TWI549480B - 用於振盪器頻率控制之系統及方法 - Google Patents

用於振盪器頻率控制之系統及方法 Download PDF

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TWI549480B TW102106444A TW102106444A TWI549480B TW I549480 B TWI549480 B TW I549480B TW 102106444 A TW102106444 A TW 102106444A TW 102106444 A TW102106444 A TW 102106444A TW I549480 B TWI549480 B TW I549480B
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Description

用於振盪器頻率控制之系統及方法
本申請案主張2012年2月24申請之名為「System And Method For Oscillator Frequency Control」之美國臨時申請案第61/602,732號之優先權。
一振盪器電路或簡稱「振盪器」係在一受控頻率下產生一時脈信號之一電子電路。一控制電路通常產生設定振盪器時脈信號之輸出頻率之一控制電壓。振盪器及控制電路二者皆通常在一單個積體電路(「IC」)晶片中製造。
一振盪器控制電路通常使用電阻性及電容性裝置以產生控制電壓。此等裝置具有基於溫度及製造程序變動而改變之電特性。在製造期間，通常必須校準或「修正」振盪器控制電路。修正補償控制電路內之溫度及程序相依誤差源，使得在後製造操作期間，振盪器由於溫度及程序變動而產生一近似恆定輸出時脈信號頻率。
一種當前修正技術涉及在各種溫度下實際加熱一IC晶片及修正振盪器控制電路，使得振盪器在每一溫度下產生所要時脈頻率。為修正晶片，基於嘗試錯誤而設定控制電路之修正值之一範圍直到在每一溫度下達成所要輸出頻率。然而，此修正技術需要大量時間以對每一溫度加熱並掃描所有可能的修正值。因為修正操作冗長，所以此修正 技術可變得昂貴且耗時，且限制可在每個單位時間產生之IC數目。
另一種當前修正技術涉及根據精確製造程序規格製造一振盪器控制電路內之電阻性及電容性裝置。然而，此修正技術增加每個單位IC的製造成本。
因此，此項技術中需要一種振盪器系統，其最小化修正時間且補償該系統內之溫度及程序相依誤差源。
本發明之實施例提供對頻率控制振盪器輸出時脈信號補償一振盪器系統內之溫度及程序相依誤差源之技術。該振盪器系統可包含一控制器及一振盪器電路。該等技術可包含產生一對電壓，該對電壓之一第一電壓係溫變的，其跨程序具有(近似)已知溫度變動，且該對電壓之一第二電壓係(近似)非溫變。每一電壓可藉由一對應的修正因數而換算。所換算電壓可經組合以產生一參考電壓。該參考電壓可補償該振盪器系統內之程序及溫度相依誤差源以設定該振盪器輸出時脈信號頻率。
100‧‧‧振盪器系統
110‧‧‧控制器
112‧‧‧參考電壓產生器
114‧‧‧參考電流產生器
116‧‧‧控制電壓產生器
120‧‧‧振盪器電路/回饋迴路振盪器
200‧‧‧振盪器系統
210‧‧‧控制器
212‧‧‧參考電壓產生器
214‧‧‧參考電流產生器
220‧‧‧振盪器電路/開環振盪器
300‧‧‧參考電壓產生器
320‧‧‧換算級
322‧‧‧暫存器檔案
324‧‧‧數位轉類比轉換器(DAC)
326‧‧‧輸入緩衝器
330‧‧‧換算級
332‧‧‧暫存器檔案
334‧‧‧數位轉類比轉換器(DAC)
336‧‧‧輸入緩衝器
340‧‧‧求和器
400‧‧‧參考電流產生器
410‧‧‧運算放大器(op-amp)
420.1‧‧‧換算電晶體
420.2‧‧‧換算電晶體
CLK‧‧‧時脈信號
CLK#‧‧‧互補時脈信號
IREF‧‧‧參考電流
R1‧‧‧阻抗
