TWI267837B - Servo data detection with improved phase shift tolerance - Google Patents

Description

1267837 及、發明説明（1 ) 發明領域 本發明係關於磁碟驅動系統，特別是關於具有改良式 相移容許度之伺服資料偵測電路。 2·問題描述 磁碟驅動系統在磁性儲存媒介，如磁碟片，上儲存資 料，磁碟包含一系列繞著碟之表面之圓形軌道，使用者 資料及伺服資料被編碼並寫在磁碟片上的軌道，且由在 磁碟片上之磁性移轉代表，磁碟驅動系統使用伺服資料 以尋找使用者資料。 伺服資料在軌道上的週期性位置寫入伺服區段。伺 服資料包括區段號碼，軌道號碼，標頭號碼及指標位元， 使用者資料係寫入於伺服區段之間。當自磁碟驅動系 統之讀取標頭通過一個軌道時，讀取標頭產生一讀取信 號，磁碟驅動系統將讀取信號傳送到讀取通道電路，讀 取通道電路包括伺服電路，伺服電路處理讀取信號以偵 測伺服資料，伺服電路使用伺服資料以在磁碟驅動系統 在軌道追蹤模式時在軌道中央之上方對讀取標頭定位， 伺服電路亦在磁碟驅動系統爲尋找模式時使用伺服資 料以在新軌道上對讀取標頭定位。 目前的伺服電路包含一匹配濾波系統及一比較器，匹 配濾波系統包含八個匹配濾波器，每個匹配濾波器以1 6 位元錯誤校正格雷碼（ECGE)程式化，匹配濾波器接收讀 取信號之取樣，匹配濾波器比較取樣區塊及1 6位元碼， 以產生加權値，比較器接收8個加權値並選擇最高的加 1267837 五、發明説明（2 ) 權値，比較器基於那個加權値被選取而輸出三位元碼， 三位元碼代表傳給匹配濾波器之最爲匹配的取樣區塊 之1 6位元碼，因此，伺服電路選取由樣本代表之最有可 能的三位元碼。 當伺服資料被寫入磁碟片時，有時會產生伺服資料的 相移。代表伺服資料之磁碟轉移理想的是在磁碟片上 之特定位置上開始。當磁性轉移在特定位置之前或之 後開始時，會產生相移。在磁碟上之連續軌道上之相移 有時被稱爲”shingling”。相移可以是不足道的或是可 以達成或超過1位元。一位元相移能使伺服電路自樣 中偵測到錯誤碼，例如，假設寫在磁碟片上之伺服資料 以位元型式” 1 0 1 1 0 1”開始。在伺服資料中之一位元前 移相移可使樣本代表相同之位元型式，如”X101 10”。在 伺服資料中之一位兀後移相移可使樣本代表相同位元 型式如”01 10 IX”，但是，當上述相移發生時，伺服電路可 能不會偵測到對ECGC之適當匹配，使得伺服電路輸出 不正確的伺服資料。因此，上述的伺服電路由於伺服資 料中的相移而易於出錯。 解決方法槪沭 本發明幫助解決不能忍受相移之伺服電路之上述問 題。此伺服電路在伺服資料相移時仍然能夠偵測到伺 服資料。伺服電路有利地提供一更爲可靠且有增進之 性能之磁碟驅動系統，特別是在尋找作業期間。 在本發明之一方面中，伺服電路包含第一伺服偵測系 -4- 1267837 五、發明説明（3 ) 統，第二伺服偵測系統，及一第一比較器。第一伺服偵 測系統自讀取信號接收取樣樣本。樣本包括伺服資料 。第一伺服偵測系統藉由比較樣本與複數個伺服碼而 執行第一比較。第一伺服偵測系統基於第一比較而選 取第一個複數個伺服碼之第一伺服偵測系統顯示複數 個伺服碼之第一個，做爲第一選取碼，第一伺服偵測系 統傳送第一選取碼至第一比較器。 第二伺服偵測系統亦接收樣本，第二伺服偵測系統藉 由比較第一移位之樣本與複數個伺服碼而執行第二比 較。第二伺服偵測電路可藉由將樣本移位一位元而產 生第一移位版本，第二伺服偵測系統基於第二比較而選 取複數個伺服碼之第二個，第二伺服偵測系統然後顯示 複數個伺服碼之第二個做爲第二選取碼。第二伺服偵 測系統將第二選取碼傳送到第一比較器。 第一比較器接收選取碼並執行選取碼的第三比較，第 一比較器基於此第三比較而選取所選取碼之一。選取 碼之一代表伺服資料。 在某些範例中，伺服電路進一步包含第三伺服偵測系 統，第三伺服偵測器亦接收樣本。第三伺服偵測系統藉 由比較樣本之第二移位版本與複數個伺服器而執行第 四比較，弟二何服偵測系統可藉由將樣本移位兩位元而 產生第二移位版本，第三伺服偵測系統基於第四比較選 取複數伺服碼之第三個，第三伺服偵測系統然後顯示複 數伺服碼之第三個做爲第三選取碼。第三伺服偵測系 1267837 五、發明説明< 4 ) 統 將 第 二 選 取 碼 傳 送到第一比較器。第一比較器包括 第 二 比 較 中 之 第 -- 選取碼。 在 本 發 明 之 另 方面中，伺服電路包含第一伺服偵測 系 統 5 二 :伺服偵測系統，及第一比較器。在此範例中， 第 一 伺 服 偵 測 系 統 藉由比較樣本至複數個第一*伺服碼 而 執 行 第 一 比 較 ，第一伺服偵測系統基於第一比較而選 取 複 數 個 第 一 伺 服 碼中之一個，第一伺服偵測系統然後 顯 示 複 數 個 第 一 伺 服碼中之一個做爲第一選取碼，第一 伺 服 偵 測 系 統 將 第 一選取碼傳送至第一比較器。 第 二 伺 服 偵 測 系 統藉由比較樣本與複數個第二伺服 碼 而 執 行 第 二 比 較 ，第二伺服碼可以是第一伺服碼移位 一 位 元 ，第 :fH I B I偵 ί測系統基於第二比較而選取複數個 第 二 伺 服 碼 中 之 —^ 個，第二伺服偵測系統然後顯示複數 個 第 二 伺 服 碼 中 之 一個，做爲第二選取碼，第二伺服偵 測 系 統 將 第 二 々BB 取 碼傳送到第一比較器。 第 — 比 較 器 接 收 這些選取碼亦執行這些選取碼之第 二 比 較 ，第* -比較器基於第三比較選取這些選取碼之一， 這 Ith 々BB 进 取 碼 之 一 代 表伺服資料。 在 某 & 範 例 中 ，第三伺服偵測電路藉由比較樣本與複 數 個 第 二 伺 服 碼 而 執行第四比較，第三伺服碼爲第一伺 服 碼 移 位 兩 個 位 元 ，第三伺服偵測系統基於第四比較選 取 複 數 個 第 三 伺 服 碼之一，第三伺服偵測系統然後顯示 複 數 個 第 二 伺 服 碼 中之一個，做爲第三選取碼，第三伺 服 偵 測 系 統 將 第 二 選取碼傳送到第一比較器。第一比 -6- 1267837 五、發明説明（5 ) 較器包括在第三比較中之第三選取碼。 在本發明之另一方面中，第一伺服偵測系統包括第一 匹配濾波系統及第二比較器，第二伺服偵測系統包含第 二匹配濾波系統及第三比較器，第三伺服偵測系統包括 第三匹配濾波系統及第四比較器，匹配濾波系統可以1 6 位元或8位元錯誤校正格雷碼（E C G C)程式化。 圖式之描述 第1圖爲方塊圖，顯示習知技術之磁碟驅動系統。 第2圖爲方塊圖，顯示習知技術中之伺服電路。 第3圖爲方塊圖，顯示本發明範例中之磁碟驅動系 統。 第4圖爲方塊圖，顯示本發明範例中之伺服電路。 第5圖爲方塊圖，顯示在本發明範例中使用16位元 匹配濾波器之伺服電路。 第6圖爲方塊圖，顯示在本發明範例中，使用具有不 同係數之匹配濾波器之伺服電路。 第7圖之方塊圖，顯示在本發明之範例中，使用8位 元匹配濾波器之伺服電路。 本發明之詳細描沭 習知技術中之磁碟驅動系統-第1 - 2圖 第1圖顯示習知技術中磁碟驅動系統1 0 0之範例。 磁碟驅動系統1 00包括一磁碟裝置1 02及相關控制電 路104,磁碟裝置102包括儲存媒介106,儲存媒介106 包括磁碟，控制電路1 0 4包括寫入通道1 1 〇及讀取通道 -7- 1267837 五、發明説明（6 ) 120,寫入通道11〇包括編碼益112,補償114,及寫入介 面1 16,以串聯連接，讀取通道120包括以串聯連接之取 樣器121,自適應濾波器122,內插器123,偵測器124,及 解碼器126,偵測器124包括伺服器電路125,介面116 及取樣器121與磁碟裝置102通訊。 資料信號130負載使用者資料，寫入通道11〇接收資 料信號1 3 0並傳送一對應寫入信號1 3 3至磁碟裝置 102,磁碟裝置102儲存使用者資料於儲存媒介106,之 後，磁碟裝置102讀取儲存媒介106並傳送對應之讀取 信號1 3 4至讀取通道1 2 0，寫入信號1 3 3及讀取信號 134皆代表使用者資料，讀取通道120處理讀取信號 134以產生資料信號139,理想的是，資料信號139負載 相同的使用者資料，做爲資料信號1 3 0。 寫入通道1 10之作業如下，編碼器1 12接收資料信號 130並對其編碼，以產生編碼信號131，當資料被解碼時 編碼提供錯誤檢查能力，編碼器1 1 2將被編碼之信號 131傳送到補償器1 14,補償器1 14調整被編碼之信號 131中之轉移之時間，以產生時間調整信號13 2,補償器 114將時間調整信號132傳送到介面116,介面116將 時間調整信號1 3 2自類比模式轉換成數位模式以產生 寫入信號133,介面1 16將寫入信號133送到磁碟裝置 102 〇 寫入信號1 3 3驅動改變磁場之磁頭以在磁碟上產生 磁性移轉，這些磁性移轉應代表使用者資料及伺服資料， 1267837 五、發明説明（7 ) 之後，磁頭偵測到磁性移轉以產生讀取信號13 4。 標頭相對於磁碟之定位對正常的系統運作而言是很 重要的，伺服資料儲於磁碟上以促進這個定位，讀取信 號1 3 4包括這個伺服資料，控制電路1 〇4自讀取信號 1 3 4處理伺服資料以控制標頭相對於磁碟之位置。 讀取通道120之作業如下，取樣器121接收讀取信號 134並對其取樣以產生讀取樣本135,取樣器121讀取 樣本1 3 5傳送到自適應濾波器1 2 2，自適應濾波器1 2 2 藉由對讀取樣本1 3 5定型而移除扭曲以產生均衡化樣 本136。自適應濾波器122將均衡化樣本136傳送至 內插器1 2 3，內插器1 2 3使均衡化樣本1 3 6與偵測器 124之時鐘同步以產生內插樣本137,內插器123將內 差樣本1 3 7傳送到偵測器1 24,偵測器1 24使用偵測運 算法，如Viterbi狀態機器以將內插樣本137轉換成爲 代表使用者資料之編碼信號138,偵測器124將編碼信 號138傳送到偵測器126,偵測器124使用伺服電路 125亦自內插樣本137偵測到伺服資料，伺服電路125 產生並傳送代表伺服資料之伺服信號159,解碼器126 藉由解碼技術，如PR4及D = 0限制，而將編碼信號138 解碼成爲資料信號139,解碼器126亦執行錯誤檢查功 會g，資料信號139應代表使用者資料。 第2圖顯示習知技術中伺服電路丨2 5之範例，伺服電 路125包含伺服偵測系統201，正負號位元系統206,及 暫存器20 8,伺服偵測系統201包含匹配濾波系統21 1 1267837 五、發明説明（8 ) 及比較器2 1 4，匹配濾波系統2 1 1包含匹配濾波器2 5 1 -2 5 8 ° 在作業中，正負號位元系統206自內插器123接收內 差樣本137,正負號位元系統206被設定成改變伺服電 路125之極性以匹配內插樣本137之極性，正負號位元 系統206將內插樣本137傳送至暫存器208,暫存器 208接收及緩衝內插樣本137以產生樣本區塊2 3 8,暫 存器208爲16樣本暫存區，暫存器208將樣本區塊238 傳送到匹配之濾波系統2 1 1。 匹配之濾波器25 1 -2 5 8接收樣本區塊2 3 8,匹配之濾 波器2 5 1 -2 5 8以16位元錯誤校正格雷碼（ECGC)伺服碼 程式化，匹配濾波器2 5 1 -2 5 8比較樣本區塊2 3 8及伺服 碼，匹配濾波器25 1 -25 8產生加權値23 9,加權値23 9代 表被程式化至匹配濾波器2 5 1 -2 5 8之伺服碼有多匹配 樣本區塊23 8,匹配濾波器之作業在此領域中爲眾所周 知的，匹配濾波器2 5 1 -2 5 8將加權値23 9傳送到比較器 214,比較器214比較樣本區塊23 8之加權値23 9以決 定那一個濾波器2 5 1 -2 5 8產生最高的加權値，比較器 2 1 4自產生樣本區塊2 3 8之最高加權値之匹配濾波器 2 5 1 -2 5 8選擇伺服碼，比較器214產生代表選取伺服碼 之轉換之三位元碼，三位元碼在第2圖中做爲伺服信號 1 5 9。伺服信號1 5 9應代表伺服資料。 磁碟驅動系統組熊及作業一第3圖 第3圖代表根據本發明之磁碟驅動系統之範例，熟悉 -10- 1267837 五、發明説明（9 ) 此領域之技藝人士可了解有不偏離本發明之範圍之此 範例之各種變化，本領域之技藝人士亦可了解各式特徵 可以結合形成本發明之多元變化，本領域之技藝人士將 了解一些磁碟機系統之傳統方面已被簡化或省略以便 更淸楚地描述。 第3圖顯示磁碟機驅動系統3 0 0，包括磁碟裝置3 0 2 及相關之控制電路3 04。磁碟裝置3 02包括由磁性材 料製成之儲存媒介306。控制電路304包括寫入通道 310及讀取通道320,寫入通道310包括串聯之編碼器 312,補償器314,及寫入介面316。讀取通道320包括 串聯之取樣器3 2 1，自適應濾波器3 2 2，內插器3 2 3，偵測 器3 24,及解碼器326。偵測器324包括伺服電路3 2 5。 介面316及樣本321係耦合至磁碟裝置3 02。 資料信號3 3 0負載使用者資料。寫入通道3 1 0接收 資料信號3 3 0並將對應寫入信號3 3 0傳送至磁碟裝置 3 02。磁碟裝置3 02將使用者資料儲存到儲存媒介306 之上。之後，磁碟裝置3 02讀取儲存媒介306並傳送對 應之讀取信號334至讀取通道3 20。寫入信號3 3 3及 讀取信號3 3 4在代表使用者資料。讀取通道320處理 讀取信號3 3 4以產生資料信號3 3 9。理想的是，資料信 號339與資料信號330相同，負載一樣的使用者資料。 寫入通道3 1 0之運作如下。編碼器3 1 2接收及編碼 資料信號3 3 0以產生編碼信號3 3 1。編碼器3 1 2傳送 編碼後之信號3 3 1到補償器3 1 4。補償器3 1 4調整編 -11- 1267837 五、發明説明（1G ) 碼信號3 3 1中之移轉時間以產生時間調節信號3 3 2 ° 補償器3 1 4傳送時間調節信號3 3 2至介面3 1 6 °介面 3 1 6將類比型式之時間調節信號3 3 2轉換成數位信號 以產生寫入信號333。介面316傳送寫入信號333至 磁碟裝置3 02。 讀取通道320之運作如下，取樣器321接收並取樣讀 取信號3 3 4以產生讀取樣本3 3 5，取樣器3 2 1傳送讀取 樣本3 3 5至自適應濾波器3 22,自適應濾波器3 22藉由 將讀取樣本3 3 5定型而移除扭曲，以產生均衡之樣本 3 3 6。自適應濾波器3 2 2傳送均衡之樣本3 3 6至內插器 3 2 3,內插器323使均衡化樣本3 3 6與偵測器324之時 鐘同步，以產生內插樣本337,內插器323傳送內插樣本 3 3 7至偵測器3 24,偵測器3 24使用偵測運算法以將內 插樣本3 3 7轉換成代表使用者資料之編碼信號3 3 8,偵 測器3 24傳送編碼信號3 3 8至解碼器326,偵測器324 使用伺服電路3 25自內插樣本3 3 7偵測到伺服資料。 伺服電路3 2 5產生及傳送代表伺服資料之伺服信號 3 5 9，伺服電路3 2 5之運作將參考第4圖而被進一步討 論，解碼器326藉由施加解碼技術而將編碼信號3 3 8解 碼成爲資料信號3 3 9,解碼器3 26亦執行錯誤檢查功倉g， 資料信號3 3 9應代表使用者資料。 服偵測系統夕伺服電路-第4圖 第4圖描述根據本發明之伺服電路之特定範例，本領 -12- 1267837 五、發明説明（11 ) 域之技藝人士將了解的是有很多不偏離本發明之範圍 之變化，本發明之技藝人士亦可了解各式特徵可與其他 實施例結合以形成本發明之多元變化，本領域之技藝人 士會了解伺服電路之一些習知部份被簡化或省略以便 更淸楚地描述。 第4圖顯示伺服電路3 2 5之範例之方塊圖，伺服電路 3 2 5包含伺服偵測系統401，伺服偵測系統402,伺服偵 測系統403及比較器416,比較器416耦合至伺服偵測 系統40 1，伺服偵測系統402,及伺服偵測系統403。 在伺服電路3 2 5之運作之第一範例中，伺服偵測系統 401接收內插樣本3 3 7,內插樣本3 3 7包括伺服資料，伺 服偵測系統401藉由比較內插樣本3 3 7與複數個伺服 碼而執行第一比較，伺服偵測系統40 1基於第一比較而 選擇複數伺服碼中之第一個伺服偵測系統40 1然後顯 示複數伺服碼中之第一個爲第一選取碼。伺服偵測系 統40 1傳送第一選取碼至比較器4 1 6。 伺服偵測系統4 0 2亦接收內插樣本3 3 7，伺服偵測系 統4 02藉由比較內插樣本3 3 7之第一移位版本與複數 個伺服碼而執行第二比較，伺服偵測系統402基於第二 比較選取複數個伺服碼中之第二個，伺服偵測系統402 然後顯示複數個伺服碼中之第二個做爲第二選取碼，伺 服偵測系統402傳送第二選取碼至比較器4 1 6。 比較器416自伺服偵測系統40 1 -402接收選取碼，比 較器416執行選碼之第三比較，比較器416基於第三比 -13- 1267837 五、發明説明（12 ) 較選擇選取碼之一，比較器416傳送選取碼之一，選取 碼之一代表伺服資料，並在第4圖中爲信號3 5 9。 在某些範例中，伺服偵測系統403亦接收內插樣本 3 3 7,伺服偵測系統403藉由比較內插樣本33 7之第二 移位版本與複數個伺服碼而執行第四比較，伺服偵測系 統4 0 3基於第四比較而選擇複數個伺服碼中之第三個， 伺服偵測系統403然後顯示複數個伺服碼中第三個做 爲第三選取碼，伺服偵測系統403傳送第三選取碼至比 較器416,比較器416包括在第三比較中之第三選取 碼。 在伺服電路3 2 5之運作之第二範例中，伺服偵測系統 401接收內插樣本3 3 7,伺服偵測系統401藉由比較內 插樣本3 3 7與複數個第一伺服碼而執行第一比較，伺服 偵測系統40 1基於第一比較選擇複數個第一伺服碼之 一，伺服偵測系統40 1然後顯示複數個第一伺服碼中之 一，做爲第一選取碼，伺服偵測系統4 0 1傳送第一選取 碼至比較器4 1 6 ^ 伺服偵測系統4 0 2亦接收內插樣本3 3 7，伺服偵測系 統402藉由比較內插樣本3 3 7與複數個第二伺服碼而 執行第二比較，複數個第二伺服碼可以是第一伺服碼之 位移版本，伺服偵測系統4 0 2基於第二比較選擇複數個 第二伺服碼之一，伺服偵測系統4 0 2然後顯示複數個第 二伺服碼之一，做爲第二選取碼，伺服偵測系統402傳 送第二選取碼至比較器416。 -14· 1267837 五、發明説明（13 ) 比較器416自伺服偵測系統40 1 -402接收選取碼，比 較器4 1 6執行選取碼之第三比較，比較器4 1 6基於第三 比較選取選取碼之一，比較器416傳送選取碼之一，此 選取碼代表伺服資料且於第4圖中爲信號3 5 9。 在某些範例中，伺服偵測系統403亦接收內插樣本 3 3 7。伺服偵測系統403藉由比較內插樣本3 3 7與複數 個第三伺服碼而執行第四比較，複數個第三伺服碼可以 是第一伺服碼及第二伺服碼之位移後版本，伺服偵測系 統403基於第四比較選取複數個第三伺服碼之一，伺服 偵測系統403然後顯示複數個第三伺取碼之一，做爲第 三選取碼，伺服偵測系統403傳送第三選取碼至比較器 416,比較器416包括第三比較中之第三選取碼。 使用1 6位元匹配濾波器之伺服電路-第5圖 第5圖描述本發明之伺服電路之一範例，本領域之技 藝人士將了解的是有很多不偏離本發明之範圍之變化， 本領域之技藝人士亦可了解各式特徵可與其他實施例 結合以形成本發明之多元變化，本領域之技藝人士會了 解伺服電路之一些習知部份被簡化或省略以便更淸楚 地描述。 第5圖顯示伺服電路3 2 5之範例之方塊圖，伺服電路 3 2 5包含正負號位元系統5 06,暫存器5 0 8,伺服偵測系 統40 1，伺服偵測系統402,伺服偵測系統403及比較器 4 1 6,伺服偵測系統401包含匹配濾波器系統5 1 1及比 較器5 1 4。伺服偵測系統4 0 2包含延遲器5 1 8，匹配濾 -15- 1267837

五、發明説明（i4 ) 波器系統512及比較器515,伺服偵測系統403包含延 遲器5 1 9，匹配濾波器系統5 1 3及比較器5 1 6，匹配濾波 器系統5 1 1包含匹配濾波器55丨—558,匹配濾波器系統 5 1 2包含匹配濾波器5 6 1 - 5 6 8，匹配濾波器系統5 1 3包 含匹配濾波器5 7 1 - 5 7 8。 正負號位元系統506係耦合至暫存器，暫存器5 0 8係 耦合至匹配濾波器系統5 1 1，延遲器5 1 8及5 1 9，匹配濾 波器系統5 1 1係親合至比較器5 1 4，比較器5 1 4係連接 至比較器41 6,延遲器518係耦合至匹配濾波器系統 5 1 2，匹配濾波器系統5 1 2係耦合至比較器5 1 5。比較器 5 15係耦合至比較器41 6,延遲器519係耦合至匹配濾 波器系統5 1 3，匹配濾波器系統5 1 5係耦合至比較器 51 6,比較器516係耦合至比較器416。 暫存器5 0 8係一 16樣本暫存器，匹配濾波器551-5 5 8,5 6 1 - 5 6 8及57 1- 5 7 8爲16位元濾波器，匹配濾波器 5 6 1 - 5 6 8及5 7 1 - 5 7 8可以是與匹配濾波器5 5 1 - 5 5 8相同 之濾波器，換言之，匹配濾波器5 5 1 - 5 5 8,匹配濾波器 5 6 1 - 5 6 8及5 7 1 - 5 7 8係以相同的係數被程式化。 在作業中，正負號位元系統506自內插器323接收內 插樣本3 3 7,正負號位元系統5 0 6被設定成改變伺服電 路3 2 5之極性以匹配內插樣本3 3 7之極性成反之，正負 號位元系統5 06傳送內差樣本3 3 7至暫存器5 08。暫 存器5 0 8接收及緩衝內插樣本3 3 7以產生樣本區塊 5 3 8,暫存器5 0 8傳送樣本區塊5 3 8至伺服偵測系統 -16- 1267837 五、發明説明（15 ) 401-403 ° 匹配濾波器系統511接收樣本區塊5 3 8,匹配濾波器 5 5 1 - 5 5 8，在匹配濾波器系統5 1 1中，比較樣本區塊5 3 8 與錯誤校正格雷碼（ECGC)伺服碼，每一個匹配濾波器 5 5 1 - 5 5 8係以1 6位元伺服碼程式化，匹配濾波5 5 1 - 5 5 8 基於伺服碼產生加權値5 3 9。加權値5 3 9代表程式化 成爲匹配濾波器5 5 1 - 5 5 8之伺服碼與樣本區塊5 3 8匹 配之程度，匹配濾波器5 5 1 - 5 5 8傳送加權値5 3 9至比較 器514,比較器514處理加權値539以產生選取碼531， 比較器514根據那個匹配濾波器5 5 1 - 5 5 8爲樣本區塊 5 3 8產生最高之加權値而產生選取碼531,選取碼531 爲3位元碼，其代表1 6位元伺服碼之轉換，1 6位元伺服 碼係程式化成爲產生最高加權値之匹配濾波器5 5 1 -5 5 8，比較器5 1 4傳送選取碼5 3 1及最高加權値至比較 器41 6,最高加權値在第5圖中爲加權値5 3 4。 延遲器518亦接收樣本區塊5 3 8,延遲器518延遲樣 本區塊538 —樣本成一位元，並傳送延遲樣本區塊543 至匹配濾波器系統512,匹配濾波器5 6 1 - 5 6 8,在匹配濾 波器系統512中，比較延遲樣本區塊543爲ECGC伺服 碼，每一個匹配濾波器5 6 1 - 5 6 8係以16位元伺服碼程 式化以匹配使匹配濾波器5 5 1 - 5 5 8程式化之伺服碼，匹 配濾波器5 6 1 - 5 6 8基於伺服碼產生加權値540。加權 値5 40代表使匹配濾波器5 6 1 -5 6 8程式化之伺服碼與 延遲樣本區塊5 4 3匹配的程度，匹配濾波器5 6 1 - 5 6 8傳 -17- 1267837 五、發明説明（16 ) 送加權値5 4 0至比較器5 1 5，比較器5 1 5處理加權値 5 40以產生選取碼5 3 2,比較器515根據那個匹配濾波 器561-568爲延遲樣本區塊543產生最高加權値而產 生選取碼5 3 2,選取碼5 3 2爲一三位元碼，其代表16位 元伺服碼之轉換，1 6位元伺服碼便產生最高加權値之匹 配濾波器5 6 1 -568程式化，比較器515傳送選取碼532 及最高加權値至比較器416。最高加權値在第5圖中 爲加權値5 3 5。 延遲器519亦接收樣本區塊5 3 8,延遲器519將樣本 區塊538延遲兩個樣本或兩位元，並傳送延遲之樣本區 塊544至匹配濾波器系統513,匹配濾波器5 7 1 - 5 7 8,在 匹配濾波器系統5 1 3中，比較延遲樣本區塊5 4 4及 ECGC伺服碼，每個匹配濾波器5 7 1 -5 78以16位元伺服 碼程式化，以匹配使匹配濾波器5 5 1 -5 5 8及5 6 1 -5 6 8程 式化之伺服碼，匹配濾波器5 7 1 - 5 7 8根據伺服碼產生加 權値54 1，加權値541代表使匹配濾波器5 7 1 - 5 7 8程式 化之伺服碼匹配延遲樣本區塊544之程度，匹配濾波器 5 7 1 - 5 7 8傳送加權値541至比較器516,比較器516處 理加權値5 4 1以產生一選取碼5 3 3，比較器5 1 6根據 那個匹配濾波一選取碼5 3 3，比較器5 1 6根據那個匹配 濾波器571-578爲延遲樣本區塊544產生最高加權値 而產生選取碼5 3 3,選取碼5 3 3爲代表16位元伺服碼之 轉換之三位元碼，1 6位元伺服碼使產生最高加權値之匹 配濾波器5 7 1 - 5 7 8程式化，比較器516傳送碼5 3 3及最 -18- 1267837 五、發明説明（17 ) 高加權値至比較器416,最高加權値在第5圖中爲加權 値 5 3 6。 比較器416接收選取碼5 3 1 - 5 3 3及加權値5 3 4-5 3 6， 比較器416基於加權値534-536中之最高者而選取選 取碼531-533之一，比較器416傳送選取碼53卜533之 一，稱爲一被偵測碼，偵測碼在第5圖中爲伺服信號3 5 9, 比較器416亦傳送加權値534-536中之最高者至通道 品質電路，以使通道品質電路能監測偵測器324之性能， 加權値534-536中之最高者在第5圖中爲加權値559。 伺服電路3 2 5可以兩個模式運作，例如，在正常模式 中，伺服電路3 2 5祇使用伺服偵測系統401運作，之後， 磁碟驅動系統3 00可改變伺服電路3 2 5以在相移改良 模式中作業，伺服電路3 2 5使用伺服偵測系統40 1 -403 在相移模式中作業，磁磁驅動系統1 0 0可使用相移改良 模式位元來控制伺服電路3 2 5。 使用具有不同係數之匹配濾波器之伺服電路-第6圖 第6圖描述根據本發明之伺服電路之範例，本領域之 技藝人士可了解有很多不偏離本發明之範圍之變化，本 領域之技藝人士亦可了解的是各式特徵可與其他實施 例結合以形成本發明之多元變化，本領域之技藝人士會 了解伺服電路之一些習知部份被簡化或省略以便更淸 楚地描述本發明。 第6圖顯示伺服電路3 2 5之範例之方塊圖。伺服電 路3 2 5包含正負號位元系統606,暫存器60 8,伺服偵測 -19- 1267837

五、發明説明（18 ) 系統40 1，伺服偵測系統402,伺服偵測系統403,及比較 器41 6,伺服偵測系統401包含匹配濾波器系統61 1及 比較器614,伺服偵測系統402包含匹配濾波器系統 6 12及比較器61 5,伺服偵測系統403包含匹配濾波器 系統6 1 3及比較器6 1 6，匹配濾波器系統6〗1包含匹配 濾波器6 5 1 - 6 5 8 ,匹配濾波器系統6 1 2包含匹配濾波器 6 6 1 - 6 6 8，匹配濾波器系統6 1 3包含匹配濾波器6 7 1 -67 8。 正負號位元系統606係耦合至暫存器608。暫存器 608係耦合至匹配濾波器系統61 1,匹配濾波器系統612, 及匹配濾波器系統6 1 3，匹配濾波器系統6 1 1係耦合至 比較器6 1 4，比較器6 1 4係耦合至比較器4 1 6，匹配濾波 器系統6 1 2係耦合至比較器6 1 5，比較器6 1 5係耦合至 比較器4 1 6 ,匹配濾波器系統6 1 3係耦合至比較器6 1 6， 比較器6 1 6係耦合之比較器4 1 6。 暫存器6 0 8係一 1 6樣本暫存器，匹配濾波器651-65 8,66 1 -668,67 1 -67 8爲16位元濾波器。匹配濾波器 651_658,661-668,及671-678以不同的係數程式化，匹 配濾波器6 5 1 - 6 5 8以係數程式化以匹配第一組伺服碼， 匹配濾波器66 1 -668以係數程式化以匹配第二組伺服 碼，第二組可以是第一組之位移一位元之版本，匹配濾 波器6 7 1 - 6 7 8係以係數程式化以匹配第三組伺服碼，第 二組可以是第一組之位移二位元之版本。 -20- 1267837 五、發明説明（19) 正負號位元系統606自內差器3 2 3接收內插樣本 3 3 7,正負號位元系統606被設定成改變伺服電路325 之極性以匹配內差樣本3 3 7之極性或反之，正負號位元 系統606傳送內差樣本3 3 7至暫存器60 8,暫存器608 接收及緩衝內差樣本3 3 7以產生一樣本區塊63 8,暫存 器608傳送樣本區塊63 8至伺服偵測系統40 1 -403。 匹配濾波器系統61 1接收樣本區塊63 8,匹配濾波器 6 5 1 -6 5 8,在匹配濾波器系統61 1中，比較樣本區塊638 及第一組伺服碼。匹配濾波器65 1 -65 8基於第一組伺 服碼產生加權値63 9,比較器614處理加權値63 9以產 生一選取碼631，比較器614根據那一個匹配濾波器 6 5 1 -6 5 8爲樣本區塊63 8產生最高加權値而產生選取 碼63 1,比較器614傳送選取碼631及最高加權値至比 較器41 6,最高加權値在第6圖中爲加權値63 4。 匹配濾波器系統6 1 2接收樣本區塊6 3 8，匹配濾波器 66 1 -668比較樣本區塊63 8與第二組伺服碼，匹配濾波 器66 1 -668根據第二組伺服碼而產生加權値640,比較 器615處理加權値640以產生選取碼63 2,比較器615 根據那個匹配濾波器66 1 -668爲樣本區塊63 8產生最 高加權値而產生選取碼63 2,比較器615傳送選取碼及 最高加權値至比較器41 6,該最高加權値在第6圖中爲 加權値6 3 5。 匹配濾波器系統6 1 3亦接收樣本區塊6 3 8，匹配濾波 -21- 1267837 五、發明説明（2G ) 器671-678比較本區塊638及第三組伺服碼，匹配濾波 器67 1 -67 8根據第三組伺服器產生加權値641，比較器 6 1 6處理加權値6 4 1以產生選取碼6 3 3，比較器6 1 6根 據那個匹配濾波器671-678爲樣本區塊638產生最高 加權値而產生選取碼6 3 3,比較器616傳送選取碼633 及最高加權値至比較器4 1 6。此最高加權値在第6圖 爲加權値6 3 6。 比較器416接收選取碼63 1 -63 3及加權値634-63 6。比較器416根據加權値63 4-63 6中最高者而選取 選取碼631-633之一，比較器416傳送選取碼之一，亦稱 爲被偵測之碼，被偵測碼在第6圖中爲伺服信號3 5 9,比 較器416亦傳送加權値6 3 4-63 6中之最高者至通道品 質電路以使通道品質電路監測偵測器3 24之性能。加 權値63 4-63 6之最高者在第6圖中爲加權値65 9。 使用8位元匹配濾波器之伺服雷路-第7圖 第7圖描述根據本發明之伺服電路之範例。本領域 之技藝人士可了解有很多不偏離本發明之範圍之變化， 本領域之技藝人士亦可了解的是各式特徵可與其他實 施例結合以形成本發明之多元變化，本領域之技藝人士 亦會了解伺服電路之一些習知部份被簡化或省略以便 更淸楚地描述本發明。 第7圖顯示伺服電路3 2 5之範例之區塊圖，伺服電路 325包含正負號位元系統706,加法器707,暫存器708, 伺服偵測系統4 0 1，伺服偵測系統4 0 2，伺服偵測系統 -22- 1267837 五、發明説明（21 ) 403,及比較器41 6,正負號位元系統706係耦合至加法 器707,加法器707係耦合至暫存器708,暫存器708係 耦合至伺服偵測系統40 1 -403,伺服偵測系統40 1 -403 係耦合至比較器4 1 6。 暫存器70 8爲8樣本暫存器。伺服偵測系統401-403如上述作業並示於第6或7圖中，不同之處在於在 此範例中之伺服偵測系統40 1 -403中之匹配濾波器包 含8位元ECGC伺服碼而不是16位元伺服碼。 在作業中，正負號位元系統706自內插器3 2 3接收內 插樣本3 3 7，正負號位元系統7 0 6係設定成改變伺服電 路3 2 5之極性以匹配內插樣本3 3 7之極性，正負號位元 系統7 0 6傳送內插樣本3 3 7至加法器7 0 7，加法器7 0 7 加入幾對內插樣本337,因爲在ECGC中之所有移轉係 在相同的插行，所以每一個插行之內插樣本3 3 7可被加 入而不用失去任何伺服資料，加法器7 0 7傳送被加入之 樣本7 3 5至暫存器70 8,暫存器708接收及緩衝被加入 之樣本7 3 5，暫存器7 0 8傳送樣本區塊7 3 8之伺服偵測 系統40 1，伺服偵測系統402及伺服偵測系統403。 伺服偵測系統40 1 -403及比較器416在樣本區塊 7 3 8上作業，如上述，在伺服偵測系統4 6 1 - 4 0 3中之匹配 濾波器比較8位元伺服碼與樣本區塊7 3 8，每個匹配濾 波器產生及傳送加權値，其代表每個伺服碼匹配樣本區 塊7 3 8之程度，伺服偵測系統4 0 1 - 4 0 3傳送選取碼5 3 1 -533及加權値534-536至比較器416,選取碼531-533爲 -23- 1267837 五、發明説明（22) 三位元碼，其代表8位元伺服碼之轉換，比較器416產 生被偵測之碼3 5 9及加權値信號75 9,如上述。 本領域之技藝人士將了解落在本發明之範圍內之實 施例之各種變化，如上述。因此，本發明並不被限於上 述之特定範例及描述，而是由下列申請專利範圍及其等 效範圍所界定。 符號說明 1 00,3 00·.·磁碟驅動系統 1 02,302…磁碟裝置 1 04,3 04 ".控帋(1電路 1 06,3 06…儲存媒介 1 10,310…寫入通道 1 20,3 20…讀取通道 1 12,3 12...編碼器 114,314...補償器 116,316…寫入介面 121，321…取樣器 1 22,322···自適應性濾波器 1 23,323…內插器 1 24,3 24·..偵測器 1 26,326.··解碼器 1 2 5,3 2 5.··伺服電路 1 3 0,3 3 0…資料信號 1 3 3,3 3 3…寫入信號 -24- 1267837 五、發明説明（23 ) 1 3 4,3 3 4…讀取信號 1 3 9,3 3 9…資料信號 331，131，138…編碼信號 1 3 2,3 3 2...時間調整信號 1 3 5,3 3 5…讀取樣本 1 3 6,3 3 6…均衡化樣本 1 3 7,3 3 7…內插樣本 671-678,651-658,661-668 …匹配濾波器 6 3 8…樣本區塊 641，640,639,634,635,636···加權値 63 1，63 2,63 3…選取碼 7 0 6...正負號位元系統 707...加法號 70 8…暫存器 73 5…被加之樣本 7 3 8…樣本區塊 7 5 9…加權値信號 -25-

Claims (1)

1267837 六、申請專利範圍 1 · 一種操作被設定成與磁碟驅動系統一同作業的伺服 電路（3 25)之方法，該方法包含： 接收包括伺服資料之樣本； 執行樣本與複數個伺服碼之第一比較； 基於第一比較，選取複數個伺服碼之第一個，並顯 示此複數個伺服碼之第一個做爲第一選取碼； 該方法由下列步驟特徵化： 執行樣本之第一位移版本與複數個伺服碼之第二 比較； 基於第二比較，選取複數個伺服碼之第二個並顯 示複數個伺服碼之第二個，做爲第二選取碼； 執行選取碼之第三比較；及 基於第三比較選取選取碼之一，其中，此一選取碼 代表伺服資料。 2.如申請專利範圍第1項之方法，進一步包含將樣本移 位一位元以產生樣本之第一位移版本。 3 .如申請專利範圍第1項之方法，進一步包含： 使用一匹配濾波器系統（5 1 1)來執行第一比較以產 生複數個加權値（53 9); 基於複數個加樣値，選取複數個伺服碼之第一個。 4.如申請專利範圍第1項之方法，進一步包含： 延遲樣本一位元以產生樣本之第一位移版本； 使用匹配濾波器系統（5 12)來執行第二比較以產生 複數個加權値（540);及 -26- 1267837 六、申請專利範圍 基於複數個加權値，選取複數伺服碼之第二個。 5. 如申請專利範圍第1項之方法，其中第三比較包含比 較與選取碼相關之加權値（53 9-540)。 6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中複數個伺服碼包 含錯誤校正格雷碼（ECGC)。 7 ·如申請專利範圍第1項之方法，進一步包含在執行第 一比較及第二比較之前加入幾對樣本。 8.如申請專利範圍第1項之方法，進一步包含·· 執行樣本之第二位移版本及複數個伺服碼之第四 比較；及 基於第四比較而選取複數個伺服碼之第三個並顯 示此複數個伺服碼之第三個做爲第三選取碼。 9·如申請專利範圍第8項之方法，進一步包含將樣本移 位二位元以產生樣本之第二位移版本。 10.如申請專利範圍第8項之方法，進一步包含： 將樣本移位二位元以產生樣本之第二位移版本； 使用匹配濾波器系統（5 13)來執行第四比較，以產 生複數個加權値（541);及 基於複數個加權値而選取複數個伺服碼之第三 個。 Π .—種被設定成與磁碟驅動系統一同作業之伺服電 路（3 25)，包含： 第一伺服偵測系統（40 1 )，被設定成接收包括伺服 資料之樣本（3 3 7)，執行樣本與複數個伺服碼之第一 -27- 1267837 六、申請專利範圍 比較，基於第一比較而選取複數個伺服碼之第一個， 顯示此複數個伺服碼之第一個，做爲第一選取碼，並 傳送此第一選取碼； 伺服電路由下列特徵化： -第二伺服偵測系統（402)，被設定成接收樣本，執 行樣本之第一位移版本與複數個伺服碼之第二比較， 根據第二比較而選取複數個伺服碼之第二個，顯示 此複數個伺服器之第二個做爲第二選取碼，並傳送 第二選取碼；及 •第一比較器（4 16)，耦合至第一伺服偵測系統及 第二伺服偵測系統，並設定成接收第一選取碼及第 二選取碼，執行選取碼之第三比較，並基於第三比較 而選取選取碼（3 5 9)之一，其中，此選取碼之一代表伺 服資料。 12·如申請專利範圍第11項之伺服電路（32 5)，其中第二 伺服偵測系統（402)被進一步設定成將樣本（3 3 7)移 位一位元以產生樣本之第一位移版本。 13.如申請專利範圍第11項之伺服電路（3 2 5)，其中第一 伺服偵測系統（401)包含： 一匹配濾波器系統（5 11)，設定成接收樣本（3 3 7)，執 行第一比較以產生複數個加權値（5 3 9)，並傳送複數 個加權値；及 第二比較器（5 1 4 )，稱合至匹配濾波器系統及第一 比較器（4 16)，並被設定成接收複數個加權値，基於複 -28- 1267837 六、申請專利範圍 數個加權値選取複數個伺服碼之第一個，顯示此複 數個伺服碼之第一個，做爲第一選取碼（5 31)，並傳送 此第一選取碼至第一比較器。 14. 如申請專利範圍第11項之伺服電路（3 25)，其中第二 伺服偵測系統（402)包含： 一延遲器（5 1 8)，被設定成接收樣本（3 3 7)，將樣本延 遲一位元以產生樣本之第一位移版本，並傳送此第 一位移版本（543); 一匹配濾波器系統（5 12)，耦合至延遲器並設定成 接收第一位移版本，執行第二比較以產生複數個加 權値（5 40)，及傳送此複數個加權値；及 一第三比較器（5 15)，耦合至匹配濾波器系統及第 一比較器（4 16)，並設定成接收複數個加權値，根據複 數個加權値以選取複數個伺服碼之第二個，顯示複 數個伺服碼之第二個，做爲第二選取碼（5 3 2)，並傳送 此第二選取碼至第一比較器。 15. 如申請專利範圍第11項之伺服電路（3 25)，其中第一 比較器（4 16)被進一步設定成藉由比較與選取碼 (5 3 1 -5 3 2)相關之加權値（5 3 4-5 3 5)而執行第三比較。 16. 如申請專利範圍第11項之伺服電路（3 2 5)，其中複數 個伺服碼包含錯誤校正格雷碼（ECGC)。 17. 如申請專利範圍第11項之伺服電路（3 25)，進一步包 含一加法系統（707),耦合至第一伺服偵測系統（401) 及第二伺服偵測系統（402)，並被設定成加入數對樣 -29- 1267837 六、申請專利範圍 本（3 3 7)以產生被加之樣本（73 5)並傳送此被加樣本 至第一伺服偵測系統及第二伺服偵測系統。 1 8.如申請專利範圍第1 1項之伺服電路（3 2 5)，進一步包 含第三伺服偵測系統（403),耦合至第一比較器（416) 並被設定成接收樣本（3 3 7)，執行樣本之第二位移版 本與複數個伺服碼之第四比較，基於第四比較而選 取複數個伺服碼之第三個，顯示此複數個伺服碼之 第三個，做爲第三選取碼（5 3 3 )，並傳送第三選取碼至 第一比較器。 19. 如申請專利範圍第18項之伺服電路（3 2 5)，其中第三 伺服偵測系統（4 03)更進一步設定成將樣本（3 3 7)移 位兩個位元，以產生樣本之第二位移版本。 20. 如申請專利範圍第18項之伺服電路（3 2 5)，其中第三 伺服偵測系統（403)包含： 一延遲器（5 1 9 )，被設定成接收樣本（3 3 7 )，將樣本延 遲兩位元以產生樣本之第二位移版本（5 44)，並傳送 第二位移版本； 匹配濾波器系統（5 1 3)，耦合至延遲器並被設定成 接收第二位移版本，執行第四比較以產生複數個加 權値（5 4 1)，並傳送此複數個加權値； 第四比較器（5 16)，耦合至匹配濾波器系統及第一 比較器（41 6)，並被設定成接收複數個加權値，根據複 數個加權値而選取複數個伺服碼之第三個，顯示複 數個伺服碼之第三個做爲第三選取碼（533)，並傳送 -30- 1267837 六、申請專利範圍 此第三選取碼至第一比較器。 2 1 .—種操作被設定成與磁碟驅動系統一同作業之伺 服電路（325)之方法： 接收包括伺服資料之樣本； 執行樣本與複數個第一伺服碼之第一比較； 基於第一比較而選取複數個第一伺服碼中之一個， 並顯示此複數個第一伺服碼中之一個，做爲第一選 取碼； 此方法由下列步驟特徵化： 執行樣本與複數個第二伺服碼之第二比較，其中， 第二伺服碼包含第一伺服碼之第一位移版本； 基於第二比較而選取複數個第二伺服碼中之一個， 並顯示此複數個第二伺服碼中之一個做爲第二選取 碼； 執行選取碼之第三比較；及 基於第三比較選取選取碼之一，其中此一選取碼 代表伺服資料。 22. 如申請專利範圍第21項之方法，其中第二伺服碼包 含移位一位兀之第一伺服碼。 23. 如申請專利範圍第21項之方法，進一步包含： 使用匹配濾波器系統（6 11)執行第一比較，以產生 複數個加權値（63 9);及 基於複數個加權値而選取複數個第一伺服碼之 -31- 1267837 六、申請專利範圍 2 4 ·如申請專利範圍第2 1項之方法，進一步包含： 使用匹配濾波器系統（6 12)而執行第二比較，以產 生複數個加權値；及 基於複數個加權値而選取複數個第二伺服碼中之 —個。 2 5 .如申請專利範圍第2 1項之方法，其中第三比較包含 比較與選取碼相關之加權値。 2 6 ·如申3靑專利fe圍桌2 1項之方法，其中複數個第一伺 服碼及複數個第二伺服碼包含錯誤校正格雷碼 (ECGC)。 27·如申請專利範圍第21項之方法，進一步包含在執行 第一比較與第二比較之前將幾對樣本加起來。 2 8 ·如申請專利範圍第2 1項之方法，進一步包含： 執行樣本與複數個第三伺服碼之第四比較，其中 第三伺服碼包含第一伺服碼之第二位移版本；及 基於第四比較而選取複數個第三伺服碼之一，並 顯示此一第三伺服碼做爲第三選取碼。 2 9 ·如申請專利範圍第2 8項之方法，進一步包含： 使用匹配濾波器系統（6 1 3)來執行第四比較以產生 複數個加權値（641);及 基於複數個加權値而選取複數個第三伺服碼中之 —個。 3 0 · —種被設定成與磁碟驅動系統一起作業之伺服電 路（325)，包含： -32- 1267837 々、申請專利範圍 第一伺服偵測系統（401)，被設定成接收包括伺服 資料之樣本（3 3 7)，執行樣本與複數個第一伺服碼之 第一比較，基於第一比較而選取複數個第一伺服碼 中之一個，顯不此一第一伺服碼做爲第一選取碼，並 傳送此一選取碼； 此伺服電路之特徵在於： 第二伺服偵測系統（402)，被設定成接收樣本，執行 樣本與複數個第二伺服碼之第二比較，其中，第二伺 服碼包含第一伺服碼之位移版本，基於第二比較而 選取複數個第二伺服碼中之一個，顯示此一第二伺 服碼做爲第二選取碼，並傳送此第二選取碼；及 第一比較器（4 16)，耦合至第一伺服偵測系統及第 二伺服偵測系統，並被設定接收第一選取碼及第二 選取碼，執行選取碼之第三比較，並基於第三比較而 選取選取碼中之一個，其中，此一選取碼代表伺服資 料（3 5 9) 〇 3 1·如申請專利範圍第30項之伺服電路（3 25)，其中第二 伺服碼包含移位一位元之第一伺服碼。 3 2 ·如申請專利範圍第3 0項之伺服電路（3 2 5 )，其中第一 伺服偵測系統（401)包含： 一匹配濾波器系統（6 11)，被設定成接收樣本（3 3 7)， 執行第一比較以產生複數個加權値（6 3 9 )，並傳送此 複數個加權値；及 第二比較器（6 14),耦合至匹配濾波器系統及第一 -33- 1267837 七、申請專利範圍 比較器（4 16)，被設定成接收複數個加權値，基於此複 數個加權値而選取複數個第一伺服碼中之一個，顯 示此一第一伺服碼做爲第一選取碼（631)，並傳送此 一第一選取碼至第一比較器。 33.如申請專利範圍第30項之伺服電路（3 25)，其中第二 伺服偵測系統（402)包含： 匹配濾波器系統（6 12)，被設定成接收樣本（3 3 7)，執 行第二比較以產生複數個加權値（640)，並傳送此複 數個加權値；及 第三比較器（6 15)，耦合至匹配濾波器系統及第一 比較器（4 1 6)，且被設定成接收複數個加權値，基於複 數個加權値而選取複數個第二伺服碼中之一個，顯 示此一第二伺服碼做爲第二選取碼（63 2)，並傳送此 第二選取碼至第一比較器。 3 4.如申請專利範圍第30項之伺服電路（3 2 5)，其中第一 比較器（4 16)更進一步設定成藉由比較與選取碼 (63 1 -63 2)相關之加權値（63 4-63 5)而執行第三比較。 3 5·如申請專利範圍第30項之伺服電路（3 25)，其中第一 伺服器及第二伺服器碼包含錯誤校正格雷碼 (ECGC) 〇 3 6·如申請專利範圍第30項之伺服電路（32 5)，進一步包 含加法系統（70 7)，耦合至第一伺服偵測系統（4 01)及 第二伺服偵測系統（402)，並被設定成將幾對樣本 (3 3 7)加起來，以產生被加之樣本（7 3 5)並傳送此被加 -34- 1267837 六、申請專利範圍 樣本至第一伺服偵測系統及第二伺服偵測系統。 3 7.如申請專利範圍第30項之伺服電路（3 25)，進一步包 含第三伺服偵測系統（403)，耦合至第一比較器（416) 並被設定成接收樣本（3 3 7)，執行樣本與複數個第三 伺服碼之第四比較，基於第四比較而選取複數個第 三伺服碼中之一個，顯示此一第三伺服碼做爲第三 選取碼，並傳送第三選取碼。 3 8.如申請專利範圍第37項之伺服電路（3 2 5)，其中第三 伺服偵測系統（403)包含： 一匹配濾波器系統（61 3)，被設定成接收樣本（337), 執行第四比較以產生複數個加權値（641)，並傳送複 數個加權値；及 一第四比較器（6 16)，稱合至匹配濾波器系統及第 一比較器（4 16)，並被設定成接收複數個加權値，基於 複數個加樣値而選取複數個第三伺服碼中之一個， 顯示此一*第三伺服碼做爲第三選取碼（633)，並傳送 此選取碼至第一比較器。 -35-