TWI404933B - Test unit and test head - Google Patents

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Description

測試部單元及測試頭
本發明係關於在電子元件測試裝置中所使用的測試頭及以可以裝卸的方式裝設在測試頭的本體部之測試部單元。
在IC元件等的電子元件的製造過程中，需要有測試裝置來測試最後製造出來的電子元件。在該測試裝置中，由稱之為搬運機的電子元件搬運裝置搬運IC元件，並使IC元件的外部端子和設置於測試頭上的測試座之連接端子電氣接觸，讓測試用主機(測試器)執行測試。如上述般測試IC元件，將其至少區分為良品或不良品的類別。
在測試頭上，一般會設置測試部單元(有時也稱之為Hi-Fix或主機板)。該測試部單元包含：具有轉接器功能的性能板；以及和該性能版電氣連接且具有一個或複數個測試座的插座板。該測試部單元，係以能夠對測試頭本體替換的方式裝設。
在此，測試頭本體的內部設有複數個基板，例如當基板機能不佳時，或者被測試IC元件的種類替換時，將測試部單元從測試頭本體卸下，保養測試頭本體，或必須換上其他的測試部單元。
如第7圖所示，過去的測試部單元7P包括：測試部單元本體5P、以及設於測試部單元本體5P的兩側部的把手6P。各把手6P由下列構成：以螺釘等固定在測試部單元本體5P的2個托架62P、以及橫插在這些托架62P之間的管狀的把手桿63P。把手6P的長度和測試部單元本體5P的寬度約略相同。
因為測試部單元7P的重量約為60kg，需要4名操作員握住把手6P進行測試部單元7P的裝卸。但是，就2名操作員握住各把手6P而言，把手6P太短了，未達基於人體工學之製品重量所需用的長度。因此，過去不得不在不穩定的狀態下執行測試部單元7P的裝卸。
另一方面，如果把手6P的長度比測試部單元本體5P的寬度還長，就會和其他的構造物互相干擾，所以把手6P的長度以測試部單元本體5P的寬度為上限。
另外，把手6P中管狀的把手桿63P，依其式樣，可能會變成受到電磁波干擾(EMI)的天線。
本發明係有鑑於此實際狀況，提供測試部單元以及測試頭，其能夠將把手做成配合製品重量的大小，而且能夠防止受到電磁波干擾。
為了達成上述目的，第一，本發明提供測試部單元，其係為裝設在測試頭的本體部的測試部單元，其特徵在於：具有無須使用工具就可以將其裝卸的把手(發明1)。
依據上述發明(發明1)，因為把手可以裝卸，將測試部單元裝在測試頭的本體部之後，可以將把手卸下，而防止受到由把手所造成之電磁波干擾，另外，即使當把手為基於人體工學之製品重量所需用的長度時，把手也不會干擾到其他的構造物。
在上述發明(發明1)中，該把手可以具有長尺狀的把持部(發明2)。
在上述發明(發明2)中，該把手的長度可以比該測試部單元的寬度長(發明3)。藉此，因為可以使把手為基於人體工學之製品重量所需用的長度，所以操作者容易握住把手，因此可以在穩定的狀態下進行測試部單元對測試頭本體部之裝卸。
在上述發明(發明1)中，複數個該測試部單元並列裝設在該測試頭的本體部，對於該複數個測試部單元使用1組的該把手(發明4)。
在上述發明(發明1)中，該把手係藉由在該測試部單元的平面方向延伸的銷和孔嵌合，並藉由在該測試部單元的厚度方向延伸之銷及孔嵌合，而裝設在該測試部單元的本體部，並藉由將上述各銷從上述各孔中拔出，而從測試部單元的本體部卸下(發明5)。
在上述發明(發明5)中，在測試部單元的厚度方向延伸的銷和孔，能夠發揮該把手對於該測試部單元的本體部之安裝的鎖定及解除的功能。
在上述發明(發明5)中，該把手包含在該測試部單元的平面方向延伸之第1銷，以及在該測試部單元的厚度方向延伸的第2銷，在該測試部單元的本體部則形成：在該測試部單元的平面方向延伸之第1孔，以及在該測試部單元之厚度方向延伸的第2孔(發明6)。
在上述發明(發明6)中，該把手的第2銷，可以在該測試部單元的厚度方向移動，藉由使該第2銷移動，能夠執行該把手對於該測試部單元的本體部之安裝的鎖定及解除(發明7)。
在上述發明(發明7)中，該把手具有指引柱塞，該第2銷為具有該指引柱塞所具有之可移動的銷(發明8)。藉由使用指引柱塞，可以簡單而且快速地完成把手對於該測試部單元的本體部之安裝的鎖定及解除。而且，藉由使用指引柱塞而鎖定，能夠防止把手從測試部單元的本體部脫落，而提高其安全性。
在上述發明(發明8)中，該把手包括：和該測試部單元之本體部的側面密接的基板、設於該基板兩端部之托架、橫插入該兩個托架之間的把手桿；該第1銷設於該基板，使其向該測試部單元的本體部側突出；該指引柱塞設於該基板，使得該第2銷可以在該測試部單元的厚度方向移動(發明9)。
在上述發明(發明6)中，該把手具有複數個該第1銷(發明10)。藉此，能夠確保把手對於測試部單元本體部的固定力。
在上述發明(發明8)中，該把手具有兩個該指引柱塞(發明11)。藉此，可以藉由一位操作員的左右手來操作指引柱塞，所以能夠由一位操作員簡單地進行把手的裝卸。
第二，本發明提供測試頭，其特徵在於包括：測試頭本體；以及裝設在該測試頭本體之如上述(發明1)之測試部單元(發明12)。
第三，本發明提供測試頭，其特徵在於包括：測試頭本體；以及複數個如發明4所述之測試部單元並排裝設在該測試頭本體(發明13)。
依據本發明，因為把手可以裝卸，所以將測試部單元裝在測試頭的本體部之後，可以將把手卸下，而防止受到由把手所造成之電磁波干擾。另外，即使當把手為基於測試部單元之重量所需用的長度時，例如，其長度比測試部單元的本體部還長時，將測試部單元裝在測試頭的本體部之後，可以將把手卸下，而能夠避免讓把手干擾到其他的構造物。
下文依據圖式，詳細說明本發明之實施型態。
第1圖顯示本發明一實施型態之測試頭單元及把手的側面圖，第2圖顯示同實施型態之測試部單元的本體部(並列狀態)的斜視圖，第3(a),(b)圖顯示同實施型態之測試部單元的把手的斜視圖，第4圖顯示同實施型態之測試部單元(並列狀態)的斜視圖，第5圖顯示同實施型態之測試部單元(單體)的斜視圖，第6圖顯示同實施型態之測試部單元的本體部(單體)的斜視圖。
如第1圖所示，IC元件測試裝置包含：處理機1、測試頭3、及圖未顯示的測試用主機裝置。處理機1執行下列動作：依序將應該要測試的IC元件(電子元件的一例)搬運到設於測試頭3的測試座，將測試完畢的IC元件依據測試結果分類儲存於特定的托盤上。
在處理機1的下部，主要內建有控制處理機1的控制裝置，但在其一部份設有空間部分10。測試頭3以可自由替換的方式配置在此空間部分10中，可以透過形成於處理機1的貫通孔將IC元件安裝在測試頭3上的測試座上。
測試頭3具有內建有複數基板的測試頭本體4、以及設置在測試頭本體4上之測試部單元本體5，其被設置在測試頭移動裝置8上。再者，本說明書中，將測試頭3及測試頭移動裝置8合稱為測試頭單元。
測試頭移動裝置8具有滑動機構。測試頭3藉由該滑動機構的驅動而從測試頭移動裝置8移出到處理機1的外面。藉此，能夠執行測試部單元本體5對於測試頭本體4的裝卸操作。
在本實施型態中，如第2圖所示，在測試頭本體4並列設置2個測試部單元本體5。各測試部單元本體5具有性能板51、以及和性能板51電氣連接且設有複數個測試座的測試座板52。該測試部單元本體5透過連接器，以可以替換的方式裝在測試頭本體4上。
設置在測試座板52上的測試座，透過測試頭本體4內的基板以及未圖示的外部纜線而和測試用主機裝置電氣連接。安裝在測試座上的IC元件與測試用主機裝置連接，藉由測試用主機裝置發出的測試用電氣信號而進行測試。
各測試部單元本體5中性能板51的兩側面的兩端部上，形成了在性能板51的平面方向延伸的導孔53。另外，在性能板51的上面的四個角，形成在性能板51的厚度方向延伸的柱塞孔54。
如第4及5圖所示，把手6以可裝卸的方式安裝在測試部單元本體5上。2個把手6為1組，對於2個測試部單元本體5使用1組的把手6。在本實施型態中，將測試部單元本體5及把手6合稱為測試部單元7。
如第3圖所示，把手6具有和性能板51的側面密接的基板61。在該基板61的一方的面(和性能板51相反側之面)的兩端部，設有2個托架62，在兩個托架62之間插入管狀的把手桿63。另外，在基板61的另一方的面(性能板51側的面)，則設有2支導桿64突出於性能板51側，各導桿64的上側設有指引柱塞65。指引柱塞65具有可以伸縮移動的柱塞銷67以及操作柱塞銷67的旋鈕66。再者，柱塞銷67藉由彈簧(圖未顯示)而向從指引柱塞65突出的方向加壓。指引柱塞65設於基板61，使得柱塞銷67可以在性能板51的厚度方向移動。
把手6的導桿64，和形成於性能板51的導孔53，係為可以互相嵌合的大小，另外，指引柱塞65的柱塞銷67，和形成於性能板51的柱塞孔54，係為可以互相嵌合的大小。
要將把手6安裝在測試部單元本體5，需將指引柱塞65的旋鈕66拉到上方，在使柱塞銷67退到指引柱塞65的內部的狀態下，將把手6的導桿64插入性能板51的導孔53中，使把手6的基板61和性能板51的側面密接。繼之，手離開指引柱塞65的旋鈕66使旋鈕66恢復原狀，使柱塞銷67從指引柱塞65的內部突出，並插入性能板51的柱塞孔54。藉此，能夠將把手6對測試部單元本體5鎖定，並能夠防止把手6從測試部單元本體5脫落。把手6裝在測試部單元本體5之狀態的測試部單元7，係如第4及5圖所示。
另一方面，要將把手6從測試部單元本體5卸下，需將指引柱塞65的旋鈕66拉到上方，將柱塞銷67從性能板51的柱塞孔54中拔出，解除把手6對測試部單元本體5的鎖定。繼之，使把手6從測試部單元本體5脫離，將把手6的導桿64從性能板51的導孔53拔出，最後將手離開指引柱塞65的旋鈕66，使旋鈕66恢復原狀。從測試部單元7卸下把手6的狀態之測試部單元本體5，係如第2及6圖所示。
因為在把手6中存在有2個指引柱塞65，所以1位操作者，藉由左右手分別操作指引柱塞65的旋鈕66，可以不使用工具，就能夠很簡單地在短時間(2～3秒)內將把手6對測試部單元本體5裝卸。
把手6的長度為配合基於人體工學之製品重量(測試部單元本體5的狀量)的長度，在本實施型態中，如第4及5圖所示，比測試部單元本體5的寬度還長。把手6可以對測試部單元本體5裝卸，所以，即使如上述般把手6的長度比測試部單元本體5的寬度還長，只要將把手6從測試部單元本體5卸下，就能夠避免把手6對其他構造物(包含例如其他的把手)造成干擾。另外，把手6的把手桿63，為成為接收電磁波干擾的天線，但是只要在使用測試頭3時將把手6從測試部單元本體5卸下，就能夠解決上述電磁波干擾的問題。
再者，把手6的把手桿63的長度，可以容易地對應於測試部單元本體5的尺寸或重量而變更。在本實施型態中，係為2位操作員容易握住的長度，但也可以是3位或4位操作員容易握住的長度。
在此，說明測試部單元本體5對於測試頭本體4的裝卸方法。
一開始，藉由測試頭移動裝置8的滑動機構的驅動，使測試頭3從測試頭移動裝置8移出到處理機1的外面。繼之，如第4圖所示，分別將把手6裝在一邊的測試部單元本體5的兩側部。如前述，把手6的安裝，係藉由指引柱塞65的操作，而可以很簡單地在短時間內完成。
各以2位操作員握住裝在測試部單元本體5的各把手6，由一共4位的操作員抬起測試部單元7將其從測試頭本體4卸下，將卸下的測試部單元7(參見第5圖)置於所欲之位置。
此時，把手6的長度比測試部單元本體5的寬度還長，為基於人體工學配合製品重量之長度，因此，各操作員可以容易地握住把手6，因此，能夠在穩定的狀態下執行測試部單元7的裝卸。
再者，把手6藉由指引柱塞65而對測試部單元本體5鎖定，因此，在裝卸測試部單元7的時候，把手6不會從測試部單元本體5脫落。亦即，要解除鎖定，必須故意把指引柱塞65的旋鈕66拉起，同時把把手6從測試部單元本體5拉開，所以鎖定不會自然鬆脫，而有高安全性。
繼之，如第6圖所示，將把手6從上述測試部單元7卸下。如上述把手6的卸下，也可以藉由指引柱塞65的操作，而簡單地在短時間內完成。
已卸下的把手6，如同上述，裝在另一邊的測試部單元本體5，握住已安裝的把手6，將測試部單元7抬起並從測試頭本體4卸下。
測試頭本體4的保養完成之後，藉由和上述相反的操作將2個測試部單元本體5裝在測試頭本體4上，將把手6從測試部單元本體5卸下(參見第2圖)。把測試部單元本體5換成其他的也是一樣，藉由和上述相反的操作把另外2個測試部單元本體5裝在測試頭本體4上，將把手6從測試部單元本體5卸下(參見第2圖)。因為事先將把手6從測試部單元本體5卸下，所以在使用測試頭3時，能夠避免受到因為把手6而造成之電磁波干擾。
最後，藉由測試頭移動裝置8的滑動機構之驅動，使測試頭3回到測試頭移動裝置8原來的位置。
上述說明之實施例，係用以使本發明容易理解，本發明並不限於上述實施例。因此，上述實施例中揭示之各種元件，可以基於本發明之精神進行種種變形，其亦包含在本發明之範圍內。
例如，導桿64及導孔53的個數不限定於2個，而可以配合測試部單元本體5的尺寸或重量而適當地變更。另外，也可以不使用指引柱塞65，而利用電磁螺線管而使銷伸縮移動的螺線管柱塞，也可以使用能以手動拔出的銷。再者，也可以藉由電磁石等的磁力之開(on)/關(off)而使把手6對測試部單元本體5裝卸。
 產業上利用可能性
本發明適用於測試單元本體對測試頭本體的裝卸，以及在測試頭中的電磁波干擾的對策。
1．．．電子元件處理裝置(處理機)
3．．．測試頭
4．．．測試頭本體(測試頭的本體部)
5,5P．．．測試部單元本體(測試部單元的本體部)
53．．．導孔(孔)
54．．．柱塞孔(孔)
6,6P．．．把手
61．．．基板
62,62P．．．托架
63,63P．．．把手桿
64．．．導桿(第1銷)
65．．．指引柱塞
66．．．旋鈕
67．．．柱塞銷(第2銷)
7,7P．．．測試部單元
第1圖顯示本發明一實施型態之測試頭單元及把手的側面圖。
第2圖顯示同實施型態之測試部單元的本體部(並列狀態)的斜視圖。
第3(a),(b)圖顯示同實施型態之測試部單元的把手的斜視圖。
第4圖顯示同實施型態之測試部單元(並列狀態)的斜視圖。
第5圖顯示同實施型態之測試部單元(單體)的斜視圖。
第6圖顯示同實施型態之測試部單元的本體部(單體)的斜視圖。
第7圖顯示傳統的測試部單元的斜視圖。
1．．．電子元件處理裝置(處理機)
3．．．測試頭
4．．．測試頭本體(測試頭的本體部)
5．．．測試部單元本體(測試部單元的本體部)
8．．．測試頭移動裝置
10．．．空間部分

Claims (12)

  1. 一種測試部單元，其係為裝設在測試頭的本體部的測試部單元，其特徵在於：具有無須使用工具就可以將其裝卸的把手；該把手係藉由在該測試部單元的平面方向延伸的銷和孔嵌合，並藉由在該測試部單元的厚度方向延伸之銷及孔嵌合，而裝設在該測試部單元的本體部，並藉由將上述各銷從上述各孔中拔出，而從測試部單元的本體部卸下。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手具有長尺狀的把持部。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手的長度比該測試部單元的寬度長。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試部單元，其特徵在於：複數個該測試部單元並列裝設在該測試頭的本體部，對於該複數個測試部單元使用1組的該把手。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手包含在該測試部單元的平面方向延伸之第1銷，以及在該測試部單元的厚度方向延伸的第2銷，在該測試部單元的本體部則形成：在該測試部單元的平面方向延伸之第1孔，以及在該測試部單元之厚度方向延伸的第2孔。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的測試部單元，其特徵在於：該把手的第2銷，可以在該測試部單元的厚度方向移動，藉由使該第2銷移動，能夠執行該把手對於該測試 部單元的本體部之安裝的鎖定及解除。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手具有指引柱塞，該第2銷為具有該指引柱塞所具有之可移動的銷。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手包括：和該測試部單元之本體部的側面密接的基板、設於該基板兩端部之托架、橫插入該兩個托架之間的把手桿；該第1銷設於該基板，使其向該測試部單元的本體部側突出；該指引柱塞設於該基板，使得該第2銷可以在該測試部單元的厚度方向移動。
  9. 如申請專利範圍第5項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手具有複數個該第1銷。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之測試部單元，其特徵在於：該把手具有兩個該指引柱塞。
  11. 一種測試頭，其特徵在於包括：測試頭本體；以及裝設在該測試頭本體之如申請專利範圍第1項所述之測試部單元。
  12. 一種測試頭，其特徵在於包括：測試頭本體；以及複數個如申請專利範圍第4項所述之測試部單元並排裝設在該測試頭本體。
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