TWI434023B - 用於眼膜透鏡之透明小容器 - Google Patents

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Robert E Fischer
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Russell J Edwards
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Description

用於眼膜透鏡之透明小容器 相關申請案之相互參考
本申請案主張2006年12月21日申請之美國臨時專利申請案第60/871,319號之權利，該案名稱為"INTERFEROMETRY TESTING OF LENSES,AND SYSTEMS AND DEVICES FORSAME"，該案之全部內容在此併入援引為本案之參考。
本發明之技術領域整體而言係關於光學元件且更特定言之係關於用於測試光學透鏡之系統及方法、用於容置該等透鏡之容器以及用於分析該等透鏡之光學特性之方法。
隱形眼鏡工業已迅速地邁向更高階之視力矯正的方向來發展。製造商正朝向提供經設計以配合一病患之折射矯正及適合性之隱形眼鏡來發展。藉由超越標準球狀透鏡，製造商將可提供隱形眼鏡配戴者更佳的視覺敏銳度及整體的舒適感。
然而，用於評估透鏡之度量衡(測量)技術及儀器並未跟上透鏡技術之迅速發展。現行的測量技術，諸如基於焦距計及莫瑞偏折術(moire deflectometry)之方法，缺乏了用以精確測量更先前之透鏡之空間解析度、高靈敏度及大動態範圍的組合。現行的測量技術整體侷限於一透鏡之有效光焦度之眼膜測試以及藉由平移一透鏡直到偵測到準直之光焦度的間接測量。
在一態樣中，本發明涉及採用一經修改之麻克－真德(Mach－Zehnder)干涉儀來分析一眼膜透鏡之發射的非球狀波前。該干涉儀可以分析廣泛不同類型的透鏡，例如球狀、環狀、雙焦及多焦透鏡。在本發明之某些實施例中，透鏡被安裝在一透明小容器中，該透明小容器於該透鏡附近循環新鮮的鹽液且被定位在該干涉儀構造之一垂直測試臂中。可採用一種被稱之為逆光線追蹤之技術來移除在成像前被引致於該波前中之像差。
本發明涉及藉由測量透鏡之發射波前來獲得用以評估廣泛範圍之眼膜透鏡類型之資訊。在某些實施例中，採用一麻克－真德干涉儀且將該透鏡沉浸在含鹽溶液及安裝在一循環新鮮含鹽溶液之透明小容器或水室中。在一含鹽溶液中之測試透鏡據信係可減緩透鏡之脫水，其可以改變該透鏡的折射率。可藉由例如逆光線追蹤來達到移除引致的像差，其中在該偵測器處之波前係被回溯至一緊接在該透鏡後面之位置。逆光線追蹤有助於產生理論性波前，其可用以評估該發射波前位準之性能。
可被評估之透鏡的示例性類型包括硬式隱形眼鏡、硬式折射隱形眼鏡、硬式繞射隱形眼鏡、硬式混合折射/繞射隱形眼鏡、軟式隱形眼鏡、軟式折射隱形眼鏡、軟式繞射隱形眼鏡、軟式混合折射/繞射隱形眼鏡、包含一有效藥劑成分之硬式隱形眼鏡、包含一有效藥劑成分之軟式隱形眼鏡、單視透鏡、環形透鏡、雙焦隱形眼鏡、多焦透鏡、 美容著色透鏡、自由形式透鏡、一眼內透鏡、眼內折射透鏡、一眼內繞射透鏡、眼內混合折射/繞射透鏡、調適透鏡、眼鏡透鏡、折射眼鏡透鏡、繞射眼鏡透鏡以及混合折射/繞射眼鏡透鏡、包含多重及嵌入材料之複合透鏡、彩色照相透鏡及用以製造上述透鏡之模具。應瞭解，範例性透鏡並非侷限於上述之範例性透鏡清單。習於此技者可輕易瞭解到亦可應用於其他類型的透鏡且適於藉由發射波前分析來予以評估。
圖1係一示意圖，其中描繪用以獲得一透鏡之波前的例示性干涉儀構造12。該干涉儀構造12包含用以操縱光束通過該基準臂36及該垂直測試臂30之兩個射束分裂器18、24及四個鏡面20、22、26、40。該透明小容器28被定位在該垂直測試臂30中，且待測試之該或該等透鏡係放置在該透明小容器28中(透鏡未圖示在圖1中)。該光源14(諸如雷射)係用以產生一相干光束。相干性係以長度為單位來予以測量，且在一例示性實施例中，光源14之相干性係大於該基準臂36路徑及該垂直測試臂30路徑之光徑距離之預期差值。離開光源14之光線係利用一準直透鏡16來予以濾光及塑形。自該準直透鏡16發出之該準直光束係利用一射束分裂器18而分裂成兩個成45度之射束。基本上，一射束分裂器係一種特殊類型的鏡面，其中百分之五十的光線被反射而另外的百分之五十則被透射。因此，從該準直透鏡16發出之百分之五十的準直光束係經由該射束分裂器18而被導向該鏡面40且另外百分之五十的準直光束被導向該鏡面 20。
被導向該鏡面20之射束係由該鏡面反射通過該基準臂36。該射束被稱之為基準射束。被導向該鏡面40之射束亦由該鏡面20反射通過該垂直測試臂30。該射束被稱之為測試射束。該測試射束通過該透明小容器28及容置於其中之測試透鏡。同時地，該基準射束通過該基準臂36之空氣或任何適當的氣體。利用另一射束分裂器24，該基準射束及測試射束會重新組合且在兩個射束之間發生干涉。兩個射束從該射束分裂器24發出。一被導向成像透鏡42之射束係該測試射束被透射通過該射束分裂器24而與從該射束分裂器24所反射之基準射束之一部分相組合之一部分的指示。被導向該成像透鏡32之另一射束係該測試射束從該射束分裂器24反射而與該基準射束被透射通過該射束分裂器24之一部分相組合之一部分的指示。
被導向該成像透鏡32之射束的干涉係利用一攝像機34所記錄。該攝像機34可包含任何適當類型的攝像機，諸如一電荷耦合設備(CCD)攝像機、一互補性金氧半導體(CMOS)攝像機、一電荷注射設備(CID)等等。該攝像機34被稱之為科學攝像機。該成像透鏡32被設置在該射束分裂器24與該科學攝像機34之間以將該測試透鏡成像在該攝像機上。因此，由該科學攝像機34所記錄之干涉係包含在該待測試透鏡處之干涉圖案的影像。
被導向該成像透鏡42之射束係藉由該攝像機38所集中，該攝像機被稱之為成像攝像機。該攝像機38可包含任何適 當類型的攝像機，諸如一電荷耦合設備(CCD)攝像機、一互補性金氧半導體(CMOS)攝像機、一電荷注射設備(CID)等等。由該成像攝像機38所集中之光線係自該基準臂22由射束分裂器24所反射之光線與自該測試臂30透射通過該射束分裂器24之光線的指示。利用兩個攝像機34、38可提供該待測試透鏡兩個觀察處。在一例示性實施例中，該成像攝像機38被設定至一固定放大位準，其允許該成像攝像機38觀察及記錄完整的待測試透鏡。來自於該成像攝像機38的影像係使用在直徑及圓度測量以及設定在該測試透鏡之光學區域中之分析孔的位置。該科學攝像機34觀察該測試透鏡之光學區域的中央部分。當測量測試透鏡之發射波前時，這可提供最大的空間解析度。
該干涉儀構造12並未採用無效光學件。亦即，沒有添加或移除任何設備於該干涉儀構造12來移除附屬於該干涉儀構造12的信號。採用無效光學件可能需要針對每一種透鏡類型來設計無效光學件，且此作法對於廣泛範圍之透鏡類型而言並不可行。在一非無效構形中之測試對該干涉儀構造12帶來至少三個設計因子。首先，由於該波前係由成像光學件(例如，科學攝像機34及成像攝像機38)所集中及捕捉，因此該測試波前、成像透鏡及偵測器之參數係相符合。第二，可以解析入射在該偵測器上的干涉。在一例示性實施例中，避免每一像素之干涉邊紋之相位改變超過圓周率(π)，藉此確保邊紋頻率係小於該偵測器之倪奎斯特(Nyquist)頻率。然而，在另一實施例中，次倪奎斯特干涉 術及其稀疏陣列攝像機係用以解析由在一非無效構形中之非球狀所產生的高頻干涉。第三，在該偵測器處所重建的波前係考量由該干涉儀12之成像光學件所引致的像差而予以校正。缺乏在該基準臂36與測試臂30波前之間的共同路徑會造成在每一波前中之不同像差。一用以移除引致像差之例示性校正程序將說明如下。
在一例示性實施例1，將該等干涉圖案予以數位化且以數位資料方式予以記錄，該數位資料可經處理以產生用於被測試光學件(該待測試透鏡)之發射波前。分析所測量之發射波前以測定被測試光學件之特性，諸如其直徑、圓度、相對厚度、瑕疵及眼膜規格。
在一例示性實施例中，定位在該基準臂36頂部的鏡面38包含一相位偏移性能。該相位偏移性能可以藉由使用任何適當的材料來實現，諸如鋯鈦酸鉛(Pb[Zrx Til－x ]O3 )，PZT)。PZT係一種包含鐵電及壓電特性之陶瓷材料。在此一實施例中，該鏡面38係一附接至該上方基準臂鏡面之動態組件。該PZT材料對該上方鏡面38提供一小的(一波長之部分)的平移。這會在被記錄之干涉圖案中產生一相位偏移。記錄一系列的圖案。測定相位偏移之方向來消除測試光學件之光焦度方向的不確定性。例如，在一靜態干涉儀中，一＋1D及一－1D透鏡將無法辨識。然而，使用具有一相位偏移性能之鏡面38便可以消除此一不確定性。
如圖1所示，該測試臂30係被垂直定向。為了防止隱形眼鏡在其本身重量作用下而撓曲，因此將透鏡以水平定向 安裝在被定位於該垂直測試臂30中之該透明小容器28中。為了有助於該透明小容器28之水平定位，兩個射束分裂器26、40係垂直地配置，如圖1所示。該干涉儀構造12針對一被設置在潛望鏡鏡面26、40之間之測試透鏡提供一垂直射束路徑。該干涉儀構造12針對該基準臂36及該測試臂30保持相同的測試路徑長度且同時允許一封閉件，透明小容器28位在該待測試透鏡上方。此將在下文中詳述，該透明小容器28提供一幾乎為光密的環境，保護光學件與透鏡配合使用之含鹽溶液，且防止系統受到外界空氣的干擾。
該等成像透鏡32及42之直徑係可以捕捉所有或大致所有預期的波前。該干涉儀構造12可以測試正及負透鏡兩者。就負透鏡而言，在該待測試透鏡發散之後的波前以及因此從該待測試透鏡至該成像透鏡之距離係被納入考量。該成像透鏡的光焦度測定了該波前被成像之倍率。因此，該等成像透鏡32、42之光焦度被納入考量以確保各別波前由該科學攝像機34及該成像攝像機38予以適當地成像。
欲被成像之像素的間距或間隔通常係指示偵測器之倪奎斯特頻率。因此，欲被成像之像素的尺寸及間距係經考慮以確保該干涉儀構造12可正確地解析干涉。欲被成像在該科學攝像機34及該成像攝像機38上之像素的尺寸係分別與該成像透鏡32及該成像透鏡42之工作焦距比(亦為業界習知的焦距比、f－比值及相對孔徑)協調。該工作焦距比及波長給予由該待測試透鏡所產生之最小特徵尺寸。這係與該像素尺寸相配合而使得不會有任何系統限制另一系統的解 析度。術語"工作焦距比"與更一般性術語"焦距比"的差別在於該工作焦距比係將該成像系統之倍率納入考量。
如上述，該待測試透鏡(亦稱之為測試透鏡或光學件)係沉浸在該透明小容器28中之一溶液中，諸如一含鹽溶液。藉由將該測試透鏡沉浸在溶液中，便可增加該干涉儀12之動態範圍。這係由於在測試光學件與周圍媒體之間之折射率差值的減少所致。以光焦度來說，針對任何特定干涉儀可被精確測試之光焦度之量值係存在一上限值。此上限值係與諸如像素尺寸、像素間距及成像透鏡直徑等參數相關聯。當該測試光學件被沉浸時，在發射波前中之光焦度會降低，藉此增加該干涉儀12之動態範圍。在一例示性實施例中，同時具有高像素密度及較大灰階解析度之一高靈敏度攝像機係與沉浸方法相結合以提供在靈敏度及動態範圍兩者都具有可接受位準之測試床。干涉術之靈敏度與沉浸方法之增加的動態範圍的結合提供一用以測試廣泛範圍之功率、設計及材料的實務技術。
然而，即使沉浸在溶液中，該測試透鏡之基本光焦度通常將會因為該基準波前為平坦狀而產生具有大量邊紋之干涉圖案。為了記錄高頻邊紋，在一例示性實施例中，該科學攝像機34包含一個超過28平方毫米之四百萬像素CCD偵測器。然而，應強調，四百萬像素CCD攝像機係例示性的實施方式，本發明亦可採用任何適當的偵測器。由於具有足夠的解析度來解析該等高頻邊紋，該科學攝像機34在測量時提供高空間解析度。為了有助於此一較大陣列，該科 學攝像機34之感測器係採用全畫面架構。該全畫面架構係採用一外部遮板以正確地讀出電荷。在一例示性實施例，為了提供遮光，一聲光(AO)調變器係與用於射束清潔之空間濾光器配合使用。當被啟動且對準時，該調變器產生包含有大部分入射雷射光線之第一階射束。該第一階射束係對準於空間濾光器。當該調變器被關閉時，僅有零階射束(其係由該空間濾光器所遮擋)存在。因此，該調變器及空間濾光器會針對進入干涉儀中之光線產生一開/關切換。該AO調變器係由該科學攝像機34所驅動；因此可同時產生遮蔽及讀出。
如上述，逆光線追蹤有助於產生理論性波前，其可用以評估該發射波前之性能。一種瞭解該理論性波前如何產生之方法係考慮以下所偵測的：由兩個位在該偵測器(例如，科學攝像機34)之平面中之波前所產生的干涉。依照相位偏移干涉術(PSI)，該干涉會展現介於兩個波前之間的相對光徑差(OPD)。然而，所要之波前係位在測試部分(待測試透鏡)處之測試波前，且非在該科學攝像機34處之波前。為了獲得所要之波前，一已知的基準波前係與該OPD相配合以推論在該科學攝像機34處之未知測試波前。當該測試波前前進通過干涉儀12之光學件時，便會引致產生像差。一校正程序係用以將位在該科學攝像機34處之此一推論測試波前轉換成位在該隱形眼鏡處之測試波前的最佳估算。
引致產生之像差的一部分係取決於入射波前。然而，所 增加之像差的量值通常係該波前量值的一小部分。這使得待處理之像差作為該波前之一擾動。在數學上，成像該波前之操作在本文中係定義為： Img{W}＝W＋A{W} (1) 其中W代表原始波前，而A{W}代表引致像差。符號A{W}係用以指示該等引致像差係與波前相關。該成像透鏡32係該等引致像差的來源。一種觀察為何不同波前接收不同像差之方式便係觀察該等不同波前為共軛偏移。該干涉儀之成像透鏡32的共軛係測試平面，其係緊接在定位於該透明小容器28中之測試透鏡以及該科學攝像機之偵測器34後面的平面。雖然這些共軛並未改變，然而對該測試透鏡之任何改變會造成一不同波前位在該測試平面中，且因此一不同波前會行進通過由該成像透鏡32及該科學攝像機之偵測器34所構成之該成像系統。
該等偵測到之干涉圖案代表在兩個波前之影像之間的差異而非該等波前本身之差異。在該測試波前(WT )之影像與位在偵測器平面之基準波前(WR )之影像之間的OPDT (測試射束之OPD)因此以數學表示如下： OPDT ＝Img{WT }－Img{WR }＝(WT ＋A{WT })－(WR ＋A{WR }) (2)
一相反於成像程序之操作，逆光線追蹤，可用以測定在透鏡處之波前。當已知的干涉儀之規格時，產生該等像差之該系統並非係一黑盒子，而是可被模型化之光學件的集合。該模型係一種可以進行相反於成像之操作的工具，亦即，逆光線追蹤。藉由逆光線追蹤，在測試平面(通常係 緊接在該等測試光學件後面的平面)處的波前係由OPD及位在該偵測器處之基準波前藉由追蹤回溯通過該系統之光線所產生。該等光線被稱之為回溯追蹤係因為當該干涉儀中之光線從測試平面行進至偵測器(科學攝像機34)時，該等光線係從偵測器(科學攝像機34)被追蹤至測試平面。利用方程式(1)及方程式(2)，此逆向操作係以數學定義如下：
方程式3闡釋一種用以實現逆光線追蹤之程序的實施方式。藉由參考干涉儀12，光線可沿著該基準臂36、通過該成像光學件32且到達該偵測器(科學攝像機34)而被追蹤。這便係WR (Img{WR })之影像。OPDT 接著被增添至該等光線，且改變其位置及角度兩者。在此時，便可以獲得WT 之影像。該等光線接著被回溯追蹤至測試平面。在該測試平面處，該等光線被轉換成一波前，其係，亦即原始測試波前WT 之估算值。該逆向操作之結果被標示為一估算值之理由在於該干涉儀之一模型被用以提供該校正。該模型與實際干涉儀可能不同。藉由採用習知的逆最佳化方法可以達成校正或加強模型以較佳地符合實際干涉儀。該模型可經由該成像透鏡之共軛的倍率來予以確認。僅有兩個距離無法從一規格中得知：自該透明小容器28之頂部至該成像透鏡32的距離以及自該成像透鏡32至該偵測器(科學攝像機34)之距離。實際上，這兩個距離係用於該成像透鏡32之物件及影像距離。由於該成像透鏡為已知的，因此 知道在該等共軛平面之間的倍率便可提供足夠的資訊來獨特地測定該兩距離。一近軸光線追蹤可用以更新給予最新倍率測量之模型。
圖2、圖3、圖4及圖5顯示各種不同波前。圖2描繪一例示性基準波前WR 44之影像。該測試光學件46係一平凸玻璃透鏡且該高度單位為波(543.5 nm)。圖示之該基準波前WR ,44具有一相當大的光焦度而非為平坦狀。這係因為在該偵測器(科學攝像機34)處之該基準波前WR ,44具有一相當大的光焦度。如圖1之干涉儀12所示，在該基準臂36中之該準直光線在該科學攝像機34處將產生一發散波前。這係該基準波前WR ,44之一影像，因為該成像透鏡具有與其共軛之測試平面及偵測器。圖3描繪具有自該正測試透鏡50移除之不當像素(代表失真)的OPDT 48。圖4描繪一測試波前WT 52之一例示性影像。所測得之OPDT 48被增添至WR 44之影像以產生WT 52之影像。WT 48及WR 44之影像相差OPDT ，該量值係比任一波前還要小很多。由於在本實例中係採用一正測試透鏡，因此該測試波前之影像具有一比該基準波前之影像還長的曲率半徑(在孔徑上之弛垂較小)。將逆光線追蹤應用至該測試波前WT 52之影像，產生透射通過如圖5所示之測試透鏡W T 54之測量波前的估算值。
利用該干涉儀12及藉由逆光線追蹤之波前測定，便可在一測試透鏡與一模型透鏡之間進行比較。圖6顯示用於該校正透鏡之一測量波前56及一模型化波前58。在該測量與 模型化波前之間可進行比較，以提供例如用於部分識別之方式。為了在測量資料與模型化資料之間建立一比較，可採用一校正部分。在一例示性實施例中，其係採用一平凸玻璃透鏡作為一校正部分。諸如指數、中央厚度及曲率半徑之參數係獨立測量，而提供對該透鏡之一完整的描述。連同該測試部分之描述，該干涉儀之描述便可以在該測量波前之相同位置處產生一模型化波前。藉由在相同位置且因而具相同尺寸之兩個波前，便可僅藉由將該測量波前減去該模型化波前來計算出一差異波前。
圖7描繪在該測量波前56與該模型化波前58之間之差異之一差異波前60。此差異係以該兩個波前之直徑的99%處計算出來，以避免邊緣效應。在該差異波前60中之雜訊會因為因數之組合而模糊了該差異波前60之整體形狀。在該差異波前60中之雜訊能以任何適當的方式來予以消除。例如，可將一澤尼克多項式應用至該差異波前60以消除該雜訊。澤尼克多項式係業界習知的。應用澤尼克多項式已知係用以抵消失真。在一例示性實施例中，一澤尼克配合係用以移除高空間頻率雜訊，且該澤尼克係數係用以計算與該波前有關的像差資訊。
圖8顯示在應用36項澤尼克多項式配合至該差異波前60之後之一澤尼克表面62及其影像64。該澤尼克表面62顯示散焦係該測量及模型化波前之間之比較中的主要錯誤。不受限於一特定理論，假設類似於此之光焦度的差異係最有可能因為在測試透鏡之折射率與在干涉儀中之周圍含鹽溶 液相對於使用在該模型中之數值的不一致所造成。利用針對此差異之該澤尼克係數，該光焦度經測量為－0.019屈光度。在空氣中，此差異會變成－0.054屈光度。利用一薄透鏡模型，在光焦度中之此差異可被轉換成在指數中之一不確定性。－0.054屈光度之差異與該透鏡之規格給予指數差異為0.0015的不確定性。由於兩指數數值針對大約0.001之不確定性在目前係已知的，則歸因於指數中之不一致所造成之該光焦度誤差的想法係幾可亂真。
除了測試一透鏡之眼膜規格以外，亦可偵測一透鏡之各種其他特性及特徵。例如，圖9之干涉圖顯示一待測試透鏡之一局部瑕疵84。因此，利用該干涉儀12之發射波前測定提供用以偵測在光學性能中之瑕疵的性能，該瑕疵會造成在光線路徑上產生所使用光線之波長之一比例的偏差。再者，利用該干涉儀12之發射波前測定可產生任何球狀隱形眼鏡之球狀光焦度。就環形透鏡而言，亦可獲得圓柱形光焦度及軸線。又再者，亦可偵測出與一透鏡之其他部分偏離的區域，如圖10所示。圖10顯示一於其中具有略微扁平之邊紋的區域86。該區域68可能無法特徵化為一瑕疵(例如，圖9之瑕疵84)，但將產生諸如光焦度變化、球狀像差等等之不同光學效應。利用該干涉儀12之發射波前測定亦可偵測可能應力或在該透鏡之周圍中之其他變化的資訊，如圖11之區域88所示。理想地，在該光學區域外側，在邊紋圖案中應相對於通過該基準記號90之直線形成對稱性。在接近兩個基準記號90之邊紋88中的捲曲或失準係指 示一具有可能應力及/或失準之區域。
一完整資訊可藉由分析經由該干涉儀12所收集之發射波前來產生。此資訊可用以辨別具有不同添加劑量值之材料、具有不同像差量值之外形設計以及具有相同外形設計但由不同材料所製成之透鏡。例如，圖12顯示針對四個不同透鏡以屈光度/每平方毫米(D/mm2 )為單位之球狀像差(SPHA)相對頻率之標繪圖90、92、94及96。每一被測試之透鏡係具有－1.00屈光度(D)之光焦度。再者，經由波前分析獲得之資訊的統計分析可由如統計區塊82所示般來管理，其中針對每一透鏡90、92、94及96之球狀像差的平均差及標準差被描繪在該統計區塊中。
多種其他的透鏡特性及參數可經由波前分析來獲得。例如，環形透鏡之厚度可經測定如圖13所示。環形隱形眼鏡係經設計用以矯正眼睛散光之球柱面透鏡。在圖13中係描繪出三個透鏡100、102及104之厚度。針對每一透鏡，較暗的區域相較於較淡的區域係指示厚度增加，該厚度增加的範圍係從0.0毫米至0.500毫米。
如上所述，待測試透鏡可被放置在一透明小容器中，且該等透鏡被沉浸在一溶液中(例如，含鹽溶液)。圖14係顯示在圖1所示之干涉儀12中之透明小容器28的截面視圖。利用該透明小容器28，在測試期間，透鏡係保持在溶液中。用以製造隱形眼鏡之材料包括水凝膠，其係吸溼性材料。該等透鏡被放置在該透明小容器28中或水室中，以保持其含水且折射率穩定。該透明小容器28包含一具有兩個 經抗反射(AR)塗覆之窗口的隔室。該待測試透鏡被定位在兩個窗口之間。該等窗口在其外表面上係塗覆有抗反射膜。在該窗口玻璃與溶液之間的指數配合可免除在內表面上塗覆一抗反射膜。
大體而言且將在下文中詳述的，整個透明小容器係與一測試構形(諸如該干涉儀12)經由一動力安裝座且藉由一自動連接系統相界接，該自動連接系統包括連接至該干涉儀驅動系統之機械連桿以及電氣控制器與儀器電路。一外殼封圍該透明小容器之所有構成物。該外殼係經構形以均勻地循環該測試溶液，以防止該測試溶液洩漏，且用以監視該測試溶液之溫度。一透鏡支架包含一或多個測試小室，其經構形以支撐一沉浸在一溶液中之透鏡，且其可在該透明小容器之外殼中移動而同時保持該測試透鏡之放置及定向。一第一窗口經構形以允許該干涉儀測試臂射束進入至一小室中且在準直或相干長度上不會有任何變化。一第二窗口係經構形以允許該測試臂射束在通過該透鏡後離開該透明小容器，且對於既有之測試臂射束不會有任何變化。該兩個光學窗口之中心係彼此相對準，且該可動透鏡支架係安裝於其間。該支架可移動以一次一個地將每一小室定位在該第一窗口與該第二窗口之間。
該透明小容器動力安裝座可藉由使用一鳩尾榫頭滑座來達成，其提供該透明小容器對於該機械及電氣連接器與感測器之主要對準且利用定位器銷及一彈性(例如，彈簧負載)臂來提供垂直高度對準，其中該彈性臂係抵抗該定位 器銷來提供一徑向力，以將該透明小容器精確地且一致地定位在一平行於該鳩尾榫頭滑座之平面中。該機械連桿組係經設計以提供在該透明小容器與該干涉儀之間可重複之正向嚙合及振動隔絕，而無需對該透明小容器之連桿組進行任何預先調適。
在該透鏡支架中之每一小室具有一窗口，該窗口並不會改變一入射準直射束之準直或相干長度，且其對於該干涉儀之相干光源之該或該等波長係可透射的。此窗口形成可使該測試透鏡安裝於其上之表面。在該透鏡支架中之每一小室中的窗口係與該透鏡支架中之所有其他小室窗口共平面。在該透鏡支架中之每一小室具有一錐狀壁，其經設計以允許該測試透鏡在該小室中之精確且不扭曲的安裝。每一小室係經設計而使得該干涉儀之成像攝像機可以成像該整個透鏡。在該透鏡支架中之每一小室具有至少一通道以使溶液流動。在該透明小容器中之兩光學窗口對於該干涉儀之相干光源的該或該等波長係可穿透的。循環通過該透明小容器之測試溶液對於該干涉儀之相干光源的該或該等波長在光學上係可穿透的。例示性測試溶液包括含鹽溶液、緩衝含鹽溶液、去離子水、具有有效藥劑成份之溶液及其組合。
該透明小容器之外殼包括用於一溫度經控制之測試溶液源的入口及出口連接件。該外殼係經構形以利用一溫度探針來監視該測試溶液之溫度。在一實例構形中，該溫度探針包含一阻抗溫度偵測器(RTD)，其提供資訊至一外部溫 度控制器以有助於穩定在該透明小容器中之溶液的溫度。在一實例構形中，該透明小容器之外殼係由一不透明聚碳酸酯材料所構成，其在測試溶液存在的情況下具有結構穩定性。
該透明小容器係經構形以處理各種不同的透鏡，諸如硬式隱形眼鏡、硬式折射隱形眼鏡、硬式繞射隱形眼鏡、硬式混合折射/繞射隱形眼鏡、軟式隱形眼鏡、軟式折射隱形眼鏡、軟式繞射隱形眼鏡、軟式混合折射/繞射隱形眼鏡、包含一有效藥劑成分之硬式隱形眼鏡、包含一有效藥劑成分之軟式隱形眼鏡、單視透鏡、環形透鏡、雙焦隱形眼鏡、多焦透鏡、美容著色透鏡、自由形式透鏡、一眼內透鏡、一眼內折射透鏡、一眼內繞射透鏡、眼內混合折射/繞射透鏡、調適透鏡、眼鏡透鏡、折射眼鏡透鏡、繞射眼鏡透鏡以及混合折射/繞射眼鏡透鏡。
請參考圖14，該透明小容器28係一用以固持沉浸在溶液中之隱形眼鏡的容器，其中該固持方式係使該透鏡可利用干涉儀12來予以測試。該透明小容器28係經設計以容納多個透鏡。在一例示性實施例中，該透明小容器28可容納30個透鏡。每一透鏡在該透明小容器28中具有其擁有的位置(小室)，且該等小室可在該透明小容器28中移動。透鏡可被定位以在該透明小容器28中進行測試，且較佳地不會因為該透明小容器或位於其中之任何內部安裝件所變形。亦較佳地，整個待測試透鏡係可看見的。該透明小容器之所有窗口以平整度之觀點而言係較佳地具有相同的光學品 質，以防止增添額外的光焦度至該發射波前。該透鏡之定位及呈現較佳地係逐一透鏡且逐一嘗試來重複。透鏡進出該透明小容器28之插入及移出通常係簡單且直接。透鏡較佳地不會自由移動至其小室外面，且形成在該溶液的氣泡不應妨礙到測量。亦即，在一小室中不應看到該等氣泡。
該透明小容器28包含外壁106及108。在該透明小容器28之中間的部分110或旋轉台包含多個透鏡小室112。在一例示性實施例中，該旋轉台110包含30個透鏡小室112。每一小室112係包含一錐狀壁114(其可符合一透鏡之形狀)、用以使流體流動之通道116及一位在可使該透鏡靠置於其上之該小室底部之窗口118。該外壁106及108可包含任何適當的材料。在一例示性實施例中，該外壁106及108包含聚碳酸酯。聚碳酸酯提供該透明小容器28具有以下之特性：重量輕、不透明、化學惰性及低吸水性，這可保持該透明小容器28在尺寸上的穩定。
圖15係該透明小容器28之一部分的擴大截面圖。來自於該干涉儀12之光線係經由該頂部窗口120沿著箭頭122之方向而進入該透明小容器28，且向下行進通過平放在其透鏡小室112中之該透鏡，然後經由該底部窗口122離開該透明小容器。
在一例示性實施例中，在該透鏡小室壁114之頂部與該頂部窗口120之間具有一小距離，在圖15中標示為124。此一小間隙124在整個透明小容器28中被保持，且經設計以在轉動期間將該透鏡保持在其各別小室112中。再者，在 一例示性實施例中，在每一透鏡小室112中具有四個缺口116。缺口116允許循環溶液以使其易於流經每一小室112，藉此保持所有小室112達到熱平衡。應強調，描繪在透明小容器28中之缺口116數量係例示性的，且可以實施任何適當數量的缺口。外部窗口120及122係呈階狀以提供一使一O形環圈或墊片可以安裝之通道126，以環繞每一窗口120、122來提供密封。此構形亦允許該等窗口傾側及/或傾斜來對準，而非憑靠一固定安裝架構。該中間玻璃窗口128亦具有階部，如區域130，以在所有小室112當中提供一致性的對準。在一例示性實施例中，該中間窗口128自該旋轉台110底部突伸而出以保持該溶液中之氣泡遠離該窗口128之中央部分。每一小室112之錐狀側邊114易於置中定位該透鏡，且在任何情況下不會造成透鏡變形。此外，壁側邊114有助於卸載透鏡，因為透鏡可向上滑動於該等小室112之側邊，然後一旦滑出該小室112時便可自該透明小容器28移出。裝載及卸載透鏡可經由該透明小容器28之一門板151或類似構件來達成。在一例示性構形中，被附接至一連鎖件(參考圖19中之連鎖件188)之門板在門板打開時可防止自動旋轉台轉動。無需特殊工具與該等透鏡配合，例如一拭子可用以與該透鏡相配合。
為了在沒有使用者需求之情況下藉由該干涉儀12來進行多個透鏡之測量，在一例示性實施例中，該干涉儀12係經由自動分度來控制透明小容器28。自動分度可經由任何適當的構件來達成。例如，該透明小容器28本身可具有馬達 及處理器，且可僅從該干涉儀12接收信號。在另一例示性實施例中，在該干涉儀12中係包含更多控制，而在該透明小容器28包含較少的控制。在本實施例中，該干涉儀12提供一用以轉動之構件，其係與該透明小容器28相配合。這可以藉由例如使用一齒輪、皮帶、鏈條、齒條及小齒輪或類似構件或其組合來達成。
圖16描繪一例示性耦接機構，其包含一單一馬達132、一齒輪箱134、滑輪136、138、140及一槽溝式皮帶142。該旋轉台110向上通過被包含在該透明小容器28中之透明小容器滑輪138。該馬達132、齒輪箱134、驅動滑輪140及拉緊器滑輪136係位在該干涉儀12中之固定組件。當該透明小容器28被推入至該干涉儀12中時，在該透明小容器滑輪138及具齒輪皮帶142之間便會發生耦接。此類型的耦接提供環繞該滑輪之顯著嚙合，進而降低了滑脫的可能性。大量的嚙合易於起動及停止透明小容器轉動。在此系統中之應力較低，且該皮帶之可撓性可以緩和在該馬達及透明小容器之間的任何耦接。再者，該皮帶之可撓性可以抑制由該馬達132所產生的任何反衝。此設計保持旋轉台110懸掛狀態；該旋轉台110沒有任何部分係沿著該透明小容器28之底部而跨置。這避免了摩擦及附著(靜摩擦)，且藉此可增進位置精確度。
裝載時通常需要不設定轉動點；然而無論如何該皮帶142及滑輪138將會嚙合。該拉緊器滑輪136可視需要來調整以保持裝載力為固定。一皮帶系統之堅固性對於與多個 透明小容器28配合使用係有利的。為了將一透明小容器28裝載至該干涉儀12中，該透明小容器28僅需要沿著該透明小容器28之一鳩尾榫頭144(參考圖14)來推入/拉出即可。當該透明小容器28與該干涉儀12及控制自動分度之位置感測器相配合時，該鳩尾榫頭144提供垂直穩定性。
圖17係一透明小容器定位機構之俯視圖。在一例示性實施例中，一小室112之位置係由兩個定位器銷所測定，該等定位器銷分別係XY定位器146及徑向位置148的部分。與一鬆散配合鳩尾榫頭144結合，該兩個定位器銷提供該透明小容器之可重複的動力定位。該經設計之耦接允許手動轉動。該鏈輪150(參考圖14)提供手動轉動且可為了安全之目的而剎停；當該透明小容器被裝載至該系統時，避免在該鏈輪與干涉儀之間有夾擰點。該致動器臂184及夾擠器臂186係成對作用以提供一彈簧負載力，其經由一徑向力而保持該透明小容器28壓抵於XY定位器146及徑向定位器148上。因此，該兩臂184及186便可將該透明小容器28動力式地裝載至該干涉儀。
自動分度係藉由具有定位在該鏈輪150正下方之旗標152(參考圖14)的轉輪所提供。該等旗標152係與附接至該干涉儀12之位置感測器154相界接，如圖18所示，當該透明小容器28轉動時，該等旗標152會觸發該位置感測器154，其接著傳送指令以減緩且然後停止該透明小容器28。為了簡潔之目的，在圖18中僅標示出三個小室位置感測器152。該透明小容器28被減緩以減少已裝載之透鏡的 干擾。透鏡定位係獨立於用以轉動該透明小容器28之機構。該馬達僅基於來自於位置感測器154之信號而起動及停止。無計數或其他馬達設定用以測定小室位置。原點位置旗標156係用以初始化該透明小容器28與該干涉儀12之對準。
圖19係一封閉之透明小容器28之示意圖。該封閉之透明小容器28藉由在該透明小容器28與一外部冷卻器(未圖示在圖19中之外部冷卻器)來提供溫度穩定性。該透明小容器之內部的設計係允許流體流經小室112且在該等小室之間流動。該透明小容器包含三個用於流體控制之元件：一溫度探針158、一引入閥160及一排水管162。此外，亦提供一溢流耦接件164。該溫度探針158提供該透明小容器28內部靠近該測量窗口之流體的溫度之電子讀數。該引入閥160及排水管162提供用以使溶液循環通過該透明小容器28之埠口。該入口部分允許溶液進入該透明小容器28且該排水管部分允許溶液離開該透明小容器28。該引入閥160及排水管162係經由配備有適當配件之管件而與外部冷卻器及泵相界接。
一具有透明小容器28之干涉儀12提供一種利用波前分析來測試隱形眼鏡之可行方法及系統。憑藉一平坦基準波前之測試便可測定絕對透鏡光焦度。由於該透鏡沉浸在含鹽溶液而增加動態範圍允許更廣泛範圍的規格被測試而無需使用無效光學件或其他構件來移除該透鏡之大光焦度。此方法及系統可應用至廣泛不同的透鏡，包括球狀透鏡。針 對欲被測試之部分的類型係不需要任何假設。所有需要的僅係該測試透鏡的規格。
圖20係一用以對準一用於獲得一透鏡之一波前之干涉儀構造之偵測器之例示性程序的流程圖。在一例示性實施例中，該等攝像機(例如，該成像攝像機38及該科學攝像機34)係在測試一透鏡之前先對準。對準包含將該成像攝像機38之座標系統轉換成該科學攝像機34之座標系統。為了完成對準，選擇在該成像攝像機38中之一影像點且在該科學攝像機34中測定一對應影像點。該成像攝像機38及該科學攝像機34至少在倍率性能上係不同的。再者，該等攝像機在對應影像點之x軸線、y軸線及/或轉動上之各別偏移係不同的。
在一例示性對準程序中，一測試目標(例如，具有已知基準點之目標透鏡)係用以測定在該兩個攝像機之間的關係。圖21顯示一例示性目標透鏡178。該目標透鏡178包含十個同心圓。例示性影像點180之位置為在該x軸線係0而在y軸線上係1。此在圖21中係標示為(0,1)。例示性的影像點182在x軸線上為－2而在y軸線上為0。此在圖21中標示為(－2,0)。為了校正該等偵測器，其係利用與x及y軸線及該等圓圈相交的點。利用該等測試目標，在一例示性程序中係測定五個數值。在步驟166中，其係測定該第一偵測器(例如，該科學攝像機34)之倍率。該科學攝像機之倍率在本文中係稱為ms。在步驟168中係測定該第二偵測器(例如，該成像攝像機38)之倍率。該成像攝像機之倍率在本 文中係稱之為mI 。在步驟170中，測定在該科學攝像機34之x軸線上對應於在該成像攝像機38之x軸零點位置位置的位置。在該科學攝像機34之x軸線上的此一位置在本文中係稱之為x0 。在步驟172中，測定在該科學攝像機34之y軸線上對應於該y軸位置之零點位置的位置。在該科學攝像機34之y軸線上的此一位置在本文中係稱之為y0 。在步驟174中測定該科學攝像機34與該成像攝像機38之間的旋轉角度差值。此一旋轉角度差值在本文中係稱之為θS 。在步驟176中，利用mI 、mS 、x0 、y0 及θS 之測定值，在該成像攝像機38中所測量之該目標透鏡的中心位置係被轉換成在該科學攝像機34中之對應位置。更一般而言，mI 、mS 、x0 、y0 及θS 之數值係用以將該成像攝像機38之座標系統轉換成該科學攝像機34之座標系統。
在一例示性實施例中，針對一對應點，在該科學攝像機34之座標系統中的座標係依照以下公式從該科學攝像機之座標系統中的座標來轉換。
xS ＝(xI *cos θS ＋yI *sin θS )mI /mS ＋x0 (4) yS ＝(－xI *sin θS ＋yI *cos θS )mI /mS ＋y0 ， (5) 其中：xS 代表在該科學攝像機中一對應於在該成像攝像機中之該對應點之x軸位置的x軸位置；yS 代表在該科學攝像機中對應於在該成像攝像機中之該對應點之y軸位置的y軸位置；mS 代表該科學攝像機34之倍率；mI 代表該成像攝像機38之倍率；X0 代表在該成像攝像機38中之x軸零點位置之該科學攝像機34的x軸線上的位置；y0 代表在該成像攝 像機38中之y軸零點位置之該科學攝像機34之y軸線上的位置；及θS 代表在該科學攝像機38與該成像攝像機34之間之旋轉角度差值。
在一例示性實施例中，從該科學攝像機與該成像攝像機獲得之干涉圖係針對該待測試透鏡之一部分而結合成一單一波前。捕捉在該科學攝像機與該成像攝像機兩者處之該等干涉圖案。針對該成像攝像機計算出調變。計算該調變會產生針對由該成像攝像機所捕捉之該干涉圖案的每一像素之一數值。該調變係用以辨識與該透鏡之邊緣相關聯的像素。一橢圓係套入該經識別的像素且測定出該構圓的中心。利用任何適當的(例如，預定的)映像方程式，所測定之中心(其係代表由該成像攝像機所捕捉之該透鏡的中心)被映像至該科學攝像機的中心。由該科學攝像機所捕捉之干涉圖案的適當區域係予以遮蔽而留下該透鏡所要分析的區域。此一所要分析之區域的發射波前係經計算以進一步分析。
在本文中所述之各種不同技術可結合硬體或軟體或若有需要兩者之組合來實現。因此，用於透鏡之發射波前測試之干涉術所使用的方法，或其某些態樣或部分，係可以採用嵌設在實際媒體中之程式碼(亦即，指令)的形式，該實際媒體係諸如軟碟、CD－ROM、硬碟驅動器或任何其他機器可讀取儲存媒體，其中當該程式碼被載入且由一諸如電腦之機器所執行時，該機器會變成一種用於透鏡之發射波前測試之使用干涉術的裝置。
若有需要，該或該等程式能以組合或機器語言來實現。在任一情況中，該語言可以係一種編譯或翻譯語言，並且與硬體實物相結合。用於透鏡發射波前測試之使用干涉術的方法亦可經由以程式碼形式具體實施之通訊來實現，該程式碼係經由某些傳輸媒體所傳輸，諸如經由電線或電纜、經由光纖或經由任何其他形式的傳輸，其中當該程式碼被接收且由一諸如為EPROM、一閘極陣列、一可程式邏輯設備(PLD)、一客戶電腦等等之機器載入且執行時，該機器變成一種使用干涉術來進行透鏡之發射波前測試的裝置。當在一般用途的處理器上實施時，該程式碼與該處理器結合以提供一獨特的裝置，其可操作以造成使用干涉術來進行透鏡之發射波前測試的功能。此外，與使用干涉術進行透鏡之發射波前測試結合使用之任何儲存技術可以同樣係一硬體及軟體的組合。
雖然使用干涉術進行透鏡之發射波前測試已針對各個圖式之例示性實施例來予以說明，然而應瞭解，亦可採用其他類似的實施例，或者針對所述之實施例來進行修飾及附加，以執行使用干涉術進行透鏡之發射波前測試之相同功能，這並不違背本發明之範圍。因此，在本文中所述使用干涉術進行透鏡之發射波前測試不應侷限於任何單一實施例，而是應該依照後附請求項之廣義及範圍來解釋。
12‧‧‧干涉儀構造
14‧‧‧光源
16‧‧‧準直透鏡
18‧‧‧射束分裂器
20‧‧‧鏡面
22‧‧‧基準臂
24‧‧‧射束分裂器
26‧‧‧鏡面
28‧‧‧透明小容器
30‧‧‧垂直測試臂
32‧‧‧成像透鏡
34‧‧‧攝像機
36‧‧‧基準臂
38‧‧‧成像攝像機
40‧‧‧鏡面
42‧‧‧成像透鏡
44‧‧‧基準波前
45‧‧‧射束分裂器
46‧‧‧測試光學件
48‧‧‧測試射束之光徑差(OPDT )
50‧‧‧正測試透鏡
52‧‧‧測試波前
54‧‧‧測試透鏡
56‧‧‧測量波前
58‧‧‧模型化波前
60‧‧‧差異波前
62‧‧‧澤尼克表面
64‧‧‧影像
68‧‧‧區域
82‧‧‧統計區塊
84‧‧‧局部瑕疵
86‧‧‧區域
88‧‧‧區域
90‧‧‧基準記號
92‧‧‧透鏡
94‧‧‧透鏡
96‧‧‧透鏡
100‧‧‧透鏡
102‧‧‧透鏡
104‧‧‧透鏡
106‧‧‧外壁
108‧‧‧外壁
110‧‧‧旋轉台
112‧‧‧透鏡小室
114‧‧‧錐狀壁
116‧‧‧缺口
118‧‧‧窗口
120‧‧‧頂部窗口
122‧‧‧底部窗口
124‧‧‧小間隙
126‧‧‧通道
128‧‧‧窗口
130‧‧‧區域
132‧‧‧馬達
134‧‧‧齒輪箱
136‧‧‧拉緊器滑輪
138‧‧‧滑輪
138‧‧‧透明小容器滑輪
140‧‧‧滑輪
140‧‧‧驅動滑輪
142‧‧‧槽溝式皮帶
144‧‧‧鳩尾榫頭
146‧‧‧XY定位器
148‧‧‧徑向定位器
150‧‧‧鏈輪
151‧‧‧門板
152‧‧‧旗標
154‧‧‧位置感測器
156‧‧‧原點位置旗標
158‧‧‧溫度探針
160‧‧‧引入閥
162‧‧‧排水管
164‧‧‧溢流耦接件
178‧‧‧目標透鏡
180‧‧‧影像點
182‧‧‧影像點
184‧‧‧致動器臂
186‧‧‧夾擠器臂
188‧‧‧連鎖件
當配合後附圖式來閱讀以上的發明內容以及詳細說明時可以獲得更深入之瞭解。為了闡釋使用干涉術來進行透鏡 之發射波前測試，在諸圖式中展示其例示性構造；然而採用干涉術來進行透鏡之發射波前測試並未侷限於所揭示之特定方法及設備。
圖1係一示意圖，其中描示用以獲得一透鏡之一波前的例示性干涉儀構造。
圖2描繪一例示性基準波前之一影像。
圖3描繪發射光徑差且將不當的像素自一正測試透鏡移除。
圖4描繪一測試波前之一例示性影像。
圖5描繪發射通過一測試透鏡之一測量波前的估計。
圖6顯示一測量波前及一用於一校正透鏡之模型化波前。
圖7描繪介於該測量波前與該模型化波前之間之差異的差異波前。
圖8顯示一澤尼克表面及其影像。
圖9顯示一測試透鏡之一局部瑕疵。
圖10顯示一於其中邊紋略呈扁平狀之區域。
圖11顯示在該透鏡周圍中之可能應力或其他變化之瑕疵指示。
圖12顯示針對四個不同透鏡之球狀像差對頻率之標繪圖。
圖13顯示環形透鏡之厚度。
圖14係該透明小容器之截面圖。
圖15係該透明小容器之一部分的擴大截面圖。
圖16描繪一例示性耦接機構。
圖17係一透明小容器定位機構之俯視圖。
圖18係位置旗標及位置感測器之示意圖。
圖19係封閉之透明小容器的示意圖。
圖20係用於對準一用以獲得一透鏡之波前之干涉儀構造之偵測器之例示性程序的流程圖。
圖21係描繪使用於偵測器之對準之例示性目標透鏡。
12‧‧‧干涉儀構造
14‧‧‧光源
16‧‧‧準直透鏡
18‧‧‧射束分裂器
20‧‧‧鏡面
22‧‧‧基準臂
24‧‧‧射束分裂器
26‧‧‧鏡面
28‧‧‧透明小容器
30‧‧‧垂直測試臂
32‧‧‧成像透鏡
34‧‧‧攝像機
36‧‧‧基準臂
38‧‧‧成像攝像機
40‧‧‧鏡面
42‧‧‧成像透鏡

Claims (22)

  1. 一種透明小容器，其經構形以容置複數個眼膜透鏡，該透明小容器包含：一旋轉台，其包含複數個小室，其中：每一小室包含一錐狀壁，其經構形以符合一個沉浸在一溶液中之眼膜透鏡；且該旋轉台係可在該透明小容器中轉動；一第一窗口，其經構形以允許光線進入至一小室；一第二窗口，其形成一小室之一相對置於該第一窗口之表面，該第二窗口經構形以允許該光線離開一小室，其中一小室係可定位以允許光線經由該旋轉台之轉動而被傳播通過該第一窗口及一第二窗口；及一封閉件，其被定位成環繞該旋轉台且經構形以防止溶液從該透明小容器洩漏出來。
  2. 一種透明小容器，其經構形以容置複數個眼膜透鏡，該透明小容器包含：一旋轉台，其包含複數個小室，其中：每一小室經構形以容置一個沉浸在一溶液中之眼膜透鏡，且每一小室包含至少一經構形以允許溶液流經其間到至少一其他小室之通道；且該旋轉台係可在該透明小容器中轉動；一第一窗口，其經構形以允許光線進入至一小室；一第二窗口，其形成一小室之一相對置於該第一窗口之表面，該第二窗口經構形以允許該光線離開一小室， 其中一小室係可定位以允許光線經由該旋轉台之轉動而被傳播通過該第一窗口及一第二窗口；及一封閉件，其被定位成環繞該旋轉台且經構形以防止溶液從該透明小容器洩漏出來。
  3. 如請求項1或2之透明小容器，其進一步包含一耦接機構，其經構形以：將該透明小容器運動式地耦接至一干涉儀；及允許該旋轉台經由該干涉儀而轉動。
  4. 如請求項3之透明小容器，其中該耦接機構包含至少一可耦接至一驅動皮帶之滑輪。
  5. 如請求項4之透明小容器，其中該耦接機構提供該透明小容器與該干涉儀之間之振動隔絕。
  6. 如請求項3之透明小容器，該耦接機構進一步包含：一滑動機構，其經構形以提供：該透明小容器與該干涉儀之耦接；及透明小容器與該干涉儀之初步對準。
  7. 如請求項5之透明小容器，該透明小容器進一步包含：一定位器銷，其經構形以將該透明小容器定位在一平行於該滑動機構之平面中；及一耦接至該定位器銷之彈性臂，該彈性臂經構形以提供一抵抗該定位器銷之徑向力。
  8. 如請求項1或2之透明小容器，其進一步包含：一引入部分，其經構形以允許溶液進入至該透明小容器；及 一排出部分，其經構形以允許溶液離開該透明小容器。
  9. 如請求項1或2之透明小容器，其中該透明小容器係經構形以提供位於其中之一溶液的溫度穩定性。
  10. 如請求項1或2之透明小容器，該透明小容器進一步包含一溫度探針，其經構形以監視位於其中之一溶液之溫度。
  11. 如請求項2之透明小容器，其中每一小室包含一錐狀壁。
  12. 如請求項1或11之透明小容器，其中該錐狀壁係經構形以有助於將一眼膜透鏡放置在該小室中而不會使放置在該小室中之透鏡變形。
  13. 如請求項1之透明小容器，其中每一小室包含至少一經構形以允許溶液流經其間之通道。
  14. 如請求項1或2之透明小容器，其中該封閉件包含聚碳酸酯。
  15. 如請求項1或2之透明小容器，其中該封閉件係不透明。
  16. 如請求項1或2之透明小容器，其中該溶液包含以下至少一者：一含鹽溶液、一緩衝含鹽溶液、去離子水及一包含一有效藥劑成分之溶液。
  17. 如請求項1或2之透明小容器，其中被定位在一介於該第一窗口與該第二窗口之間之小室中的眼膜透鏡係可經由該第一窗口與該第二窗口而看到其全部。
  18. 如請求項1或2之透明小容器，其中一眼膜透鏡當被定位 在一小室中時係不會變形。
  19. 如請求項1或2之透明小容器，其中形成在該溶液中之氣泡無法經由該第一窗口與該第二窗口而看見。
  20. 如請求項1或2之透明小容器，其中複數個小室之第二窗口係共平面。
  21. 如請求項1或2之透明小容器，其中該第一窗口與第二窗口係經構形以維持傳播通過其間之光線的準直性及相干性。
  22. 如請求項1或2之透明小容器，其中該透明小容器係經構形以容納至少一自以下眼膜透鏡之群中選出之眼膜透鏡：一硬式隱形眼鏡、一硬式折射隱形眼鏡、一硬式繞射隱形眼鏡、一硬式混合折射/繞射隱形眼鏡、一軟式隱形眼鏡、一軟式折射隱形眼鏡、一軟式繞射隱形眼鏡、一軟式混合折射/繞射隱形眼鏡、一包含一有效藥劑成分之硬式隱形眼鏡、一包含一有效藥劑成分之軟式隱形眼鏡、一單視透鏡、一環面透鏡、一雙焦隱形眼鏡、一多焦透鏡、一美容有色透鏡、一自由形式透鏡、一眼內透鏡、一眼內折射透鏡、一眼內繞射透鏡、一眼內混合折射/繞射透鏡、一調適透鏡、一眼鏡透鏡、一折射眼鏡透鏡、一繞射眼鏡透鏡、一混合折射/繞射眼鏡透鏡、一包含複數個嵌入材料之複合透鏡、一彩色照相透鏡及一用以製造一透鏡之模具。
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WO (2) WO2008080076A2 (zh)

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8192026B2 (en) 2007-06-20 2012-06-05 Tearscience, Inc. Tear film measurement
US7758190B2 (en) * 2007-06-20 2010-07-20 Tearscience, Inc. Tear film measurement
JP5325481B2 (ja) * 2008-07-02 2013-10-23 オリンパス株式会社 光学素子の測定方法及び光学素子の製造方法
US20100081772A1 (en) * 2008-09-30 2010-04-01 Diana Zanini Process for forming silicone hydrogel articles having improved optical properties
US8470906B2 (en) 2008-09-30 2013-06-25 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Ionic silicone hydrogels having improved hydrolytic stability
US20130203812A1 (en) 2008-09-30 2013-08-08 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Ionic silicone hydrogels comprising pharmaceutical and/or nutriceutical components and having improved hydrolytic stability
US8888286B2 (en) 2009-04-01 2014-11-18 Tearscience, Inc. Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography
US9888839B2 (en) 2009-04-01 2018-02-13 Tearscience, Inc. Methods and apparatuses for determining contact lens intolerance in contact lens wearer patients based on dry eye tear film characteristic analysis and dry eye symptoms
US8915592B2 (en) 2009-04-01 2014-12-23 Tearscience, Inc. Apparatuses and methods of ocular surface interferometry (OSI) employing polarization and subtraction for imaging, processing, and/or displaying an ocular tear film
US9642520B2 (en) 2009-04-01 2017-05-09 Tearscience, Inc. Background reduction apparatuses and methods of ocular surface interferometry (OSI) employing polarization for imaging, processing, and/or displaying an ocular tear film
WO2010115008A1 (en) * 2009-04-01 2010-10-07 Tearscience, Inc. Ocular surface interferometry (osi) devices, systems, and methods for imaging, processing, and/or displaying an ocular tear film and/or measuring ocular tear film layer thickness (es)
CN101667136B (zh) * 2009-09-27 2012-09-05 北京航空航天大学 一种基于前向光线跟踪技术的星图模拟方法
US9522980B2 (en) 2010-05-06 2016-12-20 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Non-reactive, hydrophilic polymers having terminal siloxanes and methods for making and using the same
WO2012001929A1 (ja) * 2010-07-01 2012-01-05 パナソニック株式会社 波面収差測定装置及び波面収差測定方法
EP2619633B1 (en) * 2010-09-25 2023-12-06 IPG Photonics (Canada) Inc. Method of coherent imaging and feedback control for modification of materials
US10124410B2 (en) 2010-09-25 2018-11-13 Ipg Photonics Corporation Methods and systems for coherent imaging and feedback control for modification of materials
US9170349B2 (en) 2011-05-04 2015-10-27 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Medical devices having homogeneous charge density and methods for making same
US20130203813A1 (en) 2011-05-04 2013-08-08 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Medical devices having homogeneous charge density and methods for making same
SG195400A1 (en) * 2012-05-10 2013-12-30 Menicon Singapore Pte Ltd Systems and methods for the inspection of contact lenses
US9244196B2 (en) 2012-05-25 2016-01-26 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Polymers and nanogel materials and methods for making and using the same
US9297929B2 (en) 2012-05-25 2016-03-29 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Contact lenses comprising water soluble N-(2 hydroxyalkyl) (meth)acrylamide polymers or copolymers
US10073192B2 (en) 2012-05-25 2018-09-11 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Polymers and nanogel materials and methods for making and using the same
EP2901127B1 (en) * 2012-09-28 2019-10-23 Novartis AG Method for automated in-line determination of center thickness of an ophthalmic lens
JP6029429B2 (ja) * 2012-11-19 2016-11-24 キヤノン株式会社 波面収差測定方法、波面収差測定装置、及び光学系の製造方法
US9339177B2 (en) 2012-12-21 2016-05-17 Tearscience, Inc. Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography
GB201302095D0 (en) * 2013-02-06 2013-03-20 Optimec Ltd Lens Measurement
DK2972479T3 (da) 2013-03-13 2020-11-30 Ipg Photonics Canada Inc Fremgangsmåder og systemer til beskrivelse af laserbearbejdningsegenskaber ved at måle keyholedynamik ved hjælp af interferometri
CN108670190A (zh) 2013-05-03 2018-10-19 眼泪科学公司 用于对睑板腺进行成像以供睑板腺分析的眼睑照明系统和方法
WO2015036432A1 (en) * 2013-09-11 2015-03-19 Novartis Ag Contact lens inspection system and method
US9795290B2 (en) 2013-11-15 2017-10-24 Tearscience, Inc. Ocular tear film peak detection and stabilization detection systems and methods for determining tear film layer characteristics
JP6602797B2 (ja) * 2014-03-05 2019-11-06 アリゾナ ボード オブ リージェンツ オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティ オブ アリゾナ ウェアラブル３ｄ拡張現実ディスプレイ
US9995570B2 (en) * 2014-08-28 2018-06-12 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. In-line inspection of ophthalmic device with auto-alignment system and interferometer
ES2887113T3 (es) * 2014-11-11 2021-12-21 Holden Brien Vision Inst Sistemas y métodos para determinar la calidad de un dispositivo óptico reproducido (fabricado)
EP3224591B1 (en) * 2014-11-25 2020-04-22 Alcon Inc. Cuvette system and methods for the inspection of ophthalmic lenses
US10302528B2 (en) 2015-01-28 2019-05-28 The United States Of America, As Represented By The Secretary, Department Of Health And Human Services Confocal laser method and device for measurement of optical properties of toric intraocular lenses
US10136120B2 (en) 2016-04-15 2018-11-20 Microsoft Technology Licensing, Llc Depth sensing using structured illumination
CN106018432A (zh) * 2016-05-10 2016-10-12 长春博信光电子有限公司 大尺寸光学镜片表面质量检测方法及系统
KR102495782B1 (ko) * 2016-08-15 2023-02-06 아리조나 보드 오브 리전츠 온 비해프 오브 더 유니버시티 오브 아리조나 3d 프린트된 루네부르크 렌즈를 사용하는 새로운 차량 레이더
US20190281936A1 (en) * 2018-03-14 2019-09-19 Menicon Co. Ltd. Contact lens container with biomarker detection
SG10201803290VA (en) * 2018-04-19 2019-11-28 Emage Vision Pte Ltd System and method for inspecting optical power and thickness of ophthalmic lenses immersed in a solution
ES2736038B2 (es) * 2018-06-22 2021-04-06 Univ Burgos Dispositivo para la deteccion y medida de al menos un analito en medio acuoso y procedimiento de utilizacion del mismo
US11143503B2 (en) * 2018-08-07 2021-10-12 Kimball Electronics Indiana, Inc. Interferometric waviness detection systems
CN111122568B (zh) 2018-11-01 2022-04-22 华中科技大学苏州脑空间信息研究院 一种高通量光学层析成像方法及成像系统
CA3123038A1 (en) 2018-12-19 2020-06-25 Ipg Photonics Corporation Monitoring material processing using imaging signal density determined from inline coherent imaging (ici)
AU2020206481A1 (en) 2019-01-10 2021-08-05 6 Over 6 Vision Ltd. Apparatus, system, and method of determining one or more parameters of a lens
US10848744B2 (en) 2019-02-27 2020-11-24 Ford Global Technologies, Llc Vehicle camera alignment
CN110118646B (zh) * 2019-06-04 2021-02-26 大连鉴影光学科技有限公司 一种基于合成莫尔条纹技术的眼镜参数检测装置和方法
US11585723B2 (en) * 2019-12-18 2023-02-21 Alcon Inc. Cuvette for optical lens analyses
US11861823B2 (en) * 2021-04-27 2024-01-02 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Microfluidic device and method for quantifying contact lens deposition
CN114199522A (zh) * 2021-11-30 2022-03-18 宁波法里奥光学科技发展有限公司 一种光学镜片参数测量装置及方法

Family Cites Families (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3606997A (en) * 1968-07-01 1971-09-21 Dole Eng Co James Preserving products in sealed containers
US3555284A (en) * 1968-12-18 1971-01-12 Norman G Anderson Multistation, single channel analytical photometer and method of use
US3942952A (en) * 1974-08-22 1976-03-09 The Perkin-Elmer Corporation Sample platter moisturizing system
JPS5630650A (en) * 1979-08-22 1981-03-27 Hitachi Ltd Automatic chemical analyzer
US4347000A (en) * 1979-12-26 1982-08-31 The Perkin-Elmer Corporation Interferometric system
CA1233976A (en) 1985-04-17 1988-03-15 Jacob G. Sivak Method and apparatus for in vitro evaluation of focal length and focal length changes in lenses from human and animals eyes
US5151752A (en) * 1988-06-16 1992-09-29 Asahi Kogaku Kogyo K.K. Method of measuring refractive indices of lens and sample liquid
JP2678463B2 (ja) * 1988-06-16 1997-11-17 旭光学工業株式会社 屈折率測定方法
ES2085854T3 (es) * 1988-08-02 1996-06-16 Abbott Lab Metodo y dispositivo de produccion de datos de calibrado para analisis.
CH676656A5 (zh) 1988-09-07 1991-02-28 Fritz Dr Med Bieri
AU642768B2 (en) * 1990-10-02 1993-10-28 Ciba-Geigy Ag A method of surface-cleaning and/or sterilising optical components, especially contact lenses
WO1993009441A1 (en) * 1991-10-31 1993-05-13 Baxter Diagnostics Inc. Specimen processing and analyzing systems with associated fluid dispensing apparatus
JP2890082B2 (ja) * 1991-12-27 1999-05-10 信越半導体株式会社 ウエーハの検査方法及び装置
GR1002789B (el) 1992-12-21 1997-10-17 Johnson & Johnson Vision Products Inc. Μια συσκευη για την μεταφορα οφθαλμικων φακων.
NZ250042A (en) * 1992-12-21 1997-01-29 Johnson & Johnson Vision Prod Robotic inspection of ophthalmic lenses
CA2169141A1 (en) * 1995-04-07 1996-10-08 Ivan Prikryl Interferometer having a micromirror
JPH09288040A (ja) * 1996-04-19 1997-11-04 Topcon Corp レンズメータ
US5818573A (en) * 1997-02-06 1998-10-06 Pbh, Inc. Opthalmic lens inspection system
JPH10268200A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 干渉顕微鏡装置
JPH1137937A (ja) * 1997-07-17 1999-02-12 Ricoh Co Ltd 屈折率分布の測定装置及び該装置を用いた屈折率分布の測定方法
US6047082A (en) 1997-11-14 2000-04-04 Wesley Jessen Corporation Automatic lens inspection system
US5963318A (en) * 1998-08-07 1999-10-05 Bio-Tek Holdings, Inc. Method of and apparatus for performing fixed pathlength vertical photometry
JP3913407B2 (ja) * 1999-07-09 2007-05-09 株式会社リコー 屈折率分布の測定装置及び方法
CN1364231A (zh) * 2000-01-14 2002-08-14 庄臣及庄臣视力保护公司 在溶液中测量接触透镜的背面曲率半径和中心材料厚度
JP3730831B2 (ja) * 2000-03-31 2006-01-05 パイオニア株式会社 収差測定装置及び調整装置
JP2001304826A (ja) 2000-04-24 2001-10-31 Ricoh Co Ltd ３次元形状測定装置
JP2002005619A (ja) 2000-06-21 2002-01-09 Olympus Optical Co Ltd 干渉測定方法、装置及びその方法またはその装置により測定された物
US6924898B2 (en) 2000-08-08 2005-08-02 Zygo Corporation Phase-shifting interferometry method and system
JP2002206915A (ja) 2001-01-09 2002-07-26 Nikon Corp 面形状測定装置の横座標較正方法および面形状測定装置
US6626535B2 (en) * 2000-12-29 2003-09-30 Bausch & Lomb Incorporated Lens-eye model and method for predicting in-vivo lens performance
DE60204495T2 (de) * 2001-02-09 2006-03-16 Hoya Corp. Linsenmesser zur Messung der Eigenschaft eines Brillenglases oder einer Kontaktlinse
US6765661B2 (en) * 2001-03-09 2004-07-20 Novartis Ag Lens inspection
US6909503B2 (en) * 2001-08-17 2005-06-21 Novartis Ag Cuvette for lens inspection
JP2003098040A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Ricoh Co Ltd 光学系評価装置および方法
US7256881B2 (en) 2002-02-15 2007-08-14 Coopervision, Inc. Systems and methods for inspection of ophthalmic lenses
US7218403B2 (en) * 2002-06-26 2007-05-15 Zygo Corporation Scanning interferometer for aspheric surfaces and wavefronts
JP3827619B2 (ja) * 2002-07-11 2006-09-27 株式会社トプコン 眼鏡レンズの光学特性測定方法及びレンズメータ
JP2004045288A (ja) * 2002-07-12 2004-02-12 Nippon Sheet Glass Co Ltd レンズ測定装置
JP4185859B2 (ja) 2003-12-19 2008-11-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US7142311B2 (en) * 2004-05-18 2006-11-28 Zygo Corporation Methods and systems for determining optical properties using low-coherence interference signals
JP2005345288A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Olympus Corp マッハツェンダー干渉計及びマッハツェンダー干渉計による光学素子の検査方法

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