TWI713986B - 積體電路與顯示裝置及其抗干擾方法 - Google Patents

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Abstract

一種積體電路與顯示裝置及其抗干擾方法。積體電路包括輸入焊墊、源極驅動電路以及抗干擾電路。輸入焊墊從外部接收包括影像資料的輸入訊號。源極驅動電路耦接至所述至少一輸入焊墊，以接收輸入訊號。抗干擾電路耦接至所述至少一輸入焊墊，以提供可變電容。當干擾事件發生於輸入訊號時，抗干擾電路經配置以將可變電容從正常電容值調整為至少一抗干擾電容值。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路經配置以將可變電容維持於正常電容值。

Description

積體電路與顯示裝置及其抗干擾方法
本發明是有關於一種顯示裝置，且特別是有關於一種積體電路與其抗干擾方法。
當行動電話(或是其他射頻裝置)靠近顯示裝置時，射頻雜訊(RF noise)可能會造成顯示裝置的顯示畫面出現異常。發生異常的原因之一是，行動電話的射頻雜訊可能會干擾了時序控制器與源極驅動電路之間的資料訊號的傳輸。
圖1是說明行動電話110靠近顯示裝置120的情境示意圖。時序控制器121經由傳輸線將資料訊號傳輸給源極驅動電路122，而源極驅動電路122依照資料訊號來驅動顯示面板以顯示圖像。當行動電話110靠近顯示裝置120時，行動電話110的射頻雜訊111可能會干擾了時序控制器121與源極驅動電路122之間的資料訊號的傳輸。當在資料訊號中的射頻雜訊的能量足夠大時，源極驅動電路122可能無法正確閂鎖資料訊號。
圖2是說明圖1所示源極驅動電路122所接收到的訊號 遭受射頻雜訊干擾的情境示意圖。圖2是橫軸表示時間。圖2所示Rx表示源極驅動電路122所接收到的資料訊號，而CDR_CLK表示在源極驅動電路122內部的時脈資料回復(clock data recovery，簡稱CDR)電路的時脈訊號。如同圖2左半部所示，在射頻雜訊111尚未發生時，源極驅動電路122內部的CDR電路可以正確鎖定(lock)資料訊號Rx，亦即資料訊號Rx的相位可以符合時脈訊號CDR_CLK的相位。在射頻雜訊111發生時，射頻雜訊111會干擾資料訊號Rx，致使資料訊號Rx的相位不符合時脈訊號CDR_CLK的相位。亦即，源極驅動電路122內部的CDR電路可能對資料訊號脫鎖(loss of lock)。當源極驅動電路122無法正確鎖定資料訊號Rx時，顯示裝置120的顯示面板當然無法顯示正確圖像。
須注意的是，「先前技術」段落的內容是用來幫助了解本發明。在「先前技術」段落所揭露的部份內容(或全部內容)可能不是所屬技術領域中具有通常知識者所知道的習知技術。在「先前技術」段落所揭露的內容，不代表該內容在本發明申請前已被所屬技術領域中具有通常知識者所知悉。
本發明提供一種積體電路、顯示裝置及其抗干擾方法，以判定輸入訊號是否發生干擾事件，進而依照判定結果來決定是否動態調整抗干擾電路的可變電容。
本發明的一實施例提供一種積體電路，用以驅動顯示面板。所述積體電路包括至少一輸入焊墊、一源極驅動電路以及一抗干擾電路。所述至少一輸入焊墊經配置以從外部接收包括影像資料的輸入訊號。源極驅動電路耦接至所述至少一輸入焊墊，以接收輸入訊號。源極驅動電路處理輸入訊號而產生輸出資料，以驅動顯示面板。抗干擾電路耦接至所述至少一輸入焊墊，以提供可變電容。當干擾事件發生於輸入訊號時，抗干擾電路經配置以將可變電容從正常電容值調整為至少一抗干擾電容值。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路經配置以將可變電容維持於正常電容值。
本發明的一實施例提供一種積體電路的抗干擾方法。所述積體電路用以驅動顯示面板。所述抗干擾方法包括：由源極驅動電路經由至少一輸入焊墊從外部接收包括影像資料的輸入訊號；由源極驅動電路處理輸入訊號而產生輸出資料，以驅動顯示面板；由抗干擾電路提供可變電容給所述至少一輸入焊墊；當干擾事件發生於輸入訊號時，由抗干擾電路將可變電容從正常電容值調整為至少一抗干擾電容值；以及當干擾事件沒有發生時，由抗干擾電路將可變電容維持於正常電容值。
本發明的一實施例提供一種顯示裝置。所述顯示裝置包括顯示面板、印刷電路板、第一積體電路、第二積體電路以及抗干擾電路。印刷電路板耦接至顯示面板。第一積體電路配置於印刷電路板上。第二積體電路配置於顯示面板上。第二積體電路經 由印刷電路板的至少一導線電性耦接至第一積體電路，以接收包括影像資料的輸入訊號。抗干擾電路配置於印刷電路板上。抗干擾電路耦接至所述至少一導線，以提供可變電容。當干擾事件發生於輸入訊號時，抗干擾電路經配置以將可變電容從正常電容值調整為至少一抗干擾電容值。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路經配置以將可變電容維持於正常電容值。
基於上述，本發明諸實施例所述積體電路、顯示裝置及其抗干擾方法可以判定輸入訊號是否發生干擾事件。當干擾事件發生時，抗干擾電路的可變電容可以從正常電容值被動態調整為抗干擾電容值，以抑制射頻雜訊。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路的可變電容可以被維持於(調回至)正常電容值。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
110:行動電話
111:射頻雜訊
120、300、400、600:顯示裝置
121:時序控制器
122、321、322、323、324、422、722:源極驅動電路
310:時序控制電路
330、430:顯示面板
410:第一積體電路
420:第二積體電路
421P、421N、721P、721N:輸入焊墊
440、640、740:抗干擾電路
441、641、741:雜訊感測電路
442:可變電容器
450:印刷電路板
451、451P、451N:導線
642、643、742、743:電容器
700:積體電路
C1:正常電容值
C2:抗干擾電容值
CDR_CLK:時脈訊號
Rx:資料訊號
Sin:輸入訊號
VCOM:共模準位
Vref:參考電壓電平
S1、S2:控制訊號
S810~S850:步驟
圖1是說明行動電話靠近顯示裝置的情境示意圖。
圖2是說明圖1所示源極驅動電路所接收到的訊號遭受射頻雜訊干擾的情境示意圖。
圖3是依照本發明的一實施例所繪示的一種顯示裝置的電路方塊(circuit block)示意圖。
圖4是依照本發明的另一實施例所繪示的一種顯示裝置的電 路方塊示意圖。
圖5是依照本發明的一實施例所繪示發生了干擾事件的訊號時序示意圖。
圖6是依照本發明的一實施例所繪示的一種抗干擾電路的電路方塊示意圖。
圖7是依照本發明的另一實施例所繪示的一種抗干擾電路的電路方塊示意圖。
圖8是依照本發明的又一實施例所繪示的一種顯示裝置的電路方塊示意圖。
圖9是依照本發明的再一實施例所繪示的一種顯示裝置的電路方塊示意圖。
圖10是依照本發明的一實施例所繪示的一種驅動電路的抗干擾方法的流程示意圖。
圖11是依照本發明的一實施例所繪示的一種抗干擾電路的電路方塊示意圖。
圖12是依照本發明的另一實施例所繪示的一種抗干擾電路的電路方塊示意圖。
在本案說明書全文(包括申請專利範圍)中所使用的「耦接(或連接)」一詞可指任何直接或間接的連接手段。舉例而言，若文中描述第一裝置耦接(或連接)於第二裝置，則應該被解釋 成該第一裝置可以直接連接於該第二裝置，或者該第一裝置可以透過其他裝置或某種連接手段而間接地連接至該第二裝置。本案說明書全文(包括申請專利範圍)中提及的「第一」、「第二」等用語是用以命名元件(element)的名稱，或區別不同實施例或範圍，而並非用來限制元件數量的上限或下限，亦非用來限制元件的次序。另外，凡可能之處，在圖式及實施方式中使用相同標號的元件/構件/步驟代表相同或類似部分。不同實施例中使用相同標號或使用相同用語的元件/構件/步驟可以相互參照相關說明。
圖3是依照本發明的一實施例所繪示的一種顯示裝置300的電路方塊(circuit block)示意圖。顯示裝置300包括驅動電路與顯示面板330。本實施例並不限制顯示面板330的實施方式。依照設計需求，舉例來說，顯示面板330可以是習知的顯示面板或是其他的顯示面板。所述驅動電路可以包括一個或多個積體電路，例如圖3所示時序控制電路310與一個或多個源極驅動電路。圖3繪示了4個源極驅動電路321、322、323與324，無論如何，源極驅動電路的數量是依照設計需求來決定的。源極驅動電路321~324被配置為受控於時序控制電路310。時序控制電路310經由傳輸線(例如印刷電路板的導線)將資料訊號傳輸給源極驅動電路321~324，而源極驅動電路321~324依照資料訊號來驅動顯示面板330以顯示圖像。
圖4是依照本發明的另一實施例所繪示的一種顯示裝置400的電路方塊示意圖。顯示裝置400包括第一積體電路410、第 二積體電路420、顯示面板430、抗干擾電路440以及印刷電路板450。圖4所示顯示面板430可以參照圖3所示顯示面板330的相關說明，故不再贅述。依照設計需求，圖4所示第一積體電路410可以包含圖3所示時序控制電路310以及/或是其他電路，而圖4所示第二積體電路420可以包含圖3所示源極驅動電路321~324的任一個以及/或是其他電路。
印刷電路板450耦接至顯示面板430。第一積體電路410以及抗干擾電路440配置於印刷電路板450上。第二積體電路420配置於顯示面板430上。第二積體電路420經由印刷電路板450的至少一導線451電性耦接至第一積體電路410，以接收包括影像資料的輸入訊號Sin。抗干擾電路440耦接至印刷電路板450的所述導線451，以提供可變電容(variable capacitance)。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路440可以將所述可變電容維持於正常電容值。所述正常電容值可以依照設計需求來決定。舉例來說，在一些實施例中，所述正常電容值可以為零。當干擾事件發生於輸入訊號Sin時，抗干擾電路440可以將所述可變電容從正常電容值調整為至少一個抗干擾電容值。所述抗干擾電容值可以依照設計需求來決定。舉例來說，在一些實施例中，所述抗干擾電容值可以是大於所述正常電容值的任何實數。當干擾事件消失時，抗干擾電路440可以將所述可變電容從所述抗干擾電容值調回至正常電容值。
本實施例並不限制抗干擾電路440的實施方式。例如， 圖4所示抗干擾電路440包括雜訊感測電路441以及可變電容器442。可變電容器442的第一節點耦接到導線451。可變電容器442的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。雜訊感測電路441可以偵測干擾事件是否發生於輸入訊號Sin。抗干擾電路440的雜訊感測電路441可以偵測輸入訊號Sin的頻率、輸入訊號Sin的共模準位以及輸入訊號Sin的擺幅其中至少一者，而獲得指出干擾事件是否發生的偵測結果。雜訊感測電路441可以依據此偵測結果來決定是否動態調整或維持可變電容器442的電容值(可變電容)。基於雜訊感測電路441的控制，可變電容器442可以提供可變電容給導線451。
本實施例並不限制雜訊感測電路441的雜訊偵測方式。例如，圖5是依照本發明的一實施例所繪示發生了干擾事件的訊號時序示意圖。請參照圖4與圖5。雜訊感測電路441可以偵測輸入訊號Sin的共模準位VCOM。當干擾事件(例如圖1與圖2所示干擾情境)發生時，射頻雜訊可能會干擾了輸入訊號Sin的傳輸，致使輸入訊號Sin的共模電壓(Common mode voltage)的共模準位VCOM發生變化，亦即共模電壓產生了波紋(ripple)。雜訊感測電路441可以偵測輸入訊號Sin的共模準位VCOM。當共模準位VCOM大於高門檻以及/或是小於低門檻時，雜訊感測電路441可以判定「發生了干擾事件」。本實施例可以依照設計需求來設定所述高門檻與所述低門檻。反之，當共模準位VCOM不大於高門檻以及不小於低門檻時，雜訊感測電路441可以判定「沒有 發生干擾事件」。
當干擾事件(例如圖1與圖2所示干擾情境)沒有發生時，雜訊感測電路441可以控制可變電容器442以提供正常電容值C1。當干擾事件(例如圖1與圖2所示干擾情境)發生時，雜訊感測電路441可以將可變電容器442的電容值從正常電容值調整為至少一個抗干擾電容值。舉例來說，可變電容器442的電容值可以從正常電容值C1調整為抗干擾電容值C2。在干擾事件消失後，可變電容器442的電容值(可變電容)可以從所述抗干擾電容值C2調整到所述正常電容值C1。
在一些實施例中，可變電容器442可以透過開關(未繪示)耦接至第一積體電路410與第二積體電路420之間的傳輸路徑(導線451)。此開關基於雜訊感測電路441所產生之控制訊號來決定是否導通，以決定可變電容器442是否耦接至導線451。雜訊感測電路441可以偵測雜訊之大小，以及/或是偵測導線451的頻率是否落於既定的範圍內來判斷干擾事件有無發生。當雜訊感測電路441偵測到干擾事件發生時，雜訊感測電路441控制此開關(未繪示)導通，以將可變電容器442耦接至導線451。反之，當雜訊感測電路441偵測到干擾事件沒有發生時，雜訊感測電路441控制此開關(未繪示)斷開，以將可變電容器442不耦接至導線451。
圖5所示實施例使用了一個抗干擾電容值(即C2)。然而，在其他實施例中，雜訊感測電路441可以根據檢測結果而從 多個抗干擾電容值中選擇一個。亦即，抗干擾電路440可以配置為，根據檢測結果決定所述可變電容被調節到多個抗干擾電容值中的哪一個。
在一些實施例中，抗干擾電路440包括電容器和開關。例如，圖6是依照本發明的一實施例所繪示的一種抗干擾電路440的電路方塊示意圖。在圖6所示的實施例中，抗干擾電路440包括雜訊感測電路441、開關SW1和電容器Cap1。電容器Cap1具有固定電容。圖6所示雜訊感測電路441可以參照圖4所示雜訊感測電路441的相關說明來類推，故不再贅述。開關SW1的第一端耦接到導線451。開關SW1的控制端耦接到雜訊感測電路441。電容器Cap1的第一節點耦接到開關SW1的第二端。電容器Cap1的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。開關SW1被配置為在干擾事件發生時接通(turn on)，並且在不發生干擾事件時斷開(turn off)。
在一些實施例中，抗干擾電路440包含多個電容器與多個開關。例如，圖7是依照本發明的另一實施例所繪示的一種抗干擾電路440的電路方塊示意圖。在圖7所示的實施例中，抗干擾電路440包括雜訊感測電路441、開關SW1、開關SW2、電容器Cap1和電容器Cap2。圖7所示雜訊感測電路441可以參照圖4所示雜訊感測電路441的相關說明來類推，故不再贅述。開關SW1和開關SW2的第一端耦接到導線451。開關SW1的控制端耦接到雜訊感測電路441，以接收控制信號S71。開關SW2的控制端耦 接到雜訊感測電路441，以接收控制信號S72。電容器Cap1的第一節點耦接到開關SW1的第二端。電容器Cap2的第一節點耦接到開關SW2的第二端。電容器Cap1和電容器Cap2的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。
這些電容器Cap1和Cap2分別可具有相同或不同的固定電容值。這些電容器Cap1和Cap2分別透過多個開關SW1和SW2當中對應的開關耦接至第一積體電路410與第二積體電路420之間的傳輸路徑(導線451)。這些開關SW1和SW2當中每一者均可受控於雜訊感測電路441所產生之控制訊號，以決定所耦接的電容器是否耦接至導線451。雜訊感測電路441可以偵測不同的雜訊條件，例如偵測雜訊之大小，以及/或是偵測導線451的頻率落於不同的既定範圍哪一個內，來判斷不同的雜訊條件。當雜訊感測電路441偵測到不同的雜訊條件時，雜訊感測電路441導通(turn on)開關SW1和SW2的一部分以及關閉(turn off)開關SW1和SW2的另一部分，以將這些電容器Cap1和Cap2當中的一個對應者(或多個對應者)耦接至導線451。因此，在不同的雜訊條件下，抗干擾電路440有不同的電容值耦接至導線451。
舉例來說，在第一雜訊條件下(譬如無雜訊下)，開關SW1和SW2中的第一開關斷開，開關SW1和SW2中的第二開關導通，故只有電容器Cap1和Cap2中的第二電容器耦接至導線451。在第二雜訊條件下(譬如雜訊之大小及/或頻率落於既定範圍內)，開關SW1和SW2中的第一開關與第二開關均導通，故電容器Cap1 和Cap2中的第一電容器與第二電容器均接至導線451。
在另一實施例中，在第一雜訊條件下(譬如無雜訊下)，中第一開關與第二開關(開關SW1和SW2)均斷開，故無任何電容器接至導線451。在第二雜訊條件下(譬如雜訊之大小及/或頻率落於第一既定範圍內)，開關SW1和SW2中的第一開關導通，開關SW1和SW2中的第二開關斷開，故只有電容器Cap1和Cap2中的第一電容器接至導線451。在第三雜訊條件下(譬如雜訊之大小及/或頻率落於第二既定範圍內)，開關SW1和SW2中的第一開關斷開，開關SW1和SW2中的第二開關導通，故只有電容器Cap1和Cap2中的第二電容器接至導線451。在相同或另一實施例中，在第四雜訊條件下(譬如雜訊之大小及/或頻率落於第三既定範圍內)，第一開關導通與第二開關(開關SW1和SW2)均導通，故一電容器與第二電容器(電容器Cap1和Cap2)均耦接(並聯)至導線451。
以上以一與兩開關為例作說明，其他數量的開關可以類推之。在其他實施例中，可以有任何已知之方式來調整電容之大小，譬如採用任何可實現可變電容之電路。
圖8是依照本發明的又一實施例所繪示的一種顯示裝置600的電路方塊示意圖。顯示裝置600包括第一積體電路410、第二積體電路420以及抗干擾電路640。圖8所示第一積體電路410、第二積體電路420以及抗干擾電路640可以參照圖4所示第一積體電路410、第二積體電路420以及抗干擾電路440的相關說明， 故不再贅述。於圖8所示實施例中，第二積體電路420的差動輸入端對(輸入焊墊421P與輸入焊墊421N)經由印刷電路板450的導線451P與導線451N電性耦接至第一積體電路410，以接收包括影像資料的差動輸入訊號。
本實施例並不限制抗干擾電路640的實施方式。例如，圖8所示抗干擾電路640包括雜訊感測電路641、電容器642以及電容器643。電容器642以及/或是電容器643具有固定電容或可變電容。電容器642的第一節點耦接到導線451P。電容器642的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。電容器643的第一節點耦接到導線451N。電容器643的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。雜訊感測電路641可以偵測干擾事件是否發生於導線451P與451N的差動輸入訊號。舉例來說，抗干擾電路640的雜訊感測電路641可以偵測差動輸入訊號的頻率、差動輸入訊號的共模準位以及差動輸入訊號的擺幅其中至少一者，而獲得指出干擾事件是否發生的偵測結果。雜訊感測電路641可以依據此偵測結果來決定是否動態調整或維持電容器642以及(或是)電容器643的電容值(可變電容)。基於雜訊感測電路641的控制訊號S1，電容器642可以提供可變電容給導線451P。基於雜訊感測電路641的控制訊號S2，電容器643可以提供可變電容給導線451N。圖8所示雜訊感測電路641、電容器642以及電容器643可以參照圖4所示雜訊感測電路441以及可變電容器442的相關說明來類推，故不再贅述。
本實施例並不限制第二積體電路420的實施方式。例如，圖8所示第二積體電路420包括輸入焊墊421P、輸入焊墊421N以及源極驅動電路422。輸入焊墊421P經由印刷電路板的導線451P電性耦接至第一積體電路410，以接收差動輸入訊號的第一端訊號。輸入焊墊421N經由印刷電路板的導線451N電性耦接至第一積體電路410，以接收差動輸入訊號的第二端訊號。源極驅動電路422耦接至輸入焊墊421P與輸入焊墊421N，以接收差動輸入訊號。源極驅動電路422可以處理此輸入訊號，而產生輸出資料以驅動顯示面板。
圖4所示實施例是將抗干擾電路440配置在印刷電路板450，圖8所示實施例亦是將抗干擾電路640配置在印刷電路板。依照設計需求，在其他實施例中，此抗干擾電路可配置在第一積體電路410(例如時序控制電路310)內部以及/或是第二積體電路420(例如源極驅動電路)內部。
圖9是依照本發明的再一實施例所繪示的一種顯示裝置的電路方塊示意圖。圖9所示顯示裝置包括時序控制電路310以及積體電路700。圖9所示時序控制電路310可以參照圖3所示時序控制電路310的相關說明，以及/或是圖9所示時序控制電路310可以參照圖4所示第一積體電路410的相關說明，故不再贅述。積體電路700可以驅動顯示面板。圖9所示積體電路700可以參照圖3所示源極驅動電路321~324的任一個的相關說明，以及/或是圖9所示積體電路700可以參照圖8所示第二積體電路420 的相關說明，故不再贅述。於圖9所示實施例中，積體電路700的差動輸入端對(輸入焊墊721P與輸入焊墊721N)經由傳輸線對(導線對)電性耦接至時序控制電路310，以接收包括影像資料的差動輸入訊號。
圖9所示積體電路700包括輸入焊墊721P、輸入焊墊721N、源極驅動電路722與抗干擾電路740。輸入焊墊721P與輸入焊墊721N可以從外部接收包括影像資料的輸入訊號。源極驅動電路722耦接至輸入焊墊721P與輸入焊墊721N，以接收輸入訊號。舉例來說，源極驅動電路722包括接收電路，其中所述接收電路的第一輸入端耦接至輸入焊墊721P，而所述接收電路的第二輸入端耦接至輸入焊墊721N。源極驅動電路722可以處理此輸入訊號，而產生輸出資料以驅動顯示面板。
抗干擾電路740耦接至輸入焊墊721P與輸入焊墊721N以提供可變電容。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路740可以將可變電容維持於正常電容值。所述正常電容值可以依照設計需求來決定。舉例來說，在一些實施例中，所述正常電容值可以為零。當干擾事件發生於輸入訊號時，抗干擾電路740可以將可變電容從正常電容值調整為至少一抗干擾電容值。所述抗干擾電容值可以依照設計需求來決定。舉例來說，在一些實施例中，所述抗干擾電容值可以是大於所述正常電容值的任何實數。當干擾事件消失時，抗干擾電路740可以將所述可變電容從所述抗干擾電容值回復至正常電容值。
本實施例並不限制抗干擾電路740的實施方式。例如，圖9所示抗干擾電路740包括雜訊感測電路741、電容器742以及電容器743。電容器742以及/或是電容器743具有固定電容或可變電容。電容器742的第一節點耦接到輸入焊墊721P與源極驅動電路722的接收電路的第一輸入端。電容器742的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。電容器743的第一節點耦接到輸入焊墊721N與源極驅動電路722的接收電路的第二輸入端。電容器743的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。
雜訊感測電路741可以偵測干擾事件是否發生於輸入焊墊721P與輸入焊墊721N的差動輸入訊號，亦即偵測傳輸線有無發生干擾事件。依據偵測結果，雜訊感測電路741可以改變電容器742以及電容器743的電容值，以達到抑制雜訊的效果。舉例來說，抗干擾電路740的雜訊感測電路741可以偵測輸入訊號的頻率、輸入訊號的共模準位以及輸入訊號的擺幅其中至少一者，而獲得指出干擾事件是否發生的偵測結果。雜訊感測電路741可以依據此偵測結果來決定是否動態調整或維持電容器742以及/或是電容器743的電容值(可變電容)。基於雜訊感測電路741的控制訊號S1，電容器742可以提供可變電容給輸入焊墊721P。基於雜訊感測電路741的控制訊號S2，電容器743可以提供可變電容給輸入焊墊721N。圖9所示雜訊感測電路741、電容器742以及電容器743可以參照圖8所示雜訊感測電路641、電容器642以及電容器643的相關說明，也可以參照圖4所示雜訊感測電路441 以及可變電容器442的相關說明來類推，故不再贅述。
