TWI284393B - Capacitor-related systems for addressing package/motherboard resonance - Google Patents

Capacitor-related systems for addressing package/motherboard resonance Download PDF

Info

Publication number
TWI284393B
TWI284393B TW093116200A TW93116200A TWI284393B TW I284393 B TWI284393 B TW I284393B TW 093116200 A TW093116200 A TW 093116200A TW 93116200 A TW93116200 A TW 93116200A TW I284393 B TWI284393 B TW I284393B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
terminal
conductive
electrically connected
conductive surface
capacitor
Prior art date
Application number
TW093116200A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200516728A (en
Inventor
Jennifer Hester
Yuan-Liang Li
Michael Desmith
David Figueroa
Dong Zhong
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of TW200516728A publication Critical patent/TW200516728A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI284393B publication Critical patent/TWI284393B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H05K1/112Pads for surface mounting, e.g. lay-out directly combined with via connections
    • H05K1/114Pad being close to via, but not surrounding the via
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/38Multiple capacitors, i.e. structural combinations of fixed capacitors
    • H01G4/385Single unit multiple capacitors, e.g. dual capacitor in one coil
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49838Geometry or layout
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/642Capacitive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/023Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference using auxiliary mounted passive components or auxiliary substances
    • H05K1/0231Capacitors or dielectric substances
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16227Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01021Scandium [Sc]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15312Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19106Disposition of discrete passive components in a mirrored arrangement on two different side of a common die mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09218Conductive traces
    • H05K2201/09263Meander
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/0929Conductive planes
    • H05K2201/09345Power and ground in the same plane; Power planes for two voltages in one plane
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09654Shape and layout details of conductors covering at least two types of conductors provided for in H05K2201/09218 - H05K2201/095
    • H05K2201/0979Redundant conductors or connections, i.e. more than one current path between two points
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10636Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Description

1284393 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明提供積體電路構裝,其對積體電路提供實體保 護。該等構裝也對積體電路提供熱及電氣管理。更明確地 說,一積體電路構裝可以消散由積體電路所產生之熱並電 氣連接該積體電路與外部電路。 【先前技術】 有關於此項目,一傳統構裝可以提供電源及接地面, 及整合電容,用以分配及發送電信號於一積體電路與一主 機板之間。這些信號之傳送經常造成在主機板與構裝間之 不想要之諧振,這會負面影響積體電路的效能。 【發明內容及實施方式】 第1圖爲依據部份實施例之系統1 〇〇之側視圖。系統 100包含積體電路200、構裝3 00、主機板400及記憶體 5 〇 〇。積體電路可以使用任意適當基材材料及製造技術加 以製造,並可以提供任意功能給系統1 〇〇。於部份實施例 中,積體電路200爲一微處理機晶片,具有一矽基材。 構裝3 00可以包含任一之陶瓷、有機及/或其他適當 材料。構裝3 00係爲被控制之崩潰晶片連接(C4 )焊接凸 塊2 5 0所連接至電路200。因此,構裝3 0 0係包含與C4 焊接凸塊相容之介面。於部份實施例中,構裝300係經由 打線連接至電路200。電容器3]0至34〇被安裝在該構裝 1284393 (2) 300上。電容器310至34〇之端子可以使用表 安裝在構裝3 0 0之電源及接地墊上。依據部份 源及接地墊將詳細說明如下。 接腳3 5 0將構裝3 00連接至主機板400。 ,構裝3 0 0及接腳3 5 0可以包含一倒裝接腳栅 與主機板400之插座(未示出)作成一介面。 施例,構裝3 0 0爲可以表面黏著基材’例如有 陣列基材,其可以直接安裝在主機板4 0 0或安 型內插件,其配合該主機板400之插座。除了 構裝系統也可以用以配合部份實施例中。 積體電路2 0 0可以與記憶體5 0 0經由構裝 板40 0相通訊。記憶體5 00可以包含任意類型 資料之記憶體,例如單資料速率隨機存取記憶 料率隨機存取記憶體、或一可程式唯讀記憶體 第2圖爲依據部份實施例之電容墊設計的 2圖顯示構裝300之電源面302。電源面302 承載一電源電壓至電路200。因此,任一 C4 連接至電源源,以接收電源電壓。 電源面3 02可以包含電源墊3 04。電源墊 收例如電容之電路元件之一端子。電源墊3 04 包含一區域之電源面3 02及/或可以巳含建立 之材料,以完成該端子的收納。 接地墊3 06可以接收電件之一第二端子。 ,接地墊3 0 6係電氣連接至構裝3 0 0之接地面 面黏著技術 實施例之電 於此方面中 格陣列,以 依據部份實 機基板柵格 裝在一接腳 前述以外之 3 0 0及主機 之用以儲存 體、雙倍資 〇 俯視圖。第 可以設計以 錫球將可以 3 0 4可以接 可以簡單地 在該區域上 可以如下述 。因此,接 1284393 (4) 3 Ο 6實質同一平面,並與接地墊3 Ο 6分開,並經由軌跡 3〇9電氣連接至接地墊306。第4圖設計同時也包含一導 孔(未示出),以電氣連接導孔區308至一接地面(未示 出)。 第5 Α圖包含依據部份實施例之裝置的代表圖。示於 第5圖爲裝置600之兩代表圖。裝置600可以包含一或多 數依據部份實施例之個別電容器。電容器3 1 0至3 4 0之任 一個均包含依據部份實施例之裝置600。於此方面中,任 一下述裝置可以類似於電容器310至3 40般地安排在構裝 3 00 上。 如所示,裝置600之上表面605包含裝置600所構成 之材料。該材料可以爲陶瓷、有機、塑膠及/或其他適當 材料。裝置600之下表面610包含前述材料及端子61 1至 6 1 8。端子6 1 1至6 1 8可以包含接腳、表面黏著端、或任 意其他類之裝置端子。端子6 1 1至6 1 4係相關於第一極性 (正),而端子6 1 5至6 1 8係相關於第二極性(負)。 第5 B圖爲依據部份實施例之裝置6 0 0之側面剖去代 表圖。該代表圖顯示端子617、613' 618及614,其均連 接至幾個導電面。更明確地說,端子6 1 7係連接至每〜導 電面62 0至62 7,而端子618係連接至導電面62 0至622 。導電面6 2 0至6 2 7因此係相關於與端子6】7及6 1 8相同 之極性(負)。端子6 14係連接至導電面6 3 0至6 3 7,|^ 端子613係連接至導電面630至632。如上所述,導電面 6 3 0至6 3 7係相關於與端子6] 3至6]4相同之極性(正 1284393 (5) 導電面630至637均與導電面620至627之至少之一 以一介電材料加以分離。因此,一電容係出現在裝置6 0 0 之兩端子間,該兩端子係相關於不同極性。例如,一第一 電容係出現在端子6 1 7及6 1 3之間。一第二電容係出現在 端子6 1 8及6 1 4之間。依據部份實施例,第一電容及第二 電容之總和實質等於在端子6 1 7及6 1 4間之電容。 第5 C圖爲依據部份實施例之用於裝置6 0 0及用於傳 統裝置之阻抗分佈的比較圖。於傳統裝置中,每一相關於 一給定極性之端子係連接至相關於一給定極性之該裝置的 所有面。結果,在任兩端子相反極性間會出現有一相同電 容値。 第5C圖例示該等實施例,其藉由並聯連接裝置600 之第一及第二電容,而提供較傳統裝置爲均勻的阻抗分佈 。用於每一電容之較少數端子的存在同時也增加了總電容 之等效串聯電阻。這些因素均降低在一主機板及安裝有裝 置6 0 0之一構裝間之諧振。 第6A圖包含依據部份實施例之裝置代表圖。裝置 7 0 0可以包含依據部份實施例之一或多數個別電容器。不 同於裝置600,裝置7 00之上表面7 0 5包含構裝材料及端 子 7 1 0 至 7 I 7。 下表面720包含構裝材料,及端子721至728。端子 72]至724係相關於第一極性,而端子72 5至72 8係相關 於第二極性。在表面70 5及7 2 0上之端子的出現可以促成 1284393 (6) 裝置700之製造及/或使用。 第6B圖爲依據部份實施例之裝置7 00之側剖 圖。端子7 2 7、72 3、72 8及724係以類似於第5B 子617、613、618及614之配置連接至導電面。另 子716係連接至導電面720至72 7,及端子717係 導電面72 5至727。端子713係連接至導電面730 ,及端子712係連接至導電面7 3 5至73 7。 端子72 7 ' 72 3、72 8及724係類似地連接至裝 之端子6 1 7、6 1 3、6 1 8及6 1 4,因此操作如上所述 716、712、717及713也類似於裝置600之端子61 、618及614地操作。更明確地說,一第一電容出 子7 1 6及7 1 2之間,一第二電容係出現在端子7 1 7 之間,第一電容及第二電容之總和係實質等於端子 7 1 6間之電容。 第6C圖爲依據部份實施例之裝置700及傳統 阻抗分佈比較圖。用於裝置 700之阻抗分佈係類 5C圖之用於裝置600者,因爲裝置700之每一表 子係類似於裝置6 0 0之端子架構。 第7A圖包含依據部份實施例之裝置的代表圖 8〇〇係類似於裝置600,其中端子並未出現在上表 。再者,下表面8 1 0包含有關於第一極性(正), 8 1 ]至8 1 4,而端子8 1 5至8 1 8相關於一第二極性 〇 第7B圖所示之裝置8 0 0之側剖去代表圖也類 去代表 圖之端 外,端 連接至 至737 置600 。端子 7、6 1 3 現在端 及7 13 713及 裝置之 似於第 面的端 。裝置 面 8 0 5 之端子 (負) 似於裝 -10 - 1284393 (7) 置600。然而,端子818係連接至較端子813爲多之 面。結果,一第一電容係出現在端子8 1 7及8 1 3之間 第二電容係出現在端子813及818之間,及第三電容 現在端子8 1 7及8 1 4之間。三個不同電容可以造成 7 C圖所示之阻抗分佈。阻抗分佈可以較裝置6 0 0及 之貫ί也例所提供者爲平’因爲由第二電容所造成之額 抗功率傾斜。 第8 Α圖包含依據部份實施例之裝置的代表圖。 9 0 0係類似於裝置7 0 0,在於端子係位在上表面9 0 5 表面910上。如第8B圖所示,裝置900不同於裝置 ,在於端子913及922係連接至不同號數之導電面。 ,端子913及927係連接至相同號數之導電面。 藉由前述安排,在裝置900之每一面上的端子提 個不同電容。此等電容可以類似於在裝置8 00之端子 現之三個電容。因此,如第8C圖所示之裝置900之 分佈係類似於第7 C圖的阻抗分佈。 第9A圖爲依據部份實施例之裝置1 000的表面 之端子代表圖。裝置1000可以提供多數電容。更明 說,一第一電容可以出現在端子1001及】002之間, 第二電容可以出現在端子1 004、1 006及1 007之任一 子1003、1005與1008之任一之間。 第9B圖顯示依據部份實施例之裝置1 000的導電. 導電面1 0] 0包含部份1 〇 1 ]及1 0 1 3,其係彼此不連 導電面]〇 1 〇可以相關於第一極性。於此方面,導 導電 5 -- 係出 如第 700 外阻 裝置 及下 700 然而 供三 所出 阻抗 延伸 確地 而一 與端 面。 續。 面 -11 - 1284393 (8) 1010定義介面1012、1014、1016及1018,用以將導電面 1010連接至相關於第一極性之端子1001' 1 003、1 005、 及 1008 。 導電面1 02 0包含不連續部份1021及1 023。導電面 1 02 0可以相關於一第二極性並可以包含介面1 022、1024 、:1026及1 02 8,用以連接導電面1 020至也相關於第二極 性之多數端子。依據所示實施例之此等端子係爲端子 1 002、1 004、1 006 及 100 7 ° 裝置1 000可以藉由將導電面1010及導電面1 02 0之 多數交替層於彼此上加以建構。該等層可以以一介電質分 開。於部份實施例中,一介電質安排在部份1 0 1 1及部份 1021之間,同一或一分開介電質被安排在部份1013及部 份1 023之間。 第9C圖顯示依據部份實施例之裝置1〇〇〇之阻抗分佈 。該阻抗分佈係平於現行系統之阻抗分佈,因爲由裝置 1 00 0之額外電容所提供之額外阻抗傾斜。 第】〇A圖顯示依據部份實施例之裝置 U 00。裝置 1 100提供三個電容。如第Ι0Β圖所示,裝置1 100之導電 面]Π0及]120顯示類似於裝置1〇〇〇之導電面1010及 1 02 0,但導電面1 1 10及π 20被分割爲三個不連續部份。 每一面I 1 1 0及1 1 2 0均相關於不同極性,每一面的部份包 含介面,用以連接相關於該面的極性之端子。裝置1100 可以類似於裝置]0 0 0加以建構。裝置]1 〇 〇可以提供一較 裝置]000的阻抗分佈爲平的阻抗分佈,因爲裝置i 100之 -12- (9) 1284393 額外電容所提供之額外阻抗傾斜之故。 第11A至12B圖均顯示不同裝置所提供之多數電容 。每一裝置包含一含三不連續部份之第一導電面;包含三 不連續部份之一第二導電面;及一介電層,安排在該第一 導電面之至少一部份及該第二導電面之至少一部份。每一 導電面也定義介面,用以連接相關於該導電面之極性之端 子。 第13至15圖也例示提供多數電容的裝置。該裝置包 含超出8個端子。然而,每一裝置包含至少一第一導電面 ,其包含至少兩不連續部份;一第二導電面,包含至少兩 不連續部份;及一介電層安排在該第一導電面之至少一部 份與該第二導電面之至少一部份之間。再者,每一導電面 定義介面,以使得相關於導電面之一極性的端子可以連接 〇 上述及所示之每一實施例可以提供較傳統裝置爲均勻 之阻抗分佈。每個別電容之較少數端子之存在也增加了總 電容之等效串聯電阻。這些因素可以降低於主機板與裝置 有依據部份實施例之裝置的構裝間之諧振。 於此所述之幾個實施例只作例示目的。實施例可以包 含於此所述之現行或以後所知之各版本元件。因此,熟習 於本技藝者可以由此說明了解,其他實施例可以以各種修 改及替代加以實現。 【圖式簡單說明】 -1·?- 1284393 (10) 第1圖爲依據部份實施例之系統的側視圖。 第2圖爲依據部份實施例之電容墊俯視圖。 第3圖爲依據部份實施例之包含電容墊設計之構裝置 的側面剖去圖。 第4圖爲依據部份實施例之電容墊設計之俯視圖。 第5A圖爲一上表面及依據部份實施例之由裝置下表 面延伸之端子的代表圖。 第5B圖爲依據部份實施例之第5A圖之端子及導電 面間之連接。 第5C圖爲用於依據部份實施例第5A圖之裝置及一 傳統裝置的阻抗分佈比較圖。 第6A圖爲由一依據部份實施例之裝置下表面延伸之 端子及由上表面延伸端子之示意圖。 第6B圖爲依據部份實施例之第6A圖之端子及導電 面間之連接。 第6C圖爲用於依據部份實施例之第6A圖裝置及用 於傳統裝置之阻抗分佈的比較圖。 第7A圖由依據部份實施例之裝置下表面延伸之端子 及上表面的代表圖。 第7B圖爲依據部份實施例之第7A圖裝置之端子與 導電面間之連接。 第7 C圖爲用於依據部份實施例之第7 A圖裝置及用 於傳統裝置之阻抗分佈的比較圖。 第8 A圖爲由一依據部份實施例之裝置下表面延伸之 -14 - 1284393 (11) 端子及由上表面延伸端子之示意圖。 第8 B圖爲依據部份實施例之第8 A圖之端子及導電 面間之連接。 第8 C圖爲用於依據部份實施例之第8 A圖裝置及用 於傳統裝置之阻抗分佈的比較圖。 第9 A圖爲由一依據部份實施例之裝置一表面延伸之 端子之示意圖。 第9B圖爲依據部份實施例之第9A圖之導電面。 第9C圖爲用於依據部份實施例之第9A圖裝置及用 於傳統裝置之阻抗分佈的比較圖。 第1 〇 A圖爲由一依據部份實施例之裝置一表面延伸 之端子之代表圖。 第1 0B圖爲依據部份實施例之第1 0A圖之導電面。 第1 1 A圖爲由一依據部份實施例之裝置一表面延伸 之端子之代表圖。 第1 1 B圖爲依據部份實施例之第1 1 A圖之導電面。 第1 2 A圖爲由一依據部份實施例之裝置一表面延伸 之端子之代表圖。 第12B圖爲依據部份實施例之第]2A圖之導電面。 第】3圖包含依據部份實施例之一裝置一表面延伸之 端子代表圖。 第1 4圖包含依據部份實施例之一裝置一表面延伸之 端子代表圖。 第]5圖包含依據部份實施例之一裝置一表面延伸之 -15- 1284393 (12) 端子代表圖。 主要元件對照表 1 0 0 :系統 200 :積體電路 2 5 0 :銲錫凸塊 300 :構裝 3 1 0 :電容器 3 20 :電容器 3 3 0 :電容器 3 40 :電容器 3 5 0 :接腳 4 0 0 :主機板 5 0 0 :記憶體 3 0 2 :電源面 3 0 4 :電源墊 3 0 6 :接地墊 3 0 7 :非導電區 3 0 8 :導孔區 3 0 9 :軌跡 3 1 0 :電容器 3 1 2 :端子 3 ] 4 :端子 3 ] 6 :接地面 -16- 1284393 (13) 3 1 8 :導孔 600 :裝置 6 0 5 :上表面 6 1 0 :下表面 6 ] 1 - 6 1 8 :端子 620-627:導電面 6 3 0 -63 7 :導電面 700 :裝置 7 05 :上表面 7 1 0 - 7 1 7 :端子 7 2 0 :下表面 7 2 1 - 7 2 8 ··端子 7 3 0 -73 7 :導電面 8 00 :裝置 8 0 5 :上表面 8 1 0 :下表面 8 1 1 - 8 1 8 . y而子 900 :裝置 9 05 :上表面 9 1 0 :下表面 9 1 3 :端子 922 :端子 92 7 :端子 ]0 0 0 :裝置 1284393 (14) 1001-1008:端子 1010 :導電面
1011 :部份 1 0 1 2 :介面 1013 :部份 1 0 1 4 :介面 10 16:介面 1018:介面
1 020 :導電面 1 〇 2 1 :部份 1 022:介面 1023 :部份 1 024:介面 1 02 6 :介面 1 02 8 :介面 1100:裝置 1 1 1 0 :導電面 1 1 20 :導電面 -18-

