TWI269520B - Apparatus for the high voltage testing of insulated conductors and oscillator circuit for use with same - Google Patents
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Description
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五、發明説明G 發明範B| 本發明大致關於一種測試絕緣之電導體之裝置,且較 別的是-火花測試器,其包含—改善功率效能之混合雙極 FET功率振盪電路。 1明背景 在一絕緣導體之絕緣之連續測試中,目前通常實際上係 利用在大約500 Hz到大約5〇〇〇 Hz之間之一頻率之一高電 壓j弦波AC電位。一種產生本測試電位之方法係藉由操作 於高電壓變壓器之共振頻率之一自激振盪器,及在對測試 電極之測試下產生之電容。在u.s•專利號碼4,952,88〇中說 明一種用於本目的之適當電路,其中之揭示藉由參考納入 於本發明中。 本發明之一目的係提供一種使用於一絕緣測試裝置之 改進振盪電路,增加振盪器效能,以便於在消除用於散熱 ’或強制空氣冷卻之需求時,增加傳送到負載之功率。 本發明之又一目的係提供一種絕緣測試裝置,其允許高 電壓輸出短路,沒有對電路元件之損壞,及根據短路之去 除’提供高電壓電位到其之預設數值之快速回復。 發明概述 在本發明之一第一觀念中,使用於一絕緣測試裝置之一 振盪電路,其包含具有一初級線圈,及至少一次級線圈之 一變壓器。耦合次級線圈通過一外部負載。在一振盪迴路 中使用至少一雙載子接面電晶體,及搞合於變壓器之初級 線圈’用於產生高頻率電壓。至少一場效電晶體並聯耦合 -4- 本紙張尺歧中國國家料(CNS) A4規格(21G X 297^¥) 1269520
1269520 A7 B7 五、發明説明(3 ) 實質同步傳導於第一及第二雙載子接面電晶體之一驅動 器電路。‘ 驅動器電路較佳具有分別耦合於第一及第二場效電晶 體之閘極之第一及第二數位輸出,以使驅動器電路之第一 輸出具有有關驅動器之第二輸出之一相對數位狀態,用於 激勵第一及第二場效電晶體,分別實質同步傳導於第一及 第二雙載子接面電晶體。 在本發明之一第三觀念中,用於電導體之絕緣之高電壓 測試之一裝置,其包含一絕緣電導體通過其延伸之一電 極。裝置進一步包含具有其包含一初級線圈’及至少一次 級線圈之一變壓器之一振盪電路。次級線圈係耦合通過電 極及接地。在一振盪迴路中使用至少一雙載子接面電晶體 ,及耦合於變壓器之初級線圈,用於產生高頻率電壓。至 少一場效電晶體並聯耦合於雙載子接面電晶體。本發明進 一步提供用於根據變壓器之次級線圈之激勵,及根據在振 盪迴路中到達一預定電壓之一振盪信號,激勵第一及第二 場效電晶體傳導於第一及第二雙載子接面電晶體之一種 裝置,藉此傳傳導過變壓器之初級線圈之電流實質係從雙 載子接面電晶體分流到場效電晶體,明顯減少功率損失, 反之,如果電流僅係傳傳導過雙載子接面電晶體則增加功 率損失。 切換裝置較佳包含一取樣及抑制電路,具有耦合於一充 電電容器之一開關,用於切斷一啻壓調整器迴路,及維持 供應電壓通過充電電容器到振盪迴路。 -6- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 裝 訂
1269520 A7 — B7 五、發明説明(4 ) 本發明之一優點係通過場效電晶體之阻抗及相應電壓 下降,比較於通過雙載子接面電晶體之電壓下降係非常 低。這導致從雙載子接面電晶體到場效電晶體之大部分電 流之分流,以使幾乎完全消除通過電晶體之功率損失。 本發明之另外優點係使用本發明之裝置,其允許高電壓 輸出短路,沒有對電路元件之損壞,及根據短路之去除, 提供高電壓電位到其之預設數值之快速回復。 根據下面詳細說明及附加圖式,本發明之這歧 點將變得更明顯。 一 ' b 1式簡單說明 圖1概略說明一執行本發明之絕緣測試裝置。 較佳實施例之詳細說昍 參閱圖1,大體上以參考數字10指定使用本發明之一絕 緣測試裝置。裝置10使用高電壓以測試電導體之絕緣缺陷 ,例如裸線或針孔。 裝置10包含一振盪電路,具有一高電壓變壓器其具 有一初級線圈14,及個別之第一、第二及第八 々 木夂罘一次級線圈16 二8及20。第一次級線圈16係一高電壓線圈,耦合於具有 藉由22代表之電容,及藉由24代表之電阻之一負載,以使 線圈16及負載電容22組成一反共振調諧電路。次鈒線圈“ 可以,例如,耦合於一絕緣、接地導體移動通過其之一高 電壓測試電極25。然而,次級線圈16可以沒有離開本^ 之範圍,耦合於其它類型負載。. ^ 振盪電路進一步包含依據一"推拉,’操作模式配置之第
