TWI254907B - Flat display apparatus and flat display apparatus testing method - Google Patents

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TWI254907B TW093118890A TW93118890A TWI254907B TW I254907 B TWI254907 B TW I254907B TW 093118890 A TW093118890 A TW 093118890A TW 93118890 A TW93118890 A TW 93118890A TW I254907 B TWI254907 B TW I254907B
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1254907 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本&明係關於一種平型顯示裝置及平型顯示裝置之測試 、去此夠應用於例如於絕緣基板上一體形成驅動電路之 、a纟、、員不衣置。本發明藉由將像素電容之佈線圖案中之共 j側獨立於外部連接至預充電電路，從而，即便於使用 ί[低的電晶體之情況下，亦可有效避免可靠度之劣化， 而確貫執行缺陷像素之篩選。 【先前技術】 近年來，於作為應用於例如PDA、行動電話等攜帶式終 置的平型顯示裝置之液晶顯示裝置中，提供有以下構 w者，即⑨作為構成液晶顯示面板之絕緣基板之玻璃基板 上’一體構成液晶顯示面板之驅動電路。 此種液晶顯示裝置藉由液晶單元、作為該液晶單元之開 關元件之多晶矽TFT(Thin Film Transistor :薄膜電晶體）、 保持電容而形成各像素，以矩陣狀配置該像素從而形成顯 示部’藉由配置於該顯示部周圍之各種驅動電路來驅動顯 示部，從而顯示各種圖像。 液晶顯示裝置中，於如此矩陣狀配置之多數像素中，口 要產生1個缺陷’該缺陷像素即會形成明亮的光點而被觀爽 到，使顯示圖像之品質顯著受損。為此，於日本專利㈣ 2002-221547號公報等内，揭示有各種此類缺陷像素之檢= 方法。
[專利文獻IJ 92350.doc 1254907 曰本專利特開2002-221547號公報 但是，於液晶顯示裝置中，存在有即便出廠時之檢查並 未檢測出缺陷像素，也會在市場上經使用而產生缺陷像素 者由此本申明帛之申睛人乃II由力口速測試下之筛選， 達成在出廠檢查時檢測出此種上市後產生之缺陷像素。 換言之，如圖3所示，於液晶顯示裝置中，藉由液晶單元 多晶石夕TFT 3及保持電容4形成各像素，該多晶石夕TFT3 藉由信號線（行線）LC和間極線（列線）LR而分別連接至水平 驅動=路以及垂直驅動電路。於筛選測試中，藉由對與保 持電谷4的信號線側相反側之電極的佈線圖案即共用線 ⑶㈣加付號A所示之脈衝狀的高電壓，能夠針對市場中 之潛在缺陷像素之像素，事先將其檢測為缺陷像素。此處， 將該脈衝狀設定為通常動作電屡的2倍左右之電屡，即 將岭值設定為15[V]左右，且大於良品、即於任何市場上都 不會成為缺陷像素之像素中的電晶體3和電容4之間的
Va ° / ® 4所7^ ’於此種液晶顯示裝置1中’係將從將 仏號線LC預充電至特定電 案介以外部端子Ti、T2::之csie動電路9開始之佈線圖 引到外部，藉此連接到特定之測 ::而執行筛選之測試’進而能夠執行各種測試。 2 /曰之’於圖4所示的液晶顯示裝置1内，將由液晶單元 璃、基夕板曰1 =/Γ4構叙像細輪置在玻 板0上㈣形成顯示和，該顯
