TWI533121B - 通用序列匯流排測試治具 - Google Patents

通用序列匯流排測試治具 Download PDF

Info

Publication number
TWI533121B
TWI533121B TW103142877A TW103142877A TWI533121B TW I533121 B TWI533121 B TW I533121B TW 103142877 A TW103142877 A TW 103142877A TW 103142877 A TW103142877 A TW 103142877A TW I533121 B TWI533121 B TW I533121B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
usb
test fixture
volatile memory
test
storage controller
Prior art date
Application number
TW103142877A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201621655A (zh
Inventor
呂學智
陳璉鋒
Original Assignee
英業達股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 英業達股份有限公司 filed Critical 英業達股份有限公司
Priority to TW103142877A priority Critical patent/TWI533121B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI533121B publication Critical patent/TWI533121B/zh
Publication of TW201621655A publication Critical patent/TW201621655A/zh

Links

Description

通用序列匯流排測試治具
本發明關於一種電子設備的測試治具,特別是應用在一種電子設備之通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)接口的USB測試治具。
測試技術在電子產品的製程中佔相當重要的地位。隨著電子裝置日漸輕薄短小,積體電路晶片的速度及複雜性相對越來越高,因此對於積體電路晶片模組可靠度的要求也越來越高。由於晶片製程永遠無法到達100%的良率,因此當產品完成後,滿通常會對其上的通訊埠進行一測試。
通常測試將針對結構性與功能性測試。結構性可能包括接腳或是其他實體連結是否電性連接正常,而功能性則是針對晶片及相關電路執行的功能、輸入輸出的訊號是否正確為主。
在對通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)進行功能性測試時,往往需要經由測試機台並結合相應的USB測試治具與待測的USB埠連接。隨後將測試結果經由治具、機台的路徑傳送回至電腦主控端進行分析。然而,此測試方式與使用者一般採用隨身碟之使用方式差異太大,在測試上具有不夠擬真之缺憾。
此外,若採用現有的隨身碟來進行測試,其雖滿足了擬真性,但此舉往往產生許多問題。例如,例如隨身碟體積小,容易被帶走, 或者被用作一般檔案存取使用,使得病毒容易隨著隨身碟散播,導致生產線網路被癱瘓或者將病毒散播到帶有儲存裝置的產品上,影響到商品出貨的品質。
有鑑於此,本發明的目的在於提供一種通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)測試治具,其採用揮發性記憶體作為儲存元件,使得在測試完畢後,揮發性記憶體上的資料在拔除後可立即消失,降低了病毒傳播的可能性。
為達成上述目的,本發明提供之USB測試治具用於模擬成隨身碟以測試帶有USB埠之裝置。USB測試治具包括USB接頭、揮發性記憶體及USB儲存控制器。USB接頭用於插接USB埠。揮發性記憶體用於儲存裝置提供的資料。USB儲存控制器電性連接於USB接頭及揮發性記憶體,用於將揮發性記憶體上的資料按照USB通訊協定的規範進行傳輸,並對揮發性記憶體進行讀寫。其中當USB接頭由USB埠上被拔除時,揮發性記憶體上之資料隨即消失。
在較佳實施例中,USB測試治具之電力由裝置所提供。
在較佳實施例中,揮發性記憶體為隨機存取記憶體。較佳地,隨機存取記憶體為動態隨機存取記憶體或靜態隨機存取記憶體。
在較佳實施例中,USB儲存控制器生成讀寫指令,以讀寫揮發性記憶體上的資料。
在較佳實施例中,USB儲存控制器包括韌體,用於根據讀寫指令直接對揮發性記憶體進行存取。另外,USB儲存控制器包括USB隨身碟 驅動程式。
在較佳實施例中,USB通訊協定的規範包括USB 2.0、USB 3.0、及USB3.1。
在較佳實施例中,USB測試治具進一步包括一功能測試模組,其電性連接於USB儲存控制器,用於測試USB埠之複數參數是否合乎規範。
相較於習知技術,本發明之USB測試治具採用揮發性記憶體作為儲存元件並模擬成隨身碟,藉此增加測試的擬真性。也就是說,若上述裝置為電腦,當插入本發明之USB測試治具時,電腦可自動載入驅動程式而判定為具有隨身碟,並可對此隨身碟進行資料的存取,完整地模擬了隨身碟的測試。測試完畢後,作業員拔除USB測試治具後,則USB測試治具隨即斷電,而揮發性記憶體上之資料也隨即消失,從而達到上述防止病毒傳播的目的。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明顯易懂,配合所附圖式,作詳細說明如下:
10‧‧‧USB測試治具
20‧‧‧裝置
22‧‧‧USB埠
120‧‧‧USB接頭
140‧‧‧揮發性記憶體
160‧‧‧USB儲存控制器
180‧‧‧功能測試模組
第1圖繪示本發明之較佳實施例之USB測試治具之示意方塊圖。
本發明之數個較佳實施例藉由所附圖式與下面之說明作詳細描述,在不同的圖式中,相同的元件符號表示相同或相似的元件。
請參照第1圖,第1圖繪示本發明之較佳實施例之USB測試治 具之示意方塊圖。本實施例之USB測試治具10用於模擬成隨身碟(USB flash drive)以測試帶有USB埠22之裝置20。裝置20可為待測的電腦或其他帶有USB埠的電子裝置,本發明並不限制其種類。需注意的是,本實施例之USB測試治具10並無外接電源或與其他測試機台連接,也就是說,USB測試治具10之電力由裝置20所提供。在其他實施例中,USB測試治具10還可連接邏輯分析儀(Logic Analyzer)。
如第1圖所示,USB測試治具10包括USB接頭120、揮發性記憶體(Volatile memory)140、USB儲存控制器160、及功能測試模組180。本實施例之USB測試治具10透過USB接頭120插接USB埠22,而與裝置20進行資料傳輸。
揮發性記憶體140用於儲存該裝置20提供的資料。具體而言,揮發性記憶體為140為是指當電流關掉後,所儲存的資料便會消失的電腦記憶體。不同於非揮發性記憶體,後者的電源供應中斷後,記憶體所儲存的資料也不會消失,只要重新供電後,就能夠讀取內存資料。具體而言,揮發性記憶體140為隨機存取記憶體(Random Access Memory,RAM),其可暫存裝置20提供的資料。較佳地,隨機存取記憶體為動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory,DRAM)或靜態隨機存取記憶體(Static Random Access Memory,SDRAM)。
如第1圖所示,USB儲存控制器160電性連接於USB接頭120及揮發性記憶體140,用於將揮發性記憶體140上的資料按照USB通訊協定的規範進行傳輸,並對揮發性記憶體140進行讀寫。值得一提的是,USB通訊協定的規範包括USB 2.0、USB 3.0、及USB3.1。也就是說,透過USB 接頭120傳輸的封包格式係符合USB2.0或USB3.0格式。較佳地,USB儲存控制器160可為USB大量儲存裝置控制器(USB Mass Storage Controller),其提供裝置22上的USB裝置控制器(圖未示)及與揮發性記憶體140的介面。
詳細而言,當裝置20對USB測試治具10進行存取操作時,USB儲存控制器160生成讀寫指令(read/write commond),以讀寫揮發性記憶體140上的資料。進一步而言,USB儲存控制器160包括韌體(firmware),韌體用於根據讀寫指令直接對揮發性記憶體140進行存取。也就是說,現有的USB儲存控制器之韌體均為對快閃記憶體(flash memory)進行存取,而本實施例係為對揮發性記憶體140進行存取的韌體。另外,該USB儲存控制器160包括USB隨身碟驅動程式,USB隨身碟驅動程式搭配韌體可直接對揮發性記憶體140進行存取。
當USB接頭120由USB埠22上被拔除時,揮發性記憶體140上之資料隨即消失。因此,本實施例之USB測試治具10再對下一個裝置進行測試之前,揮發性記憶體140內之資料保持清空的狀態,進而不會有夾帶病毒或任何資料之虞。
值得一提的是,功能測試模組180其電性連接於USB儲存控制器160,用於測試該USB埠22之複數參數是否合乎規範。詳細來說,功能測試模組180可外接上述邏輯分析儀進行參數的測定,例如傳輸的速度、匯流排功率、熱插拔管理、電源管理等參數。
綜上所述,本發明之USB測試治具10採用揮發性記憶體140作為儲存元件並模擬成隨身碟,藉此增加測試的擬真性。也就是說,若裝置20為電腦,當插入本發明之USB測試治具10時,電腦可自動載入USB儲存 控制器160之驅動程式而判定為與隨身碟連結,並且電腦可對此隨身碟進行資料的存取,完整地模擬了隨身碟的測試。測試完畢後,作業員拔除本USB測試治具10後,則USB測試治具10隨即斷電,而揮發性記憶體140上之資料也隨即消失,從而達到上述防止病毒傳播的目的。
雖然本發明以已一較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之變更和潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧USB測試治具
20‧‧‧裝置
22‧‧‧USB埠
120‧‧‧USB接頭
140‧‧‧揮發性記憶體
160‧‧‧USB儲存控制器
180‧‧‧功能測試模組

Claims (10)

  1. 一種通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)測試治具,用於模擬成一隨身碟以測試帶有一USB埠之裝置,該USB測試治具包括:一USB接頭,用於插接該USB埠;一揮發性記憶體,用於儲存該裝置提供的資料;以及一USB儲存控制器,電性連接於該USB接頭及該揮發性記憶體,用於將該揮發性記憶體上的資料按照USB通訊協定的規範進行傳輸,並對該揮發性記憶體進行讀寫;其中當該USB接頭由該USB埠上被拔除時,該揮發性記憶體上之資料隨即消失。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB測試治具之電力由該裝置所提供。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該揮發性記憶體為一隨機存取記憶體。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之USB測試治具,其中該隨機存取記憶體為一動態隨機存取記憶體。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之USB測試治具,其中該隨機存取記憶體為一靜態隨機存取記憶體。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB儲存控制器生成一讀寫指令,以讀寫該揮發性記憶體上的資料。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之USB測試治具,其中該USB儲存控制器包括一韌體,用於根據該讀寫指令直接對該揮發性記憶體進行存取。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB儲存控制器包括一USB隨身碟驅動程式。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,其中該USB通訊協定的規範包括USB 2.0、USB 3.0、及USB3.1。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之USB測試治具,進一步包括一功能測試模組,其電性連接於該USB儲存控制器,用於測試該USB埠之複數參數是否合乎規範。
TW103142877A 2014-12-09 2014-12-09 通用序列匯流排測試治具 TWI533121B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW103142877A TWI533121B (zh) 2014-12-09 2014-12-09 通用序列匯流排測試治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW103142877A TWI533121B (zh) 2014-12-09 2014-12-09 通用序列匯流排測試治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI533121B true TWI533121B (zh) 2016-05-11
TW201621655A TW201621655A (zh) 2016-06-16

Family

ID=56509259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW103142877A TWI533121B (zh) 2014-12-09 2014-12-09 通用序列匯流排測試治具

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI533121B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI707355B (zh) * 2019-12-09 2020-10-11 英業達股份有限公司 透過記憶體模組內部線路測試記憶體模組之系統及方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI707355B (zh) * 2019-12-09 2020-10-11 英業達股份有限公司 透過記憶體模組內部線路測試記憶體模組之系統及方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201621655A (zh) 2016-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI451106B (zh) 晶圓測試系統及其測試方法
CN104317690B (zh) 一种基于ITP工具的Memory Demand Scrub测试方法
TW201341811A (zh) 主機板測試裝置及其轉接模組
WO2019041662A1 (zh) Dram测试装置及方法
TWI595355B (zh) 測試裝置和方法
TW201621657A (zh) 電子裝置
TW201506611A (zh) 主機板測試系統及方法
CN104536774B (zh) 芯片软件烧录方法
JP6033913B2 (ja) ユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法
WO2023040253A1 (zh) 一种测试板卡、测试系统和测试方法
TWI533121B (zh) 通用序列匯流排測試治具
TW201517044A (zh) 一種用於內建自我測試記憶體的裝置及方法
TWI515551B (zh) 電腦棒擴充系統以及其電量管理方法
CN104598415A (zh) 通用串行总线测试治具
US11226757B2 (en) Hot plug memory device data protection method
TWI559009B (zh) 動態記憶體測試裝置及其測試方法
US9405604B2 (en) Method and apparatus for connecting debug interface to processing circuits without sideband interface
TWI645411B (zh) 半導體裝置之測試混合陣列的方法
CN103366830A (zh) 存储卡的测试装置
CN115509965A (zh) 存储器控制器与链接识别方法
TWI739853B (zh) 運算裝置與運作方法
TWI567633B (zh) 通用序列匯流排相容的隨身碟的啟動方法及其相關隨身碟
CN102411527B (zh) 一种图像处理芯片的检测方法、开发板和检测系统
TW201500749A (zh) 測試裝置及測試方法
TWM618089U (zh) 記憶體模組燒錄測試系統