TWI715509B - 具有限制過轉機構之動態測試模組 - Google Patents

Abstract

本發明係有關於一種具有限制過轉機構之動態測試模組，包括有一動態翻轉機構以及一限制過轉機構。動態翻轉機構係用以進行動態翻轉測試；限制過轉機構包括一旋轉軸以及一基座，旋轉軸具有複數引導槽，基座上設置有一滑軌，可供位於滑軌上之一前擋塊、一後擋塊及一滑移件進行滑移作動。當旋轉軸旋轉作動時，滑移件受導柱之引導帶動，依旋轉軸旋轉方向的不同朝向前擋塊或朝向後擋塊滑移作動。藉此，本發明可將旋轉軸之轉動動能轉換為滑移件之線性位移，並透過前擋塊與後擋塊之阻隔，進而限制動態測試模組之最大極限旋轉角度，有效防止動態測試模組超過設定最大旋轉角度。

Description

具有限制過轉機構之動態測試模組

本發明係關於一種具有限制過轉機構之動態測試模組，尤指一種適用於測試機台之具有限制過轉機構之動態測試模組。

運動感測器(motion sensor，或稱動態感測器)係一種可將運動狀態(例如傾斜角度)轉換為相對應電子訊號的元件，其逐漸普遍應用於現代的電子或機電裝置中，例如遊戲控制器、行動電話、數位音樂播放器(MP3)、照相機、個人數位助理(PDA)，可實施各種運動(例如翻轉、加速、旋轉等)相關的應用，以促進使用上的真實性、便利性或功能多樣性。現今的運動感測器一般係以半導體製程技術再配合機電技術製作為積體電路。如同一般的積體電路，對已封裝完成之運動感測器需進行最終測試(final test)，以確保其功能的正確性。於測試時，除了進行功能及電氣參數的測試外，還要測試其運動狀態的正確性。

請參閱圖8，係習知翻轉測試模組之立體圖。如圖所示，習知技術如台灣專利公開號第TW 201031935A1號所公開之「翻轉測試模組及其測試系統」中，翻轉測試模組9主要包括有一第一翻轉機構921及一第二翻轉機構922，第一翻轉機構921受第一驅動裝置931(例如步進馬達)之控制而得以繞第一軸向 (如圖式之Y軸)作翻轉；第二翻轉機構922(設於第一翻轉機構921內部)，其受第二驅動裝置932(例如步進馬達)之控制而得以繞第二軸向(如圖式之X軸)作翻轉。容置於插槽90的受測元件藉由元件介面板而固定於第二翻轉機構921上。受測之運動感測器可根據需求作單一或連續不同角度之翻轉，並將各種翻轉狀態之輸出訊號藉由傳輸線91傳送至一測試機台。

然而，習知技術之翻轉測試模組9在進行測試時，其翻轉圈數或翻轉角度皆會因牽動傳輸線91的因素而受到限制，若在無設置限制過轉機構的狀態下，容易因人為誤設定或機台誤作動而造成翻轉機構超過設定最大旋轉角度，因而使第一驅動裝置931及第二驅動裝置932過轉而拉扯傳輸線91，使其受損或出現異常狀況。

發明人緣因於此，本於積極發明之精神，亟思一種可以解決上述問題之具有限制過轉機構之動態測試模組，幾經研究實驗終至完成本發明。

本發明之主要目的係在提供一種具有限制過轉機構之動態測試模組，藉由限制過轉機構的設置，其利用簡易的機構設計，將旋轉軸之旋轉作動轉換為線性滑軌上之線性運動後，進行動態翻轉機構之旋轉圈數限制，有效防止機構過轉時之排線損傷之問題，增進動態測試模組之使用年限。

為達成上述目的，本發明之具有限制過轉機構之動態測試模組包括有一動態翻轉機構以及一限制過轉機構。動態翻轉機構連接一驅動模組，具有一可容納至少一受測元件之容置空間，用以進行動態翻轉測試；限制過轉機構包括一連接動態翻轉機構之旋轉軸以及一架設於旋轉軸上方之基座，旋轉軸具有 複數引導槽，基座上設置有一滑軌，可供位於滑軌上之一前擋塊、一後擋塊及一滑移件進行滑移作動，滑移件連接一容設於引導槽之導柱。

其中，當旋轉軸旋轉作動時，滑移件受導柱之引導帶動，依旋轉軸旋轉方向的不同朝向前擋塊或朝向後擋塊滑移作動。藉由上述設計，本發明可將旋轉軸之轉動動能轉換為滑移件之線性位移，並透過前擋塊與後擋塊之阻隔，進而限制動態測試模組之最大極限旋轉角度，有效防止動態測試模組超過設定最大旋轉角度。

上述前擋塊及後擋塊可為可調式擋塊，依不同需求定位於滑軌之特定位置處。藉此，可方便使用者調整動態測試模組之極限旋轉角度，防止驅動模組因過轉而拉扯排線。

上述前擋塊及後擋塊可分別具有至少一鎖固件，用以分別對應鎖固於滑軌所開設之複數定位孔中。藉此，可方便使用者將前擋塊及後擋塊分別鎖固於滑軌之特定位置處，有助於二擋塊進行調整與固定。

