TW557355B - Low acquisition resolution process and device for checking a display screen - Google Patents
Low acquisition resolution process and device for checking a display screen Download PDFInfo
- Publication number
- TW557355B TW557355B TW091136298A TW91136298A TW557355B TW 557355 B TW557355 B TW 557355B TW 091136298 A TW091136298 A TW 091136298A TW 91136298 A TW91136298 A TW 91136298A TW 557355 B TW557355 B TW 557355B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- image
- screen
- camera
- pixels
- patent application
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 63
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 43
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 41
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 18
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 14
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 8
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 claims description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 2
- 230000004807 localization Effects 0.000 claims description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 2
- GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 3-(2-methoxyethoxy)benzohydrazide Chemical compound COCCOC1=CC=CC(C(=O)NN)=C1 GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 238000012217 deletion Methods 0.000 claims 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 9
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 241000254158 Lampyridae Species 0.000 description 1
- 238000010009 beating Methods 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 239000000109 continuous material Substances 0.000 description 1
- 238000010411 cooking Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YOBAEOGBNPPUQV-UHFFFAOYSA-N iron;trihydrate Chemical compound O.O.O.[Fe].[Fe] YOBAEOGBNPPUQV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 231100000817 safety factor Toxicity 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/4053—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting based on super-resolution, i.e. the output image resolution being higher than the sensor resolution
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/4084—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting in the transform domain, e.g. fast Fourier transform [FFT] domain scaling
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Description
557355 玖、發明說明 (發明說明應敘明·發明所屬之技術領域、先前技術、内容、實施方式及圖式簡單說明） 【發明所屬之技術領域】 發明領域 本發明係關於一種用以檢查顯示器螢幕之裝置及方法 5 。其預定用以檢查螢幕，特別用以決定有缺陷之像素之數 目，且可能局部化這些像素。本發明可應用至任何型式之 能夠顯示一測試樣式或一組週期性或擬週期性測試樣式之 螢幕。 本發明特別使用於品質控制應用中。一顯示器榮幕之 10目的或商業價值係基於得知在顯示器螢幕上之有缺陷像素 而決定的。在一些情況中，缺陷像素之局部化亦為修復螢 幕之方法，或修正螢幕製造方法之方法。 I：先前技術2 發明背景 15 20
技藝狀態係以文件（1)至（7)加以說明，其在本說明之 結尾處以完整之參考文獻中加以定義。 如上述，對顯示ϋ螢幕之一重要的檢查參數為是否有 任何的缺陷像素，以及其在螢幕上的位置。對諸如航空監 視或醫學影像之特定領域來說，絲㈣螢幕中之任何: 陷之出現可能使其無法使用。再者，债測在一系列接連製 k之螢幕上的系統缺陷可為影響諸如_絲狀螢幕打印模或 一照相平版模之工具之缺點的指標。 最後，-些螢幕被提供以冗餘檢查電路，且可將缺陷 修正至-定寬度。然而’除非知道其正確的位置，否則： 6 玖、發明說明 法修正一缺陷。 〜 2抓旧％币巴祜’’夂常打開” 和“反常關閉，，缺陷。反當飪*各妙 久吊打開缺陷為在螢幕上即使未將照 才曰7加至其上仍在打開”顯示狀態中之像素。反常關閉 缺為在螢幕上nx —控制訊號對其供應能量而仍在“ 關閉”顯示狀態中之像素。 't二螢幕來β兄’附加地可能將反常打開缺陷轉換成 反常關閉缺陷，因為反常_缺陷通常被認為較不麻煩。 螢幕缺陷之定位一般可藉由將一已予顯示狀態加在螢 幕上亚崎貫際獲得之顯示狀態與所需的顯示狀態來做 。此操作可藉由自動地分析_或多個由一電子相機所輸出 之螢幕〜像來做。一電子相機為一具有一組光感像素之相 機，其以由像素所接收之光線之函數般輸出_電子訊號。 _可於計算設備中使用電子訊號。例如’相機可為-CCD(電荷耦合裝置）相機。 夺易地了解到為了檢查具有一已經解析度之螢幕，擁 有具有至少相同或甚至較佳之解析度之相機是有用的。 此條件對於正確地局部化在螢幕影像中之缺陷是必要的。 * /、::而考慮螢幕之解析度持續地變好，且因此檢查相 機亦而具有_更好的解析度之事實，測試設備之成本變得 很而。 ^已完成了一些工作以從低解析度板獲得較高解析度之 影像。例如上述之文件（1)至（3)提供了此方面之資訊。這 -技稱4多頻道超解析度”’且特別企圖解決雜訊敏感 557355 玖、發明說明 10 問題和/或操作狀況對於結果 隹之相害之問題。再者 ，處理之堅固性之改進已增加了複雜度和困難戶。者 這些技術並非真正較檢查顯示器螢幕，特別 查它們。 文件（4)描述了一檢查裝置，盆 .^^ /、中相機解析度可選擇為 小於待檢查之螢幕之解析度約15 1-在待檢查之螢幕 之像素和相機像素間必财—固定的大小比例。此固定大 =比例在定位螢幕是十分限能的，且㈣迫須使用—相 對南解析度之相機’以及一極佳品質的光學儀器(十分低 的失真）。 如此， 續地檢
15 文件（5)描述了一修改檢查裳置 式以從一單一擷取來測試一螢幕。 測試樣式（25至49)而使得分析時間 ，裝置具有無法偵測反常打開缺陷 之擾亂之缺點。 ，其中顯示大量測試樣 除了因為大量待顯示之 ’^：得十分長之事實之外 以及其會受到這些缺陷 文件⑹描述-檢查裝置，在其中使用具有比受測裝置 之解析度高的解析度之相機。這樣的設備之成本價格十分 南。 【發明内容】 20 發明概要 本發明之目的係要提出一種用以檢查顯示器螢幕之方 法及衣置，其不具有上述之方法和裝置之困難與限制。 一特別目的係要提出一種使用一具有明顯低於待檢查 之螢幕之解析度低之解析度之相機之方法及裝置。
8 557355 玖、發明說明 /、他目的為使忐連續和自動地在製造出口檢查螢幕， 以评估其特性。 再者’其他目的為能夠快速且精確地將反常關閉缺陷 以及反常打開缺陷局部化。 5 &他目的為提出—種十分穩定，且因此對於操作狀況 並非十分敏感之方法。
更精確地說，為了實現這些目標之本發明之目的為一 種用以檢查-顯示鋒之方法，其包含下列步驟： #檢查之榮幕來以一空間週期p來顯示至少— 10 測試樣式， b) 使用一具有低於待檢查之螢幕之解析度之解析度之 電子相機來掏取-序列簡單的測試樣式之簡單影像，連續 的簡單影像係彼此偏移， c) 從簡單影像開始’建構測試樣式之過取樣影像， 15 d)使用—第一傅立葉轉換來計算過取樣影像之-些頻 譜成分，
e) 藉由消除和/或加權頻譜成分來補償先前步驟所造成 的頻譜改變， f) 使用-從步驟e)所造成之頻譜成分之第二傅立葉轉 20換來計算測試樣式之一新影像之頻譜成分， g) 分析新影像。 e)然後供分析用之影像具有-比簡單影像之解析度來 得好的解析度。 如上述，一電子相機意指 —諸如一 CCD相機之相機， 9 557355 玖、發明說明 其輸出-可由一電腦處理之電子訊號。注意在方法中，步 驟0至g)最好於一電腦中加以執行’例如由一在_微電腦 中執行之程式來做。 根據本發明之方法不只能夠提供一具有較相機之解析 5度來得好的解析度之最終影像，其可用來評估顯示器螢幕 ’亦能夠區分哪些所擷取到的資訊用至所顯示的測試樣式 ，以及哪些為寄生現象之結果。 · 可藉由組合簡單影像來建構測試樣式之過取樣影像。 泰 其係用來形成-過取樣影像，其包含比由相機初始捕捉到 10的每個簡單影像更多的資訊。在二種情況中，從比單獨取 得之簡單影像多的像素來形成過取樣影像。 過取樣影像之空間取樣寬紅實際上比相機像素之取 樣寬度來得精細。為了簡化目的，假設像素為正方形之相 機之相對取樣寬度在下文中標記為TCCD。 15 應提到相機像素之大小（TR)不一定與二像素之間的距 離（CCD取樣寬度或CCD週期，標記為心）相同。此發生 於像素填滿比率小於100%時，換句話說，當有在相機之 像素之間非感光之無效區域時。此情況特別發生於具有一 反全開裝置之CCD相機之情形中。 · 2〇 組合可僅以將來自使用相機所獲得之不同的連續影| 、 之像素放置為彼此交錯和相鄰而構成。另一方面，從簡單 像素之影像建構過取樣影像可能較複雜。在過取樣影像中 之每個像素可從-或幾個簡單影像之像素並以一所決定的 加權來建構。例如’為了改進在方法結束時所得到的最終 10 557355 ίο 15 20 玖、發明說明 影像之精確度，可由在步驟e)期間之計算來調整過取樣影 像之空間寬度，如此使得乘積％為顯示於螢幕上之測試 樣式之空間週期之倍數（TsN=kp)。換句話說，調整空間寬 紅，如此使得以整數數目之點來取樣—頻譜週期。值N 對應於在過取樣影像中所選擇之空間取樣之數目以形成第 -傅立葉轉換。雖然在此考慮一單_空間寬度，但對空間 上不同方向可存在不同的寬度。 在—特別的組合情況中，可定義空間寬紅為相機像 素之週期（在—所考慮之方向上）對影像順序中之簡單影像 之數目（在相同方向上）之比。 亦可改變在初始影像中選來供組合用之像素的選擇以 及過取樣f彡像之像素的計算之加絲引人過取樣影像之取 樣寬度W之-偏移，一旋轉和/或—修改。如此例如加權 為-修正過取樣影像之空間取樣寬紅之方法或修正形成 於相機上之螢幕之影像之中心或平行缺陷之方法。 如此，登錄過取樣影像可修正任何要檢查的榮幕和相 枚之間的對齊缺陷。更精確地說，可做一計算過的修正以 大致地將-待檢查之榮幕上的影像之中心與相機之中心對 齊和/或將影像之至少一邊緣與相機之一邊緣對齊，和/或 修正或補償相機所使用之光學系統之光學失真。可以在螢 幕上之已知座標之幾個有缺陷的像素之謹慎模擬來協助上 面的操作以形成一登錄系統或登錄標記。例如，反常關閉 缺陷可加至測試樣式中。亦可從仔細顯示之反常打開像素 開始來形成一登錄系統。
11 557355 玖、發明說明
1冢以供精確地判斷缺陷之位置 生，亦會由影像之頻譜成分發生 包括控制在螢幕上之像素以模 主思藉由轉#之登錄不僅於過取樣影像之計算期間發 。在此情況中，該方法可 或仃之記錄的頻譜的相位對稱於一值ι/2ρ。 幕上之像素以模擬在測試樣式之一列和/或 且用以修改頻譜之相位，以使得對該列和/ 注意上面提及的登錄操作對於程序之使用而言並非關
川〜个队xe牡简影像上之缺陷之位置之精 藉由將頻譜取樣寬度做為測試樣式之空間週 良加以調整，以一改造之方式來做第一或第 15 -傅立葉轉換。調整頻譜取樣寬度，如此使得—頻譜週期 為頻4取樣寬度之倍數。若已藉由在過取樣影像之建構期 間調整％來改造頻譜寬度，則此改進是不必要的。 藉由對可與可能或可能不打開之像素一致之螢幕之點 來汁算第二傅立葉轉換之取樣來獲得資訊之最小延展，最 20好為一逆傅立葉轉換。 最好調整頻譜寬度一），如此使得乘積!^恰為測 式樣式之空間期間P之倍數其中τ5為過取樣影像之空間取 樣寬度。 12 557355 玖、發明說明 注意在過取樣影像為考慮以相機所得到之簡單影像中 之所有像素之組合之結果的制情況中，過取樣影像之空 間解析度僅被定義為相機像素之週期對影像順序中之影: 數目之比。 在此說明中，將考慮相機像素為正方形。 形或其他形狀，則可考慮在連續料之偏移方向中之像素 之維度。 μ 亦可被選來改進在步驟f)之後所獲得之新影像之清_ 10 15
度之其他方法係由在此步驟人工地產生頻譜高階言皆波所構 成的。可藉由複製在步驟e)之末端上獲得之頻譜成分來做 /一具有週期卩之測試樣式來說，最好將頻 等於P之次數。
為了最佳資訊處理，亦可將顯示於螢幕上之測試樣式 之空間期間判斷為相機像素之尺寸之函數。例如，可U 著二方向场灶之週期ρ'χ和py來將—測試樣式顯示於勞幕 上，如此:
2Ρχ 2Py 在這些表示式中， 〇n ^ , 項^和了⑺為像素之積分窗之維度 20 ，而為小的安全因子。 述滿足了以測試樣式之空間週期之 =由週期性地將像素打開顯示測試樣式，且當如上 函數來改寫頻譜取樣之 13 557355 玖、發明說明 计异所需之條件時，且當正確地補償了登錄時，在方法末 端上所獲得之新影像中的反常關閉缺陷之再生給予了最佳 的清晰度。在由打開像素所形成之測試樣式之一列或一行 上偵測反常關閉缺陷。因此，這些缺陷之位置發生在該等 5计异，特別是傅立葉轉換計算最佳化之期間内。如此在新 的所獲得的影像中以最佳可能的清析度來再生反常關閉缺 陷。 * 仍假設改寫在測試樣式之週期上頻譜取樣之計算，並 · 未最佳化對偏移測試樣式之反常關閉缺陷應用之方法。反 10常打開缺陷在新影像中亦具有空間延展，其大於對反常關 閉缺陷之空間延展。 可藉由從在新影像中之二或多個相鄰之像素之重要性 組合之中心來重新計算反常打開缺陷之精確位置，對該等 像素強度超過其被認為是因這樣一個缺陷而造成之像素之 15 臨界。 若未將取樣之計算改寫為測試樣式之週期和/或未做 · 其他登錄操作或未將之最佳化，則重要性計算之中心亦可 對反常關閉像素發生。在此情況中，藉由考慮強度對其超 過-所決定之臨界較小值之像素之計算來減少其空間延展。 - 2〇 亦可藉由改變對應這些缺陷之頻譜成分之相位來獲# . 新影像中之缺陷之空間延展上的減少。然後該方法可包括 下列額外的操作，特別對反常打開像素： i)選擇在新影像中圍'繞-有缺陷像素之區域， “)使用-傅立葉轉換來計算在此區域中之頻譜成分， 14 557355 玖、發明說明 ill)藉由加入易於使相位對所選擇之區域對稱之相位 修正項來調整頻譜成分， IV)使用一傅立葉轉換來計算新的空間成分，最好為一 逆轉換，以形成該區域之新影像， 5 v)由區域之新影像開始來建立缺陷之座標。 上述之步驟ill)可特別包括將相位調整一值u=h/p，其 中k為一自然整數，並重覆步驟〇至w)直到在該區域之新 影像中獲得缺陷之最小空間範圍為止。 本發明亦關於一種檢查裝置，其中可使用上述之方法 10 。該裝置包含： -控制顯示器螢幕之裝置以將一測試樣式顯示於 幕上， -將測試樣式之影像形成於一具有低於顯示器螢幕 之解析度之解析度之電子相機上之裝置， 15 -在相機上偏移測試樣式之影像之裝置，以及 •分析由相機輸出之幾個偏移影像以將顯示器螢幕 上之缺陷像素局部化之裝置。 本發明之其他優點和具體性將從參考在附圖中之圖式 給予之下列說明而更為清楚地了解。此說明係已予以供說 20明目的，且絕非為限制性的。 圖式簡單說明 第1圖為-根據本發明之裝置之簡化示意表示圖。 第2至4圖為一待檢查之螢幕之部份之示意表示圖，且 指出在-影像捕捉相機中之像素之尺寸間的不同比以及顯 15 557355 玖、發明說明 示於螢幕上之測試樣式之週期。 第5至9圖為一待檢查螢暮一邱- 東香之冲仞之不意表示，並說 明了圖形之偏移。 第H)圖說明卜由簡單影像開始之過取樣影像之建構。 5 帛11圖為—對應於—週期性測試樣式之在任意大小之 頻譜上之表示。 第12圖為用以登錄和對齊與相機相關之螢幕影像之限 制之不意表示。 【實施方式3 10 較佳實施例之詳細說明 在下列說明中，不同圖式之相同的，類似的或等效之 部份標以相同的參考符號以協助圖式之間的比較。再者， 並非所有的元件皆顯示為相同比例以使得圖式易於閱讀。 第1圖顯示了根據本發明之一裝置。基本上，此裝置 15包含一顯示器螢幕E之接收檯10，一相機12和一連接至相 機以轉譯由相機所供應之影像之微電腦14。例如，相機12 可為一 CCD型式之相機，冷卻以限制雜訊。相機之解析度 可能小於螢幕E之解析度，其意指像素之總數可小於螢幕 像素之數目。相機自由地安裝以沿著一垂直軌16移動以致 20 能從相機至螢幕之距離之調整。其亦被提供以一物鏡18， 其用來調整焦點且可能調整在螢幕上之影像之放大比率。 物鏡18用來形成在相機上之一螢幕影像，或顯示於螢幕上 之一測試樣式。 裝置包含一或數個分離裝置以使能取螢幕E之一系列 16 557355 玖、發明說明 輕微偏移觀點。這些裝置可為在一垂直於相機之光學軸之 平面中之檯之轉變之裝置，以致能檯和相機在每個圖形之 間的相對移動。檯10沿著x軸和7軸之移動可受到控制把 之控制，其由電腦14加以控制。亦可手動地做更大範圍的 5 移動。 如此可以透明條狀物或透明平板22且自由安裝之平行 面以在相機範圍中以樞鈕轉動之方法來產生沿著乂和^軸在 10 連續圖形之間的偏移。條狀物之旋轉造成在相機上之螢幕 影像之偏移。以未顯示，且由電腦14控制之馬達驅動裝置 來將條狀物22繞二軸x*y之至少之一加以旋轉。使用二分 離條狀物，每個自由地繞著一不同的旋轉軸移動亦是二 的。
15 20 。上述，控制螢幕來將一週期性測試樣式顯示於其-，例如藉由週期性地顯示“打開，，像素。螢幕可受電腦μ」 控制或以任何其他可或可不整合至監視器之裝置來㈣ 2然本發明絕對可應用至黑和白或單色螢幕，或具工有非 帶”型式之結構之彩色螢幕，但第2至4圖每個顯示了一』 有帶結構之彩色榮幕之一部份。像素30,對應於紅，制 藍色，係分別由字母r，g*b加以指小。 在圖式中，像素30具有沿著標以箭號X和y之二方向3 不同維度。再者，可看到沿菩署… 錄和藍像素西 在♦應的行中。然而，應注意到此配置並非必要的。^ 檢查任何其他垂直或其他象素配置，只要螢幕致能至少一 週期性或擬週期性測試樣式之顯示。
17 557355 玖、發明說明 ;注意像素之形狀可為矩形，正方形，三角形或其他。 圖式中之像素之明暗使能識別被供 可顯示為“打開，,之後去.,^ 里便仔匕們 象素。在本文剩餘部份令，它們將部被 =_”’對照於“關閉像素”。此並非預先判斷 疋否有任何“反常關閉”像素在打開像素之令。以相同之方 L在關閉像素中，可能意外地有“反常打開，，像素，換句 話說為未被供給能量之像素。 、 所目再者’在第2至4圖中之正方形32顯示了由—相機像素 ίο 15 20 ♦…到之螢幕之-區域之範例。在本文通篇中，雖然為_ 讀’但此型式之區域稱為—相機像素。因為簡化理由， 顯示一單一像素32。 、第2圖顯示了顯示於螢幕上之測試樣式沿著_具有一 < m以及沿著y轴具有一週期Py=i之情況。榮幕影像 和相機像素之相對大小為使得相機像素32整合來自幾個營 幕像素30之光資訊。此是因為相機之解析度小於榮幕之解 析X之事κ。在顯示於第2圖之範例中，每個相機像素Μ‘‘ 看到約二個螢幕冑素。注意到相機像素並不一定為相鄰 的。它們可以由對光不敏感之邊界來加以分離。因為邊界 造成之資訊損失可藉由增加螢幕圖片之數目來完美地補償。 第3圖顯不了其中顯示於螢幕上之測試樣式之週期為 Px-3和Py=l之其他情況。每個相機像素32包括來自丨2個螢 幕像素之所有或一些之光線。可於第3圖中觀察到相機像 素之尺寸並不一定與螢幕像素之尺寸之倍數一致。如此一 個別螢幕像素之貢獻是可變化的 18 557355 玖、發明說明 在第4圖中給予了—最終範例，其中測試樣式之週期 分別為Px=4和Py=2，且其中每個相機像素“看到，，以個 像素。 供螢幕分析用之最終影像之最佳建構在由-相機像素 32所看到之打開像㈣之數目未超過4時發^此為在每 個所說明之範例中的情況。然而，可以更多數目之打開像 素來使用該方法。 /本發明之—較佳實施财，制適於具有-帶結構 10 之々色螢幕’所選擇之測試樣式為如第3圖中所示者。僅 藉由依序控制所有紅像素’然後所有綠像素且然後所有藍 像素來獲得一週期px=：3和Py=1。 為了標記反常打開和反常關閉之像素，以不同的測試 樣式將該方法重覆幾二女县古田M r 有用的，如此使得每個螢幕像素 15 可於其二狀態之每一個中(打開和關閉)至少被測試一次。 如此，當測試樣式之週期在—已予方向上大於2時，每個 像素在其打開狀態中被測試一次，且在其關閉狀態中被測 試（P-ι)次。 20 如上述，該方法包含獲得幾個影像，每個具有一偏移 。雖然偏移可比-相機像素之尺寸來得大，但最好造成小 偏移，小於一相機像素之尺寸，特別來協助接下來的組合 :驟。更-般地說，可選擇偏移，如此使得其與二相機像 ㈣距離不同。可沿著任何方向來做連績影像之 Z的偏移。然而’再-次’最好沿著平行於榮幕像素之配 置之X或y方向上之-偏移。下面所說明的第5至9圖說明幾 19 557355 玖、發明說明 個影像之獲取。不像先前的圖式，在這些圖式中顯示了幾 個相機像素32。 第5和6圖顯示了 一大致沿著χ轴，介於由相機所捕捉 之二個連續影像之間的偏移。對一在其上顯示了符合第3 5圖之測試樣式之螢幕來取影像。相機像素32之寬度，其表 示為螢幕像素之-函數，或更精確地說為螢幕影像之函數 者，為tCCD=5.5。選擇介於二連續影像間之偏程為等於相 機像素之寬度尺寸之-半，如此使得可在乂方向上獲得一 等於ts，x=5.5/2=2.75之最大空間寬度15 )(。 1〇 在此情況中，考慮過取樣率為等於2。 第7 ’ 8和9圖給予一第二範例，其中像素之寬度仍等 於5.5且過取樣率等於3。則沿著χ方向之空間寬度為 Ts，x=1.83。 簡單影像獲取操作之後為建構過取樣影像之操作。基 15本上這是僅由插入彼此相鄰之先前捕捉到的簡單影像之德 素所構成的。組合可更為複雜，且在過取樣影像中的每個 像素可由一來自簡單影像之單一像素或幾個像素開始重建 。如此可將旋轉，偏移，維度比或其他修正加至過取樣影 像。特別地，可修改過取樣影像之空間寬度。在此情況 中除去係數x，因為空間寬度並不-定沿著X方向。 在第10圖中顯示了一特定簡單的組合範例。考慮有八 個藉由使用沿著X方向之三個偏移以及一沿著y方向:偏移 所形成可得之螢幕影像。以型式I(Ts χ ; I y)指示列和行之 參考數字來標記影像，其中Ts_x和Tsy分別指示沿 20 557355 玫、發明說明 軸之偏移。數字Ts，x和TS，y指出沿著每個方向所形成之偏移 之數目。在一特別情況中，Tsx=4而Ts，y=2。八個影像之每 一個具有一 4x3像素之低解析度。 以16x6像素來建立一具有一較高解析度之過取樣影像 5 。在此範例中，在過取樣影像中之像素（0,0)係由影像 1(0,0)之像素（〇,〇)所給予，在過取樣影像中之像素（〇，1)係 由影像1(0，1)之像素（0,01)所給予，在過取樣影像中之像素 (1，0)係由影像1(150)之像素（〇,〇)所給予，在過取樣影像中 之像素（Ts，y，〇)係由影像1(〇5〇)之像素（1，〇)所給予，在過取 10樣影像中之像素（0/rs，x)係由影像1(〇,〇)之像素（〇，1}所給予。 亦可使用一加權組合之方式來建構過取樣影像。例如 ，在過取樣影像S中之像素（〇,〇)可由初始影像1(〇,〇)， 1(〇，1)和1(1，0)之像素（〇,〇)之貢獻之線性組合得到。 過取樣影像係用來以傅立葉轉換產生頻譜。雖然計算 15為一在對應於過取樣影像之像素之離散值上之離散計算， 但第11圖顯示了-在〇上對軸對稱之連續頻譜之簡化表示。 更精確地說，第U圖顯示一對應於在一沒有任何缺陷 之榮幕上所顯示t週期性測試樣式之理想連續頻譜F。頻 譜F顯示一主要高峰之週期性序列，其為一週期性影像之 20轉換特性。然而，一與第"圖相符之頻譜並非以一螢幕之 實際影像之傅立葉轉換所獲得的。頻譜受到許多寄生現象 之影響。 -在其本身中為已知之第一寄生現象為因為測試樣式 和獲取系統（相機）之週期性特性所造成之頻譜指叠。其造 21 557355 玖、發明說明 成一跳動現象，J：牿料炎+ 〃寺徵為在頻譜中出現寄生線，其中心在 1/ts之基本或諧波頻率上。 主 為了4邊理由而未顯示於圖式 中之寄生線可以一適應選擇、 评愿’反加以沩除。因為寄生線之 位置受到所顯示之測試樣式之寬度所支配，所以其發生是 將它們消除。寄生線實際上對應於頻率 f ’如此使得： f= k η —---
Ts P 10 在此表示式 式之空間頻率。 說明。 中，k和η表示自然整數，而p表示測試樣 只沿著一單一方向來考慮空間頻率以簡化
今其也影響頻譜之現象為因為顯示螢幕像素之必然非零 之寬度所造成之頻譜調變。此現象可特徵為一基數正弦型 式轉移函數，其由gll圖中之參考文字崎指出。其他亦 為一基數正弦（sinx/x)型式之轉移函數c示一由亦具有非零 Μ大小像素之相機所引入之低通遽波器功能。其他未顯示: 轉移函數特性化獲取系統在頻譜上的整體影響，特別包括 光學設備。對於頻譜之高頻成分特別注意獲取系統之影響。 實際上所獲得之頻譜為將完美頻譜F和不同的轉移函 數（特別是C和B)相乘之結果。 2〇 可從對獲取系統預先已知或決定之轉移函數來補償改 變。然後藉由將使用一傅立葉轉換所獲得之真實頻譜除以 轉移函數之對應值（在第丨丨圖中之範例中之B和c)來至少部 份複製函數F。 22 557355 玫、發明說明 補償並非對整個頻譜做，而是最好限制在頻譜對應於 集中在〇(零）上之測试樣式之最小頻譜週期之成分。可以一 1¾¼作來選擇此最小退化之頻譜部份。窗為一選擇第Η圖 中所指出之頻譜之一部皆Ιρ，其最好置於一轉移函數之第 5 一個零之前，以避免如上述在除期間放大寄生現象。例如 所遥擇之部份對應於一集中在零之頻譜週期。 在空間域中之一新影像係由一在補償上述改變之後所 執仃之第二傅立葉轉換所獲得的。可在以窗所選擇之頻譜 Ρ伤上做第一傅立葉轉換，或可能在一由複製對應於窗之 10樣式所重建的頻譜上做。複製由建立頻譜諧波構成。複製 之數目最好等於測試樣式之寬度ρ。 然後可使用新影像來識別螢幕上有缺陷的像素。 第一傅立葉轉換發生於多個取樣1^上，其視先前建立 的過取樣影像而定。過取樣影像之過取樣寬度4基本上視 15相機像素之寬度化〇〇以及在至少一偏移方向上所取之影像 數目η而定。因此結果為τ疒TccD/n。 離散傅立葉轉換給予一以〇至1/Ts之頻率分布之頻譜取 樣數目N。則頻譜寬度為丨/(Ντδ)。當以改為測試樣式之 週期之取樣寬度之一取樣寬度來做第一和第二傅立葉轉換 20之一時，包含於影像中之資訊最佳地回復，換句話說以一 最小空間（或頻譜）分布回復。 例如，這等效於以一改變的頻譜寬度來做第二傅立葉 轉換，如此使得τ产1/(kP)，其中k為一自然整數。頻譜寬 度之改變等效於選擇N*Ts，如此使。 23 557355 5 10 15 玖、發明說明 若未滿足此條件，則可藉由將傅立葉轉換中之N值取 代為-修改過的關於該條件之值來修改傅立葉轉換之係數 。亦可於空間域中修改影像“寬度，，之值ts。此修改可十分 簡單地只藉由修改過取樣影像之計算來產生。 當獲得初始影像時，當螢幕在—相關於相機之決定位 置上％•彳心化影像分析。理想上’選擇螢幕和相機之 相對位置，如此使得螢幕之中心之影像大致與相機像素矩 中 致再者，亦理想地選擇位置來使螢幕影像之 邊緣與相機矩陣之邊緣平行。在第12圖中形成榮幕之定位 中的不同缺陷。第12圖顯示了一相機之感測表面40和-形 成於感測表面上之璺篡寻彡禮办 蛍綦心像42參考文字dl指出影像中心 和相機之感測表面之間的偏移。參考文字们指出勞幕影像 之第-角像素30和-相機像素32之間的偏移。項α指出框 架間旋轉角度，其標記了一平行缺陷。為了簡化圖式，只 顯示在螢幕影像上的一些像素3〇和一相機像素^。再者， 誇大這些像素之大小。最後，第12„示㈣像之重㈣ 構中的其他缺陷，其表示了因為光學所造成之管狀變形。 此以虛線顯示。 定位缺陷不防礙勞幕被檢查，但它們可影響所獲得之 最終影像之品質。當榮幕位於相機下之一移動接收檯上時 ’可使用參考⑸騎描述之控制㈣直接來触置調致。 然而’相機下之勞幕定位操作在製造系統之出口處佔 用大1時間供檢查應用，在該處大量螢幕需被檢查。 然後在影像處理期間可做一自動修正。框架間旋轉角
24 20 557355 玖、發明說明 度，影像失真及可能偏移dl*d2可於過取樣影像建構期間 加以修正。可藉由用來計算過取樣影像之像素之簡單影像 中之像素之對應偏移來補償偏移。藉由在營幕上仔細顯示 幾個反常關閉或反常打開缺陷來協助修正。然後這些形成 5 一定位系統或定位標記。 為了對在頻域中登錄做修正，仔細地將打開缺陷分布 於螢幕上之-列和-行上以及引入一相位修正於對應此列
和此行之頻譜上亦可能是必要的。調整相位修正項以使得 頻譜之相位對稱於螢幕上所顯示之測試樣式之-半週期P。 》 如上述，然後可使用最終影像來偵測關閉像素中之反 常打開像素或在打開像素中偵測反常關閉像素。這可使用 第1圖中所示之電腦14來產生。然後將光亮度臨界固定， 超過其或低於其就可將一像素認為是有缺陷的。亦可做像 素之光党度之預先的均一化以修正影響榮幕之大的部份的 變化。
可/、计异有缺陷的像素，或可藉由記錄其於最終影像 中的座標來將它們定位。 圖式簡單說明 第1圖為-根據本發明之裳置之簡化示意表示圖。 t第2至4圖為一待檢查之螢幕之部份之示意表示圖，且 -在〜像捕捉相機中之像素之尺寸間的不同比以及顯 示於螢幕上之測試樣式之週期。 第5至9圖為一待檢查勞幕之一部份之示意表示，並說 明了圖形之偏移。 25 557355 玖、發明說明 第ίο圖說明了一由簡單影像開始之過取樣影像之建構。 第11圖為一對應於一週期性測試樣式之在任意大小之 頻譜上之表示。 第12圖為用以登錄和對齊與相機相關之螢幕影像之限 5 制之不意表不。 參考文獻
(1) SHEKARFOROUSH Hassan，“Super-resolution en vision par ordinateur”（電腦影像中之超解析度），Nice大學論文， (2) Sean Borman，Robert L. Stevenson，研究報告，1998年 10 六月， (3) Tsai和Huang, “多框架影像回復和登錄”，Advances in computer vision and image processing，（譯註：此為期刊 名）vol l，jai Press 1984，
(4) US-5 764 209/WO-9319453, 09/1998 Photon DYNAMICS 15 :平面面板顯示器檢視，
(5) US-5 771 068-1995 Orbotech ： 供顯示器面板檢視之裝 置及方法， (6) JP-7083799/JP4016895，31/03/1995 MINATO ELECTRON KK “顯示器元件檢視系統”， 20 (7)Sampling, aliasing and date fidelity, Gerald C. Holst, JCD publishing，SPIE Press，CH8·，199-218頁 【圖式簡單說明】 第1圖為一根據本發明之裝置之簡化示意表示圖。 第2至4圖為一待檢查之螢幕之部份之示意表示圖，且 26 10 坎、發明說明 出在一影像捕捉相機中 L τ疋像素之尺寸間的不同比以及顯 不於螢幕上之測試樣式之週期。 第5至9圖為一待檢查螢幕之 明了圖形之偏移。 部份之示意表示，並說 第10圖說明了一由銪留 田間早衫像開始之過取樣影像之建 第11圖為一對庫於 k於一週期性測試樣式之在任意大小 頻谱上之表不 第12圖為用以登錄和對齊與相機相關之榮幕影像 制之示意表示。 【圖式之主要元件代表符號表】 之限 E··· 顯示器螢幕 10·· •接收檯 12·· •相機 14·· •微電腦 18- •物鏡 20·· •控制把 22.· •透明條狀物 30" •像素 32·· •正方形 40" •感測表面 42" •螢幕影像 27
Claims (1)
- 557355 拾、申請專利範圍 1 · 一種用以檢查一顯示态螢幕之方法，其包含下列步驟： a) 控制待檢查螢幕（E)來以至少一空間週期p顯示至 少一測試樣式， b) 使用一具有比待檢查之螢幕之解析度來得低的 5 解析度之電子相機（12)來獲取一系列測試樣式之簡單影 像（I)，連續的簡單影像彼此偏移， 0從簡單影像開始來建構測試樣式之一過取樣影 像⑻， d) 使用一第一傅立葉轉換來計算過取樣影像之頻 10 譜成分， e) 以刪除和/或頻譜成分之加權來補償因先前步驟 所造成之頻譜改變， f) 使用因步驟e)所造成之頻譜成分之第二傅立葉轉 換來計算測試樣式之新影像之空間成分， 15 g)分析新影像。 2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中藉由調整如測試樣 式之空間週期P之一函數之頻譜取樣寬度，以一改造方 式來做第一和第二傅立葉轉換之一。 3. 如申凊專利範圍第2項之方法，其中調整頻譜取樣數1^ 20 ，如此使得乘積1^1^為測試樣式之空間週期p之倍數， 其中％為過取樣影像之空間解析度。 4·如申吻專利範圍第1項之方法，其中在步驟c)期間調整 過取樣影像之取樣寬度％，如此使得乘積Ντ§為測試樣 式之空間週期之倍數，其中Ν為參與第一傅立葉轉換之 28 557355 ίο 15 20 抱、甲請專利範圍 计异之過取樣影像中之取樣的數目。 5·如申請專利範圍第1 固乐貝之方法，其中做登錄以大致將待 檢查之螢幕之影像中心對齊相機之中心和/或使影像至 少一邊緣平行於相機之—邊緣和/或補償與相機〇2)相 關之光學系統（18)之光學失真。 6.如^請專利範圍第5項之方法，其包含仔細顯示幾個在 、'J式樣式中具有已知座標之像素來模擬缺陷並形 登錄系統。 7·如申請專利範圍第5項 甘士 士 之方法，其中在過取樣影像建構 期間，以步驟c)中之計算來產生登錄。 8·如申請專利範圍第5項之方法，其中控制模擬週期P之 測試樣式之—㈣/或—行上之缺陷之螢幕像素，且修 ’員曰成刀之相位以使得對該列和/或行記錄頻譜相位 對稱於一值1/2P。 9·如申料利範圍第1項之方法，其中在方法之步驟咐 Η又仟之連、，間早影像間的偏移並非介於二相機像素 之間的相對距離之倍數。 10.如^青專利範圍第！項之方法，其中—測試樣式被顯示 、螢幕上且提供於二方向x#ny上，具有週期 ，如此使得：一 2Ρχ29 557355 拾、申請專利範圍 其中tRx和TRy表示一相機像素之積分窗之維度，而❿ Sy為安余因子。 11 ·如申請專利範圍第1頊之古、土 乐貝之方法，其令步驟g)包括在新影 像中之有缺陷像素之局部化。 12·如申請專利範圍第11項之方法，Λ中步驟從括將新 影像之像素強度與臨界值相比較以局部化反常打開和/ 或反常關閉之像素。 13.如申請專利範圍第u項之方法，其中步驟g)包含： i)選擇在新影像中圍繞_有缺陷像素之區域， H)使用-傅立葉轉換計算在此區域中之頻譜成分， iii)藉由加入一傾向使得相位對所選擇之區域對稱 之相位修正項來調整頻譜成分， W)使用-傅立葉轉換來計算新的空間成分以形成 該區域之一新影像， V)從忒區或之新影像開始建立缺陷之座標。 H·如申請專利範圍第12項之方法，其中步驟g)包括將相 位调整一值ιι=1αιπ/Ρ，其中k為一自然整數，並重覆步 驟1)至IV)直到有缺陷像素之空間中的面積在該區域之 新影像中被最小化為止。 15.如申請專利範圍第丨丨項之方法，其中在高於或低於預 先決疋之光焭度臨界值之相鄰像素上之重要性計算之 中心來建立有缺陷之像素之座標。 16·如申請專利範圍第丄項之方法，其中在步驟f)之前，以 複製頻譜成分之方式來建立頻譜諧波。 30
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0116303A FR2833743B1 (fr) | 2001-12-17 | 2001-12-17 | Procede et dispositif a faible resolution d'acquisition pour le controle d'un ecran d'affichage |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200301820A TW200301820A (en) | 2003-07-16 |
| TW557355B true TW557355B (en) | 2003-10-11 |
Family
ID=8870571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW091136298A TW557355B (en) | 2001-12-17 | 2002-12-16 | Low acquisition resolution process and device for checking a display screen |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20040263497A1 (zh) |
| EP (1) | EP1470529A1 (zh) |
| JP (1) | JP2005513448A (zh) |
| KR (1) | KR20040068945A (zh) |
| CN (1) | CN1605087A (zh) |
| FR (1) | FR2833743B1 (zh) |
| TW (1) | TW557355B (zh) |
| WO (1) | WO2003052692A1 (zh) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2859781B1 (fr) | 2003-09-17 | 2007-07-06 | Commissariat Energie Atomique | Utilisation de la transformee de fourier optique pour le controle dimensionnel en microelectronique |
| US7355612B2 (en) * | 2003-12-31 | 2008-04-08 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Displaying spatially offset sub-frames with a display device having a set of defective display pixels |
| EP1662477A1 (en) * | 2004-11-26 | 2006-05-31 | Barco N.V. | Test or calibration of displayed greyscales |
| KR100856564B1 (ko) * | 2007-07-25 | 2008-09-04 | (주)와이티에스 | 레이저 마킹 시스템의 스캔헤드 틀어짐에 따른 마킹 오프셋자동 보정 방법 |
| KR101195388B1 (ko) * | 2010-10-29 | 2012-10-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데드 픽셀 보상 테스트 장치 |
| CN103065297B (zh) * | 2012-12-20 | 2015-08-05 | 清华大学 | 一种基于傅里叶变换的图像边缘检测方法 |
| CN104950482B (zh) * | 2014-03-25 | 2018-03-23 | 常州驰网智能检测技术有限公司 | 一种lcd智能检测仪 |
| CN105699049A (zh) * | 2016-01-08 | 2016-06-22 | 深圳控石智能系统有限公司 | 一种自动图像质量检测机具及其使用方法 |
| CN107690066A (zh) * | 2016-08-04 | 2018-02-13 | 和硕联合科技股份有限公司 | 显示装置坏点检测方法及其检测设备 |
| CN107220969A (zh) * | 2017-05-23 | 2017-09-29 | 太仓市同维电子有限公司 | 产品灯位的测试方法及检测系统 |
| US11025899B2 (en) * | 2017-08-11 | 2021-06-01 | Ignis Innovation Inc. | Optical correction systems and methods for correcting non-uniformity of emissive display devices |
| CN107491778B (zh) * | 2017-08-23 | 2020-07-03 | 众安信息技术服务有限公司 | 一种基于定位图像的智能设备屏幕提取方法和系统 |
| KR102533385B1 (ko) * | 2018-01-31 | 2023-05-17 | 엘지전자 주식회사 | 제어장치 |
| CN110942429B (zh) * | 2019-01-17 | 2020-07-24 | 刘子健 | 计算机质量判断方法 |
| CN111369923B (zh) * | 2020-02-26 | 2023-09-29 | 歌尔光学科技有限公司 | 显示屏幕异常点检测方法、检测设备和可读存储介质 |
| CN111352507A (zh) * | 2020-02-27 | 2020-06-30 | 维沃移动通信有限公司 | 信息提示方法及电子设备 |
| CN112379355B (zh) * | 2020-11-27 | 2023-07-04 | 深圳奥锐达科技有限公司 | 一种标定方法、标定装置、终端设备及可读存储介质 |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5012314A (en) * | 1989-03-31 | 1991-04-30 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display restoring apparatus |
| NL8901295A (nl) * | 1989-05-24 | 1990-12-17 | Philips Nv | Werkwijze voor het bepalen van een weergeefparameter in een beeldbuis en werkwijze voor het verbeteren van een beeldweergave in een beeldbuis. |
| JPH055709A (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画面検査装置 |
| US5764209A (en) * | 1992-03-16 | 1998-06-09 | Photon Dynamics, Inc. | Flat panel display inspection system |
| JPH06250139A (ja) * | 1993-02-23 | 1994-09-09 | Casio Comput Co Ltd | 液晶表示パネルの検査方法 |
| FR2729220B1 (fr) * | 1995-01-06 | 1997-04-04 | Eldim | Dispositif de mesure colorimetrique d'un ecran d'affichage |
| KR100189178B1 (ko) * | 1995-05-19 | 1999-06-01 | 오우라 히로시 | 패널 화질 검사 장치 및 화질 보정 방법 |
| FR2749388B1 (fr) * | 1996-05-31 | 1998-08-07 | Eldim | Appareil de mesure des caracteristiques photometriques et colorimetriques d'un objet |
| JP3333686B2 (ja) * | 1996-06-28 | 2002-10-15 | 松下電器産業株式会社 | 表示画面検査方法 |
| US6714670B1 (en) * | 1998-05-20 | 2004-03-30 | Cognex Corporation | Methods and apparatuses to determine the state of elements |
| TW588423B (en) * | 1998-08-21 | 2004-05-21 | Samsung Electronics Co Ltd | Integrated semiconductor error detection and repair system and its controlling method |
| IL133243A0 (en) * | 1999-03-30 | 2001-03-19 | Univ Ramot | A method and system for super resolution |
| FR2800163B1 (fr) * | 1999-10-26 | 2002-01-18 | Eldim | Dispositif de mesure de la repartition spatiale de l'emission spectrale d'un objet |
| JP3421299B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2003-06-30 | 科学技術振興事業団 | 輝度の視野角依存性ならびに場所依存性測定装置及びその測定方法 |
| GB2368635B (en) * | 2000-11-01 | 2004-12-22 | Nokia Mobile Phones Ltd | Testing an image display device |
-
2001
- 2001-12-17 FR FR0116303A patent/FR2833743B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-12-16 KR KR10-2004-7009370A patent/KR20040068945A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-12-16 EP EP02796916A patent/EP1470529A1/fr not_active Withdrawn
- 2002-12-16 WO PCT/FR2002/004370 patent/WO2003052692A1/fr not_active Application Discontinuation
- 2002-12-16 JP JP2003553507A patent/JP2005513448A/ja not_active Withdrawn
- 2002-12-16 US US10/496,943 patent/US20040263497A1/en not_active Abandoned
- 2002-12-16 CN CNA028251407A patent/CN1605087A/zh active Pending
- 2002-12-16 TW TW091136298A patent/TW557355B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20040263497A1 (en) | 2004-12-30 |
| CN1605087A (zh) | 2005-04-06 |
| WO2003052692A1 (fr) | 2003-06-26 |
| FR2833743A1 (fr) | 2003-06-20 |
| EP1470529A1 (fr) | 2004-10-27 |
| TW200301820A (en) | 2003-07-16 |
| FR2833743B1 (fr) | 2004-02-20 |
| KR20040068945A (ko) | 2004-08-02 |
| JP2005513448A (ja) | 2005-05-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW557355B (en) | Low acquisition resolution process and device for checking a display screen | |
| JP6437310B2 (ja) | 実用のための、ディスプレイシステムの色及び彩度を較正するためのシステム及び方法 | |
| CN100361153C (zh) | 用于产生与装置的缺陷相关的信息的方法和系统 | |
| AU2008261138B2 (en) | Measure display SFR using a camera and phase shifting | |
| US6439722B1 (en) | System and method for synchronizing the appearance of color images | |
| KR100838766B1 (ko) | 그레이그레이 변환 응답 시간을 측정하는 장치 및 방법 | |
| CN101900876B (zh) | 一种在屏幕上按准确倍率显示与标示显微镜镜下景像的方法 | |
| JP2001504644A (ja) | プロジェクタの自動調節用のユニバーサル装置とその使用法 | |
| JP5096297B2 (ja) | 撮像装置 | |
| Artmann | Image quality assessment using the dead leaves target: experience with the latest approach and further investigations | |
| JP2013132027A (ja) | 画像処理装置、撮像装置、顕微鏡システム、画像処理方法、及び画像処理プログラム | |
| JP3512535B2 (ja) | パネル画質検査装置及びその画質補正方法 | |
| JP2013148856A (ja) | 撮像装置、表示画面生成装置、撮像システム、及びその制御方法 | |
| KR101099844B1 (ko) | 이미지 캡쳐 시스템 | |
| Zhao et al. | Perceptual spatial uniformity assessment of projection displays with a calibrated camera | |
| JP5076938B2 (ja) | 色測定方法および色測定装置 | |
| JPH10142053A (ja) | 分光反射率測定装置における補正方法 | |
| TWI330339B (en) | Lcd panel inspecting system and method | |
| TW200825384A (en) | Relative exposure intensity measuring apparatus and method | |
| JP2006177737A (ja) | 画像処理装置、顕微鏡装置、検査装置および画像処理プログラム | |
| US20130250177A1 (en) | Method and device for tentatively displaying projection image, screening film, method and device for producing the same, projection image projecting method, program, and movie system | |
| Bossert | A Java software for creation of image mosaics | |
| CN116152361B (zh) | 用于估算色度的方法、电子设备及计算机可读存储介质 | |
| CN116684563B (zh) | 图像显示的光质量修正方法、系统及图像显示方法、系统 | |
| Wanat et al. | Method of Evaluating Luminance Reproduction Accuracy of Displays for Complex Imagery |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |