TWI524234B - Touch panel sensor - Google Patents

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TWI524234B
TWI524234B TW103118310A TW103118310A TWI524234B TW I524234 B TWI524234 B TW I524234B TW 103118310 A TW103118310 A TW 103118310A TW 103118310 A TW103118310 A TW 103118310A TW I524234 B TWI524234 B TW I524234B
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Hiroyuki Takao
Toru Umemoto
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Nitto Denko Corp
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Description

觸控面板感測器
本發明係關於一種應用於可藉由手指或觸控筆等之接觸而輸入資訊之輸入顯示裝置等之觸控面板感測器。
先前，已知一種於透明基材之兩側具有透明導電體層之積層薄膜(專利文獻1)。此種積層薄膜由於可將各個透明導電體層正確圖案化，故具有透明電極圖案之相對位置精度較高之特徵。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
專利文獻1：日本特開2012-066477號公報
然而，於如此般於透明基材之兩側形成有透明電極圖案之構成中，有如下問題：若於各透明電極圖案上直接積層接著層而製作觸控面板感測器，則於外光入射之情形時，會產生干涉條紋(interference fringe)。
本發明之目的在於提供一種可抑制干涉條紋之產生之觸控面板感測器。
為了達成上述目的，本發明之觸控面板感測器之特徵在於：包含透明基材，於該透明基材之一側依序包含第1透明電極圖案、第1折 射率調整層、及第1接著層，於上述透明基材之另一側依序包含第2透明電極圖案、第2折射率調整層、及第2接著層，上述第1折射率調整層之折射率大於上述第1接著層之折射率，上述第2折射率調整層之折射率大於上述第2接著層之折射率，且，上述第1折射率調整層及上述第2折射率調整層之厚度分別為85nm~120nm。
較佳為，上述第1折射率調整層與上述第1接著層之折射率差為0.1~0.4，上述第2折射率調整層與上述第2接著層之折射率差為0.1~0.4。
又，較佳為，上述第1折射率調整層及上述第2折射率調整層之折射率分別為1.5~1.8。
又，較佳為，上述第1折射率調整層及上述第2折射率調整層之厚度分別為90nm~110nm。
又，較佳為，上述第1折射率調整層之折射率大於上述第1接著層之折射率，且小於上述第1透明電極圖案之折射率，上述第2折射率調整層之折射率大於上述第2接著層之折射率，且小於上述第2透明電極圖案之折射率。
根據本發明，第1折射率調整層之折射率大於第1接著層之折射率，第2折射率調整層之折射率大於第2接著層之折射率，且，上述第1折射率調整層及第2折射率調整層之厚度分別為85nm~120nm。藉此，可提供一種抑制干涉條紋之產生之觸控面板感測器。
1‧‧‧觸控面板感測器
2‧‧‧透明基材
3‧‧‧透明電極圖案
4‧‧‧折射率調整層
5‧‧‧接著層
6‧‧‧透明電極圖案
7‧‧‧折射率調整層
8‧‧‧接著層
圖1係概略性顯示本發明之實施形態之觸控面板感測器之構成之圖，(a)係俯視圖，(b)係沿著(a)之線A-A之剖面圖。
以下，一面參照圖式一面詳細說明本發明之實施形態。
圖1係概略性顯示本實施形態之觸控面板感測器之構成之圖，(a)係俯視圖，(b)係沿著(a)之線A-A之剖面圖。另，圖1之各構成之長度、寬度或厚度係顯示其一例者，本發明之觸控面板感測器之各構成之長度、寬度或厚度並不限於圖1者。
