TWI359566B - High accuracy zero crossing detector and method th - Google Patents

Description

1359566 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明大體而言係關於電子裝置，且更特定言之，本發 明係關於形成半導體裝置及結構之方法。 【先前技術】

過去，電源控制器通常使用零交越檢測器來確定經過電 源電感器之電流何時到達零交越，以控制電力系統之電源 開關。在零交越時切換電源開關改良了電源控制器之效' 率。通常’-比較n將電流感測訊號與參考信號進行比 較，以確定該f流感_號何時接近信號之零交越。然 而’比較器具有限制比較器之準確性及降低電源系統效率、 之變化。該等變化通常由半導體處理變化及溫度變化而導 致°在電池供電之運作中’該等變化導致降低之電力效 率，且減少了設備可自電池而運作的時間長度。 因此’需要具有—零交越檢測器，其具有改良之準確性 且更準確地檢測感測訊號之零交越。 【發明内容】 係有關—種零交越檢測方法，包括：接收-感測 訊號；耦接一第一比較器作為_ " 平乂窃忭马第一放大器，且在一第— ΓΓ:;少一部分期間將該第-放大器之-_ 且：：，元件上；麵接該第一比較器作為-比較器， 在第—時間週期之至少一部分期問蔣1β、， 至該第-儲存元件，H 感測訊號輕接 器，且在該第二時間Μ 較器作為-第二放大 ’ Β週期之5亥部分期間將該第二放大器之 J04743.doc 1359566 輪出儲存於一第二儲在；L . κ 一 件上；及耦接該第二比較器作 馬一比較器，且在該笫一拄丄 $ $ 時間週期中將該感測訊號耦接至 该第二儲存元件。 :發明再係有關-種形成一電源控制器之方法，包含： 厂亥電源控制裔以接收一表示 '經過一電感器之電流的 訊號；並聯地搞接複數個比較器，其中每-比較器經 耦接以接收該感測訊號 '' 忒耦接步驟包括將一電容器與該 4複數個比較器中之每_卜鲂 b較。0的一輸入端串聯耦接；組 該等複數個比較器中之_笛— 。 第一比較益以在一第一時間週 期之至少-第一部分期間將該第一比較器之一偏移作為— 第一料值而儲存於-第—電容器上；及組態該等複數個 比較器中之-第一比較器以在一第二時間週期之至少一第 一部分期間將該第二比較器之—偏移作為1二儲存值而 儲存於一第二電容器上。 ，本發明另係有關一種零交越檢測器’包含：並聯鶴接之 複數個比較器’其中每一比較器具有一耦接至該比較器之 一輸入端的電容器；及該等複數個比較器中之一第一部 分’其經組態為一放大器以在—第一時間週期之至少一第 -部分期間將該放大器之-偏移電壓儲存為一第 移；及該等複數個比較器中之一第-邻八 τ〈 笫一部分’其經組態為比 較器以在該第-時間週期之至少一第二部分期間將一感測 訊號加上該第-儲存偏移與—第—參考信號進行比較。 【實施方式】 圖1示意性地說明電源系統10之實施例的一部分。系統 I04743.doc 1359566 ι括電源控制器2 5，其準確地檢測儲存於系統丨〇之電感

’且進行回應而在電壓輸出端子 電壓。施加於端子11與12之間的 器19中之電流的零交越 力返回端子12之間的電力，且 13與端子12之間形成輸出電壓 電壓通常為直流（dc)電壓，諸如電池電壓或經整流之交流 ()電壓。反饋網路1 6連接於端子1 3與12之間且在網路j 6 之輸出端上形成一反饋訊號。該反饋訊號表示端子13與12 • 之間的輸出電壓之值，且係接收於控制器25之反饋輸入端 42上。在較佳實施例中，網路16包括串聯連接於端子13與 12之間的第一反饋電阻器17及第二反饋電阻器18。系統1〇 除包括能量儲存電感器19之外，亦包括能量儲存電容器 。第一電源開關或電源電晶體21串聯連接於端子u與電 感器19之間，且第二電源開關或電源電晶體22連接於電感 器19與端子12之間且充當系統1〇之同步整流器。電流感測 電晶體23用於提供表示流經電晶體21之電流的電流感測訊 • 號。