TWI430156B

TWI430156B - Coordinate input device

Info

Publication number: TWI430156B
Application number: TW098126959A
Authority: TW
Inventors: Junichiro Oya; Kisei Hirobe; Tatsumi Fujiyoshi; Naoyuki Hatano; Motoshi Oi
Original assignee: Alps Electric Co Ltd
Priority date: 2008-09-09
Filing date: 2009-08-11
Publication date: 2014-03-11
Also published as: JP5216861B2; TW201019198A; WO2010029952A1; JPWO2010029952A1

Description

座標輸入裝置

本發明係關於可適用於觸控墊及觸控面板等的靜電電容式座標輸入裝置。

以靜電電容式觸控墊及觸控面板所使用的座標輸入裝置而言，已有各種類型被提出。例如採用在玻璃基板的上下兩面以矩陣狀排列有複數支X電極及Y電極的輸入板(tablet)者已為人所知(例如參照專利文獻1)。此外，不僅可對應只有1點的座標輸入，連複數點的座標輸入亦可對應的靜電電容式座標輸入裝置亦已為人所知(例如參照專利文獻2)。

第26圖係專利文獻1所記載之靜電電容式座標輸入裝置之構成圖。輸入板100係具有彼此呈正交的複數支X電極101(X0、X1、……、Xn)與Y電極102(Y0、Y1、……、Yn)，各X電極101與Y電極102係透過絕緣性玻璃基板而被配設成矩陣狀。

在X電極101的一端連接有X軸多工器104，在該X軸多工器104係透過類比開關而連接有放大電路106、濾波器電路107、A/D轉換器108，該A/D轉換器108係與CPU109相連接。該CPU109係根據由A/D轉換器108所被輸出的資料，來決定最為接近輸入座標的電極。由CPU109所被運算出的輸入座標係被輸出至主電腦110。另一方面，在各Y電極102的一端係連接有Y軸多工器105，在該Y軸多工器105係透過放大電路111與濾波器電路112而連接有A/D轉換器108。

當藉由操作人員的手指103進行座標輸入時，在使X軸多工器104的SW1導通(ON)之後，再依序使Y軸多工器105的SW1～SWn導通。以下，針對X軸多工器104的SW2～SWn亦相同地在使其導通之後，再依序使Y軸多工器105的SW1～SWn導通。由振盪電路114輸入振盪波形至各X電極101(X0、X1、……、Xn)，操作人員將本身的手指103按碰在輸入板100上的任意位置時，電力線的一部分被手指103拉出，形成在X電極101與Y電極102之間的靜電電容會減少，因此由Y電極102被輸出與靜電電容變化相對應的電壓。決定出電壓值為最小的Y電極102及與該Y電極102相對應的X電極101，來決定手指103的X、Y軸方向的座標。

第27圖係顯示專利文獻2之方法中的測定資料與輸入座標之關係的模式圖。如第27圖(a)～(f)所示，若被輸入座標，在X軸上與Y軸上分別檢測輸出訊號，由輸出訊號之峰值的交點來計算輸入座標。如第27圖(b)所示，當在同軸上被輸入有2點座標時，若與在X軸上被檢測出2個訊號而在Y軸上以1點被輸入的情形相比較，係被檢測出強度較強的訊號。如第27圖(c)所示，當2個輸入點接近時，則係在X軸上，輸出訊號依極大值、極小值、極大值的順序改變。藉由檢測該峰值的變化，來判別2點的輸入座標。

(專利文獻1)日本特開平8-147092號公報

(專利文獻2)美國專利第5825352號說明書

但是，在專利文獻1之座標輸入裝置中，輸入座標的特定被限制為單點，而難以特定多點輸入座標。

此外，在專利文獻2的方法中，如第27圖(d)所示，當在接近的2點被輸入座標時，2個輸出訊號會重疊而消滅極小點。因此，輸出訊號僅取1個極大值，而會有被辨識為僅有1點之座標輸入的問題。此外，以第27圖(e)、(f)所示之位置關係被輸入座標時，亦會有2個輸出訊號成為同相位，而無法正確地特定輸入座標的問題。

本發明係鑑於如上情形而研創者，目的在提供一種可特定多點輸入座標，在輸入座標計算時不需要複雜的運算處理而檢測精度高的座標輸入裝置。

本發明之座標輸入裝置，其特徵為具備有：複數支驅動電極，排列在X軸方向且被施加有驅動電壓；複數支感測電極，以在與前述驅動電極之間形成靜電電容的方式具有任意角度而排列在Y軸方向；感測電極選擇手段，至少同時選擇相鄰接的2支前述感測電極，將所選擇的感測電極由Y軸方向的一端朝向另一端依序作切換；差分檢測電路，用以檢測在前述感測電極選擇手段所選擇出的一方感測電極的輸出訊號、和另一方感測電極經極性反轉的輸出訊號的差分；及座標檢測電路，由在前述差分檢測電路所檢測到的差分值來計算輸入座標。

藉由該構成，選擇相鄰接的感測電極，來檢測一方感測電極的輸出訊號、和另一方感測電極經極性反轉的輸出訊號的差分，藉此在感測電極最為接近輸入座標而作配置時，取得差分值為正的最大值與負的最大值，另外在輸入座標的附近產生正與負的差分值為零的零交叉點。此時，差分值的變化斜率為最大，因此輸出訊號的變化較為明確，而可輕易特定輸入座標。

此外，本發明在前述差分檢測電路具備有具有正極端子與負極端子的差動放大電路，將其中一方感測電極的輸出訊號輸入至正極端子，將另一方感測電極的輸出訊號輸入至負極端子。

藉由該構成，可利用現有的電路來運算一方感測電極的輸出訊號、和另一方感測電極經極性反轉的輸出訊號的差分，而且可以差動來輸入放大電路，因此可減低共態雜訊(common mode noise)。

此外，本發明之感測電極選擇手段係在每次對由X軸方向的其中一端朝向另一端依序被施加驅動電壓的前述各驅動電極施加驅動電壓時，即將前述感測電極由Y軸方向的其中一端朝向另一端依序作切換。

藉由該構成，在XY平面獲得差分值的測定資料，以解析各座標的差分值，藉此不僅單點，亦可進行多點資料的測定。

此外，本發明之座標檢測電路係將在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值與負側最大值作比較，使用絕對值較大者的最大值的差分值與該最大值在Y軸方向之兩鄰的2點的差分值，由二次函數近似式計算輸入座標的X軸座標，將獲得前述最大值的驅動電極作為驅動用電極時的差分值作零交叉的座標作為輸入座標的Y軸座標加以計算。

