TWI246991B - Vacuum degassing method for molten glass flow - Google Patents

Description

1246991 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明有關一種供熔融玻璃流真空去氣方法，其可以 自熔融玻璃材料製得之熔融玻璃連續流中適當且有效地去 除氣泡。 【先前技術】 迄今’常使用一種精製製程，在藉由成形裝置成形該 熔融玻璃之前，去除在熔融爐中熔融玻璃原材料所製得熔 融玻璃中產生之氣泡，以改良所形成玻璃產物之品質。 已知此種係將一種精製劑（諸如硫酸鈉（Na2S 04)先添 加於玻璃原材料中，並將熔融包含精製劑之原材料所製得 之熔融玻璃貯存並保持於預定溫度一段預定時間，此段期 間熔融玻璃中之氣泡藉由該精製劑之助生長，上升至熔融 玻璃表面，並去除該氣泡。 此外，已知一種真空去氣方法，其中在熔減壓下將融 玻璃導入一種真空氣氛中；於此減壓條件下，熔融玻璃連 續流中之氣泡長大並升至熔融玻璃表面，氣泡於此處破裂 並去除，然後自該真空氣氛取出該熔融玻璃。 在上述真空去氣方法中，該熔融玻璃流係於一種減壓 下成形，其中氣泡包含在熔融玻璃中之時間相對較短，而 且藉著熔融玻璃中長大氣泡之浮力升至表面，然後該等氣 泡於熔融玻璃表面破裂。以此方式，該方法可以有效地自 熔融玻璃表面去除氣泡。爲了有效地自熔融玻璃表面去除 -5- (2) 1246991 氣泡，必須提出高氣泡上升速度，如此此等氣泡在減壓條 件下來到熔融玻璃表面。否則，此等氣泡會隨著熔融玻璃 流排出，致使最終玻璃產物包含氣泡，而且具有瑕疵。 因此，一般認爲真空去氣作用之減壓氣氛中壓力必須 儘可能愈小，以使氣泡長大並提高上升速度，因而改良真 空去氣作用之效果。 然而，當真空去氣作用之減壓氣氛中壓力降低時，熔 融玻璃中有時會產生若干新氣泡，而且該氣泡上升至熔融 玻璃表面，形成不破裂之浮動泡沬層。該泡沫層會隨著熔 融玻璃流排出，在玻璃產物中形成瑕疵。當泡沬長大時， 該熔融玻璃上表面之溫度降低。該泡沬層可能難以破裂， 因此該泡沬層會進一步發展。因此，該真空去氣裝置內部 裝滿不破裂氣泡。完全裝滿該裝置之泡沬層可能會與該裝 置頂之雜質接觸；因此其使最終玻璃產物具有產物。所以 ，就真空去氣作用有效處理而言，真空去氣氣氛中之壓力 過低並不佳。 此外，熔融玻璃中之氣泡上升速度係由熔融玻璃速度 以及氣泡大小所決定。因此，一般認爲熔融玻璃之速度降 低或是熔融玻璃溫度提高可以使氣泡有效地升至表面。然 而，當熔融玻璃之溫度有效地提高時，導致與與熔融玻璃 接觸之流動路徑材料（諸如耐火磚）的活性反應。其會產生 新的氣泡，以及部分流動路徑材料溶解至該熔融玻璃中， 因此造成玻璃產物品質惡化。此外，當流動路徑材料之濃 度降低時，該流動路徑之使用期限縮短，而且需要一個額 -6 - (3) 1246991 因此，爲 低真空去 有效去氣 OF NEW c 方法之真 6[噸/日] 降低至約 大氣壓力 璃於真空 真空去氣 由一個真 匕升管44 ^容器42 ，於減壓 融玻璃中 至一個下 ，〇 〇 〇厘泊 外設備（諸如加熱器）’以保持熔融玻璃之高溫° 了進行適當且有效之真空去氣處理’很難過度降 氣之壓力’同時又過度提局熔融玻璃溫·度。 在具有許多限制之真空去氣方法中，已提出 之之下列條件（SCIENCE AND TECHN0L0GY GLASSES，1991 年 10 月 16-17 日，第 75-76 頁） 如圖4所示，用以進行熔融玻璃流真空去氣 空去氣裝置4〇中，當1，320°C之熔融玻璃以流3 流入該裝置時，熔融玻璃中之氣泡數（氣泡密度: 1/1，000，其中真空去氣容器42中之壓力爲0.18 (136.8 mmHg)，而在此種減壓氣氛下，該熔融玻 去氣容器42中之逗留時間爲50分鐘。 換言之，以下列方式，使用一種工作規模型 裝置40進行上述真空去氣處理。於減壓下，藉 空泵（未顯示出來），自一個上游槽47經由一個. 將熔融玻璃原材料製得之熔融玻璃導入真空去| ，如此熔融玻璃流以大體水平之方向成形。然後 下使熔融玻璃通過真空去氣容器42，以去除熔 之氣泡，然後經由落下管4 6將該熔融玻璃送料 游槽46 ’保持此處之溫度使該熔融玻璃黏度爲】 於上升管44之入口與落下管46出口取樣熔融玻璃， 以檢查各個熔融玻璃樣本中所含之氣泡密度。結果，真空 去氣之前的上游槽47中熔融玻璃之氣泡密度爲〗5〇 [個/ (4) 1246991 公斤]，而下游槽4 8中熔融玻璃所含之氣泡密度爲〇 · 1 [ 個/公斤]。