TWI364544B - Demodulating apparatus, test apparatrs, and electronic device - Google Patents

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TWI364544B
TWI364544B TW097111754A TW97111754A TWI364544B TW I364544 B TWI364544 B TW I364544B TW 097111754 A TW097111754 A TW 097111754A TW 97111754 A TW97111754 A TW 97111754A TW I364544 B TWI364544 B TW I364544B
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Kazuhiro Yamamoto
Toshiyuki Okayasu
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Advantest Corp
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Description

27742pif 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 件。本‘ 關:_^襞置、測試裝置以及電子月 的解調裝置、對二==變信號進行解· =:::=試的測試裝置以及電子元件。本= 入文獻的指於允許以參照的方式併 ,m將下述申请案中記載的内容以參照的士 式併入請案中’以作為本申請案的—部分。、 申請案號特願2007-089692中請日2007年3月29 【先前技術】 隨著半導體的電路密度以及動作速度的增加，半導 内部的負料傳輸量正飛躍性增加。與此相對，半導體外 的資料傳輸量受到引腳（pm)數、形狀、配線等的制約\ 炎未與半導體内部的資料傳輸量的增加量相應地增加。因 此，半導體内部以及半導體外部的資料傳輸量的差距（gap) 變大，從而造成問題。 於下述非專利文獻1中提出有：使用振幅相位調變信 號來進行半導體間的資料傳輸，該振幅相位調變信號具有 根據傳輸資料而自多個位準以及多個相位選擇的位準以及 變化‘點的相位根據此種振幅相位調變信號，可在1個週 期中傳輸多位疋的資料’因此可縮小半導體内部以及半導 雜外鄯的資料傳輪量的差距。 1364544 27742pif
[非專利文獻 1] Sunil Jain，14GHz Interconnects -EJectricaJ Aspects > International Test Conference NOTES
Tutona] 3，（美國）’ 2006 年 10 月 22 日，p27 ▲然而，在傳輸振幅相位調變信號而並未並行地傳輸時 n號的系統中，接收裝置必須自所接收的振幅相位調變 2號而，k脈彳§號進行再生。然而，振幅相位調變信號的 固付號（symbol)的振幅以及變化點的相位會根據傳輸
資料而變動。因此，即便將振幅相位調變信號直接輸入至 ，相迴路（Phase Locked Loop，PLL)中，自該PLL 輸出 白、時脈信號仍會包含因與傳輸資料相應的相位變動造成的 誤差。 【發明内容】
一因此，在本說明書中所含的技術革新（inn〇vati〇n )的 :個方面，目的在於提供一種可解決上述課題的解調裝 測试裳置以及電子元件。此目的是藉由申請專利範圍 —的獨立項中記載的特徵的組合而達成。而且，附屬項規 疋了本發明更有利的具體例。 亦即，根據與本說明書中所含的技術革新相關的第i 用:的解調裝置之—例（ex e叫1 ary )，提供-種解調裝置， ^對振幅相位機信號騎解調，絲幅她調變信號 ^、根據傳輸資料而自多個位準以及多餘位巾選擇的位 ^以及變化‘_相位，此解難置包括：時脈再生部，該 〔脈再生部包括缝部、相位差檢測部以及錢部，其中， 迷振I部輪出與所給予的控號減的頻率的時脈信 1364544 號上述相位差檢測部對振幅相位調變信號與時脈信號的 相位差進行檢測，上述濾波部將與相位差相應的控制信號 給予至振盪部；振幅相位檢測部，將時脈信號作為基準， =振幅相位調變信號的位準以及變化點的相位進行檢測； 貝1輸出部，輸出與由振幅相位檢測部所檢測出的位準以 及又化點的相位相應的資料；以及相位差修正部，根據由 振幅她檢測部所檢測㈣變化關相位，對自相位差檢 • 測部給予至濾波部的相位差進行修正。 一Ϊί與本說明書中所含的技術革新相關的第2方面的
必U 馬曰饭剛試元件輪 該期望相位是輪出信號的 望相位，該期望位準是根據測試信 出的輸出信號的位準的期望值，該 ，該時脈再生部包括 其中，上述振盪部輸 變化點的相位的期望值；時脈再生部 振盪部、相位差檢測部以及滤波部，
8 27742pif 則出的位準以及變化點的相位是否與期望位準以 出的變化點的相位，對自相位 屢波部的相位差進行修正。 根據與本說明書中所含的技術革新相 :子元件之-例(一朴提供一種電子:件方= 出· 電路’將振幅相位調變信號作為輸出信號ϋ 以及相！調變信號具有根據傳輪資料而自多個位準 =夕：相位中選擇的位準以及變化點的相位； 對被職電路進行職，職魏包括：測試信= 〜出部’將測試信號輸出至被測試電路 ^ 生期望位準以及期望相位，該期望位準是== f”測試電路輪出的輪出信號的位準的期望值；期望 輸出信號的變化點的相位的期望值；時脈再生^， ，㈣再生部包括縫部、她差 =述=輸出與所給予的控制信號相二 脈仏號，上述相位差檢測部對輸出信號盘時脈士 再生部將與相位差相應‘制信號 檢測部，將時脈信號作為基準， 判定由振幅相位檢測部所檢則;判定部， 是否舆财位相點的相位 部，根據由振幅相位檢測部所 自相位差檢測部給予至渡波部的相==位’對 1364544 27742pif ·丄处受亚未列舉本發明的所有的必要 =，該些特徵群的次（sub)組合亦可成為發明。要 【貫施方式】 下，透過發明的實施形態，對本發明的—個方面進 ㈣明’以下的實施雜並不限定申請專職_發明， 形態中所說明的特徵的所有組合並不限定為發 明的解決手段所必需。
[實施例1] 圖1 -併表示本實施形態的測試裝置2 G的構成與被測 試兀件1GG。_ 2表示本實施形態的振幅相位調變信號的 一例。
測試裝置10對將振幅相位調變信號作為輸出信號而 輸出的被觀元件100進行峨，上述振幅相位調變信號 具有根據傳輸資料而自多個位準以及多個相位中選擇的位 準以及變化點的相位。作為—例，被測試元件⑽可輪出 已與規定週期同步的脈衝信號，即輪出脈衝位準以及脈衝 邊緣的相位根據傳輸資料而變化的振幅相位調變信號。亦 即，作為一例，被測試元件100可輸出如下所述的振幅相 位調變信號，即：於各週期中，將脈衝位準設為預定的多 個位準中的根據傳輸資料而選擇的位準的振幅相位調變信 號。進而，作為一例，被測試元件1〇〇可輸出如下所述的 振幅相位調變信號，即：於各週期中，將脈衝前緣的變化 點（leading edge)以及脈衝後緣的變化點（trailingedge) 中的至少一者的變化點的相位，設為該週期中的預定的多 10 1364544 27742pif 個相位中的根據傳輸資料而選擇的相位的振幅相位調變信 號。
作為一例’被測試元件100可輸出如下所述的振幅相 位調變信號，即：於各週期中，可取n]個（η]為大於等於 2的整數）位準（V]、V2、V3.....vni)來作為脈衝的位 準的振幅相位調變信號。而且，作為一例’被測試元件1〇〇 可輸出如下所述的振幅相位調變信號，即：於各週期中， 可取112個（112為大於等於2的整數）相位（Fl]、fu、Fu、...、
Flh2)來作為脈衝前緣的相位的振幅相位調變信號。而且， 作為一例，被測試元件100可輸出如下所述的振幅相位調 變仏號，即：於各週期中，可取叱個（叱為大於等於2的 相位（FT1、FT2、FT3、.··.、FTn3)來作為脈衝後緣 的相位的振幅相位調變信號。 期中2如场述的振幅相位簡信號，可於每個規定週
Ϊϋ 的資料。例如，根據可取111個位準、個前 ^ 、立、113個後緣的相位的振幅相位調變信妒， 個週期中傳輪（ηιχη2χη3)值的資料。U虎可於i 置K)包洲案產生部14、測_
解調部18以及判定部20。圖幸 1 W 該測試圖案崎指定對被測試元件⑽ 2試圖案， 圖案。進而，圖荦產生邻14吝β 削出的測試信號的 。二=^===測 值。亦即，圖案產生部i 4產生根據 ^。魂）的期望 元㈣。輪出的輸出信號的位準 ^04544 27?42pif 及輪出信號的變化點的相位的期望值即期望相位。作為一 ^圖案產生部！4可產生於每個規定週期中產生的脈二 4望妞準、前緣的期望相位以及後緣的期望相位。 測試信號輸出部16根據測試圖案以及基準作號而生 成測試信號，並將所生成關試信號輸^被^元件 ⑽。解調部18輸入根據測試信號而自被測試元件輸 出的輸出信號’對所輸人的輸出錢的位準以及微化點的 ^位進行檢測。判定部20判定由解調部18所檢測出的位 準以及變化點的相位是否與期望位準以及期望相位相一 致。接著，判定部20輪出判定結果。 目 圖3表示本實施形態的解調部18的構成。解調部a 包括時脈再生部.22、振幅相位檢測部24 w + ^ ^26〇 4叹她差修正 時脈再生部22輸入自被測試元件10〇所輸出 號（振幅相位調變信號），對已與所輸入的輪 時脈信號進行再生。時脈再生部22包括，同步的 微盪部3〇、相付 差檢測部32、濾波部34以及屏蔽部36。 々1 録部30輸出與所給予的控制信號相應 脈信號。相位差檢測部32對輸出信號盥時晰於咕、卞啊时 進行檢測。 4脈㈣的相位差 濾波部34將與相位差相應的控制信號& 30。作為一例，濾波部34對由相位差檢測=卩’°32至^盪部 的相位差進行低通（lowpass)濾波。接著，嘴、、戶則出 對相位差進行低通濾波後最終獲得的信號竹生皮。卩34將 化f馬控制信號而
c S 12 1364544 27742pif 給予至振盪部3〇。 屏蔽部36根據由相位差修正部％ 號，而屏蔽自相位差檢測部32給 、>正化 更具體而言’屏蔽部一信;至未 件差。 而將由相位差檢卿32所檢測㈣她差供給至 34，且以修正信號指定有屏蔽為條件， 〜邛 =^所_出的娜差縣轉波部34。賤 =屏敝時，作為-例’可將〇作為相位差而供 二4 ’亦可將在進行屏蔽之前由相位差檢測部”所‘ 出的相位差供給至濾波部34。 “ 撼白如上所述之構成的時脈再生部22，錄部30根 =4'波部34輸出的控制信號的位準而使時脈信號
St變^並且，時脈再生部22於恆定狀態下輸出控制 =位，頻率的時脈信號。其結果，根據時脈： 邛2，可輸出與輸出信號的相位差的時間平均為〇 脈信號’亦即，可輸出相位已與輸出信朗步的時脈传號 目位檢測部24將由時脈再生部22所再生的時脈 =虎作為鱗’對輸幻t號的位準以及變化點的相位進行 k、]作為例，振幅相位檢測部24可在由時脈信號戶 自輸出信號所可取的多個位“‘ •^白t位準。進而，作為一例，振幅相位檢測部24 可自輸出信號的前緣所可取的多個相位中檢測該前緣的相 位並自輸出h號的後緣所可取的多個相位中檢測該後 的相位。 Ί 13 27742pif 的變St部二，由振幅相位檢測部24所檢測出 的相位Ϊ Π 差檢測部32給予至遽波部34 夢由將於本實施形態中’相位差修正部％ 二予至屏蔽部36,而對自相位差檢測部32 '。予至41卩34的相位差進行修正，上 ，相位差檢測部32給予至據波部34的== μ 相位差修正部26可將由振幅相位檢測部 立中= 的相位是輸出信號所可取的多個相 部32所二 =定的相位物条件’而將由相位差檢測 邰32所才欢測出的相位差給予至遽波部34 例，相位差修正部26可將由振幅相位檢測部Μ所檢測 的變化_相位並衫個相位相至少 位 =件’而屏蔽自相位差檢測部32給予至== 藉此，根據相位差修正部26，可使僅 =步的二，振盪部3。輸出。因此= 生。"2 ’可去除因與傳輸資料相應的相位 差，從而輸出已與作為振幅相位調變信號二= 地同步的魏信號。 询藏早確 ，而，作為-例，相位差修正部26可 測部24所檢測出的位準以及變化點的相位是== 可取的多個位準以及多個相位中的至少_個預定的位準。以 及相位作為條件，而將由相位差檢測部32所檢測出的相位 1364544 27742pif 差給予至遽波部34。亦即，作為一例，相位差修正部％ 可將由振幅相位檢測部24所檢測出的位準以及變化點 相位並非多個位準以及多個相位中的至少一個預定的位準 以及相位作為條件，而屏蔽自相位差檢測部32給 部34的相位差。 歧 對於振幅相位調變信號而言，由於上升（或下降）波 形的遲緩，即便相位相同，位準較高的情況下實際檢測出
的變化點的相位仍晚於位準較低的情況下實際檢測出的變 化點的相位。因此，根據如此之相位差修正部％，藉由使 僅與預定鱗以及變化關相位同步的時脈信號自振盈部 3〇輸出，可進一步去除因與傳輸資料相應的相位 的誤差。 夂㈣風
圖4表示本實施形態的第1變形例的解調部18的構 成。本變形例的解調部18具有與圖3所示的解調部18大 致相同的構成以及功能，因此對於採用與圖3中所示的構 件大致相同的構成以及功能的構件，標註相同的符號，以 下省略除了不同點以外的說明。 時脈再生部22包括時序信號輸出部4〇以及選擇部 42 ’以取代屏蔽部36。時序信號輸出部40根據時脈信號 而生成多個時序信號，上述多個時序信號分別與輸出信號 所可取的多個變化點的相位相對應。亦即，時序信號輸出 部40在時脈信號與輸出信號已同步的恆定狀態下，根據時 脈信號而生成分別與輸出信號所可取的多個相位進行同步 的多個時序信號。 15 CS) 1364544 27742pif 作為-例，時序信號輸出部4〇可包括多 .上述多個延遲元件串列地連接著，依次對時^ 遲。並且，時序信號輸出部4〇將自各延遲 =時序信號而輸出。藉此，時序信 與輸出信號所可取的多個相位相對應的多個時序作 且’當振盪部30包含環緩衝區（ring _ ===構成缝部30中所包含的環=區 的各_⑽輸出的錢作為時序信號而輸出。 號，並將該時=== 的變化點的相位相對應的時序信 至選擇‘：:：:位差修正部26藉由將選擇信號供給 序信賴_ 信號用於指定將自時 信號供給至相位差檢個時序信號中的哪-個時序 化點=位由:對應與輸出信號的變 ==可對已去除了:差=== 時脈貧料相應的相位變動而造成。因此，根據 可去除因與傳輸資料相應的相位變動造成 16 1364544 27742pif 從而輸出已與作為振幅相位調變信 的誤差 ‘π輸出信號 準確地同步的時脈信號 另外，於本變形例中，相位差檢測部32例如可對輸入 有振幅相位檢測部24的處理的延遲量的輸出信號進^延 遲’以對輸出信號與所選擇的時序信號的相位差進行檢 測。藉此，根據相位差檢測部32，可使所輸入的輪出=號 的符號、與被設為選擇源的輸出信號的符號一致，以對相 位差進行檢測’上述選擇源是由相位差修正部2 遲
時序信號的選擇源。 伴J 而且，作為一例，時脈再生部22亦可包含 件’以取代選擇部42以及時序信號輸出部4〇。此^遲 根據由振幅相位檢測部24所檢測出的變化 點的相位來控制可變延遲電路的延遲量, 輸出信號所可取的多個相位進行同㈣“““ 圖5表示本實施形態的振幅相位檢測部^對^ 資料調變 彻，斧^〇準以及前緣的相位時，作為一 位準以:變化：(。以二將該輪出信號所可取的多個 點，而預先設定有圖5、=_位組合而成的各個接收 當將資料調變為輸出信號:第3比較位準。並且’ 部24於各週期中分別"、刖緣的相位時，振幅相位檢測 理想相位之前，將㈣，在對躺接收點的 、％的接收點的理想位準更小的第1 1364544 27742pif 比較位準與輸出信號進行比較，而在對應的接收點的理想 相位之後，將較對應的接收點的理想位準更大的第2比較 位準以及較理想位準更小的第3比較位準與輪出信號進^ 比較。 义此處γ振幅相位檢測部2 4在對應的接收點的理想相位 之前，將比較位準與輸出信號進行比較，因此可檢測 出.輸出信號在對應的接收點的理想相位之前，較對應的 接收點的理想料更小。進而，振幅相位檢卿Μ在^鹿 的接收點的理想相位之後，將第3比較位準與輸 = 行比較/因此可檢測出··輸出信號在對應的接收點的理 相位之後’大於等於對應的接收點的理想位準。因此 幅相位檢測部24可分別針對輸出信號的前緣所可取的所 有接收點，而檢測出輸出信號的相位與理想相位是否大致 1味轉㈣辦序之後且第 3比車父位準的比較時序之前的相位。 Μ而雜測部24在職的魏㈣理想相位 之後將第2 _位準與輸出錢進行比較，並且在對應 的接收點的理想相位之後，將第3比較位準 =所相位檢測部24可分別針對輸出^ 可取的所有接㈣，而檢_輸心_ 是否大致-致，上述理想位準是 ：二„ 大於等於f 3味位準的姆。、：t較位準且 並且，振幅相位檢測部24可根據 可取的所有接收點的多個比較結果，而對輸==
18 27742pif 於:二理想相位之後小於等 x- x 、等於第3比較位準的一個接收點。 振幅相位檢測部24將所檢測 理 相位而輸出。Μ該輪心號的位準以及變化點的 對應：= = : =及第—較 ^準中的在對應的接』 對二Li較好的是，f 1比較位準的比較時序較前緣的 ㈣_想相位之前，且較前緣所可取的多個相 -存丨2職的接I闕理想她之前_狀後。作為 二例肢振^位檢測部24可在職的接收點_想相位之 1比較位準大致相同的第3比較位準、與輸出 心5虎進行比較。藉此，振幅相位檢測部24可將比較電路乒 用化。 ^ =且，較好的是，第2比較轉較對應的接收點的理 4位準更大，且較輸出信號所可取的多個位準中的在對應 ，接收點的理想位準之上—個的位準更小。而且，較好的 是第2比較位準以及第3比較位準的比較時序較前緣的 對應的接妓的理想相位之後，且較前緣所可取的多個相 位中的在對應的接I點的理想相位之後的相位之前。作為 一例’振幅相位檢測部2 4可在對應的接收點的理想相位之 19 1364544 27742pif 與輸出信號二=。：，2二位準以及第3比較位準 時序電路共用化。 振幅相位檢測部24可將比較 另外，在本實施形態中，當表 第2位準（或較第2位準更大）時 專於 位準之差的絕對值大於==如 值更大）。因此，當表達為輸出信 差的，，，巴對 表示基準辦與如錢之差的準時， 與比較位準之差的絕對值。同樣地，幸=基準位準 2位準(或較第2位準更小;時達== 差= = 小於等於基準位準㈣^ 小Γ。或較基準位準與第2位準之差的絕對值更 的位:===^_輪_ ，收點相對應的比較===的、， 貝料調變為輸出信號的位準以及 、例。當將 檢測部24對應於將該輪出信號所可取的目2 ’振幅相位 =)以及變化點（後緣）的多個相 :準位 成的各個接收點，而預先設定有第4〜第6m且合而 二，當將資料調變為輸出信號的後緣的相位時二準；並 仏測部24於各週期中分別針對多 守田相位 後，將較理想位準更小的第4比較位準與輸 20 1364544 27742pif 較理想位準更大的第5比較位 較。 、'準更小的# 6比較位準與輪出信號進行比 之後檢卿24在對應的祉_理想相位 出·幹錢進行比較，目此可檢測 f .輸出域在對應的接收闕理想相 接收點的理想位準更推而担m 说权對應的 進而，振幅相位檢測部24在對應 勺接收點的理①、相位之前，將第6比較 =:因Γ檢測出:輪出信號在對應‘ 相位之則，大於等於對應_收點的 幅相位檢測部24可分別針對势屮γ因此振 J，十對輸出4唬的後緣所可取的所 !Γ、=測出輸出信號的相位與理想相位是否大致 ▲上述理4相位是第6比較位準的比較時序之 4比較位準的比較時序之後的相位。 之乂而幅^立檢測部24在對應的接收點的理想相位 之則將弟5比較鱗與輪幻讀進行味，並且在對應 的想相位之前’將第6比較位準與輪出信號進 ==上相位檢測部24可分別針對輸出信號所 可、斤有接收點’而檢測出輸出信號的位準與理想位準 是否大致-致，上述理想位準是小於等於第5比較^準且 大於等於第6比較位準的位準。 並且，振幅相位檢測部24可根據分別針對輸出信號所 可取的所有接收點的多個比較結果，而對輪出信號的位準 以及後緣的相位進行檢測。亦即，振幅相位檢測部^從多 27742pif 個接收點中檢測出如下所述的一個接 位之後小鱗於第4比較位準，而在職^，在理想相 相位之前小於等於第5比較位準、&點的理想 乐比菽位準且大於等於第6比較位準 、一個接收點。繼而，振幅相位檢測部24將所檢 準固=:':=想相位’作為該輪_的位 準中的在職的接理想鱗之下-個的位準更 2而且’較好的是’第4比較位準的比較時序較後緣的 對應的接收點_想相位之後，且較後緣所可取的多個相 位中的在職的接I關理想減讀的她之前。作為 二例’振幅相位檢測部24可在對應的接收點的理想相位之 ^。’將與第4比較位準大致相同的第6比較位準、與輪出 仏唬進行比較。藉此，振幅相位檢測部24可將比較 用化。 ^ 而且，較好的是，第5比較位準較對應的接收點的理 心位準更大，且較輸出信號所可取的多個位準中的在對應 的接收點的理想位準之上一個的位準更小。而且，較好的 疋，第5比較位準以及第6比較位準的比較時序較後緣的 對應的接收點的理想相位之前，且較後緣所可取的多個相 位中的在對應的接收點的理想相位之前的相位之後。作為 一例’振幅相位檢測部24可在對應的接收點的理想相位之 前的大致相同時序中，將第5比較位準以及第6比較位準 27742pif 與輸出信號進行比較。获 時序電路共⑽。籍此，振幅齡檢測部24可將比較 點的Hi If振幅相位調變信號所可取的位準以及變化 仞、作A \丨固組合相S應的比較位準以及比較時序的一 振幅相位檢測部24可將她_相位相 τ;ΐ= 的ί個接收點相對應的多個第1比較位準 作為一例，拐^-1'的比較時序，設定為Α致相同的相位。 位準不同的可將與變化點的相位相同但 5比較位準）的比對應的多個第2比較位準（或第 -例，振幅相位檢測部24可;==的相位。作為 不同的多個雜闕她姻但位準 較位準)的比多個第3比較位準(或第6比 ⑽糾序，設定為大致相同的相位。 但相為—例’振幅相位檢測部24可將與位準相同 第4 _ 5的多個接收點相對應的多個第1比較位準（或 相位檢^準24)大致相同的位準。作為—例，振幅 :對應的;個第;:較:r;==)== (m / 接收點相對應的多個第3比較位準 較位準)’設定為大致相同的位準。根據如此： 控制電可將位準的比較電路以及比較時序的 作為—例’振幅相位檢測部24可將變化點的相位相同 23 27742pif 且上下鄰接的兩個接收點中， 第2比較位準（或第 厂；，立準的接收點的 收點的第3比二：二= 應::惻位準的接 的位準。而且，作為一你 乂準5又疋為大致相同 同且相位前後鄰接的_接收:广檢二部2土可將位準相 收點的第3比較位準（或第4 : 側相位的接 應於後側相位的接收點的第】：立序與對 的比較時序，設定為大致相同的二 位檢測部24,可進一步將電路共用化。稭此根據振幅相 態的振幅相位檢測部24的構成的一 定有Ξ !Γ 檢測部24，表示如圖7所示般設 比較位準及第2比較位準以及比較時序時的構成 =相位檢測部24包括位準比較部52、時序產 準比摩H人電路μ—1〜56—m以及比較檢測部58。位 位準將輸出信號所可取的多個位準中的較對應的 別與根據測試信號而自被測試元们。丄的 ^出1進订比較。繼而’位準比較部52輸出第1比較位 及〃 ^比較位準分別與輸出信號的多個位準比較結 果上述第1比較位準以及第2比較位準分別與輸出信號 所可取的多個位準相對應。 4乍為-例’位準比較部52可包含多個比較器62—卜 62-m (m ^大於等於2的整數），上述多個比較器n 24 1JUH-J44 27742pif 〜62~~m是分別與輸出信號所可取的多個位準各自的第】 比較位準以及第2比較位準相對應而設置。多個比較器& 1〜62 —m將各自對應的第丨比較位準或第2比較位盥 輸出信號進行比較。 /、 •蚪序產生部54產生多個時序信號，上述多個時序信號 對輪出信號所可取的多個相位中的較對應的相位之前^第° L比較時序以及較對應的相位之後的第2比較時序進行指 作為-例，時序產生部54可包含多個延遲元件料叫 厂延遲7L件64-m，上述可包含多個延遲元件64·】〜延 遲元件64 —m依次對時脈信號進行延遲。 “多個延遲元件64-1〜延遲元件64 — m串列地連接 者’稭由預先設定較遲量驗續時脈信號騎延遲。 多個延遲元件64-i〜延遲元件64 —m輸出多個時 ，遽’上述多個時序信號對輸出信號所可取的多個相位 各自的第1比較時序以及第2比較時序進行指定。 船^取人電路56-1〜56 — m在輸心號所可取的多 個相位中的較對應的相位之前的第丨比較 的相位之後的第2比較時料，分別、序^及較對應 ^ . v 町斤r刀另J取入經位準比較部52 比較的多個位準比較結果。多個取人電路 疋與多個比較器62 — 1〜62 — m--對廏+丄»· 々 對應地設置。多個取 入電路56-1〜56 —m包含多個鎖存器66y〜 ，多：鎖存器66-W66 —m取入各自對應的比較器62_ 1〜62-m的位準比較結果。 各取入電路56 t包含的多個鎖存器—瓜在 25 1364544 27742pif 由對應的時序信號所指定的時戽φ 器62的位準比較、絲。並且，各中取”刀別取入對應的比較 ^ Λ 、•& 合取入電路56將由鎖存器 的位準比較結果輸出至比較檢測 比較檢測部58根據由多個取 ν % j〇 — 1 56 — m 所 =二的多個位準比較結果，來對如下所述的位準以及變= 得小於等於第丨比較位準，而在 J變得小於等於第2比較位準且大於等二比較二 亦即’比較檢測部58對所輸入的輸出信號所具有的位準、 2所輸人的輪出信號的變化點所具有的相位進行檢測。 成的振幅相位檢測部24 ’可對所輸入的 輸出W所具有的位準以及前緣的相位進行檢測。 位準比較部52可取代以上所述，而輸 可取的多個位準中的較對應的位準更小的 订比較的夕個位準比較結果。此時，作為—例，位 =可包含多個比較器62 — —m，上述多個比“ ^ 62 — m是分別與輸出信號所可取的多個位準各自 的f 4比較位準以及第5比較位準相對應而設置。多個比 較器62—1〜62〜瓜將各自對應的第4比較位 較位準與輸出信號進行比較。 一飞弟5比 而且，此時，時序產生部54產生多個時序信號，上、成 多個時序錢對輪幻t賴可取的多個相位巾的較對應^ 26 1364544 27742pif 相^之丽的第4比較時序以及較對應的相位之後的第5比 較時序進行指定。並且，多個取入電路56—1〜56 —m在 輸出^號所可取的多個相位中的較對應的相位之前的第4 比較％序以及較對應的相位之後的第5比較時序中，分別 取入經位準比較部52比較的多個位準比較結果。
進而’此時，比較檢測部58根據由多個取入電路56 1〜56 — m所取入的多個位準比較結果，來對如下所述的 位準以及變化點的相位進行檢測，即：在第4比較時序中， 輸出信號變得小於等於第4比較位準，而在第5比較時序 中’幻讀變得持等於帛5比較位準且切等於第4 匕車乂位準；^據如上所述之構成的振幅相位檢測部24，可 ^所輪入的輸出錢所具有的位準以及後緣_位進行檢 圖9表示本實施形㈣第2變形例 =本變形例的解調部18具有與^所示的測狀^
相同的構成以及功能，所以對於採用與圖i〜圖9中 的構件大致相同的構成以及功能的構件，標註相同 的付號，以下省略除了不同點以外的說明。 本變形例❹m裝置1G更包括時序產 產生器7〇輸人嫌將18_脈再生部 $ 時序產生器7。根據時脈信 = 週期相應的週期的基準信號。 〃列式 進而，在本變形例中，解^ …時序產生器7。所輪===: 27?42pif 脈再生部22所再生的時脈 振幅相位檢測部24，可耙摅H曰在，根據解調部18的 如，來對振幅相位試週期而確定的基準 而且，在本變形例中文^的^位以及位準進行檢測。 號而應自被測試元件】00//的^^生根據測試信 信號）的位準的期望值即期望_出=(振幅相位調變 變化點的相位的期望值即期望 ^上返輪出信號的 測部24。振幅相位檢 望目位檢 =的第1比較位準與輸出= 位^ 準更大的第2比較位準以及較期望 位準=的第3比較位準與輸出信號進行比較。及車乂期望 較处果者對Γ ί差修正部26根據振幅相位檢測部24的比 對自㈣再生部22内的相位差檢測部32给予至 4波部34的相位差進行修 2予至 %將輸出付更具體而"，相位差修正部 在_位之則、於等於第1比較位準，而 幸六你進2之後小於等於第2比較位準且大於等於第3比 = >乍為條件’將由相位差檢測部32所檢測出的相位差 Γη珍f遽波部34。亦即，相位差修正部26將輸出信號與 3位準以及期望相位一致作為條件，而將由相位差檢測 :2所檢測出的相位差給予至渡波部％，且將輸出信號 望位準以及期望相位不一致作為條件，而屏蔽自相位 差，測部32給予域波部34的相减。根據如上所述的 測，置10’由於是根據已與期望相位同步的輸出信號來 對％脈進行再生，因此可輸出已與輸出錢準確地同步的 28 1364544 27742pif 時脈信號。 而且，測試裝置ίο $可為與成為
路一同設置於同-電子辑上的㈣_ τ㈣破測5式電 糸雪工-从干的測5式電路。該測試電路作 為電子7〇件_建自測（Built_InSe财est B 而實現，藉由舰賴電路進行賴來進行電子L今 ==測：路可檢驗(check)成為被測試電: 的電路疋料H子元件原本欲進㈣通常動作。
而且’測試裝置10亦可為與成為測試對 ^設置於同—板㈤如）上或同-裝置 ^測試祕亦可如上般檢驗制試電路是否可進行 原本欲進行的通常動作。 ，10表不本貫施形態的解調裝置200的構成。在本實 祕態的解調裝置綱+，對於採用如圖3以及圖4所示 的構件大致相同的構成以及功能的構件，標註相同的符 號，並省略除了不同點以外的說明。
解調裝置是對振巾|相位調變錢進行解調的裝 置例如疋電子元件、模組、電子元件内的電路等。而且， 作為一例，解調裝置200可構裝於半導體元件中。 解調裝置200包括時脈再生部22、振幅相位檢測部 24、相位差修正部26以及資料輸出部21〇。時脈再生部22 具有與，3以及圖4所示的時脈再生㉝22大致相同的構成 以及功能。振幅相位檢測部24以及相位差修正部％具有 與圖3以及圖4所示的振幅相位檢測部24以及相位差修正 部26大致相同的構成以及功能。 29 1364544 27742pif 、；、y寸爾出部210輸出與由振幅相位檢測部24所檢測出 勺4準以及變化點的相位相應的資料。亦即，資料輸出部 21〇輸出由振幅相位調變信號經解調後的傳輸資料。根據 構成的解調裝置2()() ’可對所輸人的振幅相位 二交L號所具有的位準以及相位進行檢測，從*可將與所 檢測出的位準以及相位相應的資料作為傳輸資料而輸出、。
以上，使用實施形態來說明瞭本發明的一個方面，但 ^發，的技術範圍並不㈣於上述實施形態中記載的範 ，上#施形射，可添加多種變更或改良。由 =利乾圍的記載可明白得知，.添加有上 I 的形態亦可包含於本發明的技術範圍内。改良 【圖式簡單說明】 被測=示本發明實施形態的測試裝置的構成與 例。圖2表示本發明實施形態的振幅相位調變信號的一 圖3表示本發明實施形態的解調部以的構成。 ㈣表不本發明實施形態的第1變形例的解調部18 及變實ϋ態的解調部18對輸出信號的位準以 及又化點“緣）的相位進行檢 早以 點相對應的比較位準以及比較時序的一例了任思—個接收 的位相位檢測部_輸出信號 〔後緣）的相位進行檢測時的、與任意 30 1364544 27742pif 一個接收點相對應的比較位準以及比較時序的一例。 圖7表示與振幅相位調變信號所可取的位準以及變化 點的相位的各個組合相對應的比較位準以及比較時序的一 例。 圖8表示本實施形態的振幅相位檢測部24的構成的一 例。 圖9表示本發明實施形態的第2變形例的測試裝置10 的構成。 圖10表示本發明實施形態的解調裝置200的構成。 【主要元件符號說明】 10 :測試裝置 14 :圖案產生部 16 :測試信號輸出部 18 :解調部 20 :判定部 22 :時脈再生部 24 :振幅相位檢測部 26 :相位差修正部 30 :振盪部 32 :相位差檢測部 34 :濾波部 36 :屏蔽部 40 :時序信號輸出部 42 :選擇部 31 1364544 27742pif
52 :位準比較部 54 :時序產生部 56、56-1， -56- -m : 取入電路 58 :比較檢測部 62 > 62-1- -62- -m : 比較器 64、64 - 1 - 一 64 — m : 延遲元件 66、66— 1 一 一 66 — m : 鎖存器 70 :時序產生器 100 :被測試元件 200 :解調裝置 210 :資料輸出部 32

Claims (1)

  1. 丄：504>44 27742pif 十、申請專利範圍·· 5 ['種解調震置’用於對振幅相位調變信號進行解 ”二，振㈣目位信號具有滅傳輸資料^自多個位準 ^__擇的鱗以感點細立，該解調裝 %脈再生部，接收上述振幅相位調變信號，對已與上 振變錢同步的時脈信號進行再生； 担A5振巾_位檢測部’將上述時脈信號作為基準，對上述 ^田相位调變信號的位準以及上述變化點的相位進行檢 貝料輪出部’輸出與由上述振幅相位檢測部所檢測 、（位準以及上述變化點的相位相應的資料；以及 差修正部，輸出修正信號，該修正信號用以 =幅相位檢測部所檢測出的上述變化點的相位 修正Ά料生部崎$的上料脈信號的缝頻率進行 ♦如申士《月專利範圍第1項所述之解調裝置，其中 部包括：振㈣，輸出與所給予的_ 調變信號與上述時脈信號的相位差進行檢= 將與上述相位差相應的上述控制信號給予至= 子彳對自上述相位差檢測部給予至上 33 C S ) 27742pif 波部的上述相位差進行修正。 3卜=%_範圍第2項所述之解調裳置’其中 ψ k目位差修正部，將由上述振幅相位檢測 ::上述變化點的相位是多個相 ==測 給予至上1渡^由上述相位差檢測部所檢測出的相位差
    4.如申請專利範圍第3項所述之解調裝置，並中 出的差修正部，將由目位檢測部所檢測 出的上述位準以及上述變化點的相位是多 ：： 少一個預定的位準以及相位作為條件，而“ Ί =測部^斤檢測出的相位差給予至上述遽波部。 .叫專利範圍第2項所述之解調裝置，其中
    巧㈣序錢輸出部，根據上料脈信號而生成 4序信號’上述多㈣序信號與上述純相位調變信號 所可取的多個變化點的相位分別相對應， & 上述相位差修正部選擇上述多個時序信號中的與由上 述振幅相位檢測部所檢測出的上述變化點的相位相 時序信號， ； 上述相位差檢測部對所選擇的時序信號與上述振幅相 位調變信號的相位差進行檢測。 6.如申請專利範圍第2項所述之解調裝置，其中 更包括時序信號輸出部，根據上述時脈信號而生成多 個時序信號，上述多個時序信號與上速振幅相位調變信號 所可取的多個變化點的相位分別相對應， 34 丄）04544 27742pif 上述相位差檢測部對上述振幅相位調變信號與上述多 %脈仏號的各時脈信號的多個相位差進行檢測， 柄位差修正部，賴由上述相位差檢測部所檢測 、夕個相位差中的與由上述振幅相位檢測部所檢測出的 述變化點的相位相對應的相位差，並將該相位差給予至 上述濾波部。 ’ 7.如申凊專利範圍第2項所述之解調裝置，其中 上述振幅相位檢測部， 針對將上述振幅相位調變信號所彳取的多個位準以及 =化點的多個相位組合喊的各個接收點，在對應的接收 ^理想相位H較對應的接理想位準更小的 f 1比較位準與振幅相位難錢進行比較，而在對應的 ，收，的理想相位之後，將較對應的接收點的理想位準更 大的第2比較位準以及較理想位準更小的第3比較位準盘 振幅相位調變信號進行比較， 〃 對如下所述的位準以及變化點的相位進行檢測，即， 在，想相位之前，上述振幅相位調變信號變得小於等於上 H比纟x位準’而在理想相位之後’上述振幅相位調變 Μ變得小於等於上述第2比較位準且大於科上述第3 比較位準， 上述相位修正部根據由上述振幅相位檢測部所檢測出 的上述變化點的相位，對自上述相位差檢測部給予至上述 濾波部的上述相位差進行修正。 8·如申请專利範圍第2項所述之解調裝置，其中 35 < S ) 1364544 27742pif 該解調裝置是構裝於半導體元件中。 9.一種測試裝置，用於對被測試 、 測試元件將振幅相位調變信號作為輸=試，該被 振幅相位調變信號具有根據傳輸資料而；；上述 個相位巾轉⑽準以變條的如;^準以及多 測試信號輸出部，將測試信號輪出至上、十^裝置包括： …難產生部’產生期望位準以及期望H破Τ元件； 準是根據上述測試信號而應自上述被測 μ期望位 輸出信號的位準的期望值，該期望相位是上j出白^^ 變化點的相位的期望值. 乂輸出信號的 脈信號進行再生； 门文心唬同步的時 振^位，部，將上述時脈信號作為 輸出^虎的位準以及上述變化點的相位進行檢對上述 位準由上述振幅相位檢測部所檢次的上述 ==::相位是否與上述期望位準以及二 相位差修正部’輸出修正錢，轉、 由上述振幅相位檢測部所檢測出的上=以根據 再生部所輪出的上述時脈信號的振：;進： 10·如申料利朗第9項所述之㈣ 上述時脈再生部包括：部，輸出舆所给予的中控制 36 <S) 27742pif 信號相應的頻率的上述時 =調::=rr心=檢= 述振盡部，l相位差相應的上述控制信號給予至上 出的士=;=根===__測 述遽波部的上述相位差進行修正。w部給予至上 更乾圍第1〇項所述之測試裝置’ I中 更包括時序產生器，該時序 "中 而產生與測試週期相應的週期的基準;:據上返時脈信號 測試裝置， ?望相位，該期望位準是根據立準以及 Γ是=的上述輪_的位準 =值=: 述輪出信號的變化點的相位的期望值，' 述期上述期望相位之前，將較上 較，而在上述期望相位之後進行比 2比較位準以及較上述期望位準丰更大的第 述輪出信號進行比較，更j的弟3比較位準與上 之前述輸出信號在上述期望相位 小於等於上述第述期望相位之後 作為條件，腾士 m 大4於上述第3比較位準 ' 、以目位差檢測部所檢測出的相位差給予 < £ > 1364544 27742pif 至上述濾波部。 13.—種電子元件，包括： =電路’將振幅相位調變信號作為輸出信號而輸 出，，振幅相位調變信號具有根據傳輪資料而自多個 以及夕個相位中選擇的位準以及變化點的相位；以及 測5式電路’對上述被測試電路進行測試， 上述測試電路包括： 出部，將測試信號輸出至上述被測試電路; 圖案產生。卩，產生期望位準以及期望相位，誃 準是根據上述測試信號而應自上述被測試電路輸出 輸出域的位準的期望值，該期望相位 广= 變化點的相位的期望值； 、輸出#唬的 幅相St:上述被測試電路所輸出的上述振 脈信號進行= 述振幅相位調變信號同步的時 振幅相位檢測部’將上述時脈信號作為基準 輸出信，位準以及上述變化點的相位進行檢^ ; ㈣判㈣，敬由上述振幅她檢測部所檢測出的上、;ft 位準以及上述變化點的相位是否與 〇述 期望相位相-致；以及 ^位準以及上述 測以根據 =述時脈再生部所輸出的上述時脈信號的振盡二來于 38 < S ) 1364544 27742pif H.如申請專利範圍第】3項 一 以 予至上 上述時脈再生部包括：择鋈处“子兀•件，其中 信號相應的頻率二：部相=::予= 振，二調變信號與上述時脈錢的相位差^^檢二以 及濾j部’將與上述相位差相應的上述控 ’ 述振盪部， 現、，，° 上述她絲正雜㈣謂缝純 述變化點的相位，對自上述相位差檢測部i予 慮波部的上述相位差進行修正。 予至上
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009116238A1 (ja) * 2008-03-21 2009-09-24 株式会社アドバンテスト 試験装置、復調装置、試験方法、復調方法および電子デバイス
US8918686B2 (en) * 2010-08-18 2014-12-23 Kingtiger Technology (Canada) Inc. Determining data valid windows in a system and method for testing an integrated circuit device
WO2012125719A2 (en) 2011-03-14 2012-09-20 Rambus Inc. Methods and apparatus for testing inaccessible interface circuits in a semiconductor device
CN103001705B (zh) * 2011-09-13 2015-02-04 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种近场通信收发器芯片测试波的产生系统及其产生方法
US9033048B2 (en) * 2011-12-28 2015-05-19 Hydril Usa Manufacturing Llc Apparatuses and methods for determining wellbore influx condition using qualitative indications
KR20140065909A (ko) * 2012-11-22 2014-05-30 에스케이하이닉스 주식회사 송신회로, 수신회로 및 송/수신 시스템
WO2015149352A1 (zh) * 2014-04-04 2015-10-08 华为技术有限公司 异步tdd系统相位同步方法和装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57115076A (en) * 1981-01-09 1982-07-17 Fuji Xerox Co Ltd Synchronous detection type carrier regenerating circuit of medium velocity facsimile
US5438591A (en) * 1991-07-31 1995-08-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Quadrature amplitude modulation type digital radio communication device and method for preventing abnormal synchronization in demodulation system
JP2932861B2 (ja) * 1992-10-13 1999-08-09 日本電気株式会社 位相同期検出回路
US5590158A (en) * 1993-01-28 1996-12-31 Advantest Corporation Method and apparatus for estimating PSK modulated signals
US5583785A (en) * 1993-12-28 1996-12-10 Talkie Tooter, Inc. Method and apparatus for signal decoder using instantaneous magnitude and phase detection
JP2003008354A (ja) * 2001-06-26 2003-01-10 Mitsubishi Electric Corp Ａｍ復調器
JP3990319B2 (ja) * 2003-06-09 2007-10-10 株式会社アドバンテスト 伝送システム、受信装置、試験装置、及びテストヘッド
CN100581095C (zh) * 2003-11-20 2010-01-13 爱德万测试株式会社 时钟恢复电路以及通讯装置
WO2005050231A1 (ja) * 2003-11-20 2005-06-02 Advantest Corporation タイミングコンパレータ、データサンプリング装置、及び試験装置

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