TW548862B - Method of preventing anode of active matrix organic light emitting diode from breaking - Google Patents
Method of preventing anode of active matrix organic light emitting diode from breaking Download PDFInfo
- Publication number
- TW548862B TW548862B TW091111520A TW91111520A TW548862B TW 548862 B TW548862 B TW 548862B TW 091111520 A TW091111520 A TW 091111520A TW 91111520 A TW91111520 A TW 91111520A TW 548862 B TW548862 B TW 548862B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- layer
- cathode
- organic light
- preventing
- broken
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 92
- 229920001621 AMOLED Polymers 0.000 title abstract 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 48
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 40
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 230
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 37
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 35
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 30
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 22
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 22
- 230000008439 repair process Effects 0.000 claims description 15
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 8
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 7
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 5
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 4
- 238000004380 ashing Methods 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 claims 1
- FFKMIDVNOVCMSY-UHFFFAOYSA-N [Re]=O.[Sn] Chemical compound [Re]=O.[Sn] FFKMIDVNOVCMSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 claims 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims 1
- KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N dysprosium atom Chemical compound [Dy] KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 claims 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims 1
- -1 nitride nitride Chemical class 0.000 claims 1
- 210000004508 polar body Anatomy 0.000 claims 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 claims 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 claims 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 claims 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 claims 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 abstract 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N fluorene Chemical compound C1=CC=C2CC3=CC=CC=C3C2=C1 NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- 229910015844 BCl3 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001391944 Commicarpus scandens Species 0.000 description 1
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000010627 Phaseolus vulgaris Nutrition 0.000 description 1
- 244000046052 Phaseolus vulgaris Species 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009933 burial Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N trichloroborane Chemical compound ClB(Cl)Cl FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/805—Electrodes
- H10K59/8052—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/122—Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/123—Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/861—Repairing
Description
548862 五、發明說明(1) 防止主動式有機發光二極# 决’且特別是有關於一種 有機發光二極體;一之陰極產生斷裂之方法。 轉換效率的半導f亓杜彳可將電能轉換成光能且具有高 以及光學’常見的用途為指示燈、顯示面板 件具備=之等:。由於有機發光二極體元 速度、使用溫度“廣:::全易符;=體= 示器特性之要求,近年來? “化=:°夕媒體w代顯 人 %牛术已成為研究之熱潮。 中。!1二:^動式有㈣光二㈣元件以在極的發展 所述I ;動式有機發光二極體之結構其及製造方法如下 =1圖所不,其繪不為習知一種主動式有機發二 體疋件之結構剖面示意圖。 ^凊參照第1圖,習知主動式有機發光二極體元件的製 k方法係首先在一基板1 〇 0上形成一閘極1 〇 2。接著於基 板1 0 0與閘極1 〇 2上形成一閘極絕緣層丨〇 4。並且在閘極丨〇 2 上方之閘極絕緣層丨〇4上形成一通道層1〇6。之後,於通道 層106上形成一汲極1〇83/源極1〇8b,以構成一薄膜電晶 體。 、 緊接著,於基板100上方形成一保護層11(),覆蓋住薄 膜電晶體。之後,於保護層丨丨〇中形成一開口丨丨2,並暴露 出源極1 08b。之後,再於保護層丨丨〇上與部分開口丨丨2内部 形成一陽極層1 14,而使陽極層1 14與源極1 08b電性連接。
548862
=,於基板100上方依序形成一發光層116 118。如此’即完成—主動式有機發光 :極層 在習知主動式有機發光二極體元件 之I作。 有機層11 6與陰極層i i 8係以茱 乍過較中,其 層118之階梯覆蓋能力較差、 膜f層11 6與陰極 軒4·絲么各,ΟΛ ^ 因此在涛膜電晶體結構中之 將::如是在沒極/源極1〇8a/108b圖案兩端 =角處12G ’將特別容易使後續形成於其上方有機声116 ,、陰極層118產生不連續或斷裂之情形。 】 不連續或斷裂之情形發生時,非但會對元 '層= 到影響,且對元件之發光也會造成嚴重的影響。^¥又 因此,本發明的目的就是在提供一種防止主動式有機 =極體元件之陰極產生斷裂之情形,以使元件= 傳V與元件之發光機制能正常運作。 本發明提出一種防止主動式有機發光二極體元件之陰 極產生斷裂之^法,此錢係f練供―基板,其中基板 上已形成有數個呈陣列排列之薄膜電晶體,且每一薄膜電 ,體係包括一閘極、一通道層、一源極以及一汲極。接 著’在基板上方形成一保護層,並且平坦化此保護層。其 中此保護層之材質例如是介電樹脂⑶“丨^“卜^以以。 之後,在保護層中形成一開口,暴露出没極。然後,在保 濩層上與部分開口内形成一陽極層,以使汲極與陽極層電 性連接。之後,再於在基板上方依序形成一發光層以及一 陰極層’而形成一主動式有機發光二極體元件。
548862 五、發明說明(3) 出另一種防止主動式有機發光二極體元件之 陰極產生断裂之方法,此方法係 ^遐兀件之 上已形成有數個呈陣列埋列之 ’、土板,而基板 電晶體對應之一陽極層,其中每」-薄膜 極、-通道層、一源極以及_;朽4膜,晶體包括-閉 連接。接著,▲基板上形成一圖案化與,電? 膜電晶體而暴露出大部分之陽極層。° = S >專 成:圖案化之感光材質[覆蓋“;ί 不千之保護層。其中圖案化感光曰罩 材質層與陽極層然·’在感光 主動式有機發光二極二元:;及一陰極層’而形成- 提出一種防止主動式有機發光二極體元件之 L及極:产之方法,其係藉由削緩-薄膜電晶體之-源 生斷裂之情形,此方法包括在-基板形 :-”層,其中此導電層之材質例如是銷/鋁,翻堆疊 :光電:上形成一圖案化之光阻層,並且以 < # \ 仃一乾式蝕刻製程,而形成薄膜電晶體 汽m 中所形成之源極/汲極圖案兩端之輪 斜坡狀。而此乾式钱刻製程之一反應氣體例如是 之混合氣體,或者是cl2_ei3之混合氣體,且 F6/0之比例係介於0.5]』之間,CVBci3之比例係介於 ..8之間。最後再將光阻層移除。由於所形成之源極/ 548862
因此可防止後續於其上 汲極圖案兩端之輪廓係呈斜坡狀 方所形成之陰極層產生斷裂。 本發明再提出一種防止主動式有 陰極產生斷裂之方法,其係藉由 二二 w -兀 之 故/ 精田則緩一薄膜電晶體之一泝 極/汲極兩端之一轉角處,藉以改盖 ,、 體凡件之一陰極層產生斷裂之情形,此方法包光一= 形成一導電層。接著在導電層上形 々 ' 層,並且以第一光阻層為罩幕進行一第一 第一光阻 除導電層之部分厚度。之後,移 (Ashmg),以移除第一光阻層之部分厚度,而形成一第二 光阻層。然後,再以第二光阻層為罩幕進行一第二蝕刻製 程,而形成薄膜電晶體之源極/汲極圖案。盆中,源極〆、及 極圖案兩端之輪廓係呈階梯狀。最後再將第、二光阻層移, 除。由於所形成之源極/汲極圖案兩端之輪廓係呈階梯 狀,因此可防止後續於其上方所形成之陰極層產生斷裂。 本發明再提出一種防止主動式有機發光二極體元件之 陰極產生斷裂之方法,其係藉由削緩一薄膜電晶體之一源 極/汲極兩端之一轉角處,藉以改善該主動式有機發光二” 極體元件之一陰極層產生斷裂之情形,此方法包括在一某 板形成一導電層。之後,在導電層上形成一光阻層,並二 此光阻層為罩幕進行一蝕刻製程,以形成薄膜電晶體之源 極/汲極圖案,其中此蝕刻製程之一蝕刻液係為 HN03/H3P04/CH3C00H,且蝕刻液中hn〇3之重量比係介於 0· 1〜0· 2之間。由於本發明之方法所使用餘刻液之hn〇之 3
9048twf.ptd 第8頁 發明說明(5) 濃度較高,因此其 — " 削緩薄膜電晶俨盾;;丨、面之蝕刻速率相對較高,而藉以 續於其上方所形^ 沒極兩端陡崎之轉角,以防止後 本發明提出-種ΓΓΐ產生斷裂。 極產生斷裂之方法 主動式有機發光二極體元件之陰 上已形成有複數個3 Ϊ方法係首先提供一基板,其中基板 電晶體係包括—間極車列排列之薄膜電晶體,且每一薄膜 著,在基板上形::每層、-源極以及-汲極。接 中陽極層係盥薄膜雷曰’、電晶體對應之一陽極層’其 上方形成-發:體之源極電性連接。之後,在基板 極層。當所形成:陰極;:;^覆蓋住薄膜電晶體與陽 之表面上形成一 二產生斷裂之情形時,可於陰極層 處。其中,形1 =電層,藉以修補陰極層發生斷裂之 形成此修補導電c方法例如是濺鍍法。另外, 子束蒸鍍步驟,再進行二以先進行一熱蒸鍍步驟或電 可以是任何能用於修補而修補導電層之材質 層相同之材質。 π θ之導電材質,較佳的是陰極 本發明所提出之防+ t 極產生斷裂之方法,勺式有機發光二極體元件之陰 護層上形成一感光材^屏將保護層平坦化,或是於保 蝕刻方式’以削減源極"及極兩端之轉角處 ;;料Π以有效的達到防止後續所形成之陰極層產生 =丄::==7以利用-修補步驟,以修= 辦淚處而使疋件仍能正常運作。 548862 五、發明說明(6) 為讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明 懂, 下文特舉一 較佳 實施 例,並配合所附圖式 明如 下: 圖式 之標示說明 • 100 、400 、 500 、600 :基 板 102 :閘極 104 :閘氧化層 106 :通道層 108a/108b、408a/408b、508a/508b、608 ··汲極/ 源 極 11 0、2 1 0、3 1 0 :保護層 11 2、2 1 2 ··開口 114、214、314 :陽極層 116 > 216 > 316 > 616 :發光層 118 >218 >318 ^ 618 :陰極層 120 、 615 :轉角處 302 :感光材質層 108、408、508 :導電層 402、502、504 :光阻層 620 :修補導電層 第一實施例 第2圖所示,其繪示是依照本發明第一實施例之主動 式有機發光二極體元件之結構剖面示意圖。 請參照第2圖,本發明第一實施例之主動式有機發光
9048twf.ptd 第10頁 548862 五、發明說明(7) 二極體兀件的製造方法係首先在一基板1〇〇上形成一圖案 化之第一導電層1 02,其係作為一閘極之用。其中,閘極 102之材質例如是鉻金屬。之後,在基板1〇〇與閘極1〇2上 形成一閘極絕緣層104。 接著,於閘極1 0 2上方之閘極絕緣層丨〇 4上形成一通道 層106。其中,通道層1〇6之材質例如是非晶矽。緊接著, 於通道層106上形成一圖案化之第二導電層1〇8a/1〇8b,其 係作為一汲極/源極。如此即形成一薄膜電晶體結構。 之後,在基板100上方形成一保護層210,覆蓋住薄膜 電晶體。其中保護層2 1 0之材質例如是一介電樹脂 (Dielectric Resin)。緊接著,進行一平坦化步驟,以使 保護層210具有一平坦之表面。 然後’在保護層2 1 0中形成一開口 2 1 2,暴露出源極 108b。之後,於保護層210上與部分開口212内形成一陽極 層2 1 4 ’以使陽極層2 1 4與源極1 〇 8 b電性連接。其中,陽極 層2 1 4之材質例如是銦錫氧化物。接著,於基板丨〇 〇上方形 成一發光層216 ’覆盍住陽極層214,其中發光層2ΐβ之材 吳係為具有發光特性之有機化合物。之後,於發光層21 6 上形成一陰極層218,以形成一主動式有機發光二極體元 件。 由於本實施例在薄膜電晶體結構上形成具有平坦表面 的保濩層2 1 0,因此後續於保護層2 1 0上形成發光層21 6與 陰極層2 1 8時,可減少因發光層2 1 6與陰極層2 1 8之階梯覆 蓋能力較差而造成陰極層218產生斷裂之問題。
548862 '發明說明(8) 第二實施例 第3圖所示,其繪示是依照本發明第二實施例之主動 式有機發光二極體元件之結構剖面示意圖。 睛參照第3圖 本發明苐·一貫施例之主動式有機發光 二極體元件的製造方法係首先在一基板100上形成一圖案 化之第一導電層1 〇 2 ’其係作為一閘極之用。其中,閘極 之材質例如疋絡金屬。之後,在基板與閘極上 形成一閘極絕緣層1 0 4。 接著,於閘極1 〇 2上方之閘極絕緣層1 〇 4上形成一通道 層1 0 6。其中通道層1 〇 6之材質例如是非晶矽。緊接著,於 閘極絕緣層104上形成一陽極層314。其中陽極層314之材 質例如是銦錫氧化物。 之後,於通道層106與部分陽極層314上形成一圖案化 之第二導電層108a/108b,其係作為一汲極/源極之用。其 中源極1 0 8 b係與陽極層3 1 4電性連接。如此,即形成一薄 膜電晶體結構。 緊接著’在基板100上方形成一圖案化之保護層310, 覆蓋住薄膜電晶體結構以及一小部分之陽極層3丨4。其 中’保護層3 1 0之材質例如是氮化矽。之後,在基板丨〇 〇上 I成一感光材質層,以填平凹凸不平之保護層31〇。之後 進行一微影製程,以使感光材質層3〇2僅覆蓋住保護層 10 ’而暴露出陽極層314。 材所接著’在基板100上方形成一發光層316 ’覆蓋住感光 貝層302以及陽極層314。其中發光層316之材質係為具
548862 五、發明說明(9) -----" 有發光特性之有機化合物。之後,於發光層316上形成一 陰極層318,以形成一主動式有機發光二極體元件。 由於本發明第二實施例係藉由感光材質層3 〇 2而將薄 膜電晶體上方凹凸不平之保護層31〇填平。因此,後續於 感光材質層302上形成發光層316與陰極層318時,可減少 因發光層31 6與陰極層3丨8之階梯覆蓋能力較差而造成陰極 層318產生斷裂之問題。 第三實施例 以成主動式有機發光二極體元件之陰極層產生斷裂, 主要疋因為薄膜電晶體之源極/沒極在特 之轉角處,因此後續於轉角處上方所形成之陰域極曰層較容易 產生斷裂。而要避免元件之陰極層產生斷裂,可直接由汲 極/源極之大轉角處進行改善步驟。 第4A圖至第4C圖所示,其繪示為依照本發明第三實施 =之防止主動式有機發光二極體元件之陰極產生斷裂之流 程剖面示意圖。 曰睛參照第4A圖,本實施例之方法係利用於形成薄膜電 =體之源極/汲極時進行改良步驟,此方法包括在一基板 Γ ί形成一導電層408 ’其中導電層408之材質例如是鈦/ ίΐ堆疊層或鉬堆疊層。之後,於導電層408上形成一圖 八之光阻層402,覆蓋住預定形成源極/汲極之處。 一一 ^後’請參照第4Β圖,以光阻層402為一蝕刻罩幕進 =了乾式蝕刻製程,以形成汲極/源極4〇8a/4〇8b圖案。其 所形成之汲極/源極408a/408b圖案兩端之輪廓係為斜 548862 五、發明說明(10) ---- 坡狀。而此乾式蝕刻製程所使用之一反應氣體係為SFe與02 之混合氣體,或是C!2與ΒΠ3之混合氣體。本實施例就是利 用凋整SFe/Ο2或Clg/BCl3之比例,而使光阻層4〇2側向被蝕 刻之速率和導電層408被蝕刻之速率的關係達最佳化,進 ==最後所形成之汲極/源極408a/4〇8b圖案兩端之輪廓係 為斜坡狀。在本實施例中,SF〆%之比例例如是介於 .5 1 · 〇+之間,c 12 /bc 13之比例例如是介於〇. 4〜〇 · 8之間。 接著,請參照第4C圖,將光阻層402移除。之後,再 =序於基板400上方形成主動式有機發光二極體元件之各 =巧,例如保護層、陽極層、發光層、陰極層等等。由於 後續各層膜之製作已於習知技術中說明,在此不再贅述。 本實施例係於源極/汲極圖案兩端原先會形成有轉角 处之部分,利用特殊之蝕刻方法將轉角處削緩。因此,可 =免後續於其上方所形成之主動式有機發光二極體元件之 陰極層產生斷裂。 h触另一種利用特殊之蝕刻方式以改善主動式有機發光二 極體=件之陰極層產生斷裂之方法如下所述。
睛參照第5 A圖,此方法係亦是利用於形成薄膜電晶體 2極/沒極時進行改良步驟,此方法包括在一基板5〇〇上 ^ 一導電層508。之後,於導電層508上形成一圖案化之 先阻層502,覆蓋住預定形成源極/汲極之處。 一之後,請參照第5B圖,以光阻層5〇2為一蝕刻罩幕進 仃蝕刻製程,以移除部分厚度的導電層5 〇 8。 接著,請參照第5C圖與第51)圖,進行一光阻層灰化
548862 五、發明說明(11) (Ashing)步驟,以移除光阻層5〇2的部分厚度,而形成光 阻層504。之後,以光阻層504為—蝕刻罩幕進行一蝕刻步 驟,以形成汲極/源極5 08a/508b圖案。其中,所形成之汲 極/源極50 8a/50 8b圖案兩端之輪廓係呈階梯狀。之後,再 將光阻層5 0 4移除。 一然後,再依序於基板500上形成主動式有機發光二極 $兀件之各層m ’例如保護層、陽極層、發光層、陰極層 專等。由於後續各層膜之製作已於習知技術中說明,在此 不再贅述。 本實施例係於源極/汲極圖案兩端先 ”部分’利用特殊之㈣方法將原先之轉角處成形有成轉階角梯 狀。因此,可避免後續於其上方所形成之主動式有機發光 一極體元件之陰極層產生斷裂。 再者,另一種利用特殊之蝕刻方式,以改善主動式 機發光二極體元件之陰極層生斷裂之方法,係利用於形成 源極/汲極之蝕刻製程中,將蝕刻液中之hn〇3之濃度提 °轉角處之目的,進而使後續所形成之陰極層不 a產生斷裂。其詳細之說明如下。 、,二ϋ式係於姓刻一基板上之一導電層以形成源極/ 及極圖㈣’將此㈣製程所使用之液巾 提高。在本實施例巾’所使用之姓刻液例如& 。農度 _3/h3p〇4/CH3c〇oh ’且蝕刻液中之_3之重量比例如a入 於O.H. 2之間,由於介面之姓刻速率提高可產生較^^
第15頁 548862 五、發明說明(12) ' - 之角度,如此可避免所形成之源極/汲極圖案兩端形成陡 山肖之輪靡。因此,此種方法亦可防止後續於其上方所开> 成 之主動式有機發光二極體元件之陰極層產生斷裂。 弟四實施例 本實施例之方法係於當主動式有機發光二極體元件於 製作完成之後,發現元件之陰極層產生斷裂時,可利用二 修補方式進行陰極層之修補,以使元件仍能正常運作。豆 详細之說明如下。 第6A圖至第6B圖所示,其繪示為依照本發明第四實施 例之防止主動式有機發光二極體元件之陰極產生二= 程剖面示意圖。 Km 請參照第6A圖,首先提供一基板6〇〇,其中基板6〇〇上 已形成一主動式有機發光二極體元件,其包括一薄膜 體、一保護層610、一陽極層614、一發光層616以及一 極層618。其+,薄膜電晶體包括—閘極(未繪示)、一^ 極/汲極608以及一通道舞(夹終+、 π ^ ^ ^ , "、 通運層I禾繪不),且源極/汲極608圖荦 兩鈿具有一轉角處615。由於在轉角處615上方之發 ,、 616,與陰極層=特別是陰極層618因其階梯覆““ 差’因此將非常容易於此處產生斷裂。 請參照第6B圖’當主動式有機發光 層^產生㈣之情料,便可進行—修補步驟件之以陰極 ::極:618之不連續或斷裂情形。而此修補步心利用, /賤鑛之方式於陰極層6 1 8之表面上带占樣、、 朴丄 ^ ^ 0心衣1®上形成一修補導電
其中,修補導電層620之奸曾可,、,s v & π电屬bZU 之材貝了 U疋任何月匕用於修補陰極 548862 五、發明說明(13) 層618之材貝,較佳的是與陰極層618相同之金屬材質。由 於濺鍍製程之階梯覆蓋能力較佳,因此於陰極層618之表 面上形成此修補導電層620,可修補陰極層618於轉角處 61 5產生斷裂之情形。而由於此修補導電層62〇僅是用來修 補陰極層618,以使整個陰極層618之導通電流與元件之發 光機制不會受到陰極層618斷裂之影響,因此,此修補導 電層620之厚度不需太厚。 另外,本實施例於陰極層Mg上形成修補導電層62〇之 方^更包括在陰極層Π?上先進行—熱蒸鍍步驟或一電子 。二步驟如此緊接/再以進行一濺鍍步驟,而形成修補導 電層620。如此’亦同樣可達到修補陰極層61 形。 I月 斷麥i::之=主動式有機發光二極體元件之陰極產生 一感光材質層以填平凹凸不羋夕仅上日上办成 々# ^^ t具十凹凸不千之保護層,或者是利用特殊 之:刻方=以削減源極/汲極兩端之轉角處之方式,都可 :,ϊ ϊ明ί:止後續所形成之陰極層產生斷裂。特別 處,而使兀件仍能正常運作。 辦^ 雖然本發明已以較佳實施例揭, 限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離:發; 内’當可作些許之更動與调飾,因此=日= 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為 4月之保護
548862 圖式簡單說明 " 第1圖為習知一種主動式有機發光二極體元件之結構 °1】面示意圖; 第2圖是依照本發明第一實施例之主動式有機發光二 極體元件之結構剖面示意圖; 第3圖是依照本發明第二實施例之主動式有機發光二 極體元件之結構剖面示意圖; 第4A圖至第4C圖是依照本發明第三實施例之防止主動 式有機發光二極體元件之陰極產生斷裂之流程剖面示音 圖; " 第5 A圖至第5 D圖是依照本發明第三實施例之防止主動 式有機發光二極體元件之陰極產生斷裂之流程剖面示意 圖;以及 第6A圖至第6B圖是依照本發明第四實施例之防止主動 式有機發光二極體元件之陰極產生斷裂之流程剖面示意 圖。
9()48twf.ptd 第18頁
Claims (1)
- 548862 六、申請專利範圍 1 · 一種防止主動式有機發光二極體 裂之方法,包括: 丁 <仏極產生斷 ?供-基板1中該基板上已形成有複數個 列之薄膜電晶體,且# ^ ^ g ^ 車歹〗才卜 極、一通道層、一源極以及一汲極; Μ有-閘 體;S 方形成一保護層,覆蓋住該些薄膜電晶 平坦化該保護層; 在該保護層中形成一開口,暴露出該汲極; 在該保護層上與部分該開口内形成一陽極層; 在該基板上方形成一發光層,覆蓋該陽極^ ’· 在該發光層上形成一陰極層。 ’ & 2.如申請專利範圍第丨項所述之防止主動式有 二極,元,之陰極產生斷裂之方法,其中該保護層之"材質 包括介電樹脂。 、 二二如1請i利範圍第1項所述之防止主動式有機發光 一木體7〇件之陰極產生斷裂之方法,其中該 包括銦錫氧化物。 噌之材貝 4·如申請專利範圍第丨項所述之防止主動式有 二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中該發光層機t 包括具有發光特性之一有機化合物。 列5七一種防止主動式有機發光二極體元件之陰極產生斷 衣之方法,包括: 提供一基板,該基板上已形成有複數個呈陣列排列之 9048twf.ptd 第19頁 548862 六、申請專利範圍 薄膜電晶體以及與每一該些薄膜電晶體對應之一 ㈣極層, 其中每一該些薄膜電晶體包括一閘極、一通道爲· 〜,、一源極 以及一汲極,且該陽極層係與該源極電性連接; 在該基板上方形成一圖案化之保護層,覆蓋住令此薄 膜電晶體,暴露出部分該陽極層; ^二/ 在該基板上方形成一圖案化之感光材質層,覆蓋住$ 保護層,以填平凹凸不平之該保護層; ^ 在該感光材質層與該陽極層上形成一發光層;以及 在該發光層上形成一陰極層。 6 ·如申請專利範圍第5項所述之防止主動式有機發光 二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中該保護;χ 包括氮化石夕。 胃 7·如申請專利範圍第5項所述之防止主動式有機發光 二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中圖案化該 質層所使用之光罩與圖案化該保護層時所使用 相同之一光罩。 < 九罩係為 極體元:ί ΐ ϊ ΐ Ϊ第5項所u防此王動式有機發光 桎體70件之陰極產生斷裂之方法’其中該陽極 括錮錫氧化物。 《之材貝 包括錮錫氧化物 極 L如::2 ^圍第5項所述之防止主動式有機發光 體7C件之陰極產生斷裂之方法,其中該發 包括具有發光特性之-有機化合物。 材質 1 0. —種防/主動式有機發光二極體元件之陰極產生 斷衣之方法,,、係藉由削緩一薄膜電晶體之一源極/汲極9048twf.ptd 第20頁 548862 六、申請專利範圍 兩端之一轉角處,藉以改善該主動式有機發光二極體元件 之一陰極層產生斷裂之情形,該方法包括·· 在一基板形成一導電層; 在該導電層上形成一圖案化之光阻層; 以該光阻層為罩幕進行一乾式蝕刻製程,以形成該薄 膜電晶體之該源極/汲極圖案,其中該源極/汲極圖案兩端 之輪廓係呈斜坡狀;以及 移除該光阻層。 11 ·如申請專利範圍第1 〇項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中該乾式蝕刻製 籲 程之一反應氣體包括sf6與〇2之混合氣體,且sf6/02之比例 係介於0 · 5〜1 · 〇之間。 1 2·如申請專利範圍第1 0項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中該乾式蝕刻製 程之一反應氣體包括Cl2與BC13之混合氣體,且口^以込之 比例係介於〇· 4〜0· 8之間。 ^ 1 3 ·如申請專利範圍第1 0項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中該導電層之材 質包括欽/紹/欽堆疊層。 14·如申請專利範圍第1 〇項所述之防止主動式有機發 春 光二極體70件之陰極產生斷裂之方法,其中該導電層之材 質包括鉬。 4 15· 一種防止主動式有機發光二極體元件之陰極產生 斷裂之方法,其係藉由削緩一薄膜電晶體之一源極/汲極第21頁 548862 六、申請專利範圍 兩端之一轉角處,藉以改善該彡動式有機發光二極體元件 之一陰極層產生斷裂之情形,該方法包括: 在一基板形成一導電層;以及 進行一餘刻製裎,以形成該薄膜電晶體之該源極/汲 極圖案’其中该源極/汲極圖案雨端之輪廓係呈階梯狀。 一 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項戶斤述之防止主動式有機發 光一極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中形成該薄膜電 晶體之該源極/汲極圖案之方法包括: 在該導電層上形成一圖案化之第一光阻層; 以該第一光阻層為罩幕進行〆第一蝕刻製程,以移除 該導電層之部分厚度; 移除該第一光阻層之部分厚度,而形成一第二光阻 層;以及 以該第二光阻層為罩幕進行一第二蝕刻製程,以形成 該源極/汲極圖案。 ^ 1 7 ·如申請專利範圍第1 6項所述之防止主動式有機發 光一極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中移除該第一光 阻層之部分厚度之方法包括利用一氧氣電漿進行一灰化 驟。 .18. —種防止主動式有機發光二極體元件之陰極產生 斷裂之方法,其係藉由削緩一薄膿電晶體之一源極/汲極 兩端之一轉角處,藉以改善該主動式有機發光二極體元件 之一陰極層產生斷裂之情形,該方法包括: 在一基板形成一導電層;以及第22頁 548862以形成該薄膜電晶體之該源極/汲 程之一蝕刻液係為 "亥餘刻液中之HN〇3之重量比係介於 進行一钱刻製程, 極圖案,其中該蝕刻製 HN〇3/H3P04/CH3CO〇H,且 〇 · 1〜0 · 2之間。 種防止主動式有 光 1 y· 斷裂之方法,包括·· 極體元件之陰極產生 =丞极,”該基板上已形成有複數 列之溥膜電晶體,且每_兮4巧时帝曰触A』〆 平 该些溥膜電日日體包括形成有一閘 極、一通道層、一源極以及一汲極; 在該基板上方形成與每一該些薄膜電晶體對應之一陽 極層,其中該陽極層係與該源極電性連接; 在该基板上方形成一發光層以及一陰極層,覆蓋該些 薄膜電晶體與該%極層;以及 在遺陰極層上形成一修補導電層,藉以修補該陰極層 發生斷裂之處。 曰 2 0 ·如申請專利範圍第1 9項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中形成該修補導 電層之方法包括濺鍍法。 21 ·如申請專利範圍第1 9項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中形成該修補導 電層之方法包括先進行一蒸鑛少棘’再進行一澂鑛步驟。 2 2 ·如申請專利範圍第1 9項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法’其中形成該修補導 電層之方法包括先進行一電子束蒸鍍步驟,再進行一濺鍍9048twf.ptd 第23頁 548862 六、申請專利範圍 步驟。 2 3.如申請專利範圍第1 9項所述之防止主動式有機發 光二極體元件之陰極產生斷裂之方法,其中該修補導電層 之材質係與該陰極層之材質相同。9048twf.ptd 第24頁
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW091111520A TW548862B (en) | 2002-05-30 | 2002-05-30 | Method of preventing anode of active matrix organic light emitting diode from breaking |
US10/064,382 US7018860B1 (en) | 2002-05-30 | 2002-07-09 | Method of preventing cathode of active matrix organic light emitting diode from breaking |
US10/248,990 US6949468B2 (en) | 2002-05-30 | 2003-03-07 | Method of preventing cathode of active matrix organic light emitting diode from breaking |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW091111520A TW548862B (en) | 2002-05-30 | 2002-05-30 | Method of preventing anode of active matrix organic light emitting diode from breaking |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW548862B true TW548862B (en) | 2003-08-21 |
Family
ID=29998040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091111520A TW548862B (en) | 2002-05-30 | 2002-05-30 | Method of preventing anode of active matrix organic light emitting diode from breaking |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7018860B1 (zh) |
TW (1) | TW548862B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111796706A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-10-20 | 南昌欧菲显示科技有限公司 | 面板及其制备方法、触控显示屏和电子设备 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6953705B2 (en) * | 2003-07-22 | 2005-10-11 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process for removing an organic layer during fabrication of an organic electronic device |
US20060049751A1 (en) * | 2004-09-07 | 2006-03-09 | Jiun-Haw Lee | Display device with dual display areas |
KR20070097085A (ko) * | 2004-12-30 | 2007-10-02 | 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 | 조사를 사용하는 장치 패턴화 |
DE102008058003B4 (de) * | 2008-11-19 | 2012-04-05 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Herstellung eines Halbleitermoduls und Halbleitermodul |
US9836698B2 (en) * | 2012-07-19 | 2017-12-05 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Method and system for decomposing single-qubit quantum circuits into a discrete basis |
CN103426820B (zh) * | 2013-08-19 | 2015-04-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 避免有机发光二极管显示设备中金属线路短路的方法 |
CN103715140B (zh) * | 2013-10-12 | 2016-03-16 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种避免oled显示设备中金属线路短路的方法 |
KR102632174B1 (ko) * | 2016-11-07 | 2024-02-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시패널 |
CN110634886A (zh) * | 2019-08-21 | 2019-12-31 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板及其制备方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3071299D1 (en) * | 1979-07-31 | 1986-01-30 | Fujitsu Ltd | Dry etching of metal film |
US4620208A (en) * | 1983-11-08 | 1986-10-28 | Energy Conversion Devices, Inc. | High performance, small area thin film transistor |
US5559399A (en) * | 1992-06-11 | 1996-09-24 | Norden Systems, Inc. | Low resistance, thermally stable electrode structure for electroluminescent displays |
US5445550A (en) * | 1993-12-22 | 1995-08-29 | Xie; Chenggang | Lateral field emitter device and method of manufacturing same |
DE69739633D1 (de) * | 1996-11-28 | 2009-12-10 | Casio Computer Co Ltd | Anzeigevorrichtung |
US5846884A (en) * | 1997-06-20 | 1998-12-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Methods for metal etching with reduced sidewall build up during integrated circuit manufacturing |
JPH1197705A (ja) * | 1997-09-23 | 1999-04-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体集積回路 |
JP3883706B2 (ja) * | 1998-07-31 | 2007-02-21 | シャープ株式会社 | エッチング方法、及び薄膜トランジスタマトリックス基板の製造方法 |
JP2001148292A (ja) * | 1999-09-08 | 2001-05-29 | Denso Corp | 有機el素子 |
US6191433B1 (en) * | 2000-03-17 | 2001-02-20 | Agilent Technologies, Inc. | OLED display device and method for patterning cathodes of the device |
-
2002
- 2002-05-30 TW TW091111520A patent/TW548862B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-07-09 US US10/064,382 patent/US7018860B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-03-07 US US10/248,990 patent/US6949468B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111796706A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-10-20 | 南昌欧菲显示科技有限公司 | 面板及其制备方法、触控显示屏和电子设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6949468B2 (en) | 2005-09-27 |
US7018860B1 (en) | 2006-03-28 |
US20030224547A1 (en) | 2003-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10811434B2 (en) | Array substrate and manufacturing method thereof, display panel and display device | |
US11139364B2 (en) | Display panel and method of producing same | |
US8569122B2 (en) | Manufacturing method for LTPS TFT array substrate | |
KR100320789B1 (ko) | 반도체장치 | |
US20120289006A1 (en) | Method of manufacturing poly-silicon tft array substrate | |
TWI330890B (en) | Liquid crystal display device and fabricating method thereof | |
WO2020238384A1 (zh) | 阵列基板的制作方法、阵列基板、显示面板及显示装置 | |
TW548862B (en) | Method of preventing anode of active matrix organic light emitting diode from breaking | |
WO2015096292A1 (zh) | 阵列基板及其制造方法、显示装置 | |
WO2019169885A1 (zh) | 一种阵列基板的制造方法和阵列基板 | |
WO2021031312A1 (zh) | 有机发光显示面板及其制备方法 | |
TWI599834B (zh) | 畫素結構及其製造方法 | |
TW560076B (en) | Structure and manufacturing method of thin film transistor | |
CN107359205B (zh) | 薄膜晶体管及制备方法、阵列基板及制备方法、显示面板 | |
CN111584509A (zh) | 显示面板及其制备方法、显示装置 | |
TWI408812B (zh) | 畫素結構的製作方法 | |
WO2016123979A1 (zh) | 薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示装置 | |
CN111276636B (zh) | 有机发光二极管显示器及其制造方法 | |
CN111554634A (zh) | 一种阵列基板的制作方法、阵列基板及显示面板 | |
TW200840036A (en) | Active matrix organic electroluminescent substrate and method of making the same | |
US11018236B2 (en) | Thin film transistor, array substrate, display panel and method for manufacturing thin film transistor | |
CN107393933A (zh) | 阵列基板的制造方法、阵列基板及显示面板 | |
JPH06216156A (ja) | Mis型半導体装置とその作製方法 | |
JP3431653B2 (ja) | Mis型半導体装置の作製方法 | |
JP2004319102A (ja) | 平面表示パネルの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |