TWI393097B - 電場發光顯示裝置及電場發光顯示裝置之顯示不均勻之補正方法 - Google Patents

電場發光顯示裝置及電場發光顯示裝置之顯示不均勻之補正方法 Download PDF

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Description

電場發光顯示裝置及電場發光顯示裝置之顯示不均勻之補正方法
本發明係關於在各像素中具有電場發光元件的顯示裝置的顯示不均勻的補正。
將作為自發光元件的電場發光元件(以下稱為“EL元件”)用於各像素的顯示元件的EL顯示裝置，係期待作為下一代的平面顯示裝置並研究開發中。
此種EL顯示裝置係在玻璃、塑膠等的基板上，製作形成有EL元件和用以於每個像素驅動該EL元件的薄膜電晶體(TFT)等的EL面板(panel)後，經過幾次之檢查，作為製品而出廠。
在各像素中具有TFT的目前的主動矩陣型EL顯示裝置中，會產生因該TFT造成的顯示不均勻，特別是由於TFT的臨限值Vth的不均勻，產生EL元件的亮度不均勻，造成良率下降的主要原因。提高該製品的良率是非常重要的，伴隨元件設計、材料、製造方法等的改進，要求減低顯示缺陷和顯示不均勻(顯示參差不齊)，並且在日本特開2005－316408(以下稱為專利文獻1)等中，在產生顯示不均勻等的情況下，嘗試藉由對其進行補正，形成良好的面板。
在專利文獻1中，使EL面板發光，測定各像素的亮度，對應於該亮度的不均勻，對供應至像素的資料信號(影像信號)進行補正。另外，作為另一方法，提出一種在各像素中組裝對控制流至EL元件的電流的元件驅動電晶體的Vth的不均勻進行補正的電路之技術手段。
如專利文獻1，使EL面板發光，藉由照相機對其進行拍攝，測定亮度不均勻時，如果EL面板進行高精細化處理，像素數量增加時，則為了針對每個像素，測定其亮度不均勻，測定和補正對象多，必須要求提高照相機的解析度，擴大補正資訊的儲存部的容量等。
另外，即使在未將Vth補償用的電路元件組裝於像素中的情況下，對因TFT的Vth的不均勻造成的顯示不均勻進行補正的要求非常強烈。
本發明的目的在於正確且有效地測定EL顯示裝置的顯示不均勻，並可對該顯示不均勻進行補正。
本發明係關於一種電場發光顯示裝置的顯示不均勻之補正方法，其中，上述顯示裝置係在各像素中具備二極體結構的電場發光元件及元件驅動電晶體，該元件驅動電晶體係與該電場發光元件連接，並用以控制流通於該電場發光元件的電流；對各像素供給將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號，並且使上述元件驅動電晶體在該電晶體的飽和區域動作，檢測流通於上述電場發光元件的電流，根據該電流值，對供給到對應的像素的上述資料信號進行補正。
本發明的另一態樣係關於一種電場發光顯示裝置，該電場發光顯示裝置具備：具有複數個像素的顯示部；用以對顯示不均勻進行補正的補正資料儲存部；及用以對上述顯示不均勻進行補正的補正部；上述複數個像素的每一個係具備電場發光元件及與該電場發光元件連接的元件驅動電晶體，在上述補正資料儲存部中儲存有與在供給將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號時流通於上述電場發光元件的電流相對應的補正資料，上述補正部係按照上述補正資料，對供給到各像素的資料信號進行補正。
