TWI715052B - 顯示裝置 - Google Patents

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TWI715052B
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森田哲生
小川康宏
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日商日本顯示器股份有限公司
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Abstract

本發明提供一種可抑制製造成本高漲之顯示裝置。又，本發明提供一種可謀求低耗電化之顯示裝置。 顯示裝置具備複數種像素，其等位於顯示區域，且包含呈現第1色之第1像素。各個前述像素具有：像素電極；發光元件；驅動電晶體；第1電容電極層，其與前述像素電極對向配置且被保持為恆定電位；及絕緣層，其與前述像素電極及前述第1電容電極層一起形成輔助電容。前述複數種像素之前述輔助電容之值中，前述第1像素之前述輔助電容之值最大。

Description

顯示裝置
本發明之實施形態係關於一種顯示裝置。
作為顯示裝置，業界已知使用作為自發光元件之發光二極體(Light Emitting Diode，LED)之LED顯示裝置。近年來，作為更高精細之顯示裝置，業界已開發將被稱為微LED之微小之發光二極體安裝於陣列基板之顯示裝置(以下，稱為微LED顯示裝置)。
微LED顯示器因與先前之液晶顯示器或有機EL顯示器不同，於顯示區域安裝有晶片狀之多數個微LED而形成，因此易於兼顧高精細化與大型化，作為下一代顯示裝置而受到關注。
本實施形態提供一種可抑制製造成本之高漲之顯示裝置。又，提供一種可謀求低耗電化之顯示裝置。
一實施形態之顯示裝置具備： 複數種像素，其等位於顯示區域，且包含呈現第1色之第1像素；各個前述像素具有：像素電極；發光元件，其包含電性連接於前述像素電極之第1電極；驅動電晶體，其控制朝向前述發光元件之電流值；第1電容電極層，其與前述像素電極對向配置且被保持為恆定電位；及絕緣層，其介置於前述像素電極與前述第1電容電極層之間，與前述像素電極及前述第1電容電極層一起形成輔助電容；並且前述複數種像素之前述輔助電容之值中，前述第1像素之前述輔助電容之值最大。
(一實施形態) 以下，一邊參照圖式一邊說明本發明之一實施形態。再者，揭示終極而言僅為一例，對於本區域技術人員針對保持發明之主旨之適當變更可容易地想到者，當然包含於本發明之範圍內。又，圖式為使說明更加明確，與實際態樣相較雖存在將各部分之寬度、厚度、形狀等示意性地顯示之情形，但其終極而言僅為一例，並非限定本發明之解釋者。又，在本說明書及各圖中，存在針對與已出現之圖中所描述之要件同樣的要件、賦予相同之符號，而適當省略詳細之說明之情形。
圖1係顯示本實施形態之顯示裝置1之構成的立體圖。圖1顯示由第1方向X、垂直於第1方向X之第2方向Y、以及垂直於第1方向X及第2方向Y之第3方向Z規定之三維空間。再者，第1方向X及第2方向Y係相互正交，但亦可為以90°以外之角度進行交叉。又，在本實施形態中，將第3方向Z定義為上，將與第3方向Z相反側之方向定義為下。在設為「第1構件之上之第2構件」及「第1構件之下之第2構件」時，第2構件既可與第1構件相接，亦可位於自第1構件離開之位置。
以下，在本實施形態中，主要對於顯示裝置1使用作為自發光元件之微發光二極體(以下稱為微LED(Light Emitting Diode，發光二極體))之微LED顯示裝置之情形進行說明。
如圖1所示般，顯示裝置1具備：顯示面板2、第1電路基板3、及第2電路基板4等。
顯示面板2在一例中具有矩形形狀。在圖示之例中，顯示面板2之短邊EX與第1方向X平行，顯示面板2之長邊EY與第2方向Y平行。第3方向Z相當於顯示面板2之厚度方向。顯示面板2之主面平行於由第1方向X與第2方向Y規定之X-Y平面。顯示面板2具有顯示區域DA、及顯示區域DA之外側之非顯示區域NDA。非顯示區域NDA具有端子區域MT。在圖示之例中，非顯示區域NDA包圍顯示區域DA。
顯示區域DA係顯示圖像之區域，具備例如矩陣狀地配置之複數個主像素PX。
端子區域MT沿著顯示面板2之短邊EX而設置，包含用於將顯示面板2與外部裝置等電性連接之端子。
第1電路基板3安裝於端子區域MT之上，與顯示面板2電性連接。第1電路基板3係例如撓性印刷電路基板。第1電路基板3具備將顯示面板2驅動之驅動IC晶片(以下，表述為面板驅動器)5等。再者，在圖示之例中，面板驅動器5配置於第1電路基板3之上，但亦可配置於第1電路基板3之下。又，面板驅動器5可安裝於第1電路基板3以外，例如可安裝於第2電路基板4。第2電路基板4係例如撓性印刷電路基板。第2電路基板4於第1電路基板3之例如下方與第1電路基板3連接。
上述面板驅動器5經由例如第2電路基板4與控制基板(未圖示)連接。面板驅動器5例如藉由基於自控制基板輸出之映像信號驅動複數個主像素PX而執行將圖像顯示於顯示面板2之控制。
再者，顯示面板2具有賦予斜線而表示之彎折區域BA。彎折區域BA係在顯示裝置1收容於電子機器等之殼體時被彎折之區域。彎折區域BA位於非顯示區域NDA之中端子區域MT側。在彎折區域BA被彎折之狀態下，第1電路基板3及第2電路基板4以與顯示面板2對向之方式配置於顯示面板2之下方。
圖2係顯示顯示裝置1之電路構成之平面圖。
如圖2所示般，顯示裝置1具備主動矩陣型之顯示面板2。顯示面板2具有：絕緣基板21；複數個主像素PX、各種配線、閘極驅動器GD1、GD2，其等配置於絕緣基板21之上；及選擇電路SD。
複數個主像素PX於顯示區域DA矩陣狀地排列。各個主像素PX具有複數個像素SP。在本實施形態中，主像素PX包含呈現第1色之第1像素SPR、呈現第2色之第2像素SPG、及呈現第3色之第3像素SPB此3種像素。此處，第1色係紅色，第2色係綠色，第3色係藍色。
主像素PX包含發光元件(微LED)、及用於對發光元件供給驅動電流而將發光元件驅動之像素電路。上述像素電路包含後述之驅動電晶體及各種開關元件等。此處，在本實施形態中，係利用主像素PX、及像素SP之用語進行了說明，但可將主像素PX換言為像素。該情形下，像素SP係子像素。
上述各種配線於顯示區域DA延長，且被引出至非顯示區域NDA。在圖2中，作為各種配線之一部分，例示覆數條控制配線SSG與複數條圖像信號線VL。閘極驅動器GD1、GD2、及選擇電路SD位於非顯示區域NDA。於顯示區域DA中，控制配線SSG及圖像信號線VL與像素SP連接。控制配線SSG在非顯示區域NDA與閘極驅動器GD1、GD2連接。圖像信號線VL在非顯示區域NDA與選擇電路SD連接。
對閘極驅動器GD1、GD2、及選擇電路SD，自面板驅動器5賦予各種信號及電壓。
圖3係顯示上述顯示裝置之剖視圖。此處，對於將被稱為上述之微LED之微小之發光二極體作為顯示元件安裝於像素電極上之例進行說明。在圖3中，主要顯示顯示區域DA及非顯示區域NDA。再者，非顯示區域NDA包含供彎折之彎折區域BA、及端子區域MT。
如圖3所示般，顯示面板2之陣列基板AR具備絕緣基板21。作為絕緣基板21，主要可使用石英、無鹼玻璃等之玻璃基板、或聚醯亞胺等之樹脂基板。絕緣基板21之材質只要係耐受製造TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)時之處理溫度之材質即可。當絕緣基板21係具有可撓性之樹脂基板時，可將顯示裝置1構成為薄片顯示器。作為樹脂基板並不限於聚醯亞胺，亦可使用其他樹脂材料。再者，在將聚醯亞胺等用於絕緣基板21時，可存在將絕緣基板21稱作有機絕緣層或樹脂層更適當之情形。
於絕緣基板21上，設置有三層積層構造之底塗層22。底塗層22具有：由矽氧化物(SiO2)形成之第1層22a、由矽氮化物(SiN)形成之第2層22b、及由矽氧化物(SiO2)形成之第3層22c。為了提高最下層之第1層22a與作為基材之絕緣基板21之密接性，中間層之第2層22b作為來自外部之水分及雜質之阻擋膜、最上層之第3層22c作為第2層22b中所含有之氫原子不朝後述之半導體層SC側擴散之阻擋膜而分別設置。再者，底塗層22並不限於該構造。底塗層22既可進一步具有積層，亦可為單層構造或雙層構造。例如，在絕緣基板21係玻璃時，由於矽氮化膜密接性比較好，故可將矽氮化膜直接形成於該絕緣基板21上。
遮光層23配置於絕緣基板21之上。遮光層23之位置與此後形成TFT之部位對齊。在本實施形態中，遮光層23係由金屬形成。然而，遮光層23只要係黑色層等由具有遮光性之材料形成即可。又，在本實施形態中，遮光層23設置於第1層22a之上，被第2層22b覆蓋。再者，亦可與本實施形態不同，而遮光層23設置於絕緣基板21之上，被第1層22a覆蓋。因藉由遮光層23可抑制光朝TFT之通道層之背面之侵入，故可抑制由可自絕緣基板21側入射之光引起之TFT特性之變化。又，在將遮光層23利用導電層形成之情形下，藉由對該遮光層23賦予特定之電位，而可對TFT賦予背閘極效果。
於上述之底塗層22上，形成驅動電晶體DRT等之薄膜電晶體(Thin Film Transistor，TFT)。作為TFT可將多晶矽用作半導體層SC之多晶矽TFT作為一例。在本實施形態中，利用低溫多晶矽而形成半導體層SC。此處，驅動電晶體DRT係N通道型TFT(NchTFT)。NchTFT之半導體層SC具有：第1區域、第2區域、第1區域及第2區域之間之通道區域、分別設置於通道區域及第1區域之間以及通道區域及第2區域之間之低濃度雜質區域。第1及第2區域之一者作為源極區域發揮功能，第1及第2區域之另一者作為汲極區域發揮功能。再者，陣列基板AR亦可不僅包含NchTFT，而且包含P通道型TFT(PchTFT)。該情形下，可將NchTFT與PchTFT同時地形成。又，半導體層SC可利用非晶矽、氧化物半導體等多晶矽以外之半導體。
閘極絕緣膜GI利用矽氧化膜形成，閘極電極GE由MoW(鉬·鎢)形成。再者，有將閘極電極GE等形成於閘極絕緣膜GI之上之配線或電極稱為第一配線、或第一金屬之情形。閘極電極GE除了作為TFT之閘極電極之功能以外，亦有作為後述之保持電容電極之功能。此處係以頂閘極型TFT為例進行說明，但TFT亦可為底閘極型TFT。
於閘極絕緣膜GI及閘極電極GE之上，設置有層間絕緣膜24。層間絕緣膜24在閘極絕緣膜GI及閘極電極GE之上，例如將矽氮化膜及矽氧化膜依次積層而構成。閘極絕緣膜GI及層間絕緣膜24未設置於彎折區域BA。因此，於包含彎折區域BA之絕緣基板21上之整個區域，在形成閘極絕緣膜GI及層間絕緣膜24後，對於閘極絕緣膜GI及層間絕緣膜24進行圖案化，而將閘極絕緣膜GI及層間絕緣膜24中至少相當於彎折區域BA之部位去除。進而，由於因層間絕緣膜24等之去除而底塗層22露出，故亦針對該底塗層22進行圖案化而將相當於彎折區域BA之部位去除。在去除底塗層22後，構成絕緣基板21之例如聚醯亞胺露出。再者，有經由底塗層22之蝕刻，而產生絕緣基板21之上表面一部分被浸蝕之減膜之情形。
該情形下，亦可事先於層間絕緣膜24之端部之階差部分及底塗層22之端部之階差部分之各自之下層形成未圖示之配線圖案。藉此，在引繞配線LL將階差部分橫切而形成時，引繞配線LL通過配線圖案之上。由於在層間絕緣膜24與底塗層22之間具有閘極絕緣膜GI，於底塗層22與絕緣基板21之間具有例如遮光層23，故可利用該等層形成配線圖案。
於層間絕緣膜24之上，設置有第1電極E1、第2電極E2、及引繞配線LL。第1電極E1、第2電極E2、及引繞配線LL各自採用三層積層構造(Ti系/Al系/Ti系)，而具有：下層，其含有Ti(鈦)、包含Ti之合金等以Ti為主成分之金屬材料；中間層，其含有Al(鋁)、包含Al之合金等以Al為主成分之金屬材料；及上層，其含有Ti、包含Ti之合金等以Ti為主成分之金屬材料。再者，又有將第1電極E1等形成於層間絕緣膜24之上之配線或電極稱為第二配線、或第二金屬之情形。
第1電極E1連接於半導體層SC之第1區域，第2電極E2連接於半導體層SC之第2區域。例如，在半導體層SC之第1區域作為源極區域發揮功能之情形下，第1電極E1係源極電極，第2電極E2係汲極電極。第1電極E1與層間絕緣膜24、及TFT之閘極電極(保持電容電極)GE一起形成保持電容Cs。引繞配線LL延伸至絕緣基板21之周緣之端部，形成連接第1電路基板3或面板驅動器(驅動IC)5之端子。
再者，由於引繞配線LL以橫切彎折區域BA到達端子部之方式形成，故橫切層間絕緣膜24及底塗層22之階差。如上述般由於在階差部分形成有利用遮光層23形成之配線圖案，故即便引繞配線LL在階差之凹部產生切斷，仍可藉由與下部之配線圖案接觸而維持導通。
平坦化膜25形成於層間絕緣膜24、第1電極E1、第2電極E2、及引繞配線LL之上，覆蓋TFT及引繞配線LL。作為平坦化膜25使用感光性丙烯酸等有機絕緣材料居多。平坦化膜25與藉由CVD(chemical-vapor deposition，化學汽相沈積)等形成之無機絕緣材料相比，在配線階差之覆蓋性、或表面之平坦性上優異。
平坦化膜25在像素接觸部及周邊區域被去除。於平坦化膜25之上，設置有導電層26。導電層26作為氧化物導電層由例如ITO形成。導電層26例如包含導電層26a，其被覆因平坦化膜25之去除而露出第1電極E1及引繞配線LL之部位。導電層26a之目的之一為作為障壁膜而設置，以在製造步驟中以不使第1電極E1或引繞配線LL之露出部受到損傷。平坦化膜25及導電層26被絕緣層27被覆。例如，絕緣層27係由矽氮化膜形成。
於絕緣層27之上形成有像素電極28。像素電極28經由絕緣層27之開口接觸於導電層26a，而與第1電極E1電性連接。此處，像素電極28成為用於安裝發光元件30之連接端子。像素電極28可由單一之導電層、或包含二層以上之導電層之積層體形成。在本實施形態中，像素電極28採用二層積層構造(Al系/Mo系)，具有下層：其含有Mo、包含Mo之合金等以Mo為主成分主金屬材料；及上層，其含有Al、包含Al之合金等以Al為主成分之金屬材料。
於像素部，上述導電層26包含導電層26b。導電層26b與像素電極28對向配置，被保持為恆定電位，作為第1電容電極層發揮功能。導電層26b位於像素電極28之下方。絕緣層27介置於像素電極28與導電層26b之間。導電層26b、絕緣層27、及像素電極28形成輔助電容Cad。再者，上述導電層26包含形成端子部之表面之導電層26c。
於絕緣層27及像素電極28之上設置有絕緣層29。絕緣層29係由例如矽氮化物形成。絕緣層29將像素電極28之端部等絕緣，且在像素電極28之表面之一部分具有用於安裝發光元件(微LED)30之開口。絕緣層29之開口之大小，考量發光元件30之安裝步驟中之安裝偏移量等，而設為較發光元件30大一圈之開口。例如在發光元件30實質上為10 μm×10 μm之安裝面積之情形下，較佳者係確保上述開口實質上為20 μm×20 μm。
