TWI442369B - 顯示裝置及控制顯示裝置之方法 - Google Patents
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Description
本發明係關於一種顯示裝置及一種控制一顯示裝置的方法。
最近幾年,確保一顯示裝置中之一顯示元件的可靠性已變成一項極其重要的挑戰。特定言之,與過去一樣,確保結構及機械可靠性或關於顯示效能的可靠性仍係一關鍵問題。
例如,日本未經審查的專利申請公開案第2005-173193號揭示一技術,其中從可指示一裝置的一顯示狀態之資料(諸如影像資料)決定一影像的狀況,且一水平掃描線的照明經控制以防止過電流,以便防止由於根據電流流動量的溫度上升所致的一元件之壽命降級。
另外,日本未經審查的專利申請公開案第2007-240617號描述:使用一光電偵測器作為一偏振偵測單元,藉由數量上偵測由於施加至一顯示裝置的微小應力所致之變形的一變化量,作為入射光之偏振狀態的變化而執行一光學特性(諸如折射率)的控制。
然而,在日本未經審查之專利申請公開案第2005-173193號中描述之技術存在的一問題為:因為對於組合一閘極信號及一源極信號兩者之一複雜控制、照明週期的控制及類似控制,使用多種回饋控制,即,使用許多演算法,故製造成本增加以確保可靠性。另外,一複雜演算法控制導致一驅動器IC之電力消耗增加,引起電力效能減少。
用日本未經審查之專利申請公開案第2007-240617號中描述之技術,當由於外部光的反射或藉由來自另一光源(例如,諸如太陽光或室內的螢光燈)之相對較強的外部光之光散射而存在雜訊時,根據變形偵測一微小折射率係困難的。
因此,期望提供一新穎及改良的顯示裝置及控制一顯示裝置的方法,該方法可藉由根據彎曲時之一彎曲量執行一顯示控制而確保一可撓性顯示裝置彎曲時顯示的可靠性。
根據本發明的一實施例,提供一顯示裝置,其包含:一可撓性基板;一顯示單元,該顯示單元包含配置於該基板中的多個發光元件且經組態以根據一影像信號顯示一影像;一位移感測器,該位移感測器經設置於該基板之一前表面及一後表面之至少一者,且經組態以偵測該基板的一彎曲狀態;及一控制單元,該控制單元經組態以執行一控制,藉由該控制,當由該位移感測器偵測到該基板的一彎曲時,該影像在彎曲之前經分裂且顯示於該顯示單元中。
該控制單元可根據該基板的一彎曲量而控制顯示於該顯示單元中之該影像的一分裂。
該控制單元可根據該基板的該彎曲量及該基板的一彎曲位置而控制顯示於該顯示單元中的該影像的該分裂。
該顯示裝置可進一步包含一影像區域算術單元,其經組態以基於指定該位移感測器之一輸出與一影像分裂控制量之間之一關係的一查找表而計算一影像區域的一分裂量及一縮減百分比。該控制單元可基於由該影像區域算術單元計算之該影像區域的該分裂量及該縮減百分比而控制顯示於該顯示單元中之該影像的該分裂。
當該基板正彎曲時,該控制單元可與該基板正復原時相比較而以一適度方式控制顯示於該顯示單元中的該影像的一分裂。
當該彎曲使得該顯示單元之一顯示表面係由該位移感測器偵測彎曲狀態之結果的一凸起部分時,該控制單元可與當該彎曲使得該顯示單元之該顯示表面係一凹進部分時相比較而以一適度方式控制顯示於該顯示單元中之該影像的一分裂。
該位移感測器可包含由ITO或IZO形成之一對透明電極且經組態以基於該對透明電極之間的電阻值之一變化而偵測該基板之彎曲狀態。
根據本發明之另一實施例,提供一種控制一顯示裝置的方法,該方法包含以下步驟:偵測具有經組態以根據一影像信號而顯示一影像的一顯示單元之一可撓性基板的一彎曲狀態;及執行一控制,藉由該控制,當在偵測該彎曲狀態之步驟中偵測到該基板的一彎曲時,該影像在彎曲之前經分裂且顯示於該顯示單元中。
