TWI308162B - Foamed dustproof material and its use - Google Patents
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Description
1308162 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種發泡防塵材料以及一種使用該發泡防 塵材料之防塵結構,更特別係有關具有絕佳防塵性質,可 成功地順形微小餘隙之發泡防塵材料,以及一種使用該發 泡防塵材料之防塵結構。 【先前技術】 防塵材料係用於當安裝影像顯示元件固定至影像顯示裝 置(例如液晶顯示器、電致發光顯示器、及電漿顯示器)時 使用,以及當安裝光學元件(例如攝影機及透鏡)固定至行 動電話或行動資訊裝置的規定位置(例如固定部分)時使 用。防塵材料也用來防止用於影像形成裝置(如影印機及印 表機)之碳粉由碳粉£洩漏。 至於防塵材料,已經使用聚乙烯發泡體,該聚乙烯發泡 體具有封閉泡胞以及發泡率約3 0 ;以及使用細小泡胞聚胺 基曱酸酯發泡體;其具有低度發泡程度及封閉泡胞結構, 以及使用由高度發泡聚胺基甲酸酯製成之壓縮模製物件。 特別,例如已經使用一種氣密塾(g a s k e t),其係由具有 密度為0.3至0.5克/立方厘米之聚胺基曱酸酯發泡體製成 (如專利參考文件1所述);以及已經使用一種由發泡結構 製成之電氣裝置或電子裝置用之密封材料,該發泡結構具 有平均泡胞直徑為1至5 0 0微米(如專利參考文件2所述)。 於習知固定至影像顯示裝置(例如液晶顯示器、電子發光 顯示器及電漿顯示器)之影像顯示元件,以及習知固定至行 5 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 I;), 1308162 動電話或行動資訊裝置之光學元件(例如攝影機及透崩 防塵材料施用部分具有餘隙(亦即間隙或距離),該餘 大可供使用實質未壓縮之防塵材料。因此,無需考慮 材料之壓縮斥力問題。 [專利文件 1 ] J P - A - 2 0 0 1 - 1 0 0 2 1 6 [專利文件 2] JP-A-2002-309198 【發明内容】 但近年來具有光學元件(例如影像顯示裝置、攝影機 鏡)安裝於其中之產品變成薄型外廓,結果造成防塵材 用部分之餘隙縮小。更為晚近,發生習知使用之防塵 由於斥力大而變成無法施用的情況。如此,此種防塵 被要求具有絕佳防塵性質,且有絕佳可撓性來順形於 餘隙。 JP-A-2001-100216揭示之氣密塾(亦即使用具有密I 0 . 3至0 . 5克/立方厘米之聚胺基曱酸酯發泡材料形成 密墊)藉由壓抑發泡率,而可防止液晶顯示器搖晃,但 撓性及緩衝性質仍嫌不足。 JP-A-2002-309198揭示之電氣裝置或電子裝置用之 封材料(亦即由具有平均泡胞直徑為1至5 0 0微米之發 構所形成之電氣裝置或電子裝置用密封材料)並未述及 泡材料之壓縮斥力。 因此,本發明之目的係提供此種防塵材料,其具有 防塵性質,且具有絕佳可撓性而可順形於微小餘隙, 關於提供使用該防塵材料之防塵結構。 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 隙夠 防塵 及透 料施 材料 材料 微小 的氣 其可 密 泡結 -發 絕佳 以及 6 1308162 本發明之另一目的係提供此種發泡防塵材料(後文稱作 為防塵材料),其當安裝光學元件至有薄型外廓產品時可適 當使用,以及提供一種使用該防塵材料之防塵結構。 經由發明人積極從事研究,意圖達成前述目的,結果發 現使用由具有特定特性之發泡體形成之防塵材料,可具有 絕佳防塵性質,且可成功地順形微小餘隙。基於此項發現 而完成本發明。 換言之,本發明之組成如後。 (1 ) 一種發泡防塵材料,其包含一發泡體,其中該發泡體 具有平均泡胞直徑為1 0至9 0微米,壓縮至5 0 %時之抗排 斥負載為0.1至3.0牛頓/平方厘米,以及視密度為0.01 至0.10克/立方厘米。 (2 )根據如上(1 )之發泡防塵材料,其中該發泡體具有封 閉泡胞結構或半封閉與半開放泡胞結構。 (3 )根據如上(1 )之發泡防塵材料,其中該材料進一步包 含一感壓黏著層於該發泡體之一表面或二表面上。 (4 )根據如上(3 )之發泡防塵材料,其中該感壓黏著層係 經由一薄膜層而形成於該發泡體上。 (5 )根據如上(3 )之發泡防塵材料,其中該感壓黏著層包 含丙烯酸系感壓黏著劑。 (6 )根據如上(1 )至(5 )項中任一項之發泡防塵材料,其中 該發泡體係經由一種方法獲得,該方法包含下列步驟: 於高壓使用惰性氣體浸潰一熱塑聚合物;以及 降低該壓力。 7 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 (7 )根據如上(6 )之發泡防塵材料,其中該發泡體可經由 一種方法獲得,該方法包含下列步驟: 於高壓使用惰性氣體浸潰一包含熱塑聚合物之未經發泡 之模製物件;以及 降低該壓力。 (8 )根據如上(6 )之發泡防塵材料,其中該發泡體可經由 一種方法獲得,該方法包含下列步驟: 於加壓狀態下,使用惰性氣體浸潰熔融熱塑性聚合物 ;以及 模製該熱塑性聚合物之同時,降低壓力。 (9 )根據如上(6 )之發泡防塵材料,其中該方法進一步包 含於降低壓力後之加熱步驟。 (1 0 )根據如上(6 )之發泡防塵材料,其中該惰性氣體為二 氧化碳。 (1 1 )根據如上(6 )之發泡防塵材料,其中該惰性氣體於浸 潰時係處於超臨界態。 (1 2 )根據如上(1 )至(5 )項中任一項之發泡防塵材料,其 中該材料係於安裝光學元件於規定位置時使用。 (1 3 ) —種防塵結構,供安裝一光學元件於一規定位置, 其中該結構包含該光學元件,經由根據如上(1 )至(5 )項中 任一項之發泡防塵材料而安裝於該位置。 (1 4 ) 一種包含一光學元件安裝於一規定位置之結構,其 中該結構包含該光學元件,經由根據如上(1 )至(5 )項中任 一項之發泡防塵材料而安裝於該位置。 8 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 (1 5 )根據如上(1 )至(5 )項中任一項之發泡防塵材料,其 中該材料係用於防止碳粉由碳粉匣洩漏。 發泡防塵材料較佳係用來安裝一光學元件於一規定位 置,以及用來防止碳粉由碳粉匣洩漏。 本發明亦係關於一種供安裝一光學元件於一規定位置之 防塵結構,該防塵結構包含該光學元件經由根據本發明之 發泡防塵材料而安裝於該位置。本發明進一步係關於一種 具有光學元件安裝於規定位置之結構,該結構包含光學元 件經由根據本發明之發泡防塵材料而安裝於規定位置。 本發明之防塵材料具有絕佳防塵性質,具有絕佳可撓性 可順形於微小餘隙。本發明之防塵材料也適合用於安裝一 光學元件於一具有薄型外廓之產品。 【實施方式】 將說明本發明之進一步細節如後。 [組成發泡防塵材料之發泡體] 本發明之發泡防塵材料,亦即由發泡體組成之防塵材料(密 封劑)係由具有平均泡胞直徑為1 0至9 0微米,壓縮至5 0 % 時之抗排斥負載(亦即壓縮至5 0 %時之斥力)為0 . 1至3 . 0 牛頓/平方厘米,及視密度為0.01至0.10克/立方厘米之 發泡體組成。 發泡體之平均泡胞直徑上限設定為9 0微米(較佳8 0微米) 可改良防塵性質且改良遮光性質。發泡體之平均泡胞直徑 下限設定為1 0微米(較佳2 0微米)可改良缓衝性質(吸震性 質)。 9 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 發泡體於壓縮至5 0 %時之抗排斥負載(亦即壓縮至5 0 %時 之斥力)之上限設定為3 · 0牛頓/平方厘米(較佳2 · 0牛頓/ 平方厘米,更佳1 . 8牛頓/平方厘米)可防止即使於狹窄餘 隙,由於發泡防塵材料之排斥造成的問題發生。發泡體壓 縮至5 0 %時之抗排斥負載下限設定為0 . 1牛頓/平方厘米 (較佳0 . 2牛頓/平方厘米)可確保獲得絕佳防塵性質。 發泡體之視密度上限設定為0 . 1 0克/立方厘米(較佳 0. 0 8克/立方厘米)可改良可撓性。發泡體之視密度下限設 定為0.01克/立方厘米(較佳0.02克/立方厘米)可確保獲 得絕佳防塵性質。 只要可滿足前述特性,發泡體之組成及泡胞結構並無特 殊限制。泡胞結構較佳為封閉泡胞結構或半封閉及半開放 泡胞結構(亦即一種泡胞結構具有封閉泡胞結構與開放泡 胞結構彼此混合,而其間比例並無特殊限制),此種泡胞結 構為特佳,發泡體有8 0 %或以上(進一步較佳為9 0 %或以上) 封閉泡胞結構部分。 於本發明之發泡防塵材料,製造發泡體之方法可為尋常 用於泡沫體模製之方法,例如物理方法及化學方法。於尋 常物理方法,低沸點液體(發泡劑)例如氣氟化碳化合物及 烴化合物分散於聚合物,然後加熱來氣化發泡劑而形成泡 胞。於尋常化學方法,泡胞之形成係使用添加至聚合物基 劑之化合物(發泡劑)經由加熱分解所產生之氣體形成泡 胞,因而獲得發泡體。考慮目前環保議題,以物理方法為 佳。 10 312ΧΡ/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 發泡體例如可經由下列方法製造。組成分包括天然橡膠 或合成橡膠(例如氣丁二烯橡膠-乙烯-丙烯三聚物)、硫化 劑、發泡劑及填充劑等成分於混練機(例如班伯力混合機及 加壓混練機)混練而獲得混練後之混合物。然後混練後之混 合物模製成片狀或桿狀,同時連續於壓延機、擠塑機、或 輸送帶洗鑄機混練,然後硫化且藉加熱發泡來獲得硫化發 泡體。 結果所得硫化發泡體可視需要而切割成預定形狀。一替 代具體例中,包括天然橡膠或合成橡膠、硫化劑、發泡劑 及填充劑等組成分係使用混合輥混練來獲得混練後組成 物,然後混練後組成物藉分批方法接受硫化、發泡及於模 具模製。 於本發明,較佳採用使用高壓惰性氣體作為發泡劑之方 法,如此可獲得有小型泡胞直徑及高泡胞密度之發泡體 。例如下述方法為較佳,熱塑聚合物於高壓以惰性氣體浸 潰,然後降低壓力來形成發泡體。 於前述物理發泡方法,可能出現可燃性、毒性、影響環 境例如破壞臭氧層的問題。於前述化學發泡方法,發泡氣 體殘餘物留在所得發泡體,如此由於污染有腐蝕性氣體以 及氣體内含有雜質,特別於用於需要低度污染性質之電子 裝置目的之氣體時,造成問題。 較佳以二氧化碳作為發泡劑,原因在於可獲得含較小量 雜質之潔淨發泡體。 曾經報告過有關於物理發泡法及化學發泡法難以提供細 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 11 1308162 小泡胞結構,特別為直徑3 0 0微米或以下之細小泡胞。 如前述,本發明之發泡體較佳係經由使用高壓惰性氣體 作為發泡劑之製造方法製造,較佳採用下述方法,熱塑聚 合物於高壓使用惰性氣體浸潰,然後降低壓力。當以惰性 氣體浸潰時,先前已經模製之未經發泡模製物件被浸潰以 惰性氣體;或另外,熔融熱塑聚合物於加壓態下被浸潰以 惰性氣體。 因此,特定製造方法之較佳範例包括一種方法,其中熱 塑聚合物於高壓下被浸潰以惰性氣體,以及然後減低壓 力;一種方法,其中由熱塑聚合物製成之未經發泡模製物 件於高壓下被浸潰以惰性氣體,以及然後減低壓力;以及 一種方法,其中炫融熱塑聚合物於加壓態被浸潰以惰性氣 體,以及該熱塑聚合物於減壓之同時被模製。 (熱塑聚合物) 本發明用作為發泡體(樹脂發泡體)材料之熱塑聚合物並 無特殊限制,只要其為具有熱塑性質且可被浸潰以高壓氣 體之聚合物即可。 熱塑聚合物例如包括烯烴聚合物,如低密度聚乙烯、中 密度聚乙烯、高密度聚乙烯、線性低密度聚乙烯、聚丙烯、 乙稀與丙稀共聚物、乙稀或丙稀與其它α-稀烴共聚物、以 及乙烯與烯屬不飽和單體(例如乙酸乙烯酯、丙烯酸、丙烯 酸酯、甲基丙烯酸、曱基丙烯酸酯、及乙烯醇)之共聚物; 苯乙烯聚合物如聚苯乙烯及丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物 (A B S樹脂);聚醯胺例如尼龍-6、尼龍-6 6及尼龍-1 2 ;聚 12 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125 ] 48 1308162 用於本發明之潤滑劑並無特殊限制,只要其對熱塑聚合 物流動性之改良有效果即可,潤滑劑例如包括烴潤滑劑如 液體石蠟、石蠟、微晶蠟及聚乙烯蠟;脂肪酸潤滑劑如硬 脂酸、山萸酸及1 2 -羥基硬脂酸;及酯潤滑劑例如硬脂酸 丁酯、硬脂酸一酸甘油酯、四硬脂酸季戊四醇酯、硬化蓖 麻油及硬脂酸硬脂S旨。 (發泡體之製造) 至於經由於高壓使用惰性氣體浸潰熱塑聚合物來製造發 泡體之製造方法,特別可進行下述方法,該方法含有一浸 潰步驟,於高壓以惰性氣體浸潰熱塑聚合物;一解除加壓 步驟,於浸潰步驟後降低壓力來發泡聚合物;以及視需要 而定,一加熱步驟,加熱而讓泡胞長大。此種情況下,事 先已經模製之未經發泡模製物件可以惰性氣體浸潰;或另 外,熔融熱塑聚合物於加熱態以惰性氣體浸潰,接著於降 低壓力之同時,進行模製。此等方法步驟可以批次法或連 續法進行。 根據批次法,發泡體可以下述方式製造。熱塑聚合物(如 聚烯烴樹脂或熱塑彈性體)使用擠塑機(如單軸擠塑機或雙 軸擠塑機)擠塑,來形成未經發泡之模製物件(例如用來形 成發泡體之樹脂片)。另外,熱塑聚合物(例如聚烯烴樹脂 或熱塑彈性體)經由使用設置有輥輪、凸輪混練機或班伯力 葉片之混練機均勻混合;該聚合物使用有加熱板之壓縮機 加壓模製來形成含有熱塑聚合物作為基劑樹脂之未經發泡 之模製物件(例如形成發泡體用之樹脂片)。 15 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 結果所得未經發泡之模製物件置於耐壓容器内,於其中 導入高壓惰性氣體,俾以該惰性氣體浸潰該未經發泡之模 製物件。 此種情況下,未經發泡之模製物件形狀並無特殊限制 ,而可為輥形、板形等任一種形狀。惰性氣體可被連續導 入或非連續導入。於成形物件充分浸潰以高壓惰性氣體後 ,解除加壓(通常係降低至大氣壓)而於基劑樹脂產生泡胞 核。泡胞核可藉靜置於室溫而長大,或可視需要藉加熱成 長。 加熱方法可為已知且常用方法,例如水浴、油浴、熱輥、 熱空氣烘箱、遠紅外線、近紅外線及微波。於泡胞成長後, 成形物件例如以冷水快速冷卻來固定其形狀。 根據連續製法,發泡體可以下述方式製造。熱塑聚合物 使用擠塑機(例如單軸擠塑機或雙軸擠塑機)混練之同時 ,惰性氣體以高壓注入該熱塑聚合物,於熱塑聚合物已經 充分以惰性氣體浸潰後,聚合物經擠塑以解除加壓(通常係 降至大氣壓)來同時執行發泡與模製,接著視需要藉加熱成 長泡胞。泡胞成長後,物件例如以冷水快速冷卻來固定其 形狀。 氣體浸潰步驟之壓力為6 Μ P a或以上(例如約6至1 0 0 MPa) >且較佳為8 Μ P a或以上(例如約8至1 0 0 M p a )。當 壓力低於6 MPa時,泡胞於發泡時顯著成長而產生過大泡 胞直徑,如此無法獲得於前述範圍小型平均泡胞直徑[平均 泡胞(氣泡)直徑]而損害防塵性質。 16 312XP/專利說明書(補件)/93 -11/93125148 1308162 原因在於使用低壓氣體之浸潰量,比較於高壓情況下氣 體浸潰量相對較小,泡胞核形成速率降低,如此形成之泡 胞核數目增加,因此每一泡胞的氣體量反而增加而極端擴 大泡胞直徑。 此外,於低於6 MPa之壓力範圍,浸潰壓力之些微改變 即可能造成泡胞直徑及泡胞密度的重大變化,如此難以控 制泡胞直徑及泡胞密度。 氣體浸潰步驟溫度係因使用之惰性氣體及熱塑聚合物類 別而異,氣體浸潰溫度可選自寬廣範圍。考慮操作性,溫 度約為1 0°C至3 5 0 °C 。例如,當例如片狀形式之未經發泡 模製物件以惰性氣體浸潰時,批次法之浸潰溫度為1 0 °C至 2 0 0 °C ,且較佳約 4 0 °C 至 2 0 0 °C 。 當以惰性氣體浸潰之熔融聚合物經擠塑來同時執行發泡 與模製之情況下,於連續方法之浸潰溫度通常約為6 0 °C至 3 5 0 °C。 當使用二氧化碳作為惰性氣體時,浸潰温度較佳為3 2 °C 或以上,且更佳為4 0 °C或以上,來維持超臨界態。 於解除加壓步驟之解除加壓速率並無特殊限制,較佳由 5至約3 0 0 Μ P a /秒來獲得均勾細小泡胞。加熱步驟之加熱 溫度例如為約4 0°C至2 5 0 °C ,且較佳約6 0°C至2 5 0 °C 。 平均泡胞直徑、壓縮至5 0 %時之抗排斥負載、及視密度 例如可藉下述方式調整,依據使用之惰性氣體及熱塑聚合 物或熱塑彈性體種類,適當設定氣體浸潰步驟之操作條件 (如溫度、壓力及時間),適當設定解除加壓步驟之操作條 17 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 件(如解除加壓速率、溫度及壓力),以及適當設定解除加 壓步驟後之加熱溫度來調整。 [發泡防塵材料] 根據本發明之發泡防塵材料(發泡密封劑)係經由具有前 述特殊特性之發泡體組成。發泡體可單純單獨組成發泡防 塵材料,來有效發揮功能;或發泡體可組合其它層或其它 基材(特別為感壓黏著層)設置於其一表面或二表面上來組 成發泡防塵材料。 例如以具有發泡體帶有感壓黏著層於其一表面或二表面 之發泡防塵材料為例,元件或零組件例如光學元件可固定 或初步固定至一被著體(adherend)。 如此,本發明之防塵材料較佳有一感壓黏著層於該組成 發泡防塵材料之發泡體之至少一表面上(亦即一表面或二 表面上)。 形成感壓黏著層之黏著劑(感壓黏著劑)並無特殊限制, 可適當選用已知感壓黏著劑,已知之感壓黏著劑例如包括 丙烯酸系感壓黏著劑、橡膠感壓黏著劑(如天然橡膠黏著劑 及合成膠黏著劑)、聚矽氧黏著劑、聚酯黏著劑、胺基甲酸 酯黏著劑、聚醯胺黏著劑、環氧樹脂黏著劑、乙烯基烷基 醚黏著劑及氟黏著劑。黏著劑可為熱熔黏著劑。 黏著劑可單獨使用或組合二者或二者以上使用。黏著劑 可為任一種形式,包括乳液黏著劑、溶劑黏著劑、寡聚物 黏著劑及固態黏著劑。 由防止被著體污染觀點,黏著劑較佳為丙烯酸系感壓黏 18 312XP/專利說明書(補件)/93-11 /93125148 1308162 著劑。 感壓黏著層可藉業界已知且尋常使用之方法形成,形成 方法例如包括塗覆黏著劑於規定部分或規定表面之方法 (塗覆方法);以及塗覆黏著劑於離型膜(例如離型襯層)上 來形成感壓黏著層,且將該感壓黏著層轉印至規定部分或 規定表面之方法(轉印方法)。 當形成感壓黏著層時,可採用業界已知之塗覆方法,例 如包括流動澆鑄法、輥塗法、反向塗覆法及刀塗法。 感壓黏著層通常厚約2微米至1 0 0微米,且較佳厚約1 0 微米至1 0 0微米。感壓黏著層較佳儘可能為薄,原因在於 較薄之感壓黏著層於其邊緣有較高防止灰塵附著的效果 。感壓黏著層可有單層結構或積層多層結構。 感壓黏著層可透過另一層(下層)而形成於發泡體上。下 層例如包括中間層及底塗層,以及基材層(特別為薄膜層) 及其它感壓黏著層。 當感壓黏著層只在發泡體之一表面(一側)時,可形成另 一層於另一表面上,例如包括另一種感壓黏著層及基材層。 本發明之發泡防塵材料之形狀及厚度並無特殊限制,而 可依據使用目的而適當選用。例如發泡防塵材料厚約0 . 5 毫米至5毫米,且較佳厚0. 8毫米至3毫米。 本發明之發泡防塵材料通常係加工成為對應於欲施用防 塵材料之裝置之各種形狀出售。 本發明之發泡防塵材料由於具有前述特性,因此具有極 為細小泡胞,當壓縮至5 0 %時之抗排斥負載低,且有高度 19 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 可撓性,以及具有低視密度。換言之,可維持小型泡胞直 徑同時發揮絕佳可撓性而可順形於微小餘隙,因此材料可 順形於微小餘隙'而同時維持主要需要之防塵能力。此外, 材料經過高度發泡而重量輕。 本發明之發泡防塵材料由於發泡體含有熱塑聚合物如熱 塑彈性體,故可撓性絕佳,可被清除而不會產生有害物質 或殘留污染物質,原因在於本發明之發泡防塵材料係使用 惰性氣體如二氧化碳氣體作為發泡劑之故,此點係與習知 物理發泡方法及化學發泡方法不同。 因此,本發明之發泡防塵材料可用作為防塵材料來安裝 (架設)各種元件及零組件(例如光學元件)於規定位置。特 別,即使於小型元件或零組件(例如小型光學元件)安裝於 具有薄型外廓之產品上時,仍然可適當使用該發泡防塵材 料。 可利用該發泡防塵材料安裝(架設)之光學元件例如包括 影像顯示元件(特別為小尺寸影像顯示元件)欲安裝於影像 顯示裝置例如液晶顯示器、電致發光顯示器及電漿顯示 器;以及攝影機及透鏡(特別為小尺寸攝影機及透鏡)欲固 定至行動通訊裝置如行動電話及行動資訊裝置。 發泡防塵材料也可用作為防止碳粉由碳粉匣洩漏至防塵 材料。可利用發泡防塵材料附著之碳粉匣例如影像形成裝 置如影印機及印表機使用的碳粉匣。 (具有光學元件之結構) 於根據本發明具有光學元件之結構(亦即有光學元件安 20 31MP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 裝於規定位置之結構),該光學元件係經由發泡防塵材料而 安裝於(架設於)規定位置。該等結構例如包括影像顯示裝 置例如液晶顯示器、電致發光顯示器及電漿顯示器(特別為 有小型影像顯示元件安裝於其上作為光學元件之影像顯示 裝置);以及行動通訊裝置例如有攝影機或透鏡(特別為小 尺寸攝影機及透鏡)安裝於其上之行動電話及行動資訊裝 置。該結構可製造成比習知產品有更薄型外廓之產品,厚 度及尺寸方面並無特殊限制。 (防塵結構) 根據本發明之防塵結構(亦即有光學元件安裝於規定位 置之防塵結構)具有光學元件經由發泡防塵材料安裝之結 構。防塵結構並無特殊限制,當安裝(架設)光學元件於規 定位置時,可使用使用發泡防塵材料之結構以外之其它結 構。 因此,光學元件以及安裝光學元件之規定位置並無特殊 限制,而可適當選用。光學元件例如包括前文已經列舉之 元件。 (實施例) 將參照下列實施例說明本發明之進一步細節,但本發明 並非視為囿限於此。 發泡體之平均泡胞直徑、壓縮至5 0 %時之抗排斥負載(亦 即壓縮至5 0 %時之斥力)及視密度可以下述方式獲得。 (平均泡胞直徑) 藉數位顯微鏡(V Η - 8 0 0 0,商品名,K e y e n c e公司製造)形 21 312χρ/專利說明書(補件)/93-11 /9312514 8 1308162 成發泡體之泡胞部分之放大影像,且使用影像分析軟體 (Win ROOF -商名品,M i t a n i公司製造)分析而得知平均泡 胞直徑(微米)。 (壓縮至5 0 %時之抗排斥負載) 壓縮至5 0 %時之抗排斥負載係根據J I S K 6 7 6 7定義之壓 縮硬度量測方法測定。特別,複數個切割成直徑3 0毫米圓 形之試驗檢品堆疊至約2 5毫米厚度,以壓縮速率1 0毫米/ 分鐘,壓縮疊加檢品至50%時之每單位面積(平方厘米)之 應力作為壓縮至5 0 %時之抗排斥負載(牛頓/平方厘米)。 (視密度) 發泡體使用40毫米x40毫米衝壓模壓出,如此壓出之檢 品量測其尺寸。也使用具有直徑2 0毫米之測量探針之 1 / 1 0 0撥盤錶來測量檢品厚度。由測量值算出發泡體體積。 發泡體重量係使用最小可測量重量為0 . 0 1克或以下之 天平測定。發泡體視密度(克/立方厘米)係由此等數值算 出。 (實施例1 ) 重量比為45份之聚丙烯,重量比為45份之聚烯烴彈性 體,重量比為10份之聚乙烯,重量比為10份之氫氧化鎂 及重量比為1 0份之碳於曰本製鋼所(J S W )製造之雙軸混練 機,於2 0 0 °C溫度混練,以及擠塑成為股線形式,然後以 水冷卻,且模製成為丸粒。丸粒放置於日本製鋼所製造之 單軸擠塑機,於擠塑機内於溫度2 2 0 °C下,以壓力1 3 Μ P a 注入二氧化碳氣體,於完全注入後將壓力降至12 MPa。 22 312XP/專利說明書(補件)/93-11 /93125148 1308162 以聚合物總量為基準,二氧化碳氣體係以5 %重量比之比 例注入。於充分飽和以二氧化碳氣體後,混合物冷卻至適 合發泡之溫度,然後由壓模擠塑來獲得發泡體。如此所得 發泡體具有平均泡胞直徑7 0微米,壓縮至5 0 %時之抗排斥 負載(亦即壓縮至5 0 %時之斥力)1 · 5牛頓/平方厘米,及視 密度0.05克/立方厘米。 (實施例2 ) 重量比為3 0份之聚丙烯,重量比為6 0份之聚烯烴彈性 體,重量比為1 0份之聚乙烯,重量比為1 0份之氫氧化鎂 及重量比為1 0份之碳於日本製鋼所製造之雙軸混練機,於 溫度2 0 0 °C混練,以及擠塑成為股線形式,然後以水冷卻, 且模製成為丸粒。丸粒放置於日本製鋼所製造之單軸擠塑 機,於擠塑機内於溫度220 °C下,以壓力13MPa注入二氧 化碳氣體,於完全注入後將壓力降至12 MPa。 以聚合物總量為基準,二氧化碳氣體係以5 %重量比之比 例注入。於充分飽和以二氧化碳氣體後,混合物冷卻至適 合發泡之溫度,然後由壓模擠塑來獲得發泡體。如此所得 發泡體具有平均泡胞直徑8 0微米,壓縮至5 0 %時之斥力1 . 0 牛頓/平方厘米,及視密度0.05克/立方厘米。 (實施例3 ) 重量比為6 0份之聚丙烯,重量比為3 0份之聚烯烴彈性 體,重量比為1 0份之聚乙烯,重量比為1 0份之氫氧化鎂, 重量比為1 0份之碳及重量比為1份之硬脂酸一酸甘油6旨於 曰本製鋼所製造之雙軸混練機,於溫度2 0 0 °C混練,以及 23 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 擠塑成為股線形式,然後以水冷卻,且模製成為丸粒。丸 粒放置於日本製鋼所製造之單軸擠塑機,於擠塑機内於溫 度220 °C下,以壓力13MPa注入二氧化碳氣體,於完全注 入後將壓力降至12 MPa。 以聚合物總量為基準,二氧化碳氣體係以5 %重量比之比 例注入。於充分飽和以二氧化碳氣體後,混合物冷卻至適 合發泡之溫度,然後由壓模擠塑而獲得發泡體。如此所得 發泡體具有平均泡胞直徑8 0微米,壓縮至5 0 %時之斥力2 . 4 牛頓/平方厘米,及視密度0.03克/立方厘米。 (比較例1 ) 使用主要含聚胺基甲酸酯之發泡體,具有平均泡胞直徑 7 0微米,壓縮至5 0 %時之斥力8牛頓/平方厘米,及視密度 0.4克/立方厘米。 (比較例2 ) 主要含有聚胺基曱酸酯之發泡體,其具有平均泡胞直徑 2 5 0微米,及視密度0 . 0 3克/立方厘米被壓縮至原先厚度 的5 0 %,然後熱模製而獲得模製物件。模製物件具有平均 泡胞直徑9 0微米,壓縮至5 0 %時之斥力5牛頓/平方厘米 ,及視密度0.06克/立方厘米。 (比較例3 ) 使用主要含有乙烯-丙烯-二烯橡膠(EPDM)之發泡體,具 有平均泡胞直徑4 0 0微米,壓縮至5 0 %時之斥力0 · 5牛頓/ 平方厘米,及視密度0.09克/立方厘米。 (評比) 24 312XP/專利說明書(補件)/93-11 /93125148 1308162 實施例1至3及比較例1至3所得發泡體藉下列測量壓 縮至5 0 %時之空氣滲透性及餘隙順形性之方法來評比當壓 縮至5 0 %時之空氣滲透性及餘隙順形性。評比結果顯示於 下表1。 (壓縮至5 0 %時之空氣滲透性之測量方法) 壓縮至5 0 %時之空氣滲透性(立方厘米/平方厘米/秒)係 使用i r a z i 1型空氣滲透性試驗機根據J I S L 1 0 6 9測定。 (餘隙順形性之測量方法) 發泡體置於圖1所示之機架上,目測觀察於上表面之丙 烯酸系樹脂板之變形狀態。特別,厚0 . 4毫米之隔件置於 厚2 0毫米之丙烯酸系樹脂板二端部上,具有厚度1毫米之 發泡體置於隔件間之中部上。 具有厚度1 0毫米之丙烯酸系樹脂板置於其上,由丙烯酸 系樹脂板(厚1 0毫米)之上表面該側施加負載,施加於對應 於二端部之隔件位置,因而壓縮發泡體。此時目測觀察上 表面是否出現丙烯酸系樹脂板變形。 25 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 表1 實施例 比車交例 1 2 3 1 2 3 視密度(克/立方厘米) 0.05 0. 05 0. 03 0.4 0.06 0.09 壓縮至50%之斥力(牛頓/平方厘米) 1.5 1.0 2.4 8 5 0.5 平均泡胞直徑(微米) 70 80 80 70 90 400 壓縮至50%時之空氣滲透性 (立方厘米/平方厘米/秒) 無法測定 無法測定 無法測定 無法測定 無法測定 0.04 餘隙順形性 普通 普通 普通 觀察到變形 觀察到變形 普通 26 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 實施例1及比較例1之發泡體藉無機氣體產生量分析、 有機氣體產生量分析、及使用溫水萃取之離子成分含量分 析來評比餘隙。結果顯示於下表2至表4。 (無機氣體產生量分析) 由檢品切出面積1 0平方厘米、厚約1毫米之試驗件,且 於燃燒裝置之檢品舟孤上稱重。試驗件使用燃燒裝置於 1 0 0 °C加熱1小時,產生之氣體收集於收集液體(純水)。收 集液體使用離子層析術(DX-500,商品名,Dionex公司製 造)接受定量分析。 (有機氣體產生量分析) 由檢品切出面積5 0平方厘米、厚約1毫米之試驗件,且 於小瓶容器内稱重。於氣密密封容器後,試驗件使用頂上 空間自動取樣器於1 0 0 °C加熱1小時,所產生的氣體於加 熱態使用氣相層析術(Η P 6 9 8 0,商品名,惠普公司製造)接 受定量分析。 (使用溫水萃取之離子成分含量分析) 由檢品切割面積5 0平方厘米、厚約1毫米之試驗件,於 聚曱基戊烯(Ρ Μ Ρ )樹脂形成之容器稱重。添加5 0毫升純水 至容器,在1 0 0 °C於乾燥器進行溫水萃取經歷2小時時間。 萃取物使用離子層析術(D X - 5 0 0,商品名,D i ο n e X公司製 造)接受定量分析。 27 312XP/專利說明書(補件)/93-11/93125148 1308162 (来一r 柃 Tt/-^φ )®w-iH^irf 赛彿 2崦 <1.6 c^> 卜· Λ § 寸 (>0 V 寸 οα V Λ〜 S V V 寸 <>α V 寸 <>J V 1 ^ o CO r—i V CO t—H V 1 t—4 LO 〇> 卜· CO 試驗件 實施例1 比較例1 嗟璁茛麥食绰鹚碱长嵴>餚坊:坊 (呆哟柃屮/·^崦)®w-iH^lrw 顰杷 co< 總量 CO CN1 ο 〇〇 其它成分 宕 〇 CO oo 甲苯 LO t—Η 呀 ai 試驗件 實施例1 比較例1 寸啭 t5 之 oo t—^ CT> CNI 8 寸 C<1 V 寸 (N1 V PQ ε V V 寸 C<1 V 呀 CO V is CO t—H V CO r~H V 1 r H CO 〇> uo oo 試驗件 實施例1 比較例1 οοζ
8 寸 Sls/I I-e6/£l_i^_fvs-*dxn e 1308162 由表1所示結果證實實施例1至3之發泡體壓縮至5 0 % 時不具有空氣滲透性,因而具有絕佳防塵性。實施例1至 3之發泡體即使被壓縮至0 . 4毫米厚度仍然具有良好餘隙 順形性,如此證實不會造成光學元件變形,可被安裝於介 於該光學元件與規定位置間具有微小餘隙之規定位置。 此外,證實發泡防塵材料適合用作為防塵材料來防止碳 粉由碳粉匣洩漏。 由表2至表4所示結果也證實,實施例1至3之發泡體 為潔淨發泡體,其雜質含量少。 雖然已經詳細參照特定具體例說明本發明,但熟諳技藝 人士顯然易知可未悖離本發明之範圍作出多項變化及修 改。 本案係基於曰本專利申請案第2003-298409號,申請曰 2003年8月22日,其全文内容以引用方式併入此處。 【圖式簡單說明】 圖1為示意剖面圖,顯示實施例中評比餘隙順形性之方 法。 29 312ΧΡ/專利說明書(補件)/93-11 /93125148
Claims (1)
13081 62---公告本
5請專利範圍 0CT - 8 2008 替換本 1 . 一種發泡防塵材料,其包含一由混合比2 0 / 8 0至8 0 / 2 0 之烯烴彈性體和選自由低密度聚乙烯、中密度聚乙烯、高 密度聚乙烯、線性低密度聚乙烯、聚丙烯、乙烯與丙烯共 聚物、乙烯或丙烯與其它α-烯烴共聚物、以及乙烯與烯屬 不飽和單體之共聚物所組成之群之烯烴聚合物的混合物所 形成之發泡體,其中該發泡體具有平均泡胞直徑為1 〇至 9 0微米,壓縮至5 0 %時之抗排斥負載為0 . 1至3 . 0牛頓/ 平方厘米,以及視密度為0.01至0.10克/立方厘米。 2. 如申請專利範圍第1項之發泡防塵材料,其中該發泡 體具有封閉泡胞結構或半封閉與半開放泡胞結構。 3. 如申請專利範圍第1項之發泡防塵材料,其中該材料 進一步包含一感壓黏著層於該發泡體之一表面或二表面 4. 如申請專利範圍第3項之發泡防塵材料,其中該感壓 黏著層係經由一薄膜層而形成於該發泡體上。 5. 如申請專利範圍第3項之發泡防塵材料,其中該感壓 黏著層包含丙烯酸系感壓黏著劑。 6. 如申請專利範圍第1至5項中任一項之發泡防塵材 料,其中該發泡體係經由一種方法獲得,該方法包含下列 步驟: 於高壓使用惰性氣體浸潰一熱塑聚合物;以及 降低該壓力。 7. 如申請專利範圍第6項之發泡防塵材料,其中該發泡 30
93125148 1308162 > 體可經由一種方法獲得,該方法包含下列步驟: 於高壓使用惰性氣體浸潰一包含熱塑聚合物之未經發 泡之模製物件;以及 降低該壓力。 8.如申請專利範圍第6項之發泡防塵材料,其中該發泡 體可經由一種方法獲得,該方法包含下列步驟: 於加壓狀態下,使用惰性氣體浸潰熔融熱塑性聚合物; 以及 模製該熱塑性聚合物之同時,降低壓力。 9 .如申請專利範圍第6項之發泡防塵材料,其中該方法 進一步包含於降低壓力後之加熱步驟。 1 0 .如申請專利範圍第6項之發泡防塵材料,其中該惰 性氣體為二氧化碳。 1 1 .如申請專利範圍第6項之發泡防塵材料,其中該惰 性氣體於浸潰時係處於超臨界態。 1 2 .如申請專利範圍第1至5項中任一項之發泡防塵材 料,其中該材料係於安裝光學元件於規定位置時使用。 1 3 . —種申請專利範圍第1至5項中任一項之發泡防塵 材料之用途,係用於一供安裝一光學元件於一規定位置的 防塵結構中。 1 4. 一種申請專利範圍第1至5項中任一項之發泡防塵 材料之用途,係用於一包含一光學元件安裝於一規定位置 之結構中。 1 5 .如申請專利範圍第1至5項中任一項之發泡防塵材 31 93125148 1308162 料,其中該材料係用於防止碳粉由碳粉匣洩漏。
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