TWI533121B - 通用序列匯流排測試治具 - Google Patents
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Description
本發明關於一種電子設備的測試治具,特別是應用在一種電子設備之通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)接口的USB測試治具。
測試技術在電子產品的製程中佔相當重要的地位。隨著電子裝置日漸輕薄短小,積體電路晶片的速度及複雜性相對越來越高,因此對於積體電路晶片模組可靠度的要求也越來越高。由於晶片製程永遠無法到達100%的良率,因此當產品完成後,滿通常會對其上的通訊埠進行一測試。
通常測試將針對結構性與功能性測試。結構性可能包括接腳或是其他實體連結是否電性連接正常,而功能性則是針對晶片及相關電路執行的功能、輸入輸出的訊號是否正確為主。
在對通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)進行功能性測試時,往往需要經由測試機台並結合相應的USB測試治具與待測的USB埠連接。隨後將測試結果經由治具、機台的路徑傳送回至電腦主控端進行分析。然而,此測試方式與使用者一般採用隨身碟之使用方式差異太大,在測試上具有不夠擬真之缺憾。
此外,若採用現有的隨身碟來進行測試,其雖滿足了擬真性,但此舉往往產生許多問題。例如,例如隨身碟體積小,容易被帶走,
或者被用作一般檔案存取使用,使得病毒容易隨著隨身碟散播,導致生產線網路被癱瘓或者將病毒散播到帶有儲存裝置的產品上,影響到商品出貨的品質。
有鑑於此,本發明的目的在於提供一種通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)測試治具,其採用揮發性記憶體作為儲存元件,使得在測試完畢後,揮發性記憶體上的資料在拔除後可立即消失,降低了病毒傳播的可能性。
為達成上述目的,本發明提供之USB測試治具用於模擬成隨身碟以測試帶有USB埠之裝置。USB測試治具包括USB接頭、揮發性記憶體及USB儲存控制器。USB接頭用於插接USB埠。揮發性記憶體用於儲存裝置提供的資料。USB儲存控制器電性連接於USB接頭及揮發性記憶體,用於將揮發性記憶體上的資料按照USB通訊協定的規範進行傳輸,並對揮發性記憶體進行讀寫。其中當USB接頭由USB埠上被拔除時,揮發性記憶體上之資料隨即消失。
在較佳實施例中,USB測試治具之電力由裝置所提供。
在較佳實施例中,揮發性記憶體為隨機存取記憶體。較佳地,隨機存取記憶體為動態隨機存取記憶體或靜態隨機存取記憶體。
在較佳實施例中,USB儲存控制器生成讀寫指令,以讀寫揮發性記憶體上的資料。
在較佳實施例中,USB儲存控制器包括韌體,用於根據讀寫指令直接對揮發性記憶體進行存取。另外,USB儲存控制器包括USB隨身碟
驅動程式。
在較佳實施例中,USB通訊協定的規範包括USB 2.0、USB 3.0、及USB3.1。
在較佳實施例中,USB測試治具進一步包括一功能測試模組,其電性連接於USB儲存控制器,用於測試USB埠之複數參數是否合乎規範。
相較於習知技術,本發明之USB測試治具採用揮發性記憶體作為儲存元件並模擬成隨身碟,藉此增加測試的擬真性。也就是說,若上述裝置為電腦,當插入本發明之USB測試治具時,電腦可自動載入驅動程式而判定為具有隨身碟,並可對此隨身碟進行資料的存取,完整地模擬了隨身碟的測試。測試完畢後,作業員拔除USB測試治具後,則USB測試治具隨即斷電,而揮發性記憶體上之資料也隨即消失,從而達到上述防止病毒傳播的目的。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明顯易懂,配合所附圖式,作詳細說明如下:
10‧‧‧USB測試治具
20‧‧‧裝置
22‧‧‧USB埠
120‧‧‧USB接頭
140‧‧‧揮發性記憶體
160‧‧‧USB儲存控制器
180‧‧‧功能測試模組
第1圖繪示本發明之較佳實施例之USB測試治具之示意方塊圖。
本發明之數個較佳實施例藉由所附圖式與下面之說明作詳細描述,在不同的圖式中,相同的元件符號表示相同或相似的元件。
請參照第1圖,第1圖繪示本發明之較佳實施例之USB測試治
具之示意方塊圖。本實施例之USB測試治具10用於模擬成隨身碟(USB flash drive)以測試帶有USB埠22之裝置20。裝置20可為待測的電腦或其他帶有USB埠的電子裝置,本發明並不限制其種類。需注意的是,本實施例之USB測試治具10並無外接電源或與其他測試機台連接,也就是說,USB測試治具10之電力由裝置20所提供。在其他實施例中,USB測試治具10還可連接邏輯分析儀(Logic Analyzer)。
如第1圖所示,USB測試治具10包括USB接頭120、揮發性記憶體(Volatile memory)140、USB儲存控制器160、及功能測試模組180。本實施例之USB測試治具10透過USB接頭120插接USB埠22,而與裝置20進行資料傳輸。
揮發性記憶體140用於儲存該裝置20提供的資料。具體而言,揮發性記憶體為140為是指當電流關掉後,所儲存的資料便會消失的電腦記憶體。不同於非揮發性記憶體,後者的電源供應中斷後,記憶體所儲存的資料也不會消失,只要重新供電後,就能夠讀取內存資料。具體而言,揮發性記憶體140為隨機存取記憶體(Random Access Memory,RAM),其可暫存裝置20提供的資料。較佳地,隨機存取記憶體為動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory,DRAM)或靜態隨機存取記憶體(Static Random Access Memory,SDRAM)。
如第1圖所示,USB儲存控制器160電性連接於USB接頭120及揮發性記憶體140,用於將揮發性記憶體140上的資料按照USB通訊協定的規範進行傳輸,並對揮發性記憶體140進行讀寫。值得一提的是,USB通訊協定的規範包括USB 2.0、USB 3.0、及USB3.1。也就是說,透過USB
接頭120傳輸的封包格式係符合USB2.0或USB3.0格式。較佳地,USB儲存控制器160可為USB大量儲存裝置控制器(USB Mass Storage Controller),其提供裝置22上的USB裝置控制器(圖未示)及與揮發性記憶體140的介面。
詳細而言,當裝置20對USB測試治具10進行存取操作時,USB儲存控制器160生成讀寫指令(read/write commond),以讀寫揮發性記憶體140上的資料。進一步而言,USB儲存控制器160包括韌體(firmware),韌體用於根據讀寫指令直接對揮發性記憶體140進行存取。也就是說,現有的USB儲存控制器之韌體均為對快閃記憶體(flash memory)進行存取,而本實施例係為對揮發性記憶體140進行存取的韌體。另外,該USB儲存控制器160包括USB隨身碟驅動程式,USB隨身碟驅動程式搭配韌體可直接對揮發性記憶體140進行存取。
當USB接頭120由USB埠22上被拔除時,揮發性記憶體140上之資料隨即消失。因此,本實施例之USB測試治具10再對下一個裝置進行測試之前,揮發性記憶體140內之資料保持清空的狀態,進而不會有夾帶病毒或任何資料之虞。
值得一提的是,功能測試模組180其電性連接於USB儲存控制器160,用於測試該USB埠22之複數參數是否合乎規範。詳細來說,功能測試模組180可外接上述邏輯分析儀進行參數的測定,例如傳輸的速度、匯流排功率、熱插拔管理、電源管理等參數。
綜上所述,本發明之USB測試治具10採用揮發性記憶體140作為儲存元件並模擬成隨身碟,藉此增加測試的擬真性。也就是說,若裝置20為電腦,當插入本發明之USB測試治具10時,電腦可自動載入USB儲存
控制器160之驅動程式而判定為與隨身碟連結,並且電腦可對此隨身碟進行資料的存取,完整地模擬了隨身碟的測試。測試完畢後,作業員拔除本USB測試治具10後,則USB測試治具10隨即斷電,而揮發性記憶體140上之資料也隨即消失,從而達到上述防止病毒傳播的目的。
雖然本發明以已一較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之變更和潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧USB測試治具
20‧‧‧裝置
22‧‧‧USB埠
120‧‧‧USB接頭
140‧‧‧揮發性記憶體
160‧‧‧USB儲存控制器
180‧‧‧功能測試模組
Claims (10)
- 一種通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)測試治具,用於模擬成一隨身碟以測試帶有一USB埠之裝置,該USB測試治具包括:一USB接頭,用於插接該USB埠;一揮發性記憶體,用於儲存該裝置提供的資料;以及一USB儲存控制器,電性連接於該USB接頭及該揮發性記憶體,用於將該揮發性記憶體上的資料按照USB通訊協定的規範進行傳輸,並對該揮發性記憶體進行讀寫;其中當該USB接頭由該USB埠上被拔除時,該揮發性記憶體上之資料隨即消失。
- 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB測試治具之電力由該裝置所提供。
- 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該揮發性記憶體為一隨機存取記憶體。
- 如申請專利範圍第3項所述之USB測試治具,其中該隨機存取記憶體為一動態隨機存取記憶體。
- 如申請專利範圍第3項所述之USB測試治具,其中該隨機存取記憶體為一靜態隨機存取記憶體。
- 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB儲存控制器生成一讀寫指令,以讀寫該揮發性記憶體上的資料。
- 如申請專利範圍第6項所述之USB測試治具,其中該USB儲存控制器包括一韌體,用於根據該讀寫指令直接對該揮發性記憶體進行存取。
- 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB儲存控制器包括一USB隨身碟驅動程式。
- 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB通訊協定的規範包括USB 2.0、USB 3.0、及USB3.1。
- 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,進一步包括一功能測試模組,其電性連接於該USB儲存控制器,用於測試該USB埠之複數參數是否合乎規範。
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TW103142877A TWI533121B (zh) | 2014-12-09 | 2014-12-09 | 通用序列匯流排測試治具 |
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TWI707355B (zh) * | 2019-12-09 | 2020-10-11 | 英業達股份有限公司 | 透過記憶體模組內部線路測試記憶體模組之系統及方法 |
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2014
- 2014-12-09 TW TW103142877A patent/TWI533121B/zh active
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TWI707355B (zh) * | 2019-12-09 | 2020-10-11 | 英業達股份有限公司 | 透過記憶體模組內部線路測試記憶體模組之系統及方法 |
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