TWI814071B - 用於操作至少兩個工具的裝置以及方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種用於操作第一及至少第二加工區域中的至少兩個工具的裝置，其中在每一加工區域中，一定數目的加工方位經指派給相應工具，由組件網承載的第一組件藉以沿著軌道傳送通過第一及至少第二加工區域，其中裝置中的工具的總數目小於每一加工區域中的加工方位的數目，其中軌道包括對應於一定數目的加工方位的一定數目的子軌道，其中每一加工區域的工具經組態以在其加工區域中的每一相關聯加工方位處將相應第二組件耦接至相應第一組件，且其中裝置包括經組態以回應於組件網沿著軌道的傳送移動而操作的控制單元，且其中控制單元經組態以（i）將工具定位在其加工區域中的加工方位中的一或多者處；以及（ii）致動工具以將第一或第二組件安裝在相應加工方位處，使得在第一區域（110）中，（i）沿著組件軌道上的第一子軌道傳送的所選第一組件；及（ii）沿著組件軌道上的第二子軌道傳送的所選第一組件由第一區域的工具加工，且在第二區域中，（i）沿著組件軌道上的第三子軌道傳送的所選第一組件，及（ii）在組件網上沿著第二子軌道傳送且不在第一區域中加工的第一組件由第二區域的工具加工。

Description

用於操作至少兩個工具的裝置以及方法
本文呈現一種用於操作至少兩個工具的裝置。所述至少兩個工具在裝置的第一及至少第二加工區域中操作。亦呈現一種相關聯方法。
當傳遞電子組件，特別是晶片時，且尤其當傳遞個別電子組件時，存在的普遍問題是所述電子組件可易於受損害且因此必須極為小心地處置。此外，電子組件經受連續小型化，使得對電子組件傳遞的準確性的要求持續增加。此外，對每單位時間傳遞的(電子)組件的數目(輸貫量)的要求亦增加。
DE 103 49 847 B3描述用於傳遞電子組件的定位裝置及定位方法。配置於載體箔上的半導體晶圓經配置於帶狀基底上方且平行於帶狀基底。晶圓可在晶圓平面內藉助於晶圓固持器位移且此外可繞垂直於晶圓平面的旋轉軸旋轉。彈出裝置包括彈出針，所述彈出針藉助於在待拆離的晶片的背部上朝下移動來起作用且將所述晶片自載體箔拆離。自載體箔拆離的晶片隨後沈積於帶狀基底上的黏合位置上。
WO2017/076989 A1是有關用於處理可撓性基底的處理 系統及方法，例如具有間歇地移動用於處理的可撓性基底的分度器的使用張力器的軌道，所述張力器具有可沿著可撓性基底的輸送方向移動的真空板。真空板經組態以沿著輸送方向移動。分度器經組態以間歇地移動用於處理的可撓性基底。控制器經組態以控制張力器及分度器以在所有工作條件下將分度器與張力器的真空板之間的相對速度維持在預定臨限值以上，即使當可撓性基底停止時。可用於處理系統的軌道具有由距離分離的數個電氣組件。這些電氣組件可為任何類型的可撓性電子件。
DE 10 2011 104 225 B4是有關用於定位待相對於射出器傳遞的電子組件的裝置，其中射出器包括用於至少一個電子組件的滑動件及包圍滑動件的殼體，殼體具有第一透光區。第一載體提供待傳遞的電子組件。第一載體具有面向射出器的第一側及背離射出器的第二側。多個電子組件設置於第二側上。影像資料採集裝置適於經由殼體的第一半透明區獲取在其中滑動器適於與至少一個電子組件互動的區的影像資料。控制器經設置以自所捕獲影像資料判定待傳輸的電子組件的位置資料且基於位置資料而生成控制命令。至少一個致動器適於基於控制命令而使第一載體及射出器相對於彼此移動以改變滑動器的縱向軸線與待傳遞的電子組件的中心軸線之間的偏移，其中射出器包括配置於殼體內部的第一鏡面。
JP 2003-109979 A是關於具有用於將組件與第一載體分離的至少兩個滑動器的裝置。組件各自由傳遞元件的抽吸吸管撿起。在最終步驟中，傳遞元件以及抽吸吸管及組件定位於第二載體上方，所述第二載體已準備有黏著劑，且組件沈積於第二載體上。 組件不自第一載體直接傳遞至第二載體，但在藉助於傳遞元件與第一載體分離之後經撿起，且在後續步驟中由傳遞元件精確地定向且附接至第二載體。
形成本文中所描述的裝置和方法的技術背景的用於傳遞電子組件的其他裝置及方法描述於所描述的JP 5267451 A、EP 0 565 781 B1及DE 198 22 512 A1、US 4,667,402 B1、US 2008/0086874 A1、EP 2 764 826 A1、US 2002/0019074 A1、US 2009/242124 A1、EP 0 140 126 A1、US 4,990,051 B1、DE 198 22 512 A1、US 2006/237142 A1、US 2007/293022 A1、US 6,201,306 B1、JP 2009-238881 A、JP 2010-161155 A、US 4,667,402 B1、JP 60-097634 A、JP 01-109737 A、JP 55-070041 A、JP 2002-050670 A、JP 09-162204 A、JP 53-100765 A、JP 2003-109979 A、JP 2008-004936 A、WO 2007/137888 A1、WO 2000/014789 A1、EP 949 662 A2、US 2006/013680 A1、US 2016/308269 A1、DE 10 2011 017218 A1、EP 2 491 583 B1中。
為增加裝置的輸貫量，例如方法將藉助於在組裝線中互相前後配置的若干傳遞裝置來傳送具有彼此靠近配置的組件的若干軌道的環形帶子。每一傳遞裝置含有例如呈預黏合器(prebonder)形式的工具，所述預黏合器組裝其他組件與相應第一組件。此增加整個組裝線的輸貫量。所述線中的每一工具對多列帶材料的區段起作用，例如，工具處理具有8個列的材料上的列1及列2。
然而，此類型的處理引起不利效應。由於組裝線中的所有傳遞裝置/工具在帶材料或組件網的傳送方向上相繼地配置，且傳 遞裝置之間的緩衝能力受限制，故延遲可取決於個別工具的處理時間而發生。此外，組裝線中的所有傳遞裝置必須適應饋送速率或最慢工具的處理時間。
此意謂列或軌道的數目對組裝線的輸貫量有較大影響。只要工具僅處理完整列，則例如在具有四個工具及具有五個組件列的帶材料的組裝線中，工具中的一者必須處理兩個列且其餘三個工具各自處理一個列。處理兩個列的工具判定帶材料的總體傳送速度。因此，其他列中的三個工具每次可僅處理一個部分(且隨後等待)，同時處理兩個列中的部分的工具在整個處理中均忙碌。因此，僅具有所指定的一個列的三個工具不能使用其全部輸貫量潛能。相較於具有4列帶材料的相同組裝線，輸貫量可下降高達50%。
技術問題是關於具有至少兩個經耦接工具的組裝線。目標因此為提供實現組裝線中的較高組裝輸貫量的裝置，其中工具與待加工的組件的超過一個列相關聯。
為此目的，本文提出具有技術方案1的特徵的裝置。此裝置用於操作第一及至少一個第二加工區域中的至少兩個工具，在每一加工區域中，一定數目的加工方位經指派給相應工具，由組件網承載的第一組件藉以沿著軌道傳送通過第一及至少第二加工區域。另外，裝置中的工具的總數目小於每一加工區域中的加工方位的數目。此外，軌道包含等於加工方位的數目的一定數目的子軌道。另外，例如，每一加工區域的工具可經組態以在其加工區域中 的每一相關聯加工方位處將第二組件安裝至第一組件。
裝置較佳地包括控制單元，所述控制單元經組態以取決於組件網沿著軌道的傳送移動而將工具定位在其加工區域中的加工方位中的一或多者處。控制單元進一步經組態以操作工具以例如將第一或第二組件安裝在相應加工方位處。
控制單元可進一步經組態以使得在第一區域中，在組件網上沿著第一子軌道傳送的所選第一組件及在組件網上沿著第二子軌道傳送的所選第一組件由第一區域的工具處理。控制單元進一步經組態以使得在第二區域中，在組件網上沿著第三子軌道傳送的所選第一組件及在組件網上沿著第二子軌道傳送且不在第一區域中加工的第一組件由第二區域的工具加工。
在一個變體中，裝置具有例如兩個第二組件源(各自呈晶圓的形式)，來自其的第二組件傳遞至多個(例如三列)第一組件。自所述源(晶圓)中的每一者，第二組件傳遞至兩列第一組件，但不傳遞至超過兩個(例如，三個)，但相應源亦可在裝置中定位至超過兩個(例如高達三個)列第一組件。
在一些變體中，所選第一組件為子軌道中的所有組件。此允許工具以對於工具在其上工作的子軌道而言最高效的方式工作。
裝置可藉由實現子軌道的聯合使用來引起個別工具的產能利用率的提高。此可引起工具不再完全地加工個別列，而是僅部分地加工。後續工具可隨後加工所述列中的仍未加工的加工位置，使得所述列最後完全地經加工(例如，第二組件安裝在所述列的第一部分上)。
此可引起實現組裝線的最高輸貫量的裝置。在此情況下，兩個工具共用子軌道，其中第二子軌道鄰近於第一子軌道及第三子軌道兩者。此可實現組裝線的較高輸貫量，此是因為工具並非必須穿越兩個子軌道以便對公共子軌道起作用。
在一些實例中，沿著軌道傳送通過第一及至少第二加工區域的組件網藉由輸送功能間歇地或連續地傳送。此允許在至少兩個工具當中停止組件網以確保加工更準確，此是由於工具並非必須對連續移動的軌道起作用。其亦可允許組件網的連續移動，因此可引起組裝線的較高輸貫量。
在一些變體中，每一加工區域的控制單元耦接至主控制單元。此允許控制單元視需要彼此同步，使得無加工區域經加工兩次。若軌道的寬度取決於例如組件網上的列的數目而改變且/或子軌道的數目及/或加工方位的數目改變，則其亦可允許處理方法改變。其可因此實現可處理各種不同組件網的更具靈活性的裝置。
在一些變體中，裝置的工具的總數目及每一加工區域中的加工方位的數目遵從數學關係t<p≦floor(1,5t)。在此數學關係中，t等於裝置中的工具的總數目，且p等於每一加工區域中的加工方位的數目(或等於組件網上的第一組件的列的數目)。與此關係的依從性可實現更高效輸貫量，此是由於沒有工具將加工組件網上的超過兩個方位。
另外，在另一變體中，工具的總數目及加工方位的數目此外遵從等式p=1,5t。此可實現最高效輸貫量，其中每一工具完全自行加工一個加工方位且與第二工具共用第二加工方位。工具可因此充分程度地經使用。
在一些變體中，第一加工區域的工具回應於第二加工區域的工具而移動。此可實現工具的高效控制，此是由於移動並不取決於另一工具。此繼而可引起組裝線的較高輸貫量。
在一些變體中，控制單元進一步經組態以操作所述工具，使得第一加工區域的工具加工第二子軌道的第一組件。此外，第二加工區域的工具加工第二子軌道的後續b個第一組件，且其中b為整數。
替代地，控制單元進一步經組態以操作所述工具，使得第一加工區域的工具加工第二子軌道的b個第一組件。此外，第二加工區域的工具隨後加工第二子軌道的c個第一組件，其中b及c為整數，且b≠c。
若子軌道及/或加工方位的數目改變，則此允許工具以更高效方式加工子軌道及其相應加工方位。若每一加工方位處及/或每一子軌道上的第一組件不相同，則其亦可實現更高效輸貫量。
在一些變化形式中，第一組件中的一或多者及/或第二組件中的一或多者為電子組件。
在一些其他變體中，第一電子組件及/或第二電子組件中的至少一者為(RFID)天線或梯形結構。隨後，第一電子組件及/或第二電子組件中的至少一者為與(RFID)天線相容的(RFID)晶片或適合於發射光的組件。
在一些變體中，子軌道的數目為加工位置的數目的整數倍。此允許單個子軌道內的多個加工方位。若每一子軌道中的第一及/或第二組件不相同，且這些組件的加工花費不同時間量，則此可實現更高效輸貫量。
在一些變體中，控制單元進一步經組態以接收關於是否已加工在組件網上沿著第二子軌道傳送的第一組件的資訊。此可引起在處理期間發生更少誤差，此是由於控制單元接收關於每一組件的處理狀態的資訊。此可引起必須加工兩次的加工方位的數目減少。
在其他變體中，控制單元藉由光學構件接收資訊。此光學構件可為相機，其可藉助於UV光、紅外光或藉由其他構件獲得關於每一組件的處理狀態的資訊。
在一些變體中，經指派給其相應加工區域中的每一工具的加工方位的數目取決於工具自加工方位中的一者移動至下一加工方位所需的時間，且可能取決於通過加工區域的組件網的傳送。當定序由工具接近的加工方位時考慮此情況實現裝置的較高輸貫量，此是由於工具可極有效地經使用。
在一些變體中，裝置包含經組態以標記第一及/或第二組件中的一或多者的標記單元。此允許每一相應加工區域的控制單元檢查共同部分軌道中的第一組件是否由其加工區域中的工具加工。此允許對組件軌道及其加工狀態的恆定及自動調適。以此方式，加工處理中的誤差可減少。
在一些其他變體中，主控制單元控制標記單元。以此方式，主控制單元可精確地判定每一工具處理的第一組件。在一些其他變體中，不存在標記單元，此是因為在其進入裝置之前已標記組件網。
在一些變化形式中，裝置包含經組態以在加工區域中的一或多者中加工之前及/或之後檢測組件中的一或多者的一或多個 檢測單元。當在工具加工第一組件及第二組件之前將檢測單元置放於一方位處時，檢測單元可將第一及/或第二組件上的標記與加工區域的控制單元中的資訊匹配。舉例而言，若檢測單元置放於工具下游的方位處，則檢測單元可檢查第二組件的置放以確保其已正確地經加工。另外或替代地，檢測單元可檢測任何特徵，即使其未經標記。在一些其他變體中，檢測單元可檢查是否已相對於第一組件/在第一組件上正確地置放第二組件而不參考組件中的任一者上或組件中的任一者處的標記。
在一些變體中，裝置包含經組態以將黏著劑塗覆至第一組件中的一或多者的黏著劑塗覆單元。黏著劑可提供第二組件至第一組件的更牢固(及可能導電)的附接。黏著劑塗覆單元可自主控制單元接收指令，或替代地可為獨立於主控制單元或控制單元的單獨控制單元。
在一些變體中，輸送功能(傳送器驅動器)自主控制單元接收指令。舉例而言，若誤差發生於加工處理中，則此可使得主控制單元能夠使組件網減緩或停止。
在一些變體中，工具為經組態以將一或多個對應第二組件與一或多個對應第一組件預黏合的預黏合器。
在一些變體中，裝置包含用於將環氧樹脂塗覆至所處理組件中的一或多者的環氧樹脂塗覆單元。此允許黏合所處理組件及/或保護所處理組件免受外部影響。
此外，本文中提出具有技術方案15的特徵的方法。
此類方法用以操作第一及至少第二加工區域中的至少兩個工具。每一加工區域中的相應工具經指派一定數目的加工方位， 由組件網承載的第一組件藉以沿著軌道傳送通過第一及至少第二加工區域。另外，方法中的工具的總數目小於每一加工區域中的加工方位的數目。此外，軌道包含等於加工方位的數目的一定數目的子軌道。另外，每一工具經組態以在其加工區域中的每一加工方位處將第二組件安裝至對應第一組件。
在一個變體中，方法包含對控制單元進行組態以回應於組件網沿著軌道的傳送運動而將工具定位在其加工區域中的加工方位中的一或多者處。
此外，控制單元可進一步經組態以操作工具以在相應加工方位處組裝第一組件或第二組件。控制單元可進一步經組態以在第一區域中藉由第一區域的工具來操作沿著第一子軌道沿著組件網傳送的所選第一組件及沿著第二子軌道沿著組件網傳送的所選第一組件。控制單元進一步經組態以使得在第二區域中，在組件網上沿著第三子軌道傳送的所選第一組件及在組件網上沿著第二子軌道傳送且不在第一區域中加工的第一組件由第二區域的工具加工。
方法可藉由使得能夠共用子軌道來引起個別工具的產能利用率的提高。此可引起工具僅部分地而非完全地組裝個別列。後續工具可隨後裝備仍未加工的加工區域以使得所述列最後完全地經組裝。
此可引起實現組裝線的高輸貫量的方法。在此模式中，兩個工具共用連接至相應工具必須亦加工的其他子軌道的子軌道。
在一些變體中，第二子軌道鄰近於第一子軌道及第三子軌道兩者。此可實現組裝線的較高輸貫量，此是因為工具並非必須 穿越兩個子軌道以便加工共同子軌道。
此外，本文中提出具有技術方案17的特徵的第二裝置。此裝置用於操作第一及至少第二加工區域中的至少兩個工具，在每一加工區域中，加工方位的數目與相應工具相關聯，由組件網承載的第一組件藉以沿著軌道傳送通過第一及至少第二加工區域。另外，裝置中的工具的總數目大於每一加工區域中的加工方位的數目。在此方面，軌道包含等於加工方位的數目的一定數目的子軌道。此外，例如，每一加工區域的工具可經組態以在其加工區域中的每一相關聯加工方位處將第二組件安裝至第一組件。
裝置較佳地包括控制單元，所述控制單元經組態以回應於組件網沿著軌道的傳送移動而將工具定位在其加工區域中的加工方位中的一或多者處。控制單元進一步經組態以操作工具以例如將第一或第二組件安裝在相應加工方位處。
控制單元可進一步經組態以使得在第一區域中，在組件網上沿著第一子軌道傳送的所選第一組件及在組件網上沿著第二子軌道傳送的所選第一組件由第一區域的工具處理。控制單元進一步經組態以使得在第二區域中，在組件網上沿著第三子軌道傳送的所選第一組件及在組件網上沿著第二子軌道傳送且不在第一區域中加工的第一組件由第二區域的工具加工。
裝置可藉由實現子軌道的聯合使用來引起個別工具的產能利用率的提高。此可引起工具不再完全地加工個別列，而是僅部分地加工。後續工具可隨後加工所述列中的其餘未加工的加工方位，使得所述列最終完全地經加工(例如，第二組件安裝在所述列的第一加工部分上)。此可引起實現組裝線的最高輸貫量的裝置。
在一些變體中，所選第一組件為部份軌道中的所有組件。此允許工具以對於工具在其上操作的組件軌道而言特別高效的方式操作。
在一些變體中，第二子軌道鄰近於第一及第三子軌道兩者。此可實現組裝線的較高輸貫量，此是因為工具並非必須穿越兩個子軌道以加工共同子軌道。在一些變體中，最少兩個工具一起工作以加工第一子軌道中的所有加工方位。
在一些替代變化形式中，第一子軌道及第三子軌道為相同子軌道。此可實現裝置的高輸貫量，此是由於加工子軌道的工具可不需要在子軌道之間來回行進，從而減少工具的停留時間。
在一些變體中，加工方位的數目為工具的數目的整數倍。此使得多個工具可能加工單個子軌道。當每一子軌道中的第一及/或第二部分不相同且需要不同工具來對其進行加工時，此可實現高效輸貫量。
第二裝置亦可包含相對於第一裝置描述的態樣，限制條件為其可相容。
雖然上文所描述的態樣中的一些是有關裝置，但這些態樣亦可有關方法且反之亦然。
在一些變體中，組件網的緩衝區域設置於裝置的個別或所有加工區域之間以便補償連續加工區域處的組件網的移動序列中的差異。這些差異(i)在加工方位處加工期間及/或(ii)當自一個部分軌道改變至下一軌道時由相應工具的任何不同時間要求引起。
10:裝置
20:方法
100、105:工具
102、107、217、502:箭頭
110:區域/加工區域/第一區域/第一加工區域
115:區域/加工區域/第二區域/第二加工區域
120:輸送功能
125:標記單元
130:黏著劑塗覆單元
200、205、210:加工方位
215:組件網
220:組件/第一組件
225:組件/第二組件
230、235:電子組件
300:軌道
305、310、315:子軌道
400、405:控制單元
410:主控制單元
415、420、425、430:檢測單元
500:組裝線
505:解繞滾筒
507:輸送滾輪
510:緩沖模組
515:環氧樹脂固化模組
520:測試模組
525:複卷機
600、605、610、615:模式
705、710、715、720、725、730、735:步驟
k、k+1、k+2、k+3:行
p、s:數目
t:總數目
下文為了解釋藉助於圖式描述解決方案的以上及其他態樣，其中相同參考符號指代相同部分，且其中：圖1繪示根據本文中所描述的變體的用於操作至少兩個工具的裝置的示意性表示的透視圖。
圖2繪示根據本文中所描述的變體的加工區域中的一者的示意性表示的透視圖。
圖3a及圖3b繪示根據本文中所描述的一些變體的軌道及組件網的示意性表示的橫截面圖。
圖4繪示對應於本文中所描述的變體的組件網及軌道的示意性表示的透視圖。
圖5繪示根據本文中所描述的變體的裝置的方塊圖。
圖6繪示對應於本文中所描述的變體的組裝線的一部分的示意性表示。
圖7a至圖7g繪示根據本文中所描述的一些變體的各種處理模式的示意性表示。
圖8繪示根據本文中所描述的一些變化形式的工具、加工方位以及子軌道的總數目的表格。
圖9繪示根據本文中所描述的變體的方法的流程圖。
圖1繪示根據本文中所描述的變體的用於操作至少兩個工具的裝置的示意性表示的透視圖。
在圖1中，裝置10包含經組態以在其相應箭頭102、箭 頭107的方向上移動的兩個工具100、工具105。組件網215經組態以在箭頭217的方向上自左至右移動。每一工具100、工具105因此與組件網215的移動正交地移動。工具100、工具105以及組件網215的移動不受限於此變體中所繪示的方向。
在此變體中，每一工具100、工具105具有對應加工區域110、加工區域115。每一工具100、工具105限於在其自身加工區域110、加工區域115內移動，其藉由區域110、區域115的參見圖5的控制單元來判定。此變化形式中的加工區域110、加工區域115覆蓋整個組件網215。在未繪示的一些變體中，加工區域110、加工區域115並不覆蓋整個組件網215。在亦未繪示的一些變體中，超過一個工具100、工具105定位於相同加工區域110、加工區域115中。
在此變體中，每一工具100、工具105具有針、具有第二組件的組件供應件(參見圖2)以及用於組件供應件的插座。在一些變體中，每一工具僅具有這些組件中的一些，或代替針的點雷射源。裝置可在x方向、y方向上以及在旋轉方向上與組件供應件一起置放。在一些變體中，裝置可在這些方向中的僅一些上置放。第二組件(參見圖2)黏附至支撐件(例如，箔或玻璃板)且藉由針或雷射束傳遞至第一組件(參見圖2)，在所述支撐件中其側面背離組件網215。第二組件(參見圖2)可藉由任何適合的方法傳遞至第一組件(參見圖2)。
裝置10不受限於僅兩個工具100、工具105；其可包含任何數目t(例如2個至10個或大於10個)工具100、工具105。在一些變化形式中，每一工具100、工具105以及其相應加工區域 110、加工區域115定位於單獨模組中。在未繪示的一些變體中，多個工具100、工具105在同一殼體內。在一些變體中，工具100、工具105為例如經組態以將參見圖2的相應第二組件預連接至參見圖2的相應第一組件的預連接器(所謂的預黏合器)
在此變化形式中，每一工具100、工具105經組態以至少幾乎同步地相對於及根據另一工具100、工具105移動。在一些變體中，每一工具100、工具105藉由控制器至少幾乎與另一工具100、工具105的移動同步且並不依賴於另一工具100、工具105而移動。
圖2繪示根據本文中所描述的變體的加工區域中的一者的示意性表示的透視圖。
在圖2的變體中，在工具100的加工區域110中存在三個加工方位200、加工方位205、加工方位210。應理解，裝置可包含超過三個加工方位200、加工方位205、加工方位210。在一些變化形式中，工具100並不加工其加工區域110中的所有加工方位200、加工方位205、加工方位210。應理解，每一加工區域包含多個加工方位，諸如三個加工方位，但工具僅加工那些加工方位中的兩者。在此方面，工具無需加工所有加工方位。實際上，工具中的一或多者限於加工其加工區域110中的加工方位200、加工方位205、加工方位210中的僅一者或一些。
待在裝置10中處理的組件網215具有第一組件220及第二組件225的多個列，且組件的每一列經導引於加工方位200、加工方位205、加工方位210處/由加工方位200、加工方位205、加工方位210導引。在此變體中，存在組件220、組件225的三個列 以及三個加工方位200、加工方位205、加工方位210。加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目p可根據組件網215上的組件220、組件225的列的數目而改變。在此變體中，第二組件225在處理期間置放於第一組件220上。在一些其他變化形式中，第二組件225在處理之前置放於第一組件220上。
在此變化形式中，第一組件220藉由組件網215傳送通過加工區域110，且第二組件225在藉由工具100處理之前或期間置放於第一組件220上。在一些變體中，第二組件225藉由支撐層與第一組件220分離。
在一些變體中，第二組件225經固持至支撐層且在第一組件220上方接近第二組件網。
在一些變體中，第一組件220及/或第二組件225中的一或多者為電子組件，參見圖3b及圖4。第一及/或第二組件的加工/處理取決於第一及/或第二組件為什麼類型的組件而執行。在一些變體中，加工/處理包含機械致動構件、加熱構件及/或光構件及/或超聲構件及/或任何其他適合構件。
在一些變體中，第一及/或第二電子組件中的一或多者為(RFID)天線，且第一及/或第二電子組件中的一或多者為晶片。在一些變體中，晶片為RFID晶片。
圖3a及圖3b繪示根據本文中所描述的一些變化的軌道及組件網的示意性表示。
在圖3a的變體中，軌道300為U形，其中組件網215在U形軌道的相應橫向支腳之間傳送通過裝置。軌道300可由任何適合的低摩擦係數材料製成，所述低摩擦係數材料允許組件網215 沿著軌道300不受阻礙/更容易地移動。在圖3b的變化形式中，軌道300為平面。在另一變化形式中，軌道為傳送組件網215的真空滾筒。在其中每個模組存在真空滾筒或彎曲支撐件的變體中，軌道為網曲線。在一些其他變體中，不存在實體軌道300，且軌道300為組件網215下的虛構平面。在此變體中，第一組件為電子組件230，且軌道為組件網在其上的軌道。因此，存在組件網在其上移動通過整個裝置的單個軌道。
圖4繪示對應於本文中所描述的變體的組件軌道及軌道的示意性表示的透視圖。
在圖4的變體中，組件網215定位於圖3b中所繪示的軌道300上且在箭頭217的方向上沿著此軌道300傳送。在此變體中，軌道300劃分成對應於三個加工方位200、加工方位205、加工方位210的三個子軌道305、子軌道310、子軌道315。因此，在每一子軌道305中，存在加工方位200，且當已置放第二組件235時，沿著傳送一連串第一電子組件230及第二電子組件235。因此，子軌道305為天線的第一列，子軌道310為第二列，且子軌道315為第三列。在一些變體中，在每一子軌道305、子軌道310、子軌道315中存在超過一個加工方位200、加工方位205、加工方位210。在一些變體中，子軌道305、子軌道310、子軌道315的數目s為加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目p的整數倍。在一些變體中，每一子軌道305、子軌道310、子軌道315中的加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目p不相等。在一些變體中，子軌道的數目s藉由每一加工區域110、加工區域115的控制單元(參見圖5)或主控制單元(參見圖5) 來判定。子軌道可為一連串天線。舉例而言，子軌道305為天線的第一列，子軌道310為第二列，且子軌道315為第三列。
圖5繪示根據本文中所描述的變體的裝置的方塊圖。
在圖5的變化形式中，每一工具100、工具105的控制單元400、控制單元405耦接至主控制單元410。在一些變體中，主控制單元410可接收並處理來自外部程式的輸入或來自操作員的輸入。在一些變體中，主控制單元410不具有外部操作員輸入。在一些變體中，控制單元400、控制單元405控制超過一個工具100、工具105。
在此變體中，主控制單元410耦接至輸送功能120。此輸送功能120經組態以將組件網215傳送通過裝置10。輸送功能120可取決於所要移動而連續地或間歇地傳送組件網215。在一些實例中，輸送功能120獨立於主控制單元410。
在此變體中，主控制單元410耦接至標記單元125。主控制單元410在組件220、組件225、組件230、組件235穿過標記單元125或在標記單元125下時藉由標記單元125來控制具有一或多個指示符的第一組件220、第一組件230及/或第二組件225、第二組件235的標記。這些指示符可向每一工具100、工具105的控制單元400、控制單元405指示組件220、組件、組件225、組件230、組件235是否需要由其相應工具100、工具105處理。在一些變體中，標記單元125向主控制單元410提供資訊，所述資訊指示具有一或多個指示符的組件220、組件225、組件230、組件235及用於標記組件220、組件225、組件230、組件235的指示符。在一些變體中，每一控制單元400、控制單元405具有對應 標記單元125。在一些變體中，不存在標記單元125。在一些變體中，標記單元125獨立於主控制單元410以及控制單元400、控制單元405。
在圖5的變體中，主控制單元410耦接至黏著劑塗覆單元130，所述黏著劑塗覆單元130經組態以在組件200、組件225、組件230、組件235穿過黏著劑塗覆單元130或在黏著劑塗覆單元130下時將黏著劑塗覆至第一組件220、第一組件230中的一或多者。主控制單元410可將關於哪些第一組件220、第一組件230需要塗佈有黏著劑的資訊發送至黏著劑塗覆單元130。在一些變體中，每一控制單元400、控制單元405具有黏著劑塗覆單元130。在一些變體中，黏著劑塗覆單元130獨立於主控制單元410以及控制單元400、控制單元405。在一些變體中，不存在黏著劑塗覆單元130。
在圖5的變體中，每一工具100、工具105的控制單元400、控制單元405耦接至兩個檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430。每一相應工具100、工具105上游的檢測單元415、檢測單元425檢測組件220、組件225、組件230、組件235以驗證在組件220、組件225、組件230、組件235穿過檢測單元415、檢測單元425或在檢測單元415、檢測單元425下時是否已加工組件220、組件225、組件230、組件235。檢測單元415、檢測單元425隨後將此資訊發送至其相應控制單元400、控制單元405。檢測單元415、檢測單元425可經由光學構件獲得此資訊，所述光學構件諸如相機或其他適合的其他光學感測器構件。在一些變體中，檢測單元415、檢測單元425藉由相同或另一 光學構件接收關於組件220、組件225、組件230、組件235上的由標記單元125標記的指示符的資訊。
在圖5的變體中，在組件200、組件225、組件230、組件235穿過檢測單元420、檢測單元430或在檢測單元420、檢測單元430下時，檢測單元420、檢測單元430在每一相應工具100、工具105之後檢測組件220、組件225、組件230、組件235以判定是否已正確地加工組件220、組件225、組件230、組件235。在一些變體中，檢測單元420、檢測單元430亦檢查第二組件225、第二組件235的置放是否正確。在一些變體中，檢測單元420、檢測單元430隨後將此資訊發送至其相應控制單元400、控制單元405。在一些變體中，控制單元400、控制單元405可將此資訊發送至主控制單元410。在一些變體中，主控制單元410可超越後續工具100、工具105的控制單元400、控制單元405且對其進行控制以處理遺漏組件220、組件225、組件230、組件235。在一些變體中，主控制單元410可觸發警報或將視覺通知發送至操作員以指示組件220、組件225、組件230、組件235已由工具100、工具105遺漏。在一些變化形式中，觸發警報或發送視覺通知在第二組件225、第二組件235的置放不符合要求時發生。檢測單元420、檢測單元430可藉由光學構件獲得此資訊，所述光學構件諸如相機、UV光、紅外光或任何其他適合的光學構件。
在一些變體中，檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430中的每一者或至少一些具有至少一個相機且視情況至少一個光源及一個偏轉鏡。檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430或檢測單元415、檢測單元420、檢 測單元425、檢測單元430的至少部分(若設置光源及偏轉鏡)在相應工具100、工具105之前及/或之後可與組件網215的移動正交地定位以用於影像捕獲。
在一些變化形式中，存在多個工具100、工具105上游及/或下游的檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430。在一些變化形式中，在裝置10的開端處及在裝置10的末尾處存在檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430。在一些變化形式中，在裝置10中不存在檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430。
在一些變體中，主控制單元410耦接至環氧樹脂塗覆單元(未繪示)，所述環氧樹脂塗覆單元經組態以在組件200、組件225、組件230、組件235穿過環氧樹脂塗覆單元或在環氧樹脂塗覆單元下時將環氧樹脂塗覆至待處理的組件220、組件225、組件230、組件235。主控制單元410可將資訊發送至環氧樹脂塗覆單元，所述資訊指示所加工組件需要塗覆環氧樹脂。在一些變體中，每一控制單元400、控制單元405包含環氧樹脂塗覆單元。在一些變體中，環氧樹脂塗覆單元獨立於主控制單元410以及控制單元400、控制單元405。在一些變體中，不存在環氧樹脂塗覆單元。
在一些變體中，每一控制單元400、控制單元405以及其相應工具100、工具105以及檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430在單獨模組中，所述單獨模組獨立於但耦接至裝置10的另一模組(上游及下游)。在一些變化形式中，多重控制單元400、多重控制單元405以及其相應組件定位於相同模組中。在每一此類情況中，每一模組耦接至主控制單元410。在一些 變體中，整個裝置10為模組。
在一些變體中，主控制單元介面410設置於裝置10上。介面將允許使用者獲得關於裝置10的資訊且輸入參數及/或指令。在未繪示的一些變體中，裝置10亦包含用於將關於裝置10的資訊傳輸至行動裝置的短程收發器。短程收發器將亦允許自行動裝置接收到對主控制單元410的輸入。在一些變體中，主控制單元410經由乙太網路、現場匯流排等連接至用於遠端監視與控制的介面及/或任何其他適合設備。
在一些變化形式中，每一控制單元400、控制單元405及/或每一檢測單元415、檢測單元420、檢測單元425、檢測單元430及/或輸送功能120及/或標記單元125及/或黏著劑塗覆單元130及/或環氧樹脂塗覆單元具有其自身的介面。這些介面中的每一者可與裝置相關聯，及/或使用短程收發器來發送資訊及自行動裝置接收資訊，及/或經由乙太網路及/或用於遠端監視與控制的任何其他適合構件連接。
裝置10可包含以上組件中的一些或全部。以上組件可按與上文所描述不同的次序執行其相應處理，且組件中的一些可同時執行其處理。
圖6繪示對應於本文中所描述的變體的作為組裝線的部分的裝置的示意性表示。
在圖6的變體中，存在如圖1的變體中所繪示的裝置10的兩個實施方案。只要組裝線500中的工具100、工具105的數目小於每一加工區域110、加工區域115中的加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目，在組裝線500中不存在對具有相應 工具100、工具105的裝置10的數目的限制。
在此變體中，存在經組態以在箭頭502的方向上將組件網215饋送至組裝線500中的解繞滾筒505。
在此變體中，存在用於導引組件網215通過組裝線500的多個輸送滾輪507。因為在此變體中不存在實體軌道300，故使用這些滾輪507。這些滾輪507儘可能不受阻礙地將組件網215傳送通過每一模組。即使實體軌道300存在，滾輪507亦將能夠將組件網215導引通過模組。
在一些變體中，每一模組(包括130、415、100、420)具有工具100下方的至少一個真空滾筒以用於在箭頭502的方向上傳送組件網215，或每一工具具有相關聯真空滾筒。第二真空滾筒可設置於黏著劑塗覆單元130下。
在此變體中，組件網215在穿過模組中的每一者之後經引入至緩沖模組510中。緩沖模組510經組態以在處理組件網215上的組件時在緩沖模組510下游的單元下降至緩沖模組510上游的單元後方的情況下緩衝組件網215。在一些變體中，在組裝線500中不存在緩沖模組510。
在一個變體中，緩沖模組(未繪示)可安置於相應黏著劑塗覆單元130與相應工具100之間的每一模組中，及相應工具100的下游及下游模組的後續黏著劑塗覆單元的上游，或換言之，相應工具的上游及下游，以暫時地儲存或延遲組件網215。
在此變體中，組件網215隨後穿過環氧樹脂固化模組515。此最終固化模組經組態以在預先形成的組件220、組件225、組件230、組件235穿過固化模組515時將第二組件225、第二組 件235置放於第一組件220、第一組件230的頂部上。在一些變體中，在組裝線500中不存在固化模組515。
在圖6的變化形式中，組件網215隨後經過測試模組520。在一些變化形式中，測試模組520經組態以驗證經加工組件220、經加工組件225、經加工組件230、經加工組件235是否技術上起作用及/或在組件220、組件225、組件230、組件235穿過測試模組520時完全經固化。在一些變化形式中，測試模組520經組態以驗證是否所有組件220、組件225、組件230、組件235已經加工且第二組件225、第二組件235以電氣方式及/或以機械方式連接至第一組件220、第一組件230。測試模組520可經組態以檢查故障或組件的功能性的其他適當參數。在一些變體中，在組裝線500中不存在測試模組520。
在圖6中所繪示的裝置的加工區域之間，以組件網215的下垂迴路形式設置組件網215的緩衝區域。組件網215的這些下垂迴路補償組件網在連續加工區域處的移動序列的差異。這些差異(i)在加工方位處加工時及/或(ii)當自一個部分軌道改變至下一軌道時由相應工具的時間要求的任何差異引起。
在圖6的變體中，存在複卷機525。複卷機525經組態以捲繞具有經加工組件220、經加工組件225、經加工組件230、經加工組件235的組件網215。所完成經加工網材料的輸出不受限於複卷機525。組件的(矩形)陣列亦可在所完成經處理帶材料已劃分成對應區段之後輸出。
組裝線500亦可包含其他模組或單元。
圖7a至圖7g繪示根據本文中所描述的一些變體的不同 處理模式的示意性表示。每一方塊對應於待處理的第一組件，其中同樣陰影的方塊由相同工具處理。
在其中所有工具100、工具105在重複模式中平均相同數目p的加工方位200、加工方位205、加工方位210的變體中實現裝置10的極高輸貫量。最優重複模式取決於工具在每一加工區域110、加工區域115中自組件220、組件230至組件220、組件230的移動速度。
在一些變體中，工具100、工具105在組件的列之間移動所需的時間及將組件220、組件230的下一行置放在工具100、工具105下所需的時間大體上相同。在這些變體中，由每一工具執行的移動的序列的模式起次要作用。相反，在每一重複模式中加工的加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目p更重要。在一些變體中，每一工具100、工具105在每一重複模式中加工與另一工具100、工具105相同的數目p的加工方位200、加工方位205、加工方位210。
在一些變體中，工具100、工具105在組件的列之間移動所需的時間大於將組件220、組件230的下一行置放在工具100、工具105下所需的時間。在這些變體中，由每一工具100、工具105執行的移動的序列包含儘可能少的在組件的列之間的移動。
在一些變化形式中，工具100、工具105在部分的列之間移動所需的時間小於將部分220、部分230的下一行置放在工具100、工具105下所需的時間包含由每一工具100、工具105執行的移動的序列中的儘可能少的在組件行之間的移動。
在圖7a的變體中，每加工區域110存在四個工具100、 工具105，組件網215上的第一組件220、第一組件230的五個列，五個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及五個加工方位200、加工方位205、加工方位210。工具不能跳轉至共同加工方位。圖7a中的每一模式600、模式605、模式610、模式615對應於工具，亦即，頂部模式600對應於一個工具，第二模式605對應於第二工具，等等。在此變化形式中，與兩個上部模式600、上部模式605相關聯的工具100、工具105共用三個加工方位200、加工方位205、加工方位210以及三個子軌道305、子軌道310、子軌道315。亦可看出，工具100、工具105共用子軌道且各自在一個子軌道上分別地操作。工具中的每一者在其加工區域中在兩個加工方位處將第二組件傳遞至第一組件。
在一些變化形式中，共用子軌道不為中間子軌道310而是外部子軌道305、外部子軌道315中的一者。此變化形式並不允許與兩個下部模式610、下部模式615相關聯的工具100、工具105在其最大效率下操作，此是因為其必須等待與兩個上部模式600、上部模式605相關聯的工具完成子軌道的共用。
在圖7b的變體中，每加工區域110存在四個工具100、工具105，組件網215上的第一組件220、第一組件230的六個列，六個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及六個加工方位200、加工方位205、加工方位210。可看出，兩個上部模式600、上部模式605共用三個子軌道305、子軌道310、子軌道315，且兩個下部模式610、下部模式615共用另外三個子軌道。此用於共用的分配對於子軌道而言最高效。在此變化形式中，第一工具100加工行k及行k+1中的共用子軌道中的每一對中的兩個組件，繼 之以加工行k+2及行k+3中的共用子軌道中的以下兩個組件220、組件225、組件230、組件235的第二工具105。一對在此處為一起工作以加工三列天線的兩個工具。舉例而言，在圖7b中，具有模式600及模式605的工具為一對，且具有模式610及模式615的工具為第二對。
在圖7c的變化形式中，每加工區域110存在四個工具100、工具105，組件網215上的組件220、組件225、組件230、組件235的六個列，六個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及六個加工方位200、加工方位205、加工方位210。圖7c的處理類似於圖7b的處理。然而，每一對中的第一工具100及第二工具105交替地加工共同部分軌道中的組件220、組件225、組件230、組件235。第一工具100加工行k及行k+2中的共同部分軌道，而第二工具105加工行k+1及行k+3中的共同部分軌道。
在一些變體中，工具100、工具105各自加工共同子軌道中的超過兩個連續組件220、組件225、組件230、組件235。在一些變化形式中，共同子軌道在兩個工具100、工具105之間不均勻地經共用。舉例而言，第一工具100加工共同子軌道中的組件220、組件225、組件230、組件235，繼之以加工共同子軌道中的兩個後續組件220、後續組件225、後續組件230、後續組件235的第二工具105。這些僅為實例。共同子軌道亦可藉由工具100、工具105以其他方式聯合地加工。
在圖7d的變體中，每加工區域110存在四個工具100、工具105，組件網215上的組件220、組件225、組件230、組件235的七個列，七個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及 七個加工方位200、加工方位205、加工方位210。在此變體中，可看出，與下部模式615相關聯的工具100、工具105為加工此兩個子軌道的唯一工具100、工具105。此變化形式並不允許與兩個上部模式600、上部模式605相關聯的工具100、工具105在其最大效率下操作，此是因為其必須等待與兩個下部模式610、下部模式615相關聯的工具100、工具105。
在圖7e的變體中，存在四個工具100、工具105，組件網215上的組件220、組件225、組件230、組件235的五個列，五個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及五個加工方位200、加工方位205、加工方位210。在此變體中，每一工具100、工具105每八行重複其相應模式600、模式605、模式610、模式615且在子軌道305、子軌道310、子軌道315之間執行相同數目的移動。此在子軌道之間的最小移動的情況下引起所有工具100、工具105的均勻工作負荷。對於其中每一工具100、工具105在組件的列之間移動所需的時間大於或大體上等於將組件220、組件230的下一行置放在每一工具100、工具105下所需的時間的變化，此模式尤其較佳。
在圖7f的變體中，存在四個工具100、工具105，組件軌道215上的組件220、組件225、組件230、組件235的六個列，八個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及六個加工方位200、加工方位205、加工方位210。在此變體中，工具100、工具105共用代替列/子軌道的行。此藉由改變子軌道305、子軌道310、子軌道315的定向來實現，使得子軌道305、子軌道310、子軌道315與子軌道215的移動正交。所繪示的實例具有八個子軌道305、子 軌道310、子軌道315，但子軌道305、子軌道310、子軌道315的數目取決於組件220、組件225、組件230、組件235的行的數目而改變。用於此佈局的裝置10與先前佈局的裝置相同。在行中由每一工具100、工具105加工的組件220、組件225、組件230、組件235的數目可基於組件的數目及組件的列數目相對於組件軌道215而改變。對於其中每一工具100、工具105在組件的列之間移動所需的時間小於將組件220、組件230的下一行置放在每一工具100、工具105下所需的時間的變化，此模式尤其較佳。
在圖7g的變化形式中，存在四個工具100、工具105，組件網215上的組件220、組件225、組件230、組件235的三個列，三個子軌道305、子軌道310、子軌道315，以及三個加工方位200、加工方位205、加工方位210。在這一實例中，存在比子軌道305、子軌道310、子軌道315以及加工方位200、加工方位205、加工方位210更多的工具100、工具105。與模式600、模式605、模式610相關聯的工具100、工具105加工每一子軌道305、子軌道310、子軌道315的大部分。藉此，這些工具週期性地省略加工方位200、加工方位205、加工方位210。此省略的加工方位200、加工方位205、加工方位210隨後由向其指派第四模式615的工具100、工具105加工。取決於組件網215以及相關聯組件220、相關聯組件225、相關聯組件230、相關聯組件235，此可允許更高效裝置10。工具100、工具105以及其相應移動模式600、移動模式605、移動模式610、移動模式615的數目可取決於部份軌道305、部份軌道310、部份軌道315以及加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目而改變。
圖8繪示根據本文中所描述的一些變體的工具、加工方位以及子軌道的總數目的表格。
圖8繪示具有裝置的不同變化的表格，其中t為裝置10中的工具的總數目，p為加工區域110、加工區域115中的每一者中的加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目，且s為軌道300上的子軌道305、子軌道310、子軌道315的數目。只要t<p且子軌道305、子軌道310、子軌道315的數目s等於加工方位200、加工方位205、加工方位210的數目p，這些值可取決於組件軌道215而改變。在一些變體中，t<p≦floor(1,5t)。在一些其他變體中，p=1,5t適用。
圖9繪示根據本文中所描述的變體的方法的流程圖。
在圖9的變體中，每一工具100、工具105經指派其相應加工區域110、加工區域115中的數目p個加工方位200、加工方位205、加工方位210-步驟705。在一些變體中，控制單元400、控制單元405向每一工具100、工具105指派加工方位200、加工方位205、加工方位210。在一些變體中，主控制單元410向每一工具100、工具105指派加工方位200、加工方位205、加工方位210。
在此變體中，第一組件220、第一組件230中的一或多者隨後經標記有一或多個指示符-步驟710。在一些變體中，此標記710由標記單元125執行。在一些變體中，主控制單元410控制第一組件220、第一組件230的此標記710。在一些變體中，標記單元125標記710第一組件220、第一組件230且將此相關資訊發送至主控制單元410。在一些變體中，第一組件220、第一組件 230的此標記由每一工具100、工具105的控制單元400、控制單元405控制。在一些變體中，第一組件220、第一組件230的此標記獨立於主控制單元410及控制單元400、控制單元405。在一些變體中，標記第二組件225、第二組件235。
在此變體中，第一組件220、第一組件230中的一或多者隨後由檢測單元415、檢測單元425檢測-步驟715。檢測單元415、檢測單元425檢測715組件220、組件225、組件230、組件235以判定是否已處理組件220、組件225、組件230、組件235。檢測單元415、檢測單元425隨後將此資訊發送至其相應控制單元400、控制單元405及/或主控制單元410。檢測單元415、檢測單元425可使用諸如相機的光學構件來檢測組件220、組件225、組件230、組件235。
在此變化形式中，黏著劑隨後經由黏著劑塗覆單元130塗覆至第一組件220、第一組件230中的一或多者-步驟720。黏著劑塗覆單元130可自主控制單元410或控制單元400、控制單元405接收關於將黏著劑塗覆至哪些第一組件220、第一組件230的指令。在一些變化形式中，黏著劑塗覆單元130獨立於主控制單元410以及控制單元400、控制單元405。
在此變體中，工具100、工具105中的每一者由所述工具100、工具105的控制單元400、控制單元405定位在其相應加工區域110、加工區域115中的加工方位200、加工方位205、加工方位210中的一或多者處-步驟725。工具100、工具105隨後由控制單元400、控制單元405致動-步驟730，以加工組件220、組件225、組件230、組件235中的一或多者。
在此變化形式中，經加工組件220、經加工組件225、經加工組件230、經加工組件235中的另一者由檢測單元420、檢測單元430檢測-步驟735，以驗證是否已正確地加工組件220、組件225、組件230、組件235。在一些變體中，檢測單元420、檢測單元430檢查第二組件225、第二組件235的置放是否正確。在一些變體中，檢測單元420、檢測單元430隨後將此相應資訊發送至其相應控制單元400、控制單元405。在一些變體中，控制單元400、控制單元405亦將此資訊發送至主控制單元410。在一些變體中，主控制單元410可超越後續工具100、工具105的控制單元400、控制單元405且對其進行控制以處理遺漏組件220、組件225、組件230、組件235。在一些變體中，主控制單元410可觸發警報或將視覺通知發送至操作員以指示組件220、組件225、組件230、組件235已由工具100、工具105遺漏。在一些變化形式中，觸發警報或發送視覺通知在第二組件225、第二組件235的置放不符合要求時發生。檢測單元420、檢測單元430可經由諸如相機的視覺構件來接收此資訊。
在一些變體中，組件網215的輸送由主控制單元410控制。輸送功能120可取決於所要移動而連續地或間歇地傳送組件網215。在一些實例中，輸送功能120獨立於主控制單元410。
在一些變體中，環氧樹脂經塗覆至經加工組件220、經加工組件225、經加工組件230、經加工組件235中的一或多者。在一些變體中，此塗覆由主控制單元410控制。在一些變化形式中，此塗覆由一或多個控制單元400、控制單元405控制。在一些變體中，主控制單元410或控制單元400、控制單元405將關於哪些所 處理組件需要塗佈有環氧樹脂的資訊發送至環氧樹脂塗覆單元。在一些變體中，環氧樹脂塗覆單元獨立於主控制單元410以及控制單元400、控制單元405。
方法20可包含以上步驟中的一些或全部。以上步驟可按與圖9中所繪示的次序不同的次序執行；步驟中的一些可同時執行。
上文所描述的裝置的變體以及其構造的態樣僅意欲提供對其結構、操作以及特徵的較佳理解；其並不使本發明限於例如所述變體。圖式為示意性的，其中所繪示的顯著特徵及效應在一些情況下顯著放大，以說明功能、操作原理、技術變體以及特徵。在此方面，圖式中或本文中所揭露的任何操作模式、原理、技術變體以及特徵可自由地及任意地與任何技術方案、本文中及另一圖式中的特徵、含於本發明中或由本發明引起的其他操作模式、原理、技術變體以及特徵組合，使得所有可設想組合可歸因於所描述方法。包含本文中(亦即描述的每一部分中、申請專利範圍中)的所有個別變體之間的組合以及本文中、申請專利範圍中以及圖式中的不同變體之間的組合。此外，申請專利範圍並不限制本發明且因此所有所揭露特徵彼此的組合為可能的。所有所揭露特徵亦單獨地及與所有其他特徵組合地明確揭露於本文中。
10:裝置
100、105:工具
102、107、217:箭頭
110:區域/加工區域/第一區域/第一加工區域
115:區域/加工區域/第二區域/第二加工區域
215:組件網

Claims (20)

  1. 一種用於操作至少兩個工具(100，105)的裝置(10)，所述至少兩個工具(100，105)在第一加工區域(110)及至少第二加工區域(115)中，其中在每一加工區域(110，115)中，一定數目(p)的加工方位(200，205，210)經指派給相應工具(100，105)，由組件網(215)承載的第一組件(220)藉以沿著軌道(300)傳送通過所述第一加工區域(110)及所述至少第二加工區域(115)，其中所述裝置(10)中的工具的總數目(t)小於每一加工區域(110，115)中的加工方位(200，205，210)的所述數目(p)，其中所述軌道(300)包括對應於所述數目(p)的加工方位(200，205，210)的一定數目(s)的子軌道(305，310，315)，其中每一加工區域(110，115)的所述工具(100，105)經組態以在其加工區域(110，115)中的每一相關聯加工方位(200，205，210)處將相應第二組件(225)耦接至相應第一組件(220)，其中所述工具(100)包括用於所述第二組件(225)的組件供應件和用於所述組件供應件的插座，且其中所述裝置(10)包括經組態以回應於所述組件網(215)沿著所述軌道(300)的傳送移動而操作的控制單元(400，405)，且其中所述控制單元(400，405)經組態以：(i)將所述工具(100，105)，及其相關的所述插座，定位在其加工區域(110，115)中的所述加工方位(200，205，210)中的一或多者處，其中所述工具包括針或雷射，並且所述定位包括在x方向、y方向和旋轉方向中的至少一個方向上移動所述插座；以及 (ii)致動所述工具(100，105)以將第一組件(220)或第二組件(225)安裝在相應加工方位(200，205，210)處，使得在所述第一加工區域(110)中，(i)沿著組件軌道(215)上的第一子軌道(305)傳送的所選第一組件(220)；及(ii)沿著所述組件軌道(215)上的第二子軌道(310)傳送的所選第一組件(220)由所述第一加工區域(110)的所述工具(100)加工，且在所述第二加工區域(115)中，(i)沿著所述組件軌道(215)上的第三子軌道(315)傳送的所選第一組件(220)，及(ii)在所述組件網(215)上沿著所述第二子軌道(310)傳送且不在所述第一加工區域(110)中加工的所述第一組件(220)由所述第二加工區域(115)的所述工具(105)加工。
  2. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述第二子軌道(310)鄰近於所述第一子軌道(305)及所述第三子軌道(315)兩者。
  3. 如請求項1或2所述的裝置(10)，其中沿著所述軌道(300)傳送通過所述第一加工區域(110)及所述至少第二加工區域(115)的所述組件網(215)經由輸送功能(120)進行間歇地或連續地傳送。
  4. 如請求項1所述的裝置(10)，其中每一加工區域(110，115)的所述控制單元(400，405)耦接至主控制單元(410)。
  5. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述裝置(10) 中的工具的所述總數目(t)及每一加工區域(110，115)中的加工方位(200，205，210)的數目(p)遵從數學關係：t<p≦floor(1,5t)。
  6. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述第一加工區域(110)的所述工具(105)回應於所述第二加工區域(115)的所述工具(105)而移動。
  7. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述控制單元(400，405)進一步經組態以操作所述工具(100，105)，使得所述第一加工區域(110)的所述工具(100)加工所述第二子軌道(310)的b個第一組件(220)且所述第二加工區域(115)的所述工具(105)加工所述第二子軌道(310)的後續b個第一組件(220)，且其中b為整數。
  8. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述控制單元(400，405)進一步經組態以操作所述工具(100，105)，使得所述第一加工區域(110)的所述工具(100)加工所述第二子軌道(310)的b個第一組件(220)且所述第二加工區域(115)的所述工具(105)隨後加工所述第二子軌道(310)的c個第一組件(220)，其中b及c為整數，且其中b≠c。
  9. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述第一組件(220)中的一或多者及/或所述第二組件(225)中的一或多者為電子組件(230，235)。
  10. 如請求項9所述的裝置(10)，其中所述第一電子組件(230)及/或第二電子組件(235)中的至少一者為天線，且所述第一電子組件(230)及/或第二電子組件(235)中的至少一者 為與所述天線相容的晶片。
  11. 如請求項1所述的裝置(10)，其中子軌道(305，310，315)的數目(s)為加工方位(200，205，210)的所述數目(p)的整數倍。
  12. 如請求項1所述的裝置(10)，其中所述控制單元(400，405)進一步經組態以接收關於是否已加工在所述組件網(215)上沿著所述第二子軌道(310)傳送的所述第一組件(220)的資訊。
  13. 如請求項12所述的裝置(10)，其中所述控制單元(400，405)藉由光學構件獲得所述資訊。
  14. 如請求項3所述的裝置(10)，其中經指派給其相應加工區域(110，105)中的每一工具(100，105)的加工方位(200，205，210)的所述數目取決於所述工具(100)在所述加工方位(200，205，210)之間移動所需的時間，且視需要，取決於通過所述加工區域(110，115)的所述組件網(215)的傳送。
  15. 一種操作至少兩個工具(100，105)的方法(20)，所述至少兩個工具(100，105)在第一加工區域(110)及至少第二加工區域(115)中，所述方法(20)包括以下步驟：向每一加工區域(110，115)中的相應工具分配(705)一定數目(p)的加工方位(200，205，210)，由組件軌道(215)承載的第一組件(220)藉以沿著軌道(300)傳送通過所述第一加工區域(110)及所述至少第二加工區域(115)，其中工具的總數目(t)小於每一加工區域(110，115)中的加工方位(200，205，210)的所述數目(p)， 其中所述軌道(300)包括對應於所述數目(p)的加工方位(200，205，210)的一定數目(s)的子軌道(305，310，315)，且所述方法包括以下步驟：對所述工具(100，105)進行組態以在其加工區域(110，115)中的每一相關聯加工方位(200，205，210)處將相應第二組件(225)安裝至相應第一組件(220)，其中所述工具(100)包括用於所述第二組件(225)的組件供應件和用於所述組件供應件的插座，對控制單元(400，405)進行組態以回應於組件網(215)沿著所述軌道(300)的傳送移動而移動且(i)將所述工具(100，105)定位(725)在其加工區域(110，115)中的所述加工方位(200，205，210)中的一或多者處，所述定位包括在x方向、y方向和旋轉方向中的至少一個方向上移動所述插座；且(ii)致動(730)所述工具(100，105)以用於將第一組件(220)或第二組件(225)安裝在相應加工方位(200，205，210)處，使得在所述第一加工區域(110)中，(i)沿著所述組件軌道(215)上的第一子軌道(305)傳送的所選第一組件(220)；及(ii)在所述組件網(215)上沿著第二子軌道(310)傳送的所選第一組件(220)由所述第一加工區域(110)的所述工具(100)加工，且在所述第二加工區域(115)中，(i)在所述組件網(215)上沿著第三子軌道(315)傳送的所 選第一組件(220)，及(ii)沿著所述組件網(215)上的第二組件網(310)傳送且不在所述第一加工區域(110)中加工的所述第一組件(220)由所述第二加工區域(115)的所述工具(105)加工。
  16. 如請求項15所述的方法(20)，其中所述第二子軌道(310)鄰近於所述第一子軌道(305)及所述第三子軌道(315)兩者。
  17. 一種用於操作至少兩個工具(100，105)的裝置(10)，所述至少兩個工具(100，105)在第一加工區域(110)及至少第二加工區域(115)中，其中在每一加工區域(110，115)中，一定數目(p)的加工方位(200，205，210)經指派給相應工具(100，105)，由組件網(215)承載的第一組件(220)藉以沿著軌道(300)傳送通過所述第一加工區域(110)及所述至少第二加工區域(115)，其中所述裝置(10)中的工具的總數目(t)大於每一加工區域(110，115)中的加工方位(200，205，210)的所述數目(p)，其中所述軌道(300)包括對應於所述數目(p)的加工方位(200，205，210)的一定數目(s)的子軌道(305，310，315)，其中每一加工區域(110，115)的所述工具(100，105)經組態以在其加工區域(110，115)中的每一相關聯加工方位(200，205，210)處將相應第二組件(225)附接至相應第一組件(220)，其中所述工具(100)包括用於所述第二組件(225)的組件供應件和用於所述組件供應件的插座，且其中所述裝置(10)包括經組態以回應於所述組件網(215)沿著所述軌道(300)的傳送移動而操作 的控制單元(400，405)，(i)將所述工具(100，105)，及其相關的所述插座，定位在其加工區域(110，115)中的所述加工方位(200，205，210)中的一或多者處，所述定位包括在x方向、y方向和旋轉方向中的至少一個方向上移動所述插座；以及(ii)致動所述工具(100，105)以將第一組件(220)或第二組件(225)安裝在相應加工方位(200，205，210)處，使得在所述第一加工區域(110)中，(i)沿著所述組件軌道(215)上的第一子軌道(305)傳送的所選第一組件(220)；及(ii)沿著所述組件軌道(215)上的第二子軌道(310)傳送的所選第一組件(220)由所述第一加工區域(110)的所述工具(100)加工，且在所述第二加工區域(115)中，(i)沿著所述組件軌道(215)上的第三子軌道(315)傳送的所選第一組件(220)，及(ii)在所述組件網(215)上沿著所述第二子軌道(310)傳送且不在所述第一加工區域(110)中加工的所述第一組件(220)由所述第二加工區域(115)的所述工具(105)加工。
  18. 如請求項17所述的裝置(10)，其中所述第二子軌道(310)鄰近於所述第一子軌道(305)及所述第三子軌道(315)兩者。
  19. 如請求項17所述的裝置(10)，其中所述第一子軌道(305)及所述第三子軌道(315)為相同子軌道。
  20. 如請求項17至19中任一項所述的裝置(10)，其中加工方位(200，205，210)的所述數目(p)為工具(100，105)的所述數目(t)的整數倍。
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