TWI907245B - 設備狀態監視系統 - Google Patents

設備狀態監視系統

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TWI907245B
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馬渡和明
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    • G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
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    • G—PHYSICS
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230196217A1 (en) * 2021-12-22 2023-06-22 Ford Global Technologies, Llc Systems and methods for controlling pallets in a manufacturing environment using reinforcement learning
WO2025046738A1 (ja) * 2023-08-29 2025-03-06 三菱電機株式会社 金型保全システム、金型良否判定閾値生成装置、学習装置、金型良否判定方法およびプログラム
JP2025093519A (ja) * 2023-12-12 2025-06-24 横河電機株式会社 施設内で検出された音響データを処理する装置、方法、およびプログラム
JP2025125759A (ja) * 2024-02-16 2025-08-28 株式会社サンワ電装 回転機器の診断装置
CN119319579B (zh) * 2024-12-19 2025-04-22 广东美的制冷设备有限公司 机器人下线综合检测装置及其检测方法
CN120507716B (zh) * 2025-07-17 2025-09-26 北京普龙科技有限公司 挂轨式机器人定位方法及装置、电子设备、存储介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007201577A (ja) * 2006-01-24 2007-08-09 Nec Tokin Corp センサノードおよびこれを用いたセンサネットワークシステム
JP2019159853A (ja) * 2018-03-14 2019-09-19 ｉ Ｓｍａｒｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ株式会社 生産管理装置、生産管理システム、および生産管理方法

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001317687A (ja) * 2000-11-13 2001-11-16 Lambda:Kk カメラ用三脚保持具
US20020078986A1 (en) * 2000-12-27 2002-06-27 Tsun Zong Wu Umbrella cover for wind-stable umbrella
JP2007303866A (ja) * 2006-05-09 2007-11-22 Sanki Eng Co Ltd 工場、プラント等における生産設備機器等の運転状態監視システム
WO2010016495A1 (ja) * 2008-08-05 2010-02-11 株式会社ブリヂストン ベルト支持ローラモニタリングシステム
JP5099777B2 (ja) * 2008-09-09 2012-12-19 公立大学法人会津大学 センサ装置、センシング情報収集システム、センシング機能代替方法およびセンシング機能代替プログラム
JP5293719B2 (ja) 2010-10-01 2013-09-18 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置のデータ取得方法及びセンサ用基板
JP5331916B2 (ja) 2012-04-20 2013-10-30 シスメックス株式会社 検体分析装置
US10775978B2 (en) * 2014-10-03 2020-09-15 Schneider Electric USA, Inc. Electrical enclosure with built in remote inspection and virtual control of sensor placement
JP6634728B2 (ja) * 2015-08-10 2020-01-22 富士電機株式会社 環境制御システム
JP6140331B1 (ja) * 2016-04-08 2017-05-31 ファナック株式会社 主軸または主軸を駆動するモータの故障予知を学習する機械学習装置および機械学習方法、並びに、機械学習装置を備えた故障予知装置および故障予知システム
JP6818024B2 (ja) * 2016-06-13 2021-01-20 株式会社日立製作所 回転機診断装置、回転機診断方法及び回転機診断プログラム
JP2018091640A (ja) 2016-11-30 2018-06-14 株式会社デンソー 装置の検査装置、および、装置の検査方法
JP2019061628A (ja) * 2017-09-28 2019-04-18 ｉ Ｓｍａｒｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ株式会社 生産管理装置、生産管理システム、および生産管理方法
CN111601760A (zh) * 2017-10-30 2020-08-28 苏普利尔工业公司 输送机惰轮监控设备、系统和方法
JP7351054B2 (ja) * 2017-11-27 2023-09-27 トーヨーカネツ株式会社 搬送システム検査装置（ドクター物流）
JP6810097B2 (ja) * 2018-05-21 2021-01-06 ファナック株式会社 異常検出器
EP3833951A1 (en) * 2018-08-08 2021-06-16 Cryovac, LLC Inspection of vacuum packaged product for detection of gas inside package
CN110913344B (zh) * 2018-08-27 2023-09-01 香港科技大学 协同目标跟踪系统和方法
JP6866335B2 (ja) 2018-09-05 2021-04-28 東芝情報システム株式会社 検査装置及び検査用プログラム
JP2020052459A (ja) * 2018-09-21 2020-04-02 株式会社Ｙｅ Ｄｉｇｉｔａｌ 故障予知方法、故障予知装置および故障予知プログラム
WO2020162426A1 (ja) * 2019-02-05 2020-08-13 日本電気株式会社 解析装置、解析方法、およびプログラム、ならびに、センサの構造
JP6598103B1 (ja) 2019-04-03 2019-10-30 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 エナジーハーベスト端末
JP7105745B2 (ja) * 2019-08-26 2022-07-25 株式会社日立ビルシステム 機械設備の検査装置
JP7483341B2 (ja) * 2019-09-26 2024-05-15 キヤノン株式会社 情報処理方法、情報処理装置、機械設備、物品の製造方法、プログラム、記録媒体
JP7319162B2 (ja) * 2019-10-02 2023-08-01 株式会社荏原製作所 搬送異常予測システム
CN110686914A (zh) * 2019-10-16 2020-01-14 美利林科技有限公司 一种生产设备自检装置
EP3923231A1 (en) * 2020-06-11 2021-12-15 KWS SAAT SE & Co. KGaA Method and system for managing agricultural processes
TWM606780U (zh) * 2020-09-02 2021-01-21 國立虎尾科技大學 機台即時防護系統
US11431566B2 (en) * 2020-12-21 2022-08-30 Canon Solutions America, Inc. Devices, systems, and methods for obtaining sensor measurements
US11943242B2 (en) * 2021-03-31 2024-03-26 Honda Motor Co. Ltd. Deep automation anomaly detection

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007201577A (ja) * 2006-01-24 2007-08-09 Nec Tokin Corp センサノードおよびこれを用いたセンサネットワークシステム
JP2019159853A (ja) * 2018-03-14 2019-09-19 ｉ Ｓｍａｒｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ株式会社 生産管理装置、生産管理システム、および生産管理方法

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