TWI338534B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TWI338534B TWI338534B TW096101308A TW96101308A TWI338534B TW I338534 B TWI338534 B TW I338534B TW 096101308 A TW096101308 A TW 096101308A TW 96101308 A TW96101308 A TW 96101308A TW I338534 B TWI338534 B TW I338534B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- layer
- gas barrier
- barrier layer
- substrate
- organic
- Prior art date
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 164
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 120
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 70
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 45
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 43
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 claims description 30
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 17
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 13
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 12
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 5
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 claims description 3
- -1 acryl Chemical group 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 116
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 38
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 23
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 15
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 12
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 7
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 5
- 229910003074 TiCl4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000004770 highest occupied molecular orbital Methods 0.000 description 4
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 4
- 238000004768 lowest unoccupied molecular orbital Methods 0.000 description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J titanium tetrachloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)(Cl)Cl XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 3
- DTZWGKCFKSJGPK-VOTSOKGWSA-N (e)-2-(2-methyl-6-(2-(1,1,7,7-tetramethyl-1,2,3,5,6,7-hexahydropyrido[3,2,1-ij]quinolin-9-yl)vinyl)-4h-pyran-4-ylidene)malononitrile Chemical compound O1C(C)=CC(=C(C#N)C#N)C=C1\C=C\C1=CC(C(CCN2CCC3(C)C)(C)C)=C2C3=C1 DTZWGKCFKSJGPK-VOTSOKGWSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K bis[(2-methylquinolin-8-yl)oxy]-(4-phenylphenoxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC([O-])=CC=C1C1=CC=CC=C1 UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- XNGKCOFXDHYSGR-UHFFFAOYSA-N perillene Chemical compound CC(C)=CCCC=1C=COC=1 XNGKCOFXDHYSGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- FDABLVKCMQONRF-UHFFFAOYSA-N [O-2].[In+3].[Ar].[O-2].[O-2].[In+3] Chemical compound [O-2].[In+3].[Ar].[O-2].[O-2].[In+3] FDABLVKCMQONRF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N aqua regia Chemical compound Cl.O[N+]([O-])=O QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- DRVWBEJJZZTIGJ-UHFFFAOYSA-N cerium(3+);oxygen(2-) Chemical class [O-2].[O-2].[O-2].[Ce+3].[Ce+3] DRVWBEJJZZTIGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 1
- WCOATMADISNSBV-UHFFFAOYSA-K diacetyloxyalumanyl acetate Chemical compound [Al+3].CC([O-])=O.CC([O-])=O.CC([O-])=O WCOATMADISNSBV-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical group [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052809 inorganic oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 235000019353 potassium silicate Nutrition 0.000 description 1
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006617 triphenylamine group Chemical group 0.000 description 1
- 238000005292 vacuum distillation Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/844—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/30—Devices specially adapted for multicolour light emission
- H10K59/38—Devices specially adapted for multicolour light emission comprising colour filters or colour changing media [CCM]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
(1) 1338534 九、發明說明 4 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種有機電激發光發光元件及其製造方 法。 【先前技術】 彩色有機電激發光顯示器一般於基板上具備依序層積 • 有:濾色層、氣體阻障層及有機電激發光構造體而成的構 成。 更具體據知爲組合發出白色光的有機電激發光構造體 與濾色器時,在透明的基板上依序層積:濾色層、保護層 、氣體阻障層、以及進行發出白色光的有機電激發光構造 體元件的構造。 在此,氣體阻障層是設來用以防止,起因於以樹脂所 形成的濾色層和由保護層所揮發的水份等之白色発光有機 • 電激發光構造體的暗點和發光效率降低等的缺點。 因此,氣體阻障層,係要求無針孔、其階梯覆蓋良好 '極力解決崩裂等之缺陷等。進而,除此以外,也要求透 明性、表面之平坦性等的性能。 在以往,氣體阻障層之例,係如日本特開第2004 -158199號公報和特開第mm— 24 1 3 7 1號公報等所示,提 _ 供使用無機材料和金屬材料之氧化物、氮化物、氧氮化物 者。又’其他也提供一種作爲氣體阻障層,係使用吸水率 小的有機材料之薄膜,或者例如,如日本特開第2003 一 (2) 1338534 109748號公報所示,層積無機材料與有機材料而 阻障性者。 而且’具有這樣的氣體阻障層之有機電激發 ' 係藉由於基板上形成濾色層,且在其上形成氣體 ·· 便在其上形成有機電激發光構造體所製造成。
在此’氣體阻障層的形成方法有:形成氣體 手段有:旋塗法、蒸鍍法 '濺鍍法、CVD( 鲁 Vapor Deposition )法、原子層成長法(ALD
Layer Deposition )等。 可是,習知此種有機電激發光元件,於氣體 膜後’在該氣體阻障層上形成有機電激發光構造 時,使用微影法來進行電極圖案化。 此時,氣體阻障層會因電極的蝕刻液被侵蝕 成針孔等缺陷之虞。因此,氣體阻障層必需爲對 刻液具有耐性的材料。 # 例如,電極材料一般雖是使用1TO (銦鍚氧 但此時蝕刻液例如多半爲使用王水等酸性液體的f 此時,曝露於蝕刻液的氣體阻障層爲金層之 酸氮化物、氮化物,還有矽的氧化物和酸氮化物 的情形,由於該氣體阻障層受到蝕刻液的侵蝕, ,氣體阻障性變差。因此,對策上必須將氣體阻 增厚,或者設置化學性安定的保護層。 但是,氣體阻障層,一般藉由增厚其膜厚, 面變粗,因此形成在該氣體阻障層之上的有機電 提昇氣體 光元件, 阻障層, 阻障層的 Chemical 、Atomic 阻障層成 體的電極 ,且有形 電極的蝕 化物), ,形。 氧化物和 、氮化物 因此結果 障層的膜 由於其表 激發光構 -6 - (3) 1338534 造體很容易產生被覆不良·。 一旦產生這樣的被覆不良,擔心會有因暗點和電場集 中之破壞等的顯示缺點和因氣體阻障層之所有應力增加產 ' 生崩裂,來自藉由氣體阻障層之光吸收增加的有機電激發 • 光構造體之輸出光的損失、以及基板撓曲的影響等之缺點 〇 除此之外,會產生氣體阻障層的膜厚分佈,且會產生 Φ 因氣體阻障層的光透過特性和干擾效應之元件內的發光特 性不勻。發現尤其在基板採用樹脂基板時,該氣體阻障層 之厚膜化的影響更顯著。又,此種厚膜化由生產性以及成 本面來看,亦會招致氣體阻障層的構造和製造過程的複雜 化。 又’在氣體阻障層方面,對抑制針孔和被覆不良等的 缺陷,其形成手法的選定也很重要。 在上述之習知氣體阻障層之形成方法中,除了旋塗法 Φ 原料需爲液狀、爲了燒成和硬化需要加熱等的後處理外, 由於多數爲樹脂材料和水玻璃等易吸水的原料,因此必需 組合異種材料等予以層積化來確保氣體阻障性的做法。 又,在蒸鍍法和濺鏡法等之PVD ( Physical Vapor Deposition)法方面’由於缺乏被覆性,還因來自團簇狀 粒子之薄膜的脫落等極易形成缺陷和針孔,對確保氣體阻 障性能則有增加膜厚的必要。 一方面’藉由普通的CVD法等形成氣體阻障層時, 雖亦考慮基層之濾色層和保護層的耐熱性,以比較低溫進 (4) 1338534 行成膜,但此時,雖然被覆性被改善’但不光是膜的緻密 性差,還因原料氣體的不完全反應於膜中形成缺陷,且氣 體阻障性惡化。因此,有必要採用層積不同材料的氣體阻 ' 障層,或增加膜厚。 • 又,在藉由CVD法之一的原子層成長法形成氣體阻 障層時,與上述之氣體阻障層的形成方法相比,能形成缺 陷少的氣體阻障層。因此,雖然膜厚變薄亦能實現良好的 φ 氣體阻障性,但除了薄之外,仍擔心因上述之蝕刻過程等 的影響擴大。 【發明內容】 本發明爲有鑑於上述問題所完成的發明,B的在於提 供一於有機電激發光(電激發光)構造體與濾色器之間介 設氣體阻障層而成的有機電激發光元件。進而,目的在於 提供一種那様的有機電激發光元件之製造方法。 # 有機電激發光元件係由:基板、濾色層、氣體阻障層 、以及有機電激發光構造體所形成。濾色層、氣體阻障層 及有機電激發光構造體,爲依此順序層積在基板。氣體阻 障層係爲由AlxTiyOz所形成的非晶質薄膜。對AlxTiyOz 之組成比的A1之Ti的原子數比率爲l〇atom%以上者。 於上述元件中,能提昇對氣體阻障層成膜後之後工程 的蝕刻液和洗淨液的氣體阻障層之耐性。又,膜厚變薄也 能實現良好的氣體阻障性。 進而’有機電激發光元件之製造方法係由,在基板上 -8- (5) 1338534 形成濾色層之工程、和將氣體阻障層利用原子層成長法’ 形成在濾色層上之工程、和在氣體阻障層上形成有機電激 發光構造體之工程所形成。氣體阻障層係爲由 AlxTiyOz ' 所形成的非晶質薄膜。對AlxTiyOz之組成比的A1之Ti - 的原子數比率爲丨Oatom%以上者。氣體阻障層之成膜時的 前述基板之溫度爲100 °C以上、400 °C以下。 於上述有機電激發光元件之製造方法中,能提昇對氣 • 體阻障層成膜後之後工程的蝕刻液和洗淨液的氣體阻障層 之耐性。又’膜厚變薄也能實現良好的氣體阻障性。進而 ’氣體阻障層能適當形成非晶質的薄膜。 【實施方式】 本發明人進行有關有機電激發光元件之預備實驗。亦 即’本發明人進行如以下所述的檢討Λ 由水份吸水率低的、透氧、透水性低的、絕緣材料或 0 高電阻材料、低應力' 具有高透光性、膜厚和光透過特性 均句等之確保氣體阻障性的膜材料所形成,進而,爲了發 現對應用於後工程的洗淨工程之洗淨液和應用於有機電激 發光構造體之電極圖案化的蝕刻液,具有高耐性的材料, 進行調查檢討。 其結果’本發明人考慮,將在適於上述氣體阻障層的 模材料中’ A1 (鋁)和Ti (鈦)的金屬氧化物之 AlxTiyOz的非晶質薄膜,應用於氣體阻障層。在此, AlxTiyOz中,X、y、z分別爲八卜Ti、〇的原子數比率。 (8) 1338534 的金屬氧化物,A1、Ti、. ο之原子數比率以X、y、z表示 ο 而且’該氣體阻障層20中,AlxTiyOz之組成比中之 對A1之Ti的原子數比率爲i〇at〇m%以上。該原子數比率 -’具體上爲使用上述之A1的原子數比率X及Ti的原子數 比率y’而以{y/ (x+y) 丨〇〇(單位:atom%)來表示 〇 鲁 像适樣’藉由{y/ (x+y) }xl002 10atom%,該氣 體阻障層20爲後工程,對在有機電激發光構造體3〇之陽 極3 1之形成前進行的洗淨工程所使用的溫水、該陽極3】 之圖案化所用的ITO蝕刻液具有高耐性。以下,對該 AlxTiyOz之組成比的Λ1之Ti的原7數比率,簡稱爲「Ti 原子數比率」。 又,在本實施形態中,氣體阻障層20的膜厚,若爲 可確保氣體阻障性的厚度,即未特別限定,但以30nm以 φ 上爲佳。若氣體阻障層20爲30nm以上的膜厚,缺陷和針 孔會受到抑制,易於實用電位發揮沒問題的氣體阻障性。 又,在本實施形態中,像這樣之膜厚30nm以上的氣 體阻障層20的情形下,希望Ti原子數比率爲28at〇m%以 下。此乃考慮到氣體阻障層20具有,以實用電位確保有 機電激發光元件1 〇〇之電絕緣性的電阻値之點。有關此點 在後面做詳細描述。 像這樣的氣體阻障層20,雖可利用蒸鍍法和濺鍍法等 ' 之PVD法、一般的CVD法所形成,但最好使用原子層成 -12- (9) 1338534 長法來形成。若藉由原子層成長法,即可形成緻密的膜質 ,膜厚很薄也易於實現被覆性優的氣體阻障層20。 而且,在基板11之其中一面上亦即氣體阻障層20之 ' 上,形成有作爲有機電子器件的有機電激發光構造體30。 - 就是,在本實施形態中,基板11之形成有機電激發光構 造體30的其中一面,是藉由氣體阻障層20所被覆,且爲 在該基板11與氣體阻障層20之上,形成有機電激發光構 • 造體3 0的形式。 該有機電激發光構造體30,爲在互相對向的一對電極 31、33間配置包含有機發光材料之有機層32而成的構造 體。該有機電激發光構造體30’雖可採用通常之有機電激 發光構造體所用的材料和膜構成’但針對具體構成的其中 一例做描述。 在氣體阻障層20之上’先形成有作爲透明導電膜的 陽極(下部電極)31。該陽極31係爲由ITO膜等之透明 • 導電膜所形成,作爲電洞注入電極的功能。 在本例中,陽極3 1係爲利用濺鍍法成膜於氣體阻障 層20之上的ITO膜(例如厚度1 20nm ) ’該陽極3 1係利 用蝕刻等被圖案化,形成延伸至第1圖中之左右方向的條 狀。 又,在本例中,該陽極31,爲直接接觸到氣體阻障層 20而設置。就是,在此有機電激發光構造體30之基板11 側的電極31之下部與氣體阻障層20直接接觸。 進而,爲了防止在陽極31之邊緣的短路’藉由微影 -13- (10) 1338534 法形成以絕緣材料所形成的絕緣膜40。同樣的,藉由微影 法形成用以分離陰極(上部電極)33的隔壁41。 在該陽極3 1之上,係在本例依順序形成有:以有機 ' 發光材料所形成的電洞注入層、電洞輸送層、發光層、電 - 子輸送層作爲有機層32。 例如,真空蒸鍍法形成20nm的銅苯二甲藍作爲電洞 注入層。在其上,藉由真空蒸鍍法例如形成40nm的電洞 • 輸送層,作爲三苯胺基4量體(HOMO: 5.4eV、LUMO : 2.4eV、Eg : 3 .OeV )。 進而,添力卩 l%DCJT(HOMO: 5.3eV、LUMO: 3.2eV 、Eg : 2. leV )作爲紅色發光層的三苯胺基4量體,爲藉 由真空蒸鑛法,例如形成2nm » 在其上,添加lwt%紫蘇烯(HOMO: 5.5eV、LUMO :2.6eV、Eg : 2.9eV )作爲藍色發光層功能之螢光色素的 BAlq ( HOMO : 5.8eV ' LUMO : 3.OeV ' Eg : 2.8eV),爲 # 藉由真空蒸鍍法,例如形成40nm。進而,作爲電子輸送 層的三乙醯丙酮鋁,爲例如藉由真空蒸鍍法形成2 Onm。 又,這些有機層32之上,雖未圖示,但作爲電子注 入層的LiF,例如藉由真空蒸鍍法成膜0.5nm,且在其上 ,作爲屬於上部電極之陰極33的A1,例如藉由真空蒸鍍 法成膜100nm。在此,陰極33,爲做成與陽極31直交之 條狀者,形成朝第2圖中之左右方向延伸的條狀。 而且,藉由這些,形成進行白色發光的有機電激發光 構造體30(31、32、33)。而且,本例之有機電激發光元 -14- (11) 1338534 件100,爲構成點陣顯示·器。 就是,本例的有機電激發光構造體30,係互相直交的 條狀陽極31與利用隔壁41所分離的陰極33爲交叉重合 ,這兩電極31、33的重合區域,爲構成應進行發光顯示 部分的顯不畫素° 在像這樣的本彩色有機電激發光顯示器100中,藉由 外部電路等對陽極31與陰極33之間施加具有特定負載比 B 的驅動用直流電壓,藉此在所希望的顯示晝素中,分別讓 電洞(正孔)從陽極3 1、電子從陰極3 3移動到有機層3 2 中的發光層。 而且’這些電洞及電子會在該發光層內再結合,且利 用該放射能讓螢光材料(本例中,爲DCJT、紫蘇烯及 BAlq )發光。該發光是通過濾色層13,從基板13側被取 出。 其次’針對本有機電激發光元件100的製造方法做描 Φ 述。首先’在基板11之一面,利用旋塗法和微影法,依 序形成濾色層13及保護層14。藉由目前的工程,完成氣 體阻障層20的基層部分。 接著’雖進行氣體阻障層20的形成,但在此例中, 係針對利用上述之原子層成長法的成膜方法做描述。 先將形成到上述之保護層14的基板11,設置真空室 . 內’且進行加熱。在此,利用原子層成長法將氣體阻障層 20成膜時’成膜時的基板n的溫度,若爲能反應薄膜形 成之原子層的溫度,即未特別限定,但100艺以上、4〇〇t: -15- (12) 1338534 以下爲佳。 若根據本發明人,只要是100 °C以上、400。(:以下的基 板溫度,雖然以AlxTiyOz所形成的氣體阻障層2〇爲非晶 • 質構造,但仍可藉由X射線繞射來確認》 - 進而’該基板溫度,以不滿濾色層13及保護層丨4之 分解溫度的溫度爲佳在本例中,濾色層13及保護層14的 分解溫度爲230 °C左右,如果考慮該分解溫度與實現上 φ 述之非晶質構造的溫度,氣體阻障層2 0成膜時之基板】j 的溫度,例如可爲2 2 5 °C左右。 像這樣’在真空室內加熱基板11之後,邊維持上述 的基板溫度、邊在減壓下進行交互供給原料氣體而形成薄 膜的原子層成長法,藉此形成以 AlxTiyOz所形成的氣體 阻障層2 0。 描述作爲氣體阻障層20的AlxTiyOz膜之形成方法的 其中一例。首先,將TMA (三甲基鋁)氣體與h20氣體 0 ,與N2載氣一起交互地供給到真空室內,將此循環,循 環 5次。其次,供給 TiCl4氣體與 H2〇氣體,形成 AlxTiyOz 膜。 將像這樣的AlxTiyOz膜之形成過程的循環,重複循 環2 5 0次,藉此就可在本例中,形成膜厚爲I20nm的 AlxTiyOz膜。此時之Al、Ti、Ο的組成比爲37: 5: 58。 就是,在 AlxTiyOz膜方面,x=37、y=5、z=58,此時 Ti原子數比率,約爲12atom%。 該AlxTiyOz膜的Ti之組成比亦即Ti原子數比率的 -16 - (13) 1338534 控制,可藉由改變上述之TMA及H20氣體的循環數(以 下將此稱爲TMA循環數)與TiCl4氣體及H20氣體的循 環數(以下將此稱爲TiCl4循環數)之比。 例如,在上述例所示的原子層成長法方面,如果TMA 循環數較大,AlxTiyOz膜的Ti原子數比率就較小’如果 TiC 14循環數較大,Ti原子數比率就較大。 第3圖是表示調査TiC 14循環數爲1時,對TMA循環 | 數之比的Ti原子數比率之變化結果的圖。如第3圖所示 ,TM A循環數之比變大,連帶Ti原子數比率變小,藉由 這些循環數的控制,就能控制 Ti原子數比率。而且,在 第3圖之範例中,當TMA循環數之比爲6以上時,就能 實現Ti原子數爲lOatom%以上。 再者,像這樣來控制Ti原子數比率,除了上述之循 環數的控制以外,藉由改變基板 Π的溫度也行。若根據 本發明人的調査,提高基板溫度,會讓Ti原子數比率變 • 大,降低基板溫度,會讓Ti原子數比率變小。 這樣一來,形成在氣體阻障層20後,在形成有機電 激發光構造體30之陽極31前,進行該陽極31之基層部 分的洗淨。該洗淨工程,係例如以5 0°C的溫水浸泡、25 °C 的流水以及使用鹼性洗淨液來進行。乾燥爲旋乾式》 而且,接著在基板11之一面上亦即氣體阻障層20之 上,形成有機電激發光構造體30。 在本例中,先在氣體阻障層20之上以200 °C的成膜溫 度,利用灑鍍法將ITO膜予以成膜,且將此利用微影法, -17- (14) 1338534 而圖案化成電極形狀,藉此形成陽極31。此時,ITO的蝕 刻液,爲使用混合硝酸與鹽酸、水的混酸。 其次,在陽極3 1之間利用微影法形成絕緣膜40,接 著在其上,利用微影法形成隔壁41。其次,在陽極31之 * 上利用真空蒸鍍法形成,依序形成有:如上述例所示的電 洞注入層、電洞輸送層、發光層、電子輸送層而成的有機 層32。 φ 其次,在有機層32之上利用真空蒸鍍法成膜,作爲 上述電子注入層的LiF、以及作爲上部電極的陰極33。這 些有機層32和陰極33之利用真空蒸鍍的成膜溫度,爲室 溫左右。這樣,具有作爲上述第1圖、第2圖所示的氣體 阻障層2的AUTiyOz膜,就能完成作爲彩色有機電激發 光顯示器的有機電激發光元件100。 再者,此後爲了阻斷來自有機電激發光構造體30之 表面的水份,可藉由具有乾燥劑的不銹鋼或玻璃的密封罐 Φ ’亦可以僅利用含微量氧的不活性氣體(N2氣體等)或不 活性氣體,密封機電激發光構造體3 0的外表面側。 可是,在本實施形態中,氣體阻障層 20,爲由 AlxTiyOz所形成的非晶質薄膜,且對該AlxTiy〇Z的組成 比之A1的Ti之原子數比率(亦即Ti原子數比率)爲 1 Oatom%以上者。採用此種氣體阻障層20,是以如下所述 之本發明人所進行的實驗結果爲基礎。 首先’在非晶質薄膜成爲易確保氣體阻障性的膜之後 ’來調查AlxTiyOz之Ti原子數比率與對後工程所用的洗 -18- (15) 1338534 淨液、蝕刻液之耐性的關係。 第4圖爲表示有關其耐性的調査結果之其中一例的® ,且爲表示對A1之Ti的原子數比率(就是Ή原子數比 率,單位:atom% )與利用洗淨液之氣體阻障層20的餓 • 刻量(單位:nm)之關係的圖。 在此,蝕刻量,爲在基板Π形成改變Ti原子數比率 的氣體阻障層20,且將此在作爲上述之洗淨液的50°C之 ® 溫水中浸漬30分鐘後,來測定該氣體阻障層20被蝕刻部 分的厚度。 如第4圖所示,若Ti原子數比率爲lOatom%以上’ 氣體阻障層2 0的蝕刻量實際爲0,對作爲洗淨液的溫水之 氣體阻障層2 0的耐性,可說很充分。 又,雖然針對Ti原子數比率與利用該溫水以外的其 他洗淨液及ITO蝕刻液的氣體阻障層20之蝕刻量的關係 ,也做同樣的調査,但出現與該第4圖所示之結果同樣的 # 傾向。就是,如果Ti原子數比率爲lOatom%以上,就可 得到充分確保對各種洗淨液及蝕刻液之耐性的結果。 又,若根據本發明人的瞭解,AlxTiyOz膜之氣體阻 障性,並不大仰賴Ti原子數比率,較爲仰賴其膜厚。就 是,AlxTiyOz膜的膜厚愈厚,氣體阻障性愈爲提昇。 若根據本發明人的檢討,如上所述,就能確認,只要 膜厚爲30nm以上就能確保氣體阻障性,由此,在本實施 形態中,理想上氣體阻障層20的膜厚爲30nm以上。與習 知之以一般的A!2〇3膜等所形成的氣體阻障層之膜厚需爲 -19- (18) 1338534 以上,如所述,若藉由本實施形態之有機電激發光元 件1 00,就能如上述的來構成氣體阻障層20之組成及構造 ,提昇對氣體阻障層20成膜後的後工程中之蝕刻液和洗 ' 淨液的氣體阻障層20之耐性。其結果,可提供高品質及 - 高壽愈的彩色有機電激發光。 進而,利用原子層成長法來形成氣體阻障層2 0,就能 讓膜質被緻密化,適合高被覆性且薄膜化者。而且,如上 φ 所述,藉由控制原子層成長法的各循環數和基板溫度,就 能適當控制氣體阻障層20的膜質和Ti原子數比率。 再者,由上述之第4圖、第5圖所示的結果推定,只 要Ti原子數比率是在如這些圖所示的最佳範圍,就可得 到上述的效果》因此,作爲氣體阻障層20的AlxTiyOz膜 ,除原子層成長法以外,例如在以濺鍍和一般的CVD等 所成膜的情形下,亦可期待上述的效果。 又,只要本發明的有機電激發光元件,是在基板上, • 至少依序層積濾色層、氣體阻障層、以及有機電激發光構 造體即可,亦可爲只是這些的層積構造,也可更進一步中 介設置上述之保護層和除此以外的層。 又,有機電激發光構造體的構成,並不限於上述的具 體例,通常可採用有機電激發光構造體所用的材料和膜構 成,或者在將來也能運用於有機電激發光構造體的材料和 膜構成。 本發明雖爲參照最佳實施例所做記述,但可理解本發 明並不限於該實施例和構造者。本發明也包含各式各樣的 -22- (19) 1338534 變形例和均等範圍內的變形。除此之外可以理解,最佳的 各種組合和形態’或者那些只爲一要素’包含那以上或那 以下的其他組合和形態’也納入本發明的範疇和思想範圍 係圖 ’ 其 點 。 優確 和明 徵更 特得 、 變 的述 目記 他細 其詳 及的 的述 目下 述由 上藉 1 之邊 明明面 說發圖 單本附 簡關所 式有照係 圖 參, [ 邊面 第1圖爲有關本發明之實施形態的有機電激發光元件 之槪略剖面圖。 第2圖爲沿著第1圖之II-II線的槪略剖面圖》 第3圖爲表示對TiCl4循環數爲1時之TMA循環數之 比的Ti原子數比率之變化座標圖。 第4圖爲表示Ti原子數比率與利用洗淨液的氣體阻 φ 障層之蝕刻量的關係之座標圖。 第5圖爲表示Ti原子數比率與薄片電阻之關係的座 標圖。 【主要元件符號說明】 1 1 :基板 12 :陰罩 1 3 :濾色層 14 :保護層 -23- (20) (20)1338534 20 :氣體阻障層 ’ 30:有機電激發光構造體 3 1 :陽極 32 :有機層 33 :陰極 40 :絕緣膜 41 :隔壁 1〇〇:有機電激發光元件
-24-
Claims (1)
1338534 p年叫?《修(更}正替換页 —.I—· 申請專利範園 第096 1 0 1 308號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國99年1 〇月13日修正 I 一種有機電激發光元件,其特徵爲: 由: 基板(1 1 )、 濾色層(1 3 )、 氣體阻障層(20 )、以及 有機電激發光構造體(3 0 )所形成, 濾色層(13)、氣體阻障層(2〇)以及有機電激發光 構造體(3 0 ),爲依此順序被層積在基板(11 )上, 且氣體阻障層(20)爲由AlxTiyOz所形成的非晶質 薄膜, 且對AlxTiyOz之組成比的X,y滿足{y/(x + y) } χ 100$ lOatom% 〇 2.如申請專利範圍第1項所記載的有機電激發光元 件,其中, 氣體阻障層(20 ),爲利用原子層成長法所形成而成 3-如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 氣體阻障層(20 )的膜厚爲30nm以上,且對 Ι3γ®4_ #年叫/iH丨侉(更)正替換; L_______________.. / ι AlxTiy〇Z之組成比的X,y滿足{y/(X + y) } χΙΟΟ刍 2 8 a t o m 0/〇。 4·如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 基板(11)爲玻璃基板。 5. 如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 基板(1 1 )爲樹脂基板。 6. 如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 更具有保護層(14),保護層(14)被配置在濾色層 (13 )與氣體阻障層(20)之間。 7 ·如申請專利範圍第6項所記載的有機電激發光元 件,其中, 保護層(1 4 ),爲由壓克力樹脂所形成。 8 ·如申請專利範圍第7項所記載的有機電激發光元 件,其中, 有機電激發光構造體(30)爲由··下部電極(31)、 有機層(3 2 )及上部電極(3 3 )所形成,下部電極(3 1 ) 、有機層(3 2 )以及上部電極(3 3 )爲以依此順序被層積 在氣體阻障層(20),且有機層(32)爲由:電洞注入層 、電洞輸送層、發光層及電子輸送層所形成。 9. 一種有機電激發光元件之製造方法,其特徵爲: 由: -2- 1338534 ―1’ $日修巧替授 將濾色層(1 3 )形成•在基板上的工程;和 將氣體阻障層(2〇 )利用原子層成長法,形成在爐色 層(1 3 )上的工程;和 將有機電激發光構造體(30 )形成在氣體阻障層(2〇 )上的工程所形成, 氣體阻障層(20)爲由AlxTiyOz所形成的非晶質薄 膜, 且對AlxTiyOz之組成比的X,y滿足{y/(x + y) } χ 100^ lOatom%, 氣體阻障層(20)之成膜時的前述基板(11)之溫度 爲1 〇〇°C以上、40(TC以下。 10.如申請專利範圍第9項所記載的有機電激發光元 件之製造方法,其中, .热體阻P早層(20)的1旲厚爲 30nm以上,且對 AlxTiyOz 之組成比的 x,y 滿足{y/(x + y) } xl〇〇g 28atom% 〇 11.如申請專利範圍第9或1 0項所記載的有機電激 發光元件之製造方法,其中, 基板(1 1 )爲玻璃基板。 1 2.如申請專利範圍第9或1 0項所記載的有機電激 發光元件之製造方法,其中, 基板(1 1 )爲樹脂基板。 -3-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006013576A JP4696926B2 (ja) | 2006-01-23 | 2006-01-23 | 有機el素子およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200740289A TW200740289A (en) | 2007-10-16 |
TWI338534B true TWI338534B (zh) | 2011-03-01 |
Family
ID=38449688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW096101308A TW200740289A (en) | 2006-01-23 | 2007-01-12 | Organic electroluminescent element and its manufacturing method |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4696926B2 (zh) |
KR (1) | KR100845683B1 (zh) |
TW (1) | TW200740289A (zh) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007234310A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 有機elディスプレイの製造方法及び製造装置 |
JP2009110710A (ja) | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Denso Corp | 有機elディスプレイおよびその製造方法 |
WO2009119591A1 (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-01 | 富士電機ホールディングス株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
FI20095947A0 (fi) * | 2009-09-14 | 2009-09-14 | Beneq Oy | Monikerrospinnoite, menetelmä monikerrospinnoitteen valmistamiseksi, ja sen käyttötapoja |
KR101084196B1 (ko) | 2010-02-19 | 2011-11-17 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
KR102014321B1 (ko) * | 2011-07-11 | 2019-11-04 | 로터스 어플라이드 테크놀로지, 엘엘씨 | 혼합 금속 산화물 장벽 막을 제조하기 위한 혼합 금속 산화물 장벽 막 및 원자 층 증착 방법 |
JP6003778B2 (ja) * | 2013-04-03 | 2016-10-05 | 株式会社デンソー | 熱交換器の製造方法 |
KR20150143679A (ko) * | 2013-05-27 | 2015-12-23 | 후지필름 가부시키가이샤 | 컬러 필터의 제조 방법, 하지층 형성용 조성물, 유기 el 표시 장치 |
JP2015122148A (ja) | 2013-12-20 | 2015-07-02 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置 |
JP6281412B2 (ja) * | 2014-05-27 | 2018-02-21 | 株式会社デンソー | 金属構造体およびその製造方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1115269A1 (en) * | 1999-05-25 | 2001-07-11 | TDK Corporation | Organic el color display |
JP4019690B2 (ja) * | 2001-11-02 | 2007-12-12 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器 |
EP1553807A4 (en) * | 2002-10-16 | 2008-05-14 | Idemitsu Kosan Co | ORGANIC ELECTROLUMINESCENCE DISPLAY AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF |
JP2004158321A (ja) * | 2002-11-07 | 2004-06-03 | Tohoku Pioneer Corp | 有機el表示装置及びその製造方法 |
JP3855932B2 (ja) | 2003-01-09 | 2006-12-13 | 富士電機ホールディングス株式会社 | 有機発光素子、および、有機発光素子の製造方法 |
