TWI851840B - 偏光板、偏光板之製造方法及液晶顯示裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明之偏光板包含偏光器、配置於其一面之保護膜(A)、配置於另一面之保護膜(B)及配置於保護膜(B)之與偏光器相反側之面之黏著劑層。保護膜(B)包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子。(甲基)丙烯酸系樹脂係相對於其全部構造單位,包含50~95質量%之甲基丙烯酸甲酯單位、1~25質量%之苯基馬來醯亞胺單位及1~25質量%之丙烯酸烷酯單位之共聚物。於將保護膜(A)之平衡含水率設為a(質量%),將保護膜(B)之平衡含水率設為b(質量%)時,滿足a<b。
Description
本發明係關於偏光板、偏光板之製造方法及液晶顯示裝置。
用於液晶顯示裝置等之顯示裝置之偏光板,包含偏光器及配置於其兩面之保護膜。作為保護膜,基於具有優異的透明性及尺寸安定性、低吸濕性,而使用(甲基)丙烯酸系樹脂膜。
作為該等偏光板,已知有例如包含偏光器、配置於該偏光器之視覺辨識側之面之(甲基)丙烯酸系樹脂膜(保護膜)與配置於該偏光器之液晶胞側之面之降冰片烯系樹脂膜(保護膜)之偏光板(例如專利文獻1及2)。
但是,偏光板通常經過於偏光器之兩面分別經由接著劑貼合保護膜之步驟而製造。使用之保護膜係於製膜後,捲取為捲筒狀以捲筒體保管後,於偏光板製造時捲出而使用。
然而,保護膜以捲筒體之狀態於一定期間保管期間容易產生捲曲變形,因此,會有於捲筒體之膜表面產生凹陷等表面缺陷之情況。具有該等表面缺陷之保護膜不適於光學用途。
對此,已知藉由以特定溫度熱處理保護膜,修復與偏光器貼合前之保護膜的表面缺陷之方法(例如專利文獻1及2)。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
專利文獻1:日本特開2013-254133號公報
專利文獻2:日本特開2017-120440號公報
[發明欲解決之課題]
然而,即使進行如專利文獻1及2所示之熱處理,仍無法充分去除凹陷等之表面缺陷。
對此,本發明人等發現藉由於熱處理前進而進行溫水處理,可顯著地修復伴隨捲曲變形之表面缺陷。另一方面,發現藉由進行溫水處理,於保護膜之內部水分容易殘留,於獲得之液晶顯示裝置容易產生環狀不均之新的問題。
本發明係鑑於上述情況而完成者,目的在於提供修復保護膜之表面缺陷之同時,可抑制於液晶顯示裝置之環狀不均之偏光板、偏光板之製造方法及使用其之液晶顯示裝置。
[為解決課題之手段]
上述課題,可藉由以下之構成解決。
本發明之偏光板係包含偏光器、配置於前述偏光器之一面之保護膜A、配置於前述偏光器之另一面之保護膜B及配置於前述保護膜B之與前述偏光器相反側之面之黏著劑層,前述保護膜B包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子,前述(甲基)丙烯酸系樹脂係相對於構成前述(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位,包含50~95質量%之源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位、1~25質量%之源自苯基馬來醯亞胺之構造單位及1~25質量%之源自丙烯酸烷酯之構造單位之共聚物,將前述保護膜A於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為a(質量%),將前述保護膜B於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為b(質量%)時,滿足下述式(1),
式(1) a<b。
本發明之偏光板之製造方法具有下述步驟:將保護膜B以30℃以上之溫水進行處理之步驟,將前述保護膜B之玻璃轉移溫度設為Tg時,將前述經處理之保護膜B於(Tg-70)~(Tg+10)℃進行熱處理之步驟,將前述經熱處理之保護膜B貼合於偏光器之一面,將保護膜A貼合於前述偏光器之另一面之步驟,於前述保護膜B之與前述偏光器相反側之面,形成黏著劑層之步驟,前述保護膜B包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子,前述(甲基)丙烯酸系樹脂係相對於構成前述(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位,包含50~95質量%之源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位、1~25質量%之源自苯基馬來醯亞胺之構造單位及1~25質量%之源自丙烯酸烷酯之構造單位之共聚物,將前述保護膜A於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為a(質量%),將前述保護膜B於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為b(質量%)時,滿足下述式(1),
式(1) a<b。
本發明之液晶顯示裝置具有液晶胞、配置於前述液晶胞之一面之第一偏光板、配置於前述液晶胞之另一面之第二偏光板,前述第一偏光板與前述第二偏光板之至少一者為本發明之偏光板,前述偏光板之前述黏著劑層與前述液晶胞接著。
[發明效果]
依據本發明,可提供修復保護膜之表面缺陷,同時可抑制液晶顯示裝置之環狀不均之偏光板、偏光板之製造方法及使用其之液晶顯示裝置。
本發明人等推測顯示裝置之環狀不均之發生要因主要為以下2點。
首先,於偏光板之製造步驟,溫水處理保護膜B時之水分,即使藉由之後之乾燥處理亦無法完全從偏光板之內部充分去除且容易不均勻殘留,亦即,溫水處理時之水分容易以環狀殘留於偏光板內部(要因1)。
進而,若於偏光器的視覺辨識側之面(與配置黏著劑層之側相反側),配置透濕性較低的保護膜A,則殘留於保護膜B內的水分變得不易排出至偏光板的外部。因此,水分容易積存於偏光板內部,更容易產生環狀不均(要因2)。
對此,本發明人等發現藉由使偏光器的液晶胞側(配置黏著劑層側)之保護膜B之平衡含水率b,較視覺辨識側之保護膜A之平衡含水率a高,可抑制環狀不均。此認為係藉由使容易含水之黏著劑層與保護膜B相接,使保護膜B內之水分(例如位於偏光器側之水分)變得容易朝黏著劑側移動,易於經由黏著劑層朝外部排出之故。
為了使保護膜B之平衡含水率b相對較高,保護膜B所含之(甲基)丙烯酸系樹脂較佳含有源自苯基馬來醯亞胺之構造單位。源自苯基馬來醯亞胺之構造單位,因具有體積較大之構造,故於膜之基質中較易形成水分子可移動之微小空隙,易使水適度移動。又,因苯基馬來醯亞胺極性適度高,故與水分子之親和性亦適度高,易於拉攏水分子。
另一方面,若保護膜B之平衡含水率b相對過高,則保護膜B與保護膜A之尺寸變化量之差變大,具有產生偏光板之捲曲等之虞。於本發明,因保護膜B含有橡膠粒子,因亦緩和因水分出入伴隨之尺寸變化所致之應力,故可不易產生偏光板之捲曲。
以下,針對本發明之實施形態,參照圖式詳細說明。
1. 偏光板
圖1係顯示本實施形態之偏光板100之剖面圖。
如圖1所示,本實施形態之偏光板100具有偏光器110(偏光器)、配置於其一面之保護膜120A(保護膜A)、配置於另一面之保護膜120B(保護膜B)、配置於保護膜120A與偏光器110之間的接著劑層130A(接著劑層A)、及配置於保護膜120B與偏光器110之間的接著劑層130B(接著劑層B)。
又,偏光板100進而具有配置於保護膜120B之與偏光器110相反側之黏著劑層140。黏著劑層140係為了將偏光板100貼附於液晶胞等之顯示元件(未圖示)之層。黏著劑層140之表面通常以剝離膜(未圖示)保護。
1-1. 偏光器
偏光器係僅使一定方向之偏振平面之光通過之元件。偏光器通常為聚乙烯醇系偏光膜。聚乙烯醇系偏光膜之例,包含對聚乙烯醇系膜以碘染色者及以二色性染料染色者。
聚乙烯醇系偏光膜可為將聚乙烯醇系膜單軸延伸後,以碘或二色性染料染色之膜(較佳進一步以硼化合物實施耐久性處理之膜);亦可為聚乙烯醇系膜以碘或二色性染料染色後,經單軸延伸之膜(較佳為進一步以硼化合物實施耐久性處理之膜)。偏光器110之吸收軸通常與最大延伸方向平行。
作為聚乙烯醇系偏光膜,可使用例如記載於日本特開2003-248123號公報、日本特開2003-342322號公報等之乙烯單位之含量1~4莫耳%、聚合度2000~4000、皂化度99.0~99.99莫耳%之乙烯改性聚乙烯醇。
偏光器之厚度較佳為5~30μm,基於使偏光板薄型化之觀點,更佳為5~20μm。
1-2. 保護膜A
保護膜A只要為具有透明性之樹脂膜即可,無特別限制。基於提高濕熱耐久性之觀點,較佳為保護膜A之平衡含水率a(質量%)低於保護膜B之平衡含水率b(質量%)。亦即,保護膜A較佳滿足下述式(1)之關係。
式(1) a<b
保護膜A之平衡含水率a較佳未達1.5質量%。若保護膜A之平衡含水率a低,則因環境中之水分不易朝偏光板內浸透,故容易抑制因該水分所致之偏光器之劣化。保護膜A之平衡含水率a更佳為0.3~1.4質量%。
保護膜A之平衡含水率a可藉由以下步驟測定。
1)於23℃ 55%RH下調濕48小時後,測定保護膜之重量(重量M1)。重量之測定於23℃ 55%RH下進行。
2)接著,保護膜以烘箱於130℃乾燥8小時。之後,與前述相同,測定保護膜之重量(重量M2)
3)將上述1)及上述2)獲得之重量M1及M2,代入下述式,算出平衡含水率。
平衡含水率(質量%)={(M1-M2)/M2}×100
保護膜A之平衡含水率a可藉由膜之組成(尤其樹脂及添加劑之種類)等調整。為了降低保護膜A之平衡含水率a,保護膜A所含之樹脂,較佳使用極性較保護膜B所含之樹脂更低的樹脂(源自具有極性基之單體之構造單位之含量較少的樹脂)。
構成保護膜A之樹脂,只要滿足上述之平衡含水率之關係者即可,無特別限定,例如為源自苯基馬來醯亞胺等之具有極性之單體之構造單位之含量較少或不含之(甲基)丙烯酸系樹脂、聚酯樹脂、環烯烴系樹脂。
1-2-1. 樹脂
((甲基)丙烯酸系樹脂)
保護膜A所含之(甲基)丙烯酸系樹脂,可為含有源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位之均聚物,亦可為含有源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位及源自可與其共聚合之甲基丙烯酸甲酯以外之共聚單體之構造單位之共聚物。
共聚單體並未特別限制,可包含(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丙酯、六員環內酯(甲基)丙烯酸酯等之甲基丙烯酸甲酯以外之烷基的碳數為1~18之(甲基)丙烯酸酯類;(甲基)丙烯酸等之α,β-不飽和酸;馬來酸、富馬酸、依康酸等之含不飽和基之二元羧酸;苯乙烯、α-甲苯乙烯等之芳香族乙烯基類;丙烯腈、甲基丙烯腈等之α,β-不飽和腈類;馬來醯亞胺、N-取代馬來醯亞胺等之馬來醯亞胺類、馬來酸酐、戊二酸酐。共聚單體可使用1種,亦可併用2種以上。
其中,保護膜A所含之(甲基)丙烯酸系樹脂係源自α,β-不飽和酸或含不飽和基之二元羧酸、α,β-不飽和腈類、馬來醯亞胺類、馬來酸酐、戊二酸酐等之具有極性基之共聚單體的構造單位含量,較保護膜B之(甲基)丙烯酸系樹脂少,或較佳不含。其中,基於容易將保護膜A之平衡含水率調整於上述範圍之觀點等,較佳為甲基丙烯酸甲酯之均聚物(聚甲基丙烯酸甲酯)。
源自於甲基丙烯酸甲酯之構造單位之含量,相對於構成(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位較佳為80~100質量%,更佳為90~100質量%。(甲基)丙烯酸系樹脂之單體種類及組成,可藉由1
H-NMR特定出。
(甲基)丙烯酸系樹脂之玻璃轉移溫度(Tg),較佳為90℃以上,更佳為100~150℃。(甲基)丙烯酸系樹脂之Tg為90℃以上之保護膜A可具有良好的耐熱性。
(甲基)丙烯酸系樹脂之玻璃轉移溫度(Tg),可使用DSC(Differential Scanning Colorimetry:示差掃描熱分析法),依據JIS K 7121-2012或ASTM D 3418-82測定。
(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量(Mw)並未特別限定,可對應於製膜法適宜設定。例如,保護膜A藉熔融流延法製膜之情況,(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量較佳為10萬~30萬。保護膜A藉溶液流延法製膜之情況,(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量較佳為40萬~300萬,更佳為50萬~200萬。若(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量於上述範圍,將不損害製膜性,並對膜賦予充分的機械強度(韌性)。
(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量(Mw)可藉由凝膠層析儀(GPC)以聚苯乙烯換算而測定。具體而言,可使用TOSOH公司製(HLC8220GPC)、管柱(TOSOH公司製TSK-GEL G6000HXL-G5000HXL-G5000HXL-
G4000HXL-G3000HXL串聯)而測定。測定條件與後述實施例相同。
(甲基)丙烯酸系樹脂之含量,相對於保護膜A較佳為60%質量%以上,更佳為70質量%以上。
(聚酯樹脂)
聚酯樹脂之例,包含聚對苯二甲酸乙二酯、聚對苯二甲酸丙二酯、聚對苯二甲酸丁二酯、聚萘二甲酸乙二酯。其中較佳為聚對苯二甲酸乙二酯(PET)。
(環烯烴系樹脂)
環烯烴系樹脂並未特別限定,但基於容易藉溶液流延法製膜的觀點,較佳為含有源自具有極性基之降冰片烯單體之構造單位之聚合物。
具有極性基之降冰片烯系單體係以下述式(2)表示。
較佳式(2)之R1
~R4
中之至少1個為極性基。極性基之例包含羧基、羥基、烷氧羰基、芳氧羰基、胺基、醯胺基、氰基及此等基經由伸烷基等之連結基結合之基等。具有源自具有該等極性基之降冰片烯系單體之構造單位之環烯烴系樹脂,不僅於藉溶液流延法製膜時容易溶解於溶劑中,且提高所得膜之玻璃轉移溫度。其中,極性基較佳為烷氧羰基,更佳為碳原子數1~10之烷氧羰基。
R1
~R4
之中其餘較佳分別為氫原子或烴基。烴基係碳原子數為1~10,較佳1~4,更佳1或2之烴基。烴基之例包含烷基、芳基。烴基亦可進而具有取代基。
例如,式(2)之R1
可為極性基,R2
、R3
及R4
分別為氫原子或烴基;亦可係R1
及R3
分別為極性基,R2
及R4
分別為氫原子或烴基。
p及m分別為0~3之整數。其中,m+p較佳為0~4,更佳為0~2,特佳為m=1,p=0。
源自具有極性基之降冰片烯系單體之構造單位之含量,相對於構成環烯烴系樹脂之全部構造單位較佳為20~100質量%,更佳為30~100質量%。
環烯烴系樹脂亦可進而含有源自可與具有極性基之降冰片烯單體共聚合之其他單體的構造單位。可共聚合之其他單體之例,包含環丁烯、環戊烯、環庚烯、環辛烯、二環戊二烯等之不具有降冰片烯骨架之環烯烴系單體。其中,環烯烴系單體之碳原子數較佳為4~20,更佳為5~12。
其中,保護膜A較佳含有(甲基)丙烯酸系樹脂。
1-2-2. 其他成分
保護膜A亦可依據需要進而含有上述以外之其他成分。其他成分之例包含橡膠粒子及消光劑、紫外線吸收劑等。
尤其,於保護膜A含有(甲基)丙烯酸系樹脂之情況,基於消除膜脆性之觀點等,可進而含有橡膠粒子。
保護膜A所含之橡膠粒子之例,包含與保護膜B所含之後述橡膠粒子相同者。保護膜A之橡膠粒子之含量可根據目的調整。例如,基於容易滿足上述之平衡含水率關係之觀點,保護膜A之橡膠粒子含量,較佳為多於保護膜B之橡膠粒子含量。另一方面,基於容易抑制伴隨尺寸變化量之差的偏光板捲曲之觀點,保護膜A之橡膠粒子含量,較佳與保護膜B之後述橡膠粒子之含量相同程度(例如,保護膜A與保護膜B之橡膠粒子含量之差的絕對值為5質量%以下)。
消光劑係就對膜賦予滑動性之觀點而添加。消光劑之例包含氧化矽粒子等之無機微粒子、玻璃轉移溫度為80℃以上之有機微粒子等。
紫外線吸收劑之例包含苯并三唑系紫外線吸收劑、二苯甲酮系紫外線吸收劑、水楊酸酯系紫外線吸收劑、氰基丙烯酸酯系紫外線吸收劑及三嗪系紫外線吸收劑。其中,就具有良好紫外線吸收能之觀點,較佳為苯并三唑系紫外線吸收劑及二苯甲酮系紫外線吸收劑,更佳為苯并三唑系紫外線吸收劑。
(厚度)
保護膜A之厚度並未特別限定,但基於容易抑制偏光板捲曲之觀點,係較保護膜B之厚度厚或與其相同程度。具體來說,保護膜A之厚度較佳為10~100μm,更佳為20~ 80μm。
1-3. 保護膜B
保護膜B於作成顯示裝置時,係配置於偏光器與液晶胞等之顯示元件之間,作為用以調整相位差之相位差膜發揮功能。如前述,偏光板之保護膜B係經溫水處理者。保護膜B包含(甲基)丙烯酸系樹脂及橡膠粒子。
1-3-1. (甲基)丙烯酸系樹脂
保護膜B之平衡含水率b(質量%),基於抑制於偏光板之製造步驟中之溫水處理引起之環狀不均之觀點,較佳為較保護膜A之平衡含水率a(質量%)高。亦即,保護膜B之於23℃ 55%RH下之平衡含水率b,較佳為滿足前述之式(1)之關係。
保護膜B之平衡含水率b較佳為1.5~2.2質量%。若保護膜B之平衡含水率b為1.5質量%以上,則因水容易適度通過,容易朝黏著劑層排出水分,且水分不易殘留於偏光板之內部。若保護膜B之平衡含水率b為2.2質量%以下,則因伴隨保護膜B與保護膜A之平衡含水率之差的尺寸變化量差不會過大,故容易抑制偏光板之捲曲。保護膜B之平衡含水率b,基於同樣觀點,更佳為1.5~2.0質量%。
保護膜B與保護膜A之平衡含水率之差(b-a),較佳為0.1~2.0質量%。若平衡含水率之差為0.1質量%以上,則於偏光板之製造步驟進入之水分容易朝黏著劑層移動。藉此,容易抑制偏光板之環狀不均。另一方面,若平衡含水率之差為2.0質量%以下,則因伴隨保護膜B與保護膜A之平衡含水率之差的尺寸變化量之差不會過大,故例如於乾燥時等不易產生偏光板之捲曲。保護膜B與保護膜A之平衡含水率之差(b-a),尤其基於進一步抑制偏光板之環狀不均之觀點,更佳為0.5~1.5質量%。
保護膜B與保護膜A之平衡含水率之關係,可藉由保護膜B與保護膜A之平衡含水率而調整。保護膜B之平衡含水率,與前述相同,可藉由(甲基)丙烯酸系樹脂之單體組成(具體來說,係源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)之含量)及橡膠粒子之含量等而調整。為了提高保護膜B之平衡含水率b,較佳為例如使用含有源自作為具有極性基之單體的苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)之(甲基)丙烯酸系樹脂。
保護膜B所含之(甲基)丙烯酸系樹脂,基於將保護膜B之平衡含水率調整於上述範圍內,同時改善脆性之觀點,較佳為含有源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位(U1)及源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)及源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)。
源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位(U1)之含量,相對於構成(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位較佳為50~95質量%,更佳為70~90質量%。
源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2),因具有適度的極性,故可提高與水分之親和性。又,源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2),因具有體積較大之構造,故於樹脂基質中具有使水分移動之微小空隙。因此,可提高保護膜B之水分之移動性及排出性。
源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)之含量,相對於構成(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位較佳為1~25質量%。若源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)之含量為1質量%以上,則因具有適度的極性,故不僅易於與水分子親和,且因充分具有水分子可移動之微小空隙,故易於提高平衡含水率。若源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)之含量為25質量%以下,則不易損及保護膜B之脆性。源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)之含量,基於上述觀點,更佳為7~15質量%。
源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)由於例如構成殼部之聚合物(b)具有與包含源自丙烯酸丁酯之構造單位的橡膠粒子之良好親和性,故可提高橡膠粒子之分散性。
丙烯酸烷酯較佳係烷基部分之碳原子數為1~7,較佳1~5之丙烯酸烷酯。丙烯酸烷酯之例包含丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸丙酯、丙烯酸丁酯、丙烯酸2-羥基乙酯、丙烯酸己酯、丙烯酸2-乙基己酯。
源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)之含量,相對於構成(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位較佳為1~25質量%。若源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)之含量為1質量%以上,則因對(甲基)丙烯酸樹酯賦予適度柔軟性,故膜不會過脆,不易斷裂。若源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)之含量為25質量%以下,則因(甲基)丙烯酸樹脂之Tg不會過於降低,故不僅不易損及保護膜B之耐熱性,亦不易損及機械強度。源自丙烯酸烷酯之構造單位之含量,基於上述觀點,更佳為5~15質量%。
源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2),相對於源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)與源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)之合計量之比率,較佳為20~70質量%。若該比率為20質量%以上,則易於提高保護膜B之耐熱性,若為70質量%以下,則保護膜B不會過脆。
(甲基)丙烯酸系樹脂之玻璃轉移溫度(Tg)較佳為110℃以上,更佳為120~150℃。若(甲基)丙烯酸系樹脂之Tg於上述範圍內,則易於提高保護膜B之耐熱性。為了調整(甲基)丙烯酸系樹脂之Tg,例如較佳調整源自苯基馬來醯亞胺之構造單位(U2)及源自丙烯酸烷酯之構造單位(U3)之含量。
(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量(Mw)較佳為50萬以上。若(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量為50萬以上,則由於溶液流延所用之濃料之黏度不會過低,故不僅可抑制橡膠粒子之凝集,亦抑制保護膜B表面之平坦性降低。接著,若(甲基)丙烯酸系樹脂之重量平均分子量為50萬以上,則對保護膜B賦予充分的機械強度(韌性)。(甲基)丙烯酸系樹酯之重量平均分子量,基於上述觀點,更佳為50萬~300萬,特佳為60萬~200萬。重量平均分子量,可藉由與前述同樣之方法測定。
(甲基)丙烯酸系樹脂之含量,相對於保護膜B較佳為為60質量%以上,更佳為70質量%以上。
1-3-2. 橡膠粒子
(橡膠粒子)
橡膠粒子具有對保護膜B賦予韌性(延展性)之功能。橡膠粒子係包含橡膠狀聚合物之粒子。橡膠狀聚合物係玻璃轉移溫度為20℃以下之軟質交聯聚合物。該等交聯聚合物之例,包含丁二烯系交聯聚合物、(甲基)丙烯酸系交聯聚合物及有機矽氧烷系交聯聚合物。其中,就與(甲基)丙烯酸系樹脂之折射率差較小,不易損及保護膜B之透明性之觀點,較佳為(甲基)丙烯酸系交聯聚合物,更佳為丙烯酸系交聯聚合物(丙烯酸系橡膠狀聚合物)。
亦即,橡膠粒子較佳為包含丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之粒子。
關於丙烯酸系橡膠狀聚合物(a):
丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)係包含以源自丙烯酸酯之構造單位為主成分之交聯聚合物。所包含作為主成分意指源自丙烯酸酯之構造單位之含量為後述之範圍。丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)較佳為包含源自丙烯酸酯之構造單位、源自可與其共聚合之其他單體之構造單位及源自於1分子中具有2個以上自由基聚合基(非共軛反應性雙鍵)之多官能性單體之構造單位之交聯聚合物。
丙烯酸酯較佳為丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸正丙酯、丙烯酸正丁酯、丙烯酸第二丁酯、丙烯酸異丁酯、丙烯酸苄酯、丙烯酸環己酯、丙烯酸2-乙基己酯、丙烯酸正辛酯等之烷基的碳數1~12之丙烯酸烷酯。丙烯酸酯可為1種,亦可為2種以上。
源自丙烯酸酯之構造單位之含量,相對於構成丙烯酸系橡膠狀聚合物(a1)之全部構造單位較佳為40~80質量%,更佳為50~80質量%。若丙烯酸系酯之含量於上述範圍內,則易對保護膜賦予充足之韌性。
可共聚合之其他單體係可與丙烯酸酯共聚合之單體中之多官能性單體以外者。亦即,可共聚合單體不具有2個以上自由基聚合基。可共聚合單體之例,包含甲基丙烯酸甲酯等之甲基丙烯酸酯;苯乙烯、甲苯乙烯等之苯乙烯類;(甲基)丙烯腈類;(甲基)丙烯醯胺類;(甲基)丙烯酸。其中,可共聚合之其他單體較佳包含苯乙烯類。可共聚合之其他單體可為1種,亦可為2種以上。
源自可共聚合之其他單體之構造單位之含量,相對於構成丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之全部構造單位較佳為5~55質量%,更佳為10~45質量%。
多官能性單體之例,包含(甲基)丙烯酸烯丙酯、氰脲酸三烯丙酯、異氰脲酸三烯丙酯、鄰苯二甲酸二烯丙酯、馬來酸二烯丙酯、己二酸二乙烯酯、二乙烯基苯、乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、二乙二醇(甲基)丙烯酸酯、三乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、四羥甲基甲烷四(甲基)丙烯酸酯、二丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚乙二醇二(甲基)丙烯酸酯。
源自多官能性單體之構造單位之含量,相對於構成丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之全部構造單位較佳為0.05~10質量%,更佳為0.1~5質量%。若多官能性單體之含量為0.05質量%以上,則因易於提高所得之丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之交聯度,故不過度損及所得之膜的硬度、剛性,若為10質量%以下,則不易損及膜之韌性。
構成丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之單體組成,可藉由例如利用熱分解GC-MS檢測之波峰面積比而測定。
橡膠狀聚合物之玻璃轉移溫度(Tg)較佳為0℃以下,更佳為-10℃以下。若橡膠狀聚合物之玻璃轉移溫度(Tg)為0℃以下,則對膜賦予適度韌性。橡膠狀聚合物之玻璃轉移溫度(Tg)係藉與前述相同之方法測定。
橡膠狀聚合物之玻璃轉移溫度(Tg),可藉由橡膠狀聚合物之組成而調整。例如為了降低丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之玻璃轉移溫度(Tg),較佳使丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)中之烷基之碳原子數為4以上之丙烯酸酯/可共聚合之其他單體之質量比增多(例如3以上,較佳為4~10)。
包含丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之粒子,可為具有由丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)所成之粒子,或具有由玻璃轉移溫度為20℃以上之硬質交聯聚合物(c)所成之硬質層與配置於其周圍之丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)所成之軟質層之粒子(此等亦稱為「彈性體」);亦可為在丙烯酸橡膠狀聚合物(a)之存在下,使甲基丙烯酸酯等之單體之混合物聚合至少1段以上而獲得之丙烯酸系接枝共聚物所成之粒子。由丙烯酸系接枝共聚物所成之粒子亦可為具有包含丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之核部及覆蓋其之殼部之核殼型粒子。
關於包含丙烯酸系橡膠狀聚合物之核殼型橡膠粒子:
(核部)
核部包含丙烯酸系橡膠狀聚合物(a),亦可根據需求進一步含有硬質交聯聚合物(c)。亦即,核部可具有由丙烯酸系橡膠狀聚合物所成之軟質層與配置於其內側之由硬質交聯聚合物(c)所成之硬質層。
交聯聚合物(c)係以甲基丙烯酸酯為主成分之交聯聚合物。亦即,交聯聚合物(c)較佳為包含源自甲基丙烯酸烷酯之構造單位、源自可與其共聚合之其他單體之構造單位及源自多官能性單體之構造單位之交聯聚合物。
甲基丙烯酸烷酯可為前述之甲基丙烯酸烷酯;可共聚合之其他單體可為前述之苯乙烯類及丙烯酸酯等;多官能性單體舉例為與作為前述之多官能性單體舉例者相同者。
源自甲基丙烯酸烷酯之構造單位之含量,相對於構成交聯聚合物(c)之全部構造單位為40~100質量%。源自可共聚合之其他單體之構造單位之含量,相對於構成其他交聯聚合物(c)之全部構造單位為60~0質量%。源自多官能性單體之構造單位之含量,相對於構成其他交聯聚合物之全部構造單位為0.01~10質量%。
(殼部)
殼部包含接枝結合於丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之含有源自甲基丙烯酸酯之構造單位作為主成分之甲基丙烯酸系聚合物(b)(其他聚合物)。所謂包含作為主成分係指源自甲基丙烯酸酯之構造單位之含量為後述範圍。
構成甲基丙烯酸系聚合物(b)之甲基丙烯酸酯,較佳為甲基丙烯酸甲酯等之烷基的碳原子數為1~12之甲基丙烯酸烷酯。甲基丙烯酸酯可為1種亦可為2種以上。
甲基丙烯酸酯之含量,相對於構成甲基丙烯酸系聚合物(b)之全部構造單位較佳為50質量%以上。若甲基丙烯酸酯之含量為50質量%以上,則易於獲得與包含源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位為主成分之甲基丙烯酸系樹脂之相溶性。甲基丙烯酸酯之含量,基於上述觀點,相對於構成甲基丙烯酸係聚合物(b)之全部構造單位更佳為70質量%以上。
甲基丙烯酸系聚合物(b)亦可進而包含源自可與甲基丙烯酸酯共聚合之其他單體之構造單位。可共聚合之其他單體之例,包含丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸正丁酯等之丙烯酸酯;(甲基)丙烯酸苄酯、(甲基)丙烯酸二環戊酯、(甲基)丙烯酸苯氧基乙酯等之具有脂環、雜環或芳香環之(甲基)丙烯酸系單體(含有環之(甲基)丙烯酸系單體)。
源自可共聚合單體之構造單位之含量,相對於構成甲基丙烯酸系聚合物(b)之全部構造單位較佳為50質量%以下,更佳為30質量%以下。
橡膠粒子中接枝成分之比率(接枝率)較佳為10~250質量%,更佳為15~150質量%。若接枝率為一定以上,則接枝成分,亦即,以源自甲基丙烯酸酯之構造單位為主成分之甲基丙烯酸系聚合物(b)之比例適度多,故易於提高橡膠粒子與甲基丙烯酸系樹脂之相溶性,且更不易使橡膠粒子凝集。又,不易損及膜之剛性等。若接枝率為一定以下,則因丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之比率不會過少,不易損及膜之韌性及脆性改善效果。
接枝率係藉以下方法測定
1)將核殼型之粒子2g溶解於甲基乙基酮50ml,使用離心分離機(日立工機(株)製,CP60E),以旋轉數30000 rpm,溫度12℃離心1小時,分離不溶分與可溶分(離心分離作業合計設定3次)。
2)將所得不溶分重量代入下述式,算出接枝率。
接枝率(質量%)=[{(甲基乙基酮不溶分質量)-(丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之質量)}/(丙烯酸系橡膠狀聚合物(a)之質量)]×100
橡膠粒子之平均縱橫比及平均長徑可藉由以下方法算出。
1)以TEM觀察保護膜B之剖面。觀察區域可為與保護膜B之厚度相當之區域,亦可為5μm×5μm之區域。以與保護膜B之厚度相當之區域作為觀察區域之情況,測定部位為1部位。以5μm×5μm之區域作為觀察區域之情況,測定部位為4部位。
2)測定所得之TEM影像之各橡膠粒子之長徑、短徑,分別算出縱橫比。將從複數之橡膠粒子獲得之縱橫比之平均值設為「平均縱橫比」,將從複數之橡膠粒子獲得之長徑之平均值設為「平均長徑」。
橡膠粒子之含量並未特別限定,但相對於保護膜B較佳為5~25質量%,更佳為5~15質量%。
保護膜B之橡膠粒子含量,可根據目的調整。例如,就容易滿足上述之平衡含水率之關係之觀點,保護膜B之橡膠粒子含量,較佳少於保護膜A之橡膠粒子含量。基於容易抑制伴隨尺寸變化量之差的偏光板捲曲之觀點,保護膜B之橡膠粒子含量較佳與保護膜A之橡膠粒子含量相同程度(例如,保護膜A與保護膜B之橡膠粒子含量之差為5質量%以下)。
1-1-3. 其他成分
保護膜B可根據需要進而含有上述以外之其他成分。其他成分可使用與保護膜A中之其他成分相同者。
1-3-4. 物性
(內部濁度)
保護膜B之內部濁度較佳為1.0%以下,更佳為0.1%以下,特佳為0.05%以下。保護膜B之內部濁度可藉由與前述相同之方法測定。保護膜B之內部濁度可藉由橡膠粒子含量等而調整。
(相位差Ro及Rt)
保護膜B,例如就作為IPS模式用之相位差膜使用之觀點,於測定波長550nm、23℃ 55%RH之環境下測定之面內方向之相位差Ro較佳為0~10nm,更佳為0~5nm。保護膜B之厚度方向之相位差Rt較佳為-20~20nm,更佳為-10~10 nm。
Ro及Rt分別以下述式定義。
(式中,
nx表示膜之面內慢軸方向(折射率成為最大之方向)之折射率,
ny表示膜之與面內慢軸方向正交之方向之折射率,
nz表示膜之厚度方向之折射率,
d表示膜之厚度(nm))。
保護膜B之面內慢軸可藉由自動雙折射率計AXOSCAN(Axo Scan Mueller Matrix Polarimeter:
Axometrics社製)確認。
Ro及Rt可藉由以下方法測定。
1)將保護膜於23℃ 55%RH之環境下調濕24小時。藉由阿倍(Abbe)折射計測定該膜之平均折射率,並使用市售之測微器測定厚度d。
2)調濕後之膜分別使用自動雙折射率計AXOSCAN(
Axo Scan Mueller Matrix Polarimeter:Axometrics社製),於23℃ 55%RH之環境下測定於測定波長550 nm下之遲滯Ro及Rt。
保護膜B之相位差Ro及Rt可藉由例如(甲基)丙烯酸系樹脂之單體組成或延伸條件而調整。
(殘留溶劑量)
保護膜B因較佳係使用流延(cast)法製膜,故進而含有殘留溶劑。殘留溶劑量,相對於保護膜B較佳為700ppm以下,更佳為30~700ppm。殘留溶劑之含量係藉由保護膜之製造步驟中流延於支撐體上之濃液之乾燥條件而調整。
保護膜B之殘留溶劑量可藉由頂空氣體層析法測定。頂空氣體層析法係將試料封入容器中並加熱,以於容器中充滿揮發成分之狀態迅速地將容器中之氣體注入至氣相層析儀,進行質量分析進行化合物之鑑定且同時定量揮發成分者。於頂空法,可藉由氣相層析儀觀測揮發成分之全部波峰,同時亦藉由使用利用電磁交互作用之分析法,可以高精度一併進行揮發性物質及單體等之定量。
(厚度)
保護膜B之厚度並未特別限制,但基於容易抑制偏光板捲曲之觀點,可較保護膜A之厚度薄或相同程度(保護膜B與A之厚度之差例如為50μm以下)。具體而言,保護膜B之厚度例如較佳為5~60μm,更佳為10~50μm。
1-3-5. 保護膜A及B之製造方法
保護膜A及B可藉由任意方法製造,亦可藉由熔融流延方式製造,亦可藉由溶液流延方式製造。
其中,基於可使用高分子量之(甲基)丙烯酸系樹脂等之觀點,較佳至少保護膜B係藉由溶液流延方式製造。亦即,保護膜B係至少經過下述步驟而製造:1)獲得包含前述(甲基)丙烯酸系樹脂、橡膠粒子及溶劑之濃液之步驟,2)將所得濃液流延於支撐體上後,乾燥及剝離,獲得膜狀物之步驟,3)將所得膜狀物邊根據需要邊延伸邊乾燥之步驟,較佳進而經過4)捲取所得之保護膜,獲得捲筒體之步驟而製造。
關於1)之步驟
將(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子溶解或分散於溶劑,調製濃液。
濃液所用之溶劑至少包含可溶解(甲基)丙烯酸系樹脂之有機溶劑(良溶劑)。良溶劑之例包含二氯甲烷等之氯系有機溶劑或;乙酸甲酯、乙酸乙酯、丙酮、四氫呋喃等之非氯系有機溶劑。其中較佳為二氯甲烷。
濃液所用之溶劑亦可進而含有弱溶劑。弱溶劑之例包含碳原子數1~4之直鏈或分支鏈狀之脂肪族醇。若濃液中之醇比率變高,則膜狀物容易凝膠化,自金屬支撐體之剝離變容易。作為碳原子數1~4之直鏈或分支鏈狀之脂肪族醇可舉例為甲醇、乙醇、正丙醇、異丙醇、正丁醇、第二丁醇、第三丁醇。從該等中,基於濃液之安定性、沸點亦較低、乾燥性亦佳等,較佳為乙醇。
關於2)之步驟
將所得濃液流延於支撐體上。濃液之流延可從流延膜嘴噴出而進行。
接著,將流延至支撐體上之濃液中之溶劑蒸發、乾燥。從支撐體上剝離乾燥後之濃液,獲得膜狀物。
從支撐體上剝離時之濃液之殘留溶劑量(剝離時之膜狀物之殘留溶劑量),例如較佳為25質量%以上,更佳為30~37質量%。若剝離時之殘留溶劑量為37質量%以下,則容易抑制剝離所致之膜狀物過度拉伸。
剝離時之濃液之殘留溶劑量係由下述式定義。以下亦同。
濃液之殘留溶劑量(質量%)=(濃液加熱處理前之質量-濃液加熱處理後之質量)/濃液加熱處理後之質量×100
且,測定殘留溶劑量時之加熱處理意指140℃30分鐘之加熱處理。
剝離時之殘留溶劑量可藉由於支撐體上之濃液之乾燥溫度或乾燥時間、支撐體之溫度等調整。
關於3)之步驟
使所得之膜狀物乾燥。乾燥可一階段進行,亦可多階段進行。又,乾燥亦可根據需要邊延伸邊進行。
例如,膜狀物之乾燥步驟亦包含將膜狀物預備乾燥之步驟(預備乾燥步驟)、使膜狀物延伸之步驟(延伸步驟)、及使延伸後之膜狀物乾燥之步驟(正式乾燥步驟)。
(預備乾燥步驟)
預備乾燥溫度(延伸前之乾燥溫度)係較延伸溫度高之溫度。具體而言,於將(甲基)丙烯酸系樹脂之玻璃轉移溫度設為Tg時,較佳為(Tg-50)~(Tg+50)℃。若預備乾燥溫度為(Tg-50)℃以上,則因溶劑容易適度揮發,故容易提高搬送性(操作性),若為(Tg+50)℃以下,則因溶劑不會過度揮發,不易損及其後延伸步驟之延伸性。初期乾燥溫度於藉由(a)拉幅延伸機或邊以滾筒搬送邊藉由非接觸加熱型乾燥之情況,係作為延伸機內溫度或熱風溫度等之環境溫度而測定。
(延伸步驟)
延伸只要根據所要求之光學特性進行即可,較佳為於至少一方向延伸,亦可朝相互正交之二方向延伸(例如,膜狀物之寬度方向(TD方向)及與其正交之搬送方向(MD方向)之雙軸延伸)。
製造保護膜B時之延伸倍率較佳為5~100%,更佳為20~100%。雙軸延伸之情況,於各方向之延伸倍率較佳分別於上述範圍內。
延伸倍率(%)係定義為(延伸後之膜之延伸方向尺寸-延伸前之膜之延伸方向尺寸)/(延伸前之膜之延伸方向尺寸)×100。且,進行雙軸延伸之情況,關於TD方向及MD方向各者,較佳設為上述延伸倍率。
延伸溫度(延伸時之乾燥溫度)與前述同樣,將(甲基)丙烯酸系樹脂之玻璃轉移溫度設為Tg時,較佳為Tg(℃)以上,更佳為(Tg+10)~(Tg+50)℃。延伸溫度若為Tg(℃)以上,較佳為(Tg+10)℃以上,則因容易使溶劑適度揮發,故容易將延伸張力調整於適當範圍,若為(Tg+50)℃以下,則由於溶劑不會過度揮發,故不易損及延伸性。保護膜B製造時之延伸溫度設為例如115℃以上。延伸溫度與前述相同,較佳係測定(a)延伸機內溫度等之環境溫度。
延伸開始時之膜狀物中之殘留溶劑量,較佳為與剝離時之膜狀物中之殘留溶劑量相同程度,例如較佳為20~30質量%,更佳為25~30質量%。
膜狀物之TD方向(寬度方向)之延伸,例如可以夾具及銷固定膜狀物之兩端,並朝行進方向擴展夾具及銷之間隔之方法(拉幅法)進行。膜狀物之MD方向之延伸,例如可使複數輥產生周速差,於其間利用輥之周速差之方法(輥法)進行。
(正式乾燥步驟)
基於更降低殘留溶劑量之觀點,較佳為使延伸後所得之膜狀物進一步乾燥。例如,較佳為以輥等邊運送延伸後所得之膜狀物邊乾燥。
正式乾燥溫度(未延伸之情況為乾燥溫度),於將(甲基)丙烯酸系樹脂之玻璃轉移溫度設為Tg時,較佳為(Tg-50)~(Tg-30)℃,更佳為(Tg-40)~(Tg-30)℃。若後乾燥溫度為(Tg-50)℃以上,則溶劑容易自延伸後之膜狀物充分揮發去除,若為(Tg-30)℃以下,則可高度抑制膜狀物之變形等。正式乾燥溫度與前述相同,較佳為測定(a)熱風溫度等之環境溫度。
關於4)之步驟
所得之保護膜較佳為長條狀。長條狀之保護膜可捲曲成捲筒狀,成為捲筒體。
長條狀之保護膜之長度並未特別限制,但可為例如100~10000m左右。又,保護膜之寬度較佳為1m以上,更佳為1.3~4m。
1-4. 接著劑層A及B
接著劑層A係配置於保護膜A與偏光器之間,並將該等接著。同樣,接著劑層B係配置於保護膜B與偏光器之間,並將該等接著。
接著劑層A及B可為由完全皂化型聚乙烯醇水溶液(水糊)獲得之層,亦可為活性能量線硬化性接著劑之硬化物層。基於與保護膜A及B之親和性高,容易良好接著之觀點,接著劑層A及B較佳為活性能量線硬化性接著劑的硬化物層。
活性能量線硬化性接著劑可為光自由基聚合性組成物,亦可為光陽離子聚合性組成物。其中,較佳為光陽離子聚合性組成物。
光陽離子聚合性組成物包含環氧系化合物與光陽離子聚合起始劑。
環氧系化合物係於分子內具有1個以上,較佳2個以上環氧基之化合物。環氧系化合物之例包含使脂環式多元醇與環氧氯丙烷反應所得之氫化環氧系化合物(具有脂環式環之多元醇之縮水甘油醚);脂肪族多元醇或其環氧烷加成物之聚縮水甘油醚等之脂肪族環氧系化合物;於分子內具有1個以上鍵結於脂環式環之環氧基之脂環式環氧系化合物。環氧系化合物可僅使用1種,亦可併用2種以上。
光陽離子聚合起始劑為例如芳香族重氮鎓鹽;芳香族錪鹽及芳香族鋶鹽等之鎓鹽;鐵芳烴錯合物等。
光陽離子聚合起始劑亦可根據需要進而添加環氧丁烷、多元醇等之陽離子聚合促進劑、光增感劑、離子捕捉劑、抗氧化劑、鏈轉移劑、增黏劑、熱可塑性樹脂、填充劑、流動調整劑、可塑劑、消泡劑、抗靜電劑、調平劑、溶劑等之添加劑。
接著劑層A及B之厚度並未特別限定,但例如為0.01~10μm,較佳為0.01~5μm左右。
1-5. 黏著劑層
黏著劑層係配置於保護層B之與偏光器相反側之面。黏著劑層係為了將本發明之偏光板與液晶胞等之顯示元件貼合之層。
黏著劑層較佳為由含有基底聚合物、預聚物及/或交聯性聚合物、交聯劑及溶劑之黏著劑組成物乾燥或部分交聯者。亦即,為黏著劑組成物之至少一部分交聯者。
黏著劑組成物之例包含以(甲基)丙烯酸系聚合物作為基底聚合物之丙烯酸系黏著劑組成物,以矽氧系聚合物作為基底聚合物之矽氧系黏著劑組成物,以橡膠作為基底聚合物之橡膠系黏著劑組成物。其中,就透明性、耐候性、耐熱性、加工性之觀點,較佳為丙烯酸系黏著劑組成物。
丙烯酸系黏著劑組成物所含之(甲基)丙烯酸系聚合物,係(甲基)丙烯酸烷酯及含有可與交聯劑交聯之官能基之單體之共聚物。
(甲基)丙烯酸系烷酯較佳為烷基之碳數2~14之丙烯酸烷酯。
含有可與交聯劑交聯之官能基之單體之例包含含有醯胺基之單體、含有羧基之單體(丙烯酸等)、含有羥基之單體(丙烯酸羥基乙酯等)。
作為丙烯酸系黏著劑組成物所含之交聯劑,舉例為環氧系交聯劑、異氰酸酯系交聯劑、過氧化物系交聯劑等。黏著劑組成物中之交聯劑含量,通常相對於基底聚合物(固形分)100質量份,例如為0.01~10質量份。
黏著劑組成物可根據需要進而含有增黏劑、可塑劑、玻璃纖維、玻璃珠、金屬粉、其他填充劑、顏料、著色劑、填充劑、抗氧化劑、紫外線吸收劑、矽烷偶合劑等之各種添加劑。
黏著劑層之平衡含水率通常高於保護膜B之平衡含水率b。因此,保護膜B所含之水分可自黏著劑層排出。
黏著劑層之厚度通常為3~100μm左右,較佳為5~50μm。
黏著劑層之表面係藉由經實施脫模處理之剝離膜予以保護。剝離膜之例包含丙烯酸膜、聚碳酸酯膜、聚酯膜、氟樹脂膜等之塑膠膜。
2. 偏光板之製造方法
本發明之偏光板係經過下述步驟而製造:(1)以溫水處理保護膜B之步驟,(2)將經溫水處理之保護膜B進行熱處理之步驟,(3)將經熱處理之保護膜B貼合於偏光器之一面,將保護膜A貼合於偏光器之另一面之步驟,及(4)於保護膜B之與偏光器相反側之面,形成黏著劑層之步驟。
且,偏光板通常藉由捲對捲製程製造。因此保護膜A、保護膜B及偏光器分別從捲筒體捲出使用。以下針對各步驟加以說明。
關於(1)之步驟(溫水處理步驟)
保護膜B以溫水予以處理。藉此,藉由使保護膜B吸收水分而容易解開,且容易修復因熱處理引起之表面缺陷。
溫水之溫度較佳為30℃以上。若溫水溫度為30℃以上,則不僅水分容易被保護膜B吸收,即使因捲緊產生變形及缺陷,亦可藉由隨後之熱處理修復該變形及缺陷。因此,可抑制起因於保護膜B之偏光板的缺陷。溫水溫度,基於同樣觀點,更佳為40~80℃。
處理時間只要為可消除保護膜B之變形及缺陷之程度即可,雖亦隨溫水溫度而定,但例如較佳為10~ 70秒,更佳為20~60秒。
處理方法並未特別限制,可將保護膜B浸漬於溫水,亦可對保護膜B噴霧溫水。作為將保護膜B浸漬於溫水之方法,例如可藉由使長條狀之保護膜行經以溫水充滿之浴槽內而進行。
關於(2)之步驟(熱處理步驟)
接著,將經溫水處理之保護膜B進行熱處理。藉由進行熱處理,除去因溫水處理而吸入保護膜B之水分,同時修復因捲緊所致之變形及缺陷。
熱處理之溫度,於將保護膜B之玻璃轉移溫度設為Tg時,較佳為(Tg-70)~(Tg+10)℃。若為(Tg-70)℃以上,則於保護膜B即使因捲緊產生變形及缺陷,仍可充分修復。又,亦可使成為偏光板之環狀不均原因之保護膜B中之殘留水分減少。若熱處理之溫度為(Tg+10)℃以下,則由於不易使保護膜B熱變形、延伸,故不僅不易損及光學特性,亦不易發生偏光板之捲曲。熱處理之溫度,基於同樣理由,較佳為(Tg-50)~(Tg-10)℃。
熱處理時間,雖隨熱處理溫度而定,但例如較佳為10~60秒。熱處理時間若為10秒以上,則可充分修復保護膜中產生之因捲緊所致之變形及缺陷。熱處理時間若為60秒以下,則可抑制保護膜因熱而延伸。熱處理之時間,基於同樣觀點,更佳為15~30秒。
熱處理方法並未特別限制,可藉由使保護膜通過加熱爐而進行。
關於(3)之步驟(貼合步驟)
接著,於偏光器之一面,貼合經熱處理之保護膜B,且於偏光器之另一面,貼合保護膜A。貼合可使用接著劑進行。
對貼合前之保護膜A及保護膜B亦可根據需要實施電暈處理等之前處理
例如,使用活性能量線硬化性接著劑作為接著劑之情況,係3a)對經熱處理之保護膜B表面,根據需要實施電暈處理等之表面處理。接著,於偏光器之一面,經由活性能量線硬化性接著劑之層,積層經熱處理之保護膜B後,照射活性能量線,使活性能量線硬化性接著劑硬化。藉此,偏光器與經熱處理之保護膜B,經由活性能量線硬化性接著劑之硬化物層予以接著並貼合。
同樣地,3b)對保護膜A之表面,根據需要實施電暈處理等之表面處理。接著,於偏光器之另一面,經由活性能量線硬化性接著劑之層,積層保護膜A後,照射活性能量線,使活性能量線硬化性接著劑硬化。藉此,偏光器與保護膜A經由活性能量線硬化性接著劑之硬化物層予以接著並貼合。
3a)及3b)之步驟,可同時進行,亦可逐步進行。基於提高製造效率之觀點,較佳為3a)及3b)之步驟同時進行。
同時進行3a)及3b)之步驟之情況,保護膜(例如保護膜B)、偏光器及其他保護膜(例如保護膜A)之積層,較佳藉捲對捲方式進行。接著,對所得之積層物照射活性能量線,使活性能量線硬化性接著劑硬化即可。
關於(4)之步驟(黏著劑層形成步驟)
接著,於所得保護膜B之與偏光器相反側之面,進而貼附黏著劑層及其剝離膜。具體而言,可藉由將設置黏著劑層之剝離膜轉印於保護膜B上等之方法,形成黏著劑層。
本發明中,保護膜A及B之平衡含水率滿足前述式(1)之關係。藉此,即使於上述(1)之步驟(溫水處理步驟)含水之水分無法從保護膜B充分去除而直接製造偏光板,仍可使水分自保護膜B朝黏著劑層移動及排出。藉此,可抑制封閉於偏光板內部之水分引起之環狀不均。
且,基於高度抑制保護膜之表面缺陷引起之偏光板缺陷之觀點,關於保護膜A,較佳進而進行上述(1)與(2)之步驟。
3. 液晶顯示裝置
本發明之液晶顯示裝置包含液晶胞、配置於液晶胞之一面之第一偏光板及配置於液晶胞之另一面之第二偏光板。而且,第一偏光板與第二偏光板之至少一者為本發明之偏光板。
圖2係顯示本發明一實施形態之液晶顯示裝置之剖面圖。如圖2所示,本發明之液晶顯示裝置200包含液晶胞210、包夾其之第一偏光板220及第二偏光板230、及背光單元240。
液晶胞210之顯示模式為例如STN(Super-Twisted Nematic,超扭轉向列)、TN(Twisted Nematic,扭轉向列)、OCB(Optically Compensated Bend,光學補償彎折)、HAN(Hybridaligned Nematic,混合排列向列)、VA(
Vertical Alignment,垂直排列)、MVA(Multidomain Vertical Alignment,多域垂直排列)、PVA(Patterned Vertical Alignment,圖型化垂直排列)、IPS(In-Plane-Switching,平面切換)等。例如,攜帶設備用途之液晶顯示裝置,較佳為IPS模式。
第一偏光板220係經由黏著劑層224配置於液晶胞210之視覺辨識側之面。第一偏光板220包含第一偏光器221、配置於第一偏光器221之視覺辨識側之面之保護膜222(F1)、配置於第一偏光器221之液晶胞側之面的保護膜223(F2)、配置於第一偏光器221與保護膜222(F1)之間及第一偏光器221與保護膜223(F2)之間的2個接著劑層225。
第二偏光板230係經由黏著劑層234配置於液晶胞210之背光單元240側之面。第二偏光板230包含第二偏光器231、配置於第二偏光器231之液晶胞210側之面之保護膜232(F3)、配置於第二偏光器231之背光單元240側之面之保護膜233(F4)、及配置於第二偏光器231與保護膜232(F3)之間及第二偏光器231與保護膜233(F4)之間的2個接著劑層235。
第一偏光器221之吸收軸與第二偏光器231之吸收軸較佳為正交(成為正交科涅耳)。且,以液晶胞210、第一偏光板220及第二偏光板230構成之單元亦稱為液晶顯示面板250。
接著,第一偏光板220及第二偏光板230之至少一者係本發明之偏光板。亦即,第一偏光板220為本發明之偏光板之情況,保護膜222(F1)係保護膜A(於圖1係保護膜120A),保護膜223(F2)係保護膜B(於圖1係保護膜120B),黏著劑層224係黏著劑層(於圖1係黏著劑層140A)。同樣地,第二偏光板230為本發明之偏光板之情況,保護膜233(F4)係保護膜A(於圖1係保護膜120A),保護膜232(F3)係保護膜B(於圖1係保護膜120B),黏著劑層234係黏著劑層(於圖1係黏著劑層140A)。
[實施例]
以下,藉由實施例具體說明本發明,本發明並非僅限定於此等者。
1. 保護膜之材料
(1)樹脂
準備以下之樹脂1~5。
樹脂1:MMA/PMI/BA共聚物(80/10/10質量比),Tg:120℃、Mw:200萬。
樹脂2:MMA/PMI/MA共聚物(80/10/10質量比),Tg:119℃、Mw:200萬。
樹脂3:PMMA,Tg:106℃,Mw:100萬
樹脂4:聚對苯二甲酸乙二酯(PET),Tg:151℃。
樹脂5:三乙醯纖維素(TAC),Tg:160℃。
樹脂6:甲基丙烯酸甲酯/丙烯酸甲酯共聚物(96/4質量比)
樹脂7:降冰片烯系樹脂
樹脂1~5之玻璃轉移溫度及重量平均分子量係藉以下方法測定。
(玻璃轉移溫度)
樹脂之玻璃轉移溫度(Tg)係使用DSC(Differential
Scanning Colorimetry:示差掃描熱析法),依據
JIS K 7121-2012測定。
(重量平均分子量)
樹脂之重量平均分子量係使用凝膠滲透層析儀(
TOSOH公司製 HLC8220GPC)、管柱(TOSOH公司製 TSK-GEL G6000HXL-G5000HXL-G5000HXL-G4000HXL-
G3000HXL串聯)而測定。將試料20mg±0.5mg溶解於四氫呋喃10ml,以0.45mm之過濾器過濾。將溶液100ml注入至管柱(溫度40℃),以檢測器RI溫度40℃測定,並使用苯乙烯換算之值。
2)橡膠粒子
丙烯酸系橡膠粒子M-210(核部:多層構造之丙烯酸系橡膠狀聚合物,殼部:以甲基丙烯酸甲酯為主成分之甲基丙烯酸酯系聚合物之核殼型橡膠粒子,丙烯酸系橡膠狀聚合物之Tg:約-10℃、平均粒徑:220nm)
橡膠粒子之平均粒徑藉以下方法測定。
(平均粒徑)
所得分散液中之橡膠粒子之分散粒徑係藉由ζ電位・粒徑測定系統(大塚電子股份有限公司製 ELSZ-2000ZS)測定。
2. 保護膜之製作或準備
<保護膜101之製作>
(橡膠粒子分散液之調製)
以溶解器將10質量份的橡膠粒子及190質量份之二氯甲烷攪拌混合50分鐘後,使用Milder分散機(大平洋機工股份有限公司製)於1500rpm條件下分散,獲得橡膠粒子分散液。
(濃液調製)
接著,調製下述組成之濃液。首先,於加壓溶解槽中添加二氯甲烷及乙醇。接著,邊攪拌樹脂1邊投入加壓溶解槽。接著,投入上述調製之橡膠粒子分散液,並邊攪拌使其完全溶解。使用ROKITECHNO(股)製之SHP150將其過濾,獲得濃液。
樹脂1((甲基)丙烯酸系樹脂):100質量份
二氯甲烷:200質量份
乙醇:40質量份
橡膠粒子分散液:200質量份
(製膜)
接著,使用上述保存後之濃液進行製膜。具體而言,使用環狀帶流延裝置,將濃液以溫度30℃、1800mm寬均一流延於不鏽鋼帶支撐體上。不鏽鋼帶之溫度控制於28℃。
於不鏽鋼帶支撐體上,蒸發溶劑直至經流延(cast)之濃液中之殘留溶劑量成為30質量%。接著,以剝離張力128N/m,從不鏽鋼帶支撐體剝離,獲得膜狀物。剝離時之膜狀物之殘留溶劑量為30質量%。
接著,邊以多數滾筒搬送經剝離之膜,邊使所得之膜狀物以拉幅機於140℃(Tg+20℃)之條件下朝寬度方向(TD方向)延伸20%。其後,邊以輥搬送邊以100℃(Tg-20℃)進而乾燥,將經拉幅機夾具夾住之端部切開並捲取成捲筒狀,獲得長度3000m、寬度1.5m、膜厚40μm之保護膜101(捲筒體)。
<保護膜102~105及108~110之製作>
除了將樹脂種類及橡膠粒子含量變更如表1所示以外,與保護膜101同樣獲得保護膜102~105及保護膜108~ 110。
<保護膜106>
準備聚對苯二甲酸乙二酯膜(東洋紡公司製
COSMOSHINE A4100)作為保護膜106。
<保護膜107>
準備三乙醯纖維素膜(KONICA MINOLTA公司製
KC4UAW)作為保護膜107。
<評價>
藉以下方法測定所得之保護膜101~110之平衡含水率。
(平衡含水率)
將所得保護膜於23℃55% RH下調濕48小時後,於同條件下測定保護膜之重量(重量M1)。其後,以烘箱於130℃乾燥保護膜8小時後,同樣測定重量(重量M2)。接著,將所得重量M1、M2代入下述式,算出平衡含水率。
平衡含水率(質量%)={(M1-M2)/M2}×100
於表1顯示保護膜101~110之評價結果。
3. 偏光板之材料
<偏光器之製作>
以35℃之水膨潤厚度25μm之聚乙烯醇系膜。所得之膜於由碘0.075g、碘化鉀5g及水100g所成之水溶液中浸漬60秒,進而浸漬於由碘化鉀3g、硼酸7.5g及水100g所成45℃之水溶液中。所得之膜以延伸溫度55℃、延伸倍率5倍之條件單軸延伸。該單軸延伸膜經水洗後乾燥,獲得厚度12μm之偏光器。
<紫外線硬化性接著劑組成物之調製>
混合下述成分後,脫泡,調製紫外線硬化性接著劑組成物。
3,4-環氧基環己甲基-3,4-環氧基環己羧酸酯:45質量份
EPOLEAD-GT301(DAICEL公司製脂環式環氧樹脂):40質量份
1,4-丁二醇二縮水甘油醚:15質量份
三芳鋶六氟磷酸鹽:2.3質量份(固形分)
9,10-二丁氧基蒽:0.1質量份
1,4-二乙氧基萘:2.0質量份
且,三芳鋶六氟磷酸鹽調配為50%碳酸伸丙酯溶液。
<黏著劑組成物之調製>
(黏著劑組成物之調製)
相對於不具有源自酸成分(含羧基之單體)構造單位之(甲基)丙烯酸系單體溶液之固形分100質量份,添加異氰酸酯系交聯劑(商品名:TAKENATE D110N、三羥甲基丙烷二甲苯二異氰酸酯,三井化學(股)製)0.1質量份,過氧化物系交聯劑之過氧化苯甲醯(商品名:NYPER BMT,日本油脂(股)製)0.4質量份並攪拌,獲得黏著劑組成物(丙烯酸系黏著劑組成物)。
(黏著劑層之製作)
所得黏著劑層以噴注式塗佈器均一塗佈於經矽氧系剝離劑處理且厚度38μm之聚對苯二甲酸乙二酯膜(PET膜,脫模膜)上,以155℃之空氣循環式恆溫烘箱乾燥2分鐘,形成厚度20μm之黏著劑層。藉此,獲得附黏著劑層之PET膜。
4. 偏光板之製作及評價
<偏光板201之製作>
(1)保護膜A、B之溫水處理
作為保護膜A,於上述製作後,自已保管一定時間之捲筒體捲出保護膜105,邊朝搬送方向施以300N之張力邊以60秒通過裝滿50℃溫水之槽內,實施溫水處理。
同樣的,作為保護膜B,於上述製作後,自已保管一定時間之捲筒體捲出保護膜101,邊朝搬送方向施以300N之張力邊以60秒通過裝滿50℃溫水之槽內,實施溫水處理。
(2)保護膜A、B之熱處理
接著,經溫水處理之保護膜105(保護膜A)邊朝搬送方向施以300N之張力邊以30秒通過保持於76℃(Tg-30℃)之加熱爐內,實施熱處理。
同樣的,經溫水處理之保護膜101(保護膜B)邊朝搬送方向施以300N之張力邊以30秒通過保持於90℃(Tg-30℃)之加熱爐內,實施熱處理。
(3)貼合
接著,對熱處理後之保護膜105及101之貼合面,以電暈輸出強度2.0kW、線速度18m/分,分別實施電暈放電處理。
接著,於保護膜105及101之電暈放電處理面,以硬化後之膜厚成為約3μm之方式以棒塗佈器分別塗佈上述調製之紫外線硬化性接著劑組成物,形成紫外線硬化性接著劑層。
接著,分別於上述製作之偏光器之一面,經由紫外線硬化性接著劑層貼合保護膜105(保護膜A),於另一面,經由紫外線硬化性接著劑層貼合保護膜101(保護膜B),獲得積層物。貼合係以偏光器之吸收軸與保護膜之慢軸正交之方式進行。
接著,對所得積層物,使用附輸送帶之紫外線照射裝置(燈係使用Fusion UV System公司製之D燈泡),照射累積光量成為750mJ/cm2
之紫外線,使紫外線硬化性接著劑層硬化。
接著,於所得積層物之保護膜101上,貼合上述製作之附有黏著劑層之PET膜,獲得具有保護膜105(保護膜A)/接著劑層/偏光器/接著劑層/保護膜101(保護膜B)/黏著劑層/PET膜之積層構造之偏光板201。
<偏光板202~207、215及216之製作>
除了將保護膜A及保護膜B之組合變更為如表2所示以外,與偏光板201同樣獲得偏光板202~207、215及216。
<偏光板208~214之製作>
除了保護膜A及B之溫水處理及熱處理之條件變更為如表2所示以外,以與偏光板201同樣之方法獲得偏光板208~214。
<偏光板217之製作>
除了不進行保護膜A之溫水處理及熱處理以外,以與偏光板201同樣之方法獲得偏光板217。
<偏光板218之製作>
除了針對保護膜A及B不進行溫水處理,僅進行熱處理以外,以與偏光板206同樣之方法獲得偏光板218。
<評價>
藉以下方法測定所得偏光板之表面缺陷、捲曲及液晶顯示裝置之環狀不均。
(表面缺陷)
所得偏光板使用切割機裁斷成100片之55型顯示器(約122cm×約69cm)之大小。針對裁斷後之100片偏光板,計算具有因保護膜引起之凹凸缺陷之偏光板數。接著,基於以下基準,評價表面缺陷
◎:具有凹凸缺陷之偏光板為5片以下
○:具有凹凸缺陷之偏光板為6~10片
△○:具有凹凸缺陷之偏光板為11~15片
△:具有凹凸缺陷之偏光為16~20片
×:具有凹凸缺陷之偏光板為21片以上
若為△以上,判斷為良好。
(偏光板之捲曲)
將所得偏光板切成30cm×30cm之大小。所得偏光板試料以該試料之凸側面朝向載台面而配置。接著,分別測定偏光板試料之4個角落a~d之距載台面之高度,代入下述關係式,求得捲曲量C。
Ha:角落a之距載台之高度(mm)
Hb:角落b之距載台之高度(mm)
Hc:角落c之距載台之高度(mm)
Hd:角落d之距載台之高度(mm)
L:偏光板試料之長度(=300mm)
接著,基於以下評價基準,針對偏光板之捲曲量進行評價。
◎:捲曲量C為0%以上未達3%
○:捲曲量C為3%以上未達6%
△○:捲曲量C為6%以上未達8%
△:捲曲量C為8%以上未達10%
×:捲曲量C為10%以上
若為△以上,判斷為良好。
(液晶顯示裝置之環狀不均)
(1)具有觸控面板構件之液晶顯示裝置之製作
從具有觸控面板構件之液晶顯示裝置的SONY公司製21.5英吋VAIO Tap21(SVT21219DJB),剝離已預先貼合之2片偏光板,並分別貼合上述製作之偏光板,獲得具有觸控面板構件之液晶顯示裝置。偏光板之貼合係以保護膜B成為液晶胞側。
(2)環狀不均之觀察
使所得液晶顯示裝置進行白顯示,由複數位評價者目視觀察從正面及斜向觀察時之不均。
◎:任一評價者均未看見不均
○:評價者可隱約看見不均之情況,但可作為製品使用之等級
△:多數之評價者可隱約看見不均
×:所有評價者均看見不均
若為△以上,判斷為良好。
於表2顯示所得偏光板201~218之構成,於表3顯示評價結果。
如表3所示可知滿足保護膜A之平衡含水率a<保護膜B之平衡含水率b之偏光板201~204、208~212、215及217,皆可抑制液晶顯示裝置之環狀不均。
尤其可知若平衡含水率之差(b-a)為0.5質量%以上,可更顯著地抑制環狀不均(偏光板201與203之對比)。又,可知若平衡含水率之差(b-a)為0.4質量%以下,可進一步抑制伴隨尺寸變化量之差的偏光板之捲曲(偏光板201~204之對比)。
又可知不僅保護膜B,保護膜A亦藉由溫水處理及熱處理,可進一步抑制表面缺陷(偏光板217與201之對比)。
相對於此,可知保護膜A之平衡含水率a=保護膜B之平衡含水率b之偏光板206及保護膜A之平衡含水率a>保護膜B之平衡含水率b之偏光板207,皆無法抑制液晶顯示裝置之環狀不均。又,可知未進行保護膜A及B之溫水處理之偏光板218無法修復表面缺陷。
[產業上之可利用性]
根據本發明,可提供可修復保護膜之表面缺陷且抑制液晶顯示裝置之環狀不均之偏光板、偏光板之製造方法及使用其之液晶顯示裝置。
100:偏光板
110:偏光器
120A,222,232:保護膜(保護膜A)
120B,223,233:保護膜(保護膜B)
130A,130B,225,235:接著劑層
140,224,234:黏著劑層
200:液晶顯示裝置
210:液晶胞
220:第一偏光板
221:第一偏光器
230:第二偏光板
231:第二偏光器
240:背光單元
250:液晶顯示面板
[圖1]係顯示本發明一實施形態之偏光板之剖面圖。
[圖2]係顯示本發明一實施形態之液晶顯示裝置之剖面圖。
Claims (8)
- 一種偏光板,其包含偏光器、配置於前述偏光器之一面之保護膜(A)、配置於前述偏光器之另一面之保護膜(B)及配置於前述保護膜(B)之與前述偏光器相反側之面之黏著劑層,前述保護膜(B)包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子,前述(甲基)丙烯酸系樹脂係相對於構成前述(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位,包含50~95質量%之源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位、1~25質量%之源自苯基馬來醯亞胺之構造單位及1~25質量%之源自丙烯酸烷酯之構造單位之共聚物,將前述保護膜(A)於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為a(質量%),將前述保護膜(B)於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為b(質量%)時,滿足下述式(1),式(1) a<b前述保護膜(A)包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子,並且前述保護膜(B)中之前述橡膠粒子含量少於前述保護膜(A)中之前述橡膠粒子之含量。
- 如請求項1之偏光板,其中前述保護膜(B)之前述平衡含水率b為1.5~2.0質量%。
- 如請求項1或2之偏光板,其中前述保護膜(B)與前述保護膜(A)之平衡含水率的差(b-a)為0.5~1.5質量%。
- 如請求項1或2之偏光板,其中前述保護 膜(A)之前述平衡含水率a未達1.5質量%。
- 一種偏光板之製造方法,其具有下述步驟:將保護膜(B)以30℃以上之溫水進行處理之步驟,將前述保護膜(B)之玻璃轉移溫度設為Tg時,將前述經處理之保護膜(B)於(Tg-70)~(Tg+10)℃進行熱處理之步驟,將前述經熱處理之保護膜(B)貼合於偏光器之一面,將保護膜(A)貼合於前述偏光器之另一面之步驟,於前述保護膜(B)之與前述偏光器相反側之面,形成黏著劑層之步驟,前述保護膜(B)包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子,前述(甲基)丙烯酸系樹脂係相對於構成前述(甲基)丙烯酸系樹脂之全部構造單位,包含50~95質量%之源自甲基丙烯酸甲酯之構造單位、1~25質量%之源自苯基馬來醯亞胺之構造單位及1~25質量%之源自丙烯酸烷酯之構造單位之共聚物,將前述保護膜(A)於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為a(質量%),將前述保護膜(B)於23℃、55%RH下測定之平衡含水率設為b(質量%)時,滿足下述式(1),式(1) a<b前述保護膜(A)包含(甲基)丙烯酸系樹脂與橡膠粒子,並且前述保護膜(B)中之前述橡膠粒子含量少於前述保護膜(A)中之前述橡膠粒子之含量。
- 如請求項5之偏光板之製造方法,其進而具有下述步驟:將前述保護膜(A)以30℃以上之溫水進行處理之步驟,將前述經處理之前述保護膜(A)於(Tg-70)~(Tg+10)℃進行熱處理之步驟,將前述經熱處理之前述保護膜(A)貼合於前述偏光器之另一面。
- 一種液晶顯示裝置,其具有液晶胞,配置於前述液晶胞之一面之第一偏光板,配置於前述液晶胞之另一面之第二偏光板,前述第一偏光板與前述第二偏光板之至少一者為如請求項1至4中任一項之偏光板,前述偏光板之前述黏著劑層與前述液晶胞接著。
- 如請求項7之液晶顯示裝置,其中前述液晶胞係IPS方式之液晶胞。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
WOPCT/JP2019/042415 | 2019-10-29 | ||
PCT/JP2019/042415 WO2021084625A1 (ja) | 2019-10-29 | 2019-10-29 | 偏光板、偏光板の製造方法および液晶表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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TW202120319A TW202120319A (zh) | 2021-06-01 |
TWI851840B true TWI851840B (zh) | 2024-08-11 |
Family
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW201447431A (zh) | 2013-05-01 | 2014-12-16 | Fujifilm Corp | 液晶顯示裝置 |
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TW201447431A (zh) | 2013-05-01 | 2014-12-16 | Fujifilm Corp | 液晶顯示裝置 |
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