Claims (1)

1284393 (1) 拾、申請專利範圍 附件2 :第93 1 1 6200號專利申請案 中文申請專利範圍替換本 民國96年4月4日修正 1 · 一種降低於一主機板與一構裝間之諧振的裝置, 包含: 一電源面,該電源面包含一電源墊,以接收一電路元 件之一第一端子; 一接地墊,以接收一電路元件之一第二端子; 一導孔區,與該接地墊實質同一平面,並與該接地墊 分開’並藉由軌跡電氣連接至該接地墊; 一接地面;及 一導孔,電氣連接該導孔區至該接地面。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該電路 元件爲一電容器。 3 .如申請專利範圍第1項所述之裝置,更包含: 一介面,以接收一積體電路。 4·如申請專利範圍第1項所述之裝置,更包含: 一介面,與一插座作成介面。 5 ·如申請專利範圍第1項所述之裝置,更包含: 一介面,與一電路板作成介面。 6.如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該接地 墊及該電源面係實質同一平面。 1284393 (2) 7. 一種用以降低一主機板與一構裝間之諧振的方法 ,包含步驟: 製造一接地面; 製造一導孔,其電氣連接至該接地面; 製造一接地墊,以接收一電路元件之一第二端子,及 製造一導孔區,其實質與該接地墊同一平面,該導孔區電 氣連接至該導孔,並與該接地墊分開’並藉由軌跡電氣連 接至該接地墊;及 製造一電源面,該電源面包含一電源墊’接收該電路 元件之一第一端子。 8 .如申請專利範圍第7項所述之方法,更包含: 製造一介面,以接收一積體電路。 9. 如申請專利範圍第7項所述之方法,更包含: 製造一介面,以與一插座作成介面。 10. 如申請專利範圍第7項所述之方法,其中該接地 墊及電源面係實質同一平面。 1 1 . 一種降低於一主機板與一構裝間之諧振的裝置, 包含: 一第一導電面,電氣連接至與一第一極性相關之一第 一端子及與該第一極性相關之一第二端子; 一第二導電面,電氣連接至與一第二極性相關之一第 三端子;及 一介電質,安排於該第一導電面與該第二導電面之間 -2- 1284393 (3) 其中一第一電容出現在該第一端子與第三端子之間, 其中一第二電容出現在該第二端子與該第三端子之間 ,及 其中該第一電容與該第二電容係相當地不同。 1 2 ·如申請專利範圍第1 1項所述之裝置,其中該第 二導電面係電氣連接至相關於第二極性之一第四端子, 其中一第三電容出現在第一端子與第四端子之間, 其中一第四電容出現在第二端子與第四端子之間,及 其中該第三電容及第四電容係相當不同。 1 3 . —種用以降低一主機板與一構裝間之諧振的裝置 ,包含: 第一 η個導電面,其中η>1; 第二η個導電面,該第二η個導電面之每一個係與該 第一 η個導電面的至少一個分隔以一介電材料; 一第一端子,電氣連接至該第一 η個導電面的w個 ,其中1 <w<n+ 1 ;及 一第二端子,電氣連接至該第二η個導電面的x個, 其中〇<X<W 〇 1 4 ·如申請專利範圍第1 3項所述之裝置,更包含: 一第三端子,電氣連接至第一 n個導電面的y個,其 中0<y<w ;及 一第四端子,電氣連接至該第二η個導電面之z個, 其中 χ<ζ<η+1 〇 1 5.如申請專利範圍第14項所述之裝置,其中w = z -3- 1284393 (4) 及 x = y。 1 6·如申請專利範圍第1 4項所述之裝置,其中w = z 及 x<y。 1 7.如申請專利範圍第1 4項所述之裝置,更包含: 一構裝,該第一端子、該第二端子、第三端子及第四 端子係由該構裝之下表面延伸; 一第五端子,電氣連接至該w個第一導電面; 一第六端子,電氣連接至該z個第二導電面; 一第七端子,電氣連接至該第一導電面的y個,該等 電氣連接至第七端子的面係與電氣連接至該第三端子的面 不同;及 一第八端子,電氣連接至該第二導電面的X個,該等 電氣連接至該第八端子的面係與電氣連接至該第二端子的 面不同, 其中該第五端子、第六端子、第七端子及該第八端子 係由該構裝的上表面延伸。 i 8 .如申請專利範圍第1 4項所述之裝置,更包含: 一構裝,該第一端子、該第二端子、第三端子及第四 端子係由該構裝之下表面延伸; 一第五端子,電氣連接至該〜個第一導電面; 一第六端子,電氣連接至該2個第二導電面; 一第七端子,電氣連接至該第一導電面的X個’該等 電氣連接至第七端子的面係與電氣連接至該第三端子的面 不同;及 -4 - 1284393 (5) 一第八端子,電氣連接至該第二導電面的y個’該等 電氣連接至該第八端子的面係與電氣連接至該第二端子的 面不同, 其中該第五端子、第六端子、第七端子及該第八端子 係由該構裝的上表面延伸。 19. 如申請專利範圍第1 4項所述之裝置,更包含: 一構裝,該第一端子、該第二端子、第三端子及第四 端子係由該構裝之下表面延伸; 一第五端子,電氣連接至該〜個第一導電面; 一第六端子,電氣連接至該z個第二導電面; 一第七端子,電氣連接至該y個第一導電面’及 一第八端子,電氣連接至該X個第二導電面’ 其中該第五端子、第六端子、第七端子及該第八端子 係由該構裝的上表面延伸。 20. —種用以降低於一主機板及一構裝間之諧振的裝 置,包含: 一第一導電面,該第一導電面包含一第一部份及一第 二部份,該第一部份係與該第二部份不連續; 一第二導電面,該第二導電面包含一第三部份及一第 四部份,該第三部份係與該第四部份不連續;及 一介電質,安排在該第一導電面之第一部份及第二導 電面之第三部份之間。 2 1 ·如申請專利範圍第20項所述之裝置,其中該介 電質安排在第一導電面之第二部份與該第二導電面之第四 -5- 1284393 (6) 部份之間。 2 2 .如申請專利範圍第2 0項所述之裝置, 一第二介電質,安排在該第一導電面之第 第二導電面的第四部份之間。 23. 如申請專利範圍第20項所述之裝置 一導電面之第一部份定義一第一介面,以將該 接至相關於一第一極性之第一端子;及 其中該第二導電面之第三部份定義一第二 該第三部份連接至相關於第二極性之一第二端 24. 如申請專利範圍第23項所述之裝置 一導電面之第二部份定義一第三介面,以將第 至相關於第一極性之一第三端子,及 其中該第二導電面之第四部份定義一第四 第四部份連接至一相關於第二極性之一第四端 2 5 ·如申請專利範圍第2 3項所述之裝置 一導電面之第一部份定義一第三介面,以將該 接至相關於第一極性之一第三端子’及 其中該第二導電面之第三部份定義一第四 該第三部份連接至相關於第二極性之一第四端 2 6 · —種用以降低於一主機板與一構裝間 統,包含: 一微處理機; 一構裝,連接至該微處理機,該構裝包含 一電路元件,包含一第一導電面’電氣連 更包含: 二部份與該 ,其中該第 第一部份連 介面,以將 子。 ,其中該第 二部份連接 介面,以將 子。 ,其中該第 第一部份連 介面,以將 子。 之諧振的系 接至相關於 -6- 1284393 (7) 第一極性之一第一端子及相關於第一極性 一第二導電面,電氣連接至相關於一第二 子,及一介電質安排在該第一導電面及第 及 一雙倍資料率記憶體,連接至該構裝 其中一第一電容出現在第一端子與第 其中一第二電容出現在第二端子與第 其中第一電容及第二電容係相當不同 27.如申請專利範圍第26項所述之男 一主機板,連接至該構裝及該雙倍資 其中該電路元件係用以降低在該構裝 諧振。 之一第二端子; 極性之一第三端 二導電面之間; 三端子之間, 三端子之間,及 〇 $統,更包含: 料率記憶體, 及該主機板間之
TW093116200A 2003-06-23 2004-06-04 Capacitor-related systems for addressing package/motherboard resonance TWI284393B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/602,096 US6992387B2 (en) 2003-06-23 2003-06-23 Capacitor-related systems for addressing package/motherboard resonance

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200516728A TW200516728A (en) 2005-05-16
TWI284393B true TWI284393B (en) 2007-07-21

Family

ID=33518048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093116200A TWI284393B (en) 2003-06-23 2004-06-04 Capacitor-related systems for addressing package/motherboard resonance

Country Status (5)

Country Link
US (2) US6992387B2 (zh)
EP (1) EP1636838A2 (zh)
CN (1) CN1809974B (zh)
TW (1) TWI284393B (zh)
WO (1) WO2005001928A2 (zh)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7335995B2 (en) * 2001-10-09 2008-02-26 Tessera, Inc. Microelectronic assembly having array including passive elements and interconnects
US9105391B2 (en) 2006-08-28 2015-08-11 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. High voltage hold-off coil transducer
US7852186B2 (en) 2006-08-28 2010-12-14 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coil transducer with reduced arcing and improved high voltage breakdown performance characteristics
US9019057B2 (en) 2006-08-28 2015-04-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Galvanic isolators and coil transducers
US20080278275A1 (en) 2007-05-10 2008-11-13 Fouquet Julie E Miniature Transformers Adapted for use in Galvanic Isolators and the Like
US7791900B2 (en) 2006-08-28 2010-09-07 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Galvanic isolator
US7867806B2 (en) * 2007-02-26 2011-01-11 Flextronics Ap, Llc Electronic component structure and method of making
US20080280463A1 (en) * 2007-05-09 2008-11-13 Mercury Computer Systems, Inc. Rugged Chip Packaging
US8188814B2 (en) 2008-02-15 2012-05-29 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. High voltage isolation dual capacitor communication system
US7741896B2 (en) 2008-02-15 2010-06-22 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. High voltage drive circuit employing capacitive signal coupling and associated devices and methods
US7741935B2 (en) 2008-02-15 2010-06-22 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. High voltage isolation semiconductor capacitor digital communication device and corresponding package
US10912199B1 (en) * 2019-10-03 2021-02-02 Kioxia Corporation Resistive PCB traces for improved stability

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0635462Y2 (ja) * 1988-08-11 1994-09-14 株式会社村田製作所 積層型コンデンサ
DE3942509A1 (de) * 1989-12-22 1991-06-27 Hirschmann Richard Gmbh Co Hochfrequenzschaltung
EP0506122A3 (en) 1991-03-29 1994-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Power module
US5583738A (en) * 1993-03-29 1996-12-10 Murata Manufacturing Co., Ltd. Capacitor array
GB2306678B (en) * 1995-11-02 1999-11-03 Ibm Surface mounting polarised electrical components on a printed circuit board
US5880925A (en) * 1997-06-27 1999-03-09 Avx Corporation Surface mount multilayer capacitor
JP2991175B2 (ja) * 1997-11-10 1999-12-20 株式会社村田製作所 積層コンデンサ
JP2000021676A (ja) 1998-07-02 2000-01-21 Murata Mfg Co Ltd ブリッジ回路用積層電子部品
US6037621A (en) * 1998-07-29 2000-03-14 Lucent Technologies Inc. On-chip capacitor structure
JP2001035960A (ja) * 1999-07-21 2001-02-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置および製造方法
JP3489729B2 (ja) * 1999-11-19 2004-01-26 株式会社村田製作所 積層コンデンサ、配線基板、デカップリング回路および高周波回路
US6441459B1 (en) * 2000-01-28 2002-08-27 Tdk Corporation Multilayer electronic device and method for producing same
JP4332634B2 (ja) * 2000-10-06 2009-09-16 Tdk株式会社 積層型電子部品
JP3930245B2 (ja) 2000-11-14 2007-06-13 Tdk株式会社 積層型電子部品
DE10064447C2 (de) * 2000-12-22 2003-01-02 Epcos Ag Elektrisches Vielschichtbauelement und Entstörschaltung mit dem Bauelement
US6933800B2 (en) * 2001-08-16 2005-08-23 Dell Products L.P. Printed circuit suppression of high-frequency spurious signals
JP4387076B2 (ja) * 2001-10-18 2009-12-16 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
TW523661B (en) * 2001-11-16 2003-03-11 Via Tech Inc Control circuit of suspend to random access memory mode
US6765781B2 (en) * 2001-12-03 2004-07-20 Tdk Corporation Multilayer capacitor
US6762498B1 (en) * 2003-06-13 2004-07-13 Texas Instruments Incorporated Ball grid array package for high speed devices

Also Published As

Publication number Publication date
CN1809974A (zh) 2006-07-26
US7211894B2 (en) 2007-05-01
US20050194675A1 (en) 2005-09-08
WO2005001928A2 (en) 2005-01-06
EP1636838A2 (en) 2006-03-22
TW200516728A (en) 2005-05-16
WO2005001928A3 (en) 2005-06-09
US20040257780A1 (en) 2004-12-23
US6992387B2 (en) 2006-01-31
CN1809974B (zh) 2010-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6191479B1 (en) Decoupling capacitor configuration for integrated circuit chip
TWI234272B (en) Multilayer capacitor with multiple plates per layer
TWI400731B (zh) 電容元件及其製造方法
JP3995596B2 (ja) 多段アレイキャパシター及びその製造方法
US7211894B2 (en) Capacitor-related systems for addressing package/motherboard resonance
US7952178B2 (en) Package for an integrated circuit
US7463492B2 (en) Array capacitors with voids to enable a full-grid socket
US20050173796A1 (en) Microelectronic assembly having array including passive elements and interconnects
US8304854B2 (en) Semiconductor integrated circuit chip, multilayer chip capacitor and semiconductor integrated circuit chip package
JP2004128219A (ja) 付加機能を有する半導体装置及びその製造方法
US6672912B2 (en) Discrete device socket and method of fabrication therefor
KR100543853B1 (ko) 확장 표면 랜드를 갖는 커패시터 및 그 제조 방법
US7889479B2 (en) Integrated multilayer chip capacitor module and integrated circuit apparatus having the same
TW569252B (en) Electronic assembly with laterally connected capacitors and manufacturing method
JP2004519822A (ja) ランド・グリッド・アレイ・コネクタ用のコンポーネントを有するシールドされたキャリア
US20110156203A1 (en) Integrated passive device assembly
JP2010211997A (ja) 電気接続部品
JP2004253544A (ja) 半導体装置の製造方法
US7221046B2 (en) System to control effective series resistance of power delivery circuit
US7235875B2 (en) Modular heat sink decoupling capacitor array forming heat sink fins and power distribution interposer module
US7286368B2 (en) System to control effective series resistance of decoupling capacitor
TWI222088B (en) Windowframe capacitor and semiconductor package assembly
TW201709440A (zh) 包含球形陣列封裝之堆疊的3d電子模組
TW202230653A (zh) 具有經整合構件之電子構件封裝件

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees