TWI422709B - 具有置換安定劑之含銀奈米粒子 - Google Patents

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Description

具有置換安定劑之含銀奈米粒子
本發明係由美國聯邦政府在由標準與技術協會(National Institute of Standards and Technology(NIST))所授予之合作協定第70NANBOH3033號下的支持而達成。美國聯邦政府在本發明中具有特定權利。
使用液體沉積技術之電子回路構件的製造，係因該技術對於用於如薄膜電晶體(TFTs)、發光二極體(LEDs)、RFID標籤、光電裝置等電子應用的傳統主流非晶系矽技術提供潛在低成本的另一選擇，而深深令人感到有趣。然而，功能電極、畫素襯墊、以及符合用於實際應用之導電性、處理與成本的傳導圖形、線路及軌跡的沉積及/或形成圖案，已成為一個大挑戰。由於銀遠低於金的成本且其具有遠佳於銅的環境安定性，故銀特別有利於作為用於電子裝置的傳導構件。因此，如本發明實施例之適合用於製造電子裝置的導電構件之穩定含銀奈米粒子組成物的可於液態加工之低成本的方法，有其急切的需求。
以下文件提供背景資訊：吳亦良(Yiliang Wu)等，“用於高移動率有機薄膜電晶體之印刷銀歐姆接觸(Printed Silver Ohmic Contacts for High－mobility Organic Thin－film Transistors),”J.Am.Chem.Soc.,Vol.128,pp.4202－4203(網路公開於03/09/2006)。
波札爾恩斯基(Pozarnsky)等，美國專利第6,688,494號。
李(Lee)等，美國專利第6,572,673號在例如第1欄、第52－53行揭示作為還原劑的肼聯胺。
希斯(Heath)等，美國專利第6,103,868號。
威爾寇克森(Wilcoxon)，美國專利第5,147,841號在例如第4欄、第44行揭示作為還原劑的肼聯胺。
G.布蘭契特(Blanchet)和J.羅德杰斯(Rodgers)，“用於塑膠電子的印刷技術(Printed Techniques for Plastic Electronics)”,影像科學與技術期刊(Journal of Imaging Science and Technology )，Vol.47,No.4,pp.296－303(2003年7月/8月)。
P.巴菲特(Buffat)和J－P.柏瑞爾(Borel)“對於金粒子熔融溫度的尺寸效應(Size effect on the melting temperature of gold particles)”，物理回顧(Physical Review)A ,Vol.13,No.6,pp.2287－2298(1976年6月)。
C.林(Hayashi)，“超微粒子(Ultrafine Particles)”，真空科學技術期刊(J.Vacuum Sci.Technol.)A ,Vol.5,No.4,pp.1375－1384(1987年7月/8月)。
S.B.富勒(Fuller)、E.J.威爾赫姆(Wilhelm)、與J.M.雅各森(Jacobson)，“噴墨印刷奈米粒子微電子機械系統(Ink－Jet Printed Nanoparticle Microelectromechanical Systems)””微電子機械系統期刊(Journal of Microelectromechanical Systems)， Vol.11,No.1,pp.54－60(2002年2月)。
X.Z.林(Lin)、X.鄧(Teng)、與H.楊(Yang)，“使用單一來源前驅物之狹窄分散銀奈米粒子的直接分析(Direct Synthesis of Narrowly Dispersed Silver Nanoparticles Using a Single-Source Precursor)”，Langmuir ,Vol.19,pp.10081-10085(網路公開於2003年11月1日)。
在實施例中提供一種方法，其中包含：提供一種包括含銀奈米粒子與在該含銀奈米粒子的表面之初始安定劑分子的組成物；以及將包含羧酸的置換安定劑與該組成物混合，以該置換安定劑取代至少一部份初始安定劑，得到在含銀奈米粒子表面的置換安定劑分子。
在另一實施例中，提供一種製造電子裝置的方法，其中包含：(a)液體沉積包含液體、含銀奈米粒子、在含銀奈米粒子表面包含羧酸的置換安定劑、以及在含銀奈米粒子表面殘餘量之初始安定劑，得到沉積後組成物；以及(b)加熱沉積後組成物以形成含銀的導電層。
在其他實施例中，提供一種薄膜電晶體，其包括任何有效之排列：(a)絕緣層；(b)閘極；(c)半導體層；(d)源極；與(e)汲極，其中源極、汲極、與閘極中至少一者包含起始成分，其包括含銀奈米粒子、在該含銀奈米粒子表面包含羧酸的置換安定劑、以及在含銀奈米粒子表面殘餘量的初始安定劑。
在實施例中，本方法製造以羧酸安定的含銀奈米粒子，其可在例如低於約300℃、特別是低於約250℃的低溫下，被製造成為用於電子裝置之具有足夠高導電度的傳導構件。在實施例中依照本步驟方法所製備的含銀奈米粒子，具有良好的安定性或耐儲壽命，並可被製成具有適合於製造用於電子裝置之液體處理之傳導構件的液體的含銀奈米粒子。
在實施例中，本方法對於製備含銀奈米粒子的優點為例如以下之一點或以上：(i)短的反應時間；(ii)反應溫度為室溫或接近室溫(即，約20－25℃)；(iii)穩定且可液體處理的含銀奈米粒子組成物；(iv)相對低廉的起始材料；與(v)可應用於各種羧酸。該含銀奈米粒子組成物與用於製備彼等之製備方法適於大量製造並顯著降低含銀奈米粒子的成本。
使用本方法所製備的含銀奈米粒子組成物，可輕易地藉由如網印、油印、噴墨印刷、微接觸印刷、旋轉塗布等，沉積於基板上，以在液體蒸發後形成如線路、軌跡及其他圖案的沉積特徵。
在實施例中，在此階段所得之含銀奈米粒子特徵為電絕緣或具有極低的導電性。這些包括含銀奈米粒子之絕緣或極低傳導特徵或圖案接著被加熱至例如約300℃之溫度下、特別是低於約250℃，以接合或熔合在所沉積之特徵或圖案中的含銀奈米粒子，以形成具有高於約100S/cm、特別是高於約2000S/cm之薄膜導電度的傳導構件。可使用所得之高傳導構件作為在如薄膜電晶體、有機發光二極體、RFID標籤、光電與其他電子裝置之電子裝置中的電極、傳導襯墊、線路等。
除非另有指示，在不同圖式中的相同參考編號表示相同或相似的特徵。
本方法包含：提供包括含銀奈米粒子與在該含銀奈米粒子表面之初始安定劑分子的組成物；以及混合包含羧酸的置換安定劑與該組成物以置換安定劑取代至少一部份初始安定劑，在含銀奈米粒子表面得到置換安定劑分子。
如在”含銀奈米粒子”中所用之”奈米”一詞，表示低於約1000nm的粒徑。在實施例中，含銀奈米粒子具有例如約0.5nm至約1000nm、約1nm至約500nm、約1nm至約100nm、特別是約1nm至約20nm的粒徑。除非另外指示，此中所述之粒徑係對於在其表面具有初始安定劑分子的含銀奈米粒子而言，以及對於在其表面具有置換安定劑分子的含銀奈米粒子而言。在本方法中，含銀奈米粒子之粒徑在混合置換安定劑後可能會或可能不會改變。此中定義粒徑為除了初始安定劑/置換安定劑之外，如藉由TEM(穿透式電子顯微鏡)所測定之含銀奈米粒子的平均直徑。
可藉由任何如化學方法與物理方法的適當方法，製備含銀奈米粒子。例如，可藉由如C.林(Hayashi)“超微粒子(Ultrafine Particles)”,真空科學技術期刊(J.Vacuum Sci.Technol.)A ,Vol.5,No.4,pp.1375－1384(1987年7月/8月)，中所揭示的物理方法製造尺寸約5至7nm的銀膠狀奈米粒子，其揭示內容完全以參考文獻結合。
實施例中製造包括含銀奈米粒子之組成物的化學方法，可涵蓋在水性或非水性媒介中，以激烈攪拌混合銀鹽與初始安定劑，接著還原劑的添加。可使用如揭示於以下文件中之代表方法的任何適當的化學方法來製造包含在含銀奈米粒子表面具有初始安定劑分子的含銀奈米粒子的組成物(其揭示內容在此中完全以參考文獻結合)：吳亦良(Yiliang Wu)等，美國申請案號第11/187,552(代理人登記第20041534－US－NP)，申請於2005年7月22日，標題”接觸電阻最小化的方法(METHODS TO MINIMIZE CONTACT RESISTANCE)”。
Y.吳(Wu)、Y.李(Li)、與B.S.翁(Ong)，“用於高移動率有機薄膜電晶體的印刷銀歐姆接觸(Printed Silver Ohmic Contacts for High－Mobility Organic Thin－Film Transistors)”,J.Am.Chem.Soc. vol.128,4202－4203(2006).
X.Z.林(Lin)、X.鄧(Teng)、H.楊(Yang)，“使用單一來源前驅物之狹窄分散銀奈米粒子的直接分析(Direct Synthesis of Narrowly Dispersed Silver Nanoparticles Using a Single－Source Precursor)”，Langmuir, vol.19,10081－10085(2003)，其中X.Z.林(Lin)等發表了藉由在異戊胺中、油酸存在下、在160℃加熱三氟乙酸銀之油酸所安定的銀奈米粒子的合成。
Y.吳(Wu)、Y.李(Li)、與B.S.翁(Ong)，“用於高移動率有機薄膜電晶體的印刷銀歐姆接觸(Printed Silver Ohmic Contacts for High－Mobility Organic Thin－Film Transistors)”，J.Am.Chem.Soc. vol.128,4202－4203,(2006)，其中Y.吳(Wu)等敘述一種在甲苯中、在較低溫(60℃)下、在油酸存在下，藉由使用苯肼還原乙酸銀製備以油酸安定之銀奈米粒子。
在實施例中，含銀奈米粒子係由元素銀或銀複合物所構成。除了銀以外，銀複合物還包括下列(i)、(ii)之一或二者，(i)一種或以上的其他金屬，(ii)一種或以上的非金屬。適當的其他金屬包括例如Al、Au、Pt、Pd、Cu、Co、Cr、In、與Ni，特別是例如Au、Pt、Pd、Cu、Cr、Ni的過渡金屬或其混合物。範例的金屬複合物為Au－Ag、Ag－Cu、Au－Ag－Cu、與Au－Ag－Pd。在金屬複合物中的適當非金屬包括例如Si、C與Ge。銀複合物中的各種成分可在例如約0.01重量%至約99.9重量%、特別是約10重量%至約90重量%範圍的量存在。在實施例中，銀複合物為由銀與一種、二種或以上的其他金屬所構成的金屬合金，其中銀包含例如奈米粒子之至少約20重量%，特別是大於奈米粒子之約50重量%。除非另外指示，否則此中對於含銀奈米粒子成分所述的重量百分比不包括安定劑，即初始安定劑及/或置換安定劑。
可使用任何適當步驟，如S.林克(Link)、Z.L王(Wang)、與M.A.艾爾賽德(El－Sayed)“金－銀奈米粒子的合金形成與電漿吸收對於組成物的依賴性(Alloy Formation of Gold－Silver Nanoparticles and the Dependence of the Plasmon Absorption on Their Composition)”,J.Phys Chem. vol.103,3529－3533(1999)中所述之步驟，來製造銀複合奈米粒子，其中之揭示內容完全以參考文獻結合，其中S.林克(Link)等敘述一種藉由在檸檬酸鈉水溶液中回流氯金酸(HAuCl4 )與硝酸銀(AgNO3 )來製備具有17至18 nm平均直徑之銀－金合金奈米粒子的方法。
在含銀奈米粒子表面的初始安定劑可為任何適當的化合物，如化合物包含一部份選自下列之群組者：－NH2 ，如丁胺、戊胺、己胺、庚胺、辛胺、壬胺、癸胺、十一胺、十二胺、十三胺、十四胺、十五胺、十六胺、油酸胺、十八胺、二胺基戊烷、二胺基己烷、二胺基庚烷、二胺基辛烷、二胺基壬烷、二胺基癸烷、二胺基辛烷之群組；－NH－，如二丙胺、二丁胺、二戊胺、二己胺、二庚胺、二辛胺、二壬胺、二癸胺、甲丙胺、乙丙胺、丙丁胺、乙丁胺、乙戊胺、丙戊胺、丁戊胺、多乙亞胺；銨鹽，如溴化三丁銨、溴化二－十二基二甲基銨、氯化芐基三乙基銨；－SH，如丁硫醇、戊硫醇、己硫醇、庚硫醇、辛硫醇、壬硫醇、癸硫醇、十一硫醇、十二硫醇；－SO2 M(M為Li,Na,K,或Cs)，如辛硫酸鈉、十二硫酸鈉；－OH(醇)，如萜品醇、澱粉、葡萄糖、聚乙烯醇；－C5 H4 N(吡啶基)，如聚乙烯基吡啶、聚(乙烯基吡啶共聚苯乙烯)、聚(乙烯基吡啶共聚甲基丙烯酸丁酯)共聚物；－COOH，如丁酸、戊酸、己酸、庚酸、辛酸、壬酸、癸酸、十一酸、十二酸、十三酸、荳蔻酸、十五酸、棕櫚酸、十七酸、硬脂酸、油酸、十九酸、二十酸、二十碳烯酸、反式脂肪酸、亞油酸、棕櫚烯酸、聚丙烯酸；－COOM(M為Li、Na、或K)，如油酸鈉、反式脂肪酸鈉、亞油酸鈉、棕櫚烯酸鈉、鈉鹽；R’R”P－與R’R”P(＝O)－(R’、R”、及R”’獨立為具有例如1至15個碳原子的烷基或具有例如6至20個碳原子的芳基)等如三辛基膦與三辛基膦氧化物，或其混合物。
置換安定劑與初始安定劑不同且置換安定劑可為任意的適當羧酸，如例如丁酸、戊酸、己酸、庚酸、辛酸、壬酸、癸酸、十一酸、十二酸、十三酸、荳蔻酸、十五酸、棕櫚酸、棕櫚烯酸、十七酸、硬脂酸、油酸、反式脂肪酸、亞油酸、十九酸、二十酸、二十碳烯酸等或其混合物。
用於本方法之置換安定劑的量可為，例如每莫耳銀為約0.01至約100莫耳當量，或每莫耳銀為約0.1至約10莫耳當量，或特別是每莫耳銀為約0.2至約5莫耳當量。存在於含銀奈米粒子表面的置換安定劑量基於含銀奈米粒子、在其表面之置換安定劑、在其表面上任何剩餘量的初始安定劑重量為基準，為例如約1重量%至約90重量%、特別是約5重量%至約80重量%的範圍。
了解到該詞”初始安定劑”、”置換安定劑”、及任何此中對於”初始安定劑”與”置換安定劑”所討論的任何物質，為可能會或可能不會在本方法中被化學變形的起始成分。例如，所得之具有置換安定劑的含銀奈米粒子可能以初始安定劑的自由形式、或以與置換安定劑所形成的錯合物或化合物，而含有剩餘量初始安定劑。
在本方法中可使用任何適當液體(以幫助分散或溶解)來促進例如本方法之彼等方面：(a)提供包括含銀奈米粒子與在含銀奈米粒子表面的初始安定劑分子的組成物；以及(b)混合包含羧酸的置換安定劑與該組成物以置換安定劑置換至少一部份初始安定劑，得到在含銀奈米粒子表面之置換安定劑分子。適當的液體包括例如有機溶劑及/或水。有機溶劑包括例如烴類溶劑，如戊烷、己烷、環己烷、庚烷、辛烷、壬烷、癸烷、十一烷、十二烷、十三烷、十四烷、甲苯、二甲苯、三甲苯；醇類，如甲醇、乙醇、丙醇、丁醇等；四氫呋喃；氯化苯；二氯化苯；三氯化苯；硝苯；氰苯；乙腈及其混合物。所用之液體量可例如為(a)中組成物或(b)中反應混合物的約5重量%至約98重量%、特別是約10重量%至約95重量%。
在例如約－50℃至約200℃、特別是約20℃至約100℃的適當溫度下，進行包含羧酸之置換安定劑與包括含銀奈米粒子與在含銀奈米粒子表面之初始安定劑分子之組成物的混合，以置換安定劑置換至少一部份初始安定劑，在含銀奈米粒子表面得到置換安定劑分子。
在實施例中，可發生包括含銀奈米粒子(在其表面上具有置換安定劑)之組成物的再處理，例如使組成物與異相沉積技術(例如用於製造電子裝置)相容。該包括含銀奈米粒子(與在其表面之置換安定劑)之組成物的再處理，可為例如(i)添加反應混合物(視需要地藉由除去部分溶劑而濃縮)於非溶劑以使含銀奈米粒子沉澱；(ii)藉由過濾或離心收集含銀奈米粒子(iii)在空氣中或真空中乾燥含銀奈米粒子；(iv)溶解或分散所隔離之含銀奈米粒子於適當液體中。
可用於含銀奈米粒子之沉澱的適當非溶劑，包括可與被用於上述步驟(iv)來溶解含銀奈米粒子的溶劑混合的任何液體，例如甲醇、乙醇、丙醇、丙酮等、或其混合物，其用於可溶解含銀奈米粒子之非極性溶劑，例如己烷、環己烷等。考慮特殊液體是否為溶劑或非溶劑可隨包括例如置換安定劑型式與含銀奈米粒子尺寸的幾個因素而改變。
在實施例中，所得之具有置換安定劑的含銀奈米粒子，以初始安定劑之自由形式、或以與置換安定劑所形成之錯合物與化合物，在含銀奈米粒子含有殘餘量初始安定劑。若初始安定劑存在，則在含銀奈米粒子表面之初始安定劑的殘餘量，以奈米粒子表面的殘餘初始安定劑與置換安定劑的重量基準，為約0.001重量%至約30重量%、特別是0.01重量%至約10重量%的範圍。在奈米粒子表面的初始安定劑殘餘量可藉由元素分析來測定。
任何適當液體，包括例如有機溶劑與水，可被用來分散或溶解含銀奈米粒子，以形成含銀奈米粒子組成物。適當有機溶劑包括烴類溶劑，如戊烷、己烷、環己烷、庚烷、辛烷、壬烷、癸烷、十一烷、十二烷、十三烷、十四烷、甲苯、二甲苯、三甲苯等；醇類，如甲醇、乙醇、丙醇、丁醇、戊醇等；酮類，如丙酮、丁酮、戊酮、環己酮等；四氫呋喃；氯化苯；二氯化苯；三氯化苯；硝苯；氰苯；乙腈及其混合物。
在其表面具有置換安定劑分子的含銀奈米粒子係以組成物之重量(例如，液體、含銀奈米粒子、置換安定劑、任何殘餘初始安定劑等的重量)為基準，為例如約0.3重量%至約90重量%範圍、或約1重量%至約70重量%的量存在。
從本發明之含銀奈米粒子而來的傳導構件之製造(在實施例中，彼等組成物可被稱為”墨水”)，其中包括在奈米粒子表面的置換安定劑，可在使用包括i)如網/油印、壓印、微接觸印刷、噴墨印刷等印刷；與ii)如旋轉塗布、浸塗、刮塗等塗布之任何適當液體沉積技術的樣態中進行。在此階段沉積後之含銀奈米粒子特徵可能有或可能沒有導電性。
在低於約300℃、較佳為在約250℃或以下加熱沉積後組成物或特徵，使含銀奈米粒子結合而形成可適用作為電子裝置中之傳導構件的導電層。實施該加熱一段時間範圍，例如約5分鐘至約10小時、特別是約10分鐘至約1小時。
藉由加熱沉積後之含銀奈米粒子組成物所製得的含銀構件導電性，係藉由四探針法測定為例如大於約100S/cm、大於約500S/cm、大於約2000S/cm、大於約5000S/cm、大於約10000S/cm、以及大於約20000S/cm。
可在如薄膜電晶體、有機發光二極體、RFID(無線射頻辨識系統)標籤、光電與其他要求傳導構件或組成物的電子裝置，使用所得之傳導構件作為傳導電極、傳導襯墊、導線、傳導軌跡等。
在第1圖中，圖示説明一種薄膜電晶體("TFT")配置10，其中包含作用為基板與閘極二者的重正摻雜的矽晶圓18、在其頂部沉積2個金屬接點、源極20與汲極22之熱成長的二氧化矽絕緣層14。在金屬接點20與22上或之間為如此中所述之半導體層12。
第2圖係圖示說明另一個TFT配置30，其中包含基板36、閘極38、源極40與汲極42、絕緣層34、與半導體層32。
第3圖係圖示說明再一個TFT配置50，其中包含作用為基板與閘極二者的重正摻雜矽晶圓56、熱成長的二氧化矽絕緣層54、與半導體層52，而在其頂部沉積源極60與汲極62。
第4圖係圖示說明再另一個TFT配置70，其中包含基板76、閘極78、源極80、汲極82、半導體層72、與絕緣層74。
基板可由例如矽、玻璃板、塑膠膜或片所構成。對於構造可撓性的裝置而言，可使用塑膠基板，例如聚酯、聚碳酸酯、聚亞醯胺片等。基板厚度可為10微米至超過10厘米的量，而特別對於可撓性基板而言，範例厚度為約50微米至約2厘米，而對於如矽或玻璃之硬基板而言，則為約0.4至約10厘米。
藉由本發明之實施例製造閘極、源極、與汲極。閘極層厚度在例如約10至約2000nm的範圍。源極與汲極的一般厚度為例如約40nm至約1微米，特別是厚度為約60至約400nm。
通常絕緣層可為無機材料膜或有機聚合物膜。適合做為絕緣層之無機材料的說明範例包括氧化矽、氮化矽、氧化鋁、鈦酸鋇、鈦酸鋇鋯等；有機聚合物的說明範例包括聚酯、聚碳酸酯、聚乙烯基酚、聚亞醯胺、聚苯乙烯、聚甲基丙烯酸酯、聚丙烯酸酯、環氧樹脂等。絕緣層厚度隨著所使用之介電材料的介電常數而為約10nm至約500nm。絕緣層之範例厚度為約100nm至約500nm。絕緣層可具有例如低於約10－12 S/cm的導電度。
例如，位於絕緣層與源/汲極之間並與之接觸的是半導體層，其中半導體層厚度通常為例如約10nm至約1微米、或約40至約100nm。可使用任何半導體材料來形成該層。範例的半導體材料包括區域規則性聚噻吩、噻吩寡聚物、2,3,6,7二苯併蒽，與揭示於翁鵬(Beng Ong)等美國專利申請公開編號US 2003/0160230 A1、翁鵬(Beng Ong)等美國專利申請公開編號US 2003/0160234 A1、翁鵬(Beng Ong)等美國專利申請公開編號US2003/0136958 A1、與由C.D.狄米崔克保羅司(Dimitrakopoulos)與P.R.L.麻仁芬特(Malenfant)所著“用於大面積電子裝置的有機薄膜電晶體(Organic Thin Film Transistors for Large Area Electronics)”Adv.Mater. ,Vol.12,No.2,pp.99－117(2002)的半導體聚合物，其中所揭示內容在此完全併入參考文獻。可使用任何適當技術來形成半導體層。該一種方法係應用約10－5 至10－7 torr於含有基板的艙室與以粉末形式持有化合物的來源容器。加熱該容器直到化合物昇華至基板上。通常亦可藉由如溶液的旋轉塗布法、鑄壓、網印、壓印、或噴射印刷的溶液製程或半導體的分散而製造。
以任何順序形成絕緣層、閘極、半導體層、源極、與汲極，特別是在實施例中閘極與半導體層二者均接觸絕緣層，源極與汲極二者均接觸半導體層。”以任何順序”之詞組包括依序及同時的形成。例如，可同時地或依序地形成源極與汲極。薄膜電晶體的組成物、製造、與操作係說明於包(Bao)等美國專利第6,107,117號，其揭示內容在此完全併入參考文獻。
除非另外指示，否則所有百分比例及份均以重量為基準。
【實例】 【實例1】
1)油胺所安定的銀奈米粒子之製備首先在60℃下將乙酸銀(1.67g,10mmol)與油胺(6.69g,25mmol)溶解於甲苯中(20mL)，逐滴添加苯肼(0.59g,5.5mmol)的甲苯(10mL)溶液於該溶液中並攪拌。在60℃下加熱所得之變成暗紅褐色的反應混合物30分鐘。將所得之混合物倒入甲醇(100mL)與丙酮(100mL)的混合物中並攪拌。藉由過濾收集所沉殿的固體並在空氣中乾燥。產率：1.60g。
2)以羧酸交換以油胺安定的銀奈米粒子的安定劑提供油酸所安定之銀奈米粒子的合成如下。相似地製備以其他羧酸安定的銀奈米粒子，結果整理於表1。
將上述所製備之油胺所安定的銀奈米粒子溶於甲苯(30mL)，並在室溫下逐滴地添加於油酸(8.47g,30mmol)的甲苯(50mL)溶液中同時攪拌。15分鐘之後，將混合物倒入正在攪拌的甲醇(350mL)中。在過濾後並在真空下乾燥(室溫30分鐘)，得到暗灰色固體。產率：1.48g。
3)羧酸所安定之銀奈米粒子薄膜的製造與退火將上述所製造之羧酸所安定的銀奈米粒子溶解於環己烷(10至15重量%)並過濾之(過濾器孔徑：1μm)。以1000rpm旋轉塗布該溶液於玻璃基板上120秒。在加熱板上以220℃、在空氣中加熱具有暗褐色銀奈米粒子薄層的基板10至20分鐘。然後得到銀薄膜。銀薄膜厚度約80至180nm。使用傳統之四探針技術測量銀薄膜的導電度。
表1顯示以高產率製備具有各種不同羧酸置換安定劑的銀奈米粒子。隨著以220℃在空氣中進行退火10－20分鐘，可使由銀奈米粒子所製之薄膜轉化成高導電薄膜，並具有範圍9×103 至2.9×104 S/cm的導電度。
10．．．薄膜電晶體("TFT")配置
12．．．半導體層
14．．．絕緣層
18．．．重正摻雜的矽晶圓
20．．．源極
22．．．汲極
30．．．TFT配置
32．．．半導體層
34．．．絕緣層
36．．．基板
38．．．閘極
40．．．源極
42．．．汲極
50．．．TFT配置
52．．．半導體層
54．．．二氧化矽絕緣層
56．．．重正摻雜矽晶圓
60．．．源極
62．．．汲極
70．．．TFT配置
72．．．半導體層
74．．．絕緣層
76．．．基板
78．．．閘極
80．．．源極
82．．．汲極
第1圖表示依照本方法所製造之薄膜電晶體的第一實施例。
第2圖表示依照本方法所製造之薄膜電晶體的第二實施例。
第3圖表示依照本方法所製造之薄膜電晶體的第三實施例。
第4圖表示依照本方法所製造之薄膜電晶體的第四實施例。

Claims (3)

  1. 一種製造包覆安定劑之含銀奈米粒子之方法，其中包含：提供一種組成物，其包括含銀奈米粒子及在該含銀奈米粒子表面之初始安定劑分子；以及將包含羧酸的置換安定劑與該組成物混合，以形成反應混合物並藉由該置換安定劑取代至少一部份初始安定劑，而在含銀奈米粒子表面得到置換安定劑的分子，其中該置換安定劑與初始安定劑不同，且置換安定劑為丁酸、戊酸、己酸、庚酸、辛酸、壬酸、癸酸、十一酸、十二酸、十三酸、荳蔻酸、十五酸、棕櫚酸、十七酸、硬脂酸、油酸、十九酸、或二十酸、或上述任何酸之混合物；添加反應混合物於非溶劑以使含銀奈米粒子沉澱；及收集含銀奈米粒子。
  2. 一種製造電子裝置的方法，其包括：(a)液體沉積包含液體、含銀奈米粒子、在含銀奈米粒子表面之含有羧酸的置換安定劑、以及殘餘量在含銀奈米粒子表面之初始安定劑的組成物，得到沉積組成物，其中該置換安定劑與初始安定劑不同，且置換安定劑為丁酸、戊酸、己酸、庚酸、辛酸、壬酸、癸酸、十一酸、十二酸、十三酸、荳蔻酸、十五酸、棕櫚酸、十七酸、硬脂酸、油酸、十九酸、或二十酸、或上述任何酸之混合物；及(b)加熱該沉積組成物以形成包含銀的導電層。
  3. 一種薄膜電晶體，其包括任何有效之排列： (a)絕緣層；(b)閘極；(c)半導體層；(d)源極；以及(e)汲極，其中源極、汲極、與閘極中至少一者包含起始成份，其中包括含銀奈米粒子、在含銀奈米粒子表面之包含羧酸的置換安定劑、以及殘餘量在含銀奈米粒子表面的初始安定劑，其中該置換安定劑與初始安定劑不同，且置換安定劑為丁酸、戊酸、己酸、庚酸、辛酸、壬酸、癸酸、十一酸、十二酸、十三酸、荳蔻酸、十五酸、棕櫚酸、十七酸、硬脂酸、油酸、十九酸、或二十酸、或上述任何酸之混合物。
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