TWI509249B - 震動器及具有該震動器之電子元件測試分類機 - Google Patents
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Description
本發明係有關於一種震動器,尤其指一種應用在電子元件測試分類機的震動器。
按,目前電子元件如IC、電阻等,於製作完成後會利用一電子元件(例如IC)檢測分類機執行電路檢測作業,以檢測電子元件於生產過程中是否損壞而淘汰出不良品。在檢測作業過程,經常以機械手臂取放於承載治具上進行輸送作業,以逐站進行各項的加工作業或檢測作業。但是由於機械手臂於取放電子元件的過程中,並無法每一次都能絕對精準的置入承載治具中之定位槽內,偶爾會有傾斜放置的情形發生,倘發生放置傾斜又沒有進行異常排除時,其接續的後站作業流程將會發生定位誤差的情形,嚴重者將導致電子元件完全損壞,因此目前一般的設備於承載治具的側方會設置感測器,以感測電子元件放置位置是否異常,如發現異常情形,可立即將感測訊號傳輸至控制器,以控制機台停機進行異常排除。
以下為目前相關檢測機構的介紹:
如中華民國專利申請號第88212975號「積體電路檢測機構」揭示,該檢測機構係於機台上設有測試台用以檢測IC,一入料裝置係設置於測試台之前方用以承載待測IC,其係於一輸送台之兩側設有輸送帶,該輸送帶可供擺置盛裝待測IC之料盤,以將該料盤送至預設位置,再以壓缸頂推定位,一用以移載IC之移料裝置,係於測試台之兩側設有第一取料機構及第二取料機構,該第一、二取料機構各於機台側方架設一第二方向移動結構(第二方向如Y方向),該第二方向移動結構再帶動一裝設於上方之第一方向移動機構(第一方向如X方向)做第二方向位移,該第一方向移動結構則帶動一可做第三方向位移(第三方向如Z方向)之取放器做第一方向位移,進而該移料裝置之第一取料機構可將入料裝置上之待測IC先移載至一加熱裝置處加熱,再將IC移載至載送裝置,該載送裝置係於測試台之兩側設有第一二載送機構,該第一載送機構可將待測IC載送至測試台之側方,一檢測裝置係設於測試台之上方,並以取放器於測試台及載送裝置間位移,以將待測IC移載至測試台執行檢測作業,待IC檢測完畢後,再將完測IC移載至第二載送機構上而移載出檢測裝置,供第二取料機構將完測IC移載至出料裝置,並依檢測結果而分類收置。
如中華民國專利申請號第94127219號「IC測試分類機」,則改良前面的機構,以具有導正機構之入料裝置承載及導正盛裝待測IC之料盤,以供移料裝置可準確取用待測IC,該移料裝置之各取料機構係於第一方向移動結構之下方懸設一具取放器之第二方向移動結構,以節省元件配置空間而減縮機器體積,該移料裝置即以取放器將待測IC先行移載至一加熱裝置處加熱,再移載至載送裝置上,以供載送至熱測室內,並位於測試台之側方,一設置於熱測室外部之視覺裝置可先掃瞄測試台內是否有異物,再由設於熱測室外部之檢測裝置,以取放器將載送裝置上之待測IC移載至測試台執行檢測作業,待檢測完畢後,再將完測IC放置於載送裝置上以供移載出熱測室,供移料裝置將完測IC移載至出料裝置處,並依測試結果分類收置。
如申請案號第95103067號「電子元件承載治具之感測裝置」揭示其主要在承載治具之兩側機架上裝設一組寬帶光纖感測器,而利用該寬帶光纖感測器之多線式光束照射,可對承載治具內之電子元件進行放置位置的有效感測,並將感測訊號傳輸至控制器,藉此感測電子元件放置位置是否異常,然後由控制器控制機台停機進行異常排除。
如中華民國專利申請號第95108250號「輸送裝置之元件導正機構」,揭示該輸送裝置係以載送機構將元件載送至導正機構處,該導正機構主要係以一側機架設有第一、二方向基準面,並於另側機架設有具推塊之第一、二推件,其中該第一推件係水平偏斜擺置近第一方向,並令第一推塊向前凸伸位移,而提供較大之第一方向推力及較小之第二方向推力,而第二推件則擺置呈第二方向,並令第二推塊向前凸伸位移,而提供第二方向推力;藉此可利用第一推件之第一、二方向推力配合第二推件之第二方向推力,而可頂推件做第一、二方向位移,以靠置於第一、二方向基準面定位,達到確實導正元件擺置角度之實用效益。
前面幾件雖然提出可以感應電子元件放置偏移,但是卻必須停止機台的運作,藉由人工將位置偏移的電子元件歸位。
後有進者,如中華民國專利申請號第100105471號「振動歸位梭車及具有該梭車之半導體元件檢測機台」揭示,該梭車具有一本體及一振動單元,其中本體上形成有供承載半導體元件的承載座,當入料臂將待測半導體元件移至承載座,梭車便移至使承載座對應於交換位置,供測試臂將待測元件移至測試座進行測試,然後由測試臂將已測半導體元件移回承載座,梭車再移至出料臂可汲取的位置,供取出已測元件進行分類。當半導體元件相對於承載座歪斜時,可透過振動單元使承載座沿置放平面方向振動,令半導體元件受到振動,而正確歸位落入承載座中。其中振動單元的震盪子係包括一偏心輪及一轉軸,且每一震盪子分別對應一承載座的承載部,使偏心輪以承載部為樞軸旋轉偏心輪則使得對應的承載座沿著置放平面方向振動,另外震盪子也可以為行星齒輪達到相同的目的。
第100105471號可以減少停機的狀況,但是該案利用複數的偏心輪或行星輪作為振動單元,每一個偏心輪或行星輪運作的振動力道不一致,不一定會使電子元件歸位,或另電子元件被震出承載部,再者偏心輪或行星輪在振動運作過程中,容易損壞,所以實際操作損壞率極高。
以下為目前相關檢測機構的介紹:
如中華民國專利申請號第88212975號「積體電路檢測機構」揭示,該檢測機構係於機台上設有測試台用以檢測IC,一入料裝置係設置於測試台之前方用以承載待測IC,其係於一輸送台之兩側設有輸送帶,該輸送帶可供擺置盛裝待測IC之料盤,以將該料盤送至預設位置,再以壓缸頂推定位,一用以移載IC之移料裝置,係於測試台之兩側設有第一取料機構及第二取料機構,該第一、二取料機構各於機台側方架設一第二方向移動結構(第二方向如Y方向),該第二方向移動結構再帶動一裝設於上方之第一方向移動機構(第一方向如X方向)做第二方向位移,該第一方向移動結構則帶動一可做第三方向位移(第三方向如Z方向)之取放器做第一方向位移,進而該移料裝置之第一取料機構可將入料裝置上之待測IC先移載至一加熱裝置處加熱,再將IC移載至載送裝置,該載送裝置係於測試台之兩側設有第一二載送機構,該第一載送機構可將待測IC載送至測試台之側方,一檢測裝置係設於測試台之上方,並以取放器於測試台及載送裝置間位移,以將待測IC移載至測試台執行檢測作業,待IC檢測完畢後,再將完測IC移載至第二載送機構上而移載出檢測裝置,供第二取料機構將完測IC移載至出料裝置,並依檢測結果而分類收置。
如中華民國專利申請號第94127219號「IC測試分類機」,則改良前面的機構,以具有導正機構之入料裝置承載及導正盛裝待測IC之料盤,以供移料裝置可準確取用待測IC,該移料裝置之各取料機構係於第一方向移動結構之下方懸設一具取放器之第二方向移動結構,以節省元件配置空間而減縮機器體積,該移料裝置即以取放器將待測IC先行移載至一加熱裝置處加熱,再移載至載送裝置上,以供載送至熱測室內,並位於測試台之側方,一設置於熱測室外部之視覺裝置可先掃瞄測試台內是否有異物,再由設於熱測室外部之檢測裝置,以取放器將載送裝置上之待測IC移載至測試台執行檢測作業,待檢測完畢後,再將完測IC放置於載送裝置上以供移載出熱測室,供移料裝置將完測IC移載至出料裝置處,並依測試結果分類收置。
如申請案號第95103067號「電子元件承載治具之感測裝置」揭示其主要在承載治具之兩側機架上裝設一組寬帶光纖感測器,而利用該寬帶光纖感測器之多線式光束照射,可對承載治具內之電子元件進行放置位置的有效感測,並將感測訊號傳輸至控制器,藉此感測電子元件放置位置是否異常,然後由控制器控制機台停機進行異常排除。
如中華民國專利申請號第95108250號「輸送裝置之元件導正機構」,揭示該輸送裝置係以載送機構將元件載送至導正機構處,該導正機構主要係以一側機架設有第一、二方向基準面,並於另側機架設有具推塊之第一、二推件,其中該第一推件係水平偏斜擺置近第一方向,並令第一推塊向前凸伸位移,而提供較大之第一方向推力及較小之第二方向推力,而第二推件則擺置呈第二方向,並令第二推塊向前凸伸位移,而提供第二方向推力;藉此可利用第一推件之第一、二方向推力配合第二推件之第二方向推力,而可頂推件做第一、二方向位移,以靠置於第一、二方向基準面定位,達到確實導正元件擺置角度之實用效益。
前面幾件雖然提出可以感應電子元件放置偏移,但是卻必須停止機台的運作,藉由人工將位置偏移的電子元件歸位。
後有進者,如中華民國專利申請號第100105471號「振動歸位梭車及具有該梭車之半導體元件檢測機台」揭示,該梭車具有一本體及一振動單元,其中本體上形成有供承載半導體元件的承載座,當入料臂將待測半導體元件移至承載座,梭車便移至使承載座對應於交換位置,供測試臂將待測元件移至測試座進行測試,然後由測試臂將已測半導體元件移回承載座,梭車再移至出料臂可汲取的位置,供取出已測元件進行分類。當半導體元件相對於承載座歪斜時,可透過振動單元使承載座沿置放平面方向振動,令半導體元件受到振動,而正確歸位落入承載座中。其中振動單元的震盪子係包括一偏心輪及一轉軸,且每一震盪子分別對應一承載座的承載部,使偏心輪以承載部為樞軸旋轉偏心輪則使得對應的承載座沿著置放平面方向振動,另外震盪子也可以為行星齒輪達到相同的目的。
第100105471號可以減少停機的狀況,但是該案利用複數的偏心輪或行星輪作為振動單元,每一個偏心輪或行星輪運作的振動力道不一致,不一定會使電子元件歸位,或另電子元件被震出承載部,再者偏心輪或行星輪在振動運作過程中,容易損壞,所以實際操作損壞率極高。
本發明主要目的係提供一種作直線往復作動的震動活塞以產生震動效果的震動器。
本發明另一目的係提供一種隨著安裝位置不同以產生水平方向或垂直方向震動的震動器。
本發明另一目的係提供一種裝設在電子元件測試分類機的震動器,藉由該震動器的震動使電子元件歸位在盛載凹槽內。
本發明另一目的係提供一種電子元件測試分類機,該分類機內的非活動盛載單元及/或活動盛載單元具有至少一震動器,藉由震動器使該非活動承載裝置及/或活動盛載單元產生震動,令放置在盛載單元上的電子元件歸位在盛載單元的盛載凹槽內。
本發明另一目的係提供一種具有直線往復作動的震動器的電子元件測試分類機。
根據上述目的本發明提出一種震動器包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁上設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該內空間內做直線的往復運動。
本發明另外提出一種具有震動器之電子元件測試分類機,包括:一測試台,係用以測試電子元件;一入料裝置,係設於該測試台前方,用以供放置待測電子元件之料盤;一移料裝置,係設於該測試台之側方用以移載電子元件;一載送裝置,設於該測試台的另側方,用以載送待測或完測的電子元件,該載送裝置設有至少一第一震動器,該第一震動器包括:一第一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁上設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一第一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一第一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該第一震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該第一基座的內空間內做直線的往復運動;一檢測裝置,設於該測試台之上方,用以於載送裝置及測試台間移載電子元件;至少一出料裝置,設於該測試台另一方,用以供置放盛裝完測電子元件之料盤。
本發明提出一種電子元件測試分類機,包括一非活動盛載單元,其係設置在一機台上不會產生移動,且包括至少一第一盛載凹槽用以盛載一電子元件;一活動盛載單元,其係設置在一機台上並被一驅動裝置帶動產生移動,且包括至少一第二盛載凹槽用以盛載該電子元件;至少一震動器設置在該非活動盛載單元及該活動盛載單元其中任一或任二處,該震動器包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁上設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該內空間內做直線的往復運動以令該非活動盛載單元及該活動盛載單元其中任一或任二震動。
本發明另一目的係提供一種隨著安裝位置不同以產生水平方向或垂直方向震動的震動器。
本發明另一目的係提供一種裝設在電子元件測試分類機的震動器,藉由該震動器的震動使電子元件歸位在盛載凹槽內。
本發明另一目的係提供一種電子元件測試分類機,該分類機內的非活動盛載單元及/或活動盛載單元具有至少一震動器,藉由震動器使該非活動承載裝置及/或活動盛載單元產生震動,令放置在盛載單元上的電子元件歸位在盛載單元的盛載凹槽內。
本發明另一目的係提供一種具有直線往復作動的震動器的電子元件測試分類機。
根據上述目的本發明提出一種震動器包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁上設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該內空間內做直線的往復運動。
本發明另外提出一種具有震動器之電子元件測試分類機,包括:一測試台,係用以測試電子元件;一入料裝置,係設於該測試台前方,用以供放置待測電子元件之料盤;一移料裝置,係設於該測試台之側方用以移載電子元件;一載送裝置,設於該測試台的另側方,用以載送待測或完測的電子元件,該載送裝置設有至少一第一震動器,該第一震動器包括:一第一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁上設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一第一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一第一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該第一震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該第一基座的內空間內做直線的往復運動;一檢測裝置,設於該測試台之上方,用以於載送裝置及測試台間移載電子元件;至少一出料裝置,設於該測試台另一方,用以供置放盛裝完測電子元件之料盤。
本發明提出一種電子元件測試分類機,包括一非活動盛載單元,其係設置在一機台上不會產生移動,且包括至少一第一盛載凹槽用以盛載一電子元件;一活動盛載單元,其係設置在一機台上並被一驅動裝置帶動產生移動,且包括至少一第二盛載凹槽用以盛載該電子元件;至少一震動器設置在該非活動盛載單元及該活動盛載單元其中任一或任二處,該震動器包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁上設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該內空間內做直線的往復運動以令該非活動盛載單元及該活動盛載單元其中任一或任二震動。
10、10’、10”、10”’震動器
11基座
111第一端
112第二端
113內空間
1131內壁
114第一通口
115第二通口
116凸部
117第一凹口
118第二凹口
119進氣溝槽
120進氣口
121第一排氣溝槽
122第二排氣溝槽
123內部導引槽
1231出口
1232封閉端
128連接單元
13震動活塞
131第一槽道
1311第一透孔
132第二槽道
1321第二透孔
133第一通道
134第二通道
1331第一出氣孔
1341第二出氣孔
136頂端
137底端
14頂蓋
141凸台
142排氣孔
143空隙
15底蓋
151容納槽
16外蓋體
161容室
162排氣室
163通氣孔
17彈性元件
20電子元件測試分類機
21測試台
30入料裝置
310料盤
313側邊支架
314導正機構
315前端支架
316頂座
317輸送帶組
318壓缸
319馬達
320皮帶輪組
321承置件
3211伸縮桿
40移料裝置
50載送裝置
51第一載送機構
52第二載送機構
53第三載送機構
54第四載送機構
511、521、531、541盛載凹槽
c1、c2、c3、c4光感應裝置
60加熱裝置
61盛載凹槽
70檢測裝置
80第一出料裝置
810料盤
811盛載凹槽
813側邊支架
814導正機構
815前端支架
816頂座
817輸送帶組
818壓缸
819馬達
820皮帶輪組
821承置件
90第二出料裝置
911第一平台
9111第一槽口
912第二平台
9121第二槽口
913料盤
9131盛載凹槽
11基座
111第一端
112第二端
113內空間
1131內壁
114第一通口
115第二通口
116凸部
117第一凹口
118第二凹口
119進氣溝槽
120進氣口
121第一排氣溝槽
122第二排氣溝槽
123內部導引槽
1231出口
1232封閉端
128連接單元
13震動活塞
131第一槽道
1311第一透孔
132第二槽道
1321第二透孔
133第一通道
134第二通道
1331第一出氣孔
1341第二出氣孔
136頂端
137底端
14頂蓋
141凸台
142排氣孔
143空隙
15底蓋
151容納槽
16外蓋體
161容室
162排氣室
163通氣孔
17彈性元件
20電子元件測試分類機
21測試台
30入料裝置
310料盤
313側邊支架
314導正機構
315前端支架
316頂座
317輸送帶組
318壓缸
319馬達
320皮帶輪組
321承置件
3211伸縮桿
40移料裝置
50載送裝置
51第一載送機構
52第二載送機構
53第三載送機構
54第四載送機構
511、521、531、541盛載凹槽
c1、c2、c3、c4光感應裝置
60加熱裝置
61盛載凹槽
70檢測裝置
80第一出料裝置
810料盤
811盛載凹槽
813側邊支架
814導正機構
815前端支架
816頂座
817輸送帶組
818壓缸
819馬達
820皮帶輪組
821承置件
90第二出料裝置
911第一平台
9111第一槽口
912第二平台
9121第二槽口
913料盤
9131盛載凹槽
下列圖式之目的在於使本發明能更容易被理解,於本文中會詳加描述該些圖式,並使其構成具體實施例的一部份。透過本文中之具體實施例並參考相對應的圖式,俾以詳細解說本發明之具體實施例,並用以闡述創作之作用原理。
第1A圖係為本創作震動器之立體分解示意圖;
第1B圖係為本創作震動器之立體組合示意圖;
第2A圖係為本創作基座之立體示意圖;
第2B圖係為本創作基座之立體局部剖視示意圖;
第2C圖係為第2A圖中3C-3C剖線之示意圖;
第2D圖係為第2A圖中3D-3D剖線之示意圖;
第3A圖係為本創作震動活塞之立體示意圖;
第3B圖係為本創作震動活塞之剖視示意圖;
第4圖係為本創作頂蓋之局部剖視示意圖;
第5圖係為本創作底蓋之示意圖;
第6圖係為本創作外蓋體之剖視正視圖;
第7A圖係為第1B圖中7A-7A剖線之示意圖;
第7B圖係為第1B圖中7B-7B剖線之示意圖;
第8A圖係為本創作震動活塞直線作動示意圖;
第8B圖係為本創作震動活塞直線作動示意圖;
第8C圖係為本創作震動器氣流從外蓋體排出之示意圖;
第9A圖係表示震動器水平設置之示意圖;
第9B圖係表示震動器垂直設置之示意圖;
第9C圖係表示震動器水平與垂直設置之示意圖;
第10圖電子元件測試分類機之俯視示意圖;
第11A圖為載送裝置與測試台及感應裝置之俯視示意圖;
第11B圖為第一載送機構及感應裝置之俯視示意圖;
第11C圖為第一載送機構之正視示意圖;
第12A圖為加熱裝置俯視圖;
第12B圖為加熱裝置側視圖;
第13A圖為第一出料裝置之俯視圖;
第13B圖為第13A圖之左側視圖;
第13C圖為第13A圖之右側視圖
第14A圖為第二出料裝置之俯視圖;
第14B圖為第二出料裝置之側視圖;第15A圖為入料裝置之俯視圖;第15B圖為入料裝置之側視圖。
第1A圖係為本創作震動器之立體分解示意圖;
第1B圖係為本創作震動器之立體組合示意圖;
第2A圖係為本創作基座之立體示意圖;
第2B圖係為本創作基座之立體局部剖視示意圖;
第2C圖係為第2A圖中3C-3C剖線之示意圖;
第2D圖係為第2A圖中3D-3D剖線之示意圖;
第3A圖係為本創作震動活塞之立體示意圖;
第3B圖係為本創作震動活塞之剖視示意圖;
第4圖係為本創作頂蓋之局部剖視示意圖;
第5圖係為本創作底蓋之示意圖;
第6圖係為本創作外蓋體之剖視正視圖;
第7A圖係為第1B圖中7A-7A剖線之示意圖;
第7B圖係為第1B圖中7B-7B剖線之示意圖;
第8A圖係為本創作震動活塞直線作動示意圖;
第8B圖係為本創作震動活塞直線作動示意圖;
第8C圖係為本創作震動器氣流從外蓋體排出之示意圖;
第9A圖係表示震動器水平設置之示意圖;
第9B圖係表示震動器垂直設置之示意圖;
第9C圖係表示震動器水平與垂直設置之示意圖;
第10圖電子元件測試分類機之俯視示意圖;
第11A圖為載送裝置與測試台及感應裝置之俯視示意圖;
第11B圖為第一載送機構及感應裝置之俯視示意圖;
第11C圖為第一載送機構之正視示意圖;
第12A圖為加熱裝置俯視圖;
第12B圖為加熱裝置側視圖;
第13A圖為第一出料裝置之俯視圖;
第13B圖為第13A圖之左側視圖;
第13C圖為第13A圖之右側視圖
第14A圖為第二出料裝置之俯視圖;
第14B圖為第二出料裝置之側視圖;第15A圖為入料裝置之俯視圖;第15B圖為入料裝置之側視圖。
為了充分瞭解本發明之目的、特徵及功效,以下將參照相關圖式,說明本發明較佳實施,其中相同的元件將以相同的元件符號加以說明。
如第1A、1B及2A、2B圖所示,震動器10包括一基座11,一震動活塞13設置在該基座11內、一頂蓋14及一底蓋15分別設置在該基座11的兩端,一外蓋體16罩設在該基座11的一端且罩蓋該頂蓋14。
一併參考第2A至2D,該基座11包括一第一端111及一第二端112相反該第一端111,一內空間113形成在該基座11內,且位於該第一端111及該第二端112之間。一第一通口114形成在該第一端111,一第二通口115形成在該第二端112,該第一通口114及該第二通口115連通該內空間113。一凸部116從該第一端111凸出並圍繞在該第一通口114的外側,該凸部116界定一第一凹口117連通該第一通口114,一第二凹口118位於該第二端112且連通該第二通口115。
該內空間113的一內壁1131上設有一進氣溝槽119及至少一排氣溝槽,一進氣口120貫穿該基座11並連通該進氣溝槽119。在本發明表示該至少一排氣溝槽包括一第一排氣溝槽121及第二排氣溝槽122分別位於該進氣溝槽119的兩側。其中該第一排氣溝槽121在該第一端111與該進氣溝槽119之間,該第二排氣溝槽122在該第二端112與該進氣溝槽119之間。該進氣溝槽119及該第一及第二排氣溝槽121、122分別環設在該內空間113
的內壁1131上。
至少一內部導引槽123設在該內空間113的外側,在本圖式中表示兩個內部導引槽123位在該內空間113的兩外側,該兩個內部導引槽123與該內空間113呈平行設置。該等內部導引槽123分別具有一封閉端1232鄰近該第二凹口118,及一開放端延伸到該第一端111並貫穿形成一出口1231,該出口1231在該第一凹口117內且位於該第一通孔114與該凸部116之間。該等內部導引槽123係連通該第一排氣溝槽121及該第二排氣溝槽122。
在基座11未設有進氣口120的另一側設有複數個連接單元128用以連接一物體,在本圖式中表示該等連接單元128為透孔供鎖接元件貫穿鎖設。
續參第3A及3B圖,該震動活塞13包括一頂端136面對該基座11的第一端111的第一通口114及一底端137面對該基座11的第二端112的第二通口115。一第一槽道131及一第二槽道132位於該頂端136與底端137之間且平行該頂端136與底端137,該第一槽道131及一第二槽道132係間隔設置,且沿著該震動活塞13的外表面徑向環設,在該第一槽道131及一第二槽道132之間具有一第一通道133。
該第一槽道131內設有一第一透孔1311,該第二槽道132內設有一第二透孔1321,一第一通道133及一第二通道134設在該震動活塞13內。該第一通道133的一端連通該第一透孔1311,另一端則朝該頂端136延伸且貫通該頂端136形成一第一出氣孔1331。該第二通道134的一端連通該第二透孔1321,另一端朝該底端137延伸且貫通該底端137形成一第二出氣孔1341。該第一通道133及該第二通道134係成平行且180度設置。
前述第一槽道131及第二槽道132係輪流對應到該基座11的內空間113的內壁1131的進氣溝槽119,以使該震動活塞13在該內空間113內做直線的往復運動,詳細作動將描述在後。
續參第4圖所示,該頂蓋14設置在該基座11第一端111的第一凹口117內,且其對應該第一端111的一側設有一凸台141封閉該第一通口114,該凸台141位於該基座11的中心處,凸台141的周圍具有一略低於凸台141的空隙143,至少一排氣孔142係貫穿該頂蓋14且對應到該空隙143。
續參第5圖所示,該底蓋15設置在該基座11的第二端112的第二凹口118內並封閉該第二通口115,具有一容納槽151對應該第二通口115,一彈性元件17例如彈簧容置在該容納槽151內。
續參第6圖所示,該外蓋體16包括一容室161容納該基座11之凸部116,及一排氣室162連通該容室161,及至少一通氣孔163貫穿該外蓋體16並連通該排氣室162。
續參第7A及7B圖所示,震動活塞13設置在基座11的內空間113內,且震動活塞13的外表面面對該內空間113的內壁1131,設置在震動活塞13的外表面的第一槽道131及第二槽道132則輪流對應到該內壁1131上的進氣溝槽119,在圖式中表示當該第二槽道132對應到該進氣溝槽119時,進氣口120連通該第二槽道132及該第二通道134及第二出氣孔1341。同樣的原理適用在當第一槽道131對應到進氣溝槽119時。
震動活塞13的頂端136及底端137分別面對設置在基座11的第一端111的頂蓋14及第二端112的底蓋15。位於該底蓋15的容納槽151內的彈性元件17則對應該震動活塞13的底端137。該頂蓋的空隙143對應該基座
11的內部導引槽123的出口1231,以令該頂蓋14的排氣孔142連通該出口1231。罩蓋在基座11的第一端111的外蓋體16的通氣孔163連通該頂蓋14的排氣孔142。
以下將描述震動器的作動方式。
如第8A及8B及8C圖並輔助參考前述各圖,在第8A圖中表示在內空間113的震動活塞13其停止位置恰好為震動活塞13的第二槽道132對應該內空間113內的進氣溝槽119,當氣流經進氣口120進入基座11的內空間113內的進氣溝槽119,氣流沿著進氣溝槽119經過該震動活塞13的第一槽道132然後通過該第二透孔1321及該第二通道134然後從震動活塞13的第二出氣孔1341噴出,震動活塞13的底端137與底蓋15之間因為氣流迅速增加,氣壓隨之上升,推動震動活塞13往頂蓋14方向直線作動,當震動活塞13的頂端136撞擊該頂蓋14時,震動活塞13的底端137越過該內空間113內的第二排氣溝槽122,在震動活塞13的底端137與底蓋15之間的氣流沿著該第二排氣溝槽122經內部導引槽123從基座11的第一端111的出口1231流出,再經過頂蓋14與第一端111之間的空隙143,然後從頂蓋14的排氣孔142流至外蓋體16的容室161與排氣室162,再從外蓋體16的通氣孔163排出到外在環境(如第8C圖)。
如第8B圖所示,當震動活塞13被氣體推動使其頂端136撞擊頂蓋14後,震動活塞13的第一槽道131對應該內空間113的對應該內空間113內的進氣溝槽19,氣流沿著進氣口120及進氣溝槽119及第一槽道131經過第一透孔1311進入震動活塞13的第一通道133,然後從第一通道133位於震動活塞13的頂端136的第一出氣孔1331噴出,震動活塞13的頂端136與頂蓋14之間因為氣流迅速增加,氣壓隨之上升,推動震動活塞13往底蓋15方向直線作動,當震動活塞13的底端137撞擊該底蓋15時,震動活塞13的頂端136越過該內空間113內的第一排氣溝槽121,在震動活塞13的頂端136與頂蓋14之間的氣流沿著該第一排氣溝槽121經內部導引槽123從基座11的第一端111的出口1231流出,再經過頂蓋14與第一端111之間的空隙143,然後從頂蓋14的排氣孔142流至外蓋體16的容室161與排氣室162,再從外蓋體16的通氣孔163排出到外在環境(如第8C圖)。
藉由震動活塞13的第一槽道131及第二槽道132輪流交互對應該進氣溝槽119,以利用氣流驅動該震動活塞13在內空間113內直線往復運動,使該震動活塞13的頂端136撞擊該頂蓋14及該底端137撞擊該底蓋15進而產生震動。
另外要特別說明的是,震動器10的震動頻率的高或低係藉由調整氣流的進氣流速,以改變震動活塞13的往復作動速度。
再者如第9A、9B及9C圖所示,因為震動活塞13係以直線往復作動產生震動效果,當震動器10以水平安裝的方式連接一物體18(例如活動盛載單元或非活動盛載單元),在震動器10內的震動活塞13產生水平方向的震動,帶動該物體18水平震動,如第9A圖。另外當震動器10以垂直安裝的方式連接該物體18,在震動器10內的震動活塞13產生垂直方向的震動,帶動該物體18垂直震動,如第9B圖。值得一提的是,若以兩個震動器10、10連接一物體18,其中一震動器10以水平安裝的方式連接該物體18,另一震動器10以垂直安裝的方式連接該物體18,在震動器10、10內的震動活塞13分別產生水平方向及垂直方向的震動,帶動該物體18水平及垂直震動,如第9C圖。
以下將描述前述的震動器在電子元件測試分類機的應用。
請參閱第10圖所示,係將上述的震動器10應用在一電子元件測試分類機20,電子元件測試分類機20包括一測試台21係用以測試電子元件;一入料裝置30係設於該測試台21前方,用以供放置待測電子元件之料盤;一移料裝置40係設於該測試台21之側方用以移載電子元件;一載送裝置50設於該測試台21的另一側方,用以載送待測或完測的電子元件,一加熱裝置60設於該入料裝置30的側方用以加熱待測電子元件;一檢測裝置70設於該測試台21之上方,用以於載送裝置50及測試台21間移載電子元件;至少一第一出料裝置80,設於該測試台21另一方,用以供置放盛裝完測電子元件之料盤,盛放在第一出料裝置80的料盤的電子元件,係經測試為良好的電子元件;至少一第二出料裝置90用以供置放盛裝完測電子元件之料盤,盛放在第二出料裝置90的料盤的電子元件,係經測試為不良的電子元件。
其中該載送裝置50及該第一出料裝置80係為活動盛載單元用以盛載並運輸至少一電子元件;該加熱裝置60及該第二出料裝置90不會產生移動用以盛載該電子元件。
前述的震動器10係設置在該載送裝置50及/或加熱裝置60及/或第一出料裝置80及/或第二出料裝置90。
前述的入料裝置30用以放置入料料盤。該移料裝置40包括第一取料機構41位於該測試台21的左側及一第二取料機構42位於該測試台21的右側,該第一取料機構41具有一第一方向移動機構411(例如x方向)及一第二方向移動機構412(例如y方向),該第二取料機構42具有一第一方向移動機構421(例如x方向)及一第二方向移動機構422(例如y方向),移料裝置40相同於先前技術所介紹移料裝置。另外檢測裝置70亦相同於先前技術茲不多作介紹。
藉由震動活塞13的第一槽道131及第二槽道132輪流交互對應該進氣溝槽119,以利用氣流驅動該震動活塞13在內空間113內直線往復運動,使該震動活塞13的頂端136撞擊該頂蓋14及該底端137撞擊該底蓋15進而產生震動。
另外要特別說明的是,震動器10的震動頻率的高或低係藉由調整氣流的進氣流速,以改變震動活塞13的往復作動速度。
再者如第9A、9B及9C圖所示,因為震動活塞13係以直線往復作動產生震動效果,當震動器10以水平安裝的方式連接一物體18(例如活動盛載單元或非活動盛載單元),在震動器10內的震動活塞13產生水平方向的震動,帶動該物體18水平震動,如第9A圖。另外當震動器10以垂直安裝的方式連接該物體18,在震動器10內的震動活塞13產生垂直方向的震動,帶動該物體18垂直震動,如第9B圖。值得一提的是,若以兩個震動器10、10連接一物體18,其中一震動器10以水平安裝的方式連接該物體18,另一震動器10以垂直安裝的方式連接該物體18,在震動器10、10內的震動活塞13分別產生水平方向及垂直方向的震動,帶動該物體18水平及垂直震動,如第9C圖。
以下將描述前述的震動器在電子元件測試分類機的應用。
請參閱第10圖所示,係將上述的震動器10應用在一電子元件測試分類機20,電子元件測試分類機20包括一測試台21係用以測試電子元件;一入料裝置30係設於該測試台21前方,用以供放置待測電子元件之料盤;一移料裝置40係設於該測試台21之側方用以移載電子元件;一載送裝置50設於該測試台21的另一側方,用以載送待測或完測的電子元件,一加熱裝置60設於該入料裝置30的側方用以加熱待測電子元件;一檢測裝置70設於該測試台21之上方,用以於載送裝置50及測試台21間移載電子元件;至少一第一出料裝置80,設於該測試台21另一方,用以供置放盛裝完測電子元件之料盤,盛放在第一出料裝置80的料盤的電子元件,係經測試為良好的電子元件;至少一第二出料裝置90用以供置放盛裝完測電子元件之料盤,盛放在第二出料裝置90的料盤的電子元件,係經測試為不良的電子元件。
其中該載送裝置50及該第一出料裝置80係為活動盛載單元用以盛載並運輸至少一電子元件;該加熱裝置60及該第二出料裝置90不會產生移動用以盛載該電子元件。
前述的震動器10係設置在該載送裝置50及/或加熱裝置60及/或第一出料裝置80及/或第二出料裝置90。
前述的入料裝置30用以放置入料料盤。該移料裝置40包括第一取料機構41位於該測試台21的左側及一第二取料機構42位於該測試台21的右側,該第一取料機構41具有一第一方向移動機構411(例如x方向)及一第二方向移動機構412(例如y方向),該第二取料機構42具有一第一方向移動機構421(例如x方向)及一第二方向移動機構422(例如y方向),移料裝置40相同於先前技術所介紹移料裝置。另外檢測裝置70亦相同於先前技術茲不多作介紹。
如第11A、11B及11C圖所示,該載送裝置50包括第一載送機構51、第二載送機構52、第三載送機構53及第四載送機構54,每一個載送機構51、52、53、54頂面設有數個盛載凹槽511、521、531、541用以承載待測或完測的電子元件,其中待測的電子元件從加熱裝置60被移至到載送裝置50的第一載送機構51及第二載送機構52,完測的電子元件則從測試台21被移至第三載送機構53及第四載送機構54,每一個載送機構51、52、53、54的外側設有光感應裝置c1、c2、c3、c4,該光感應裝置c1、c2、c3、c4包括數組光感應器分別對應該盛載凹槽511、521、531、541,以感應盛載凹槽511、521、531、541內的電子元件是否偏斜置放。
上述的震動器10係分別設置在該第一載送機構51及第二載送機構52的一端,另外設置在第三載送機構53及第四載送機構54的底側,在本圖式表示每一載送機構51~54設有兩個震動器10。當光感應裝置c1、c2、c3、c4感應到第一載送機構51及第二載送機構52、第三載送機構53及第四載送機構54的盛載凹槽511、521、531、541內的電子元件置放偏斜時,則啟動上述震動器10以使該第一載送機構51、第二載送機構52、第三載送機構53及第四載送機構54產生震動令盛載凹槽511、521、531、541內的電子元件歸位。
如第12A及12B圖所示,該加熱裝置60大致上如先前技術所介紹的加熱裝置,但是不同處在於加熱裝置60設置有至少另一震動器10’,在圖式中表示兩個震動器10’連接該加熱裝置60的側邊,加熱裝置60的頂面設有複數個
盛載凹槽61,加熱裝置60的下側設有加熱器用以對盛載凹槽61內的電子元件加熱,以模擬電子元件運作時產生的熱量。每一次電子元件被移料裝置40的第一取料機構41從入料裝置30的料盤31上移至加熱裝置60的盛載凹槽61內(如第10圖),震動器10’隨即產生震動使盛載凹槽61內的電子元件歸位。
如第13A、13B及13C圖所示,前述數組第一出料裝置80在圖式中表示3個(如第10圖所示),分別以馬達819驅動一皮帶輪組820,令皮帶輪組820帶動軸桿兩側之輸送帶組817轉動,而輸送帶組817間則設有以壓缸818驅動一頂座816做升降位移,並於兩側邊支架813上設有擺動之承置件821,用以供擺置盛裝完測電子元件之料盤810,再者第一出料裝置80之側邊支架813頂面適當位置設有導正機構814,推頂料盤810靠置於第一、二方向(例如X及Y方向)基準面定位,一前端支架815跨接在兩個側邊支架813的前端,一震動器10”連接該前端支架815。
當料盤810盛滿電子元件後,在前端支架815的震動器10”立即產生震動使在料盤810的盛載凹槽811內的電子元件歸位,然後隨即由輸送帶組817輸送至頂座816上,而後壓缸818即驅動頂座816頂置料盤810上升,而將料盤810擺置於承置件821上收置,以完成出料作業。
如第14A及14B圖所示,第二出料裝置90包括一第一平台911及一第二平台912,該第一平台911及第二平台912係為對稱設置,該第一平台911具有複數間隔設置的第一槽口9111,該第二平台912具有複數間隔設置的第二槽口9121,該第一槽口9111對應該第二槽口9121,至少一料盤913跨置在該第一平台911及第二平台912的頂面,料盤913恰對應該第一槽口9111及第二槽口9112,在該第一平台911及第二平台912的底面分別設有一震動器10''',當料盤913盛滿電子元件後該第一平台911及第二平台912的震動器10”’立即產生震動使得在第一平台911及第二平台912頂面的料盤913的盛載凹槽9131內的電子元件歸位。
如第15A及15B圖所示,入料裝置30的結構大致上相同於第一出料裝置80(如第13A及13B圖),差異處在於入料裝置30沒有震動器。入料裝置30以馬達319驅動一皮帶輪組320,令皮帶輪組320帶動軸桿兩側之輸送帶組317轉動,而輸送帶組317間則設有以壓缸318驅動一頂座316做升降位移,並於兩側邊支架313上設有伸縮桿3211之承置件321,圖式中表示該承置件321以氣壓驅動,但在其他實施也可以用電能驅動,該承置件321之伸縮桿3211用以供擺置盛裝待測電子元件之料盤310,利用壓缸318驅動該頂座316上升以頂置料盤310,再令承置件321之伸縮桿3211退位,使頂座316帶動料盤310下降,然後將料盤310擺置於輸送帶組317上以便輸出至預設位置。再者入料裝置30之側邊支架313頂面適當位置設有導正機構314,推頂位於預設位置的料盤310靠置於第一、二方向基準面定位,以供移料裝置40可準確取出料盤310中的待測電子元件,一前端支架315跨接在兩個側邊支架313的前端。
前述震動器10’、10”及10”’的內部結構及作動方式與震動器10相同,茲不贅述,再者前述各圖表示震動器10、10’、10”及10”’為水平設置,但在另一可行之實施亦可以為垂直設置(如第9B圖所示)或者在其他可行之實施震動器10、10”及10”’為水平及垂直設置(如第9C圖所示)。
綜上所述,本發明前述之震動器係利用震動活塞作直線往復作動以產生震動效果,且隨著安裝位置不同以產生水平方向或垂直方向震動,並將該震動器設置在電子元件測試分類機內,藉由震動器結合電子元件測試分類機內的非活動盛載單元及/或活動盛載單元,使該非活動承載裝置及/或活動盛載單元產生震動,令放置在非活動承載裝置及/或活動盛載單元上的電子元件歸位。
雖然本發明以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟悉此技藝者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作各種的更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附的申請專利範圍所定者為準。
如第15A及15B圖所示,入料裝置30的結構大致上相同於第一出料裝置80(如第13A及13B圖),差異處在於入料裝置30沒有震動器。入料裝置30以馬達319驅動一皮帶輪組320,令皮帶輪組320帶動軸桿兩側之輸送帶組317轉動,而輸送帶組317間則設有以壓缸318驅動一頂座316做升降位移,並於兩側邊支架313上設有伸縮桿3211之承置件321,圖式中表示該承置件321以氣壓驅動,但在其他實施也可以用電能驅動,該承置件321之伸縮桿3211用以供擺置盛裝待測電子元件之料盤310,利用壓缸318驅動該頂座316上升以頂置料盤310,再令承置件321之伸縮桿3211退位,使頂座316帶動料盤310下降,然後將料盤310擺置於輸送帶組317上以便輸出至預設位置。再者入料裝置30之側邊支架313頂面適當位置設有導正機構314,推頂位於預設位置的料盤310靠置於第一、二方向基準面定位,以供移料裝置40可準確取出料盤310中的待測電子元件,一前端支架315跨接在兩個側邊支架313的前端。
前述震動器10’、10”及10”’的內部結構及作動方式與震動器10相同,茲不贅述,再者前述各圖表示震動器10、10’、10”及10”’為水平設置,但在另一可行之實施亦可以為垂直設置(如第9B圖所示)或者在其他可行之實施震動器10、10”及10”’為水平及垂直設置(如第9C圖所示)。
綜上所述,本發明前述之震動器係利用震動活塞作直線往復作動以產生震動效果,且隨著安裝位置不同以產生水平方向或垂直方向震動,並將該震動器設置在電子元件測試分類機內,藉由震動器結合電子元件測試分類機內的非活動盛載單元及/或活動盛載單元,使該非活動承載裝置及/或活動盛載單元產生震動,令放置在非活動承載裝置及/或活動盛載單元上的電子元件歸位。
雖然本發明以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟悉此技藝者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作各種的更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附的申請專利範圍所定者為準。
10震動器
11基座
114第一通口
116凸部
120進氣口
1231出口
128連接單元
13震動活塞
14頂蓋
15底蓋
16外蓋體
163通氣孔
17彈性元件
11基座
114第一通口
116凸部
120進氣口
1231出口
128連接單元
13震動活塞
14頂蓋
15底蓋
16外蓋體
163通氣孔
17彈性元件
Claims (14)
- 一種震動器,包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽,該基座的第一端及第二端分別具有一第一通口及一第二通口連通該內空間,一凸部從該第一端凸出並圍繞在該第一通口的外側,該凸部界定一第一凹口連通該第一通口,一第二凹口位於該第二端且連通該第二通口;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該內空間內做直線的往復運動。
- 如請求項1所述之震動器,其中該第一槽道及一第二槽道位於該頂端與底端之間,且平行該頂端與底端。
- 如請求項2所述之震動器,更包括:一外蓋體,係對接在該基座的第一端,該外蓋體包括一容室容納該基座之凸部,及一排氣室連通該容室,及至少一通氣孔貫穿該外蓋體並連通該排氣室。
- 如請求項1或3所述之震動器,更包括:一底蓋,設置在該第二端的第二凹口內並封閉該第二通口,該底蓋具有一容納槽對應該第二通口,一彈性元件容置在該容納槽內;該頂蓋設置在該第一凹口內並封閉該第一通口。
- 請求項1或3所述之震動器,其中該進氣溝槽係環設在該內空間的內壁上;該排氣溝槽包括第一排氣溝槽及第二排氣溝槽分別位於該進氣溝槽的兩側,且環設在該內空間的內壁上,該第一排氣溝槽在該第一端與該進氣溝槽之間,該第二排氣溝槽在該第二端與該進氣溝槽之間。
- 如請求項1所述之震動器,其中該震動活塞的第一通道係平行該第二通道。
- 如請求項1所述之震動器,其中該第一槽道及該第二槽道之間具有一間距。
- 一種具有震動器之電子元件測試分類機,包括:一測試台,係用以測試電子元件;一入料裝置,係設於該測試台前方,用以供放置待測電子元件之料盤;一移料裝置,係設於該測試台之側方用以移載電子元件;一載送裝置,設於該測試台的另一側方,用以載送待測或完測的電子元件;一檢測裝置,設於該測試台之上方,用以於載送裝置及測試台間移載電 子元件;至少一第一出料裝置,設於該測試台另一方,用以供置放盛裝完測電子元件之料盤;至少一震動器連結該載送裝置,該震動器包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該基座的內空間內做直線的往復運動。
- 如請求項8所述之具有震動器之電子元件測試分類機,該入料裝置的側方設有一加熱裝置用以加熱待測電子元件。
- 如請求項9所述之具有震動器之電子元件測試分類機,其中該加熱裝置 具有該至少另一震動器。
- 如請求項8或10所述之具有震動器之電子元件測試分類機,其中該第一出料裝置具有該至少另一震動器。
- 如請求項8或10所述之具有震動器之電子元件測試分類機,包括至少一第二出料裝置用以供置放盛裝完測電子元件之料盤,該第二出料裝置具有該至少另一震動器。
- 一種電子元件測試分類機,包括:一活動盛載單元,包括一載送裝置及一第一出料裝置,用以盛載並運輸至少一電子元件;一非活動盛載單元,包括一加熱裝置及一第二出料裝置,不會產生移動用以盛載該電子元件;其改良在於:該活動盛載單元及該非活動盛載單元其中任一設有至少一震動器,該震動器包括:一基座,包括一第一端及一第二端相反該第一端,一內空間形成在該基座內且位於該第一端與該第二端之間,該內空間的一內壁設有一進氣溝槽及至少一排氣溝槽,一進氣口貫穿該基座並連通該進氣溝槽,至少一內部導引槽設在該內空間的外側,且具有一封閉端鄰近該第二端及一開放端延伸到該第一端形成一出口,該排氣溝槽連通該內部導引槽;一震動活塞,設在該內空間內,包括一頂端及一底端,一第一槽道及一第二槽道沿著該震動活塞的一外表面徑向環設,該第一槽道內設有一第一透孔,該第二槽道內設有一第二透孔,一第一通道及一第 二通道設在該震動活塞內,其中該第一通道的一端連通該第一透孔,另一端貫通該頂端形成一第一出氣孔,該第二通道的一端連通該第二透孔,另一端貫通該底端形成一第二出氣孔;一頂蓋,設置在該第一端,包括至少一排氣孔貫穿該頂蓋且連通該開口;其中該震動活塞的第一槽道及該第二槽道輪流對應到該基座的內空間的進氣溝槽,使該震動活塞在該內空間內做直線的往復運動。
- 如請求項13所述之具有震動器之電子元件測試分類機,其中該活動盛載單元及該非活動盛載單元其中另一設有至少另一震動器。
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TW102140379A TWI509249B (zh) | 2013-11-06 | 2013-11-06 | 震動器及具有該震動器之電子元件測試分類機 |
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TW201518732A TW201518732A (zh) | 2015-05-16 |
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ID=53720873
Family Applications (1)
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TW (1) | TWI509249B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201006602Y (zh) * | 2007-02-07 | 2008-01-16 | 王济美 | 一种可双向冲击的气动冲击器 |
US7780425B2 (en) * | 2003-12-23 | 2010-08-24 | Meta Motoren-Und Energie-Technik Gmbh | Piston compressor |
TWM443786U (en) * | 2012-07-06 | 2012-12-21 | Chih-Ming Chien | Reciprocating atmospheric pressure driver |
CN203266083U (zh) * | 2013-04-26 | 2013-11-06 | 南通市华冠电器有限公司 | 物料推送装置 |
TWM476268U (en) * | 2013-11-06 | 2014-04-11 | Electrnic Automatic Factory Tech Co Ltd | Vibrator and electronic component testing classifier having the same vibrator |
-
2013
- 2013-11-06 TW TW102140379A patent/TWI509249B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
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