TWI716549B - 劃線頭單元 - Google Patents

劃線頭單元 Download PDF

Info

Publication number
TWI716549B
TWI716549B TW106106109A TW106106109A TWI716549B TW I716549 B TWI716549 B TW I716549B TW 106106109 A TW106106109 A TW 106106109A TW 106106109 A TW106106109 A TW 106106109A TW I716549 B TWI716549 B TW I716549B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
scribing
lubricant
holder
tool
head unit
Prior art date
Application number
TW106106109A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201738189A (zh
Inventor
曽山浩
Original Assignee
日商三星鑽石工業股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商三星鑽石工業股份有限公司 filed Critical 日商三星鑽石工業股份有限公司
Publication of TW201738189A publication Critical patent/TW201738189A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI716549B publication Critical patent/TWI716549B/zh

Links

Images

Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/02—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/76—Making of isolation regions between components
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0005—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing
    • B28D5/0011—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing with preliminary treatment, e.g. weakening by scoring
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
    • B28D5/0076—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for removing dust, e.g. by spraying liquids; for lubricating, cooling or cleaning tool or work
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/10—Glass-cutting tools, e.g. scoring tools
    • C03B33/105—Details of cutting or scoring means, e.g. tips
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

本發明係於使用劃線工具對脆性材料基板進行劃線之情形時，提高劃線工具之鑽石尖端之耐久性。 其解決方法為，沿著劃線預定線一面對固體潤滑劑進行加壓一面使其移動，而於脆性材料基板塗佈潤滑劑。塗佈潤滑劑後，沿著劃線預定線以具有鑽石尖端之劃線工具進行劃線。如此，利用潤滑劑的潤滑效果，可大幅提高劃線工具之耐久性。

Description

劃線頭單元
本發明係關於藉由鑽石尖端而用以對玻璃基板或矽晶圓等脆性材料基板進行劃線之劃線頭單元者。
先前，為了對玻璃基板或矽晶圓進行劃線，使用劃線輪或使用利用單晶鑽石之鑽石尖端之劃線工具。以往對於玻璃基板，主要使用相對於基板轉動之劃線輪，但基於劃線後之基板強度提高等優點，亦有研討使用固定刃即鑽石尖端。於專利文獻1、2中提案有用以對藍寶石晶圓或氧化鋁晶圓等硬度較高之基板進行劃線之尖刃切刀。於該等專利文獻中，使用於角錐之稜線上設有尖刃之工具，或前端為圓錐之工具。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2003-183040號公報
[專利文獻1]日本專利特開2005-079529號公報
使用利用鑽石尖端之劃線工具作為工具，對玻璃基板進行劃線之情形時，會有鑽石尖端之壽命較短、且於經劃線數十m後之階段有所損傷之問題。
本發明係用以解決如上問題而完成者，其目的在於提供一種劃線頭 單元，其可提高分斷脆性材料基板時使用鑽石尖端之劃線工具之耐久性、延長壽命，且減少更換頻率。
為解決該問題，本發明之劃線頭單元係藉由以特定之荷重將劃線工具之尖端壓抵於脆性材料基板並使其相對移動而進行劃線者，且具備：劃線工具，其具有使用鑽石之1個或複數個尖端；工具固持器，其固定上述劃線工具；潤滑劑固持器，其上下移動自如地設置；潤滑劑塗佈構件，其安裝於上述潤滑劑固持器之下端，將潤滑劑塗佈於劃線預定線上；及按壓機構，其將上述潤滑劑固持器按壓於上述脆性材料基板；且上述潤滑劑塗佈構件係以固體潤滑劑構成。
此處，上述潤滑劑塗佈構件亦可為具有軸芯之圓柱狀之固體潤滑輪。
此處，上述劃線頭單元亦可具有沿著劃線預定線進行脆性材料基板之異物去除之異物去除機構。
此處，上述異物去除機構亦可具備：異物去除固持器；與安裝於上述異物去除固持器之下端之異物去除構件。
此處，上述按壓機構亦可作為將上述潤滑劑固持器按壓於脆性材料基板之空氣加壓單元。
此處，上述按壓機構亦可作為將上述潤滑劑固持器按壓於脆性材料基板之彈簧加壓單元。
根據具有此種特徵之本發明，首先，於脆性材料基板之劃線預定線塗佈潤滑劑，以具有鑽石尖端之劃線工具進行劃線。因此，鑽石尖端不易 產生磨耗，而獲得可大幅提高耐久性之效果。尤其，由於使用固體潤滑劑作為潤滑劑，因此可僅於劃線預定線附近精度良好地塗佈潤滑劑。藉此，可防止潤滑劑附著於基板上之不必要的部位，且容易進行後續步驟之潤滑劑之去除等。又，於塗佈潤滑劑之前清潔劃線預定線之情形時，最初附著於脆性材料基板之異物、或劃線過程中產生之異物不會捲入脆性材料基板與劃線工具，而獲得可更為減少尖端損傷之效果。
10:多尖端鑽石工具
11:基座
12:貫通孔
13a~13d:稜線
14a~14d:第1傾斜面
15a~15d:第2傾斜面
20:工具固持器
21:工具固持器本體
22a:固持器保持部
22b:工具保持部
23a、23b、24a、24b:貫通孔
25:厚度調整槽
26a、26b、26c、31a、31b、31c:傾斜面
27:螺絲槽
28:工具保持槽
30:固持器緊固件
32:貫通孔
33:厚度調整銷
34:螺絲
40A、40B:劃線頭單元
41:頂板
42:氣缸
42a:桿
43:引導機構
44:滑動部
45:板件
46:止擋
50、53:支承板
51:異物去除固持器
52:海綿
54:滑動部
55:L字狀塊
56:潤滑劑固持器
57:固體潤滑輪
58、60:支承板
59:下降端止擋
61:空氣加壓單元
62:彈簧加壓單元
70:玻璃基板
AL:輔助線
CL1~CL6:裂紋線
P1~P8:尖端
SIL1~SIL6:劃線預定線
TL1~TL6:溝槽線
圖1(a)、(b)係顯示本發明之實施形態之工具固持器所使用之劃線工具之一例之俯視圖及側視圖。
圖2係本實施形態之工具固持器之立體圖。
圖3(a)、(b)係顯示本發明之第1實施形態之劃線頭單元之一例之前視圖及側視圖。
圖4係顯示本發明之第1實施形態之劃線頭單元中、僅有塗佈潤滑劑之潤滑劑固持器與其周邊部分之側視圖。
圖5係顯示本發明之實施形態之玻璃基板之分斷方法之流程圖。
圖6(a)、(b)係本發明之實施形態之玻璃基板之俯視圖。
圖7(a)~(c)係本發明之實施形態之玻璃基板之劃線預定線之放大圖。
圖8(a)、(b)係於本發明之實施形態之劃線方法中形成之溝槽線及裂紋線之剖面圖。
圖9(a)、(b)係顯示本實施形態之玻璃基板之溝槽線與輔助線之圖。
圖10(a)、(b)係顯示本發明之第2實施形態之劃線頭單元之前視圖及側視圖。
接著，針對本發明之實施形態進行說明。首先，圖1係顯示保持於本實施形態之劃線頭單元之工具固持器之劃線工具、即多尖端鑽石工具(以下簡稱作鑽石工具)10之一例之俯視圖及側視圖。該鑽石工具10係以一定的厚度且由旋轉對稱之任意數之邊形成之多角形角柱作為基座。於本實施形態中，藉由單結晶鑽石構成一定厚度之四角柱基座11，於其中心具有貫通孔12。於基座11，於四角形之外周面均等地形成有與通過貫通孔12之軸(圖1(a)中與紙面垂直之軸)平行之稜線13a~13d。
於本實施形態中，如圖1所示，對於基座11，以自四方之角部分之四角柱之兩底面朝外周面所交叉之稜線去角之方式進行研磨。即，如圖1(b)所示，由基座11之右側底面之4個角朝基座11之稜線進行研磨，而形成傾斜面14a~14d。此時，以夾著基座11的底面之稜線之邊與傾斜面所成之角相等之方式，即，傾斜面成為以稜線之一端為頂點之等腰三角形之方式進行研磨。此種傾斜面可藉由雷射加工或機械加工而容易地形成。又，亦可於雷射加工後進一步進行機械研磨，成為更精密之研磨面。如此，以各稜線13a~13d與第1傾斜面14a~14d之交點為頂點，如圖1(b)所示，於基座之側視下，於右側可形成4個尖端P1~P4。此時，基座11之傾斜面14a~14d成為頂面。此處，所謂頂面是指與形成稜線之2個外周面相接且共有稜線之一端之面。
接著，自基座11之另一底面同樣地朝向基座11之外周進行研磨，形成第2傾斜面15a~15d。此時，以於第1傾斜面與第2傾斜面之間保留稜線之方式，以第1傾斜面與第2傾斜面之研磨範圍之合計不超過基座之厚度之方式進行研磨。如此，將各稜線13a~13d與第2傾斜面15a~15d之交點作 為尖端，如圖1(b)所示，於基座之側視下於左側可形成4個尖端P5~P8。如此，將稜線13a~13d之兩端作為尖端P1~P8，藉此可對四角形之鑽石工具10於外周形成8處尖端。
接著，針對工具固持器進行說明。圖2係顯示工具固持器之組裝之立體圖。如圖2所示，構成工具固持器20之要部之工具固持器本體21係由長方體狀之固持器保持部22a、及其前端具有長方體之上半部被切去之形狀之工具安裝部22b而構成。如圖2所示，於固持器保持部22a設置用以將工具固持器固定於劃線頭單元之安裝用貫通孔23a、23b及24a、24b。又，工具安裝部22b具有在靠近固持器保持部22a之位置被切去之與長邊方向垂直之厚度調整槽25。如圖2所示，於前端部具有自左右被切去之傾斜面26a、26b，與自下方被切去之傾斜面26c。又，於工具安裝部22b之大致中央部分設有與中心軸垂直之螺絲槽27。於工具安裝部22b之表面，通過螺絲槽27而形成沿著工具固持器本體21之長邊方向之中心軸之一定深度之保持槽28，於前端部，工具保持槽28朝外側以約90°之角度開放。換言之，工具保持槽28之寬度隨著朝向前端而變大，槽之內壁之延長線相交之角度成90°。厚度調整槽25與工具保持槽28具有相同深度。此處，工具保持槽28之開放成90°之區域，係為保持上述四角形之鑽石工具10且使其前端部分向外部突出之保持區域。
另外，於工具安裝部22b之上部安裝固持器緊固件30。固持器緊固件30係大致長方體狀，且安裝於工具安裝部22b之凹部而構成長方體狀工具固持器20。於固持器緊固件30之前端部左右，設有與工具安裝部22b之傾斜面26a、26b對應之傾斜面31a、31b，於上表面設有與傾斜面26c對應之傾斜面31c。又，於中央部分設有貫通孔32。
要將鑽石工具10保持於工具固持器20之情形時，首先，將作為厚度調整構件而具有與鑽石工具10之厚度同徑之厚度調整銷33插入厚度調整槽25，接著，於將鑽石工具10嵌入工具保持槽28而使其一部突出之狀態下蓋上緊固件30，藉由緊固螺絲34而固定，如此，固持器緊固件30之下表面始終與工具安裝部22b之面平行相接，故可確實於前端固定鑽石工具10。
圖3係顯示將具有鑽石工具10之工具固持器20安裝於劃線頭單元之狀態之前視圖及側視圖。劃線頭單元40A係以其板狀之頂板41自身藉由未圖示之滑動機構而整體上下移動之方式而構成。且，於該頂板41固定劃線荷重用氣缸42。於氣缸42之下端，桿42a伸縮自如地突出。接著，如圖3(b)所示，於頂板41之桿42a之下方，設置引導機構43與滑動部44，以特定荷重將滑動部44朝下方按壓。引導機構43係上下移動自如地保持滑動部44者。於滑動部44設置L字形板件45。板件45與滑動部44一起上下移動，但由止擋46而限制其下限。且，於該板件45，使螺絲47a、47b貫通於貫通孔23b、24b，將工具固持器20固定於傾斜方向。然後，藉由使劃線頭單元40A朝箭頭A方向移動，而可進行劃線。
於頂板41之右端，於支承板50上設置異物去除固持器51。如圖3(b)所示，板狀之支承板50係以自側面觀察、異物去除固持器51與鑽石工具成為相同位置之方式自頂板41朝左方向突出者。異物去除固持器51與工具固持器同樣為長方體狀且與頂板41平行地固定，於前端安裝有海綿52。海綿52係使劃線頭單元40A朝箭頭A方向移動時，在即將劃線之前與基板接觸，將附著於劃線預定線之異物去除之異物去除構件。此處，異物去除固持器51與其前端之柔軟異物去除構件即海綿52係構成安裝於劃線 頭單元40A之異物去除機構。
接著，針對與異物去除固持器51相鄰之潤滑劑固持器進行說明。圖4係僅擷取潤滑劑固持器與其周邊部分而顯示之側視圖。省略氣缸42、滑動部44、板件45及鑽石工具10，以及支承板50與異物去除固持器51等。然後如圖4所示，與支承板50同樣地，將支承板53以突出之方式安裝於頂板41。於支承板53之左端形成引導機構53a，劃線部54及安裝於其之L字狀塊55沿著該引導機構53a上下移動自如地構成。將潤滑劑固持器56螺固而安裝於該L字狀塊55之下方。潤滑劑固持器56與異物去除固持器51同樣為長方體狀，且於下端安裝有固體潤滑輪57。固體潤滑輪57係圓柱狀之潤滑劑塗佈構件，其軸芯旋轉自如地被保持於潤滑劑固持器56，藉由於劃線方向移動而旋轉，而於即將劃線之前於劃線預定線上塗佈潤滑劑。
又，如圖4所示，將支承板58以橫向突出之方式設置於頂板41，於其前端設置下降端止擋59。下降端止擋59係藉由與L字狀塊55之一端抵接，而限制L字狀塊55不過度地下降。又，於頂板41，於L字狀塊55之上方設置支承板60，於其上部設置空氣加壓單元61。空氣加壓單元61係藉由於前端之突出部將L字狀塊55朝下按壓，而將潤滑劑固持器56下方之固體潤滑輪57壓抵於脆性材料基板者。被保持於支承板60之空氣加壓單元61係構成按壓潤滑劑固持器56之按壓機構。
作為構成固體潤滑輪57之固體潤滑劑，使用蠟(石蠟)或石油系烴等常溫下為固體之潤滑劑。或者亦可為固體潤滑劑與常溫下為液體之潤滑劑、粉末狀固體潤滑劑或其他成分之混合物。作為粉末狀固體潤滑劑，較佳為使用例如石墨、二硫化鉬、二硫化鎢等。
接著，針對本實施形態之使用劃線頭單元40A分斷脆性材料基板即玻 璃基板之方法，使用圖5之流程圖、圖6之玻璃基板之俯視圖進行說明。首先，於步驟S1中準備具有平坦表面SF之玻璃基板70。對玻璃基板70進行劃線時，以使傾斜安裝之工具固持器20之鑽石工具10之1個尖端P1與玻璃基板70相接之方式固定，使劃線頭單元40A朝玻璃基板70之一邊70a附近下壓並向圖示之箭頭A方向移動，滑動至接近分斷預定線之另一邊70b之位置。如此，若使劃線頭單元40A移動，則以安裝於異物去除固持器51之海綿52將劃線預定線之異物去除。即，如圖5之步驟S2所示，沿著劃線預定線進行清潔。此時，如圖7(a)中劃線預定線SIL1之放大圖所示，以於中央包含劃線預定線SIL1之方式對特定寬度之線進行清潔。如此，藉由清潔劃線預定線，於劃線過程中異物不會捲入玻璃基板70與刃尖之間，可減少鑽石工具之尖端之損傷。
接著，如圖7(b)所示，於已對劃線預定線SIL1進行清潔之部分，再次使潤滑劑固持器56之固體潤滑輪57與玻璃面接觸，以由空氣加壓單元61自上部施加荷重之狀態下移動，藉此固體潤滑輪57轉動，薄層地塗佈潤滑劑(步驟S3)。然後，藉由以保持於固持器20之劃線頭之鑽石工具進行劃線，如圖6所示，沿著劃線預定線SIL1形成溝槽線TL1(步驟S4)。此時，鑽石工具10不轉動，以相同的尖端進行劃線。實際上係使劃線頭單元40A移動，而大致同時進行步驟S2~S4。如此，可利用潤滑劑之潤滑效果而大幅減少鑽石工具之尖端之磨耗，而延長壽命。例如，鑽石工具之尖端如未塗佈潤滑劑，數十m便會有所磨耗，但如有塗佈潤滑劑，則可歷經數千m而保持耐久性。再者，由於藉由固體潤滑輪57之轉動而塗佈潤滑劑，因此可僅於劃線預定線及其附近精度良好地塗佈潤滑劑。藉此，可抑制潤滑劑附著於基板上之劃線預定線以外之部位，且容易進行後續步驟之潤滑 劑之去除等。
所謂溝槽線，如顯示圖6(b)之圓形部分之剖面之圖8(a)所示，是指藉由劃線而於玻璃基板70之表面SF僅形成利用塑性變形而成之槽、不會於厚度方向產生裂紋之線，因此，可於較產生裂紋之一般劃線形成之情形設為更低的荷重等更寬鬆的劃線條件下，進行用以形成溝槽線之劃線。又，於本實施形態中，邊70a為劃線上游側，邊70b為下游側。
同樣地，使劃線頭單元40A沿著玻璃基板70表面SF之劃線預定線SIL2~SIL6自左至右移動。藉此，以異物去除固持器51之海綿52將劃線預定線之異物去除，藉由潤滑劑固持器56之固體潤滑輪57塗佈潤滑劑，進而利用鑽石工具10進行劃線。如此，與溝槽線T1平行地進而形成5條溝槽線TL2~TL6。
接著，如圖9所示，以與各溝槽線交叉之方式形成輔助線AL1。輔助線AL1較佳形成於各溝槽線之下游側，即靠近邊70b之位置。如圖1所示，輔助線AL1可使用具有鑽石之刀尖之劃線工具形成，亦可使劃線輪轉動而形成。於本實施形態中，將輔助線設為形成有裂紋之裂紋線。
如此形成輔助線AL1，將玻璃基板70沿著輔助線AL1分斷。如圖8(b)所示，此時，自已形成之溝槽線TL1~TL6與輔助線AL1交叉之位置產生裂紋，裂紋伸展至各溝槽線TL1~TL6之上游側(步驟S5)。因此，溝槽線TL1~TL6於其下方變化成伴隨裂紋之裂紋線CL1~CL6。
其後，於圖5之步驟S6中，藉由沿著該裂紋線CL1~CL6將玻璃基板70分斷，而可將玻璃基板70分斷成期望之形狀。
而固體潤滑輪57若塗佈潤滑劑則會逐漸磨耗，因而其直徑變小，但由於L字狀塊55上下移動自如，且藉由空氣加壓單元61自上部按壓L字狀 塊，因此固體潤滑輪57可始終以特定荷重被按壓於玻璃面，並塗佈潤滑劑。
於本實施形態中乃形成輔助線，且沿著輔助線進行分離而產生裂紋者，但亦可為不伴隨分離輔助線之步驟。此時，當形成輔助線時會沿著溝槽線形成裂紋。又，藉由進行不形成輔助線而於溝槽線之終端使鑽石工具於反方向滑動而形成裂紋之步驟，或延長溝槽線而使鑽石工具通過基板之端部之步驟等，亦可沿著溝槽線產生裂紋。
與基板相接之尖端P1因磨耗而劣化之情形時，藉由自劃線頭單元卸下工具固持器，使其180°旋轉而前後調換，即可使用尖端P5。或將鑽石工具10暫時自工具固持器20卸下，使其90°旋轉後再次固定於工具固持器20，使其他尖端例如尖端P2與玻璃基板70接觸，而同樣地進行劃線預定線之清潔、潤滑劑塗佈及劃線。
接著，針對具有異物去除或塗佈潤滑劑之功能之劃線頭單元之其他實施形態進行說明。圖10係顯示第2實施形態之劃線頭單元，與上述第1實施形態相同之部分以相同符號表示。如圖10所示，於第2實施形態之劃線頭單元40B中，取代空氣加壓單元61，於支撐固持器60設置使用彈簧之彈簧加壓單元62。彈簧加壓單單元62係將L字狀塊55自上方朝下按壓之按壓機構。該情形時，亦可將固體潤滑輪57壓抵於玻璃面，即使固體潤滑輪57逐漸磨耗仍藉由彈簧加壓，因此可始終以相同壓力按壓輪並於玻璃面塗佈潤滑劑。該情形時，能以較空氣加壓單元更簡單之構造獲得相同效果。
另，於上述各實施形態中，如圖1所示，使用鑽石製之具備複數個尖端之劃線工具，但亦可使用自板厚方向或外周方向進行研磨而於多角形之外周形成有複數個尖端之劃線工具，又，亦可使用四角錐台形或圓錐形狀 之劃線工具。
此處，如圖5所示，形成溝槽線後形成輔助線，但亦可包含形成溝槽線後藉由擦拭等將塗佈於劃線預定線之潤滑劑去除之步驟。
又，亦可於結束一定距離之劃線後，清潔鑽石工具之尖端部分。於清潔中可對刀尖之尖端部分噴吹空氣，亦可自尖端部分抽吸空氣。又，可超音波洗淨尖端部分，亦可以海綿等拭除潤滑劑或異物而進行清潔。去除潤滑劑之情形時，亦可於基板之端部設置墊塊，以劃線工具通過該墊塊上而進行清潔。
於上述各實施形態中，使用海綿作為異物去除構件，但亦可使用達成與其相同功能之柔軟構件，例如毛氈等。
又，於上述實施形態中，乃於劃線前，使用固體潤滑輪作為潤滑劑塗佈構件而塗佈潤滑劑，但潤滑劑塗佈構件只要為固體潤滑劑，則形狀不限於輪，亦可為圓柱或角柱、圓錐或角錐等任意形狀。非為輪形狀之情形時，藉由使潤滑劑塗佈構件於基板上滑動而塗佈潤滑劑。
又，於上述各實施形態中，乃藉由使劃線頭單元移動而對基板進行劃線，但亦可藉由固定劃線頭單元使基板移動而進行異物去除、潤滑劑塗佈及劃線。
又，於上述實施形態中，於1個劃線頭單元40A設有工具固持器、異物去除機構及潤滑劑塗佈機構，但亦可將異物去除機構或潤滑劑塗佈機構設於與設有工具固持器之劃線頭單元不同之劃線頭單元。再者，於上述實施形態中，藉由使劃線頭單元40A移動而大致同時進行步驟S2~S4，但亦可對劃線預定線階段性進行步驟S2~S4。
[產業上之可利用性]
本發明於藉由具有鑽石尖端之劃線工具對脆性材料基板進行劃線之情形時，可將鑽石尖端之磨耗抑制為最小限度，可有效用於使用鑽石尖端之劃線裝置。
10‧‧‧多尖端鑽石工具
20‧‧‧工具固持器
34‧‧‧螺絲
40A‧‧‧劃線頭單元
41‧‧‧頂板
42‧‧‧氣缸
42a‧‧‧桿
43‧‧‧引導機構
44‧‧‧滑動部
45‧‧‧板件
46‧‧‧止擋
47a、47b‧‧‧螺絲
50‧‧‧支承板
51‧‧‧異物去除固持器
52‧‧‧海綿
55‧‧‧L字狀塊
56‧‧‧潤滑劑固持器
57‧‧‧固體潤滑輪
58、60‧‧‧支承板
59‧‧‧下降端止擋
61‧‧‧空氣加壓單元

Claims (6)

  1. 一種劃線頭單元，其係藉由以特定之荷重將劃線工具之尖端壓抵於脆性材料基板並使其相對移動而進行劃線者，且具備：劃線工具，其具有使用鑽石之1個或複數個尖端；工具固持器，其固定上述劃線工具；潤滑劑固持器，其上下移動自如地設置；潤滑劑塗佈構件，其安裝於上述潤滑劑固持器之下端，將潤滑劑塗佈於劃線預定線上；及按壓機構，其將上述潤滑劑固持器按壓於上述脆性材料基板；且上述潤滑劑塗佈構件係以固體潤滑劑構成。
  2. 如請求項1之劃線頭單元，其中上述潤滑劑塗佈構件係具有軸芯之圓柱狀之固體潤滑輪。
  3. 如請求項1之劃線頭單元，其中上述劃線頭單元具有：異物去除機構，其沿著劃線預定線進行脆性材料基板之異物去除。
  4. 如請求項3之劃線頭單元，其中上述異物去除機構具備：異物去除固持器；及異物去除構件，其設於上述異物去除固持器之下端。
  5. 如請求項1至3中任一項之劃線頭單元，其中上述按壓機構係將上述 潤滑劑固持器按壓於脆性材料基板之空氣加壓單元。
  6. 如請求項1至3中任一項之劃線頭單元，其中上述按壓機構係將上述潤滑劑固持器按壓於脆性材料基板之彈簧加壓單元。
TW106106109A 2016-04-26 2017-02-23 劃線頭單元 TWI716549B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016087812A JP6722917B2 (ja) 2016-04-26 2016-04-26 スクライブヘッドユニット
JP??2016-087812 2016-04-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201738189A TW201738189A (zh) 2017-11-01
TWI716549B true TWI716549B (zh) 2021-01-21

Family

ID=60184630

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW106106109A TWI716549B (zh) 2016-04-26 2017-02-23 劃線頭單元

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6722917B2 (zh)
KR (1) KR102375182B1 (zh)
CN (1) CN107311440B (zh)
TW (1) TWI716549B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7008961B2 (ja) * 2017-11-10 2022-02-10 三星ダイヤモンド工業株式会社 スクライビングホイール、ホルダーユニット及びスクライブ方法
JP7032787B2 (ja) * 2017-11-30 2022-03-09 三星ダイヤモンド工業株式会社 スクライビングホイール
JP7218908B2 (ja) * 2019-04-23 2023-02-07 三星ダイヤモンド工業株式会社 スクライブヘッド及びスクライブ装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669629A (ja) * 1992-08-21 1994-03-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd セラミック基板その他の回路基板のスクライブ加工装置
JPH1171123A (ja) * 1997-01-21 1999-03-16 Asahi Glass Co Ltd ガラスの切断方法
CN102344245A (zh) * 2005-07-06 2012-02-08 三星钻石工业股份有限公司 脆性材料用划线轮和采用该划线轮的划线方法及装置、工具

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2539601A (en) * 1949-06-07 1951-01-30 Oscar F Walker Glass cutting tool
US2812579A (en) * 1953-06-15 1957-11-12 William M Arck Adjustable glass-cutting tool head
JPS56160993U (zh) * 1980-04-29 1981-11-30
US4307643A (en) * 1980-07-31 1981-12-29 Diegel Herbert F Glass cutting machine having multiple cutting heads
DE3640645A1 (de) * 1986-11-28 1988-06-09 Wacker Chemitronic Verfahren zum zersaegen von kristallstaeben oder -bloecken vermittels innenlochsaege in duenne scheiben
DE10055286A1 (de) * 2000-11-08 2002-05-23 Freiberger Compound Mat Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Trennen von Werkstoffen
TWI239322B (en) * 2001-12-18 2005-09-11 Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd Blade holder and method for manufacturing the same, and scribing device and manual cutter that are provided with the holder for tip
JP2003183040A (ja) 2001-12-18 2003-07-03 Oputo System:Kk ポイントカッター並びにその使用の方法及び装置
JP2005079529A (ja) 2003-09-03 2005-03-24 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品の製造方法
JP2006000947A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Kazumasa Onishi 切断装置
KR100847405B1 (ko) * 2005-01-17 2008-07-18 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 플라즈마 디스플레이 패널의 할단 방법, 리사이클 방법 및그 할단 장치
JP4777072B2 (ja) * 2006-01-11 2011-09-21 株式会社東京精密 ダイシング装置
CN201144186Y (zh) * 2007-11-19 2008-11-05 中国建材国际工程有限公司 浮法玻璃高精度横切机
JP5381046B2 (ja) * 2008-11-28 2014-01-08 株式会社Ｓｕｍｃｏ 半導体ウェーハのスクライブ装置、およびそれを備えたスクライブシステム
CN101745990A (zh) * 2008-12-01 2010-06-23 孙春雨 一种切割脆性材料的刀轮及其加工方法
WO2010107425A1 (en) * 2009-03-17 2010-09-23 Husqvarna Ab Cutting machine with a liquid lubrication delivery system
WO2011155314A1 (ja) * 2010-06-07 2011-12-15 日本電気硝子株式会社 ガラス板の切断方法
JP2012093441A (ja) * 2010-10-25 2012-05-17 Ricoh Co Ltd 潤滑剤供給装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置
US9278878B2 (en) * 2011-02-23 2016-03-08 Corning Incorporated Methods and apparatus for scoring thin glass
TWI483911B (zh) * 2011-09-28 2015-05-11 Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd 劃線裝置
JP2013184885A (ja) * 2012-03-12 2013-09-19 Toppan Printing Co Ltd カッターホイールの異物除去方法およびスクライブ装置
JP6043149B2 (ja) * 2012-10-29 2016-12-14 三星ダイヤモンド工業株式会社 脆性材料基板のブレイク装置および脆性材料基板のブレイク方法
JP6332618B2 (ja) * 2014-04-24 2018-05-30 三星ダイヤモンド工業株式会社 スクライブ用カッターホイール並びにスクライブ装置
CN204281570U (zh) * 2014-12-06 2015-04-22 弗兰科瓦利亚尼 一种玻璃切割刀头装置
JP5936733B1 (ja) * 2015-03-10 2016-06-22 トーヨー産業株式会社 ガラス専用カッターホイール

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0669629A (ja) * 1992-08-21 1994-03-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd セラミック基板その他の回路基板のスクライブ加工装置
JPH1171123A (ja) * 1997-01-21 1999-03-16 Asahi Glass Co Ltd ガラスの切断方法
CN102344245A (zh) * 2005-07-06 2012-02-08 三星钻石工业股份有限公司 脆性材料用划线轮和采用该划线轮的划线方法及装置、工具
TW201402483A (zh) * 2005-07-06 2014-01-16 Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd 脆性材料用劃線輪及其製造方法、使用該劃線輪之劃線方法及劃線裝置、及劃線工具

Also Published As

Publication number Publication date
CN107311440B (zh) 2021-12-17
KR20170122111A (ko) 2017-11-03
JP2017196758A (ja) 2017-11-02
JP6722917B2 (ja) 2020-07-15
TW201738189A (zh) 2017-11-01
KR102375182B1 (ko) 2022-03-16
CN107311440A (zh) 2017-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI637924B (zh) 脆性材料基板之刻劃方法及刻劃頭單元
TWI716549B (zh) 劃線頭單元
KR20150026794A (ko) 스크라이빙 휠, 홀더 유닛 및 스크라이브 장치
TWI732864B (zh) 刻劃輪
KR102469831B1 (ko) 멀티 포인트 다이아몬드 툴
TWI629250B (zh) Tool holder and tool holder unit
KR20160002340A (ko) 멀티포인트 툴, 멀티포인트 툴의 위치 결정 기구, 스크라이브 헤드 및 스크라이브 장치
TWI654061B (zh) Multi-point diamond tool
TW201815540A (zh) 鑽石工具及其劃線方法
TWI705046B (zh) 板玻璃的製造方法
JP6771207B2 (ja) マルチポイントダイヤモンドツール及びその製造方法
TW201815539A (zh) 鑽石工具及其刻劃方法
KR20160030848A (ko) 스크라이브 장치, 스크라이브 방법 및 홀더 유닛
TW201808842A (zh) 鑽石工具
JP2008100389A (ja) ダイヤモンドスクライバ

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees