TWI351874B - - Google Patents

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1351874 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種顯示裝置，詳細而言，係關於一種 '將檢測出外光的亮度之光感測器組裝於顯示面板，並藉由 -此光感測器的輸出，控制對顯示面板進行照光之光源之顯 示裝置。 ‘ •【先前技術】 近年來’不僅於資訊通訊機器’於一般的電子機器中， 亦使用平面型顯示面板，當中最多為使用液晶顯示面板。 此液晶顯示面板，由於液晶為非發光體，於暗處難以觀看 顯示畫像，因此要設置背光源（backlight，有稱為背光之 情形，本文中稱為「背光源」）等，俾於外光較暗時使該背 光源予以點壳而照射顯示晝面。由於依據手動之背光源的 點亮操作’必須因應外光的明暗情況使背光源等導通/非導 通（ON/OFF)，導致該操作變得繁瑣，因此係有人開發出一 φ種，於液晶顯示面板中組裝用以檢測外光之光感測器，藉 由此光感測器檢測出外光的明暗，並根據該檢測結果使背 光源導通/非導通之技術（例如參照下列專利文獻1)。 第8圖係顯示-般所知的光檢測電路及其訊號波形 圖:此光檢測電路LS’係卩具有光感測器之光檢測部匕 及讀取此光檢測部的輸出之光感測器讀取部R e所構成。此 外，光檢測部Ls的光感測器，係使用採㈣膜電晶體（_

FllmTransistor’以下稱為「TFT」）之τπ光感測器。 作為光檢測構件》此光檢測電路的動作，係預先於丁叮光 319956 6 1351874 感測益Ts的閘電極g施加反偏壓（reverse bias v〇itage) GV ’於此狀態下’首先使開關S1導通而對電容器Cw進行 -·預定基準電壓Vs的充電。接著，一旦開關S1非導通，則 -、蓄積於此電容器Cw之電荷會經由TFT光感測器Ts而放 -電。此時，若光線照射於TFT光感測器Ts，則漏電流流通， 由於該漏電量會因受光量的不同而改變，所以所照射的光 .5愈大則放電速度就愈快，若愈少則放電愈慢，如第8β _圖之端子T2的電壓波形所示，電容器Cw的充電電壓係因 應亮度並隨著時間的經過而降低。因此，將光檢測部 的輸出，亦即電容器Cw的電壓與預定基準電壓值V讣比 較，於此電容器Cw的電壓成為此基準電壓Vth以下時，使 比較器CP的輸出反轉，並測量此反轉輸出p的反轉時間， 藉此判定外光的亮度，並藉由此判定結果，進行圖中未顯 示之背光源的點亮控制。 夂 [專利文獻1]日本特開2006-243655號公報 【發明内容】 (發明所欲解決之課題） 若將此種光檢測電路組裝於圖中未顯示之液晶顯示 板，由於在構成此液晶顯示面板之基板中，已配=有 個用以驅動液晶之TFT等的各種半導體零件及連^這二j 件之電極等的驅動電路，因此於液晶顯示面板驅動 光檢測電路之TFT光感測器的電極及配線與這些的驅動雨 路之間形成有寄生電容。此寄生電容，例如以源 ； 及及極電極D與共通電極vcom之間所形成之^ 兩、 319956 7 丄：0丄δ/4 :::、Cvd’以及源極電極s及祕電㈣與開電㈣^ I電谷Cs、Cd之形式呈現。若產生此種 、弟8B目的VC0M電麼所*，由於一般係於 =如 ‘由矩形波所構成之VC0M電壓’因此，於壓 =屮：即成為高位準Η及低位準L時，m光感測器“ 輸^受到此變化而被拉伸產生鬚鬚狀的短脈衝H :二衝Nl、N2係重疊於電容器cw的電壓 =壓為高位準"，正的短脈衝…重疊於電容器a 於聰電壓為低位準[時，負的短脈衝…重叠 外：C W的電壓。然而’這些短脈衝N1、N 2並非檢洌出 :先的明暗之檢測值’而是相當於一種雜訊。因此，例如 :::衝疊於電容器⑶的電壓值，儘管反應出外光 ，9之電容器Cw的電壓值尚未達到基準電塵（Vth)， 短脈衝N2仍會成為較 th)此 的-點鏈線κ。所ί )运低。結果如第祁圖. 出p使背光源點亮，而導致背光源錯誤點亮。_於該輸 本發明之k'用以解決以往技術所具有的課題而研創者， =於提供一種將光感測器組裝於顯示面板之 板驅動用夠在不受到因形成於光檢測電路與顯示面 麼，=電路之間之寄生電容所產生之雜訊的影 音而檢測出外光的明暗。 (用以解決課題之手段） 具備為：達成¥述目的，本發明第1形態的顯示裝置，為 •、丁面板，驅動電路，係驅動前述顯示面板；照光 319956 8 手段’係對前述顯示面板進行照光；光檢測部，係且有组 裝於前述顯示面板用以檢測出外光的明暗之光感測器，及 ..經由弟1開關手段進行預定基準電壓的充電之電容器；光 1測器讀取部，係讀取該光檢測部的檢測值；以及控制手 #又仏藉由a述光m讀取部的輸出而控制前述昭光手 f ’其特徵為：前述光感測器讀取部係設置有雜訊避免手 & a雜訊避免手段係用以避免因前述驅動電路的動作時 所產生之雜訊所引發之前述光檢測部的錯誤檢測。 根據前述發明，即使因光檢測部組裝於顯示面板，使 雜訊於此光檢測部與驅動電路之間被引發而於光檢測部中 產生錯誤檢測，由於在光感測器讀取部中，包含此雜訊之 錯誤檢測亦可藉由雜訊避免手段予以避免，因此可在不受 "'的〜喜下，喂取對應於正確的外光的明暗之光感測器 的輸出。因此可防止對顯示面板進行照光之照光手段的錯 誤動作。 此外，於本發明第1形態的顯示裝置中，前述雜訊避 免^段係具有：連接前述光檢測部與前述光感測器讀取部 :第2開關手段;及控制該第2開關手段之開關控制手段; :述開關控制手段，係於前述驅動電路處於未產生前述雜 訊之狀態時’以使前述第2開關手段導通之方式進行控制。 ^根據前述發明，若於顯示面板的電極施加有例如由矩 形波所構成之訊號，由於在此訊號產生變化時於光檢測部 與驅動電路之間所產生之寄生電容的存在，所以容易產生 雜訊，但於此時序中，由於第2開關手段為非導通而處於 319956 9 1351874 二感、彳°。咳取。卩非連接於光檢測部之狀態，因此可避免 Λ的影響。此外’由於此雜訊避免手段可: •.與光感測器讀取部之第2關# u先Up 1之…:二 以及控制此第2開關手 、7關控制手段所形成，因此該構成可極為簡單地形成。 於本發明第1形態的顯示裝置中，在前述顯示 面板的電極，以箱中t ·、、 Ψ . ^ 乂 a σ低仇準訊號及高位準訊 = ·控制手段，係於前述低位準訊號的施加時使 1 開關手段導通而對前述電容器充電前述基準電壓 =、二：力:前述低位準訊號的期間中使前述第2開關手段 控制’而於前述高位準訊號的施加時使前 犯第1開關手段導通而對前述電容器充電基準電壓時，以 施加前述高位準訊號的期間中使前述第2開關手段導 方式進行控制。