圖9所示雜訊感測電路741可以參照圖5的相關說明。在其他實施例中，圖9所示雜訊感測電路741可以根據檢測結果從多個抗干擾電容值中選擇一個。亦即，抗干擾電路740可以配置為，根據檢測結果決定所述可變電容被調節到多個抗干擾電容值中的哪一個。
圖10是依照本發明的一實施例所繪示的一種驅動電路的抗干擾方法的流程示意圖。請參照圖9與圖10。在時序控制電路310與積體電路700上電(power on)後，時序控制電路310與積體電路700進入時脈訓練(clock training)模式。於時脈訓練模式中，時序控制電路310將時脈訓練資料串做為資料信號傳送給積體電路700。本實施例並不限制時脈訓練模式中的操作細節。舉例來說，時脈訓練模式的操作細節可以是習知的時脈訓練操作或是其他操作。此時，在積體電路700內部的時脈資料回復(clock data recovery，簡稱CDR)電路(未繪示)可以對時序控制電路310所提供的時脈訓練資料串進行鎖頻操作以及/或是鎖相操作。在時脈訓練模式結束後，積體電路700的CDR電路可以正確鎖定時序控制電路310所提供的時脈訓練資料串，因此時序控制電路310與積體電路700進入正常模式。
由抗干擾電路740可以提供可變電容給輸入焊墊721P與輸入焊墊721N。於正常模式中，抗干擾電路740將所述可變電容設置/維持於正常電容值，亦即抗干擾電路740將正常電容值提供 給輸入焊墊721P與輸入焊墊721N(步驟S810)。所述正常電容值可以依照設計需求來決定。舉例來說，在一些實施例中，所述正常電容值可以為零或是其他電容值。此時，源極驅動電路722經由輸入焊墊721P與輸入焊墊721N從外部接收包括影像資料的輸入訊號，以及源極驅動電路722處理所述輸入訊號而產生輸出資料以驅動顯示面板(步驟S820)。
抗干擾電路740可以偵測干擾事件有無發生(步驟S830)。當干擾事件沒有發生時(步驟S830判斷為「否」)，再一次進行步驟S810與步驟S820。亦即，當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路740將所述可變電容維持於正常電容值，並且積體電路700以所述正常電容值接收包括影像資料的輸入訊號。
當干擾事件(例如圖1與圖2所示干擾情境)發生時，射頻雜訊可能會干擾了時序控制電路310與積體電路700之間的資料信號的傳輸，致使資料信號的共模電壓的共模準位VCOM發生變化(如圖5所示)。當發生了干擾事件時(步驟S830判斷為「是」)，抗干擾電路740可以將所述可變電容從正常電容值調整為抗干擾電容值(如圖5所示，從正常電容值C1調整為抗干擾電容值C2)，亦即抗干擾電路740將抗干擾電容值提供給輸入焊墊721P與輸入焊墊721N(步驟S840)。此時，源極驅動電路722經由輸入焊墊721P與輸入焊墊721N從外部接收包括影像資料的輸入訊號，以及源極驅動電路722處理所述輸入訊號而產生輸出資料以驅動顯示面板(步驟S850)。
所述抗干擾電容值可以依照設計需求來決定。舉例來說，在一些實施例中，所述抗干擾電容值可以是2.2pF、5pF、10pF或是大於所述正常電容值的任何實數。依照設計需求，所述抗干擾電容值可為一個固定值或是一個動態值(相依於干擾事件的嚴重程度)。此固定值譬如可根據實驗決定，並且與資料率(data rate)相關。
在一些實施例中，當干擾事件發生時，雜訊感測電路741可以動態調整電容器742以及電容器743的電容值。譬如，雜訊感測電路741可以根據雜訊的大小或頻率的範圍，來設定電容器742以及電容器743的電容值之大小。舉例來說，當雜訊的大小或頻率落於第一範圍內時，雜訊感測電路741可以將電容器742以及電容器743的電容值設定為第一電容值；當雜訊的大小或頻率落於第二範圍內時，雜訊感測電路741可以將電容器742以及電容器743的電容值設定為第二電容值。
在步驟S850後，步驟S830會被再一次執行，亦即抗干擾電路740可以再一次偵測干擾事件有無發生。因此，當干擾事件消失時，抗干擾電路740可以將所述可變電容從所述抗干擾電容值回復至正常電容值(步驟S810)。
在一些實施例中，抗干擾電路740包括電容器和開關。例如，圖11是依照本發明的一實施例所繪示的一種抗干擾電路740的電路方塊示意圖。在圖11所示的實施例中，抗干擾電路740包括雜訊感測電路741、開關SW3和電容器Cap3。電容器Cap3具 有固定電容。圖11所示雜訊感測電路741可以參照圖9所示雜訊感測電路741的相關說明來類推，故不再贅述。開關SW3的第一端耦接到輸入焊墊721N。開關SW3的控制端耦接到雜訊感測電路741。電容器Cap3的第一節點耦接到開關SW3的第二端。電容器Cap3的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。開關SW3被配置為在干擾事件發生時接通，並且在沒有發生干擾事件時斷開。
在一些實施例中，抗干擾電路740包括多個電容器和多個開關。例如，圖12是依照本發明的另一實施例所繪示的一種抗干擾電路740的電路方塊示意圖。在圖12所示的實施例中，抗干擾電路740包括雜訊感測電路741、開關SW3、開關SW4、電容器Cap3和電容器Cap4。圖12所示雜訊感測電路741可以參照圖9所示雜訊感測電路741的相關說明來類推，故不再贅述。開關SW3和開關SW4的第一端耦接到輸入焊墊721N。開關SW3的控制端耦接到雜訊感測電路741，以接收控制信號S3。開關SW4的控制端耦接到雜訊感測電路741，以接收控制信號S4。電容器Cap3的第一節點耦接到開關SW3的第二端。電容器Cap4的第一節點耦接到開關SW4的第二端。電容器Cap3和電容器Cap4的第二節點耦接到參考電壓電平Vref。
綜上所述，本發明諸實施例所述積體電路、顯示裝置及其抗干擾方法可以判定輸入訊號是否發生干擾事件。當干擾事件發生時，抗干擾電路的可變電容可以從正常電容值被動態調整為抗干擾電容值，以抑制射頻雜訊。在一些實施例中，所述抗干擾 電容值可以是單一電容值。在另一些實施例中，所述抗干擾電容值可以是多個電容值。雜訊感測電路441可以根據不同的雜訊條件(干擾事件的程度)而從多個抗干擾電容值中選擇一個對應電容值。當干擾事件沒有發生時，抗干擾電路的可變電容可以被維持於(調回至)正常電容值。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
310‧‧‧時序控制電路
700‧‧‧積體電路
721P、721N‧‧‧輸入焊墊
722‧‧‧源極驅動電路
740‧‧‧抗干擾電路
741‧‧‧雜訊感測電路
742、743‧‧‧電容器
Vref‧‧‧參考電壓電平
S1、S2‧‧‧控制訊號

Claims (32)

  1. 一種積體電路，用以驅動一顯示面板，所述積體電路包括： 至少一輸入焊墊，經配置以從外部接收包括一影像資料的一輸入訊號； 一源極驅動電路，耦接至所述至少一輸入焊墊以接收該輸入訊號，以及處理該輸入訊號而產生一輸出資料以驅動該顯示面板；以及 一抗干擾電路，耦接至所述至少一輸入焊墊以提供一可變電容，其中當一干擾事件發生於該輸入訊號時，該抗干擾電路經配置以將該可變電容從一正常電容值調整為至少一抗干擾電容值，以及當該干擾事件沒有發生時，該抗干擾電路經配置以將該可變電容維持於該正常電容值。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的積體電路，其中該抗干擾電路包括一個或多個電容，每個電容具有耦接到所述至少一輸入焊墊之一的一第一節點。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的積體電路，其中每個電容器具有耦接到一參考電壓電平的一第二節點。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的積體電路，其中所述一個或多個電容的至少一電容具有一固定電容，並且該抗干擾電路還包括耦接到所述至少一電容器的至少一開關。
  5. 如申請專利範圍第3項所述的積體電路，其中該抗干擾電路包括一電容器和一開關，耦接於該輸入焊墊與該參考電壓電平之間，其中該開關被配置為在該干擾事件發生時為接通並且在該干擾事件不發生時為斷開。
  6. 如申請專利範圍第2項所述的積體電路，其中所述一個或多個電容的至少一電容具有一可變電容。
  7. 如申請專利範圍第2項所述的積體電路，其中所述至少一輸入焊墊包括一第一輸入焊墊以及一第二輸入焊墊，該源極驅動電路包括一接收電路，該接收電路的一第一輸入端耦接至該第一輸入焊墊，該接收電路的一第二輸入端耦接至該第二輸入焊墊，該些電容器包括耦接於該第一輸入焊墊與該接收電路的該第一輸入端之間的一第一電容器以及耦接於該第二輸入焊墊與該接收電路的該第二輸入端之間的一第二電容器。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的積體電路，其中該正常電容值為零。
  9. 如申請專利範圍第1項所述的積體電路，其中所述至少一抗干擾電容值大於該正常電容值。
  10. 如申請專利範圍第1項所述的積體電路，其中該抗干擾電路被配置為偵測該輸入訊號的一頻率、該輸入訊號的一共模準位以及該輸入訊號的一擺幅其中至少一者而獲得指出該干擾事件是否發生的一偵測結果，以及依據該偵測結果來決定是否調整或維持該可變電容。
  11. 如申請專利範圍第10項所述的積體電路，其中該抗干擾電路還被配置為，根據該檢測結果決定該可變電容被調節到所述至少一抗干擾電容值中的哪一個。
  12. 如申請專利範圍第1項所述的積體電路，其中在該干擾事件消失後，該抗干擾電路將該可變電容從所述至少一抗干擾電容值回復至該正常電容值。
  13. 一種積體電路的抗干擾方法，該積體電路用以驅動一顯示面板，所述抗干擾方法包括： 由一源極驅動電路經由至少一輸入焊墊從外部接收包括一影像資料的一輸入訊號； 由該源極驅動電路處理該輸入訊號而產生一輸出資料以驅動該顯示面板； 由一抗干擾電路提供一可變電容給所述至少一輸入焊墊； 當一干擾事件發生於該輸入訊號時，由該抗干擾電路將該可變電容從一正常電容值調整為至少一抗干擾電容值；以及 當該干擾事件沒有發生時，由該抗干擾電路將該可變電容維持於該正常電容值。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的抗干擾方法，其中該正常電容值為零。
  15. 如申請專利範圍第13項所述的抗干擾方法，其中所述至少一抗干擾電容值大於該正常電容值。
  16. 如申請專利範圍第13項所述的抗干擾方法，更包括： 由該抗干擾電路偵測該輸入訊號的一頻率、該輸入訊號的一共模準位以及該輸入訊號的一擺幅其中至少一者而獲得指出該干擾事件是否發生的一偵測結果；以及 依據該偵測結果來決定是否調整或維持該可變電容。
  17. 如申請專利範圍第16項所述的抗干擾方法，更包括： 由該抗干擾電路根據該檢測結果，決定該可變電容被調節到所述至少一抗干擾電容值中的哪一個。
  18. 如申請專利範圍第13項所述的抗干擾方法，更包括： 在該干擾事件消失後，由該抗干擾電路將該可變電容從所述至少一抗干擾電容值回復至該正常電容值。
  19. 一種顯示裝置，包括： 一顯示面板； 一印刷電路板，耦接至該顯示面板； 一第一積體電路，配置於該印刷電路板上； 一第二積體電路，配置於該顯示面板上，其中該第二積體電路經由該印刷電路板的至少一導線電性耦接至該第一積體電路以接收包括一影像資料的一輸入訊號；以及 一抗干擾電路，配置於該印刷電路板上，其中該抗干擾電路耦接至所述至少一導線以提供一可變電容， 其中當一干擾事件發生於該輸入訊號時，該抗干擾電路經配置以將該可變電容從一正常電容值調整為至少一抗干擾電容值，以及當該干擾事件沒有發生時，該抗干擾電路經配置以將該可變電容維持於該正常電容值。
  20. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中該第一積體電路包括一時序控制電路，第二積體電路包括一源極驅動電路。
  21. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中該抗干擾電路包括一個或多個電容，每個電容具有耦接到所述至少一導線之一的一第一節點。
  22. 如申請專利範圍第21項所述的顯示裝置，其中每個電容器具有耦接到一參考電壓電平的一第二節點。
  23. 如申請專利範圍第22項所述的顯示裝置，其中所述一個或多個電容器至少一電容具有一固定電容，並且該抗干擾電路還包括耦接到所述至少一電容器的至少一開關。
  24. 如申請專利範圍第22項所述的顯示裝置，其中該抗干擾電路包括一電容器和一開關，耦接於該導線與該參考電壓電平之間，其中該開關被配置為在該干擾事件發生時為接通並且在該干擾事件不發生時為斷開。
  25. 如申請專利範圍第21項所述的顯示裝置，其中所述一個或多個電容的至少一電容具有可變電容。
  26. 如申請專利範圍第21項所述的顯示裝置，其中所述至少一導線包括一第一導線以及一第二導線，該源極驅動電路的一第一輸入焊墊耦接至該第一導線，該源極驅動電路的一第二輸入焊墊耦接至該第二導線，該些電容器包括耦接於該第一導線的一第一電容器以及耦接於該第二導線的一第二電容器。
  27. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中該第二積體電路包括： 一輸入焊墊，經配置以經由該印刷電路板的該導線電性耦接至該第一積體電路以接收該輸入訊號；以及 一源極驅動電路，耦接至所述輸入焊墊以接收該輸入訊號，以及處理該輸入訊號而產生一輸出資料以驅動該顯示面板。
  28. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中該正常電容值為零。
  29. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中所述至少一抗干擾電容值大於該正常電容值。
  30. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中該抗干擾電路被配置為偵測該輸入訊號的一頻率、該輸入訊號的一共模準位以及該輸入訊號的一擺幅其中至少一者而獲得指出該干擾事件是否發生的一偵測結果，以及依據該偵測結果來決定是否調整或維持該可變電容。
  31. 如申請專利範圍第30項所述的顯示裝置，其中該抗干擾電路還被配置為，根據該檢測結果決定該可變電容被調節到所述至少一抗干擾電容值中的哪一個。
  32. 如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中在該干擾事件消失後，該抗干擾電路將該可變電容從所述至少一抗干擾電容值回復至該正常電容值。
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