TWI241120B - Method for manufacturing sensor frame for image sensor - Google Patents

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TWI241120B
TWI241120B TW091110756A TW91110756A TWI241120B TW I241120 B TWI241120 B TW I241120B TW 091110756 A TW091110756 A TW 091110756A TW 91110756 A TW91110756 A TW 91110756A TW I241120 B TWI241120 B TW I241120B
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TW
Taiwan
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frame
detector
detection
substrate
lens array
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TW091110756A
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Toshio Matsumoto
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Description

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【發明所屬之技術領域】 本發明係關於使用於傳真梦晉 旦 部的影像偵知器。 影印機等之影像輸入 【習知之技術】 第 9、1 〇、11 ( a )、11 ( b ) 器之圖面。第10圖係習知影像伯4圖係表示習知影像债知 第1 〇圖之影像偵知器的BB,線、'的^上視圖;第θ圖係 加工前,以金屬或塑膠壓出 :’第1 1 ( a )圖係機械 ; $11 (b) 面圖。在第9圖中,10係原稿;、縱向中央部之剖 燈或直線狀配劣之LED片,只要a = 2源,其可以是電 1 〇就可以。30係利用複數個桿疋此/在線上照射原稿 正立等倍成像用桿狀透鏡陣圖示”斤構成之 偵知器基板40上,呈直線:J:,4°係偵知器基板;5°係在 稿行走面之透明板;70 貞知器IC ;60係位於原 偵知器㈣,由二=屬•或塑膠壓出成形所形成之 Γί二!':於桿狀透鏡陣列30下㈣,自原稿來的反射 入、α态1 C時會通過之光通路;72係相互支撐框架 70a、70b之支樓部;73係固持桿狀透鏡 〇之 列 固持部:74係利用機械加工來切削,而發生毛邊等= 加工面、:77係裝著有偵知器基板之谓知器基板裝著部;別 係自線光源20發出之光,直到成像於偵知器IC5〇為止的光 路徑;9G係將债知器基板4G固定於偵知器框架70之螺絲等
7042-4884-PF(N);Ahddub.p t d 第5頁 1241120
五、發明說明(2) 固定構件。 在第1 0圖中,;[〇 〇係安裝於偵知器框架7 〇兩 光源20之空間以及偵知器IC50之空間的板。順著 \ 頭的方向係縱向以及橫向。又,第丨丨(a )以及丨/ ^ ^二 之75係機械加工前,藉由壓出成形所製造之偵知的丨回 壓出材料。 、為框采的 針對動作做說明。線光源20之光通過玻璃板 ^ ^均勻地照明原稿10。照明光係對應原稿1〇上之影像濃 淡資訊,經過光路徑80而反射,通過桿狀透鏡陣列=之二
狀透鏡内以及光通路71,而成像於偵知器1(:5〇之受光部。干 偵知器IC50對應反射光之強度而蓄積電荷,透過偵知器基 板40而輸出。 、。土 圖係壓出成形前之偵知器框架 所示,依照這樣,利用桿狀透 。因此’將第1 1 ( b )圖箭頭C 端,除此之外部分,藉由機械 路7 1係有其必要。 第 11 ( a )以及 11 ( b ) 的立體圖以及剖面圖。如圖 鏡陣列3 0成像之光無法通過 所示之支撐部72,僅殘留兩 加工切削去除,而設置光通
此時’利用機械加工來設置光通路7丨後,其加工面了4 會,生毛邊等異物。因此,雖然實施去除毛邊等的作業, 但疋,光通路71很狹窄,加工面74並不朝向偵知器框架7〇 上面或下面開放,而朝向橫向形成,所以,無法完全去除 毛邊等。所以,就在殘留毛邊等異物之狀態下,組立於影 像偵知器上。可是,在影像偵知器出貨後,因為運輸而發 生之震動或衝擊,毛邊等異物會自光通路71下部掉落,而
1241120 五 '發明說明(3) 停留在偵知器IC40之 覆蓋文光部之全部或 濃淡資訊,正確地傳 藉由機械加工而 開平7- 1 62587號專利 平7 - 1 6 2 5 8 7號專利公 圖’第1 3圖係表示影 稿10、線光源20、桿 器IC50、透明板β〇、 以及光路徑7 〇,係與 在這種狀況下, 塑膠以及著色金屬或 此,光通路71係預先 用機械加工來設置。 撑部7 2係位於偵知器 器框架7 0端部插入而 可是,如此一來 到偵知器框架7 0,所 摩擦,藉由此摩擦, 一方會被切削,然後 IC50受光部之全部或 濃淡資訊,正確地傳 空間,因為其後之震動或衝擊,其會 部分,而有無法將自原稿丨〇來的影像 達到偵知器I C 5 0之問題。 不設置光通路7 1之實例,有開示於特 公報。第1 2、1 3圖係表示開示於特開 報之習知影像偵知器;第1 2圖係剖面 像價知器框架壓出材料的剖面圖。原 狀透鏡陣列3 0、偵知器基板4 〇、偵知 偵知器框架70、光通路71、支撐部72 第9圖相同構造,動作也相同。 透明板6 0以及偵知器框架7 〇係將透明 塑膠’藉由壓出使其一體成形。因 設置於偵知器框架7〇全長,而無須利 又’與框架70a以及7〇b相互支撐之支 基板70下部,偵知器基板40係自偵知 安裝。 、’因為藉由插入偵知器基板4〇而組立 以’偵知器基板4 0和偵知器框架7 〇會 偵知器基板4 0或偵知器框架7 〇之任何 ^與前述相同地,異物會覆蓋偵知器 部分,而有無法將自原稿10來的影像 達到偵知器I C 5 0之問題。 發明欲解決之課題
1241120 五、發明說明(4) 本發明之目 器框架的方法, 將自原稿來的影 的係提供一種用於製造影像偵知器之偵知 使Ϊ ^不會覆蓋偵知器IC受光部,而能夠 像濃淡資訊正確地傳遞到偵知器1C上。 【解決 本 包括: 框架包 膠,使 路,與 射光中 陣列固 列;以 之橫向 陣列固 步驟。 課題之手 發明之用 使谓知器 括··偵知 偵知器基 前述偵知 介著桿狀 持部,與 及框架支 兩端上部 持部之縱 段】 於製造 框架形 器基板 板裝著 器基板 透鏡陣 前述光 撐部, 而設置 向兩端 景> 像偵知器 ^4 ^7 -k /j^ 4 匕 裝著部,藉 於其上,且 裝著部連接 列,而通過 通路連接設 為了使其支 ’以及使前 上部,再利 之偵知器 之步驟, 由壓出成 其為開放 設置,使 前往彳貞知 置,固持 撐前述透 述框架支 用機械加 框架的 而前述 形金屬 狀態; 自原稿 器基板 桿狀透 鏡陣列 撐部殘 工予以 方法, 偵知器 或塑 光通 來的反 :透鏡 鏡陣 固持部 留透鏡 去除之 俞冲技, 貝裔框架形成為一體化之牛碘, 金屬或塑膠,使偵知器基板裝著;’错由壓出成开 置成在前述偵知器基板裝著部下部?忐:架支撐部,言; 與前述偵知器基板裝著部連接設置,使t:f:光通路’ 中介著桿狀透鏡陣列,而通過前 搞來的反射夫 陣列固持部,與前述光通路連接設置,以及透韻 列;以及使前述框架支撐部殘留偵知T持杯狀透鏡陣 裔基板裝著部之縱向