V1,V2‧‧‧輸入電壓
VCTRL‧‧‧控制電壓
VDD‧‧‧源電位
圖1圖解說明根據本發明之一實施例之一振盪器控制系統。
圖2圖解說明根據本發明之一實施例之另一振盪器控制系統。
圖3圖解說明根據本發明之一實施例之一參考電壓產生器。
圖4圖解說明根據本發明之一實施例之一參考電流產生器。
圖5圖解說明根據本發明之一實施例之用於修正一振盪器控制系統以用於一振盪器之頻率控制之一方法。
圖6圖解說明根據本發明之一實施例之用於控制一振盪器以在一預定輸出頻率下產生一輸出信號之方法。
控制器及振盪器電路可製造於一共同積體電路(「IC」)中。本發 明之實施例可包含一修正操作，該修正操作可在IC之製造期間加以執行以對溫變電壓及非溫變電壓之各者計算修正因數。如上提及，在振盪器系統之後製造操作期間，可使用修正因數換算該等電壓且組合該等電壓以產生參考電壓。如本文所述之用於本發明之實施例之修正操作可在振盪器系統之後製造操作期間對振盪器電路實現頻率控制至預定頻率之1%精度內。
修正操作可包含由溫變電壓及非溫變電壓及振盪器電路之一未經修正輸出頻率聚集一組量測。在該等量測之後，可根據一方程式系統計算修正因數。修正操作可在一周圍溫度下對振盪器系統執行，而非如習知修正技術般需實際加熱IC。此可最小化製造期間修正IC所需時間。進一步言之，可藉由計算修正因數而非掃描修正值之整個範圍最小化修正時間以最佳地修正振盪器控制系統。
圖1圖解說明根據本發明之一實施例之一振盪器系統100。如圖1中圖解說明，該振盪器系統100可包含一控制器110及一振盪器電路120。該控制器110可包含一參考電壓產生器112、一參考電流產生器114及一控制電壓產生器116。該參考電壓產生器112可接收表示一對修正因數TFCTR1、TFCTR2之一對輸入電壓V1、V2資料，且可輸出一參考電壓VREF。提供給該參考電壓產生器112之一第一輸入電壓V1可為跨程序具有近似已知一階溫度變動之一溫變電壓。提供給該參考電壓產生器112之一第二輸入電壓V2可為一近似非溫變電壓。例如，該第二輸入電壓V2可為可校準為近似非溫變之一能帶隙電壓。
該參考電流產生器114可接收該非溫變電壓V2、一源電位VDD且可由此產生一參考電流IREF。該控制電壓產生器116可接收該參考電壓VREF、該參考電流IREF、一時脈信號CLK，且可由此產生一控制電壓VCTRL。該控制電壓產生器116可藉由對該參考電流IREF及該時脈信號CLK執行頻率轉電壓轉換而產生該控制電壓VCTRL，該時脈信號CLK 可輸出自該振盪器電路120。該振盪器電路120可接收該控制電壓VCTRL及由一電流源ISRC產生之一輸入電流。
在操作期間，該參考電壓產生器112可根據對應的修正因數TFCTR1、TFCTR2換算各自的溫變電壓V1及非溫變電壓V2。在可在該振盪器系統100之製造期間執行之一修正操作之後，可將修正因數載入該參考電壓產生器112。本文中將在下文進一步詳細論述修正操作。該參考電壓產生器112可組合所換算電壓以產生該參考電壓VREF。
如論述，該參考電壓VREF可對該控制器110補償由程序及溫度相依誤差源所致的操作變動。例如，該控制器110內之一誤差源可為該參考電流產生器114。該控制器110內之另一誤差源可為該控制電壓產生器116。在操作期間，該參考電壓VREF可主動調整該控制電壓產生器116之操作，使得該控制電壓VCTRL補償該控制器110內之溫度及程序誤差。
所產生的控制電壓VCTRL可針對一預定頻率對該振盪器電路120輸出時脈信號CLK提供頻率控制。藉由將該時脈信號CLK耦合至該控制電壓產生器116，可用該振盪器電路120產生一回饋迴路，進而可增加該時脈信號CLK之頻率穩定性。如圖1中所述之振盪器電路120可被稱為一「回饋迴路」振盪器。在一差分驅動系統中，該振盪器電路120亦可在預定頻率下產生一互補時脈信號CLK#。在一實施例中，該控制器110及該振盪器電路120可製造於一共同IC中。用於本發明之實施例之例示性振盪器電路及控制電路產生器係在2012年1月13日申請之名為「Method and Apparatus for Generating On-chip Clock with Low Power Consumption」同在申請中之專利申請案美國申請案第13/350,035號中加以描述，該案之內容係以引用方式全部併入本文。
