JP2005523445A - テストヘッド位置決めシステム - Google Patents

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Abstract

テストヘッドを位置決めするための架台作動装置である。テストヘッドは3つの自由度を規定する支持構造物と、第1のロックと、第2のロックとを備える。3つの自由度は第1のロックと第2のロックを作動することによって防止される。

Description

本発明は電子テストヘッド位置決め装置の分野に関する。特に、テストヘッドを複数の自由度で操作できるテストヘッド位置決め装置に関するものである。
集積回路(IC)および他の電子装置の自動テストにおいては、特別な機械(以後、「周辺装置」と呼ぶ)が使用され、これは、テストされる装置を自動テストシステムによりテストするために、位置的に配置するものである。周辺装置にはウェハープローバーやパッケージハンドラーなどが含まれ、使用される周辺装置の特定の形体はそれが使用される製造段階により決まる。電子テスト自体は大きくて高価な自動テストシステムによって行われ、該システムは周辺装置と接続および連結されることが必要であったテストヘッドを有している。このようなテストシステムでは、テストヘッドは、通常、40〜1000キログラム単位の非常に重いものであった。この重さの理由は、テストヘッドは正確な高速電子タイミング信号とともに他のデータ信号を使用し、このため電子回路をテスト中のデバイスに可能な限り接近して配置しなければならないからである。従って、テストヘッドは、精巧なデバイスの高速テスト処理を実現するために、電子回路が高密度にパッケージ化されたものであった。
テストヘッド位置決めシステムは周辺装置に関連してテストヘッドを位置決めするために使用することができる。テストヘッドが周辺装置に対して位置的に正確であるときは、テストヘッドと周辺装置とはアライン(直線配置)されたと呼ばれる。テストヘッドと周辺装置とがアラインされると、壊れやすいテストヘッドと周辺電気コネクタとが結合(即ち、連結)されることができ、テストヘッドと周辺装置間でのテスト信号の転送を可能とする。連結する前に、壊れやすいテストヘッドと周辺電気コネクタとは、壊れやすい電気コネクタを破損することを避けるために、正確に直線配置されなければならない。
このような壊れやすい電気コネクタの正確な直線配置を可能にするために、電子テストヘッド位置決め装置は、典型的には、テストヘッドを6自由度で空間を移動させることを容易にするものである。図9に示すように、動きの6自由度が規定される。本発明の実施例による位置決め装置はこれら動きの6自由度を達成している。図9は、左右方向の動きであるX軸方向の動きと、上下方向の動きであるY軸方向の動きと、内外方向の動きであるZ軸方向の動きと、Y軸の回りを回る動きであるシータ(Θ)動きと、X軸の回りを回る動きであるピッチ動きと、Z軸の回りを回る動きであるロール動きとを図示している。
さらに、テストヘッド位置決め装置はまた、典型的には、テストヘッドに対して実質無重量または意のままになる状態を提供し、テストヘッドは各自由度に対して手動で操作可能であり、周辺装置に関してテストヘッドの正確な連結および分離が実現される。電子テストヘッド位置決め装置の例がSmithによる先行特許(米国特許 No. 4,527,942)に開示されており、ここでは参照のため導入されている。この特許は、テストヘッドが実質無重力状態となり、6自由度で移動を可能とする位置決め装置構成体を開示している。
6自由度を提供するために、テストヘッドは架台構成体に取り付けられ、該架台構成体はテストヘッド用のU形状のホルダーであってもよい。架台構成体は、米国特許 No. 4,527,942、Smithによる特許(米国特許 No. 4,705,447)、およびHoltによる特許(米国特許 No. 5,450,766)に開示されている。架台は典型的には必要な自由度のうち少なくとも2つを規定する。テストヘッドを保持するために架台が使用された場合、架台を周辺装置と連結された後の場所に容易且つ迅速に連結することに問題があった。
本発明によれば、テストヘッドを位置決めするための架台作動装置は、3自由度を規定する支持構造物と、第1のロックと、第2のロックとを備える。3自由度は前記第1のロックと第2のロックを作動することにより防止される。
位置決めシステム150の詳細が図1A及び図1Bに示され、同図において支柱102が設けられている。支柱102の詳細は、例えば、ここで参照導入された2000年1月12日出願の出願番号PCT/US/00/00704であって2000年7月20日付公開の特許出願WO00/41536に開示されている。
図示のように、支柱102の前面上には、垂直レール104が支柱102の前面に取り付けられている。垂直レール104は、例えば、支柱102の長手方向に延在している。図1Bと2Cを参照して、さらに以下に記載するように、アーム装置100が垂直支持部、即ち、時々垂直移動プレート108と呼ばれるメインアーム構造108に連結され、アーム装置100は垂直レール104に沿って上下方向に移動することができる。図1Aに示すように、垂直移動プレート108が垂直レール104に沿って上下方向に移動するときにその移動範囲を制限するために、垂直レール104の上限および下限位置に適当なバンパー107A〜107Dを設けても良い。
垂直移動ボールスライド部105は垂直レール104と契合して垂直レール104上を摺動する。図2Aと2Cを参照して、垂直移動プレート108が垂直移動ボールスライド部105に取り付けされている。これにより、垂直移動ボールスライド部105が垂直レール104上を摺動するときに、垂直移動プレート108もまた垂直移動ボールスライド部105とともに上下方向に移動する。
複数のケーブル106が垂直移動プレート108に取り付けられている。ケーブル106を垂直移動プレート108に取り付ける手段は図示していないが、この取り付けは当業者に公知の方法で実現できる。これらケーブルは滑車体922で受け止められている。ケーブルは滑車体922を跨って延び、支柱102内に配置された逆加重システム(図示せず)内に下降している。逆加重システムの例は米国特許 No. 4,527,942と米国特許 No. 5,450,766に開示されている。
前述のように、垂直移動プレート108はケーブル106に取り付けられている。従って、垂直移動プレート108は、また、それの逆バランスシステムへの取り付けをケーブル106を介して行うことにより、実質無重力状態で上下方向に移動することができる。
図2A〜2Cを参照して、垂直移動プレート108についてさらに詳細に説明する。垂直移動プレート108は垂直移動ロック機構110を有し、このようなロック機構として、2000年1月12日出願の出願番号PCT/US/00/00704であって2000年7月20日付公開特許出願WO00/41536に開示されているようなロック機構が利用できる。
低摩擦の水平横方向の移動を実現するために、垂直移動プレート108は上部スロット108aおよび下部スロット108bを有する。レール保持部112a,bがそれぞれスロット108a,b内に設けられている。レール保持部112a,bはL形状の部材であり、垂直移動プレート用スロット108a,bを介して垂直移動プレート108の垂直面に取り付けられることで、それぞれの水平面を提供する。このように、レール保持部112aは2つの水平面112c,112dと上方向に向いた面112cと下方向に向いた面112dとを形成している。同様に、レール保持部112bは2つの水平面112e,112fと上方向に向いた面112eと下方向に向いた面112fとを形成している。図示の実施の形態では、水平レール114aは、レール保持部112aの上向き水平面112c上に設けられて上方向に向いている。水平レール114bは、レール保持部112bの下方向に向いた水平面112fに取り付けられている。これにより、水平レール114bは下向きに突出している。レール114aと114bは互いに実質平行であり、レール保持部112a,112bを介して垂直移動プレート108に連結されている。
ボールスライド部116aは、レール114aと契合しレール114a方向に摺動する一対のベアリングである。即ち、ボールスライド部116aはレール114aの上部に設けられている。さらに、ボールスライド部116bは、レール114bと契合した一対のベアリングである。即ち、ボールスライド部116bはレール114bの下部に設けられている。よって、ボールスライド部116bはレール114b方向に摺動する。ボールスライド部105,116a,b、レール104,114a,bは、例えばNSK会社で製造されている。ボールスライド取付板118a,bもまた含まれている。ボールスライド取付板118aはボールスライド部116aの上部に取り付け配置されている。ボールスライド取付板118bはボールスライド部116bの下部に取り付け配置されている。
肘状据付台プレート120が含まれている。本発明の実施例では、肘状据付台プレート120は、ボールスライド取付板118aからボールスライド取付板118bまで延在する単板である。本発明の他の実施例では、肘状据付台プレート120は、単板の代わりに、ボールスライド取付板118aと118bにそれぞれ止着された2個の分離した肘状据付台プレート部分に置き換えることもできる。さらに他の実施例では、ボールスライド取付板118aと118bと肘状据付台プレート120はすべて単一の鋳物で合体してもよい。
このように、肘状据付台プレート120はボールスライド部116a,bとともに水平に横方向に摺動する。以下に説明するように、肘状据付台プレート120はテストヘッドの荷重を支える。これにより、4つのボールスライド部116a,bは負荷の水平移動を行うとともに負荷の荷重及びトルクを支える。水平で横方向の移動に対抗する摩擦は、ボールスライド部116a,bに関係する摩擦により決定され、次にそれらのそれぞれの荷重と方向定位により決定される。本発明者は、2本のレール114a,bを垂直方向に突起するように水平面上に設けることにより、摩擦は、レールを水平方向に突起するように設ける時に受ける摩擦に比べてかなり低減されることを発見した。他の実施例では、レール114aは下方に突起するようにレール保持部112aの下方向きに面している水平面112d上に設けてもよく、同様に、レール114bは上方に突起するようにレール保持部114bの上方向きに面している水平面112e上に設けてもよい。更に他の実施例として、レール112a,bをそれら両方とも上向きまたは下向きに突起するように設けることが可能であることは明らかである。
肘状据付台プレート120はロック突部126を有する。ロック棒128は、好ましくは、ボールスライド取付板118aの上面に取り付けられる。ロック棒128にはロック突部126内に形成された開口と一致するスロットが形成されている。これにより、ロック130はロック突部126内の開口を通り、さらにロック棒128内のスロットを通って延在している。ロック130が作動されると、摩擦がロック棒128の内面に付加され、ロック棒128に対する肘状据付台プレート120の移動が防止される。
ストッパー152が肘状据付台プレート120の背後に任意に配置されている。スロット115Eがレール保持部112bの端部に沿って形成されている。これにより、肘状据付台プレート120が横方向に摺動するときに、ストッパー152はレール保持部112b内に形成されたスロット内を摺動する。これにより、垂直移動プレート108に対する肘状据付台プレート120の移動をさらに制御している。
上部ベアリングブロック122aが、肘状据付台プレート120の上部に取り付けられて延在している。下部ベアリングブロック122bが、肘状据付台プレート120の下部に取り付けられて延在している。上部ベアリングブロック122aと下部ベアリングブロック122bは、一致する開口を有している。図2Cは上部ベアリングブロック122a内の開口121の位置を示す。下部ベアリングブロック122b内の一致する開口は図示されていない。円筒体124は上部ベアリングブロック122aと下部ベアリングブロック122b間に配置されている。円筒体124は、上部ベアリングブロック122aと下部ベアリングブロック122b内に含まれた一致する開口内で回転する。
円筒体124の下端部には円筒体突部132が配置されている。円筒体突部132はロック154を収容する開口を有する。下部ベアリングブロック122bはロック154を収容する円弧状スロット156を有する。これにより、ロック154は円筒体突部132とロックスロット156を通過して延在している。ロック154を作動させることにより、円筒体124の回転動作を防止するために、摩擦がロックスロット156を介して下部ベアリングブロック122bの底面に沿って与えられる。
下部ベアリングブロック122bはまた任意のバンパースロット(図示せず)を備えても良い。また、任意のバンパーを円筒体突部132の底面に付加してもよい。これにより、円筒体突部132が回転するときに、任意のバンパーが任意のバンパースロットに沿って移動することができ、これにより任意のバンパーとバンパースロットが円筒体124の回転時の移動範囲を制限することを可能にしている。
円筒体124は前腕部202に取付けられるか、または前腕部202を備える。前腕部202は図2Cと図3により明確に図示されている。前腕部202の上部にギアボックス204が設けられている。ギアボックス204内の歯車は連結シャフトによりクランク206を介して回転される。クランク206が回転するときに、ギアボックス204内の歯車が回転して、ギアボックス204の外部に延在するギアボックスシャフト(見えない)の回転を引き起こす。ギアボックスシャフトは、クランク206の回転により直接回転される連結シャフトと直交している。滑車218がギアボックスシャフトに装着されている。これにより、クランク206の回転により滑車218が回転する。ベルト216がまた滑車210と契合している。滑車210は、前腕円筒体208内にあって前腕円筒体208の前面から裏面に延びる駆動シャフト(図示せず)に装着されている。架台据付フランジ211が前腕円筒体208の前面で駆動シャフトに装着され、滑車210は前腕円筒体208の後方で駆動シャフトに装着されている。これにより、クランク206が回転すると、滑車218が回転する。滑車218の回転によりベルト218が移動する。ベルト216の移動により、滑車210と見えない駆動シャフトと架台据付フランジ211が回転する。
例えば、図1Bと4Aに示す架台220は架台据付フランジ211に取り付けられている。これにより、架台据付フランジ211が回転すると、架台220もまた回転する。ブラケット212が滑車210の後部に取り付けられている。ケーブルトロウェル214がブラケット212に取り付けられている。これにより、テストヘッドをテストシステムキャビネット(図示せず)に接続するケーブルは、テストシステムキャビネット(図示せず)に到達する前に、テストヘッドからケーブルトロウェルを通って伸張している。このように、クランク206を回転させることにより、ケーブルはケーブルトロウェル214内を架台220の回転とともに動くことができる。
テストヘッドの負荷が架台220に装着されると、それはボールスライド取付板118a,118b、前腕部202を含む多数の水平支持構造体を介して垂直移動プレート108に連結される。ボールスライド部116a,116bもまた水平支持構造体をレールに連結し、水平支持構造体は垂直移動プレートに対して水平に配置される。
ここで図4A−C,6Aを参照して、架台220に関してさらに詳細部が示されている。架台220は架台後部410と架台側部420A,420Bを備える。コーナーブラケット430が設けられ、架台側部420A,420Bを架台後部410に取り付けている。
図1B,4A−Cに示すように、架台作動装置500は架台420に備えられ、架台作動装置500は、テストヘッドが固定され保持されるテストヘッド取付ブロック525を有する。架台作動装置500はn自由度を規定する。一実施例では、それは次に述べる3つの自由度を規定している。即ち、第1は、平行前進・後退移動が、架台側部420A,420Bと実質平行な第1の平行移動軸(内外方向の軸)547の方向に得られる。第2は、取付ブロック525と直交する第2の軸(タンブル軸)548の回りの回転またはピッチ動作として公知のピボット動作である。第3は、内外方向の軸547とタンブル軸548の両方に直交する第3の軸(シータ軸)549の回りのシータ軸回転動作として公知のピボット動作である。これら3自由度は、テストヘッドが内部方向及び外部方向に移動し、タンブル軸およびシータ軸の回りに必要に応じて同時または別々にピボット動作をすることを可能にしている。
一実施例では、タンブル軸とシータ軸の一方または両方は、テストヘッドおよびそれと関連の負荷の略重心を通過するように構成してもよい。これにより、このように配置された軸の回りの回転を平衡状態とすることができ、その軸に関して実質無重力状態を得ることができる。レール104とボールスライダ105により得られる垂直移動と、レール114a,bとボールスライダ116a,bにより得られる水平移動と、架台取付フランジ211により得られる回転動作により、テストヘッドの位置決めに必要なさらに3つの自由度(2個の平行移動と1個の回転)が得られる。(ギアボックス内のバックラッシュ及び・または滑車218,210およびベルト216のシステムは、第3の回転自由度におけるコンプライアンスを提供するのに使用してもよい。一実施例では、滑車210は、滑車210内に拡大された解除穴を通過する3つのねじでシャフト(図示せず)に装着され、滑車210がシャフト(図示せず)に対して回転的にスリップすることを可能にしている。)
以下の説明では、架台220と装着された架台作動装置500は、クランク206と架台据付フランジ211とにより180°以上で回転可能であることに留意すべきである。しかし、議論を簡単にするために、上方と下方、上部と下部、底部と頭部等の用語は、図示の方向性における機構を説明するために単に使用されているにすぎない。
架台作動装置500の概観とそれの架台側部420Aとの関係性について図6B,図7を参照して以下に説明する。スライドアーム510は、架台側部420Aに実質平行に配置されたレール670とボールスライド770とによって架台側部420Aに摺動可能に装着されている。これにより、摺動アーム510は内外方向の軸547に沿った平行移動を行っている。カムフォロワーブロック640はピボットベアリング650により摺動アーム510に回転可能に装着されている。このように、カムフォロワーブロック640は回転軸548を回る回転運動を規定している。取付ブロック525と頭部及び下部ガイドブロック520,522より成る取付装置は、カムフォロワー610a,fによりカムフォロワーブロック640と連結されている。この装着装置はシータ軸549の回りの回転を規定するために配置されている。これらの特徴と性能について以下にさらに詳述する。
架台作動装置500の架台220への取付は図6Bにより明確に示されている。ここでは、特に、架台側部420Aが示されている。ロックブロック540はロックシャフト543Aが挿入される開口を有する。図示のように、ロックシャフト543Aは自在継手544Aにより連結シャフト545Aと連結されている。連結シャフト545Aは次に自在継手544Bにより据付スタッド546Aに連結されている。据付スタッド546Aはナット547Aにより接続ブラケット518Aに連結されている。接続ブラケット518Aは、ねじ519により上部ガイドブロック520に取り付けられている。ロックねじ541Aは、ロックシャフト543Aがロックブロック540内に形成された開口内で移動することを防止するために機能することができる。上部ガイドブロック520の下部側はプレート即ちテストヘッド取付ブロック525の上部側に装着されている。テストヘッド取付ブロック525は穴526を有する。テストヘッド取付ブロック525をテストヘッドに取り付けるために、ねじが穴526に挿入される。
テストヘッド取付ブロック525は、その上面が上部ガイドブロック520の下面に固定装着されている。テストヘッド取付ブロック525は、その下面が下部ガイドブロック522の上面に固定装着されている。下部ガイドブロック522は円弧状シータガイドスロット622を有する。また、上部ガイドブロック520は同様の円弧状シータガイドスロット(図示せず)を有し、該スロットはシータガイドスロット622に面し、対向している。上部ガイドブロック520とテストヘッド取付ブロック525と下部ガイドブロック522は剛体のガイドブロック構造を構成している。一実施例では、ガイドブロック構造全体は架台の側部と負荷との間に位置する。別の実施例では、負荷の大きさはガイドブロック構造の大きさよりも小さくして、ガイドブロック構造の部分だけが架台の側部と負荷との間に位置する構成としてもよい。このような例では、少なくともガイドブロック構造の部分は架台と負荷との間に位置する。ガイドブロック構造は、それが架台と負荷との間に位置する平面内にあって架台と負荷との間の空間と交差する限り、架台の側部と負荷との間に位置するものと見なされる。
カムフォロワーブロック640が備えられている。それはテストヘッド取付ブロック525に隣接し、それらは、上部ガイドブロック520と下部ガイドブロック522間にトラップされ、後述するように、タンブル軸548の回りを共に回転し、内外方向の軸547に沿って共に移動可能である。取付ブロック525とガイドブロック520,522より成る固定ガイドブロック構造は、カムフォロワーブロック640に関して移動可能である。特に、後述するように、カムフォロワーブロック640はシータ軸549の回りに回転できないが、固定ガイドブロック構造はシータ軸549の回りに回転可能としてもよい。
カムフォロワーブロック640もまた架台の側部と負荷との間に位置している。カムフォロワーブロック640は、それが架台と負荷との間に位置する平面内にあって架台と負荷との間の空間と交差する限り、架台の側部と負荷との間に位置するものと見なされる。カムフォロワーブロック640はそれに装着された複数のカムフォロワー610a〜fを備える。以下に述べる追加のカムフォロワーは図示されていない。カムフォロワー610aはカムフォロワーブロック640の上部から突き出ている。カムフォロワー610eとその他のカムフォロワー(図示せず)はカムフォロワーブロック640の底部から突き出ている。これにより、カムフォロワー610eと図示していないその他のカムフォロワーはシータガイドスロット622内を摺動する。同様に、カムフォロワー610aは上部ガイドブロック520内に形成されたシータガイドスロット内を摺動する。さらに、(図6c及び図7に示す)追加のカムフォロワー610b〜eは、架台側部420A方向に面するカムフォロワーブロック640の側部から突き出ている。カムフォロワー610bと610cは、上部ガイドブロック520の下面上を下面に沿って移動する。カムフォロワー610dと610fは、下部ガイドブロック522の上面上を上面に沿って移動する。
カムフォロワーブロック640はアーム515を有する。テストヘッド負荷がタンブル軸548の回りを回転すると、テストヘッドの動きは、以下に述べるように、テストヘッド取付ブロック525を介してアーム515に伝わる。上述のように、テストヘッドはテストヘッド取付ブロック525に固定装着されている。テストヘッド取付ブロック525は上部ガイドブロック520と下部ガイドブロック522に装着されている。従って、テストヘッドがタンブル軸548の回りを回転すると、テストヘッド取付ブロック525もタンブル軸548の回りを回転する。上部及び下部ガイドブロック520,522はテストヘッド取付ブロック525に装着されているので、それらはテストヘッド取付ブロック525のタンブル軸回転とともに回転する。
また、上述のように、カムフォロワー610bと610cは、カムフォロワーブロック640の前面上部から水平に突出して、上部ガイドブロック520の下面を押圧している。同様に、カムフォロワー610dと610fは、カムフォロワーブロック640の前面下部から水平に突出して、下部ガイドブロック522の上面を押圧している。従って、テストヘッド取付ブロック525がタンブル軸548の回りを時計方向に回転するときは、取付ブロック525の時計方向の回転により、上部及び下部ガイドブロック520,522は時計方向に回転して以下の動作が行われる。上部ガイドブロック520の下面がカムフォロワー610bを下方に押圧し、下部ガイドブロック522の上面がカムフォロワー610fを上方に押圧する。カムフォロワー610bと610fはカムフォロワーブロック640に装着されているので、カムフォロワー610bが下方に移動しカムフォロワー610fが上方に移動するときに、カムフォロワーブロック640はタンブル軸548の回りを時計方向に回転する。
逆に、テストヘッド取付ブロック525がタンブル軸548の回りを反時計方向に回転するときは、上部及び下部ガイドブロック520,522は反時計方向に回転して以下の動作が行われる。上部ガイドブロック520の下面がカムフォロワー610cを下方に押圧し、下部ガイドブロック522の上面がカムフォロワー610dを上方に押圧する。カムフォロワー610cと610dはカムフォロワーブロック640に装着されているので、カムフォロワー610cが下方に移動しカムフォロワー610dが上方に移動するときに、カムフォロワーブロック640は回転軸548の回りを反時計方向に回転する。よって、カムフォロワーブロック640が回転可能である限り、テストヘッドはタンブル軸の回りをどちらかの方向に回転することができる。
テストヘッドがシータ回転軸の回りを回転すると、テストヘッド取付ブロック525と上部ガイドブロック520と下部ガイドブロック522(即ち、ガイドブロック構造)は、カムフォロワー610aが上部ガイドブロック520の下面内のシータガイドスロット内に挿入されることと、カムフォロワー610eおよび図示していないカムフォロワーが下部ガイドブロック522内のシータガイドスロット622内に挿入されることにより、案内される。ガイドブロック構造がシータ回転軸549の回りを回転するときは、カムフォロワーブロック640とアーム515はシータ回転軸549の回りを回転しない。その代わりに、カムフォロワーブロック640とアーム515は架台側部のアーム420Bと略平行状態となっている。同様に、下記のように、動きを伝える摺動アーム510は、架台側部420Aと略平行状態のままで架台側部420Aに摺動可能に装着されているので、シータ軸方向には動作しない。
架台側部420Aへの装着について述べたすべての説明は架台側部420Bへの装着動作にも適用され、また、架台側部420Bへの装着について述べたすべての説明は架台側部420Aへの装着動作にも適用されことは理解されるであろう。
要約すれば、摺動アーム510は架台側部アームに対して内外の並進動作方向にのみ移動できる。それはタンブル回転方向またはシータ回転方向には移動できない。カムフォロワーブロック640とアーム515は、架台側部420Aまたは420Bに関して内外の並進動作方向またはタンブル回転方向にともに動作できる。それらはシータ回転方向には動作できない。テストヘッド取付ブロック525と上部及び下部ガイドブロック520,522は、内外の並進動作方向、タンブル回転方向およびシータ回転方向に動作できる。
例えば図4Cに示すように、テストヘッドはタンブル軸548の回りを反時計方向に約5°回転する。テストヘッドの動きはテストヘッド取付ブロック525とアーム515に伝達され、それらは両方とも架台側部420Aに関して反時計回りに回転するように図示されている。一方、図4Bでは、テストヘッドはタンブル軸548の回りを時計方向に約5°回転する。図4Bではテストヘッドの動きはテストヘッド取付ブロック525とアーム515に伝達され、それらは両方とも架台側部420Aに関して上方向に回転するように図示されている。図5,6C,7に最も明瞭に示すように、アーム515はロック530を収納する開口516を有する。
図7に最も明瞭に示すように、カムフォロワーブロック640は動軸回転ベアリング収容部として機能する円形の開口750を有する。図6Bと図7に最も明瞭に示すように、摺動アーム510が設けられている。動軸回転ベアリング部品650を動軸回転ベアリング収容部750内に挿入することにより、摺動アーム510はカムフォロワーブロック640とアーム515に連結される。これにより、アーム515とアーム保持ブロック640は摺動アーム510に関して回転することができる。ロック530(図5参照)が穴516とスロット511内で作動すると、摺動アーム510とアーム515間での相対的なタンブル軸548の回転を防止する。
組合せにおいて、ロックブロック540とロック530により形成される2個のロックは、3自由度を防止できる2個のロックより成る。換言すれば、架台220はn自由度を可能にする支持構造物であり、ロック541と530は、それらが作動するときにはn自由度を防止する(n−1)個のロックとなる。
図7は架台側部420Bに装着される架台作動装置を示す。図7に最も明瞭に示すように、摺動アーム510には、ボールスライド770を収容するためのボールスライド据付ブラケット772が取り付けられている。従って、ボールスライド770と摺動アーム510はリニアガイドレール670に対して摺動可能である。リニアガイドレール670は順次、架台側部420Bに固定装着される。リニアガイドレール670とボールスライド770とボールスライド据付ブラケット772と摺動アーム510は摺動アーム構造を構成している。
架台作動装置500の要素が動作可能であったり動作不可であったりする方法についてさらに説明する。摺動アーム510は、架台側部420A及び420Bと略平行な内外方向の軸547方向の並進移動を行う。この並進移動は、摺動アーム510がボールスライド770に連結され、ボールスライド770がガイドレール670に沿って摺動することにより、可能となっている。摺動アーム510はガイドレール670を介して架台側部420A及び420Bと連結されているので、摺動アーム510はタンブル軸548またはシータ軸549の回りを回転することはできない。従って、並進移動が存在しない状態では、架台作動装置500の他の部分がいずれかの回転軸の回りを回転するときは、摺動アーム510は静止したままである。
アーム515は動軸回転ベアリング部品650と動軸回転ベアリング収容部750を介して摺動アーム510と連結される。従って、アーム510が内外並進方向に移動すると、アーム515もそれと共に移動する。即ち、アーム510と515は並進移動において一対の組として移動する。
上述のようなカムフォロワー610b−d,fと上部及び下部ガイドブロック520,522との作用により、アーム515とカムフォロワーブロック640とテストヘッド取付ブロック525はタンブル軸548の回りを回転できる。動軸回転ベアリング部品650と動軸回転ベアリング収容部750を備えたことにより、カムフォロワーブロック640とアーム515は架台側部420Bおよび摺動アーム510に関してタンブル軸548の回りを回転可能としている。前述のように、アーム515とカムフォロワーブロック640がタンブル軸方向に回転するときは、摺動アーム510はタンブル軸548の回りを回転しない。
摺動アーム510は動軸回転ベアリング部品650と動軸回転ベアリング収容部750を介してアーム515とカムフォロワーブロック640に連結されているが、摺動アーム510は並進方向の自由度を有するだけで架台側部420Aに装着されているので、タンブル軸方向には回転されない。上述のように、摺動アーム510とアーム515とを連結したことにより、並進軸方向にのみ一致した移動を可能としている。
ガイドブロック構造(テストヘッド取付ブロック525と上部及び下部ガイドブロック520,522)は、カムフォロワー610a,610eとガイドブロック520,522に含まれる円弧状ガイドスロット622内で動作する図示していない他のカムフォロワーにより、シータ軸方向に回転可能である。ガイドブロック構造がシータ軸方向に移動することにより、アーム515やカムフォロワーブロック640または摺動アーム510がシータ軸方向に移動することはない。摺動アーム構造は並進方向の自由度だけを有して架台側部420Aに装着されているので、回転することはできない。カムフォロワーブロック640とアーム515は、動軸回転ベアリング部品650と動軸回転ベアリング収容部750を介して摺動アーム構造と連結されているので、シータ軸549の回りに回転することはできない。
上述のように、架台側部420A及び420Bの各々には完成した架台作動装置500が取り付けられることは理解されるであろう。架台作動装置500の動作について以下に説明する。架台作動装置500の動作は、それが架台側部420Aや420Bまたはその他に取り付けられているかにかかわらず、同じ動作である。しかし、両架台作動装置500が一致して動作されるときは、それらの動作のあるものは互いに左右が逆の鏡像となるものもあるが、それらの動作のいくつかは互いに一致したものとなるであろう。架台作動装置500のこれらの特徴について以下にさらに詳述する。
テストヘッドがテストヘッド取付ブロック525に装着されると、テストヘッドは前述のように架台内を1,2または3自由度で移動できることが必要であろう。図4A−Cは架台側部420A及び420Bに装着された架台作動装置500の動きを示す。図4Aの移動架台装置は中央または移動のない位置にある。即ち、架台作動装置も装着されたテストヘッドもいずれも何ら並進移動または回転移動を受けていない。
図4Bを参照して、移動架台装置とそのテストヘッドは並進移動されていないが、シータ軸での回転とピッチまたはタンブル軸の回転を受けていることが明らかであろう。シータ軸での回転は、図6A,6B,6Cに示す円弧状シータガイドスロット622と上部ガイドブロック520の下側の円弧状シータガイドスロットとにより、案内される。シータ軸での回転は図4Bに矢印549で示すように、時計方向または反時計方向であってもよい。両円弧状シータガイドスロットの中心は上記シータ軸と一致した直線上にある。円弧状シータガイドスロットはシータ軸と直交する平面内にある同心円上に位置している。
第1の実施例では、ガイドスロットを含む円の中心によって定義されるシータ軸がテストヘッド負荷の略重心を通過するように、ガイドスロットとカムフォロワーが配置される。この実施例は、シータ軸での移動に関してテストヘッドの実質的に無重力状態を提供する観点において有利であり得る。別の実施例では、ガイドとカムフォロワーは、シータ軸とガイドを含む円の中心がテストヘッド負荷の重心に位置しないように、配置される。これは、テストヘッドのテスト位置がテストヘッドの重心近傍に位置していなくて、テスト位置の中心の回りのシータ軸での移動を行うことが望ましい場合には、有利であり得る。必要に応じて、実質的無重力状態は適当な荷重をテストヘッドに付加または削除することにより実現される。ピッチまたはタンブル軸回転は上述の部品要素により案内される。ピッチ回転は図4A,B,Cの矢印548で示されるように時計方向または反時計方向でもよい。
次に、シータ軸及びタンブル軸回転とそれに連動するロックシャフト543A,B、連結シャフト545A,B、据付スタッド546A,Bおよび自在継手544a−Dの構成における変形についてさらに詳述する。前述のように、図4Aは、内外方向の並進が0,タンブル軸回転が0およびシータ軸回転が0である名目上の位置での架台作動装置500を示す。これは「ゼロ、ゼロ、ゼロ位置」と呼ぶこともできる。図4Aの斜視図からの光学的錯覚を克服するために、図8A及び8Bは、架台側部420Bと、装着された架台作動装置500Bと、関連する部品の上面図と内部正面図をそれぞれ示す。このゼロ、ゼロ、ゼロ位置において、ロックシャフト543Bと連結シャフト545B及び据付スタッド546Bは、架台側部420Bの上面の略中心線位置にあり、架台側部420Bの上面と側面の両方に略平行である略直線上に配列されていることを重視すべきである。架台側部420Aに装着された同様の部品についても、ゼロ、ゼロ、ゼロ位置においては上記と同様に配置されている。
図4A〜4C及び図8A,8Bに示すように、取付ブロック525A,Bは架台側部420A,Bに関して3自由度で移動されるので、自在継手544B,Dはそれぞれそれらとともに移動する。ただし、自在継手544A,Cは架台側部420A,Bのそれぞれの上面上の一定の高さ位置でほぼ中心線上に位置したままである。自在継手544A,Cは、ロックシャフト543A,Bがそれぞれロックブロック540A,B内を摺動するときに、架台側部420A,Bと平行に並進のみできる構成としてもよい。取付プレート525AまたはBのそれぞれの架台側部420AまたはBに関する各特定位置として、それぞれの架台側部420AまたはBに関するそれぞれの連結棒545AまたはBの2つの端部用の空間内に特定位置がある。
シータ軸回転の説明を補完するために、テストヘッド取付ブロック525Aの2個の端部は参照番号525AAと525ABで示されている。図4Bは、テストヘッド取付ブロック525Aが時計方向に略5°だけシータ軸の回りに回転されているが、並進移動は起こっていないことを示す。このような回転は、端部525ABが架台側部420Aから幾分遠ざかるように時計方向に回転し、端部525AAが架台側部420Aに幾分近づくように時計方向に回転することを考えることにより、認識される。テストヘッド取付ブロック525Aのこのような回転は、図4Bと図4Aを比較することにより、さらに容易に認識される。この時計方向の回転は、自在継手544AとBを曲げることにより、さらに可能となる。
図4Bは、自在継手544Bが架台220の中心に向かって内部方向に移動し、その結果、連結シャフト545Aが自在継手544Aから内部方向で架台220の中心に向かっていることを示す。これに対して、架台側部420Bに装着された架台作動装置500Bに連結された自在継手544Dは、架台側部420Bの外部方向に移動している。その結果、連結シャフト545Bは、自在継手544Cから、架台220の中心から外方向に向かっている。連結シャフト545AとBの必要な位置を確保するために、ロックシャフト543AとBは必要に応じてロックブロック540AとB内を摺動すし、自在継手544A〜Cは必要に応じて曲げられる。また、摺動アーム510とアーム515は両方とも架台側部420AとBに略平行状態のままである。
図4Bはまた時計方向に約5°のタンブル軸回転を示す。この時計方向の回転は、図4Bのアーム515と摺動アーム510との相対位置を留意することにより認識される。即ち、アーム515は摺動アーム510に対して時計方向に回転されている。しかし、摺動アーム510とアーム515は両方とも架台側部420Aに略平行状態のままである。再度、この回転は、図4Bと図4Aを比較することにより、さらに容易に認識される。これの上向きの回転は、自在継手544AとBを曲げることによりさらに可能となる。図4Bは、自在継手544Bが架台側部420Aの上面に向かって下方に移動していることを示す。同様に、自在継手544Dが架台側部420Bの上面に向かって下方に移動している。その結果、連結シャフト545Aと545Bは各々自在継手544AとCから下方に向いてそれぞれの架台側部420Aと420Bの方向に向かっている。連結シャフト545Aと545Bの必要な場所を確保するために、ロックシャフト543AとBは必要に応じてロックブロック540AとB内を摺動し、自在継手544A〜Cは必要に応じて曲げられる。
図4Cでは、テストヘッド取付ブロック525Aが反時計方向に略5°だけシータ軸の回りに回転されている。このような回転は、端部525AAが架台側部420Aから幾分遠ざかるように時計方向に回転し、端部525ABが架台側部420Aに幾分近づくように時計方向に回転することを考えることにより、認識される。テストヘッド取付ブロック525Aのこのような回転は、図4Cと図4Aを比較することにより、さらに容易に認識される。この時計方向の回転は、自在継手544AとBを曲げることにより、さらに可能となる。
図4Cは、自在継手544Bが架台420Bの外側に向かって移動し、その結果、連結シャフト545Aが自在継手544Aから、架台220の中心から外側に遠ざかる方向に向かっていることを示す。これに対して、架台側部420Bに装着された架台作動装置500Bに連結された自在継手544Dは、架台220の中心に向かって内部方向に移動している。その結果、連結シャフト545Bは、自在継手544Cから、架台220の中心に向かって内部方向に向かっている。連結シャフト545AとBの必要な位置を確保するために、ロックシャフト543AとBは必要に応じてロックブロック540AとB内を摺動し、自在継手544A〜Cは必要に応じて曲げられる。また、摺動アーム510とアーム515は両方とも架台側部420AとBに略平行状態のままである。
図4Cはまた反時計方向に約5°のタンブル軸回転を示す。この反時計方向の回転は、図4Cのアーム515と摺動アーム510との相対位置を留意することにより認識される。即ち、アーム515は摺動アーム510に対して時計方向に回転されている。しかし、摺動アーム510とアーム515は両方とも架台側部420Aに略平行状態のままである。再度、この回転は、図4Cと図4Aを比較することにより、さらに容易に認識される。この反時計方向の回転は、自在継手544AとBを曲げることによりさらに可能となる。図4Cは、自在継手544Bが架台側部420Aの上面から遠ざかる向きに上向きに移動していることを示す。同様に、自在継手544Dもまた架台側部420Bの上面から上向きに移動している。その結果、連結シャフト545Aと545Bは各々自在継手544AとCから上方に向いて、それぞれの架台側部420Aと420Bから遠ざかる方向に向かっている。連結シャフト545Aと545Bの必要な場所を確保するために、ロックシャフト543AとBは必要に応じてロックブロック540AとB内を摺動し、自在継手544A〜Cは必要に応じて曲げられる。
3自由度での動きを妨げるために、2個のロックの組が2組設けられている。1つの組は架台側部420A上に内外方向のロックブロック540Aとタンブルロック530Aとを備えた構成である。第2番目の組は架台側部420B上に内外方向のロックブロック540Bとタンブルロック530Bとを備えた構成である。3自由度での動きを防止するために必要なことは、内外方向のロックブロック540A,Bの一方をタンブルロック530A,Bの一方と協働して作動させることだけである。2組は、余剰と操作者の便宜のために設けられたものである。本発明は、各ロック1つだけを備えた別の実施例においても実施可能である。
図6Aに示すように、摺動アーム510は、摺動アーム510の幅方向のほぼ全長を横切るスロット511を有する。スロット511の幅は、アーム515の開口516が横断することができる種々の位置に一致している。または、スロット511は一定の幅で弧状に形成された構成としてもよい。例えば、図5に示すように、タンブルロック530はアーム515内の開口516と摺動アーム510内のスロット511を通って挿入される構成としてもよい。ロック530を作動させることにより、アーム515が摺動アーム510に関してタンブル軸動作することを防止している。
さらに、ロックシャフト543AとBの動きは、その動きが内外方向の軸547に沿った並進であれ、シータ軸549またはタンブル軸548の回りの回転のいずれであっても、各新しい位置を確保するために、それぞれロックブロック540AとB内を摺動しなければならない。どんな自由度での動きも防止するために、タンブルロック530Aまたは530Bは、ロック540Aまたは540B、またはその両方と共に作動されねばならない。さもなければ、たとえ内外方向のロックブロック540AとBの1つが作動された場合でも、タンブル軸動作は、連結シャフト545がそれの新位置に調整するときに、内外方向の移動となるであろう。
このように、タンブルロック530A,530Bもまた作動されている場合は、ロック540A,Bを作動することにより、2自由度での動き、即ち、前述の内外方向の並進移動とシータ軸回転移動を防止する。ロック540A,Bが作動されると対応するシャフト543A,Bはロックブロック540A,Bを通過して摺動することができないので、シータ軸回転動作は防止され、従って、自在継手544A−Dがさらに曲がることが防止され、架台作動装置の時計方向及び反時計方向のシータ軸回転が防止される。これにより、さらなる内外方向の移動が同様に防止される。このように、ロック540A,Bは2自由度、即ち、1つの並進と1つの回転動作を防止し、特に、ロック530A,Bがタンブル軸548の回りの回転を止めることと同時に、内外方向の移動547及びシータ軸549の回りの回転を止める。このように2個のロックは、直交する2本の軸の回りの回転と両回転軸に直交する第3の軸方向の並進移動を効果的に防止している。
本発明は特定の実施例を参照して図示されここに記載されているが、本発明は図示の詳細に限定されるものではない。むしろ、請求項に対応する範囲内であって本発明の請求範囲内の詳細では、種々の変形が可能である。特に、本発明は種々の図面で示したように記載している。しかし、本発明は、説明、記載および請求の範囲内に含まれる他の実施例においても実現可能である。本発明の部品は1構成例で示されているが、部品のいくつかは異なる構成としてもよい。
例えば、架台作動装置500は、架台後部410に図示の構成よりもさらに接近して配置してもよい。また、架台作動装置500は、架台側部420A,420Bの外側に配置して異なる形状の負荷を収容する構成としてもよい。摺動アーム510内のスロット511は異なる形状及び/またはさらに小さくてもよい。アーム516内の開口516は、異なる形状及び/またはさらに大きくてもよい。カムフォロワー610aはアーム支持ブロック640の中央ではない位置に配置してもよい。動軸回転ベアリング部品650は異なる形状を有してもよく、または摺動アーム510とアーム515間ではなくむしろテストヘッド取付ブロック525の外部に配置してもよい。テストヘッド負荷をテストヘッド取付ブロック525に直接取り付けるのではなく、他の部品をテストヘッドとブロック525間に配置してもよい。架台作動装置500を2個ではなく1個だけ使用してもよい。架台は2個よりも多くの架台側部アーム部を有してもよく、架台作動装置は各架台側部アームに装着されてもよい。架台作動装置は必要に応じて種々の架台アームの内部または外部に装着してもよい。
本発明に係るテストヘッド位置決めシステムの部分の斜視図である。 本発明に係る特徴を示すテストヘッドシステムの斜視図である。 図1Bのテストヘッド位置決めシステムの垂直移動プレートの斜視図である。 レールとボールスライドを備えた垂直移動プレートの斜視図である。 テストヘッドを多方向に移動可能とする垂直移動プレート連結部材の斜視図である。 図1A及び図1Bのテストヘッド位置決めシステムのクランク及びシリンダーサブシステムの斜視図である。 本発明に係るテストヘッド架台部品の中立位置における斜視図である。 本発明に係るテストヘッド架台部品の操作位置における他の斜視図である。 本発明に係るテストヘッド架台部品の他の操作位置における他の斜視図である。 テストヘッド架台部品の架台作動装置の斜視図である。 テストヘッド架台部品とテストヘッド架台部品の架台作動装置の分解組立図である。 図6Aにおいて円6B内の領域のさらに詳細を提供する架台作動装置の分解組立図である。 図6Aにおいて円6C内の領域のさらに詳細を提供する架台作動装置の分解組立図である。 他の架台作動装置の分解組立図である。 架台側部と装着された架台作動装置と関連する構成部品の上面図である。 架台側部と装着された架台作動装置と関連する構成部品の内部側面図である。 図示のシステムの6自由度を図式的に示す図である。
符号の説明
104,114,670 レール、 108,120 プレート、 126,154,530,541 ロック、 156,622 円弧状スロット、 220 架台、 420 架台側部、 500 架台作動装置、 510 摺動アーム、 515 アーム、 522 ガイドブロック、 525 テストヘッド取付ブロック、 547 並進移動軸、 548 タンブル軸、 549 シータ回転軸、 610 カムフォロワー

Claims (21)

  1. 3つの自由度を規定する支持構造物と、
    第1のロックと、
    第2のロックとを備え、
    前記第1のロックと第2のロックを作動することによって、前記3つの自由度での移動が防止されることを特徴とするテストヘッド位置決め用の架台作動装置。
  2. 前記3つの自由度は、第1軸心に沿う並進運動と、第2軸心の回りの第1の回転運動と、第3軸心の回りの第2の回転運動とを含む請求項1記載の架台作動装置。
  3. 前記第1のロックと第2のロックを作動することにより、前記第1と第2の回転運動と前記並進運動とが防止される請求項2記載の架台作動装置。
  4. 前記支持構造物は、第1の架台側部と該第1の架台側部に連結されたプレートを含むと共に、前記並進運動と前記第1の架台側部に実質平行である前記第1軸心を規定する請求項2記載の架台作動装置。
  5. 前記第2軸心は前記第1軸心と直交する請求項4記載の架台作動装置。
  6. 前記第3軸心は前記第1軸心及び前記第2軸心と直交する請求項5記載の架台作動装置。
  7. 前記負荷に連結され、円弧形状のスロットを有する少なくとも1つのガイドブロックをさらに備え、
    前記円弧形状のスロットの中心は前記第3軸心と心合わせされ、
    前記円弧形状のスロットは前記第3軸心と直交する円上に位置する請求項6記載の架台作動装置。
  8. 前記負荷に連結され、円弧形状のスロットを有する少なくとも1つのガイドブロックと、
    前記プレートに止着され、前記円弧形状のスロット内に挿入される少なくとも1つのカムフォロワーとをさらに備えた請求項4記載の架台作動装置。
  9. 前記プレートに止着され、前記円弧形状のスロット内に挿入される少なくとも1つのカムフォロワーをさらに備え、
    前記円弧形状のスロットと前記少なくとも1つのカムフォロワーは、前記中心の回りの回転が前記負荷の重心にないように配置された請求項7記載の架台作動装置。
  10. 3つの自由度を有するシステムであって、第1の自由度は第1軸心の回りの回転であり、第2の自由度は前記第1軸心と直交する第2軸心の回りの回転であり、第3の自由度は前記第1軸心と第2軸心の両方と直交する第3軸心に沿う並進であり、2個のロックを備え、両ロックが作動されると、全ての3自由度での動作が禁止されることを特徴とするシステム。
  11. 垂直支持構造物と、
    (a)第1の上向き面と第1の下向き面の少なくとも1つと、(b)第2の上向き面と第2の下向き面の少なくとも1つを含む複数の水平面と、
    複数の水平レールと、を備え、
    前記複数の水平レールの少なくとも1つは前記水平面の少なくとも1つに装着されていることを特徴とする負荷を位置決めするための装置。
  12. 前記水平レールは、第1の垂直面内に突出する第1レールと第2の垂直面内に突出する第2レールを含む請求項11記載の装置。
  13. 前記第1の垂直面は前記水平面の1つと直交する請求項12記載の装置。
  14. 前記第2の垂直面は前記水平面の1つと直交する請求項12記載の装置。
  15. 負荷と連結するための水平支持構造物をさらに備え、該水平支持構造物は前記垂直支持構造物に対する位置決めのために前記水平レールの少なくとも1つに連結される請求項12記載の装置。
  16. 架台に対して負荷を位置決めするために架台の側部に止着された装置であって、
    前記架台の側部と前記負荷間において第1軸心に沿う並進運動するための摺動アーム構造物と、
    前記架台の側部と前記負荷間において、前記第1軸心と直交する第2軸心の回りで前記負荷を回転させるためのアーム支持ブロックと、
    少なくとも一部分が前記架台の側部と前記負荷間に位置し、前記第1軸心及び第2軸心と直交する第3軸心の回りで前記負荷を回転させるためのガイドブロック構造物とを備えたことを特徴とする装置。
  17. 前記ガイドブロック構造物は、前記第2の回転運動を規定する少なくとも1つの円弧形状のスロットを有し、前記第3軸心は前記少なくとも1つの円弧形状のスロットの中心に位置している請求項16記載の装置。
  18. 前記摺動アーム構造物は前記架台の側部に止着され、
    前記アーム支持ブロックは前記摺動アーム構造物に近接するとともに、前記摺動アーム構造物と前記ガイドブロック構造物との間に配置され、
    前記ガイドブロック構造物は前記架台に連結されている請求項16記載の装置。
  19. 前記架台に連結された第1のロックと、
    前記摺動アーム構造物に連結された第2のロックとを更に備え、
    前記第1及び第2のロックを作動させることにより、前記並進運動と前記第1の回転運動と前記第2の回転運動が防止される請求項16記載の装置。
  20. 架台作動装置においてテストヘッドを位置決めするための方法であって、
    前記テストヘッドを第1の自由度で位置決めする工程と、
    前記テストヘッドを第2の自由度で位置決めする工程と、
    前記テストヘッドを第3の自由度で位置決めする工程と、
    前記架台に連結された第1のロックを作動させる工程と、
    前記架台に連結された第2のロックを作動させる工程とを備え、
    前記第1及び第2のロックを作動させることにより、前記3つの自由度での移動が防止されることを特徴とする方法。
  21. 静止状態に維持された架台に対してテストヘッドを位置決めする方法であって、
    前記架台に対する直線運動を付与する工程と、
    前記架台に対するタンブル運動を付与する工程と、
    前記架台に対するシータ運動を付与する工程と、
    前記架台に連結された第1のロックを作動させる工程と、
    前記架台に連結された第2のロックを作動させる工程とを備え、
    前記第1及び第2のロックを作動させることにより、前記3つの自由度での移動が防止されることを特徴とする方法。
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Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004008487B4 (de) * 2004-02-20 2007-01-04 Heigl, Helmuth, Dr. Handhabungsvorrichtung zum Positionieren eines Testkopfs
DE102004008403A1 (de) * 2004-02-20 2005-09-08 Heigl, Helmuth, Dr. Handhabungsvorrichtung, insbesondere zum Positionieren eines Testkopfs an einer Prüfeinrichtung
DE102004008404A1 (de) * 2004-02-20 2005-09-08 Heigl, Helmuth, Dr. Handhabungsvorrichtung, insbesondere zum Positionieren eines Testkopfs an einer Prüfeinrichtung
DE102005019564B4 (de) * 2005-04-27 2007-10-31 Hubertus Heigl Handhabungsvorrichtung zum Positionieren eines Testkopfs, insbesondere an einer Prüfeinrichtung
US8607935B2 (en) 2005-12-20 2013-12-17 Intuitive Surgical Operations, Inc. Guide systems for laminated spring assemblies
US8350584B2 (en) * 2006-12-29 2013-01-08 Intest Corporation Test head positioning system and method
TWI490513B (zh) * 2006-12-29 2015-07-01 Intest Corp 用於使負載沿平移軸線平移之負載定位系統以及使負載達到平衡之方法
WO2008090559A1 (en) * 2007-01-26 2008-07-31 Camtek Ltd. Method and system for supporting a moving optical component on a sloped portion
DE102007011700B4 (de) 2007-03-09 2009-03-26 Hubertus Heigl Handhabungsvorrichtung zum Positionieren eines Testkopfs, insbesondere an einer Prüfeinrichtung
WO2008137182A2 (en) * 2007-05-07 2008-11-13 Intest Corporation Cradle and cable handler for a test head manipulator
DE102007024949B3 (de) * 2007-05-30 2009-01-22 Hubertus Heigl Handhabungsvorrichtung zum Positionieren eines Testkopfs, insbesondere an einer Prüfeinrichtung
US8981807B2 (en) 2010-07-27 2015-03-17 Intest Corporation Positioner system and method of positioning
EP2447714A1 (de) * 2010-10-28 2012-05-02 Siemens Aktiengesellschaft Automatische prüfkopfpositionsabhängige Einschallwinkelverstellung für Ultraschallprüfköpfe
GB201118994D0 (en) * 2010-11-18 2011-12-14 Xyratex Tech Ltd A method and device for mapping the magnetic field or magnetic field sensitivity of a recording head
SG10201605656TA (en) 2011-07-12 2016-08-30 Intest Corp Method and apparatus for docking a test head with a peripheral
DE102011053800A1 (de) * 2011-09-20 2013-03-21 Invite GmbH Haltegestell für eine Multikupplung zum Befüllen und/oder Entleeren eines Chemieanlagencontainers
CN103624776A (zh) * 2013-12-23 2014-03-12 镇江艾科半导体有限公司 控制测试头在xy平面内精确运动定位的机械手臂
CN106785328B (zh) * 2017-02-08 2023-09-05 西安天圆光电科技有限公司 一种碳纤维复合材料三轴转台
US20190240831A1 (en) * 2018-02-05 2019-08-08 Kimball Electronics Indiana, Inc. Robot Having Vertically Oriented Articulated Arm Motion
CN108593977A (zh) * 2018-06-11 2018-09-28 昆山宇辰光通自动化科技有限公司 用于测试设备的夹持装置
US11391787B2 (en) * 2020-03-05 2022-07-19 Seagate Technology Llc HGA circuitry testing systems, methods, and devices
CN112283518B (zh) * 2020-10-23 2022-10-11 温州大学 一种智能激光测试仪
US11498207B2 (en) * 2021-01-08 2022-11-15 Teradyne, Inc. Test head manipulator configured to address uncontrolled test head rotation
CN114325325B (zh) * 2021-12-29 2023-12-01 日月新半导体(昆山)有限公司 用于测试集成电路产品的装置
CN115072343B (zh) * 2022-06-20 2023-08-08 安庆师范大学 集成电路板测试用夹持装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US704A (en) 1838-04-21 Improvement in the drill-machine for sowing or planting seed
US4705447A (en) 1983-08-11 1987-11-10 Intest Corporation Electronic test head positioner for test systems
US4527942A (en) 1982-08-25 1985-07-09 Intest Corporation Electronic test head positioner for test systems
US5197846A (en) * 1989-12-22 1993-03-30 Hitachi, Ltd. Six-degree-of-freedom articulated robot mechanism and assembling and working apparatus using same
US5279309A (en) * 1991-06-13 1994-01-18 International Business Machines Corporation Signaling device and method for monitoring positions in a surgical operation
US5241870A (en) 1991-07-22 1993-09-07 Intest Corporation Test head manipulator
US5600258A (en) 1993-09-15 1997-02-04 Intest Corporation Method and apparatus for automated docking of a test head to a device handler
DE69522586T2 (de) * 1995-02-23 2002-07-11 Aesop Inc Manipulator für einen testkopf einer automatischen testanlage
JP2002534283A (ja) 1999-01-13 2002-10-15 インテスト アイピー コーポレイション テストヘッドマニピュレータ

Also Published As

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