1241120 五、發明說明(5) 广:〜::用::力::予,去除之步驟。 前述偵知器框架包括·、知器框架形成為一體化之步驟,而 金屬或塑膠,使自知态基板裝著部,藉由壓出成形 態;光通路,•前述::t裝著於其上,且其為開放狀 稿來的反射光中介菩L 〇為基板裝著部連接設置,使自原 板;透鏡陣列固持部^大f鏡陣列,而通過前往偵知器基 透鏡陣列;以及框Ισ i二w述光通路連接設置,固持桿狀 置;以及使前述框ΐ3r設置於面對前述原稿之位 部,再利用機械加工予二:=留偵知器框架之縱向兩端上 卞以去除之步驟。 【發明之實施形態】 (第1實施形態) 在本發明第丨實施形態 鏡陣列固持部上側的將:置於僧知器框架之透 知器框架兩端周邊, 、卩措由機械加工使其僅殘留偵 造;利用機械加工所…=述偵知器框架係以鋁壓出成形製 夠入射偵知器I c,辦、之w刀讓自原稿來之反射光能 知器1C上,不會附:::在位於透鏡陣列固持部下側之债 考屋生在加工面之丰 就針對此影像債知器做說明。之毛邊專異物;以下,
第1圖係本私日Η结A 第2圖係影像僧^只施形態、之影像偵知器的剖面圖; 之箭頭,係縱向;視圖。/貝著第2圖中 線光源,其可以是雷、P, 回中,1 0係原稿;2 0係 、且’或直線狀配列之LED片,只要是 第9頁 7042-4884-PF(N);Ahddub.ptd 1241120 五、發明說明(6) 就可以。30係由複數個桿狀透鏡 (未圖不)所構成之正立等倍成像用 ^ 偵知器基板;50係在偵知器基板4〇 = ,^係 器1C,位於原稿行走面之透明板呈7=厂==; 成之偵知益框架,由位於桿狀透鏡陣列30兩側之框芊;" 70a、70b所構成。71係位於桿狀透鏡陣列3〇下側,自 來$反射光入射至偵知器IC50時’通過之光通路;72係使 框条70a、70b相互支撐之支撐部;73係固持桿狀陵 30之透鏡陣列固持部;74係利用機械加工中心^ ^ j 械加卫裝置加工而產生毛邊等異物之加卫面; 位於偵知器70下平面之偵知器基板4〇的偵知器基板著、 部;80係自線光源20發出之光,直到成像於偵知器ic^ 止的光路徑;90係將偵知器基板40固定於偵知器框: 之螺絲等固定構件。 /、 上 在第2圖中,1〇〇係安裝於偵知器框架7〇 偵知器IC50之空間的板。 &而阻塞 又,第3 ( a )圖係偵知器框架被機械加工前之立體 圖。第3 ( b )圖係在縱向中央部中之偵知器框架剖面圖。 7 5係被機械加工前之偵知器框架。 。 另’第4 ( a )圖係偵知器框架被機械加工後之立體 圖。第4 ( b )圖係在縱向中央部中之偵知器框架剖面圖 本第1實施形態中,透明板60被固定,偵知器框架7〇 藉由移動來讀取原稿1 0之資訊,亦即,使用於平板式景彡 輸入部之影像债知器。
7042-4884-PF(N);Ahddub.ptd 第10頁 1241120 --—-- 五、發明說明(7) 接著,說明本發明第〗實施熊 / 器框羊。f杏,LV A Η 4 心 衫像谓知器的伯知 3金屬或塑膠等材料藉由壓出力工 ^ a )圖所不,形成偵知器框架7 0。去鈥,上^ ,如第 J,支撐部72會存在於偵知器框架7〇::長二果照原樣的 ^使原稿反射光通過桿狀透鏡陣觸。:所以’無 由機械加工中心機等機械加工,除 ,下來,藉 :周邊之外的支撐部72,其餘的支撐部72都予::70兩 此加工過之偵知器框架7〇,如第4 u)圖所示。示去。如 此時,加工後之偵知器框架7〇 :示。如此-來,力一因為位於透:陣;= :異物,、因為裝著有桿狀透鏡陣列3〇,所以,心 造成之震動或衝擊,也不會使異物附著於偵知器 士,因為偵知器框架70之偵知器基板著裝部77係呈 狀悲,不用插入偵知器基板4〇就能夠著裝,所以y在二 ^時,能夠抑制偵知器框架70或偵知器基板4〇因為切削而 產生之異物等。 而且,不用插入而裝著線光源20、桿狀透鏡陣列3〇、 安^有偵知器IC50之偵知器基板40於如此機械加工過之偵 知益框架7 0上之後,就能夠完成本第1實施形態之影像偵 知器原稿讀取部。 、 而且,在以上陳述中,透明板60與框架70係各自獨 立,雖然透明板60係固定,而偵知器框架70係藉由移動來 第11頁 7042-4884-PF(N);Ahdd ub.p t d 1241120 五、發明說明(8) 讀取資訊之形態;但是,將 — 7 〇,使影像偵知器固定於$ 板6 0固定於偵知器框架 來a賣取資汛,亦即 j P,藉由原稿1 〇之移動 樣效果。 运稿式影像侦知器也可以得到同 如上所述之本發明每 ^ 之偵知器基板裝著部7 7,又貝&形怨中’保有呈開放狀i 以使支撐部7 2成為透鏡陣列固J:二器框架7 0壓出成型’ 僅留下透鏡陣列固持部73縱向兩端上:上:;將5撐部72 加工除去;因為加工面74位於 。,/、餘均猎由機械 以,機械加工後之除去異物作持部73上側’所 狀透鏡陣_係固持於透鏡施所,為桿 1 邊C5等02之中空空間被密封…,即使不能i全 洙ί i物丄而將偵知器框架70組合入影像偵知器中,異物 像、-:ί盍偵:器IC5°之受光部,而能夠將自原稿來的影 像/辰狄貝訊正確地傳達到偵知器r C 5 〇。 、又’因為偵知器基板裝著部7 7呈開放狀態之構造,所 以’不用插入偵知器基板4 〇就能夠裝著;因此在插入時, ^知器框架7 〇或偵知器基板4 〇不會因為切削而產生異物 而且’在本第1實施形態中,雖然以|呂表示過使用金 屬之實例,但是,只要是能夠壓出成型,而且能夠充分保 持在機械加工後支撐部72之強度,不論是使用金屬、合金 或塑膠都可以。 (第2實施形態) 第12頁 7042.4884-PF(N);Ahddub.ptd 1241120 五、發明說明(9) 在前述第1實施形態中,將 使價知器框架之支撐部位於透將器框架以壓出成型, 樓部僅留下透鏡陣列固持部縱:列固持J上部;將此支 械加工除去;但是,纟本第2杏°兩端上部’其餘均藉由機 以壓出成型,使偵、知器框力丫形態中’將債知器框架 部之下部;將此支撐部僅留下部位於偵知器基板裝著 下部,其餘均藉由機械加::;知器基板裝著部縱向兩端 以下,針對本第2實施形態加以 :示J發明以實施形態機械加工 (么:係 圖,第5 (b)圖係該機械加工 化木立體 剖面圖。又,第6 U ) Θ孫主 益框架之縱向中央部 ;:ί: 第6(b)圖係該機二 ,框木之縱向中央部剖面圖。 : ,原2。、桿狀透鏡陣列3。以及偵知器IC5二: 1:以裝者後之偵知器框架70的縱向中央部剖面圖。!各 圖中,與前述第!實施形態偵知器框架 0辛在各 則賦予相同編號。 』傅风要素, 如第5 (a)圖以及第5 (b)圖所*,在 = ί = =型而以使框架之支撐部72位於偵:器 基板裝者477之下部。而且’如第6 (〇 於债知器框㈣全長之支擇部72,僅留下情 ; 部77之縱向兩端下部,其餘均藉由機械加工 由此步驟,剖面變成如第6 (b)圖。在第6 (b)圖中,= 了方便說明,裝著有伯知器1(:50之偵知器基板4。,係表示
7042-4884-PF(N);Ahddub.p t d 第13頁
1241120 五、發明說明(10) 成裝著於偵知器基板裝著部7 7 而且,如第6(c)圖所示 透鏡陣列30分別裝著其上,更 裝著於相對於圖紙之垂直方向 被密封。因此,由加工面7 4產 知器I C 5 0之空間。 上之狀態。 ’因為偵知器基板4 0和桿狀 有甚者,板100 (未圖示) ’所以,偵知器IC50之空間 生之毛邊等異物不會混入、 另 容易去 復 所以不 如 出成型 使支撐 餘均藉 時,隔 以,加 出貨後 偵知器 又 所以, 知器框 物。 而 立,雖 ,因為 除機械 ,因為 必將偵 上所述 ,以使 部72僅 由機械 著偵知 工面74 因為運 IC50 〇 ,因為 偵知器 架70或 加工面74露出於偵知器框架7〇下部,所以, 加工後之異物。 偵知為基板裝著部7 7係呈開放狀態之構造, 知器基板4 0插入後再裝著。 ,在本第2實施形態中,將偵知器框架70壓 支撐部7 2位於偵知器基板裝著部7 7之下部; 殘留偵知器基板裝著部77縱向兩端下部,其 =工去除;加工面74在裝著偵知器基板4〇 器基板40,偵知器IC5〇係位於相反側,所 之異物容易去除,又,假設即使殘留異物, 輸而產生之震動或衝擊,異物也不會附著於 伯知器基板裝著部7 7係呈開放狀態之構造, 基板4 0不用插入而能夠裝著,而不會產生偵 偵知器基板4 0在插入時,因為切削而產生異 且、’在以上陳述中,透明板6〇與框架7〇係各自獨 然透明板60係固定,而偵知器框架7〇係藉由移動來