如圖1(a)及(b)所示，本發明之觸控面板感測器1具有透明基材2，於該透明基材之一側依序具有透明電極圖案3(第1透明電極圖案)、折射率調整層4(第1折射率調整層)、及接著層5(第1接著層)。又，觸控面板感測器1係於透明基材2之另一側依序具有透明電極圖案6(第2透明電極圖案)、折射率調整層7(第2折射率調整層)、及接著層8(第2接著層)。
折射率調整層4之折射率(相對折射率)大於接著層5之折射率，折射率調整層7之折射率大於接著層8之折射率。又，折射率調整層7及折射率調整層8之厚度分別為85nm~120nm。
於如上述般構成之觸控面板感測器1中，於透明電極圖案3與接著層5之間配置具有特定之物性之折射率調整層4，於透明電極圖案6與接著層8之間配置具有特定之物性之折射率調整層7。根據上述配置，由於可減小積層界面之折射率差，故外光之反射變弱，而可有效抑制干涉條紋之產生。
此處，於先前之觸控面板感測器中，係於各透明電極圖案直接積層接著層而製作。此時，干涉條紋係藉由積層於透明基材之表面側(視認側)之透明電極圖案之上表面(接著層與透明電極圖案之界面)所反射之反射光、與積層於透明基材之背面側(與視認側為相反側)之透明電極圖案之上表面(透明基材與透明電極圖案之界面)所反射之反射光之干涉作用而產生。因此，於本發明中，著眼於透明基材之表面側所產生之反射光，於透明電極圖案3與接著層5之間配置有折射率調整層4。藉此，可減弱透明電極圖案3之上表面所反射之反射光。又，觸 控面板感測器由於在觸控面板之製造步驟中有將正反面反轉使用之情形，故較佳為以使剖面構造成為正反面對稱之方式製作。因此，於透明電極圖案6與接著層8之間配置有折射率調整層7。根據本構成，藉由減弱透明電極圖案3之上表面所反射之反射光，可抑制透明電極圖案3之上表面所反射之反射光、與透明電極圖案6之上表面所反射之反射光之干涉。
另，本說明書之折射率只要沒有特別說明，均表示於25℃使用鈉D線(波長589.3nm)測定之相對於空氣之值。
於本發明之觸控面板感測器1中，雖於透明基材2上形成有透明電極圖案3，但並不限於此。亦可於透明基材與透明電極圖案之間，具有用以提高接著強度之易接著層(anchor coat layer)、另一折射率調整層、或用以提高透明基材之表面硬度之硬塗層。
接著，以下說明觸控面板感測器1之各構成要素之細節。
(1)透明基材
本發明所使用之透明基材係分別支持第1及第2透明電極圖案者。透明基材之厚度例如20μm~200μm。
上述透明基材雖無特別限制，但較佳為聚對苯二甲酸乙二酯薄膜、聚碳酸酯薄膜、或聚環烯烴薄膜。尤其，聚環烯烴薄膜係自提高觸控面板感測器之感度之觀點而言較佳。聚環烯烴薄膜由於介電常數較其他材料低，故可減小第1透明電極圖案與第2透明電極圖案之間之靜電電容。將本發明之觸控面板感測器使用於靜電電容方式觸控面板之情形時，由於若減小透明電極圖案間之靜電電容，則手指接近於透明電極圖案時所產生之靜電電容變化相對較大，故觸控感度提高。
(2)透明電極圖案
本發明所使用之第1及第2透明電極圖案係用以檢測觸控位置之感測器。上述第1及第2透明電極圖案一般電性連接於形成於透明構件 之端部之引繞配線(未圖示)，上述引繞配線與控制器IC(未圖示)連接。
上述第1及第2透明電極圖案係將任一者作為X座標用之電極，將另一者作為Y座標用之電極，於俯視下形成為格柵狀(圖1(a))。各透明電極圖案之形狀未特別限制，例如為條狀或菱形狀。
典型而言，上述第1及第2透明電極圖案係藉由透明導電體形成。上述透明導電體係指於可視光區域透射率較高(較佳為80%以上)且每單位面積之表面電阻值(Ω/□：ohms per square)為500Ω/□以下之材料。
上述第1及第2透明電極圖案之折射率通常為1.9~2.5，於構成觸控面板感測器之構件之中為最高。形成上述透明導電體之材料係例如銦錫氧化物(折射率2.0)、或銦鋅氧化物(折射率2.3)。
上述第1及第2透明電極圖案之高度較佳為10nm~100nm，寬度較佳為0.1mm~5mm，間距較佳為0.5mm~10mm。
作為形成上述第1及第2透明電極圖案之方法，舉出使用濺鍍法或真空蒸鍍法，於透明基材之表面整體形成透明導電體層之後，藉由蝕刻處理將透明導電體層圖案化之方法。
(3)折射率調整層(index-matching layer)
本發明所使用之折射率調整層係以抑制透明電極圖案之反射之方式將折射率調整至特定值之透明層。上述第1折射率調整層係以覆蓋第1透明電極圖案之方式形成於透明基材之一側，上述第2折射率調整層係以覆蓋第2透明電極圖案之方式形成於透明基材之另一側。
形成上述第1及第2折射率調整層之材料雖未特別限制，但較佳為將使無機粒子分散至感光性樹脂或感光性單體之有機成分而得之無機/有機複合材料光硬化者。作為無機粒子，舉出例如二氧化矽、氧化鋁、氧化鋯、氧化鈦。又，上述無機/有機複合材料可濕式成膜 (Wet coating)，該濕式成膜與濺鍍等乾式成膜(Dry coating)相比，無需真空裝置等極大之設備投資，適於大面積化，生產性優異。作為上述無機/有機複合材料，例如可使用OPSTAR(註冊商標)Z系列(JSR公司製造)。
上述第1折射率調整層之折射率大於上述第1接著層之折射率，較佳為小於上述第1透明電極圖案之折射率。又，上述第2折射率調整層之折射率大於上述第2接著層之折射率，較佳為小於上述第2透明電極圖案之折射率。
上述第1折射率調整層與上述第1接著層之折射率差△n1(相對折射率之差)較佳為0.1~0.4，上述第2折射率調整層與上述第2接著層之折射率差△n2較佳為0.1~0.4。若折射率差△n1或折射率差△n2小於0.1，則抑制干涉條紋之產生之效果變小，又，若折射率差△n1或折射率差△n2大於0.4，則於折射率調整層與接著層之界面產生新的反射，而有產生由此引起之干涉條紋之虞。
自進一步抑制干涉條紋之產生之觀點而言，上述第1及第2折射率調整層之折射率分別較佳為1.5~1.8，更佳為1.5~1.7。使用無機/有機複合材料作為上述折射率調整層之情形時，折射率調整層之折射率可藉由使無機粒子之種類或其含有量變化，而適當增加或減少。
上述第1及第2折射率調整層之厚度分別為85nm~120nm，自進一步抑制干涉條紋之產生之觀點而言，較佳為90nm~110nm。另，第1及第2折射率調整層之材料、折射率及厚度可為相同，或亦可為互不相同。
(4)接著層
本發明所使用之第1及第2接著層係積層於上述第1及第2折射率調整層之各表面。上述第1及第2接著層之厚度較佳為10μm~100μm。自均一性或透明性之觀點而言，形成上述第1及第2接著層之材 料較佳為丙烯酸系黏著劑。第1及第2接著層之折射率較佳為1.4~1.6。
如上所述，根據本實施形態，由於第1折射率調整層之折射率大於第1接著層之折射率，第2折射率調整層之折射率大於第2接著層之折射率，再者，第1折射率調整層及第2折射率調整層之厚度分別為85nm~120nm，故外光之反射變弱，可抑制干涉條紋之產生。
以上，雖已對本實施形態之觸控面板感測器進行敘述，但本發明並不限定於記述之實施形態，而可基於本發明之技術思想進行各種變化及變更。
以下，說明本發明之實施例。
[實施例]
(實施例1)
於包含厚度100μm之聚環烯烴薄膜(日本Zeon公司製造 商品名「ZEONOR(註冊商標)」)之透明基材之兩面，依序形成含有直徑3μm之球狀粒子之硬塗層、與折射率為1.65且厚度為100nm之折射率調整層。
接著，將該透明基材放入設置有包含97重量%之氧化銦、3重量%之氧化錫之焙燒體靶材之濺鍍裝置內，於透明基材之一側，藉由濺鍍法形成厚度27nm之銦錫氧化物層。接著，於透明基材之另一側，亦進行上述相同之處理，形成厚度27nm之銦錫氧化物層。接著，將於兩側具備銦錫氧化物層之透明基材以150℃加熱處理90分鐘，而使各銦錫氧化物層自非晶質轉化成結晶質。
其後，於形成於透明基材之一側之銦錫氧化物層，積層聚酯薄膜之保護層(Sun A化研公司製造)進行保護。又，於形成於另一側之銦錫氧化物層塗布條狀之光阻劑之後，沉浸於鹽酸而形成透明電極圖案。接著，於形成於透明基材之另一側之銦錫氧化物層亦進行相同之 處理，而於透明基材之兩側形成透明電極圖案。
接著，於透明基材之一側，以覆蓋透明電極圖案之方式，塗布使無機粒子分散至感光性單體之有機成分而得之無機/有機複合材料(JSR公司製造 商品名「OPSTAR(註冊商標)」KZ6661)，並進行光硬化，形成折射率為1.65且厚度為100nm之第1折射率調整層。於透明基材之另一側亦進行相同之處理，形成第2折射率調整層。
接著，於第1及第2折射率調整層之表面，分別積層折射率為1.5之丙烯酸系接著層(日東電工公司製造 商品名「LUCIACS(註冊商標)」)，而製作出觸控面板感測器。
(實施例2)
除了將第1及第2折射率調整層之厚度設為85nm以外，以與實施例1相同之方法，製作出觸控面板感測器。
(實施例3)
除了將第1及第2折射率調整層之厚度設為120nm以外，以與實施例1相同之方法，製作出觸控面板感測器。
(比較例1)
除了將第1及第2折射率調整層之厚度設為60nm以外，以與實施例1相同之方法，製作出觸控面板感測器。
(比較例2)
除了將第1及第2折射率調整層之厚度設為140nm以外，以與實施例1相同之方法，製作出觸控面板感測器。
接著，將如上述般製作之實施例1~3及比較例1~2之各觸控面板感測器放置於平滑之評估台上，於視認側配置玻璃板(Corning公司製造 商品名「GORILLA(註冊商標)」)，於背面側貼合防反射用之黑色膠帶，設為模擬之觸控面板，自視認側以三波長型螢光燈照射觸控面板，以目測觀察評估產生干涉條紋之程度。將結果顯示於表1。表1 中，以「○」表示幾乎未視認到干涉條紋之情形，以「×」表示明顯視認到干涉條紋之情形。
如表1之實施例1所示，若將第1及第2折射率調整層之折射率設為1.65，將第1及第2接著層之折射率設為1.5，將第1及第2折射率調整層之厚度均設為100nm，則於觸控面板幾乎未視認到干涉條紋。又，於實施例2中，若將第1及第2折射率調整層之折射率設為1.65，將第1及第2接著層之折射率設為1.5，將第1及第2折射率調整層之厚度均設為85nm，則幾乎未視認到干涉條紋。於實施例3中，若將第1及第2折射率調整層之折射率設為1.65，將第1及第2接著層之折射率設為1.5，將第1及第2折射率調整層之厚度均設為120nm，則幾乎未視認到干涉條紋。
另一方面，如比較例1所示，若將第1及第2折射率調整層之折射率設為1.65，將第1及第2接著層之折射率設為1.5，將第1及第2折射率調整層之厚度均設為60nm，則於觸控面板明顯視認到干涉條紋。又，如比較例2所示，若將第1及第2折射率調整層之折射率設為1.65，將第1及第2接著層之折射率設為1.5，將第1及第2折射率調整層之厚度均設為140nm，則明顯視認到干涉條紋。
因此，可知若將折射率調整層之折射率設為大於接著層之折射率之值，將折射率調整層之厚度設為85nm~120nm，則可充分抑制干涉條紋之產生。
[產業上之可利用性]
本發明之觸控面板感測器之用途並無特別限制，較佳為智慧型電話或平板終端(Slate PC)等之移動終端所使用之靜電電容方式觸控面板。
1‧‧‧觸控面板感測器
2‧‧‧透明基材
3‧‧‧透明電極圖案
4‧‧‧折射率調整層
5‧‧‧接著層
6‧‧‧透明電極圖案
7‧‧‧折射率調整層
8‧‧‧接著層

Claims (5)

  1. 一種觸控面板感測器，其特徵在於：包含透明基材，於該透明基材之一側依序包含第1透明電極圖案、第1折射率調整層、及第1接著層；於上述透明基材之另一側依序包含第2透明電極圖案、第2折射率調整層、及第2接著層；上述第1折射率調整層之折射率大於上述第1接著層之折射率，上述第2折射率調整層之折射率大於上述第2接著層之折射率；且上述第1折射率調整層及上述第2折射率調整層之厚度分別為85nm~120nm。
  2. 如請求項1之觸控面板感測器，其中上述第1折射率調整層與上述第1接著層之折射率差為0.1~0.4，上述第2折射率調整層與上述第2接著層之折射率差為0.1~0.4。
  3. 如請求項1或2之觸控面板感測器，其中上述第1折射率調整層及上述第2折射率調整層之折射率分別為1.5~1.8。
  4. 如請求項1之觸控面板感測器，其中上述第1折射率調整層及上述第2折射率調整層之厚度分別為90nm~110nm。
  5. 如請求項1之觸控面板感測器，其中上述第1折射率調整層之折射率大於上述第1接著層之折射率，且小於上述第1透明電極圖案之折射率；且上述第2折射率調整層之折射率大於上述第2接著層之折射率，且小於上述第2透明電極圖案之折射率。
TW103118310A 2013-05-27 2014-05-26 Touch panel sensor TWI524234B (zh)

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