JP4561201B2 (ja) * | 2003-09-04 | 2010-10-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器 |
DE10342397B4 (de) * | 2003-09-13 | 2008-04-03 | Schott Ag | Transparente Schutzschicht für einen Körper und deren Verwendung |
JP2005319678A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Nippon Zeon Co Ltd | 積層体、発光素子及びその使用 |
-
2006
- 2006-01-23 JP JP2006013576A patent/JP4696926B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-01-12 TW TW096101308A patent/TW200740289A/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-01-22 KR KR1020070006398A patent/KR100845683B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4696926B2 (ja) | 2011-06-08 |
KR20070077453A (ko) | 2007-07-26 |
KR100845683B1 (ko) | 2008-07-11 |
TW200740289A (en) | 2007-10-16 |
JP2007194168A (ja) | 2007-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI338534B (zh) | ||
JP4363365B2 (ja) | カラー有機elディスプレイおよびその製造方法 | |
TWI408995B (zh) | 有機發光顯示器 | |
KR100865445B1 (ko) | 유기 전자 소자의 제조방법 및 이에 의하여 제조된 유기전자 소자 | |
TW200948178A (en) | Organic electroluminescence device and fabricating method thereof | |
CN108293281B (zh) | 制造光电转换元件的方法 | |
KR100844788B1 (ko) | 유기발광소자의 제조방법 및 이에 의하여 제조된유기발광소자 | |
WO2007004563A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
TW523554B (en) | Substrate with transparent conductive film and organic electroluminescence device using the same | |
JP2005285659A (ja) | 有機el装置及びその製造方法 | |
KR20020093646A (ko) | 유기 el 소자 및 유기 el 소자의 제조 방법 | |
JP2009110710A (ja) | 有機elディスプレイおよびその製造方法 | |
Kim et al. | An efficient nano-composite layer for highly transparent organic light emitting diodes | |
JP2006196861A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
JP5744457B2 (ja) | 有機発光表示装置およびその製造方法 | |
JP2011086796A (ja) | 有機エレクトロルミネッセント素子 | |
JP4782550B2 (ja) | 有機電界発光素子の製造方法 | |
JPH1055888A (ja) | 多色発光装置およびその製造方法 | |
JP3492535B2 (ja) | 有機薄膜el素子とその製造方法 | |
TW201002142A (en) | Organic electroluminescence device and process for production of the same | |
US20040195966A1 (en) | Method of providing a layer including a metal or silicon or germanium and oxygen on a surface | |
JP5861961B2 (ja) | 有機el素子とその製造方法 | |
JP2002083693A (ja) | 透明導電膜付き基板及び該透明導電膜付き基板を使用した有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
JP5173769B2 (ja) | 有機el素子の製造方法 | |
Moon et al. | Large area organic light emitting diodes with multilayered graphene anodes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |