TW526522B - Electron beam exposure apparatus, device for shaping a beam of charged particles and method for manufacturing the device - Google Patents

Electron beam exposure apparatus, device for shaping a beam of charged particles and method for manufacturing the device Download PDF

Info

Publication number
TW526522B
TW526522B TW090121829A TW90121829A TW526522B TW 526522 B TW526522 B TW 526522B TW 090121829 A TW090121829 A TW 090121829A TW 90121829 A TW90121829 A TW 90121829A TW 526522 B TW526522 B TW 526522B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
channel
substrate
pair
layer
hole
Prior art date
Application number
TW090121829A
Other languages
English (en)
Inventor
Harunobu Muto
Hiroshi Yano
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW526522B publication Critical patent/TW526522B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/317Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
    • H01J37/3174Particle-beam lithography, e.g. electron beam lithography
    • H01J37/3177Multi-beam, e.g. fly's eye, comb probe
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 _8162pif.doc/QQ8 B7 五、發明說明(() 本發明宣告日本專利申請案號2〇〇〇-266742,申請日 西元2〇〇〇年9月4日之優先權,其內容在此一倂做爲參 考。 本發明是有關於一種包括塑造帶電荷粒子束之裝置 之電子束曝光裝置,以及製造此裝置之方法。本發明特別 是有關於一種將帶電荷粒子束塑造成所需與精準之方型橫 切面形之裝置。 第1圖顯示具有開口區域506以容納電子束之橫切 面形狀之傳統裝置500。此裝置500包括一對約彼此平行 之葉片或條片502,以及垂直於葉片502之另一對葉片或 條片504。電子束之橫切面係由葉片對5〇2與504而形成 四方形,當束係通過裝置500之開口 506時。 用於形式電子束之橫切面之傳統裝置500係由精密 機器製造技術所製造。然而,幾年來,利用電子裝置之最 小化,比如半導體裝置,比如,電子束曝光裝置之電子束 之橫切面係需要形成高精準與細小四方形。因此,非常難 於利用傳統精密機器製造技術來製造裝置5〇〇。甚至,最 近,使用複數個電子束之電子束曝光裝置係在發展中。然 而’利用傳統精密機器製造技術係非常難以提供複數個開 口區域’用於使得複數個電子束之橫切面以高精密度而形 成於裝置500之既定位置。因此,幾乎無法實用或有效地 利用上述電子束曝光裝置。 · 因此,本發明之目的係提供塑造帶電荷粒子束之裝 置及此裝置之製造方法,其能克服上述習知技術之問題。 (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) _龜 4 526522 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 8 1 62pif . doc/ 0 0 8_B7___ 五、發明說明(1) 此目的係由合倂獨立項而達成。附屬項係定義更進一步之 本發明優點以及組合例。 根據本發明之第一觀點,包括塑造帶電荷粒子以提 供所需橫切面形狀之一種裝置係包括:一第一通道,形成 於該裝置之一基板上,該第一通道包括一對平行側邊;以 及一第二通道,形成於該裝置之該基板上,該第二通道係 重疊於該第一通道,且包括垂直於該第一通道之該對平行 側邊之一對垂直側邊;其中該開口係貫穿該裝置之該基板 且形成於該第一與第二通道之重疊區。 該第二通道與該第一通道係形成於該裝置之相對 側。 該第一通道之該對側邊間之間距係本質上相等於該 第二通道之該對側邊間之間距。貫穿該裝置之該開口係多 於一個。 . 根據本發明之第二觀點,一種裝置,包括具有橫切 面之一開口以塑造帶電荷粒子,包括:具有一孔洞形成於 其內之一基底,該孔洞具有本質上爲平行之一第一平行側 邊對與垂直於該第一平行側邊對之一第二平行側邊對;以 及一插入元件,接觸於該孔洞之內側表面;其中該插入元 件具有形成於該孔洞內之一開口,該插入元件之該開口係 貫穿該裝置之該基板且其頂端係尖於該孔洞之頂端。 根據本發明之第三觀點,一種裝置之製造方法,該 裝置包括塑造帶電荷粒子以提供所需橫切面形狀’包括: 形成具一第一孔洞之一第一層於一基板上’該第一孔洞包 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -I · ϋ H ϋ I I n ϋ I ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ I ϋ I ϋ ϋ I ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ n ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ n H ϋ - n ϋ 526522 A7 _8162pif.doc/0Q8_B7 五、發明說明(i ) 括一對平行側邊;形成具一第二孔洞之一第二層於該基板 上,該第二孔洞係包括垂直且重疊於該第一孔洞之該對平 行側邊之一對垂直側邊;其中該開口係貫穿該裝置之該基 板且形成於該第一與第二孔洞之重疊區;以及分割該基 板。 形成該第一層包括:形成一第一光阻圖樣於有該第 一孔洞形成之該基板之一區域上;以及選擇性形成該第一 層於該基板上;以及形成該第二層包括:形成一第二光阻 圖樣於有該第二孔洞形成之該第一層與該第一光阻圖樣之 一區域上;以及選擇性形成該第二層於該第一層上。 該基板係由導電材質所形成,且該第一層與該第二 層係由電鍍所形成。 該第一層係厚於該第一光阻圖樣,且該第二層係厚 於該第二光阻圖樣。 該方法更包括:從該基板分割該第一層,其中該第 二層係形成於原先接觸於該基板之該第一層之一表面上。 根據本發明之第四觀點,一種裝置之製造方法,該 裝置包括具有橫切面之一開口以塑造帶電荷粒子,包括: 形成包括一第一平行側邊對之一第一通道於一基底上;以 及形成一第二通道於該基底上,該第二通道係具有重疊且 重疊於該第一通道之該第一平行側邊之一第二平行側邊 對;其中該開口係貫穿該裝置且形成於該第一與第二通道 之重疊區。 該第二通道與該第一通道係形成於該基底之相對 6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公髮) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