上述前擋塊及後擋塊可分別設置有一油壓緩衝器，用以吸收滑移件碰撞時之衝擊力，有效避免滑移件與前擋塊或後擋塊碰撞損壞。

上述前擋塊及後擋塊之兩側可分別設置有至少一接近感應器。藉此，本發明可即時偵測前擋塊及後擋塊之所在位置，確認是否有隨旋轉軸之轉動同步產生線性位移，防止裝置出現異常狀態，可隨時控制動態測試模組停機。

上述前擋塊及後擋塊上可分別設置有至少一接觸感應器。藉此，當滑移件已碰觸到位於前擋塊及後擋塊上之接觸感應器時，可即時發出訊號提醒，避免產生額外的撞擊力道，增加限制過轉機構及動態測試模組之使用壽命。

上述旋轉軸可更套設一煞車模組。藉此，可透過煞車模組對於旋轉軸進行減速之動作，調整旋轉軸之轉動速率。

以上概述與接下來的詳細說明皆為示範性質是為了進一步說明本發明的申請專利範圍。而有關本發明的其他目的與優點，將在後續的說明與圖示加以闡述。

1:動態測試模組

2:動態翻轉機構

21:容置空間

22:針測板

3:限制過轉機構

31:旋轉軸

311:引導槽

32:基座

321:滑軌

322:定位孔

33:前擋塊

331:鎖固件

34:後擋塊

341:鎖固件

35:滑移件

351:導柱

352:滑塊

4:油壓緩衝器

51:接近感應器

52:接觸感應器

6:煞車模組

7:驅動模組

71:驅動馬達

8:控制器

9:翻轉測試模組

90:插槽

91:傳輸線

921:第一翻轉機構

922:第二翻轉機構

931:第一驅動裝置

932:第二驅動裝置

L1:間距

L2:間距

圖1係本發明一較佳實施例之具有限制過轉機構之動態測試模組之立體圖。

圖2係本發明一較佳實施例之限制過轉機構之剖視圖。

圖3係本發明一較佳實施例之限制過轉機構之局部分解圖。

圖4係本發明一較佳實施例之限制過轉機構之俯視圖。

圖5A及圖5B係本發明一較佳實施例之限制過轉機構之剖視作動圖。

圖6A及圖6B係本發明一較佳實施例之限制過轉機構之調整前、後擋塊位置之剖視示意圖。

圖7係本發明一較佳實施例之翻轉測試模組之控制作動之示意圖。

圖8係習知翻轉測試模組之立體圖。

請參閱圖1及圖2，其分別為本發明一較佳實施例之具有限制過轉機構之動態測試模組之立體圖以及限制過轉機構之剖視圖。圖中出示一種具有 限制過轉機構之動態測試模組1，其包括有一動態翻轉機構2以及一限制過轉機構3，係用以測試一受測元件之翻轉運動，在本發明中該受測元件一般係為封裝後之動態感測器(Motion sensor)，並藉由限制過轉機構3的設置進行動態翻轉機構2之旋轉圈數限制，有效防止機構過轉時之排線損傷問題，增進動態測試模組1之使用年限。

在本實施例中，動態翻轉機構2連接一驅動模組7，其包括一驅動馬達71，用以提供動態翻轉機構2所需之旋轉動能，本實施例之驅動馬達71係為直接驅動式馬達(Direct Drive Motor)，其具有高轉矩之特性。所述動態翻轉機構2係為一可供翻轉之承載構件，其具有可容納受測元件之容置空間21，該受測元件可裝載於一針測板22上，並可利用排線將即時的測試訊息回傳至一測試機台，確保其動態功能之正確性。

請一併參閱圖3及圖4，其分別為本發明一較佳實施例之限制過轉機構之局部分解圖以及俯視圖。在本實施例中，限制過轉機構3主要包括一旋轉軸31、一基座32以及一套設於該基座32之煞車模組6，旋轉軸31具有複數引導槽311，係與動態翻轉機構2相連接並使二者可同步旋轉作動，旋轉軸31及動態翻轉機構2之旋轉動能係由驅動模組7所供給，而旋轉軸31及動態翻轉機構2之煞車力則是由煞車模組6所產生，並可依需求調整旋轉軸31之轉動速率。基座32係架設於旋轉軸31之上方，設置有一滑軌321，該滑軌321上方承載有一前擋塊33、一後擋塊34以及一滑移件35。在本實施例中，前擋塊33與後擋塊34係為可調式擋塊，依不同需求定位於滑軌321之特定位置處，且分別具有四鎖固件331,341，可在特定位置處分別對應鎖固於滑軌321所開設之定位孔322中。藉此，上述設計將有助 於前、後擋塊33,34進行調整與固定，方便使用者設定動態測試模組1之極限旋轉角度，防止驅動模組因過轉而拉扯排線。

此外，所述滑移件35係組設有一導柱351，該導柱351係容置於引導槽311內，可順著引導槽311進行引導作動。滑移件35另以二滑塊352滑設於滑軌321上，使滑移件35可受引導槽311之引導作動，同時又可在滑軌321上進行線性滑動。請一併參閱圖5A及圖5B，其分別為本發明一較佳實施例之限制過轉機構之剖視作動圖，亦即，當旋轉軸31旋轉作動時，滑移件35受導柱351之引導帶動，依旋轉軸31旋轉方向的不同可朝向前擋塊33或朝向後擋塊34滑移作動，圖5A之滑移件35係移動至後檔塊34之位置，圖5B之滑移件35係移動至前檔塊33之位置。

再者，回到圖4及請一併參閱圖7，本案除了藉由前擋塊33及後擋塊34作為動態翻轉機構2過轉時之阻擋保護塊之外，亦在前擋塊33及後擋塊34之兩側分別設置有四個接近感應器51，故可即時偵測滑移件35之所在位置，確認滑移件35是否有隨旋轉軸31之轉動同步產生線性位移，如圖7所示，若一控制器8接收到四個接近感應器51發出的訊號，且每一接近感應器51所發出的訊號並未產生變化(受滑移件35之阻擋與否)，即代表四個接近感應器51無偵測到滑移件35於前、後檔塊33,34間移動，控制器8會發出訊號通知驅動模組7停止旋轉動態翻轉機構2，同時控制器8會啟動煞車模組6，可控制動態測試模組1即時停機。此外，為了進一步減少前擋塊33及後擋塊34受滑移件35撞擊之力道，本發明更在前擋塊33及後擋塊34上分別設置有一接觸感應器52以及一油壓緩衝器4。藉此，當滑移件35已碰觸到位於前擋塊33及後擋塊34上之接觸感應器52時，可即時發出訊號通知控制器8，驅動模組7停止提供旋轉動力至動態翻轉機構2，同時控制器8亦 啟動煞車模組6令其動態翻轉機構2即時停機，以避免動態翻轉機構2因過轉而拉扯排線，再者亦可防止產生額外的撞擊力道，若不幸仍有部分撞擊力道加諸於前擋塊33或後擋塊34時，仍可透過油壓緩衝器4來吸收化解，增進限制過轉機構3及動態測試模組1之使用壽命。

請參閱圖6A及圖6B，其分別為本發明一較佳實施例之限制過轉機構之調整前、後擋塊位置之剖視示意圖。如圖6A所示，本實施例之前擋塊33及後擋塊34之間距為L1；如圖6B所示，經調整後，本實施例之前擋塊33及後擋塊34之間距為L2。其中，間距L1係大於間距L2，亦即，在圖6A的狀態下動態翻轉機構2及旋轉軸31之旋轉圈數係大於在圖6B的狀態下動態翻轉機構2及旋轉軸31之旋轉圈數，故藉由調整前、後檔塊33,34之間距，可改變動態測試模組1之最大旋轉圈數。

上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。

1:動態測試模組

2:動態翻轉機構

21:容置空間

3:限制過轉機構

31:旋轉軸

32:基座

321:滑軌

33:前擋塊

34:後擋塊

35:滑移件

6:煞車模組

7:驅動模組

71:驅動馬達

Claims (7)

1. 一種具有限制過轉機構之動態測試模組，包括有：一動態翻轉機構，連接一驅動模組，具有一可容納至少一受測元件之容置空間，用以進行動態翻轉測試；以及一限制過轉機構，包括一連接該動態翻轉機構之旋轉軸以及一架設於該旋轉軸上方之基座，該旋轉軸具有複數引導槽，該基座上設置有一滑軌，可供位於該滑軌上之一前擋塊、一後擋塊及一滑移件進行滑移作動，該滑移件連接一容設於該引導槽之導柱；其中，當該旋轉軸旋轉作動時，該滑移件受該導柱之引導帶動，依該旋轉軸旋轉方向的不同朝向該前擋塊或朝向該後擋塊滑移作動。
2. 如請求項1所述之具有限制過轉機構之動態測試模組，其中，該前擋塊及該後擋塊係為可調式擋塊，依不同需求定位於該滑軌之特定位置處。
3. 如請求項2所述之具有限制過轉機構之動態測試模組，其中，該前擋塊及該後擋塊分別具有至少一鎖固件，用以分別對應鎖固於該滑軌所開設之複數定位孔中。
4. 如請求項1所述之具有限制過轉機構之動態測試模組，其中，該前擋塊及該後擋塊分別設置有一油壓緩衝器，用以吸收該滑移件碰撞時之衝擊力。
5. 如請求項1所述之具有限制過轉機構之動態測試模組，其中，該前擋塊及該後擋塊之兩側分別設置有至少一接近感應器，用以偵測該滑移件是否於該前擋塊及該後擋塊間移動。
6. 如請求項1所述之具有限制過轉機構之動態測試模組，其中，該前擋塊及該後擋塊上分別設置有至少一接觸感應器。
7. 如請求項1所述之具有限制過轉機構之動態測試模組，其中，該旋轉軸更套設一煞車模組。

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