TWI338534B - - Google Patents

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TWI338534B
TWI338534B TW096101308A TW96101308A TWI338534B TW I338534 B TWI338534 B TW I338534B TW 096101308 A TW096101308 A TW 096101308A TW 96101308 A TW96101308 A TW 96101308A TW I338534 B TWI338534 B TW I338534B
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gas barrier
barrier layer
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organic
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Ryonosuke Tera
Kouji Ino
Kahoru Mori
Taizou Ishida
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Denso Corp
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(1) 1338534 九、發明說明 4 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種有機電激發光發光元件及其製造方 法。 【先前技術】 彩色有機電激發光顯示器一般於基板上具備依序層積 • 有:濾色層、氣體阻障層及有機電激發光構造體而成的構 成。 更具體據知爲組合發出白色光的有機電激發光構造體 與濾色器時,在透明的基板上依序層積:濾色層、保護層 、氣體阻障層、以及進行發出白色光的有機電激發光構造 體元件的構造。 在此,氣體阻障層是設來用以防止,起因於以樹脂所 形成的濾色層和由保護層所揮發的水份等之白色発光有機 • 電激發光構造體的暗點和發光效率降低等的缺點。 因此,氣體阻障層,係要求無針孔、其階梯覆蓋良好 '極力解決崩裂等之缺陷等。進而,除此以外,也要求透 明性、表面之平坦性等的性能。 在以往,氣體阻障層之例,係如日本特開第2004 -158199號公報和特開第mm— 24 1 3 7 1號公報等所示,提 _ 供使用無機材料和金屬材料之氧化物、氮化物、氧氮化物 者。又’其他也提供一種作爲氣體阻障層,係使用吸水率 小的有機材料之薄膜,或者例如,如日本特開第2003 一 (2) 1338534 109748號公報所示,層積無機材料與有機材料而 阻障性者。 而且’具有這樣的氣體阻障層之有機電激發 ' 係藉由於基板上形成濾色層,且在其上形成氣體 ·· 便在其上形成有機電激發光構造體所製造成。
在此’氣體阻障層的形成方法有:形成氣體 手段有:旋塗法、蒸鍍法 '濺鍍法、CVD( 鲁 Vapor Deposition )法、原子層成長法(ALD
Layer Deposition )等。 可是,習知此種有機電激發光元件,於氣體 膜後’在該氣體阻障層上形成有機電激發光構造 時,使用微影法來進行電極圖案化。 此時,氣體阻障層會因電極的蝕刻液被侵蝕 成針孔等缺陷之虞。因此,氣體阻障層必需爲對 刻液具有耐性的材料。 # 例如,電極材料一般雖是使用1TO (銦鍚氧 但此時蝕刻液例如多半爲使用王水等酸性液體的f 此時,曝露於蝕刻液的氣體阻障層爲金層之 酸氮化物、氮化物,還有矽的氧化物和酸氮化物 的情形,由於該氣體阻障層受到蝕刻液的侵蝕, ,氣體阻障性變差。因此,對策上必須將氣體阻 增厚,或者設置化學性安定的保護層。 但是,氣體阻障層,一般藉由增厚其膜厚, 面變粗,因此形成在該氣體阻障層之上的有機電 提昇氣體 光元件, 阻障層, 阻障層的 Chemical 、Atomic 阻障層成 體的電極 ,且有形 電極的蝕 化物), ,形。 氧化物和 、氮化物 因此結果 障層的膜 由於其表 激發光構 -6 - (3) 1338534 造體很容易產生被覆不良·。 一旦產生這樣的被覆不良,擔心會有因暗點和電場集 中之破壞等的顯示缺點和因氣體阻障層之所有應力增加產 ' 生崩裂,來自藉由氣體阻障層之光吸收增加的有機電激發 • 光構造體之輸出光的損失、以及基板撓曲的影響等之缺點 〇 除此之外,會產生氣體阻障層的膜厚分佈,且會產生 Φ 因氣體阻障層的光透過特性和干擾效應之元件內的發光特 性不勻。發現尤其在基板採用樹脂基板時,該氣體阻障層 之厚膜化的影響更顯著。又,此種厚膜化由生產性以及成 本面來看,亦會招致氣體阻障層的構造和製造過程的複雜 化。 又’在氣體阻障層方面,對抑制針孔和被覆不良等的 缺陷,其形成手法的選定也很重要。 在上述之習知氣體阻障層之形成方法中,除了旋塗法 Φ 原料需爲液狀、爲了燒成和硬化需要加熱等的後處理外, 由於多數爲樹脂材料和水玻璃等易吸水的原料,因此必需 組合異種材料等予以層積化來確保氣體阻障性的做法。 又,在蒸鍍法和濺鏡法等之PVD ( Physical Vapor Deposition)法方面’由於缺乏被覆性,還因來自團簇狀 粒子之薄膜的脫落等極易形成缺陷和針孔,對確保氣體阻 障性能則有增加膜厚的必要。 一方面’藉由普通的CVD法等形成氣體阻障層時, 雖亦考慮基層之濾色層和保護層的耐熱性,以比較低溫進 (4) 1338534 行成膜,但此時,雖然被覆性被改善’但不光是膜的緻密 性差,還因原料氣體的不完全反應於膜中形成缺陷,且氣 體阻障性惡化。因此,有必要採用層積不同材料的氣體阻 ' 障層,或增加膜厚。 • 又,在藉由CVD法之一的原子層成長法形成氣體阻 障層時,與上述之氣體阻障層的形成方法相比,能形成缺 陷少的氣體阻障層。因此,雖然膜厚變薄亦能實現良好的 φ 氣體阻障性,但除了薄之外,仍擔心因上述之蝕刻過程等 的影響擴大。 【發明內容】 本發明爲有鑑於上述問題所完成的發明,B的在於提 供一於有機電激發光(電激發光)構造體與濾色器之間介 設氣體阻障層而成的有機電激發光元件。進而,目的在於 提供一種那様的有機電激發光元件之製造方法。 # 有機電激發光元件係由:基板、濾色層、氣體阻障層 、以及有機電激發光構造體所形成。濾色層、氣體阻障層 及有機電激發光構造體,爲依此順序層積在基板。氣體阻 障層係爲由AlxTiyOz所形成的非晶質薄膜。對AlxTiyOz 之組成比的A1之Ti的原子數比率爲l〇atom%以上者。 於上述元件中,能提昇對氣體阻障層成膜後之後工程 的蝕刻液和洗淨液的氣體阻障層之耐性。又,膜厚變薄也 能實現良好的氣體阻障性。 進而’有機電激發光元件之製造方法係由,在基板上 -8- (5) 1338534 形成濾色層之工程、和將氣體阻障層利用原子層成長法’ 形成在濾色層上之工程、和在氣體阻障層上形成有機電激 發光構造體之工程所形成。氣體阻障層係爲由 AlxTiyOz ' 所形成的非晶質薄膜。對AlxTiyOz之組成比的A1之Ti - 的原子數比率爲丨Oatom%以上者。氣體阻障層之成膜時的 前述基板之溫度爲100 °C以上、400 °C以下。 於上述有機電激發光元件之製造方法中,能提昇對氣 • 體阻障層成膜後之後工程的蝕刻液和洗淨液的氣體阻障層 之耐性。又’膜厚變薄也能實現良好的氣體阻障性。進而 ’氣體阻障層能適當形成非晶質的薄膜。 【實施方式】 本發明人進行有關有機電激發光元件之預備實驗。亦 即’本發明人進行如以下所述的檢討Λ 由水份吸水率低的、透氧、透水性低的、絕緣材料或 0 高電阻材料、低應力' 具有高透光性、膜厚和光透過特性 均句等之確保氣體阻障性的膜材料所形成,進而,爲了發 現對應用於後工程的洗淨工程之洗淨液和應用於有機電激 發光構造體之電極圖案化的蝕刻液,具有高耐性的材料, 進行調查檢討。 其結果’本發明人考慮,將在適於上述氣體阻障層的 模材料中’ A1 (鋁)和Ti (鈦)的金屬氧化物之 AlxTiyOz的非晶質薄膜,應用於氣體阻障層。在此, AlxTiyOz中,X、y、z分別爲八卜Ti、〇的原子數比率。 (8) 1338534 的金屬氧化物,A1、Ti、. ο之原子數比率以X、y、z表示 ο 而且’該氣體阻障層20中,AlxTiyOz之組成比中之 對A1之Ti的原子數比率爲i〇at〇m%以上。該原子數比率 -’具體上爲使用上述之A1的原子數比率X及Ti的原子數 比率y’而以{y/ (x+y) 丨〇〇(單位:atom%)來表示 〇 鲁 像适樣’藉由{y/ (x+y) }xl002 10atom%,該氣 體阻障層20爲後工程,對在有機電激發光構造體3〇之陽 極3 1之形成前進行的洗淨工程所使用的溫水、該陽極3】 之圖案化所用的ITO蝕刻液具有高耐性。以下,對該 AlxTiyOz之組成比的Λ1之Ti的原7數比率,簡稱爲「Ti 原子數比率」。 又,在本實施形態中,氣體阻障層20的膜厚,若爲 可確保氣體阻障性的厚度,即未特別限定,但以30nm以 φ 上爲佳。若氣體阻障層20爲30nm以上的膜厚,缺陷和針 孔會受到抑制,易於實用電位發揮沒問題的氣體阻障性。 又,在本實施形態中,像這樣之膜厚30nm以上的氣 體阻障層20的情形下,希望Ti原子數比率爲28at〇m%以 下。此乃考慮到氣體阻障層20具有,以實用電位確保有 機電激發光元件1 〇〇之電絕緣性的電阻値之點。有關此點 在後面做詳細描述。 像這樣的氣體阻障層20,雖可利用蒸鍍法和濺鍍法等 ' 之PVD法、一般的CVD法所形成,但最好使用原子層成 -12- (9) 1338534 長法來形成。若藉由原子層成長法,即可形成緻密的膜質 ,膜厚很薄也易於實現被覆性優的氣體阻障層20。 而且,在基板11之其中一面上亦即氣體阻障層20之 ' 上,形成有作爲有機電子器件的有機電激發光構造體30。 - 就是,在本實施形態中,基板11之形成有機電激發光構 造體30的其中一面,是藉由氣體阻障層20所被覆,且爲 在該基板11與氣體阻障層20之上,形成有機電激發光構 • 造體3 0的形式。 該有機電激發光構造體30,爲在互相對向的一對電極 31、33間配置包含有機發光材料之有機層32而成的構造 體。該有機電激發光構造體30’雖可採用通常之有機電激 發光構造體所用的材料和膜構成’但針對具體構成的其中 一例做描述。 在氣體阻障層20之上’先形成有作爲透明導電膜的 陽極(下部電極)31。該陽極31係爲由ITO膜等之透明 • 導電膜所形成,作爲電洞注入電極的功能。 在本例中,陽極3 1係爲利用濺鍍法成膜於氣體阻障 層20之上的ITO膜(例如厚度1 20nm ) ’該陽極3 1係利 用蝕刻等被圖案化,形成延伸至第1圖中之左右方向的條 狀。 又,在本例中,該陽極31,爲直接接觸到氣體阻障層 20而設置。就是,在此有機電激發光構造體30之基板11 側的電極31之下部與氣體阻障層20直接接觸。 進而,爲了防止在陽極31之邊緣的短路’藉由微影 -13- (10) 1338534 法形成以絕緣材料所形成的絕緣膜40。同樣的,藉由微影 法形成用以分離陰極(上部電極)33的隔壁41。 在該陽極3 1之上,係在本例依順序形成有:以有機 ' 發光材料所形成的電洞注入層、電洞輸送層、發光層、電 - 子輸送層作爲有機層32。 例如,真空蒸鍍法形成20nm的銅苯二甲藍作爲電洞 注入層。在其上,藉由真空蒸鍍法例如形成40nm的電洞 • 輸送層,作爲三苯胺基4量體(HOMO: 5.4eV、LUMO : 2.4eV、Eg : 3 .OeV )。 進而,添力卩 l%DCJT(HOMO: 5.3eV、LUMO: 3.2eV 、Eg : 2. leV )作爲紅色發光層的三苯胺基4量體,爲藉 由真空蒸鑛法,例如形成2nm » 在其上,添加lwt%紫蘇烯(HOMO: 5.5eV、LUMO :2.6eV、Eg : 2.9eV )作爲藍色發光層功能之螢光色素的 BAlq ( HOMO : 5.8eV ' LUMO : 3.OeV ' Eg : 2.8eV),爲 # 藉由真空蒸鍍法,例如形成40nm。進而,作爲電子輸送 層的三乙醯丙酮鋁,爲例如藉由真空蒸鍍法形成2 Onm。 又,這些有機層32之上,雖未圖示,但作爲電子注 入層的LiF,例如藉由真空蒸鍍法成膜0.5nm,且在其上 ,作爲屬於上部電極之陰極33的A1,例如藉由真空蒸鍍 法成膜100nm。在此,陰極33,爲做成與陽極31直交之 條狀者,形成朝第2圖中之左右方向延伸的條狀。 而且,藉由這些,形成進行白色發光的有機電激發光 構造體30(31、32、33)。而且,本例之有機電激發光元 -14- (11) 1338534 件100,爲構成點陣顯示·器。 就是,本例的有機電激發光構造體30,係互相直交的 條狀陽極31與利用隔壁41所分離的陰極33爲交叉重合 ,這兩電極31、33的重合區域,爲構成應進行發光顯示 部分的顯不畫素° 在像這樣的本彩色有機電激發光顯示器100中,藉由 外部電路等對陽極31與陰極33之間施加具有特定負載比 B 的驅動用直流電壓,藉此在所希望的顯示晝素中,分別讓 電洞(正孔)從陽極3 1、電子從陰極3 3移動到有機層3 2 中的發光層。 而且’這些電洞及電子會在該發光層內再結合,且利 用該放射能讓螢光材料(本例中,爲DCJT、紫蘇烯及 BAlq )發光。該發光是通過濾色層13,從基板13側被取 出。 其次’針對本有機電激發光元件100的製造方法做描 Φ 述。首先’在基板11之一面,利用旋塗法和微影法,依 序形成濾色層13及保護層14。藉由目前的工程,完成氣 體阻障層20的基層部分。 接著’雖進行氣體阻障層20的形成,但在此例中, 係針對利用上述之原子層成長法的成膜方法做描述。 先將形成到上述之保護層14的基板11,設置真空室 . 內’且進行加熱。在此,利用原子層成長法將氣體阻障層 20成膜時’成膜時的基板n的溫度,若爲能反應薄膜形 成之原子層的溫度,即未特別限定,但100艺以上、4〇〇t: -15- (12) 1338534 以下爲佳。 若根據本發明人,只要是100 °C以上、400。(:以下的基 板溫度,雖然以AlxTiyOz所形成的氣體阻障層2〇爲非晶 • 質構造,但仍可藉由X射線繞射來確認》 - 進而’該基板溫度,以不滿濾色層13及保護層丨4之 分解溫度的溫度爲佳在本例中,濾色層13及保護層14的 分解溫度爲230 °C左右,如果考慮該分解溫度與實現上 φ 述之非晶質構造的溫度,氣體阻障層2 0成膜時之基板】j 的溫度,例如可爲2 2 5 °C左右。 像這樣’在真空室內加熱基板11之後,邊維持上述 的基板溫度、邊在減壓下進行交互供給原料氣體而形成薄 膜的原子層成長法,藉此形成以 AlxTiyOz所形成的氣體 阻障層2 0。 描述作爲氣體阻障層20的AlxTiyOz膜之形成方法的 其中一例。首先,將TMA (三甲基鋁)氣體與h20氣體 0 ,與N2載氣一起交互地供給到真空室內,將此循環,循 環 5次。其次,供給 TiCl4氣體與 H2〇氣體,形成 AlxTiyOz 膜。 將像這樣的AlxTiyOz膜之形成過程的循環,重複循 環2 5 0次,藉此就可在本例中,形成膜厚爲I20nm的 AlxTiyOz膜。此時之Al、Ti、Ο的組成比爲37: 5: 58。 就是,在 AlxTiyOz膜方面,x=37、y=5、z=58,此時 Ti原子數比率,約爲12atom%。 該AlxTiyOz膜的Ti之組成比亦即Ti原子數比率的 -16 - (13) 1338534 控制,可藉由改變上述之TMA及H20氣體的循環數(以 下將此稱爲TMA循環數)與TiCl4氣體及H20氣體的循 環數(以下將此稱爲TiCl4循環數)之比。 例如,在上述例所示的原子層成長法方面,如果TMA 循環數較大,AlxTiyOz膜的Ti原子數比率就較小’如果 TiC 14循環數較大,Ti原子數比率就較大。 第3圖是表示調査TiC 14循環數爲1時,對TMA循環 | 數之比的Ti原子數比率之變化結果的圖。如第3圖所示 ,TM A循環數之比變大,連帶Ti原子數比率變小,藉由 這些循環數的控制,就能控制 Ti原子數比率。而且,在 第3圖之範例中,當TMA循環數之比爲6以上時,就能 實現Ti原子數爲lOatom%以上。 再者,像這樣來控制Ti原子數比率,除了上述之循 環數的控制以外,藉由改變基板 Π的溫度也行。若根據 本發明人的調査,提高基板溫度,會讓Ti原子數比率變 • 大,降低基板溫度,會讓Ti原子數比率變小。 這樣一來,形成在氣體阻障層20後,在形成有機電 激發光構造體30之陽極31前,進行該陽極31之基層部 分的洗淨。該洗淨工程,係例如以5 0°C的溫水浸泡、25 °C 的流水以及使用鹼性洗淨液來進行。乾燥爲旋乾式》 而且,接著在基板11之一面上亦即氣體阻障層20之 上,形成有機電激發光構造體30。 在本例中,先在氣體阻障層20之上以200 °C的成膜溫 度,利用灑鍍法將ITO膜予以成膜,且將此利用微影法, -17- (14) 1338534 而圖案化成電極形狀,藉此形成陽極31。此時,ITO的蝕 刻液,爲使用混合硝酸與鹽酸、水的混酸。 其次,在陽極3 1之間利用微影法形成絕緣膜40,接 著在其上,利用微影法形成隔壁41。其次,在陽極31之 * 上利用真空蒸鍍法形成,依序形成有:如上述例所示的電 洞注入層、電洞輸送層、發光層、電子輸送層而成的有機 層32。 φ 其次,在有機層32之上利用真空蒸鍍法成膜,作爲 上述電子注入層的LiF、以及作爲上部電極的陰極33。這 些有機層32和陰極33之利用真空蒸鍍的成膜溫度,爲室 溫左右。這樣,具有作爲上述第1圖、第2圖所示的氣體 阻障層2的AUTiyOz膜,就能完成作爲彩色有機電激發 光顯示器的有機電激發光元件100。 再者,此後爲了阻斷來自有機電激發光構造體30之 表面的水份,可藉由具有乾燥劑的不銹鋼或玻璃的密封罐 Φ ’亦可以僅利用含微量氧的不活性氣體(N2氣體等)或不 活性氣體,密封機電激發光構造體3 0的外表面側。 可是,在本實施形態中,氣體阻障層 20,爲由 AlxTiyOz所形成的非晶質薄膜,且對該AlxTiy〇Z的組成 比之A1的Ti之原子數比率(亦即Ti原子數比率)爲 1 Oatom%以上者。採用此種氣體阻障層20,是以如下所述 之本發明人所進行的實驗結果爲基礎。 首先’在非晶質薄膜成爲易確保氣體阻障性的膜之後 ’來調查AlxTiyOz之Ti原子數比率與對後工程所用的洗 -18- (15) 1338534 淨液、蝕刻液之耐性的關係。 第4圖爲表示有關其耐性的調査結果之其中一例的® ,且爲表示對A1之Ti的原子數比率(就是Ή原子數比 率,單位:atom% )與利用洗淨液之氣體阻障層20的餓 • 刻量(單位:nm)之關係的圖。 在此,蝕刻量,爲在基板Π形成改變Ti原子數比率 的氣體阻障層20,且將此在作爲上述之洗淨液的50°C之 ® 溫水中浸漬30分鐘後,來測定該氣體阻障層20被蝕刻部 分的厚度。 如第4圖所示,若Ti原子數比率爲lOatom%以上’ 氣體阻障層2 0的蝕刻量實際爲0,對作爲洗淨液的溫水之 氣體阻障層2 0的耐性,可說很充分。 又,雖然針對Ti原子數比率與利用該溫水以外的其 他洗淨液及ITO蝕刻液的氣體阻障層20之蝕刻量的關係 ,也做同樣的調査,但出現與該第4圖所示之結果同樣的 # 傾向。就是,如果Ti原子數比率爲lOatom%以上,就可 得到充分確保對各種洗淨液及蝕刻液之耐性的結果。 又,若根據本發明人的瞭解,AlxTiyOz膜之氣體阻 障性,並不大仰賴Ti原子數比率,較爲仰賴其膜厚。就 是,AlxTiyOz膜的膜厚愈厚,氣體阻障性愈爲提昇。 若根據本發明人的檢討,如上所述,就能確認,只要 膜厚爲30nm以上就能確保氣體阻障性,由此,在本實施 形態中,理想上氣體阻障層20的膜厚爲30nm以上。與習 知之以一般的A!2〇3膜等所形成的氣體阻障層之膜厚需爲 -19- (18) 1338534 以上,如所述,若藉由本實施形態之有機電激發光元 件1 00,就能如上述的來構成氣體阻障層20之組成及構造 ,提昇對氣體阻障層20成膜後的後工程中之蝕刻液和洗 ' 淨液的氣體阻障層20之耐性。其結果,可提供高品質及 - 高壽愈的彩色有機電激發光。 進而,利用原子層成長法來形成氣體阻障層2 0,就能 讓膜質被緻密化,適合高被覆性且薄膜化者。而且,如上 φ 所述,藉由控制原子層成長法的各循環數和基板溫度,就 能適當控制氣體阻障層20的膜質和Ti原子數比率。 再者,由上述之第4圖、第5圖所示的結果推定,只 要Ti原子數比率是在如這些圖所示的最佳範圍,就可得 到上述的效果》因此,作爲氣體阻障層20的AlxTiyOz膜 ,除原子層成長法以外,例如在以濺鍍和一般的CVD等 所成膜的情形下,亦可期待上述的效果。 又,只要本發明的有機電激發光元件,是在基板上, • 至少依序層積濾色層、氣體阻障層、以及有機電激發光構 造體即可,亦可爲只是這些的層積構造,也可更進一步中 介設置上述之保護層和除此以外的層。 又,有機電激發光構造體的構成,並不限於上述的具 體例,通常可採用有機電激發光構造體所用的材料和膜構 成,或者在將來也能運用於有機電激發光構造體的材料和 膜構成。 本發明雖爲參照最佳實施例所做記述,但可理解本發 明並不限於該實施例和構造者。本發明也包含各式各樣的 -22- (19) 1338534 變形例和均等範圍內的變形。除此之外可以理解,最佳的 各種組合和形態’或者那些只爲一要素’包含那以上或那 以下的其他組合和形態’也納入本發明的範疇和思想範圍 係圖 ’ 其 點 。 優確 和明 徵更 特得 、 變 的述 目記 他細 其詳 及的 的述 目下 述由 上藉 1 之邊 明明面 說發圖 單本附 簡關所 式有照係 圖 參, [ 邊面 第1圖爲有關本發明之實施形態的有機電激發光元件 之槪略剖面圖。 第2圖爲沿著第1圖之II-II線的槪略剖面圖》 第3圖爲表示對TiCl4循環數爲1時之TMA循環數之 比的Ti原子數比率之變化座標圖。 第4圖爲表示Ti原子數比率與利用洗淨液的氣體阻 φ 障層之蝕刻量的關係之座標圖。 第5圖爲表示Ti原子數比率與薄片電阻之關係的座 標圖。 【主要元件符號說明】 1 1 :基板 12 :陰罩 1 3 :濾色層 14 :保護層 -23- (20) (20)1338534 20 :氣體阻障層 ’ 30:有機電激發光構造體 3 1 :陽極 32 :有機層 33 :陰極 40 :絕緣膜 41 :隔壁 1〇〇:有機電激發光元件
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1338534 p年叫?《修(更}正替換页 —.I—· 申請專利範園 第096 1 0 1 308號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國99年1 〇月13日修正 I 一種有機電激發光元件,其特徵爲: 由: 基板(1 1 )、 濾色層(1 3 )、 氣體阻障層(20 )、以及 有機電激發光構造體(3 0 )所形成, 濾色層(13)、氣體阻障層(2〇)以及有機電激發光 構造體(3 0 ),爲依此順序被層積在基板(11 )上, 且氣體阻障層(20)爲由AlxTiyOz所形成的非晶質 薄膜, 且對AlxTiyOz之組成比的X,y滿足{y/(x + y) } χ 100$ lOatom% 〇 2.如申請專利範圍第1項所記載的有機電激發光元 件,其中, 氣體阻障層(20 ),爲利用原子層成長法所形成而成 3-如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 氣體阻障層(20 )的膜厚爲30nm以上,且對 Ι3γ®4_ #年叫/iH丨侉(更)正替換; L_______________.. / ι AlxTiy〇Z之組成比的X,y滿足{y/(X + y) } χΙΟΟ刍 2 8 a t o m 0/〇。 4·如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 基板(11)爲玻璃基板。 5. 如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 基板(1 1 )爲樹脂基板。 6. 如申請專利範圍第1或2項所記載的有機電激發 光元件,其中, 更具有保護層(14),保護層(14)被配置在濾色層 (13 )與氣體阻障層(20)之間。 7 ·如申請專利範圍第6項所記載的有機電激發光元 件,其中, 保護層(1 4 ),爲由壓克力樹脂所形成。 8 ·如申請專利範圍第7項所記載的有機電激發光元 件,其中, 有機電激發光構造體(30)爲由··下部電極(31)、 有機層(3 2 )及上部電極(3 3 )所形成,下部電極(3 1 ) 、有機層(3 2 )以及上部電極(3 3 )爲以依此順序被層積 在氣體阻障層(20),且有機層(32)爲由:電洞注入層 、電洞輸送層、發光層及電子輸送層所形成。 9. 一種有機電激發光元件之製造方法,其特徵爲: 由: -2- 1338534 ―1’ $日修巧替授 將濾色層(1 3 )形成•在基板上的工程;和 將氣體阻障層(2〇 )利用原子層成長法,形成在爐色 層(1 3 )上的工程;和 將有機電激發光構造體(30 )形成在氣體阻障層(2〇 )上的工程所形成, 氣體阻障層(20)爲由AlxTiyOz所形成的非晶質薄 膜, 且對AlxTiyOz之組成比的X,y滿足{y/(x + y) } χ 100^ lOatom%, 氣體阻障層(20)之成膜時的前述基板(11)之溫度 爲1 〇〇°C以上、40(TC以下。 10.如申請專利範圍第9項所記載的有機電激發光元 件之製造方法,其中, .热體阻P早層(20)的1旲厚爲 30nm以上,且對 AlxTiyOz 之組成比的 x,y 滿足{y/(x + y) } xl〇〇g 28atom% 〇 11.如申請專利範圍第9或1 0項所記載的有機電激 發光元件之製造方法,其中, 基板(1 1 )爲玻璃基板。 1 2.如申請專利範圍第9或1 0項所記載的有機電激 發光元件之製造方法,其中, 基板(1 1 )爲樹脂基板。 -3-
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