述發明’於電路設計中’即使形成於光感測器 周邊之寄生電容明顯變大，亦可在不受雜訊的影響下々 取對應於正確的外光的明暗之光感測器的輪丨 S :發明第2形態的顯示裝置’為具備：顯示面板；驅 係驅動前述顯示面板；照光手段，係對前述顯示 以檢二S’光檢測部’係具有組裝於前述顯示面板用 ==光的明暗之光感測器’及經由第！開關手段進 灯預疋基準電漫的充電之電容器；光感測器讀取部’传讀 取該光檢測部的檢測值；以及控制手段，係藉由前述光感 測裔碩取部的輸出而控制前述照光手段，其 & 光感測器讀取部係具有：將前述光檢 $ ，J ^ 杈，貝]邛的輪出與預定基 319956 1351874 準值比較並輸出預定數位 ,^ ! L 訊唬之弟1比較電路；及輸入來 Ϊ ^電路的數位訊號，於該數位訊號在較預 還：之！間中變化時’判斷該數位訊號為雜訊並予 以，〇、視之雜訊消除電路。 根據前述發明，俾今w 路係輸入來自於第〗 電路’此雜訊消除電 〜丨比較電路的數位訊號，於此數位訊穿

在較預定期間還短之期門由冯 JU i、 期間中^匕時’判斷該數位訊號為雜 。並予以心視’藉此，可簡單地去除雜訊。 此外’於本發明第2形態的顯驻 义 除電路係設置有··使來自於前' ’削处雜訊消 1咕 定木自於則述第1比較電路的前述數位 ^延遲預定期間之延遲電路；及比較來自於前述延遲電 白、延遲數位訊號與來自於前述第丨比較電路的非延遲數 ::之第2比較電路；而當前述延遲數位訊號與前述非 埝數位訊號-致時’從前述第2比較電路中送出輪出。 根據前述發明，從第，比較電路所輸出之數 ·:=時間還狹窄之輸出訊號，並不會藉由第2比較電 予以輸出，因此可正確地去除雜訊成分。 、除+ ^卜，於本發明第2形態的顯示裝置中，前述雜訊消 處：去’具，電路’前述賦能電路係於前述驅動電路 除電路^生：述㈣之狀態時產生賦能訊號，前述雜訊消 電路係於檢測出前述賦能訊號之期間送出輪出。 路 根據前述發明，能夠以極簡單的電路形;雜訊消除電 驅 319956 本發明第3形態的顯示裝置’為具備：顯示面板; 11 1351874 動-电路’係驅動前述顯昭 •面板進行昭糸.丄_ 手&’係、對前述顯示 ·.以檢物=二具有組褒於前述顯示面板用 -行預定美車ί 光感測器’及經由第1開關手段進 .‘·取料二 的充電之電容器；光感測11讀取部，係讀 以光栈測部的檢測值；以及控制手段，係藉 測器讀取部的輪出而控制前述照光手段，其倾 取部’係設置有和形成於前述光檢測部的:出 〜二处頋不面板的電極之間之寄生電容為相同電容 =位於前述電容器施加有與前述電極中所施加的訊號為 反相位之訊號。 门 愈驅2 係設置有和形成於紐測部的輸出線 與驅動電路之fBl之寄生電容為相同電容之電容器，且對此 電谷盗施加與電極中所施加的訊號為反相位之訊號，藉此 可抵銷因寄生電容所產生之雜訊。 曰 【實施方式】 擊以下係參照圖式，說明本發明之最佳的實施形離。惟 以下所示之實施形態，係顯示出一種用以使本發”技術 思想具體化之作為顯示裝置的液晶顯示裝置，並非意圖將 本發明特定為此液晶顯示裝置’對於在申請專利範圍令所 包含之其他實施形態’亦可同等適用而得。 [實施例1 ] 第1圖係以透視彩色遽光片基板之方式而顯示本發明 實施例1之液晶顯示裝置白9 TFT陣列基板之俯視圖。此外， 苐2圖係顯示光檢測部；第2A圖係顯示第】圖的液晶顯示 339956 12 1351874 •裝置之光檢測部之剖面構造圖；第2B圖係顯示第！圖的 IIB-IIB線之剖面圖；第3圖係顯示光檢測電路；第3A圖 -·係顯示光檢測電路之等效電路圖；第3 B圖係顯示用以說明 、施加於共通電極之VCOM電壓與感測器輸出之間的關係之 •波形圖。 液晶顯示裝置1係由液晶顯示面板及背光源BL·所構 成，當中，液晶顯示面板係具有互為對向配置之一對的Τη 籲陣列基板（以下稱為TFT基板）2及彩色濾光片基板（以下稱 為CF基板）7，此一對的基板係由矩形狀的透明材料，例如 由玻璃板所構成。此液晶顯示面板，係夾介框緣狀的密封 材貼合於TFT基板2及CF基板7的外周圍，於内部形成空 間亚且於此空間内封入有液晶而構成。τπ基板2係以於 與CF基板7對向配置時形成有預定空間的突出部⑶，之方

