TWI779072B - 防護薄膜組件、貼附有防護薄膜組件之光罩、曝光方法、半導體之製造方法、及顯示器之製造方法 - Google Patents
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Abstract
本發明之目的,係提供一種防護薄膜框架,可以防止防護薄膜框架上的接著層之內緣部在剖面觀察下呈曲面所導致發生的防護薄膜之拉皺;並提供一種防護薄膜組件,不會發生防護薄膜之拉皺,而有著優異外觀。
為達到上述目的,本發明提供一種框狀的防護薄膜框架,在要設置防護薄膜之面,設有從內緣側朝向外緣側降低的傾斜面;而從該傾斜面之外緣側終端、直到要設置該防護薄膜之面的外緣,皆設為平坦面。再者,提供一種防護薄膜組件,在該防護薄膜框架中之要設置該防護薄膜之面,係於該傾斜面上及該平坦面上設有接著層,並透過該接著層而設置該防護薄膜。
Description
本發明係有關於在製造半導體裝置、液晶顯示器、有機EL顯示器等等之際,用於防塵之防護薄膜框架及防護薄膜組件。
在LSI(大型積體電路)、超LSI等等半導體製造或是液晶顯示器等之製造,會用光線照射半導體晶圓或液晶用原板以形成圖案;此時所用的光罩或倍縮光罩(於下文中,單以光罩稱之)若沾附灰塵,就會使邊緣變得粗糙、基底汙黑等等,產生損及尺寸、品質、外觀的問題。
因此,這些作業通常會在無塵室進行,然而即使如此也難以使光罩總是保持清潔;因此為了防塵,會在光罩表面黏貼防護薄膜組件後再進行曝光。在此情況下,由於異物不會直接附著在光罩的表面上,而是會附著在防護薄膜組件上,所以只要在光微影製程時將焦點對準在光罩的圖案上,防護薄膜組件上的異物就不會對轉印造成影響。
一般而言,防護薄膜組件的結構,是在鋁、鋼、碳鋼、不鏽鋼、工程塑膠等等所構成之防護薄膜框架的單側邊緣面,設置光線穿透性良好的硝化纖維素、
醋酸纖維素或者氟樹脂等等所構成之透明的防護薄膜;並在防護薄膜框架之另一側邊緣面,設置用以安裝於光罩的聚丁烯樹脂、聚醋酸乙烯酯樹脂、丙烯酸樹脂、矽氧樹脂等所構成之黏著層,以及用來保護黏著層的隔離片(參照專利文獻1、2)。
[專利文獻1]日本特開2005-338722號公報
[專利文獻2]日本特開2008-176102號公報
通常,防護薄膜是透過形成在防護薄膜框架之表面上的接著層而設置。而塗抹在防護薄膜框架之表面上的接著劑,會因為取決於其表面張力與防護薄膜框架之表面狀態的接觸角而隆起,變成凸起形狀。若有顯著的該凸起形狀,則由於防護薄膜只會接觸到凸起形狀的頂點附近,而會有接著面積小、與防護薄膜間的接著力變差的問題。
再者,由於接著層的內緣部,從剖面來看會呈曲面,因此若將防護薄膜接著在該區域,則會如圖11、圖12所示,薄膜會產生拉皺所致的微小細紋,而有可能造成外觀上的問題。尤其,在用於製造液晶、有機EL等等顯示器等的大型防護薄膜組件,由於框架寬度寬、薄膜接著層又厚,因此該問題會顯著發生。
因此,塗佈上需要使得用以設置防護薄膜的接著層儘量平坦;於專利文獻1,提議一種方法,係在防護薄膜框架表面設置凹槽,以控制接著層的形狀。再者,於專利文獻2,則提議一種方法,係使用較低黏度的接著劑,利用毛細現象以抑制接著層的高度,並且塗佈在寬度較寬的防護薄膜框架。
專利文獻1及2所記載之方法,可以降低薄膜接著層的頂點,在確保與防護薄膜之接著面積這一點,可以充分解決問題。然而,尚無法完全消除因為表面張力所形成之接著層內緣部的曲面;而對於發生在膜接著層之內緣附近的防護薄膜之拉皺,未必可以完全解決。
再者,在專利文獻1所記載之方法,還有一項問題,就是在接著劑塗佈量變少的情況下,薄膜接著層的表面會變成凹陷形狀,而在與防護薄膜之間產生空氣積聚,難以接著。
因此,本發明係有鑑於上述問題而研發,其目的在於提供一種防護薄膜框架,可以防止薄膜接著層之內緣部在剖面觀察下呈曲面所導致發生的防護薄膜之拉皺;並提供一種防護薄膜組件,不會發生防護薄膜之拉皺,而有著優異外觀。
本發明之防護薄膜框架及防護薄膜組件,要點如下。
(1)一種防護薄膜框架,係框狀的防護薄膜框架;在要設置防護薄膜之面,設有從內緣側朝向外緣側降低的傾斜面;而從該傾斜面之外緣側終端、直到要設置該防護薄膜之面的外緣,皆設為平坦面。
(2)如第1項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面,在要設置該防護薄膜之面的整圈皆有設置。
