TWI819953B - 前開式物料盒的潔淨度檢測方法及其裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種前開式物料盒的潔淨度檢測方法,包括針對相互分離的一盒體及一前蓋,使用一中空的檢測框相互對接該盒體和該前蓋成一體並且相互連通形成一氣體腔室,隨後憑藉該檢測框提供一供氣管道和一擷氣管道分別連通該氣體腔室,該供氣管道導引一檢測氣體進入該氣體腔室內吹拂並且挾帶至少一潔淨度判斷因子,促該擷氣管道擷取已挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體進行潔淨度檢測,本發明還提供一種具以實施該潔淨度檢測方法的檢測裝置,賴以精確地檢知盒體及前蓋的內壁所殘留的水分子以及微粒。

Description

前開式物料盒的潔淨度檢測方法及其裝置
本發明涉及容置半導體晶元、載板或其它物件用的前開式物料盒,特別有關該物料盒在清洗前、後的潔淨度檢測技術,尤其是一種前開式物料盒的潔淨度檢測方法及其裝置。
前開式物料盒(Front Opening Unified Pod,以下簡稱FOUP)是由一盒體的開口上結合一可開啟及封閉該開口的前蓋組成。該FOUP可泛見於半導體製程中,用於容置及載運半導體晶元進行一系列的工序場合被應用,以確保半導體晶元的高精度製程良率。為此,FOUP內的潔淨度便顯得非常重要且必須加以監管。所述潔淨度,泛指FOUP內於各工序中或清潔後,所累積或殘留水分子的濕度(或稱乾燥度)、累積或殘留微粒的落塵量,以及揮發性有機化合物(VOC)、二氧化硫(SO2)、氨類(Amines)、酸度(Acids)、氨氣(NH3)等的殘留量。
基於潔淨度的高標準要求,陳如CN102804332B、TW201400202A、CN1082222A、US20140069467A1等專利已教示在半導體晶元的製程中規劃一清潔加工區站,針對已進行特定工序後的FOUP進行包含濕清洗及乾燥在內的清潔加工,並且加以檢測FOUP清潔後的所述潔淨度是否符合既定標準的需求。
且知,使用FOUP容置及載運半導體晶元的技術,目前已被應用至傳送高階電路載板的場合,例如像崁入式多晶片互連橋接(EMIB)用電路載板或使用ABF作為增層材料的電路載板等,這些高階電路載板的面域相對較傳統PCB大,且採用長方形的排版模式呈現,使得高階電路載板的硬度也相對較傳統PCB軟;當然,隨著需求端客製化的多樣性,大面域的載板亦當包含大面域的PCB,並且使用FOUP加以容置及載運。
依此,當FOUP內之容置物必須由晶元變更成是高階電路載板或PCB時,FOUP的盒體內壁除了必須分層附具雙側的端肋之外,還必須於每一層的中間附加一懸狀的支撐肋條,才能使每一個FOUP內部能夠穩定的容置多片載板或PCB。此外,相應於半導體晶元,使用FOUP容置及載運上述載板或PCB進行一系列製程工序的過程中,同樣需求一清潔加工區站對載板或基板用FOUP進行清潔加工,由於載板或基板用FOUP的盒體內壁多出晶元用FOUP的盒體內壁所沒有的懸狀支撐肋條,使其清潔過程相對較晶元用FOUP更為困難。然而,本發明人先前公開的TWI762273、TW I762311專利,已揭露了對載板或基板用FOUP進行清潔加工,並檢測該FOUP清潔後的潔淨度是否符合既定標準的技術。
關於上述FOUP的潔淨度的檢測,可由TWI762273及TW I762311專利共同教示的下列兩種實施例得知:
第一種實施方式:對FOUP的盒體及前蓋依序進行開蓋、濕清洗、除水、乾燥及閉蓋的工序之後,特別是針對已在盒體上閉合前蓋的FOUP,使其移動至一裝載端口(load port)或平台上,並且提供潔淨的正壓乾燥空氣(以下簡稱檢測氣體)導入已閉蓋的FOUP內,吹拂FOUP的內壁,使殘留於FOUP內壁的水分子和微粒能挾帶於檢測氣體中並且跟隨檢測氣體一起自該裝載端口上提供的一擷氣管道排出,進而接受包含濕度及微粒落塵量的檢測,以判斷清潔後的FOUP潔淨度是否達標。
上述第一種實施方式的優點為,FOUP的盒體及前蓋能同時進行潔淨度檢測。且知,由於FOUP的前蓋為適應製程上的需求,本具有能各自單向通氣的一氣體入口及一氣體出口,而且該氣體入口及該氣體出口分別設置有能限制氣體單向流通的膜片甚致是過濾元件,這些已知構裝是屬FOUP的既定規格而不可變動。依此,所述檢測氣體的供氣管道是經由該單向的氣體入口導入已閉蓋的FOUP內,且FOUP內挾帶有水分子和微粒的檢測氣體是由該單向的氣體出口連通至該擷氣管道排出。其中,對於憑藉該裝設有單向膜片、過濾元件的氣體入口來導引檢測氣體進入FOUP內進行濕度檢測並無罣礙;惟,對於憑藉該裝設有單向膜片、過濾 元件的氣體出口來在單向擷取FOUP內該挾帶有水分子及微粒的檢測氣體排出時,所述水分子及微粒卻容易受到該氣體出口處之單向膜片、過濾元件的阻攔,而影響濕度及落塵量檢測的精確性,為其缺失所在。
第二種實施方式:對FOUP的盒體及前蓋依序進行開蓋、濕清洗、除水、乾燥的工序之後,特別是閉蓋之前,直接利用對盒體進行真空乾燥的一腔室,使盒體能於該腔室內完成乾燥工序之後,直接於該腔室內導入所述檢測氣體,吹拂盒體的內壁,使殘留於盒體內壁的水分子和微粒能挾帶於檢測氣體中並且跟隨檢測氣體一起自該腔室提供的一擷氣管道排出,進而接受包含濕度及微粒落塵量的檢測,以判斷清潔後的盒體潔淨度是否達標。
上述第二種實施方式的優點為,在憑藉該擷氣管道擷取挾帶有水分子及微粒的檢測氣體自該前蓋上之單向氣體出口排出時,可免除水分子及微粒遭受單向氣體出口處之膜片、過濾元件的阻攔。惟,此種開蓋檢測方式卻僅能在該獨立腔室內對FOUP的盒體進行潔淨度檢測,對於FOUP的前蓋而言,還必須憑藉其它額外的腔室才能進行潔淨度檢測,故有增加潔淨度檢測工序的問題。再者,檢測氣體是導入所述腔室內,不是僅導入FOUP的盒體內,且知盒體的內壁及外壁皆是共同顯露於所述腔室內,因此檢測氣體在所述腔室內能挾帶或擷取的,不單單只是殘留在盒體內壁上的水分子及微粒,還包含盒體外壁上的水分子及微粒,如此一來,會影響專注於對盒體內壁進行潔淨度檢測的精確性。
此外,上述兩種實施方式還共同存在一缺點,即所述檢測氣體的導入方式容易受到前蓋或乾燥腔室上既定規格的氣體入口位置的限制,而使得導引檢測氣體進入FOUP內或所述腔室內的方向欠缺可變性,對於內壁構造相對複雜的載板或PCB用的FOUP而言,可吹拂即揚起內壁上殘留的水分子和微粒的供氣角度較為受限。
有鑑於此,本發明特別是捨棄從前開式物料盒(即FOUP)之前蓋的氣體入口和氣體出口導流檢測氣體而對整個FOUP之內部進行潔淨 度檢測的作法,並且排除使用額外的腔室充填檢測氣體而只能對盒體進行潔淨度檢測的作法。進言之,本發明提供獨創的檢測氣體導氣工法,在排除使用額外的腔室充填檢測氣體的情況下,對盒體及前蓋的內壁及其框圍的空間進行潔淨度檢測,促使殘留水分子的濕度檢測以及殘留微粒的落塵量檢測能在檢測氣體的同一擷氣通道中被精確地檢知。
本發明之潔淨度檢測技術可適應半導體晶用、載板用或其他物件用的前開式物料盒,特別是針對該物料盒的一盒體及一前蓋的內壁進行潔淨度檢測。
為此,本發明一較佳實施例在於提供一種前開式物料盒的潔淨度檢測方法,包括:針對相互分離的該盒體及該前蓋,使用一中空的檢測框相互對接該盒體和該前蓋成一體,使該盒體、該檢測框和該前蓋的內部相互連通形成一氣體腔室,且該盒體、該檢測框和該前蓋各自的一內壁分別顯露於該氣體腔室的四周;隨後憑藉該檢測框提供一供氣管道和一擷氣管道分別連通該氣體腔室,令該供氣管道導引一檢測氣體進入該氣體腔室,吹拂並挾帶該氣體腔室內和所述內壁上的至少一潔淨度判斷因子,續令該擷氣管道擷取已挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體進行潔淨度檢測。其中,至少一所述潔淨度判斷因子包含水分子、微粒、揮發性有機化合物(VOC)、二氧化硫(SO2)、氨類(Amines)、酸度(Acids)、氨氣(NH3)的至少其中之一。
進一步的說,在上述方法中接受潔淨度檢測的該盒體及該前蓋可隸屬於已接受清洗並且乾燥完成的所述物料盒,或為內部尚未接受清潔的所述物料盒。
在進一步實施中,該檢測框沿一組裝軸線相互對接該盒體和該前蓋。此外,上述方法還包括在所述潔淨度檢測之後,先分離該檢測框上的該盒體及該前蓋,而後相互閉合該盒體及該前蓋成為一前開式物料盒。其中,該盒體及該前蓋是沿該組裝軸線相互閉合成所述前開式物料盒。
本發明之另一較佳實施例在於提供一種前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,包括利用至少一移載器驅動該盒體、該前蓋、該檢測框的 至少其中之二,驅使該檢測框能對接於該盒體和該前蓋之間成一體,進而在所述氣體腔室內導入及擷取所述檢測氣體,以便於憑藉該擷氣管道所外接的至少一潔淨度檢測元件來檢知該檢測氣體中至少一潔淨度判斷因子的含量。
在進一步實施中,該檢測框兩端分別形成有一盒體對接端部及一前蓋對接端部,該檢測框經由該盒體對接端部和該盒體的一開口端部相互對接,且該檢測框經由該前蓋對接端部和該前蓋的一罩合端部相互對接。
在進一步實施中,該檢測框內形成連通該盒體對接端部和該前蓋對接端部的一框孔,且該框孔內配置有至少一擷氣口及多個分別朝向該盒體四周內壁的噴頭,該供氣管道連接多個所述噴頭而導引所述檢測氣體進入該氣體腔室,該擷氣管道連接至少一所述擷氣口而擷取該氣體腔室內挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體。其中,多個所述噴頭可分佈於至少一所述擷氣口的外圍。
