TW593464B - Method and apparatus for sequential plasma treatment - Google Patents

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TW593464B TW091106499A TW91106499A TW593464B TW 593464 B TW593464 B TW 593464B TW 091106499 A TW091106499 A TW 091106499A TW 91106499 A TW91106499 A TW 91106499A TW 593464 B TW593464 B TW 593464B
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Description

593464 A7 --— B7 五、發明説明(i ) 發明範疇 本發明係有關於一種用於基板之電漿處理的方法及裝置 ’諸如用於生化醫療元件或食物及醫藥包裝元件之聚合物 處理。特別疋’本發明係有關於具有大縱橫比之非導電性 中空基板的電漿處理或沉積,諸如小直徑管件、平坦狀箱 件…·。 發明背景 具有大縱橫比之中空基板,通常應用於不同的技術領域 ,諸如用於醫療器材之導管或内視鏡,及用於食物或醫藥 應用之包裝。”大縱橫比"一詞意指中空基板,具有至少位 於一個方向尺寸相當大於另一者;更特別的是,基板之長 度為相當大於基板開縫之大小。圖4所示,為中空基板之二 個祀例,其具有大縱橫比L/a,其中L為基板之長度,盔為基 板開縫之最小尺寸。管件丨包括相對於管件直徑a,具有較 大長度L之内凹穴。大縱橫比基板,亦可具有平坦狀箱件 101之形狀,其相較於它的長度將顯示出較小之開縫高度至。 使用電漿處理之一般困難為,用於處理類似基板之内壁 的複雜性。事實上,這種基板之電漿處理為難以執行,因 為要在大縱橫比之中空基板產生電漿,一般存在有欠缺電 漿均勻度之問題,因此難以處理。對於整個基板長度,要 確保處理之均勾度,僅能在氣體先驅物之濃度、局部電漿 岔度、及壓力在極為嚴苛之固定條件下執行。 要在基板内產生電漿’係以施加電能至處理氣體完成 電子為電場所加速,在氣體分子與加速電子之間由非彈性
-4-
593464 A7 B7 五、發明説明( 撞擊產生離子。加速氣體内電子之電能,一般以變化電場 、變化磁場或二者皆有所產生。 备沿著中空基板之主要目標為處理或沉積電漿時,將發 生二個主要問題。第_個問題係關於如何沿著基板長度, 產生均勻之電漿密度。事實上,為達到此情形,必須在基 板施加定常電能,但對於超過某一尺寸下將變的較不可行。 第二個問題為沿著基板全部長度,為定常數量之先驅物 反應下,如何確保沿著整個長度之處理的均句度。即使配 置犄定之月b里源,可以沿著基板長度產生均勻之電漿密度 ’-旦氣體先驅物流過基板,先驅物濃度將無可補救的降 低、,因為在基板之氣體人Π處,將發生較高之先驅物消耗。 為補救這項問題,已經發展出數種解決方法。這些之一 ,如圖5所示之美國專利第4 692 347號所敘述,其組:包括 在真空容器5(Π之内’相對於定置電漿源5〇5移動被處理之 管件502。被塗敷之管件502,為初始捲繞在捲筒綱,以豆 一端經由流動控制器504流通於單體源5〇3。將管件連續通 過由定置電抗_合源5〇5所構成之輝光放電區,經由射^方 式所驅動之二個電極,將在管件5〇2内產生電漿。已完成内 壁塗敷之管件,被捲繞在接收捲筒5〇9。在管件之另2端將 連接排氣裝置逼及谓,以保持管件内位於較低之絕^壓 力。 無論如何,類似之解決方式具有盆 ^ 缺點。在滾捲及鬆開 低或南硬度之薄殼管件時,可導致 曰 丨販鈿或摺起,也就 疋說,不可補救的管件變形。此外,排 F1置之構造及使
