TWI431618B - 校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置及方法、校正長距離碼之錯誤校正裝置及方法 - Google Patents

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Description

校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置及方法、校正長距離碼之錯誤校正裝置及方法
本發明有關於錯誤(error)校正(correction)方法以及錯誤校正裝置，特別地，有關於一種校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置及方法、校正長距離碼之錯誤校正裝置及方法。
在儲存系統(例如，光碟驅動)中，存在很多錯誤類型，這樣就需要功能強大的(strong)錯誤校正碼結構。一些儲存系統使用多層錯誤校正碼(Multiplayer Error Correcting Codes,MLECC)以具有很強的錯誤校正能力。例如，CD系統具有兩層錯誤校正碼，C1以及C2。其中，C1用於校正一些隨機錯誤。抹除旗標(erasure flag)指示在C1碼中不可校正的位元組。當C2用於解碼時，在不可校正的C1碼中的位元組可以成為C2碼中的具有可抹除旗標的位元組。透過這種方式，抹除旗標就可以提高C2的錯誤校正能力。
相似地，DVD系統具有PI/PO碼。PI碼用於校正一些隨機錯誤。抹除旗標指示在PI碼中不可校正的位元組。當PO碼用於解碼時，在不可校正的PI碼中的位元組，可以成為PO碼中的具有抹除旗標的位元組。透過這種方式，抹除旗標就可以提高PO碼的錯誤校正能力。
儘管如此，在PO碼中仍然存在不可校正的位元組。抹除旗標可以指示在PO碼中不可校正的位元組。在此情況下，採用PI/PO遞迴(recursive)解碼流程。在PO碼中的不可校正的位元組可成為PI碼中的具有抹除旗標的位元組。在PI碼工作後，抹除旗標可以指示PI碼中沒有被PI碼校正的位元組。然後，PO碼用於解碼，在不可校正的PI碼中的位元組可成為PO碼中的具有抹除旗標的位元組。這樣的遞迴解碼過程可重複多次，以及提高系統解碼能力。第1圖為先前技術的BD系統錯誤校正碼(Error Correcting Codes,ECC)叢集(cluster)架構的示意圖。如第1圖所示，在BD(藍光光碟，例如blu-ray disc)系統中，ECC叢集由長距離碼(Long Distance Code,LDC)以及叢發指示子碼(Burst Indication Subcode,BIS)構建。BIS碼很少是不可校正的。雖然BD系統不使用MLECC，BD系統可看作是多碼系統。如果BIS位元組為有錯誤而且已校正的，那麼BIS抹除旗標就可指示已校正BIS位元組。用於LDC位元組的LDC抹除旗標將根據相鄰的BIS位元組，由BIS抹除旗標的統計而產生。然後，LDC碼根據LDC位元組內容以及LDC抹除旗標而解碼。自BIS產生LDC抹除旗標的過程提高了錯誤校正能力。
第2圖為先前技術的BD系統的錯誤校正運作的流程圖。該運作流程包含：步驟201：開始。
步驟203：接收BIS抹除旗標。
步驟205：實施LDC解碼(即，LDC碼錯誤校正，對LDC碼實施錯誤校正)。
步驟207：確定是否解碼完成。如果是，轉到步驟209。如果否，則轉到步驟211。
步驟209：結束。
步驟211：解碼失敗。
儘管如此，在BD系統中很難像DVD系統進行遞迴解碼過程，因為BD系統不是MLECC系統。相應地，不可能透過遞迴解碼運作提高錯誤校正能力。
有鑑於此，本發明提供一種校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置及方法、校正長距離碼之錯誤校正裝置及方法。
本發明提供一種校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，該第一錯誤校正碼來自一儲存單元，該方法包含：(a)根據校正該第一錯誤校正碼的錯誤產生的一校正結果，標記該第一錯誤校正碼的至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊；以及(b)根據該第一錯誤校正參考資訊標記該第一錯誤校正碼的至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊。
本發明再提供一種校正長距離碼之錯誤校正方法，該長距離碼來 自一儲存單元，該方法包含：(a)根據校正該長距離碼的錯誤產生的一校正結果，標記該長距離碼的至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊；以及(b)根據該第一錯誤校正參考資訊標記該長距離碼的至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊；以及(c)根據該第二錯誤校正參考資訊，校正該長距離碼之一部分，其中，該長距離碼之一部分包含步驟(a)沒有校正之錯誤。
本發明另提供一種校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該第一錯誤校正碼來自於一儲存單元，該裝置包含：一錯誤校正單元，用於實施一第一錯誤校正運作，以校正該第一錯誤校正碼之錯誤；以及一第一錯誤校正參考資訊產生器，用於根據該第一錯誤校正運作，標記該第一錯誤校正碼之至少一第一部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊；以及用於根據該第一錯誤校正參考資訊標記該第一錯誤校正碼之至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊。
本發明另提供一種校正長距離碼之錯誤校正裝置，該長距離碼來自一儲存單元，該裝置包含：一錯誤校正單元，用於實施一第一錯誤校正運作，以校正該長距離碼之錯誤；以及一錯誤校正參考資訊產生器，用於根據該第一錯誤校正運作標記該長距離碼之至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊；以及根據該第一錯誤校正參考資訊標記該長距離碼之至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊；其中，該錯誤校正單元進一步實施一第二錯誤校正運作以校正該長距離碼之一部分，該長距離碼之一部分包含該第一錯誤校正運作 沒有校正的錯誤。
本發明提供的校正第一錯誤校正碼的錯誤校正裝置及方法、校正長距離碼的錯誤校正裝置及方法，透過遞迴解碼運作，提高了錯誤校正能力。
在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的“包括”和“包含”係為一開放式的用語，故應解釋成“包含但不限定於”。以外，“耦接”一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段。間接的電氣連接手段包括通過其它裝置進行連接。
第3-7圖為根據本發明的一個實施例的錯誤校正方法的示意圖。如第3圖所示，ECC叢集(例如，LDC叢集)30包含多個ECC碼300(例如，LDC碼)，ECC碼300(第3圖所示的一行為一個ECC碼)包含多個碼單元301(例如，位元組)(第3圖所示的一格)。對ECC碼(例如，LDC碼)的碼單元301實施錯誤校正，以產生第一錯誤校正參考資訊，而碼單元301的第一部分由錯誤符號“*”，例如原始LDC抹除旗標(raw LDC erasure flag)來標記。在BD系統中，這樣的錯誤校正運作可以在BIS碼的錯誤校正運作之後實施。可替換地，這樣的錯誤校正運作可以在不先實施BIS碼錯誤校正直接對ECC碼(例如，LDC碼)實施錯誤校正運作。在一個實施例中，有錯誤但是已校正的碼單元可以被標記為錯誤符號。儘管如此，不同的設定需求可使用標記的不同標準。在此實施例中，提供決定窗口DW(determination window)以確定錯誤密度。在一個實施例中，根據由錯誤符號“*”標記的碼單元的數量(例如，在決定窗口DW中的已標記碼單元的數量)計算錯誤密度，換言之，根據決定窗口DW中有錯誤但是沒有校正(被標記為錯誤符號)的碼單元的數量計算錯誤密度，然本發明不以此為限，所屬領域技術人員可以理解，決定窗口中已標記碼單元的數量也可以作為一個參數，例如作為錯誤數量。儘管如此，不同的設定需求可以使用錯誤密度的不同定義。在一個實施例中，在決定窗口DW中錯誤符號越多，那麼錯誤密度就越高。除此之外，提供標記窗口MW(marked window)，以產生第二錯誤校正參考資訊。當決定窗口DW中的錯誤密度比一個門檻值高時，ECC碼300的第二部分(例如在標記窗口MW中的碼單元)由標記符號“#”(例如，LDC抹除旗標)標記。在此實施例中，錯誤密度用作標記符號做標記的標準。儘管如此，不同的設定需求可以使用做標記的其它標準，例如，連續錯誤符號的數量，錯誤符號的分佈樣態(pattern)等等。門檻值、決定窗口DW的大小以及標記窗口MW的大小都是可以調整的。也就是說，依據不同的設定需求，用於不同處理的決定窗口DW以及標記窗口MW具有不同的門檻值以及大小。標記窗口MW可以與決定窗口DW相同，標記窗口MW可以包含在決定窗口DW中，或者標記窗口MW可以包含決定窗口DW。而且，如何在標記窗口(例如上述實施例中的標記窗口MW、決定窗口DW)中標記碼單元，可以因為不同的情況而有變化。應當注意到，在此實施例中，使用錯誤符號做標記以及使用標記符號做標記可以對同樣的ECC碼300實施。
在如第3圖所示的實施例中，標記窗口MW與決定窗口DW相同，當該錯誤密度不小於一門檻值時(若採用錯誤數量作為參數，對應的不同決定窗口，則門檻值可以作適當調整，並且，不同的設定需求下，以錯誤數量為參數的條件下，相應的門檻值有所不同)，在標記窗口MW中，標記多個碼單元之至少一者，舉例而言，當決定窗口DW的錯誤密度比門檻值(例如2/3)高時，在標記窗口MW中，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元，或者標記兩個具有錯誤符號“*”的碼單元之間的碼單元(換言之，標記兩個有錯誤但是已校正的碼單元之間的碼單元)。在使用參數錯誤數量的情況下，上述標記過程則記作：當決定窗口DW的錯誤數量比門檻值(例如2/3決定窗口的大小)高時，在標記窗口MW中，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元，或者標記兩個具有錯誤符號“*”的碼單元之間的碼單元(換言之，標記兩個有錯誤但是已校正的碼單元之間的碼單元)。請注意，圖中為使用標記符號標記兩個具有錯誤符號“*”的碼單元之間的碼單元，然本發明不以圖示為限。在第4圖的實施例中，標記窗口MW以及決定窗口DW相同。在此實施例中標記窗口MW以及決定窗口為一維(dimensional)。在標記窗口MW中，當決定窗口DW的錯誤密度比門檻值高時，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元，或者標記兩個具有錯誤符號“*”的碼單元之間的碼單元。除此之外，在如第5圖的實施例中，標記窗口MW也與決定窗口DW相同。儘管如此，窗口也可以為二維，而不是如第4圖所示的一維。在標記窗口MW中，當決定窗口DW的錯誤密度比門檻值高時，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元，或者標記兩個具有錯誤符號“*”的碼單元之間的碼單元。另外，在第6圖的實施例中，標記窗口MW包含在決定窗口DW中。在標記窗口MW中，當決定窗口DW的錯誤密度比門檻值高時，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元。雖然決定窗口DW以及標記窗口MW在此實施例中為二維，但是決定窗口DW以及標記窗口MW的任何一者或者兩者都可以為一維。進一步說，在第7圖所示的實施例中，決定窗口DW包含在標記窗口MW中。在標記窗口MW中，當決定窗口DW的錯誤密度比門檻值高時，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元。雖然決定窗口DW以及標記窗口MW在此實施例中為二維，但是決定窗口DW以及標記窗口MW的任何一者或者兩者都可以為一維。除此之外，雖然在第6圖以及第7圖的實施例中，標記窗口MW完全包含在決定窗口DW中，或者決定窗口DW完全包含在標記窗口MW中，但是標記窗口MW以及決定窗口DW可以為部分重疊的。也就是說，標記窗口MW的至少一部分包含在決定窗口DW中，或者決定窗口DW的至少一部分包含在標記窗口MW中。
在ECC碼300由標記符號“#”(例如，LDC抹除旗標)標記後，根據第二錯誤校正參考資訊(例如為LDC抹除旗標)再次實施錯誤校正。以使用標記符號標記兩個具有錯誤符號的碼單元之間的碼單元為例，在一些實施例中，因為很少的碼單元由錯誤符號“*”標記，所以也可能沒有由標記符號“#”標記的碼單元。儘管如此，也可以再次實施錯誤校正。除此之外，具有LDC抹除旗標的碼單元可以看作是在第一LDC碼錯誤校正中沒有校正的碼單元(例如，使用標記符號標記不包含錯誤符號的一個或者多個碼單元的情況)。因此，第二LDC碼錯誤校正，可以看作是對具有在第一LDC碼錯誤校正中沒有校正的錯誤的碼單元的錯誤校正運作。除此之外，第二錯誤校正的結果，可以用到更新第一錯誤校正參考資訊，以產生已更新第一錯誤校正參考資訊。然後，可以根據已更新第一錯誤校正參考資訊，更新第二錯誤校正參考資訊，以產生已更新第二錯誤校正參考資訊。以及可以根據已更新第二錯誤校正參考資訊再次實施錯誤校正。
根據上述描述，根據本發明的錯誤校正方法(或者稱為ECC解碼方法)可以總結如下：(a)根據校正ECC碼的錯誤產生的校正結果，標記ECC碼的至少一第一部分，以產生第一錯誤校正參考資訊，例如使用原始LDC抹除旗標(符號“*”)；(b)根據第一錯誤校正參考資訊標記ECC碼的至少一第二部分，以產生第二錯誤校正參考資訊，例如使用LDC抹除旗標(符號“#”)。ECC叢集(此實施例中，以LDC叢集作為ECC叢集)包含多個ECC碼或碼字(此實施例中，以LDC碼字作為ECC碼)，ECC碼包含多個碼單元(此實施例中，以符號作為碼單元)，其中，ECC碼包含多個符號。碼字可以也可以包含資料符號以及同位符號。碼字可以由位元組組成。
在一個實施例中，錯誤校正方法可以進一步包含：在步驟(a)前，校正第二ECC碼(例如，BIS碼)的錯誤。然後，在步驟(a)中校正ECC碼(例如，LDC碼)的錯誤，可以根據該第二ECC碼的校正結果實施。例如，校正第二ECC碼(例如，BIS碼)的錯誤可以產生第三錯誤校正參考資訊，例如，BIS抹除旗標。進一步說，根據該第三錯誤校正參考資訊(例如，BIS抹除旗標)可以產生用於ECC碼(例如，LDC碼)的第四錯誤校正參考資訊(例如，LDC抹除旗標)。然後在步驟(a)中校正ECC碼(例如，LDC碼)的錯誤可以參考第四錯誤校正參考資訊(例如，LDC抹除旗標)或者第三錯誤校正參考資訊(例如，BIS抹除旗標)實施。
可替換地，根據本發明的一個實施例的錯誤校正方法可以總結如下：(a)根據校正ECC碼的錯誤所產生的校正結果，標記該ECC碼的至少一第一部分，以產生第一錯誤校正參考資訊；(b)根據第一錯誤校正參考資訊標記ECC碼的至少一第二部分，以產生第二錯誤校正參考資訊；(c)根據第二錯誤校正參考資訊，校正ECC碼，其中，ECC碼中包含在步驟(a)中沒有校正的錯誤。
應當注意到，“標記”在此處不限於使用實際(real)的符號去標記碼單元。也可以意味著記錄碼單元的位址，以及類似這樣的運作可以指示“標記”運作。
第8-9圖為根據本發明的實施例的錯誤校正方法的詳細流程圖。請注意，下面的步驟僅為用於示例說明，然本發明不以此為限。
如第8圖所示，錯誤校正方法包含：
步驟801：開始。
步驟803：實施ECC解碼(例如，BIS碼錯誤校正以及/或者LDC碼錯誤校正)。
步驟805：確定是否解碼完成。如果是，轉到步驟807。如果否，轉到步驟809。
步驟807：結束。
步驟809：是否處理時間超過一個門檻值？(圖中記作：是否超時？)如果是，則轉到步驟811。如果否，轉到步驟813。
步驟811：解碼失敗。
步驟813：產生LDC抹除旗標抹除。其中，根據決定窗口W以及門檻值th，產生LDC抹除旗標。用於產生LDC抹除旗標的詳細運作可以包含，但是不限於第3-7圖的運作。在LDC抹除旗標產生之後。轉到步驟803，然後根據LDC抹除旗標再次實施LDC錯誤校正。
根據本發明的實施例的錯誤校正運作可以遞迴地實施。也就是說，在用於產生原始LDC抹除旗標的第一LDC碼錯誤校正後，以及透過利用自原始LDC抹除旗標產生的LDC抹除旗標，對仍然有錯誤的碼單元的第二LDC碼錯誤校正後，可以利用LDC抹除旗標對仍然有錯誤的碼單元，實施第三LDC碼錯誤校正。LDC抹除旗標相應地可以更新。
第9圖揭示了遞迴錯誤校正步驟。如第9圖所揭示的根據本發明的錯誤校正方法包含：
步驟901：開始。
步驟903：實施ECC解碼(例如，BIS碼錯誤校正以及/或者LDC碼錯誤校正)。
步驟905：確定是否解碼完成。如果是，轉到步驟907。如果否，轉到步驟909。
步驟907：結束。
步驟909：是否處理時間超過一個門檻值?(圖中記作：是否超時?)如果是，轉到步驟911。如果否，轉到步驟913。
步驟911：解碼失敗。
步驟913：更新LDC抹除旗標。在LDC抹除旗標更新之後。轉到步驟903，以及根據LDC抹除旗標再次實施LDC碼錯誤校正。在此情況下，對具有錯誤的碼單元實施LDC碼錯誤校正，其中，碼單元具有的錯誤為前一個步驟903沒有校正的錯誤。換言之，對具有錯誤的碼單元實施LDC碼錯誤校正就為對於沒有解決(no solution)的碼實施解碼。
步驟903、步驟905、步驟909以及步驟913可以遞迴地實施，直到碼單元中的所有錯誤都校正。透過這樣的運作，可以提高解碼效能。
應當注意到，本發明不限於對LDC碼遞迴地實施錯誤校正運作。本發明的一個實施例可以包含：產生原始LDC抹除旗標，根據原始LDC抹除旗標產生LDC抹除旗標，根據LDC抹除旗標實施LDC錯誤校正；然後實施BIS碼錯誤校正，根據BIS碼錯誤校正的校正結果，更新LDC抹除旗標，然後根據已更新LDC抹除旗標實施LDC碼錯誤校正，這樣的變形也落入本發明的保護範圍。
第10圖為第8圖中的產生LDC抹除旗標的詳細步驟的流程圖。第10圖包含如下步驟：
步驟1001：以ECC碼的邏輯順序提供原始LDC抹除旗標。
步驟1003：將原始LDC抹除旗標轉換(Translate)為ECC碼的實體順序。
步驟1005：以ECC碼的實體順序產生LDC抹除旗標。其中，根據決定窗口W以及門檻值th，產生LDC抹除旗標。
步驟1007：將LDC抹除旗標轉換為ECC碼的邏輯順序。
詞彙“實體順序”意味著位元組或者碼單元在儲存系統(例如，碟片)上安排的實際順序。詞彙“邏輯順序”指示出ECC編碼的順序。透過該編碼順序，屬於同一個LDC的位元組可以整合到同一組。使用決定窗口W以及門檻值th產生的LDC抹除旗標可以任何順序產生，從而用於碼單元。在較佳實施例中，既然以實體順序的相鄰位元組傾向於具有叢發(burst)錯誤，LDC抹除旗標可以實體順序產生，從而用於碼單元。
第11圖給出了第9圖的更新LDC抹除旗標的步驟的詳細步驟的流程圖。除了更新LDC抹除旗標，這些步驟也應用到產生LDC抹除旗標。第11圖包含如下步驟：
步驟1101：接收錯誤碼單元的邏輯位置(圖中記作：接收邏輯錯誤位置)。
步驟1103：將邏輯位置轉換為實體位置，其中，錯誤碼單元的邏輯位置也相應轉換為實體位置(圖中記作：錯誤位置轉換)。
步驟1105：獲取錯誤碼單元的實體位置(圖中記作：獲取實體錯誤位置)。
步驟1107：根據步驟1105的實體位置以及其它抹除源(例如原始LDC抹除旗標以及/或者BIS抹除旗標)，產生LDC抹除旗標，以及產生相關LDC抹除資訊。這樣就更新了LDC抹除旗標。
步驟1109：產生包含錯誤定位的LDC抹除表(圖中記作：產生LDC抹除表)。
與先前技術相比，自LDC碼產生的抹除表比自BIS碼產生的抹除表更為精確，因為BIS碼的數量比LDC碼少。除此之外，在一些實施例中，步驟1103以及步驟1105可以合併，步驟1107以及1109可以合併。
第12圖為根據本發明的一個實施例的，錯誤校正裝置1200的方塊示意圖。如第12圖所示，錯誤校正裝置1200包含錯誤校正單元1201(在此實施例中例如為解碼器)以及錯誤校正參考資訊產生器1203(在此實施例中例如為LDC抹除旗標產生單元)。錯誤校正單元1201實施錯誤校正運作以校正ECC碼的錯誤。根據錯誤校正運作的結果，錯誤校正參考資訊產生器1203標記ECC碼的至少一第一部分，以產生第一錯誤校正參考資訊(例如，原始LDC抹除旗標)。錯誤校正參考資訊產生器1203進一步根據第一錯誤校正參考資訊標記ECC碼的至少一第二部分，以產生第二錯誤校正參考資訊(例如，LDC抹除旗標)。在另一個實施例中，根據第二錯誤校正參考資訊，錯誤校正單元1201進一步實施錯誤校正運作，以校正ECC碼的一部分，其中，該ECC碼的一部分包含在前一錯誤校正運作中沒有校正的錯誤。
在此實施例中，產生自錯誤校正參考資訊產生器1203的LDC抹除旗標進一步傳輸給控制器1205，其中，控制器1205控制錯誤校正單元1201的運作，以及控制器1205控制儲存單元1207傳輸ECC碼。在此實施例中，儲存單元1207可以為BD或者DRAM，以及儲存單元1207也自錯誤校正單元1201接收錯誤已校正ECC碼(例如，已解碼ECC碼)。儘管在此實施例中，由錯誤校正參考資訊產生器1203產生第一錯誤校正參考資訊，但是也可以由錯誤校正單元1201產生第一錯誤校正參考資訊。應當注意到，第12圖揭示的結構僅為示例，然不應理解為對本發明的限制。
除此之外，上述實施例不僅限於應用到BD系統中。例如，上述實施例可以應用到只有一個碼(例如，LDC碼)的光碟中。
根據上述描述，遞迴錯誤校正運作，可以對僅具有一個錯誤校正碼或者MLECC的儲存單元實施，這樣，就可以提高錯誤校正效能。任何熟習此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做些許的更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視所附之申請專利範圍所界定者為準。
201--211、801--811、901--913、1001--1007、1101--1109．．．步驟
30．．．ECC叢集
300．．．ECC碼
301．．．碼單元
1200．．．錯誤校正裝置
1201．．．錯誤校正單元
1203．．．錯誤校正參考資訊產生器
1205．．．控制器
1207．．．儲存單元
DW．．．決定窗口
MW．．．標記窗口
W．．．決定窗口
th．．．門檻值
第1圖為先前技術的BD系統ECC叢集架構的示意圖。
第2圖為先前技術的BD系統的錯誤校正運作的流程圖。
第3-7圖為根據本發明的一個實施例的錯誤校正方法的示意圖。
第8-9圖為根據本發明的實施例的錯誤校正方法的詳細流程圖。
第10圖為第8圖中的產生LDC抹除旗標的詳細步驟的流程圖。
第11圖給出了第9圖的更新LDC抹除旗標的步驟的詳細步驟的流程圖。
第12圖為根據本發明的一個實施例的，錯誤校正裝置的方塊示意圖。
1200．．．錯誤校正裝置
1201．．．錯誤校正單元
1203．．．錯誤校正參考資訊產生器
1205．．．控制器
1207．．．儲存單元

Claims (50)

  1. 一種校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中該第一錯誤校正碼來自一儲存單元，該方法包含：(a)根據校正該第一錯誤校正碼的錯誤產生的一校正結果，標記該第一錯誤校正碼的至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊；以及(b)根據該第一錯誤校正參考資訊，標記該第一錯誤校正碼的至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，該儲存單元為一藍光光碟以及該第一錯誤校正碼為長距離碼。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，進一步包含：(c)根據該第二錯誤校正參考資訊，校正該第一錯誤校正碼的錯誤。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，步驟(c)包含校正該第一錯誤校正碼的一部分，其中，該第一錯誤校正碼的一部分包含沒有校正的錯誤。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，進一步包含： 根據步驟(c)的一結果，更新該第一錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第一錯誤校正參考資訊；根據該已更新第一錯誤校正參考資訊，更新該第二錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第二錯誤校正參考資訊；以及根據該已更新第二錯誤校正參考資訊，校正該第一錯誤校正碼。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，該第一錯誤校正碼包含多個碼單元，以及在步驟(a)標記該多個碼單元中有錯誤但是已校正的碼單元。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，根據一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量，計算一錯誤密度，當該錯誤密度不小於一門檻值時，步驟(b)標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量作為錯誤數量，當該錯誤數量不小於一門檻值時，步驟(b)標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  9. 如申請專利範圍第7或8項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，該門檻值、該決定窗口以及該標記窗口是可調整的。
  10. 如申請專利範圍第7或8項所述之校正第一錯誤校正碼之錯 誤校正方法，其中，步驟(b)標記兩個有錯誤但是已校正的碼單元之間的一碼單元。
  11. 如申請專利範圍第7或8項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，該標記窗口與該決定窗口相同。
  12. 如申請專利範圍第7或8項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，該標記窗口的至少一部分包含在該決定窗口中或者該決定窗口的至少一部分包含在該標記窗口中。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，步驟(b)以該第一錯誤校正碼的實體順序實施。
  14. 如申請專利範圍第1項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，進一步包含：(d)在該步驟(a)前，校正一第二錯誤校正碼之錯誤，其中，步驟(a)中校正該第一錯誤校正碼之錯誤為根據步驟(d)的一結果實施。
  15. 一種校正長距離碼之錯誤校正方法，該長距離碼來自一儲存單元，該方法包含：(a)根據校正該長距離碼的錯誤產生的一校正結果，標記該長距離碼的至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊；以及(b)根據該第一錯誤校正參考資訊標記該長距離碼的至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊；以及 (c)根據該第二錯誤校正參考資訊，校正該長距離碼之一部分，其中，該長距離碼之一部分包含步驟(a)沒有校正之錯誤。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，進一步包含：根據步驟(c)的一結果，更新該第一錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第一錯誤校正參考資訊；根據該已更新第一錯誤校正參考資訊，更新該第二錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第二錯誤校正參考資訊；以及根據該已更新第二錯誤校正參考資訊，校正該長距離碼。
  17. 如申請專利範圍第15項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，步驟(b)以該長距離碼的實體順序實施。
  18. 如申請專利範圍第15項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，該長距離碼包含多個碼單元，以及在步驟(a)標記該多個碼單元中已校正的碼單元。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，根據一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量，計算一錯誤密度，當該錯誤密度不小於一門檻值時，步驟(b)標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正方法，其中，一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量作 為錯誤數量，當該錯誤數量不小於一門檻值時，步驟(b)標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  21. 如申請專利範圍第19或者20項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，該門檻值、該決定窗口以及該標記窗口是可調整的。
  22. 如申請專利範圍第19或20項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，步驟(b)標記兩個有錯誤但是已校正的碼單元之間的一碼單元。
  23. 如申請專利範圍第19或20項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，該標記窗口與該決定窗口相同。
  24. 如申請專利範圍第19或20項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，其中，該標記窗口的至少一部分包含在該決定窗口中或者該決定窗口的至少一部分包含在該標記窗口中。
  25. 如申請專利範圍第15項所述之校正長距離碼之錯誤校正方法，進一步包含：(d)在該步驟(a)前，校正一叢發指示子碼之錯誤，其中，步驟(a)中校正該長距離碼之錯誤為根據步驟(d)的一結果實施。
  26. 一種校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該第一錯誤校正碼來自於一儲存單元，該裝置包含： 一錯誤校正單元，用於實施一第一錯誤校正運作，以校正該第一錯誤校正碼之錯誤；以及一錯誤校正參考資訊產生器，用於根據該第一錯誤校正運作，標記該第一錯誤校正碼之至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊；以及用於根據該第一錯誤校正參考資訊標記該第一錯誤校正碼之至少一第二部分，以產生一第二錯誤校正參考資訊。
  27. 如申請專利範圍第26項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該儲存單元為一藍光光碟以及該第一錯誤校正碼為長距離碼。
  28. 如申請專利範圍第26項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，根據該第二錯誤校正參考資訊，該錯誤校正單元進一步實施一第二錯誤校正運作，以校正該第一錯誤校正碼之錯誤。
  29. 如申請專利範圍第28項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該第二錯誤校正運作校正該第一錯誤校正碼的一部分，其中，該第一錯誤校正碼的一部分包含沒有校正的錯誤。
  30. 如申請專利範圍第29項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，根據該錯誤校正單元進一步實施一第二錯誤校正運作，以校正該第一錯誤校正碼之錯誤的一結果，該錯誤校正參考資訊產生器更新該第一錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第一錯誤校正參考資訊，以及根據該已更新第一錯誤校正參考資訊，更新該第二錯誤校 正參考資訊，以產生一已更新第二錯誤校正參考資訊；以及根據該已更新第二錯誤校正參考資訊，校正該第一錯誤校正碼。
  31. 如申請專利範圍第26項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該第一錯誤校正碼包含多個碼單元，以及由該錯誤校正參考資訊產生器標記該多個碼單元中已校正的碼單元。
  32. 如申請專利範圍第31項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，根據一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量，計算一錯誤密度，當該錯誤密度不比一門檻值小時，該錯誤校正參考資訊產生器標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  33. 如申請專利範圍第31項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量作為一錯誤數量，當該錯誤數量不比一門檻值小時，該錯誤校正參考資訊產生器標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  34. 如申請專利範圍第32或33項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該門檻值、該決定窗口以及該標記窗口是可調整的。
  35. 如申請專利範圍第32或33項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該錯誤校正參考資訊產生器標記兩個有錯誤但是已校正的碼單元之間的一碼單元。
  36. 如申請專利範圍第32或33項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該標記窗口與該決定窗口相同。
  37. 如申請專利範圍第32或33項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該標記窗口的至少一部分包含在該決定窗口中或該決定窗口的至少一部分包含在該標記窗口中。
  38. 如申請專利範圍第26項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，該錯誤校正參考資訊產生器以該第一錯誤校正碼的一實體順序標記該第一錯誤校正碼。
  39. 如申請專利範圍第26項所述之校正第一錯誤校正碼之錯誤校正裝置，其中，在實施該第一錯誤校正運作前，該錯誤校正單元對一第二錯誤校正碼實施一第三錯誤校正運作，以及根據該第三錯誤校正運作之一結果，該錯誤校正單元實施該第一錯誤校正運作。
  40. 一種校正長距離碼之錯誤校正裝置，該長距離碼來自一儲存單元，該裝置包含：一錯誤校正單元，用於實施一第一錯誤校正運作，以校正該長距離碼之錯誤；以及一錯誤校正參考資訊產生器，用於根據該第一錯誤校正運作標記該長距離碼之至少一第一部分，以產生一第一錯誤校正參考資訊，以及根據該第一錯誤校正參考資訊標記該長距離碼之至少一第二部分， 以產生一第二錯誤校正參考資訊；其中，該錯誤校正單元進一步實施一第二錯誤校正運作以校正該長距離碼之一部分，該長距離碼之一部分包含該第一錯誤校正運作沒有校正的錯誤。
  41. 如申請專利範圍第40項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，根據該錯誤校正單元進一步實施該第二錯誤校正運作以校正該長距離碼之一部分之一結果，該錯誤校正參考資訊產生器更新該第一錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第一錯誤校正參考資訊，以及根據該已更新第一錯誤校正參考資訊，更新該第二錯誤校正參考資訊，以產生一已更新第二錯誤校正參考資訊；以及根據該已更新第二錯誤校正參考資訊，該錯誤校正單元校正該第一錯誤校正碼。
  42. 如申請專利範圍第40項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，該錯誤校正參考資訊產生器以該第一長距離碼的實體順序標記該第一長距離碼。
  43. 如申請專利範圍第40項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，該長距離碼包含多個碼單元，以及由該錯誤校正參考資訊產生器標記該多個碼單元中有錯誤但是已校正的碼單元。
  44. 如申請專利範圍第43項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，根據一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量，計算一錯誤密度，當該錯誤密度不比一門檻值小時，該錯誤校正參考 資訊產生器標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  45. 如申請專利範圍第43項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，一決定窗口中有錯誤但是沒有校正的碼單元的數量作為一錯誤數量，當該錯誤數量不比一門檻值小時，該錯誤校正參考資訊產生器標記一標記窗口之多個碼單元之至少一者。
  46. 如申請專利範圍第44或45項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，該門檻值、該決定窗口以及該標記窗口是可調整的。
  47. 如申請專利範圍第44或45項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，該錯誤校正參考資訊產生器標記兩個錯誤碼單元之間的一碼單元。
  48. 如申請專利範圍第44或45項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，該標記窗口與該決定窗口相同。
  49. 如申請專利範圍第44或45項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，該標記窗口的至少一部分包含在該決定窗口中或者該決定窗口的至少一部分包含在該標記窗口中。
  50. 如申請專利範圍第40項所述之校正長距離碼之錯誤校正裝置，其中，實施該第一校正運作前，該錯誤校正單元對一叢發指示子碼實施一第三錯誤校正運作，以及該錯誤校正單元根據該第三錯誤校 正運作之一結果，實施該第一錯誤校正運作。
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