在較佳實施例令，電晶體23係形成為與電晶體之尺 寸及特徵成比例，以反映流經電晶體21之電流。此電晶體 通常稱為按比例之電晶體。在此較佳實施例中，電晶體以 為P通道功率MOSFET(金氧半場效電晶體 通道聰電晶體。在其它實施例中，電晶體21可為.Λ FE丁（場效電晶體）或包括電晶體23之功能的其它類似電晶 體。電流感測電阻器24麵接至電晶體23上以將流經電晶體 23之電流轉譯為一形成電流感測訊號之電壓。電感器】9及 電容器20通常位於控制器25之外部。網路16、電阻器μ及 I04743.doc 頻率補償網絡。通道3 〇包括系統時脈或時脈26，其產生一 用於運作PWM控制通道30之系統時脈訊號（CLK)。通道3〇 亦包括斜坡產生器或斜坡27、pWM比較器33、pw]y[鎖存 裔29及加法器28。該系統時脈訊號（Clk)用於設定鎖存器 29且起始一 pWM控制週期。斜坡27接收CLK並產生一藉由 加法器28接收之斜坡訊號。加法器28亦接收來自控制器25 之電流感測輸入端40的電流感測訊號，將該電流感測訊號 _ 增加至斜坡訊號，並產生一藉由PWM比較器33接收之輸 出。比較器33亦接收來自放大器32之誤差訊號。當來自放 大器32之誤差訊號大於加法器28之輸出值時，比較器33重 新設定鎖存器29以終止PWM控制週期。熟習此項技術者熟 知此等PWM控制通道。 零交越檢測器53接收來自參考3 1之參考信號（Ref)、來自 時脈26之CLK訊號，及表示經過電感器丨9之電流的電感器 電流感測訊號（LI)。電晶體22上之電壓之值通常用於形成 • U °控制器25在輸入端4 1上接收電感器電流感測訊號 (LI)。檢測器53提供一零交越訊號（ZC)，其在檢測器53檢 測到電感器電流感測訊號（LI)之零交越時切換至有效狀 心 零父越為對電感器電流方向變化之指示且用於判定去 能電晶體22之適當時間。準確地判定零交越有助於在一時 刻去能電晶體22，在該時刻去能電晶體22改良了控制器25 及糸統10之效率。 圖2示意性地說明檢測器53之電路之一部分的實施例。 檢測器53包括具有第一比較器47之第一比較器通道54及具 104743.doc 1359566 . 有第二比較器60之第二比較器通道55。通道54及55經組態 以取消比較器47及60之偏移電壓以改良檢測電感器感測訊 號之零交越的準確性。如將在下文中更進一步看到的，通 道54及5 5將比較器47及60並聯耦接且在不同時間週期中運 作比較器47及60以形成ZC訊號。在一時間週期中，比較器 47之偏移電壓儲存於第一儲存元件45上，且在第二時間週 期中，LI施加至第一儲存元件45以致比較器47所接收之差 分§孔號為LI之值減去比較器47之偏移。因此，在第一時間 週期中儲存於元件45上之偏移電壓自在第二時間週期中儲 存於兀件45上之值減去，藉此取消偏移電壓。因此，比較 器47準確地將U與第二參考進行比較。通常，此第二參考 之值為接地電壓。通道55與通道54類似地起作用，但係在 不同時間週期中。該等不同時間週期係藉由d型正反器^ 而形成。正反器66接收系統時脈訊號（CLK)且產生用於運 作通道54及5 5之兩個時脈相位（c丨及C2)。 通道54包括與普通電晶體或普通開關料並聯輕接之輸入 電a日體或輸入開關43、儲在斤乂生c 储存兀件45、反饋電晶體或反饋開 關【輸出緩衝器49及輸出電晶體或輸出開關5〇。電屋源 46表不比較器47之輸入偏移電塵。通道55類似地包括與普 通電晶體或普通開關57並 , , 柳耦接之輸入電晶體或輸入開關 56、儲存兀件58、反餹蛩曰触斗、广祕 及饋電日日體或反饋開關61、輸出緩衝 62及輸出電晶體或輸出 衝益 ⑽出開關63。電愿源59表示比較器6 輸入偏移電壓。 权益⑽之 當相位C1變得右；^ B主 、，開關44將元件45之一端子耦接至 104743.doc 1359566

返回端37作為第二參考，以為該儲存元件之該側形成一參 考電壓。開關48將比較器47之輪出端耗接至比較器Ο之輪 入端及輕接至元件45之第二端子。時脈相位〇係益效的，'』 因此開關43與5G為打開的。閉合開關48連接比較器47作為 -具有單位增益（unity gain)之放大器，因此輸出端約等於 輸入端。因此’比較器47之輪出端等於Ref減去比較器47 之偏移，如以下方程式所展示的。因此，元件45儲存一 值’該值為Ref之值減去比較器47之偏移電壓之值（藉由源 46表示儲存於元件45上之值藉由以下說明： V45 = (Vref-(V37 + V46)) 因為V37通常為接地電壓，故 V45=(Vref-V46) 其中： V4 5，儲存於元件45上之電壓， V37.返回端37上之電愿； φ V46 :比較器47之偏移電壓，及

Vref :參考信號Ref之值。 隨後，相位ci變得無效且相位C2變得有效。無效之相 位C1打開開關44及48。有效之相位C2閉合開關43及5〇。 打開之開關48再次耦接比較器47以充當一比較器。開關心 將LI耦接至儲存元件4 5之第一端子藉此施加一訊號至比較 器47之反相輸入端’該訊號為y，其等於u加上源仏之偏 移電壓加上儲存於元件45上之電壓。因此，比較器之偏移 電壓藉由儲存於元件45上之值而抵消，藉此改良比較器47 104743.doc 1359566 之準確性’如藉由以下方程式可見的： V47 = (LI+V45+V46)-Vref 自以上給出之方程式取代V4 5 V47=LI+Vref-(V3 7+V46)+V46-Vref= LI-V3 7 因為V37通常為接地電壓，故

V47=LI 其中； _ V47 :比较器47之反相與非反相輸入端之間的輸入電 壓； LI :輸入端41上之感測訊號 V45 :儲存於元件45上之電壓， V37 :返回端37上之電壓； V46 :比較器47之偏移電壓，及 Vref :參考信號Ref之值。 由於V37通常為通用電壓，諸如接地電壓，故輸入端通 鲁常大體為LI °由方程式可見，此方法將比較器47之偏移電 壓之效應最小化。當電感器之電流感測訊號（LI)小於第二 參考V37時’比較器47之輸出變高從而迫使緩衝器49之輸 出變南’藉此迫使零交越訊號（ZC)較高。緩衝器49自檢測 器53之輸出端緩衝比較器47之輸出及開關48。開關50允許 資料自通道54傳輸至輸出端以形成訊號zc之一部分。 通道55類似於通道54而起作用，但係與通道54異相。有 效之相位C2閉合開關57及61藉此將比較器6〇之輸出端耦接 至其輸入端及耦接至元件58。相位C1為無效的，因此開關 I04743.doc -13· 1359566 , 56及63為打開的。比較器6〇之輸出約等於Ref減去比較器 60之偏移。因此，元件58儲存一值，該值為Ref之值減去 比較器60之偏移的值（藉由源59表示）。當相位以無效且相 位C1有效時，開關57及61為打開的且開關56及63係關閉 的，藉此將感測訊號（LI)之值耦接至元件58及比較器6〇。 類似於比較器47，比較器6〇在反相輸入端處接收一訊號， 该汛號大體為LI加上源59之偏移電壓加上儲存於元件58上 φ 之電壓。當此值小於參考信號Vref之值時，比較器60之輸 出變得有效從而迫使緩衝器62之輪出較高且迫使零檢測訊 號較高。開關63允許資料自通道55傳輸至輸出端以形成訊 號Z C之一部分。 在不同時間週期運作並聯之複數個比較器允許將偏移電 壓儲存於-比較器通道之儲存元件上，同時另一比較器通 道將電感器電流感測訊號與參考電壓進行比較。因此，運 作與多個時脈相位（其數目等於比較器通道之數目）並聯的 • I數個比較器通道改良了零交越檢測之準確性，藉此改良 了控制态25及系統10之效率。檢測器53導致控制器25具有 一較之先前技術控制器之效率而言高約百分之十至百分之 一十的效率。由先前之描述可見’檢測器53接收電感器電 流感測訊號，在第一時間週期中將來自比較器47之輸出的 值儲存於健存元件45上，在第二時間週期中將該電感器電 流感測訊號耗接至儲存元件45，在該第二時間週期中將比 較器之輸出的值儲存於儲存元件58上，且㈣第—㈣ 週期中將該電感器電流感測訊號搞接至儲存元件58。 '104743.doc •14· 1359566 及7L件45之第一端子。元件45之第二端子連接至電晶體 之源極。由於源46並非一元件而僅為對比較器47之輸入端 偏移電壓之表示，故元件45之第二端子亦連接至比較器Ο 之反相輸入端。電晶體48之汲極連接至比較器47之輸出端 及緩衝器49之輸入端。比較器47之非反相輸入端共同地連 接至比較器60之非反相輸入端及檢測器53之Ref輸入端。 緩衝器49之輸出端連接至電晶體50之源極，該電晶體5〇具 有一共同連接至檢測器53之輸出端及電晶體63之汲極的汲 極。電晶體63之源極連接至緩衝器62之輸出端，該緩衝器 62具有一連接至比較器6〇之輸出端及電晶體6ι之汲極的輸 入端。電晶體61之源極連接至元件58之第一端子。由於源 59並非一元件而僅為對比較器60之輸入端偏移電壓之表 示，故元件58之第一端子亦連接至比較器6〇之反相輸入。 凡件58之第二端子共同地連接至電晶體57之汲極及電晶體 5 6之;及極。電晶體5 7之源極共同地連接至返回端3 7及電晶 體44之源極。電晶體43、5〇、61及57之閘極共同地連接至 正反器66之Q輸出端。電晶體44、48、63及56之閘極共同 地連接至正反器66之$輸出端及正反器66之]：)輸入端。正 反器66之時脈輸入端連接至系統時脈訊號（clk)。 圖3示意性地說明形成於半導體晶粒7〗上之半導體裝置 之一實施例的一部分之放大平面圖。包括檢測器53之控 制器25形成於晶粒7】上。晶粒7】亦可包括其它電路，為簡 化圖式而未將該等其它電路展示於圖3中。控制器乃及裝 置係藉由熟習此項技術者熟知之半導體製造技術而形成 104743.doc -16- 66 於晶粒71上。 雖然以特定之較佳實施例描述了本發明’但顯而易見， 熟習半導體技術者將明顯看出許多替代實施例及變化。舉 例而言，控制器25係說明為作為降壓控制器而運作，作其 亦可用於升壓控制器中。說明了兩個比較器通道，但；使 用具類似數目時脈相位之任何數目並聯通道。此外，為扩 ，，清晰全文使用單字，，連接"，然而，其係用以具有與: 子輕接，’相同之含意。因此，應將“連接，，理解為包括 ~~直接連接或一間接連接。 【圖式簡單說明】 〜圖1示意性地說明根據本發明之電源控制器卜部分的 貫施例； 圖2示意性地說明根據本發明之零交越檢測器之一部分 的實施例；及 圖3示意性地說明根據本發明之半導體裝置的放大平面 圖，該半導體裝置上形成有圖2之零交越檢測器。 為了說明之簡單及清晰，_中之元件並不需要按比例繪 不同圖t之相同參考數字表示相同元件。此外，為 了摇速之簡單省略了熟知步驟及元件之描述及細節。如本 :所使用的，載流電極(CU_ —g el一)意味著 裝置之元件’其載運穿過該裝置之電流，諸如讓電晶 =之源極纽極，或雙極電晶體之發射極或集極，或二極 之陰極或陽極；且控制電極意味著一裝置之元件，其控 ’穿過該裝置之電流’諸如M〇s電晶體之閉極，或雙極電 104743.doc 1359566 晶體之基極。 【主要元件符號說明】 10 系統 11 端子 12 端子 13 端子 16 反饋網路 17 第一反饋電阻器 18 第二反饋電阻器 19 電感器 20 電容器 21 電晶體 22 電晶體 23 電晶體 24 電阻器 25 控制器 26 系統時脈 27 斜坡 28 加法器 29 鎖存器 30 PWM控制通道 31 參考信號產生器/參考 32 誤差放大器 33 比較器 104743.doc -18- 1359566 104743.doc 34 邏輯區塊或邏輯 36 電壓輸入端 37 電壓返回端 38 控制器輸出端 39 控制器輸出端 40 電流感測輸入端 41 控制器輸入端 42 控制器反饋輸入端 43 輸入電晶體或輸入開關 44 普通電晶體或普通開關 45 第一儲存元件 46 電壓源 47 第一比較器 48 反饋電晶體或反饋開關 49 輸出缓衝器 50 輸出電晶體或輸出開關 53 零交越檢測器 54 第一比較器通道 55 第二比較器通道 56 輸入電晶體或輸入開關 57 普通電晶體或普通開關 58 儲存元件 59 電壓源 60 第二比較器 Joe • 19· 13595.66

61 反饋電晶體或反饋開關 62 輸出緩衝器 63 輸出電晶體或輸出開關 66 D型正反器 70 半導體裝置 71 半導體晶粒 Cl 時脈相位 C2 時脈相位 CLK 時脈訊號 LI 電感器電流感測訊號 Ref 參考信號 Z1 阻抗元件 Z2 阻抗元件 ZC 零交越訊號

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Claims (1)

1359566 第094132369號專利申請案 中文申請專利範圍替換本(100年11月） 修正太 十、申請專利範圍： 1. 一種零交越檢測方法，包括： 接收一感測訊號； 耦接一第一比較器作為一第一放大器，且在一第一時 間週期之至少一部分期間將該第一放大器之一輸出儲存 於一第一儲存元件上； 耦接該第-比較器作為一比較器，且在一第二時間週 期之至少一部分期間將該感測訊號耦接至該第一儲存元 件； 純-第二比較器作為一第二放大器，且在該第二時 間週期之該部分期間將該第二放大器之一輸出儲存於一 第一儲存元件上；及 輕接該第二比較器作為一比較器，且在該第一時間週 期申將該感測訊號麵接至該第二儲存元件。 月求項1之方法’其中在該第一時間週期之至少該部 :月間將該第—放大11之該輸出儲存於該第-儲存元件 之步驟包括：耦接該第-放大器之-第一輸入端以接 至—第t 輕接該第-館存元件之-第-端子 第一m信號’及輕接該第一放大器之該輸出至該 入端。 _子及該第一放大器之-第二輸 3.如請求们之方法，其 間將該笛乂丄 Λ第一時間週期之該部分期 X第一放大器之該輸出儲存於 步驟包括.— α 罘—儲存兀件上之 耗接該第二放大器之-第-輸入端至一第一 揭钱該第二儲存元件 參考^號&㈣該第二放大器之該輸出至該第二鍺存 兀件之-第二端子及該第二放大器之一第二輸入端。 4.如明求項1之方法’進一步包括，在該第二時間週期中 將該第-比較器之一輪出端耗接至一第一節點，及在兮 第-時間週期中將該第二比較器之一輸出端耗接至該第 一節點。 5. —種形成一電源控制器之方法，包含： 組態該電源控制5§以姓|IA_ . _ , ^接收一表不一經過一電感器之電 流的感測訊號； 並聯地耗接複數個比較器，其中每一比較器經耗接以 接收該感測訊號，該耦接步驟包括將複數個電容器之一 電容器與該等複數個比較器中之每一比較器的一輸入端 串聯耦接； 組態該等複數個比較器中之一第一比較器以在一第一 時間週期之至少一第一部分期間將該第一比較器之一偏 移電壓作為一第一儲存值而儲存於該等複數個電容器之 一第一電容器上；及 組態該等複數個比較器中之一第二比較器以在一第二 時間週期之至少一第一部分期間將該第二比較器之一偏 移電壓作為一第二儲存值而儲存於該等複數個電容器之 一第二電容器上。 6.如請求項5之方法’進一步包括組態一時脈電路以產生 複數個受控時脈訊號，其中一第一受控時脈訊號形成該 104743-1001122.doc -2 - 第一時間週期且一第二受控時脈訊號形成該第二時間週 期。 如β求項6之方法，進一步包括组態該時脈電路以形成 與該第一受控時脈訊號不同相位之該第二受控時脈訊 號。 8 』主 "月求項6之方法’其中組態該時脈電路以產生該等複 數個文控時脈訊號之步驟包括組態該電源控制器，以形 成一具有一第一週期之系統時脈並使用該系統時脈來： 麵作該電源控制器之一 PWM控制通道；形成該第一受控 時脈訊號；及形成該第二受控時脈訊號。 9·如睛求項5之方法，進一步包括將該第一比較器之一輪 出端及該第二比較器之一輸出端耦接至一共同節點以形 成一表不該感測訊號之一零交越的訊號。 月求項9之方法，其中將該第一比較器之該輸出端及 該第二比較器之該輸出端耦接至該共同節點之步驟包 括.組態該電源控制器以在該第二時間週期之至少一第 一。卩分期間將該第一比較器之該輸出端耦接至該共同節 點及在s亥第一時間週期之至少一第二部分期間將該第 —比較器之該輸出端耦接至該共同節點。 11 ·如明求項5之方法，其中組態該等複數個比較器中之該 第一比較器以在該第一時間週期之至少該第一部分期間 將該第一比較器之該偏移電壓作為該第一儲存值而儲存 於該等複數個t容器之該第一冑容器上之步驟包括：組 態该第一比較器以在該第二時間週期之至少一第二部分 104743-1001 l22.doc 期間將該感測訊號與一參考信號進行比較β 12.如請求項5之方法，其中組態該等複數個比較器中之該 第一比較器以在該第一時間週期之至少該第一部分期間 將該第一比較器之該偏移電壓作為該第一儲存值而儲存 於該等複數個電容器之該第一電容器上之步驟包括：輕 接該第一電容器以在該第一時間週期之至少該第一部分 期間接收-第-參考信號及該第—比較器之一輸出，且 將該第一參考信號與該輸出之間的一差異儲存為該第— 儲存值。 •如明求項5之方法，其中組態該等複數個比較器中之該 第二比較器以在該第二時間週期之至少該第一部分期間 將該第一比較器之該偏移電壓作為該第二儲存值而儲存 於該等複數個電容器之該第二電容器上之步驟包括：組 怎及第一比較器以在該第一時間週期之至少一第二部分 期間將該感測訊號與一參考信號進行比較。 14. 如晴求項5之方法，其中組態該等複數個比較器中之該 第二比較器以在該第二時間週期之至少該第一部分期間 將該第二比較器之該偏移電壓作為該第二儲存值而儲存 於該等複數個電容器之該第二電容器上之步驟包括：耦 接該第二電容器以在該第二時間週期之至少該第一部分 期間接收-第二參考信號及該第二比較器之一輸出，且 將該第二參考信號與該輸出之間的一差異儲存為該第二 儲存值。 15. —種零交越檢測器，包含： 104743-1001122.doc -4- 1359566 並聯耦接之複數個比較器，其中每一比較器具有一耦 接至該比較器之一輸入端的電容器；及 · 該等複數個比較器中之一第一部分，其經組態為一放 大器以在—第一時間週期之至少一第一部分期間將該放 大益之一偏移電壓儲存為一第一儲存偏移；及該等複數 個比較器中之該第一部分，其經組態為一比較器以在一 第二時間週期之至少一第一部分期間將一感測訊號加上 該第一儲存偏移與一第一參考信號進行比較。 16.如請求項15之零交越檢測器，其中經組態為該放大器以 在該第一時間週期之至少該第一部分期間將該放大器之 該偏移電壓儲存為該第一儲存偏移的該等複數個比較器 中之該第一部分’及經組態為該比較器以在該第二時間 週期之至少該第一部分期間將該感測訊號加上該第一儲 存偏移與該第— I考信冑進行比較的該等複㈣比較器 中之該第-部分包括：該等複數個比較器中之該第—部 刀之第一比較器，其具有一經耦接以接收一第二參考 信號之第一輸入端，及具有一第二輸入端，該第二輪入 端經麵接以在該第-時間週期之至少該第-部分期間接 收„亥第參考㈣及該第一比較器之一輸出且在該第二 時間週期之至少一第一部分期間接收該感測訊號。 17.如請求項16之零交越檢測器，進—步包括··該等複數個 比較器中之一第二部分之— 第一比杈裔’其具有一經耦 接以接收該第二參考信號之第—輸人端，及具有一第二 輸入端，該第二輸入端姆& 别八鲕、！耦接以在該第二時間週期之一 104743-1001122.doc -5- 1359566 第二部分期間接收該第一參考信號及該第二比較器之一 輸出且在該第一時間週期之至少一第二部分期間接收該 感測訊號。 18. 如請求項16之零交越檢測器，進一步包括一經組態以接 收該感測訊號之第一輸入端。 19. 如清求項16之零交越檢測器，進一步包括一時脈產生 器，該時脈產生器經組態以接收一系統時脈並回應地形 成该第一時間週期及該第二時間週期。 20. 如請求項17之零交越檢測器，進一步包括：一第一開 關，其經組態以在該第二時間週期之至少該第一部分期 間將肩第一比較器之一輸出端耦接至一共同節點；及一 第二開關，其經組態以在該第一時間週期之至少該第二 刀期間將S亥第二比較器之一輸出端耦接至該共同節 104743-1001122.doc -6 -