1269520 A7 B7 五、發明説明(5 ) 一及第二雙載子接面電晶體(BJTs)26及28,以使在振盪週 期之--半週期時,在其它係在一切斷狀態中時,一電晶 體係在一完全傳導中,及利用假設在振盪週期之其它一半 週期時之相對傳導狀態之電晶體。雖然依據一推拉結構揭 示振盪電路,應該瞭解可以沒有離開本發明之範圍,依據 單一終止,或其它類型之結構執行振盪電路。電晶體26及 28之集極係耦合於變壓器12之初級線圈14之個別終端29 及31。電晶體26及28之射極係互相耦合,及通過一偏壓電 阻器33到地。應該暸解通過各第一及第二電晶體26及28之 集極到射極產生一方波。在一反共振調諳電路上一方波之 使用,產生在電晶體26及28中,及在變壓器12中之大量熱 損失。因此,想要施加一正弦波波形而非一方波通過變壓 器12之初級線圈14,及具有一固定電流特性之一電感器或 扼流圈30係耦合於初級線圈之一中央分接頭32,以吸收在 二個波形中之差異,產生想要之正弦波形。扼流圈30之其 它終端係連接於其可以從,例如,大約〇伏特改變到大約 + 32伏特之一 DC電位。因此,振盪電路由於不影響在反共 振調諧電路上產生之方波,達到具有大改進效能。因此, 電感器30之使用,減少提供一給定功率到通過變壓器12之 第一次級線圈16之終端連接之負載電阻24之必要直流。變 壓器12之第二次級線圈18具有終端34、36,耦合於第一及 第二電晶體26、28之基極,以提供正回授產生振盪。 一低通濾波器,例如,包含一嚏流限制電阻器42、一電 感器43,及其係在電晶體26及28之個別基極之間連接之一 -8 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 1269520 A7 B7 五、發明説明(6 ) 電容器44之一LC濾波器,係使用於防止無線電頻率寄生振 盪。也在基極之間連接前向偏壓電阻器45及47。可以藉由 變壓器洩漏電抗,或藉由在一些電路元件之間共同耦合產 生寄生振盪,例如那些在電晶體26及28,及變壓器12之間 使用一長連接纜線時產生之寄生振盪。在高電壓變壓器, 及振盪電路元件之間係引入相當於數百呎之距離時,可以 維持振盪電路之穩定性。 在一 DC電壓係施加於電感器30時,藉由具有一終端耦合 於一 DC電壓,例如32伏特,及另外終端耦合於電晶體28之 基極之一電阻器46前向偏壓電晶體26及28。在同時》—集 極電壓係通過電感器30,及初級線圈14施加於電晶體26及 28。第二次級線圈18係連接於電晶體26及28之基極,以便 於在初級線圈14中之電流流動感應在第二次級線圈1 8中之 電壓,立即增加在電阻器中之一電阻器之電流流動,及減 少在其它電阻器中之電流流動。 第一次級線圈16及負載電容22組成在例如,大約2到大約 5 kHz之頻率範圍中之一高Q反共振電路,及任何初級電流 改變將在變壓器12之所有線圈中,以在本範圍中之一些頻 率產生一振盪電壓。第二次級線圈1 8施加額外基極電流到 電晶體26及28,不論那個係大部分傳導,及切斷其它電晶 體,直到前者電晶體係在完全傳導中。然後,反共振變壓 器12之行動轉換電晶體26及28之作用,及電晶體持續在切 斷及完全傳導之間變換。電感器30允許反共振變壓器12控 制產生之連續振盪之頻率及波形。在BJTs26及28之基極 -9 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 裝 訂
1269520 A7 _B7^__ 五、發明説明(7 ) 及集極之間分別耦合電容器48及50,防止在高頻率之假振 盪。 . 功率場效電晶體(FETs),例如MOSFETs52及54,係通過 振盪雙載子接面電晶體26及28耦合。如在圖1中所示’第 一及第二FETs52及54之源極係互相耦合,及耦合於第一及 第二BJTs26及2 8之各射極。第一及第二FETs52及54之汲極 係分別耦合於第一及第二BJTs26及28之集極。FETs52及54 之閘極係分別通過偏壓電阻器55及57耦合於接地電位。如 線性振盪器開始振盪,BJTs係在一傳導狀態中,及FETs 係在一非傳導狀態中。進一步,在第三次級線圈20中感應 一正弦波波形,在振盪迴路中之一振盪信號到達一預定電 壓時,傳導通過線圈20耦合之一低電壓開關56,以便於施 加操作電源到FET驅動器58。同時,藉由一電阻器60,及 一交互二極體62鉗正弦波電壓,各元件耦合於線圈20之相 對終端,及通過一緩衝器64施加於FET驅動器58,導致驅 動第一及第二FET電晶體52及54之閘極變換為正,及,依 序,導致FETs52及54分別同步感應於第一及第二雙載子接 面電晶體26及28之傳導。 比較於第一及第二雙載子接面電晶體26及28之集極到 射極電阻,及相應電壓下降,即使在高汲極電流,第一及 第二場效電晶體52及54之汲極到源極電阻,及相應電壓下 降係非常低。因此,藉由第一及第二場效電晶體52及54, 攜帶等於到變壓器12之初級線圈14之所有電流,實質已經 從第一及第二雙載子接面電晶體26及28分流出去。幾乎完 -10- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 五 1269520 、發明説明(8 全消除在第一及第二場效電晶體52及54,及第一及第二雙 載子接面電晶體26及28二者中之功率損失。因此,傳送更 多功率到高電壓負冑,及如比較於僅通過第一及第二雙載 子接=電晶體26及28之料,明㈣加全部效能。 