TWI584052B - 用以測試相機模組之系統及曝露相機模組於目標之方法 - Google Patents

Description

用以測試相機模組之系統及曝露相機模組於目標之方法

本專利申請一般係關於一種可轉動相機模組測試系統。

相機模組會整合到許多裝置內，包括行動電話、平板計算裝置及膝上型電腦。一相機模組典型包含一或多個矩形影像感測器。在一些類型的測試中，一測試目標的影像聚焦在該影像感測器上，且測量該所得的影像是否符合適用的標準，以決定該影像模組是否適當運作。例如，一ISO-12233標準測試目標可用來測量影像清晰度。

習知的相機模組測試器會線性放置相機模組，且以組裝線的方式測試該等相機模組。一照明器(無論是在各相機模組前面或後面)會照明在該相機模組前面的一測試目標。該相機模組使用從該測試目標拍到的影像以上述方式來進行測試，然後前進到下一站來進行下一個測試。

線性測試可能為一低效率的空間利用，因為相機模組與測試目標需要在各模組與目標之間有一專用的截頭正方角錐區域。這是由於一透鏡視域的圓錐特性與該相機模組內的矩形影像感測器。舉例來說，如圖1所示，相機模組100、101及102係位在測試線104上且面對目標105、106及107。在該等相機模組及目標之間需要非干擾區109、110及111(稱為「禁 區」)以確保準確地執行測試。此需要可定義相機模組測試所需的最小空間量。

一種用於測試相機模組之範例系統可包含一多邊形結構，其為可轉動且包含多個面。該等面之各者經組態用來容納至少一個受測試相機模組。該範例系統也可包含面對該多邊形結構之該等面之至少一些的目標。各目標可用於測試面對各目標之一對應相機模組。該實例系統也可包含以下特徵中之一或多者，無論是單獨或組合。

各面可經組態用來容納多個相機模組。多個相機模組可一維地配置在至少一個面上。多個相機模組可二維地配置在至少一個面上。

該多邊形結構可定向於與地平面平行之一軸且可沿該軸轉動。該多邊形結構可定向於與地平面垂直之一軸且可沿該軸轉動。

該等目標可相對於該多邊形結構為靜止的。

該多邊形結構之該等面之至少一者被保留用於裝載及/或卸載該至少一個相機模組。

在各相機模組之視界及一對應目標之間可定義一非干擾區。該系統可包含架置在至少二個非干擾區之間的一或多個光源。照明裝置可架置在該等目標包圍的一體積之內或之外。

控制電子器件可控制該轉輪之轉動，且與該至少一個受測試相機模組通訊。該控制電子器件可位於由該等目標包圍的一體積之內。該控制電子器件可位於由該等目標包圍的一體積之外。

一用於測試相機模組之範例系統可包含：一轉輪，其經組態 用於架置受測試相機模組，其中各相機模組包含一影像感測器。該範例系統可包含目標，該等目標圍繞且面對該轉輪之一外周緣表面，使得各目標的一平面垂直於一對應相機模組之一透鏡總成內之一透鏡的一光軸。在該轉輪與該等目標之間的相對移動使不同相機模組的影像感測器能夠面對不同目標。該範例系統亦包括以下特徵中之一或多者，無論是單獨或組合。

該轉輪可具有一包含多個邊之多邊形剖面形狀。相機模組可架置在該等邊之至少一些。該轉輪可具有一圓形剖面形狀，且包含用於固持該等相機模組之結構。該轉輪可為可轉動的而該等目標可為靜止的，使得該轉輪之轉動導致在該轉輪與該目標之間相對移動。相機模組可架置在該轉輪上使得在至少一個情況下多個相機模組面對單一目標。

該轉輪可相對於一地平面垂直定向且可轉動。該轉輪可相對於一地平面水平定向且可轉動。該轉輪可包含用於架置受測試相機模組之區域。用於架置受測試相機模組之該等區域之至少一者可保留用於裝載及/或卸載該至少一個相機模組。

一非干擾區可相對於各相機模組及對應的目標來定義。該系統可包含架置在至少二個非干擾區之間的一或多個光源。該等目標之至少一些係位於距該轉輪不同的距離處。

該轉輪可為一第一轉輪且該系統可包含下列：一第二轉輪，其經組態用於架置第二受測試相機模組，其中各第二相機模組包含具有一平面表面之一第二影像感測器；及第二目標，該等第二目標配置在該第二轉輪周圍且面對該第二轉輪，使得各第二目標之一平面垂直於一對應第二相機模組之一透鏡總成內之一透鏡的一光軸；以及一機器人，其用來使相 機模組在該第一轉輪與該第二轉輪之間移動。在該第二轉輪與該等第二目標之間的相對移動致能不同相機模組的第二影像感測器面對不同目標。

一種使相機模組曝露於目標的範例方法可包含下列：將該等相機模組配置在一結構之一外周緣上，使得該等相機模組之至少一些之影像感測器朝外面向對應的目標；以及轉動該結構使得不同影像感測器在不同時間面對不同目標。該範例方法亦可包括以下特徵中之一或多者，無論是單獨或組合。

轉動該結構可使各影像感測器曝露於接連的目標。

該等相機模組可經配置使得多個影像感測器在該結構之至少一個定向面對同一目標。該配置可包含使用一機器人機構來將一相機模組裝載至該結構上。該相機模組可裝載至該結構之指定用於容納相機模組的一區域。該方法可包含在測試完成之後自該結構卸載一相機模組。該相機模組可使用一機器人機構來卸載。

一種用於測試相機模組之範例系統可包含：一結構，其為可轉動的且經組態用來固持受測試相機模組，其中該等相機模組之各者具有含一平面表面的一影像感測器；相對於該結構架置之目標，其中各目標可用於測試一對應相機模組；以及用來在該等相機模組及該等目標之間導引光的光學元件，使得各目標之一平面呈現垂直於一對應相機模組之一透鏡總成內之一透鏡的一光軸。該等光學元件可包含一或多個鏡子及/或一或多個稜鏡。

可組合本文中所述(包括在發明內容段落中者)之特徵之任兩或多者以形成本文中未具體描述的實施例。

前述內容之部分可實施為由指令構成的電腦程式產品，該產品係儲存在一或多個非暫時性、機器可讀取的儲存媒介上，且可在一或多個處理裝置上執行。前述內容的全部或部分可實施為一設備、方法或系統，其可包括一或多個處理裝置及儲存可執行指令的記憶體，以實現其功能。

一或多個實例的細節在伴隨圖式與下文敘述中提出。由以下的說明、圖式及申請專利範圍，可明白本發明的其他特性、實施態樣與優點。

100,101,102‧‧‧相機模組

104‧‧‧測試線

105,106,107‧‧‧目標

109,110,111‧‧‧非干擾區

200‧‧‧測試系統

201‧‧‧轉輪

202a,202b,202c‧‧‧周緣面

204‧‧‧相機模組

205a至205f‧‧‧測試目標

301‧‧‧影像感測器

302a至302f‧‧‧觀看(非干擾)區

401‧‧‧框架

402‧‧‧電腦

501‧‧‧測試目標

圖1係習知相機模組測試系統之方塊圖。

圖2係一相機模組測試系統之一部分的透視圖。

圖3係圖2相機模組測試系統之一部分的側視圖。

圖4係該相機模組測試系統的透視圖，該系統包含一框架及一測試電腦。

圖5係圖2相機模組測試系統之一部分的側視圖，該系統包含位在不同距離之目標。

本文描述一種用來測試光學裝置(譬如相機模組)的測試系統。一般而言，一相機模組包括一或多個影像感測器以及用於與外部電子器件通訊的一介面。一般而言，影像感測器為一種用來將一光學影像轉換成一影像訊號的裝置。一相機模組亦包括一透鏡總成。一透鏡總成包括至少一個透鏡，並且亦可(但無需)包括濾光器、聚焦馬達與其它光學元件。 該透鏡總成可具有一非可變(或者「固定」)焦點，或者該透鏡總成可具有一可變的焦點。

本文中所述的該等測試系統可用來測試任何適當類型的相機模組，包括但不限於可併入至數位相機、行動電話、平板計算裝置與膝上型電腦中的相機模組。不過，該等測試系統不限於搭配測試相機模組來使用，而且可用來測試其它類型的光學裝置。

圖2展示一範例測試系統200之一部分的範例實施方案。圖2包括一多邊形結構，或者「轉輪」201，其具有多個周緣面202a、202b、202c等等，相機模組可架置於周緣面上以進行測試。

在圖2的實施方案中，轉輪201為沿其外周緣表面具有十二個相同切面(面)的一轉輪，該等切面經組態用來固持相機模組，然而該測試系統不限於搭配具有十二個面的轉輪來使用。在圖2所示的範例實施方案中，轉輪201經組態用來每面固持四個相機模組204，然而可在一面上固持任何數目的相機模組。在此範例中，各相機模組包括具有一平面表面的一矩形影像感測器；不過，可測試不具有平面成像表面的其它類型相機模組。

測試目標205a至205f圍繞該轉輪。所示者為六個測試目標；然而，可使用任何適當的數量。該等測試目標可架置在任何適當結構上，使得各測試目標的平面垂直於一對應相機模組之透鏡總成中之一透鏡的光軸。就具有平面表面的一些影像感測器而言，這可藉由架置該等測試目標使得各相機影像感測器的平面平行於(或者實質上平行於)各對應目標的平面來達成。可做為一測試目標的實例為ISO-12233標準測試目標；然 而，也可針對不同相機模組使用不同類型測試目標。可使用之測試目標的其他實例描述於美國專利申請案第＿＿＿號，其係與此案同時申請且標題為「Matrix Testing Targets(矩陣測試目標)」(代理人案號18523-0143001/2289-GAA)。

該轉輪依在轉輪本端處或在轉輪遠端處之電子器件所控制的速率來轉動，如下文所述。在此內容背景下，若電子器件是在該等測試目標所定義之一體積內即將該電子器件視為在轉輪本端處，若電子器件在該等測試目標所定義之一體積外即將該電子器件視為在轉輪遠端處。該轉輪轉動的方式基本上為非連續，即該轉輪會分度式轉動或者「發出卡嗒聲」式轉動，使得架置在該轉輪之各面上的相機模組會花時間在各測試站上。在此內容背景下，一測試站為空間中的一個點，該轉輪會轉動經過此點，一測試則可在此點處施行。如下文所說明，可在不同的測試站處施行不同的測試，有些測試站包含如在圖式中所展示之目標，而其它測試站未包含目標。在一些實施例中，該轉輪可每10秒分度；然而，本文中所述之系統不限於10秒分度。在一些實施例中，在各測試站可花上相同的時間量。在一些實施例中，在不同的測試站可花上不同的時間量。

圖3展示測試系統200之範例實施方案的側視圖。如圖3所展示者，影像感測器301面對一對應測試目標205c以便獲得該目標的影像。藉由一或多個計算裝置(未展示於圖2及圖3中)處理該所得的影像，以測定該相機模組之特徵是否正確操作。

各對應矩形影像感測器之觀看(非干擾)區302a至302f的形狀為一截頭正方角錐，其剖面係示於圖3。舉例來說，在一些相機模組中， 視域為70°且扇形向外散出，如所示者。使用各種類型的光，例如模擬日光、鎢絲燈及其他，照亮位在這些區域內目標。在一些實施例中，非干擾區不應交疊，且結構(除了透鏡及其他光學元件)不應侵入該等非干擾區。此係為了確保在一測試站測試一相機模組時不會影響位在其他測試站之其他相機模組的測試。

在一些實施例中，在該等非干擾區之間可能有結構，該結構上可架置照明裝置或其他元件。舉例來說，圖4展示一框架401，測試目標205a至205f目標架置在框架401上。在圖4中也展示包含受測試相機模組之轉輪201。轉輪201可架置至一電腦控制的軸(未展示)來控制該轉輪相對於該等測試目標的動作。在一些實施方案中，該等測試目標為靜止的，而該轉輪為可移動的(例如，可轉動)。在其他實施方案中，該等測試目標也可為可移動的，例如，以便在測試期間改變該等測試目標。在此範例實施方案中，該旋轉軸平行於地平面，使得該轉輪在測試期間垂直轉動。

在一些實施方案中，可在一或多個非干擾區之間的框架401上架置LED或其他照明裝置(未展示)來照明對應目標。在一些實施例中，該等目標可為背光照明，且用於背光照明之照明裝置可架置在框架401上的其他地方，或框架外部。在一些實施方案中，遮光裝置(例如燈罩)可架置在該等非干擾區之間以便減少或防止來自一測試之光影響另一測試的結果。

在一些實施方案中，電子器件可架置在該框架上，位在該等非干擾區之間或別處。該電子器件可包含但不限於一或多個微處理器、一或多個微控制器、記憶體、無線通訊電路等等。除其他事項外，此電子器 件可用來控制轉輪201相對於該等測試目標之移動，以收集來自該等相機模組之資訊(例如，測試資料)，以將這些資訊傳送到遠端的或本端的電腦系統(例如，一測試站)，且在測試期間發送指令至該等相機模組。舉例來說，該測試可能需要調整該等相機模組之一或多個特徵，且可本端(例如，藉由架置至該框架或轉輪之電路)或遠端地(例如，經由與此類電路系統通訊的一測試站)控制該調整。

在一些實施方案中，該轉輪之每面在測試期間可能只有一相機模組。在其他實施例中，每面可能有多個相機模組，如圖2所示者。就此而言，在圖2中，每面有四個相機模組。在其他實施方案中，每面可有多於或少於四個相機模組。舉例來說，在單一面上可架置2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16個等(逐一計數)相機模組，取決於該等相機模組的尺寸及該等面的大小。可一維地(例如，沿一條線)或二維地(例如，以一N×M矩陣，其中N及M各為大於或等於二的整數)架置該等相機模組。在各面上架置超過一個相機模組使能平行測試該等相機模組。

在圖2至4中展示的實施方案中，所有的測試目標與轉輪201的距離都是相同。這情況並非必須的。舉例來說，如圖5中所示，可在與該轉輪不同的距離之處放置目標205a及501以便執行不同的測試。在一些實施例中，光學元件(包含但不限於一個以上的透鏡及稜鏡)可放置在轉輪上之相機模組與測試目標之間(在非干擾區之內或之間)。該等光學元件可用於模擬在對應相機模組及測試目標之間的距離。舉例來說，一透鏡可放置在一相機模組及一目標之間，以模擬較該相機模組及目標之間實際存 在者更遠的一距離。舉例來說，透鏡及/或其它光學元件可放置在介於該相機模組在與該目標之間的一非干擾區中。在一些實施方案中，透鏡及/或其它光學元件可放置在干擾區之間，或透鏡及/或其它光學元件之部分可位在干擾區域之內，而透鏡及/或其它光學元件之其它部分可位在干擾區之間。

在一些實施方案中，可有一測試目標對應於該轉輪之各面。在其他實施方案中，不需要有一測試目標對應於該轉輪之各面。舉例來說，可對架置在該轉輪上之相機模組執行測試或其他程序(不涉及測試目標者)。舉例來說，可沿該轉輪將一相機透鏡膠黏於一測試站且定位以完成適當的成像(稱作「主動對位」)。在該轉輪之另一測試站(例如，下一接續的測試站)，該黏膠可固化以便將透鏡固定在正確的位置。在其他實施方案中，可在該轉輪之一測試站執行一「黑暗測試」。在此一測試中，不需要目標，並且該影像感測器之像素係在黑暗中受測試，以測定任何像素是否為自我發光。在其他實施方案中，在不同的測試站處，可使用D50、D65及其他照明器來測量該相機模組對於模擬晴天、陰天等之光的反應。在其他實施方案中，在不同的測試站處，可執行測試來校準紅光、綠光及藍光。可在不同的測試站處執行任何適當的類型的測試。

如所提及者，在一些實施方案中，測試站可包含目標。該等目標例如可用來執行空間頻率解析度(SFR)測試，該等測試使用細線來測量影像清晰度。可執行SFR1、SFR2、SFR3測試，其包含在三個不同距離所測得的清晰度，在一些實例中該距離可為例如下列距離之任兩者：10公分(cm)；30cm；60cm及2公尺(m)。該範例測試系統不限於這些SFR測試；可使用該範例測試系統來執行任何適當的測試。

在一些實施方案中，一轉輪之該等面之一或多者在測試期間可能未經裝填(即，於此等面未架置任何相機模組)或可能未使用於測試。舉例來說，有些面可能未經裝填以與其它轉輪協調測試，或只是單純用來延長整體測試時間。

在一些實施方案中，可指定單一測試站以同時用於自該轉輪裝載與卸載相機模組。因此，該站未執行任何測試。在操作過程中，可卸載經測試的相機模組，同時在卸載之後，可裝載未經測試的相機模組來取代經測試相機模組。在其他實施方案中，可有獨立的裝載站與卸載站。舉例來說，可指定一測試站用於將待受測試之相機模組裝載在該轉輪上，且可指定另一測試站用於在測試之後自該轉輪卸載相機模組。

在一些實施方案中，該轉輪上的所有相機模組在各測試站受到相同測試。在其他實施方案中，可電腦控制該轉輪與該等相機模組，使得不是該轉輪上的每一部相機模組都受到在各站所執行的測試。

在一些實施方案中，使用一電腦控制的機器人(未展示)來自該轉輪裝載及/或卸載相機模組。相同機器人可用於裝載及卸載兩者，或可使用不同的機器人來執行這些任務。在其他實施方案中，可將該等相機模組手動裝載至該轉輪及/或自該轉輪卸載。在一些實施方案中，一測試電腦可回應測試工程師命令來控制該機器人之操作。在其他實施例中，機載系統電子器件可控制機器人的操作。

上述及在圖2至圖5中所示之範例轉輪沿其外周緣表面具有十二個面。在其他實施方案中，該轉輪可有更多的面或更少的面。舉例來說，在一些實施方案中，該轉輪可有2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、 13、14、15、16等(逐一計數)面。相機模組的尺寸及測試的幾何形狀可影響該轉輪可包括的面數。在一些實施方案中，該轉輪剖面可為圓形(因此，圓柱形的結構)，且在其外周緣表面上包含可在其上架置相機模組之結構(例如，銷、黏著劑或類似者)。如用一多面的轉輪，應架置各相機影像感測器使得各測試目標之平面垂直於一對應相機模組之透鏡總成中之一透鏡的光軸。如上所提及者，就具有平面表面的一些影像感測器而言，這可藉由架置該等測試目標使得各相機影像感測器的平面平行於(或者實質上平行於)各對應目標的平面來達成。

如上所解釋者，轉輪201垂直轉動，表示其轉軸平行於(或實質上平行於)一地平面。此方式的優點在於此類轉動可讓測試能夠考量重力的影響。舉例來說，一相機模組之聚焦馬達的動作可受到重力正面或負面輔助。舉例來說，在一些相機模組中，對於一遠處目標，該馬達會伸出該相機透鏡，對於一近處的目標，該馬達會縮回該透鏡。所以，可在相機模組上執行測試，以在不同的定向下測試該聚焦馬達。舉例來說，當該相機模組正面向上方時，可執行使用一遠處目標之一測試，而當相機模組正面向下方時時，可執行使用一近處目標之一測試。也可執行其他受定向影響的測試。

在其他實施方案中，可將相機模組架置在一水平轉動之轉輪上，代表其轉軸垂直於(或實質上垂直於)一地平面。舉例來說，可將圖2至5之系統旋轉90°，再配合其他適當的結構修改，使得轉軸垂直於該地平面。然後可在各種相機模組上依上述方式執行測試。

在一些測試系統中，可使用圖2至5所示及上述者之類型的 多個系統。在一些測試系統中，一相機模組可受到使用基於單輪式系統所執行的一組測試，然後該相機模組可裝載至該測試系統中下一接續的轉輪，以使該相機模組受到在該輪式系統中之該組測試等。該等轉輪可全部皆為相同類型，或者其可為不同類型，包含具有不同數目的面，不同的轉軸等。機器人可控制該等相機模組在轉輪之間的移動，該控制係根據在適當的電子器件內提供的程式設計。

如上所指出者，電子器件併入至本文所述的測試系統中。電子器件可架置在測試系統上的任何適當位置。至/自該等相機模組之引線可來自以上各相機模組至各模組，引線可沿該轉輪之軸穿過其側而來，或是可使用滑環將該引線(或其他電子器件)實施為一移動的介面。在一些實施方案中，測試電子器件可隨轉輪移動。舉例來說，以測試常式來預程式化一FPGA或一ASIC，並且將其用來控制該轉輪之移動、控制受測試相機模組及/或與一遠端測試電腦(例如，圖4之電腦402)通訊。在其他實施例中，一遠端測試電腦可提供用於實施測試常式之指令，並且這些指令可循路傳送至該轉輪、該等相機模組或其他電子器件來執行適當的測試。可無線地、經由一有線連接例如乙太網路或其組合以在測試系統200及電腦402之間發送命令及測試資料。

在一些實施方案中，一種用於測試相機模組之系統可包含一結構(例如，一轉輪)，其為可轉動的且經組態用來固持持受測試相機模組。本文所述類型之測試目標係相對於該結構來架置，且可在該等相機模組及該等目標之間使用光學元件來導引光，使得各測試目標之平面呈現垂直於一對應相機模組之透鏡總成中之一透鏡的光軸(例如，使得相機模組影像 感測器之平面表面平行於且面對對應的目標)。因此，只要該等光學元件可補償任何錯位，不需要以任何特定方式來對準該光軸與對應的目標。該等光學元件可包含一或多個鏡子或稜鏡。光學元件例如這些者可入至圖2至5之範例實施方案中。此類型的範例系統可包含架置在一轉輪上之相機模組，連同適當的光學元件。在其他實施方案中，可離輪架置光學器件，且光學器件可相對於該轉輪為靜止的，以便在各測試站導引光。

在其他實施方案中，可以三維多面體結構來取代該轉輪，該結構在其外部具有用於固持受測試相機模組之面。該等結構的實例可包含但不限於四面體、立方體、八面體、十二面體與二十面體等。測試目標可配置在此一結構周圍，使得該等面與該等測試目標之間存在對應。可依本文他處所述的方式將相機模組架置至該等面。該結構可在各個維度轉動，以便將相機模組以任何適當的順序曝露於不同的測試目標。舉例來說，取決於該結構，該轉軸可平行於地面、垂直於地面，或以任何適當的角度相對地面。該轉軸可依測試順序來作改變，且可藉由適當的電子器件來控制該轉軸。本文所述之所有其他適當的特徵適用於該等實施方案。

本文所述之範例測試系統之一有利特徵為該系統佔據的空間比線性相機模組測試系統者更小。在一些實施方案中，例如在該轉輪相對於該地平面垂直旋轉的情況下，在該測試過程期間無需翻轉相機模組即可執行重力測試。

本文中所述的控制特徵(例如轉輪轉動的控制、機器人控制)，其可至少部分經由一電腦程式產品(例如有形體現在一或多個資訊載體(例如，在一或多個有形、非暫時性機器可讀取儲存媒體)中的電腦程 式)來實施，以由資料處理設備(例如，一或多個可程式化處理器、一電腦或多個電腦)來執行或者控制資料處理設備的操作。

可包括編譯或解譯語言之任何形式的程式語言寫入的電腦程式可部署為任何形式，包括單獨程式或一模組、零件、副程式或其他適用於運算環境中的單元。可將電腦程式部署為在一電腦或多個電腦上執行，該多個電腦可位於同一現場或分散在多個現場且以網路互連。

與實施控制特性相關的動作可藉由一或多個可程式化處理器來執行，該一或多個可程式化處理器執行一或多個電腦程式，以執行校準程序的功能。全部或部分的程序可實施為特殊目的邏輯電路系統，例如，FPGA(現場可程式化閘陣列)及/或ASIC(特殊應用積體電路)。

舉例來說，適於執行電腦程式的處理器包括通用及特殊目的之微處理器這兩種、及任何種類之數位電腦的任何一或多個處理器。一般而言，處理器將接收來自唯讀儲存區或隨機存取儲存區或兩者的指令與資料。電腦元件(包括伺服器)包括一個或一個以上之用於執行指令的處理器及一個或一個以上用於儲存指令與資料的儲存區裝置。一般而言，電腦亦將包括一個或一個以上之機械可讀取的儲存媒介，或在操作上與之相耦合以接收資料或傳送資料或兩者皆是，該一個或一個以上機械可讀取的儲存媒介為例如用於儲存資料的大量儲存裝置(例如，磁碟、磁光碟或光碟)。適於體現電腦程式指令與資料的機器可讀取儲存媒體包括所有形式的非揮發性儲存區，舉例來說，包括半導體儲存區裝置(例如，可抹除可程式唯讀記憶體(EPROM)、電子可抹除唯讀記憶體(EEPROM)及快閃儲存區裝置)；磁碟，例如內部硬碟或可抽換式磁碟；磁光碟；以及唯讀光碟片(CD-ROM) 以及唯讀數位多功能影音(DVD-ROM)光碟。

可組合本文中所述之不同實施方案的元件，以形成在上文未具體提出的其他實施例。在未逆影響操作的情況下，元件可不列入本文所述的結構中。此外，各種分開的元件可組合為一或多個個別元件，以執行本文所述的功能。

在本揭露中的任何一或多個特徵可與在美國專利申請案第＿＿＿號中所述的任何一或多個特徵組合，該案與本案同時提交且標題為「Matrix Testing Targets(矩陣測試目標)」(代理人案號18523-0143001/2289-GAA)，該案內容係以引用的方式併入本文中，如同其全文係於本案中提出。舉例來說，在「矩陣測試目標」應用中所述的測試目標可在本文中所述之實例測試系統中作為測試目標使用。

本文中所述之不同實施方案的元件可相結合，以形成在上文未具體提出的其他實施方案。未在本文具體陳述的其他實施方案亦屬於下列請求項的範圍內。

200‧‧‧測試系統

201‧‧‧轉輪

202a,202b,202c‧‧‧周緣面

204‧‧‧相機模組

205a至205f‧‧‧測試目標

Claims (34)

1. 一種用於測試相機模組之系統，其包含：一可轉動的多邊形結構，該多邊形結構包含面，各面經組態用來容納至少一個受測試相機模組；以及面對該多邊形結構之該等面之至少一些的目標，各目標係可用於測試面對該各目標之一對應相機模組。
2. 如請求項1所述之系統，其中各面經組態用來容納多個相機模組。
3. 如請求項2所述之系統，其中該多個相機模組係一維地配置在至少一個面上。
4. 如請求項2所述之系統，其中該多個相機模組係二維地配置在至少一個面上。
5. 如請求項1所述之系統，其中該多邊形結構定向於與地平面平行之一軸且可沿該軸轉動。
6. 如請求項1所述之系統，其中該多邊形結構定向於與地平面垂直之一軸且可沿該軸轉動。
7. 如請求項1所述之系統，其中該等目標相對於該多邊形結構為靜止的。
8. 如請求項1所述之系統，其中該多邊形結構之該等面之至少一者被保留用於裝載及/或卸載該至少一個相機模組。
9. 如請求項1所述之系統，其中一非干擾區係定義在各相機模組之視域及一對應目標之間；以及其中該系統進一步包含架置在至少二個非干擾區之間的一或多個光 源。
10. 如請求項1所述之系統，其進一步包含：架置在該等目標包圍的一體積之內的照明裝置。
11. 如請求項1所述之系統，其進一步包含：架置在該等目標包圍的一體積之外的照明裝置。
12. 如請求項1所述之系統，其進一步包含：用來控制該多邊形結構之轉動且與該至少一個受測試相機模組通訊的控制電子器件。
13. 如請求項12所述之系統，其中該控制電子器件位於由該等目標包圍的一體積之內。
14. 如請求項12所述之系統，其中該控制電子器件位於由該等目標包圍的一體積之外。
15. 一種用於測試相機模組之系統，其包含：一轉輪，其經組態用於架置受測試相機模組，各相機模組包含一影像感測器；以及目標，該等目標圍繞且面對該轉輪之一外周緣表面，使得各目標的一平面垂直於一對應相機模組之一透鏡總成內之一透鏡的一光軸；其中在該轉輪與該等目標之間的相對移動使不同相機模組的影像感測器能夠面對不同目標。
16. 如請求項15所述之系統，其中該轉輪具有包含多個邊的一多邊形剖面形狀；以及其中相機模組架置在該等邊之至少一些。
17. 如請求項15所述之系統，其中該轉輪具有一圓形剖面形狀，且包含用於固持該等相機模組之結構。
18. 如請求項15所述之系統，其中該轉輪為可轉動的而該等目標為靜止的，使得該轉輪之轉動導致該轉輪與該目標之間的相對移動。
19. 如請求項15所述之系統，其中相機模組架置在該轉輪上，使得在至少一個情況下多個相機模組面對單一目標。
20. 如請求項15之系統，其中該轉輪相對於一地平面垂直定向且可轉動。
21. 如請求項15之系統，其中該轉輪相對於一地平面水平定向且可轉動。
22. 如請求項15所述之系統，其中該轉輪包含用於架置受測試相機模組之區域，該等區域之至少一者經保留用於裝載及/或卸載至少一個相機模組。
23. 如請求項15所述之系統，其中一非干擾區係相對於各相機模組與對應目標來定義；以及其中該系統進一步包含架置在至少二個非干擾區之間的一或多個光源。
24. 如請求項15所述之系統，其中該等目標之至少一些係位於距該轉輪不同的距離處。
25. 如請求項15所述之系統，其中該轉輪為一第一轉輪，且其中該系統進一步包含：一第二轉輪，其經組態用於架置第二受測試相機模組，各第二相機模組包含具有一平面表面之一第二影像感測器；及 第二目標，其配置在該第二轉輪周圍且面對該第二轉輪，使得各第二目標之一平面垂直於一對應第二相機模組之一透鏡總成內之一透鏡的一光軸；以及一機器人，其用來使相機模組在該第一轉輪與該第二轉輪之間移動；其中該第二轉輪與該等第二目標之間的相對移動致能不同相機模組的第二影像感測器面對不同目標。
26. 一種使相機模組曝露於目標之方法，該方法包含：將該等相機模組配置在一結構之一外周緣上，使得該等相機模組之至少一些之影像感測器朝外面向對應的目標；轉動該結構使得不同影像感測器在不同時間面對不同目標。
27. 如請求項26所述之方法，其中轉動該結構使各影像感測器曝露於接連的目標。
28. 如請求項26所述之方法，其中該等相機模組經配置使得多個影像感測器在該結構之至少一個定向面對同一目標。
29. 如請求項26所述之方法，其中配置包含：使用一機器人機構來將一相機模組裝載至該結構上。
30. 如請求項29所述之方法，其中該相機模組經裝載至該結構上指定用於容納相機模組的一區域。
31. 如請求項26所述之方法，其進一步包含：在測試完成之後自該結構卸載一相機模組，該相機模組係使用一機器人機構來卸載。
32. 一種用於測試相機模組之系統，其包含： 一結構，其為可轉動的且經組態用來固持受測試相機模組，該等相機模組之各者具有含一平面表面的一影像感測器；相對於該結構架置之目標，各目標可用於測試一對應相機模組；以及用來在該等相機模組及該等目標之間導引光的光學元件，使得各目標之一平面呈現垂直於一對應相機模組之一透鏡總成內之一透鏡的一光軸。
33. 如請求項32所述之系統，其中該等光學元件包含一或多個鏡子。
34. 如請求項32所述之系統，其中該等光學元件包含一或多個稜鏡。