以及閘極線LR分別連接A 1口就線LC 連接於水平《電路12、垂直驅動電路 92350.doc 1254907 13。此處，水平驅動電路12以及垂直驅動電路Η形成於顯 示部π之周圍、玻璃基板10上；水平驅動電路12順序輸入 顯示各像素之階調的階調資料，並按照線〇ine)單位將各像 素之驅動信號順序輸出至顯示部11 ;垂直驅動電路13將選 擇该水平驅動電路12之輸出的選擇信號輸出至顯示部η。 藉此，液晶顯示裝置丨藉由閘極線乙尺來選擇以矩陣狀配置之 頌示邛的像素並藉由信號線LC將其驅動，從而於顯示部u 内顯示所需要的圖像。 液晶顯示裝置丨介以作為主動元件之電晶體構成之開關 電路15而能夠阻斷水平驅動電路12和信號線1^：之連接，又 介以同樣的開關電路16而能夠將信號線LC連接至共用線 COM。由此，液晶顯示裝置丨之結構係分別將開關電路μ 和16設定為斷開狀態和接通狀態，藉由c s驅動電路9將信號 線LC預充電至特定電壓後，將開關電路15和16切換至接通 晶顯示裝置1之驅動方式如訊框反轉、線（Hne)反轉等，而 於特定時序執行。又，於圖4所示之結構内，c係外部電容， 1 8係銲塾電極。 篩^測忒之執行方式，係於阻斷端子丁丨和τ2間連接之狀 2下，藉由將供作預充電之開關電路15和16設定為斷開狀 ，以及接通狀態並對端子Τ2施加特定電壓，藉此將保持電 容^兩端電壓設定為特定電壓後，將開關電路16設定為斷開 狀態，並從端子Τ2施加針對圖3所述之脈衝狀電壓。 但是，於此種測試方法中，不僅需對保持電容4,亦需對 92350.doc 1254907 開關電路16施加脈衝狀的高 ^ _ 土。由此，對於於使用耐壓 呵的电晶體之情形下，雖麸妒丄 是，#一丄广 ’点此夠愛無問題地進行篩選，但 兮一 體構成液晶顯示裝置1之情形下， ^師選測試反而會有使液晶顯 題。 展置1之可罪性劣化之問 本發明係考慮到以上問題點而 種+ $ _ _ # $ 出/、目的在於提供一 裡十坦顯不裝置以及平型顯 ™ ,+ „ „ ^ a i，，，、員不虞置之測試方法，即便於使 用耐Μ低之電晶體之情形 下亦旎有效避免可靠性之劣 ，而能夠確實執行缺陷像素之篩選。 【發明内容】 用於解決上述問顯夕士主七
Ig 1 月求項1之發明，適用於以下之平型 ..、、貝不破置：於基板上一體 ^ _ 从跑|早狀配置像素之顯示部以 驅動琶路者，該驅動電路係 # |1 格係猎由閘極線來選擇顯示部之 像素亚猎由信號線將其 # U k而於顯不部顯示所需之圖 像。凊求項}之發明，其 命 特疋守序對信號線進行預充 i之預充電電路；像辛#ώ 结”7 冢京係猎由閘極線選擇，具有依據信號 線之電位予以充電之電 少玉备之佈線圖案中、連接 衣與“號線側相反側之電極 安 〆 4上t冤極側的電容之佈線圖 木’係與將信號線連接至預奋雷 安μ 1 安預充電電路之信號線側之佈線圖 案-緣’而由基板之外部而連接至預充電電路。 ^請求項3之發明，適用於以下構成之平型顯示裝置之測 :法·於基板上一體形成以矩陣狀配置像素而成之顯示 告驅動，路者’該驅動電路係藉由閉極線來選擇顯示 像素亚藉由仏號線將其驅動，而於顯示部顯示所需之 92350.doc UM907 圖像。請求項3之於明由 對信號線進行預充\ ’該平型顯示裝置包含以特定時序 擇，目士 电預充電電路；像素係藉由閘極線選 :線圖Γ據信號線之電位予以充電之電容;至少電容之 之：一中、連接至與信號線側相反側之電極上的電極侧 之你、令圖案’係與將信號線連接至預充電電路之信號線側 佈線圖案絕緣，而由基板外部連接至預充電電路；平型 外衣置之測5式方法係於將電極側之佈線圖案引出到基板 力/的位置與將該佈線圖案連接至預充電電路的位置之間 加脈衝狀之電壓，從而可檢測像素缺陷之位置。 根據明求項1之結構，其適用於以下平型顯示裝置··於基 反上·體形成以矩陣狀配置像素而成之顯示部以及驅動電 者口亥驅動電路係藉由閘極線來選擇顯示部之像素並藉 由信號線將其驅動，藉此於顯示部内顯示所需之圖像；其 包：以特定時序對信號線進行預充電之預充電電路；像素 二藉由閘極線述#，具有依據信號線《電位予以充電之電 谷’至少電容之佈線圖案中、連接於與信號線側相反側之 電極的電極側之佈線圖案，係與將信號線連接到預充電電 路之信號線側之佈線圖案絕緣’而由基板外部連接到預充 電電路，則於阻斷該外部連接之位置而將信號線側保持為 特定電壓之狀態下，藉由對電極侧施加脈衝狀之電壓，能 夠以不對彳5號線側施加咼電壓之方式來執行篩選測試。由 此，可避免對設置於信號線側之包含TFT等而構成之主動元 件施加高電壓，即便於使用耐壓低之主動元件而構成之情 形下，亦能有效避免可靠性之劣化，而能夠確實執行缺陷 92350.doc -10- 1254907 像素之篩選。 由此，根據請求項3之結構，能夠提佴 何供一種平型顯示裝置 之測試方法，其即便於使用耐壓低之±叙一， <主動凡件而構成之情 而能夠確實執行缺 形下，也能夠有效避免可靠性之劣化， 陷像素的篩選。 【實施方式】 以下，參照適當圖式， 圖1係利用與圖4之對比 詳細說明本發明之實施方式。 來顯示本發明實施方式的液晶顯 示裝置之方塊圖。於該液晶顯示裝置21中，凡是與針對圖4 所述之上述液晶顯示裝置1相同之結構，均標註對應之符號 並省略重複之說明。 該液晶顯示裝置21係以以下方式構成：於玻璃基板上， 一體形成以矩陣狀配置像素而構成之顯示部丨丨以及驅動電 路12、13，該驅動電路12、13係藉由閘極線lR選擇該顯示 邛11之像素並藉由“號線LC將其驅動，而在顯示部丨丨内顯 不所需圖像。以特定之時序對信號線進行預充電之預充 私電路，係以於該玻璃基板1〇上設置cs驅動電路9之方式形 成0 於該液晶顯示裝置21内，預充電處理之信號線lc側之佈 線圖案LCC係於基板1〇上連接至匚8驅動電路9，並介以開關 電路16連接至信號線LC。與保持電容4之信號線側相反側之 佈線圖案即共用線C0M，係與信號線LC側之佈線圖案LCC 絕緣’而連接至端子T2 ;又信號線Lc側之佈線圖案LCC係 連接至與該端子Τ2相鄰之端子T1。由此，該液晶顯示裝置 92350.doc 1254907 構成方式，係使連接至保持電容4的佈線圓案中與信號 線LC側才目反側之電極上之電極側之佈線圖案匸⑽，與將信 號線LC連接至預充電電路9上之信號線側之佈、㈣案[π 、巴、彖而由基板1 0之外部連接至預充電電路9。 曰由此，液晶顯示裝置21係構成為：藉由與先前結構之液 晶顯不裝置1(圖4)不同的路徑將信號線咖充電至保持電 容4之電位後，藉由水平驅動電路12、垂直驅動電㈣之驅 動，來驅動各像素，從而顯示所需要之圖像。
對此，圖2係顯示檢查時該液晶顯示裝置21與測試裝置^ 之連接的方塊圖。本實施方式中，係於玻璃基板1〇上形成 各種驅動電路12、13、顯示部11等後，藉由該測試裝置22 執行各種動作測試。其中，該動作測試之執行，係藉由控 制器23來控㈣試裝置22之動作，從測試裝置22向液晶顯 不裳置2 1輸出動作基準用睥 一 守脈有關測試之各種顯示用 資料’藉此確認液晶顯示裝置21之動作。於本實施方式中，
對於如此執行之測試項目中―，設置有缺陷像素之筛選測 試0 於該篩選測試中，測試裝置22將開關電路15、16分別設 疋為斷開狀態、接通狀態’並將端子τι_σΤ2設定在特定電 位。於本實施方式中，例如，藉由將該端子们㈣連接於 測試裝置22之接地線，從而使該特定電位設定為接地電位。 接下來，賴裝置22將端子⑽接地電位斷開，施加針 對圖3所述之脈衝狀之高電壓。由此，於本實施方式中，於 各像素中，對電晶體3和保持電容4之間施加動作電壓以上 92350.doc -12- 1254907 之電厂堅，而能夠於接下來之缺陷像素之檢測處理中，檢測 出市場中潛在缺陷像素之像素。 安但是’於本實施方式中’如此藉由將像素電容4之佈線圖 木LCC、C〇M中的共用線⑶關獨立於外部連接至預充電 ⑽’以不對開關電路16施加高電塵之方式來執行筛選測 由此，即便於使料職之電晶體之情形下，也能有 效避免可靠性之劣化，而能夠確實執行有關缺陷像素之篩 選。 根據以上結構’如此藉由將像素電容之佈線圖案中的共 用線側獨立於外部連接至預充電電路，即便於使用耐壓低 ，電晶體構成之情形下’也能有效避免可靠性之劣化，而 能夠確實執行有關缺陷像素之篩選。 又於上述實施方式中，乃針對僅將共用線c〇M於外部連 接之情形進行描述，但本發明並不僅限於此，即便對於信 號線側之佈線圖案LCC，也可以射卜部連接至sc驅動電路口。 又於上述實施方式中，乃針對將本發明應用到於玻璃基 板上形成顯示部等而構成之TFT液晶之情形進行說明，但本 發明並不僅限於此，本發明可廣泛應用於CGs(c〇ntinu⑽s Gram Silicon :連續晶粒矽）液晶等各種液晶顯示裝置，乃 至於EL(Electro Luminescence:電場發光）顯示裝置等各種 平型顯示裝置。 發明效果 如上所述根據本發明，藉由將像素電容之佈線圖案中的 共用線侧獨立於外部連接至預充電電路，從而即便於使用 92350.doc -13 - 1254907 而f壓低之雷s雕 劣 化，λ日日構成之6形下，也能有效避免可靠性 ’而能夠確實執行有關缺陷像素之篩選。 【圖式簡單說明】
圖1係顯 示有關本發明實施方式 之液晶顯示裝置之方塊 圖2係供作圖1之液晶顯示裝置的測試說明之方塊圖 圖3係供作圖丨之液晶顯示裝置的篩選說明之連接圖 圖4係顯示先前之液晶顯示裝置之方塊圖。 【主要元件符號說明】 1、21 液晶顯不裝置 2 液晶早元
3 TFT 4 保持電容 9 CS驅動電路 10 玻璃基板 11 顯示部 15、16 開關電路 92350.doc 14

Claims (1)

1254907 '申請專利範圍： 一種平型顯示裝置，其係於基板上—體形成以矩陣狀配 置像素而成之《、、員示部以及驅動電路者，該驅動電路係藉 由閘極線選擇並藉由信號線驅動上述顯示部之像素，而 於上述顯示部顯示所需圖像；其特徵在於， 匕3以特疋日可序對上述信號線進行預充電之預充電電 路； 上述像素係藉由上述閘極線選擇，具有依據上述信號 線之電位予以充電之電容； 至少上述電容的佈線圖案中、連接至與上述信號線側 相反侧之電極的電極側之佈線圖案係與將上述信號線連 接於上述預充電電路之信號線側之佈線圖案絕緣，而由 上述基板之外部連接至上述預充電電路。 。月求項1之平型顯示I置，其中上述信號線側之佈線圖 案係介以利用主動元件之開關電路而連接至上述信號 線； 上述主動元件係由低溫多晶矽或CGS構成之元件。 3· 一種平型顯示裝置之測試方法，該平行顯示裝置係於基 板上一體形成以矩陣狀配置像素而成之顯示部以及驅動 電路者，該驅動電路係藉由閘極線選擇並藉由信號線驅 動上述顯示部之像素，而於上述顯示部顯示所需圖像； 其特徵在於， 上述平型顯示裝置包含以特定時序對上述信號線進行 預充電之預充電電路； 92350.doc 1254907 上述像素係藉由上述閘極線選擇，具有依據上述信號 線之電位予以充電之電容； 至乂。亥甩谷的佈線圖案中、連接至與上述信號線側相 反側之電_電極側之佈線圖案⑽將上述信號線連接 方、上述預充電電路之信號線側之佈線圖案絕緣，而由上 述基板之外部連接至上述預充電電路； 上述平型顯示裝置之測試方法係在將上述電極侧之佈 線圖案引出到上述基板外部的位置與將上述佈線圖案連 接至上述預充電電路之位置之間，施加脈衝狀之電壓， 而能夠檢測出上述像素之缺陷的位置。 92350.doc
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