(3)如第1或2項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面的寬度,係要設置該防護薄膜之面的寬度之50%以下。
(4)如第1至3項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面與相對於該平坦面呈垂直之面所夾的角度,係60~89°。
(5)如第1至4項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面之內緣側起始端,係位於要設置該防護薄膜之面的內緣起算0.2mm以內之處。
(6)如第1至5項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面之內緣側起始端,係要設置該防護薄膜之面的內緣。
(7)如第1至6項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面的寬度,係0.3~3mm。
(8)如第1至7項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面的高度,係0.03~0.3mm。
(9)如第1至8項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面,係由平面所構成。
(10)如第1至8項中任一項之防護薄膜框架,其中,該傾斜面,係由曲面所構成。
(11)一種防護薄膜組件,係包括如第1至10項中任一項之防護薄膜框架而構成;在該防護薄膜框架中之要設置該防護薄膜之面,係於該傾斜面上及該平坦面上設有接著層,並透過該接著層而設置該防護薄膜。
(12)一種防護薄膜組件,係透過接著層而將防護薄膜設置在框狀之防護薄膜框架上;在該接著層之防護薄膜接著面,設有從該防護薄膜接著面之內緣側朝
向外緣側降低的傾斜面;該傾斜面之內緣側起始端處的該接著層之厚度,小於該傾斜面之外緣側終端處的該接著層之厚度。
若藉由本發明,就不會使薄膜接著層附近的防護薄膜產生拉皺,可以製得具有優異外觀的防護薄膜組件。
11:防護薄膜框架
12:薄膜接著面
12a、52、53:傾斜面
12b:平坦面
13:光罩黏著面
14:相對於平坦面呈垂直之面
51:曲面
54:切線
61:平面部
62:內斜面
80:防護薄膜組件
81:防護薄膜
82:薄膜接著層
83:光罩黏著層
84、114:透氣孔
85、115:治具孔
86:凹槽
87:濾片
88:隔離片
92:薄膜接著層的薄膜接著面
92a:薄膜接著面的傾斜面
92b:薄膜接著面的平坦面
110:防護薄膜組件
111:防護薄膜框架
112:薄膜接著層
112a:曲面部
113:光罩黏著層
116:凹槽
117:濾片
118:隔離片
119:防護薄膜
120:拉皺
a:傾斜面之內緣側起始端
b:傾斜面之外緣側終端
w:傾斜面的寬度
w′:平坦面的寬度
h:傾斜面的高度
α:傾斜面的角度
W:防護薄膜框架之薄膜接著面的寬度
H:防護薄膜框架本體部的高度
【圖1】說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的俯視圖。
【圖2】說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的圖式,係圖1中之A-A剖面圖。
【圖3】說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的圖式,係圖1中之B-B剖面圖。
【圖4】說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的圖式,係圖2中之C部位的擴大圖。
【圖5】(a)、(b)說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的剖面圖。
【圖6】(a)、(b)說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的剖面圖。
【圖7】說明本發明的防護薄膜框架之一實施形態的立體圖。
【圖8】說明本發明的防護薄膜組件之一實施形態的立體圖。
【圖9】說明本發明的防護薄膜組件之一實施形態的擴大剖面圖。
【圖10】(a)~(c)說明本發明的防護薄膜組件之一實施形態的剖面圖,繪示接著劑塗佈步驟。
【圖11】說明習知技術例(比較例)的防護薄膜組件的立體圖。
【圖12】說明習知技術例(比較例)的防護薄膜框架之內緣附近的立體圖。
【圖13】(a)、(b)說明習知技術例(比較例)的防護薄膜組件的剖面圖。
【圖14】說明習知技術例(比較例)的防護薄膜框架的剖面圖。
【圖15】(a)~(c)分別說明圖1之防護薄膜框架的前視圖、側視圖、以及仰視圖。
【圖16】(a)~(d)分別說明依照實施例1之尺寸比例所繪製之防護薄膜框架的俯視圖、前視圖、側視圖、以及仰視圖。
【圖17】係圖16(a)之D處的放大圖。
【圖18】係圖17中之E-E剖面圖。
以下,將針對本發明之實施形態,參照圖面以進行具體說明,但本發明並不限定於此。
本發明,可適用於所有大小、用途的防護薄膜組件;尤其是應用於邊寬超過5mm、主要用於顯示器製造之用途的大型防護薄膜組件時,大為有效。因為在大型且防護薄膜框架之寬度較大的防護薄膜組件,薄膜接著層也會變厚,而在防護薄膜拉皺之際的外觀惡化也會更為顯著。
於圖1~4繪示本發明的防護薄膜框架之一實施形態。圖1係俯視圖,圖2係圖1中之A-A剖面圖,圖3係圖1中之B-B剖面圖,圖4係圖2中之C部位的擴大圖。圖15(a)~(c)分別說明圖1之防護薄膜框架的前視圖、側視圖、以及仰視圖。
在框狀之防護薄膜框架11的「要設置防護薄膜之面」(薄膜接著面)12上,設有從內緣側朝向外緣側降低之傾斜面12a;而從傾斜面之外緣側終端b、直到要設置防護薄膜之面的外緣,皆設為平坦面12b。在此,在要設置防護薄膜之面,整圈皆有設置傾斜面12a。
接著針對傾斜面12a的高度h、傾斜角α、寬度w加以詳述,但以下所舉出的數值,要視所應用之防護薄膜框架的寬度、以及所使用之薄膜接著劑之黏度、塗佈量、乾燥速度等等之性狀,而適當決定。
傾斜面12a的寬度w,較佳是佔防護薄膜框架11之薄膜接著面12的寬度W之50%以下。如此一來,平坦面12b就可以確保有充分的區域,該平坦面12b係用作為將防護薄膜組件安裝至光罩之際的加壓區域。所以,平坦面12b的寬度w′,較佳係佔防護薄膜框架11之薄膜接著面12的寬度W之50%以上;因此,在半導體製造用的小型防護薄膜組件若有1mm以上、在顯示器製造用的大型防護薄膜組件若有2mm以上,就有充分的加壓區域可供使用。
傾斜面12a係相對於平坦面12b突出,而不會與對面的光罩黏著面13平行,因此在將防護薄膜組件安裝至光罩之際,若對傾斜面12a的區域加壓,會有引起錯位或黏貼不良之虞。因此,平坦面12b係用作為將防護薄膜組件裝設至光罩之際的加壓區域,所以較佳係與防護薄膜框架中的安裝至光罩之面(光罩黏著面)13呈平行。
傾斜面12a與相對於平坦面12b呈垂直之面14所夾的角度(傾斜角)α,較佳為60~89°,更佳為80~87°。傾斜角α若超過89°,就無法充分發揮防護薄膜之防止拉
皺效果。傾斜角α,越小越能加大使薄膜接著層的內緣尖鋭的效果,隨之而使防護薄膜的內緣外觀也跟著提升。但是,傾斜角α若不及60°,會有鋭利的邊緣部傷及所接著之防護薄膜之虞,又會導致在製造或取用防護薄膜框架時容易產生毛邊或缺損;再者,在製造防護薄膜組件時,會難以在使防護薄膜接著至薄膜接著層時不產生氣泡。
傾斜面12a,基於容易設計、加工的考量,較佳係如圖4所示,由一個平面所構成;但亦可如圖5(b)所示,由兩個以上的平面52、53所構成。再者,亦可如圖5(a)所示,由曲面51所構成。這些情況下,兩個以上的平面及曲面,較佳係構成凹面,而可以使傾斜面與平坦面間的境界不明顯。
又,以曲面構成傾斜面的情況下,傾斜角α係「在內緣側起始端a之傾斜面(曲面)51的切線54」與「相對於平坦面呈垂直之面」所構成之角度。再者,以兩個以上的平面構成傾斜面的情況下,傾斜角α係「包含內緣側起始端a之面52」與「相對於平坦面呈垂直之面」所構成之角度。
再者,傾斜面之內緣側起始端a,基於容易設計、加工的觀點,較佳係與防護薄膜框架11的薄膜接著面之內緣一致;但亦可如圖6(a)、圖6(b)所示,從內緣側起始端a到薄膜接著面的內緣一路設置平面部61、或設置從外緣側朝向內緣側降低的傾斜面(內斜面)62。由於若設置這種平面部61或內斜面62,就可以使得以內緣側起始端a為頂點之角的角度加大,因此在防護薄膜框架之加工上,就可以防止毛邊、彼鋒、缺損等等之發生。
又,傾斜面之內緣側起始端a,較佳係位於「要設置防護薄膜之面」的內緣起算0.2mm以內之處。
若是如圖4所示,以一個平面構成傾斜面12a的情況下,傾斜角α係取決於傾斜面12a的寬度w與高度h。寬度w越小、又,高度h越大,則傾斜角α會變小,而可以期待更為確實的防護薄膜之防止拉皺效果。
另一方面,由於防護薄膜組件全體的高度,取決於所使用之曝光裝置的規格,因此傾斜面12a的高度h越大,則防護薄膜框架本體部的高度H會越小。其結果,防護薄膜框架的剖面積會減少,剛性、強度會減低。再者,高度h越大,則越難以使防護薄膜在不產生氣泡的情況下接著至薄膜接著層。因此,傾斜面12a的高度h,較佳係設為防護薄膜框架全體高度(h+H)之0.5~5%。再者,較佳係在0.03~0.3mm之範圍內,更佳係在0.05~0.15mm之範圍內。
再者,在加大傾斜面12a的寬度w的情況下,為了使傾斜角α會在所要的範圍內,則需要加大傾斜面12a的高度h;而如前文所述,有時會有導致外觀及使用上之問題的情形。因此,傾斜面12a的寬度w,較佳係在0.3~3mm之範圍內,更佳係在0.5~1.5mm之範圍。
再者,尤其作為用於顯示器用途之大型防護薄膜組件,也常會使用長邊與短邊之防護薄膜框架寬度不同者;在此種情況下,較佳係使傾斜面12a不論長邊、短邊,尺寸、形狀皆相同。藉由使其為相同尺寸、形狀,而在以機械加工來製作傾斜面12a之際較為便利;再者,可以使轉角之連接形狀的外觀平滑。圖7係繪示防護薄膜框架11之轉角部分者;如此這般,較佳係使傾斜面12a,包含寬度不同之邊線、轉角在內,皆形成為一致。
用於本發明之防護薄膜框架11的材質,除了一般性的鋁合金以外,還可以使用鎂合金、鋼、碳鋼、不鏽鋼、不變鋼(INVAR)、SiN(氮化矽)、SiC(碳化矽)等等的陶瓷、工程塑膠、CFRP等等的纖維強化塑膠。就其製造方法而言,在金屬材質的情況下,最佳係由板材或管材進行機械切削加工;但為了削減成本,亦可為棒狀材料之組裝、由模鑄或脫蠟鑄造等等之鑄造品來製造。再者,在使用塑膠材質的情況下,除了從板材進行機械切削加工以外,亦可利用射出成型。
圖8係繪示使用上述防護薄膜框架11以構成防護薄膜組件80之一實施形態的立體圖,圖9係長邊之剖面擴大圖。防護薄膜框架11視需要,亦可設置使防護薄膜組件內外透氣的透氣孔84;或是設置治具孔85或凹槽86,以作為製造及黏貼時的抓取處。再者,於設置光罩黏著層83之光罩黏著面13,基於控制光罩黏著層83的形狀或寬度之目的,亦可設置階差、切角、或凹槽(未圖示)。
在防護薄膜框架11之呈框形的薄膜接著面12,設有薄膜接著層82,防護薄膜81就接著在此處。再者,作為其相對面的光罩黏著面13,則設有光罩黏著層83;為了保護黏著層,其表面會視需要而設置隔離片88,該隔離片88係在PET等等之厚度為0.5mm以下的薄片上,塗抹矽離型劑或氟素離型劑而成。更進一步地,設在防護薄膜框架11之側面的透氣孔84,為了防止塵埃侵入內部,係透過黏著層(未圖示)而安裝PTFE(聚四氟乙烯)等等之多孔質膜所構成的片狀濾片87。
薄膜接著層82,可以使用丙烯酸接著劑、氟素接著劑、矽氧樹脂接著劑等等公知之物。以適當之溶劑稀釋這些接著劑等等來調整黏度,再以會形成所要厚度之液量,塗佈在作為防護薄膜框架11之一面的薄膜接著面12上。塗佈工具
可使用空壓式點膠機等等公知之物。薄膜接著層82的厚度,需要從接著力或是接著簡易性、外觀來決定,不過就一例而言,較佳係在20~300μm之範圍內。
圖10繪示形成薄膜接著層82之際的狀態。緊接在塗佈接著劑後,傾斜面12a會如圖10(a)般埋沒在接著劑中。之後,如圖10(b)般,隨著溶劑進一步乾燥,接著劑會沿著傾斜面12a收縮,而傾斜面12a之內緣側起始端a會露出。然後,最終會如圖10(c)般,在傾斜面12a之內緣側起始端a上的薄膜接著層82之厚度,會比在傾斜面12a之外緣側終端b上的接著層之厚度更小(薄),能形成為薄到可以忽視「因為薄膜接著層82之表面張力所產生的曲面」之影響的程度。此時,接著層之中,與防護薄膜81接觸的面(薄膜接著面)92,具有從內緣側朝向外緣側降低的傾斜面92a。
然後,若在傾斜面12a之內緣側起始端a上的薄膜接著層82之厚度是薄的,就不會在薄膜接著層82形成如圖13所示之曲面部112a般,沿著防護薄膜119之方向的接著面;所以在薄膜接著層82就不會存有讓防護薄膜81局部接著之餘地,因此可以防止如習知技術例之圖13(a)所示般,防護薄膜81局部接觸、接著,而導致發生拉皺的情事。
薄膜接著面92的傾斜面92a之內緣側起始端,未必要與防護薄膜框架11之薄膜接著面12的內緣一致,但較佳係與薄膜接著層82之內緣側起始端一致。此係由於在圖10(c)所示之薄膜接著層82,若形成到比薄膜接著面92的傾斜面92a之內緣側起始端更為內緣側的情況下,雖也要視接著層的形狀而定,但有時會導致防護薄膜發生拉皺的情形。
但是,在圖4及圖5所示之防護薄膜框架11,雖然幾乎不可能有薄膜接著層82形成到比薄膜接著面92的傾斜面92a之內緣側起始端更為內緣側的情形;但特別是在如圖6(b)所示之防護薄膜框架11,可設想會有在內斜面62形成薄膜接著層82的情形。在此情況下,若薄膜接著層82形成到比傾斜面92a之內緣側起始端a更為內緣側,有時此內緣側之薄膜接著層82會再形成圖13(a)、(b)所示之曲面部112a,而變成導致防護薄膜81拉皺的原因。再者,即使是如圖6(a)所示之防護薄膜框架11,倘若薄膜接著層82形成到內緣之平面部61,同樣會有發生防護薄膜81拉皺之虞;不過只要平面部61不會太寬、夠窄的話,則即使薄膜接著層82形成到內緣側去,也不會保留防護薄膜81局部接著之空間,因此幾乎不會發生防護薄膜81的拉皺,所以倒不會造成問題。
所以,在圖6(a)、圖6(b)所示之防護薄膜框架11的形狀之情況下,較佳係不要在平面部61或內斜面62設置接著層;但只要是在平面部61或內斜面62的寬度夠窄、內斜面62之坡度夠小等等的情況下,就不在此限。
防護薄膜81可以使用如下製造之例如0.1~10μm左右之厚度者:可以用旋轉塗佈法、狹縫塗佈法等等公知方法,而將纖維素樹脂、氟素樹脂等等的薄膜材料溶液塗佈在平滑基板上,再使其乾燥固化而製造。
就光罩黏著層83之材質而言,可以使用丙烯酸樹脂、聚丁烯樹脂、SEBS(苯乙烯-乙烯/丁烯-苯乙烯嵌段共聚物)、矽氧樹脂等等公知之物;並與薄膜接著層82同樣地,宜視需要以適當之溶劑稀釋,再使用空壓式點膠機等而塗佈在光罩黏著面13上。光罩黏著層83之形狀,除了如圖9所示般,僅設置在光罩黏著面13之局部區域,亦可設置成複數列、或形成於整面。再者,其剖面形狀,可以為
凸形;亦可為了調整光罩黏著層83之高度、及提升平坦度,而對平面施行擠壓(squeezing)加工。
然後,如上述般構成之防護薄膜組件,會如圖9所示,在薄膜接著層82之內緣側幾乎沒有形成「因為表面張力所形成之凸起形狀的曲面」、或是儘管形成了曲面也是可以忽視其影響之程度,因此防護薄膜81直到薄膜接著層82之內緣為止,都毫無隙縫地完全接著,不會有防護薄膜81被薄膜接著層82拉扯而導致拉皺的情形。其結果,能極為提升在防護薄膜框架11之內緣附近的防護薄膜81之外觀。
<實施例1>
以下列出實施例,而更為具體地說明本發明。
圖8、圖9繪示:使用圖1、圖2、圖3及圖4所示之防護薄膜框架,所製成之防護薄膜組件的立體圖及剖面圖。
防護薄膜框架11,係用5000系鋁合金,以機械加工製成,並施行了黑色陽極氧化鋁處理。此時,防護薄膜框架11之尺寸為:外尺寸為756×937.5mm,內尺寸為740×925.5mm,高度為5.8mm。於要設置防護薄膜之面(薄膜接著面)12,係在整圈皆設有從內緣側朝向外緣側降低之傾斜面12a,而從傾斜面12a之外緣側終端b到要設置防護薄膜之面的外緣為止,皆形成為平坦面12b。
傾斜面12a為:寬度w=1mm,高度h=0.1mm;傾斜角α為約84.3°;平坦面的寬度,長邊為7mm、短邊為5mm。又,傾斜面12a之內緣側起始端a,係與薄膜接著面之內緣一致。將此防護薄膜框架11搬入10級的無塵室,並以界面活性劑與純水洗淨,再使其完全乾燥。圖16(a)~(d)分別說明依照實施例1之尺寸比例所繪製之防護薄膜框架的俯視圖、前視圖、側視圖、以及仰視圖。圖17係圖16(a)之D處的放大圖。圖18係圖17中之E-E剖面圖。
對於此防護薄膜框架11,係在光罩黏著面13上,以空壓式點膠機塗佈以甲苯稀釋過的矽氧樹脂黏著劑(信越化學工業(股)製),以形成光罩黏著層83。再者,在薄膜接著面12上,以空壓式點膠機塗佈作為防護薄膜接著劑的矽氧樹脂黏著劑(信越化學工業(株)製),而使其厚度成為約80μm,以形成薄膜接著層82。然後,加熱到120℃以上,以完全去除溶劑,同時使矽氧樹脂黏著劑熱固化。
薄膜接著層82,變成如圖9及圖10(c)所示般的剖面形狀,而傾斜面12a之內緣側起始端a上的薄膜接著層82之厚度,變得小於傾斜面之外緣側終端b上的薄膜接著層82之厚度。此時,薄膜接著層82中之與防護薄膜接觸之面(薄膜接著面)92,具有從內緣側朝向外緣側降低的傾斜面92a。再者,薄膜接著面92的傾斜面92a之內緣側起始端,係與薄膜接著層82之內緣側起始端一致。
之後,在光罩黏著層83之表面,為了進行表面保護,而安裝隔離片88,其係在厚度為0.125mm之PET薄膜上塗佈離型劑而成,並以大致相同於防護薄膜框架11之外形的形狀進行過局部切除加工。更進一步地,於設在防護薄膜框架11側面之透氣孔84的外側,係透過丙烯酸黏著層(未圖示)而安裝有PTFE多孔質膜所構成之防塵濾片87。
最後,將厚度約為2.2μm的防護薄膜81,透過薄膜接著層82而黏貼上去,防護薄膜組件80就完成了;該防護薄膜81係以狹縫塗佈法將含氟聚合物(旭硝子(股)製)成膜在研磨平滑之石英玻璃基板上,再經乾燥、剝離而製得。
完成之防護薄膜組件80於觀察下,薄膜接著層82就如圖9所示,形成為完全包覆住薄膜接著面12,同時越朝向防護薄膜框架11的傾斜面12a之內緣側起始端a,其厚度就越薄,在內緣側起始端a附近則是極薄,成為邊緣陡峭的剖面形狀。
然後,針對此防護薄膜組件80,而觀察防護薄膜81之防護薄膜框架附近處,發現在防護薄膜框架11之內緣整圈,在薄膜接著層82都幾乎觀察不到防護薄膜81之未接著區域。再者,設想輸送中的震動,而嚐試以送風來使防護薄膜81震動,但在防護薄膜81觀察不到局部細紋、拉皺,保有良好的外觀。
<比較例1>
作為比較例1,使用與前述實施例1相同尺寸、僅剖面形狀不同的防護薄膜框架111,製作圖11所示之防護薄膜組件110。除了所使用之防護薄膜框架111以外,使製程、條件皆與實施例1相同。此時所使用之防護薄膜框架111的剖面形狀,係如圖14所示,沒有像前述實施例1般的防護薄膜框架11之內緣附近的突起,而是矩形剖面。
在所完成之防護薄膜組件110的防護薄膜119,於防護薄膜框架111之內緣附近處,隨處皆如圖12之擴大圖所示般發生了微小的薄膜之拉皺120。再者,防護
薄膜組件110的剖面,有發生薄膜之拉皺120的部位,就如圖13(a)所示;另一方面,未發生拉皺120的部位,就如圖13(b)所示。
再者,防護薄膜接著層112雖然形成為幾乎均勻之厚度,但由於接著層之表面張力的作用,而在內緣附近產生了凸形的曲面部112a。然後,推斷是在防護薄膜119之較為鬆弛的區域、或隨著步驟間之搬送而使得防護薄膜119搖晃之際,防護薄膜119就會接觸、接著至曲面部112a,而導致拉皺120之發生。然後,由於這會導致外觀惡化,所以並不理想。
11:防護薄膜框架
12:薄膜接著面
12a:傾斜面
12b:平坦面
13:光罩黏著面
80:防護薄膜組件
81:防護薄膜
82:薄膜接著層
83:光罩黏著層
88:隔離片
a:傾斜面之內緣側起始端
b:傾斜面之外緣側終端
Claims (11)
- 一種防護薄膜組件,藉由設於防護薄膜框架的單側邊緣面的接著層,而接著防護薄膜;在較該防護薄膜與該接著層的實際接著部分更靠近該接著層的內緣側,未具有該接著層之凸形曲面部。
- 一種防護薄膜組件,藉由設於防護薄膜框架的單側邊緣面的接著層,而接著防護薄膜;在該接著層的內緣部,該防護薄膜與該接著層係無隙縫地接著。
- 一種防護薄膜組件,藉由設於防護薄膜框架的單側邊緣面的接著層,而接著防護薄膜;在該接著層的內緣部,該防護薄膜與該接著層係無會引起拉皺的隙縫地接著。
- 如申請專利範圍第1或2項之防護薄膜組件,其中,該防護薄膜與該接著層係無會引起拉皺的隙縫地接著。
- 如申請專利範圍第1至3項中任一項之防護薄膜組件,其中,該接著層具有從內緣側朝向外緣側降低的傾斜面。
- 如申請專利範圍第5項之防護薄膜組件,其中,該傾斜面之內緣側起始端處的該接著層之厚度,小於該傾斜面之外緣側終端處的該接著層之厚度。
- 一種貼附有防護薄膜組件之光罩,將如申請專利範圍第1至3項中任一項之防護薄膜組件安裝於光罩而成。
- 一種曝光方法,使用如申請專利範圍第1至3項中任一項之防護薄膜組件進行曝光。
- 一種半導體之製造方法,包括使用如申請專利範圍第1至3項中任一項之防護薄膜組件進行曝光之步驟。
- 一種顯示器之製造方法,包括使用如申請專利範圍第1至3項中任一項之防護薄膜組件以進行曝光之步驟。
- 如申請專利範圍第10項之顯示器之製造方法,其中,該顯示器係液晶顯示器或有機EL顯示器。
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Families Citing this family (6)
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---|---|---|---|---|
WO2020196870A1 (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-01 | 日鉄ステンレス株式会社 | クリア塗装ステンレス鋼板 |
US11454881B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-09-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Pellicle design for mask application |
KR20240017447A (ko) | 2022-08-01 | 2024-02-08 | 주식회사 참그래핀 | 극자외선 노광공정의 포토마스크 보호용 펠리클 및 그 제조방법 |
KR20240017642A (ko) | 2022-08-01 | 2024-02-08 | 주식회사 참그래핀 | 극자외선 노광공정의 포토마스크 보호용 펠리클 및 그 제조방법 |
KR20240135942A (ko) | 2023-03-06 | 2024-09-13 | 주식회사 참그래핀 | 극자외선 노광공정의 포토마스크 보호용 펠리클의 제조방법 |
KR20240135940A (ko) | 2023-03-06 | 2024-09-13 | 주식회사 참그래핀 | 극자외선 노광공정의 포토마스크 보호용 펠리클의 제조방법 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005308901A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルフレーム及びそれを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル |
JP2005338722A (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルフレーム及びフォトリソグラフィー用ペリクル |
CN202110373U (zh) * | 2010-05-10 | 2012-01-11 | 旭化成电子材料株式会社 | 表膜收纳容器 |
US8349525B2 (en) * | 2009-06-18 | 2013-01-08 | Nikon Corporation | Protective apparatus, mask, mask fabricating method and conveying apparatus, and exposure apparatus |
CN103359356A (zh) * | 2012-03-29 | 2013-10-23 | 信越化学工业株式会社 | 防尘薄膜组件收纳容器 |
CN103645602A (zh) * | 2009-01-27 | 2014-03-19 | 信越化学工业株式会社 | 光刻用防护薄膜组件 |
TWI497197B (zh) * | 2008-09-12 | 2015-08-21 | Asahi Kasei E Materials Corp | Mask mask film, mask mask and mask mask the use of the box |
TWI513590B (zh) * | 2010-03-29 | 2015-12-21 | Shinetsu Chemical Co | 防塵薄膜組件及其安裝方法、設有防塵薄膜組件之光罩與光罩 |
TWI547773B (zh) * | 2013-10-22 | 2016-09-01 | 信越化學工業股份有限公司 | 防塵薄膜組件 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09319069A (ja) * | 1996-05-29 | 1997-12-12 | Nikon Corp | ペリクル光学素子 |
JP4380910B2 (ja) * | 2000-12-14 | 2009-12-09 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル |
JP4921184B2 (ja) | 2007-01-19 | 2012-04-25 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレームへの膜接着剤の塗布方法 |
JP5152870B2 (ja) * | 2009-12-07 | 2013-02-27 | 信越化学工業株式会社 | リソグラフィ用ペリクル及びその製造方法 |
JP5854511B2 (ja) * | 2012-10-16 | 2016-02-09 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルおよびペリクルの貼付け方法 |
JP6150300B2 (ja) * | 2014-04-04 | 2017-06-21 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルの貼り付け部確認方法 |
-
2017
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-
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005308901A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルフレーム及びそれを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル |
JP2005338722A (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルフレーム及びフォトリソグラフィー用ペリクル |
TWI497197B (zh) * | 2008-09-12 | 2015-08-21 | Asahi Kasei E Materials Corp | Mask mask film, mask mask and mask mask the use of the box |
CN103645602A (zh) * | 2009-01-27 | 2014-03-19 | 信越化学工业株式会社 | 光刻用防护薄膜组件 |
US8349525B2 (en) * | 2009-06-18 | 2013-01-08 | Nikon Corporation | Protective apparatus, mask, mask fabricating method and conveying apparatus, and exposure apparatus |
TWI513590B (zh) * | 2010-03-29 | 2015-12-21 | Shinetsu Chemical Co | 防塵薄膜組件及其安裝方法、設有防塵薄膜組件之光罩與光罩 |
CN202110373U (zh) * | 2010-05-10 | 2012-01-11 | 旭化成电子材料株式会社 | 表膜收纳容器 |
CN103359356A (zh) * | 2012-03-29 | 2013-10-23 | 信越化学工业株式会社 | 防尘薄膜组件收纳容器 |
TWI547773B (zh) * | 2013-10-22 | 2016-09-01 | 信越化學工業股份有限公司 | 防塵薄膜組件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102635619B1 (ko) | 2024-02-08 |
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