TWI391679B - 決定抖動的頻率成分 - Google Patents

Description

決定抖動的頻率成分

本發明大致係關於在一波形中之抖動之測量，且更具體地說，係關於抖動之頻率成分之測量。

自動測試設備常被電子裝置製造商用來做為偵測製造缺陷之用。例如，自動測試設備允許半導體裝置製造商在大量之基礎上，測試在市場上銷售之每個裝置之功能。測試器驅動訊號至受測裝置(DUT)並偵測由其而來之訊號，並對預期值來評估偵測結果。時序抖動使得電氣系統劣化，且對於更高資料速率及更小邏輯擺幅之推進趨勢增加了對抖動之測量與特性化之興趣和必要性。

抖動為在高速資料通訊中之關鍵性能因素。抖動定義為在一資料位元之順序中有意義之邊緣偏離其理想位置之不對準。不對準結果會造成資料錯誤。在一延伸之時間期間上追蹤這些錯誤決定系統穩定性。抖動可能因為確定的(deterministic)和隨機的現象而導致。判斷這些抖動成分之大小引導了設計之改進。

抖動測量技術一般具有測量在一資料串中之有意義之邊緣之時序之能力。例如，示波器和數位化器已被用來測量在固定時間間隔上之一訊號之電壓以及分析此資料以判斷邊緣時間。其他範例為時間間隔分析器和時間標記器。這些裝置直接地測量邊緣時間或在一對邊緣之間之時間。在其他範例中，非同步選通(strobing)比較器技術被用來測量在固定時間間隔上是否一訊號高於或低於一臨限值。非同步選通比較器技術對測量資料使用推測數學技術以判斷邊緣時間之特性。使用二個一般方法來以非同步選通(或取樣)技術來建立一固定時間間隔。該等方法為”依序”和”非依序”選通。對依序和非依序選通技術來說皆存在缺點。例如，依序選通具有低雜訊免疫力和長的獲取時間，而非依序選通對於頻率錯誤敏感，需要複雜的設定以供測量之用，且僅提供受限的分析訊號之頻率特性之能力。

相關於一訊號之頻率特性之所要的資訊為將抖動測量為頻率之函數。示波器，數位化器，時間間隔分析器和時間標記器提供將抖動測量為頻率之一函數之方法，但它們是相對昂貴的。依序取樣非同步選通技術可測量抖動為頻率之一函數。然而，依序取樣所需之長獲取時間將其可測量之頻率限制至不相關之相對低頻率。目前的非依序非同步取樣技術不提供將抖動做為頻率之一函數般測量之方法。

因上述之理由，以及因其他於下面所敘述之理由，其在閱讀和了解本說明後對於熟習本項技術者來說將變為明顯的，此技術上有對於將在一波形中發現之抖動如一頻率函數般測量之非同步取樣方法，其在測量所要的頻率上是有效的且相對便宜的。

本發明之實施例處理上述問題以及其他問題且將藉由讀取和學習下列描述來加以了解。

在一實施例中，提供決定在一波形中之抖動之頻率成分之方法。該方法包括執行多個波形之局部依序選通。改變與每個局部依序選通相關之獲取時間。測量與每個局部依序選通相關之抖動並以與每個獲取時間之改變相關之測量抖動為基礎決定抖動為頻率之函數。

在另一個實施例中，提供一抖動頻率決定系統。系統包括一比較器，一時脈源，一閂鎖電路，一記憶體裝置和一處理器。比較器適合於接收至少一來自一受測裝置之輸出訊號，並比較輸出訊號與一預期訊號。輸出訊號具有一重覆樣式。時脈源設計為以使用者輸入為基礎來產生一取樣時脈，其中該等使用者輸入包含重覆樣式之每一週期上多個位元，一單一位元週期之長度，一目標有效取樣解析度，及掃瞄重覆樣式之次數。時脈進一步設計為改變介於依序選通間之時間，以調整測量頻寬。閂鎖電路設計為根據取樣時脈來獲得輸出訊號之取樣。記憶體裝置設計為儲存取樣之資料。處理器設計為分析儲存之資料以決定抖動和將抖動表示為一頻率之函數。

在其他實施例中，提供一機器可讀取媒體，其具有指令儲存於其上，以供處理抖動測量之用。該方法包括將抖動振幅表示為一獲取時間之函數，並將抖動表示為一頻率之函數，因為抖動之頻率為獲取時間之一函數。

在其他實施例中，提供一抖動測量系統。該系統包括一用以決定在一局部依序選通方案中之抖動測量之裝置，一用以改變在局部依序選通方案中改變一獲取時間之裝置，以及一用以將抖動表示為一頻率函數之裝置。

在其他實施例中，提供決定在一波形中之抖動之頻率成分之方法。該方法包含選通具有一重覆樣式之一波形。形成重覆樣式之代表性之一之局部依序選通方案，其包括局部依序選通之子集合。定位在局部依序選通之子集合中之轉換區域。決定對每個轉換區域相關之隨機抖動，並將抖動決定為一頻率之函數。

在下列詳細描述中，參考形成其之一部份之附圖，且其中係以說明其中可實施本發明之特定說明性實施例之方式來顯示的。這些實施例被足夠詳細地加以描述，使得熟習本項技術者能夠實施本發明，且應了解到，可利用其他實施例且可做邏輯、機械和電氣之改變而不偏離本發明之精神與範圍。因此下列詳細描述不應被認為是限制之意義。

本發明之實施例提供用於改進之訊號選通技術之方法與系統。本申請案係相關於在此提出之申請案號117.005US01。在此本申請案將117.005US01申請案之全部內容併入作為參考文獻。在本發明之實施例中，提供決定測量抖動之頻率成分之方法。具體地說，在一實施例中，調整獲取時間與選通間隔以展示測量抖動之不同的頻率成分。結果，在一特定範圍內之抖動頻率可被分辨出來。

本發明之實施例係以低取樣(undersampling)選通技術為基礎的。在一實施例中，一低取樣選通方法使用一看來走動跨越一受測裝置(DUT)之一輸出訊號之選通。DUT訊號波形具有一重覆樣式，且在訊號波形之一重覆樣式上，每隔時間Ts就取一取樣。Ts＝(Tpat＋Tres)/N。其中N為選通之數目，其為大於1之整數。Tpat為DUT波之一單一樣式發生之時間週期。Tres為有效取樣解析度。

低取樣之方法描述為”走動選通”，因為使用一非同步時脈來描述一受測訊號。受測訊號必須為一重覆樣式。選通之非同步特性使其看來像走動跨越測試訊號。結果，即使將於一大於測試樣式之時間週期(Tpat)許多倍之時間週期上取得實際之取樣(或選通)，它們仍可被映射至全在Tpat內之”有效次數”。取樣在稱為”選通子集合”之M個子順序中加以分析。一旦再次映射至DUT波形之一單一週期Tpat上，對一已予選通子集合之選通有效地被Tres間隔開來且是依序的。

為了提供進一步之背景，第1a圖為一依序低取樣之DUT訊號之圖形化表示，其大致顯示於100上。圖形100包括於時間間隔Ts上取樣之DUT訊號102之表示，其係由選通106₀ 至106_{1 9} 於每二十個週期Tpat 104上所做的。將了解到並非所有選通皆已顯示於第1a圖中。在此實施例中，其取20 x Ts以獲得資料且Ts＝(Tpat＋Tres)。第1b圖為來自第1a圖，分別於彼此頂端上重疊之DUT訊號102之20個週期之每一個之圖形化表示。DUT訊號120之一單一週期Tpat顯示為以間隔於Tres上之每個選通106₀ 至106_{1 9} 來延伸。

第2a圖為一低取樣之DUT訊號之圖形化表示，大致顯示於200上，其係根據本發明之一實施例。在此實施例中，資料之獲取為第1a和1b圖中所示之DUT之資料獲取的四倍快。圖形200包括於時間間隔Ts上由選通206₀ 至206_{1 9} 於五個Tpat 204之週期上取樣之一DUT訊號202之表示。在此實施例中，其亦取20 x Ts以獲取資料，但Ts現在為短4倍，其中Ts＝(Tpat＋Tres)/4。結果，其僅需要5 x(Tpat＋Tres)以獲得資料，相對於與第1a圖相關之獲取為20 x(Tpat＋Tres)。

第2b圖為來自第2a圖之DUT訊號202分別於彼此之頂端上重疊之五個週期之圖形化表示。DUT訊號202之一單一週期Tpat顯示為每個選通206₀ 至219_{1 9} 間隔為大約Tres。在此實施例中，群組選通之子集合以供進一步之分析之用。在此範例中，定義5個選通之四個子集合。子集合1(SS₁ )包括來自取樣數0，4，8，12和16之取樣206₀ ，206₄ ，206₈ ，206_{1 2} 和206_{1 6} ，子集合2(SS₂ )包括來自取樣數1，5，9，13和17之取樣206₁ ，206₅ ，206₉ ，206_{1 3} 和206_{1 7} ，子集合3(SS₃ )包括來自取樣數2，6，10，14和18之取樣206₂ ，206₆ ，206_{1 0} ，206_{1 4} 和206_{1 8} 而子集合4(SS₄ )包括來自取樣數3，7，11，15和19之取樣206₃ ，206₇ ，206_{1 1} ，206_{1 5} 和206_{1 9} 。每個子集合SS₁ －SS₄ 包含有效地，局部依序且每一個由Tres分離之取樣。再者，局部依序選通之總獲取時間(即其花費來獲取所有收集來供局部依序選通用之資料之時間)近於總獲取時間以選通DUT訊號之五個週期，因為在子集合SS1,SS2,SS3和SS4中之選通在取樣DUT訊號所需要的五個週期內彼此交錯。

提供一種取樣方法，其中對每個測試樣式之重覆Tpat來取局部依序選通。每個選通子集合SS₁ －SS₄ 出現成為走動跨越樣式之一部份。在一實施例中，第2a和2b圖之局部依序選通可應用至抖動測量且提供比目前用於抖動測量之選通方法來得好的優點。例如，如上述，局部依序選通減少獲取選通取樣之時間。再者，由一測量所偵測到之低頻雜訊之量隨著執行該測量之時間增加而增加。因為局部依序取樣一般比依序取樣取得時間來得少，其對於低頻雜訊較不敏感。此進一步描述於下列章節中。

因為對一已予選通子集合之選通為局部依序的，它們並不受到許多與非依序取樣相關之問題影響。獲取花的時間比非依序取樣來得少，因為對每個測試樣式之重覆取超過一個選通。每個選通子集合依序地加以分析，且結合結果以提供對整個樣式之結果。使用局部依序取樣方法實現了依序和非依序選通技術之好處而沒有任一技術之問題。

結果，相關於第2b圖所描述之個別子集合用來執行隨時間之波形之頻率分析。第2a和2b圖意為說明用且應了解到可利用任何數目之選通。在所有分析完成之後，可將抖動振幅表示為一獲取時間之函數。相關於第2a圖之實施例之頻率抖動振幅之一範例說明於第2c圖中。具體地說，第2c圖說明如何於與第2b圖相關之獲取時間週期內捕捉不同的頻率抖動振幅。如第2c圖中所說明的，高頻率抖動254之總振幅係於此獲取時間內捕捉的(T獲取)。然而，在此獲取時間內，中間頻率抖動256之振幅僅70%被捕捉且低頻率抖動之振幅僅30%被捕捉。

在本發明之某些實施例中，獲取時間視抖動分析所需之資訊之程度而增加或減少。因為，當我們走動跨越一有效邊緣，而非跨越一選通區域之有效寬度時，決定了計算抖動所需要的資訊，僅轉換獲取時間或週期需被考慮。例如，參考第2d圖，提供一局部依序波形之選通之數位結果之表示。在此範例中，穩定資料訊號254₁ ,254₂ 和254₃ 和轉換週期252₁ 和252₂ 組成第2d圖中之局部依序選通之總獲取時間，一般標記為245。因此，因為我們僅對轉換週期252₁ 和252₂ 有興趣，所以僅有那些轉換週期需被分析以決定抖動。可將對局部依序選通之轉換區域之獲取週期(或時間)表示為Ts x N x Tjitter/Tres。從此轉換獲取時間等式，可決定測量之頻率敏感性，因為測量之頻率敏感性為獲取時間之一函數。

參考第3a圖，提供大致顯示於300上且具有本發明之增加之獲取時間之一低取樣DUT訊號之一圖形化表示之其他範例。在此實施例中，連續選通間之時間增加3之因子。對此實施例之總獲取時間則是15 T_{P A T} 。第3b圖說明在來自第3a圖分別於彼此之上方上重疊之DUT訊號302之十五個週期(T_{P A T} 306)上之一局部依序選通之一圖形化表示。第3b圖說明子集合一SS₁ 包括選通306₀ ,306₄ ,306₈ ,306_{1 2} 和306_{1 6} ，子集合二SS₂ 包括選通306₃ ,306₇ ,306_{1 1} ,306_{1 5} 和306_{1 9} ，子集合三SS₃ 包括選通306₂ ,306₆ ,306_{1 0} ,306_{1 4} 和306_{1 8} ，以及子集合四SS₄ 包括選通306₁ ,306₅ ,306₉ ,306_{1 3} 和306_{1 7} 。在此實施例中，T_{R E S} 之有效解析度與先前實施例相同；僅介於選通間之時間T_S 已被延長，且因此增加了總T_{A C Q} 時間。

參考第3c圖，說明相關於第3b圖之實施例之頻率抖動振幅之一範例。在此實施例中，藉由增加的獲取時間352，所有高頻率354和中頻率抖動356被捕捉。再者，捕捉低頻率抖動358之70%。因此，獲取時間之增加具有對頻率成分之影響且因而影響到由測量所偵測之抖動量。如所說明的，一已予獲取週期之抖動測量將偵測到少於高頻率抖動之低頻率抖動。然而，獲取時間上的增加允許更多低頻率抖動進入測量中。在本發明之實施例中，取樣和分析被重覆數次。每次訊號被取樣時，藉由增加局部依序選通間之時間來改變獲取時間。在已完成所有分析之後，可將抖動振幅表示為一獲取時間之函數。再者，因為被測量之抖動之頻率為獲取時間之一函數，所以我們亦可將抖動表示為一頻率之函數。因為每個結果將包含抖動頻率，其亦包含於具有較短獲取時間之測量中，所以我們能夠分辨結果來決定在一特定範圍內之抖動頻率。

在其他實施例中，介於局部依序選通間之獲取時間以及因此抖動測量之頻寬，可藉由增加介於局部依序選通間之時間來加以調整而不必相當地改變介於選通間之時間Ts。例如，請參考第4a和4b圖中說明之實施例。第4a圖為一低取樣之DUT訊號之圖形化表示，其大致顯示於400上，其係根據本發明之一實施例，而第4b圖為來自第4a圖之DUT訊號404分別重疊於彼此頂端上之週期之圖形化表示。如在第4a圖中所說明的，波形404由選通406₀ 至406_{2 1} 來加以選通或取樣。這些選通，選通406₀ 至406_{2 1} ，被選擇性地定位於子集合SS1至SS10中，如第4b圖中所說明的。在第4a圖中，在相同子集合中之選通，諸如子集合SS1之選通406₀ 和406_{1 2} 由3XT_{P A T} ＋T_{R E S} 間隔，其類似於第3a圖中所說明之實施例中之選通。然而，在此情況中，選通係由3xT_{P A T} ＋T_{R E S} /12所間隔而非子集合中之3xT_{P A T} ＋T_{R E S} /4，如第3b圖中所說明的，再者，因為3xT_{P A T} ＋T_{R E S} /12近似於T_{P A T} ＋T_{R E S} /4(其為在第2b圖之子集合中之間隔)，在本實施例之子集合中之選通將具有大約與在第2b圖中所說明之實施例之子集合中之選通相同之間隔。再者，在本實施例中之總獲取時間將十分接近於第2a圖中所說明之實施例之總獲取時間(5T_{P A T S} )。因此，在本實施例中，介於局部依序選通間之獲取時間，且因此抖動測量之頻寬，可藉由增加介於局部依序選通間之時間來加以調整，而不必實質上改變介於選通間之時間T_S 。

如上面所討論的，每總獲取週期之取樣或選通之數目可改變，且本發明並不受限於一選擇量。再者，在本發明之一實施例中，抖動測量之頻寬係藉由增加每獲取週期之選通之數目和取樣子集合之數目來加以調整的。此技術進一步允許測量之頻寬被增加而不增加全部的獲取時間。維持短的總獲取時間對於保持測試一DUT所需之時間為短是重要的。

第5圖為一根據本發明之一實施例之局部依序選通系統，其大致顯示於500上。系統500包括自動測試設備(ATE)502，其從一受測裝置504接收一或多個輸出訊號501,511，並提供一輸出505給一處理器506以供分析。在一實施例中，ATE 502包括緩衝器508，其送一緩衝之DUT輸出訊號501給比較器516。在一實施例中，緩衝器508為一差動緩衝器，且從DUT 504透過輸出訊號501和511來接收差動資料。一或多個輸出訊號被緩衝，且緩衝之訊號與一參考訊號V_T 503(一預期訊號)做比較以決定DUT是否如預期般表現。在一實施例中，V_T 為一表示邊緣轉換電壓之臨限值。比較器516之一輸出表示DUT之輸出波形之狀態。比較器516之輸出被饋送給閂鎖電路514供以由來源時脈520所產生之取樣時脈507為基礎來取樣波形之用。取樣時脈507被饋送給計數器512和閂鎖514並獲得DUT波形之取樣。取樣儲存於記憶體裝置510中以供傳輸至處理器506之用，以供進一步之分析。

在一實施例中，時脈來源520被規劃為根據裝置規格和使用者輸入來選通DUT波形。使用者輸入對於DUT及所需要的期望訊號資訊為特定的。在一實施例中，ATE 502進一步包括一使用者輸入裝置550，其不是整合至ATE 502就是遠端耦合至ATE 502。在一實施例中，執行邏輯上依序之選通之軟體位於系統500內，且利用從使用者輸入裝置550接收到之使用者輸入以計算和設定系統500以供抖動捕捉之用。在一實施例中，使用者輸入包括一或多個位元週期或單位間隔之抖動測量接腳，抖動測量接腳，每樣式之元數目，目標有效取樣解析度和樣式重覆之數目。抖動測量接腳指示將測量哪個DUT傳送接腳。每樣式之位元為重覆樣式Tpat之位元數目。目標有效取樣解析度(Tres)決定有效的取樣頻率。樣式重覆數目指出多少次有效走動跨越重覆之DUT波形樣式。

在一實施例中，處理器506使用捕捉到的資料，使用者輸入和裝置資料以計算DUT波形之隨機抖動Rj。再者在一實施例中，從使用者輸入裝置550所接收到之使用者輸入進一步包括指示測量頻寬之參數。再者在一實施例中，執行邏輯上依序選通之軟體位於系統500內且利用從使用者輸入裝置550接收到之使用者輸入以計算和設定系統500以供多個抖動捕捉之用，每一個具有不同的頻寬。在一實施例中，處理器506使用來自多個測量之結果以將抖動振幅表示為一獲取時間之函數及將抖動表示為一頻率之函數。

第6圖為一根據本發明之實施例之邏輯依序選通技術之流程圖，其大致顯示於600上。該方法包含非同步數位低取樣一受測裝置(DUT)輸出波形。該方法開始於601上，在該處設定介於選通間之一初始時序以實現供一初始測量用之頻寬/頻率。在602上，使用一非同步時脈，以一局部依序選通方案為基礎之DUT輸出波形之選通被加以執行。從選通獲得之資料在604上儲存。然後在606上分析儲存之資料以決定初始頻寬頻率之抖動。然後在608上決定是否需要更多抖動頻率資料。若在608上需要進一步之資料，介於局部依序選通間之間隔於610上被加以調整。然後，程序於602上持續直到在608上不再需要任何抖動頻率資料為止。若在608上不需要進一步之資料，則在607上從多個結果將抖動決定為一頻率之函數，該等結果之每一個係相關於一不同的測量頻率。然後程序結束。在一實施例中，在607上以可將抖動振幅表示為一獲取時間之函數之事實為基礎來將抖動決定為一頻率之函數，且因為抖動之頻率為獲取時間之函數，所以可將抖動決定為一頻率之函數。所使用的獲取時間之等式為轉換獲取時間等式Tacq_trans＝Tx x N x Tjitter/Tres，其中N較早定義過，而Tjitter為DUT輸出波形之峰對峰抖動。

參考第7圖，提供根據本發明之一實施例，大致於700上所示，一用以決定在一波形中之抖動之流程圖。首先，在702上，在一取樣區域內之資料一次串圈一個取樣，開始於被取樣的第一位元上而結束於被取樣的最後位元上。大部份的資料將由邏輯低或高所構成，其圍繞著相同狀態之資料。在704上，識別轉換區域。轉換區域被識別為一組包含零和一之混合之資料，如第2d圖中之範例。一般來說，需要一規則來定義什麼將一轉換區域與另一個分離開來。例如，若在一波形中之資料包含穩定狀態之單位間隔(UI)/4之等效，則任何不同的資料將被認為是一新的轉換區域之開始。再者，亦需要一個一般的規則來忽略可能指出在一取樣區域之開始或結束上之一轉換區域之資料。

因為每個轉換區域指示一明顯之邊緣，在706上，執行計算以決定每個轉換邊緣之標準差。在708上，決定所有轉換區域之標準差。在一實施例中，藉由取所有轉換區域之標準差之平均或均方根。對實用的目的來說，雖然其可包含可忽略之週期抖動之量和類似者，但標準差為隨機抖動。本發明之實施例中是使用隨機抖動(來自標準差)來將抖動表示為一頻率之函數。

如上述，在此所描述之方法與技術係由一局部依序選通系統所實現的。構成局部依序選通系統之裝置之實施例可實現於數位電子電路中或以一可規劃之處理器來實現(例如一特殊用途處理器或一般用途程序或諸如一電腦韌體，軟體或其之組合)。實現這些技術之裝置可包括適當的輸入和輸出裝置，一可規劃處理器和一儲存媒體，其可實現用以由可規劃之處理器執行之程式指令。一實現這些技術之程序可由一可規劃之處理器執行一指令程式來執行以藉由在輸入資料上操作並產生適當的輸出來執行所要的功能。該些技術可實現於一或多個程式中，其可於一可規劃系統上執行，其包括至少一可規劃之處理器，其耦合成從一資料儲存系統，至少一輸入裝置和至少一輸出裝置接收資料及指令，及將資料及指令傳送至該資料儲存系統，該至少一輸入裝置和該至少一輸出裝置。一般來說，一處理器將從一唯讀記憶體和/或一隨機存取記憶體接收指令和資料。適於容易實現電腦程式指令和資料之儲存裝置包括所有型式之非揮發記憶體，以範例之方式包括半導體記憶體裝置，諸如EPROM,EEPROM和快閃記憶體裝置；諸如內部硬碟機之磁碟和可移除之磁片；光磁碟片；以及CD－ROM碟片。任何前述可藉由特殊設計之應用特定之積體電路(ASIC)而增補或合併於其中。

雖然已在此說明和描述特定實施例，但熟習本項技術者將體會到被計算來實現相同目的之任何配置可取代所示之特定實施例。本申請案預定涵蓋本發明之任何設計或變化。因此，預定本發明僅由其之申請專利範圍及均等所限制。

100．．．DUT訊號

102．．．DUT訊號

104．．．週期

120．．．DUT訊號

200．．．DUT訊號

202．．．DUT訊號

254．．．高頻率抖動

256．．．中間頻率抖動

245．．．總獲取時間

300．．．DUT訊號

302．．．重疊之DUT訊號

352．．．獲取時間

354．．．高頻率抖動

356．．．中頻率抖動

358．．．低頻率抖動

400．．．DUT訊號

404．．．DUT訊號

500．．．局部依序選通系統

502．．．自動測試設備(ATE)

504．．．受測裝置

501,511．．．輸出訊號

505．．．輸出

506．．．處理器

508．．．緩衝器

516．．．比較器

V_T ．．．參考訊號

514．．．閂鎖電路

520．．．來源時脈

507．．．取樣時脈

512．．．計數器

510．．．記憶體裝置

550．．．使用者輸入裝置

當考慮較佳實施例之描述及下列圖式時，本發明將為更容易了解的且進一步其之優點和用途更容易明顯，圖式中：第1a圖為根據先前技術之教示，使用一走動選通之訊號選通測量之一實施例之圖形化說明。

第1b圖為根據先前技術之教示，第1a圖之訊號選通測量之一依序選通之圖形化說明。

第2a圖為根據本發明之教示，使用一走動選通(局部依序選通)之訊號選通測量之一實施例之圖形化說明。

第2b圖為在本發明之一實施例中，第2a圖之訊號選通測量之一局部仇序選通之圖形化說明。

第2c圖為相關於包含一子集合之一選通之集合之獲取時間之頻率抖動振幅之說明，如第2b圖中所示者。

第2d圖為一局部依序波形之選通之數位結果之代表性說明。

第3a圖為使用本發明之一走動選通之訊號選通測量(局部依序選通)之其他實施例之圖形化說明。

第3b圖為在本發明之一實施例中，第3a圖之訊號選通測量之一局部依序選通之圖形化說明。

第3c圖為相關於包含一子集合之一選通集合之獲取時間之頻率抖動振幅之說明，如第3b圖中所示者。

第4a圖為根據本發明之一實施例之一低取樣之DUT訊號之圖形化表示；第4b圖為分別來自第4a圖重疊於彼此頂端上之一DUT訊號之週期之圖形化表示；第5圖為根據本發明之教示，用以選通訊號之一系統之一實施例之方塊圖；第6圖為在本發明中決定抖動之頻率成分之方法之一實施例之流程圖；以及第7圖為在本發明之一實施例中，說明抖動之決定之流程圖。

根據一般的慣例，並未依比例畫出許多不同的描述特徵，而是繪圖來強調與本發明相關之特定特徵。

Claims (10)

1. 一種決定在一波形中之抖動之頻率成分之方法，該方法包含：進行波形之許多局部依序選通，其中，局部依序選通係根據低取樣技術而定，低取樣技術係於一測試樣式內映射於一相當大的期間內之選通至有效次數；改變與每個局部依序選通相關之獲取時間；測量與每個局部依序選通相關之抖動；以及根據與每個獲取時間之改變相關之測量抖動而將抖動決定為一頻率之函數。
2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中改變每個局部依序選通之獲取時間進一步包含增加局部依序選通間之間隔及減少局部依序選通間之間隔其中之一。
3. 如申請專利範圍第1項之方法，其進一步包含：將抖動振幅表示為獲取時間之一函數。
4. 如申請專利範圍第1項之方法，其進一步包含：決定在一特定頻率範圍內之抖動頻率。
5. 如申請專利範圍第1項之方法，其中測量抖動進一步包含：在每個局部依序選通資料之子集合中識別轉換區域；以及計算每個轉換區域之標準差。
6. 如申請專利範圍第5項之方法，其進一步包含：計算所有標準差之平均和平方根平均至少之一。
7. 如申請專利範圍第1項之方法，其中進行波形之許多局部依序選通進一步包含：對每個局部依序選通非同步地選通波形；以及映射選通至相關的子集合中以形成局部依序選通之子集合。
8. 一種抖動測量系統，該系統包含：一用以在一局部依序選通方案中實施抖動測量之裝置，其中，局部依序選通方案係包含根據低取樣技術之一個波形的局部依序選通，低取樣技術係於一測試樣式內映射於一相當大的期間內之選通至有效次數；一用以改變在該局部依序選通方案中之一獲取時間之裝置；一用以將抖動表示為一頻率函數之裝置。
9. 如申請專利範圍第8項之抖動測量系統，其進一步包含：一用以將抖動振幅表示為該獲取時間之一函數之裝置。
10. 如申請專利範圍第8項之抖動測量系統，其進一步包含：一用以在一特定頻率範圍內決定抖動頻率之裝置。