此外，本發明之座標檢測電路亦可選擇在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值與負側最大值，由各自的最大值的差分值、該最大值在X軸方向的兩鄰的2點的差分值、及Y軸方向的兩鄰的2點的差分值，藉由二次函數近似式來計算前述正側最大值與負側最大值的座標，將所得的正側最大值的座標與負側最大值的座標的中間點作為輸入座標加以計算。

藉由該座標運算，使用差分值的正側最大值與負側最大值，可進行輸入座標的特定，因此可正確地特定輸入座標。

此外，本發明之座標輸入裝置之特徵為亦可為具備以下構件的構成來加以實施：複數支驅動電極，排列在X軸方向且被施加有驅動電壓；複數支感測電極，以在與前述驅動電極之間形成靜電電容的方式具有任意角度而排列在Y軸方向；驅動電壓施加手段，至少同時選擇相鄰接的2支前述驅動電極，對所選擇的一方驅動電極與另一方驅動電極同時施加極性不同的驅動電壓，且將所選擇的驅動電極由X軸方向的一端朝向另一端依序作切換；感測電極選擇手段，至少同時選擇相鄰接的2支前述感測電極，將所選擇的感測電極由Y軸方向的一端朝向另一端依序作切換；差分檢測電路，用以檢測在前述感測電極選擇手段所選擇出的一方感測電極的輸出訊號、和另一方感測電極經極性反轉的輸出訊號的差分；及座標檢測電路，由在前述差分檢測電路所檢測到的差分值來計算輸入座標。

藉由該構成，藉由由驅動電極來施加不同極性的電壓，使差分值的變化更加明確，而改善檢測精度。

此外在該構成中，座標檢測電路係將在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值設為P1、在正側次大的差分值設為P2、負側的差分值最大值設為V1、在負側次大的差分值設為V2，且P1絕對值大於V1絕對值時，由位於相同X軸上的P1與V2之間的零交叉點來計算輸入座標的X軸座標，當V1絕對值大於P1時，則由位於相同X軸上的V1與P2之間的零交叉點來計算輸入座標的X軸座標，由位於相同Y軸上的P1與V1間之間的零交叉座標來計算輸入座標的Y軸座標。

此外在該構成中，座標檢測電路亦可將在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值設為P1、在正側次大的差分值設為P2、負側的差分值最大值設為V1、在負側次大的差分值設為V2，將P1、P2、V1、V2的差分值的座標，由各自的差分值、各自的差分值在X軸方向的兩鄰的2點的差分值、與Y軸方向的兩鄰的2點的差分值，以二次函數近似式加以計算，求出所得之4點座標的中間點來計算輸入座標。

藉由該運算，由於根據4點差分值來計算輸入座標，因此可更加改善檢測精度。

藉由本發明，可改善輸入座標的檢測精度，且可特定單點及多點的輸入座標。

此外，藉由本發明，在計算多點輸入座標時不需要複雜的運算處理，而可提供檢測精度高的座標輸入裝置。

(第1實施形態)

以下參照所附圖示，詳加說明本發明之實施形態。

第1圖係本發明之實施形態之靜電電容式座標輸入裝置之構成圖。本實施形態之座標輸入裝置係具備有利用手指觸控輸入座標的輸入板1。輸入板1係由具有複數支驅動電極2(X0、X1、……、Xn)與感測電極3(Y0、Y1、……、Yn)的透明玻璃基板所構成，各驅動電極2與感測電極3係透過絕緣性玻璃基板而被排列成矩陣狀。

在驅動電極2的一端連接有X軸多工器4，在感測電極3的一端連接有Y軸多工器5。感測電極3的輸出訊號係透過切換控制開關6而以差動被輸入至具有正極端子與負極端子的差動放大電路7。被放大後的輸出訊號係在利用A/D轉換器8予以A/D轉換之後，被輸入至CPU9。所被輸入的2個感測電極3的輸出訊號(數位值)係利用作為差分檢測電路的CPU9來檢測差分值。根據該差分值，利用作為座標檢測電路的CPU9來計算輸入座標，且輸出至主電腦10。X軸多工器4、Y軸多工器5及切換開關6係與切換控制電路11相連接，且藉由CPU9予以時序控制。

在第2圖中顯示驅動電極、感測電極(以下，在感測電極中，將輸出訊號被極性反轉之側的電極設為負側感測電極，將未被極性反轉之側的電極設為正側感測電極)之電極遷移圖。被施加有驅動電壓的驅動電極以黑圓表示，被Y軸多工器5所選擇的正側感測電極以黑三角表示，負側電極以白三角表示。

如該圖所示，對位於X軸方向之一端的驅動電極(X0)施加驅動電壓，利用Y軸多工器5來選擇位於Y軸方向之一端的正側感測電極(Y0)、及相鄰接的負側感測電極(Y1)。將該狀態設為(RXE0、RYE0.5)。接著，施加驅動電壓的驅動電極由(X0)被切換成(X1)，Y軸多工器5所選擇的感測電極係保持原狀。將該狀態設為(RXE1、RXE0.5)。同樣地，僅將施加驅動電壓的驅動電極朝向X軸方向的另一端依序作切換，且遷移至(RXE7、RYE0.5)。

接著如第2圖的第2段所示，選擇朝向Y軸方向移位1個的感測電極Y1、Y2，且將正側感測電極設為Y1、負側感測電極設為Y2。驅動電極再次被切換成(X0)。將該電極配置設為(RXE0、RYE1.5)。在選擇出正側感測電極(Y1)、負側感測電極(Y2)的狀態下，將施加驅動電壓的驅動電極由X軸方向的一端朝向另一端依序作切換。反覆進行以上所示之施加驅動電壓的驅動電極的切換與正側感測電極及負側感測電極的切換，且遷移至如第2圖所示之(RXE7、RYE5.5)。

在第3圖中顯示將作為輸入座標之屬於觸控位置的手指位置(XE3、YE2)與所選擇的感測電極加以固定，使施加驅動電壓的驅動電極的位置改變時的正側感測電極的輸出與負側感測電極的輸出的差分值的變化。由該圖可知，在對成為X軸方向的手指位置的驅動電極(X3)施加有驅動電壓時的差分值在正側與負側取得最大值，隨著施加驅動電壓的驅動電極愈遠離手指位置，則正側、負側均會差分值愈小。

在第4圖中顯示將手指位置(XE3、YE2)與施加驅動電壓的驅動電極的位置固定，使Y軸多工器所選擇的感測電極朝向Y軸方向的另一端改變時的正側感測電極輸出與負側感測電極輸出的差分值的變化。如圖中所示，當朝向Y軸方向的另一端使感測電極依序移位時，相對於手指位置，負側感測電極先接近，在通過手指位置後，正側感測電極最為接近手指位置。隨著負側感測電極由初期配置(RY0)愈接近手指位置，差分值會在負的方向愈大。在手指位置最為接近負側感測電極(RY1.5)時，差分值成為負側最大值(以下設為Valley值)，手指位置在正側感測電極與負側感測電極的中間附近，差分值成為零(以下設為零交叉點)。之後，正側感測電極接近手指位置，差分值在正側增大，以正側感測電極最為接近手指位置的配置(RY2.5)，使差分值成為正的最大值(以下設為Peak值)。以下可知隨著感測電極離手指愈遠，差分值愈減少。

在第5圖中顯示手指位置與差分值的關係。使用第5圖(a)，說明第3、4圖所示之差分值的計算方法。如前所述當手指接近各電極時，靜電電容會降低。因此，電極與手指位置的距離、和輸出訊號的強度成正比。在第5圖(a)中將正側感測電極設為C1，將負側感測電極設為C2，將驅動電極設為C3，當由各自的電極至手指位置P1的距離設為ΔC1～3時，在各感測電極所得之差分值係在正側感測電極以ΔC3×ΔC1表示，在負側感測電極以ΔC3×-ΔC2表示。差分值係以正側感測電極的輸出訊號與負側感測電極的輸出訊號的差分來表示，因此第5圖(a)中的差分值V1係成為V1=ΔC3{ΔC1-(-ΔC2)}。由上述式，成為Valley值的係在如第5圖(b)所示施加有驅動電壓的驅動電極最為接近手指位置，而且負側感測電極最為接近手指位置之時，成為Peak值的係在如第5圖(c)所示施加有驅動電壓的驅動電極最為接近手指位置，而且正側感測電極最為接近手指位置之時。上述成為零交叉點的有正側感測電極的輸出值與負側感測電極的輸出值成為相等的情形，亦即如第5圖(a)所示，為手指位置與正側感測電極和與負側感測電極的距離成為相等的情形。

在第6圖中顯示用以由差分值來計算手指位置的流程圖。CPU9係選擇差分值為正側之最大值的P點、和P點之Y軸方向之兩鄰的2點的差分值。使用該3點的差分值，由二次函數近似式計算出Peak位置的X座標(步驟S1、S2)。關於Y座標亦與X軸座標相同地，使用P點和P點之X軸方向之兩鄰的2點的差分值，由二次函數近似式進行計算(步驟S3)。接著，選擇差分值為負側之最大值的V點(步驟S4)。關於V點亦與P點相同地，由二次函數近似式來計算X座標、Y座標(步驟S5、S6)。求出所得的Peak位置的座標與Valley位置的座標的中間點，來計算輸入座標(步驟S7)。

在第8圖(a)中顯示在第6圖與後述第7圖的運算處理中所使用的二次函數近似式。在第8圖(a)中，b係表示差分值的最大值，a、c係表示差分值的最大值在X軸上的兩鄰的值，yb係表示獲得b的差分值時的Y軸座標。該近似式係使用差分值的最大值的絕對值及其兩鄰的差分值絕對值來求出二次函數近似曲線，且形成為該曲線的頂點為Peak或Valley的座標。Valley座標計算時，分別在a、b、c乘以-1來進行計算。此外，a、b、c的值以全部成為正值的方式進行正規化。以下顯示二次函數近似式。

Peak/Valley座標=Yb-{b(a-c)}/{(2b(a+c)-4ac}

其中，第6圖所示之運算處理係會有用以特定Peak值與Valley值之座標的運算負荷大，而且Peak值與Valley值由於靜電電容的變化，差分值的強度未成為對象的情形。

將經改善計算處理後的運算方法顯示於第7圖。CPU9係選擇差分值為正側最大值的P點與負側最大值的V點的2點(步驟S10、11)。接著，將P點的差分值絕對值與V點的差分值絕對值作比較(步驟S12)，根據較大者的差分值絕對值、與差分值絕對值的Y軸方向的兩鄰的2點的差分值絕對值，由二次函數近似式來計算輸入座標的X軸座標(步驟S13或S15)。接著，由P點或V點的差分值絕對值較大者的X軸上朝Y軸方向觀看來計算零交叉座標，而計算輸入座標的Y軸座標(步驟S14或S16)。

在第8圖(b)中顯示在第7圖之運算處理所使用之零交叉點的計算式。圖中，a、b係表示任意差分值的值，ya、yb係表示a、b時之電極的座標。該計算式係使用在a、b的值與ya、yb的值之間形成有呈相似關係的2個直角三角形，因此在該圖中，a與b的比和Ya～零交叉點與Yb～零交叉點的比會相等。因此，可由Ya、a、b求出零交叉點。此外，a或b為0時，該點成為零交叉座標。以下顯示零交叉點之計算式。

零交叉座標=Ya+a/(b-a)

(第2實施形態)

第9圖係將2個以上驅動電極作為一對而施加極性不同之驅動電壓的情形下的實施例。基本構造雖與第1圖相同，但是形成為在振盪電路33與X軸多工器24之間導入反相器32等而對驅動電極同時施加極性不同的驅動電壓的構成。其他基本構造與第1圖相同，相同部分具有相同作用，故省略說明。

在第10圖中顯示驅動電極、感測電極的電極遷移圖。以下，驅動電極中，將未透過反相器而施加有驅動電壓的電極設為正側驅動電極，將透過反相器予以施加的電極設為負側驅動電極，感測電極中，將未被極性反轉之側設為正側感測電極，將輸出訊號被極性反轉之側設為負側感測電極，在圖中，以黑圓表示正側驅動電極，以白圓表示負側驅動電極，以黑三角表示正側感測電極，以白三角表示負側感測電極。

如該圖所示，利用X軸多工器24選擇位於X軸方向之一端的正側驅動電極(X1)及鄰接的負側驅動電極(X0)而施加驅動電壓，利用Y軸多工器25選擇位於Y軸方向之一端的正側感測電極(Y0)及鄰接的負側感測電極(Y1)。將該狀態設為(RXE0.5、RYE0.5)。接著，選擇朝向X軸方向移位1個的施加驅動電壓的驅動電極，將正側驅動電極設為X2、負側驅動電極設為X1，Y軸多工器25所選擇的感測電極係保持原狀。將該狀態設為(RXE0.5、RYE0.5)。同樣地，僅將施加驅動電壓的驅動電極朝向X軸方向的另一端依序作切換且遷移至(RXE7、RYE0.5)。

接著如第10圖的第2段所示，選擇朝向Y軸方向移位1個的感測電極Y1、Y2，將正側感測電極設為Y1、負側感測電極設為Y2。施加驅動電壓的驅動電極係再次將正側驅動電極切換成X1，將負側驅動電極切換成X0。將該電極配置設為(RXE0.5、RYE1.5)。在選擇出正側感測電極(Y1)、負側感測電極(Y2)的狀態下，將施加驅動電壓的驅動電極由一端朝向另一端依序作切換。反覆進行以上所示之施加驅動電壓的驅動電極的切換與正側感測電極及負側感測電極的切換，如第10圖中所示移至(RXE7.5、RYE5.5)。

在第11圖中顯示將作為輸入座標之觸控位置亦即手指位置(XE3、YE2.5)與所選擇的感測電極加以固定，使施加驅動電壓的驅動電極的位置變化時的輸出訊號的差分值。針對圖中的RY1.5與RY3.5的變化加以說明。RY.1.5的曲線係顯示負側感測電極最為接近手指位置時，使正側與負側的驅動電極的位置變化時之差分值的變化。在圖中，RX2.5係在手指位置對正側驅動電極施加有驅動電壓時者，此時取Valley值。在RX3.0附近，手指位置在正側驅動電極與負側驅動電極的中點附近，此時取零交叉點。在RX3.5，則係在手指位置對負側驅動電極施加有驅動電壓時者，此時取Peak值。RY3.5的曲線係正側感測電極最為接近手指位置時者，與負側感測電極接近手指位置的RY1.5係差分值的正與負為不同。因此，依照Peak值、零交叉點、Valley值的順序輸出差分值。

在第12圖中顯示將手指位置(XE3、YE2.5)與施加驅動電壓的驅動電極的位置固定，使Y軸多工器25所選擇的感測電極朝向Y軸方向的另一端產生變化時的正側感測電極的輸出訊號、與負側感測電極的輸出訊號的差分值的變化。使用圖中的RX2.5與RX3.5的曲線來說明之。RX2.5係在手指位置對正側驅動電極施加有驅動電壓時者，朝向Y軸方向的另一端而使感測電極依序移位時，相對於手指位置，負側感測電極先接近(RY1.5)，取Valley值。手指位置在正側與負側感測電極的中點附近的RY2.5附近取零交叉點，在正側感測電極最為接近手指位置時(RY3.5)取Peak值。在RX3.5的曲線中，係在手指位置對負側驅動電極施加有驅動電壓時者，與RX2.5係差分值的正與負為不同。

在第5圖中顯示手指位置與差分值的關係。使用第5圖(d)，說明第11、12圖所示之差分值的計算方法。第11、12圖所示之差分值係以藉由在正側驅動電極所被施加的電壓及在負側驅動電極所被施加的反轉電壓所輸出的正側感測電極的輸出訊號與負側感測電極的輸出訊號的差分予以表示。亦即，如第5圖(d)所示，當分別將手指位置設為P2，正側感測電極設為C4，負側感測電極設為C5，負側驅動電極設為C6，正側驅動電極設為C7，且將各電極與輸入點P2的距離設為ΔC時，在各感測電極所得之輸出訊號，若為正側感測電極，係以ΔC7{ΔC4-(ΔC5)}-ΔC6(ΔC4-(-ΔC5))表示，若為負側感測電極，則係以-[ΔC7{ΔC4-(-ΔC5)}-ΔC6{ΔC4-(-ΔC5)}]表示。因此，第5圖(d)中的差分值V2係以V2=ΔC7{ΔC4-(-ΔC5)}-ΔC6(ΔC4-(-ΔC5))-[-ΔC7{ΔC4-(-ΔC5)}+ΔC6{ΔC4-(-ΔC5)}]表示。由上述式，輸入點取正側與負側驅動電極的中間點(ΔC6=ΔC7)或、正側與負側感測電極的中間點(ΔC4=ΔC5)的電極配置時，取零交叉點。

如第5圖(e)所示，在相對於輸入點P3、4，正側感測電極與正側驅動電極、或負側感測電極與負側驅動電極呈交叉的配置時成為Peak值，如第5圖(f)所示，在相對於輸入點P5、6，正側感測電極與負側驅動電極、或負側感測電極與正側驅動電極呈交叉的配置時成為Valley值。

在第13圖中顯示用以由差分值來計算手指位置的流程圖。CPU9係選擇正側的差分值最大值P1點(步驟S30)，接著使用P1點及其Y軸方向之兩鄰的差分值，以二次函數近似式來計算P1點的X軸座標(步驟S31)。關於Y軸方向，亦同樣地使用P1點與其X軸方向之兩鄰的差分值，由二次函數近似式來計算P1點的Y軸座標(步驟S32)。針對正側差分值第2大的P2點與負側的差分值最大值V1點與負側差分值第2大的V2點亦實施同樣的運算(步驟S33～S41)，而決定P1、P2、V1、V2之4點座標。求出所得之4點座標的中間點而決定輸入座標(步驟S42)。

其中，第13圖的運算處理係以二次函數近似式來計算2點Peak值與2點Valley值，因此運算負荷大，此外，Peak值與Valley值由於靜電電容的變化，會有差分值的強度未成為對象的情形。

將經改善計算處理後的運算方法顯示於第14圖。CPU9係選擇正側的差分值最大值(P1)、正側第2大的差分值(P2)、負側的差分值最大值(V1)、及負側第2大的差分值(V2)(步驟S50～53)。接著將P1的差分值絕對值與V1的差分值絕對值作比較(步驟S54)，在P1的差分值絕對值較大時，由P1與V2間的零交叉點(步驟S55)而且在V1絕對值大於P1時，則由V1與P2間的零交叉點(步驟S57)來計算輸入座標的X軸座標。接著，根據相同的X軸上的P1、V1點間的差分值由正值變化成負值的2點來計算零交叉座標，且計算輸入座標的Y軸座標(步驟S56、S58)。

如第15圖所示，亦可以1次來測定對於驅動電極之驅動電壓的施加次數，但以施加2次以上為佳。對於驅動電極施加複數次驅動電壓，將各自的輸出值進行積分，藉此可改善S/N比。

如第16圖所示，驅動電極的數量係可以1支來測定，但是以使用2支以上為佳。藉由增加2支，使S/N比及線性度(linearity)獲得改善，藉由增加至2支以上，則更加改善S/N比及線性度。可使用1支正側或負側驅動電極來施加驅動電壓，較佳為至少使用2支正側與負側驅動電極而同時施加驅動電壓。

如第17圖所示，感測電極的個數係以各1支亦可測定正側感測電極與負側感測電極，較佳為使用各2支以上。在此時，藉由形成為各2支來改善S/N比及線性度，藉由增加至2支以上，更加改善S/N比及線性度。

如第18圖所示，藉由使用2對以上之驅動電極與感測電極，來改善S/N比及線性度，且藉由使用2對以上，更加改善S/N比及線性度。

在第19、20圖中顯示以習知技術所得的資料與本發明之實施之構成所得的資料。在習知技術中，係當被輸入有多點資料時，若以例如第19圖(a)、第19圖(b)所示之位置關係來輸入座標時，由X軸及Y軸所得之資料係成為同相位，難以特定正確的輸入座標。相對於此，若以本實施形態來進行測定時，即使以與第19圖相同的位置關係而被輸入有座標，亦如第20圖所示，可得在相位不同的面的資料。因此，可進行多點輸入座標的特定。

(第3實施形態)

在本實施例中，如第5圖(a)至(c)所示，至計算出手指位置與差分值之關係為止係為相同，之後的運算流程則為不同。

在第21圖中顯示將1點輸入座標進行運算的流程圖。CPU9係將所被檢測到的差分值依由大而小的順序予以排列(以下將該操作稱為排序(sorting))(步驟S1)。接著，抽出差分值成為正側最大值的P點與成為負側最大值的V點(步驟S2)。接著，為了判別P點與V點為藉由座標輸入所產生，或是因雜訊等所產生，而將P點絕對值及V點絕對值與任意臨限值(以下設為第1臨限值)進行比較(步驟S3)。當P點絕對值或V點絕對值小於第1臨限值時，係判別為因雜訊等所造成之差分值的輸入。此時，再次掃描座標輸入面來更新差分值的資料，由步驟S1再次進行座標運算。當P點絕對值及V點絕對值均大於第1臨限值時，判斷出存在有1點座標輸入，由檢測出各自之差分值的電極來計算P點座標與V點座標。由下述座標運算式(1)來計算所得的P點座標與V點座標的中間點，且計算輸入座標的位置(步驟S4)。

將P點座標設為(Xp、Yp)、V點座標設為(Xv、Yv)時的輸入座標(X、Y)係以下列式子進行計算。

X=(Xp+Xv)/2、Y=(Yp+Yv)/2‧‧‧(1)

在第22圖中顯示由差分值對2點輸入點進行運算的流程圖。CPU9係將所被檢測到的差分值作排序(步驟S10)，而抽出正側最大值、正側第2大的值、負側最大值、負側第2大的值(步驟S11)(以下將正側最大值設為P1、正側第2大的值設為P2、負側最大值設為V1、負側第2大的值設為V2)。接著為了判別輸入座標的數，將P1絕對值、V1絕對值、P2絕對值及V2絕對值與第1臨限值作比較(步驟S12、S13)。當P1絕對值或V1絕對值小於第1臨限值時，即判別為因雜訊等所造成之差分值的輸入。此時，與上述同樣地再次掃描座標輸入面而更新差分值的資料，由步驟S10再次進行座標運算。當P1絕對值與V1絕對值均大於第1臨限值，P2絕對值或V2絕對值的任一者均小於第1臨限值時，判別為輸入座標僅有1點，按照上述第21圖的流程圖來對輸入座標進行運算(步驟S14)。

當P1絕對值、P2絕對值、V1絕對值及V2絕對值全部大於第1臨限值時，係判斷出存在有至少1點輸入座標，接著判別P1與P2是否為在同一點輸入座標所形成者。首先由檢測出P1與P2的電極，求出P1座標與P2座標，且求出所得之P1座標與P2座標之間在X軸上的距離與Y軸上的距離。接著，將P1座標與P2座標之間在X軸上的距離與任意臨限值(以下設為第2臨限值)作比較，接著，將P1座標與P2座標之間在Y軸上的距離與任意臨限值(以下設為第3臨限值)作比較(步驟S15、S17)。當P1與P2在X軸上的距離小於第2臨限值，而且P1座標與P2座標之間在Y軸上的距離小於第3臨限值時，係判別出P1與P2係藉由同一點的輸入座標所形成的差分值，輸入座標係形成為1點且按照第6圖所示之流程圖將輸入座標進行運算(步驟S14)。當P1座標與P2座標之間在X軸上的距離大於第2臨限值時，或P1座標與P2座標之間在Y軸上的距離大於第3臨限值時，即判別出2點輸入座標之存在，且計算以下2點輸入座標。

在本實施形態中，對1點輸入座標，檢測1對Peak值與Valley值。因此，當存在有2點輸入座標時，Peak值與Valley值被檢測2對。P1、P2、V1、V2係被推定為對2點輸入座標採取(P1、V1)、(P2、V2)或(P1、V2)、(P2、V1)之任一組合。以下進行用以判別該組合的處理。

當P1座標與P2座標之間在X軸上的距離大於第2臨限值時，求出P1座標與V1座標之間在X軸上的距離，且與任意臨限值(以下設為第4臨限值)作比較(步驟S15)。當P1座標與V1座標之間在X軸上的距離大於第4臨限值時，與P1相對應的Valley值係判別為V2，P1與V1在X軸上的距離小於第4臨限值時，與P1相對應的Valley值係判別為V1(步驟S16)。當P1座標與P2座標之間在X軸上的距離小於第2臨限值，且P1座標與P2座標之間在Y軸上的距離大於第3臨限值時，係將P1座標與V1座標之間在Y軸上的距離與任意臨限值(以下設為第5臨限值)作比較，當P1座標與V1座標之間在Y軸上的距離與第5臨限值相比較為較大時，與P1相對應的Valley值係判別為V2，當P1與V1在Y軸上的距離與第5臨限值相比較為較小時，與P1相對應的Valley值係判別為V1(步驟S18)。

藉由上述步驟S16至步驟S18的處理，判別出藉由2點座標輸入所產生之P1、P2、V1、V2的組合。最後，計算Peak值與Valley值的中間點而計算輸入座標。當Peak值與Valley值的組合為(P1、V2)、(P2、V1)時，係以下述座標運算式(2a)、(2b)來計算輸入座標(步驟S20)，若為(P1、V1)、(P2、V2)時，則以座標運算式(3a)、(3b)來計算輸入座標(步驟S19)。下述之座標運算式並不需要複雜的函數計算，因此亦可對應複數點呈連續的座標輸入。此外，由於由電極間的中間點來計算座標，因此可獲得至電極間之間距寬幅之二分之一的檢測精度。以下顯示座標運算式。

當將P1點的座標設為(Xp1、Yp1)、P2點的座標設為(Xp2、Yp2)、V1點的座標設為(Xv1、Yv1)、V2點的座標設為(Xv2、Yv2)時，輸入座標(X、Y)的2點座標係以下式進行計算。

第1點：X=(Xp1+Xv2)/2、Y=(Yp1+Yv2)‧‧‧(2a)

第2點：X=(Xp2+Xv1)/2、Y=(Yp2+Yv1)‧‧‧(2b)

第1點：X=(Xp1+Xv1)/2、Y=(Yp1+Yv1)‧‧‧(3a)

第2點：X=(Xp2+Xv2)/2、Y=(Yp2+Yv2)‧‧‧(3b)

以至第22圖為止的說明，來說明獲得差分值的原理與根據所得差分值來特定輸入座標的原理。接著，具體說明在第21圖及第22圖之輸入座標的運算所使用的第1臨限值的效果。在第21、22圖的流程圖中，係將Peak值與Valley值之雙方與第1臨限值作比較來判別輸入座標數。其理由係基於以下2點。第1點係為了將微弱的差分值變化由座標運算除外之故，藉由將第1臨限值設定為任意值，可將因雜訊等所造成之差分值的輸入由座標運算除外。第2點係提升微小的差分值輸入檢測精度者，例如，因來自外界的影響，使差分值全體偏向正側時，藉由雜訊等的輸入，可產生僅有正側差分值的Peak值會大於第1臨限值的狀況。此時，若僅藉由比較正側的差分值與任意臨限值來判別輸入座標，會產生作為錯誤的輸入而被檢測到的情形。因此，將正側差分值的Peak值與負側差分值的Valley值的雙方與第1臨限值作比較，確認出各自大於第1臨限值的情形，藉此可提升除了因雜訊等所造成之差分值的輸入以外的精度。

接著顯示在第22圖之運算處理中所使用之差分值之具體例來加以說明。第23圖(a)係藉由手指來輸入2點座標時之差分值的具體例，第23圖(b)係以與第23圖(a)呈對稱關係來輸入座標時之差分值的具體例。第23圖(a)、第23圖(b)中均為手指接觸到2點座標Q1及Q2時，以輸入座標為交界，在Y軸上之一方RY0.5方向取得差分值的+區域R1，Peak值被檢測為T1、T2。在Y軸上之另一方RY5.5方向取得差分值的-區域R2，Valley值被檢測為S1、S2。在習知技術中，以如第27圖(e)、第27圖(f)所示之對稱位置關係來輸入座標時，即檢測出同相位的輸出訊號，而無法特定輸入座標的位置關係。藉由本實施形態，如第23圖(a)、第23圖(b)所示，在以對稱的位置關係輸入座標的情形下，亦由於以各自之座標所得之差分值的資料會有所不同，因此可進行正確輸入座標的特定。

在第24圖中顯示在本實施形態中所得之差分值之3次元資料的具體例。在圖中係被輸入有2點座標Q1(RX2.5,RY3)及Q2(RX5.5,RY2.5)(在圖中，輸入座標成為峰值的背面，因此表示X軸座標及Y軸座標。正確的輸入座標係圖中之Q1、Q2在Z軸上的垂直上方向)之時者，在X軸方向表示X軸座標的距離，在Y軸方向表示Y軸座標的距離，且在Z軸方向表示差分值之大小。若手指觸控2個座標(Q1、Q2)，正側係以Peak值A及B為頂點，負側係以Valley值C及D為頂點而以4個山狀分布差分值。此外，差分值絕對值係顯示隨著愈遠離各自的Peak值或Valley值愈為減少。

在第22圖之流程圖中，使用第2～第5臨限值來計算輸入座標係如上所述。關於使用4個臨限值所達成之效果，在以下具體說明之。在第22圖之流程圖中，係將P1座標與P2座標之間在X軸上的距離與第2臨限值作比較(步驟S15)，且將P1座標與P2座標之間在Y軸上的距離與第3臨限值作比較(步驟S17)，藉此判別座標的輸入為1點或2點。使用第24圖，說明將P1座標與P2座標之間的距離與臨限值作比較的理由。當被輸入2點座標時，例如第24圖所示，當檢測出藉由同一輸入座標所產生的差分值A及差分值E與以其他點所被輸入的差分值B時，會產生在3點之中差分值B的絕對值為最小的情形。此時，以差分值A為P1且差分值E為P2來進行運算。因此，將以同一輸入座標所被檢測到的差分值用在座標運算，無法正確地計算2點輸入座標。相對於此，在P1座標與P2座標之間的距離設置任意臨限值，當P1座標與P2座標的距離為臨限值以下時，係判別為同一輸入座標，藉由由運算來免除於外，可正確地計算2點輸入座標。

此外，在第22圖之流程圖中，係在判別出2點座標輸入的存在之後，判別與2點輸入座標相對應的Peak值與Valley值的組合。在第22圖之流程圖中，係使用臨限值來判別組合，但是為了具體說明該理由，首先使用第24圖來說明在本實施形態中所得之差分值之大小的特徵。若被輸入2點座標，如第24圖所示，即檢測Peak值A、B及Valley值C、D。在第24圖之例中，相對於其中一方輸入座標Q1，係有Peak值A與Valley值C相對應，相對於另一方輸入座標Q2，則有Peak值B與Valley值D相對應，但是亦會產生相對於其中一方輸入座標Q1，有Peak值A與Valley值D相對應，相對於另一方輸入座標Q2，則有Peak值B與Valley值C相對應的狀況。此時，以判別與輸入座標Q1、Q2相對應的Peak值與Valley值的方法而言，考慮以差分值之絕對值大小為基準來進行判別的方法。但是，在本實施形態中，與正側的差分值最大值P1相對應的Valley值成為負側的差分值最大值V1的情形與成為負側第2大的最大值V2的情形混在一起。因此，以差分值絕對值的大小為基準來判別與輸入座標相對應的Peak值與Valley值的組合係困難的。基於上述理由，除了差分值絕對值的大小以外，必須要有判別與輸入座標相對應的Peak值與Valley值的基準。

接著，使用第23圖，說明在本實施形態中所得之差分值之檢測位置的特徵。在本實施形態中，係一面將電極連續作切換，一面將正負輸出訊號的差分值作為面資料予以測定，因此在最為接近輸入座標的電極產生Peak值與Valley值。因此，如第23圖(a)或第23圖(b)所示，Peak值T1、T2與相對應之Valley值S1、S2之間在X軸上的距離差較小，相對於Peak值在Y軸上的一定範圍內的距離檢測出Valley值。

如上所述在本實施形態中，係難以根據差分值絕對值的大小來判別Peak值與Valley值的組合。因此，在本實施形態中，係使用上述差分值的檢測位置的特徵，藉由P1座標與V1座標之間在X軸上的距離與第4臨限值作比較、或者P1座標與V1座標之間在Y軸上的距離與第5臨限值作比較來判別與2點輸入座標相對應的各Peak值與各Valley值的組合。以下使用第25圖來說明原理。

第25圖(a)係第22圖的流程圖中結束至步驟S15為止的運算，判別P1與P2為藉由不同的輸入座標所形成的Peak值，且判別所對應的Valley值V1及V2位於L1或L2的哪一個位置時的概念圖。在第22圖之流程圖的步驟S16中，係將P1座標與V1座標之間在X軸上的距離與第4臨限值作比較來判別Peak值與Valley值的組合。此時，如第25圖(a)所示，P1座標與P2座標之間在X軸上的距離U1大於第2臨限值U2(步驟S15)。另一方面，如上所述在本實施形態中所得之Peak值與相對應的Valley值之間在X軸上的距離差係較小。因此，如第25圖(a)所示，將第4臨限值如U3般設定為第2臨限值U2的大小以下而且設定為一定大小，藉此可判別P1與V1是否為與輸入座標相對應的Peak值與Valley值。亦即，如第25圖(a)所示，當將P1與V1之間在X軸上的距離(圖中為U4或U5)與第4臨限值U3作比較時，若P1與V1之間在X軸上的距離如U4般小於第4臨限值U3，則V1在圖中係成為L1，成為與P1相對應的Valley值。此外，若P1與V1之間在X軸上的距離如U5般大於第4臨限值U3，係可判別V1在圖中成為L2，與P1相對應的Valley值為V2。

第25圖(b)係結束在第22圖的流程圖中至步驟S17為止的運算，判別P1與P2為藉由不同的輸入座標所形成的Peak值，且判別所對應的Valley值V1及V2位於L1或L2的哪一個位置時的概念圖。在第22圖之流程圖的步驟S18中，將P1座標與V1座標之間在Y軸上的距離與第5臨限值作比較來進行判別。此時，如第25圖(b)所示，P1座標與P2座標之間在X軸上的距離U6係小於第2臨限值U2(步驟S15)，P1與P2存在於在X軸上近接的點，因此與P1及P2相對應的V1及V2亦X軸上的距離差較小，由X軸上的距離差來判別與P1相對應的Valley值係較為困難的。另一方面，P1座標與P2座標之間在Y軸上的距離U8係小於第3臨限值U7(在步驟S17中作判別)。如上所述，與P1相對應的Valley值係在Y軸上在一定範圍內的距離被檢測，因此若將第5臨限值U9設定在大於第3臨限值U7的範圍時，與P1相對應的Valley值係在第5臨限值U9以內的範圍被檢測。因此，藉由將P1座標與V1座標之間在Y軸上的距離與第5臨限值U9作比較，可判別V1是否為與P1相對應的Valley值。亦即，如第25圖(b)所示，在將P1與V1之間在Y軸上的距離(在圖中為U10或U11)與第5臨限值U9作比較的情形下，若P1與V1之間在Y軸上的距離如U11般小於第5臨限值U9，V1在圖中會成為L3，而成為與P1相對應的Valley值。此外，若P1與V1之間在Y軸上的距離如U10般大於U9，則可判別V1在圖中成為L4，與P1相對應的Valley值會成為V2。

其中，本發明並非限定於上述實施例之形態，亦可在例如座標輸入使用內建有振盪電路的輸入筆等在未脫離本發明之要旨之範圍內予以變形實施。

(產業上利用可能性)

本發明係可適用於靜電電容式觸控墊及觸控面板等之座標輸入裝置。

1、21、100‧‧‧輸入板或觸控墊

2、22‧‧‧驅動電極

3、23‧‧‧感測電極

4、24、104‧‧‧X軸多工器

5、25、105‧‧‧Y軸多工器

6、26‧‧‧切換開關

7、27、106、111‧‧‧放大電路

8、28、108‧‧‧A/D轉換器

9、29、109‧‧‧CPU

10、30、110‧‧‧主電腦

11、31‧‧‧切換控制電路

32‧‧‧反相器

33、114‧‧‧振盪電路

101‧‧‧X電極

102‧‧‧Y電極

103‧‧‧手指

107、112‧‧‧濾波器電路

113‧‧‧切換開關

第1圖係顯示本發明之實施形態之靜電電容式座標輸入裝置之構成圖。

第2圖係顯示本發明之實施形態之電極遷移圖。

第3圖係顯示第1實施形態中之感測電極與固定好手指位置時之驅動電極的距離和輸出訊號之差分值的變化圖。

第4圖係顯示第1實施形態中之驅動電極與固定好手指位置時之感測電極的距離和輸出訊號之差分值的變化圖。

第5圖係用以說明第1、第2及第3實施形態中之差分值計算方法的圖。

第6圖係顯示第1實施形態中之座標計算之運算處理圖。

第7圖係顯示第1實施形態中之座標計算之運算處理圖。

第8圖係座標計算之運算處理所使用之二次函數近似式與零交叉座標的說明。

第9圖係顯示第2實施形態之靜電電容式座標輸入裝置之構成圖。

第10圖係顯示第2實施形態之電極遷移圖。

第11圖係顯示第2實施形態中之感測電極與固定好手指位置時之驅動電極的距離和輸出訊號之差分值的變化圖。

第12圖係顯示第2實施形態中之驅動電極與固定好手指位置時之感測電極的距離和輸出訊號之差分值的變化圖。

第13圖係顯示座標計算之運算處理圖。

第14圖係顯示座標計算之運算處理圖。

第15圖係顯示已輸入複數次驅動電壓時之輸入電壓與輸出訊號的圖。

第16圖係顯示多驅動方式的原理圖。

第17圖係顯示多感測方式的原理圖。

第18圖係顯示多驅動/多感測方式的原理圖。

第19圖係顯示習知方式中之複數手指之輸出資料之模式圖。

第20圖係顯示複數手指的輸出資料圖。

第21圖係顯示第3實施形態之單點座標計算的運算處理圖。

第22圖係顯示第3實施形態之多點座標計算的運算處理圖。

第23圖係顯示以多點座標輸入所得之差分值之XY平面資料圖。

第24圖係以3次元顯示以多點座標輸入所得之差分值的圖。

第25圖係用以說明使用第3實施形態之臨限值來計算座標之方法的概念圖。

第26圖係顯示習知技術之靜電電容式之座標輸入裝置之構成圖。

第27圖係顯示以習知技術所測定出之多點輸出值的圖。

1．．．輸入板或觸控墊

2．．．驅動電極

3．．．感測電極

4．．．X軸多工器

5．．．Y軸多工器

6．．．切換開關

7．．．放大電路

8．．．A/D轉換器

9．．．CPU

10．．．主電腦

11．．．切換控制電路

Claims

一種座標輸入裝置，其特徵為具備有：複數支驅動電極，排列在X軸方向且被施加有驅動電壓；複數支感測電極，以在與前述驅動電極之間形成靜電電容的方式具有任意角度而排列在Y軸方向；驅動電壓施加手段，至少同時選擇相鄰接的2支前述驅動電極，對所選擇的一方驅動電極與另一方驅動電極同時施加極性不同的驅動電壓，且將所選擇的驅動電極由X軸方向的一端朝向另一端依序作切換；感測電極選擇手段，至少同時選擇相鄰接的2支前述感測電極，將所選擇的感測電極由Y軸方向的一端朝向另一端依序作切換；差分檢測電路，用以檢測在前述感測電極選擇手段所選擇出的一方感測電極的輸出訊號、和另一方感測電極經極性反轉的輸出訊號的差分；及座標檢測電路，由在前述差分檢測電路所檢測到的差分值來計算輸入座標。
如申請專利範圍第1項之座標輸入裝置，其中，前述座標檢測電路係將在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值設為P1、在正側次大的差分值設為P2、負側的差分值最大值設為V1、在負側次大的差分值設為V2，且P1絕對值大於V1絕對值時，由位於相同X軸上的P1與V2之間的零交叉點來計算輸入座標的X軸座標，當V1絕對值大於P1時，則由位於相同X軸上的V1與P2之間的零交叉點來計算輸入座標的X軸座標，由位於相同Y軸上的P1與V1間之間的零交叉座標來計算輸入座標的Y軸座標。
如申請專利範圍第1項之座標輸入裝置，其中，前述座標檢測電路係將在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值設為P1、在正側次大的差分值設為P2、負側的差分值最大值設為V1、在負側次大的差分值設為V2，將P1、P2、V1、V2的差分值的座標，由各自的差分值、各自的差分值在X軸方向的兩鄰的2點的差分值、及Y軸方向的兩鄰的2點的差分值，以二次函數近似式加以計算，求出所得之4點座標的中間點來計算輸入座標。
如申請專利範圍第1項至第3項中任一項之座標輸入裝置，其中，以複數前述驅動電極為1組來進行驅動。
如申請專利範圍第1項至第3項中任一項之座標輸入裝置，其中，以複數前述感測電極為1組來取出輸出訊號。
一種座標輸入裝置，其特徵為具備有：複數支驅動電極，排列在X軸方向且被施加有驅動電壓；複數支感測電極，以在與前述驅動電極之間形成靜電電容的方式具有任意角度而排列在Y軸方向；感測電極選擇手段，至少同時選擇相鄰接的2支前述感測電極，將所選擇的感測電極由Y軸方向的一端朝向另一端依序作切換；差分檢測電路，用以檢測在前述感測電極選擇手段所選擇出的一方感測電極的輸出訊號、和另一方感測電極經極性反轉的輸出訊號的差分；及座標檢測電路，由在前述差分檢測電路所檢測到的差分值來計算至少1點輸入座標，前述座標檢測電路係將在前述差分檢測電路所檢測到的差分值的正側最大值設為P1、將負側最大值設為V1，而將P1絕對值及V1絕對值與第1臨限值作比較，前述P1絕對值及前述V1絕對值均大於前述第1臨限值時，係由P1座標與V1座標的中間點來計算輸入座標。
如申請專利範圍第6項之座標輸入裝置，其中，前述座標檢測電路係當將差分值正側第2大的值設為P2、將負側第2大的值設為V2，而前述P1絕對值及前述V1絕對值均大於前述第1臨限值，且前述P2絕對值或前述V2絕對值的任一者小於前述第1臨限值時，由P1座標與V1座標的中間點來計算僅有1點的輸入座標。
如申請專利範圍第7項之座標輸入裝置，其中，前述座標檢測電路係當前述P1絕對值、前述P2絕對值、前述V1絕對值及前述V2絕對值大於前述第1臨限值，而且前述P1座標與前述P2座標在X軸上的距離小於第2臨限值，前述P1座標與前述P2座標在Y軸上的距離小於第3臨限值時，由前述P1座標與前述V1座標的中間點來計算僅有1點的輸入座標。
如申請專利範圍第7項之座標輸入裝置，其中，前述座標檢測電路係當前述P1絕對值、前述P2絕對值、前述V1絕對值及前述V2絕對值大於前述第1臨限值，前述P1座標與前述P2座標在X軸上的距離大於第2臨限值時，若前述P1座標與前述V1座標在X軸上的距離小於第4臨限值，由前述P1座標與前述V1座標的中間點來計算輸入座標的第1點，由前述P2座標與前述V2座標的中間點來計算輸入座標的第2點，若前述P1座標與前述V1座標在X軸上的距離大於第4臨限值，由前述P1座標與前述V2座標的中間點來計算輸入座標的第1點，且由前述P2座標與前述V1座標的中間點來計算輸入座標的第2點。
如申請專利範圍第7項之座標輸入裝置，其中，前述座標檢測電路係當前述P1絕對值、前述P2絕對值、前述V1絕對值及前述V2絕對值大於前述第1臨限值，前述P1座標與前述P2座標在X軸上的距離小於第2臨限值，前述P1座標與前述P2座標在Y軸上的距離大於第3臨限值時，若前述P1座標與前述V1座標在Y軸上的距離小於第4臨限值，由前述P1座標與前述V1座標的中間點來計算輸入座標的第1點，由前述P2座標與前述V2座標的中間點來計算輸入座標的第2點，若前述P1座標與前述V1座標在Y軸上的距離大於第5臨限值，由前述P1座標與前述V2座標的中間點來計算輸入座標的第1點，且由前述P2座標與前述V1座標的中間點來計算輸入座標的第2點。