TWI785885B - Conveying mechanism, cutting device, and method of manufacturing cut products - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種能夠實現結構的簡單化的搬送機構、切斷裝置及切斷品的製造方法。一種搬送機構,其配置有由第一組吸附噴嘴及第二組吸附噴嘴構成的多個吸附噴嘴,且所述搬送機構包括:第一馬達,使所述第一組吸附噴嘴升降;第二馬達,使所述第二組吸附噴嘴升降;第三馬達,使所述多個吸附噴嘴於與所述多個吸附噴嘴的升降方向相交的平面內旋轉;以及升降位置維持機構,能夠將所述多個吸附噴嘴中任意吸附噴嘴與所述第一馬達及所述第二馬達的驅動無關地維持於規定的上升位置。The present invention provides a conveying mechanism, a cutting device, and a method of manufacturing a cut product capable of simplifying the structure. A conveying mechanism, which is equipped with a plurality of adsorption nozzles composed of a first group of adsorption nozzles and a second group of adsorption nozzles, and the conveyance mechanism includes: a first motor to lift the first group of adsorption nozzles; a second motor , to lift the second group of adsorption nozzles; a third motor, to rotate the plurality of adsorption nozzles in a plane intersecting the lifting direction of the plurality of adsorption nozzles; and a lifting position maintaining mechanism capable of moving the plurality of adsorption nozzles Any one of the suction nozzles is maintained at a predetermined raised position regardless of the driving of the first motor and the second motor.
Description
本發明是有關於一種搬送機構、切斷裝置及切斷品的製造方法的技術。The present invention relates to a technology for a conveying mechanism, a cutting device, and a method for manufacturing a cut product.
於專利文獻1中揭示有一種半導體封裝加工系統的技術,所述半導體封裝加工系統包括吸附半導體封裝來搬送的機構(傳遞部)。具體而言,專利文獻1中記載的半導體封裝加工系統包括:多個噴嘴,吸附半導體封裝;馬達(第一驅動單元),與各噴嘴對應設置,使噴嘴垂直移動;以及馬達(第二驅動單元),相對於兩個噴嘴各設置一個,使噴嘴旋轉。Patent Document 1 discloses a technique of a semiconductor package processing system including a mechanism (transfer unit) that absorbs and transports a semiconductor package. Specifically, the semiconductor package processing system described in Patent Document 1 includes: a plurality of nozzles, which adsorb the semiconductor package; a motor (first drive unit), which is provided corresponding to each nozzle, and moves the nozzle vertically; ), set one for each of the two nozzles, and make the nozzles rotate.
於如上所述般構成的半導體封裝加工系統中,可利用第一驅動單元使噴嘴個別地升降,並且利用第二驅動單元使噴嘴旋轉。可將該些噴嘴的運作加以組合而順利地吸附半導體封裝來搬送。 [現有技術文獻] [專利文獻] In the semiconductor package processing system configured as described above, the nozzles can be individually raised and lowered by the first drive unit, and the nozzles can be rotated by the second drive unit. The operation of these nozzles can be combined to smoothly absorb and transport the semiconductor package. [Prior art literature] [Patent Document]
[專利文獻1]日本專利特開2008-207326號公報[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2008-207326
[發明所欲解決之課題][Problem to be Solved by the Invention]
然而,於專利文獻1中所記載的技術中,為了使噴嘴運作(升降及旋轉),而需要噴嘴的1.5倍個數的馬達(例如,於專利文獻1中所記載的例子中,相對於8個噴嘴而需要12個馬達),難以實現結構的簡單化,於該方面有改善的餘地。However, in the technology described in Patent Document 1, in order to operate (lift and rotate) the nozzles, motors 1.5 times the number of nozzles are required (for example, in the example described in Patent Document 1, compared to 8 need 12 motors for each nozzle), it is difficult to simplify the structure, and there is room for improvement in this respect.
本發明是鑑於如上所述的狀況而成,其所欲解決的課題為提供一種能夠實現結構的簡單化的搬送機構、切斷裝置及切斷品的製造方法。 [解決課題之手段] The present invention is made in view of the above situation, and the problem to be solved is to provide a conveying mechanism, a cutting device, and a method of manufacturing a cut product that can achieve simplification of the structure. [Means to solve the problem]
本發明的所欲解決的課題如上所述,為解決該課題,本發明的搬送機構配置有由第一組吸附噴嘴及第二組吸附噴嘴構成的多個吸附噴嘴,且所述搬送機構包括:第一馬達,使所述第一組吸附噴嘴升降;第二馬達,使所述第二組吸附噴嘴升降;第三馬達,使所述多個吸附噴嘴於與所述多個吸附噴嘴的升降方向相交的平面內旋轉;以及升降位置維持機構,能夠將所述多個吸附噴嘴中任意吸附噴嘴與所述第一馬達及所述第二馬達的驅動無關地維持於規定的上升位置。The problem to be solved by the present invention is as described above. In order to solve the problem, the conveying mechanism of the present invention is equipped with a plurality of adsorption nozzles consisting of a first group of adsorption nozzles and a second group of adsorption nozzles, and the conveying mechanism includes: The first motor lifts the first group of adsorption nozzles; the second motor lifts the second group of adsorption nozzles; the third motor moves the plurality of adsorption nozzles in the same direction as the plurality of adsorption nozzles rotation in intersecting planes; and a lifting position maintaining mechanism capable of maintaining any one of the plurality of suction nozzles at a predetermined raised position regardless of driving of the first motor and the second motor.
另外,本發明的切斷裝置包括所述搬送機構。Moreover, the cutting apparatus of this invention includes the said conveyance mechanism.
另外,本發明的切斷品的製造方法是使用所述切斷裝置來製造切斷品。 [發明的效果] Moreover, the manufacturing method of the cut product of this invention manufactures a cut product using the said cutting apparatus. [Effect of the invention]
根據本發明,可實現結構的簡單化。According to the present invention, the simplification of the structure can be realized.
<切斷裝置1的整體結構> 首先,使用圖1及圖2,對本發明的一實施形態的切斷裝置1的結構及使用切斷裝置1的切斷品的製造方法進行說明。於本實施形態中,例如,對使用封裝基板P作為利用切斷裝置1的切斷對象物時的切斷裝置1的結構進行說明,所述封裝基板P是將連接有半導體晶片等電子元件的基板樹脂密封而成。 <Overall structure of cutting device 1> First, a structure of a cutting device 1 according to an embodiment of the present invention and a method of manufacturing a cut product using the cutting device 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 2 . In this embodiment, for example, a description will be given of the structure of the cutting device 1 when using a package substrate P to which electronic components such as semiconductor chips are connected, as an object to be cut by the cutting device 1. The substrate is sealed with resin.
作為封裝基板P,例如可使用球柵陣列(Ball grid array,BGA)封裝基板、地柵陣列(Land Grid Array,LGA)封裝基板、晶片尺寸封裝(Chip size package,CSP)封裝基板、發光二極體(Light emitting diode,LED)封裝基板等。另外,作為切斷對象物,不僅使用封裝基板P,有時亦使用密封完畢的引線框架,所述密封完畢的引線框架是將連接有半導體晶片等電子元件的引線框架樹脂密封而成。As the packaging substrate P, for example, a ball grid array (BGA) packaging substrate, a land grid array (Land Grid Array, LGA) packaging substrate, a chip size package (Chip size package, CSP) packaging substrate, a light emitting diode Body (Light emitting diode, LED) package substrate, etc. In addition, not only the package substrate P but also a sealed lead frame obtained by resin-sealing a lead frame to which electronic components such as semiconductor chips are connected is used as an object to be cut.
再者,以下,將封裝基板P的兩面中經樹脂密封的一側的面即封裝側的面稱為模面,將與模面為相反側的基板側的面稱為球/引線面。Hereinafter, of the both surfaces of the package substrate P, the surface sealed with resin, that is, the surface on the package side is called a mold surface, and the surface on the substrate side opposite to the mold surface is called a ball/lead surface.
切斷裝置1包括切斷模組A及檢查模組B作為結構要素。各結構要素相對於其他結構要素能夠裝卸且能夠更換。以下,依序對切斷模組A及檢查模組B的結構、利用切斷模組A及檢查模組B的作業步驟進行說明。The cutting device 1 includes a cutting module A and an inspection module B as constituent elements. Each structural element is detachable and replaceable with respect to other structural elements. Hereinafter, the structures of the cutting module A and the inspection module B, and the operation steps using the cutting module A and the inspection module B will be described in order.
<切斷模組A>
切斷模組A是主要進行封裝基板P的切斷的結構要素。切斷模組A主要包括基板供給機構2、定位機構3、切斷台4、主軸(spindle)部5、第一清潔器6、移送機構7、第二清潔器8及控制部9。
<Cutting Module A>
The cutting module A is a component that mainly cuts the package substrate P. As shown in FIG. The cutting module A mainly includes a
於切斷模組A中,首先,進行供給步驟S2。供給步驟S2為使用基板供給機構2來供給封裝基板P的步驟。基板供給機構2自收容有多個封裝基板P的匣盒(magazine)M逐片推出封裝基板P而供給至後述的定位機構3。封裝基板P配置成球/引線面朝上。In the cutting module A, first, the supply step S2 is performed. The supply step S2 is a step of supplying the package substrate P using the
其次,於切斷模組A中,進行定位步驟S4。定位步驟S4為使用定位機構3來進行自基板供給機構2供給的封裝基板P的定位的步驟。定位機構3將自基板供給機構2推出的封裝基板P配置於軌道部3a,並進行定位。然後,定位機構3將經定位的封裝基板P搬送至後述的切斷台4。Next, in the cutting module A, the positioning step S4 is performed. The positioning step S4 is a step of positioning the package substrate P supplied from the
其次,於切斷模組A中,進行切斷步驟S6。切斷步驟S6為使用切斷台4及主軸部5將封裝基板P切斷,獲得作為切斷品的電子零件封裝S的步驟。Next, in the cutting module A, the cutting step S6 is performed. The cutting step S6 is a step of cutting the package substrate P using the cutting table 4 and the
切斷台4保持要切斷的封裝基板P。於本實施形態中,例示了具有兩個切斷台4的雙切割台結構的切斷裝置1。於切斷台4上設置有保持構件4a,所述保持構件4a自下方吸附保持由定位機構3搬送來的封裝基板P。另外,於切斷台4上設置有能夠使保持構件4a在圖中θ方向上旋轉的旋轉機構4b、及能夠使保持構件4a在圖中Y方向上移動的移動機構4c。The cutting table 4 holds the package substrate P to be cut. In this embodiment, the cutting device 1 having a double cutting table structure having two cutting tables 4 is exemplified. On the cutting table 4 is provided a holding member 4 a that sucks and holds the package substrate P conveyed by the
作為切斷機構的主軸部5將封裝基板P切斷而單片化成多個電子零件封裝S(參照圖3)。於本實施形態中,例示了具有兩個主軸部5的雙主軸結構的切斷裝置1。主軸部5可沿圖中X方向及Z方向移動。於主軸部5安裝有用於切斷封裝基板P的旋轉刀5a。The
於主軸部5設置有向高速旋轉的旋轉刀5a噴射切削水的切削水用噴嘴、噴射冷卻水的冷卻水用噴嘴、噴射清洗切斷屑等的清洗水的清洗水用噴嘴(均未圖示)等。The
切斷台4吸附封裝基板P後,利用第一位置確認照相機4d來確認封裝基板P的位置。然後,切斷台4以沿著圖中Y方向靠近主軸部5的方式移動。切斷台4移動至主軸部5的下方後,使切斷台4與主軸部5相對移動,藉此切斷封裝基板P。每次利用主軸部5來切斷封裝基板P時,均利用第二位置確認照相機5b來確認封裝基板P的位置等。After the cutting table 4 suctions the package substrate P, the position of the package substrate P is confirmed by the first
此處,利用第一位置確認照相機4d進行的確認,例如可確認表示設置於封裝基板P的切斷位置的標記的位置。利用第二位置確認照相機5b進行的確認,例如可確認封裝基板P被切斷的位置、被切斷的寬度等。再者,所述利用確認照相機進行的確認,亦可不使用第一位置確認照相機4d而僅使用第二位置確認照相機5b進行確認。Here, the position of the mark indicating the cutting position provided on the package substrate P can be confirmed, for example, by the confirmation by the first
其次,於切斷模組A中,進行第一清洗步驟S8及第一乾燥步驟S10。第一清洗步驟S8為使用第一清潔器6,對藉由切斷封裝基板P而單片化所得的多個電子零件封裝S進行清洗的步驟。另外,第一乾燥步驟S10為使用第一清潔器6,對經清洗的電子零件封裝S進行乾燥的步驟。Next, in the cutting module A, the first cleaning step S8 and the first drying step S10 are performed. The first cleaning step S8 is a step of cleaning the plurality of electronic component packages S obtained by cutting and singulating the package substrate P using the
切斷台4於封裝基板P的切斷完成後,於吸附有經單片化的多個電子零件封裝S的狀態下沿著圖中Y方向以遠離主軸部5的方式移動。此時,第一清潔器6使用適當的清洗液來進行電子零件封裝S的上表面(球/引線面)的清洗(第一清洗步驟S8)。另外,第一清潔器6對電子零件封裝S的上表面噴射氣體(空氣)來進行電子零件封裝S的上表面的乾燥(第一乾燥步驟S10)。After the cutting of the package substrate P is completed, the cutting table 4 moves away from the
其次,於切斷模組A中,進行移送步驟S12、作為清洗步驟的第二清洗步驟S14及作為抽吸乾燥步驟的第二乾燥步驟S16。移送步驟S12為使用移送機構7,將電子零件封裝S移送至檢查模組B的檢查台11的步驟。另外,第二清洗步驟S14為使用第二清潔器8,對電子零件封裝S進行清洗的步驟。另外,第二乾燥步驟S16為使用第二清潔器8,對經清洗的電子零件封裝S進行乾燥的步驟。Next, in the cutting module A, the transfer step S12, the second washing step S14 as a washing step, and the second drying step S16 as a suction drying step are performed. The transfer step S12 is a step of transferring the electronic component package S to the inspection table 11 of the inspection module B using the
移送機構7自上方吸附被切斷台4保持的電子零件封裝S,並移送至檢查模組B(移送步驟S12)。另外,於移送機構7將電子零件封裝S移送至檢查模組B的路徑的中途,利用第二清潔器8來進行電子零件封裝S的下表面(模面)的清洗(第二清洗步驟S14)及乾燥(第二乾燥步驟S16)。The
具體而言,第二清潔器8包括清洗機構8a及抽吸乾燥機構8b。清洗機構8a包括能夠旋轉的刷(未圖示)。清洗機構8a藉由含清洗液的刷一邊旋轉一邊接觸電子零件封裝S的下表面(模面),來進行電子零件封裝S的清洗(第二清洗步驟S14)。另外,抽吸乾燥機構8b藉由抽吸附著於電子零件封裝S的下表面(模面)的清洗液,來進行電子零件封裝S的乾燥(第二乾燥步驟S16)。Specifically, the
如上所述的切斷模組A的各部(基板供給機構2、定位機構3、切斷台4、主軸部5、第一清潔器6、移送機構7及第二清潔器8等)的運作由控制部9控制。另外,可使用控制部9來任意變更(調整)切斷模組A的各部的運作。The operation of each part of the cutting module A (
<檢查模組B>
檢查模組B是主要進行電子零件封裝S的檢查的結構要素。檢查模組B主要包括檢查台11、第一光學檢查照相機12、第二光學檢查照相機13、配置機構14、搬送機構15及控制部16。
<Check module B>
The inspection module B is a component that mainly performs inspection of the electronic component package S. As shown in FIG. The inspection module B mainly includes an inspection table 11 , a first
於檢查模組B中,首先,進行檢查步驟S18。檢查步驟S18為使用檢查台11、第一光學檢查照相機12及第二光學檢查照相機13對電子零件封裝S進行光學檢查的步驟。In the inspection module B, firstly, the inspection step S18 is performed. The inspection step S18 is a step of optically inspecting the electronic component package S using the inspection table 11 , the first
檢查台11為了對電子零件封裝S進行光學檢查而保持電子零件封裝S。檢查台11能夠沿著圖中X方向移動。另外,檢查台11可上下反轉。於檢查台11上設置有吸附保持電子零件封裝S的保持構件11a。The inspection table 11 holds the electronic component package S for optical inspection of the electronic component package S. As shown in FIG. The inspection table 11 is movable in the X direction in the drawing. In addition, the inspection table 11 can be reversed up and down. On the inspection table 11, the holding
第一光學檢查照相機12及第二光學檢查照相機13對電子零件封裝S的表面(球/引線面及模面)進行光學檢查。第一光學檢查照相機12及第二光學檢查照相機13朝上配置於檢查台11的附近。於第一光學檢查照相機12及第二光學檢查照相機13中分別設置有於檢查時能夠照射光的照明裝置(未圖示)。The first
第一光學檢查照相機12對利用移送機構7移送至檢查台11的電子零件封裝S的模面進行檢查。然後,移送機構7將電子零件封裝S載置於檢查台11的保持構件11a上。保持構件11a吸附保持電子零件封裝S後,檢查台11上下反轉。檢查台11移動至第二光學檢查照相機13的上方,利用第二光學檢查照相機13對電子零件封裝S的球/引線面進行檢查。The first
例如,第一光學檢查照相機12可檢查電子零件封裝S的缺口或電子零件封裝S上所標示的文字等。另外,例如,第二光學檢查照相機13可檢查電子零件封裝S的尺寸或形狀、球/引線的位置等。For example, the first
配置機構14用於配置已完成檢查的電子零件封裝S。配置機構14能夠沿著圖中Y方向移動。檢查台11將已完成利用第一光學檢查照相機12及第二光學檢查照相機13進行的檢查的電子零件封裝S配置於配置機構14。The
其次,於檢查模組B中,進行收容步驟S20。收容步驟S20為使用搬送機構15,將配置於配置機構14的電子零件封裝S搬送(移送)並收容於托盤中的步驟。基於由第一光學檢查照相機12及第二光學檢查照相機13所得的檢查結果,被區分為良品與不良品的電子零件封裝S利用搬送機構15收納於托盤中。此時,搬送機構15將電子零件封裝S中的良品收納於良品用托盤15a中,將不良品收納於不良品托盤15b中。當托盤被電子零件封裝S填滿時,適當地供給至其他的空托盤。Next, in the inspection module B, the receiving step S20 is performed. The storing step S20 is a step of transporting (transferring) the electronic component packages S arranged on the
如上所述的檢查模組B的各部(檢查台11、第一光學檢查照相機12、第二光學檢查照相機13、配置機構14及搬送機構15等)的運作由控制部16控制。另外,可使用控制部16來任意變更(調整)檢查模組B的各部的運作。The operation of each part of the above-mentioned inspection module B (the inspection table 11 , the first
如上所述,本實施形態的切斷裝置1可將封裝基板P切斷而單片化成多個電子零件封裝S。As described above, the cutting device 1 according to the present embodiment can cut the package substrate P and separate it into a plurality of electronic component packages S. As shown in FIG.
<搬送機構15>
其次,對所述收容步驟S20中所使用的搬送機構15的結構進行說明。再者,以下將圖中所示的箭頭U、箭頭D、箭頭L、箭頭R、箭頭F及箭頭Rr所表示的方向分別定義為上方向、下方向、左方向、右方向、前方向及後方向來進行說明。左右方向為沿著圖1所示的X方向的方向,前後方向為沿著圖1所示的Y方向的方向,上下方向為沿著圖1所示的Z方向的方向。
<Conveying
圖3及圖4所示的搬送機構15吸附電子零件封裝S來搬送。搬送機構15主要包括吸附噴嘴110、第一升降馬達120、第一升降動力傳遞機構130、第二升降馬達140、第二升降動力傳遞機構150、噴嘴保持機構160、升降位置維持機構170、旋轉馬達180及旋轉動力傳遞機構190。The
<吸附噴嘴110>
圖3至圖6所示的吸附噴嘴110用於吸附電子零件封裝S。吸附噴嘴110形成為使長邊方向朝向上下的大致圓筒狀。吸附噴嘴110在左右方向上呈一列排列且配置多個。於本實施形態中,示出了配置12個吸附噴嘴110的例子。如後所述,吸附噴嘴110被支撐為能夠上下升降且能夠旋轉。
<
於吸附噴嘴110的上端連接有真空泵等抽吸裝置(未圖示)。於吸附噴嘴110的下端設置有由橡膠等彈性原材料形成的吸附墊(未圖示)。於吸附電子零件封裝S時,使具有彈性的吸附墊與電子零件封裝S接觸,藉此可防止損傷電子零件封裝S,並且易於吸附電子零件封裝S。A suction device (not shown) such as a vacuum pump is connected to the upper end of the
多個吸附噴嘴110基於用於進行上下升降的動力源(後述的第一升降馬達120及第二升降馬達140)的不同而分為兩個組。具體而言,多個吸附噴嘴110被分為藉由第一升降馬達120而上下升降的吸附噴嘴110與藉由第二升降馬達140而上下升降的吸附噴嘴110這兩個組。The plurality of
以下,為了便於說明,將藉由第一升降馬達120而上下升降的吸附噴嘴110稱為第一組,將藉由第二升降馬達140而上下升降的吸附噴嘴110稱為第二組。另外,為了區別兩個組的吸附噴嘴110,而有時亦將第一組吸附噴嘴110稱為吸附噴嘴110A,將第二組吸附噴嘴110稱為吸附噴嘴110B。Hereinafter, for convenience of description, the