本發明的另一態樣係關於一種電場發光顯示裝置，該電場發光顯示裝置具備：具有複數個像素的顯示部；用以對顯示不均勻進行補正的補正資料儲存部；及用以對上述顯示不均勻進行補正的補正部；上述複數個像素的每一個係具備電場發光元件及與該電場發光元件連接的元件驅動電晶體，在上述補正資料儲存部中儲存有與導通關斷電流差對應的補正資料，該導通關斷電流差係在供給將上述電場發光元件作為非發光位準的檢查用關斷顯示信號及將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號時對應於上述檢查用關斷顯示信號流通於上述電場發光元件的電流、與對應於上述檢查用導通顯示信號流通於上述電場發光元件的電流的電流差，上述補正部係按照上述補正資料，對供給到各像素的資料信號進行補正。
本發明的又一態樣係關於一種電場發光顯示裝置，該電場發光顯示裝置具備：具有複數個像素的顯示部；用以檢測各像素的顯示不均勻的不均勻檢測部；及用以對上述顯示不均勻進行補正的補正部；上述複數個像素的每一個係具備電場發光元件及與該電場發光元件連接的元件驅動電晶體，上述不均勻檢測部係檢測出導通關斷電流差，並且將檢測到的上述導通關斷電流差與基準值進行比較，該導通關斷電流差係在供給將上述電場發光元件作為非發光位準的檢查用關斷顯示信號及將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號時對應於上述檢查用關斷顯示信號流通於上述電場發光元件的電流、與對應於上述檢查用導通顯示信號流通於上述電場發光元件的電流的電流差，上述補正部係按照上述比較的結果，對供給到各像素的資料信號進行補正。
本發明的又一態樣係在上述電場發光顯示裝置中，復具備儲存與上述導通關斷電流差相對應的補正資料的補正資料儲存部，上述補正部係根據上述儲存的上述導通關斷電流差，對上述資料信號進行補正。
另外，復可包括儲存上述導通關斷電流差的初始電流差資料的儲存部，上述補正部係根據上述初始電流差資料與上述已檢測到的導通關斷電流差，對上述資料信號進行補正。
在本發明的又一態樣中，流通於上述電場發光元件的電流為例如陰極電流。
按照本發明，在飽和區域使設置於各像素且用以驅動EL元件的元件驅動電晶體動作，使EL元件發光，測定此時流通於EL元件的電流(例如陰極電流)。在EL元件中，流通於元件的電流和發光亮度具有相關關係，可藉由測定電流，檢測出EL元件的顯示不均勻。
再者，由於測定對象不是發光亮度，而是電流，故可藉由簡單的構成進行測定。另外，如果使EL元件導通關斷，測定此時的導通關斷電流值，則能以關斷電流為基準，正確地得知導通電流，可容易地進行正確且高速的測定和補正處理。
此外，藉由在顯示裝置中設置流通於EL元件的電流的測定功能，即可對應於後來發生的顯示不均勻的產生，對其進行補正。
以下，藉由附圖對本發明的最佳實施形態(以下稱為實施形態)進行說明。
(檢測原理)
在本實施形態中，顯示裝置具體而言為主動矩陣型的有機EL顯示裝置，具有複數個像素的顯示部係形成於EL面板100。第1圖為表示本實施形態之主動矩陣型EL顯示裝置等效電路構成圖。在EL面板100的顯示部中，呈矩陣狀設置複數個像素，沿矩陣的水平掃描方向(列方向)，依序形成輸出選擇信號的選擇線GL，沿垂直掃描方向(行方向)，形成輸出資料信號(Vsig)的資料線DL，及用以對作為被驅動的有機EL元件(以下簡稱為“EL元件”)供給驅動電源PVDD的電源線VL。
各像素係設置於大致藉由這些線劃分的區域，各像素包括作為被驅動元件的EL元件。另外，設置由n通道的TFT構成的選擇線電晶體Tr1(以下稱為“選擇Tr1”)、保持電容Cs、及由p通道的TFT構成的元件驅動電晶體Tr2(以下稱為“元件驅動Tr2”)。
在選擇Tr1中，其汲極與資料線DL連接，該資料線DL係將資料電壓(V sig)供給在垂直掃描方向排列的各像素，閘極與閘極線GL連接，該閘極線GL係用以選擇在1水平掃描線上排列的像素，其源極與元件驅動Tr2的閘極連接。
另外，元件驅動Tr2的源極與電源線VL連接，汲極係與EL元件的陽極連接。EL元件的陰極係按照各像素共用的方式形成，且與陰極電源CV連接。
EL元件係藉由二極體結構，在下部電極和上部電極之間具有發光元件層。發光元件層包括例如至少具有有機發光材料的發光層，可根據發光元件層所採用的材料特性等，採用單層構造、2層、3層或4層以上的多層構造。在本實施形態中，下部電極係針對每個像素，按照各自形狀被圖案化，並發揮上述陽極功能，與元件驅動Tr2連接。另外，上部電極係按照與多個像素共用的方式發揮陰極功能。
在針對每個像素，具有上述電路構成的主動矩陣型EL顯示裝置中，如果元件驅動Tr2的動作臨限值Vth不勻，則即使將同一資料信號供給各像素，同一電流也不會從驅動電源PVDD供給到EL元件，其成為亮度不均勻(顯示不均勻)的原因。
第2圖表示產生元件驅動Tr2的特性參差不齊(電流供給特性的參差不齊，例如，動作臨限值Vth的不均)時的像素的等效電路和元件驅動Tr2和EL元件的IV特性。在元件驅動Tr2的動作臨限值Vth產生不均勻時，藉由電路方式，如第2圖(b)所示，可看到在元件驅動Tr2的汲極側，連接有大於或小於正常的電阻。因此，EL元件所流通的電流(在本實施形態中，陰極電流Icv)特性與正常像素並無不同，但實際上，流通於EL元件的電流係對應於元件驅動Tr2的特性參差不齊而變化。
施加於元件驅動Tr2之施加電壓滿足Vgs－Vth<Vds時，元件驅動Tr2係在飽和區域動作。如第2圖(a)所示，在元件驅動Tr2的動作臨限值Vth高於正常像素的像素中，該電晶體的汲極與源極之間的電流Ids小於正常的電晶體，對EL元件的供給電流量、即EL元件所流通的電流小於正常像素(△I大)，結果，該像素的發光亮度小於正常像素的發光亮度，造成顯示不均勻。
反之，在元件驅動Tr2的動作臨限值Vth小於正常像素的像素中，該電晶體的汲極與源極之間的電流Ids大於正常的電晶體，EL元件所流通的電流大於正常像素，發光亮度會增加。
另外，施加於元件驅動Tr2的施加電壓滿足Vgs－Vth>Vds時，該元件驅動Tr2係在線性區域動作，在該線性區域，在臨限值vth高的元件驅動Tr2和臨限值vth低的元件驅動Tr2中，Ids－Vds特性的差小，因此對EL元件的供給電流量的差(△I)也小。由此，EL元件係不論元件驅動Tr2有無特性參差不齊者，皆呈現大致相同的發光亮度，難以在線性區域檢測因特性參差不齊造成的顯示不均勻，但是，如上所述，藉由在飽和區域使元件驅動Tr2動作，即可檢測出因該元件驅動Tr2的特性參差不齊造成的顯示不均勻。
此外，如果根據已檢測到的電流值，對供給各像素的資料信號進行補正，則能夠確實地對顯示不均勻進行補正。例如，元件驅動Tr2的臨限值| Vth |小於正常值時，供給基準的資料信號時的EL元件的發光亮度係高於通常值。因此，在該情況下，藉由對應於相對臨限值| Vth |的基準的偏差值，減小資料信號的絕對值| Vsig |，即可對亮度不均勻進行補正。在元件驅動Tr2的臨限值| Vth |高於正常時，藉由對應於相對臨限值| Vth |的基準的偏差值，增加資料信號的絕對值| Vsig |，即可對亮度不均勻進行補正。
另外，在以上的像素電路中，元件驅動電晶體係採用p通道的TFT，但亦可採用n通道的TFT。此外，在以上的像素電路中，針對1個像素，採用具有作為電晶體的選擇電晶體和驅動電晶體的2個電晶體的構成為例進行說明，但是，電晶體並不限於2個類型及上述電路構成。
(具體例)
以下參照第3圖至第5圖，對基於上述原理的陰極電流的檢查和顯示不均勻補正進行具體說明。