再者,至少一所述潔淨度檢測元件可包含一粒子檢測儀、一濕度檢測儀的其中之一或者兩者兼備;該框孔的內壁顯露於該氣體腔室內的面積,遠小於該盒體和該前蓋之內壁面積的總合,促使該擷氣管道擷取該氣體腔室內的檢測氣體時,能較為精確的經由該粒子檢測儀、該濕度檢測儀判讀該物料盒真實內壁的潔淨度。
在進一步實施中,至少一所述移載器為具有多軸向移動能力的一機械手臂;或者說至少一所述移載器包含能往復驅動該檢測框沿一X軸向位移的一檢測滑台,以及能往復驅動該盒體和該前蓋各自沿一Z軸向位移而和該檢測框對接的至少一升降器;其中,至少一所述升降器可包含一盒體取放手臂和一前蓋升降台。在進一步實施中,該盒體可為止動狀態,使該盒體之一開口沿一Y軸向開放,至少一所述移載器包含能往復驅動該檢測框沿一X-Y軸向位移的一檢測滑台,以及能往復驅動該前蓋沿一Y軸向 對接該檢測框和閉合該盒體之開口的一開蓋滑台。上述實施內容可支持至少一所述移載器的可應用範圍具有多樣性的選擇。
依上述技術內容,本發明最重要的技術特徵在於:使用所述檢測框相互對接該盒體和該前蓋成一體而進行檢測氣體的導流及檢測。其中,該供氣管道和該擷氣管道是裝設於該氣體腔室上,不是憑藉該前蓋既有設有單向膜片或過濾元件的氣體入口和氣體出口來導流檢測氣體;特別的,由於檢測氣體本屬具正壓(大於1atm)且潔淨的乾燥空氣、氮氣等,乃至於本發明的供氣管道和擷氣管道並無需憑藉單向膜片或過濾元件來單向導引並過濾該檢測氣體,換言之,本發明的供氣管道和擷氣管道並無安裝單向膜片或過濾元件,因此當該擷氣管道在擷取氣體腔室內具正壓的檢測氣體排出時,該檢測氣體中挾帶的水分子及微粒並不會單向膜片或過濾元件的阻攔,再加上本發明之檢測框的框孔內壁顯露於氣體腔室內的面積遠小於該盒體和該前蓋之內壁面積的總合,使得本發明在檢測所述物料盒內部濕度及落塵量時能取得較佳的精確性。
此外,本發明還能對所述物料盒的盒體及盒蓋的內壁同時進行潔淨度檢測,並且排除盒體及盒蓋的外壁接觸檢測氣體,亦或使用習見的乾燥腔室讓檢測氣體接觸該腔室的四周內壁,而影響潔淨度的檢測精確性。
再者,由於本發明之供氣管道是配置於檢測框上,因此該供氣管道並無需受到前蓋既有的氣體入口的拘束,且該供氣管道還便於連接多個可分向延伸至盒體內壁及前蓋內壁的噴頭,使得對於殘留在所述物料盒內,特別是殘留在盒體內之雙側端肋上及中置的懸狀支撐桿上的水分子和微粒,起到有效噴除效果。
由此可知,相較於先前技術,本發明在對所述物料盒內壁進行潔淨度檢測時,顯然可在提升檢測精確性方面作出貢獻,為此,相關本發明實施上的詳實內容,將搭配圖式進一步說明於下。
10:物料盒
11:盒體
11a:雙側壁面
11b:底部壁面
11c:開口
11d:開口端部
12:前蓋
12a:內壁
12b:罩合端部
13:端肋
14:容置腔
15:懸狀支撐桿
16:載板
20:檢測框
20a:盒體對接端部
20b:前蓋對接端部
20c:框孔
21:供氣管道
21a:噴頭
22:擷氣管道
22a:擷氣口
23:粒子檢測儀
24:濕度檢測儀
25:揮發性有機化合物分析儀
26:二氧化硫分析儀
27:氨類分析儀
28:酸度分析儀
29:氨氣分析儀
30:氣體腔室
41:檢測滑台
42:升降器
42a:前蓋升降台
42b:盒體取放手臂
43:檢測滑台
44:開蓋滑台
45:前蓋擷取器
L:組裝軸線
圖1是傳統載板用前開式物料盒的立體分解示意圖,說明本發明以該物料盒作為檢測對象。
圖2(a)至(e)依序是本發明對物料盒執行潔淨度檢測的動作流程示意圖。
圖3是本發明潔淨度檢測裝置之一較佳實施例的立體分解示意圖。
圖4(a)至(h)依序為圖3所示裝置執行潔淨度檢測時的動作流程示意圖。
圖5本發明潔淨度檢測裝置之另一較佳實施例的立體分解示意圖。
圖6(a)至(k)依序為圖5所示裝置執行潔淨度檢測時的動作流程示意圖。
本發明以應用於容置及載運一般載板(或基板)的前開式物料盒為例,作為本發明實施檢測之對象,陳如圖1所示圖例,揭露該前開式物料盒10(即FOUP)是由一盒體11及一前蓋12組成,該盒體具一提供該前蓋12閉合的開口11c,該盒體11及前蓋12具有晶元用FOUP的相同特徵,特別包括該盒體11的雙側壁面11a上具有凸伸成隔層式的多個梳狀的端肋13;除此之外,該盒體11內還必須形成多支對應於所述端肋13的懸狀支撐桿15,所述支撐桿15可由盒體11的底部壁面11b〔搭配圖2(c)所示〕凸伸至容置腔14而呈懸持狀,以便利用雙側端肋13來支撐載板16的雙端,並且利用懸狀支撐桿15來架持載板16的中段部,避免載板16在物料盒10內發生塌陷或相互干涉的現象。
請續參閱圖2,揭露本發明針對上述物料盒10所實施之一種較佳實施例的潔淨度檢測方法,包括先讓上述盒體11及前蓋12呈現相互分離(即開啟或稱開蓋)的狀態〔如圖2(a)所示〕;進一步的說,所述盒體11及前蓋12可以共同作落在一組裝軸線L上,亦或是在準備執行潔淨度檢測時,被周邊的移動設備移載至該組裝軸線L上而呈相互分離的對應狀態。所述盒體11及前蓋12可以是在通過包括濕清洗、除水、真空乾燥等清潔工序之後,而且尚未在所述盒體11的開口11c處閉合前蓋12的狀態下時,接續執行本發明之潔淨度檢測方法,以確知清潔工序清潔的成效。或者,所述盒體 11及前蓋12也可以是載運載板進行必要製程工序而沾染有製程微粒的狀態下,經一般機械手臂或其它已知的開蓋機構,開啟所述盒體11上的前蓋12並卸除載板之後,執行本發明之潔淨度檢測方法,以確知尚未清潔前所述盒體11的一內壁(容後詳述)與前蓋12的內壁12a已沉積微粒的骯髒程度,進而判斷是否續行清潔工序。其中,所述盒體11的內壁,在本實施中應當包含圖1及圖2(c)所示顯露於容置腔14內之盒體11的雙側壁面11a、底部壁面11b、雙側端肋13外表面以及懸狀支撐桿15的外表面。
換言之,本發明之潔淨度檢測方法,可以安插在物料盒10的清潔工序之前、之後亦或載板進行製程工序的過程中進行。其中,本發明的潔淨度檢測方法,也可包含應用機械手臂或其它已知開蓋機構而對已閉合前蓋12的盒體11執行開啟前蓋12的工序。
接續,本發明使用一中空的檢測框20相互對接該盒體11和該前蓋12成一體,包括將該檢測框20移動至盒體11與前蓋12中間的組裝軸線L上〔如圖2(a)至圖2(b)所示〕,使盒體11與前蓋12能分別和該檢測框20相互對接成一體〔如圖2(c)所示〕。其中,所述中空的檢測框20意指該檢測框20具有中空的框型輪廓特徵,並且能提供該盒體11和該前蓋12能分別和該檢測框20相互對接成一體,使該檢測框20能居中結合於該盒體11和該前蓋12之間,且該盒體11的容置腔14、該檢測框20內部和該前蓋12的內壁依序相互連通形成一氣體腔室30,其中該盒體11的前述內壁、該檢測框20的內壁和該前蓋12的內壁12a分別顯露於該氣體腔室30的四周。
隨後,本發明憑藉該檢測框20能提供至少一供氣管道21和一擷氣管道22分別連通該氣體腔室30;其中,所述供氣管道21上能連接多個分別對準該盒體11的前述內壁和該前蓋12的內壁12a的噴頭21a,該擷氣管道22設有至少一擷氣口22a〔如圖2(c)所示〕,令該供氣管道21導引一檢測氣體經由多個所述噴頭21a噴入氣體腔室30中,吹拂並且挾帶該氣體腔室30內、該盒體11的前述內壁和該前蓋12的內壁12a上的至少一潔淨度判斷因子,續令該擷氣管道22擷取已挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體外排,用以進行潔淨度檢測。其中,所述檢測氣體可以使用潔淨的乾燥空氣 亦或是氮氣(N2)等,至少一所述潔淨度判斷因子包含水分子、微粒、揮發性有機化合物(VOC)、二氧化硫(SO2)、氨類(Amines)、酸度(Acids)、氨氣(NH3)的至少其中之一。進一步的說,該擷氣管道22可外接至少一潔淨度檢測元件,至少一所述潔淨度檢測元件可包含一粒子檢測儀23、一濕度檢測儀24、揮發性有機化合物分析儀25、二氧化硫分析儀26、氨類分析儀27、酸度分析儀28、氨氣分析儀29的其中之一或全部兼備;圖2(c)揭露了該擷氣管道22同時外接上述潔淨度檢測元件的情形,使得該擷氣管道22擷取挾帶有潔淨度判斷因子的檢測氣體,能經由該粒子檢測儀23檢知該檢測氣體中剩餘微粒的含量而確知其落塵量,並且經由該濕度檢測儀24檢知該檢測氣體中剩餘水分子的含量而確知其濕度,亦或由揮發性有機化合物分析儀25檢知該檢測氣體中挾帶揮發性有機化合物的含量、由二氧化硫分析儀26檢知該檢測氣體中挾帶二氧化硫的含量、由氨類分析儀27檢知該檢測氣體中挾帶氨類的含量、由酸度分析儀檢知該檢測氣體中挾帶酸性物質的含量、或由氨氣分析儀29檢知該檢測氣體中挾帶氨類物質的含量。
待上述潔淨度檢測完成後,該盒體11與前蓋12可沿前述組裝軸線L相對移動進行復位,進而退離該檢測框20,隨後該檢測框20並進行復位移動而離開該盒體11與前蓋12中間的組裝軸線L〔如圖2(d)所示〕;當該檢測框20復位而離開組裝軸線L之後,該盒體11與前蓋12能依製程上的需求而沿組裝軸線L相對閉合成所述該前開式物料盒10(即FOUP)〔如圖2(e)所示〕;或者,該盒體11與前蓋12也能依所述潔淨度檢測之成果是否符合既定需求,而判斷是否先裝填圖1所示之載板16後才進行相對閉合的工序,皆屬本發明可依實際製程需求而應變實施的範疇。
再者,本發明之另一實施例在於提供一種前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,用於具體實現本發明前述的潔淨度檢測方法。
請參閱圖3,揭露所述潔淨度檢測裝置之一較佳實施例,包括該檢測框20的實體態樣以及至少一移載器。如前所述,該檢測框20分離配置有前述供氣管道21和擷氣管道22;所述供氣管道21上能連接多個分別對準該盒體11的前述內壁和該前蓋12的內壁12a的噴頭21a;特別的,依據 前述端肋13和懸狀支撐桿15的配置位置,而使多個所述噴頭21a能彎延並穿探至鄰近前述端肋13和懸狀支撐桿15的位置,用以噴注檢測氣體是容易被實現的;該擷氣管道22設有至少一擷氣口22a。其中,該檢測框20兩端分別形成有一盒體對接端部20a及一前蓋對接端部20b,該檢測框20經由該盒體對接端部20a和該盒體11的一開口端部11d相互對接,且該檢測框20經由該前蓋對接端部20b和該前蓋12的一罩合端部12b相互對接,所述對接可達氣密效果。再者,該檢測框20內形成連通該盒體對接端部20a和該前蓋對接端部20b的一框孔20c,至少一所述擷氣口22a和多個所述噴頭21a可以坐落於該框孔20c內,或使多個所述噴頭21a經由該框孔20c而延伸至該盒體11的前述內壁和該前蓋12的內壁12a的近側。其中,多個所述噴頭21a可以分佈於至少一所述擷氣口22a的外圍。
至少一所述移載器用於驅動該盒體11、該前蓋12、該檢測框20的至少其中之二,驅使該檢測框20能對接於該盒體11和該前蓋12之間成一體,並使該盒體11、該檢測框20和該前蓋12的內部相互連通形成圖2(c)所示的氣體腔室30,使該盒體11、該檢測框20和該前蓋12各自的前述內壁,分別顯露於該氣體腔室30的四周。在此必須說明的是,依圖2(c)所示,該框孔20c的內壁顯露於該氣體腔室30內的面積,遠小於該盒體11和該前蓋12之前述內壁面積的總合,促使該擷氣管道22擷取氣體腔室30內挾帶有潔淨度判斷因子的檢測氣體時,能較為精確的經由該粒子檢測儀23、該濕度檢測儀24判讀該物料盒10真實內壁的潔淨度。
此外,周知一般機械手臂具有多軸向定點擷取、載運及置放物件的機能,因此至少一所述移載器實質上能由具有多軸向移動能力的機械手臂來逐一擷取、載運及置放該盒體11、該前蓋12及該檢測框20全部,或逐一擷取、載運及置放該盒體11、該前蓋12、該檢測框20其中之二或之三,驅使該檢測框20能對接於該盒體11和該前蓋12之間成一體。
在圖3所示實施中,至少一所述移載器可由多個移載器組成,包含能往復驅動該檢測框20沿一X軸向位移的一檢測滑台41,以及能往復驅動該盒體11和該前蓋12各自沿一Z軸向位移而和該檢測框20對接的至少 一升降器42。其中,所述Z軸向在本實施中即前述組裝軸線L坐落的方向,且至少一所述升降器42可以包含在Z軸向抬升該前蓋12用的一前蓋升降台42a以及帶動該盒體11沿在Z軸向移動的一盒體取放手臂42b;或者說,至少一所述升降器42也可以由一機械手臂逐次擷取、載運及置放盒體11和前蓋12而實現相同的移載目的。
依圖3所示實施,該盒體11、該前蓋12和該檢測框20三者皆屬可動狀態;進一步的,請續參閱圖4(a)至(e),揭露圖3所示裝置能具體完成的動作,乃包含前述圖2(a)至圖2(e)所示的檢測工序。其中:
如圖4(a)所示,該前蓋12起初為擺放在前蓋升降台42a上止動,且該盒體11閉合該前蓋12成為所述物料盒10;續如圖4(b)所示,該盒體取放手臂42b(見圖3)擷取該盒體11沿Z軸向移動,使該盒體11與該前蓋12相對分離;續如圖4(c)所示,該檢測滑台41驅動該檢測框20沿X軸向位移至該盒體11和該前蓋12分離後的中間位置,使該盒體對接端部20a和盒體11的開口端部11d在Z軸向相互懸空對應,並使圖3所示之前蓋對接端部20b和該前蓋12的罩合端部12b在Z軸向相互懸空對應;隨後如圖4(d)至(e)所示,該前蓋升降台42a驅動前蓋12沿Z軸向上挺而使前蓋12的罩合端部12b和該檢測滑台41的前蓋對接端部20b相互對接暨閉合,同時該盒體取放手臂42b驅動盒體11沿Z軸下降而使該盒體11的開口端部11d和該檢測滑台41的盒體對接端部20a相互對接暨閉合,驅使該檢測框20能對接於該盒體11和該前蓋12之間成一體;在圖4(e)狀態下,可執行前述檢測氣體檢測潔淨度判斷因子的上述檢測細節;當檢測完成後,續如圖4(f)所示,盒體取放手臂42b驅動盒體11沿Z軸向上挺復位,前蓋升降台42a驅動前蓋12沿Z軸向下移復位,使該盒體11及前蓋12分別脫離該檢測框20;隨後續如圖4(g)所示,檢測框20沿x軸向滑移復位,接著圖4(h)揭露該盒體取放手臂42b驅動盒體11沿Z軸向再次下降,而使已檢知潔淨度的盒體11及前蓋12能再次相互蓋合成所述物料盒10。
請續參閱圖5,揭露所述潔淨度檢測裝置之另一較佳實施例,包括該檢測框20的實體態樣以及至少一所述移載器的配置應用。圖5實施例 與圖4實施例之間不同之處在於:該盒體11可坐落於一止動的定位端,該前蓋12是沿一Y軸向移動而和該盒體11進行對接之開合動作,所述Y軸向在本實施中即前述組裝軸線L坐落的方向,且至少一所述移載器包含能往復驅動該檢測框20沿一X-Y軸向位移的一檢測滑台43,以及能往復驅動該前蓋12沿一Y軸向移動的一開蓋滑台44,該開蓋滑台44上滑組一前蓋擷取器45,用以沿Y軸向驅動該前蓋12對接該檢測框20以及閉合該盒體11之開口11c。進一步的,請搭配圖6(a)至(j),揭露圖5所示裝置能具體完成的動作,乃包含前述圖2(a)至圖2(e)所示的檢測工序。其中:
如圖6(a)所示,該盒體11和該前蓋12起出坐落於Y軸向相互閉合成所述物料盒10;續如圖6(b)所示,開蓋滑台44沿Y軸向帶動前蓋擷取器45擷取原本閉合於該盒體上的前蓋12,隨後圖6(c)揭示出該前蓋擷取器45沿Y軸向復位而使前蓋12脫離盒體11並且開啟該盒體11的開口11c;續如圖6(d)至(e)所示,該檢測滑台43先沿X軸向驅動檢測框20位移至該盒體11和該前蓋12分離後的中間位置(即對準所述對接的位置),該檢測滑台43再沿Y軸向驅動檢測框20移動,而使該檢測框20能和該盒體11先行對接暨閉合;隨後如圖6(f)所示,開蓋滑台44沿Y軸向帶動前蓋12往檢測框20方向移動,使前蓋12隨即能和該檢測框20完成所述對接暨閉合,驅使該檢測框20能對接於該盒體11和該前蓋12之間成一體;在圖6(f)狀態下,可執行前述檢測氣體檢測潔淨度判斷因子的上述檢測細節;當檢測完成後,續如圖6(g)所示,開蓋滑台44沿Y軸向帶動前蓋12復位而和檢測框20相互分離,隨後圖6(h)揭示該檢測滑台43沿Y軸向驅動該檢測框20和盒體11相互分離,圖6(i)揭示該檢測滑台43接續沿X軸向驅動該檢測框20回復原位而離開盒體11和前蓋12對接的空間,接著如圖6(j)所示,開蓋滑台44沿Y軸向帶動前蓋12再次往盒體11的開口11c方向移動,使已檢知潔淨度的盒體11及前蓋12能再次相互蓋合成所述物料盒10,隨後圖6(k)揭示該前蓋擷取器45釋放前蓋12,且開蓋滑台44帶動前蓋擷取器45沿Y軸向回復至原位。除此之外,其他實施細節皆與圖3及圖4所示實施例相同。
以上實施例僅為表達了本發明的較佳實施方式,但並不能因此而理解為對本發明專利範圍的限制。因此,本發明應以申請專利範圍中限定的請求項內容為準。
11:盒體
11b:底部壁面
12:前蓋
13:端肋
15:懸狀支撐桿
20:檢測框
20c:框孔
21:供氣管道
21a:噴頭
22:擷氣管道
22a:擷氣口
23:粒子檢測儀
24:濕度檢測儀
25:揮發性有機化合物分析儀
26:二氧化硫分析儀
27:氨類分析儀
28:酸度分析儀
29:氨氣分析儀
30:氣體腔室
L:組裝軸線

Claims (18)

  1. 一種前開式物料盒的潔淨度檢測方法,包括:針對相互分離的一盒體及一前蓋,使用一中空的檢測框相互對接該盒體和該前蓋成一體,使該盒體、該檢測框和該前蓋的內部相互連通形成一氣體腔室,且該盒體、該檢測框和該前蓋各自的一內壁分別顯露於該氣體腔室的四周;隨後憑藉該檢測框提供一供氣管道和一擷氣管道分別連通該氣體腔室,令該供氣管道導引一檢測氣體進入該氣體腔室,吹拂並挾帶該氣體腔室內和所述內壁上的至少一潔淨度判斷因子,續令該擷氣管道擷取已挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體進行潔淨度檢測。
  2. 如請求項1所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中該氣體腔室內的檢測氣體持續由該供氣管道導入並且由該擷氣管道排出一特定時間之後,該擷氣管道才擷取已挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體進行潔淨度檢測。
  3. 如請求項1或2所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中至少一所述潔淨度判斷因子包含水分子、微粒、揮發性有機化合物(VOC)、二氧化硫(SO2)、氨類(Amines)、酸度(Acids)、氨氣(NH3)的至少其中之一。
  4. 如請求項1所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中該檢測框在對相互接該盒體及該前蓋之前,該盒體及該前蓋已接受清洗並且乾燥完成。
  5. 如請求項1所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中該檢測框在相互對接該盒體及該前蓋之前,該盒體及該前蓋尚未接受清洗。
  6. 如請求項1所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中該檢測框沿一組裝軸線相互對接該盒體和該前蓋。
  7. 如請求項1所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中還包括所述潔淨度檢測之後,先分離該檢測框上的該盒體及該前蓋,而後相互閉合該盒體及該前蓋成為一前開式物料盒。
  8. 如請求項7所述前開式物料盒的潔淨度檢測方法,其中該檢測框沿一組裝軸線相互對接該盒體和該前蓋,且該盒體及該前蓋沿該組裝軸線相互閉合成所述前開式物料盒。
  9. 一種前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,用於檢測前開式物料盒的一盒體和一前蓋的內壁,所述潔淨度檢測裝置包括有:一中空的檢測框,其上分離配置有一供氣管道和一擷氣管道;及至少一移載器,用於驅動該盒體、該前蓋、該檢測框的至少其中之二,驅使該檢測框能對接於該盒體和該前蓋之間成一體,並使該盒體、該檢測框和該前蓋的內部相互連通形成一氣體腔室,且該盒體、該檢測框和該前蓋各自的內壁分別顯露於該氣體腔室的四周;其中,該供氣管道和該擷氣管道分別連通該氣體腔室,該供氣管道用於導引一檢測氣體進入該氣體腔室,吹拂並挾帶該氣體腔室內和所述內壁上的至少一潔淨度判斷因子,該擷氣管道外接有至少一潔淨度檢測元件,使該擷氣管道用於擷取該氣體腔室內已挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體,供至少一所述潔淨度檢測元件檢知至少一潔淨度判斷因子的含量。
  10. 如請求項9所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中該檢測框兩端分別形成有一盒體對接端部及一前蓋對接端部,該檢測框經由該盒體對接端部和該盒體的一開口端部相互對接,且該檢測框經由該前蓋對接端部和該前蓋的一罩合端部相互對接。
  11. 如請求項10所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中該檢測框內形成連通該盒體對接端部和該前蓋對接端部的一框孔,且該框孔內配置有至少一擷氣口及多個分別朝向該盒體四周內壁的噴頭,該供氣管道連接多個所述噴頭而導引所述檢測氣體進入該氣體腔室,該擷氣管道連接至少一所述擷氣口而擷取該氣體腔室內挾帶有所述潔淨度判斷因子的檢測氣體。
  12. 如請求項11所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中多個所述噴頭分佈於至少一所述擷氣口的外圍。
  13. 如請求項11所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中該框孔的內壁顯露於該氣體腔室內的面積,遠小於該盒體和該前蓋之內壁面積的總合。
  14. 如請求項9所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中至少一所述移載器為具有多軸向移動能力的一機械手臂。
  15. 如請求項9所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中至少一所述移載器包含能往復驅動該檢測框沿一X軸向位移的一檢測滑台,以及能往復驅動該盒體和該前蓋各自沿一Z軸向位移而和該檢測框對接的至少一升降器。
  16. 如請求項15所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中至少一所述升降器包含一盒體取放手臂和一前蓋升降台。
  17. 如請求項9所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中該盒體止動,使該盒體之一開口沿一Y軸向開放,至少一所述移載器包含能往復驅動該檢測框沿一X-Y軸向位移的一檢測滑台,以及能往復驅動該前蓋沿一Y軸向對接該檢測框和閉合該盒體之開口的一開蓋滑台。
  18. 如請求項至9至17中任一項所述前開式物料盒的潔淨度檢測裝置,其中至少一所述潔淨度判斷因子包含水分子、微粒、揮發性有機化合物(VOC)、二氧化硫(SO2)、氨類(Amines)、酸度(Acids)、氨氣(NH3)的至少其中之一。
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110220545A1 (en) * 2010-03-15 2011-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate transfer container, gas purge monitoring tool, and semiconductor manufacturing equipment with the same
US20170049284A1 (en) * 2015-08-21 2017-02-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for cleaning load port of wafer processing apparatus
US20180161830A1 (en) * 2016-12-13 2018-06-14 Tdk Corporation Wafer transport container interior atmosphere measurement device, wafer transport container, wafer transport container interior cleaning device, and wafer transport container interior cleaning method
TWI649797B (zh) * 2014-02-07 2019-02-01 村田機械股份有限公司 Purification device and purification method
US10403514B1 (en) * 2018-04-12 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Substrate transporting system, storage medium and substrate transporting method
TWI689029B (zh) * 2015-08-31 2020-03-21 日商村田機械股份有限公司 淨化裝置、淨化倉儲及淨化方法
TWM641897U (zh) * 2023-01-13 2023-06-01 科嶠工業股份有限公司 前開式物料盒的潔淨度檢測裝置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110220545A1 (en) * 2010-03-15 2011-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate transfer container, gas purge monitoring tool, and semiconductor manufacturing equipment with the same
TWI649797B (zh) * 2014-02-07 2019-02-01 村田機械股份有限公司 Purification device and purification method
US20170049284A1 (en) * 2015-08-21 2017-02-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for cleaning load port of wafer processing apparatus
TWI689029B (zh) * 2015-08-31 2020-03-21 日商村田機械股份有限公司 淨化裝置、淨化倉儲及淨化方法
US20180161830A1 (en) * 2016-12-13 2018-06-14 Tdk Corporation Wafer transport container interior atmosphere measurement device, wafer transport container, wafer transport container interior cleaning device, and wafer transport container interior cleaning method
US10403514B1 (en) * 2018-04-12 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Substrate transporting system, storage medium and substrate transporting method
TWM641897U (zh) * 2023-01-13 2023-06-01 科嶠工業股份有限公司 前開式物料盒的潔淨度檢測裝置

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