根據上文描述之本發明之該等實施例,可提供一新穎及改良之顯示裝置及控制一顯示裝置之方法,該方法可在該可撓性顯示裝置中的一影像彎曲而引起可見性減小及提供至使用者側的影像資訊量減少時,藉由根據彎曲時的一彎曲量而執行一顯示控制而確保彎曲時顯示的可靠性。
在下文中將參考附圖詳細地描述本發明之一較佳實施例。注意,在此說明書及該等附圖中,具有大體上相同功能組態的組件由相同參考數字表示,以省略多餘的描述。
注意,描述將按以下順序給出。
[1.顯示裝置之組態實例]
[2.顯示裝置之功能方塊組態]
[3.控制單元之功能方塊組態]
[4.位移感測器經設置至前表面及後表面的組態實例]
[5.查找表之另一實例]
首先,參考圖1及圖2,描述根據本發明之一實施例的一顯示裝置100之一示意組態。圖1係展示該顯示裝置100之前側上的一表面的一平面圖。該顯示裝置100包含一顯示單元110,該顯示單元110包含稍後描述的一半導體層且其中多個像素配置成一矩陣。該顯示單元110藉由引起每個像素根據一影像信號發射光而顯示一影像,諸如一靜止影像或一移動影像。
在此實施例中,一可撓性特性允許一自由彎曲運動。同時,藉由回應於一彎曲且適合於一彎曲度的量執行一分裂/縮減控制來確保顯示的可靠性,藉由該分裂/縮減控制,待顯示的一影像根據一偵測之位移量而經分裂並且顯示於該顯示裝置100之該顯示單元110中。
圖2係展示該顯示裝置100之一截面表面的一示意圖。在此實施例中,如圖2中所示,一第一基板102、一第二基板104及一位移感測器106經堆疊以形成具有約幾十微米之一厚度的極薄顯示裝置100。該第一基板102經組態具有一顯示元件(發光元件),該顯示元件係包含於每個像素中,形成於一可撓性基板上,例如由樹脂形成的一塑膠基板。可使用可由一低溫程序形成的一有機半導體或無機半導體元件作為該顯示元件。在此實施例中,一有機電致發光(EL)元件經形成為該第一基板102中之該顯示元件。
該第二基板104亦由從樹脂形成的一塑膠基板形成,其經配置以面對包含由一有機半導體或一無機半導體形成之該顯示元件的該第一基板102,且其具有作為密封於該顯示元件中的一密封基板的一功能。以此方式,在此實施例中該顯示裝置100係由將該半導體層固持於中間的兩個類型之基板形成,即,該第一基板102及該第二基板104。該顯示單元110在該第二基板104側上的一表面上顯示一影像。用此一組態,該顯示裝置100經形成為具有約幾十微米的一厚度,其具有可撓性,且其可在顯示一影像之一狀態中自由地彎曲。
如圖1及圖2中所示,由一透明電極本體(例如,一層氧化銦錫(ITO)膜或一層氧化銦鋅(IZO)膜)形成的該位移感測器106係配置於該第二基板104之一表面上。該位移感測器106例如經形成於與該顯示單元110相同的一區域中。該位移感測器106由該透明電極本體形成,且每個位移感測器106經配置以面對該第一基板102之該顯示元件。
該位移感測器106具有類似於例如用於一可用觸控螢幕之一電極的一組態。由ITO、IZO或類似物之一透明電極形成的兩個金屬薄膜(電阻膜)經配置為彼此面對,且多對金屬薄膜例如以一矩陣配置於一平坦表面區域中。該位移感測器106之該等面對的透明電極具有電阻。該等電極之一者施加有預定電壓,且在該等電極之間的一電阻值被監測。用此一組態可偵測電阻值的變化,此係因為當該顯示裝置100彎曲時,在一彎曲的一位置處該等兩個金屬薄膜之間的電阻值改變,且根據該彎曲而在另一電極處產生電壓。因此,藉由偵測配置成矩陣之多對金屬薄膜中電阻值已改變的金屬薄膜,可偵測該等位移感測器106中的一位移位置,且可偵測該顯示單元110中之一彎曲位置。該電阻值的變化隨該顯示裝置100之一彎曲量增加而增加。以此方式,該顯示裝置100可偵測由該位移感測器106偵測的一電阻變化量,及偵測該顯示裝置100的一彎曲位置及該彎曲量。
圖3及圖4係展示該位移感測器106經設置至該顯示單元110之後表面側的一實例的示意圖。在此,圖3展示該顯示裝置100的一後表面的一平面圖,且圖4展示該顯示裝置100的一截面視圖。在圖3及圖4中,該第一基板102及該第二基板104之組態類似於圖1及圖2中顯示裝置100中之組態。在此組態實例中,如圖4中所示,該位移感測器106經設置至該第一基板102之一後表面。當該位移感測器106經設置至該顯示單元110之該後表面時,亦可以類似於當該位移感測器106經設置至該顯示單元110之一前表面時的一方式根據電阻值的一變化而偵測該顯示裝置100的一彎曲量及一彎曲位置。
在上文中已描述根據本發明之實施例之該顯示裝置100的示意性組態。如上文所描述,圖1至圖4中所示之該顯示裝置100具有約幾十微米的一厚度且具有可撓性。因此,一使用者可致使該顯示裝置100彎曲。然而,在該顯示裝置100係彎曲的一狀態中,不太可能將一顯示狀態維持為等效於無彎曲的顯示狀態。此係因為該顯示單元110之可見性因該顯示裝置100的彎曲而減小。
圖5係展示該顯示裝置100為彎曲情況下之狀態的一示意圖,且其展示具有該顯示單元110之該前側上的表面係一凹進表面之情況下的一彎曲狀態。圖6展示具有該顯示單元110之該表面係一凸起表面之情況下的一彎曲狀態。
在如圖5及圖6中所示該顯示裝置100為彎曲情況下的狀態中,因為該顯示單元110之可見性因彎曲而減小,維持一影像的一正常顯示狀態係較不重要的。例如,如圖5中,當彎曲使得一顯示螢幕係凹進表面時,在該顯示螢幕上的影像亦係彎曲的。另外,由於該表面上的光散射或類似者的影響,與該表面係一平坦表面時相比較,影像品質亦減小。因此,為了對使用者增加可見性,該顯示裝置100執行一控制,藉由該控制,該影像在彎曲時經分裂且顯示於該顯示單元110中。
因為存在一區域,在該區域中,尤其當該顯示單元110之顯示螢幕如圖5中彎曲達約180度的一角度時,該顯示單元110之影像從外部不可見,故可藉由執行減少一影像顯示區域的一控制而確保對於該使用者之可見性。以一類似方式,由於當彎曲使得該顯示單元110之顯示螢幕係如圖6中的凸起表面時,在該顯示螢幕上的影像亦彎曲且影像品質減小,可藉由該顯示裝置100執行一控制而確保對於該使用者之可見性,藉由該控制,該影像在彎曲時經減少並且分裂以被顯示於該顯示單元110之一未彎曲部分中。在此實施例中,當該顯示單元110係彎曲時,考慮到維持彎曲前之一影像顯示狀態係較不重要的而以此方式執行關於顯示於該顯示單元110中的影像之控制。明確言之,如上文所描述,執行該控制(藉由該控制,該影像在彎曲時經減少並且分裂以被顯示於該未彎曲部分中)以便增加對於使用者之可見性。即,執行該控制使得該影像經顯示於該顯示單元110之該未彎曲部分中。相應地,可在不對使用者造成陌生感的前提下確保該可撓性顯示裝置100在彎曲時顯示的可靠性。
下文描述一特定控制技術。圖7係展示根據此實施例的該顯示裝置100的功能組態的一方塊圖。在下文中使用圖7而描述該顯示裝置100之該功能方塊組態。
如圖7中所示,根據此實施例的該顯示裝置100包含該顯示單元110、一A/D轉換單元122、一記憶體124及一控制單元130。如圖1至圖4中所示,該顯示單元110具有一結構,其中堆疊該第一基板102、該第二基板104及該位移感測器106。該A/D轉換單元122將由該位移感測器106偵測為一類比量的該顯示單元110的一彎曲量轉換為一數位量。該記憶體124暫時儲存由該A/D轉換單元122轉換為數位量的該顯示單元110之彎曲量。該控制單元130使用儲存於該記憶體124中之該顯示單元110的彎曲量而對於供應至該顯示單元110的一影像信號執行多種控制。
如上文所描述,該位移感測器106由透明ITO膜、IZO膜或類似物形成。該ITO膜或該IZO膜具有電阻。當將電壓施加至兩個面對的電阻膜之一電阻膜時,亦在該等面對之電阻膜的另一者處根據由該使用者對於該顯示單元110操作的一位置而產生電壓。藉由偵測此電壓,該位移感測器106可偵測一操作位置作為該類比量。因此,由該位移感測器106偵測為該類比量的該顯示單元110之該彎曲量可由該控制單元130使用於判定該顯示單元110是否為彎曲。
注意,儘管由該A/D轉換單元122轉換為該數位量的該顯示單元110之該彎曲量係暫時儲存於圖7所示之組態中的該記憶體124中,但是本發明之實施例並非限制於此實例。例如,該組態可為使得由該A/D轉換單元122轉換為該數位量的該顯示單元110之該彎曲量係直接供應至該控制單元130。
已在上文中使用圖7而描述該顯示裝置100的功能方塊組態。接著,描述圖7中所示之該控制單元130之功能方塊組態。圖8繪示該控制單元130之功能方塊組態。
圖8中所示之該控制單元130之一功能方塊包含硬體(諸如一感測器或一電路)或具有軟體(程式)以實現其之一功能的一中央處理單元(CPU)。如圖8中所顯示,該控制單元130包含一電阻偵測單元132、一電阻比較單元134、一影像縮減/分裂算術單元136及一影像縮減/分裂控制單元138。
該電阻偵測單元132偵測從該位移感測器106輸出之電阻值。由該電阻偵測單元132偵測之該電阻值經發送至該電阻比較單元134。
該電阻比較單元134比較該顯示裝置100為不彎曲時的一平坦表面狀態中的一參考電阻值與由該電阻偵測單元132偵測的電阻值。藉由用該電阻比較單元134比較該等電阻值且計算該電阻值之變化量,可偵測該顯示裝置100之彎曲程度。由該電阻比較單元134計算之該電阻值的變化量之資訊被發送至該影像縮減/分裂算術單元136。
該影像縮減/分裂算術單元136使用由該電阻比較單元134計算之該電阻值的變化量以決定及輸出待由該影像縮減/分裂控制單元138在一稍後階段中使用於一影像分裂控制程序中的一影像分裂控制量。在該影像分裂控制程序中使用之該影像分裂控制量包含關於該影像的一分裂量及該影像的一縮減百分比之資訊。當該電阻比較單元134偵測某一偵測電壓時,該影像縮減/分裂算術單元136判定該顯示單元110並不處於可正常顯示影像的一適當狀態中,並且執行一算術運算以判定如何分裂彎曲時之影像以將其顯示於該顯示單元110中。該影像縮減/分裂控制單元138使用由該影像縮減/分裂算術單元136決定之影像分裂控制量,以執行控制待顯示於該顯示單元110中之該影像之一分裂圖案或一縮減量的影像分裂控制程序。該影像縮減/分裂算術單元136可決定在對應於一彎曲部分之一區域中的該影像分裂控制量,在該彎曲部分中,在配置成矩陣的多個位移感測器106之間偵測到一電阻變化。接著,該影像縮減/分裂控制單元138可在對應於該彎曲部分的該區域中,基於從該電阻比較單元134輸入的關於已發生電阻變化之該位移感測器106之位置資訊而執行該影像分裂控制程序。
在該影像縮減/分裂算術單元136中,待根據該電阻變化量控制的該影像分裂控制量預先以一查找表(LUT)的形式儲存。圖9繪示該電阻變化量與以該查找表的形式儲存的該影像分裂控制量之間的一關係的一實例。在此實施例中,使用如圖9中所示之預先儲存的資料而執行該影像分裂控制程序。如圖9所示,當該電阻變化量較小時,該影像分裂控制量經設定為較小,即,影像在沒有分裂的情況下顯示於該顯示單元110中。隨著該電阻變化量增加,該影像分裂控制量經設定為增加,即,影像被分裂且顯示於該顯示單元110中。相應地,當該顯示單元110之彎曲較大時,可藉由增加該影像分裂控制量,即,增加該分裂量或該縮減量而將該影像分裂且顯示於該顯示單元110之一未彎曲區域中,以確保該顯示單元110之可見性及將顯示效能維持於一較高位準。另一方面,當該顯示單元110之該彎曲量較小時,可藉由不分裂影像或減少該影像分裂控制量,即,減少該分裂量或該縮減量而在較大程度上顯示該顯示單元110之影像或防止一影像分裂控制被使用者辨認。
圖10係展示指定該影像分裂控制量的該LUT的另一實例之一示意圖。在圖10中所示之實例中,指定該位移感測器106所偵測的一電壓值(對應於該電阻值的值)與該影像分裂控制量之間的一關係。當將一預定電壓施加至該位移感測器106之該等透明電極之一者時,相對於該位移感測器106之另一電極之一參考電壓之電壓值隨彎曲量增加而增加,該參考電壓係在該顯示裝置100並不彎曲的狀態中該另一電極的一電壓值。因此,可藉由在圖10中之該LUT中查找相對於該位移感測器106之該另一電極之參考電壓的電壓值而獲得該影像分裂控制量。
例如,假設在該等位移感測器106之間的一任意點(位置)處,該電阻比較單元134偵測到該位移感測器106之該透明電極之一偵測電壓值與不存在彎曲時之參考電壓之間的0.3 V的一差異。在此情況中,該影像縮減/分裂算術單元136根據一偵測差異量而計算該影像分裂控制量,且在圖10中所示之實例中,決定該影像分裂控制量為「60%縮減,分裂成兩個」。接著,該影像縮減/分裂控制單元138執行使一影像區域減少10%的影像分裂控制。藉由用該影像縮減/分裂控制單元138執行該影像分裂控制,由於某一輸出被施加至一高電流密度區域,可防止藉由歸因於該顯示單元110之彎曲的機械應力所引起的一可能缺陷增加。另外,藉由在該顯示單元110之該未彎曲部分中顯示經分裂且經減少的影像,可保證某一品質位準之顯示特性且可確保彎曲時的可見性。
注意,在該電阻變化量較小的一預定範圍中可不執行該影像分裂控制。例如,如圖9中所示,該查找表可指定在該電阻變化量較小的預定範圍內該影像分裂控制量係零,且當該電阻變化量超過一預定臨限值Th時開始該影像分裂控。藉由在該影像分裂控制實際上以此方式開始之前設定一無作用區(deadband),當該顯示裝置100微小地彎曲時可不執行該影像分裂控制。相應地,因為對於該顯示裝置100的一微小變形不執行該影像分裂控制,故可防止使用者感受到一陌生感。
另外,該LUT之每一參數(其指定由於該電阻比較單元134之比較所偵測的電壓與該影像分裂控制量之間的關係)可改變為一任意值。
圖11係展示該顯示裝置不彎曲時的一狀態中的一顯示實例的一示意圖。圖12及圖13係展示由該影像縮減/分裂控制單元138根據該顯示裝置100之彎曲量而應用該影像分裂控制的示意圖。圖12示意性地展示當該顯示裝置100略微彎曲時顯示於該顯示單元110中之影像的一變化,且圖13示意性地展示當該顯示裝置100在較大程度上彎曲時顯示於該顯示單元110中之影像的一變化。
因為當該顯示裝置100略微彎曲時該顯示裝置100具有一較大未彎曲部分,如圖12中所示,根據該顯示裝置100之彎曲量而執行該影像分裂控制,且由該控制單元130控制該顯示單元110之顯示區域之尺寸,以將影像顯示於該顯示裝置100之該未彎曲部分中。
因為當該顯示裝置100較大程度上彎曲時該顯示裝置100具有一較小未彎曲部分,如圖13中所示,由該控制單元130根據該顯示裝置100之彎曲量而控制關於顯示於該顯示單元110中之影像的影像分裂控制,以將該影像顯示於該顯示裝置100之該未彎曲部分中。
藉由以此方式用該控制單元130根據該顯示裝置100之彎曲量而執行該影像分裂控制,甚至在該顯示裝置100係彎曲的狀態中,亦可藉由分裂影像及使用該顯示裝置100之未彎曲部分而將意欲顯示之整個影像顯示於該顯示單元110中。
注意,在本發明之實施例中,該控制單元130可根據該顯示裝置100之彎曲位置而執行該影像分裂控制。圖14及圖15係展示由該影像縮減/分裂控制單元138根據該顯示裝置100之彎曲位置對該顯示單元110之顯示區域之尺寸應用一控制之示意圖。圖14示意性地展示當該顯示裝置100沿著一縱向方向彎曲時(與圖12不同)顯示於該顯示單元110中之影像的一分裂圖案的一差異。圖15示意性地展示當該顯示裝置100之一角落係彎曲時顯示於該顯示單元110中之影像之該分裂圖案的一差異。
以此方式,該控制單元130可執行反映彎曲位置之差異的影像分裂控制,即使彎曲量係相同的。因為如上文所描述該等位移感測器106係以矩陣配置於該顯示裝置100中,該位移感測器106不僅可獲得彎曲量,且亦可獲得彎曲位置。
圖16係展示該顯示裝置100的一截面表面的一示意圖,且該圖展示該位移感測器經設置至該顯示裝置100之前表面及後表面的一組態實例。圖17係展示圖16中所示之該顯示裝置100係彎曲之情況下的一狀態的一示意圖。在圖17之案例中的彎曲部分中,在未設置該顯示單元110之後表面側上的該位移感測器106之一曲率半徑大於設置該顯示單元110之前表面側上的該位移感測器106之一曲率半徑。更明確言之,在該後表面側上的該位移感測器106之該曲率半徑比前表面側上的該位移感測器106之曲率半徑大出該第一基板102及該第二基板104之厚度。因此,與在該後表面側上的該位移感測器106的一彎曲量相比較,在該前表面側上之該位移感測器106之一彎曲量係較大的,且在該彎曲量較大之該前表面側上之該位移感測器106的電阻變化量大於該後表面側上之該位移感測器106之電阻變化量。
因此,當由在圖16中所示之該組態中的該等前表面及後表面上的該等位移感測器106偵測該等電阻變化量時,比較該等前表面及後表面之該等電阻變化量允許該等前表面及後表面之一者被偵測為一凹進表面及另一者被偵測為一凸起表面。當該前表面係凹進表面時,因為與該前表面係凸起表面時相比較,該顯示單元110從外部隱藏更多,且該顯示單元110較不易被辨認,故可增加該影像分裂控制量,以便增加顯示於該顯示單元110中之影像的可見性。另一方面,當該前表面係凸起表面時,因為與該前表面係凹進表面時相比較,影像的可見性增加而無關於影像係彎曲的,故可藉由與該前表面係凹進表面時相比較而減少該影像分裂控制量(即使彎曲量相同)來區分該前表面係凸起表面的一情況與該前表面係凹進表面之一情況之間該影像的分裂量與縮減百分比。
圖18係展示該查找表之另一實例的一示意圖。在圖18所示之實例中,在該顯示裝置100係彎曲的一程序中與一彎曲被復原的一程序中相對於電阻變化量之影像分裂控制量係不同的。
在圖18中所示之該查找表中,在該顯示裝置100係彎曲的程序中的一特性曲線(由圖18中之實線所示)類似於圖9中之曲線。另一方面,由圖18中之一虛線所示之一特性曲線應用於該彎曲被復原之程序中,使得在電阻變化量較大的一區域中相對於電阻變化量之影像分裂控制量的一變化量較大,且在電阻變化量較小的一區域中相對於電阻變化量之影像分裂控制量之該變化量較小。相應地,當一彎曲狀態復原至一平坦表面時,施加有該影像分裂控制的一影像可復原至一相對較早階段的一原始狀態。因此,可在該彎曲之顯示裝置100復原至該平坦表面時可靠地防止該影像分裂控制對使用者造成陌生感。
本申請案包含在2009年12月4日向日本專利局申請的日本優先權專利申請案JP 2009-276944中揭示之相關標的,其全文內容以引用之方式併入本文中。
在上文中已參考附圖詳細描述本發明之較佳實施例。然而,本發明並不限制於該等實例。熟習此項技術者清楚本發明的所屬,在本發明之實施例中描述之技術思想範圍內可設想多種修改或變更,且應瞭解其等自然亦在本發明之技術範圍內。
100...顯示裝置
102...第一基板
104...第二基板
106...位移感測器
110...顯示單元
122...A/D轉換單元
124...記憶體
130...控制單元
132...電阻偵測單元
134...電阻比較單元
136...影像縮減/分裂算術單元
138...影像縮減/分裂控制單元
圖1係展示根據本發明之一實施例的一顯示裝置之前側上的一表面的一平面圖;
圖2係展示該顯示裝置之一截面表面的一示意圖;
圖3繪示其中一位移感測器經設置至一顯示單元之後表面側的一實例,且該圖係展示該顯示裝置之一後表面的一平面圖;
圖4繪示其中該位移感測器經設置至該顯示單元之該後表面側的實例,且該圖係展示該顯示裝置之一截面表面的一示意圖;
圖5繪示該顯示裝置係彎曲之情況下的一狀態,且該圖係展示具有該顯示單元之前側上之表面係一凹進表面之情況下的一彎曲狀態的一示意圖;
圖6係展示具有該顯示單元之表面係一凸起表面之情況下的一彎曲狀態的一示意圖;
圖7係展示根據此實施例之該顯示裝置之功能組態的一方塊圖;
圖8係展示根據此實施例之一控制單元之功能組態的一方塊圖;
圖9係展示一LUT之一實例的一示意圖,該LUT根據一電阻變化量而指定一影像分裂控制量;
圖10係展示指定該影像分裂控制量的該LUT的另一實例之一示意圖;
圖11係展示該顯示裝置不彎曲時的一狀態中的一顯示實例之一示意圖;
圖12係展示根據該顯示裝置之一彎曲量而對該顯示單元中之一顯示區域應用一分裂控制的一示意圖;
圖13係展示根據該顯示裝置之該彎曲量而對該顯示單元中之該顯示區域應用分裂控制的一示意圖;
圖14係展示根據該顯示裝置之一彎曲位置而對該顯示單元中之該顯示區域應用分裂控制的一示意圖;
圖15係展示根據該顯示裝置之該彎曲位置而對該顯示單元中之該顯示區域應用分裂控制的一示意圖;
圖16繪示該顯示裝置之一截面表面,且該圖係展示該位移感測器經設置至該顯示裝置之前表面及後表面的一組態實例的一示意圖;
圖17係展示圖16中所示之該顯示裝置係彎曲之情況下的一狀態的一示意圖;及
圖18係展示查找表的另一實例的一示意圖。
100...顯示裝置
110...顯示單元
Claims (14)
- 一種顯示裝置,其包括:一可撓性基板;一顯示單元,該顯示單元包含配置於該基板處的多個發光元件且經組態以根據一影像信號顯示一影像;一位移感測器,該位移感測器固定至該基板之一前表面及一後表面之至少一者,且經組態以偵測該基板的一彎曲狀態;及一控制單元,該控制單元經組態以當減小該顯示單元之可見性且由該位移感測器偵測到該基板的一彎曲時,(i)執行一控制以減少該影像且分裂該影像為至少二個影像,及(ii)同時顯示該至少二個影像於該顯示單元中,其中在偵測到該基板之該彎曲之前該至少二個影像之每一者包括藉由該顯示單元所顯示之該影像之一部分,及在偵測到該基板之該彎曲之前不分裂該影像。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該控制單元根據該基板的一彎曲量而控制顯示於該顯示單元中之該影像的一分裂。
- 如請求項2之顯示裝置,其中該控制單元根據該基板之該彎曲量及該基板的一彎曲位置而控制顯示於該顯示單元中之該影像的該分裂。
- 如請求項2之顯示裝置,其進一步包括:一影像區域算術單元,其經組態以基於指定該位移感測器之一輸出與一影像分裂控制量之間之一關係的一查 找表而計算一影像區域之一分裂量及一縮減百分比,其中該控制單元基於由該影像區域算術單元計算之該影像區域之該分裂量與該縮減百分比而控制顯示於該顯示單元中之該影像之該分裂。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該控制單元經組態以分裂顯示於該顯示單元中之該影像,其不同於該基板正復原且該影像正改變至一原使狀態時。
- 如請求項1之顯示裝置,其中當該彎曲致使該顯示單元之一顯示表面以呈現一凸起部分時,該控制單元經組態以分裂顯示於該顯示單元中之該影像,其不同於當該彎曲致使該顯示表面以呈現一凹進部分且該控制單元分裂顯示於該顯示單元中之該影像時。
- 如請求項1之顯示裝置,其中該位移感測器包含由ITO及IZO形成的一對透明電極,且經組態以基於該對透明電極之間的電阻值的一變化而偵測該基板之該彎曲狀態。
- 如請求項1之顯示裝置,其中在偵測到該基板之該彎曲之前該顯示單元中之該至少二個影像藉由該顯示單元合作地顯示該影像之一整體。
- 如請求項1之顯示裝置,其中:該控制單元經組態以當由該位移感測器偵測到該基板的該彎曲時,(i)執行該控制以分裂該影像為該影像之至少三個部分,及(ii)顯示該至少三個影像於該顯示單元中,及在偵測到該基板之該彎曲之前該影像之該至少三個部 分合作地顯示該經顯示之該影像之一整體的一部分。
- 如請求項9之顯示裝置,其中該影像之該三個部分之一第一者的一第一顯示區域之尺寸係(i)不同於該影像之該三個部分之一第二者的一第二顯示區域,及(ii)相同於該影像之該三個部分之一第三者的一第三顯示區域。
- 一種控制一顯示裝置的方法,該方法包括以下步驟:偵測具有經組態以根據一影像信號而顯示一影像的一顯示單元之一可撓性基板的一彎曲狀態;及當減小該顯示單元之可見性且在偵測該彎曲狀態之步驟中偵測到該基板的一彎曲時,執行一控制以(i)減少該影像且分裂該影像為至少二個影像,及(ii)同時顯示該至少二個影像於該顯示單元中,其中在偵測到該基板之該彎曲之前該至少二個影像之每一者包括藉由該顯示單元所顯示之該影像之一部分,及在偵測到該基板之該彎曲之前不分裂該影像。
- 如請求項11之方法,其中在偵測到該基板之該彎曲之前該顯示單元中之該至少二個影像藉由該顯示單元合作地顯示該經顯示之影像之一整體。
- 如請求項11之方法,其中:當偵測到該基板的該彎曲時,(i)執行該控制以分裂該影像為該影像之至少三個部分,及(ii)顯示該至少三個影像於該顯示單元中,及在偵測到該基板之該彎曲之前該影像之該至少三個部分合作地顯示該經顯示之該影像之一整體的一部分。
- 如請求項13之方法,其中該影像之該三個部分之一第一者的一第一顯示區域之尺寸係(i)不同於該影像之該三個部分之一第二者的一第二顯示區域,及(ii)相同於該影像之該三個部分之一第三者的一第三顯示區域。
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