TWI579574B

TWI579574B - 檢查用治具

Info

Publication number: TWI579574B
Application number: TW102106789A
Authority: TW
Inventors: 山下宗寬; 後藤彰
Original assignee: 日本電產理德股份有限公司
Priority date: 2012-02-28
Filing date: 2013-02-26
Publication date: 2017-04-21
Also published as: JP5986397B2; TW201335608A; JP2013178108A; CN103293345A; KR20130098901A; KR101983732B1

Description

檢查用治具

本發明係關於一種檢查用治具，其用以將形成有配線圖案且內建有電子元件的基板、與檢查該基板的基板檢查裝置電性連接。詳言之，本發明係關於一種檢查用治具，其防止內建於基板之電子元件因過電壓而被破壞。

目前，內建有電容器及電阻等之電子元件的元件內建型基板(亦稱嵌入式基板)正開始普及，必須趕緊確立出對於元件內建型基板內所內建之電子元件的檢查方法。由於元件內建型基板本身為新物品，因此針對於其檢查方法，也不存在有可稱為習知技術的現有技術，此係屬實際情況。因此，就針對於元件內建型基板之檢查方法有所揭示的先前文獻而言，可舉例如專利文獻1。

揭示於該專利文獻1的先前技術文獻中，以下述事項為目的，而藉由設置採用4個頻率之檢查信號的基板檢查裝置，以實施檢查。該目的為：即使在對於元件內建型基板進行檢查的情形，也能以低成本在短時間內實施該元件內建型基板的檢查。

此種基板檢查方法中，通常使用如下之基板檢查裝置：可提供用以對基板實施檢查的輸入信號，並且可將對應於該輸入信號的輸出信號加以接收，而依據該輸出信號，判定出基板為良品或不良品。又，會使用：用以將該基板檢查裝置、與檢查對象之基板電性連接的檢查用治具。又，此種基板檢查裝置並非係依基板所客製化而成者，而僅具有可進行如上述之電信號輸入輸出或信號處理的通用性功能；檢查用治具則係依基板種類進行客製化而使用。又，於實際的檢查中，基板檢查裝置儲存有檢查順序或檢查條件，且依照該已儲存的順序或條件，而實行檢查。

然而，如上述之從前的檢查方法中，在對於如元件內建型基板般地內建有電子元件之基板進行檢查的情形，事先設定有對應於連接有電子元件之配線的檢查電壓，俾於不會破壞電子元件。因此，配置有電子元件的配線、與未配置電子元件的配線二者之間，檢查電壓會互不相同。

於此種情形，假若儲存於基板檢查裝置之檢查條件儲存錯誤，則每實行基板的檢查時，電子元件就會被破壞，為其問題。

【專利文獻1】日本特開2007-309814號公報

本發明係有鑑於此種實情所設計，其目的為：提供一種檢查用治具，其在對於內建有電子元件之基板進行檢查的情形，不會被設定於基板檢查裝置之檢查條件等所影響，而防止內建於基板之電子元件因過電壓而被破壞。

請求項1所記載之發明係提供一種檢查用治具，用以將下列二者電性連接：對於形成在內建有電子元件之元件內建型基板的配線進行電氣檢查的基板檢查裝置、與該元件內建型基板；該檢查用治具之特徵在於：其具有：複數之棒狀接觸件，一端抵接於該基板之配線上所設定的複數之檢查點，並且電性連接；電極體，具有複數之電極部，該電極部係與該接觸件的另一端抵接，並且電性連接；固持體，將該複數之接觸件的一端加以引導到各個既定之檢查點，並將另一端往各個既定之電極部進行引導；複數之配線部，與該複數之電極部分別電性連接；及連接體，具有複數之連接部，該連接部係與該配線部之另一端電性連接，並且與該基板檢查裝置電性連接；且具備有：電壓箝制部，用以使得將包含有該電子元件的配線之一端設定為檢查點的接觸件、與將該配線之另一端設定為檢查點的接觸件成為既定電壓。

請求項2所記載之發明係提供如請求項1所記載之檢查用治具，其中，該電壓箝制部係與配線部進行連接，該配線部又與將包含有該電子元件的該配線之一端設定為檢查點的接觸件電性連接。

請求項3所記載之發明係提供如請求項1或2所記載之檢查用治具，其中，該電壓箝制部為定電壓二極體。

本發明係藉由提供該等發明，而徹底地解決上述課題。

依請求項1所記載之發明，由於設置有電壓箝制部，該電壓箝制部將分別與包含有電子元件的配線之一端及另一端接觸的接觸件之間控制為既定電壓，故能使得施加到電子元件的檢查電壓一定。因此，不會對電子元件施加必要以上的電壓，於是電子元件不會被破壞。又，由於將此種用以預防電子元件因過電壓而被破壞的電壓箝制部設於檢查用治具，因此即使從基板檢查裝置所供給之檢查信號係屬對於電子元件而言為過電壓的檢查信號，電子元件也不會被破壞。

依請求項2所記載之發明，由於電壓箝制部係連接於與既定之接觸件連接的配線部之間，因此可輕易地進行檢查用治具的製造。

依請求項3所記載之發明，由於電壓箝制部為定電壓二極體，因此可簡便地進行檢查用治具的製造。

1‧‧‧檢查用治具

2‧‧‧接觸件

2a‧‧‧接觸件

2c‧‧‧接觸件

2d‧‧‧接觸件

3‧‧‧固持體

31‧‧‧電極側板部

32‧‧‧檢查側板部

33‧‧‧支柱

4‧‧‧電極體

41‧‧‧電極部

41a‧‧‧電極部

5‧‧‧支柱部

6‧‧‧配線部

6a‧‧‧配線部

6c‧‧‧配線部

6d‧‧‧配線部

6f‧‧‧配線部

6g‧‧‧配線部

7‧‧‧基座部

8‧‧‧連接體

8a‧‧‧連接體

9、91、92‧‧‧電壓箝制部

a~i‧‧‧檢查點

CB‧‧‧基板

CBf‧‧‧基板CB之表面

CBr‧‧‧基板CB之背面

ed1~ed2‧‧‧電子元件

w1~w6‧‧‧配線

圖1係顯示依本發明之檢查用治具的一實施形態之概略結構的側視圖。

圖2係用以說明本發明之檢查用治具的結構的示意圖。

(實施發明之最佳形態)

以下，針對用以實施本發明之最佳形態進行說明。

圖1係顯示依本發明之檢查用治具1的一實施形態之概略結構的側視圖。圖1中，為求圖式的簡略化，顯示有3支接觸件2，但其等並不限於3支，係依照設定於檢查對象的檢查點來決定支數。

檢查用治具1包含有：接觸件2，有複數支；固持體3，固持住該等複數之接觸件2；電極體4，具有複數之電極部41；支柱部5，支撐住電極體4；配線部6，從電極部41延伸設置，而將基板檢查裝置(未圖示)與電極部41電性連接；基座部7，為複數之接觸件2、固持體3、電極體4及支柱部5等的基座；及連接體8，將基板檢查裝置與配線部6加以連接。

接觸件2係一端與設定在檢查對象物之基板上的既定之檢查點抵接，而進行導通連接，且另一端與後述之電極部41抵接，而進行導通連接。該接觸件2形成具有既定之長度的細長棒狀形狀。

接觸件2係以具有可撓性且具有導電性的素材所形成。接觸件2以遍佈於除兩端部以外之全周的方式形成有絕緣被膜，利用絕緣被膜所形成的高低差，而安裝在固持體3。又，接觸件2具有可撓性，要安裝在固持體3時，以在一定方向上略微彎曲方式進行安裝。如上述，藉由將接觸件2以彎曲方式進行安裝，而利用回復力，產生推壓至電極部41與檢查點的推壓力。

作為該接觸件2之具體的素材，可使用例如鎢、鈹銅或鎳或者其等之合金等。又，作為絕緣被膜的素材，可使用氨基甲酸乙酯或氟化樹脂(聚丙烯(polypropylene)或聚四氟乙烯(PTFE)等)。

接觸件2之抵接於檢查點的前端之形狀係形成尖銳形，但並非特別限定於此，可形成為例如平坦形、王冠形、圓錐形或圓筒形。

固持體3將複數之接觸件2的一端加以引導到各個既定之檢查點，並將另一端往各個既定之電極部41進行引導。如圖1所示，固持體3可由以佔有既定空間之方式配置的電極側板部31與檢查側板部32兩個構件所形成。又，該電極側板部31與檢查側板部32之間的空間為接觸件2彎曲的空間。

電極側板部31由絕緣素材所形成，且形成有用以將接觸件2之另一端往電極部41進行引導的引導孔(未圖示)。電極側板部31可由一片或複數片之板狀構件所形成。又，電極側板部31以與後述之電極體4抵接的方式配置。藉由如此配置，而使得接觸件2之另一端容易往電極部41進行引導。

檢查側板部32由絕緣素材所形成，且形成有用以將接觸件2之一端往檢查點進行引導的引導孔(未圖示)。檢查側板部32可由一片或複數片之板狀構件所形成。又，從檢查側板部32的引導孔起，形成為接觸件2突出來的狀態。由於形成此種狀態，因此基板之檢查點與接觸件2之前端可互相抵接。

對於電極側板部31與檢查側板部32，為了形成如上述的空間，而利用既定數之支柱33進行支撐。藉由該支柱33的長度，以形成出接觸件2彎曲的空間。

電極體4具有：複數之電極部，與複數之接觸件2的另一端分別導通接觸；及電極固持部，由固持該等電極部之絕緣素材所形成。電極部形成為配置於電極體4之表面的既定位置，且從電極體4之背面，與後述的配線部6進行連接。

電極部係於電極體4之表面形成為圓形，該圓形具有與接觸件2之外徑相同或稍微大的直徑。電極部之表面較佳係加以鍍金。電極部之一端為與如上述之接觸件2抵接的部位，且另一端與配線部6連接。

又，配線部6連接於：配置成為從基座部7之背側面突出的連接體8之連接部(未圖示)。連接體8配置於背面側，且配置成為可與基板檢查裝置電性連接。

電極固持部係以用來固持電極部之絕緣素材形成為板狀，且於該電極固持部形成有用來固持電極部之貫通孔(未圖示)。

配線部6係一端側與複數之電極部電性連接，並且後端與後述之連接部電性連接。該配線部6可採用已絕緣被覆的銅(Cu)線材等之所謂的導線。

又，電極部與配線部6可一體形成。例如，準備具有既定之長度的導線，使該導線貫通配置於電極固持部上所形成有的貫通孔。接著，將導線切斷，以使得電極固持部之表面與導線成為同一面。電極固持部之表面形成有導線的剖面，可利用該剖面作為電極部。藉由如此形成，可將電極部與配線部6一體地形成。又，在此，變成對於該導線之剖面進行鍍金。

支柱部5支撐住電極體4(及固持體3與接觸件2)(參照圖1)。於該圖1之實施形態中，具有：在電極體4之四角隅分別形成有支柱部5而支撐住電極體4的構造。

又，支柱部5的長度會對於檢查用治具1的高度進行調整，但該高度係依檢查裝置的大小，而適當變更。

基座部7形成為複數之接觸件2、固持體3、電極體4及支柱部5等的基座。該基座部7係依基板檢查裝置，而決定其形狀或尺寸，但形成為例如板狀。該基座部7會發揮用以裝設至基板檢查裝置之引導件的作用，並且保持住檢查用治具1的強度。

連接體8連接於配線部6之另一端，並使其能與基板檢查裝置電性連接。該連接體8設於基座部7之背面側(與設有電極體4、固持體3及接觸件2等之側相反的一側)。該連接體8具備有與各個配線部6連接的複數之連接部，該等各個連接部與基板檢查裝置進行連接。

作為該連接部，可採用突出於背面側之陽式的插銷構造或陰式的連接器構造。該連接部的構造係依基板檢查裝置側之連接端子的構造而決定。

電壓箝制部9將檢查時的電壓調整成為既定之電壓，該檢查時的電壓施加到：接觸件2，其將包含有電子元件的配線之一端設定為檢查點；及接觸件2，其將配線之另一端設定為檢查點。該電壓箝制部9係將用來施加到包含有電子元件的配線之兩端的檢查電壓，設定成不超過電子元件的耐受電壓。

該電壓箝制部9將下述二者電性連接：配線部6，其與將包含有電子元件的配線之一端設定為檢查點的接觸件2電性連接：及配線部6，其與將包含有電子元件的配線之另一端設定為檢查點的接觸件2電性連接。如上述，電壓箝制部9將既定之配線部6彼此連接，藉此能夠將電壓箝制部9輕易地安裝在檢查用治具1。

電壓箝制部9只要具有如上述的功能，即不特別限定，但可使用例如定電壓二極體。藉由使用該定電壓二極體，可簡便地進行製造。

接著，針對於將配線部6之間電性連接之電壓箝制部9的設定方法進行說明。圖2係顯示使用電壓箝制部9之狀態的概略圖。又，為了對形成於基板之配線的狀態進行理解，圖2中的基板顯示出基板的剖面。圖2所示之基板CB係為了解說本發明而顯示者，此種基板CB僅為一實施形態。於上述作為檢查對象之基板CB，形成有6條作為檢查對象的配線。該6條檢查對象的配線w有：配線w1、配線w5、配線w6，以從基板CB之表面CBf連接往背面CBr的方式形成；及配線w2、配線w3、配線w4，以從基板CB之表面CBf連接往表面CBf的方式形成。又，配線w3與配線w4包含有電子元件ed1與電子元件ed2。

檢查用治具1可製作成下列二者：抵接於基板CB之表面CBf的治具、與抵接於基板CB之背面CBr的治具。圖2係示意地顯示出基板CB之表面CBf用的治具。又，為方便說明起見，在各個電線加上a至i的符號，而進行說明。例如，將用來對配線w1進行檢查的檢查點設定為檢查點a，將用來對配線w2進行檢查的檢查點設定為檢查點b與檢查點e，並將用來對配線w3進行檢查的檢查點設定為檢查點c與檢查點d。又，將抵接於檢查點a的接觸件設定為接觸件2a，並將與接觸件2a抵接的電極部設定為電極部41a。又，電極部41a係與配線部6a進行連接，配線部6a則與連接體8a進行連接。

於將該基板CB進行檢查的情形，將接觸件2分別配置在：為了對配線w進行檢查所設定的檢查點。接著，於配線w3與配線w4分別配置有電子元件ed1與電子元件ed2，且來自於基板檢查裝置之檢查電壓為過電壓時，電子元件ed1與電子元件ed2會被破壞。因此，對於連接到配線w3之檢查點c的接觸件2c、與連接到配線w3之檢查點d的接觸件2d，係設定成施加已考慮電子元件ed1之額定電壓的檢查電壓。具體而言，將電壓箝制部91連接到下列二者之間：與接觸件2c連接的配線部6c、以及與接觸件2d連接的配線部6d。

該電壓箝制部91可使用定電壓二極體，並將定電壓二極體之一端與配線部6c進行連接，將定電壓二極體之另一端與配線部6d進行連接，俾於不會對該檢查電間(檢查點c與檢查點d)施加既定電壓以上之電壓。

又，電子元件ed2係與電子元件ed1相同，連接有電壓箝制部92，俾於不會對檢查點f與檢查點g之間施加過電壓。該電壓箝制部92與配線部6f、配線部6g進行連接。具體而言，將定電壓二極體之一端與配線部6g進行連接，將定電壓二極體之另一端與配線部6f進行連接。

檢查用治具係配合於基板CB而製造者，因此可藉由在檢查用治具設置電壓箝制部，以設置：對應於該基板所內建之電子元件的過電壓防止(保護電路)機構，而能夠保護基板免於被檢查中的過電壓所破壞。

以上係針對於本發明之檢查用治具的說明。