五、發明説明(3 用較為複雜,其難以玆位、,l — _ U ^件之良好屋力控制。這些 困難,不僅β響管件電漿處理之可靠 處理之速度。 门S成本及 將=二I:方法為附加電聚源至移動機構,相對於所 ,且:二J動電漿源。無論如何’此種機構為複雜者 數""板内控制電^之均勻處理所需要的相關參 :=衆之均勻處理的電㈣移動速度及精度 和命致必要發展之電子 工制T、、冼,明顯的增加處理之成 此外,類似兀件被限制於單一管件處理。 發明概要 ^觀此等方面’本發明之—項物件為提供—種方法及一 種衣置T以解決上述之問題。換句話說,將提供一種方 .法及一種裝置之物件’對於中空基板的電漿處理均勾度, 可以涵盍基板内所有部位。 為達此目的,將提供一種中空基板電漿處理之方法,其 特徵在於包括將複數個電離作用能量源,全部沿著基板所 將被處理之部位置放、在基板内注入處理氣體,氣體包括 用於產生電漿之先驅物、保持管件内之壓力位於一預定範 圍之内、及循序致能複數個電離作用能量源,用於在基板6 内位於相對應於個別源致能之位置選擇性產生電漿;注入
處理氣體之步驟,至少在每一電離作用能量源致能之前需 要予以重複。 A 因此,依據本發明,可以沿著基板產生均勻電漿密度, 同時沿著管件具有均勻氣體濃度以作用。 本纸張尺度適用巾關家標準(CNS) Α4規格(2l〇X297公爱) -6- 593464 A7 B7
依據本發明之一方面,複數個電離作用能量源,可為恭 容式耦合電漿源或電感式耦合電漿源。 …免 J复數個電離作用能量源,可使用共同射頻能量源或用於 每一離子化能量源之個別射頻能量源所致能。 、 依據本發明之另一方面,電離作用能量源係以脈衝方 致能。 八 在基板内注入處理氣體之步驟,.亦可以脈衝方式執行。 雖然,處理氣體可以不需要使用脈衝之電離作用能量源而 具有脈衝作用;反之,依據本發明之一方面,氣體流動可 以依據循序致能之電離作用能量源而完成脈衝。.這可以確 保處理氣體及先驅物,在每一致能順序之間且位於電離作 用能量源之前端被更新。在致能順序之後所消耗之先驅物 將被更新,因此每-次在基板產生電漿時,可以保持定常 之濃度。 · 依據本發明m面’處理氣體在基板以定常之先驅 物速率下恆常的流動。因此’在此情形下,於基板内注入 處理氣體之步驟,將在基板之整個電裝處理期間連續執行。 更確切的說,基板為具有大縱橫比之中空基板。 在一項具體實例中,複數個電離作用能量源(1G7-H2), 係依據二度空間之陣列所配置。 本發明錢供—種用於料電性h基板之電聚處理裝 置,其包括在基板產生電漿之產生構件,其特徵在於產生 構件包括複數個電離仙能量源,其係全部沿著基板所將 被處理之部位’每-相互鄰接配置’及該裝置進一步包括 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公爱) 593464
^理構件’其由㈣能量供應構件,循序致能複數個電離 作用能量源。 。更特別的是’射頻能量供應構件’包括用於致能複數個 電離作用忐1源之單一射頻能量源或用於個別致能複數個 電離作用能量源之複數個個別射頻能量源。 依據本發明之一方面’射頻能量供應構件為一種脈衝產 生型式,用於在脈衝型式下致能電離作用能量源。本發明 之裝置,'亦可包括氣體流動控制器,用於控制處理氣體流 :基板之動力。氣體流動控制器亦可以脈衝型式注入處理 札収雖然,處理氣體可以不需要使用脈衝之電離作用能 量源而具有脈衝作用,依據本發明之_方面,氣體流動控 制器可以被連接至處理構件之輸出構件,以依據電離作用 能量源之致能順序控制氣體流動。這可以確保處理氣體及 先驅物’在每—致能順序之間且位於電離作用能量源之前 端被更新。在致能順序之後所消耗之先驅物將被更新,因 此每一次在基板產生電漿時,可以保持定常之濃度。 複數個電離作用能量源,可為電容式_合電^源或雷感 式耦合電漿源。 特別是,每一電離作用能量源包括電磁構件,以垂直於 基板長度之方向產生橫貫基板之磁通量。 依據本發明之一項具體實例,該裝置進一步包括如同電 磁場構件般,設置有二個對向之場進入窗口、分別位於第 一及第二窗口之外側面之第一及第二對向線圈配置,第一 及第二線圈配置係連接於電源供應線,因此以相同方向之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
裝 訂
線 593464 A7 B7 五、發明説明(
電流,同時流過第一及第二線圈配置。 第一及第二線圈配置,各包括具有彎曲樣式之感應線圈。 取好的,第一及第二線圈配置,進一步包括與線圈配置 之感應線圈有關之磁心,磁心具有極面結構,並用以頂住 或靠近場進入窗口。 一般而言,射頻能量供應構件所傳遞能量之頻率大約為 10 kHz至100 MHz,較佳的為頻率13.56 MHz。 依據本發明之另一項具體實例,複數個電離作用能量源 係依據二度空間陣列配置在基板之每一側邊。 圖式簡單說明 本發明之上述物件及優點,可以由其較佳具體實例之詳 細說明及參考相關圖式中瞭解,其中·· 圖1為依據本發明第一具體實例一種用於電漿處理裝置之 橫切面示圖; 圖2為依據本發明一項具體實例之線圈配置示圖; 囷3為依據本务明第一具體貫例一種用於電漿處理裝置之 才頁切面不圖; 圖4為二個基板範例之立視圖;及 圖5為用於電漿基板處理之一種傳統裝置之示圖。 發明詳細說a月 依據本發明之一種非導電性中空基板電漿處理之方法及 裝置,將蒼考圖丨所示之第一具體實例敘述。管件丨,具有 長度L及直徑a,係在一端經由氣體流動控制器3連接於處理 氣體源2。由源2所供應之處理氣體包括一先驅物,諸如為 -9- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 593464 A7 B7 10 ) 五、發明説明 。在此方式下’電漿源包括雙線圈配置,其可配置在基板 附近,大體上同圖1所示一對電極之相同構型。 配 式 置 二個線圈配置之一之一項具體實例,相似於圖2所示。 7a,包括一感應線圈71,係依據彎曲樣式配置,·在此方 下,感應線圈具有一串列具開口鏈結迴路。 在另-具體實例之配置,可以包括以單—感應線圈所形 成之串列疊架之鏈結迴路。類似之配置,可增加感應線圈 所產生之感應能量。 本發明之線圈配置,未限制於上述二個範例;熟習該項 技術藝者可以在毫無困難之下,易於想像出用於線圈配置 之不同具體實例。 可將感應線圈附加一磁心,以增強及均化感應線圈所產 生之磁場。此等相關方面之技術,以及不同之具體實例, 已經詳述於歐洲專利申請案EP 〇 908 923。圖2所示,磁心 72包括極面構造73,以確保由感應線圈所形成迴路間之間 距的"死角"為最小化。如前所述,由磁心及感應線圈組合 所構成之線圈配置,其可令由二個線圈配置所形成之源, 於覆蓋之基板整個面積之磁通量為均勻化。感應線圈71為 個別磁心72之較低部位,以靠近被處理之基板。無論如何 ,依據構成磁心之材料特性或所預期之磁通量,感應線圈 可位於磁心之不同位置。磁心可易於配合所希望之形狀及 尺寸。 當電漿源包含二個如同上述般之線圈配置,將產生樺向 磁通量,其大體上垂直於基板凹六長度L。線圈之配置,係 •13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 593464
二者皆為射頻電漿源所供應,其所產生電流z,在線圈配置 之一個個別感應線圈以相同方向流動。 如前所述,所產生橫向磁通量係垂直於基板,其方向係 以流進線圈配置之電流方向所決定。因為基板為非導電性 ,磁通量在基板平面所產生電場,係垂直於磁通量之方向。 如同磁通量垂直且橫向於基板凹穴之長度,電場在橫跨 整個基板平面環繞成為一迴圈。如前所述,用於加速電子 之路徑較長,因此可以有效獲得電漿之產生。 結果,在整個源覆蓋之區域產生電通量,其在相對應之 基板空間離子化處理氣體。這項構造特別適用於薄殼中空 基板之電漿處理,因為它具有良好的效率基準,其對於橫 向磁通夏大約為Ι^〇·3,如同歐洲專利申請案Ep⑽3 所敘述。 此外,磁場之傳送,係獨立於置放在容器之基板部位, 因為它是非導電性。 圖^所不為依據本發明用於電漿處理裝置之第二項具體實 例。在這項具體實例,電漿源組件包括依據二個方向配置 之六個電漿源陣列107至112。事實上,所將處理之基板為 平坦狀相件101,一如圖4所示。如圖3所示,三個電聚源 至109係沿著第_列每一相互鄰接配置’同時源川至 112沿著第二列分別對齊於源1〇7至1〇9。電漿源1〇7至η]係 依據二度空間’匹配於平坦狀箱件1G1之樣式依陣列配置, 其相異於管件者為,具有圖4所示之寬度w。 如同電漿源107所示,每一源包括二個零件1〇7&及1〇几, __ ·14_ ΐ紙張尺度適財S目家料(CNS) Α鐵格㈣Χ2·€------ 593464 A7 B7
之電流方向所決定。因為基板1G1為非導電性,磁通量i3〇 在基板平面所產生電場131,係垂直於磁通量i3〇之方向。 本裝置包括用於進行電漿處理之傳統電漿容器1〇2。容器 1〇2包括一密封區域,可以經由圖丨所示之排農構件,排氣 及控制壓力。容器將經由處理氣體源及氣體流動控制器(未 於圖中示出)填滿處理氣體。當基板被内含於容器1〇2:密 封區域,可以在基板内側及/或外側離子化處理氣體,可: 位於基板内側及/或外側產生電漿。 電漿容1§進一步包括石英或其他介電材料製成之第一及 第二場進人窗Π 1G2a及腿,以允許能量場經由電感式麵 合進入容器之内側,藉此產生或持續保持所需要之電漿處 理情形。在二個窗口之間構成之空間,大體上相對應於電 漿容器之内由平坦狀箱件101所占有之厚度空間。電漿容器 之樣式及尺寸,及相同的對於場進入窗口之樣式及尺寸, 端視被處理基板的樣式及尺寸而定。例如,場進入窗口必 須覆蓋平行管件中空基板之整個最寬面或管狀基板之圓形 部位。 如圖1所示之第一裝置具體實例,處理裝置211被特別程 式所設定,以循序的控制開關SW1至SW6之開啟/關閉狀態 ,因此決定出橫跨在基板全部之電漿源的方向、速度、及/ 或頻率。與第一具體實例不同的是’電襞源移動可以相對 於二度空間控制。在基板内之氣體流動’亦可經由輸出端 Spc被役使至處理裝置2 u。 -16-

Claims (1)

  1. S1 106499號專利申請案 請專利範圍替換本(93年3月) A BCD 六、申請專利範圍 1. 一種中空基板(1 ; 1 〇)之電漿處理方法,其特徵在於包 括下列步驟: a) 將複數個電離作用能量源(7-10 ; 107-112),全部沿 著基板所將被處理之部位置放, b) 在基板内注入一處理氣體,該氣體包括產生電漿之 一先驅物, c) 保持管件内之壓力位於一預定範圍之内,及 d) 循序致能該等電離作用能量源,以在基板内位於相 對應於個別源致能之位置選擇性產生電漿,該注入處理 氣體之步驟b),至少在每一電離作用能量源致能之前予 以重複。 2·如申請專利範圍第1項之電漿處理方法,其中,該步驟 b)係依據該電離作用能量源致能順序所控制。 3 ·如申請專利範圍第1項之電漿處理方法,其中,在基板 内該注入一碟理氣體之步驟b)中,該處理氣體係在一定 常先驅物速率下,連續注入基板内。 4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之電漿處理方法,其 中該等複數個電離作用能量源,為電容式耦合電漿源、 (7-10) 〇 5. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之電漿處理方法,其 中該等複數個電離作用能量源,為電感式_合1_ (107-112)。 6. 如申請專利範圍第丨至3項中任—項之電装處理方法,其 中在該步驟d),該等複數個電離作用能量源,係以一單 一射頻能量源(6 ; 106)所致能。 * 1 - i紙張尺度適财si @家標準(CNS)八4規格(21()X297& - —------ 593464 A8 B8 C8 申請專利範圍 ’如申請專利範圍第1至3項中任一項之電漿處理方法,其 中在該步驟d),該等複數個電離作用能量源,係以個別 射頻能量源所個別致能。 8 ·如申請專利範圍第1至3項中任一項之電漿處理方法,其 中電離作用能量源係以脈衝方式致能。 9 ·如申請專利範圍第1至3項中任一項之電漿處理方法,其 中基板; 1〇1)為具有大縱橫比(L/a)之中空基板。 1 〇·如申請專利範圍第1至3項中任一項之電漿處理方法,其 中在该步驟a),該等複數個電離作用能量源(107-112), 係依據二度空間陣列配置。 11· 一種非導電性中空基板(1 ; 1〇1)之電漿處理裝置,其包 括在基板產生電漿之產生構件,其特徵在於該產生構件 包括複數個電離作用能量源; 1〇7_112),其係全部 沿著基板所將被處理之部位,每一相互鄰接配置,及該 裝置進一步包括一處理裝置(11 ; 211),用以由射頻能量 供應裝置(6),循序致能該等複數個電離作用能量源。 12·如申請專利範圍第n之裝置,其中該射頻能量供應構件 ’包括用於致能該等複數個電離作用能量源(7-10; 107胃 112)之單一射頻能量源(6; 106)。 13·如申請專利範圍第11之裝置,其中該射頻能量供應構件 ,包括用於個別致能該等複數個電離作用能量源之複數 個個別射頻能量源。 14·如申請專利範圍第11至13項中任一項之裝置,其中該射 頻能量供應構件為一種脈衝產生型式,用於在脈衝型式 593464
    下致月b a亥4電離作用能量源。 15.如申請專利範圍第m13項中任_項之裝置,其中該處 理構件具有輪出構件(Spc),依據該#電離作用能量源之 致能順序’控制氣體流動控制器(3)。 16·如申請專利範圍第11至13項中任一項之裝置,其中該等 複數個電離作用能量源,係電容式轉合電聚源(7_10)。 17·如申請專利範圍第11至13項中任一項之裝置,其中該等 複數個電離作用能量源,係電感式耦合電漿源(1 丨12)。 18·如中請專利範圍第17項之裝置,其中每_電離作用能量 源(1〇9)包括電磁樣件(109a ; 1〇9b),以垂直於基板長度 (L)之方向產生橫貫基板(1〇1)之一磁通量(13〇)。 19·如中請專利範圍第18項之裝置,其中該裝置進一步包括 一電漿容器(102),設置有二個對向之場進入窗口(1〇2a 、i〇2b)及如同電磁場構件(1〇9a; 1〇9b)般之分別位於第 一及第二窗口之外側面之第一及第二對向線圈配置,第 一及第二線圈配置係連接於電源供應線(119),因此以相 同方向之電流(I),同時流過第一及第二線圈配置。 20·如申請專利範圍第19項之裝置,其中該第一及第二線圈 配置,各包括具有一彎曲樣式之感應線圈(71)。 21.如申請專利範圍第20項之裝置,其中該第一及第二線圈 配置,進一步包括與該線圈配置之感應線圈有關之一磁 心(72),該磁心具有一極面結構,並用以頂住或靠近場 進入窗口。 22·如申請專利範圍第17項之裝置,其中該射頻能量供應構
    圍範利 專請 中六 A B c D 件所傳遞能量之頻率係介於10]^2至100^11^之間。 23 ·如申請專利範圍第11至13項中任一項之裝置,其中該等 複數個電離作用能量源係依據二度空間陣列配置在基板 (101)之每一側邊。 24.如申請專利範圍第17項之裝置’其中該射頻能量供應構 件所傳遞能量之頻率為13.56 MHz。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
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