TWI721797B - 結合兩基材之裝置與方法 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 282
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 41
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 claims description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 126
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 26
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 14
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 14
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 13
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 13
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 5
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 4
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 3
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000001603 reducing effect Effects 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 3
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 3
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 3
- 230000010148 water-pollination Effects 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 2
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 1
- 235000013870 dimethyl polysiloxane Nutrition 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- CXQXSVUQTKDNFP-UHFFFAOYSA-N octamethyltrisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C CXQXSVUQTKDNFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000000678 plasma activation Methods 0.000 description 1
- 238000004987 plasma desorption mass spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- -1 polysiloxanes Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/185—Joining of semiconductor bodies for junction formation
- H01L21/187—Joining of semiconductor bodies for junction formation by direct bonding
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/20—Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy
- H01L21/2003—Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy characterised by the substrate
- H01L21/2007—Bonding of semiconductor wafers to insulating substrates or to semiconducting substrates using an intermediate insulating layer
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68735—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by edge profile or support profile
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
Abstract
本發明提出一種用於結合兩個基材之裝置、系統及方法。第一基材固持器具有凹部及隆起。
Description
在先前技術中,多年來已藉由所謂結合程序而將基材彼此結合。特定言之,在室溫下兩個表面之直接結合(其中首先形成所謂預結合,接著是隨後的熱處理步驟)對半導體產業而言係非常受關注的。
此結合方法被稱作直接或熔合結合。藉助於熔合結合,吾人能夠在將兩個基材相對於彼此對準之對準程序之後即刻將基材表面彼此固定。在此情況中,吾人以標定方式利用表面之黏著能力,特定言之親水性。首先使基材更接近彼此,直至彼此間隔非常小距離。接著,特定言之彎曲上基材,使得兩個基材理想地以點狀方式彼此觸碰。不久之後,釋放特定言之上基材之固定。憑藉重力及/或標定控制,結合波自接觸點傳播,其產生兩基材之整個區域之接觸及因此整個區域之預結合。在結合波之傳播程序期間,結合波上游之所有氣體被壓縮並被推至結合波前方。結合介面保持(至少對於大部分而言)無氣包體。
在產生預結合期間經常發生之現象係所謂之邊緣缺陷,尤其是邊緣孔洞。此等邊緣孔洞係在氣體歸因於經改變的物理狀態而液化的情況下產生之氣包體。接著,結合波傳播超過經液化氣體並將其局部圍封。在已產生預結合之後,物理狀態重新改變,其導致先前經冷凝氣體之蒸發。接
著,此蒸發導致預結合之局部破壞,其可憑藉超音波量測或紅外線量測而清楚偵測。Castex等人之Mechanism of Edge Bonding Void Formation in Hydrophilie Direct,ECS Solid State Letters,2(6)第47至50頁(2013年)詳細描述氣體之冷凝如何在結合波之上游發生。
基材表面絕非完全純的。不同原子及分子經吸收於基材表面上,即使僅在單一單分子層中。因為所有大氣含有並非微不足道的小比例之水蒸氣,所以水係基材表面污染之主導組分之一者。此外,有機物質,甚至粒子或原子或分子氣體(諸如氧氣、氮氣或氦氣)可附著於基材表面。在此發表的文獻中,主要地展示裝置及方法,以便自基材表面移除氣體(特定言之水)或防止其冷凝。假定基材表面無有機組分,尤其無粒子。
氣體(然而尤其亦是氣體混合物)具有取決於壓力及溫度之焦耳-湯普森(Joule-Thompson)係數(JTC)。JTC判定氣體或氣體混合物是否在等焓膨脹的情況下經歷冷卻或加熱。
等焓膨脹被理解為意謂氣體或氣體混合物自第一經壓縮狀態轉變至第二較少壓縮狀態,其中保持氣體之焓。具有正JTC之氣體或氣體混合物具有在等焓膨脹期間冷卻之性質。具有負JTC之氣體或氣體混合物具有在等焓膨脹期間加熱之性質。基礎物理效應係分子之吸引或排斥能力。若分子在預定溫度下彼此吸引,則必須作功(即必須使用能量將其等彼此分離)。自系統移除此功,因此減小分子之速度且因此減小溫度。若分子在預定溫度下排斥,則藉由系統而執行功(即釋放能量)。因此,此經釋放能量增加分子之速度並因此增加溫度。
經發表文獻Castexet等人之Mechanism of Edge Bonding Void Formation in Hydrophilie Direct,ECS Solid State Letters,2(6)第47 至50頁(2013年)非常精確描述哪個物理程序在基材邊緣附近發生。以經簡化方式,應提及氣體或氣體混合物在基材擦拭空間之出口處經歷非常高壓力降。歸因於程序在幾分之一秒內發生之事實,能量無法足夠快地消散且程序可被視為等焓的。因此,氣體或氣體混合物之JTC決定在等焓膨脹期間是否發生氣體或氣體混合物之冷卻或加熱。氣體或氣體混合物之冷卻可如此強使得氣體或氣體混合物之露點低於額定值且氣體或氣體混合物或氣體混合物之個別組分冷凝。基材表面充當結晶核。因此,其係異質成核,其具有比氣相中之同質成核甚至更低之成核能量。必須避免此冷凝物理程序。
因此,本發明之目的係克服先前技術之缺點,且特定言之係達成經改良結合結果。
運用協調專利案技術方案之標的物實現此目的。在附屬技術方案中指定本發明之有利發展。描述、技術方案及/或圖式中指定之至少兩個特徵之全部組合亦落於本發明之範疇內。就值範圍而言,位於所提及之極限內之值亦應被揭示為限值且係可以任何所期望組合主張。
本發明之核心思想係基材表面或若干基材表面經加寬,使得在結合程序期間自中心向外置換之氣體尚未在基材之間之邊緣處膨脹,實情係氣體之膨脹僅在兩個基材之外部發生。換言之:仍用增大壓力將氣體壓出基材之間之中間空間,且壓力降或膨脹僅在已到達周圍隆起或膨脹表面或氣體已流動超出或被推動超出隆起或膨脹表面時發生。
基材可具有任何所要形狀,但較佳係圓形的。基材之尺寸特定言之經工業標準化。對於晶圓,產業標準直徑係1英寸、2英寸、3英寸、4英
寸、5英寸、6英寸、8英寸、12英寸及18英寸。然而,根據本發明之實施例可基本上獨立於其直徑而處置任何基材。
根據本發明,用於將第一基材之第一基材表面結合至第二基材之第二基材表面之裝置具有:-第一基材固持器,其用於容納該第一基材,-第二基材固持器,其用於容納該第二基材,其中至少該第一基材固持器具有:第一凹部,其具有用於將該第一基材固定於該第一凹部中之固定裝置;以及隆起,其至少部分環繞該凹部。
1,1u,1o:第一/外部組件
1o':外部組件
1u':第一外部組件
2,2u,2o:基材
2s,2us,2os:基材表面
3:固定元件
4:變形元件
5u,5o:第二/內部組件
6u,6u',6o,6o':基材固持器
7o,7u:凹部
8o,8u,8u',8,8',8",8''',8IV,8V:隆起
8oi,8ui:內壁
8os,8us,8s,8s',8s",8s''',8sIV:表面
9,9u,9o:周邊/邊緣
10,10':裝置
11,11':孔
12:開口
13:結合波
14:外部區域
15,15',15",15''':壓力曲線/壓力量變曲線
16:溫度曲線
17:陰影區域
18,18',18",18''',18IV:缺陷類型
19,19':表面擴大構件
21:刻度
22:噴嘴
a:角度
d:延伸表面間距
g:基材表面間距/間隙
g':基材表面間距
ho,hu:水平距離
P:壓力(值)
p0:壓力
R:曲率半徑或斜面半徑
tu,to:高度
vo,vo',vu,vu':垂直距離
wu,wo:長度
圖1展示根據本發明之第一裝置,圖2a展示在第一程序步驟中之根據本發明之第二裝置,圖2b展示在第二程序步驟中之根據本發明之第二裝置,圖2c展示在第三程序步驟中之根據本發明之第二裝置,圖2d展示在第四程序步驟中之根據本發明之第二裝置,圖2e展示在第五程序步驟中之根據本發明之第二裝置,以及壓力-溫度圖,圖3a係一般反轉圖,圖3b展示氮氣、氫氣及氦氣之反轉圖,圖4a係具有第一類型缺陷之基材周邊之示意圖,其未按比例繪製;圖4b係具有第二缺陷類型之基材周邊之示意圖,其未按比例繪製;圖4c係具有第三缺陷類型之基材周邊之示意圖,其未按比例繪製;圖4d係具有第四類型缺陷之基材周邊之示意圖,其未按比例繪製;
圖4e係具有第五缺陷類型之基材周邊之示意圖,其未按比例繪製;圖5a係用於膨脹表面之替代實施例之示意圖,其未按比例繪製,圖5b係用於膨脹表面之進一步替代實施例之示意圖,其未按比例繪製,圖5c係用於膨脹表面之進一步替代實施例之示意圖,其未按比例繪製,圖5d係用於膨脹表面之進一步替代實施例之示意圖,其未按比例繪製,圖6a係進一步基材固持器之右部分之示意性放大圖,其未按比例繪製,圖6b係進一步基材固持器之右部分之示意性放大圖,其未按比例繪製,圖6c係進一步基材固持器之右部分之示意性放大圖,其未按比例繪製,圖6d係進一步基材固持器之右部分之示意性放大圖,其未按比例繪製,圖6e係進一步基材固持器之右部分之示意性放大圖,其未按比例繪製,圖7係進一步實施例之示意圖,其未按比例繪製,及圖8係進一步實施例之示意圖,其未按比例繪製。
根據本發明,此外提供一種系統,其係由根據本發明之裝置及第一基材組成,其中該第一基材表面合併成隆起。
此外根據本發明提供一種用於憑藉根據本發明之裝置將第一基材之第一基材表面結合至第二基材之第二基材表面之方法,其中在結合程序期間配置於該等基材表面之間之氣體自該等基材之中心置換至邊緣,其中該第一基材表面合併成該隆起,使得該氣體之膨脹僅在該等基材之外部發生及/或在該結合程序結束時之該基材邊緣處之壓力p與環境壓力p0之差p-p0係大於零的。
有利的是,可防止基材之間及結合波之上游向前驅動之氣體或氣體混合物之冷凝,使得其不導致凝相的形成且因此不形成邊緣孔洞。加寬基材之基材表面,使得負責產生邊緣孔洞之物理效應有利地在基材表面之外部發生。
因此,本發明之優點在於減少(特定言之全面防止)熔合結合基材中之邊緣孔洞。
所提及之根據本發明之所有實施例及程序可視需要彼此組合但個別地描述。
較佳地提供,第一基材固持器及第二基材固持器兩者具有凹部,該凹部具有固定裝置。較佳地,兩個基材固持器具有至少部分環繞該凹部之隆起。
較佳地,該隆起或該等隆起至少稍微環形地圍繞該凹部延伸。該隆起可特定言之環形地圍繞該凹部而形成。
為該第一基材固持器或基材固持器作出以下陳述。然而,態樣或實施例同樣適用於其中兩個基材固持器具備凹部及隆起的根據本發明之裝置。
此外較佳地提供,該隆起具有用於(特定言之)該第一基材表面之無縫
膨脹之膨脹表面。因此,氣體自該基材表面至該膨脹表面之尤其有效轉移係有利地可能的。
此外較佳地提供,該凹部及/或隆起適於該第一基材,特定言之適於該第一基材之形狀,使得該基材表面與該膨脹表面形成實質上連續表面及/或合併成該隆起。因此,該凹部及/或該隆起尤其良好地適於該基材表面係有利地可能的,使得該氣體可尤其有效地向前。
此外較佳地提供,可手動及/或半自動及/或自動調適該凹部及/或該隆起,使得該基材表面與該膨脹表面形成實質上連續表面及/或合併成該隆起。因此,使該凹部及/或該隆起可變地適於該基材表面係有利地可能的。憑藉此可調整性,可使用該裝置處理不同基材。因此,可避免該裝置之交換。
此外較佳地提供,該第一基材固持器具有外部組件及可在該外部組件中移動之內部組件,其中該外部組件及/或內部組件可以平移及/或可旋轉方式移動,其中該等組件可彼此固定。歸因於可移動性,可顯著簡化用該基材裝載裝置係有利地可能的。此外,可以可變方式設定該等基材之間或該等基材表面與該等隆起或膨脹表面之間之距離。
此外較佳地提供,可調整該第一基材表面與該膨脹表面之間之垂直距離。因此,可最佳設定垂直距離,使得氣體自該基材表面尤其有效轉移至該膨脹表面係有利地可能的。
此外,較佳地提供一種裝置,其具有用於排空及/或沖洗該凹部之至少一個孔,其中較佳地複數個孔較佳地以對稱分佈方式配置,特定言之配置於該內部組件中。
歸因於排空及/或沖洗該凹部之可能性,影響經置換氣體,使得可改
良自該基材表面至該隆起或該膨脹表面的轉移係有利地可能的。此外,該等孔可用於在該等凹部周圍或附近(特定言之在該等基材周邊與該膨脹表面之間之轉移區域中)累積超壓。此額外產生之超壓防止氣體或氣體混合物之壓力降或膨脹在此區域中發生。此範圍中之壓力係(特定言之)大於1巴,較佳大於2巴,更佳大於4巴,最佳大於6巴,極佳大於10巴。
此外較佳地提供,該隆起具有向內及/或向外彎曲的膨脹表面。歸因於曲率向內及/或向外,可進一步影響經置換氣體。在體積向外減小或膨脹表面向外彎曲之情況下,在熱力學上達成節流閥之效應。換言之:運用膨脹表面之幾何形狀,可影響經置換氣體,使得其可經壓縮或膨脹。
此外較佳地提供,該隆起具有依一角度向內及/或向外傾斜之膨脹表面。原則上,此處類似情況適用於彎曲的延伸表面。藉由界定相對於水平之特定傾斜角a,可達成氣體之最佳影響。
裝置及基材固持器
進一步陳述中所提及之基材固持器各形成根據本發明之裝置。
該固定裝置包括,特定言之
‧機械固定件,尤其是
O夾
‧真空固定件,特定言之具有
O可個別控制的真空管道
O彼此連接之真空管道
‧電子固定件,尤其是
O靜電固定件
‧磁性固定件
‧黏著性固定件,尤其是
‧Gel-Pak固定件
‧具有黏著,特定言之可控制基材表面之固定件。
固定件係(特定言之)可電子控制的。真空固定件係較佳類型的固定件。真空固定件較佳地由自基材固持器之基材表面出現之複數個真空管道構成。可較佳地個別地控制真空管道。在從技術角度看更可實現之使用中,一些真空管道經組合成可個別地控制,因此被排空或被充滿之真空管道區段。然而,各真空區段獨立於其他真空區段。因此,吾人被賦予建立可個別控制真空區段的選項。真空區段較佳係環形構造。因此,實現基材自樣本固持器之標定、徑向對稱之固定及/或卸離,其特定言自內向外執行。特定言之,參考來自公開案PCT/EP2016056249之真空區之可能性。此外,揭示銷夾頭之使用。已經在WO2015113641 A1中詳細描述此類型之基材固持器。此基材固持器之使用係有利的以便實現基材與基材固持器之間之最小可能接觸表面,使得基材後側之污染減少至最小值或使得完全無污染發生。
一般而言,針對根據本發明之各裝置存在兩個基材固持器。兩個基材固持器通常不完全相同,此係由於基材固持器之至少一者具有一或多個變形元件以便能夠使該等基材之一者變形。因此,更詳細描述各基材固持器。
在根據本發明之第一實施例中,技術問題之解決方案在於憑藉膨脹表面而(特定言之無縫地)加寬基材表面,使得壓力降不在基材邊緣之附近發生。根據本發明,因此,揭示了一種基材固持器,其(特定言之)具有適於該基材之凹部。該基材經固定於該凹部中且具有該膨脹表面之該基材表
面形成差不多連續的新加寬表面。
第一(特定言之下)基材固持器具有特定言之適於基材之形狀的凹部。第一基材之外基材周邊具有相距第一組件之隆起之內壁的水平距離hu。該第一基材之基材表面具有相距該第一組件之膨脹表面的垂直距離vu。
該等固定件固定該基材。
第二(特定言之上)基材固持器具有特定言之適於基材之形狀之凹部。第二基材之外基材周邊具有相距上組件之內壁的水平距離ho。該第二基材之基材表面具有相距該上組件之表面的垂直距離vo。該等固定件固定該基材。此外,較佳地安裝變形構件,使用該變形構件吾人可使該第二基材變形。
在根據本發明之第二實施例中,技術問題之解決方案同樣在於憑藉膨脹表面而(特定言之無縫地)加寬基材表面,使得壓力降不在基材邊緣之附近發生。然而,根據本發明,揭示一種(特定言之)具有可適於該基材之凹部的基材固持器。
第一(特定言之下)基材固持器由至少兩個組件構成。第一組件具有可特定言之適於基材之形狀的凹部。第一基材之外基材周邊具有相距下組件之內壁的水平距離hu。該第一基材之基材表面具有相距該第一組件之表面的垂直距離vu。該等固定件固定該基材。
第二(特定言之上)基材固持器具有凹部,該凹部可特定言之適於基材之形狀。第二基材之外基材周邊具有相距上組件之內壁的水平距離ho。第二基材之基材表面具有相距第二組件之初始表面的垂直距離vo。該等固定件固定該基材。此外,較佳地安裝變形構件,使用該變形構件吾人可使第二基材變形。
該凹部可特定言之,手動及/或半自動及/或全自動變動。特定言之,第一基材固持器由第一外部組件及可在外部組件中移動之第二內部組件構成。該兩個組件可相對於彼此而平移地移動,特定言之亦可旋轉地移動。特定言之,該兩個組件亦可彼此固定。歸因於該兩個組件之相對可移位性之可能性,可儘可能精確地設定該第一基材及/或第二基材之高度位置,特定言之亦可旋轉位置。歸因於藉由至少兩個組件開發根據本發明之基材固持器,可動態地調適垂直距離vu及vo以便達成最佳結合結果。
一般定義
第一基材固持器可同樣具有變形構件或可經構造使得可執行第一基材之預彎曲。此等預彎曲可正面影響經提供熔合結合。此變形構件之詳細描述可在WO2014191033A1中找到。
所提及之所有距離hu、ho、vu、vo係小於5mm,較佳小於1mm,更佳小於0.5mm,最佳小於100μm,絕對最佳小於10μm。距離hu及ho尤其較佳係相同的。距離vu及vo尤其較佳係相同的。距離hu、ho、vu、vo尤其較佳係相同的。
如此精確地構造距離hu、ho、vu、vo使得氣體或氣體混合物自基材之間之區域至外部的無縫轉移經由膨脹表面發生在技術上係極具挑戰性的或昂貴的。出於此原因,針對根據本發明之程序儘可能小地選擇距離hu、ho、vu、vo,且另外,在凹部中提供足夠高的超壓,使得氣體之冷凝決不在基材周邊之附近發生。
因此,基材周邊之附近之壓力必須至少等於或至少類似於尤其在結合波接近時來自基材之間之區域之氣體或氣體混合物壓力。兩個壓力之間之壓力差特定言之係2巴,較佳小於1巴,更佳小於0.1巴,最佳小於0.01
毫巴,極佳小於10E-3毫巴。
特定言之藉由經由基材固持器之一者之孔而導引之氣體或氣體混合物產生凹部中之額外超壓。特定言之,此係氣體或氣體混合物,其在等焓膨脹期間加熱,且因此具有負JTC,此係因為此氣體或氣體混合物確實與來自基材之間之區域之氣體或氣體混合物混合並經由膨脹表面而輸送至外部。
若在中途已經發生等焓膨脹,則經引入氣體或氣體混合物可藉由溫度增加而抵消其他氣體之冷凝。基材之間之區域中之溫度增加應特定言之如此高,使得溫度高於氣體或氣體混合物之冷凝溫度超過0.1℃,較佳超過0.5℃,更佳超過5℃,最佳超過10℃,極佳超過20℃。
根據本發明之所有基材固持器可具有孔,內部空間(特定言之凹部)之排空及/或沖洗可透過該等孔發生。特定言之,可設想對稱地配置於組件之一者中,特定言之第一組件中的複數個孔。孔之數目係1,較佳2,更佳大於5,最佳大於10,極佳大於25。使用複數個孔尤其重要,以便能夠執行內部之對稱排空及/或沖洗。
所有該等基材固持器(特定言之下基材固持器)仍可具有促成基材之裝載及卸載之裝載元件(特定言之裝載銷)。在圖式中,省略其圖解說明以便獲得簡明度。
所有實施例可在根據本發明之裝置之內部的排空之後發生。特定言之,將壓力減小至小於1巴,較佳小於0.1毫巴,更佳小於10-3毫巴,最佳小於10-5毫巴,最佳小於10-7毫巴。內部空間之排空伴隨可能導致後續預結合步驟之缺陷(特定言之根據本發明處理之冷凝)之複數個組份之移除。無論排空之持續時間及強度,少數組分,尤其是黏著性地結合至基材表面
之組份(特定言之水)將保留,其無法藉由簡單排空步驟而移除。
此外,排空及沖洗可執行數次以便改良大氣之品質。
此被理解為意味著,例如,使用具有(特定言之)在等焓膨脹之情況中導致加熱之JTC之氣體或氣體混合物(特定言之諸如氦氣之惰性氣體)置換空氣組分。接著,大氣被視為愈純,則此氣體或氣體混合物之比例愈高。大氣之品質係特定言之大於50%,較佳大於75%,更佳大於85%,最佳大於95%,極佳大於99%。特定言之,運用在以下擴展實施例之一者中使用之氣體之至少一者而執行程序。
在進一步實施例中,在結合之前及/或期間及/或之後使用氣體或氣體混合物沖洗內部(特定言之凹部),其確保自基材中間區域壓出(特定言之等焓膨脹)之氣體之溫度降如此小,較佳甚至被抑制以防止氣體或氣體混合物在基材表面上之冷凝。原則上,可使用適用於此目的之任何氣體(特定言之氦氣、氫氣及氖氣)。氦氣因其非常小的轉化曲線而被提及作為例示性實例。
在根據本發明之進一步實施例中,藉由加熱邊緣(特定言之膨脹表面)而達成等焓膨脹之溫度降。藉此,膨脹表面可經加熱至大於25℃,較佳大於50℃,更佳大於100℃,最佳大於150℃,最佳大於200℃之溫度。膨脹表面之加熱亦可與根據本發明而提及之所有其他態樣組合。
在根據本發明之進一步實施例中,下基材固持器及上基材固持器之兩個膨脹表面之間之間隙g之標定選擇確保藉由結合波之進程及用其置換之氣體或氣體混合物而增大兩個基材固持器之內部中(特定言之凹部之區域中)之超壓。為此,內部必須在此時閉合。特定言之,孔必須閉合。在尤其較佳實施例中,孔完全閉合或甚至未經構造以便使內部之體積保持儘
可能小。
為了抵消冷凝,必須增加氣體混合物(冷凝氣體特定言之定位於其中)中之溫度。根據氦氣之反轉圖,氦氣具有具正JTC之非常小區域及具負JTC之極大區域。因此,氦氣總是具有負JTC,尤其在適度條件下,即在約298度克氏溫度下及1至10巴之壓力範圍中,其係針對等焓膨脹之前之冷凝氣體而假設。因此,氦氣當在上文所提及之條件下等焓膨脹時,將加熱且因此抵消冷凝氣體之冷凝。針對本計劃之另一極佳氣體將為氫氣。氫氣之反轉曲線同樣低於約298度克氏溫度且因此同樣適合於根據本發明用作具有等焓膨脹之增溫氣體。此外,氫氣與惰性氦氣相反地具有還原性。為了在298度克氏溫度下運用氮氣達成根據本發明之相同效應,氣體混合物將必須增加至超過400巴之壓力,其在技術上將難以實現。
在進一步實施例中,在根據本發明之實施例中,在結合程序之前對基材進行熱處理。在加熱板上及/或在爐(特定言之在連續加熱爐)中執行熱處理。熱處理特定言之具有憑藉能量輸入而移除基材表面上之氣體及/或化學殘留物之功能。較佳地,在真空環境中執行熱處理以便很大程度上防止氣體的重新黏著。在根據本發明之尤其較佳實施例中,由熱介質(特定言之流體)溢出基材。熱流體溢出基材表面具有以下優點:分子不僅歸因於熱移動而自基材表面再吸收,而且亦被流體流挾帶且因此自基材表面移除。
在進一步實施例中,對基材進行電漿處理。首先,電漿處理具有終止基材表面之優點。終止指代具有特定性質之分子標定附著在基材表面上。應特定言使基材表面疏水,即損失其親水性。藉由減小親水性,若未防止,則將使氣體(特定言之極性氣體,最佳水蒸氣)之黏著更困難。
在尤其較佳實施例中,執行電漿處理,使得僅減小而未完全損失親水性。此導致較少水黏附至表面。
在進一步實施例中,基材表面經改性,使得結合波擴散更緩慢。歸因於結合波之更緩慢傳播,氣體具有更多時間來膨脹,且可更明顯減少基材之間之壓力累積。有利地,結合波均勻分佈遍及基材邊緣之態樣亦可用於防止不規則扭曲在基材邊緣上累積。在公開案PCT/EP2016053268中明確提及影響結合波速度之方法。
在進一步實施例中,特定言之在電漿處理之後,以濕式化學方式清潔基材表面。濕式清潔之任務主要具有終止電漿活化基材表面之任務。透過此程序,亦可以標定方式調整經吸附水之親水性以因此量。
在根據本發明之裝置之進一步實施例中,使用表面擴大構件替代基材固持器。表面擴大構件之目標係提供一種輔助裝置,用於最小化邊緣缺陷之方法可結合該輔助裝置用於習知熔合結合裝置中。不同表面擴大構件較佳圍繞外邊緣圍封兩個基材之一者並使基材表面延伸。
表面擴大構件之材料性質依基材之撓曲剛度以及彎曲行為調整,以至於熱及機械性質可被視為基材相同的。特定言之,重要的是,基材以表面擴大構件處之最小步驟終止,使得流動條件不發生突變。
可使用PDMS及其他聚矽氧、聚醯亞胺及足夠有彈性而以無邊緣方式環繞基材之其他彈性體作為表面擴大構件之材料。
在進一步實施例中,纖維增強材料可用於表面擴大構件。特定言之,表面擴大構件可嵌套至基材上之徑向強度及剪切強度可與材料彈性解耦合而作為彈性體之同心、線性延伸。
本發明之進一步優點、特徵及細節由較佳例示性實施例之以下描述
以及基於圖式而產生。在圖中:圖1展示未按真實比例繪製之根據本發明之示意性第一裝置10,其由第一、下基材固持器6u及第二、上基板固持器6o構成。兩個基材固持器6u、6o由至少一個第一組件1u、1o構成。用於固定基材2u、2o之固定元件3經定位於組件1u、1o上。在上組件1o中,較佳存在變形元件4可移動通過之開口12。
變形元件4用於使第二上基材2o變形。
根據本發明,組件1o、1u經設計,使得該等組件具有基材2u、2o定位於其中之凹部7o、7u。第一組件1u、1o之邊緣由隆起8u、8o構成。
隆起8u、8o具有內壁8ui、8oi。內壁8ui、8oi具有高度tu、to。基材2u、2o之內壁8ui、8oi與周邊9u、9o之間之水平距離係hu、ho。此外,隆起8u、8o具有根據本發明之延伸表面8us、8os,該延伸表面8us、8os具有長度wu、wo,其等加寬用於輸送氣體超過周邊9u、9o之基材表面2us、2os。
因此,根據本發明,等焓膨脹程序在根據本發明之裝置10之外部且非直接在基材1u、1o之外部發生。因此,問題經由膨脹表面8us、8os而向外偏移。
延伸表面8us、8os與基材2u、2o之基材表面2us、2os之間之垂直距離係vu、vo。在根據本發明之此實施例中,幾何形狀係固定的且無法改變。距離hu、ho、vu、vo被故意設定為足夠大以增加簡明度。在真實實施例中,距離應僅為數μm,特定言之高達最大1.0mm大。
圖2a展示在根據本發明之第一程序步驟中之未按比例繪製之示意性經改良第二發明裝置10',其由下側上之至少兩個組件1u'、5u及/或上側上
之兩個組件1u'、5o構成。亦可設想兩個基材固持器6u'、6o'之一者以與來自圖1之基材固持器6u、6o相同的方式構造。為了簡單起見,將僅描述下基材固持器6u'。
下基材固持器6u'具有第一外部組件1u',其中內部、第二組件5u可以平移及/或旋轉方式移動。兩個組件1u'及5u之相對位移用於將基材表面2us相對於膨脹表面8us定位。根據本發明,離開的氣體或離開的氣體混合物將經由膨脹表面8us從根據本發明之裝置10'傳導,使得等焓膨脹程序不直接在基材周邊9u、9o上發生且因此藉由溫度降而防止氣體(特定言之水蒸氣)之冷凝。然而,與根據本發明之第一裝置10相反,可精確地調整基材表面2us相對於膨脹表面8us之位置且因此可將流體流向外最佳化。類似考慮適用於上基材固持器6o'。
圖2b展示在根據本發明之第二程序步驟中之未按比例繪製之本發明示意性經改良第二實施例,其中使兩個基材固持器6u'、6o'更靠近彼此,使得產生延伸表面間距d。同時,存在基材表面間隙g。
圖2c展示在第三發明程序步驟中之根據本發明之未按比例繪製之示意性、未校正比例、經改良第二實施例,其中兩個第二組件5u、5o平移地移動,使得基材表面間距g減小至g'。將亦可設想,在圖2b中已經達成所期望之基材表面間距g,藉此設若可省去垂直距離vu、vo之最佳化,則第三發明程序步驟將係任選的。
圖2d展示在根據本發明之第四程序步驟中之根據本發明之未按比例繪製之示意性、經改良第二實施例,其中變形元件4使上基材2o變形且因此開始結合程序。上基材2o(特定言之藉由固定元件3的受控切斷)自上基材固持器6o'卸離。
從此時開始,形成整體上對稱的結合波13,其驅動其前方之壓縮氣體。
圖2e展示在根據本發明之第五程序步驟中之根據本發明之經改良實施例之橫向部分之示意性、放大比例圖以及壓力(或壓力差)溫度-位置圖。
在此程序步驟中,兩個基材2u、2o幾乎完全結合至彼此,惟根據本發明係相關之基材2u、2o之邊緣區域除外。藉由結合波13而置換之氣體可擴散遍及膨脹表面8us、8os,而不等焓膨脹至外部區域14中。
僅在外部區域14之附近發生等焓膨脹,其將導致在負JTC情況中氣體之冷卻及冷凝。藉由經由膨脹表面8us、8os使基材表面2us、2os膨脹,因此,等焓膨脹可按幾何級數延遲。
在圖中,在左手側橫座標上繪製壓力差p-p0。壓力p0係外部區域中之環境壓力。環境壓力p0幾乎對應於1巴。然而,通常,根據本發明之實施例本身可經安裝於可調整經增加環境壓力之壓力腔室中。一般而言,環境壓力p0小於10巴,較佳小於5巴,更佳小於3巴,最佳小於2巴,最佳1巴。
壓力p表示所指示位置處之壓力。壓力值p介於20巴與p0之間,較佳10巴與p0之間,更佳5巴與p0之間,最佳3巴與p0之間,最佳2巴與p0之間。
不同壓力曲線15、15'、15"、15'''表示四個不同地推進的結合步驟之壓力曲線。圖2e與第一壓力量變曲線15相關。(例如)在兩個基材表面2us、2os已經完全彼此結合之時間點產生壓力量變曲線15'''。儘管壓力曲線15、15'及部分壓力曲線15"仍然介於基材之間,但不存在等焓膨脹,而
僅存在氣體之壓縮。
等焓膨脹之區域有利地定位於陰影區域17中,即,在所有情況中定位於基材2u、2o之外部。在此區域中,經排出氣體可易於冷凝,此係因為其不再在基材表面2us、2os上。可見與所引用之印刷文獻Castex等人之Mechanism of Edge Bonding Void Formation in Hydrophilie Direct,ECS Solid State Letters,2(6)第47至50頁(2013年)之圖2相比,壓力曲線15'''定位於基材2u、2o之外部。
憑藉孔11,可執行根據本發明之實施例之內部空間之排空及/或沖洗,此進一步減小負面效應。因此,可設想使用改變兩個基材2u、2o之間之氣體混合物之JTC之氣體,使得等焓膨脹導致加熱而非冷卻。
在所有經展示圖式中,可設想隆起8u、8o之傾斜內壁8ui、8oi,其促成基材2u、2o之裝載。接著,凹部7u、7o將具有截頭圓錐之形式。
圖3a展示任意氣體或氣體混合物之反轉曲線之示意圖。可見具有正JTC之區域(灰色)及具有負JTC之區域(白色)。該圖係p-T圖。
因此,考慮中之氣體具有取決於存在之壓力及溫度之正或負JTC。若狀態參數壓力及溫度恰在反轉曲線上,則JTC將為零。針對理想氣體及氣體混合物,JTC總是為零。因此,僅考慮真實氣體或氣體混合物。為了產生氣體或氣體混合物之根據本發明之加熱,必須確保氣體或氣體混合物總是在具有負JTC之區域中。在標準正常條件下,僅存在具有負JTC之三種氣體,即氦氣、氫氣及氖氣。
圖3b展示氮氣、氫氣及氦氣之反轉曲線之示意圖。可見,在標準條件(約298,15K,1巴)下,氮氣具有正JTC,且因此將運用等焓膨脹來冷卻。因此,根據本發明之進一步態樣係在根據本發明之結合程序中採取根
據本發明之措施以便儘可能自大氣移除具有正JTC之氣體(特定言之大氣氮氣)且較佳地完全移除具有正JTC之氣體。另一方面,兩個氣體氫氣及氦氣具有遠低於298、15K之反轉曲線。
因此,氫氣及氦氣在等焓膨脹作用下在標準化條件下加熱,且因此抵消其他氣體(特定言之水蒸氣)之冷凝。
圖4a展示具有第一缺陷類型18之基材周邊9之示意圖,其未按真實比例繪製。第一缺陷類型18表示凹痕。
圖4b展示具有第二缺陷類型18'之基材周邊9之示意圖,其未按真實比例繪製。第二缺陷類型18'表示具有高表面粗糙度之基材表面2s。
圖4c展示具有經吸附氣體(特定言之水)定位於其上之基材表面2s之基材周邊9之示意圖,其未按比例繪製。此狀態實際上表示大多數表面之正常狀態。有關根據本發明之程序,此狀態仍經分類為第三缺陷類型18"。
因此,第三缺陷類型18"表示具有經吸收氣體(特定言之水)之基材表面2s。水(特定言之)僅以單分子層存在。
圖4d展示具有第四缺陷類型18'''之基材周邊9之示意圖,其未按真實比例繪製。第四缺陷類型18'''表示具有局部濃縮、冷凝氣體(特定言之水)之基材表面2s。
圖4e展示具有第五缺陷類型18IV之基材周邊9之示意圖,其未按真實比例繪製。第五缺陷類型18IV表示具有顆粒之基材表面2s。
圖5a展示具有彎曲延伸表面8s'之隆起8'之根據本發明之第一加寬,其向外增大體積。
圖5b展示具有彎曲延伸表面8s"之隆起8"之根據本發明之第二加寬,其向外減小體積。此元件在熱力學上充當節流閥。
圖5c展示具有彎曲延伸表面8s'''之隆起8'''之根據本發明之第三延伸,其線性地向外增大體積。
圖5d展示具有彎曲延伸表面8sIV之隆起8IV之根據本發明之第二放大,其向外線性減小體積。此元件在熱力學上充當節流閥。
圖6a展示經改良之基材固持器6u之右手側部分之示意性放大比例視圖,其中已經藉由引入圓形曲率半徑或斜面半徑R而省略構造特徵hu、vu之製作。此一轉變之製造就構造技術而言係容易得多且更有效的。
曲率半徑或斜面半徑R係(特定言之)等於基材周邊9之曲率半徑。熟習此項技術者知道根據SEMI標準之剖面中之基材周邊9未必描述半圓,而可經任意塑形。為了完整起見,因此,提到曲率半徑或斜面半徑R係參數,借助於該參數,作出最佳嘗試以使基材2u(特定言之其基材周邊9)適於下基材固持器6u。
對於上基材固持器6o,在必要及期望之情況下類似考慮適用。曲率半徑或斜面半徑R與基材周邊9之曲率之間之偏差係特定言之小於5%,較佳小於3%,更佳小於2%,最佳小於1%,極佳小於0.1%。
使用曲率半徑或斜面半徑R可與距離hu、ho、vu、vo的使用組合。
圖6b展示進一步經改良基材固持器6u之右手側部分之示意性放大圖,其中隆起8u'已經被設計為安裝於組件1u上之環。在此未更詳細解釋該安裝。8u'可與組件1u焊接、膠合、結合、螺紋鉚接等。
圖6c展示進一步經改良基材固持器6u之右手側部分之示意性放大圖,其中隆起8u'已經被設計為安裝於組件1u之刻度21中之環。在此未更詳細解釋該安裝。8u'可與組件1u焊接、膠合、結合、螺紋鉚接等。
經設計為圖6b及圖6c中之環之隆起8u'較佳亦係可互換的。因此,複
數個不同環可經構造及(若需要)經交換以相應地調整隆起8u'並針對程序而將其等最佳化。
圖6d展示進一步經改良基材固持器6u之右手側部分之示意性放大圖,其中噴嘴22提供來自外部之超壓。已經在PCT/EP2016053268中部分提及此等噴嘴系統。
圖6e展示進一步經改良之基材固持器6u之右手側部分之示意性放大圖,其中已經構造孔11',使得可在基材之方向上直接沖洗氣體或氣體混合物。
圖7展示表面擴大構件19之第一實施例之實施例,其未按比例繪製。在此情況中,憑藉表面擴大構件19之曲率半徑及斜面半徑R來圍封基材2。在待結合之基材表面2s與表面擴大構件19之膨脹表面8s之間,存在垂直間距vo,其較佳小於10微米,尤其較佳小於1微米。藉由膨脹表面8s而使基材表面2s膨脹。
圖8展示表面擴大構件19'之進一步實施例,其未按真實比例繪製。在此情況中,相較於圖7,僅較佳地運用低按壓力將基材2支撐於外部基材周邊9上。藉此,完全圍封基材2。斜面半徑R旨在(特定言之完美地)環繞外部基材周邊9。
在圖中,相同組件或具有相同功能之組件由相同元件符號標記。
1u,1o:第一/外部組件
2u,2o:基材
2us,2os:基材表面
3:固定元件
4:變形元件
6u,6o:基材固持器
7u,7o:凹部
8u,8o:隆起
8ui,8oi:內壁
8us,8os:表面
9u,9o:周邊/邊緣
10:裝置
11:孔
12:開口
wu,wo:長度
tu,to:高度
hu,ho:水平距離
vu,vo:垂直距離
Claims (13)
- 一種用於將第一基材(2o)之第一基材表面(2os)結合至第二基材(2u)之第二基材表面(2us)之裝置(10、10'),其具有: 第一基材固持器(6o、6o'),其用於容納該第一基材(2o), 第二基材固持器(6u、6u'),其用於容納該第二基材(2u), 其特徵在於: 至少該第一基材固持器(6o、6o')具有:第一凹部(7o),其具有用於將該第一基材(2o)固定於該第一凹部(7o)中之固定裝置(3);至少一個孔(11);以及隆起(8o),其至少部分環繞該第一凹部(7o); 其中該隆起(8o)具有膨脹表面(8os),該孔(11)連通於該第一凹部(7o),且在該基材(2o)周邊與該膨脹表面(8os)之間累積超壓。
- 如請求項1之裝置(10、10'),其中該隆起(8o)具有用於該第一基材表面(2os)之特定言之無縫膨脹之膨脹表面(8os)。
- 如請求項1之裝置(10、10'),其中該第一基材固持器(6o、6o')及第二基材固持器(6u、6u')各具有膨脹表面(8us、8os),該等膨脹表面(8us、8os)之間的間隙藉由結合波之進程及用其置換之氣體或氣體混合物而增大該超壓。
- 如請求項3之裝置(10、10'),其中該氣體或氣體混合物係具有負焦耳-湯普森係數(JTC)之氣體及/或氣體混合物。
- 如請求項1至4中任一項之裝置(10、10'),其中該膨脹表面(8os)係向內及/或向外彎曲。
- 如請求項1至4中任一項之裝置(10、10'),其中該超壓之壓力係大於1巴。
- 如請求項1至4中任一項之裝置(10、10'),其中該第一凹部(7o)及/或該隆起(8o)適於該第一基材(2o),特定言之適於該第一基材(2o)之形狀,使得該基材表面(2os)與該膨脹表面(8os)形成實質上連續表面及/或合併成該隆起(8o)。
- 如請求項1至4中任一項之裝置(10、10'),其中該第一凹部(7o)及/或該隆起(8o)可經手動及/或半自動及/或自動調適,使得該基材表面(2os)與該膨脹表面(8os)形成實質上連續表面及/或合併成該隆起(8o)。
- 如請求項11至4中任一項之裝置(10、10'),其中該第一基材固持器(6o、6o')具有外部組件(1o')及可在該外部組件(1o')中移動之內部組件(5o),其中該外部組件及/或內部組件(5o)係可平移地及/或可旋轉地移動的,其中該等組件(1o'、5o)可彼此固定。
- 如請求項1至4中任一項之裝置(10、10'),其中該基材表面(2os、2us)與該膨脹表面(8os、8us)之間之垂直距離(vo 、vu )係可調整的。
- 如請求項1至4中任一項之裝置(10、10'),其中該孔(11)係用於排空及/或沖洗該第一凹部(7o),其中數個孔(11)較佳以對稱分佈方式配置,特定言之配置於該內部組件中。
- 一種由如請求項1至11中任一項之裝置(10、10')及第一基材(2o)組成之系統,其特徵在於該第一基材表面(2os)合併成該隆起(8o)。
- 一種用於藉由如請求項1至11中任一項之裝置(10、10')將第一基材(2o)之第一基材表面(2os)結合至第二基材(2u)之第二基材表面(2us)之方法,其中在該結合程序期間配置於該等基材表面(2os、2us)之間之氣體自該等基材(2o、2u)之中心移動至邊緣(9、9o、9u), 其特徵在於: 至少該第一基材表面(2os)合併成該隆起(8o),使得該氣體之膨脹僅在該等基材(2o、2u)之外部發生,及 該第一基材固持器(6o、6o')之孔(11)在該基材(2o)周邊與該膨脹表面(8os)之間累積超壓。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
WOPCT/EP2016/073304 | 2016-09-29 | ||
PCT/EP2016/073304 WO2018059699A1 (de) | 2016-09-29 | 2016-09-29 | Vorrichtung und verfahren zum bonden zweier substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW202025354A TW202025354A (zh) | 2020-07-01 |
TWI721797B true TWI721797B (zh) | 2021-03-11 |
Family
ID=57123976
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW106131766A TWI662639B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
TW108108465A TWI691010B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
TW109106383A TWI721797B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
TW110102725A TWI801800B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW106131766A TWI662639B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
TW108108465A TWI691010B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW110102725A TWI801800B (zh) | 2016-09-29 | 2017-09-15 | 結合兩基材之裝置與方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US10964562B2 (zh) |
EP (2) | EP3520133B1 (zh) |
JP (2) | JP6843232B2 (zh) |
KR (2) | KR20230087612A (zh) |
CN (3) | CN115954300A (zh) |
TW (4) | TWI662639B (zh) |
WO (1) | WO2018059699A1 (zh) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230087612A (ko) | 2016-09-29 | 2023-06-16 | 에베 그룹 에. 탈너 게엠베하 | 2개의 기판을 접합하기 위한 장치 및 방법 |
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JP6685153B2 (ja) | 2016-03-14 | 2020-04-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 接合装置および接合システム |
KR20230167447A (ko) | 2016-03-22 | 2023-12-08 | 에베 그룹 에. 탈너 게엠베하 | 기판을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
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-
2016
- 2016-09-29 KR KR1020237018813A patent/KR20230087612A/ko not_active Application Discontinuation
- 2016-09-29 CN CN202310010441.9A patent/CN115954300A/zh active Pending
- 2016-09-29 EP EP16779031.0A patent/EP3520133B1/de active Active
- 2016-09-29 KR KR1020197006461A patent/KR102541696B1/ko active IP Right Grant
- 2016-09-29 EP EP20164844.1A patent/EP3690926B1/de active Active
- 2016-09-29 CN CN201680089133.8A patent/CN109791898B/zh active Active
- 2016-09-29 CN CN202310010432.XA patent/CN115799124A/zh active Pending
- 2016-09-29 WO PCT/EP2016/073304 patent/WO2018059699A1/de active Search and Examination
- 2016-09-29 US US16/328,793 patent/US10964562B2/en active Active
- 2016-09-29 JP JP2019512888A patent/JP6843232B2/ja active Active
-
2017
- 2017-09-15 TW TW106131766A patent/TWI662639B/zh active
- 2017-09-15 TW TW108108465A patent/TWI691010B/zh active
- 2017-09-15 TW TW109106383A patent/TWI721797B/zh active
- 2017-09-15 TW TW110102725A patent/TWI801800B/zh active
-
2021
- 2021-02-22 JP JP2021026099A patent/JP7150913B2/ja active Active
- 2021-02-22 US US17/181,632 patent/US11276589B2/en active Active
-
2022
- 2022-01-13 US US17/575,101 patent/US11562912B2/en active Active
- 2022-12-19 US US18/083,806 patent/US11862487B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW201351543A (zh) * | 2012-04-27 | 2013-12-16 | Commissariat Energie Atomique | 在顯示負的焦耳-湯姆遜(joule-thomson)係數之氣體氛圍中的接合方法 |
CN105960706A (zh) * | 2014-12-18 | 2016-09-21 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于接合薄化基片的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11276589B2 (en) | 2022-03-15 |
US20190228995A1 (en) | 2019-07-25 |
EP3690926B1 (de) | 2022-08-17 |
TW202333272A (zh) | 2023-08-16 |
US20230117625A1 (en) | 2023-04-20 |
US20210183665A1 (en) | 2021-06-17 |
US11562912B2 (en) | 2023-01-24 |
TW201830549A (zh) | 2018-08-16 |
CN109791898B (zh) | 2023-02-03 |
JP7150913B2 (ja) | 2022-10-11 |
US10964562B2 (en) | 2021-03-30 |
KR20230087612A (ko) | 2023-06-16 |
EP3690926A1 (de) | 2020-08-05 |
EP3520133B1 (de) | 2020-04-29 |
TW202129809A (zh) | 2021-08-01 |
US20220139735A1 (en) | 2022-05-05 |
WO2018059699A1 (de) | 2018-04-05 |
KR20190051959A (ko) | 2019-05-15 |
CN115954300A (zh) | 2023-04-11 |
US11862487B2 (en) | 2024-01-02 |
KR102541696B1 (ko) | 2023-06-08 |
TWI662639B (zh) | 2019-06-11 |
CN109791898A (zh) | 2019-05-21 |
EP3520133A1 (de) | 2019-08-07 |
JP2021100131A (ja) | 2021-07-01 |
JP6843232B2 (ja) | 2021-03-17 |
TWI691010B (zh) | 2020-04-11 |
TWI801800B (zh) | 2023-05-11 |
JP2019535128A (ja) | 2019-12-05 |
TW201937634A (zh) | 2019-09-16 |
TW202025354A (zh) | 2020-07-01 |
CN115799124A (zh) | 2023-03-14 |
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