於本實施形態中,第一組吸附噴嘴110A配置於自左數起的奇數號位置。另外,第二組吸附噴嘴110B配置於自左數起的偶數號位置。即,第一組吸附噴嘴110A與第二組吸附噴嘴110B交替地配置。如上所述,於本實施形態中,成為至少一組吸附噴嘴110配置於另一組吸附噴嘴110之間的位置關係。In the present embodiment, the first group of
<第一升降馬達120>
圖3至圖5所示的第一升降馬達120是用於使第一組吸附噴嘴110A上下升降的動力源。另外,第一升降馬達120是本發明的第一馬達的一實施形態。第一升降馬達120例如由能夠控制細微旋轉的伺服馬達構成。第一升降馬達120配置成輸出軸朝向右方。第一升降馬達120固定於適當的支撐構件(未圖示)上。
<
<第一升降動力傳遞機構130>
圖4及圖5所示的第一升降動力傳遞機構130將第一升降馬達120的動力傳遞至第一組吸附噴嘴110A。另外,第一升降動力傳遞機構130是本發明的第一動力傳遞機構的一實施形態。第一升降動力傳遞機構130主要包括升降小齒輪131、升降齒條132、升降塊133及升降引導件134。
<First Lifting
升降小齒輪131為固定於第一升降馬達120的輸出軸上的齒輪。The
升降齒條132為伴隨著升降小齒輪131的旋轉而上下移動的棒狀齒輪。升降齒條132配置成使長邊方向朝向上下。升降齒條132配置成相對於升降小齒輪131自前方咬合。The elevating
升降塊133是藉由與升降齒條132一起上下移動來將第一升降馬達120的動力傳遞至吸附噴嘴110A的構件。升降塊133形成為使長邊方向朝向左右的棒狀。升降塊133固定於升降齒條132的前側面。於升降塊133上形成有多個突出部133a。The
突出部133a是形成為自升降塊133的前側面向前方突出的部分。突出部133a在左右方向上排列形成多個。鄰接的突出部133a彼此的間隔形成為與配置於奇數號位置的吸附噴嘴110(第一組吸附噴嘴110A)的左右間隔相同。藉此,突出部133a形成於與第一組吸附噴嘴110A對應的位置。The protruding
升降引導件134是引導升降塊133在上下方向上移動的構件。升降引導件134分別設置於升降塊133的左右兩端部。The
於如上所述般構成的第一升降動力傳遞機構130中,可藉由第一升降馬達120的動力而使升降塊133上下升降。具體而言,當第一升降馬達120驅動時,升降小齒輪131旋轉。伴隨著升降小齒輪131的旋轉而升降齒條132上下升降。於升降齒條132上設置有升降塊133,因此升降塊133在被升降引導件134引導的同時上下升降。藉由該升降塊133的升降,可如後所述般使第一組吸附噴嘴110A上下升降。In the first lift
<第二升降馬達140>
圖3至圖5所示的第二升降馬達140是用於使第二組吸附噴嘴110B上下升降的動力源。另外,第二升降馬達140是本發明的第二馬達的一實施形態。第二升降馬達140例如由能夠控制細微旋轉的伺服馬達構成。第二升降馬達140配置成輸出軸朝向左方。第二升降馬達140配置於第一升降馬達120的右方。第二升降馬達140固定於適當的支撐構件(未圖示)上。
<
<第二升降動力傳遞機構150>
圖4及圖5所示的第二升降動力傳遞機構150將第二升降馬達140的動力傳遞至第二組吸附噴嘴110B。另外,第二升降動力傳遞機構150是本發明的第二動力傳遞機構的一實施形態。第二升降動力傳遞機構150具有與第一升降動力傳遞機構130大致相同的結構。具體而言,第二升降動力傳遞機構150主要包括升降小齒輪151、升降齒條152、升降塊153及升降引導件154。
<Second Lifting
升降小齒輪151固定於第二升降馬達140的輸出軸上。升降齒條152配置成相對於升降小齒輪151自前方咬合。The
升降塊153是藉由與升降齒條152一起上下移動來將第二升降馬達140的動力傳遞至吸附噴嘴110B的構件。升降塊153固定於升降齒條152的前側面。升降塊153配置於第一升降動力傳遞機構130的升降塊133的下方。於升降塊153上形成有多個突出部153a。The
突出部153a是形成為自升降塊153的前側面向前方突出的部分。突出部153a在左右方向上排列形成多個。鄰接的突出部153a彼此的間隔形成為與配置於偶數號位置的吸附噴嘴110(第二組吸附噴嘴110B)的左右間隔相同。藉此,突出部153a形成於與第二組吸附噴嘴110B對應的位置。The protruding
升降引導件154是引導升降塊153在上下方向上移動的構件。升降引導件154分別設置於升降塊153的左右兩端部。The
於如上所述般構成的第二升降動力傳遞機構150中,可藉由第二升降馬達140的動力而使升降塊153上下升降。藉由該升降塊153的升降,可如後所述般使第二組吸附噴嘴110B上下升降。In the second lift
<噴嘴保持機構160>
圖3、圖6至圖8所示的噴嘴保持機構160將吸附噴嘴110保持為能夠升降且能夠旋轉。噴嘴保持機構160主要包括基座部161、軸承162、旋轉支撐部163及花鍵螺母(Spline nut)164。
<
基座部161是用於保持吸附噴嘴110的構件。基座部161形成為使長邊方向朝向左右的大致長方體狀。基座部161固定於適當的支撐構件(未圖示)上。於基座部161形成有貫通孔161a。The
圖8及圖9所示的貫通孔161a是形成為上下貫通基座部161的孔。貫通孔161a於與多個吸附噴嘴110(第一組吸附噴嘴110及第二組吸附噴嘴110)對應的位置形成有多個。The through
軸承162將後述的旋轉支撐部163支撐為能夠旋轉。軸承162設置有上下一對。軸承162藉由嵌合於貫通孔161a中而固定於基座部161。The bearing 162 rotatably supports a later-described
旋轉支撐部163支撐後述的花鍵螺母164。旋轉支撐部163形成為使長邊方向朝向上下的中空的筒狀。旋轉支撐部163的下部被軸承162支撐為能夠旋轉。於旋轉支撐部163的上部形成有後述的旋轉齒輪194。The
花鍵螺母164將吸附噴嘴110保持為能夠升降。花鍵螺母164設置有上下一對。花鍵螺母164藉由嵌合於旋轉支撐部163的中空部而固定於旋轉支撐部163。藉此,花鍵螺母164可與旋轉支撐部163一體地旋轉。於花鍵螺母164中插入有吸附噴嘴110。花鍵螺母164與吸附噴嘴110花鍵嵌合。藉此,花鍵螺母164可與吸附噴嘴110一體地旋轉。另外,吸附噴嘴110可以相對於花鍵螺母164上下升降的方式移動。The
<升降位置維持機構170>
圖3、圖8及圖9所示的升降位置維持機構170用於將吸附噴嘴110維持於上升至一定高度的位置(以下,將該位置稱為「上升位置」)。升降位置維持機構170主要包括支架171、軸承172、氣缸173、第一止擋塊174及第二止擋塊175。
<Elevating
支架171將吸附噴嘴110與後述的氣缸173連結,並且將來自第一升降動力傳遞機構130及第二升降動力傳遞機構150的動力傳遞至吸附噴嘴110。另外,支架171是本發明的傳遞構件的一實施形態。支架171形成為大致矩形板狀。於支架171的前部及後部分別形成有上下貫通支架171的貫通孔。The
軸承172將吸附噴嘴110支撐為能夠旋轉。軸承172藉由嵌合於形成於支架171的前部的貫通孔而固定於支架171上。於軸承172中以插入有吸附噴嘴110的上部的狀態被固定。藉此,吸附噴嘴110安裝成相對於支架171能夠旋轉且不能升降(相對於支架171不能上下移動)。The bearing 172 rotatably supports the
此處,支架171及軸承172分別相對於多個吸附噴嘴110設置。如圖3及圖9等所示,與第二組吸附噴嘴110B對應的支架171設置於較與第一組吸附噴嘴110A對應的支架171稍低的位置。Here, the
如圖8所示,與第一組吸附噴嘴110A對應的支架171以分別載置於第一升降動力傳遞機構130的升降塊133(突出部133a)上的狀態配置。支架171因自重而欲向下方移動,但藉由被升降塊133自下方支撐,而成為支架171向下方的移動被限制的狀態。As shown in FIG. 8 , the
同樣地,如圖9所示,與第二組吸附噴嘴110B對應的支架171以分別載置於第二升降動力傳遞機構150的升降塊153(突出部153a)上的狀態配置。Similarly, as shown in FIG. 9 , the
氣缸173用於阻斷動力自第一升降動力傳遞機構130及第二升降動力傳遞機構150向支架171的傳遞,將吸附噴嘴110維持於上升位置。另外,氣缸173是本發明的致動器的一實施形態。氣缸173由單螺線管的單動式氣缸構成。氣缸173以使能夠伸縮的桿173a朝向下方的狀態配置。氣缸173以插入於形成於支架171的後部的貫通孔中的狀態固定。當氣缸173工作(開啟(ON))時,桿173a成為伸長的狀態。另外,當氣缸173停止工作(關閉(OFF))時,則桿173a成為收縮的狀態。The
圖8及圖9所示的第一止擋塊174用於限制第一組吸附噴嘴110A的下降。第一止擋塊174配置於與第一組吸附噴嘴110A對應設置的氣缸173的下方。第一止擋塊174固定於適當的支撐構件(未圖示)上。The
圖9所示的第二止擋塊175用於限制第二組吸附噴嘴110B的下降。第二止擋塊175配置於與第二組吸附噴嘴110B對應設置的氣缸173的下方。第二止擋塊175設置於較第一止擋塊174稍低的位置。第二止擋塊175固定於適當的支撐構件(未圖示)上。The second stop block 175 shown in FIG. 9 is used to limit the descent of the second group of
<旋轉馬達180>
圖3至圖5所示的旋轉馬達180是用於使吸附噴嘴110旋轉的動力源。另外,旋轉馬達180是本發明的第三馬達的一實施形態。旋轉馬達180例如由能夠控制細微旋轉的伺服馬達構成。旋轉馬達180配置於多個吸附噴嘴110的左方。旋轉馬達180配置成輸出軸朝向下方。旋轉馬達180固定於適當的支撐構件(未圖示)上。
<
<旋轉動力傳遞機構190>
圖3及圖4所示的旋轉動力傳遞機構190將旋轉馬達180的動力傳遞至吸附噴嘴110。另外,旋轉動力傳遞機構190是本發明的第三動力傳遞機構的一實施形態。旋轉動力傳遞機構190主要包括旋轉小齒輪191、旋轉齒條192、旋轉齒條引導件193及旋轉齒輪194。
<Rotary
旋轉小齒輪191為固定於旋轉馬達180的輸出軸上的齒輪。The
圖5及圖6所示的旋轉齒條192為伴隨著旋轉小齒輪191的旋轉而左右移動的棒狀齒輪。旋轉齒條192配置成使長邊方向朝向左右。旋轉齒條192配置成跨越旋轉馬達180及多個吸附噴嘴110。旋轉齒條192配置成相對於旋轉小齒輪191自後方咬合。The
圖5至圖7所示的旋轉齒條引導件193是引導旋轉齒條192在左右方向上移動的構件。旋轉齒條引導件193分別設置於旋轉齒條192的左右兩端部。旋轉齒條引導件193由基座部161支撐。The
圖6至圖8所示的旋轉齒輪194為伴隨著旋轉齒條192向左右的移動而旋轉的齒輪。旋轉齒輪194一體地形成於設置於各吸附噴嘴110的旋轉支撐部163的上部。旋轉齒輪194配置成相對於旋轉齒條192自前方咬合。再者,旋轉齒輪194亦能夠以與旋轉支撐部163分開(分開的構件)的形式形成。The
於如上所述般構成的旋轉動力傳遞機構190中,可藉由旋轉馬達180的動力而使吸附噴嘴110旋轉。具體而言,當驅動旋轉馬達180時,旋轉小齒輪191旋轉。伴隨著旋轉小齒輪191的旋轉而旋轉齒條192左右移動。由於旋轉齒輪194與旋轉齒條192咬合,因此伴隨著旋轉齒條192的移動而旋轉齒輪194旋轉。伴隨著該旋轉齒輪194的旋轉,設置有旋轉齒輪194的旋轉支撐部163及花鍵螺母164旋轉。吸附噴嘴110與花鍵螺母164花鍵嵌合,因此伴隨著花鍵螺母164的旋轉,可使吸附噴嘴110以其軸線為中心(與吸附噴嘴110的升降方向相交的平面內)進行旋轉。In the rotary
再者,如上所述般構成的搬送機構15可藉由未圖示的移動機構而在X方向(左右方向)上任意移動。In addition, the
<吸附噴嘴110的基本動作>
搬送機構15可藉由適當驅動三個馬達(第一升降馬達120、第二升降馬達140及旋轉馬達180)及各氣缸173,而使任意的吸附噴嘴110升降及旋轉。藉此,可利用任意的吸附噴嘴110吸附電子零件封裝S,或將所吸附的電子零件封裝S載置於所期望的部位。以下,以第一組吸附噴嘴110A為例,對吸附電子零件封裝S時的各部分的基本動作進行說明。再者,以下,為了便於說明,使用示意性示出搬送機構15的結構的圖(圖11(a)至圖11(d)等)進行說明。
<Basic operation of
於不使吸附噴嘴110A升降的情況下,與該吸附噴嘴110A對應設置的氣缸173工作,桿173a成為伸長的狀態(圖10的步驟S101、圖11(a))。When the
於桿173a伸長的狀態下,當氣缸173欲下降時,於規定的位置,桿173a的下端碰到第一止擋塊174的上表面。因此,與第一升降馬達120的運作無關,氣缸173不會下降至較規定的位置更靠下的位置。藉此,吸附噴嘴110A維持於規定的上升位置,且不會下降至較該位置更靠下的位置(圖10的步驟S102、圖11(b))。When the
另一方面,於使吸附噴嘴110A升降的情況下,與該吸附噴嘴110A對應設置的氣缸173停止工作,桿173a成為收縮的狀態(圖10的步驟S103、圖11(c))。On the other hand, when the
於桿173a收縮的狀態下,桿173a不會與第一止擋塊174接觸。於該狀態下,當第一升降馬達120驅動而升降塊133下降時,載置於升降塊133上的支架171亦因自重而下降。藉此,吸附噴嘴110A以追隨升降塊133的方式下降(圖10的步驟S104、圖11(d))。In the contracted state of the
吸附噴嘴110A下降至規定的位置後,第一升降馬達120停止。於該狀態下,對與吸附噴嘴110A連接的抽吸裝置的運作進行控制。例如,於吸附電子零件封裝S的情況下,抽吸裝置工作,將電子零件封裝S吸附於吸附噴嘴110A的下端。另外,於將吸附於吸附噴嘴110A的電子零件封裝S載置於規定的地方的情況下,抽吸裝置停止工作,而解除吸附噴嘴110A對電子零件封裝S的吸附(圖10的步驟S105)。After the
再者,於使吸附噴嘴110A下降的情況下(參照圖11(d)),當電子零件封裝S的厚度較設想的厚時等,有如下擔憂:吸附噴嘴110A於下降至規定的位置前碰到電子零件封裝S。然而,於本實施形態中,支撐吸附噴嘴110的支架171為載置於升降塊133上的狀態,因此即便吸附噴嘴110碰到電子零件封裝S,亦可使支架171以遠離升降塊133的方式向上方逃離。藉此,可防止因升降塊133下降的動力而對電子零件封裝S施加過剩的負荷而損傷電子零件封裝S。Furthermore, when the
基於吸附噴嘴110A進行的電子零件封裝S的吸附等完成後,驅動第一升降馬達120而升降塊133上升。當升降塊133上升時,載置於升降塊133上的支架171亦上升。藉此,吸附噴嘴110A以追隨升降塊133的方式上升(圖10的步驟S106)。After the suction of the electronic component package S by the
吸附噴嘴110A上升至規定的位置後,停止第一升降馬達120(圖10的步驟S107)。然後,不需要下降的吸附噴嘴110A的氣缸173工作,吸附噴嘴110A維持於規定的上升位置(圖10的步驟S101及步驟S102、圖11(b))。After 110 A of suction nozzles are raised to a predetermined position, the
如上所述,藉由於使欲下降的吸附噴嘴110A的氣缸173停止工作(使桿173a收縮)的狀態下驅動第一升降馬達120,可僅使該吸附噴嘴110A升降。藉此,第一組吸附噴嘴110A中,可僅使所期望的吸附噴嘴110A升降。As described above, by driving the first elevating
再者,於所述例子中,以使第一組吸附噴嘴110A升降的情況為例進行了運作說明,關於使第二組吸附噴嘴110B升降時的運作,亦大致相同。另外,用於使第一組吸附噴嘴110A升降的機構(第一升降馬達120、第一升降動力傳遞機構130等)及用於使第二組吸附噴嘴110B升降的機構(第二升降馬達140、第二升降動力傳遞機構150等)相互獨立,因此第一組吸附噴嘴110A與第二組吸附噴嘴110B分別能夠於任意的時機升降。In addition, in the above-mentioned example, the case of raising and lowering the first group of
<搬送電子零件封裝S時的運作>
於本實施形態的搬送機構15中,假設使多個吸附噴嘴110自一端(於本實施形態中為自左)交替升降來進行電子零件封裝S的搬送。以下,對基於搬送機構15的電子零件封裝S的搬送的情形進行具體說明。
<Operation when transporting electronic component package S>
In the
再者,為了方便說明,以著眼於12個吸附噴嘴110中自左起第四個為止的吸附噴嘴110的升降來進行說明。於圖12(a)至圖12(f)中示出了以左右排列的方式配置的成為搬送對象的多個電子零件封裝S、與四個吸附噴嘴110對應的氣缸173的工作狀態(ON/OFF)、第一升降馬達120及第二升降馬達140的工作狀態以及四個吸附噴嘴110的升降的情形。In addition, for the sake of convenience of description, the description will be given focusing on the up-and-down of the
首先,如圖12(a)所示,藉由未圖示的移動機構而搬送機構15移動至電子零件封裝S的上方。於本實施形態的切斷裝置1(參照圖1)中,搬送機構15在X方向上適當移動,並移動至配置有電子零件封裝S的配置機構14的上方。First, as shown in FIG.12(a), the
其次,如圖12(a)所示,於第一升降馬達120及第二升降馬達140停止的狀態下,自左起兩個吸附噴嘴110對應的氣缸173停止工作,其他的氣缸173工作。Next, as shown in FIG. 12( a ), when the
其次,如圖12(b)所示,第一升降馬達120工作,以使吸附噴嘴110A下降。藉此,第一組吸附噴嘴110A中,僅氣缸173停止工作的吸附噴嘴110A(左端的吸附噴嘴110)下降。Next, as shown in FIG. 12( b ), the
其次,如圖12(c)所示,於左端的吸附噴嘴110與電子零件封裝S接觸的時機,第一升降馬達120停止工作。於該狀態下,抽吸裝置工作,利用左端的吸附噴嘴110來吸附左端的電子零件封裝S。Next, as shown in FIG. 12( c ), at the timing when the
其次,如圖12(d)所示,第一升降馬達120工作,以使吸附噴嘴110A上升。另外,於左端的吸附噴嘴110的上升中,第二升降馬達140工作,以使吸附噴嘴110B下降。藉此,第二組吸附噴嘴110B中,氣缸173停止工作的吸附噴嘴110B(自左起第二個吸附噴嘴110)下降。Next, as shown in FIG. 12( d ), the
其次,如圖12(e)所示,左端的吸附噴嘴110上升至規定的位置後,第一升降馬達120停止工作。然後,與左端的吸附噴嘴110對應的氣缸173工作,並且與自左起第三個吸附噴嘴110對應的氣缸173停止工作。Next, as shown in FIG. 12( e ), after the
進而,於自左起第二個吸附噴嘴110與電子零件封裝S接觸的時機,第二升降馬達140停止工作。於該狀態下,抽吸裝置工作,藉由自左起第二個吸附噴嘴110來吸附自左起第二個電子零件封裝S。Furthermore, at the timing when the
其次,如圖12(f)所示,第二升降馬達140工作,以使吸附噴嘴110B上升。另外,於自左起第二個吸附噴嘴110的上升中,第一升降馬達120工作,以使吸附噴嘴110A下降。藉此,第一組吸附噴嘴110A中,氣缸173停止工作的吸附噴嘴110A(自左起第三個吸附噴嘴110)下降。Next, as shown in FIG. 12(f), the
以後,依次進行如上所述的運作,利用各吸附噴嘴110吸附所需數量的電子零件封裝S。電子零件封裝S的吸附完成後,藉由未圖示的移動機構而搬送機構15移動至成為電子零件封裝S的移送目的地的位置。於本實施形態的切斷裝置1(參照圖1)中,搬送機構15在X方向上適當移動,並移動至收納電子零件封裝S的托盤(良品用托盤15a或不良品托盤15b)的上方。Thereafter, the operations as described above are sequentially performed, and a required number of electronic component packages S are sucked by each
於將利用吸附噴嘴110吸附的電子零件封裝S收納於托盤中時,與圖12(a)至圖12(f)所示的例子同樣地,使吸附噴嘴110交替升降,於使吸附噴嘴110下降的狀態下解除電子零件封裝S的吸附,藉此可將電子零件封裝S收納於托盤中。When storing the electronic component package S sucked by the
另外,於將電子零件封裝S收納於托盤中時,使旋轉馬達180適當工作,藉此可進行電子零件封裝S的方向(與吸附噴嘴110的升降方向相交的平面內的旋轉位置)的調整。具體而言,於搬送機構15自配置機構14移動至托盤時,自下方利用照相機等檢測機構來檢測電子零件封裝S的方向,算出必要的方向調整量(旋轉修正量)。然後,於將電子零件封裝S收納於托盤中前(於電子零件封裝S吸附於吸附噴嘴110的狀態下),使旋轉馬達180適當工作,並使電子零件封裝S旋轉來調整方向。藉此,可將電子零件封裝S精密地收納於托盤中。In addition, when the electronic component package S is accommodated in the tray, the
再者,於圖12(a)至圖12(f)中示出了電子零件封裝S以與吸附噴嘴110相同的間隔(間距)排列的例子,本實施形態的搬送機構15亦可吸附以與吸附噴嘴110不同的間隔排列的電子零件封裝S來搬送。具體而言,每次吸附一個電子零件封裝S時,以使接下來要吸附的吸附噴嘴110與電子零件封裝S的位置對準的方式使搬送機構15自身左右移動,藉此可進行以各種間隔配置的電子零件封裝S的搬送。Furthermore, in Fig. 12(a) to Fig. 12(f) an example in which the electronic component packages S are arranged at the same interval (pitch) as the
如以上所述,本實施形態的搬送機構15配置有多個吸附噴嘴110,
所述多個吸附噴嘴110由第一組吸附噴嘴110A及第二組吸附噴嘴110B構成,且所述搬送機構15包括:
第一升降馬達120(第一馬達),使所述第一組吸附噴嘴110A升降;
第二升降馬達140(第二馬達),使所述第二組吸附噴嘴110B升降;
旋轉馬達180(第三馬達),使所述多個吸附噴嘴110於與所述多個吸附噴嘴110的升降方向相交的平面內旋轉;以及
升降位置維持機構170,能夠將所述多個吸附噴嘴110中任意的吸附噴嘴110與所述第一升降馬達120及所述第二升降馬達140的驅動無關地維持於規定的上升位置。
As described above, the
藉由如上所述般構成,可實現結構的簡單化。即,藉由三個馬達,可實現使多個吸附噴嘴110個別地升降的運作及旋轉的運作。如上所述,可與吸附噴嘴110的個數無關地藉由三個馬達來使吸附噴嘴110運作,因此可實現結構的簡單化,進而,可實現成本的削減或維護的簡單化等。By constituting as described above, the structure can be simplified. That is, the operation of raising and lowering the plurality of
另外,所述多個吸附噴嘴110呈一列排列配置,並且於第一組吸附噴嘴110A及第二組吸附噴嘴110B中至少任一組吸附噴嘴110之間配置另一組吸附噴嘴110。In addition, the plurality of
藉由如上所述般構成,任意錯開鄰接的不同組的吸附噴嘴110的運作(升降)的時機,藉此可效率良好地進行電子零件封裝S的搬送。例如,如本實施形態般,於第一組吸附噴嘴110A的上升中,進行鄰接的第二組吸附噴嘴110B的下降,藉此可效率良好地進行多個電子零件封裝S的吸附等。With the configuration as described above, the electronic component packages S can be conveyed efficiently by arbitrarily shifting the timing of the operation (lifting and descending) of the
另外,搬送機構15進而包括:
噴嘴保持機構160,將所述多個吸附噴嘴110分別保持為能夠升降,並且保持為能夠於與所述多個吸附噴嘴110的升降方向相交的平面內旋轉;
第一升降動力傳遞機構130(第一動力傳遞機構),將所述第一升降馬達120的動力傳遞至所述第一組吸附噴嘴110A;
第二升降動力傳遞機構150(第二動力傳遞機構),將所述第二升降馬達140的動力傳遞至所述第二組吸附噴嘴110B;以及
旋轉動力傳遞機構190(第三動力傳遞機構),將所述旋轉馬達180的動力傳遞至所述多個吸附噴嘴110。
In addition, the conveying
藉由如上所述般構成,可將藉由三個馬達來進行多個吸附噴嘴110的升降及旋轉的機構設為相對較簡單的結構。By configuring as described above, a mechanism for moving up and down and rotating a plurality of
所述升降位置維持機構170包括:
多個支架171(傳遞構件),分別與所述多個吸附噴嘴110對應設置,將來自所述第一升降動力傳遞機構130及所述第二升降動力傳遞機構150的動力分別傳遞至所述第一組吸附噴嘴110A及所述第二組吸附噴嘴110B;以及
氣缸173(致動器),分別與所述多個支架171對應設置,能夠阻斷動力自所述第一升降動力傳遞機構130及所述第二升降動力傳遞機構150向所述支架171的傳遞。
The lifting
藉由如上所述般構成,對氣缸173的運作進行控制,藉此可將任意的吸附噴嘴110維持於規定的上升位置。By controlling the operation of the
另外,所述致動器由氣缸173構成。In addition, the actuator is constituted by an
藉由如上所述般構成,可將升降位置維持機構170設為相對較簡單的結構。By configuring as described above, the elevating
另外,搬送機構15對所述第一升降馬達120、所述第二升降馬達140及所述升降位置維持機構170的運作進行控制,以於相鄰的兩個吸附噴嘴110中的其中一吸附噴嘴110的上升過程中,使另一吸附噴嘴110下降。In addition, the conveying
藉由如上所述般構成,可效率良好地進行使用吸附噴嘴110的搬送。By configuring as described above, conveyance using the
另外,本實施形態的切斷裝置1包括所述搬送機構15。In addition, the cutting device 1 of this embodiment includes the above-mentioned
藉由如上所述般構成,可實現結構的簡單化。By constituting as described above, the structure can be simplified.
另外,本實施形態的切斷品的製造方法是使用所述切斷裝置1來製造切斷品。In addition, the manufacturing method of the cut product of this embodiment manufactures a cut product using the cutting apparatus 1 mentioned above.
藉由如上所述般構成,可使用簡單結構的切斷裝置1(搬送機構15),進而可實現成本的削減或維護的簡單化等。By configuring as described above, the cutting device 1 (transport mechanism 15 ) having a simple structure can be used, and cost reduction, simplification of maintenance, and the like can be achieved.
以上,對本發明的實施形態進行了說明,但本發明並不限定於所述實施形態,能夠於申請專利範圍所記載的發明的技術思想的範圍內適當變更。As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the said embodiment, It can change suitably within the range of the technical idea of invention described in the claim.
例如,所述實施形態中例示的切斷裝置1的結構是一例,具體結構能夠適當變更。For example, the structure of the cutting device 1 illustrated in the above-mentioned embodiment is an example, and the specific structure can be changed appropriately.
例如,於所述實施形態中,切斷模組A及檢查模組B分別包括控制部(控制部9及控制部16),但本發明並不限於此,亦能夠將各自的控制部匯總成一個控制部,或分割成三個以上的控制部。另外,本實施形態的切斷裝置1是具有兩個切斷台4的雙切割台結構,但本發明並不限於此,亦可僅包含一個切斷台4。另外,本實施形態的切斷裝置1是具有兩個主軸部5的雙主軸結構,但本發明並不限於此,亦可僅具有一個主軸部5。For example, in the above-described embodiment, the cutting module A and the inspection module B each include a control unit (the
另外,於所述實施形態中,例示了包括12個吸附噴嘴110的搬送機構15,但本發明並不限於此,吸附噴嘴110的個數能夠任意變更。另外,於本實施形態的搬送機構15中,可與吸附噴嘴110的個數無關地藉由三個馬達(第一升降馬達120、第二升降馬達140及旋轉馬達180)來使吸附噴嘴110運作(升降及旋轉)。Moreover, in the said embodiment, although the
另外,於所述實施形態中,示出了第一組吸附噴嘴110A與第二組吸附噴嘴110B以一個為單位交替配置的例子,但本發明並不限於此,兩個組的吸附噴嘴110能夠任意配置。例如,亦能夠將兩個組的吸附噴嘴110以兩個為單位交替配置或者隨機配置。但是,於使如本實施形態般呈一列排列的吸附噴嘴110依序升降的情況下,就藉由第一升降馬達120及第二升降馬達140或氣缸173的工作來抑制吸附噴嘴110中所產生的振動或衝擊的觀點而言,理想的是將動力源不同的第一組吸附噴嘴110A與第二組吸附噴嘴110B以一個為單位交替配置。In addition, in the above-described embodiment, an example in which the first group of
另外,於所述實施形態中,作為用於將吸附噴嘴110維持於規定的上升位置的致動器,例示了氣缸173,但本發明並不限於此,能夠使用任意的致動器。例如,作為致動器,亦能夠使用螺線管致動器、油壓缸、通常的感應馬達等。In addition, in the above-mentioned embodiment, the
另外,於所述實施形態中,作為第一升降馬達120、第二升降馬達140及旋轉馬達180,列示了伺服馬達,但本發明並不限於此,能夠使用任意的馬達。例如,作為第一升降馬達120等,亦能夠使用步進馬達等。但是,就為了吸附電子零件封裝S而使吸附噴嘴110精密地升降的觀點而言,理想的是將伺服馬達用作第一升降馬達120等。In addition, in the above-described embodiment, servo motors were listed as the
另外,於所述實施形態中,示出了藉由齒輪(齒條/小齒輪)來傳遞第一升降馬達120、第二升降馬達140及旋轉馬達180的動力的例子,但本發明並不限於此,能夠使用任意的機構來傳遞動力。例如,亦能夠使用設置於馬達的輸出軸的滑輪及捲繞於該滑輪上的帶來傳遞動力。In addition, in the said embodiment, the example which transmits the power of the
另外,於所述實施形態中,示出了吸附噴嘴110(支架171)因自重而以追隨升降塊133的方式下降的例子,但本發明並不限於此。例如,亦能夠設置對吸附噴嘴110向下方施力的施力構件(彈簧等)。藉此,可藉由升降塊133而使吸附噴嘴110容易追隨。In addition, in the above-described embodiment, an example was shown in which the suction nozzle 110 (holder 171 ) descends by its own weight so as to follow the
另外,所述實施形態中所說明的搬送機構15的運作為一例,可任意變更。例如,於所述實施形態中,示出了使多個吸附噴嘴110以一個為單位自左起依序升降的例子,但本發明並不限於此,升降的順序可任意變更。另外,於所述實施形態中,示出了於相鄰的吸附噴嘴110的其中一者的上升中,使另一者下降的例子,但本發明並不限於此,亦能夠於其中一者的上升完全完成後使另一者下降。In addition, the operation|movement of the
另外,於所述實施形態中,示出了使用三個馬達而使吸附噴嘴110升降及旋轉的例子,但馬達的個數並不限於此。例如,於所述實施形態中,示出了將多個吸附噴嘴110分為兩個組,分別利用個別的馬達(兩個馬達)使該兩個組升降的例子,亦能夠構成為:將多個吸附噴嘴110分為三個以上的組,分別利用個別的馬達(三個以上的馬達)使各組升降。In addition, in the said embodiment, the example which raised and lowered and rotated the
1:切斷裝置 2:基板供給機構 3:定位機構 3a:軌道部 4:切斷台 4a、11a:保持構件 4b:旋轉機構 4c:移動機構 4d:第一位置確認照相機 5:主軸部 5a:旋轉刀 5b:第二位置確認照相機 6:第一清潔器 7:移送機構 8:第二清潔器 8a:清洗機構 8b:抽吸乾燥機構 9、16:控制部 11:檢查台 12:第一光學檢查照相機 13:第二光學檢查照相機 14:配置機構 15:搬送機構 15a:良品用托盤 15b:不良品托盤 110、110A、110B:吸附噴嘴 120:第一升降馬達 130:第一升降動力傳遞機構 131、151:升降小齒輪 132、152:升降齒條 133、153:升降塊 133a、153a:突出部 134、154:升降引導件 140:第二升降馬達 150:第二升降動力傳遞機構 160:噴嘴保持機構 161:基座部 161a:貫通孔 162、172:軸承 163:旋轉支撐部 164:花鍵螺母 170:升降位置維持機構 171:支架 173:氣缸 173a:桿 174:第一止擋塊 175:第二止擋塊 180:旋轉馬達 190:旋轉動力傳遞機構 191:旋轉小齒輪 192:旋轉齒條 193:旋轉齒條引導件 194:旋轉齒輪 A:切斷模組 B:檢查模組 M:匣盒 P:封裝基板 S:電子零件封裝 S2:供給步驟 S4:定位步驟 S6:切斷步驟 S8:第一清洗步驟 S10:第一乾燥步驟 S12:移送步驟 S14:第二清洗步驟 S16:第二乾燥步驟 S18:檢查步驟 S20:收容步驟 S101~S107:步驟 1: cutting device 2: Substrate supply mechanism 3: Positioning mechanism 3a: track part 4: Cutting table 4a, 11a: holding member 4b: Rotary mechanism 4c: Mobile Mechanism 4d: First position confirmation camera 5: Main shaft 5a: Rotary Knife 5b: Second location confirmation camera 6: First Cleaner 7: transfer mechanism 8: Second cleaner 8a: cleaning mechanism 8b: Suction drying mechanism 9, 16: Control Department 11: Examination table 12: The first optical inspection camera 13: Second optical inspection camera 14: Configuration mechanism 15: Transport mechanism 15a: Trays for good products 15b: Defective product tray 110, 110A, 110B: Adsorption nozzles 120: The first lifting motor 130: The first lifting power transmission mechanism 131, 151: lifting pinion 132, 152: lifting rack 133, 153: lifting block 133a, 153a: protrusions 134, 154: lifting guide 140: The second lifting motor 150: The second lifting power transmission mechanism 160: nozzle holding mechanism 161: base part 161a: through hole 162, 172: Bearing 163: rotating support part 164: spline nut 170: Lifting position maintenance mechanism 171: Bracket 173: Cylinder 173a: Rod 174: The first stop block 175: the second stop block 180:Rotary motor 190: rotating power transmission mechanism 191:Rotary pinion 192:Rotary rack 193: Rotary Rack Guide 194:Rotary gear A: cut off module B: Check the module M: Box P: package substrate S: Packaging of electronic components S2: Supply step S4: Positioning step S6: cut off step S8: the first cleaning step S10: the first drying step S12: Transfer step S14: the second cleaning step S16: the second drying step S18: Inspection steps S20: Containment Procedure S101~S107: Steps
圖1是表示本發明的一實施形態的切斷裝置的整體結構的平面示意圖。 圖2是表示切斷品的製造方法的流程圖。 圖3是表示本發明的一實施形態的搬送機構的整體結構的前視立體圖。 圖4是表示本發明的一實施形態的搬送機構的整體結構的後視立體圖。 圖5是表示本發明的一實施形態的搬送機構的整體結構的一部分分解平面圖。 圖6是表示本發明的一實施形態的搬送機構的整體結構的正面圖。 圖7是表示本發明的一實施形態的搬送機構的整體結構的側面圖。 圖8是圖6的A-A剖面圖。 圖9是圖6的B-B剖面圖。 圖10是表示吸附噴嘴的基本動作的流程圖。 圖11的(a)至(d)是表示吸附噴嘴的基本動作的示意圖。 圖12的(a)至(f)是表示多個吸附噴嘴的運作的示意圖。 Fig. 1 is a schematic plan view showing the overall structure of a cutting device according to an embodiment of the present invention. Fig. 2 is a flow chart showing a method of manufacturing a cut product. Fig. 3 is a front perspective view showing the overall structure of a transport mechanism according to an embodiment of the present invention. Fig. 4 is a rear perspective view showing the overall structure of a transport mechanism according to an embodiment of the present invention. Fig. 5 is a partially exploded plan view showing the overall structure of a transport mechanism according to an embodiment of the present invention. Fig. 6 is a front view showing the overall structure of a transport mechanism according to an embodiment of the present invention. Fig. 7 is a side view showing the overall structure of a transport mechanism according to an embodiment of the present invention. FIG. 8 is a cross-sectional view along line A-A of FIG. 6 . Fig. 9 is a B-B sectional view of Fig. 6 . Fig. 10 is a flowchart showing the basic operation of the suction nozzle. (a) to (d) of FIG. 11 are schematic views showing the basic operation of the adsorption nozzle. (a) to (f) of FIG. 12 are schematic diagrams showing the operation of a plurality of adsorption nozzles.
15:搬送機構 15: Transport mechanism
110A、110B:吸附噴嘴 110A, 110B: Adsorption nozzles
120:第一升降馬達 120: The first lifting motor
132、152:升降齒條 132, 152: lifting rack
134、154:升降引導件 134, 154: lifting guide
140:第二升降馬達 140: The second lifting motor
160:噴嘴保持機構 160: nozzle holding mechanism
161:基座部 161: base part
163:旋轉支撐部 163: rotating support part
170:升降位置維持機構 170: Lifting position maintenance mechanism
171:支架 171: Bracket
173:氣缸 173: Cylinder
180:旋轉馬達 180:Rotary motor
190:旋轉動力傳遞機構 190: rotating power transmission mechanism
191:旋轉小齒輪 191:Rotary pinion
192:旋轉齒條 192:Rotary rack
193:旋轉齒條引導件 193: Rotary Rack Guide
194:旋轉齒輪 194:Rotary gear
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