因此，已知氣泡數量減少約1/1。亦已提 出，雖然真空去氣容器42中之壓力設定爲低至0.18大氣 壓力水準，但是該熔融玻璃表面未形成泡沫層。 上述報告揭不該真空去氣方法’其中當該真空：去氣谷 器42中之壓力爲〇·18大氣壓力（136·8 mmHS)而且於真空 去氣容器中之逗留時間爲50分鐘時可以達成有效真空去 氣作用。然而，其未揭示用於真空去氣以獲得有效較佳真 空去氣結構之各種條件需要° 特別是，真空去氣處理必須在減壓大氣之下在相對較 短時間內進行。因此，如上述，在此種條件下，該減壓大 氣不能過低’而該溶融玻璃不能過局’決定在減壓大氣下 熔融玻璃流之逗留時間相當重要。 該熔融玻璃流於真空去氣容器42、上升管44與落下 管46中之逗留時間愈長，於真空去氣處理後該熔融玻璃 中之氣泡密度愈低。 爲了延長熔融玻璃於減壓大氣中之逗留時間，一般認 爲依流動方向伸長該熔融玻璃之流動路徑。然而，因爲下 列原因之故，此舉會造成設備成杵明顯提高之實際問題。 因爲絕緣該熔融玻璃高溫用之絕緣器與作爲保持減壓套用 的外罩(其環繞該絕緣器金材料流動路徑）位於通過高溫熔 融玻璃之流動路徑外圍，所以該絕緣器與外罩必須根據流 動路徑之範圍擴展。此外，包括材料流動路徑之笨重結構 單位、該絕緣器與該外罩必須可移動，如此可以視真空去 -8· (5) 1246991 氣容器42中之壓力調整該單 可移動設備，該設備之成本會 一般認爲可以藉由降低熔 時間。然而，爲了降低流動速 度以提高黏度。此情況下’高 升至熔融玻璃表面。 另一方面，當該熔融玻璃 短時，無法充分去氣熔融玻璃 減壓大氣下之熔融玻璃中的氣 升至熔融玻璃表面，藉由破裂 氣泡到達熔融玻璃表面之前就 。雖然可以降低該熔融玻璃黏 ，以提高熔融玻璃中氣泡的上 玻璃流動路徑之材料與熔融玻 度下降以及產生新氣泡等問題 玻璃之溫度。 本發明目的係提出一種用 ’法，藉由對減壓大氣下之熔融 情況下，界定熔融玻璃逗留時 製得不包含氣泡之熔融玻璃。 此外，本發明本發明目的 中，於減壓大氣下用於熔融玻 ，如此可以進一步有效且確定 位高度。因此產生一種大型 提高。 融玻璃之流動速度延長逗留 度，必須降低熔融玻璃之溫 黏度熔融玻璃中之氣泡難以 於減壓大氣中之逗留時間過 中之氣泡。換言之，無法使 泡有充分長大時間，使其上 去除該氣泡，因此可能於該 排出具有該氣泡之熔融玻璃 度（即升高該熔融玻璃溫度） 升速度，但是因爲作爲熔融 璃反應，導致發生該材料濃 之故，所以不能提高該熔融 於熔融玻璃流之真空去氣方 玻璃連續流進行去氣處理之 間範圍，可以有效且確定地 在於決定上述真空去氣方法 璃之真空去氣條件適當範圍 地製得不含氣泡之熔融玻璃 -9- (6) 1246991 本申請案之發明人已對於達成上述目的熔融玻璃流用 之真空去氣方法進行徹底硏究’並且發現必須使熔融玻璃 中之氣泡長大，以將彼上升至熔融玻璃表面’該氣泡於此 處破裂，因此可以有效且確定地去除該熔融玻璃中之氣泡 。因此，藉由符合下述條件可以完成本發明： 1 .連續通過熔融玻璃。 2 .提供不會產生新氣泡之條件。 3 .在預定時間內增大氣泡直徑，使其具有充足浮力。 4 .使氣泡之上升速度可以抗熔融玻璃流動。 5.確使充分數量氣體擴散入該氣泡內，如此該氣泡到 達熔融玻璃表面時會破裂。 【發明內容】 根據本發明，已提出一種用於熔融玻璃之真空去氣方 法，其包括於壓力P之大氣[mmHg]下將熔融玻璃送料至 一個真空室，該真空室可使該熔融玻璃之壓力在38 [mmHg]- (P-50) [mmHg]範圍內，以進行該熔融玻璃之去 氣作用，並於去氣之後，在壓力P之大氣下以流速Q [噸/ 小時]自該真空室排出該熔融玻璃，其中熔融玻璃於真空 室中之逗留時間在0 . 1 2 - 4 · 8小時範圍內，其係將在該真空 室中流動之熔融玻璃重量W [噸]除以熔融玻璃之流速q [ 噸/小時]求得。此實例中，於該真空室中之逗留時間不少 於0 · 1 2小時但是不多於〇 · 8小時爲佳， 此外，該真空室包括一個真空去氣容器爲佳，該熔融 -10- (7) 1246991 玻璃以大體水平狀態通過該容器，並去氣之，而且該真空 去氣容器中之熔融玻璃深度Η [米]與熔融玻璃之重量W [ 噸]符合下述式（1 ): 0.10 米 / 噸 <H/W<1.5 米 / 噸 （1) 此外該真空去氣容器中之熔融玻璃表面之表面積S![ 平方米]與熔融玻璃流之流速Q [噸/小時]符合下式（2)爲佳 0.24平方米·小時/噸< S"Q <12平方米.小時/噸 （2) 此外，該真空室最好包括一個與該真空去氣容器連接 之落下管，使該熔融玻璃經由彼排出，而該落下管與該真 空去氣容器連接部分之落下管流動路徑表面積S2 [平方米 ]與該熔融玻璃之流速Q [噸/小時]符合下式（3): 0.008平方米·小時/噸< s2/Q <0.96平方米·小時/噸 （3) 【實施方式】 參考附圖描述本發明熔融玻璃用之真空去氣方法_ 具體實例。 如上述，本發明有關一種在真空室中進行去氣作 熔融玻璃流用真空去氣方法，其中，界定在該真空室內連 -11 - (8) 1246991 續流動之熔融玻璃的逗留時間，如此可以有效且確定地製 得無氣泡之熔融玻璃。 參考圖1(a)、1(b)與1(c)描述此種真空去氣方法。 圖1(a)-1(c)係用以解釋真空去氣裝置重要部分之圖， 該裝置係根據本發明進行熔融玻璃流真空去氣方法。本發 明之真空去氣方法主要包括在減壓大氣下呈大體水平狀態 之熔融玻璃流中氣泡之真空去氣步驟、將欲去氣之熔融玻 璃導入真空去氣步驟之導入步驟，以及將該真空去氣步驟 中去氣熔融玻璃排出之排出步驟。 圖1(a)中，該導入步驟係自一個熔融容器ι〇(其中於 壓力P [ m m H g ]下貯存有熔融玻璃原材料所製得之熔融玻 璃）將熔融玻璃導入一個進行真空去氣步驟之真空去氣容 器12，該真空去氣容器12與上升管14連接，期間形成 一熔融玻璃流。該真空去氣步驟係使減壓大氣下殘留在與 熔融玻璃表面大體水平方向流動之熔融玻璃中的氣泡上升 ，並於熔融玻璃表面處使之破裂去除彼，該步驟主要於真 空去氣容器12中進行。自一個下游槽18經由真空去氣容 器12排出於真空去氣容器12中去氣之熔融玻璃的排出步 驟係於落下管16中進行。上升管14與落下管16以及去 氣用之真空去氣容器〗2之主要部分係被一個真空外罩（未 顯示出來）覆蓋，該外罩與一個真空泵連接，經由真空去 氣容器12頂部形成之開口 12a，12b進行真空去氣容器之 抽真空作用，如此以保持固定減壓。 此實例中之代表性壓力P爲7 6 0 [ m in H g ]。 1246991 Ο) 如前述，此種真空去氣方法中，使該真空去氣容器 1 2中之熔融玻璃流中的氣泡長大，並於該熔融玻璃中上 升，使之於熔融玻璃表面破裂，該熔融玻璃於真空去氣容 器12中之返留時間（即該熔融玻璃通過真空去氣容器12 之時間）不可以過短。即使於導入步驟中，亦很難過度縮 短上升至通過上升管14之時間，該步驟中，在壓力 p [mmHg]大氣下吸引貯存於熔融容器10中之熔融玻璃，並 於減壓條件下上升至真空去氣容器12中。因爲上熔融玻 璃本身重量所致，使上升管1 4下半部分壓力較高之故， 該真空去氣容器12中，該上升管14上半部分中之壓力朝 向熔融玻璃表面逐漸變小。因此，當熔融玻璃於上升管 1 4中上升管時，給於熔融玻璃之壓力低於熔融對材料製 得熔融玻璃操作時之壓力P [mmHg]。結果，當該熔融玻 璃通過上升管1 4時，該熔融玻璃中之氣泡長大。此外， 當氣泡於上升管1 4中上升時，氣體溶解於熔融玻璃中所 形成之新氣泡長大。 此外，很難過度縮短熔融玻璃通過落下管1 6之時間 。其原因如下。當熔融玻璃於落下管1 6中下降時，因爲 熔融玻璃本身重量之故，熔融玻璃之壓力自真空去氣容器 12之減壓水準逐漸提高。該壓力最終累積至壓力P [mmHg]。然而，因爲壓力隨著熔融玻璃在落下管16中下 降而提高之故，即使於真空去氣容器12中之減壓下亦未 去除的氣泡溶解成熔融玻璃中之氣體組份。 因此，本發明提出一種真空室，其使施加於熔融玻璃 -13- (10) 1246991 之壓力在 38 [mmHg]- (P-50) [mmHg]範圍內作爲壓力 P [mmHg]，而且包括一段時間，其中該熔融玻璃不僅通過 真空去氣容器12，亦通過上升管14與落下管16零件。 該真空室中之壓力爲3 8 [ m m H g ]以上之原因係可以抑制前 述意料外之排出溶解氣體。如上述之真空室相當於通1之 粗斜線部分。 爲了使熔融玻璃連續送料至該真空室，必須設計一種 真空室用之流動路徑，如此減少真空室流動路徑內表面與 熔融玻璃流間之摩擦阻力，並大體減少流體之壓力損失。 爲了大幅減少流體之壓力損失，已適當地進行真空室流動 路徑之形狀設計與橫斷面表面積。然而，因爲當該熔融玻 璃連續通過時，該熔融玻璃中產生之氣泡必須在短時間內 膨脹之故，因此使氣泡上升至熔融玻璃表面，於此處造成 .氣泡破裂，一般認爲要降低熔融玻璃黏度，即熔融玻璃之 溫度要高。然而，如上述，當熔融玻璃之溫度升高時，用 於真空室流動路徑之材料與熔融玻璃反應產生新氣泡，或 是該材料溶解於熔融玻璃中形成條紋，結果無法維持形成 產物之品質。此外，此等材料與熔融玻璃之反應會加速該 材料腐蝕，並縮短該真空室之流動路徑使用期限。 熔融玻璃流造成之真空室流動路徑腐蝕速度係與t/η 成比例，即時間t對熔融玻璃之黏度η的比率，其中t表 示熔融玻璃通過流動路徑之時間，而η表示熔融玻璃之黏 度。該氣泡上升至熔融玻璃表面時，該氣泡上升距離與 ί/η之平方成比例，t/η即是將熔融玻璃通過流動路徑之時 (11) 1246991 間t除以熔融玻璃黏度η所得之比率。因此，必須將熔融 玻璃之黏度降低至腐餓速率可容許範圍內’以維持該氣泡 之足夠上升距離。 該熔融玻璃之黏度較佳範圍係5 0 0 - 5，0 0 0厘泊。此外 ，爲使具有此種黏度範圍之熔融玻璃中的氣泡上升至熔融 玻璃表面，該氣泡直徑必須爲1 0 - 3 0毫米。此實例中，當 氣泡直徑超過30毫米時’到達表面之氣泡不會破裂，並 且在表面殘留一層泡沫層。此會降低真空去氣容器12中 之熱交換效率，並降低熔融玻璃本身之溫度，如此減少了 真空去氣效果。 一種氣體分析已揭露出上升至真空去氣容器12中之 熔融玻璃表面的氣袍會放出C02與Η20。此情況下，經由 直接觀察真空去氣容器12內部發現，在特定壓力（限制壓 力）或以下容易發生意外排出熔融玻璃中之溶解氣體，諸 如C Ο 2、Η 2 Ο等。此種再煮作用於黏度爲例如5 0 0 · 5，0 0 0 厘泊之熔融玻璃中的0 · 0 5大氣壓力之限制壓力下發生， 因此，該去氣作用係於此種壓力或以上之大氣壓力進行爲 佳。 此外’爲了測定氣泡直徑增大，因而使該氣泡可於熔 融玻璃通過真空室之時間內有充足浮力，所以必須在真空 去氣容器1 2減壓大氣之下，使以溶解狀態存在該熔融玻 璃中之氣體組份擴散或導入該熔融容器1 〇中之熔融玻璃 內所含小氣泡中，例如直徑爲〇.05-3毫米之氣泡，才不 會造成再煮作用。其原因如下。很難藉由將氣體組份導入 -15- (12) 1246991 存在熔融玻璃中之小氣泡使該氣泡長大，此 容器10中製得熔融玻璃之大氣壓力下（即在 下）’該氣體組份具有高分壓。此外，藉由 中之氣體組份，嚐試使熔融玻璃起泡以加速 氣泡中無法提供實際充分效果。 考慮上述，使用一種技術：通過熔融玻 融玻璃流；在熔融玻璃逗留於真空室內之時 長大；使在減壓下長大之氣泡上升至真空去 熔融玻璃表面，以該氣泡破裂以去除該氣泡 氣作用無法吸引並去除之氣泡溶解於落下管 玻璃中，以消除所有熔融玻璃中之氣泡。此 明熔融玻璃於真空室中之逗留時間係在〇 .；! 2 內，在0 · 1 2 - 0 · 8小時範圍內更佳，該時間係 流動之熔融玻璃重量W [噸]除以熔融玻璃之 時]。 此處’於真空室中流動之熔融玻璃重j 於真空室中溶融玻璃之總重（圖1 ( a )中粗斜 部分）。 當逗留時間比0 · 1 2小時短時，即使該 度爲500-5，000厘泊，而且該熔融玻璃壓力] 力（即76 [mmHg])或以上，該熔融玻璃中之 在良好最終產物可容許範圍內。另一方面， 4.8小時長時’需要以熔融玻璃流動方向延 會引發設備成本增加之實際問題。 係因爲在熔融 壓力P之大氣 增加熔融玻璃 氣體組份導入 璃製得一種熔 間內使小氣泡 氣容器12之 ，並將真空去 1 6中之熔融 實例中，本發 •4.8小時範圍 將在真空室中 流速Q [噸/小 :W [噸]係指 線部分所示之 熔融玻璃之黏 系0 · 0 5大氣壓 氣泡密度無法 當逗留時間比 長真空室，其 -16- (13) 1246991 逗留時間比Ο · 8小時短會提供有效率去除氣泡，與減 少自熔融玻璃表面揮發性組份揮發作用之較佳效果。 此外，真空去氣容器12中之熔融玻璃深度Η [米]與 真空室中熔融玻璃流重量W [噸]符合下式： 0. 1 0 米 / 噸 < H/W <1 .5 米 / 噸 H/W係0.012米/噸或以上爲佳，以0.015米/噸或以 上更佳。此外，H/W係1 .2米/噸或以下爲佳，以〇.9米/ 噸或以下更佳。 真空去氣容器12中之熔融玻璃深度Η [米]對真空室 中熔融玻璃流重量W [噸]之比率在上述範圍內之原医！ $口 .下。 若真空去氣容器12中之熔融玻璃深度Η係〇.1〇 χ w 或以下，熔融玻璃流之摩擦阻力所致之壓力損失提高，_ 且熔融玻璃不可能以預定流速通過。另一方面，若深g {系 1·5 χ W或以上，存在真空去氣容器12底部或周圍之溶融 玻璃氣泡無法於熔融玻璃逗留於真空去氣容器丨2日_ # g 熔融玻璃表面。此外，當真空去氣容器中之熔融玻璃）荣^ 超過上述範圍上限之1·5 χ W時，該真空去氣容器12底 部處或是周圍之熔融玻璃壓力高，而且不會加速該區纟或φ 熔融玻璃內之氣泡長大，如此該氣泡無法上升g溶_ # _ 表面，而且該氣泡會流出真空去氣容器。 將熔融玻璃導入真空去氣容器12上述去氣作用· -17- (14) 1246991 許範圍上限，可以獲得預定之去氣效果。然而，熔融玻璃 之ί木度約爲真空去氣谷器12局度一半爲佳。例如當該真 空去氣容器12之局度係〇·2米- 0.6米時，熔融玻璃之深 度必須在〇·1米-0.3米範圍內。 圖1(a)中’真空去氣容器12內部爲長方稜形之形狀 ，其中流動路徑之橫斷面形狀爲長方形，而真空去氣容器 1 2中之熔融玻璃深度Η [米]固定。然而，本發明不受限 於真空去氣容器內部爲長方棱形之實例，但是本發明可應 用於真空去氣容器底部表面係自真空去氣容器上游部分至 下游部分逐漸或是逐步上升或降低之實例，其中該容器之 頂部表面保持在特定水平。此實例中，熔融玻璃之平均深 •度意指熔融玻璃之深度Η [米]。 此外，該真空去氣容器1 2內部可爲一種圓柱形，其 中該流動路徑之橫飛面形狀係圓形。此實例中，熔融玻璃 之深度Η [米]意指沿著寬度方向改變之深度的最深部分深 度。此實例中，該真空去氣容器12之底部表面可以自該 熔融玻璃流動巾之容器上游部分至下游部分逐漸或是逐步 上升或降低。測定熔融玻璃之深度Η [米]時，係簡單地平 均熔融玻璃流之深度進行。 如上述，必須確定儘可能將溶解載體組份導入氣泡中 ，如此熔融玻璃中之氣泡會於熔融玻璃中上升’並使之破 裂。此實例中，除非到達熔融玻璃表面之氣泡破裂，否則 其會形成一泡沫層。該泡沫層具有熱絕緣效果’而且會避 免氣泡隨著熔融玻璃表面溫度降低而破裂。當該泡沬層生 -18- (15) 1246991 長時’該泡沬層會溢出真空去氣容器12，或是可能隨著 熔融玻璃流自真空去氣容器1 2排出。 由此觀點來看，絕對必須使氣泡破裂。然而，氣泡破 裂係視熔融玻璃表面之溫度與氣體導入氣泡中之速率以及 形成泡沫層各個氣泡之表面張力和形成各氣泡之熔融玻璃 黏度而定。因此，決定熔融玻璃之調配物與該熔融玻璃用 之真空去氣處理溫度時，必須在預定範圍內決定該熔融玻 璃之空氣接觸表面積（其係使該氣泡破裂之必要條件）與熔 融玻璃流速之關係。 換g之，在真空去氣容器12中之熔融玻璃內的氣泡 上升至熔融玻璃表面（當熔融玻璃通過容器1 2內時，於此 處使氣泡破裂），以及於減壓條件下將包含於氣泡中之氣 體組份排至上面空間1 2 s之過程中，本發明致使氣泡破裂 且於減壓下與上面空間12s接觸熔融玻璃表面積S】[平方 米](於圖1(b)中粗斜線部分所示之表面積）與熔融玻璃之 流速Q [噸/米]符合下式： 〇·24平方米·小時/噸< Q <12平方米·小時/噸 其符合下式更佳： 〇·5平方米·小時/噸< /S"Q <1 〇平方米·小時/噸 上式成立之原因如下。若真空去氣容器12中之熔融 -19- (16) 1246991 玻璃表面表面積S![平方米]係0.24 X Q或以下，大量上 升至熔融玻璃表面之氣泡會停留在該表面，產生一泡沬層 ，其於真空去氣容器12下仍不會破裂，因此無法適當進 行該去氣處理。另一方面，若真空去氣容器12中之熔融 玻璃之深度淺，因爲熔融玻璃流造成之摩擦阻力之故，該 熔融玻璃無法以預定流速通過。 圖1 ( b )中，在減壓條件下接觸與上面空間1 2 s接觸之 熔融玻璃的熔融玻璃表面係長方形。然而，本發明中，該 熔融玻璃表面不受限於此，其可具有真空去氣容器1 2內 部寬度係自容器12上游部分至下游部分逐漸或逐步變窄 或變寬之形狀。 此外，該熔融玻璃流中之氣泡上升速度（該氣泡隨著 長大而上升）與該氣泡直徑與Stocke’s式有關。當決定熔 融玻璃之黏度時，視氣泡大小決定氣泡上升至熔融玻璃表 面之時間。例如，當所使用之熔融玻璃黏度爲5 0 0 - 5，0 〇 〇 厘泊，並假設該氣泡浮動1 〇 〇厘米距離花費6 0分鐘，則 於5 0 0厘泊實例中，該氣泡最小直徑必須爲1 0毫米或以 上，於5,000厘泊實例中，最小直徑必須爲30毫米或以 上。換言之，確定可以在60分鐘內去氣且去除直徑爲30 毫米或以上之氣泡。此實例中，可獲得0.25厘米/秒之上 升速度。 因此，爲了確使氣泡可以在熔融玻璃流中上升，必須 將熔融玻璃之流速決定爲低於〇·25厘米/秒之速度，（例如 當該熔融玻璃以5 00噸/日之流速通過時，該真空去氣容 -20- (17) 1246991 器12中流動路徑之橫斷面表面積爲9,200平方厘米或以 上，該真空去氣容器1 2之流動路徑長度約1米）。 此實例中，如圖l(a)所示，落下管16係用以使熔融 玻璃落下，其中在真空去氣容器12與落下管16連接之出 口處或附近形成一落下流。當熔融玻璃中之氣泡上升速度 低於落下流之落下速度時，於熔融玻璃中長大之氣泡會被 落下流帶走，而不會升至與落下管16連接之出口處或附 近的熔融玻璃表面，結果有排出包含有氣泡之熔融玻璃的 危險。 因此滿本發明中，與真空去氣容器12連接之落下管 16流動路徑橫斷面表面的表面積S2 [平方米](圖1(c)中粗 斜線部分所示之表面積）與熔融玻璃之流速Q [噸/小時]符 合下式爲隹。換言之，僅有落下管16或是落下管16與上 升管14均符合下式爲佳： 0.00 8平方米·小時/噸< S2/Q <0.96平方米.小時/噸 其符合下式更佳： 0 · 0 1平方米·小時/噸< S 2 / Q < 0 · 9 6平方米·小時/噸.， 特別是， 0.0 1平方米·小時/噸< S 2 / Q < 0.1平方米·小時/噸。 必須符合下述之原因如下。 當落下管16流動路徑之橫斷面表面積S2 [平方米]爲 0.008 X Q或以下時’與落下管16連接之出口處或附近之 -21 - (18) 1246991 熔融玻璃流速向下向量提高，因此氣泡被落下管1 6中抗 浮動作用之熔融坡璃流帶走。另一方面，當流動路徑之橫 斷面表面積S2 [平方米]係ο.% X Q或以上時，落下管16 之直徑提高，其會提高該設備之重量與成本。 圖1(c)所示之具體實例中，該流動路徑橫斷面形狀爲 長方形。然而，本發明不受限於此種形狀，亦可作用例如 圓形。 本發明有關一種在壓力P [mmHg]大氣下對熔融玻璃 去氣之真空去氣方法。然而’壓力P [mmHg]大氣不一定 爲大氣壓力，例如，其可能爲一種選擇性壓力之大氣，其 可用於在與大氣壓力隔絕之封閉熔融容器中製造熔融玻璃 之實例。此外，於壓力P [mmHg]大氣下之熔融玻璃可能 不具自由表面。 現在’參考實施例詳述本發明熔融玻璃用之真空去氣 方法。然而，必須暸解本發明不受此種特定實施例之限制 〇 實施例中，於下述各種條件下進行熔融玻璃流之去氣 作用’以檢查去氣處理前後之熔融玻璃中所含氣泡數量， 即氣泡密度。此外，使用圖2所示之真空去氣裝置2 0進 行熔融玻璃流之去氣處理。 圖2所示之真空去氣裝置2 0基本上係一種使用虹吸 原理沿著圖2箭號製造熔融玻璃流之裝置，該虹吸原理係 由上游槽2 1與下游槽2 8中之熔融玻璃表面水平差所造成 ’以進行真空去氣容器22中之去氣作用。該裝置20具有 -22- (19) 1246991 有真空外罩真空去氣容器22、一個上升管24與一個 落下管26，其構成一體式裝置。熔融玻璃g裝塡在上游 槽21與下游槽28中，而且真空外罩23、真空去氣容器 22、上升管24與落下管26之高度位置視真空去氣容器 22中之壓力而適當地相鄰。 已使用大體爲閘形之金屬製真空外罩2 3保持真空去 氣容器22、上升管24與落下管26中之密封性質，而且 其構造可以罩住真空去氣容器22與上升管24與落下管 26的主要部分；利用位於外側之真空泵（未顯示出來）吸引 空氣，對於彼等零件內提供減壓條件，以保持罩於其中之 真空去氣容器22中所形成之開口 22a至22b間之預定壓 力減壓條件。此外，將一熱絕緣材料2 7安裝在被該真空 去氣容器22、上升管24、落下管26與真空外罩23環繞 之空間，以阻隔熱。 真空去氣容器22、上升管24與落下管26中形成高 於38 [mmHg]且低於（PG-50) [mmHg]之壓力作爲大氣壓力 P〇 [mmHg]，其爲真空外罩23抽真空之結果。特別是，在 真空去氣容器22、上升管24與落下管26中形成真空室 ’以延伸高度水平高於熔融容器2 5中熔融玻璃G表面高 度水平Z】的部分。因此，真空室中之熔融玻璃流重量W [噸]相當於包含在上升管24、真空去氣容器22與落下管 26之中，自熔融容器25中熔融玻璃G之高度水平至真空 去氣容器22中熔融玻璃G表面水平範圍內之熔融玻璃（即 ’存在圖2中粗斜線部分之熔融玻璃）整體重量。 -23- (20) 1246991 此實施例中，真空去氣容器22、上升管24與落下管 2 6之流動路徑槓斷面形狀可爲圓形或長方形。熔融玻璃 流動方向之熔融玻璃流深度固定。此外，使熔融玻璃流寬 度固定’如此在減壓下與上面空間2 2 s接觸之熔融玻璃流 表面形狀爲長方形。 ' 示於表1之賓施例1 _ 6中，使用以符號A - E表示種類 之熔融玻璃，其組成示於表2，以重量％計，在表1之熔 融玻璃溫度[°C ]條件下，使用上述真空去氣裝置2 〇進行 真空去氣處理。 Φ 貫施例1 _ 6中，於開始去氣處理後之正常操作下，在 上游槽2 1與下游槽2 8中取樣熔融玻璃〇，並以邊緣照明 法進行檢查氣泡密度是否在可容許範圍內。此實例中，氣 泡密度之可容許範圍爲i [數量/公斤]或以下。 -24- (21) 1246991

實施例 1 2 3 4 5 6 參考 實例 玻璃種類 A A B C D E 真空去氣容器中之壓力 53 68 190 84 152 91 熔融玻璃溫度 1350 1340 1320 1400 1350 1300 熔融玻璃流速Q 0.050 0.354 0.104 0.833 0.917 1.458 16.667 溶融玻璃重量w 0.200 0.346 0.210 1.200 1.100 1.200 13.800 熔融玻璃深度Η 0.150 0.150 0.175 0.200 0.175 0.200 0.250 熔融玻璃表面之表面積Si 0.480 0.720 0.630 2.400 2.200 2.400 16.200 橫斷面表面積s2 0.0040 0.020 0.0013 0.0450 0.0310 0.0450 0.5670 W/Q 4.000 0.977 2.019 1.441 1.200 0.823 0.828 H/W 0.750 0.433 0.833 0.167 0.159 0.167 0.018 Si/Q 9.600 2.034 6.058 2.881 2.399 1.646 0.972 s2/q 0.088 0.034 0.013 0.054 0.034 0.031 0.034 去氣處理前之氣泡密度 500 220 7000 3000 200 300 去氣處理後之氣泡密度 0.1 0.2 0.5 0.6 0.5 0.2 • -25- (22) 1246991

玻璃 種類 Si〇2 AI2O3 B2O3 Zr02 Na2〇 K20 MgO CaO SrO Ba〇 Ce02 Sb203 S〇3 Cl A 60.0 2.0 2.4 8.0 7.0 0.5 2.0 8.5 9.0 0.3 0.3 B 75.0 3.5 15.0 0.3 6.0 0.2 C 58.0 11.0 6.0 2.0 3.0 6.7 15.0 0.3 D 71.5 2.0 13.0 0.3 4.0 9.0 0.2 E 57.9 7.0 — 3.0 4.0 6.0 2.0 5.0 7.0 8.0 „ 一 0.1 __ 實施例1-6中，真空去氣處理市每單位重量氣泡數量 小，而且在表1可容許範圍內，不會造成玻璃產物品質下 降。 由上述實施例，揭露出氣泡密度均在可容許範圍內， 而且藉由提供如下之條件可以有效且確定地獲得去氣效果 。換言之，使熔融玻璃之壓力高於38 [mmHg]且低於（P〇-50) [mmHg]，於其中進行熔融玻璃之去氣作用，在 P〇 [mmHg]之大氣壓力下，以Q [噸/小時]之流速排出去氣作 用後之熔融玻璃，其中該熔融玻璃於真空室內之逗留時間 係將真空室中之熔融玻璃重量W [噸]除以熔融玻璃之流 速Q [噸/小時]，其在0.12-4.8小時範圍內。 此實例中，亦揭露出真空去氣容器之熔融玻璃深度與 熔融玻璃表面之表面積與上升管或落下管任一者內之橫飛 面表面積最好在可容許範圍內。 -26 - (23) 1246991 如參考實例，當熔融玻璃之流速Q爲1 6.6 6 7 [噸/小 時](即約4 0 0 [噸/日])時，真空室中之熔融玻璃重量 w必 須爲1 3 · 8 [噸];W / Q爲〇 . 8 2 8小時，其他條件値示於表1 之參考實例。 如上述，已對本發明熔融玻璃表面用之去氣方法做詳 細解釋。然而，本發明不受限於上述實施例。例如，如圖 3所示，建構真空去氣裝置30，使熔融容器35、導入管 34、真空去氣容器32、排出管36與下游槽38形成一體 :於該導入管3 4處提供螺旋泵3 1以控制熔融玻璃G之 流速；於排出管3 6處提供一螺旋泵3 9以加速熔融玻璃G 排出，該熔融玻璃表面水平一直與熔融容器3 5中之熔融 玻璃G轰面水平一致。 在上升管34a、真空去氣容器32與落下管36a中形 成一個部分（即圖3中之粗斜線部分），其可以提供高於3 8 [mmHg]且低於（P〇-50) [mmHg]作爲真空外罩33中減壓之 大氣壓力P〇 [mmHg]，其中該部分係於自熔融容器35中 之熔融玻璃G前端表面至比熔融玻璃G表面低Z2之水平 範圍內形成。因此，因爲熔融玻璃之流速受螺旋泵3 1， 3 9控制之故，形成在低於熔融容器3 5中熔融玻璃G表面 之高度水平部分中提供（P〇-50) [mmHg]或以下之壓力，如 此改變熔融玻璃之壓力。 因此，真空室中之熔融玻璃流重量W [噸]相當於存 在熔融容器3 5熔融玻璃G表面至比熔融玻璃G表面低Z 2 水平處之熔融玻璃重量（圖3中以粗斜線所示之熔融玻璃 -27- (24) 1246991 重量）° 本發明中，在本發明範圍內可以製得各種改善與改良

G 如上述，根據本發明，進行熔融玻璃流之去氣作用時 ，將熔融玻璃導入一個真空室，其可以提供高於 38 [mmHg]但是低於（P〇-50) [mmHg]作爲施加熔融容器中熔融 玻璃的壓力P，如此進行該熔融玻璃之去氣作用，並且在 壓力P [mm H g]之大氣下以流速Q [噸/小時]排出去氣後之 熔融玻璃，將真空室中之熔融玻璃流重量W除以熔融玻 璃流速Q所獲得熔融玻璃於真空室內之逗留時間在0.12-4.8小時範圍內，如此可以有效且確定地製得不帶有氣泡 之熔融玻璃。 此外，藉由使熔融玻璃深度、真空去氣容器內之熔融 玻璃表面之表面積，以及落下管中流動路徑橫斷面表面積 在預定範圍內，可以有效且確定地製得沒有任何氣泡之熔 融玻璃。 【圖式簡單說明】 圖1 ( a)係用以解釋一個真空去氣裝置重要部分之橫斷 面圖，該裝置係用以進行本發明熔融玻璃用之真空去氣方 法； 圖1 (b )係沿著圖1 (a) B - B，線之橫斷面圖； 圖1(c)係著圖l(a)C-C’線之橫斷面圖； 圖2係用以進行本發明實施例之一熔融玻璃流真空去 •28- (25) 1246991 氣方法之真空去氣裝置的橫斷面圖； 圖3係用以進行本發明另一實施例之熔融玻璃流真空 去氣方法之真空去氣裝置的橫斷面圖；以及 圖4係用以進行熔融玻璃流習用真空去氣方法之真空 去氣裝置橫斷面圖。 【主要元件符號說明】 4 0 去 氣 裝 置40 42 真 空 去 氣容器 42 47 上 游 槽 4 7 44 上 升 管 44 46 落 下 管 46 48 下 游 槽 4 8 10 溶 融 容 器10 12 真 空 去 氣容器 12 14 上 升 管 14 18 下 游 槽 18 16 落 下 管 16 1 2a，1 2b 開 □ 1 ： 2a，1 2b 20 真 空 去 氣裝置 20 2 1 上 游 槽 2 1 28 下 游 槽 28 22 真 空 去 氣容器 22 23 真 空 外 罩23

-29- (26)1246991 26 落下管26 24 上升管24 25 熔融容器2 5 27 . 熱絕緣材料2 7 Si 表面積S2 s2 表面積S 2 2 2 a，2 2 b 開□ 22a，22b P0 壓力P〇 H 深度Η P 壓力Ρ G 熔融玻璃G Zi 高度水平Ζ 1 22s 上面空間2 2 s 12s 上面空間1 2 s 30 真空去氣裝置20 35 熔融容器3 5 34 導入管34 32 真空去氣容器32 36 排出管36 3 8 下游槽3 8 39 螺旋泵3 9 3 1 螺旋泵3 1 34a 上升管34a 36a 落下管36a

-30- (27)1246991 3 3 真空外罩3 3 Z 2 水平Z 2

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Claims (1)

1246991 : —一—^— (1) -口 ^；:H 十、申請專利範―― 1 · 一種熔融玻璃用之真空去氣方法，其包括： 於壓力P mmHg之大氣下將熔融玻璃送料至一個真空 室，該真空室設置爲使該熔融玻璃之壓力在3 8 m m H g -(P-5 0) mmHg範圍內，以進行該熔融玻璃之去氣作用，該 真空室包括一個真空去氣容器、一個上升管、和一個連結 該真空去氣容器的落下管，該熔融玻璃以大體水平狀態通 過該容器，並去氣之，該熔融玻璃係經過該上升管而被引 至該真空去氣容器；以及 經由該落下管將去氣之後的熔融玻璃，在壓力 P mmHg之大氣下以流速Q噸/小時從該真空去氣容器排出 .其中熔融玻璃於真空室中之逗留時間在0.12- 0.8 23小 時範圍內，其係藉由將包括在該真空室中的上升管、落下 管、和真空去氣容器中之熔融玻璃重量W噸除以熔融玻 璃之流速Q噸/小時而求得。 2 .如申請專利範圍第1項之方法，其中該熔融玻璃 之黏度係在500至5000泊（poises)之範圍。 3 ·如申請專利範圍第1項之方法，其中一熔融容器 連接至該上升管，且在熔融玻璃經由該上升管而被引至該 去氣容器之前，儲存該熔融玻璃，以及其中使得該熔融玻 璃在熔融容器中之表面水平總是與該熔融玻璃在去氣容器 之表面水平實質上相一致。 4 .如申請專利範圍第3項之方法，其中一下游槽連 -32· (2) 1246991 接至該落下管，且接收所排出的經去氣熔融玻璃，以及其 中該熔融容器、上升管、落下管和下游槽係形成爲單一單 元。 5 .如申請專利範圍第1項之方法，其中該熔融玻璃 在去氣容器中之深度係約爲去氣容器高度的二分之一。

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