於顯示區域DA，在陣列基板AR之上，安裝有發光元件30。發光元件30具有作為第1電極之陽極AN、作為第2電極之陰極CA、及將光放出之發光層LI。發光元件30各自準備具有R、G、B之發光色者，於對應之像素電極28接觸地固定有陽極側端子。發光元件30之陽極AN與像素電極28之間之接合若可確保在兩者之間良好之導通，且不破損陣列基板AR之形成物，則無特別限定。可採用使用例如低溫熔融之焊料材料之回流銲步驟、或在經由導電膏體將發光元件30載置於陣列基板AR上後進行燒結等之方法、或在像素電極28之表面與發光元件之陽極AN使用同系列材料進行超音波接合等之固態接合之方法。
發光元件30於電性連接於像素電極28之陽極AN之相反側具有陰極CA。在像素電極28及絕緣層29之上安裝發光元件30後，設置元件絕緣層31。元件絕緣層31係在絕緣層29之上由填充於發光元件30之間之空隙部之樹脂材料形成。元件絕緣層31使發光元件30之中陰極CA之表面露出。
對向電極32至少位於顯示區域DA，覆蓋全部像素之發光元件30。對向電極32配置於全部陰極CA之對向電極32側之表面與元件絕緣層31之上，與全部陰極CA接觸，而與全部陰極CA電性連接。對向電極32被全部像素共用。對向電極32在設置於顯示區域DA之外側之陰極接觸部與設置於陣列基板AR側之配線(後述之第2電源線42)連接。因此，對向電極32被保持為與第2電源線42之電位相同之恆定電位，將第2電源線42與全部發光元件30之陰極CA電性連接。
對向電極32為了取出來自發光元件30之出射光，而需要作為透明電極而形成，作為透明導電材料使用例如ITO形成。再者，有將由ITO形成之上述導電層26稱為第一ITO之情形，有將由ITO形成之對向電極32稱為第二ITO之情形。
另一方面，在發光元件30之側壁部分被保護膜等絕緣時，不一定必須利用樹脂材料等填充間隙，樹脂材料只要至少將陽極AN與、自陽極AN露出之像素電極28之表面絕緣即可。該情形下，如圖4所示般以如未達發光元件30之陰極CA之膜厚形成元件絕緣層31，接著形成上述對向電極32。於形成有對向電極32之表面殘存伴隨著發光元件30之安裝之凹凸之一部分，但形成對向電極32之材料只要在不切斷下連續地覆蓋即可。
如上述般，陣列基板AR具有自絕緣基板21至對向電極32之構造。將本實施形態之發光元件30用作顯示元件之顯示裝置1，如例如上文所述般構成。再者，可根據需要，在對向電極32之上設置蓋玻璃等蓋構件或觸控面板基板等。該蓋構件或觸控面板基板為了填埋與顯示裝置1之空隙而可經由利用樹脂等之填充劑設置。
其次，參照圖5對於顯示裝置1之電路構成進行說明。上述之複數個主像素PX相同地構成。因此，在圖4中，以複數個主像素PX中之1個主像素PX為代表進行說明。主像素PX之第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB相同地構成。因此，此處，為了便於說明，而主要針對第3像素SPB之構成(像素電路等)進行說明。
如圖5所示般，第3像素SPB具有發光元件30、及對發光元件30供給驅動電流之像素電路PC。像素電路PC電性連接於圖3所示之像素電極28。像素電路PC包含驅動電晶體DRT、發光控制電晶體CCT、像素電晶體SST、初始化電晶體IST、保持電容Cs、及輔助電容Cad作為複數個元件。閘極驅動器GD1包含重置電晶體RST。再者，圖5所示之輸出電晶體BCT相對於第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB而配置1個。在圖5中，各電晶體係NchTFT。又，圖5所示之元件電容Cled係發光元件30之內部電容，且係陽極AN與陰極CA之間之電容。
再者，發光控制電晶體CCT、重置電晶體RST、像素電晶體SST、初始化電晶體IST、及輸出電晶體BCT亦可各自非由電晶體構成。發光控制電晶體CCT、重置電晶體RST、像素電晶體SST、初始化電晶體IST、及輸出電晶體BCT只要可分別作為發光控制開關、重置開關、像素開關、初始化開關、及輸出開關發揮功能者即可。
在以下之說明中，將電晶體之源極電極及汲極電極之一者設為第1電極，將另一者設為第2電極。又，將電容元件之一電極設為第1電極，將另一電極設為第2電極。
驅動電晶體DRT、像素電極28(圖3)、及發光元件30在第1電源線41與第2電源線42之間串聯地連接。將第1電源線41保持為恆定電位，將第2電源線42保持為與第1電源線41之電位不同之恆定電位。在本實施形態中，第1電源線41之電位PVDD高於第2電源線42之電位PVSS。
驅動電晶體DRT之第1電極連接於發光元件30(圖3之陽極AN)、保持電容Cs之第1電極(圖3之第1電極E1)、及輔助電容Cad之第1電極(圖3之像素電極28)。驅動電晶體DRT之第2電極連接於發光控制電晶體CCT之第1電極。驅動電晶體DRT構成為控制朝向發光元件30之電流值。
發光控制電晶體CCT之第2電極與輸出電晶體BCT之第1電極連接。又，發光控制電晶體CCT之第2電極經由重置配線SV而連接於重置電晶體RST之第1電極。
輸出電晶體BCT之第2電極連接於第1電源線41。又，發光元件30(圖3之陰極CA)連接於第2電源線42。
像素電晶體SST之第1電極與驅動電晶體DRT之閘極電極、初始化電晶體IST之第1電極、及保持電容Cs之第2電極連接。像素電晶體SST之第2電極連接於圖像信號線VL。初始化電晶體IST之第2電極連接於初始化電源線BL。
保持電容Cs電性連接於驅動電晶體DRT之閘極電極與第1電極(源極電極)之間。在本實施形態中，保持電容Cs之值(電容大小)小於輔助電容Cad之值(電容大小)。再者，上述情形針對第1像素SPR、及第2像素SPG亦為同樣。亦即，保持電容Cs之值小於第1像素SPR之輔助電容Cad之值、第2像素SPG之輔助電容Cad之值、及第3像素SPB之輔助電容Cad之值之任一者。
輔助電容Cad之第2電極(圖3之導電層26b)被保持為恆定電位。在本實施形態中，輔助電容Cad之第2電極連接於第1電源線41，被保持為與第1電源線41之電位相同之恆定電位(PVDD)。然而，亦可與本實施形態不同，而輔助電容Cad之第2電極既可被保持為與第2電源線42之電位相同之恆定電位(PVSS)，或亦可被保持為與第3電源線之電位相同之恆定電位。作為上述第3電源線，作為被保持為恆定電位之配線，可舉出初始化電源線BL、或重置電源線RL。
此處，重置電晶體RST設置於閘極驅動器GD1，該重置電晶體RST之第2電極連接於重置電源線RL。
於圖像信號線VL，被供給映像信號等圖像信號Vsig，將初始化電源線BL設定為初始化電位Vini，將重置電源線RL設定為重置電源電位Vrst。再者，圖像信號Vsig係基於上述之圖像信號而寫入像素(此處為第3像素SPB)之信號。
發光控制電晶體CCT之閘極電極連接於控制配線SCG。對於該控制配線SCG供給發光控制信號CG。
輸出電晶體BCT之閘極電極連接於控制配線SBG。對於該控制配線SBG供給輸出控制信號BG。
像素電晶體SST之閘極電極連接於控制配線SSG。對於該控制配線SSG供給像素控制信號SG。
初始化電晶體IST之閘極電極連接於控制配線SIG。對於該控制配線SIG供給初始化控制信號IG。
重置電晶體RST之閘極電極連接於控制配線SRG。對於該控制配線SRG供給重置控制信號RG。
在圖5中，係以上述之全部電晶體為NchTFT者進行了說明，但例如驅動電晶體DRT以外之電晶體既可為PchTFT，亦可混合有NchTFT及PchTFT。
又，驅動電晶體DRT可為PchTFT。該情形下，只要構成為電流與本實施形態反向地朝發光元件30流動即可。在任一種情形下皆然，輔助電容Cad只要與發光元件30之電極中驅動電晶體DRT側之第1電極結合即可。
顯示裝置1由於具備2個閘極驅動器GD1、GD2(圖2)，故可對1個像素SP自兩側之閘極驅動器GD1、GD2饋電。此處，設為針對上述之控制配線SSG採用兩側饋電方式，針對其他控制配線SCG、控制配線SBG、控制配線SIG、重置配線SV等採用單側饋電方式。然而，顯示裝置1亦可不具備2個閘極驅動器GD1、GD2(圖2)，只要至少具備1個閘極驅動器GD即可。
再者，圖5中所說明之電路構成係一例，若係包含上述之驅動電晶體DRT、保持電容Cs、及輔助電容Cad者，則顯示裝置1之電路亦可為其他之構成。例如既可省略圖5中所說明之電路構成之中之一部分，亦可追加其他構成。
圖6係顯示與主像素PX之重置動作、偏移消除(OC)動作、寫入動作及發光動作相關之各種信號之輸出例之時序圖。此處，主要對於供給至控制配線SRG、控制配線SBG、控制配線SCG、控制配線SIG及控制配線SSG之信號進行說明。
再者，主像素PX之重置動作及偏移消除動作設為以該主像素PX之2列單位進行。在圖6中，與連接於成為重置動作及偏移消除動作之對象之2列主像素PX(以下表述為第1列及第2列主像素PX)之控制配線相關，將賦予控制配線SRG之重置控制信號表示為RG12，將賦予控制配線SBG之輸出控制信號表示為BG12，將賦予控制配線SCG之發光控制信號表示為CG12，將賦予控制配線SIG之初始化控制信號表示為IG12。再者，將賦予連接於第1列主像素PX之控制配線SSG之像素控制信號表示為SG1，將賦予連接於第2列主像素PX之控制配線SSG之像素控制信號表示為SG2。
同樣地，與連接於成為上述第1列及第2列主像素PX之後續重置動作及偏移消除動作之對象之2列主像素PX(以下表述為第3列及第4列主像素PX)之控制配線相關，將賦予控制配線SRG之重置控制信號表示為RG34，將賦予控制配線SBG之輸出控制信號表示為BG34，將賦予控制配線SCG之發光控制信號表示為CG34，將賦予控制配線SIG之初始化控制信號表示為IG34。再者，將賦予連接於第3列主像素PX之控制配線SSG之像素控制信號表示為SG3，將賦予連接於第4列主像素PX之控制配線SSG之像素控制信號表示為SG4。
在圖6中，顯示針對第1列～第4列主像素PX之各種信號之時序，例如針對第5列以後之主像素PX亦為同樣。
以下，對於第1列及第2列主像素PX之重置動作、偏移消除動作、圖像信號之寫入動作及發光動作之信號進行說明。再者，對於各種動作之細節將利用圖7～圖11於後文敘述。各主像素PX之重置動作、偏移消除動作、寫入動作及發光動作藉由依照自面板驅動器5輸出之信號(SELR/G/B)選擇像素SPR、SPG及SPB(RGB)之中之1個而執行。
又，設想為在顯示裝置1之電路構成中全部電晶體係NchTFT之情形，若對如此之電晶體之閘極電極供給低(L)位準之信號，則該電晶體成為關斷狀態(非導通狀態)。另一方面，若對如此之電晶體之閘極電極供給高(H)位準之信號，則該電晶體成為導通狀態(導通狀態)。
如圖6及圖5所示般，首先，在保持電容Cs之重置動作之前，輸出控制信號BG12自H位準變為L位準，且重置控制信號RG12自L位準變為H位準。藉此，經由輸出電晶體BCT之第1電源線41與第2電源線42之間之電流被遮斷，且利用重置配線SV之電壓而輸出電晶體BCT與發光元件30之陽極AN之間被重置。
其次，初始化控制信號IG12自L位準變為H位準。藉由初始化電晶體IST成為導通狀態，而初始化電位Vini之初始化電源線BL與保持電容Cs導通，利用初始化電壓(Vini)而保持電容Cs被重置。
再者，在保持電容Cs之重置前信號變為L位準之輸出控制信號BG12，伴隨著保持電容Cs之重置期間之完成而變為H位準。又，重置控制信號RG12伴隨著保持電容Cs之重置期間之完成而變為L位準。
又，初始化控制信號IG12伴隨著偏移消除期間之完成而變為L位準。
其後，發光控制信號CG12自H位準變為L位準。藉此，經由發光控制電晶體CCT之第1電源線41與第2電源線42之間之電流被遮斷。
與此相配合，像素控制信號SG1自L位準變為H位準。該情形下，經由圖像信號線VL與圖像信號Vsig相應之電流通過像素電晶體SST而流動至保持電容Cs等，於該保持電容Cs蓄積與圖像信號Vsig相應之電荷。藉此，完成對第1列主像素PX(像素SPR、SPG及SPB)之寫入動作。
其次，像素控制信號SG2自L位準變為H位準。該情形下，經由圖像信號線VL與圖像信號Vsig相應之電流通過像素電晶體SST而流動至保持電容Cs等，於該保持電容Cs蓄積與映像信號相應之電荷。藉此，完成對第2列主像素PX(像素SPR、SPG及SPB)之寫入動作。
在寫入動作完成之情形下，藉由電流依照基於上述之圖像信號Vsig而決定之電流值流動至發光元件30，而該發光元件30發光。
此處，對於第1列及第2列主像素PX之重置動作、偏移消除動作、寫入動作及發光動作之信號進行了說明，但對於第3列及第4列主像素PX之重置動作、偏移消除動作、寫入動作及發光動作亦為同樣。
在圖6中係以2列單位(即，2列批次)實施重置動作及偏移消除動作進行了說明，根據如此之構成，可實現顯示面板2之非顯示區域NDA之面積(範圍)之削減、耗電之降低等。
以下，參照圖7～圖11對於顯示裝置1之動作之概要進行說明。首先，對於驅動電晶體DRT之源極側之重置動作進行說明。
再者，在以下之說明中，就下述情形進行說明，即：與上述保持電容Cs之第1電極連接之驅動電晶體DRT之第1電極係源極電極，與發光控制電晶體CCT之第1電極連接之驅動電晶體DRT之第2電極係汲極電極。
如圖7所示般，在驅動電晶體DRT之源極側之重置動作時，將輸出控制信號BG、初始化控制信號IG、及像素控制信號SG設為L位準，將重置控制信號RG、及發光控制信號CG設為H位準。
藉此，輸出電晶體BCT成為關斷狀態(BCT=關斷)，重置電晶體RST成為導通狀態(RST=導通)，發光控制電晶體CCT成為導通狀態(CCT=導通)，初始化電晶體IST成為關斷狀態(IST=關斷)，像素電晶體SST成為關斷狀態(SST=關斷)。在源極重置動作中，重置電晶體RST切換為導通狀態。
藉此，驅動電晶體DRT之源極電極及汲極電極各自之電位被重置為與重置電源電位Vrst相同電位，而源極重置動作完成。再者，作為重置電源電位Vrst，例如設定為低於上述電位PVSS之電位。例如，重置電源電位Vrst為-2 V。
在源極重置動作時，無論驅動電晶體DRT為導通狀態還是關斷狀態，由於該驅動電晶體DRT之源極電極被拉低至-2 V(重置電源電位Vrst)，故驅動電晶體DRT成為導通狀態。再者，圖像信號Vsig之最小值未0 V。而且，由於發光元件30之陽極AN側成為-2 V，低於陰極CA側(PVSS=0 V)，故該發光元件30熄滅。
再者，於保持電容Cs保持有利用上一圖框寫入之圖像信號Vsig之電壓，但由於保持電容Cs之第2電極處於電性浮動狀態，故不進行該保持電容Cs之充放電，而第2電極之電位相應於保持電容Cs之第1電極之電位之變化而變化。
其次，對於驅動電晶體DRT之閘極側之重置動作進行說明。
如圖8所示般，在驅動電晶體DRT之閘極側之重置動作時，將初始化控制信號IG自L位準切換為H位準。藉此，初始化電晶體IST切換為導通狀態，而開始閘極重置動作。再者，輸出電晶體BCT及像素電晶體SST維持為關斷狀態，重置電晶體RST及發光控制電晶體CCT維持為導通狀態。
該情形下，對於驅動電晶體DRT之源極電極及保持電容Cs之第1電極供給重置電源電壓(Vrst)，對於驅動電晶體DRT之閘極電極經由初始化電晶體IST供給初始化電壓(Vini)。藉此，驅動電晶體DRT之閘極電極之電位被重置為與初始化電壓(Vini)對應之電位，而上一圖框之資訊被重置。
此處，作為初始化電位Vini被設定為高於重置電源電位Vrst之電位。例如，初始化電位Vini係+1.2 V。在閘極重置動作中，在驅動電晶體DRT中，由於閘極電極之電位(Vini)相對於源極電極之電位(Vrst)成為高位準，故驅動電晶體DRT成為導通狀態。
又，在此期間，於保持電容Cs，保持有基於重置電源電位Vrst與初始化電位Vini之差之電荷。再者，即便驅動電晶體DRT為導通狀態，但由於輸出電晶體BCT為關斷狀態，故在圖8所示之閘極重置動作中發光元件30不點亮(發光)。
其次，對於偏移消除動作進行說明。
如圖9所示般，在偏移消除動作之情形下，將輸出控制信號BG自L位準切換為H位準，將重置控制信號RG自H位準切換為L位準。藉此，輸出電晶體BCT朝導通狀態、重置電晶體RST朝關斷狀態分別進行切換。
該情形下，於驅動電晶體DRT之汲極電極，自第1電源線41經由輸出電晶體BCT流入有電流。
此處，由於驅動電晶體DRT成為導通狀態，故供給至驅動電晶體DRT之汲極電極之電流在驅動電晶體DRT之通道內流動，而該驅動電晶體DRT之源極電極之電位上升。其後，若驅動電晶體DRT之源極電極之電位與閘極電極之電位之差達到驅動電晶體DRT之臨限值電壓(Vth)，則驅動電晶體DRT變為關斷狀態。換言之，驅動電晶體DRT之閘極電極-源極電極間之電壓收束為與電晶體DRT之臨限值大致相等之電壓，而相當於該臨限值之電位差被保持於保持電容Cs。
具體而言，對於驅動電晶體DRT之閘極電極供給初始化電壓(Vini)，若該驅動電晶體DRT之源極電極之電位達到Vini-Vth，則驅動電晶體DRT變為關斷狀態。藉此，該驅動電晶體DRT之閘極電極-源極電極間產生驅動電晶體DRT之Vth之偏差份額之偏移。藉此，完成驅動電晶體DRT之臨限值之偏移消除動作。
其次，對於圖像信號(映像信號)Vsig之寫入動作進行說明。
如圖10所示般，在寫入動作之情形下，將發光控制信號CG及初始化控制信號IG自H位準切換為L位準，將像素控制信號SG自L位準切換為H位準。
藉此，發光控制電晶體CCT及初始化電晶體IST朝關斷狀態、像素電晶體SST朝導通狀態分別進行切換。該情形下，圖像信號Vsig經由像素電晶體SST被寫入驅動電晶體DRT之閘極電極。例如，圖像信號Vsig之電壓值係0～5 V之範圍內之值。而且，在本實施形態中，圖像信號Vsig之動態範圍在第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB中為相同。
此處，由於驅動電晶體DRT之源極電極藉由上述之偏移消除動作變為就每個Vth之值不同之電位，故即便在寫入相同之圖像信號之情形下，該驅動電晶體DRT之電壓Vgs亦不同。在完成圖像信號Vsig之寫入之驅動電晶體DRT中，電壓Vgs由下述式1表示。
Figure 02_image001
再者，如在圖6中所說明般，例如在完成針對第1列主像素PX之寫入後，同樣地進行針對第2列之像素之寫入。在進行針對第2列之像素之寫入時，對於第1列主像素PX將像素電晶體SST設為關斷狀態。
在上述之寫入動作中，由於發光控制電晶體CCT為關斷狀態，故發光元件30不點亮(發光)。
其次，對於使發光元件30發光之發光動作進行說明。
如圖11所示般，在發光動作之情形下，將像素控制信號SG自H位準切換為L位準，將發光控制信號CG自L位準切換為H位準。藉此，像素電晶體SST朝關斷狀態、發光控制電晶體CCT朝導通狀態分別進行切換。該情形下，與藉由上述之寫入動作寫入之驅動電晶體DRT之閘極電極之電位相對應，經由該驅動電晶體DRT朝發光元件30流動有電流Iled，而該發光元件30點亮(發光)。
在發光期間，電流Iled相當於自驅動電晶體DRT賦予之輸出電流(驅動電晶體DRT之飽和區域之輸出電流)Idrt(Iled=Idrt)。若將驅動電晶體DRT之增益係數設為β，則輸出電流Idrt由下述式2表示。
Figure 02_image003
然後，藉由將上述式1代入上述式2，而將輸出電流Idrt利用下述式3表示。
Figure 02_image005
因此，輸出電流Idrt成為不依存於驅動電晶體DRT之臨限值電壓Vth之值，而可排除因驅動電晶體DRT之臨限值電壓之偏差對輸出電流Idrt造成之影響。
再者，上述增益係數β可利用下述式進行定義。 β=1/2×Cox×μ×W/L
再者，Cox係每單位面積之閘極靜電電容，μ係載子遷移率，W係驅動電晶體DRT之通道寬度，L係驅動電晶體DRT之通道長度。
此處，本申請案發明人等在調查發光元件30之發光效率後，發現發光效率就每一色(種類)而不同。換言之，發現為了獲得最大灰階所需之電流Iled(輸出電流Idrt)之值，在第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB中互不相同。具體而言，可知像素SPR、SPG、SPB之發光元件30之中呈現紅色之第1像素SPR之發光元件30之發光效率最低。
因此，為了調整第1像素SPR之紅色發光之亮度位準、第2像素SPG之綠色發光之亮度位準、及第3像素SPB之藍色發光之亮度位準之平衡，而考量將賦予第2像素SPG、及第3像素SPB之圖像信號Vsig之電壓值設為0～5 V之範圍內之值，而另一方面，將賦予第1像素SPR之圖像信號Vsig之電壓值設為例如0～7 V之範圍內之值。
然而，在上述之情形下，需要將賦予第1像素SPR之圖像信號Vsig之動態範圍設為大於賦予第2像素SPG、及第3像素SPB之圖像信號Vsig之動態範圍。其結果為，會有圖像信號Vsig之值超過面板驅動器5之類比輸出之電壓規格之情形。因此，在現有之面板驅動器5中，難以獲得充分之電壓耐久性。為了使用具有充分之電壓耐久性之面板驅動器5，而需要開發新的面板驅動器5，從而招致面板驅動器5之製造成本之高漲。另外，難以實現面板驅動器5之低耗電化。
因此，在本實施形態中，藉由調整輔助電容Cad之值(電容大小)，而調整紅色、綠色、及藍色之亮度位準之平衡。具體而言，如自上述式3可知般，係至少將發光效率之最低之第1像素SPR之輔助電容Cad之值相對增大者。由於藉由將輔助電容Cad相對於保持電容Cs較大地取得，而上述式3中之(Cled+Cad)/(Cs+Cad+Cled)之值接近1，故可減小由(Vsig-Vini)表示之DRT之閘極·源極間電壓之衰減。亦即，藉由減小第1像素SPR中之電流Iled(輸出電流Idrt)之衰減量，而可調整紅色、綠色、及藍色之亮度位準之平衡。
藉此，可將圖像信號Vsig之動態範圍在第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB中為一致。或，可將賦予第1像素SPR之圖像信號Vsig之動態範圍接近賦予第2像素SPG、及第3像素SPB之圖像信號Vsig之動態範圍。
由於可使用現有之面板驅動器5，故可抑制製造成本之高漲。可避免面板驅動器5難以獲得充分之電壓耐久性之事態。又，可實現面板驅動器5之低耗電化。
其次，對於將第1像素SPR之輔助電容Cad之值設為大於第2像素SPG、及第3像素SPB之輔助電容Cad之值之情形之顯示面板2之構成進行說明。此處，以第1像素SPR之輔助電容Cad之值最大、第3像素SPB之輔助電容Cad之值最小、第2像素SPG之輔助電容Cad之值位於上述2個值之間之情形為例進行說明。此乃緣於本申請案發明人等調査發光元件30之發光效率後，進一步發現呈現藍色之第3像素SPB之發光元件30之發光效率最高，呈現綠色之第2像素SPG之發光元件30之發光效率低於第3像素SPB之發光元件30之發光效率之故。藉此，可對紅色、綠色、及藍色之亮度位準之平衡進行微調整。
圖12及圖13係像素SP之導電層之佈局例，圖13顯示俯視下之圖12之XIII-XIII間之剖視圖。如圖12所示般，包含第1像素SPR之相鄰之2個以上之像素SP共用單個導電層(第1電容電極層)26b。導電層26b跨及2個以上之像素SP而連續地延伸，且與2個以上之像素SP之像素電極28對向。導電層26b位於像素電極28之下方。在本實施形態中，全部像素SP共用單個導電層26b。導電層26a位於導電層26b之開口OP之內側。
在圖12之俯視下，複數種像素SPR、SPG、SPB之像素電極28之尺寸之中，第1像素SPR之像素電極28R之尺寸最大，第3像素SPB之像素電極28B之尺寸最小。第2像素SPG之像素電極28G之尺寸小於像素電極28R之尺寸，且大於像素電極28B之尺寸。更詳細而言，關於像素電極28與導電層26b重合之面積，第1像素SPR最大，第3像素SPB最小。再者，在圖12中，對於像素電極28與導電層26b重合之區域附註斜線。
輔助電容Cad之值和像素電極28與導電層26b重合之面積成比例。因此，輔助電容Cad之值依像素SP之種類而異。複數種像素SP之輔助電容Cad之值之中，第1像素SPR之輔助電容Cad之值最大，第3像素SPB之輔助電容Cad之值最小。
在圖12之俯視下，配置區域LAR、LAG、LAB排列於第1方向X。此處，配置區域LAR係供配置第1像素SPR之像素電路PC(圖3)之中輔助電容Cad以外之其餘元件之區域。配置區域LAG係供配置第2像素SPG之像素電路PC之中輔助電容Cad以外之其餘元件之區域。配置區域LAB係供配置第3像素SPB之像素電路PC之中輔助電容Cad以外之其餘元件之區域。
在圖12之俯視下，像素電極28R位於配置區域LAR，且進一步位於與第1像素SPR相鄰之第2像素SPG之配置區域LAG。再者，像素電極28G及像素電極28B分別位於配置區域LAG及配置區域LAB。如上述般，在本實施形態中，像素電極28可以位於相鄰之像素SP之配置區域LA之方式設置。此乃緣於像素電路PC(圖3)之中輔助電容Cad以外之其餘元件位於導電層(第1電容電極層)26b之下方之故。
根據如上述般構成之一實施形態之顯示裝置1，複數種像素SP之輔助電容Cad之值之中，第1像素SPR之輔助電容Cad之值最大。而且，第3像素SPB之輔助電容Cad之值最小。因此，可調整紅色、綠色、及藍色之亮度位準之平衡。藉此，可將圖像信號Vsig之動態範圍在第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB中為一致。或，可將賦予第1像素SPR之圖像信號Vsig之動態範圍接近賦予第2像素SPG、及第3像素SPB之圖像信號Vsig之動態範圍。
根據上述內容，可獲得可抑制製造成本之高漲之顯示裝置1。進而，可獲得可謀求低耗電化之顯示裝置1。
(變化例1) 其次，對於上述實施形態之變化例1之顯示裝置1進行說明。圖14係顯示上述實施形態之變化例1之顯示裝置1之顯示面板2之單個主像素PX之構成之平面圖，係顯示導電層26a、26b、像素電極28R、28G、28B、發光元件30等之圖。
如圖14所示般，在變化例1中，粗略而言，在像素電極28R具有長方形之形狀，沿著第2方向Y延伸之點上與上述實施形態相異。在第1方向X，像素電極28R與像素電極28G及像素電極28B此兩者對向。在圖14中，亦對於像素電極28與導電層26b重合之區域賦予斜線。關於像素電極28與導電層26b重合之面積，在第2像素SPG與第3像素SPB中相同，第1像素SPR最大。關於複數種像素SP之輔助電容Cad之值，第2像素SPG與第3像素SPB相同，第1像素SPR最大。
在如上述般構成之變化例1中，可將第1像素SPR之輔助電容Cad之值設為相對大。例如，可將第1像素SPR之輔助電容Cad之值調整為第2像素SPG及第3像素SPB之各自之輔助電容Cad之值之2倍以上。因此，在本變化例1中，亦可獲得與上述實施形態同樣之效果。
(變化例2) 其次，對於上述實施形態之變化例2之顯示裝置1進行說明。圖15係顯示上述實施形態之變化例2之顯示裝置1之顯示面板2之單個主像素PX之構成之平面圖，係顯示第1電極E1、導電層ER、EG、EB、像素電極28R、28G、28B、發光元件30等之圖。圖16係沿著圖15之線XVI-XVI顯示上述顯示面板2之剖視圖，係顯示第1電極E1、導電層ER、像素電極28R、發光元件30等之圖。
如圖15及圖16所示般，在變化例2中，粗略而言，在導電層ER、EG、EB分別作為第1電容電極層發揮功能之點上與上述實施形態相異。變化例2之顯示面板2形成為無導電層26b。第1像素SPR在第1方向X與第2像素SPG及第3像素SPB此兩者對向。第2像素SPG在第2方向Y與第3像素SPB對向。導電層ER、EG、EB連接於恆定電位之電源線。例如，導電層ER、EG、EB連接於第1電源線41。導電層ER、EG、EB可構成第1電源線41之一部分。再者，可有將導電層ER、EG、EB分別稱為配線、或稱為電極更適當之情形。
在圖15之俯視下，像素電極28僅與單個導電層重合。像素電極28R與第1像素SPR之導電層ER重合，像素電極28G與第2像素SPG之導電層EG重合，像素電極28B與第3像素SPB之導電層EB重合。若以複數種像素之中第1像素SPR為代表進行說明，則第1像素SPR之輔助電容Cad係由導電層ER、平坦化膜25、絕緣層27、及像素電極28R形成。
像素電極28R與導電層26a接觸。然而，顯示面板2可形成為無導電層26a。該情形下，像素電極28R可與第1電極E1直接接觸。
導電層ER、EG、EB設置於層間絕緣膜24與平坦化膜25之間。然而，設置導電層ER、EG、EB之層並無特別限定。例如，導電層ER、EG、EB亦可設置於平坦化膜25與絕緣層27之間。
在圖15中，對於像素電極28與導電層ER、EG、或EB重合之區域賦予斜線。關於像素電極28與導電層ER、EG或EB重合之面積，在第2像素SPG與第3像素SPB中相同，第1像素SPR最大。關於複數種像素SP之輔助電容Cad之值，第2像素SPG與第3像素SPB相同，第1像素SPR最大。
根據上述內容，在變化例2中亦可獲得與上述實施形態同樣之效果。
(變化例3) 其次，對於上述實施形態之變化例3之顯示裝置1進行說明。圖17係顯示上述實施形態之變化例3之顯示裝置1之顯示面板2之單個主像素PX之構成之平面圖，係顯示第1電極E1、導電層ER、EG、EB、像素電極28R、28G、28B、發光元件30等之圖。
如圖17所示般，在主像素PX中，第1像素SPR、第2像素SPG、及第3像素SPB可在第1方向X上排列。像素電極28R、28G、28B在第1方向X上排列，導電層ER、EG、EB在第1方向X上排列。在第2方向Y上，像素電極28R、28G、28B具有相同之長度。在第1方向X上，像素電極28G及像素電極28B具有同一寬度，像素電極28R具有最大寬度。
在圖17中，對於像素電極28與導電層ER、EG、或EB重合之區域賦予斜線。關於像素電極28與導電層ER、EG或EB重合之面積，在第2像素SPG與第3像素SPB中相同，第1像素SPR最大。關於複數種像素SP之輔助電容Cad之值，在第2像素SPG與第3像素SPB中相同，第1像素SPR最大。
根據上述內容，在變化例3中亦可獲得與上述實施形態同樣之效果。
(變化例4) 其次，對於上述實施形態之變化例4之顯示裝置1進行說明。圖18係顯示上述實施形態之變化例4之顯示裝置1之顯示面板2之單個主像素PX之構成之平面圖，係顯示導電層26a、26b、像素電極28R、28G、28B、發光元件30等之圖。
如圖18所示般，發光元件30之陽極AN(第1電極)與陰極CA(第2電極)對向之面積可在複數種像素SP中之第1像素SPR中最大。在本實施形態中，第2像素SPG及第3像素SPB分別具有1個發光元件30，相對於此，第1像素SPR具有2個發光元件30。與第1像素SPR具有1個發光元件30之情形相比，可降低第1像素SPR之發光元件30中之電流密度。在電流Iled(輸出電流Idrt)之值相對變大之第1像素SPR中，可降低發光元件30中之電流密度。因此，可謀求第1像素SPR之發光元件30之產品壽命之長期化。
變化例4之顯示面板2除了與上述發光元件30相關之構成以外，構成為與上述變化例1之顯示面板2同樣。根據上述內容，在變化例4中亦可獲得與上述實施形態同樣之效果。
(變化例5) 其次，對於上述實施形態之變化例5之顯示裝置1進行說明。圖19係顯示上述實施形態之變化例5之顯示裝置1之顯示面板2之剖視圖，係顯示第1電極E1、導電層26a、像素電極28、對向電極32等之圖。
如圖19所示般，在本變化例5中，輔助電容Cad之第1電容電極層可藉由位於像素電極28之上方之對向電極32之一部分構成。像素電極28、元件絕緣層(絕緣層)31、及對向電極32形成輔助電容Cad。
關於複數種像素之輔助電容Cad之值，在第2像素與第3像素中相同，第1像素最大。再者，亦可與上述不同，而複數種像素之輔助電容Cad之值之中，第1像素之輔助電容Cad之值最大，第3像素之輔助電容Cad之值最小。
根據上述內容，在變化例5中亦可獲得與上述實施形態同樣之效果。
(變化例6) 其次，對於上述實施形態之變化例6之顯示裝置1進行說明。圖20係顯示上述實施形態之變化例6之顯示裝置1之顯示面板2之剖視圖，係顯示第1電極E1、導電層26a、26b、像素電極28、對向電極32等之圖。
如圖20所示般，在本變化例6之各個像素中，輔助電容Cad可包含第1電容成分Cad1、及第2電容成分Cad2。作為第1電容電極層之導電層26b位於像素電極28之下方。第1電容成分Cad1係由像素電極28、絕緣層27、及導電層26b形成。第2電容成分Cad2係由像素電極28、元件絕緣層(絕緣層)31、及對向電極32形成。
該情形下，導電層26b可被保持為與對向電極32相同之恆定電位。或，導電層26b亦可被保持為與對向電極32不同之恆定電位。在後者之情形下，導電層26b被保持為與第1電源線41或第3電源線之電位相同之恆定電位。輔助電容Cad之值係第1電容成分Cad1之電容值與第2電容成分Cad2之電容值之和。
關於複數種像素之輔助電容Cad之值，第2像素與第3像素相同，第1像素最大。再者，亦可與上述不同，而複數種像素之輔助電容Cad之值之中，第1像素之輔助電容Cad之值最大，第3像素之輔助電容Cad之值最小。
根據上述內容，在變化例6中亦可獲得與上述實施形態同樣之效果。
對本發明之一實施形態及變化例進行了說明，但上述之實施形態及變化例係作為例子而提出者，並非意圖限定發明之範圍。上述新穎之實施形態可利用其他各種形態予以實施，在不脫離發明之要旨之範圍內可進行各種省略、置換、變更。上述實施形態及其變化包含於發明之範圍及要旨內，且包含於申請專利範圍所記載之發明及其均等之範圍內。根據需要，可組合實施形態及變化例。
例如，在上述實施形態中，主要對於將微LED用作發光元件之微LED顯示裝置進行了說明。然而，本實施形態之顯示裝置1亦可為將有機電致發光(EL)元件用作發光元件之有機EL顯示裝置等。在有機EL元件之發光效率就每一色而不同之情形下有效果。
本申請案以日本專利申請案2018-109436(申請日:2018年6月7日)為基礎，並自該申請案享有優先利益。本申請案藉由參照該申請案而全部包含該申請案之內容。
1‧‧‧顯示裝置 2‧‧‧顯示面板 3‧‧‧第1電路基板 4‧‧‧第2電路基板 5‧‧‧面板驅動器 21‧‧‧絕緣基板 22‧‧‧底塗層 22a‧‧‧第1層 22b‧‧‧第2層 22c‧‧‧第3層 23‧‧‧遮光層 24‧‧‧層間絕緣膜 25‧‧‧平坦化膜 26a‧‧‧導電層 26b‧‧‧導電層 26c‧‧‧導電層 27‧‧‧絕緣層 28‧‧‧像素電極 28B‧‧‧像素電極 28G‧‧‧像素電極 28R‧‧‧像素電極 29‧‧‧絕緣層 30‧‧‧發光元件 31‧‧‧元件絕緣層(絕緣層) 32‧‧‧對向電極 41‧‧‧第1電源線 42‧‧‧第2電源線 AN‧‧‧陽極 AR‧‧‧陣列基板 BA‧‧‧彎折區域 BCT‧‧‧輸出電晶體 BG‧‧‧輸出控制信號 BG12‧‧‧輸出控制信號 BG34‧‧‧輸出控制信號 BL‧‧‧初始化電源線 CA‧‧‧陰極 Cad‧‧‧輔助電容 Cad1‧‧‧第1電容成分 Cad2‧‧‧第2電容成分 CCT‧‧‧發光控制電晶體 CG‧‧‧發光控制信號 CG12‧‧‧發光控制信號 CG34‧‧‧發光控制信號 Cled‧‧‧元件電容 Cs‧‧‧保持電容 DA‧‧‧顯示區域 DRT‧‧‧驅動電晶體 E1‧‧‧第1電極 E2‧‧‧第2電極 EB‧‧‧導電層 EG‧‧‧導電層 ER‧‧‧導電層 EX‧‧‧短邊 EY‧‧‧長邊 GD1‧‧‧閘極驅動器 GD2‧‧‧閘極驅動器 GI‧‧‧閘極絕緣膜 GE‧‧‧閘極電極 Idrt‧‧‧輸出電流 IG‧‧‧初始化控制信號 IG12‧‧‧初始化控制信號 IG34‧‧‧初始化控制信號 Iled‧‧‧電流 IST‧‧‧初始化電晶體 LAB‧‧‧配置區域 LAG‧‧‧配置區域 LAR‧‧‧配置區域 LI‧‧‧發光層 LL‧‧‧引繞配線 MT‧‧‧端子區域 NDA‧‧‧非顯示區域 OP‧‧‧開口 PC‧‧‧像素電路 PX‧‧‧主像素 PVDD‧‧‧電位 PVSS‧‧‧電位 RG12‧‧‧重置控制信號 RG34‧‧‧重置控制信號 RL‧‧‧重置電源線 RST‧‧‧重置電晶體 SBG‧‧‧控制配線 SC‧‧‧半導體層 SCG‧‧‧控制配線 SD‧‧‧選擇電路 SELB‧‧‧信號 SELG‧‧‧信號 SELR‧‧‧信號 SG‧‧‧像素控制信號 SG1‧‧‧像素控制信號 SG2‧‧‧像素控制信號 SG3‧‧‧像素控制信號 SG4‧‧‧像素控制信號 SIG‧‧‧控制配線 SPB‧‧‧第3像素(像素) SPG‧‧‧第2像素(像素) SPR‧‧‧第1像素(像素) SRG‧‧‧控制配線 SSG‧‧‧控制配線 SV‧‧‧重置配線 VL‧‧‧圖像信號線 Vini‧‧‧初始化電位、初始化電壓、電位 Vrst‧‧‧重置電源電位、重置電源電壓 Vsig‧‧‧圖像信號 XIII-XIII‧‧‧線 XVI-XVI‧‧‧線 X‧‧‧第1方向 Y‧‧‧第2方向 Z‧‧‧第3方向
圖1係顯示一實施形態之顯示裝置之構成之立體圖。 圖2係顯示上述顯示裝置之電路構成之平面圖。 圖3係顯示上述顯示裝置之剖視圖。 圖4係顯示上述顯示裝置之變化例之剖視圖。 圖5係用於說明上述顯示裝置之構成之一例之電路圖。 圖6係顯示與像素之重置動作、偏移消除動作及寫入動作相關之各種信號之輸出例之時序圖。 圖7係用於說明上述顯示裝置之驅動方法之電路圖，係用於說明驅動電晶體之源極側之重置動作之圖。 圖8係用於繼圖7而說明上述驅動方法之電路圖，係用於說明驅動電晶體之閘極側之重置動作之圖。 圖9係用於繼圖8而說明上述驅動方法之電路圖，係用於說明偏移消除動作之圖。 圖10係用於繼圖9而說明上述驅動方法之電路圖，係用於說明映像信號之寫入動作之圖。 圖11係用於繼圖10而說明上述驅動方法之電路圖，係用於說明發光元件之發光動作之圖。 圖12係顯示上述顯示裝置之顯示面板之單個主像素之構成之平面圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極等之圖。 圖13係沿著圖12之線XIII-XIII顯示上述顯示面板之剖視圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極等之圖。 圖14係顯示上述實施形態之變化例1之顯示裝置之顯示面板之單個主像素之構成之平面圖，係顯示導電層、像素電極、發光元件等之圖。 圖15係顯示上述實施形態之變化例2之顯示裝置之顯示面板之單個主像素之構成之平面圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極、發光元件等之圖。 圖16係顯示沿著圖15之線XVI-XVI顯示上述顯示面板之剖視圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極、發光元件等之圖。 圖17係顯示上述實施形態之變化例3之顯示裝置之顯示面板之單個主像素之構成之平面圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極、發光元件等之圖。 圖18係顯示上述實施形態之變化例4之顯示裝置之顯示面板之單個主像素之構成之平面圖，係顯示導電層、像素電極、發光元件等之圖。 圖19係顯示上述實施形態之變化例5之顯示裝置之顯示面板之剖視圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極、對向電極等之圖。 圖20係顯示上述實施形態之變化例6之顯示裝置之顯示面板之剖視圖，係顯示第1電極、導電層、像素電極、對向電極等之圖。
26a‧‧‧導電層
26b‧‧‧導電層
28B‧‧‧像素電極
28G‧‧‧像素電極
28R‧‧‧像素電極
E1‧‧‧第1電極
LAB‧‧‧配置區域
LAG‧‧‧配置區域
LAR‧‧‧配置區域
OP‧‧‧開口
PX‧‧‧主像素
SPB‧‧‧第3像素(像素)
SPG‧‧‧第2像素(像素)
SPR‧‧‧第1像素(像素)
XIII-XIII‧‧‧線
X‧‧‧第1方向
Y‧‧‧第2方向
Z‧‧‧第3方向

Claims (11)

  1. 一種顯示裝置，其具備位於顯示區域且包含呈現第1色之第1像素的複數種像素；且各個前述像素具有：像素電極；發光元件，其包含電性連接於前述像素電極之第1電極；驅動電晶體，其控制朝前述發光元件之電流值；第1電容電極層，其與前述像素電極對向配置且被保持為恆定電位；及絕緣層，其介置於前述像素電極與前述第1電容電極層之間，與前述像素電極及前述第1電容電極層一起形成輔助電容；並且前述複數種像素更包含：呈現第2色之第2像素、及呈現第3色之第3像素；且前述第1色為紅色，前述第2色為綠色，前述第3色為藍色，前述輔助電容之值依前述像素之種類而異，前述複數種像素之前述輔助電容之值之中，前述第1像素之前述輔助電容之值最大，前述複數種像素之前述輔助電容之值之中，前述第3像素之前述輔助電容之值最小。
  2. 一種顯示裝置，其具備位於顯示區域且包含呈現第1色之第1像素的複數種像素；且 各個前述像素具有：像素電極；發光元件，其包含電性連接於前述像素電極之第1電極；驅動電晶體，其控制朝前述發光元件之電流值；第1電容電極層，其與前述像素電極對向配置且被保持為恆定電位；及絕緣層，其介置於前述像素電極與前述第1電容電極層之間，與前述像素電極及前述第1電容電極層一起形成輔助電容；並且各個前述像素更具有：保持電容，其電性連接於前述驅動電晶體之閘極電極與源極電極之間；且前述複數種像素之前述輔助電容之值之中，前述第1像素之前述輔助電容之值最大，前述保持電容之值小於前述輔助電容之值。
  3. 如請求項1或2之顯示裝置，其中前述發光元件係微發光二極體。
  4. 如請求項2之顯示裝置，其中前述複數種像素更包含呈現第2色之第2像素、及呈現第3色之第3像素；且前述第1色為紅色，前述第2色為綠色，前述第3色為藍色， 前述保持電容之值小於前述第1像素之前述輔助電容之值、前述第2像素之前述輔助電容之值、及前述第3像素之前述輔助電容之值之任一者。
  5. 如請求項1或2之顯示裝置，其中前述像素電極與前述第1電容電極層對向，在俯視下，前述複數種像素之前述像素電極之尺寸之中，前述第1像素之前述像素電極之尺寸最大。
  6. 如請求項1或2之顯示裝置，其中包含前述第1像素之相鄰之2個以上之像素共用單個前述第1電容電極層，且前述單個第1電容電極層跨及前述2個以上之像素而連續地延伸，且與前述2個以上之像素之前述像素電極對向。
  7. 如請求項6之顯示裝置，其中前述第1電容電極層位於前述像素電極之下方，前述像素電極與前述第1電容電極層對向，在俯視下，前述複數種像素之前述像素電極之尺寸之中，前述第1像素之前述像素電極之尺寸最大，各個前述像素更具有：像素電路，其電性連接於前述像素電極；且前述像素電路具備包含前述驅動電晶體及前述輔助電容之複數個元 件，前述像素電路之中前述輔助電容以外之其餘元件位於前述第1電容電極層之下方，在俯視下，前述第1像素之前述像素電極位於前述第1像素之前述其餘元件之配置區域，且進一步位於與前述第1像素相鄰之像素之前述其餘元件之配置區域。
  8. 如請求項1或2之顯示裝置，其更具備：第1電源線，其被保持為恆定電位；第2電源線，其被保持為與前述第1電源線之電位不同之恆定電位；及第3電源線，其被保持為恆定電位；且前述發光元件更包含第2電極，其電性連接於前述第2電源線；在各個前述像素中，前述驅動電晶體、前述像素電極、及前述發光元件在前述第1電源線與前述第2電源線之間串聯地連接；前述第1電容電極層被保持為與前述第1電源線、前述第2電源線、及第3電源線中任一條電源線之電位相同之恆定電位。
  9. 如請求項8之顯示裝置，其更具備：對向電極，其位於前述顯示區域，覆蓋所有的前述像素之前述發光元件，被保持為與前述第2電源線之電位相同之恆定電位，將前述第2電源線與所有的前述發光元件之前述第2電極電性連接，且由前述所有的像素共用；且前述第1電容電極層包含前述第1電源線之一部分及前述對向電極之 一部分之任一者。
  10. 如請求項1或2之顯示裝置，其更具備：其他絕緣層，其配置於前述複數個像素電極之上；及對向電極，其位於前述顯示區域，配置於前述其他絕緣層之上，覆蓋所有的前述像素之前述發光元件，被保持為恆定電位，與所有的前述發光元件之第2電極電性連接，且由前述全部像素共用；且前述第1電容電極層位於前述像素電極之下方；在各個前述像素中，前述輔助電容包含：第1電容成分，其由前述像素電極、前述絕緣層、及前述第1電容電極層形成；及第2電容成分，其由前述像素電極、前述其他絕緣層、及前述對向電極形成；前述輔助電容之值係前述第1電容成分之電容值與前述第2電容成分之電容值之和。
  11. 如請求項1或2之顯示裝置，其更具備對向電極，其位於前述顯示區域，被前述全部像素共用；且前述發光元件更包含電性連接於前述對向電極之第2電極；前述第1電極與前述第2電極對向之面積，在前述複數種像素中之前述第1像素中最大。
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