理論上允許僅在一線性模式到開始振盪中使用場效電 晶體。然而,從一特定觀點,在線性模式中係非常難以偏 壓電晶體,及仍然使用其如一低損失高電流開關。用於一 曰通小功率場效電晶體之正常操作電流範圍之中點可以 係15安培,或更多於一操作閘極偏壓之以伏特。在〇·4伏 特之偏壓中之改變將藉由5安培改變集極電流。這係適用 於說月之目的,不可以沒有在射極汲極電路中,或使用複 雜偏壓電路引入大電阻數值產生線性操作。 谷易偏壓雙載子接面電晶體於它們之線性範圍中,以有 效開始振盪。這允許振盪到達一預定振盪輸出電壓,功率 場效電晶體立即接管負載。 繼續參考於圖1,裝置10進一步包含一精密整流器1〇〇, 其使用來自變壓器12之次級線圈2〇之一電壓,以產生其係 直接對稱於在測試電極25之〇到15 kv RMS高電壓之一 〇到 + 10 VDC。本DC係連接於一電壓比較器1〇2之一輸入。比 較器102之其它輸入適過包含開關1〇3 ,及電容器之一 取樣及抑制電路,連接於一電壓調整器1〇6,其提供一 〇到 + 32 VDC到振盪反相器電路,藉此控制高電壓之振幅。
電壓調整器106確保精密整流器100之輸出係接近於控 制電壓,以便於產生直接對稱於控制電壓改變之電極AC -11 - 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS) A4規格(210X297公爱) 訂 線 1269520
測試電位。取樣及抑制電路、及開關ι〇4僅在一針孔 裸線間隔通過測試電極25時,服務如一比較電壓穩定器' 功能。在需要用於誤差完成其通過電_之通道之時脈週 期時,取樣及抑制電路103、107切斷調整器迴路,但是藉 由使用充私之電容器107維持一提供電壓於電壓調整器, 維持DC調整器輸出電壓在其之誤差前之位準。在事件之結 論中,取樣及抑制電路103、1〇7,及電壓調整器ι〇6回^ 無誤差操作,沒有導致高電壓或者太慢上升,或超過其之 適當數值。對確保封閉配置誤差之偵測,及避免過度測試 電位之應用,這特性係重要。 一習知裸線偵測器1〇8反應於來自電感器在對電極25之 測試下,藉由附加一低電壓DC在高電壓上之DC電流流動 ,及然後偵測任何到地之直流流動。這產生用於任何在電 極’及產生電感器之間之歐姆接點之一裸線指示,及係獨 立於高電壓測試狀態。 裝置10可以包含一誤差指示電路11〇,其包含一計時器 電路112、一計數器116,及繼電器118。藉由根據在代表 高電壓電極25之負載中,藉由在測試下產生之功率損失之 振盪電路變化引入DC電流。藉由一 DC電流限制器12〇測量 電流,及電流超過一預定位準,限制器輸出影響電壓調整 器106,以減少提供於振盪電路之電壓,因此維持電流在 預定位準。誤差指示電路11 〇,及裸線偵測器1 〇8也操作一 电流知圍開關114 ’以便於在任何產生誤差通過電極25之 事件中,減少電流限制器120之預定電流位準。
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在一裸露或針孔誤差事件產生時,例如,藉由一十一之 係數,自動減少電流之預定位準。藉由切換電流範圍開關 =4耦合於電流限制器12〇之範圍完成這。這減少在高電壓 電極25内產生之一電弧中之電流,及也減少用於操作人員 之包擊危險。不論何時低電壓偵測器操作,去除對場效電 阳體52及54之驅動,然後藉由雙載子接面電晶體26及28維 持振堡’其在一裸線事件之後立即也重新開始振盪。 在高電壓變壓器次級16之電流中之不連貫短暫改變,其 在一針孔誤差事件係使用於觸發計時器112,計時器112產 生如一針孔誤差通過電極25之一系列脈衝時產生。 裝 雖然已經在一較佳實施例中揭示及說明本發明,應該瞭 解可以沒有離開本發明之精神及範圍產生一些修改。因此 ’已經藉由說明而非限制揭示及說明本發明。 訂
______-13- 本紙張尺度適用中國國冬標準(CNS) A4規格(210X 297公爱)
Claims (1)
- ABCD 1269520 六、申請專利範圍 1. 一種振堡電路,其·包含: 一變壓器(12),其包含一初級線圈(14),及至少一次 級線圈(16、18、20),通過一外部負載耦合該次級線圈; 第一及第二雙載子接面電晶體(26、28),依據在一振 盪迴路中之一”推拉”操作模式連接,及耦合於變壓 器(12)之該初級線圈(14),用於產生一高頻率電壓,該 初級線圈具有二個終端(29、3 1 ),各終端係分別耦合於 該第一及第二雙載子接面電晶體之一個別之集極; 第一及第二場效電晶體(52、54),分別並聯耦合於該 第一及第二雙載子接面電晶體(26、28);及 裝置,用於根據該變壓器線圈(14、16、18、20)之激 勵,及根據在振盪迴路中到達一預定電壓之一振盪信號 ,激勵該第一及第二場效電晶體(52、54),分別實質同 步傳導該第一及第二雙載子接面電晶體(26、28),藉此 傳導通過該初級線圈(14)之電流實質係從該第一及第二 雙載子接面電晶體(26、28)分流到該第一及第二場效電 晶體(52、54),以明顯減少功率損失,否則,如果該電 流僅係傳導通過該雙載子接面電晶體產生功率損失。 2·如申請專利範圍第1項之振盪電路,其中該第一及第二 場效電晶體(52、54)係MOSFETs。 3. 如申請專利範圍第1項之振盪電路,其中該第一及第二 場效電晶體(52、54)係IGFETs。 4. 如申請專利範圍第1項之振盪電路,其中該變壓器(12)包 含一額外次級線圈(20),及其中該激勵裝置包含一低電 -14- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1269520 - C8 D8 六、申請專利範圍 壓開關(56),其耦合於該額外次級線圈,用於根據該額 外次級線圈之激勵導通,及通過該低電壓開關供電之一 驅動器電路(58),用於觸發該第一及第二場效電晶體(52 、54),分別實質同步傳導該第一及第二雙載子接面電晶 體(26 、 28) 〇 5. 如申請專利範圍第4項之振盪電路,其進一步包含一緩 衝器電路(64),插入於該額外次級線圈(20)及該驅動器 電路(58)之間。 6. 如申請專利範圍第4項之振盪電路,其中該驅動器電 路(58)具有第一及第二數位輸出,分別耦合於該第一及 第二場效電晶體(52、54)之閘極,該驅動器電路之該第 一輸出具有關於該驅動器之該第二輸出之一相對數位 狀態。 7. 如申請專利範圍第6項之振盪電路,其中建構該緩衝器 電路(64)如一零交叉偵測器,用於根據各零觸發交叉該 驅動器之各該第一及第二輸出,改變到該相對數位狀 態。 8. 如申請專利範圍第1項之振盪電路,其中該變壓器(12)包 含一額外次級線圈(18),及進一步包含一低通濾波器(42 、43、44),插入於該額外次級線圈及該第一及第二雙載 子接面電晶體(26、28)之基極之間。 9. 如申請專利範圍第8項之振盪電路,其中該低通濾波 器(42、43、44)係一 LC濾波器。 10. —種振盧電路,其包含: -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) A BCD 1269520 六、申請專利範圍 一變壓器(12),其包含一初級線圈(14),及至少一次 級線圈(1 6、1 8、20),通過一外部負載耦合於該次級線 圈; 至少一雙載子接面電晶體(26、28),在一振盪電路中 使用,及耦合於該變壓器(12)之初級線圈(14),用於產 生高頻率電壓; 至少一場效電晶體(52、54),並聯耦合於該雙載子接 面電晶體(26、28);及 裝置,用於根據該變壓器線圈(14、16、18、20)之激 勵,及根據在振盪迴路中到達一預定電壓之一振盪信號 ,激勵該場效電晶體(52、54),藉此傳導通過該初級線 圈(14)之電流實質係從該雙載子接面電晶體(26、28)分 流到該場效電晶體(52、54),以明顯減少功率損失,否 則,如果該電流僅係傳導通過該雙載子接面電晶體(26 、28)產生功率損失。 11. 如申請專利範圍第10項之振盪電路,其中該至少一場效 電晶體(52、54)係一 MOSFET。 12. 如申請專利範圍第10項之振盪電路,其中該至少一場效 電晶體(52、54)係一 IGFET。 13. 如申請專利範圍第10項之振盪電路,其中該變壓 器(12)包含一額外次級線圈(20),及其中該激勵裝置包 含一低電壓開關(56),其耦合於該額外次級線圈,用於 根據該額外次級線圈之激勵導通,及通過該低電壓開關 供電之一驅動器電路(58),用於觸發該場效電晶體(52、 -16- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐)1269520 έ8δ C8 D8 六、申請專利範圍 54),傳導於該雙載子接面電晶體(26、28)。 14\如申請專利範圍第13項之振盪電路,其進一步包含一緩 衝器電路(64),插入於該額外次級線圈(20)及該驅動器 電路(58)之間。 15. 如申請專利範圍第13項之振盪電路,其中該驅動器電 路(58)具有一數位輸出,耦合於該場效電晶體(52、54)之 閘極。 16. —種用於電導體之絕緣之高電壓測試之裝置(10),該裝 置包含: 一電極(25),用於通過一絕緣電導體;及 一振盪電路,其包含: 一變壓器(12),其包含一初級線圈(14),及至少一次 級線圈(16、18、20),通過該電極(25)耦合於該次級線 圈; 至少一雙載子接面電晶體(26、28),在一振盪電路中 使用,及耦合於該變壓器(12)之初級線圈(14),用於產 生高頻率電壓; 至少一場效電晶體(52、54),並聯耦合於該雙載子接 面電晶體(26、28);及 裝置,用於根據該變壓器線圈(14、16、18、20)之激 勵,及根據在振盪迴路中到達一預定電壓之一振盪信號 ,激勵該場效電晶體(52、54),藉此傳導通過該初級線 圈(14)之電流實質係從該雙載子接面電晶體(26、28)分 流到該場效電晶體(52、54),以明顯減少功率損失,否 -17- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 1269520 as B8 C8 _—_____D8_^ 六、申請專利範圍 則’如果該電流僅係傳導通過該雙載子接面電晶體(26 、28)產生功率損失。 17·如申請專利範圍第16項之裝置(1〇),其進一步包含: 一 AC到DC整流器(1〇〇),镇合於一次級線圈(2〇)通信 於該振盪迴路; 一比較器(102),用於比較一控制電壓於該比較器之一 DC輸出電壓,該控制電壓用於調整該電極電壓; 一電壓調整器(106),在調整器迴路中通信於該振盪迴 路’用於維持該整流器(1〇〇)之一 DC輸出電壓,其接近 該控制電壓;及 切換裝置(103、1〇4、107),用於在一裸線或針孔事件 時,反應於該比較器(1〇2)之一輸出電壓,短暫切斷該調 整器迴路,維持一提供電壓到該振盪迴路,及為用於該 比較器之輸出電壓回復到一誤差前位準,導通包含該整 流器(100)之輸出之一回授迴路,藉此該振盪迴路及該回 授迴路快速回復到誤差前電壓位準,沒有因為轉換信號 ’產生一電極電壓或者太慢上升,或超過其之無誤差操 作位準,以便於確保封閉配置誤差之偵測,及避免過度 測試電位之應用。 18.如申請專利範圍第17項之裝置(10),其中該切換裝置包 含一取樣及抑制電路(1〇3、1〇7),其具有一第一開 關(103)耦合於一充電電容器(107),用於切斷該振盪迴 路’及通過該充電電容器維持該提供電壓到該電壓調整 器(106),及一第二開關(1 〇4),用於導通該回授迴路。 -18 - 本纸張尺度適用中國國家樣準(CNS) A4規格(210X297公釐) " --— 1269520 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範園 19·如申請專利範圍第16項之裝置(1〇),其進一步包含裝 置(108、114、120),用於在一裸線或針孔事件產生時, 減少通過該變壓器線圈(14、16、18、20)之輸出電流。 2〇·如申請專利範圍第19項之裝置(1〇),其中該電流減少裝 置包含: 一誤差偵測器(1 08),用於重疊一 DC電壓通過該電 極(25),及偵測任何在該電極,及電感器之間因此通過 之DC電流流動; 一電流範圍開關(114),具有一輸入搞合於該誤差偵測 器;及 一電流調整器(120),具有用於感測振盪迴路電流之一 電流輸入,用於反應於該感測電流,控制該電壓調整 器(106),維持在該振盪迴路中之電流於一預定位準之一 輸出,及耦合於該電流範圍開關(Π4)之一控制輸入,用 於根據沿著一電導體通過該電極(25)之一裸線或針孔事 件之偵測,向下調整該預定電流位準。 21·如申請專利範圍第20項之裝置(1〇),其進一步包含誤差 指示裝置(110),引導轉合於該次級線圈(16、18、20), 用於偵測在該次級線圈之電流中,藉由在一電導體通過 該電極(25)中之一誤差產生之不連貫轉換。 22.如申請專利範圍第21項之裝置(1〇),其中該誤差指示裝 置(110)包含: 一計時器(112),引導耦合於該次級線圈(16、18、20), 用於在一誤差產生於一電導體通過該電極(25)中時,產 -19- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) —I 1269520 as B8 C8 ____D8 六、申請專利範圍 生一系列脈衝,,該計時器係耦合於該電流範圍開 關(114)之一輸入; 一計數器(II6),具有一輸入耦合於該計時器(112), 用於計數藉由該計時器(112)產生之脈衝之數量;及 一繼電器(ns),具有一輸入耦合於該計時器(112), 及用於在接收來自該計時器(112)之脈衝時觸發。 -20-
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI485363B (zh) * | 2011-06-24 | 2015-05-21 | Lumedyne Technologies Inc | 振盪擾動之時域測量的設備及方法 |
TWI725592B (zh) * | 2019-10-29 | 2021-04-21 | 新唐科技股份有限公司 | 測試電路 |
TWI800916B (zh) * | 2020-11-17 | 2023-05-01 | 美商聖圖爾科技公司 | 下降檢測器電路及其方法 |
Families Citing this family (10)
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---|---|---|---|---|
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US7595644B2 (en) * | 2007-08-14 | 2009-09-29 | Texas Instruments Incorporated | Power-over-ethernet isolation loss detector |
AT506816B9 (de) * | 2008-05-28 | 2010-01-15 | Mohaupt Peter Dipl Ing | Vlf-prüfgenerator |
RU2491562C1 (ru) * | 2012-03-14 | 2013-08-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" | Способ контроля изоляции кабельного изделия |
CN102608994A (zh) * | 2012-03-15 | 2012-07-25 | 河北省电力研究院 | 一种变压器冷却装置运行状态模拟电路 |
CN103063992B (zh) * | 2012-12-31 | 2015-08-26 | 山东电力集团公司青岛供电公司 | 振荡波系统 |
EP3128672B1 (en) * | 2015-08-03 | 2021-01-06 | Advanced Automotive Antennas, S.L.U. | Impedance matching circuit |
CN109212450A (zh) * | 2018-09-21 | 2019-01-15 | 北京小米移动软件有限公司 | 测试系统中功率损耗的检测方法及装置 |
US11395041B2 (en) | 2018-09-26 | 2022-07-19 | Rovi Guides, Inc. | Systems and methods for resolving recording conflicts |
US11573258B1 (en) * | 2021-08-16 | 2023-02-07 | Aptiv Technologies Limited | Apparatus and method for testing insulated high voltage devices |
Family Cites Families (18)
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---|---|---|---|---|
JPS4016371B1 (zh) * | 1961-09-26 | 1965-07-28 | ||
US3418570A (en) * | 1966-08-26 | 1968-12-24 | Henry H. Clinton | Electrical device for testing for and counting flaws in the insulation of an electrical conductor passing through an electrode |
US3642008A (en) * | 1968-09-25 | 1972-02-15 | Medical Plastics Inc | Ground electrode and test circuit |
US3689825A (en) * | 1971-09-27 | 1972-09-05 | Design Elements Inc | Inverter drive circuit |
US4153019A (en) * | 1977-04-20 | 1979-05-08 | General Motors Corporation | Peak cylinder combustion pressure ignition spark timing system |
US4310804A (en) * | 1978-02-06 | 1982-01-12 | Motorola, Inc. | Input activated frequency synthesizer |
US4236121A (en) * | 1978-04-05 | 1980-11-25 | Massachusetts Institute Of Technology | Oscillators including charge-flow transistor logic elements |
DE3030485A1 (de) * | 1980-08-12 | 1982-03-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schalthilfe-einrichtung fuer einen bipolaren leistungstransistor |
US4331982A (en) * | 1980-09-25 | 1982-05-25 | Rca Corporation | Sample and hold circuit particularly for small signals |
US4431975A (en) * | 1981-04-16 | 1984-02-14 | Ultrasonic Power Corporation | Oscillator circuit for ultrasonic cleaning |
US4607322A (en) * | 1984-09-17 | 1986-08-19 | Sundstrand Corporation | Energy recovery snubber |
JPS61107813A (ja) * | 1984-10-30 | 1986-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US5056554A (en) * | 1987-02-20 | 1991-10-15 | White F Grove | Fluid loss, damage prevention and control system |
US4952880A (en) * | 1989-03-28 | 1990-08-28 | Clinton Henry H | Apparatus for testing and counting flaws in the insulation of an electrical conductor passing through an electrode |
US5097183A (en) * | 1991-06-25 | 1992-03-17 | Led Corporation N.V. | Master-slave half-bridge DC-to-AC switchmode power converter |
US5649720A (en) * | 1995-11-30 | 1997-07-22 | Morton International, Inc. | Inflators which store premixed fluid fuel and oxidizer in a porous matrix |
JP3940879B2 (ja) * | 2000-06-19 | 2007-07-04 | セイコーエプソン株式会社 | 発振回路、電子回路、半導体装置、電子機器および時計 |
US6213869B1 (en) * | 1999-05-10 | 2001-04-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | MOSFET-type device with higher driver current and lower steady state power dissipation |
-
2001
- 2001-07-24 US US09/911,671 patent/US6611148B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-07-17 DE DE10232479A patent/DE10232479B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-17 GB GB0216503A patent/GB2380076B/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-19 TW TW091116140A patent/TWI269520B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-07-22 CH CH01286/02A patent/CH695962A5/de not_active IP Right Cessation
- 2002-11-18 US US10/298,746 patent/US6608488B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI485363B (zh) * | 2011-06-24 | 2015-05-21 | Lumedyne Technologies Inc | 振盪擾動之時域測量的設備及方法 |
US9705450B2 (en) | 2011-06-24 | 2017-07-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Apparatus and methods for time domain measurement of oscillation perturbations |
US10027281B2 (en) | 2011-06-24 | 2018-07-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Time domain switched ring/disc resonant gyroscope |
TWI725592B (zh) * | 2019-10-29 | 2021-04-21 | 新唐科技股份有限公司 | 測試電路 |
TWI800916B (zh) * | 2020-11-17 | 2023-05-01 | 美商聖圖爾科技公司 | 下降檢測器電路及其方法 |
Also Published As
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---|---|
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