在各種實施例中，該振盪器電路120輸出時脈信號CLK之頻率可 近似低於1 MHz。在此等實施例中，該參考電壓產生器112及該參考電流產生器114可對該振盪器電路120提供頻率控制。圖2圖解說明根據本發明之一實施例之一振盪器系統200，其對一振盪器電路220進行低頻率控制。如圖2中所示之振盪器電路220可被稱為一「開環」振盪器。如圖2中圖解說明，一控制器210可包含一參考電壓產生器212、一參考電流產生器214。
該參考電壓產生器212可接收表示一對修正因數TFCTR1、TFCTR2之一對輸入電壓V1、V2資料，且可輸出一參考電壓VREF。提供給該參考電壓產生器212之一第一輸入電壓V1可為跨程序具有近似已知一階溫度變動之一溫變電壓。提供給該參考電壓產生器212之一第二輸入電壓V2可為一近似非溫變電壓。該參考電流產生器214可接收該非溫變電壓V2、一源電位VDD且可由此產生一參考電流IREF。
在操作期間，該參考電壓產生器212可根據對應的修正因數TFCTR1、TFCTR2換算各自的溫變電壓V1及非溫變電壓V2。在可在該振盪器系統200之製造期間執行之一修正操作之後，可將修正因數載入該參考電壓產生器212。該參考電壓產生器212可組合所換算電壓以產生該參考電壓VREF。該參考電壓VREF可主動調整該振盪器電路220之操作以補償該控制器210及該振盪器220內之溫度及程序誤差。
圖3圖解說明根據本發明之一實施例之一參考電壓產生器300。如圖3中圖解說明，該參考電壓產生器300可包含用於分別接收溫變電壓V1及非溫變電壓V2且用於接收一對對應的修正因數TFCTR1、TFCTR2之輸入。該參考電壓產生器300可具有用於一參考電壓VREF之一輸出。該產生器300可包含各自用於換算溫變電壓V1及非溫變電壓V2之一對換算級320、330。例如，換算級320可包含用於儲存修正因數TFCTR1之一暫存器檔案322。一數位轉類比轉換器(「DAC」)324可接收該修正因數TFCTR1及該溫變電壓V1且產生一第一換算電壓 VSCL1。換算級330可包含用於使用修正因數TFCTR2對該非溫變電壓V2執行一類似操作之一暫存器檔案332及一DAC 334。可使用一求和器340組合來自每一對應的換算級320、330之該對換算電壓VSCL1、VSCL2以產生該參考電壓VREF。
如所提及，在製造期間可使用一修正操作計算該等修正因數TFCTR1、TFCTR2。對於一振盪器控制系統之後製造操作，可將該等修正因數TFCTR1、TFCTR2載入該等各自暫存器檔案322、332且使用該等修正因數TFCTR1、TFCTR2換算溫變電壓V1及非溫變電壓V2。
在一實施例中，每一修正因數TFCTR1、TFCTR2可為儲存於該等各自暫存器檔案322、332中之一多位元字組。在另一實施例中，每一換算級320、330可包含用於緩衝輸入至每一DAC 324、334之輸入電壓V1、V2之一對應的輸入緩衝器326、336。該等輸入緩衝器326、336可用以緩衝來自溫變電壓V1及非溫變電壓V2之寄生信號雜訊。該等輸入緩衝器326、336亦可對該參考電壓產生器300提供額外的溫度穩定性以用於高溫操作。
圖4圖解說明根據本發明之一實施例之一參考電流產生器400。如圖4中圖解說明，該參考電流產生器400可包含用於非溫變輸入電壓V2及一源電位VDD之輸入。該參考電流產生器400可具有一參考電流IREF之一輸出。該產生器400可包含一運算放大器(「op-amp」)410、一阻抗R1及由一對換算電晶體420.1、420.2形成之一電流鏡。
