TWI410531B - 直立式電鍍設備及其電鍍方法 - Google Patents
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Description
本發明係有關於一種電鍍設備,特別係有關於一種直立式電鍍設備。
在習知之直立式電鍍設備中,由於受到電鍍槽中的流場以及重力等因素影響,造成電鍍離子濃度的分佈不均勻,因而使得晶圓表面的電鍍效果不均。參照第1圖,其係顯示習知直立式電鍍設備的電鍍效果,由圖中可知,透過習知直立式電鍍設備進行電鍍,晶圓表面會產生水平方向的電鍍濃度層次分佈。不均勻的電鍍效果將降低產品的可靠度,並產生不規則凸點(irregular bump)、凸點破裂(bump crack)以及低介電分層(ELK delamination)等問題。
本發明即為了欲解決習知技術之問題而提供之一種直立式電鍍設備,用以對一晶圓進行電鍍,包括一電鍍槽、一晶座、一磁致動單元以及一承座。電鍍槽呈放一電鍍液。晶座夾持該晶圓,並將該晶圓浸入該電鍍液之中。磁致動單元旋轉該晶座,藉此以在該電鍍液中旋轉該晶圓,以均勻化該晶圓的電鍍效果。該晶座係以可轉動的方式設於該承座之上。
在一實施例中,該磁致動單元包括一永久磁性元件以及複數個電致磁性元件,該永久磁性元件環繞該晶座,該等電致磁性元件設於該晶座之中,該等電致磁性元件提供磁場變化以使該晶座於該承座上轉動。
在另一實施例中,該磁致動單元包括一永久磁性元件以及複數個電致磁性元件,該永久磁性元件設於該承座,該等電致磁性元件設於該晶座之中,該永久磁性元件環繞該等電致磁性元件,該等電致磁性元件提供磁場變化以使該晶座於該承座上轉動。
在又一實施例中,該磁致動單元包括一永久磁性元件以及複數個電致磁性元件,該等電致磁性元件設於該承座,該永久磁性元件設於該晶座,該永久磁性元件環繞該等電致磁性元件,該等電致磁性元件提供磁場變化以使該晶座於該承座上轉動。
在一實施例中,該電鍍液包括銀離子,其濃度為0.1~5.0wt%。該磁致動單元以1~50rpm的速度旋轉該晶座。
本發明亦有關於一種電鍍方法,在一實施例中,用以對一晶圓進行電鍍,包括下述步驟。首先,提供一電鍍槽,該電鍍槽中呈放一電鍍液。再,提供一晶座,以夾持該晶圓。接著,將該晶圓浸入該電鍍液之中。最後,旋轉該晶座,藉此以在該電鍍液中旋轉該晶圓,以均勻化該晶圓的電鍍效果。
應用本發明實施例之直立式電鍍設備,可使晶圓在電鍍時於一鉛直平面上進行旋轉,藉此以避免電鍍液濃度分佈不均對電鍍效果所造成之影響。進而提昇產品之可靠度,解決不規則凸點(irregular bump)、凸點破裂(bump crack)以及低介電分層(ELK delamination)等問題。
參照第2A圖,其係顯示本發明第一實施例之直立式電鍍設備100,用以對晶圓10進行電鍍。該直立式電鍍設備100包括一電鍍槽110、晶座120、磁致動單元130以及承座140。電鍍槽110中呈放一電鍍液101。晶座120夾持晶圓10,並將晶圓10浸入該電鍍液101之中。磁致動單元130旋轉該晶座120,藉此以在該電鍍液101中旋轉該晶圓10,以均勻化該晶圓10的電鍍效果。
晶圓10係以被吸附的方式由晶座120所夾持,晶座120可以為百努利(Bernoulli)式承載盤。
晶座120係以可轉動的方式設於承座140之上。晶座120包括一凸緣121、一晶座本體122以及一轉軸123,該凸緣121連接該晶座本體122,該晶座本體122連接該轉軸123。轉軸123於承座140中轉動。
磁致動單元130包括一永久磁性元件131以及複數個電致磁性元件132,該永久磁性元件131環繞該晶座120,該等電致磁性元件132設於該晶座本體122之中,該等電致磁性元件132提供磁場變化以使該晶座120於該承座140上轉動。
搭配參照第2B圖,其係顯示晶座120以及磁致動單元130的前視圖,其中,該等電致磁性元件132以環狀排列的方式設置,該永久磁性元件131為環狀結構。該永久磁性元件131可以為永久磁鐵,該等電致磁性元件132可以為電磁鐵。
在上述實施例中,該磁致動單元以1~50rpm的速度旋轉該晶座,該電鍍液包括銀離子,其濃度為0.1~5.0wt%。然,上述實施例並未限制本發明,針對不同的電鍍溶液以及電鍍濃度,可搭配調整晶座的旋轉速度,以達到最佳的電鍍效果。
應用本發明實施例之直立式電鍍設備,可使晶圓在電鍍時於一鉛直平面上進行旋轉,藉此以避免電鍍液濃度分佈不均對電鍍效果所造成之影響。進而提昇產品之可靠度,解決不規則凸點(irregular bump)、凸點破裂(bump crack)以及低介電分層(ELK delamination)等問題。
參照第3圖,其係顯示本發明第二實施例之直立式電鍍設備100’,其中,該永久磁性元件131設於該承座140中,該等電致磁性元件132設於該晶座120之轉軸123中,該永久磁性元件131環繞該等電致磁性元件132,該等電致磁性元件132提供磁場變化以使該晶座120於該承座140上轉動。
參照第4圖,其係顯示本發明第三實施例之直立式電鍍設備100”,其中,該磁致動單元130包括一永久磁性元件131以及複數個電致磁性元件132,該等電致磁性元件132設於該承座140之中,該永久磁性元件131設於該晶座120之上,該永久磁性元件131環繞該等電致磁性元件132,該等電致磁性元件132提供磁場變化以使該晶座120於該承座140上轉動。在此實施例中,該永久磁性元件131係設於該凸緣121之一內側表面,該內側表面朝向該承座140。
在上述實施例中,該永久磁性元件131與該等電致磁性元件132的位置可以互相對換,其並未限制本發明。此外,該永久磁性元件131與該等電致磁性元件132可以分別設於承座140或晶座120之中或是其表面,其並未限制本發明。
參照第5圖,本發明亦有關於一種電鍍方法,用以對一晶圓進行電鍍,包括下述步驟。首先,提供一電鍍槽,該電鍍槽中呈放一電鍍液(S1)。再,提供一晶座,以夾持該晶圓(S2)。接著,將該晶圓浸入該電鍍液之中(S3)。最後,旋轉該晶座,藉此以在該電鍍液中旋轉該晶圓,以均勻化該晶圓的電鍍效果(S4)。
雖然本發明已以具體之較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此項技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,仍可作些許的更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10...晶圓
100、100’、100”...直立式電鍍設備
101...電鍍液
110...電鍍槽
120...晶座
121...凸緣
122...晶座本體
123...轉軸
130...磁致動單元
131...永久性磁鐵
132...電致磁性元件
140...承座
S1、S2、S3、S4...電鍍方法步驟
第1圖係顯示習知直立式電鍍設備的電鍍效果;
第2A圖係顯示本發明第一實施例之直立式電鍍設備;
第2B圖係顯示晶座以及磁致動單元的前視圖;
第3圖係顯示本發明第二實施例之直立式電鍍設備;
第4圖係顯示本發明第三實施例之直立式電鍍設備;以及
第5圖係顯示本發明之電鍍方法。
10...晶圓
100...直立式電鍍設備
101...電鍍液
110...電鍍槽
120...晶座
121...凸緣
122...晶座本體
123...轉軸
130...磁致動單元
131...永久性磁鐵
132...電致磁性元件
140...承座
Claims (12)
- 一種直立式電鍍設備,用以對一晶圓進行電鍍,包括:一電鍍槽,呈放一電鍍液;一晶座,夾持該晶圓,並將該晶圓浸入該電鍍液之中;以及一磁致動單元,旋轉該晶座,藉此以在該電鍍液中旋轉該晶圓,以均勻化該晶圓的電鍍效果。
- 如申請專利範圍第1項所述之直立式電鍍設備,其中,該晶圓於一鉛直平面上進行旋轉。
- 如申請專利範圍第1項所述之直立式電鍍設備,其中,該磁致動單元以1~50rpm的速度旋轉該晶座。
- 如申請專利範圍第1項所述之直立式電鍍設備,其中更包括一承座,其中,該晶座係以可轉動的方式設於該承座之上。
- 如申請專利範圍第4項所述之直立式電鍍設備,其中,該磁致動單元包括一永久磁性元件以及複數個電致磁性元件,該永久磁性元件環繞該晶座,該等電致磁性元件設於該晶座之中,該等電致磁性元件提供磁場變化以使該晶座於該承座上轉動。
- 如申請專利範圍第4項所述之直立式電鍍設備,其中,該磁致動單元包括一永久磁性元件以及複數個電致磁性元件,該永久磁性元件設於該承座,該等電致磁性元件設於該晶座之中,該永久磁性元件環繞該等電致磁性元件,該等電致磁性元件提供磁場變化以使該晶座於 該承座上轉動。
- 如申請專利範圍第6項所述之直立式電鍍設備,其中,該晶座包括一轉軸,該轉軸插設於該承座之中,該等電致磁性元件設於該轉軸之中。
- 如申請專利範圍第4項所述之直立式電鍍設備,其中,該磁致動單元包括一永久磁性元件以及複數個電致磁性元件,該等電致磁性元件設於該承座,該永久磁性元件設於該晶座,該永久磁性元件環繞該等電致磁性元件,該等電致磁性元件提供磁場變化以使該晶座於該承座上轉動。
- 如申請專利範圍第8項所述之直立式電鍍設備,其中,該晶座包括一凸緣以及一晶座本體,該凸緣連接該晶座本體,該永久磁性元件係設於該凸緣之一表面,該表面朝向該承座。
- 一種電鍍方法,用以對一晶圓進行電鍍,包括:提供一電鍍槽,該電鍍槽中呈放一電鍍液;提供一晶座,以夾持該晶圓;將該晶圓浸入該電鍍液之中;以及旋轉該晶座,藉此以在該電鍍液中旋轉該晶圓,以均勻化該晶圓的電鍍效果。
- 如申請專利範圍第10項所述之電鍍方法,其中,該晶圓於一鉛直平面上進行旋轉。
- 如申請專利範圍第10項所述之電鍍方法,其中,該晶座以1~50rpm的速度被旋轉,該電鍍液包括銀離子,其濃度為0.1~5.0wt%。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW099114609A TWI410531B (zh) | 2010-05-07 | 2010-05-07 | 直立式電鍍設備及其電鍍方法 |
KR1020110041603A KR101347006B1 (ko) | 2010-05-07 | 2011-05-02 | 직립식 도금 장비 및 이를 위한 도금 방법 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW099114609A TWI410531B (zh) | 2010-05-07 | 2010-05-07 | 直立式電鍍設備及其電鍍方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201139758A TW201139758A (en) | 2011-11-16 |
TWI410531B true TWI410531B (zh) | 2013-10-01 |
Family
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---|---|---|---|
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Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101347006B1 (zh) |
TW (1) | TWI410531B (zh) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000033356A2 (en) * | 1998-11-28 | 2000-06-08 | Acm Research, Inc | Methods and apparatus for holding and positioning semiconductor workpieces during electropolishing and/or electroplating of the workpieces |
US20010040100A1 (en) * | 1998-02-12 | 2001-11-15 | Hui Wang | Plating apparatus and method |
WO2002057514A2 (en) * | 2000-11-03 | 2002-07-25 | Nutool, Inc. | Method and apparatus for electrodeposition or etching of uniform film with minimal edge exclusion on substrate |
TW580745B (en) * | 1997-12-15 | 2004-03-21 | Ebara Corp | Electroplating jig for semiconductor wafers and apparatus for electroplating wafers |
TWI244508B (en) * | 2002-12-19 | 2005-12-01 | Dainippon Screen Mfg | Plating apparatus and plating method |
TWI281211B (en) * | 2005-03-29 | 2007-05-11 | Taiwan Semiconductor Mfg | Methods for electrochemical deposition (ECD) and for fabrication integrated circuit devices on a semiconductor substrate with damascene structures and defect-free ECD metal layer on the semiconductor wafer |
TWI290591B (en) * | 2006-01-16 | 2007-12-01 | Applied Materials Inc | Electrochemical plating apparatus and method |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1470268A2 (en) | 2000-10-03 | 2004-10-27 | Applied Materials, Inc. | Method and associated apparatus for tilting a substrate upon entry for metal deposition |
JP2005089812A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Casio Comput Co Ltd | めっき装置および半導体基板のめっき方法 |
KR100645630B1 (ko) * | 2005-09-16 | 2006-11-14 | 삼성전기주식회사 | 주기적 방향성을 갖는 자기장을 이용한 인쇄회로기판의전해 도금방법 |
KR101102328B1 (ko) * | 2008-08-07 | 2012-01-03 | 주식회사 케이씨텍 | 기판도금장치 |
-
2010
- 2010-05-07 TW TW099114609A patent/TWI410531B/zh active
-
2011
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW580745B (en) * | 1997-12-15 | 2004-03-21 | Ebara Corp | Electroplating jig for semiconductor wafers and apparatus for electroplating wafers |
US20010040100A1 (en) * | 1998-02-12 | 2001-11-15 | Hui Wang | Plating apparatus and method |
US20020008036A1 (en) * | 1998-02-12 | 2002-01-24 | Hui Wang | Plating apparatus and method |
WO2000033356A2 (en) * | 1998-11-28 | 2000-06-08 | Acm Research, Inc | Methods and apparatus for holding and positioning semiconductor workpieces during electropolishing and/or electroplating of the workpieces |
WO2002057514A2 (en) * | 2000-11-03 | 2002-07-25 | Nutool, Inc. | Method and apparatus for electrodeposition or etching of uniform film with minimal edge exclusion on substrate |
US20030209429A1 (en) * | 2000-11-03 | 2003-11-13 | Basol Bulent M. | Method and apparatus for processing a substrate with minimal edge exclusion |
TWI244508B (en) * | 2002-12-19 | 2005-12-01 | Dainippon Screen Mfg | Plating apparatus and plating method |
TWI281211B (en) * | 2005-03-29 | 2007-05-11 | Taiwan Semiconductor Mfg | Methods for electrochemical deposition (ECD) and for fabrication integrated circuit devices on a semiconductor substrate with damascene structures and defect-free ECD metal layer on the semiconductor wafer |
TWI290591B (en) * | 2006-01-16 | 2007-12-01 | Applied Materials Inc | Electrochemical plating apparatus and method |
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KR20110123670A (ko) | 2011-11-15 |
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