式’而使用尺寸較CF基板7還大之基板。此外，於TFT 基板2及CF基板7上的對向面側，形成有種種配線等。 鲁於CF基板7,係設置有：配合m基板2的像素區域 設置為矩陣狀之黑色矩陣；設置於由此黑色矩陣所包圍的 區域之例如為紅（R)、綠（G)、藍（B)等之彩色濾光片8;以 及以覆蓋此彩色渡光片8之方式所設置之共通（咖麵）電 極9(參照第2A圖）。 此外’於TFT基板2的背面設置有對液晶顯示面板進 行照光之光源，亦即背光源B L ’且藉由光檢測部l s的輸 出訊號予以控制。TFT基板2係具有分別為對向之短邊〜 2b及長邊2c、2d，其中一邊的短邊託成為突出部沉， 319956 13 1351874 =出部"，裝載有源極驅動一驅動器用半導體 且有此St:，係於其表面’亦即與液晶接觸之面， 具有·於弟1圖的列方向（横 數條閘極線GW, S GWn(n = 2、3 /者預定間隔所排列之複 ^ GW, 5 rw ^ Q ύ ' 4、.·.）；以及與這些閘極 SW錢(::;緣列之複數條源極線 線GWi至GWn係配線為==線swm閘極 ‘與源極線w至弧所包圍之由各互「為：叉之間極線⑽至 於閘極線GW,至GWn的掃描^而各^域’形成有藉由來自 s=hlngele細t)(圖式中省略），以及經由開關元件而 ϋ省略）。於源極線抑1至讥的影像訊號之像素電極（圖 各二GW1至Gwn與源極線SW1至swm所包圍之 各區或，k構成各個所謂的 •之區域為顯示區域DA，亦即為佥:1二，形成有這些像素 使用薄膜電晶_。各閑極； 5 sw ^ ,s - 1桎線GWl至GW„及各源極線SWl 至si’係在顯不區域DA的外部延 外的外周邊區域迴繞而連接、』^域1^ 半導Π D 動裔及沒極驅動器用 二基板2係於其中-邊的短邊& 側叹置有先檢測電路LSI，並且於县、甚 測電路m mu & 且方、長邊2(1配設有從該光檢 旬山 導出之拉出配線（電源線Li、輸出1,)，這 :拉出配線L】Ή連接於端子n、T2。於料了 係连接有圖中未顯示的外部控制電路。 J4 3)9956 接者參照第2圖、第3圖，說明光檢測電路LS1及拉 出配線L!、Lz的構造。 …如第3A圖所示，光檢測電路LS1係具備光檢測部Ls ^感測器讀取部Re卜這些光檢測部^及光感測器讀取 邛Rel係以第2開關元件S2予以連接而構成。 光檢測部Ls係具備下列構造，於TFT光感測器Ts的 與祕電極s之間連接有電容11 Cw，源極電極 ’、、：谷态Cw之其中一邊的端子經由第1開關元件y連 :苐1基準私壓源Vs，汲極電極D與電容器匸评之其中 二择？的端子連接於第2基準電壓源Vrei。此第2基準電 2外’成為供應固定的直流電壓之直流電壓供應源。 二二電極G係連接於偏壓(Masv〇ltage，偏壓電壓， ）供應源’而施加有狀偏壓GV。光檢測 極s所導出。電錯Gw之其卜邊的端子之源極電 • Cw的電丄::取Rel係由:鍺存光檢測部Ls之電容器 uw曰7电何之電定哭〜.η，+ •第3基準電屙(臨；雷严、較此電容器Cr的輸出電壓與 -第 1 比threshoidvoltage)Vth 之作為 弟1比較電路的比較哭Γρ ^ 光减測哭D 口。斤構成。此外，光檢測部Ls與 取部如係經由第2開關元件52而連接。 SH，C於預定時Si、二，係藉由開關控制手段 件S2係成為之後 ^非導通控制。此第2開關元 — <俊所述之雜訊避免手段。

如第”所示’ TFT光感測器了s及第1開闕元件SI J5 319956 7=有成二形成於TFT基板2上。於此阳基板 .·=之其中一邊的端子c,及第〗開闕元 “ 的間電㈣，且以覆蓋_極的二 3。於切錢切等所形叙㈣絕緣膜 元件S1之^測=Ts之間電極G的上部及構成第1開關 分別开nj Gs的上部，係經由間極絕緣膜3 4S。w 非晶梦或多晶㈣所構成之半導體層I、 ’於閉極絕緣膜3上，係以分別接觸於半導體層 測哭rr式’設置有由銘或銷等金屬所構成之m光感 第了開S| 1、- 極電極S及沒極電極D ;以及構成其中一邊的 P 70 S1之TFT的源極電極Ss及汲極電極J)s 〇去 r盆d/及極電極DS ’係互為延長且連接’而形成電容器 /之：另一邊的端子C2。此外’以覆蓋TFT光感測器 Ts、電容器Cw及由TFT所構成之第w關元件si的表面 =方式’層積有例如由透明無機絕緣材料所構成之保護絕 相5。此外，第！開關元件S1的半導體層^之上面係以 由…色矩陣等所構成之遮光層6所覆蓋。& TFT光感測器 Ts及第1開關元件S1的抓，係於液晶顯示面板的製造步 驟中二與^為液晶驅動用開關元件之m同時形成。藉此， 由U $光檢測部Ls ’因此不須特地增加製造步驟數。 此外如第1圖、第2B圖及第3A圖所示，配線係從 光檢測部^的第1開關元件S1中拉出並連接於端子T4’ 3】9956 16 1351874 子T4係連接於液晶顯示面板外所設置之第】基準雷屙 ··:!:、接於端子72’此端子T2係經由液晶顯示面板外 置之第2開關元件S2而連接於光感測器讀取部如。 子’配^糸從光檢測部Ls的閘電W中拉出並連接於端 朴及^1連接於偏廢供應源。此外，電源線L】 :攸，及極電極D中拉出並連接於端子n，此端子n係連 =液晶顯示面板外所設置之第2基準電㈣^ 材與作為液晶顯示面板的開關元件之TFT的閘電極 材枓為同-材料所形成。此外， =為同-材料所形成。藉此，於形成這些拉出=極 =’由於可與源極線別，至队及間極線…至^的形 ^驟同，形成，因此，不須增加步驟數而簡單地形成。 夕，如第2B圖所示，若經由間極絕緣膜3而層積配置 出線匕及電源線Li，則可形成較大的電容器cw。關於連= =…3及T4之配線，若適當地以與源極線或閑極線為 =材料Μ形成’則能夠在不會增加製造步 廷些配線。 u取 接著麥照第3圖，說明光檢測電路LS1的動作。 於液晶顯示裝置i動作時，係於共通電極VcQm施加有 由矩形波所構成之謂電壓。另一方面，偏壓gv，詳如 而言為固定的負電壓(例如係從偏向電壓供庫源施 加至m光感測器Ts的問極電極G，固定的直流電壓(例 如〇Ό，餘第2基準電壓源…施加至祕電極 319956 17 1351874 此狀怨下，首先使第1開關元件S1導通預定時間（參照第 3B圖），亚將預定電壓（例如+2V)從第^基準電壓源k施 ··加至電容器Cw，而對此電容器Cw充電預定電荷。一旦於 此狀態下照射外光至TFT光感測器Ts，則漏電流就會流至 -此TFT光感測器Ts，使電容$ &之充電電塵的一部分放 電此放電里係因應周圍的亮度並隨著時間的經過而增 加。亦即’此充電電壓係因應亮度並隨著時間的經過產生 >放電而降低（參照第3B圖的T2)。 另一方面，此光檢測部Ls，係分別於源極電極$及汲 ^ί^^^ cvd(^ 圖及弟3A圖），於源極電極s及汲極電極d 形成寄生電容CS、Cd(參照第3“）。若產生此 r力有^’由於如第3B圖的vc〇M所示，係於共通電極Vc〇™ Γ的：二形波所構成之v⑽電屋’因此，奶光感測器 *戶上：β又到此職電壓的變化之影響，亦即，於·Μ 上升至高位準時合遙〆 壓下降至低位準L時會；生負的=:Nl，於V⑽電 屋生負的紐脈衝…。這些短脈衝 也、N2係於謂電壓產生變化時產生。因 Γ產生時點為同步之時序中，若使第2開關元件 ^:二⑽電壓產生變化時’例如此電壓下降至低位準 :曰變4較第3基準電壓’亦即臨限電壓（v =比較WP進行反轉輸出，並由於該輪出而導== :錯誤點燈。此外’於v⑽電壓上升至高位準時，= 起同樣的錯誤點燈。 亦曰引 319956 1351874 術出ί錯誤點燈’係成為第8圖所示之以往技 誤動你…錢線Κ°)的課題。因此’為了消除此錯 •雜訊之狀於二光檢測電路LS1中’係於V⑽電遷為未產生 W'm細而言為配合除了謂電屋的變化時 ，第：除=升及下降!點之外之穩定期…^ 測器钤：？ 匕通，稭由光感測器讀取部Rel讀取感 °具體而言’藉由開關控制手段swc 位準L的聰W間使第2開關元件％導通（參 二弟3B圖）’並藉由光感測器讀取部Rei讀取此時之電容 益Cw的電壓，於電容器⑸的電壓成為臨限 時、’使比較諸的輸出反轉，並藉由此反轉輸出(= 的：的點燈控制。由於可藉由此時序中之第2開關元件S2 的導通動作’消除於VC0M電愿下降至低位準L時之負的短 =仏之影響，而檢測出正確的外光，因此可消除背光源 、曰邊點燈（錢第8B圖的一點鏈線K1)。第2開關元件 • 2，雖係配合·ML的時序而導通，但亦可在與臨限電壓 .之間的關係下，配合VCOMH的時序使第2開 •，通。因除了聰電壓產生變化，亦即除了變= 立準L及鬲位準Η的時點之外之穩定期間的時序，使第2 開關το件S2導通，藉此可消除短脈衝Ni、Ng的影塑。藉由 以上構成，此帛2開關元件S2係成為避免短脈衝曰 的景彡響，亦即避免雜訊之雜訊避免手段。 b寄生電容CvS、Cvd雖係依將光檢測部Ls組裝於液晶 顯示面板而產生，但這些寄生電容Cvs、Cvd的值係由光檢 319956 19 丄0/4 :部LS组裝於液晶顯示面板時之電路設計而決定 :可能顯著變少。若這些寄生電容Cvs、㈤的值顯著7 =則僅於上述時序中使第2開關元件S2導通者，可能無 去完全消除短脈衝N, ' N2的影響。 …、 第4圖係顯示於第3A圖的光檢測電路中寄生電容為較 ^之動作波形圖。以下係參照第4圖，說明考量到上述 月況後之寄生電容為較大時之雜訊的避免。 —一旦寄生電容Cvs'Cvd顯著變大，則累積於這些寄生 ::Cvs、Cvd之電荷量就會變多’且因這些電荷量而使電 容器Cw的電壓產生較大變動，亦即，充電後的第^基準電 壓源Vs係因電荷量而改變為增減後之電壓Vs，。因 此，短脈衝Νι、Νζ亦於vc〇M電壓的變化時點，亦即上升及 T降時點中，成為與這些電壓Vs，重疊後之值， 若僅配σ VC0M電廢之穩定期間的時序使第2開關元件％ 導通，則然法正確地檢測出外光。因此，於vc〇ml期間輸 出TFT光感測器Ts的輸出時，首先，第j開關元件μ係 ^此VC0ML的期間中導通’而對電容器Cw充電第！基準電 壓源Vs。之後，同樣於vc〇紅期間中使第2開關元^s2 導通’亚將光檢測部Ls連接於光感測器讀取部Rel予以讀 取（參照第4圖的K2)。 此外，於VC0MH期間輸出TFT光感測器Ts的輸出時， 同樣地’首先使第1開關元件S1於此VC0MH的期間導通， 而對電容器Cw充電第1基準電壓源Vs<)之後，同樣kVC〇mh 期間使第2開關元件S2導通，並將光檢測部Ls連接於光 319956 20 1351874 • f測器讀取部Rel，並於此讀取部中讀取檢測部 藉此，即使寄生電容顯著變大且即使受此影響使容 •.的電壓產生變動亦可正確地檢測出外光。上述第2 、件S2的控制，係藉由開關控制手段3礼進行。"兀 -[實施例2] 第5圖係顯示本發明的實施例2之裝載於液 置之光檢測電路，第5A圖係顯示光檢測電路圖，第2 係顯:第5A圖的光檢測電路中所使用之雜訊消除電路θ 圖，第5C圖係顯示第5Α圖的動作波形圖。 此光檢測電路LS2係構成為，具備光檢測部U =輸出之光感測器讀取部Re2，且於光感測器讀取部^ 二亡除，路ΝΠ。此光檢測電路LS2之光檢測部

Ls ^ ^ ,.1 , ^ ^ Re2 H CP^ „ ,tJ t :’’相同構成’因此’對於與光檢測電路⑶為共 通之構成附加相同圖號並省略該說明，僅針 丨進行說明。 再取有 如第5B圖所示’本實施例之光檢 除電請’係具有:輸入有構成第1比較電路之:較？ CP的輸出P ’且將此輸出p延遲預定時間之延遲電路de . 及比較此延遲電路DE的輸出P】與比較器CP的輸出P之第 2比較電路⑵。延遲電路Μ係由將複數個正反器（nip fl〇P)FF予以串聯連接而成之串聯電路所構成，第2比較 電路CP1係由邏輯€路及了反器所構成。 此雜訊消除電路NC1的動作為，—旦包含短脈衝之光 319956 21 1351874 檢測部Ls的輪出被輸入至比較器cp，則從比較器cp送出 該輸出P’此輸出P被輸人至延遲電路⑽及第2比較電路 ⑻，通過延遲電路⑽後的輸出p，係成為延遲預定時間 後的輸出P,’於第2比較電路CP1中比較各輸出p、Pi， 並從該第2比較電路⑺中送出輸出（K參照第5C圖的 K。。如此，由於可藉由雜訊消除電路，比較輸出p及輪出 Pi亚輸出最適的輸出Q’因此可忽視因聰的 之雜訊。 於光檢測電路LS2的雜訊消除電路NC1中，雖係使用 延遲電路及比較電路，但亦可使用賦能正反器予以取代。 第]圖係顯不第5圖之雜訊消除電路的變化例，第μ 圖係顯示雜訊消除電路圖’第6β圖係顯示第6六圖的動作 波形圖。 此雜訊消除電路NC2係構成為，使用賦能正反器阳 來取代由延遲電路DE及比較電路m所形成之雜訊消除電 ycl，且將此賦能正反器m連接於比較器c卜此雜訊 一除電路NC2的動作’係將從上述光檢測電路⑶的控制 =聊所送。出之用以使第2開關元件s2導通之訊號，施 方:賦月b正^斋FF1作為賦能訊號而進行動作。藉此，即 :紐脈衝重:μ:於光檢測部u的輸出，具體而言為比較器 。輸出P ’亦可攸控制手段SWC中，以與使第2開關元 ^導通之訊號為相同的訊號，使賦能正反器m進行動 作’藉此可去除短脈衝雜气。 [實施例3] 319956 .止第7關本發明的實施例3之裝載於液晶顯示裝置之 :祆測私路第7A圖係顯示光檢測電路圖’第圖係顯 •示第7Α圖之光檢測電路的動作波形圖。 ·、此光檢測電路系構成為，具備光檢測部。及光感 測^買取部Re3,於光檢測部u的輸出端’連接有與寄生 電容Cvs為相同電容之電容器Cvsx的其中一端，而其中另 •=端則連接於與V⑽電璧為反相位之Vc〇mx電壓源。此雪 器Cvsx的電容，係設定為和源極電極5與共通電極“ b的寄生電容Cvs為同值或大致為同值之電容值，且於電 路設計時加以決定而組裝。 此光檢測電路LS3的動作，係於Vc〇mx電屢源中形成 共通訊號，亦即與V⑽為反相位之訊號〜瞻，並施加於 先檢測部Ls的輸出端所連接之電容器Cvsx。一旦施加此 反相位的訊號VC0mx’.由於如第3圖β的v⑽所示，係施 有由矩形波所構成之電壓，因此，tft光减測哭Ts "輸此_電壓的變化之影響’亦即，^则 .電壓上升至尚位準Η時會產生正的短脈衝Νι，於vc〇M電 !下降至低位準L時會產生負的短脈衝N”由於這些短脈 衝〜、〜於则電壓產生變化時產生，因此於與此短脈衝 的產生時點為同步之時序中’若使第2開關元件S2導通， 則|c〇mx於電容器Cw的電壓因短脈衝導致上升時會下降， =電容器以的電壓因短脈衝導致下降時會上升，因此可抵 消雜訊° #此可消除雜訊而避免光感測器的錯誤檢測。 乂上雖Α以上述貫施形態詳細說明本發明，但本發明 319956 23 2不：疋於此’於本發明所屬之技術領域中具有通常知識 •.更。例如，顯示裝置Γ行修正或變 -所知的顯示f置。此： 置之外，亦可為-般 * 不裒置。此外，光感測器除了薄膜 邮 用其他光感測器，例如可使用光電二極二 m光感測器的動作電路’並不限定於第3圖所示者例 口可為下列電路’亦即將源極電極連接於第"區動電塵 ，且將閘電極及電容器分別連接於第 將從m光感測器所輸出之光電流充電至電容i原並 【圖式簡單說明】 第1圖係顯示實施例1 B _ 板之俯視圖。 H曰顯不灰置的液晶顯示面 TTR第2A圖係光檢測電路之剖面構造圖，第2B圖係 IΙΒ-ΠΒ線之剖面圖。 ，、第㈣係光檢測電路之等效電路圖，第3B圖係用以 5兄明感測器輸出之波形圖。 第4圖係於第3A圖的光檢測電路中寄生電容為較 之動作波形圖。 τ 第5Α圖至第5C圖係顯示實施例2之裝載於液晶顯示 裝置之光檢測電路之示意圖。 第6Α圖及第6B圖係顯示第5圖之雜訊消除電路的變 化例之示意圖。 第7Α圖及第7Β圖係顯示實施例3之裝載於液晶顯示 襄置之光檢測電路之示意圖。 319956 1351874 第8A圖及第8B圖係先前技術之光檢測電路及其 波形圖。 〃乍 【主要元件符號說明】 1 液晶顯示裝置 2 TFT陣列基板（TFT基板）