該op-amp 410可在一非反相輸入端子處接收該輸入電壓V2。每一換算電晶體420.1、420.2可具有共同耦合至該源電位VDD之一第一輸出。該op-amp 410輸出可耦合至該第一換算電晶體420.1及該第二換算電晶體420.2之一控制輸入。換算電晶體410.1之一第二輸出可耦合至該op-amp 410之反相輸入。該阻抗R1可耦合於該op-amp 410反相輸入、換算電晶體410.1之第二輸出與接地GND之間。可由換算電晶體 420.2之一第二輸出產生輸出IREF。
在操作期間，op-amp 410可跨該等換算電晶體420.1、420.2及該阻抗R1接收該輸入電壓V2且驅動一輸出信號以形成輸出電流IREF。輸出電流IREF量值可與V2/R1成比例。
阻抗R1之響應在操作期間可對應於溫度波動而改變，繼而可導致該參考電流IREF波動。可藉由如由該參考電壓產生器300產生之參考電壓VREF補償溫度波動。
修正一振盪器系統
在一振盪器系統之製造期間，可執行一修正操作以校準振盪器控制器。具體言之，修正操作可校準控制器內之參考電壓產生器，使得參考電壓產生器可在正常(後製造)操作期間產生一參考電壓，進而可補償振盪器系統內之程序及溫度相依誤差源。例如，對於一回饋迴路振盪器電路，參考電壓可對所產生的控制電壓提供調整，繼而可將振盪器電路輸出時脈信號之頻率控制為一預定頻率。在製造期間，可藉由調整控制器內之參考電流產生器之內部阻抗及控制器內之控制電壓產生器之一內部電容來設定預定頻率。實際上，阻抗及電容之RC時間常數可設定振盪器之輸出頻率。
對於一修正操作，可量測輸入至參考電壓產生器之溫變電壓V1及非溫變電壓V2。亦可量測一振盪器電路輸出時脈信號之週期(即，振盪器電路之未經修正的週期)。從該等量測可計算參考電壓產生器之修正因數(例如，圖l之TFCTR1、TFCTR2)。可使用第一修正因數TFCTR1以修正該溫變電壓V1。可使用第二修正因數TFCTR2以修正該非溫變電壓V2。修正溫變電壓V1及非溫變電壓V2可補償程序及溫度相依誤差源。因此，可使用根據本發明之實施例之修正技術耦合程序及溫度相依誤差源之補償。
對於一給定振盪器控制器(例如，圖1之控制器110、圖2之控制器 210)，可導出可特徵化由控制器提供之振盪器頻率控制之一方程式系統。例如，由圖1之控制器110提供之回饋迴路振盪器120之頻率控制可被描述為如以下方程式圖解說明般施加於電壓V1及V2之修正因數TFCTR1、TFCTR2之一線性組合：P=RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2) 方程式1
對於方程式1，可將P設定為一振盪器電路120輸出時脈信號CLK之一預定時脈頻率。項RC可為在如一修正操作期間量測之振盪器電路120輸出時脈CLK之一量測(未經修正)時脈頻率。方程式1可如下經差分且設定為零：0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC) 方程式2
對於方程式2，TCORC可為藉由使該參考電流產生器114之內部阻抗之一溫度係數與該控制電壓產生器116之一內部電容之一溫度係數相加而判定之一近似恆定溫度係數。項TCOV1可為不同程序之間該溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。對於一修正操作，可求解方程式1及2以判定該等修正因數TFCTR1及TFCTR2。
在一實施例中，所計算的修正因數TFCTR1及TFCTR2在振盪器系統之後製造操作內可被量化為一預定位元寬度且儲存於該參考電壓產生器內(例如，儲存於圖3之暫存器檔案322、332中)。在各種實施例中，可藉由一預定換算因數換算方程式1之量測(未經修正)時脈頻率以調整時脈分頻，時脈分頻可在該電壓控制產生器內加以執行。
在另一實例中，可將由圖2之控制器210提供之開環振盪器220之頻率控制描述為如藉由以下方程式說明般施加於電壓V1及V2之修正因數TFCTR1、TFCTR2之一線性組合：P=2*RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)+△ 方程式3
對於方程式3，可將P設定為一振盪器電路220輸出時脈信號CLK之一預定時脈頻率。項RC可為在如一修正操作期間量測之振盪器電 路輸出時脈CLK之一量測(未經修正)時脈頻率。項△可等於通過一振盪器電路內之比較器之傳播延遲。對於低頻操作(小於近似1 MHz)，可假定△項為零。方程式3(假定△可為零)可如下經差分且設定為零：0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC) 方程式4
對於方程式4，TCORC可為藉由使該參考電流產生器214之內部阻抗之一溫度係數與該振盪器電路220之內部電容之一溫度係數相加而判定之一近似恆定溫度係數。項TCOV1可為不同程序之間該溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。對於一修正操作，可求解方程式3及4以判定該等修正因數TFCTR1及TFCTR2。
方程式1至4說明可對任何給定振盪器控制電路執行如本發明之實施例所述之修正技術，該等修正技術在數學上可被描述為修正因數TFCTR1及TFCTR2與溫變電壓V1及非溫變電壓V2之任何線性組合。可近似已知該一階溫度變動V1。對於一回饋迴路振盪器電路，換算溫變電壓V1及非溫變電壓V2可對一振盪器控制系統內之程序及溫度相依誤差源提供補償。對於一開環振盪器電路，換算溫變電壓V1及非溫變電壓V2可對一振盪器控制系統內及該振盪器電路本身之程序及溫度相依誤差源提供補償。
圖5圖解說明根據本發明之一實施例之用於修正一振盪器控制系統以用於一振盪器之頻率控制之一方法500。該方法500可量測一溫變電壓(方塊510A)及一近似非溫變電壓(方塊510B)。該方法500可量測振盪器輸出信號週期(方塊520)。使用該等量測，該方法500可對該等電壓之各者計算修正因數(方塊530)。該方法500可儲存該等修正因數以用於振盪器之後續操作(方塊550)。
在一實施例中，該方法500可重新量測振盪器輸出信號時脈週期(方塊560)。該方法500可比較振盪器輸出信號週期與振盪器輸出信號 之一預定頻率以判定該二者之間之差(方塊570)。可將該差與一預定誤差臨限值進行比較(方塊580)。若輸出時脈週期大於該臨限值，則該方法500可調整一修正因數直到振盪器輸出信號週期下降至該預定誤差臨限值以下(方塊590)。該方法可儲存修正因數(返回至方塊550)。
在一實施例中，該方法可根據方程式1及2對每一電壓計算修正因數。在另一實施例中，該方法可根據一預定位元寬度量化所計算的修正因數(方塊540)。在此一實施例中，該方法可儲存所量化的修正因數以用於振盪器電路輸出信號之頻率控制。
圖6圖解說明根據本發明之一實施例之用於控制一振盪器以在一預定輸出頻率下產生一輸出信號之一方法600。如圖6中圖解說明，該方法600可用一第一修正因數換算一第一溫變電壓(方塊610A)且可用一第二修正因數換算一第二近似非溫變電壓(方塊610B)。該方法600可由所換算的第一電壓及第二電壓產生一參考電壓(方塊620)。該方法600可使用該第二近似非溫變電壓產生一參考電流(方塊630)。該方法可由參考電壓、參考電流及振盪器電路輸出信號產生一控制電壓(方塊640)。該方法600可用控制電壓控制振盪器電路以在該預定頻率下產生輸出信號(方塊650)。
在一實施例中，該方法600可控制振盪器電路以在預定頻率下產生一互補輸出信號。
本文具體說明並描述本發明之若干實施例。然而，應明白，本發明之修改及變動係藉由上述教示涵蓋。在其他例項中，並未詳細描述已知操作、組件及電路以免混淆該等實施例。可明白，本文揭示之特定結構及功能細節可具代表性且無限制該等實施例範疇之意。
熟習此項技術者可由前述明白，本發明可以多種形式加以實施且各種實施例可單獨或組合實施。因此，雖然已結合本發明之特定實 例描述本發明之實施例，但是本發明之實施例及/或方法之真正範疇不應被如此限制，這係因為熟習此項技術者在研讀該等圖式、該說明書及以下申請專利範圍之後將明白其他修改。
100‧‧‧振盪器系統
110‧‧‧控制器
112‧‧‧參考電壓產生器
114‧‧‧參考電流產生器
116‧‧‧控制電壓產生器
120‧‧‧振盪器電路/回饋迴路振盪器
CLK‧‧‧時脈信號
CLK#‧‧‧互補時脈信號
IREF‧‧‧參考電流
V1,V2‧‧‧輸入電壓
VCTRL‧‧‧控制電壓
VDD‧‧‧源電位

Claims (30)

  1. 一種振盪器控制系統，其包括：一參考電壓產生器，其接收一第一溫變電壓且根據一第一換算因數換算該第一溫變電壓，接收一第二近似非溫變電壓且根據一第二換算因數換算該第二近似非溫變電壓，且產生一參考電壓，其中該參考電壓表示經換算之該第一溫變電壓與經換算之該第二近似非溫變電壓之一求和；一參考電流產生器，其接收該第二近似非溫變電壓且產生一參考電流；及一控制電壓產生器，其接收該參考電壓、該參考電流及一時脈信號且產生一控制電壓，其中該時脈信號係輸出自一振盪器電路，且其中該參考電壓調整該控制電壓以補償該參考電流產生器及該控制電壓產生器內之程序及溫度相依誤差源以將該振盪器輸出信號控制為一預定頻率。
  2. 如請求項1之振盪器控制系統，其中該第一換算因數補償該振盪器控制系統內之程序相依誤差源。
  3. 如請求項1之振盪器控制系統，其中該第二換算因數補償該振盪器控制系統內之溫度相依誤差源。
  4. 如請求項1之振盪器控制系統，其中該第一換算因數及該第二換算因數中之至少一者係一多位元字組。
  5. 如請求項1之振盪器控制系統，其中該參考電壓產生器包括：一第一換算級，其接收該第一溫變電壓及換算該第一溫變電壓；一第二換算級，其接收該第二近似非溫變電壓及換算該第二近似非溫變電壓； 一求和電路，其組合經換算之該第一溫變電壓與經換算之該第二近似非溫變電壓。
  6. 一種振盪器控制系統，其包括：一參考電壓產生器，其接收一第一溫變電壓且根據一第一換算因數換算該第一溫變電壓，接收一第二近似非溫變電壓且根據一第二換算因數換算該第二近似非溫變電壓，且產生一參考電壓，其中該參考電壓表示經換算之該第一溫變電壓與經換算之該第二近似非溫變電壓之一求和；一參考電流產生器，其接收該第二近似非溫變電壓且產生一參考電流；及一振盪器電路，其接收該參考電壓及該參考電流，其中該參考電壓調整該參考電流產生器及該振盪器電路內之程序及溫度相依誤差源以將由該振盪器電路產生之一輸出信號控制為一預定頻率。
  7. 如請求項6之振盪器控制系統，其中該第一換算因數補償該振盪器控制系統內之程序相依誤差源。
  8. 如請求項6之振盪器控制系統，其中該第二換算因數補償該振盪器控制系統內之溫度相依誤差源。
  9. 如請求項6之振盪器控制系統，其中該第一換算因數及該第二換算因數中之至少一者係一多位元字組。
  10. 如請求項6之振盪器控制系統，其中該參考電壓產生器包括：一第一換算級，其接收該第一溫變電壓及換算該第一溫變電壓；一第二換算級，其接收該第二近似非溫變電壓及換算該第二近似非溫變電壓；一求和電路，其組合經換算之該第一溫變電壓與經換算之該 第二近似非溫變電壓。
  11. 一種用於修正一振盪器電路輸出信號之方法，其包括：量測一第一溫變電壓；量測一第二近似非溫變電壓；量測一振盪器電路輸出信號之一未經修正週期，其中至少部分地自該第一及第二經量測電壓產生該振盪器電路輸出信號之該未經修正週期；基於該所量測週期對對應的該第一電壓及該第二電壓之各者計算一各自修正因數；儲存該第一電壓修正因數及該第二電壓修正因數以用於該振盪器電路之後續操作；及使用該第二近似非溫變電壓產生一參考電流。
  12. 如請求項11之方法，其中量化該第一修正因數及該第二修正因數為一預定精度。
  13. 如請求項11之方法，其中根據P=2*RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)+△及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、△為通過該振盪器電路之比較器之傳播延遲、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  14. 如請求項11之方法，其進一步包括：量測該振盪器電路輸出信號之一修正週期；比較該所量測週期與一預定週期； 若該所量測週期並未在該預定週期之一預定誤差臨限值內，則：對該第一溫變電壓及該第二近似非溫變電壓之各者調整該第一修正因數及該第二修正因數，且重複該量測及比較直到該所量測週期係在該預定誤差臨限值內；及若該所量測週期係在該預定誤差臨限值內，則：儲存該第一修正因數及該第二修正因數以用於該振盪器電路之後續操作。
  15. 如請求項11之方法，其中使用該參考電流產生該振盪器電路之該未經修正週期。
  16. 如請求項11之方法，其中基於一控制電壓產生該振盪器電路之該未經修正週期，及基於該第一溫變電壓及該第二近似非溫變電壓產生該控制電壓。
  17. 一種用於修正一振盪器電路輸出信號之方法，其包括：量測一第一溫變電壓；量測一第二近似非溫變電壓；量測一振盪器電路輸出信號之一未經修正週期，其中至少部分地自該第一及第二經量測電壓產生該振盪器電路輸出信號之該未經修正週期；基於該所量測週期對對應的該第一電壓及該第二電壓之各者計算一各自修正因數；儲存該第一電壓修正因數及該第二電壓修正因數以用於該振盪器電路之後續操作；及其中根據P=RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈 頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  18. 如請求項17之方法，其進一步包括：量測該振盪器電路輸出信號之一修正週期；比較該所量測週期與一預定週期；若該所量測週期並未在該預定週期之一預定誤差臨限值內，則：對該第一溫變電壓及該第二近似非溫變電壓之各者調整該第一修正因數及該第二修正因數，且重複該量測及比較直到該所量測週期係在該預定誤差臨限值內；及若該所量測週期係在該預定誤差臨限值內，則：儲存該第一修正因數及該第二修正因數以用於該振盪器電路之後續操作。
  19. 一種用於控制一振盪器電路以在一預定輸出頻率下產生一輸出信號之方法，其包括：用一第一修正因數換算一第一溫變電壓；用一第二修正因數換算一第二近似非溫變電壓；由經換算之該第一溫變電壓及經換算之該第二近似非溫變電壓產生一參考電壓；由該第二近似非溫變電壓產生一參考電流；使用該參考電壓、該參考電流及該振盪器電路輸出信號產生一振盪器控制電壓；及用該振盪器控制電壓控制該振盪器電路以在該預定輸出頻率 下產生該輸出信號。
  20. 如請求項19之方法，其中根據P=RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  21. 如請求項19之方法，其中根據P=2*RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)+△及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、△為通過該振盪器電路之比較器之傳播延遲、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  22. 一種用於控制一振盪器電路以在一預定輸出頻率下產生一輸出信號之方法，其包括：用一第一修正因數換算一第一溫變電壓；用一第二修正因數換算一第二近似非溫變電壓；由經換算之該第一溫變電壓及經換算之該第二近似非溫變電壓產生一參考電壓；由該第二近似非溫變電壓產生一參考電流；及用該參考電壓及該參考電流控制該振盪器電路以在該預定輸 出頻率下產生該輸出信號。
  23. 如請求項22之方法，其中根據P=RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  24. 如請求項22之方法，其中根據P=2*RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)+△及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、△為通過該振盪器電路之比較器之傳播延遲、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  25. 一種用於修正一振盪器電路輸出信號之方法，其包括：由一第一溫變電壓及一第二近似非溫變電壓產生用於一振盪器電路之一未經修正控制電壓；量測該振盪器電路輸出信號之一未經修正週期；基於該振盪器電路輸出信號之該未經修正週期而計算用於該控制電壓之一修正因數，該修正因數包括用於該第一溫變電壓之一第一電壓修正因數及用於該第二近似非溫變電壓之一第二電壓修正因數；及 儲存該第一電壓修正因數及該第二電壓修正因數以用於該振盪器電路之後續操作，其中自一參考電流產生該未經修正控制電壓，該參考電流係至少部分地基於該第二近似非溫變電壓所產生。
  26. 如請求項25之方法，其中該振盪器電路輸出信號係至少部分地基於該控制電壓及該參考電流所產生。可被量化為一預定位元寬度。
  27. 如請求項25之方法，其中該等第一及第二修正因數可被量化為一預定精度。
  28. 如請求項25之方法，其中根據P=2*RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)+△及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該第一修正因數及該第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、△為通過該振盪器電路之比較器之傳播延遲、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  29. 一種用於修正一振盪器電路輸出信號之方法，其包括：由一第一溫變電壓及一第二近似非溫變電壓產生用於一振盪器電路之一未經修正控制電壓；量測該振盪器電路輸出信號之一未經修正週期；基於該振盪器電路輸出信號之該未經修正週期而計算用於該控制電壓之一修正因數，該修正因數包括用於該第一溫變電壓之一第一電壓修正因數及用於該第二近似非溫變電壓之一第二電壓修正因數；及 儲存該第一電壓修正因數及該第二電壓修正因數以用於該振盪器電路之後續操作，其中根據P=RC*(TFCTR2-TFCTR1*V1/V2)及0=TFCTR2*TCORC-TFCTR1*V1/V2*(TCOV1+TCORC)計算該等第一及第二修正因數，及其中P為該振盪器電路之預定時脈頻率、RC為該振盪器電路之未經修正頻率、V1為該第一溫變電壓、V2為該第二近似非溫變電壓、TFCTR1為用於該第一溫變電壓之修正因數、TFCTR2為用於該第二近似非溫變電壓之修正因數、TCORC為一近似恆定溫度係數、及TCOV1為跨程序之溫變電壓V1之一近似恆定溫度係數。
  30. 如請求項29之方法，其中該等第一及第二修正因數可被量化為一預定精度。
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