訂---------線J 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 B7 8162pif.doc/008 五、發明說明(β ) 側。 根據本發明之第五觀點,一種裝置之製造方法,該 裝置包括具有所選擇橫切面之一開口以塑造帶電荷粒子, 包括:形成具有一孔洞形成於其內之一基底,該孔洞係具 有本質上爲平行之一第一平行側邊對與垂直於該第一平行 側邊對之一第二平行側邊對所定義;以及形成一插入元件 於該孔洞內以接觸於該孔洞之內側表面;其中該插入元件 具有形成於該孔洞內之一開口,該插入元件之該開口係貫 穿該裝置且其頂端係尖於該孔洞之頂端。 根據本發明之第六觀點,一種電子束曝光裝置以曝 光一電子束於一晶圓之一所需區域上,包括:一電子槍以 產生該電子束;一電子透鏡以調整該電子束之聚焦;一偏 移器,以偏移於一晶圓上之一所需區域上之該電子束;塑 造該電子束至具既定橫切面形狀之一裝置;以及一晶圓平 台以支撐一晶圓;其中塑造該電子束之裝置包括:在該裝 置之一基板內之一第一通道,該第一通道具有一對平行側 邊·,在該裝置之該基板內之一第二通道,該第二通道具有 垂直且重疊於該第一通道之該對平行側邊之一對垂直側 邊;以及一開口,其貫穿該裝置且係形成於重疊之該第一 與第二通道所定義之一區域上。 根據本發明之第七觀點,一種塑造一帶電荷粒子束 之裝置,包括:在該裝置內之一第一通道,該第一通道具 有一對平行側邊;在該裝置內之一第二通道,該第二通道 具有垂直且重疊於該第一通道之該對平行側邊之一對垂直 7 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -—Aw________ir---------—Aw---------------------- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 297公釐) 526522 A7 8162pif.doc/008 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(〔) 標號說明: 10 :電子槍 14 :第一塑造裝置 16 :第一多軸電子透鏡 18 :第一塑造偏移器 2 0 :第_^*塑造偏移器 22 :第二塑造裝置 24 :第二多軸電子透鏡 26 :空白孔徑陣列 28 :電子束切割單元 34 :第三多軸電子透鏡 36 :第四多軸電子透鏡 38 :副偏移器 40 ··第一線圏 42 :主偏移器 44 ··晶圓 46 :晶圓平台 48 :晶圓平台驅動器 50 :第二線圈 52 :同軸透鏡 80 :電子束控制器 82 :多軸電子透鏡控制器 84 :塑造偏移控制器 86 : BAA裝置控制器 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
^1 ϋ ϋ n ϋ ϋ ϋ I ϋ n ϋ ϋ ϋ n ϋ ϋ I 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 526522 A7 8162pif.doc/008 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(9 ) 90 :同軸透鏡控制器 92 :副偏移器控制器 94 :主偏移器控制器 96 :晶圓平台控制器 100 :電子束曝光裝置 110 :電子束塑造單元 112 :曝光開關單元 114 :投射單元 112 :曝光開關單元 120 :個別控制單元 130 : —般控制單元 140 :控制區 150 :曝光單元 201 :基板 202 :第一層 204 :第二層 206與208 :突出物 210 :第一通道 212 :基底 214 :插入元件 216 :突出物 220 ··第二通道 222 :第一光阻圖樣 224 :第二光阻圖樣 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 象
訂---------線II 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 526522 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 8162pif . doc/008_B7___ 五、發明說明(Θ ) 226基底 228 :導電膜 230 :開口 232 :基板 246 :光阻 2 4 8 :光阻圖樣 250 :孔洞 500 :裝置 502、504 :葉片 506 :開口區域 較佳實施例 本發明將根據較佳實施例進行說明,其非用以限定 本發明之範圍,只用於舉例說明。在實施例中所描敘之特 徵與組合例對本發明而言並非必要。 在此,名詞”通道(channel)”係描敘如溝槽(trench), 切痕(cut),溝(furrow)或凹槽(groove)等之結構,其形成於 基底或基板中。 參考第2〜8圖,其詳細描述本發明之實施例。底下 之實施例並非用以限定本發明之範圍,且根據實施例之本 發明特徵對本發明之實務並非必要。 第2圖顯示根據本發明之實施例之電子束曝光裝置 100。電子束曝光裝置100包括:在晶圓44上進行電子束 曝光製程之曝光單元15〇,以及控制曝光單元150內部元 件之操作之控制區140。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -------------AW--------訂·--------—.^w— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526522 A7 i^?pif.cioc/008 B7 五 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發明說明( 曝光單元150包括··電子束塑造單元110,其產生複 數個電子束與將電子束之橫切面塑造成所需形狀;曝光開 關單元112,根據電子束是否要曝光於晶圓44上而獨立地 開關電子束;以及投射單元114,以調整轉印至晶圓44之 圖樣之方向與大小。曝光單元150更包括平台區/其具有 晶圓平台46以支撐其上有圖樣轉印之晶圓44以及驅動晶 圓平台46之晶圓平台驅動器,48。 電子束塑造單元110包括:電子槍10以產生複數個 電子束;第一塑造裝置14與第二塑造裝置22,其分別具 有複數個開口以將通過開口之電子束之橫切面塑造成所需 形狀;第一多軸電子透鏡16,藉由獨立地集中個別電子束 而調整電子束之聚焦;以及第一塑造偏移器18與第二塑 造偏移器2〇,其獨立地將通過第一塑造裝置14之個別電 子束給予偏斜。 第一塑造裝置14將電子束之橫切面形成所需形狀, 且具有約彼此平行之兩側之第一通道,以及重疊於第一通 道之第二通道,其兩側約垂直於第一道通之兩側。較好是, 穿過第一塑造裝置U之開口係形成於由第一與第二通道 之兩側重疊所定義之區域。第二塑造裝置22具有與第^ 塑造裝置14之相同功能與架構。 一 第一塑造裝置I4與第二塑造裝置22分別具有由 等所形成之金屬膜,以將有電子束照射於其上之第〜 衣置14與第一塑造裝置22之表面接地。較好是利用货卜 點金屬材質來形成第一塑造裝置Η與第二塑造裝竃2=、 請 先 閱 讀 背 意 事 項 再 填 寫 本 頁
526522 A7 8 162pif.doc/0〇 8 B7 五、發明說明(β) /或金屬膜。第一及/或第二塑造裝置14及/或22之各開口 可沿著電子束之發射方向做得較寬,如第2圖之橫切面所 示,以使得電子束更有效地通過相關開口。 曝光開關單元112包括:第二多軸電子透鏡24,藉 由獨立集中電子束以調整電子束之聚焦;空白孔徑陣列 (blank aperture array,BAA)26(BAA),根據是否電子束要曝 光於晶圓44上,藉由偏斜各電子束而獨立決定切換電子 束,以及電子束切割單元28具有讓電子束通過之複數個 開口,以切割被空白孔徑陣列26所偏斜之電子束。電子 束切割單元28之各開口可沿著電子束之發射方向做得較 寬,如第2圖之橫切面所示,以使得電子束更有效地通過 相關開口。 投射單元114包括:第三多軸電子透鏡34,藉由獨 立集中各別電子束而減少電子束之橫切面;第四多軸電子 透鏡36藉由獨立集中各別電子束而言整電子束之聚焦; 副偏移器38,獨立將各電子束偏斜至晶圓44之既定位置 上;同軸透鏡52,其當成接物透鏡,具有第一與第二線圏 40與50以集中電子束;主偏移器42,只將所需電子束量 集中於相同方向。主偏移器42可爲靜態電子類型偏斜器, 其利用電場而高速偏斜複數個E束,且包括圓形八極架 構,其具有彼此相對之四對電極,或多於8個電極。同軸 透鏡52係較好接近於晶圓44,比起第四多軸電子透鏡3 6。 控制區140包括一般控制單元130與個別控制單元 120。個別控制單元120包括:電子束控制器80,多軸電 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -· 訂---------線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 526522 __r 1. 6 2 p i f . d o c / 0 0 8_B7 ---------- 五、發明說明((I ) 子透鏡控制器82,塑造偏移控制器84,BAA裝置控制器 ^ 86,同軸透鏡控制器90,副偏移器控制器92,主偏移器 控制器94與晶圓平台控制器96。一般控制單元130比如 爲工作站,一般控制個別控制單元120內之各控制器。電 子束控制器80控制電子槍1〇。多軸電子透鏡控制器82控 制提供至第一多軸電子透鏡16,第二多軸電子透鏡24, 第三多軸電子透鏡34與第四多軸電子透鏡36之電流。 塑造偏移控制器84控制第一塑造偏移器18與第二 塑造偏移器20。BAA裝置控制器86控制施加至空白孔徑 陣列26內部之偏斜電極之電壓。同軸透鏡控制器90控制 提供至同軸透鏡52內之第一線圈40與第二線圈50之電 流。主偏移器控制器94控制施加至主偏移器42內之偏斜 電極之電壓。晶圓平台控制器96控制晶圓驅動器48以將 晶圓平台46移動至望定位置。 現在將詳細描敘本發明電子束曝光裝置100之操作。 首先,電子槍1〇產生複數個電子束。由電子槍10所產生 之電子束係由第一塑造裝置14所射出與塑造。通過第一 塑造裝置I4之各電子束具有根據第一塑造裝置14之開口 | 之方型橫切面。 2 具方型橫切面之各電子束係被第一多軸電子透鏡16 | 所獨立集中,且各電子束之聚焦係被第一多軸電子透鏡16 | 獨立調整成相關於第二塑造裝置22。具方型橫切面之各電 | 子束係獨立偏斜至第二塑造裝置22上之所需位置。被第 | 一塑造偏移器18所偏斜之各電子束係被第二塑造偏移器 % 製 I__ u 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A‘1規格(21Qx 297公------- --------1----銕 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線· 五 _I_____ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 _ 8162pif.doc/QQ8_ B7 、發明說明(lv) 20所獨1L並垂直偏斜成相關於第二塑造裝置22。第一多 軸電子透鏡16與第一塑造偏移器18之上述操作係對各電 子束執行’無關於其他電子束,也就是,第一多軸電子透 鏡16與第一塑造偏移器18之操作係獨立執行於各電子束 上,使得各電子束不會彼此影響或不被其他電子束之操作 所影響。因此,電子束係受控成垂直照射於第二塑造裝置 22之所需位置上。具方型開口之第二塑造裝置22更將照 射至第二塑造裝置22且具方型橫切面之該些電子束塑造 成更所需與更精準之方型橫切面,使得電子束適合於照射 於晶圓44上。 藉由第二多軸電子透鏡24,各電子束係獨立地集中, 且各電子束之聚焦係獨立地相對於空白孔徑陣列26而調 整。被第二多軸電子透鏡24調整過聚焦之各電子束係通 過空白孔徑陣列26內之各孔徑。 BAA裝置控制器86決定是否電壓要施加至靠近空白 孔徑陣列26內之各孔徑位置之各偏斜電極。空白孔徑陣 列26根據施加至各偏斜電極之電壓而控制各電子束之射 出。在施加電壓之情況下,通過孔徑之電子束並不會照射 在晶圓44上,因爲電子束係被偏斜且無法通過電子束切 割單元28內之開□。在未施加電壓之情況下,通過孔徑 之電子束會照射在晶圓44上,因爲電子束並沒被偏斜且 能夠通過電子束切割單元28內之開口。 未被空白孔徑陣列26偏斜之電子束之橫切面係被第 三多軸電子透鏡34所減少且通過電子束切割單元28內之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 8 1 62pif . doc / 0 0 8 β7 五、發明說明(ο) 開口。藉由第四多軸電子透鏡36,複數個電子束係獨立地 集中,且電子束之聚焦係相對於副偏移器38而獨立地調 整。聚焦被調整之電子束係射入至副偏移器38內之偏斜 元件。 副偏移器38內之複數偏斜元件係被副偏移器控制器 92獨立控制。射入至副偏移器38之偏斜器之複數個電子 束係由副偏移器38來獨立偏斜至晶圓44之所需曝光位 置。 在曝光時,晶圓平台控制器96係控制晶圓平台驅動 器48使得晶圓平台46係依既定方向移動。baA裝置控制 器86根據曝光圖樣資料而決定電子束通過之孔徑,並對 各孔徑進行功率控制。回應於晶圓44之程動,藉由適合 切換電子束通過之孔徑,以及藉由主偏移器42與副偏移 器38來偏斜電子束,可能將所需電路圖樣曝光於晶圓44 上。 .根據電子束曝光裝置100,電子束之橫切面可形成所 需之方型。因此,比如,在曝光具有直線之導線圖樣時, 可能在晶圓44上有直線圖樣,其具有以脈衝形式將電子 束射出之曝光孔徑。甚至,電子束曝光裝置100也可當成 方塊曝光類型或BAA類型裝置。 第3(a)與3(b)圖顯示裝置200,比如第一塑造裝置14 或第二塑造裝置22,其具有複數個開口以塑造帶電荷粒子 束。第3(a)與3(b)圖係從裝置200之線A-A'所看到之平面 圖與剖面圖。 冬紙過用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 29T^i" ---------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526522 A7 B7 R162pif.doc/0Q8 五、發明說明( 如第3(a)與3(b)圖所顯7K,裝置2〇〇具有基板 (substrate)201,其上具有:第一通道210,其具彼此平行 之兩側邊;以及第二通道220,其具有約垂直於第一通道 210之兩側邊之兩側邊。甚至,開口 230係形成於由第一 通道210與第二通道220之兩對側邊所定義之區域上。因 此,所射出之電子束係由通過開口 23〇而塑造成所需形狀。 具體地說,所通過之電子束之橫切面形狀係相關於開口 230 之形狀或開口 230之頂點形狀。 如第3(b)圖所示,較好係形成第二通道220與第一通 道210於基板201之相對面上。甚至,較好是第一通道210 之兩側邊間距本質上係相同於第二通道220之兩側邊間 距。具體地說,較好是使得開口 110一本質上爲方型,當由 電子槍10之角度看來時。根據本發明之另一實施例,開 口 230之形狀可爲方型,而非正方形。 根據本發明,裝置200,其形成帶電荷粒子束之橫切 面形狀,可利用第一通道210與第二通道220而具有本質 上直角頂端之開口。因此,可能形成具有本質上直角頂點 之方型柱切區之帶電荷粒子束。甚至,因爲可能將開口 230 形成微小方型,可能準確地與輕易形成複數個開口 230於 裝置200之所需位置上。甚至,可能同時形成其上有所需 形狀之複數個開口 230形成於各所需位置之複數個裝置 200 〇 第4(a)至4(d)圖顯示具開口 230之裝置200之另一實 施例。在第4(a)至4(d)圖中,右側之圖係裝置200之平面 ------------0--------訂---------線·. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 17 526522
Bl62pif . doc/008 A7 B7 五 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 、發明說明(β) 圖,後在左側之圍係從裝置200之線Α_Α'所視之橫切面 圖。如第4(a)圖所示,裝置200具有第一與第二層202與 204。在此例中,較好是形成第一通道210於第一層202 上,以及形成第二通道220於第二層204上。甚至,第一 與第二通道210與220可分別爲貫穿第一與第二層202與 204之孔洞。 如第4(b)圖所示,第一與第二層202與204具有從第 一與第二通道210與220突出之突出物206與208。突出 物206與208較好是第一與第二層202與204之上蓋物或 凸出。甚至,較好是,有突出物206與208形成之第一與 第二層202與204之表面粗糙區係小於未有突出物206與 208形成之面域。比如,第一與第二層202與204係較好 由電極沉積所形成,比如電鑛或電極形成。 如第.4(c)圖所示,裝置200係爲具有貫穿其本身之孔 洞之基底(base)212,其中基底212包括插入元件214,其 具有頂端比基底212之該孔洞之頂端更尖。212之孔洞具 有本質上爲平行之一第一對側邊以及本質上爲垂直之一第 二對側邊,第二對側邊係本質上垂直於該第一對側邊。根 據本實施例,插入元件(inscribed element)214可位於裝置 2〇〇之面對電子槍10之表面上,或在面對電子槍1〇之相 ¥寸表面上。較好是,插入元件2 14之開口 2 3 0之頂端係尖 於基底212之孔洞之頂端。 如第4(d)圖所示,裝置200可爲具有孔洞之基底212 與朝著孔洞內側而形成之突出物216,使得孔洞與突出物 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 ---------------------訂------^—線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 8162pif.doc/008 B7 五、發明說明((c) 216構成開口 23 0。基底212之孔洞具有本質上爲平行之 一第一對側邊以及本質上爲垂直之一第二對側邊,第二對 側邊係本質上垂直於該第一對側邊。較好是,突出物216 所形成之頂端係尖於基底212之孔洞之頂端。甚至’較好 是突出物216之表面粗糙區係小於基底212之孔洞之表面 粗糙區。比如,藉由形成突出物216貫穿基底212之電沉 積,可能使得突出物216之表面粗糙區較小。因而’利用 裝置200,可能形成具有本質上爲直角頂端之方型橫切面 之帶電粒子束。 第5(a)至5(e)圖顯示根據本發明之塑造帶電荷粒子束 之製造裝置200之方法。在第5(a)至5(e)圖中,在右側之 圖係各製程之裝置200之平面圖,而在左側係各製程時’ 在裝置200之線A-A'處所看之橫切面圖。首先,係準備 基板(substrate)232。基板232係較好包括基底226與導電 膜228,導電膜228係由比起基底226有較高導電性之材 質所形成。根據本發明之實施例,由於基板係由高導電材 質所形成,基板232不包括導電膜228。 第5(a)圖顯示形成第一光阻圖樣222於基板232上之 有第一孔洞形成之區域上之製程,如後所述。首先,光阻 係由旋轉覆蓋法而覆蓋於基板232上。接著,第一光阻圖 樣222係由包括曝光與印刷製程之微影製程所形成。第一 光阻圖樣222係包括本質上爲平行之一對側邊。爲曝光製 程,電射,帶電荷粒子束,如果電子束或X光係當成光源。 甚至,光阻較好根據所用光源而選擇。比如,光阻可爲正 --------------------訂---------線"^1^· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4規格(21Q χ视公髮) 526522
五、發明說明(〇) 或負型光阻,具光感性之多硫亞氨或電子束光阻。 甚至,形成第一光阻圖樣222之製程更包括形成中 介層(未示出)於基板232上之製程,以及利用該第一光阻 圖樣2U當成光罩而蝕刻該中介層。中介層係形成於基板 232與第一光阻圖樣222之間。甚至,中介層可爲抗反射 層,其減少曝光時,光源從基板之反射量。較好是進行乾 蝕刻於中介層上,利用該第一光阻圖樣222當成光罩。甚 至,形成該第一光阻圖樣222之製程可爲印刷該第一光阻 圖樣222之製程。 第5(b)圖顯示形成第一層202之製程。第一層202係 形成於基板232上,其材質係從金,鉑,銅或鎳之群組所 選出。根據本實施例,第一層202係由電沉積而選擇性成 於基板232上。較好是,第一層202之厚度本質上相同於 第一光阻圖樣222之厚度。 第5(c)圖顯示形成第二光阻圖樣224於第一層202與 第一光阻圖樣2U上之有第二孔洞形成處上。光阻係覆蓋 於第一層2〇2與第一光阻圖樣222上,接著第二光阻圖樣 224係由包括曝光與印刷製程之微影製程所形成。第二光 阻圖樣224係包括本質上爲垂直之一對側邊,其垂直與重 疊於上述之第一光阻圖樣222之平行側邊。 第5(d)圖顯示形成第二層2〇4之製程。第二層204係 形成於第一層2〇2上,其材質係從金,鈾,銅或鎳之群組 所選出。根據本實施例,第二層204係由電沉積而選擇性 成於第一層202上◦較好是,第二層204之厚度本質上相 20 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂------ 線碎 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 ----^816 2pif.doc/008 R7 五、發明說明(0) 同於第二光阻圖樣224之厚度。 根據本發明之另一實施例,較好是藉由翻轉第一層 202,形成第二層204於面對基板232之第一層2〇2之表 面上。首先,在形成第一層202後,藉由熔化導電膜228, 第一層202係分隔於基板232。其次,原先接觸到隔開第 一層202之基板232之該側邊之相對側邊係再次附著至基 板232。其次,光阻係覆蓋於第一層202與基板232上, 且第二光阻圖樣224係由微影製程而形成。接著,第二層 2〇4係形成於原先接觸基板232之第一層202之表面上。 可能有效壓抑裝置200之彎曲,即使當第一與第二層202 與204係由高內應力材質所形成,因爲在形成第一層202 後將之翻轉’弟一*層204係形成於第一^層202上。 弟5(e)圖顯不將基板232分割之製程。首先,第一'與 第二光阻圖樣222與224係由光阻分割溶解法所移除。接 著,裝置200係包括:具第一孔洞242之第一層202,第 一孔洞242具有一對平行側邊;以及具第二孔洞22之第 二層2〇4,第一孔洞M4具有一對垂直側邊,其垂直且重 疊於第一孔洞242之上述側邊,第一與第二孔洞242與244 之重疊區係形成貫穿裝置200之開口 230。根據本實施例, 基板232內之導電膜228係選擇性熔解與由蝕刻劑所移 除。根據本發明之另一實施例,基板232可機械式移除。 第6(a)至6(f)圖顯示根據本發明之製造裝置200之另 一實施例。在第6(a)至6(f)圖中,右側之圖係裝置2〇〇在 各製程之平面圖,而左側之圖係在各製程時,從裝置2⑽ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ;0--------訂---------線_ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 尺度(CNSM-—-- 五 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 8162pif.cl〇c/008 B7 發明說明((q ) 之線A-A'所看得之橫切面圖。首先,係準備基板232。基 板232係較好包括基底226與導電膜228,導電膜228係 由比起基底226有較高導電性之材質所形成。根據本發明 之另一實施例,由於基板係由高導電材質所形成,基板232 不包括導電膜228。 第6(a)圖顯示形成第一光阻圖樣222之製程。首先, 光阻係覆蓋於基板232上’接著,第一光阻圖樣222係由 包括曝光與印刷製程之微影製程所形成。第一光阻圖樣222 係包括本質上爲平行之一對側邊。 第6(b)圖顯不形成弟一層202之製程。第一層202係 形成於基板232上,其材質係從金,鉛,銅或鎳之群組所 選出。較好是,第一層202之厚度本質上相同於第一光阻 圖樣222之厚度。甚至,第一層202係覆蓋第一光阻圖樣 222之頂表面之一部份,藉由使得第一層202厚於第一光 阻圖樣222。根據本實施例,第一層202係由電沉積而選 擇性形成。甚至,藉由調整電沉積之參數,第一層202係 使成使得第一層202之粗糙表面區域,第一層202未接觸 至第一光阻圖樣222之處,係低於第一層202之表面(在 此處,第一層202係接觸至第一光阻圖樣222)。電沉積之 製程參數包括加至電沉積溶液之添加物之類型,構造,密 度等。 第6(c)圖顯示從基板232分割第一層202之製程。首 先,第一光阻222係移除。接著,第一層202係藉由溶解 導電膜228而從基板232分割。 22 本纸張尺度適用中國國豕標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公爱) ---------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526522 A7 8l62pif . doc/0 〇 8 B7 五、發明說明(y ) 第6(d)圖顯示形成第二光阻圖樣224之製程。首先, 原先接觸到分割出第一層202之基板232之該側邊之相對 側邊係附著至基板232。接著,光阻係覆蓋於第一層與基 板232上,接著第二光阻圖樣224係由包括曝光與印刷製 程之微影製程所形成。第二光阻圖樣224係包括一對側邊, 其本質上垂直且重疊於當將第一光阻圖樣222移除時形成 於第一層2〇2內之開口之側邊。 第6(e)圖顯示形成第二層204之製程。第二層2〇4係 形成於第一層202上,其材質係從金,鉑,銅或鎳之群組 所選出。較好是,第二層204之厚度本質上較厚於第二光 阻圖樣224之厚度。甚至,藉由使得第二層204之厚度本 質上較厚於第二光阻圖樣224之厚度,第二層204係覆蓋 第二光阻圖樣224之頂表面之一部份。 第6(f)圖顯示分割基板232之製程。首先,第二光阻 圖樣224係由光阻分割溶液所移除。接著,裝置200係包 括:具第一孔洞242之第一層202,第一孔洞242具有一 對平行側邊;以及具第二孔洞22之第二層2〇4,第一孔洞 244具有一對垂直側邊,其垂直且重疊於第一孔洞242之 上述側邊,第一與第二孔洞242與244之重疊區係形成貫 穿裝置200之開口 230。根據本實施例,爲形成裝置200, 基板232內之導電膜228係選擇性熔解與由蝕刻劑所移 除。 根據本實施例,藉由分成形成第一與第二層202與204 來覆蓋第一與第二光阻圖樣2U與224之部份頂表面,有 23 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -.Aw 訂---------線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 A7 8l62pif.doc/008 R7 五、發明說明(/|) 可能形成第一與第二層202與2〇4之塑造帶電荷粒子束之 粗糖表面區爲非常低,即使當第一與第二光阻圖樣222與 224具不等側邊。因而,可能塑造帶電荷粒子束來具有高 精確方型橫切面。 ’ 第7(a)至7(d)圖顯示根據本發明之製造裝置200之另 一實施例。在第7(a)至7(f)圖中,右娜之圖係裝置200在 各製程之平面圖,而左側之圖係在各製程時,從裝置200 之線A-A'所看得之橫切面圖。 如第7(a)圖所示,光阻246係覆蓋於基底212之兩側。 基底212係由矽,矽化碳,鎢或鉬等群組所選出之材質所 形成。 第7(b)圖顯示形成第一與第二光阻圖樣222與224之 製程。藉由進行包括曝光與印刷製程之微影技術,覆蓋光 阻246係包括:具一對本質上平行側邊之第一光阻圖樣 222,其係相關於第一通道;以及具一對本質上垂直且重 疊於該第一光阻圖樣222之平行側邊之側邊之第二光阻圖 樣224,其係相關於第二通道,第一與第二通道將於底下 描敘。第二光阻圖樣224係較好形成於有第一光阻圖樣222 形成之相對側。 第7(c)圖顯示形成第一與第二通道210與220之製 程。藉由將第一光阻圖樣222當成光罩,具平行側邊之第 一通道210係藉由蝕刻基底212而形成。第一通道210並 未貫穿基底212。接著,利用第二光阻圖樣224當成光罩, 具一對本質上垂直且重疊於該第一光阻圖樣222之平行側 24 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -- -------------*-------訂------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ' 526522 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 — 8162pif.d〇^y00j_BZ_ 五、發明說明(々V) 邊之側邊之第二光阻圖樣224係藉由蝕刻基底212而形 成,第一與第二通道210與220之重疊區域係貫穿基底 212。第二通道220係使得基底212之相關區域係被蝕刻 製程所貫穿° 接著,如第7(d)圖所示,第一與第二光阻圖樣222與 224係移除’裝置1 2〇〇係包括:具一對本質上平行側邊之 第一光阻圖樣222 ;以及具一對本質上垂直且重疊於該第 一光阻圖樣222之平行側邊之側邊之第二光阻圖樣224’ 第一與第二通道210與220之重疊區域係形成會貫穿基底 212 之開口 230。 第8(a)至8(d)圖顯示根據本發明之製造裝置200之另 一實施例。在第8(a)至8(d)圖中’右側之圖係裝置200在 各製程之平面圖’而左側之圖係在各製程時’從裝置200 之線Α-ΑΛ所看得之橫切面圖。 如第8(a)圖所示,光阻246係覆蓋於附著至基板232 之基底212之上。考慮底下之製程,基板係較好由非絕緣 材質所形成。 第8(b)圖顯示形成孔洞250之製程,孔洞250具有平 行側邊與垂直於該平行側邊之一對垂直側邊。首先,藉由 包括曝光與印刷製程於光阻上,光阻圖樣248係具有 一對平行側邊以及垂直於該平行側邊之一對垂直側邊。接 著,孔洞25〇係利用將光阻圖樣248當成光罩來蝕刻基底 212而形成。較好是,孔洞係垂直形成於基底212與基板 232內,且孔洞250之直行沿著蝕刻方向係變小。 ---------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 5 2 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 526522 A7 五、發明說明(d) 第8(c)圖顯示形成插入元件或插入物214之製私^ 好是,插入物2丨4係接觸孔洞250之內側表面。根據此貫 施例,,開口 230係由插入物214所形成,而插入物214係 選擇性形成於基底212上,且透過電鍍而由導電材質所开夕 成,開口 23〇之頂端係尖於孔洞25〇之頂端。 第8(d)圖顯示分割基板232之製程。首先,光阻圖樣 248係移除。接著,藉由分割基板232,裝置2〇〇係完成 且具有開口 230。 / 由上述可知,根據本發明,能準確地且輕易地形成 包括微小方型橫切面區之開口之裝置。 綜上所述’雖然本發明已以數個較佳實施例揭露如 上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不 脫離本發明之精神和範圍內’當可作各種之更動與潤飾, 因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者 , 爲準。 --------------------^---------^ . (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 26

Claims (1)

  1. 526522 六 ABCD 本 正 修 圍 Μ"" 利 專 文 中 號圍 9Λ-巳 2々孝 W 01專 9主月 =口 期 曰 正 修 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ι· 一種包括塑造帶電荷粒子束以提供所需橫切面形狀的 一開口之裝置,該裝置包括: 一第一通道,形成於該裝置之一基板上,該第一通 道包括一對平行側邊;以及 一第二通道,形成於該裝置之該基板上,該第二通 道係重疊於該第一通道,且包括垂直於該第一通道之該對 平行側邊之一對垂直側邊; 其中該開口係貫穿該裝置之該基板且形成於該第一 與第二通道之重疊區。 2. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該第二通道 與該第一通道係形成於該裝置之相對側。 3. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該第一通道 之該對側邊間之間距係本質上相等於該第二通道之該對側 邊間之間距。 4. 如申請專利範圍第1項至第3項之任一項所述之裝 置,其中係貫穿該裝置之該開口係多於一個。 5. 一種包括县有一橫切面形狀之一開口以塑浩帶電荷粒 子束之裝置,包括: 具有一孔洞形成於其內之一基底,該孔洞具有本質 上爲平行之一第一平行側邊對與垂直於該第一平行側邊對 之一第二平行側邊對;以及 一插入元件,接觸於該孔洞之內側表面; 其中該插入元件具有形成於該孔洞內之一開口,該 插入元件之該開口係貫穿該裝置之該基板且其頂端係尖於 27 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 1·--Λ, —ί I I - I I I I I I I ^--- - - - - --- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526522 A8 B8 C8 D8 8162pif 1 . d〇n/n〇g 六、〜第$1¾¾¾9蕾中文專利範圍修正本 修正日期:2 0 0 2.9 3 4 該孔洞之頂端。 6· 塑浩帶電荷粒子束以提供所需橫切而彳彡 一鼠g的裝置之製造方法,該製造方法包括: 形成具一第一孔洞之一第一層於一基板上,該第一 孔洞包括一對平行側邊; 形成具一第二孔洞之一第二層於該基板上,該第二 孔洞係包括垂直且重疊於該第一孔洞之該對平行側邊之一 對垂直側邊; 其中該開口係貫穿該裝置之該基板且形成於該第一 與第二孔洞之重疊區;以及 分割該基板。 7. 如申請專利範圍第6項所述之製造方法,其中形成該 第一層包括: 形成一第一光阻圖樣於有該第一孔洞形成之該基板 之一區域上;以及 選擇性形成該第一層於該基板上;以及 形成該第二層包括: 形成一第二光阻圖樣於有該第二孔洞形成之該第一 層與該第一光阻圖樣之一區域上;以及 選擇性形成該第二層於該第一層上。 8. 如申請專利範圍第6項所述之製造方法,其中該基板 係由導電材質所形成,且該第一層與該第二層係由電鑛所 形成。 9. 如申請專利範圍第8項所述之製造方法,其中該第一 28 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公爱) 4 .! !-------樣------- 丨訂----------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526522 8162pifl .doc/008 R8 C8 D8 六 _9 U 2 1 S l9 j中文專利範圍修正本 修正曰期:2002.934 層係厚於該第一光阻圖樣,且該第二層係厚於該第二光阻 圖樣。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 10·如申請專利範圍第6項所述之製造方法,更包括: 從該基板分割該第一層,其中該第二層係形成於原 先接觸於該基板之該第一層之一表面上。 11. 一種包括具有」一橫切面形狀之一開□以塑造帶電荷 粒子束的裝置之製造方法,該製造方法包括: 形成包括一第一平行側邊對之一第一通道於一基底 上;以及 形成一第二通道於該基底上,該第二通道係具有重 疊且重疊於該第一通道之該第一平行側邊之一第二平行側 邊對; 其中該開口係貫穿該裝置且形成於該第一與第二通 道之重疊區。 12·如申請專利範圍第11項所述之裝置之製造方法,其 中該第二通道與該第一通道係形成於該基底之相對側。 13. 一種包括具有所選擇橫切面形狀之一開□以塑浩帶 電荷粒子束的裝置之製造方法,該製造方法包括: 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印?衣 形成具有一孔洞形成於其內之一基底,該孔洞係具 有本質上爲平行之一第一平行側邊對與垂直於該第一平行 側邊對之一第二平行側邊對所定義;以及 形成一插入元件於該孔洞內以接觸於該孔洞之內側 表面; 其中該插入元件具有形成於該孔洞內之一開口,該 29 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 526522 A8 B8 C8 D8 修正日期:2002.934 8162pif 1 .doc/008 為第90121829號中文專利範圍修正本 六、伞請專利範ΐ 插入元件之該開口係貫穿該裝置且其頂端係尖於該孔洞之 頂端。 14. 一種電子束曝光裝置,以曝光一電子束於一晶圓之 一所需區域上,包括: 一電子槍以產生該電子束; 一電子透鏡以調整該電子束之聚焦; 一偏移器,以偏移於一晶圓上之一所需區域上之該 電子束; 塑造該電子束至具既定橫切面形狀之一裝置;以及 一晶圓平台以支撐一晶圓; 其中塑造該電子束之裝置包括: 在該裝置之一基板內之一第一通道,該第一通道具 有一對平行側邊; 在該裝置之該基板內之一第二通道,該第二通道具 有垂直且重疊於該第一通道之該對平行側邊之一對垂直側 邊;以及 一開口,其貫穿該裝置且係形成於重疊之該第一與 第二通道所定義之一區域上。 15. 一種塑造一帶電荷粒子束之裝置,包括: 在該裝置內之一'第一通道’該第一*通道具有一^對平 行側邊; 在該裝置內之一第二通道’該第二通道具有垂直且 重疊於該第一通道之該對平行側邊之一對垂直側邊;以及 貫穿該裝置一開口,該開口具有由該第一與第二通 30 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2】0 X 297公釐) ----1----------------訂-------Γ — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 526522 A8 B8 C8 8162pif 1 . doc/ 0 0 8_™__ > >第^ g 中文專利範圍修正本 修正日期:2 Ο Ο 2 . 9 3 4道之重疊區域所定義之本質上爲方型之形狀;其中帶電荷粒子束係通過該開口以提供既定橫切面 形狀。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制π ϋ ϋ ϋ n ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ «I 1__1 n n an n n n n 一:口π · a······· w *·· aa··? ϋ ί I I l ϋ n n n I n n l ϋ ϋ l^i (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
TW090121829A 2000-09-04 2001-09-04 Electron beam exposure apparatus, device for shaping a beam of charged particles and method for manufacturing the device TW526522B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000266742A JP2002075849A (ja) 2000-09-04 2000-09-04 電子ビーム露光装置、荷電粒子線を整形する部材及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW526522B true TW526522B (en) 2003-04-01

Family

ID=18753781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW090121829A TW526522B (en) 2000-09-04 2001-09-04 Electron beam exposure apparatus, device for shaping a beam of charged particles and method for manufacturing the device

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20020027204A1 (zh)
JP (1) JP2002075849A (zh)
KR (1) KR20020018950A (zh)
DE (1) DE10143096A1 (zh)
GB (1) GB2367689A (zh)
TW (1) TW526522B (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2002103765A1 (ja) * 2001-06-18 2004-10-07 株式会社アドバンテスト 電子ビーム露光装置、電子ビーム露光方法、半導体素子製造方法、及び電子ビーム形状測定方法
US6768125B2 (en) 2002-01-17 2004-07-27 Ims Nanofabrication, Gmbh Maskless particle-beam system for exposing a pattern on a substrate
EP1482532A1 (en) * 2003-05-26 2004-12-01 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Gradient field deflector
GB2408383B (en) 2003-10-28 2006-05-10 Ims Nanofabrication Gmbh Pattern-definition device for maskless particle-beam exposure apparatus
JP5897888B2 (ja) 2011-12-07 2016-04-06 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子ビーム描画装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4086127A (en) * 1977-07-01 1978-04-25 Westinghouse Electric Corporation Method of fabricating apertured deposition masks used for fabricating thin film transistors
JPS56125832A (en) * 1980-03-07 1981-10-02 Hitachi Ltd Iris aperture for shaping in charged particle radiation device
JPS5875832A (ja) * 1981-10-30 1983-05-07 Fujitsu Ltd 荷電ビ−ム露光装置用の角形アパ−チヤ作成方法
JPH02295040A (ja) * 1989-05-10 1990-12-05 Hitachi Ltd 集束イオンビーム装置
JP2001244171A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Nikon Corp ビーム成形アパーチャ、ビーム成形アパーチャの製造方法、荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB2367689A (en) 2002-04-10
DE10143096A1 (de) 2003-03-27
KR20020018950A (ko) 2002-03-09
JP2002075849A (ja) 2002-03-15
US20020027204A1 (en) 2002-03-07
GB0121380D0 (en) 2001-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5641391B2 (ja) 電極を有するマルチビーム・デフレクタアレー装置の製造方法、マルチビーム・デフレクタアレー装置、及び、照射リソグラフィシステム。
US4742234A (en) Charged-particle-beam lithography
JP3206143B2 (ja) 荷電粒子ビーム露光方法
US20150311031A1 (en) Multi-Beam Tool for Cutting Patterns
CN102736438A (zh) 用于改善产量的电子束光刻系统和方法
EP0478215B1 (en) Reflection mask and electrically charged beam exposing apparatus using the reflection mask
JP3076570B2 (ja) 荷電粒子描画方法及び荷電粒子描画装置
US5770336A (en) Lithography mask and fabrication method thereof
TW526522B (en) Electron beam exposure apparatus, device for shaping a beam of charged particles and method for manufacturing the device
CA1238121A (en) Charged-particle-beam lithography
EP0035556B1 (en) Electron beam system
GB2041639A (en) Electron beam lithography
JP2555225B2 (ja) 荷電粒子露光用透過マスク
JP4150363B2 (ja) マルチ電子ビーム描画装置用デバイスの製造方法
JPH07297107A (ja) 多電極偏向器,その製造方法及び荷電粒子ビーム装置
US10340120B2 (en) Blanking aperture array, method for manufacturing blanking aperture array, and multi-charged particle beam writing apparatus
JP4076834B2 (ja) 偏向器、偏向器の製造方法、及び荷電粒子線露光装置
US6444399B1 (en) Methods for achieving reduced effects of overlayer and subfield-stitching errors in charged-particle-beam microlithography, and device manufacturing methods comprising such microlithography methods
JP4066636B2 (ja) 露光マスク、その製造方法、露光装置および露光方法
US8178280B2 (en) Self-contained proximity effect correction inspiration for advanced lithography (special)
TW529082B (en) Electron-beam exposure apparatus, electron-beam shaping member, and the manufacturing method of electron-beam shaping member
JP4673170B2 (ja) マルチ電子ビーム描画装置用デバイス及びその製造方法
US9343323B2 (en) Method of producing aperture member
JP2014033077A (ja) 貫通孔の形成方法
JP7359050B2 (ja) マルチビーム用のブランキング装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置