TWI708978B - 顯示裝置、顯示系統以及顯示裝置的製造方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提供在基板中的像素元件的配置中，藉由設定最佳的顯示區域，從而提高成品率的顯示裝置。顯示裝置(1)由多個像素元件(3)以矩陣狀配置在基底基板上。多個像素元件(3)中的位於外周的外側像素元件(3b)成為非顯示區域(R2)，位於內側的內側像素元件(3a)成為顯示區域(R1)。

Description

顯示裝置、顯示系統以及顯示裝置的製造方法
本發明涉及一種多個像素元件以矩陣狀配置在基底基板上的顯示裝置、顯示系統以及顯示裝置的製造方法。
一直以來，公知有將多個像素元件以矩陣狀排列在基板上而形成的顯示裝置。在這樣的顯示裝置中，想到了在顯示區域的周邊設置虛設元件(例如參照專利文獻1、專利文獻2以及專利文獻3)。
專利文獻1：日本特開2007-93685號公報
專利文獻2：日本特開2001-195026號公報
專利文獻3：日本專利第4576647號
專利文獻1所記載的電光裝置具有屬於進行圖像顯示的有效顯示區域的顯示像素、和屬於周邊區域的虛設像素，虛設元件與顯示像素不同且被製成不進行動作的構成。由此，節約虛設元件的功耗。
專利文獻2所記載的矩陣型顯示裝置具備有助於構成顯示面板的顯示的發光元件和無助於顯示的虛設元件。在該結構中，測定虛設元件的電特性，並將其結果反映於發光元件的電壓或者電流的控制。
專利文獻3所記載的點矩陣顯示裝置具備：與掃描線和信號線的交叉位置結合的顯示元件；與掃描線結合的虛設顯示元件(虛設元件)； 對顯示元件供給輸出電壓的第一電壓源；以及供給比輸出電壓低的電壓的第二電壓源，並構成為存積於顯示元件的電荷經由虛設顯示元件進行放電。在該結構中，藉由進行放電動作，從而防止顯示元件的錯誤顯示。
在上述的結構中，虛設元件彌補電氣功能，但其功能有限且沒有應對各種狀況的自由度。
本發明是為了解決上述的課題而完成的，其目的在於，提供一種藉由針對基板中的像素元件的配置而設定最佳的顯示區域，從而提高成品率的顯示裝置、顯示系統以及顯示裝置的製造方法。
本發明的顯示裝置由多個像素元件以矩陣狀配置於基板而形成，所述顯示裝置的特徵在於，將上述多個像素元件中的位於外周的外側像素元件作為非顯示區域，將位於比上述外側像素元件靠內側的位置的內側像素元件作為顯示區域。
在本發明的顯示裝置中，也可以構成為，上述外側像素元件設置有表示上述內側像素元件的行列的識別圖案。
在本發明的顯示裝置中，也可以構成為，上述識別圖案被製成描繪文字或者圖形的形狀。
在本發明的顯示裝置中，也可以構成為，上述多個像素元件分別被分離，在上述多個像素元件彼此之間填充有樹脂。
在本發明的顯示裝置中，也可以構成為，在俯視時，上述顯示區域中的上述樹脂所占的面積為30%以下。
在本發明的顯示裝置中，也可以構成為，具備覆蓋上述內側像素元件的螢光體層。
本發明的顯示系統的特徵在於具備本發明的顯示裝置。
本發明的顯示裝置的製造方法為，所述顯示裝置由多個像素元件以矩陣狀配置於基板而形成，所述顯示裝置的製造方法的特徵在於，包括：沉積工序，將上述多個像素元件形成於相同的沉積基板；和接合工序，將形成於上述沉積基板的像素元件接合於基底基板，將上述多個像素元件中的位於外周的外側像素元件作為非顯示區域，將位於比上述外側像素元件靠內側的位置的內側像素元件作為顯示區域。
本發明的顯示裝置的製造方法也可以構成為，包括：分離工序，分別將上述多個像素元件分離；和填充工序，在上述多個像素元件彼此之間填充樹脂。
本發明的顯示裝置的製造方法也可以構成為，包括：剝離工序，將上述多個像素元件從上述沉積基板剝離。
本發明的顯示裝置的製造方法也可以包括：研磨工序，對從上述沉積基板剝離的多個像素元件的表面進行研磨。
在本發明的顯示裝置的製造方法中，上述像素元件也可以構成為上述外側像素元件的電極的面積大於上述內側像素元件的電極的面積。
在本發明的顯示裝置的製造方法中，也可以構成為，上述外側像素元件被製成發光元件，所述顯示裝置的製造方法包括：評價工序，使上述外側像素元件發光。
根據本發明，即使針對顯示區域中位於外周的內側像素元件，周圍也被非顯示區域的外側像素元件包圍。因此，在外周和中央配置有內側像素元件的環境(圍起部分)相同，從而能夠使光的串擾(crosstalk)均勻化，能夠改善由照射於周圍的光引起的發光面不均。
1:顯示裝置
2:基底基板(基板的一個例子)
3:像素元件
3a:內側像素元件
3b:外側像素元件
4a:內側電極(電極的一個例子)
4b:外側電極(電極的一個例子)
5a:內側樹脂(樹脂的一個例子)
5b:外側樹脂(樹脂的一個例子)
6:螢光體層
7:遮光性樹脂
10:沉積基板
11:半導體層
R1:顯示區域
R2:非顯示區域
SP:識別圖案
圖1是本發明的第一實施形態的顯示裝置的示意剖視圖。
圖2是圖1所示的顯示裝置的示意俯視圖。
圖3是表示顯示裝置的製造方法(分離工序)的示意說明圖。
圖4是圖3的示意平面圖。
圖5是表示顯示裝置的製造方法(接合工序)的示意說明圖。
圖6是表示顯示裝置的製造方法(填充工序)的示意說明圖。
圖7是表示顯示裝置的製造方法(剝離工序)的示意說明圖。
圖8是表示顯示裝置的製造方法(研磨工序)的示意說明圖。
圖9是表示在比較例中從像素元件照射的光的行為的說明圖。
圖10是表示在本發明的第一實施形態的顯示裝置中從像素元件照射的光的行為的說明圖。
圖11是表示本發明的第二實施形態的顯示裝置的概略的示意俯視圖。
圖12是本發明的第三實施形態的顯示裝置的示意剖視圖。
(第一實施形態)
以下，參照圖式對本發明的第一實施形態的顯示裝置進行說明。圖1是本發明的第一實施形態的顯示裝置的示意剖視圖，圖2是圖1所示的顯示裝置的示意俯視圖。此外，考慮到圖式的易懂性，圖1省略剖面線。
本發明的第一實施形態的顯示裝置1多個像素元件3以矩陣狀配置在基底基板2上。如圖2所示，多個像素元件3中的位於外周的外側像素元件3b成為非顯示區域R2，位於內側的內側像素元件3a成為顯示區域R1。圖2中，示出矩形狀的像素元件3以4行×5列配置的例子，在各行以 及各列中，配置於前端以及末尾的像素元件3與外側像素元件3b對應。此外，圖1中，示出內側像素元件3a與外側像素元件3b的位置關係，因此示出與圖2的第2行以及第3行對應的像素元件3。另外，圖2中，將像素元件3以4行×5列配置，但不局限於此，配置在基底基板2上的像素元件3的數量能夠適當地設定。
像素元件3相對於基底基板2，經由電極而接合。以下，有時將電極中的與內側像素元件3a對應的電極稱為內側電極4a，將與外側像素元件3b對應的電極稱為外側電極4b而進行區別。
在像素元件3彼此之間填充有樹脂。以下，有時將樹脂中的與顯示區域R1對應的樹脂稱為內側樹脂5a，將與非顯示區域R2以及基底基板2的外周對應的樹脂稱為外側樹脂5b而進行區別。換句話說，在俯視時，內側像素元件3a被內側樹脂5a圍起，外側像素元件3b被外側樹脂5b圍起。
接下來，參照圖式與顯示裝置1的製造方法一併對各部的詳細情況進行說明。
像素元件3能夠利用公知的半導體發光元件，也可以使用LED。 作為像素元件3的半導體層11的構造，可舉出具有PN接合的同質構造、異質構造或者雙異質構造的構造。沉積基板10是層疊有半導體層11者。 半導體層11藉由外延沉積而形成在沉積基板10上(沉積工序)。在本實施形態中，沉積基板10由藍寶石形成，但不局限於此，只要是能夠使半導體層11外延沉積的材料即可。
圖3是表示顯示裝置的製造方法(分離工序)的示意說明圖，圖4是圖3的示意平面圖。
在沉積工序後，進行電極的形成和元件的分離。具體而言，在半導體層11上，與內側像素元件3a以及外側像素元件3b的位置對應地形 成有內側電極4a以及外側電極4b。電極藉由公知的電極形成技術而形成，例如使用Au等金屬。此外，但電極不局限於此，也可以使用合金，或層疊多個材料。
並且，藉由選擇蝕刻工序將半導體層11蝕刻為沉積基板10局部露出。由此，成為一體的半導體層11被分割(分離)為多個像素元件3。
圖5是表示顯示裝置的製造方法(接合工序)的示意說明圖。
在圖3所示的分離工序後，使像素元件3與基底基板2接合。具體而言，使沉積基板10的設置有像素元件3的面與基底基板2對置而對基底基板2和沉積基板10進行按壓。此外，雖省略圖式，但也可以在基底基板2預先藉由電極等而形成佈線，也可以與內側像素元件3a以及外側像素元件3b的位置對應地刻畫圖案。
基底基板2的材料未特別限定，例如也可以使用在Si上形成控制像素元件3的發光的驅動電路的材料。
對於沉積基板10上的像素元件而言，較佳為構成為外側電極4b的面積大於內側電極4a的面積。由此，藉由外側像素元件3b，能夠加強與基底基板2的接合強度。換句話說，藉由設置於外周的外側像素元件3b能夠牢固地接合，因此能夠補充內側像素元件3a的接合。
圖6是表示顯示裝置的製造方法(填充工序)的示意說明圖。
在圖5所示的接合工序後，在像素元件3彼此之間填充有樹脂。 樹脂是有機矽系樹脂、環氧類樹脂等液狀樹脂，例如，在利用與空隙的尺寸匹配的微型針等進行了注入後而固化。使液狀樹脂固化的方法未特別限定，但例如也可以照射紫外線，或加熱等。
在空隙等填充樹脂時，若在極端存在敞開的空間，則促進向該部分的供給，向其他部分的供給延誤，從而樹脂的填充量產生不均。在 本實施形態中，在分離的像素元件3之間填充樹脂時，設置有外側像素元件3b，因此在外周和中央，內側像素元件3a的圍起部分相同，從而能夠均勻地填充樹脂。
圖7是表示顯示裝置的製造方法(剝離工序)的示意說明圖。
在圖6所示的填充工序後，從像素元件3將沉積基板10剝離。在剝離沉積基板10時，向使沉積基板10的一方的端部從基底基板2分離的方向(圖中箭頭A的方向)施加力。施加於沉積基板10的力容易施加於像素元件3中的位於最外周的位置。這裡，位於最外周的位置是外側像素元件3b，因此能夠抑制對內側像素元件3a的影響，從而能夠提高像素元件3的成品率。
另外，較佳為在俯視時顯示區域R1中的樹脂所占的面積為30%以下。即，藉由將未有助於顯示的樹脂的面積抑制為盡可能小，從而能夠確保所要求的畫質，並且實現基於外側像素元件3b和樹脂的加強。並且，藉由將樹脂所占的面積抑制為較小，從而減少樹脂與沉積基板10接觸的面積，能夠使沉積基板10容易剝離。
圖8是表示顯示裝置的製造方法(研磨工序)的示意說明圖。
在圖7所示的剝離工序後，對像素元件3的表面(上表面)進行研磨。像素元件3的研磨能夠藉由例如CMP等實施。具體而言，在研磨工序中，在將顯示裝置1中的像素元件3的上表面側按壓於研磨機20的狀態下，使顯示裝置1以及/或者研磨機20在沿著像素元件3的上表面的方向(圖中箭頭B的方向)上滑動。此時，容易對位於最外周的位置的像素元件3施加負載，磨削量變多。這裡，藉由設置外側像素元件3b而使容易產生研磨不均的位置不包括內側像素元件3a，從而能夠抑制對顯示區域R1的影響，減少發光面不均。
借助上述的工序製造圖1所示的顯示裝置1。也可以相對於這樣製造出的顯示裝置1，進行特性的評價工序。在評價工序中，使外側像素元件3b發光而實施。換句話說，在沉積工序中，藉由使與內側像素元件3a同時形成的外側像素元件3b發光，從而能夠對作為發光元件的電特性、完成狀況進行評價。另外，藉由實際發光，能夠掌握電極與像素元件3的接合狀態等。這樣，藉由對外側像素元件3b的特性進行評價，從而能夠推測內側像素元件3a的特性。
接下來，參照圖式對從像素元件3照射的光與鄰接的像素元件3的關係進行說明。
圖9是表示比較例中從像素元件照射的光的行為的說明圖。
為了對光的行為進行說明，首先對比較例的情況進行說明。比較例構成為相對於圖1所示的顯示裝置1未設置外側像素元件3b。具體而言，圖9中，示出3個內側像素元件3a排列配置的狀態，成為顯示區域R1的周圍未由非顯示區域R2圍起的狀態。像素元件3構成為主要從上表面照射光，但也從側面照射一部分光(側面光L)。這裡的樹脂未完全遮擋側面光L，使其一部分透過。此外，圖9中，考慮到圖式的易懂性，省略從像素元件3的上表面照射的光。
側面光L由鄰接的像素元件3等反射而從顯示裝置1的上表面側射出。但是，對於設置於最外周的像素元件3而言，有鄰接的像素元件3不存在的面，以從此處向側方擴張的方式照射側面光L。作為其結果，在最外周和內側，側面光L的表現方式產生不同，成為發光面不均的重要因素。
圖10是表示在本發明的第一實施形態的顯示裝置中從像素元件照射的光的行為的說明圖。
圖10示出上述的圖1所示的顯示裝置1中的側面光L的行為。如上述那樣，在本發明的第一實施形態的顯示裝置1中，位於最外周的位置的像素元件3(外側像素元件3b)成為非顯示區域R2，被控制為不發光。 換句話說，針對顯示區域R1中位於外周的位置的內側像素元件3a，其周圍也由非顯示區域R2的外側像素元件3b圍起。因此，從顯示區域R1中位於外周的位置的內側像素元件3a照射的側面光L由外側像素元件3b反射，與其他部分相同，從顯示裝置1的上表面側射出。這樣，在外周和中央，配置有內側像素元件3a的環境(圍起部分)相同，能夠使光的串擾均勻化，能夠改善由照射於周圍的光引起的發光面不均。
(第二實施形態)
接下來，參照圖式對本發明的第二實施形態的顯示裝置進行說明。 此外，對具有與第一實施形態相同的功能的構成要素標注相同的符號，並省略其說明。
圖11是表示本發明的第二實施形態的顯示裝置的概略的示意俯視圖。
在第二實施形態中，相對於第一實施形態，在外側像素元件3b的電極設置識別圖案SP這點不同。具體而言，識別圖案SP表示像素元件3的行列，例如使文字或者圖形作為描繪形狀。識別圖案SP為在從上表面側觀察顯示裝置1時用戶、機械等能夠視認的形狀即可，標注按行以及列的順序而不同的數字、文字即可。例如，在作為識別圖案SP使用數字的情況下，也可以使值從1依次變大。另外，在使用文字的情況下，也可以按字母順序附加。這樣，藉由對沿著顯示區域R1的外周設置的識別圖案SP進行確認，能夠容易地掌握顯示區域R1中的像素元件3的位置，能 夠提高不良狀況解析等的操作性。另外，藉由使用文字、圖形作為識別圖案SP，能夠在視覺上掌握像素元件3的行列。
識別圖案SP例如由電極等形成，也可以是文字、數字其本身的形狀，也可以作為鏤空形狀而僅鑲邊。此外，識別圖案SP不局限於上述的結構，也可以是多個文字、圖形的組合。換句話說，也可以相對於一個外側像素元件3b賦予多個文字。另外，也可以將多個矩形規則排列而成的二維條形碼等用作識別圖案SP。
(第三實施形態)
接下來，參照圖式對本發明的第三實施形態的顯示裝置進行說明。 此外，對具有與第一實施形態以及第二實施形態相同的功能的構成要素標注相同的符號，省略其說明。
圖12是本發明的第三實施形態的顯示裝置的示意剖視圖。
第三實施形態相對於第一實施形態，具備覆蓋內側像素元件3a的上表面的螢光體層6(顏色轉換層)這點不同。具體而言，與內側像素元件3a分別對應地設置螢光體層6，外側像素元件3b、像素元件3彼此的縫隙由遮光性樹脂7覆蓋。
螢光體層6藉由螢光體材料、顏色轉換材料、光散射材料以及成為母材的樹脂等形成，並作用於從內側像素元件3a照射的光。螢光體層6對內側像素元件3a所照射的光的波長進行轉換而使紅色、綠色、藍色以及黃色等的光射出。此外，不局限於此，螢光體層6也可以成為透明層。 另外，不需要相對於多個內側像素元件3a而使螢光體層6全部成為相同的結構，也可以構成為分別轉換為不同的顏色。
在上述的第一實施形態以及第二實施形態中，對在內側像素元件3a的點亮時使外側像素元件3b成為非點亮的情況進行了說明，但在第 三實施形態中，有時在內側像素元件3a的點亮時使外側像素元件3b點亮。例如，在使顯示區域R1的像素元件3全部點亮時(全點亮時)，若在最外周和內側欲使內側像素元件3a成為看起來相同的外觀，則也希望使與最外周的內側像素元件3a鄰接的外側像素元件3b點亮。如圖12所示，在螢光體層6也入射從鄰接的像素元件3照射的側面光L，因此藉由使外側像素元件3b點亮，能夠使顏色的外觀均勻化。其中，外側像素元件3b其本身看起來主動地顯示變化，因此被遮光性樹脂7覆蓋。此外，當然替代遮光性樹脂7而為遮光性的框，也能夠無法從外部看見。另外，在全點亮時以外，僅存在外側像素元件3b即可，不需要使外側像素元件3b發光。
在上述的實施形態中，用基底基板2進行了說明，但不局限於此，基底基板2例如除了玻璃環氧基板等一般的基板以外，當然也可以將LSI晶片等半導體晶片作為基板。即，LSI晶片on像素元件是指堆疊結構。
此外，這次公開的實施形態全部方面均為例示，不成為限定性解釋的基礎。
另外，本發明的顯示裝置1不特別限定於此，但例如能夠適當地用於液晶顯示器、VR(Virtual Reality)系統、AR(Augmented Reality)系統、MR(Mixed Reality)系統、雷射投影裝置、以及LED投影裝置等顯示系統。
因此，本發明的技術範圍不只是藉由上述的實施形態來解釋，而是基於申請專利範圍的記載而劃分。另外，包含與申請專利範圍均等的意思以及範圍內的所有變更。
1:顯示裝置
3:像素元件
3a:內側像素元件
3b:外側像素元件
4a:內側電極(電極的一個例子)
5a:內側樹脂(樹脂的一個例子)
5b:外側樹脂(樹脂的一個例子)
R1:顯示區域
R2:非顯示區域

Claims (13)

  1. 一種顯示裝置，其由多個像素元件以矩陣狀配置於基板而形成，其特徵在於，將該多個像素元件中的位於外周的多個外側像素元件作為非顯示區域，將位於比該外側像素元件靠內側的位置的多個內側像素元件作為顯示區域；當該多個內側像素元件全部點亮時，該多個外側像素元件也點亮。
  2. 如請求項1的顯示裝置，其中，該外側像素元件設置有表示該內側像素元件的行列的識別圖案。
  3. 如請求項2的顯示裝置，其中，該識別圖案被製成描繪文字或者圖形的形狀。
  4. 如請求項1的顯示裝置，其中，該多個像素元件分別被分離，在該多個像素元件彼此之間填充有樹脂。
  5. 如請求項4的顯示裝置，其中，在俯視時，該顯示區域中的該樹脂所占的面積為30%以下。
  6. 如請求項1的顯示裝置，其中，具備覆蓋該內側像素元件的螢光體層。
  7. 一種顯示系統，其特徵在於，具備：請求項1至6中任一項的顯示裝置。
  8. 一種顯示裝置的製造方法，該顯示裝置由多個像素元件以矩陣狀配置於基板而形成，該顯示裝置的製造方法的特徵在於，包括：沉積工序，將該多個像素元件形成於相同的沉積基板；和接合工序，將形成於該沉積基板的像素元件接合於基底基板， 將該多個像素元件中的位於外周的多個外側像素元件作為非顯示區域，將位於比該外側像素元件靠內側的位置的多個內側像素元件作為顯示區域；當該多個內側像素元件全部點亮時，該多個外側像素元件也點亮。
  9. 如請求項8的顯示裝置的製造方法，其中，包括：分離工序，分別將該多個像素元件分離；和填充工序，在該多個像素元件彼此之間填充樹脂。
  10. 如請求項8的顯示裝置的製造方法，其中，包括：剝離工序，將該多個像素元件從該沉積基板剝離。
  11. 如請求項10的顯示裝置的製造方法，其中，包括：研磨工序，對從該沉積基板剝離的多個像素元件的表面進行研磨。
  12. 如請求項8的顯示裝置的製造方法，其中，該像素元件構成為該外側像素元件的電極的面積大於該內側像素元件的電極的面積。
  13. 如請求項8的顯示裝置的製造方法，其中，該外側像素元件被製成發光元件，該顯示裝置的製造方法包括：評價工序，使該外側像素元件發光。
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