JP5636161B2 - ジッターの周波数成分の決定 - Google Patents
ジッターの周波数成分の決定 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5636161B2 JP5636161B2 JP2008540344A JP2008540344A JP5636161B2 JP 5636161 B2 JP5636161 B2 JP 5636161B2 JP 2008540344 A JP2008540344 A JP 2008540344A JP 2008540344 A JP2008540344 A JP 2008540344A JP 5636161 B2 JP5636161 B2 JP 5636161B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- period
- jitter
- strobes
- strobe
- strobed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 240000007320 Pinus strobus Species 0.000 claims description 117
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 56
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 44
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 36
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 31
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 25
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 101100096719 Arabidopsis thaliana SSL2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100366560 Panax ginseng SS10 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31709—Jitter measurements; Jitter generators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Description
Claims (25)
- 波形中のジッターを決定する方法であって、
波形のローカルに順序付けられたストロービングを複数行うことと、
各ローカルに順序付けられたストロービングに関連する取得時間を変更することと、
取得時間の各変更に関連するジッターを測定することと、
取得時間の各変更に対応する測定されたジッターに基づいて、ジッターを決定することと、を含み、
前記ジッターを測定することには、ローカルに順序付けられたストローブの各サブセット中の遷移領域を同定することを含み、
前記ローカルに順序付けられたストロービングは、アンダーサンプリング技術に基づき、
前記波形は、一定間隔(Ts)で複数の第1の期間に渡ってストロービングされ、各第1の期間は、単一のパターンが起こるための期間(Tpat)を自然数倍(M)した期間を含み、
各第1の期間(M×Tpat)は等しいストローブ数でストローブされ、各第1の期間(M×Tpat)の前記ストローブ数は1よりも大きく(N)、
前記複数の第1の期間の最初の第1の期間後の各第1の期間では、当該各第1の期間でストローブされるストローブの開始点は、直前の第1の期間でストローブされるストローブの前記開始点と比べて、実効サンプリング分解能だけ時間シフトされており、前記一定間隔(Ts)は、前記第1の期間と実効サンプリング分解能の加算値を、前記各第1の期間の前記ストロ−ブ数(N)で分割したものであり、
前記ローカルに順序付けられたストローブの前記サブセットを形成するために、前記ストローブは前記サブセットのそれぞれにマッピングされ、前記サブセットのそれぞれは、各前記第1の期間(M×Tpat)の中の先頭から同じ順番のストローブを含むことを特徴とする方法 。 - 各ローカルに順序付けられたストロービングの取得時間の変更は更に、前記波形中で前記ローカルに順序付けられたストローブ間の間隔を増加することと、前記波形中で前記ローカルに順序付けられたストローブ間の間隔を減少すること、の一つからなる請求項1の方法。
- 更に、ジッターの大きさを前記取得時間に対応させて表現すること、からなる請求項1の方法。
- 更に、ジッターを特定の周波数レンジ内で決定すること、からなる請求項1の方法。
- ジッターの測定は更に、
各遷移領域の標準偏差を計算することと、
からなる請求項1の方法。 - 更に、全ての標準偏差の平均と平方根2乗平均の少なくとも一つを計算すること、からなる請求項5記載の方法。
- ジッター決定システムであって、
少なくとも一つの出力信号を試験下の装置から受け取り、出力信号を期待された信号と比較するようになっている比較器であって、出力信号は繰り返しパターンを有するものと、
ユーザ入力に基づいてサンプリングクロックを生成するようになっているクロックソースであって、ユーザ入力は、繰り返しパターンの一周期毎のビット数と、単一のビット周期の長さと、実効サンプリング分解能と、繰り返しパターンをスウィープする回数とからなり、クロックソースは更にローカルに順序付けられたストローブ間の時間を変更して測定帯域幅を調節するようになっているものと、
サンプリングクロックに基づいて出力信号のサンプリングされたデータを取得するようになっているラッチング回路と、
サンプリングされたデータを格納するようになっているメモリ装置と、
格納されたサンプリングされたデータを分析してジッターを決定するようになっているプロセッサであって、
前記プロセッサは、関連するローカルに順序付けられたストロービングのサブセットのサンプルに基づいて出力信号の単一の周期の各エッジのジッターを計算し、
前記ジッターを測定することには、ローカルに順序付けられたストローブデータの各サブセット中の遷移領域を同定すること含み、
前記ローカルに順序付けられたストロービングは、アンダーサンプリング技術に基づいて得られ、
前記波形は、一定間隔(Ts)で複数の第1の期間に渡ってストロービングされ、各第1の期間は、単一のパターンが起こるための期間(Tpat)を自然数倍(M)した期間を含み、
各第1の期間(M×Tpat)は等しいストローブ数でストローブされ、各第1の期間(M×Tpat)の前記ストローブ数は1よりも大きく(N)、
前記複数の第1の期間の最初の第1の期間後の各第1の期間では、当該各第1の期間でストローブされるストローブの開始点は、直前の第1の期間でストローブされるストローブの前記開始点と比べて、実効サンプリング分解能だけ時間シフトされており、前記一定間隔(Ts)は、前記第1の期間と実効サンプリング分解能の加算値を、前記各第1の期間の前記ストロ−ブ数(N)で分割したものであり、
前記ローカルに順序付けられたストローブの前記サブセットを形成するために、前記ストローブは前記サブセットのそれぞれにマッピングされ、前記サブセットのそれぞれは、各前記第1の期間(M×Tpat)の中の先頭から同じ順番のストローブを含むことを特徴とするシステム。 - ユーザ入力は更に、サンプリングすべきジッター測定ピンを含む、請求項7のシステム。
- プロセッサは、サンプルを繰り返しパターンの単一の周期にマッピングする、請求項7のシステム。
- プロセッサは、ジッターの大きさを取得時間に対応させて決定する、請求項7のシステム。
- プロセッサは、ジッターを特定の周波数レンジ内で決定する、請求項7のシステム。
- コンピュータを
波形中のジッターを測定する手段と、
測定ジッターの大きさを取得時間に対応させて表現する手段と、
取得時間に対応した測定ジッターに基づいて、ジッターを表現する手段として機能させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
前記ジッターを測定することには、ローカルに順序付けられたストローブデータの各サブセット中の遷移領域を同定すること含み、
前記波形は、一定間隔(Ts)で複数の第1の期間に渡ってストロービングされ、各第1の期間は、単一のパターンが起こるための期間(Tpat)を自然数倍(M)した期間を含み、
各第1の期間(M×Tpat)は等しいストローブ数でストローブされ、各第1の期間(M×Tpat)の前記ストローブ数は1よりも大きく(N)、
前記複数の第1の期間の最初の第1の期間後の各第1の期間では、当該各第1の期間でストローブされるストローブの開始点は、直前の第1の期間でストローブされるストローブの前記開始点と比べて、実効サンプリング分解能だけ時間シフトされており、前記一定間隔(Ts)は、前記第1の期間と実効サンプリング分解能の加算値を、前記各第1の期間の前記ストロ−ブ数(N)で分割したものであり、
前記ローカルに順序付けられたストローブの前記サブセットを形成するために、前記ストローブは前記サブセットのそれぞれにマッピングされ、前記サブセットのそれぞれは、各前記第1の期間(M×Tpat)の中の先頭から同じ順番のストローブを含むことを特徴とする機械読み取り可能な媒体。 - 更に、ジッターの大きさを決定する手段を有すること、
からなる請求項12のコンピュータ読み取り可能な媒体。 - ジッターの大きさを決定する手段には更に、
ローカルに順序付けられたストロービングの各サブセット中の遷移領域を同定する手段と、
各遷移領域の標準偏差を計算する手段、
を含むことからなる請求項13のコンピュータ読み取り可能な媒体。 - ジッターの大きさを決定する手段には更に、
全ての標準偏差の平均と平方根2乗平均の少なくとも一つを計算する手段、
を含むことからなる請求項14のコンピュータ読み取り可能な媒体。 - ジッター測定システムであって、
ローカルに順序付けられたストロービング方式による波形中のジッター測定を取る手段と、
ローカルに順序付けられたストロービング方式における取得時間を変更する手段と、
変更された取得時間に基づきジッターを表現する手段と、
からなり、
前記ジッターを測定することには、ローカルに順序付けられたストローブデータの各サブセット中の遷移領域を同定すること含み、
前記ローカルに順序付けられたストロービング方式は、アンダーサンプリング技術に基づき、
前記波形は、一定間隔(Ts)で複数の第1の期間に渡ってストロービングされ、各第1の期間は、単一のパターンが起こるための期間(Tpat)を自然数倍(M)した期間を含み、
各第1の期間(M×Tpat)は等しいストローブ数でストローブされ、各第1の期間(M×Tpat)の前記ストローブ数は1よりも大きく(N)、
前記複数の第1の期間の最初の第1の期間後の各第1の期間では、当該各第1の期間でストローブされるストローブの開始点は、直前の第1の期間でストローブされるストローブの前記開始点と比べて、実効サンプリング分解能だけ時間シフトされており、前記一定間隔(Ts)は、前記第1の期間と実効サンプリング分解能の加算値を、前記各第1の期間の前記ストロ−ブ数(N)で分割したものであり、
前記ローカルに順序付けられたストローブの前記サブセットを形成するために、前記ストローブは前記サブセットのそれぞれにマッピングされ、前記サブセットのそれぞれは、各前記第1の期間(M×Tpat)の中の先頭から同じ順番のストローブを含むことを特徴とするジッター測定システム。 - 更に、ジッターの大きさを取得時間に対応させて表現する手段、
からなる請求項16のジッター測定システム。 - 更に、ジッターを特定の周波数レンジ内で決定する手段、
からなる請求項16のジッター測定システム。 - 波形中のジッターを決定する方法であって、
繰り返しパターンを有する波形をストロービングすることと、
ローカルに順序付けして、ストロービングされたデータを各サブセットに含むようにすることと、
ローカルに順序付けられたストロービングされたデータから各サブセット中の遷移領域の位置を見つけることと、
各遷移領域に関連するランダムジッターを決定することと、
ジッターを特定の周波数レンジ内で決定することと、
からなり、
ローカルに順序付けられたストロービング方式は、アンダーサンプリング技術に基づき、
前記波形は、一定間隔(Ts)で複数の第1の期間に渡ってストロービングされ、各第1の期間は、単一のパターンが起こるための期間(Tpat)を自然数倍(M)した期間を含み、
各第1の期間(M×Tpat)は等しいストローブ数でストローブされ、各第1の期間(M×Tpat)の前記ストローブ数は1よりも大きく(N)、
前記複数の第1の期間の最初の第1の期間後の各第1の期間では、当該各第1の期間でストローブされるストローブの開始点は、直前の第1の期間でストローブされるストローブの前記開始点と比べて、実効サンプリング分解能だけ時間シフトされており、前記一定間隔(Ts)は、前記第1の期間と実効サンプリング分解能の加算値を、前記各第1の期間の前記ストロ−ブ数(N)で分割したものであり、
前記ローカルに順序付けられたストローブの前記サブセットを形成するために、前記ストローブは前記サブセットのそれぞれにマッピングされ、前記サブセットのそれぞれは、各前記第1の期間(M×Tpat)の中の先頭から同じ順番のストローブを含むことを特徴とする方法。 - 更に、各サブセット中のローカルに順序付けられたストローブ間の期間を調節すること、
からなる請求項19の方法。 - サブセット中のローカルに順序付けられたストローブ間の期間を調節することは更に、
繰り返しパターンをストロービングする総取得時間を調節すること、
からなる請求項20の方法。 - サブセットのローカルに順序付けられたストローブ間の期間を調節することは更に、
ローカルに順序付けられたストローブに追加のストローブを付け加えることと、
サブセット中のストローブ数を調節することと、
からなる請求項20の方法。 - 各遷移領域に関連するランダムジッターを決定することは更に、
各遷移領域の標準偏差を計算すること、
からなる請求項19の方法。 - 更に、全ての標準偏差の平均と平方根2乗平均の少なくとも一つを計算すること、
からなる請求項23の方法。 - ジッターを決定することは更に、
関連する遷移領域の取得時間を決定することを含む、
からなる請求項19の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/272,027 | 2005-11-10 | ||
US11/272,027 US7349818B2 (en) | 2005-11-10 | 2005-11-10 | Determining frequency components of jitter |
PCT/US2006/060729 WO2007059409A2 (en) | 2005-11-10 | 2006-11-09 | Determining frequency components of jitter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009516175A JP2009516175A (ja) | 2009-04-16 |
JP5636161B2 true JP5636161B2 (ja) | 2014-12-03 |
Family
ID=38049349
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008540344A Active JP5636161B2 (ja) | 2005-11-10 | 2006-11-09 | ジッターの周波数成分の決定 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US7349818B2 (ja) |
JP (1) | JP5636161B2 (ja) |
TW (3) | TWI391681B (ja) |
WO (1) | WO2007059409A2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7277805B2 (en) * | 2006-01-06 | 2007-10-02 | International Business Machines Corporation | Jitter measurements for repetitive clock signals |
DE102008011845A1 (de) * | 2007-09-21 | 2009-04-02 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Taktrückgewinnung |
US8744367B2 (en) | 2010-08-31 | 2014-06-03 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Tail optimization protocol for cellular radio resource allocation |
US8527627B2 (en) | 2010-12-14 | 2013-09-03 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Intelligent mobility application profiling with respect to identified communication bursts |
US9220066B2 (en) * | 2011-06-20 | 2015-12-22 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Bundling data transfers and employing tail optimization protocol to manage cellular radio resource utilization |
US9264872B2 (en) | 2011-06-20 | 2016-02-16 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Controlling traffic transmissions to manage cellular radio resource utilization |
US9244126B2 (en) | 2013-11-06 | 2016-01-26 | Teradyne, Inc. | Automated test system with event detection capability |
CN104236944A (zh) * | 2014-09-12 | 2014-12-24 | 北京卫星环境工程研究所 | 频闪靶标识别在月面重力模拟系统中的应用 |
KR20170045542A (ko) | 2015-10-19 | 2017-04-27 | 삼성전자주식회사 | 에지 검출기 및 이를 포함하는 신호 특성 분석 시스템 |
CN108318809B (zh) * | 2017-01-16 | 2020-09-01 | 奇景光电股份有限公司 | 频率抖动的内建自我测试电路 |
CN107482898B (zh) * | 2017-08-16 | 2020-03-06 | 广东美的制冷设备有限公司 | Pfc电路抖频控制方法、装置及可读存储介质 |
CN107517000B (zh) * | 2017-08-22 | 2020-02-11 | 广东美的制冷设备有限公司 | 功率电路开关信号抖频控制方法、装置及可读存储介质 |
US10896106B2 (en) | 2018-05-10 | 2021-01-19 | Teradyne, Inc. | Bus synchronization system that aggregates status |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4660197A (en) * | 1985-11-01 | 1987-04-21 | Teradyne, Inc. | Circuitry for synchronizing a multiple channel circuit tester |
US4755951A (en) * | 1986-03-03 | 1988-07-05 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for digitizing a waveform |
JP3474308B2 (ja) * | 1995-03-23 | 2003-12-08 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ測定装置 |
US5604751A (en) * | 1995-11-09 | 1997-02-18 | Teradyne, Inc. | Time linearity measurement using a frequency locked, dual sequencer automatic test system |
US5673272A (en) * | 1996-02-13 | 1997-09-30 | Teradyne, Inc. | Apparatus and method for performing digital signal processing in an electronic circuit tester |
US5938780A (en) * | 1997-09-19 | 1999-08-17 | Teradyne, Inc. | Method for capturing digital data in an automatic test system |
US6356850B1 (en) * | 1998-01-30 | 2002-03-12 | Wavecrest Corporation | Method and apparatus for jitter analysis |
US6661836B1 (en) * | 1998-10-21 | 2003-12-09 | Nptest, Llp | Measuring jitter of high-speed data channels |
EP1152562A1 (en) * | 2000-05-02 | 2001-11-07 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Method and apparatus for measuring parameters of an electronic system, for example MTIE |
US6609077B1 (en) * | 2000-05-31 | 2003-08-19 | Teradyne, Inc. | ATE timing measurement unit and method |
US6694462B1 (en) | 2000-08-09 | 2004-02-17 | Teradyne, Inc. | Capturing and evaluating high speed data streams |
US6865496B2 (en) * | 2001-11-01 | 2005-03-08 | Agilent Technologies, Inc. | Zero-crossing direction and time interval jitter measurement apparatus using offset sampling |
US6819192B2 (en) * | 2002-02-14 | 2004-11-16 | Sun Microsystems, Inc. | Jitter estimation for a phase locked loop |
DE60200707T2 (de) * | 2002-04-05 | 2005-07-21 | Agilent Technologies Inc., A Delaware Corp., Palo Alto | Zitterhistogrammnäherungsverfahren |
TW577992B (en) * | 2002-05-20 | 2004-03-01 | Mediatek Inc | Jitter measuring method and apparatus |
US7143323B2 (en) * | 2002-12-13 | 2006-11-28 | Teradyne, Inc. | High speed capture and averaging of serial data by asynchronous periodic sampling |
WO2004061465A1 (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-22 | Advantest Corporation | 半導体試験装置 |
US7636642B2 (en) * | 2003-06-19 | 2009-12-22 | Teradyne, Inc. | Direct jitter analysis of binary sampled data |
US7050915B2 (en) * | 2003-10-16 | 2006-05-23 | Agilent Technologies, Inc. | Periodic jitter characterization using pseudo-random sampling |
US7363568B2 (en) * | 2004-11-03 | 2008-04-22 | Texas Instruments Incorporated | System and method for testing differential signal crossover using undersampling |
US7668235B2 (en) * | 2005-11-10 | 2010-02-23 | Teradyne | Jitter measurement algorithm using locally in-order strobes |
US7421355B2 (en) * | 2006-02-27 | 2008-09-02 | Advantest Corporation | Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronic device |
US7398169B2 (en) * | 2006-02-27 | 2008-07-08 | Advantest Corporation | Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronics device |
US7480581B2 (en) * | 2006-06-27 | 2009-01-20 | Teradyne, Inc. | Calibrating a testing device |
WO2008083265A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-10 | Teradyne, Inc. | Identifying periodic jitter in a signal |
-
2005
- 2005-11-10 US US11/272,027 patent/US7349818B2/en active Active
-
2006
- 2006-11-09 JP JP2008540344A patent/JP5636161B2/ja active Active
- 2006-11-09 WO PCT/US2006/060729 patent/WO2007059409A2/en active Application Filing
- 2006-11-10 TW TW098137913A patent/TWI391681B/zh active
- 2006-11-10 TW TW095141649A patent/TWI391679B/zh active
- 2006-11-10 TW TW098137911A patent/TWI391680B/zh active
-
2008
- 2008-01-25 US US12/020,020 patent/US7606675B2/en active Active
- 2008-01-25 US US12/020,027 patent/US7519490B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7349818B2 (en) | 2008-03-25 |
TWI391679B (zh) | 2013-04-01 |
US7519490B2 (en) | 2009-04-14 |
WO2007059409A2 (en) | 2007-05-24 |
TWI391680B (zh) | 2013-04-01 |
US20070118316A1 (en) | 2007-05-24 |
US7606675B2 (en) | 2009-10-20 |
TW201007180A (en) | 2010-02-16 |
TW201007179A (en) | 2010-02-16 |
TWI391681B (zh) | 2013-04-01 |
JP2009516175A (ja) | 2009-04-16 |
WO2007059409A3 (en) | 2007-09-27 |
US20080117960A1 (en) | 2008-05-22 |
TW200734654A (en) | 2007-09-16 |
US20080125991A1 (en) | 2008-05-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5636161B2 (ja) | ジッターの周波数成分の決定 | |
JP5577035B2 (ja) | ローカルに順序付けられたストロービング | |
US7286947B1 (en) | Method and apparatus for determining jitter and pulse width from clock signal comparisons | |
US6694462B1 (en) | Capturing and evaluating high speed data streams | |
JP5430816B2 (ja) | デューティサイクルを測定する方法 | |
JP2005223911A (ja) | データ依存アイ・ダイヤグラムを測定・表示するための方法及びデバイス | |
US7945405B2 (en) | Jitter measurement apparatus, jitter measurement method, recording media, communication system and test apparatus | |
US20030016461A1 (en) | Systems, apparatus, and methods to determine thermal decay characterization from an equalized signal-to-noise ratio of a magnetic disc drive device | |
US20080177489A1 (en) | System and circuit for constructing a synchronous signal diagram from asynchronously sampled data | |
US7945403B2 (en) | Signal measurement apparatus, signal measurement method, recording media and test apparatus | |
US7933728B2 (en) | Skew measurement apparatus, skew measurement method, recording media and test apparatus | |
JP2007121302A (ja) | 信号のジッター特性の決定 | |
JP2006526146A (ja) | 集積回路のタイミング関連不良検証のためのイベント形式によるテスト方法 | |
JP3960858B2 (ja) | アナログ/ディジタル信号変換方法 | |
US20120089371A1 (en) | Measurement apparatus, measurement method, test apparatus and recording medium | |
CN111487447B (zh) | 一种用于实现快速测量的数字示波器 | |
US8391346B2 (en) | Data signal quality evaluation apparatus | |
US7610520B2 (en) | Digital data signal testing using arbitrary test signal | |
EP1654548A1 (en) | Digital data signal testing using arbitrary test signal | |
Okawara | Precise pulse width measurement in write pre-compensation test | |
JP2011053156A (ja) | ジッタ測定方法、プログラム、及びジッタ測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120619 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120914 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121016 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130116 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130123 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130213 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130315 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130611 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131011 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20131029 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20131220 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141020 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5636161 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |