TWI291616B - Memory module with memory devices of different capacity - Google Patents

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TWI291616B
TWI291616B TW094129446A TW94129446A TWI291616B TW I291616 B TWI291616 B TW I291616B TW 094129446 A TW094129446 A TW 094129446A TW 94129446 A TW94129446 A TW 94129446A TW I291616 B TWI291616 B TW I291616B
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Jeong-Hyeon Cho
Jung-Joon Lee
You-Keun Han
Byung-Se So
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Samsung Electronics Co Ltd
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    • GPHYSICS
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Description

12916^, 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種記憶體模組,且較特別的是,有 關於一種可提供額外功能,且具不同容量的記憶體元件的 記憶體模組。 【先前技術】 記憶體模組包括作為記憶體模組的其中一種橫排,且 一般用來儲存資料的記憶體元件。此外,記憶體元件的容 畺亦可視為纪憶體模組的一種額外功能。錯誤修正碼 (error-correcting c〇de,Ecc)原理即為這種額外功能的其中 /範例0 這種錯誤修正碼原理可偵測及自我修正在記憶體模組 讀取及寫入資料期間所產生的錯誤,藉以提供資料一致性 (data integrity)。特別是在如伺服器(servers)的大部分高階 系統中’都會使用具有錯誤修正碼原理的記憶體模組(一般 柄為錯决修正碼記憶體模組),以確保在資料傳輸期間,不 會產生錯誤。 、錯祆修正碼原理係使用奇偶校驗碼位元(parity bits)來 侦!ΐϊί錯誤。因此’錯誤修正碼記憶體模組需要使用 =意二2儲存奇偶校驗碼位元。目前,除了作為記憶 種橫排’且用來儲存-般資料的記憶體元 件之卜a#錯歸正碼記㈣模 些奇偶校驗熟摘餐記龍元件。 然而’在錯誤修正碼記憶體模組上安裝額外記憶體元 I2916M, 件,無可避免地會增加記憶體模 f :! rkagesize^ 加虎抽負载’導致訊號線的不平衡結構。 曰曰 -個二::習知的錯誤修正碼蝴^ :二的非:_正碼記憶體模組1〇〇 位元的儲存空間。因此,中用到的奇偶校驗碼 :能=影響封裝尺寸。然而,如圖/;= 組,上,確=元 法貫現錯誤修正碼記憶體模組1Η)。 了此將热 憶體= = 罐大的記憶體元件的記 誤的高容量記憶體iL二件來修正錯 因此,在早期產口&種問題會更加嚴重。 性兩方面必須達^妥^^歧南容量記憶體模組的競爭 產生口知憶體模組中所 體模組上,會安壯一袖田h 斤以’在錯誤修正碼記憶 憶體元件。在此^二儲存奇偶校驗碼位元的額外記 “4訊號的記憶體元件的個數成正比。如:資= I29__ 的整體負載相當小,則將不構成問題。 田然而,如果非資料訊號線的負載相當大,例如在使用 ,疊封裝(stack package)的高容量記憶體模組的範例中,非 貪料訊號線的負載會隨著安裝額外記憶體元件而增加。這 • 種非資料訊號線的負載增加,會嚴重限制記憶體模組的操 作頻率,而且可能造成無法確保高速和/或高容量錯誤修正 碼記憶體模組的正常運作。 凊參考圖2所示,習知的錯誤修正碼記憶體模組具有 九個記憶體7L件’且該些記憶體元件包含用來儲存錯誤修 正碼原理所用的奇偶校驗碼位元的額外記憶體元件(也就 是在圖2中以陰影表示的記憶體元件)。一般而言,資料訊 號會經由錯誤修正碼記憶體模組的接腳(pin),直接傳送與 ' 接收’以增加資料傳輸率(data transmission rates)。、 ~ 《而’作為如命令喊或位址職的非資料訊號線的 訊號線,會由所有的記憶體元件所共用。在大部分習知記 憶體模組中,非資料訊號線具有一種τ樹枝 φ 或樹狀(tree)結構(如圖2的粗黑線所示)。如果九個記憶體 ' 元件係如圖2所示,安裝在錯誤修正碼記憶體模組之:广 則因為非資料訊號線的不對稱結構,會造成在其上雙向傳 ’ 輸的非資料訊號的逼真度(fidelity)降低。 、 圖3及圖4係緣示在習知的錯誤修正碼記憶體模組中 的#資料訊號線的架構。圖3的錯誤修正碼記憶體模组係 為〆個單一横排(rank)的χ8錯誤修正碼記憶體模組,、立係 包含組成一個橫排(共有64個資料訊號)的八個χ8(也就是 129 卿_ 2位元輸人)記鐘獅’以及料儲存執行錯誤修正碼 的奇偶校驗碼位元的—個額外的χ8記憶體元件。該額 =Χ8記憶體it件係適用於使用χ8奇偶校驗碼位元的錯 〜正瑪功能,且總計為所有f料訊號的第8訊號。 :為資料訊號線包含作為具有點對點⑽加如⑽加, )4的奇偶校驗碼位元的訊號線,所以資料訊號線不 ^被記憶體元件的魅所影響。然而, ” T樹枝或樹狀結構。因此,除非記憶體模組具= 個數的記憶體元件’將很難為錢料訊號線達到 拓樸。 當訊號被傳送且被折回時,這種非資料訊號線的不對 稱結構’會更加惡化訊號的失真度,因此訊縣的逼直度 會?低。訊躲的逼真度降低對高軌龍而言了合 有嚴重的影響。 曰 請參考圖4所示,習知的錯誤修正碼記憶體模組包括 一個虛擬電容器(dummy capacitor),以用來修正非資料訊 號^這種顿稱結構。請參相4所示,該虛擬電容器 係安衣在非讀訊號線的—端,面對其上安裝用來儲存奇 偶校驗碼位S的額外記憶體騎的—端。該虛擬電容器具 有與額外記憶體元件相似的負載。 —然而:,然虛擬電容器可修正不對稱結構,但虛擬電 合為也會增加非資料喊線的貞載。此外,當訊號線上的 負載已經相當高時,將無法使用虛擬電容器。
【發明内容】 W 12916^4, 有鑑於此,本發明提供一種記憶體模組,該吃情_模 組不僅可避免訊號線的不對稱結構,並且可增加額纪 憶體容量。 、、σ 根據本發明一方面,記憶體模組係包括—個第一组 (first set)及一個第二組(second set)。其中,該第一組係由 至少-個第-類型(fim type)的記憶體元件所組成,而該第 二組係由至少一個容量較第一類型為高的第二類型 (second type)的記憶體元件所組成。此外,該 1-個額外容量部分,係用來儲存記憶體模_一侧外 功能的資訊,而且該第—及第二組的—個剩餘容量部分, 係形成記憶體模組的一個橫排(rank)。 在本發明一實施例中,太 件的蛐個數係為傜齡Γ在及弟二組中的記憶體元 :U數係為偶數。在此例中 的記憶體元件的非資料+ j弟及弟一、、且中 舰㈣w Γ 錄具有T樹枝結構,其中在τ 樹枝結構的母-邊都具有相再/Τ隹 在本發明另—實施例中體凡件。 憶體元件都係配置在記憶村在弟—及第二組中的記 第二組的剩餘容量部分: :、、且白、一邊之上,且該第-及 右太恭ΒΒ Η ^曰形成—單一橫排。 在本杳明另一貫施例中, 元件係配置在記憶體模 ^-及弟二組中的記憶體 的剩餘容量部分會形成兩個2社’且該第—及第二組 一在本發明另一實施例 〃 ^ 兀件係配置在記憶體模弟一及第二組中的記憶體 的剩餘容量部分會形成—邊之上,且該第一及第二組 早一橫排。 129 聊_ 在本發明另一實施例中,該額外容量部分係僅由★亥第 二組所組成。或者,該額外容量部分係僅由該第一組所組 成。 在本發明另一實施例中,第二類型的記憶體元件的密 度與位元架構係為第一類型的記憶體元件的兩倍。
在本發明另一實施例中,第一類型的記憶體元件與第 一類型的記憶體元件具有相同的位址映射規則(a(j办ess mapping)。或者,記憶體模組包括一個存在偵測器(以脱价 detector),用來儲存第一及第二類型的記憶體元件的不同 位址映射規則的相關資訊。 在本發明另一實施例中,在記憶體模組的第一邊上, 會配置一個先進記憶體緩衝元件(advanced mem〇iy buffer device) ’而且在面對該先進記憶體緩衝元件的記憶體模組 的第二邊上,不會配置任何記憶體元件。
^在本發明另一實施例中,在記憶體模組上,會配置一 個個別插入器(respective interp〇ser),用來支持每一個第二 類型的記憶體元件。 當用額外容量部分來儲存錯誤修正碼原理所用的奇 外時,本發明可提供特殊優點。然而,當用額 气日m:日儲存5己體模組任何其他類型額外功能的資 载:’本發财可用終_資龍號線上多方向的負 目的、特徵和優點能更明顯 並配合所附圖式,做詳細說 為讓本發明之上述和其他 易懂’下文特舉較佳實施例, 10 129剛师 明如下。 【實施方式】 圖5係繪示根據本發明一第一實施例的一個錯誤修正 碼記憶體模組500。該記憶體模組5〇〇係為一單—橫'彳^ χ8 的錯誤修正碼記憶體模組,且其中一橫排具有64條資料訊 號線。 、 该錯决修正碼§己憶體模組5 00包括八個記憶體元件 5(Η、502、503、504、505、506、507、及 508。在八個記 憶體元件501到508之中,從501到507的七個記憶體元 件中的每一個記憶體元件都是密度為1χ〇倍)的χ8(亦即具 有八條輸入訊號線)記憶體元件,且剩餘的一個記憶體元件 508係為密度為2χ(2倍)的χΐ6(亦即具有16條輸入訊號線) 記憶體元件。因此,其中一記憶體元件5〇8的資料容量及 位元結構係為其他七個記憶體元件5〇1到5〇7的雨倍。 其中-記憶體元件508係用來當成—個χ8記憶體元 =以形成記憶體餘的—橫排,而且也被用來當成 2錯誤修正碼魏的相校驗純 8記 體元件。記龍元件的-第—部 正碼功能所需資訊的一個額外容 思脰7L件501至〇07與記憶體元件5〇8的 分包 舌形^記憶體模組5 0 0的-橫排的—剩餘容量部分。 八乂而,並非一定要將該χ 1 6記情择 杰 “咖記憶體元件當成兩_錢排的齡隱體元 件使用’而且亦可用記憶體元件501到507的其中之 儲存錯誤修正碼功能所用的奇偶校驗碼位元。 來 在圖5中,包含用於奇偶校驗碼位元訊號的資料 ^與非賁料訊號線的架構方式,係與習知記憶 ^ 似。拖t «V 。奴傷組相 i σ之’資料訊號線具有點對點(P2P)結構,且非資π 机號線具有多點式(multi-dmp)的Τ樹枝結構(如圖5貝料 黑線所示)。 中的粗 在圖5中,只有點對點的訊號線的個數,〜 ^線的個數會增加,且其相#容易容納在記 :。此外,隨著記憶體元件508的容量增加,相較=、、且 碼⑽體模組而言’不會再有其他記憶體元 : =正碼記憶體模組500之上。因此’這種方法不ς 、,里W加錯誤修正碼記憶體模組500的封裝尺寸,且二 料訊號線不會有不對稱負載產生。 貢 明,考圖5所示,非資料訊號線係形成在T樹枝結構 中丄且其係由位於中心的記憶體元件5〇4及5〇5之間^ — 出來。因此’四個記憶體元件係配置在非資料訊號 t枝點的左邊及右邊之上,藉此保持左右對稱,以確保 非資料訊號線的訊號逼真度。 二圖6係繪示一個根據本發明一第二實施例的錯誤修正 馬。己!^肢模組600。記憶體模組6〇〇係為一雙橫排(亦即具 有兩橫&排)錯誤修正碼記憶體模組,且其中每一橫排都具有 64 1W貝料汛唬線。錯誤修正碼記憶體模組包括從6〇ι 到608與從611到618的16個記憶體元件。 12 129 在從601到608與從611到618的16個記憶體元件 > «601到607與從611到617的14個記憶體元件中的 了 —個記憶體元件都是密度為1χ(1倍)的χ8記憶體元件, ^剩餘的兩個記憶體元件㈣及618係為密度為2χ(2倍) 二16 1己诫體元件。因此’每一個此兩記憶體元件608及 έ…的資料谷羞及位元結構係為每一個其他從6〇1到607 鲟從611到617的14個記憶體元件的兩倍。 其中,記憶體元件608係用來當成一個χ8記憶體元 =’、以形成記憶體模組600的一第一橫排,而且也被用來 虽成儲存錯誤修正碼功能所用的奇偶校驗碼位元的一個 砧^隱體元件。f己憶體元件6〇8白勺一部分係為用來健存執 行紅為修正碼功能所需資訊的一個額外容量部分。其他的 七個記憶體元件601到607與記憶體元件608的另一部分 =括形成圮憶體模組6〇〇的一第一橫排的一剩餘容量部 /記憶體元件018係用來當成一個x8記憶體元件, 體模組⑼〇的一第二橫排,而且也被用來當成儲 、曰决正碼功能所用的奇偶校驗碼位元的一個―己 ^兀件。記憶體元件618的一部分係為用來儲存執行錯ς ^正碼功能所需資訊的一個額外容量部分。其他的七 憶體元件611到617與記憶體元件618的另一部分包/5己 成記憶體模組600的一第二橫排的一剩餘容量部舌形 在本發明另—實施例中,該χ16位元記憶體元件 可§成兩個形成第一橫排的χ8記憶體元件使用,而且w 13 129lm,
60 7的其他x 8記憶體元件的其中之一亦可用來儲存 二》正碼功能所用的奇偶校驗碼位元。此 X —亦可田卡 到的其他Μ記憶體元件的其中 、:存錯誤修正碼功能所用的奇偶校驗碼:元。 碼記憶體模二選顺 中之一。 心面及月面上的弟-及第二橫排的其 碼記個根ί本發明—第三實施例的錯誤修正 錯誤修正碼記師模且係為一單一橫排的Χ4 線中其中一橫排具有64條資料訊號 到二二6 己憶體模組7〇0包括從7〇1到7〇8與從711 J 718的16個記憶體元件。 中,7〇8與從711到718的16個記憶體元件 到717的14個記憶體元件中的 豆兀都是始、度為lxU倍)的x4記憶體元件, ==記憶1件708及718係為密度為冲倍) 备X/己思脰兀件。因此,記憶體元件708及718的一部分 二=3#錯誤修正碼功能所用的奇偶校驗碼位元的 合,邛分。其他的記憶體元件701到707與從711 情件708及718的該些部分會包括形_ U體板組的―橫排勘的一剩餘容量部分。 中的ί 明《另:實施例中,錯誤修正碼記憶體模組7〇0 、X位兀記憶體元件708及718可當成四個形成 14 12916挑 »亥松排的x4 s己憶體元件使用。在此例中,從期到術 到717的其他x4記憶體元件的其中兩個記憶 月豆元件,可提供錯誤修正碼功能。 圖8係緣示-個根據本發明一第四實施例的錯誤修正 碼§己憶體,組_。記憶體模組謂係為雙橫排的Μ錯誤 = 己且其中-橫排具有64條資料訊號線。 曰块知碼記憶體模組8〇〇包括從801到808、811到818、 821到828、及831到838的32個記憶體元件。 在從謝到808、811到⑽、821到828、及831到 838的32個記憶體元件中,從8〇1到8〇7、8ιι到爪、奶 到827、及831到837的28個記憶體元件中的每-個記悻 體兀^都是密度為1X(1倍)的χ4記憶體元件,且剩餘的四 個記憶體兀件808、m、828及Mg係為密度為叫 的x8記憶體元件。因此’每一個剩餘的四個記憶體元件 、818、828及838的資料容量及位元結構係為每-個 其他從謝到8G7、811到奶、821到827、及83 的28個記憶體元件的兩倍。 每-個該些χ8位元記憶體元件_及818係各自用 -個x4記憶體兀件’形成記憶體模組_的 排 並且各自使用-個X4記憶體元件’來健存錯誤修正碼 所需的奇偶校驗碼位元。部分的記憶體元件親及818 2 形成-侧絲量部分魏行錯郷 ^ 的資訊。其他記憶體元件謝到807及811到8ΐ7 分的記憶體兀件808及818會包括形成記憶體模組_的 15 12916 氣 第—橫排的一個剩餘容量部分。 每一個該些X8位元記憶體 —個X4記憶體元件,形成記情體掇έ β 838係各自用 亚且各自使用—個χ4 、、、且800的一第二橫排, 所需的奇偶校驗碼位元。部八、二人储存錯誤修正碼功能 形成一個額外容量部分,以:的记憶體元件828及838會 的資訊。其他記憶體元件8^1,執行錯誤修正碼功能所需 分的記憶體元件828及838會3 827及83丨到837以及部 弟二橫排的一個剩餘容量部二乙括形成冗憶體模鈕800的 在本發明另一實施例中,兮 及818中的每一個位元記憶體^兩個位元記憶體元件808 元件使用,以形成第一橫排。^件都會當成兩個x4記憶體 到807及811到817中的兩個^例^ ’x4記憶體元件801 正碼功能。此外,在背面的兩個己匕體元件會提供錯誤修 中的每一個記憶體元件也會卷二8纪憶體元件828及838 用,以形成第二橫排。在此例^,、兩個X4>記憶體元件使 及831到837中的兩個χ4記怜邮糾心隐體元件821到827 能。 ^元件會提供錯誤修正碼功 在圖8中,一個橫排選摆 碼記憶體模組800的前面及背=㈢遠擇存取在錯誤修正 中之一。 上的第-及第二橫排的其 在上述貫施例中’當該種Ip #娜—/ 射規則時,如上述具不同資料容係用不同位址映 件共用非資料訊號線之方法,可的記憶體元 129 __ 或80Γ)本發^ 一貫施例中,在記憶體模組500、6〇〇、700、 則。在f的每—個記憶體元件,係具有相_位址映射規 兴例列中’共用相同的非資料訊號線並不會產生問題。 射颊目,ι: ’因為512MB的Xl6記憶體元件所用的位址映 的糸與256MB的X8記憶.體元件相同,所以將512MB 伊$代己匕版元件與256MB的砧記憶體元件用在相同的 1正碼記憶體模組中,並不會產生任何問題。
在本發明另一實施例中,第二類型記憶體元件的容量 γ構係為第-_記憶體元件的兩倍,且 的記憶體科係使用不同的位址映射規則。在此例 共用種不同類型的記憶體元件需要使用一種機構,以 ί 5121^1料訊號線。舉例而言,膽的—記憶體元件 的Χ_8錢體元件係使用不同的位址映射規則。 體映二本發明—實施例,使用不同記憶 老^ 心體件的錯誤修正碼記憶體模組_。請參
杜:所不錯為修正碼記憶體模組900會將與記憶體元 址映射規則相關的資料,儲存在-個存在债測器901 丨士 並列存在债測器(parallel-presence detect,PPD) 或二串列存在偵測為(serial_presence detect,SpD),以確認 錯誤修正碼記憶體模組的結構是否正確。 #換言之,存在偵測器901會儲存確認錯誤修正碼記憶 ,模組900所需的資訊,並且將該資訊傳送至電腦中的記 ,體控制器。接下來,記憶體控制II會根據記憶體元件的 最大列位址(row address)個數,傳送與錯誤修正碼記憶體 17 1291^4 模組900的記憶體元件相關的資訊。具最大列位址個數的 其中一記憶體元件,會從記憶體控制器接收所有訊號,且 具較低列位址個數的記憶體元件只會接收較低個數的列位 址訊號。 此外,當傳送一個讀取/寫入命令時,記憶體控制器會 • 根據記憶體凡件的最大行位址(column address)個數,傳送 _資訊。具最大行位址錄的其中-記憶體元件,會從 記憶體控制器接收所有訊號,且具較低行位址個數的記憶 • 體元件只會接收較低個數的行位址訊號。 換口之,5己丨思體控制器會使用用來確認包含在錯誤修 正碼記憶體模組900中的記憶體元件所需的資訊,根據最 大行位址個數與最大列位址個數,輸入一命令訊號。因此, - 可輕易解決具有不同記憶體映射的記憶體元件之間公用非 資料訊號線的問題。 在具有先進記憶體緩衝器(advanced memory buffei>, AMB)的動態隨機存取記憶體(DRAM)中,AMB元件會安 • *在記憶體模_巾央,因此會佔用記憶體元件的空。 • AMB元件係安裝在記憶體模組的一個第一面(side)上,而 且其他記憶^件係安裝在記憶體模組面朝AMB元件另 -方的一個第二面上。’然而,因為AMB元件的祕_ 木構係與其他5己憶體元件不同,所以很難將記憶體元件安 裝在面朝AMB元件另一方的另一面上。 換口之應该將AMB元件的ball-out架構設計成可 符ό »己Li元件的ball_〇ut架構。因此,需要根據記憶體 18 129 m 元件的設計,更動AMB元件的設計。 在本發明的一個記憶體模組的實施例中,係使用一種 其容量及位元架構係為其他記憶體元件兩倍的記憶體元 件,而不需安裝面朝AMB元件另一方的記憶體元件。因 此,可輕易解決記憶體元件與AMB元件具有不同ball-out 設計的問題。 圖10A係繪示一個根據本發明一實施例的一個雙橫 排x8 AMB錯誤修正碼記憶體模組1000。共使用18個x8 記憶體元件,形成一個雙橫排x8 AMB錯誤修正碼記憶體 模組1000。其中包括作為正常功能使用的16個x8記憶體 元件,以及提供錯誤修正碼功能的兩個x8記憶體元件。 AMB錯誤修正碼記憶體模組1000係包括8個x8記憶體元 件1001到1008、位於正面的一個AMB緩衝器1030、以 及位於背面的10個x8記憶體元件1011到1020。 AMB元件1030係安裝在記憶體模組1000的正面, 且另兩個記憶體元件1015及1016係安裝在記憶體模組面 朝AMB元件1030另一方的背面上。因此,兩個記憶體元 件1015及1016的ball_out設計必須與AMB元件相似。 圖10B係繪示一個根據本發明另一實施例的一個雙 橫排x8 AMB錯誤修正碼記憶體模組1100。AMB錯誤修 正碼記憶體模組1100包括7個密度為lx的x8位元記憶體 元件1101到1107、一個密度為2x的xl6位元記憶體元件 1108、以及位於記憶體模組1100正面上的記憶體元件1104 及1105之間的一個AMB元件1130。AMB錯誤修正碼記 19 I2916〗14fi 憶體模組1100更加包括7個密度為lx的x8位元記憶體元 件1Π1到1117、以及一個位於記憶體模組n⑻背面密度 為2x的xl6位元記憶體元件1118。 一與圖1〇Α所示的AMB錯誤修正碼記憶體模組1〇〇〇 不同的是。,在朝AMB元件1〇3〇另一方的圖1〇B所示的 AMB錯誤修正碼記憶體模組11〇〇的背面上,並沒有安裝 。己脰元件因此,s己憶體元件的ball-out設計並不需與 AMB兀件1130相同。此外,AMB元件113〇的b心捕 設計也不需考量記憶體元件的ball-out設計。 請麥考圖10B所示,記憶體元件11〇8係當成一個χ8 件使用’以形成編錯誤修正碼記憶體模組 处的* —個橫排,以及用來儲存提供錯誤修正碼功 ㈣一個χ8記憶體元件。此外,記憶體 件係§成一個χ8記憶體元件使 錯誤修正碼記憶體模組1100背 "成 儲存提供錯郷正碼魏㈣排,以及用來 憶體元件。^力此的可偶权驗碼位元的-個χ8記 在本發明另一實施例中, ㈣記憶體元件制,以形成===可當成兩 組1100正面上的橫排。在此錯^正知憶體模 1107的其中之一會提供錯 χ屺fe體兀件11〇1到 錯誤修正碼記憶體模組成AMB 記憶體元件1111到1117的复 的杈排。在此例中,χδ /、之—會提供錯誤修正碼功 20 I291_pin
具有祕於其他記憶體元件容量綠元結構的 胆讀的體積’可能會大於其他記憶體元件。因此= =較大的記憶體元件可能紐絲在較小的記憶體元件^
圖11係緣示-個根據本發明一實施例, ==;圖尺=的=::的錯誤㈣ 的“上,裝7個二==== ,到m7,以及體積大於記憶體元件12_ ,密度為2X❺χ16位元記憶體元件12〇8。為製造這種錯 =修正碼㊉憶體肋,必須在錯誤修正碼記憶體模組上 裝xl6記憶體元件1208的部分,安裝一個與χ8記憶體 件1201到1207尺寸相同的插入器mop。
』接下來,可在插入器1209上,再安裝體積大於其他 纪憶體兀件1201到1207的X16記憶體元件12〇8。在此例 中,插入器1209係安裝在高於記憶體元件12〇1到12〇7 的位置γ因此,即使xl6記憶體元件12〇8的尺寸大於其他 1憶體兀件1201到1207,也可將其安裝在錯誤修正碼記 fe體杈組之上,而不需在錯誤修正碼記憶體模組上,佔用 較記憶體元件1201到1207還大的面積。 一其中,密度為其他記憶體元件12〇1到12〇7兩倍的χΐ6 位兀記憶體元件12〇8,可當成形成一橫排的一個xS記憶 月豆元件以及用來^供錯誤修正碼功能的一個以記憶體元 21 129 賴_ 件。在本發明另一實施例中,χ】6記 形成橫排的兩個χ8記憶體元件,且^件〗208可當成 到1207的其中之一,可提供錯誤修正X 5己,體元件1201 本發明可有效解決在錯誤修正砲。 所有記憶體巾,因記憶體元件她;模組與其他 線負载增加的問題。在本發明中,造成的訊號 饮度及位元架構的記憶體元件,以据夕個具較咼 用來儲存作為軸—橫排 ,體==卜容量部分, 所需的資訊。 匕。耻杈組的一額外功能 雖然本發明上述說明係針對如錯誤 外功能。然本發日月亦可適用於記憶體的=力-的額 的額外功能。針對這種額外 播士的/、他任何類型 罐避免增加封裝尺寸,避免b增力: :::記憶體模 S成訊號線非對稱結構,而有效心^ 當可做些許之更;L;不 把圍田視伽之巾請專利範圍所界定者鱗。 ’、 【圖式簡單說明】 圖1係繪示—個習知的錯誤修正碼記憶體模組及 習知的非錯誤修正碼記憶體模組的上視0。 產生的錯誤修正碼記憶體模組中所 22 1291 狐 圖3,繪示—個在習知的錯誤修正碼記憶體模組中的 不平衡非資料訊號線的方塊圖。 圖4係緣示—個在習知的錯誤修正碼記憶體模組中, 使用:虛擬電容H的平衡非資料訊號線的方塊圖。 一圖/係繪示—個根據本發明—第—實施例,具有 非貢料訊號綠的錯誤修正碼記憶體模組。 、 具有平衡 具有平衡 具有平衡 圖6係1會示—個根據本發明-第二實施例, 非資料訊號線的錯誤修正碼記憶體模乡且。 圖7係綠示—個根據本發明一第三實施例, 非貢料訊號線的錯誤修正碼記憶體模組。 圖8鱗示—個根據本發明-第四實施例, 非貢料訊錢的錯誤修正碼記憶體模組。 圖9係繪示一個根據本發明一者 體映射的記憶體元件的^£4 <貝1 ’,、有不同記憶 什的錯块修正碼記憶體模組。 ΒΠΟΑ係~示_個根據本發明 一 AMB元件對面的爷愔駚〜从l 川,、百女衣在 體牛的ΑΜΒ記憶體模組。 圖1〇Β係、'冒不—個根據本發明一實祐彳丨, 在- ΑΜΒ元件對面柄,_二' Λ &例’不具有安震 圄11俜絡干如 牛的ΑΜΒ記憶體模組。 圖11你、、日不一個根據 裴在其上的-較大_开::4月’其中包括安 體模組。 k讀的插4的錯歸正碼記憶 在此所參考的奢圖並非以正確尺寸 說明之用。在以上各繪圖中 θ /、且係僅作為 結構和/或功能馳件。 料號補代表具相似 23 129喝 【主要元件符號說明】 100 :非錯誤修正碼記憶體模組 110 ·•錯誤修正碼記憶體模組 m:記憶體元件 500 :錯誤修正碼記憶體模組 501〜508 、 601〜608 、 611〜618 、 701〜708 、 711〜718 、 801〜808 、 811〜818 、 821〜828 、 831〜838 、 1001〜1008 、 1011 〜1020、1101 〜1108、1111 〜1118、1201 〜1208 :記憶體 元件 900 :錯誤修正碼記憶體模組 901 :存在偵測器 1000 :雙橫排x8 AMB錯誤修正碼記憶體模組 1030 : AMB緩衝器 1110 :雙橫排x8 AMB錯誤修正碼記憶體模組 1209 :插入器 24

Claims (1)

1291· 十、申請專利範圍·· 】·一種記憶體模組,包括·· 一第一組記憶體元件,其係由至 元件所組成;以及 ^ ^ -第二組記憶體元件,其係 體元件為高的至少— Ml & 弟㈣5己仏 甘=⑽主夕第―類型記憶體s件所組成; 八=^亥第—及該第二組記髓元件的—額外容量部 刀’Πΐ儲存該記憶體模組的一額外功能所需的資訊; 八亥弟一及該第二組記憶體元件的-剰餘容量部 刀,會形成該記憶體模組的一橫排。 2一如申請專利範圍第i項所述之記憶體模組,其中在 1 一及該第二組記憶體元件中的該些記憶體 個數係為一偶數。 ^ 、,心 ^如^料利翻第2項所狀記憶雜組,其中連 =該第-及該第二組記憶體元件的一非資料訊號線,星 ,一種Τ樹枝結構,且該τ樹枝結構的每一邊具有相個 數的記憶體元件。 ^ 4·如申請專利範圍第1項所述之記憶體模組,其中該 f一及該第二組記憶體元件,係全配置在該記憶體模組= 面之上,且该弟一及該第二組記憶體元件的該剩餘容旦 部分,會形成一單一橫排。 ’、里 ^ 5·如申請專利範圍第1項所述之記憶體模組,其中該 第及5亥第二組記憶體元件,係全配置在該記憶體模組的 兩面之上,且該第一及該第二組記憶體元件的該剩餘容量 25 I29im, 部分,會形成一雙橫排。 第專利範圍第1項所述之記憶體模組,其中該 兩面之Ϊ第^記憶體砂,係全配置在該記憶體模組^ 部分,會形;!二:第二組記憶體元件的該軸 額外ί 1請專職圍第1销狀記憶雜組,其中該 頟外”部分健由該第二組記憶體元件提供。 wtt申請專利範圍帛1項所述之記憶體模組,其中該 名、谷!部分係僅由該第一組記憶體元件提供。 …一 9·如中凊專利範圍第1項所述之記憶體模組,其中該 ^類型記憶體元件的密度係為該第—麵記憶體元件的 兩倍。 # 10·如申請專利範圍第9項所述之記憶麵組,其中該 =-類型記憶體元件的位元架構係為該第—類型記憶 件的兩倍。 Μ 11·如申請專利範圍帛J項所狀記憶體模組,其中該 弟-類型記憶體元件與該第二_的記憶體元件具有相同 的位址映射規則。 12·如申请專利範圍第丨項所述之記憶體模組,更加包 括: —-存在偵測ϋ,用來儲存與該第_及該第二組記憶體 元件的該些不同位址映射規則相關的資訊。 13·如申請專利範圍第!項所述之記憶體模組,更加包 括: 26 I291^44fi 一先進記憶體緩衝器(AMB)元件,其係配置在該記憶 體模組的一第一面上,且在面對該先進記憶體緩衝器元件 另一面的該記憶體模組的一第二面上,並未配置任何記憶 體元件。 14. 如申請專利範圍第1項所述之記憶體模組’更加包 才舌· 一插入器,其係配置在該記憶體模組上,用來支撐每 一該第二類型記憶體模組。 15. 如申請專利範圍第1項所述之記憶體模組,其中該 額外容量部分係用來儲存執行一錯誤修正碼(ECC)原理所 需的多數個奇偶校驗碼位元。 16. —種記憶體模組,包括: 一第一組記憶體元件,其係由至少一第一類型記憶體 元件所組成; 一第二組記憶體元件,其係由至少一第二類型記憶體 元件所組成; 其中,該第一及該第二組記憶體元件的一額外容量部 分,係用來儲存該記憶體模組的一額外功能所需的資訊; 以及 在該第一及該第二組記憶體元件中連接到一非資料訊 號線的該些記憶體元件的總個數為偶數。 17. 如申請專利範圍第16項所述之記憶體模組,其中 連接到該第一及該第二組記憶體元件的該非資料訊號線, 具有一種T樹枝結構,且該T樹枝結構的每一邊具有相同 27 129 聊_ 個數的記憶體元件。 18. 如申請專利範圍第16項所述之記憶體模組,其中 該額外容量部分係用來儲存執行一錯誤修正碼(E C C)原理 所需的多數個奇偶校驗碼位元。 19. 一種記憶體模組,包括: 一第一組記憶體元件,其係由至少一第一類型記憶體 元件所組成; 一第二組記憶體元件,其係由容量較該第一類型記憶 體元件為高的至少一第二類型記憶體元件所組成;以及 一先進記憶體緩衝器(AMB)元件,其係配置在該記憶 體模組的一第一面上,且在面對該先進記憶體緩衝器元件 另一面的該記憶體模組的一第二面上,並未配置該第一及 該第二組記憶體元件中的任何記憶體元件。 28 12916^ 七、 指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為:圖(5)。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明: 500 :錯誤修正碼記憶體模組 501〜508 :記憶體元件 八、 本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵 的化學式: 無
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