第3圖表示測定陰極電流，對亮度不均勻進行補正的裝置的概略構成。電流檢查部300係提供作為檢查裝置，該檢查裝置係用於在出廠時，根據陰極電流的測定檢查EL面板100的顯示不均勻的檢查裝置，檢查用信號產生電路320係根據控制部310的控制，產生檢查所需的檢查用電源、檢查用的時序信號、顯示信號等，將其藉由端子100T供向EL面板100。不均勻檢測部340係根據陰極電流檢測部350檢測到的陰極電流Icv，檢測出顯示不均勻是否產生。
EL面板驅動裝置200係與EL面板100一起構成EL顯示裝置，其包括：用以驅動EL面板100的面板驅動部210；補正值儲存部(補正參數設定部)250；及不均勻補正部240；該不均勻補正部240係採用在出廠時儲存於該補正值儲存部250的補正值，對資料信號進行補正。
第4圖表示陰極電流的測定和顯示不均勻的補正的程序之例。在顯示裝置出廠之前，藉由電流檢查部300的檢查用信號產生電路320的信號，使各像素的選擇Tr1導通，並且將檢查用導通(on)顯示信號經由對應的像素的選擇Tr1，施加於元件驅動Tr2的閘極(S1)。
此時，元件驅動Tr2係在飽和區域動作，如上所述，滿足Vgs－Vth<Vds的方式設定。採用p通道型TFT作為元件驅動Tr2時的電壓係與通常顯示模式相同，作為一個實例，將驅動電源PVDD設為8.0V，將陰極電源CV設為－3V，供給至各像素的檢查用導通顯示信號係採用0V的信號。
陰極電流檢測部350使對應的像素的元件驅動Tr2係在飽和區域動作，檢測出使EL元件發光時的陰極電流Icv(S2)。不均勻檢測部340係對已檢測的陰極電流Icv和基準值(基準範圍)進行比較，在陰極電流大於基準值時，求出增加供給到EL面板100的資料信號的電壓且減小流通於EL元件的電流所需的補正值，另外在小於基準範圍時，求出減小資料信號的電壓且增加流通於EL元件的電流所需的補正值。這些補正值係作為每個像素的補正值，儲存於儲存部250(S3)。另外，對於EL面板驅動裝置200的不均勻補正部240的功能，也可在儲存部250中，不直接儲存補正值，而儲存補正所需的參數和已測定的每個像素的陰極電流值(初期陰極電流值)。另外，在不均勻檢測部340中，比較陰極電流Icv和基準值的結果，陰極電流Icv超過容許範圍，大於基準值時或小於該基準值時，即使藉由對資料信號進行補正，仍不能夠補正，亦即，判定顯示缺陷的發生，如果可修復(repair)，則可返回到修復處理步驟。
再者，在將元件驅動Tr2設為n通道型TFT時，對已檢測到的陰極電流Icv和基準值進行比較，在陰極電流大於基準值時，求出減小供給到EL面板100的資料信號的電壓並增加流通於EL元件的電流所需的補正值，另外，在小於基準值時，求出增大供給到EL面板100的資料信號的電壓且減小流通於EL元件的電流所需的補正值。
如上所述，在儲存部250中儲存補正值，另外，進行其他的檢查，最後將判定為良品的EL顯示裝置出廠，該EL顯示裝置係在動作時，一邊對資料信號進行補正，一邊進行顯示。
在對從外部供給的影像信號進行處理，將每個像素的資料信號供給到EL面板100時，不均勻補正部240係判斷該資料信號的圖像位址是否為補正所需的像素，在位址一致，亦即為補正所需的像素時(S10)，從儲存部250讀出補正參數等的補正資訊(S11)，計算出對資料信號的補正值(S12)。
藉由將已計算的補正值，與例如所供給的資料信號相乘的方式，對資料信號進行補正(S13)，該資料信號(Vsig)係經由EL面板100的第1圖所示的資料線DL被供給到對應的像素，EL元件則按照與已補正的資料信號相對應的亮度發光，進行顯示(S14)。
(陰極電流高速測定)
第5圖係表示採用陰極電流Icv，高速地檢查顯示不均勻時的EL面板100的驅動波形。在第5圖所示的檢查方法中，在選擇1個像素的期間中(1個水平時鐘信號的2分之1週期)，相對該像素，連續地施加導通(on)顯示信號(EL發光)和關斷(off)顯示信號(EL非發光)來作為檢查用顯示信號Vsig。另外，第3圖的檢查用信號產生電路320採用水平起始信號STH、水平時鐘信號CKH等，來製作該檢查用顯示信號。陰極電流檢測部350係分別檢測與導通顯示信號相對應的EL元件的陰極電流Icvon 、及與關斷顯示信號相對應的EL元件的陰極電流Icvoff (根據需要，對電流進行放大)，不均勻檢測部340係計算導通和關斷的陰極電流的差分△Icv，對該差分資料、與例如基於正常像素的差分資料的基準值進行比較，由此，可檢測出顯示不均勻。
此外，同樣在第5圖所示的檢查方法中，如上所述，按照元件驅動Tr2在飽和區域動作的方式設定驅動電源PVDD和陰極電流CV。另外，在第5圖中，垂直時鐘信號CKV為與垂直方向的像素數相對應的時鐘信號，致能(enable)信號ENB為用於防止在1個水平掃描期間的最初和最後，在資料信號Vsig未確定的時候，將選擇信號輸出給各水平掃描線(閘極線GL)時的禁止信號。
如上所述，測定關斷顯示信號時的陰極信號Icvoff ，以該Icvoff 為基準，相對地掌握導通顯示信號時的陰極電流Icvon ，由此，不必正確地判斷導通顯示信號時的陰極電流Icvon 的絕對值，不必測定成為另一基準的關斷顯示信號時的陰極電流Icvoff ，可高精確度地進行高速的自動檢查。具體來說，作為一個實例，可針對R、G、B的各像素，分別按照小於3秒左右的時間，執行陰極電流的測定，可進行極高速度的檢查。例如，與使EL元件發光，藉由照相機對其進行拍攝，並根據該拍攝資料分析亮度的方法相比較，可大幅地縮短檢查時間，另外，可針對全部像素，檢測出顯示不均勻。顯然，在必須減小、補正值儲存部250的容量時，也可將陰極電流的測定對象作為複數個像素單位，儲存複數個像素(區域)單位的補正值。此時，例如，在不均勻補正部240中，可藉由對鄰接的多個像素區域的補正值進行線性內插處理等的方法，決定對注目像素的補正值。
另外，在第5圖所示的檢查方法中，決定沿矩陣設置的像素的行方向，亦即對各資料線DL輸出顯示信號的期間的水平啟始信號STH，在2行份的選擇期間設定。在通常顯示時，各水平掃描線上的像素係按照對應的1H期間而選擇，在此時相對應的資料線DL上，每次按照相當於1H期間除以1個水平掃描方向的像素數量的期間，輸出顯示信號Vsig。相對該情況，在不均勻檢查時採用檢查用的水平開始信號STH，由此，相對於1條資料線DL，在2像素份的顯示信號輸出期間，供給檢查用顯示信號Vsig。亦即，在同一水平掃描線中排列的像素中，鄰接的2個像素同時成為檢查對象。另外，該像素的同時檢查對象數並不限於2，例如，也可將每次3個像素作為檢查對象。如此，針對1個像素，連續複數次地形成檢查對象，由此，在時序信號、檢查用顯示信號Vsig等重疊雜訊並產生像素誤顯示的情況下，由於該雜訊重疊在複數個期間連續地發生的機率小，故可減小因雜訊造成的誤檢測。
在此，用以驅動EL面板100的顯示部的各像素用的驅動電路中的水平方向驅動電路，係具備與水平掃描方向的像素數量相對應的段數的移位暫存器，該移位暫存器係對應於水平時鐘信號CKH，依序傳輸水平啟始信號STH，並且從暫存器的各段，對於取樣電路，輸出決定向對應的資料線DL輸出顯示信號Vsig的期間(取樣期間)的取樣保持信號。另外，呈現該取樣保持信號的取樣期間係與上述水平啟始信號STH的期間(在此為H位準期間)相對應。因此，如果對EL面板100的水平方向驅動電路，在缺陷檢查時，供給檢查用信號產生電路320所製作的第5圖所示的檢查用的水平啟始信號STH來作為水平啟始信號STH，並且對在各資料線DL上經由取樣電路而連接的視頻信號線，輸出第5圖所示的檢查用顯示信號Vsig，則可每次針對複數個像素，供給檢查用顯示信號Vsig，以進行檢查。
另外，第5圖的驅動方法係在具備與供給到資料線DL的顯示信號的驅動波形的切換時序連動來設定元件驅動Tr2的導通關斷(EL元件的發光、非發光)時序的像素電路時有效，作為一例，可應用於第1圖所示的像素電路構成。另外，即使在對用以控制各像素的保持電容Cs之電位的電容線CL，供給所希望的交流信號的像素電路構成中，仍可附加在檢查時固定電容線CL之電位的電容電位控制開關等，使元件驅動Tr2對應於供給到資料線DL的顯示信號的時序而動作，藉此，可採用第5圖所示的檢查方法。
(帶有顯示不均勻測定功能的顯示裝置)
以上針對在出廠時測定陰極電流，預先儲存補正值的方法進行說明，但是，也可在EL顯示裝置中設置陰極電流測定(顯示不均勻測定)功能。以下參照第6圖，對具有顯示不均勻測定功能和補正功能的EL顯示裝置進行說明。
EL顯示裝置的構成係藉由下述的方式實現，該方式為：將第3圖所示的電流檢查部300與EL面板100和EL面板驅動裝置200一起設置，從電流檢查部300的檢查用信號產生電路320，如上述第5圖所示，供給將EL元件作為非發光位準的檢查用關斷顯示信號及將該EL元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號，測定此時的陰極電流差△Icv。另外，該陰極電流測定最好例如在裝置啟動時、待機時等的通常動作時以外的期間進行。
陰極電流測定的方法如上所述，與第5圖相同，使選擇Tr1導通，使元件驅動Tr2處於飽和狀態，施加檢查用導通顯示信號、檢查用關斷顯示信號(S30)，陰極電流檢測部350檢測出陰極電流，不均勻檢測部340檢測出陰極電流差△Icv(S31)。
不均勻檢測部340復對該陰極電流差△Icv是否為基準值(基準範圍)進行比較(S32)，對應於其結果，求出補正值(S33)。如果陰極電流差△Icv在基準範圍內，則由於為正常像素(沒有顯示不均勻)，故不均勻補正部240係選擇將該像素相關的補正量設為0的參數，在非基準範圍內時，由於產生顯示不均勻，因此計算出與基準值的差相對應的補正參數。如此算出的補正參數係設定在補正值儲存部250。在通常顯示時，不均勻補正部240係與第4圖的顯示裝置出廠後的使用時的步驟(S10至S14)相同，採用已設定的補正參數，對必要的像素的資料信號進行補正，供給該資料信號，以進行顯示(S34)。
藉此，在顯示裝置中設置陰極電流測定功能，即使在因出廠後的經時性變化造成元件驅動Tr2等產生特性變化的情況下，仍可對應於其變化對資料信號進行補正，可長期地維持顯示品質，可提高顯示裝置的壽命。
另外，在出廠時，測定初期狀態(出廠時)中之相同的陰極電流差△Icv，將其測定值作為基準值，儲存於儲存部250，由此，可更正確地檢測出伴隨使用的特性經時性變化，另外，可考慮該經時性變化，進行補正運算。
此外，以上係以在EL顯示裝置中設置陰極電流測定功能時，測定陰極電流差△Icv的構成為例進行說明，但是，也可在檢測出出廠後的顯示不均勻時，測定僅將檢查用導通顯示信號供給到各像素時的陰極電流，預先儲存規定基準值(例如初期陰極電流)，將該陰極電流與該基準值進行比較。
再者，以上係以測定陰極電流之方法為例說明在出廠時或出廠後之任一情況下顯示不均勻的檢測方法，但是，也可針對在出廠時的顯示不均勻檢測，如第3圖中的虛線所示，採用使EL元件發光並對其進行拍攝的照相機400，來檢測發光亮度，根據該亮度，計算出補正值。另外，還可在出廠後，藉由電流檢查部300檢測出陰極電流，進一步對資料信號進行補正。
再者，如果就以上說明的不均勻補正部240的補正來說，最後將供給到產生顯示不均勻的像素的資料信號調整到合適的位準，對EL元件的發光亮度進行補正，則運算處理、補正處理方法沒有特別的限制。
另外，可提供一種下述的顯示裝置，亦即藉由將不均勻補正部240、內建於顯示裝置時的電流檢查部300與面板驅動部210一起積體化，即可利用非常小的驅動電路，進行顯示不均勻的檢測和補正。
此外，可相對於補正值儲存部250，依序改寫或追加在電流檢查部300中檢測到的陰極電流值(△Icv)或補正資訊，由此，可恒久地實現沒有顯示不均勻的顯示裝置。
再者，在以上的說明中，雖係列舉採用EL元件的陰極電流(例如△Icv)作為不均勻補正的檢查時測定的電流的實例，但亦可根據流通於EL元件的電流I oled(△I oled)進行檢查。流通於該EL元件的電流I oled也可不是例如上述陰極電流Icv，而是陽極電流I ano。也可取代將EL元件的各像素的個別電極作為陽極電極，將複數個像素中共通電極作為陰極電極的構成，而將個別電極作為陰極電極，將共通電極設為陽極電極時，如上所述，測定流通於共通電極的電流的陽極電流(△I ano)。
100．．．EL面板
100T．．．端子
200．．．EL面板驅動裝置
210．．．面板驅動部
240、340．．．不均勻補正部
250．．．補正值儲存部
300．．．電流檢查部
310．．．控制部
320．．．檢查用信號產生電路
350．．．陰極電流檢測部
400．．．照相機
Cs．．．保持電容
CL．．．電容線
CKH．．．水平時鐘信號
CKV．．．垂直時鐘信號
CV．．．陰極電源
DL．．．資料線
GL．．．選擇線(閘極線)
I ano．．．陽極電流
Icv．．．陰極電流
△Icv．．．陰極電流差
PVDD．．．驅動電源
STH．．．水平起始信號
Tr1．．．選擇線電晶體
Tr2．．．元件驅動電晶體
VL．．．電源線
Vth．．．動作臨限值
第1圖為說明本發明實施形態之EL顯示裝置的概略電路構成的等效電路圖。
第2圖為說明本發明實施形態之元件驅動電晶體的特性參差不齊測定原理的圖。
第3圖為表示本發明實施形態之EL顯示裝置的構成和陰極電流檢查裝置的概略構成圖。
第4圖為表示採用第3圖的檢查裝置的發光狀態檢查程序的例圖。
第5圖為表示執行利用陰極電流的高速的檢查用的驅動波形的圖。
第6圖為表示本發明實施形態之陰極電流檢測和具有補正功能的EL顯示裝置的動作程序的例圖。
100．．．EL面板
100．．．T端子
200．．．EL面板驅動裝置
210．．．面板驅動部
240、340．．．不均勻補正部
250．．．補正值儲存部
300．．．電流檢查部
310．．．控制部
320．．．檢查用信號產生電路
350．．．陰極電流檢測部
400．．．照相機

Claims (10)

  1. 一種電場發光顯示裝置的顯示不均勻之補正方法，其特徵為：上述顯示裝置係在各像素中具備二極體結構的電場發光元件及元件驅動電晶體，該元件驅動電晶體係與該電場發光元件連接並用以控制流通於該電場發光元件的電流，對各像素供給將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號，並且使上述元件驅動電晶體在該電晶體的飽和區域動作，檢測流通於上述電場發光元件的電流，根據該電流值，對供給到對應的像素的上述資料信號進行補正。
  2. 如申請專利範圍第1項之顯示不均勻之補正方法，其中，流通於上述電場發光元件的電流為陰極電流。
  3. 一種電場發光顯示裝置的顯示不均勻之補正方法，其特徵為：上述顯示裝置係在各像素中具備二極體結構的電場發光元件及元件驅動電晶體，該元件驅動電晶體係與該電場發光元件連接並用以控制流通於該電場發光元件的電流，使各像素的上述元件驅動電晶體在該電晶體的飽和區域動作，並且對該像素供給將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號及將上述電場發光元件作為非發光位準的檢查用關斷顯示信號，檢測對應於上述檢查用導通顯示信號而流通於上述電場發光元件的電流，與對應於上述檢查用關斷顯示信號而流通於上述電場發光元件的電流的導通關斷電流差，將上述導通關斷電流差與基準值進行比較，檢測動作的像素的特性參差不齊，按照上述檢測到的特性參差不齊，對供給到對應的像素的上述資料信號進行補正。
  4. 一種電場發光顯示裝置，係具備：具有複數個像素的顯示部；用以對顯示不均勻進行補正的補正資料儲存部；及用以對上述顯示不均勻進行補正的補正部；上述複數個像素的每一個係具備電場發光元件及與該電場發光元件連接的元件驅動電晶體，在上述補正資料儲存部中儲存有與在供給將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號時流通於上述電場發光元件的電流相對應的補正資料，上述補正部係按照上述補正資料，對供給到各像素的資料信號進行補正。
  5. 一種電場發光顯示裝置，係具備：具有複數個像素的顯示部；用以對顯示不均勻進行補正的補正資料儲存部；及用以對上述顯示不均勻進行補正的補正部；上述複數個像素的每一個係具備電場發光元件及與該電場發光元件連接的元件驅動電晶體，在上述補正資料儲存部中儲存有與導通關斷電流差對應的補正資料，該導通關斷電流差係在供給將上述電場發光元件作為非發光位準的檢查用關斷顯示信號及將上述電場發光元件作為發光位準的檢查用導通顯示信號時對應於上述檢查用關斷顯示信號的上述電場發光元件的陰極電流、與對應於上述檢查用導通顯示信號的上述電場發光元件的陰極電流的電流差，上述補正部係按照上述補正資料，對供給到各像素的資料信號進行補正。
  6. 一種電場發光顯示裝置，係具備：具有複數個像素的顯示部；用以檢測各像素的顯示不均勻的不均勻檢測部；及用以對上述顯示不均勻進行補正的補正部；上述複數個像素的每一個係具備電場發光元件及與該電場發光元件連接的元件驅動電晶體，上述不均勻檢測部係檢測導通關斷電流差，並且將檢測到的上述導通關斷電流差與基準值進行比較，該導通關斷電流差係在供給將上述電場發光元件作為非發光位準的檢查用關斷顯示信號及將上述電場發光元件為發光位準的檢查用導通顯示信號時流通於對應於上述檢查用關斷顯示信號的上述電場發光元件的電流、與流通於對應於上述檢查用導通顯示信號的上述電場發光元件的電流之電流差，上述補正部係按照上述比較的結果，對供給到各像素的資料信號進行補正。
  7. 如申請專利範圍第6項之電場發光顯示裝置，其中，復具備儲存上述導通關斷電流差的初期電流差資料的儲存部，上述補正部係根據上述初期電流差資料和上述檢測到的導通關斷電流差，對上述資料信號進行補正。
  8. 如申請專利範圍第6項之電場發光顯示裝置，其中，復具備儲存與上述導通關斷電流差相對應的補正資料的補正資料儲存部，上述補正部係根據所儲存的上述導通關斷電流差，對上述資料信號進行補正。
  9. 如申請專利範圍第8項之電場發光顯示裝置，其中，復具備儲存上述導通關斷電流差的初期電流差資料的儲存部，上述補正部係根據上述初期電流差資料和上述檢測到的導通關斷電流差，對上述資料信號進行補正。
  10. 如申請專利範圍第6項之電場發光顯示裝置，其中，流通於上述電場發光元件的電流為陰極電流。
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