1241120 五、發明說明(丨丨) 3取;ί:;形態;但是,將透明板60固定於偵知器框架 來^像偵知器固定於影像輸入部,藉由原稿1〇之移動 樣:果貝,’亦即’採用送稿式影像债知器也可以得到同 屬之:二’在本第2實施形態中,雖然以鋁表示過使用金 持在=,是,只要是能夠壓出成型,而且能夠充分保 或塑膠都可以。 个順疋使用金屬、合金 (第3貫施形態) 在前述第2實施形態中,將偵知器框 使偵知器框架之支撐部位於偵知器基板裝卞气型^ i匕支撐部僅留下偵知器基板裝著部縱向兩端下部下:仏將 加工除去;但是,在本第3實施开;;下中心其=均 ,框木以壓出成型,使偵知 將偵知 其餘均藉由機械加工除去。 个縱向兩端上部, 一 下針對本第3貫施形態加以說明。第7 r 表示本發明第3實施形態機械加工前之伯 (:)圖係 :面工7。( b )圖係該機械加工前偵知器框架之縱木立體 :工:。又第8 ( a )圖係表示本發明第3實施幵处央部 :工後之谓知器框架立體圖;第8 (b)圖伟二开?機械 架之縱向中央部剖面圖;第8⑷:; 綠光源2 0、捏办、采泣成 诉將女褒有 車,以及鈔器㈣之侦知器基板 交之偵知裔框架70的縱向中央部剖面圖。在各 麵 第15頁 7042-4884-PF(N);Ahddub.ptd 1241120 五、發明說明(12) 圖中,與前述 則賦予相同編 如第7 ( a 態中,係將鋁 框架7 0上部之 事先呈開放狀 置於偵知器框 之縱向兩端上 步驟,去除後 而且,如 透鏡陣列3 0分 裝著於相對於 被密封。因此 知器IC50之空 第2實施形態伯知IM匡架相同的構成要素, 號。 )圖以及第7 (b)圖所示, 丨不,在本第3實施形 壓出成型,以使框架之支#却7〇 / 又;部7 2位於偵知器 原稿f買取面。因此,^貞您·» i 此^ 1貝知态基板裝著部77▲係 怨之構造。而且,如第8 hm私— .. I a )圖所不,將設 架70全長之支樓部72 1留下偵知器框架7〇 部’其餘均措由機械加工予以除去。藉由此 之剖面變成如第8 ( b )圖。 第8 ( c )圖所示,因為偵知器基板4〇和桿狀 別裝著其上,更有甚者,板1〇〇 (未圖示) 圖紙之垂直方向’所以,偵知器1(:5〇之空間 ,由加工面7 4產生之毛邊等異物不會混入偵 間。 另,因為加工面74露出於偵知器框架7〇上部,所以, 容易去除機械加工後之異物。 復’因為情知器基板裝著部77係呈開放狀態之構造, 所以不必將偵知器基板4 〇插入後再裝著。 如上所述’在本第3實施形態中,將偵知器框架70壓 出成型’以使支撐部7 2位於偵知器框架7 〇之上部;使支撐 部72僅殘留偵知器框架7〇縱向兩端上部,其餘均藉由機械 加工去除;因為使加工面74露出於原稿讀取面,所以,加 工面74之異物容易去除,又,假設即使殘留異物,出貨後 因為運輸而產生之震動或衝擊,異物也不會附著於偵知器
7042-4884-PF(N);Ahddub.p t d 第16頁 1241120 五、發明說明(13) IC50。 又,因為偵知器基板裝著部7 7在偵知器框架7 〇壓出成 型時’事先呈開放狀態之構造,所以,偵知器基板4 〇不用 插入而能夠裝著,而不會產生偵知器框架7 0或偵知器基板 4 0在插入時,因為切削而產生異物。 而且,本第3實施形態中,透明板60與框架7〇係各自 獨立’雖然透明板60係固定,而偵知器框架7〇係藉由移動 來讀取資訊之形態;但是,將透明板6〇固定於偵知器框架 7〇 :使影像偵知器固定於影像輸入部,藉由原稿10之移動 來讀取資訊,亦即,採用送稿式影像偵知器也可以得到同 樣效果。 而且,在本第3貫施形態中,雖然以鋁表示過使用金 ίϊ!:’但是,尸、要是能夠壓出成型,而且能夠充分保 械加工後支撐部72之強度,不論是使用金屬、合金 【發明之效果】 器栖ΐ i所述,使用本發明之用於製造影像偵知器之偵知 i =么方法,其包括:使偵知器框架形成為一體化之步 L开Ιΐ偵知器框架包括:偵知器基板裝著部,藉由壓 =金:或塑膠,使情知器基板裝著於其上,且其為開 自@ i也通路,與前述偵知器基板裝著部連接設置,使 美j來:反射光中介著桿狀透鏡陣列,❿通過前往偵知 益基板’彡鏡陣列固持部,與前述光
1241120 五、發明說明(14) 才干狀透鏡陣列;以及框 陣列固持部之橫向兩端 部殘留透鏡陣列固持部 予以去除之步驟。所以 間,而能夠使自原稿而 知器I C。 又,用於製造影像 括·使偵知器框架形成 架包括:偵知器基板裝 使偵知器基板裝著於其 知器基板裝著部下部, 基板裝著部連接設置, 鏡陣列,而通過前往偵 與前述光通路連接設置 框架支撐部僅殘留偵知 利用機械加工予以去除 器I c存在之空間,而能 確地傳遞到偵知器丨C。 復,用於製造影像 括:使偵知器框架形成 架包括··偵知器基板裝 使偵知器基板裝著於其 前述偵知器基板裝著部 介著桿狀透鏡陣列,而
架支撐部,為了使其支撐前述透浐 上部而設置;以及使前述框架支^ 之縱向兩端上部,再利用機械加: ,異物不會混入偵知器I c存在之介 來之影像濃淡資訊正確地傳遞到S 偵知器 為一體 著部, 上;框 形成中 使自原 知器基 ,固持 器基板 之步驟 夠使自 之偵知 化之步 藉由壓 架支撐 空;光 稿來的 板;以 桿狀透 裝著部 。所以 原稿而 器框架 驟,而 出成形 部,設 通路, 反射光 及透鏡 鏡陣列 之縱向 ,異物 來之影 的方法 前述偵 金屬或 置成在 與前述 中介著 陣列固 ;以及 兩端下 不會混 像濃淡 ,包 知器框 塑膠, 前述偵 偵知器 桿狀透 持部, 使前述 部,而 入偵知 資訊正 偵知器之偵知器框架的方法,包 為體化之步驟’而前述債知器框 著部,藉由壓出成形金屬或塑膠, 上’且其為開放狀態;光通路,與 連接設置,使自原稿來的反射光中 通過前往偵知器基板;透鏡陣列固
7042-4884-PF(N);Ahddub.ptd 第18頁 1241120 五、發明說明(15) 持部,與前述光通路連接設置,固持桿狀透鏡陣列;以及 框架支撐部,設置於面對前述原稿之位置;以及使前述框 架支撐部僅殘留偵知器框架之縱向兩端上部,而利用機械 加工予以去除之步驟。所以,異物不會混入偵知器I C存在 之空間,而能夠使自原稿而來之影像濃淡資訊正確地傳遞 到偵知器I C。
7042-4884-PF(N);Ahddub.p t d 第19頁 1241120 圖 面 剖 器 知 偵 像 影 之 態 形 施 實 第 明 發 本 係 圖 明 1 說第 單 簡 式 圖 圖 視 上 器 知 偵 像 影 之 態 形 施 實 11 第 明 發 本 係 圖 2 第 圖 之 前 工 加 械 機 態 形 施 實 框 器 知 偵 前 工 加 械 機 該 1 係 第 明 發 本 Γ · C 示第圖 表·,面 係圖剖 }體部 立央 架中 框向 Γ C 第器縱 知之 偵架 a 圖 b 之 後 工 加 械 機 能? 形 施 實 11 第 明b 發 本 /- 示第 表 ·, 係圖 >體 U立 架 /框 第器 知 偵 圖 圖 框 器 知 偵 後 工 加 械 機 該 係 之 前 工 加 械 機 態 形 施 實 2 第 明 發 。本 圖示 面表 剖係 R— 告 央 中 向 縱第 之 架 圖 a 圖剖 體部 立央 架中 框向 器縱 知之 偵架 圖 係圖 }體 (a立 架丨框 第器 知 偵 面表 框 器 知 偵 前 工 加 械 機 該 係 \)y b Γ\ 圖 ο 5 第圖 之 後 工 加 械 機 態 形 施 實 2 第 明 發 本 圖 6 示第 框 器 知 偵 後 工 加 械 機 該 係 b 圖央 面中 剖向 部縱 央的 中架 向框, 縱器第 之知 架偵 示 表 係 a Γν 圖 面明 rhl 第剖發 ;部本 之 後 裝 著 件 零 各 將 係 C /V 圖 之 前 工 加 械 機 態 形 施 實 ο 3 圖第 圖 體 立 架 框 器 知 偵 圖 b 圖 8 縱第 之 架 剖係 it口 央 中 向 a 框 器 知 偵 前 工 加 械 機 該 係 λ—y 第 明 發 r 本 第圖示 •,面表 之 後 工 加 械 機 態 形 施 實 圖 b 面 CC 第剖 第圖央 ; 面中 圖剖向 體部縱 立央的 架中架 框向框 器縱器 知之知 偵架偵 圖
框之 器後 知裝 偵著 後件 工零 加各 械將 機係 該} 係(C 圖 ο QU 11 第第 習 係 圖 圖 D知 夫偵 湞 像 像彳 習 係 圖 面 剖 的 器 的 器 圖 視 7042-4884-PF(N);Ahddub.p t d 第20頁 1241120 圖式簡單說明 第1 1圖(a )係表示習^ 知器框架之立體圖;第1 1圖 械加工前偵知器框架之縱向 第1 2圖係習知影像偵知 第1 3圖係習知影像偵知 【符號說明】 10 原稿 3 0桿狀透鏡陣列 5 0 偵知器I C 7 0偵知器框架 71 光通路 7 3透鏡陣列支撐部 7 5機械加工前偵知器才 8 0 光路徑 100 板 I影像偵知器之機械加工前偵 (b )係習知影像偵知器之機 中央部剖面圖。 器的剖面圖。 器之偵知器框架剖面圖。 2 0 光源 4 0偵知器基板 6 0 透明板 70a,70b 框架 7 2支撐部 7 4 加工面 架 7 7偵知器基板裝著部 9 0固定構件
7042-4884-PF(N);Ahddub.p t d 第21頁

Claims (1)

1241120 六 申請專利範圍 屋號 A 日 括 種用於製造影像債知器之债知器框架的 方法 加 使偵知器框架形成為一體 木包括··偵知器基板裝著部, 1偵知器基板裝著於其上,且 前述债知器基板裝著部連接設 過桿狀透鏡陣列,而抵達偵知 與前述光通路連接設置,固持 標部’為了使其支撐前述透鏡 而設置;以及 對於前述框架支撐部殘留 端上部的部分,利用機械加工 2· —種用於製造影像偵知 括: 使偵知器框架形成為一體 架包括:偵知器基板裝著部, 使偵知器基板裝著於其上;框 知器基板裝著部下部,形成中 基板裝著部連接設置,使自原 陣列’而抵達偵知器基板;以 光通路連接設置,固持桿狀透 對於前述框架支撐部殘留 兩端下部的部分,利用機械加 3. —種用於製造影像偵知 包 化之步驟,而前述 藉由壓出成形金屬 其為開放狀態;光 置,使自原稿來的 裔基板;透鏡陣列 桿狀透鏡陣列;以 陣列固持部之橫向 在透鏡陣列固持部 予以去除之步驟。 器之偵知器框架的 偵知器樞 或塑膠, 通路,與 反射光經 固持部, 及框架支 兩端上部 之縱向兩 方法 包 化之步 藉由壓 架支撐 空;光 稿來的 及透鏡 鏡陣列 在偵知 工予以 器之偵 驟’而前述 出成形金屬 部,設置成 通路,與前 反射光經過 陣列固持部 :以及 器基板裝著 去除之步驟 知器框架的 偵知器樞 或塑膠, 在前述谓 述 <貞知器 桿狀透鏡 ,與前述 部之縱向 方法 包
第22頁 1241120 六、申 括: 請專利範 —案號9U0 圍 曰 修正 使 架包括 «偵知 前逑偵 過椁狀 輿前述 撐部, 對 部的部 鴻知器框架形成為一體化之步驟,而前逑 哭2 Γ = ί板裝*部,藉由麼出成形金屬或、塑框 :二板裝著於其上,且其為開放狀態;光通路,與 二,板裝著部連接設置,使自原稿來的反射光經 光二:]接:=達=器基板;透鏡陣列固持部, 設置於is;二持桿狀透鏡陣列;以及框架支 、、囟對則述原稿之位置;以及 分刖部ΐe“偵知器框架之縱向兩端上 J用機械加卫予以去除之步驟。 第23頁
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