector | |
TWM272275U (en) | Burn-in socket assembly | |
TWM420880U (en) | Electrical connector and assembly thereof | |
US7862363B2 (en) | IC socket with floatable pressing device for receiving testing IC packages of different sizes | |
JP3228400B2 (ja) | 面実装型ic用ソケット | |
CN217090176U (zh) | 一种层板取电装置及展示架 | |
US20080299797A1 (en) | Electrical connector having an improved frame | |
US6827599B1 (en) | IC socket having urging mechanism | |
TWI780219B (zh) | 電連接器 | |
JPH0922760A (ja) | 携帯電話におけるfpcと基板の接続構造 | |
US7556518B2 (en) | Burn-in socket having loading plate with uneven seating surface | |
CN218569330U (zh) | 层板导电连接组件和收纳架 | |
KR100570200B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
CN201498850U (zh) | 电连接器 | |
CN211605452U (zh) | 板对板连接器 | |
KR100522753B1 (ko) | 모듈형 ic 소켓 | |
CN201285986Y (zh) | 电连接器 | |
CN201117939Y (zh) | 电连接器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4K | Annulment or lapse of a utility model due to non-payment of fees |