2a 2b’ 4l、 6 7 8 BL CP CPI Cw DA Dr FF 2c、2d長邊 3 閘極絕緣膜 5 保護絕緣膜 2b短邊 突出部 4s半導體層 遮光層 彩色濾光片基板（CF基板） 彩色渡光片 Q U 'S, ^ ± y 共通電極 T4端子

背光源 Γ P

Ci、C2、ΤΙ、T2、丁3 比較器（第1比較電路） 第2比較電路

Cvs、Cvd、Cs、Cd 寄生雷交

Cr、Cvsx電容器 η Λ 、 吁生冤谷 D、D s及極電極 顯示區域 DE 延遲電路 源極驅動器及没極驅動器用半導體晶片

正反器 PM L FF1 賦能正反器 偏壓 2拉出配線 光檢測部 NC2雜訊消除電路 G、Gs閘電極 ^ G W1至G W η閘極線 τ

Li、

LS、LSI、LS2光檢測電路ls Νι、N2短脈衝 H P 反轉輸出

Re、Rel、Re2、Re3光感測器讀取部 319956 1351874 0 S、Ss 源極電極 S1 S2 第2開關元件 SW,至 ·. SWC 開關控制手段 Ts Vs 基準電壓 Vth Vcom 共通電極 Vs Vref 第2基準電壓源 Vth 第3基準電壓（臨限電壓） 第1開關元件 SW·源極線 TFT光感測器 基準電壓值 第1基準電壓源

26 3)9956

Claims (1)

1351874 、申請專利範圍： 1. 二種顯不裝置’為具備··顯示面板；驅動電路，係驅 則述顯示面板；照光手段’係對前述顯示面板進行昭 =先檢測部，係具有組裝於前述顯示面板用以檢測出 外先的明暗之光感測器，及經由第^開闕手段進 基準電壓的充電之電容器’·光感測器讀取部，传= ，檢測部的檢測值；以及控制手段，係藉由前述光感: 窃讀取部的輸出而控制前述照光手段，其特徵為：& 前述光感測器讀取部係設置有雜訊避免手段，該雜 訊避免手段係用以避免因前述鶴電路動作時所產 之雜訊而引發之前述光檢測部的錯誤檢測。 2. 如申請專利範圍第！項所記載之顯示裝置，其中前述雜 ，避免手段係具有··連接前述光檢測部與前述光感測器 項取部之第2開關手段；及控制該第2開關手段之開關 控制手&，則述開關控制手段係於前述驅動電路處於未 產生前述雜訊之狀態時’以使前述第2開關手段導通之 方式進行控制。 3. 如:請專利範圍第2項所記載之顯示裝置，其中，對前 ㈣示面板的電極以預定週期交互施加低位準訊號及 同位準汛號，别述開關控制手段，係於前述低位準訊諕 的^加時使前述第1開關手段導通而對前述電容器充U 電月ίΐ述基準电壓時，以施加前述低位準訊號的期間中使 幻述第2開關手段導通之方式進行控制，而於前述高位 準Λ號的·; 力口 &使鈾述第1開關手段導通而對前述電 319956 27 1351874 • 容器充電基準電壓時，以施加前述高位準訊號的期間中 使前述第2開關手段導通之方式進行控制。 ·. 4. 一種顯不裝置，為具備^顯示面板，·驅動電路，係驅動 、 前述顯示面板；照光手段，係對前述顯示面板進行照 . 光；光檢測部，係具有組裝於前述顯示面板用以檢洌出 外光的明暗之光感測器，及經由第i開關手段進行預定 基準電壓的充電之電容器；光感測器讀取部，係讀取該 •=測部的檢測值；以及控制手段，係藉由前述光感測 益讀取部的輸出而控制前述照光手段，其特徵為： 前述光感測器讀取部係具有：將前述光檢測部的輸 出與預定基準值比較並輸出預定數位訊號之第i比較 電路；及輸人來自於前述第i比較電路的數位訊號，於 該數位訊號在較預定期間還短之期間中變化時，判斷該 數位訊號為雜訊並予以忽視之雜訊消除電路。 5.如申請專利範圍第4項所記載之顯示裝置，其中前述雜 馨^除電路’係設置有：使來自於前述第1比較電路的 .2述數位訊號延遲預定期間之延遲電路；及比較來自於 月j述延遲电路的延遲數位訊號與來自於前述第1比較 電路的非延遲數位訊號之第2比較電路;而當前述延遲 數位訊號與前述非延遲數位訊號—致時，從前述第2 比較電路中送出輪出。 6.如二請專㈣圍第4項所記載之顯示裝置，其中前述雜 訊肖除私路k具男賦能電路，前述賦能電路係於前述驅 動電路處於未產生前述雜訊之狀態時產生賦能訊號，前 319956 28 述雜訊消除電路係於檢測出 輸出。 前述賦能訊號之期間送出 種顯示裝置，為具備_ 前述顯示面板.昭；！：不面板;驅動電路，係驅動 .. …先丁 #又，係對前述顯示面板進行照 :光檢測部’係具有組裝於前述顯示面板用以檢測出 光的明暗之光感測器’及經由第i開關手段進行預定 :丁電壓的充電之電容器；光感測器讀取部，係讀取該 ，檢測部的檢測值；以及控制手κ，係藉由前述光感測 裔讀取部的輸出而控制前述照光手段，其特徵為： 4述光感測器讀取部，係設置有和形成於前述光檢 測。卩的輸出線與前述顯示面板的電極之間之寄生電容 為相同電容之電容器，於前述電容器施加有與前述電極 中所施加的訊號為反相位之訊號。 29 319956