TWI279554B - Network analyzer, network analyzing method, program, and recording medium - Google Patents

Description

1279554 九、發明說明： 【發明所屬之技術部域】 技術領域 本t月係關於-種次异測1待測物之電路參數之網路 5 分析器。

【先前标;J 背景技術 至今，已有進行對待測物(OUT ; Device Under Test)之 電路參數(例如，s參數)之败。以下參見第25圖說明先前 10 技術關於待測物(DUT)之電路參數測定法。 來自sfl號源110之頻率fi之訊號，透過DUT2〇〇，傳送 到接收部120。此訊號由接收部12〇所接收。將接收部12〇所 接收之訊號頻率稱為f2。可藉由測定以接收部12〇接收之訊 號，取得DUT200之S參數或頻率特性等。 15 此時，會因為訊號源11〇等測定系統與DUT200之整合 不良等，使測定產生測定系統誤差。該測定系統誤差，舉 例來說如Ed :起因於電橋之方向性之誤差、Er :起因於頻 率軌跡之誤差、Es ··起因於源頭匹配(source matching)之誤 差。第26圖顯示當頻率fl=f2時，關於訊號源110之訊號流程 20 圖。RF IN係從訊號源110輪入DUT200等之訊號，Slim係 以從DUT200等反射回來之訊號所求出之DUT200等之S參 數，Slla係無測定系統誤差之真正DUT200等之S參數。 當頻率fl=f2時，舉例來說可以如專利文獻1(特開平 11-38054號公報）之内容修正誤差。如此之修正方法稱為校 1279554 2之第8、9圖）。 另外，傳送軌跡被定義為Erl · Et。依據專利文獻2之 方法，可測定Erl及Et，故可求出傳送軌跡Erl · Et。 然而，依據專利文獻2之方法，求出傳送執跡Erl · Et 5 時，為了測定Erl必須使用功率計。卻因使用功率計，而無 法取得傳送軌跡之相位。 於是，本發明之目的係可取得傳送軌跡之相位，且可 修正測定系統之誤差。 L發明内容3 10 發明揭示 本發明包含有：測定系統誤差要因記錄裝置，係記錄 與待測物之頻率變換無關地產生之測定系統誤差要因者； 校正用係數輸出裝置，係輸出，自一端子輸出之訊號係以 輸入該端子之訊號與第一係數之乘積加輸入另一端子之訊 15 號與第二係數之乘積之和表示，且前述第二係數大小之比 係一定之校正用頻率變換元件之前述第一係數及前述第二 係數之測定值者；及傳送執跡取得裝置，係依據前述測定 系統誤差要因記錄裝置所記錄之前述測定系統誤差要因及 前述校正用係數輸出裝置輸出之前述第一係數及前述第二 20 係數，取得因頻率變換而產生之傳送執跡者。 依據如上構成之本發明，測定系統誤差要因記錄裝置 記錄與待測物之頻率變換無關地產生之測定系統誤差要 因。自一端子輸出之訊號係以輸入該端子之訊號與第一係 數之乘積加輸入另一端子之訊號與第二係數之乘積之和表 7 1279554 示，且第二係數大小之比係一定之校正用頻率變換元件之 第一係數及第二係數之測定值，係以校正用係數輸出襄置 輸出。傳送執跡取得裝置’係依據測定系統誤差要因記錄 裝置所記錄之測定系統誤差要因及校正用係數輪出裝置輪 5 出之第一係數及弟一係數’取得因頻率變換而產生之傳送 執跡。 本發明更於前述校正用頻率變換元件中，以第一係數 為Μ1Γ、M22’，前述第二係數為M12,、Μ2Γ，輸入第〜 端子之訊號為al，自第一端子輸出之訊號為bl，輸入第二 10 端子之訊號為a2，自第二端子輪出之訊號為b2時， bl=Mll，xal+ M12，xa2 b2=M21，xal+ M22，xa2 且 I M12, I / I M21，I 宜係一定。 15 20 本發明’更對於任-端子，第二係數之大小宜相同。 本發明宜更包含有：於前述測定㈣誤差要因產生 前’測錢於輸人前述待測物之輪人訊號之輸人訊號 者之輸入訊制定裝置；連接於前述制物之端子，並 出前述輸入訊號之複數埠；及測々明从a、，1 別 干及測疋關於自珂述待測物之端 子輸入前述埠之待測物訊號之住 观之待測物訊號參數者之待測物 訊號測定裝置。 ’且更利用以輸入訊號 與以待測物訊號測定裝 求出頻率變換元件之第 本發明之校正用係數輪出裝置 測定裝置所測得之輸入訊號參數， 置所測得之待測物訊號參數的比， 一係數及第二係數。 8 1279554 本發明之前述傳送執跡取得裝置，宜更依據待測物訊 號自被前述待測物之端子以不隨著頻率變換之方式輸出， 至被前述待測物訊號測定裝置接收為止所產生之誤差要因 的比，取得前述傳送軌跡。 5 本發明被校正為包含有：測定系統誤差要因記錄裝置 測定系統誤差要因記錄裝置記錄與待測物之頻率變換無關 地產生之測定系統誤差要因之測定系統誤差要因記錄步 驟；校正用係數輸出裝置輸出，自一端子輸出之訊號係以 輸入該端子之訊號與第一係數之乘積加輸入另一端子之訊 10 號與第二係數之乘積之和表示，且前述第二係數大小之比 係一定之校正用頻率變換元件之前述第一係數及前述第二 係數之測定值之校正用係數輸出步驟；及傳送執跡取得步 驟裝置，依據前述測定系統誤差要因記錄裝置所記錄之前 述測定系統誤差要因及前述校正用係數輸出裝置輸出之前 15 述第一係數及前述第二係數，取得因頻率變換而產生之傳 送軌跡之傳送軌跡取得步驟。 本發明為一種以電腦執行之程式，包含有：測定系統 誤差要因記錄處理，係記錄與待測物之頻率變換無關地產 生之測定系統誤差要因者；校正用係數輸出處理，係輸出， 20 自一端子輸出之訊號係以輸入該端子之訊號與第一係數之 乘積加輸入另一端子之訊號與第二係數之乘積之和表示， 且前述第二係數大小之比係一定之校正用頻率變換元件之 前述第一係數及前述第二係數之測定值者；及傳送軌跡取 得處理’係依據前述測定糸統誤差要因記錄處理所記錄之 9 1279554 前述測定系統誤差要因，及前述校正用係數輸出處理輸出 之前述第一係數及前述第二係數，取得因頻率變換而產生 之傳送軌跡者。 本發明為一種記錄媒體，係可藉記錄有以電腦執行之 5 程式之電腦讀取者，包含有：測定系統誤差要因記錄處理， 係記錄與待測物之頻率變換無關地產生之測定系統誤差要 因者；校正用係數輸出處理，係輸出，自一端子輸出之訊 號係以輸入該端子之訊號與第一係數之乘積加輸入另一端 子之訊號與第二係數之乘積之和表示，且前述第二係數大 10 小之比係一定之校正用頻率變換元件之前述第一係數及前 述第二係數之測定值者；及傳送執跡取得處理，係依據前 述測定系統誤差要因記錄處理所記錄之前述測定系統誤差 要因，及前述校正用係數輸出處理輸出之前述第一係數及 前述第二係數，取得因頻率變換而產生之傳送執跡者。 15 圖式簡單說明 第1圖係顯示本發明之實施形態之網路分析器之方塊 圖。 第2(a)圖係顯示DUT2構造之圖。 第2(b)圖係顯示輸入及輸出第一端子2a及第二端子2b 20 之訊號之關係之圖。 第3(a)圖係顯示端子14a與端子14b連接時輸入訊號(頻 率fl)透過測定部20送至DUT2之狀態（稱為順路徑）之圖。 第3(b)圖係顯示端子14a與端子14c連接時輸入訊號(頻 率f2)透過測定部30送至DUT2之狀態（稱為逆路徑）之圖。 10 1279554 第4圖係顯示順路徑要因取得部60構造之機能方塊圖。 第5圖係顯示校正用具6之端子6a與埠4a連接狀態之 圖。 第6圖係顯示埠4a與校正用具6之端子6a連接狀態之訊 5 號流程圖。 第7圖係顯示埠4a與埠4b連接狀態之圖。 第8圖係顯示埠4a與埠4b連接狀態之訊號流程圖。 第9圖係顯示逆路徑要因取得部70構造之機能方塊圖。 第10圖係顯示誤差要因取得部90構造之機能方塊圖。 10 第11圖係顯示與網路分析器1為連接狀態下校正用混 頻器8之圖。 第12圖係顯示電路參數取得部98構造之機能方塊圖。 第13圖係顯示本發明之實施型態之操作之流程圖。 第14圖係顯示網路分析器1之測定系統誤差要因（Ed、 15 Er、Es、EL、Et)之取得順序之流程圖。 第15圖係顯示DUT2之Μ係數之取得順序之流程圖。 第16圖係顯示變化例（1)之網路分析器1構成之方塊圖。 第17圖係顯示變化例（2)之網路分析器1構成之方塊圖。 第18圖係顯示為證明數學式1而參考之網路分析器1構 20 造之方塊圖。 第19圖係顯示第18圖所示之網路分析器1中FWD模式 之訊號流程圖。 第20圖係顯示第18圖所示之網路分析器1中REV模式 之訊號流程圖。 11 1279554 第21圖係顯示第19圖所示之訊號流程圖變化後之圖。 第22圖係顯示第20圖所示之訊號流程圖變化後之圖。 第23圖係顯示相對於第21圖所示之訊號流程圖之誤差 要因之圖。 5 第24圖係顯示相對於第22圖所示之訊號流程圖之誤差 要因之圖。 第25圖係說明先前技術中待測物之電路參數之測定法 之圖。 第26圖係先前技術中頻率H=f2時關於訊號源no之訊 10 號流程圖。 第2 7係先前技術中頻率f 1不等於頻率f 2時關於訊號源 110之訊號流程圖。 第2 8圖係顯示先前技術中訊號源110與接收部12 0直接 連接時之訊號流程圖。 15 【實施方式】 實施本發明之最佳形態 以下’參考圖式說明本發明之實施形態。 第1圖係顯示本發明之實施形態中網路分析器丨構造之 方塊圖。網路分析器i連接有DUT(DeviceunderTest:待測 20物)2。'網路分析^測定DUT2之電路參數，例如s參數。另 外，當DUT2使用混頻器（倍增器）時，特別將s參數稱為财 數。 第2(a)圖係顯不DUT2構造之圖。該而丁：係混頻器（倍 增器）。該DUT2包含有第一端扣、第二端子2b、肝訊號 12 1279554 處理部2R、IF訊號處理部21、局部訊號處理部2L。 當頻率fl之訊號al自第一端子2a輸入時，會傳送給RF 訊號處理部2R。另外，局部訊號Lo(頻率fLo)會傳送給局部 訊號處理部2L。傳送給RF訊號處理部2R之訊號(頻率fl)與 5傳送給局部訊號處理部2L之訊號(fL〇)混合，成為頻率f2( = fl-fLo)之訊號b2，從IF訊號處理部21透過第二端子2b輸出。 另外，當頻率fl之訊號al自第一端子2a輸入時，某種程度之 訊*號不會因DUT2進行頻率變換而反射，且成為頻率維持η 之訊號bl ’自第一端子2a輸出。 當頻率f2之訊號a2自第二端子2b輸入時，會傳送給ip 訊號處理部21。另外’局部訊號Lo(頻率fLo)會傳送給局部 訊號處理部2L。傳送給IF訊號處理部21之訊號(頻率f2)與傳 送給局部訊號處理部2L之訊號(fLo)混合，成為頻率fi( = f2+fLo)之訊號bl，透過第一端子2a輸出。另外，當頻率f2 15 之訊號a2自第二端子2b輸入時，某種程度之訊號不會因 DUT2進行頻率變換而反射，且成為頻率維持f2之訊號b2， 自第一端子2b輸出。 此處，將頻率fl之訊號al表示為al(fl)，頻率f2之訊號 a2表示為a2(f2)，頻率Π之訊號Μ表示為bl(fl)，頻率f2之訊 2〇 號b2表示為b2(f2)。 弟2(b)圖係顯示輸入及輸出第一端子2a及第二端子2b 之訊號之關係之圖。即成立 bl=Mllxal+M12xa2 b2=M21xal+M22xa2 13 1279554 當端子14a連接端子14b時，由訊號輸出部12輪出之輸入訊 號(此時，令輸入訊號之頻率為fl)，傳送給測定部2〇。當端 子14a連接端子14c時，由訊號輸出部12輸出之輪入訊號（此 時，令輸入訊號之頻率為f2)，傳送給測定部30。 5 内部混頻器16將來自電橋13之訊號，與内部局部訊號 混合後輸出。 接收器（Rch)18(輸入訊號測定裝置），測定内部混頻器 16輸出訊號之S參數。因此，接收器（Rch)18測定關於網路 分析器1所造成之測定系統誤差產生影響前之輸入訊號之S 10 參數。 測定部20，包含有電橋23、内部混頻器26、及接收器 (Ach)28(待測物訊號測定裝置）。 電橋23對淳4a輸出來自訊號源10之訊號。更透過埠4a 接收自DUT2反射回來之訊號及通過DUT2之訊號，提供給 15 内部混頻器26。另外，自DUT2反射回來之訊號及通過131712 之訊號，稱為待測物訊號。 内部混頻器26將來自電橋23之訊號，與内部局部訊號 混合後輸出。 接收器（Ach)28(待測物訊號測定裝置），測定内部混頻 20器26輸出訊號之S參數。因此，接收器（Ach)28測定關於待 測物訊號之S參數。 測定部30，包含有電橋33、内部混頻器36、及接收器 (Bch)38(待測物訊號測定裝置）。 電橋33對埠4b輸出來自訊號源10之訊號。更透過埠4b 15 1279554 接收自DUT2反射回來之訊號及通過DUT2之訊號，提供給 内部混頻器36。另外，自DUT2反射回來之訊號及通過DUT2 之訊號，稱為待測物訊號。 内部混頻器36將來自電橋33之訊號，與内部局部訊號 5 混合後輸出。 接收器（Bch)38(待測物訊號測定裝置），測定内部混頻 器36輸出訊號之S參數。因此，接收器（Bch)38測定關於待 測物訊號之S參數。 DUT用局部訊號振盪器40，將局部訊號Lo(頻率fLo)傳 10 送給 DUT2。 另外，第1圖之狀態，以訊號流程圖表現即為第3圖。 Mil、M21、M12、M22為DUT2真正的（排除測定系統誤差 要因之影響的）M參數。 第3(a)圖顯示（端子i4a與端子i4b連接時）輸入訊號（頻 15率f 1)透過測定部20傳送給DUT2之狀態(稱為順路徑），第3(b) 圖顯示（端子14a與端子14c連接時)輸入訊號(頻率f2)透過測 定部30傳送給DUT2之狀態(稱為逆路徑）。 測定系統誤差要因，於順路徑（參見第3(幼圖）中，有 Edl(起因於電橋方向性之誤差）、mi、E〇1(起因於頻率軌跡 20之誤差）、Esl(起因於源頭匹配之誤差）、Eg2、及EL2。 測定系統誤差要因，於逆路徑（參見第3(b)圖）中，有 Ed2(起因於電橋方向性之誤差）、Ei2、Eo2(起因於頻率執跡 之為差）、Es2(起因於源頭匹配之誤差）、Egi、及eli。 切換器52將接收器（Ach)28之測定結果，傳送給順路徑 16 1279554 取得部60、誤差要因取得部9〇及電路參數測定部98中之任 一者。 切換器54將接收器（Bch)38之測定結果’傳送給逆路裎 取得部70、誤差要因取得部9〇及電路參數測定部98中之任 5 —者。 切換器56將接收器（Rch)18之測定結果，傳送給順路徑 取得部60、逆路徑誤差要因取得部7〇、誤差要因取得部卯 及電路參數測定部98中之任一者。 順路徑誤差要因取得部6〇，透過切換器52，接收接收 1〇為（Ach)28之測定結果。順路徑誤差要因取得部60，更透過 切換器56 ’接收接收！|(Reh)18之敎結果。依據接收器 (Ach)28之測定結果及接收器（Rch)丨8之測定結果，取得順路 徑（參見第3⑻圖）中之Ed卜Eil · E〇1(=Erl)、如、既2。 第4圖係顯示順路徑取得部6〇構造之機能方塊圖。順路 15徑誤差要因取得部60包含有切換器62、第一順路徑誤差要 因取得部64、及第二順路徑誤差要因取得部66。 切換裔62將接收器（Ach)28之測定結果及接收器 (Rch)l8之測疋結果，傳送到第一順路徑誤差要因取得部 或第二順路徑誤差要因取得部66。具體而言，當埠4a連接 20杈正用具6(後述）時，將接收器（Ach)28之測定結果及接收器 (Rch)18之測定結果傳送到第一順路徑誤差要因取得部 64。當淳4a連接埠牝時，將接收器（Ach)28之測定結果及接 收态（Rch)18之測定結果傳送到第二順路徑誤差要因取得 部66。 17 1279554 第一順路徑誤差要因取得部64，取得Edl、Eil · Eol(=Erl)、Esl。第5圖顯示校正用具6之端子6a與埠4a連接 之狀態。校正用具6如特開平1^8054號公報（專利文獻υ， 有OPEN(通路）、SHORT(短路）、LOAD(標準負載Ζ0)三種狀 5 態，為習知者。 第6圖以訊號流程圖表現琿4a與校正用具6連接之狀 態。於是，接收器（Rch)18之測定結果為Ri(fi)，接收器 (Ach)28之測定結果為Al(fl)。以1沿）與八1(^1)之關係，如以 下之數學式。 10 [數學式1]

ErbX 1-EsbX 尊1)κκη) = Edl+ 此處’因連接3種類校正用具6，Rl(fl)與Al(fl)可求出 二種類之組合。因此，所求之變數亦為Edl、Eil · Eol(=Erl)、Esl三種類之變數。 15 第二順路徑誤差要因取得部66，自第一順路徑誤差要 因取得部64接收Edl、Eil · Eol(=Erl)、Esl，並透過切換 杰62 ’接收接收器（Ach)28之測定結果及接收器（Rch) 18之測 定結果。且第二順路徑誤差要因取得部66取得EL2。 第7圖顯示璋4a與埠4b連接之狀態。第8圖以訊號流程 2〇圖表不埠4a與埠4b連接之狀態。此處，接收器（Rch)18之測 疋結果為Rl(fl)，接收器（Ach)28之測定結果為A1(fl)。另 外’以輸入訊號(頻率fl)為透過測定部2〇且自埠乜輸出者。 18 1279554

Rl(fl)與Al(fl)之關係，如以下之數學式。 [數學式2] ^-Edl+ ΕήΕΙ2-R\(fl) \-Es\EI2 此處，因Edl、Erl、Esl為已知，故可求出EL2。第二 5 順路徑誤差要因取得部66，將Edl、Eil · Eol(=Erl)、Esl、 EL2輸出至測定系統誤差要因記錄部80。 逆路徑誤差要因取得部70，透過切換器54，接收接收 器（Bch)38之測定結果。逆路徑誤差要因取得部70，並透過 切換器56，接收接收器（Rch)18之測定結果。依據接收器 10 (Bch)38之測定結果及接收器（Rch)18之測定結果，取得逆路 控（參見第 3(b)圖）中之Ed2、Ei2 · Eo2(=Er2)、Es2、ELI。 第9圖係顯示逆路徑取得部7〇構造之機能方塊圖。逆路 徑誤差要因取得部70包含有切換器72、第一逆路徑誤差要 因取得部74、及第二逆路徑誤差要因取得部76。 15 切換器72將接收器（Bch)38之測定結果及接收器 (Rch)18之測定結果，傳送到第一逆路徑誤差要因取得部科 或第二逆路徑誤差要因取得部76。具體而言，當淳仆連接 到校正用具6(後述)時，將接收器（触)38之測定結果及接收 叩（Rch)l8之測疋結果傳送到第—逆路徑誤差要因取得部 2〇 74。田埠4a連接到埠偏寺，將接收器⑻％之測定結果及 接收為（Reh) 18之測定結果傳送到第二逆路徑誤差要因取 得部76。 19 1279554 第一逆路徑誤差要因取得部74，取得Ed2、Ei2 · Eo2(=Er2)、Es2。關於校正用具6之說明，如前所述故省略。 此處，若接收器（Rch)18之測定結果為R2(f2)，接收器 (Bch)38之測定結果為B2(f2)，則R2(f2)與B2(f2)之關係，如 5 以下之數學式。 [數學式3]

此處，因連接3種類校正用具6，R2(f2)與B2(f2)可求出 三種類之組合。因此，所求之變數亦為Ed2、Ei2 · 10 Eo2(=Er2)、Es2三種類變數。 第二逆路徑誤差要因取得部76，自第一逆路徑誤差要 因取得部74接收Ed2、Ei2 · Eo2(=Er2)、Es2，並透過切換 器72，接收接收器（Bch)38之測定結果及接收器（Rch) 18之測 定結果。且第二逆路徑誤差要因取得部76取得ELI。 15 此處，若接收器（Rch)18之測定結果為R2(f2)，接收器 (Bch)38之測定結果為B2(f2)，則R2(f2)與B2(f2)之關係，如 以下之數學式。另外，使輸入訊號(頻率f2)為自埠4b透過測 定部30輸出者。 [數學式4] W2) = Ed2-\

ErlER 1 一 Es2EIl 20 1279554 此處，因Ed2、Er2、Es2為已知，故可求ELI。第二逆 路經誤差要因取得部76，將Ed2、Ei2 · Eo2(=Er2)、Es2、 E L1輪出至測定系統誤差要因記錄部8 0。 測定系統誤差要因記錄部80，自順路徑誤差要因取得 5 部60接收Edl、Eil · Eol(=Erl)、Esl、EL2，自逆路徑誤差 要因取得部70接收Ed2、Ei2 · Eo2(=Er2)、Es2、ELI，並記 錄之。EcU、Er卜 Es卜 EL2、Ed2、Er2、Es2、ELI係與待 測物之頻率變換無關地產生之測定系統誤差要因。 誤差要因取得部90，取得因頻率變換而產生之傳送執 10跡。另外，將傳送執跡Et21、Etl2分別定義為Et21=Eil · Eg2、Etl2==Ei2 · Egl。傳送執跡係因待測物之頻率變換產 生之測定系統誤差要因。 另外，取得傳送執跡時，如第n圖所示，將校正用混 頻恭8連接到網路分析器1。校正用混頻器8與1)1；丁係大致相 15同之物。然而若第一係數為Μ1Γ及M22,，第二係數為M12, 及Μ2Γ，則| M12, |與| M21，丨之比為一定，且若校正用 混頻器8使用雙向混頻器時，則| mi2, | =丨M21，丨。 對此構造之校正用混頻器8,透過測定部2〇傳送輸入訊 號(頻率Π)，更透過測定部3〇傳送輸入訊號(頻率f2)，此時 20依據接收恭（Rch) 18之測定結果、接收器（Ach)28之測定結果 及接收器（Bch)38之測定結果，取得傳送軌跡。 第10圖係顯不誤差要因取得部9〇構造之機能方塊圖。 誤差要因取得部90包含有測定性誤差要因讀取部91〇、切換 器922、順路徑測定資料取得部924、逆路徑測定資料取得 21 1279554 部926、電路參數取得部(校正用係數輸出裝置)928及傳送軌 跡取得部930。 測定系統誤差要因讀取部910,自測定系統誤差要因記 錄部 80讀取EcH、Er卜 Es卜 EL2、Ed2、Er2、Es2、ELI 等， 5 輸出至傳送軌跡取得部930。 切換器922，將接收器（Rch)18之測定結果、接收器 (Ach)28之測定結果及接收器（Bch)38之測定結果，傳送至順 路徑測定資料取得部924或逆路徑測定資料取得部926。具 體而言，當輸入訊號(頻率fl)透過測定部20傳送時(端子14a 10 與端子14b連接時），將測定結果傳送到順路徑測定資料取 得部924。當輸入訊號（頻率f2)透過測定部30傳送時（端子 14a與端子14c連接時），將測定結果傳送到逆路徑測定資料 取得部926。 順路徑測定資料取得部924，以自切換器922接收之接 15收器（Rch)18之測定結果為Rl(fl)，接收器（Ach)28之測定結 果為Α1(Π)，接收器（Bch)38之測定結果為Bl(f2)，輸出至電 路參數取得部928。 逆路徑測定資料取得部926，以自切換器922接收之接 收器（Rch)18之測定結果為R2(f2)，接收器（八⑻以之測定結 2〇果為A2(f丨），接收器（Bch)38之測定結果為B2(f2)，輸出至電 路參數取得部928。 電路參數取得部（校正用係數輸出裝置)928，依據自順 路控測定資料取得部924接收之R1(fl)、A1(fl)、Bi(f2)及自 逆路徑測定資料取得部926接收之R2(f2)、A2(fl)、B2(f2)， 22 1279554 取得校正用混頻器8之Μ參數。 以由電路參數取得部928取得之Μ參數為Mllm，、 M12m’、M21m’及M22m，，則成為：

Mllm，=Al(fl)/Rl〇fl) 5 M12m’=A2(fl)/R2(f2) M21m，=Bl(f2)/Rl(fl) M22m’=B2(f2)/R2(f2) 傳送執跡取得部930，接收電路參數取得部928取得之 校正用混頻器8之Μ參數Mllm’、M12m’、M21m’及]VI22m， 10 及由測定系統誤差要因讀取部910讀取之Edl、Erl、Esl、 EL2、Ed2、Er2、Es2、ELI，以取得傳送軌跡Et21、Etl2。 首先，詳細解析網路分析器1，可得知如以下第1式之 關係。其證明如後述。另外，ELI、EL2之L以小窝字母表 示0 15 [數學式5]

Egx = Eg2 =

J ^hrElAEa Eh ) ' (第1式） 因此，若設X=Eo2/Eol，則傳送軌跡Et21、Etl2可以如 下之第二式表示。另外，ELI、EL2之L以小寫字母表示。 [數學式6] 20

Et2l = ErxX Etn - Er2 1 - Ed2£dEr2 , l-Ed,、 Er, (第2式) 23

X 1279554 另外，Eol係待測物訊號由DUT2之第一端子2a，以不 隨著頻率變換之方式輸出，至被接收器（Ach)28接收為止， 所產生之誤差要因。Eo2係待測物訊號由DUT2之第二端子 2b，以不隨著頻率變換之方式輸出，至由接收器（Bch)38接 5 收為止，所產生之誤差要因。

Edl、Erl、Esl、ELI、Ed2、Er2、Es2、及EL2，可使 用以測定系統誤差要因讀取部910所讀取者。因此，若能得 知X(Eo2/Eol)，即可求出傳送軌跡Et21、Etl2。 此處，校正混頻器8之]^參數1^11，、]\112，、]^21，、1^22，， 10 及由電路參數取得部928取得之校正用混頻器8之Μ參數測 定結果Mllm’、M12m’、M21m，、M22m，間之關係，可以 如下之第3式表示。不過，省略Mil，等之，(dash)，以Mil等 來表示。另外，ELI、EL2之L以小寫字母表示。 [數學式7]

15 ^ MUm ^Εάλ Er, λ 五’12 f M -Ed l^Es, 1 Erx Μ λ EL 1 Et^ 、M21 M22J ei2 MlXm V ^21 1 + Es2 M 22,11 ~ Edl Eh J κ Et21 私J (第3式) 將第2式代入第3式，求Μ2Γ/Μ12,，則成為如下之第4 式。不過，省略ΜΙΓ等之’(dash)，以Mil等來表示。另外， ELI、EL2之L以小寫字母表示。 20 [數學式8] 24 1279554 仏_丄M21m 1 - £^&1一马 、 & J \^}2+{Μ22ηι -Ed2){Es2 -EL^] Mn X2 Μ]2ηι l-EcLEs2^El2 V Er2 ^ \ [Er^M^-Ed^Es^El,)) / (第4式） 此處，因| M12,丨=| Μ2Γ |，故Μ12，=Μ21，χ〆。然而 此Θ係由局部訊號l〇之相位所決定之定數。整理第4式解出X， 則可得到如下之第5式。不過，省略M11，等之，，以Mn等來 5表示。另外，ELI、EL2之L·以小寫字母表示。 [數學式9] θ X^e~2 ^2\m ^ En ) [£r2 +(Af22/n -Ed2)(Es2 -¾)] 1 \-Ed2ESl~El2 V Er2 ^ \ / (第5式）

另外，以順路徑誤差要因取得部60或逆路徑誤差要因 取知部70 ’在取得測定系統誤差要因之時段中之任意時點 10為基準，並定該基準時點之0為0,可決定第5式中之0。 因此，依據測定系統誤差要因記錄部80所記錄之Edl、 Erl、Esl、ELI、Ed2、Er2、Es2、EL2及電路參數取得部（校 正用係數輸出裝置）928所取得之校正用混頻器8之Μ參數 Mllm’、M12m’、M21m’、M22m’，可求出 Χ(如第5式），並 15可依據X取得傳送執跡Et21、Etl2(如第2式）。 電路參數測定部98，取得DUT2真正之Μ參數。另外， 所謂真正之Μ參數，係指除去誤差要因影響之μ參數。 另外，取得DUT2之真正Μ參數時，如第1圖所示，將 DUT2連接至網路分析器i。對DUT2透過測定部20，傳送輸 20出訊號(頻率fl)，並透過測定部30,傳送輸出訊號(頻率f2)， 25 I279554 此時依據接收器（Rch) 18之測定結果、接收器（Ach)28之測定 結果及接收器（Bch)38之測定結果，取得DUT2之真正Μ參 數。 第12圖係顯示電路參數測定部98構造之機能方塊圖。 5 電路參數測定部98包含有測定系統誤差要因讀取部980、切 換器982、順路徑測定資料取得部984、逆路徑測定資料取 得部986、電路參數取得部988、及電路參數真值取得部989。 測定系統誤差要因讀取部980，自測定系統誤差要因記 錄部 80讀取Edl、Erl、Esl、EL2、Ed2、Er2、Es2、ELI， 10 並輸出至電路參數真值取得部989。 切換器982，將接收器（Rch)18之測定結果、接收器 (Ach)28之測定結果及接收器（Bch)38之測定結果，傳送至順 路徑測定資料取得部984或逆路徑測定資料取得部986。具 體而言，當輸入訊號(頻率fl)透過測定部20傳送時(端子14a 15 與端子Mb連接時），將測定結果傳送到順路徑測定資料取 得部984。當輸入訊號（頻率f2)透過測定部30傳送時（端子 Wa與端子14c連接時），將測定結果傳送到逆路徑測定資料 取得部986。 順路徑測定資料取得部984，以自切換器982接收之接 20 收器（Rch)18之測定結果為Ri(fi)，接收器（Ach)28之測定結 果為A1 (f 1)，接收器（Bch)3 8之測定結果為B1 (f2)，輸出至電 路參數取得部988。 逆路徑測定資料取得部986，以自切換器982接收之接 收為（Rch) 18之測定結果為R2(f2)，接收器（Ach)28之測定結 26 1279554 果為A2(fl)，接收器（Bch)38之測定結果為B2(f2)，輸出至電 路參數取得部988。 電路參數取得部988，依據自順路徑測定資料取得部 984接收之Rl(fl)、Al(fl)、Bl(f2)及自逆路徑測定資料取得 5 部986接收之R2(f2)、A2(fl)、B2(f2)，取得DUT2之Μ參數。 以自電路參數取得部988取得之Μ參數為Mllm、 M12m、M21m及M22m，則成為··

Mllm=Al(fl)/Rl(fl) M12m=A2(fl)/R2(f2) 10 M21m=Bl(f2)/Rl(fl) M22m=B2(f2)/R2(f2) 電路參數真值取得部989，接收電路參數取得部988所 取得之DUT2之Μ參數Mllm、M12m、M21m、M22m、由測 定系統誤差要因讀取部980所讀取之Edl、Erl、Esl、EL2、 15 Ed2、Er2、Es2、EL1、及由誤差要因取得部90取得之傳送 執跡Et21、Etl2，取得DUT2真正之Μ參數Mil、M12、M21、 M22。 DUT2真正之Μ參數Mil、M12、M21、M22可以第3式 求得。 20 接著，說明本發明實施形態之操作。第13圖係說明本 發明之實施形態之操作之流程圖。 首先，取得網路分析器1之測定系統誤差要因(Ed、Es、 EL、Et)(S10)。另外，Ed為Edl及Ed2、Es為Esl及Es2、EL 為ELI及EL2、Et為Et21及Etl2等之簡化表示。 27 1279554 接著，將Dim連接到網路分析器卜測定而似祕 數(S20) 〇 第14圖係顯示網路分析器1之測定系統誤差要因（E d、 Es、EL、Et)之取得順序之流程圖。 5 首先，使用校正用具6，測定Ed、Er、Es(sl〇2)。 詳細來說，首先，將3種類（OPEN(通路）、SH〇RT(短 路）、LOAD(標準負载Z0))之校正用具6連接至物。此時， 接收益（Ach)28之測定結果及接收器（Rch)丨8之測定結果透 過切換器62,傳送給第一順路徑誤差要因取得部64。第一 1〇順路徑誤差要因取得部64則求出Edl、Erl、及如。 並將3種類（OPEN(通路）、SHORT(短路）、l〇AD(標準 負載Z0))之校正用具6連接至埠4b。此時，接收器（Bch)38 之測定結果及接收器（Rch)18之測定結果，透過切換器72， 傳送給弟一逆路徑疾差要因取得部74。第一逆路徑誤差要 15因取得部74則求出Ed2、Er2、及Es2。 接著，使埠4a與璋4b直接連接，測定EL(S104)。 詳細來說，使輸入訊號（頻率fl)透過測定部2〇自埠4a 輪出。此時接收器（Ach)28之測定結果及接收器（Rch)l8之測 定結果，透過切換器62，傳送給第二順路徑誤差要因取得 20 部66。第二順路徑誤差要因取得部66則求出EL2。第二順路 徑誤差要因取得部66並將Edl、Erl、Esl及EL2輸出到測定 系統誤差要因記錄部80。 並使輸入訊號(頻率f2)透過測定部30自埠4b輸出。此時 接收器（Bch)3 8之測定結果及接收器（Rch) 18之測定結果，透 28 1279554 過切換器72，傳送給第二逆路徑誤差要因取得部76。第二 逆路徑誤差要因取得部76則求出ELI。第二逆路徑誤差要因 取得部76並將Ed2、Er2、Es2及ELI輸出到測定系統誤差要 因記錄部80。 5 接者’將校正用混頻器8連接至網路分析器1，測定R、 A、B(S106)。另外，R 為 Rl(fl)及 R2(f2)、A 為 Al(fl)及 A2(fl)、B為Bl(f2)及B2(f2)等之簡化表示。 ό羊細來說’透過測定部20傳送輸入訊號(頻率fi)。此時 接收器（Rch) 18之測定結果、接收器（Ach)28之測定結果及接 10 收器（Bch)38之測定結果，會透過切換器922，傳送給順路 徑測定資料取得部924。順路徑測定資料取得部924則將 Rl(n)、Al(fl)及Bl(f2)輸出至電路參數取得部928。 並透過測定部30傳送輸入訊號（頻率f2)。此時接收器 (Rch)18之測定結果、接收器（Ach)28之測定結果及接收器 15 (Bch)38之測定結果，會透過切換器922，傳送給逆路徑測 定資料取得部926。逆路徑測定資料取得部926則將R2(f2)、 A2(fl)及B2(f2)輸出至電路參數取得部928。 電路參數取得部928則求出校正用混頻器8之Μ參數 Mllm’、M12m，、M21m，及M22m，。 20 最後，傳送執跡取得部930,接收由電路參數取得部928 所取得之校正用混頻器8之]^參數?411111，、“12111，、]^21111，、 M22m’及測定系統要因讀取部910所讀取之Edl、Erl、Esl、 EL2、Ed2、Er2、Es2、ELl，取得傳送執跡Et2卜 Etl2(S108)。 具體而言，由第5式求出X並代入第2式，可取得傳送軌 29 1279554 跡Et21、Etl2。 第15圖係顯示DUT2之M參數取得順序之流程圖。 首先，將DUT2連接至網路分析器i，測定R、a、 B(S202)。 5 洋細來說，透過測定部20傳送輸入訊號(頻率fl)。此時 接收器（Rch) 18之測定結果、接收器（八他)28之測定結果及接 收夯（3(：11)38之測疋結果’會透過切換器982，傳送給順路 徑測定資料取得部984。順路徑測定資料取得部984則將 Rl(fl)、Α1(Π)及Bl(f2)輸出至電路參數取得部988。 10 透過測定部30傳送輸入訊號（頻率f2)。此時接收器 (Rch)18之測定結果、接收器（Ach)28之測定結果及接收器 (Bch)38之測定結果，會透過切換器982，傳送給逆路徑測 定資料取得部986。逆路徑測定資料取得部986則將R2(f2)、 A2(fl)及B2(f2)輸出至電路參數取得部988。 15 接著，電路參數取得部988則求DUT2之Μ參數Mllm、 M12m、M21m及M22m(S204)。 隶後’電路參數真值取得部989，接收由電路參數取得 部988所取得之DUT2之Μ參數Mllm、M12m、M21m、 M22m、測定系統要因讀取部980所讀取之EcU、Erl、Esl、 20 EL2、Ed2、Er2、Es2、ELI，及誤差要因取得部9〇所取得 之傳送軌跡Et21、Etl2，取得DUT2之真正Μ參數Mil、 M12、M21、M22(S206)。 依據本發明之貫施形怨’由於為了求傳送執跡扮21、 Etl2,會進行（1)將校正工具6連接至埠4a、將校正工具6連 30 1279554 接至蟑4b⑵直接連接埠如與埠4b⑶將校正用混頻器8連接 至埠4a及埠4b等取得相位之步驟，故可取得傳送軌跡誤差 之相位，對測定系統之誤差進行修正。 另外，本發明之實施形態中之網路分析器，以具有二 5個用以輸出輸入訊號，並接收來自DUT2之待測物訊號之璋 者進行說明。但如此構成之埠亦可有三個以上。 舉例來說，如第16圖所示，除埠4a、仆以外，亦可有 埠4d、4e。第16圖所示之（第υ變化例，於原有之網路分析 器1中，新增加了埠4d、4e、交換器14之端子14d、14e、電 1〇橋123、133、内部混頻器126、136、接收器（馳)128(待Z 物訊號測定裝置）、接收器（Cch)138(待測物訊號測定裝 置）。其他部份與先前所述相同。另外，第16圖中之DUT用 局部訊號振盪器40、切換器52、54、％、順路徑誤差要因 取得部60、逆路徑誤差要因取得部7〇、測定系統誤差要因 15記錄部80、誤差要因取得部90、電路參數測定部98等，為 方便圖示故省略。 交換器14之端子14d、14e，連接電橋133、123。 電橋123、133 ’將自訊號源1〇傳送來之訊號朝琿4(1、 4e輸出。更透過璋4e、4d，接收從待測物反射回來之訊號 20及通過待測物之訊號，並提供給内部混頻器12ό、136。 内部混頻器126、136,將電橋123、133傳送來之訊號， 與内部局部訊號混合後輸出。 接收器（Dch)128、接收器（Cch)138，測定内部混頻器 126、136輸出之訊號之S參數。 31 1279554 舉例來說’如第17圖所示’除埠4a、4b之外，亦可有 埠4d、4e。第17圖所示之（第2)變化例，係以電橋13b、13c、 13d、13e、内部混頻器 16b、16c、16d、16e及接收器（Rch)18b、 18c、18d、18e，取代第16圖所示之（第l)變化例中之電橋π、 5 内部混頻器16及接收器（Rch)18。第π圖中之DUT用局部訊 號振盪器40、切換器52、54、56、順路徑誤差要因取得部 60、逆路徑誤差要因取得部70、測定系統誤差要因記錄部 80、誤差要因取得部90、及電路參數測定部98等，為方便 圖示故省略。 10 交換器14之端子14b、14c、14d、14e，連接電橋13b、 13c、13d、13e 〇 電橋13b、13c、13d、13e，將自訊號源10傳送來之訊 號，透過電橋23、33、133、123，朝珲4a、4b、4d、4e輸 出。更透過璋4a、4b、4d、4e，接收從待測物反射回來之 15 訊號及通過待測物之訊號，並提供給内部混頻器16b、16c、 16d、16e 〇 内部混頻器16b、16c、16d、16e將自電橋13b、13c、 13d、13e傳送來之訊號，與内部局部訊號混合後輸出。 接收器（Rch)18b、18c、18d、18e，測定内部混頻器16b、 20 16c、16d、16e輸出之訊號之S參數。 依據第17圖所顯示之（第2)變化例，因Esl=ELl、 Es2=EL2…等成立，故測量或演算較容易。 另外，前述之實施形態，可以如下之方法實施。使具 有中央處理器、硬碟、媒體(FLOPPY(登錄商標）DISK、 32 1279554 CD-ROM等）讀取裝置之電腦中之媒體讀取裝置，讀取記錄 有見施鈾述之各部份（舉例來說如順路徑誤差要因取得部 60、逆路徑誤差要因取得部7〇、測定系統誤差要因記錄部 80及誤差要因取得部90)之程式之媒體，並安裝於硬碟中。 5 如此之方法亦可實施前述之實施形態。 [第1式之證明] 將從SG1至Portl為止之路徑，如第18圖所示，分成 A，B，C區塊。當SW於1 :FWD側（輸出訊號時)與2:REV(不輸出 訊號時)側間切換時，只有C區塊之狀態會變化。 10 此處，A區塊之反射係數與傳送係數分別為Ax，Ay B區塊之S係數為Bij(i,j=l，2,3) SW於1:FWD側時，C區塊之反射係數與傳送係數為 Cx，Cy

SW於2:REV側時，C區塊之反射係數為Cz 15 貝彳FWD之模式，以第19圖所示之訊號流程圖表示，REV 之模式，以第20圖所示之訊號流程圖表示。 此處，若整理變數，以僅著眼於接收器之檢波值與Port 訊號，即

Rl(fl)，Al(fl)，A2(fl)，al(fl)，bl(fl)，al，，(fi)，bl，，(fl) 20 之依存關係，則第19圖所示之訊號流程圖可變形為第20圖 所示之訊號流程圖，且第20圖所示之訊號流程圖可變形為 第21圖所示之訊號流程圖。 卩11，卩21，？12，？22，(^,(^分別係叫(4=1，2,3)，八乂，八7之函 數，然而後述之計算不使用包含該等函數之數學式，故不 33 1279554 明白記載。 第21圖所示之訊號流程圖，對應第23圖所示之誤差要 因。第22圖所示之訊號流程圖，對應第24圖所示之誤差要 因。 因此，數式間的關係變成如下： [數學式10]

^si — P22 + Pn 1 1 — j Cx fwd：

Edi = Cy

Qx

Cx l — /^i Cx

Ei'

Cy 1 1 — PnCx 【21 1 Pj j Cx

Eoi^Qy + Pn — ?^ REV： M-P22+P12—p l~PuCz 21 =gy + P12—CZ Qx nl-PuCz^

因此’可計算如下。 [數學式11]

Ed'

Es} - EL 10 …=___ Cx-Cz 〇-PuCx)(l-PnCz) E〇广 Egr =…=- Cz_ P (l-PuCxXl-PuCz) -Eg,

Ed、

Es'- El'

Eo、

Eo}= )—Fj - El、) l EhEox j 1 L 1 £r】J Eo 34 1279554 [第1式之證明結束] 【圖式簡辱> 說^明】 第1圖係顯示本發明之實施形態之網路分析器之方塊 圖。 5 第2(a)圖係顯示DUT2構造之圖。 第2(b)圖係顯示輸入及輸出第一端子2&及第二端子沈 之訊號之關係之圖。 第3⑻圖係顯示端子14 a與端子1扑連接時輸入訊號(頻 率fl)透過測定部20送至DUT2之狀態（稱為順路徑）之圖。 1〇 帛3_係顯示端子14_端子連接時輸人訊號(頻 率⑵透過測定部30送至DUT2之狀態（稱為逆路徑）之圖。 第4圖係顯示稱徑要因取得_構造之機能方塊圖。 第5圖係顯示校正用具6之端子如與埠知連接狀態之 圖。 15 第6圖係顯示埠知與校正用具6之端子6a連接狀態之訊 號流稃圖。 第7圖係顯示埠4a與埠4b連接狀態之圖。 第_係顯示埠如與埠仙連接狀態之訊號流程圖。 第9圖係顯示逆路徑要因取得部7〇構造之機能方塊圖。, 第10圖係顯不誤差要因取得部9〇構造之機能方塊圖。 2 0 第11圖係顯示與網路分析器1為連接狀態下校正用混 雜〆。… 第12圖係顯不電路參數取得部98構造之機能方塊圖。 第13圖係顯示本發明之實施型態之操作之流程圖。 35 1279554 第14圖係顯示網路分析器1之測定系統誤差要因（Ed、 Er、Es、EL、Et)之取得順序之流程圖。 第15圖係顯示DUT2之Μ係數之取得順序之流程圖。 第16圖係顯示變化例（1)之網路分析器1構成之方塊圖。 5 第17圖係顯示變化例（2)之網路分析器1構成之方塊圖。 第18圖係顯示為證明數學式1而參考之網路分析器1構 造之方塊圖。 第19圖係顯示第18圖所示之網路分析器1中FWD模式 之訊號流程圖。 10 第20圖係顯示第18圖所示之網路分析器1中REV模式 之訊號流程圖。 第21圖係顯示第19圖所示之訊號流程圖變化後之圖。 第22圖係顯示第20圖所示之訊號流程圖變化後之圖。 第23圖係顯示相對於第21圖所示之訊號流程圖之誤差 15 要因之圖。 第24圖係顯示相對於第22圖所示之訊號流程圖之誤差 要因之圖。 第25圖係說明先前技術中待測物之電路參數之測定法 之圖。 20 第26圖係先前技術中頻率fl=f2時關於訊號源110之訊 號流程圖。 第27係先前技術中頻率fl不等於頻率f2時關於訊號源 110之訊號流程圖。 第28圖係顯示先前技術中訊號源110與接收部120直接 36

Claims (1)

1279554 十、申請專利範圍： 第94104321號申請案申請專利範圍替換本95年9月！2日修正 1· 一種網路分析器，係用以取得因校正用頻率變換元件之 頻率變換而產生之傳送執跡者，其中： 前述校正用頻率變換元件具有第一端子及第二端 子； 且如述校正用頻率變換元件，係以輸入於前述_方 的端子之訊號與第一係數之乘積，及輸入於另一方的端 子之訊號與第二係數之乘積的和，來表示由前述第_端 子及前述第二端子之中一方的端子所輸出的訊號，且前 述第二係數大小之比係一定者； 且前述網路分析器包含有： 測疋糸統誤差要因$己錄裝置’係記錄有於將信號輪 入前述校正用頻率變換元件之輸入側所產生之測定系 統誤差要因、於前述第一端子的輸入輸出之間所產生的 測定系統誤差要因、及於前述第二端子的輸入輸出之間 所產生的測定系統誤差要因者； 校正用係數輸出裝置，係輸出前述校正用頻率變換 元件之前述第一係數及第二係數之測定值者；及 傳送執跡取得裝置，係依據前述測定系統誤差要因 記錄裝置所記錄之前述測定系統誤差要因、及前述校正 用係數輪出裝置所輸出之前述第一係數與前述第二係 數’取得因頻率變換而產生之傳送軌跡者。 2.如申請專利範圍第1項之網路分析器，其中， 38 1279554 於前述校正用頻率變換元件中，以 前述第一係數為Μ1Γ、M22’ ； 前述第二係數為M12’、Μ2Γ ; 輸入第一端子之訊號為al，自第一端子輸出之訊號 為bl ; 輸入第二端子之訊號為a2’自第二端子輸出之訊號 為b2時，

bl=Mll，xal+M12，xa2 b2=M21’xal+ M22，xa2 10 且 I M12, I / I Μ2Γ I 係一定者。 3. 如申請專利範圍第1或2項之網路分析器，其中對於任一 端子，前述第二係數之大小皆相同。 4. 如申請專利範圍第1項之網路分析器，更包含有： •輸入訊號測定裝置，係於前述測定系統誤差要因產 15 生前，測定關於輸入前述待測物之輸入訊號之輸入訊號 參數者； 複數埠，連接於前述待測物之端子，並輸出前述輸 入訊號；及 待測物訊號測定裝置，係測定關於自前述待測物之 20 端子輸入前述埠之待測物訊號之待測物訊號參數者。 5. 如申請專利範圍第4項之網路分析器，其中前述校正用 係數輸出裝置係利用以前述輸入訊號測定裝置所測得 之前述輸入訊號參數，與以前述待測物訊號測定裝置所 測得之前述待測物訊號參數的比，求出前述校正用頻率 39 1279554 變換元件之前述第一係數及前述第二係數。 6. 如申請專利範圍第4項之網路分析器，其中前述傳送軌 跡取得裝置係依據待測物訊號自被前述待測物之端子 以不隨著頻率變換之方式輸出，至被前述待測物訊號測 5 定裝置接收為止所產生之誤差要因的比，取得前述傳送 執跡。 7. —種網路解析方法，係用以取得因校正用頻率變換元件 之頻率變換而產生之傳送軌跡者，其中： 前述校正用頻率變換元件具有第一端子及第二端 10 子； 且前述校正用頻率變換元件，係以輸入於前述一方 的端子之訊號與第一係數之乘積，及輸入於另一方的端 子之訊號與第二係數之乘積的和，來表示從前述第一端 子及前述第二端子之中一方的端子所輸出之訊號，且前 15 述第二係數大小之比係一定者； 且前述網路解析方法包含有： 測定系統誤差要因記錄步驟，係測定系統誤差要因 記錄裝置執行記錄於將信號輸入前述校正用頻率變換 元件之輸入側所產生之測定系統誤差要因、於前述第一 20 端子的輸入輸出之間所產生的測定系統誤差要因、及於 前述第二端子的輸入輸出之間所產生的測定系統誤差 要因者； 校正用係數輸出步驟，係校正用係數輸出裝置執行 輸出前述校正用頻率變換元件之前述第一係數及第二 40 1279554 係數之测定值者；及 傳送軌跡取得步驟，係傳送⑽ 前述測定系統誤差要因記钎裝番^垃置執仃依據 統誤差要因、及她 之前述測定系 要因及則述校正用係數輸出 第-係數與前述第二係數，取得因頻率變二r述 送執跡者。 換而產生之傳 8· -種電腦可讀取之記錄媒體 網路解析處理之程式者，而該網路解二=: 10 :校—之:::: 子.别迷校正用頻率變換元件具有第-端子及第二端 且前述校正用鮮變換元件，_輸人於前述 的端訊號與第一係數之乘積、及輸入於另—方的端 j號與第—係數之乘積的和，來表示從前述第—端 則述第一鳊子之中一方的端子所輸出之訊號，且前 述第二係數大小之比係一定者； 又，前述網路解析處理包含以下處理·· _ ’則疋系統誤差要因記錄處理，係記錄於將信號輸入 二述k正用頻率變換元件之輸人側所產生之測定系統 2差要因於則述第一端子的輸入輸出之間所產生的測 疋系、、、先誤差要因、及於前述第二端子的輸人輸出之間所 產生的測定系統誤差要因者； 才乂正用係數輸出處理，係輸出前述校正用頻率變換 41 1279554 元件之前述第一係數及前述第二係數之測定值者；及 傳送執跡取得處理，係依據前述測定系統誤差要因 記錄處理所記錄之前述測定系統誤差要因、及前述校正 用係數輸出處理所輸出之前述第一係數及前述第二係 5 數，取得因頻率變換而產生之傳送執跡者。

42 1279554 第94104321號申請案說明書替換頁95年9月1裏日修正 七、指定代表圖： (一）本案指定代表圖為：第（1 )圖。 - (二)本代表圖之元件符號簡單說明： ...網路分析器 2.. .待測物 2a...第一端子 2b…第二端子 2R...RF訊號處理部 21.. . IF訊號處理部 2L...局部訊號處理部 4a、4b···埠 4C...DUT用局部訊號埠 10.. .訊號源 12…訊號輸出部12 13、23、33...電橋 14.. .交換器 14a、14b、14c··.端子 16、26、36…内部混頻器 18…接收器(Rch) 28…接收器(Ach) 38.··接收器(Bch) 20、30…測定部 40.. .DUT用訊號振盪器 52、54、56...切換器 60.. .順路徑誤差要因取得部 70.. .逆路徑誤差要因取得部 80.. .測定系統誤差要因記錄部 90…誤差要因取得部 98.. .電路參數測定部 八、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的化學式：