TW510124B - Method and apparatus for detecting and correcting an error of a device - Google Patents

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510124 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 B7 五、發明說明（！） [發明背景] 1. 發明之領域 本發明關於用於偵測及校正一裝置之錯誤的一種方法 及設備，特別關於供偵測及校正一裝置之錯誤的一種方法 及設備，其係能夠偵測用在影像顯示裝置中之水平/垂直處 理器之故障(malfunction)並且校正該裝置偵出之故障。 2. 習知枝術之說明 通常，在影像顯示裝置中用以偏轉一電子束之水平/垂 直處理器係正常以超過8V(伏特)之電源操作。 因此，如至電線之電源供應係由於靜電電壓或湧浪電 壓而變爲不穩定，水平/垂直處理器可予以重置以使暫存器 値轉換成預設狀態。 因此，自水平/垂直處理器之正常信號係不會被輸出， 且係致使損壞產品本身。 [本發明之槪述] 爲解決上述問題，本發明之一目的爲提供用以偵測及 校正裝置之錯誤的一種方法，其能夠偵測用在影像顯示裝 置中之水平/垂直處理器之故障，及校正該裝置偵出之故障 〇 本發明之另一目的爲提供用以偵測及校正一裝置之錯 誤的一種設備，其能夠偵測影像顯示裝置中之水平/垂直處 理器之故障，及校正該裝置偵出之故障。 爲達成上述目的，一種用於偵測及校正一裝置之錯誤 的方法包含下列步驟··⑴初始化此裝置；（ii)決定裝置是否 3 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ---1--------裝---—訂-----1 »^e_wi (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 510124 A7 ___ B7 五、發明說明（y) 已致動；（iii)若裝置已致動，設定一裝置之故障檢查之錯 誤檢查狀態；（iv)檢查裝置是否故障；（v)若裝置係正常致 動，返回步驟(iii);及(vi)若裝置係故障，返回步驟⑴。 爲達成上述目的，一種供偵測及校正一裝置之錯誤的 設備包含：一水平/垂直處理器，其操作以響應一時脈信號 及一自外部之資料信號，且響應於自外部之一垂直同步信 號而輸出一垂直遮沒(blanking)信號；一信號產生部份，自 外部輸入一電源’及輸出電源作爲垂直遮沒信號供錯誤偵 測之用，以響應垂直遮沒信號；及一微電腦，供檢查錯誤 偵測用之垂直遮沒信號是否根據預定之第一檢查參考時間 周期而產生，將錯誤偵測用之垂直遮沒信號與預定參考位 準相比較，根據比較之結果在第二檢查參考時間周期係可 變地計數供錯誤偵測之垂直遮沒信號，及初始化水平/垂直 處理器，或檢查錯誤偵測用之垂直遮沒信號是否已產生， 且係根據供一錯誤偵測之垂直遮沒信號之計數値是否大於 預定之參考計數値。 根據本發明，微電腦經常將由一裝置產生之垂直遮沒 信號與該裝置根據預定時間正常操作時產生之垂直遮沒信 號作比較，以便偵測出裝置是否故障。因此，一故障之裝 置可迅速轉換爲正常作業狀態，且由於裝置故障而引起之 產品損壞係可事先防止。 [圖式簡略說明] 本發明上述之目的及其他之優點，在詳述其較佳實施 例及參考所附圖式後，將可更爲明顯，其中： 4 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） — III — — —— — — — ---^-1111111 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 510124 A7 一 —._ B7 五、發明說明（v) 圖1爲一電路，顯示根據本發明一較佳實施例之供偵 測及校正一裝置錯誤之設備的架構； 圖2及圖3爲一流程圖，用以說明根據本發明之一實 施例之供偵測及校正一裝置錯誤的方法； 圖4爲一時序圖，用以說明根據本發明一實施例之供 偵測及校正一裝置錯誤的方法； 圖5爲一電路，顯示本發明之另一較佳實施例之供偵 測及校正一裝置錯誤的設備之架構·，及 圖6爲圖5各部份之波形圖。 [元件符號說明] 10微電腦 20水平/垂直處理器 3〇信號產生器 R1-R8電阻器 4〇開關驅動信號產生器 5〇錯誤偵測信號產生器 Q1-Q2電晶體 [較佳實施例之詳細說明] 此後，本發明之較佳實施例將參考附圖1-4予以詳細 說明。 圖1爲一電路，顯示一設備之結構，該設備係根據本 發明之一實施例，用以偵測及校正一裝置之錯誤。

如圖1所示，偵測及校正一裝置之錯誤之設備，具有 :一水平/垂直處理器20，以輸出一垂直遮沒信號V_BLK 5 j紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4^格（210 X 297公釐） — IIIIIIIII — - — — — —In ^ — — — — — — — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 510124 A7 B7 五、發明說明（年） (請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁) ;一信號產生器30，以輸出一垂直遮沒信號供錯誤偵測， 以響應一垂直遮沒信V^BLK ; —微電腦10，以檢查供錯 誤偵測之垂直遮沒信號是否已根據預定之第一檢查參考時 間周期輸出，根據預定參考位準與錯誤偵測之垂直遮沒信 號之比較結果，爲預定之第二檢查參考時間周期，可變地 計算供錯誤偵測之垂直遮沒信號之垂直遮沒時間，及根據 供錯誤偵測之垂直遮沒時間之計算値是否大於預定計算値 ，初始化水平/垂直處理器20，或檢查供錯誤偵測之垂直遮 沒信號是否係產生；第一電阻器R1、第二電阻器R2、第 三電阻器R3及第四電阻器R4。 此時，信號產生器30之一端具有一第五電阻器R5， 以輸入垂直遮沒信號V_BLK;另一端具有一第六電阻器 R6,以輸入某一位準之50V電源電壓；電晶體Q1之一基極 連接至第五電阻器R5，一射極連接至地，一集極連接至第 六電阻器R6 ;第七電阻器R7之一端連接至集極，第八電 阻器R8之一端連接至第七電阻器R 7之另一端，電阻器 R8之另一端連接至地。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 此處，如供錯誤偵測之垂直遮沒信號之位準係等於預 定之參考位準，微電腦1 0增加參考計數値，並計數供錯 誤偵測之垂直遮沒信號的垂直遮沒時間之計數値。 此外，如供錯誤偵測之垂直遮沒信號之位準係與預定 之參考位準不同，微電腦10降低參考計數値，並計數錯誤 偵測之垂直遮沒信號的垂直遮沒之計數値。 此處，第一及第二檢查參考時間週期係分別爲1ms及 6 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格(210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 510124 ___B7_______ 五、發明說明（< ) 100ms，參考位準爲一具有大於〇V之値之高位準，參考計 數値爲1。 此後，將參考圖1-4詳細說明偵測及校正裝置錯誤之 裝置之作業。 首先，如水平/垂直處理器20係由於時脈信號CLK及 自微電腦10之資料信號D而致動，垂直遮沒信號V_BLK 係自水平/垂直處理器20輸出，如圖4(A)所示。 因爲電晶體Q1在垂直遮沒信號VJBLK之低位準期間 關閉，供應至信號產生器30之50V之電壓係經由第六及 第七電阻器R6及R7而供應至微電腦1〇之水平/垂直偵測 埠H/V DET，作爲供錯誤偵測之垂直遮沒信號。 反之，由於電晶體Q1在垂直遮沒信號爲高位準期間 爲導通，加在信號產生器30之50V電壓係經由第六電阻 器R6及Q1之射極而施加至地。因此，一低位準信號係施 加至微電腦1〇之水平/垂直偵測璋。 其次，微電腦10以lms爲單位而計算供錯誤偵測之 垂直遮沒信號之垂直偵測時間，如圖4(C)所示°此時’ f 電腦10增加1，並計數供錯誤偵測之垂直遮沒信號之在筒 位準期間之垂直遮沒時間之計數値，而微電腦10 ^少' 1 ’ 並計數錯誤偵測之垂直遮沒信號之低位準期間之垂直遮、沒 時間之計數値。 如垂直遮沒信號V_BLK係因爲垂直/水平處理器1〇之 故障而未產生，如圖4(B)所示，微電腦10則繼續減少供 錯誤偵測用之垂直遮沒信號之垂直遮沒時間之S十數値1 ° 一__7__—____— 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ------------Aw ^ -----I ^ i I--I I I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 510124 A7 ---- B7 五、發明說明（ο 準此，如垂直遮沒時間之計數値已達“1”，微電腦10 決定垂直/水平處理器20故障，並重新設定水平/垂直處理 器20以便再啓動。 現在起，參考圖2-4說明本發明之實施例之方法，以 供偵測及校正一裝置之錯誤。 圖2及圖3爲流程圖，用以說明本發明之偵測及校正一 裝置錯誤之方法；圖4爲一時序圖，說明本發明之一實施 例之方法，用以偵測及校正一裝置之錯誤。 如圖2所示，微電腦10初始化水平/垂直處理器20(步 驟S100)。即，當微電腦10初始化水平/垂直處理器20時 ，一錯誤旗標(Error-Fg)、一錯誤檢查旗標(EirorCheck-Fg) 、及一垂直遮沒時間V_BLK_Time係被設定爲“0”。 其次，微電腦10決定水平/垂直處理器20是否啓動 (S200)，如未啓動，則微電腦10返回步驟200。 如水平/垂直處理器20已啓動，微電腦10係針對水平 /垂直處理器20之故障檢查而設定一錯誤檢查狀態（步驟 S300)。即，微電腦10設定錯誤檢查旗標Em>rCheck-Fg 至“1” 〇 此後，微電腦10檢查水平/垂直處理器20是否故障( 步驟S400)。如水平/垂直處理器20未故障，微電腦10返 回步驟300。如水平/垂直處理器20爲故障，微電腦1〇返 回步驟S100。此處，如水平/垂直處理器20爲故障，錯誤 旗標Error-Fg係設定爲“1”。 自現在起，將參考圖3說明檢查水平/垂直處理器20 8 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） Γ-------裝--------訂··-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 參_ 510124 Α7 Β7 五、發明說明（1) 之故障的方法。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 首先，微電腦10設定第一檢查參考時間，即一 lms 中斷，以便決定供錯誤偵測用之垂直遮沒信號是否已產生( 步驟S410)。 其次，如圖4(C)所示，微電腦10每一“lms”係計數錯 誤偵測用之垂直遮沒信號之垂直遮沒時間一次，以決定錯 誤偵測之垂直遮沒信號是否已產生(步驟S412)。 如錯誤偵測用之垂直遮沒信號尙未產生，微電腦10決 定水平/垂直處理器係未啓動。 準此，微電腦10設定錯誤檢查旗標ErrorCheck-Fg及 錯誤旗標Error-Fg爲“0”(步驟S414)，及設定垂直遮沒時間 V—BLK—Time 爲“100”(步驟 S416)。 如錯誤偵測用之垂直遮沒信號已產生，微電腦10設定 錯誤檢查狀態爲“1”，即供水平/垂直處理器20之故障檢查 的錯誤檢查旗標ErrorCheck-Fg(步驟S418)。 微電腦10決定是否錯誤檢查之垂直遮沒信號之現在位 準係與預定之參考位準爲相同(步驟S420)。此時，預定參 考位準係意謂著邏輯“1”，即一高位準。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 若供錯誤偵測用之垂直遮沒信號之現在位準係與高位 準相同，即預定之參考位準，微電腦10增加“1”，並在圖 4(C)所示之高位準期間Ή，計數供錯誤偵測用之垂直遮沒 信號之垂直遮沒時間之値(步驟S422)。 反之’若供錯誤偵測之垂直遮沒信號之現在位準係與 低位準不同，即與預定參考位準不同，微電腦10減少“1” 9 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 510124 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（f ) ，並在如圖4(C)所示之低位準期間L，計數供錯誤偵測之 垂直遮沒信號之垂直遮沒時間之計數値（步驟S424)° 如上所述，於微電腦1〇之垂直遮沒信號之垂直遮沒時 間之計數係在水平/垂直處理器20之致動期間繼續實施。 其次，微電腦決定供錯誤偵側之垂直遮沒信號之垂 直遮沒時間V_BLK_Time是否係大於參考計數値（步驟 S426)。此時，參考計數値爲“1”。 即，在供錯誤偵測之垂直遮沒信號之垂直遮沒時間 V_BLK_Time超過“1”以及第二檢查參考時間週期持續增加 超過“100”時，微電腦10決定水平/垂直處理器20爲未故 障，因爲，垂直遮沒時間V_BLK_Time之計數値超過“1” 係代表水平/垂直處理器20爲作業中，而並非未啓動’可 輸出一特殊信號。 反之，垂直遮沒時間V_BLK_Time之計數値係不大於 參考計數値“1”，則代表低位準信號係至少在第二檢查參考 時間週期“100ms”期間自水平/垂直處理器20所輸出。 準此，若供錯誤偵測之垂直遮沒信號之垂直遮沒時間 V_BLK_Time係大於參考計數値，微電腦10決定水平/垂 直處理器20爲於正常作業。 其次，微電腦10設定錯誤旗標Eiror-Fg爲“〇”(步驟 S430)，再返回步驟S410。 此外，若供錯誤偵測之垂直遮沒信號之垂直遮沒時間 V_BLK_Time係不大於參考計數値，微電腦10決定水平/ 垂直處理器20爲故障。 _ 10 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） I— I IAW ^ ----^---- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) # 510124 A7 ___ B7 五、發明說明（1) (請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁) 因此，微電腦10設定錯誤旗標Error-Fg爲“1”(步驟 S428)，設定垂直遮沒時間VJBLK_Time爲“100ms”，並返 回步驟S100。 根據本發明上述之供偵測及校正一裝置錯誤之方法及 設備，微電腦隨時將自裝置產生之垂直遮沒信號與裝置正 常操作時根據預定時間產生之垂直遮沒信號加以比較，以 便偵出裝置是否故障。 如上所述，本發明之實施例之一目的爲偵出水平/垂直 處理器之故障，及利用自水平/垂直處理器輸出之垂直遮沒 信號以校正故障。圖5爲一電路，顯示本發明另一實施例 之偵出及校正裝置錯誤之設備的結構，其中一微電腦檢查 12V電源供應線路之電壓位準，以決定水平/垂直處理器20 是否故障。 本發明之另一實施例，利用一水平/垂直處理器20a及 一作業放大器係經電線而備有12V之驅動電壓，以及水平/ 垂直處理器20a及作業放大器係設計使得12V之電壓位準 降至低於8V時即被重置。即，微電腦10a監視12V之電 源供應線，及在12V之電源供應線之電壓位準降至8V以 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 下時，經資料時脈線控制以重新致動水平/垂直處理器20a 〇 本發明之又一實施例係如上所述，並顯示於圖5中， 其包括：水平/垂直處理器20a ; —切換驅動信號產生器40 ，將電源線之電壓位準與由稽納二極體產生之參考電壓相 比較，以輸出一切換驅動信號，切換驅動信號產生器之一 11 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 510124 A7 B7 五、發明說明（） 負端點連接至12V電源線，切換驅動信號產生器之一正接 點連接至稽納二極體；一錯誤偵測信號產生器50，根據切 換驅動信號產生器40之切換驅動信號’輸出一高位準或低 位準之錯誤偵測信號；及一微電腦’用以初始化水平/ 垂直處理器以響應錯誤偵測信號，或檢查錯誤偵測信號是 否已產生。 錯誤偵測信號產生器50具有··一第九電阻器R9，用 以經由其一端輸入切換驅動信號；一第十電阻器Rl〇，用 以經由其一端輸入具有某一位準之5V電源；一電晶體Q2 ，其具有一基極連接至第九電阻器R9之另一端，一射極 連接至地，一集極連接至第十電阻器R10之另一端，第十 電阻器R10之一端連接至集極。 在具有上述結構之本發明實施例中，如圖6(A)所示， 在其輸出至連接於信號產生器40之負端點的正12V電源 線之電壓位準爲12V時，一負12V (參考圖6(B))係供應至 信號產生器40之輸出端點。 因此，切換裝置(即電晶體Q2)保持一關閉狀態，一高 位準錯誤偵測信號(參考圖6(C))係經由電阻器R10而輸入 至微電腦l〇a之端點E，且微電腦10a因此可偵出水平/垂 直處理器20a爲正常作業。 在輸出至連接於信號產生器40之負端點的12V電源 線之電壓位準係降至8V以下時(參考圖6(A))，12V之正電 壓係供應至信號產生器40之輸出端點，將經由電阻器R9 降至切換裝置(即電晶體Q2)之驅動電壓。 12 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） - -----I--I I IAW -ml — — — I I I I I I I (請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁) 510124 A7 _ B7 五、發明說明（) 因此，切換裝置Q2係經電阻器R9提供之驅動電壓而 導通，故施加在微電腦l〇a之5V電源係經第十電阻器Ri〇 及電晶體Q2之射極而流通至地。 準此，一低位準錯誤偵測信號(參考圖6(C))係輸入至 微電腦10之端點E，微電腦10a得知水平/垂直處理器20a 爲作業狀態，因此，初始化水平/垂直處理器20a以控制正 常作業之性能。 準此，一故障之裝置可迅速轉換爲正常作業狀態，並 可在事先防止由故障引起之產品損害，及穩定產品之品質 〇 雖然本發明之較佳實施例已如上述，精於此技藝人士 當可瞭解，本發明並不限於所述之較佳實施例，不同之修 改:及變化當屬可行，而不致有悖隨附申請專利範圍之本發 明的精神與範疇。 I. 1!_ t !|! eil —--I --- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適

Claims (1)

1. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 510124 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1. 一種用於偵測及校正裝置之錯誤的方法，包含下列 步驟： ⑴初始化該裝置； (ii) 決定裝置是否係致動； (iii) 若裝置係致動，設定供裝置故障檢查之一錯誤檢 查狀態； (iv) 檢查裝置是否係故障 (v) 若裝置係正常致動，返回步驟(iii);及 (vi) 若裝置係故障，則返回步驟⑴。 2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中之步驟(vi)包含 以下之子步驟： (vi-Ι)決定一同步信號是否係基於預定之第一檢查參考 時間而自該裝置所產生； (vi-2)若同步信號係未產生，返回子步驟(vM); (vi-3)若同步信號係產生，在預定之第二檢查參考時 間內，根據同步信號是否爲預定之參考位準而可變計數一 垂直遮沒時間； (vi-4)決定垂直遮沒時間之一計數値是否係大於一預定 參考計數値； (vi-5)若計數値係大於參考計數値，返回子步驟(vi-1) :及 (vi-6)若計數値係不大於參考計數値，則返回步驟⑴。 3. 如申請專利範圍第2項之方法，其中之子步驟(vi-3) 包括： 1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) _裝 n 一一I a—·· i·- 4 510124 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (a) 決定同步信號之位準是否係與預定參考位準相同； (b) 若同步信號之位準係與參考位準相同，增加參考計 數値’並計數垂直遮沒時間之計數値；及 (c) 若同步信號之位準係與參考位準不同，則減少參考 計數値’並計數垂直遮沒時間之計數値。 4·如申請專利範圍第2或3項之方法，其中第一及第 二檢查參考時間係分別爲1ms(毫秒)及l〇〇ms。 5·如申請專利範圍第2或3項之方法，其中該參考位 準爲大於0V(伏特)之高位準。 6·如申請專利範圍第2或3項之方法，其中該參考計 數値爲1。 7·—種用於偵測及校正裝置之錯誤的設備，包含： 一水平/垂直處理器，係操作以響應於一時脈信號及自 外部之一資料信號，及供輸出一垂直遮沒信號以響應於自 外部之一垂直同步信號； 一信號產生部，輸入來自外部之一電源，及響應於垂 直遮沒信號而供輸出該電源以作爲錯誤偵測之一垂直遮沒 信號；及 一微電腦，以檢查該錯誤偵測之垂直遮沒信號是否係 根據預定之第一檢查參考時間週期而產生，將錯誤偵測之 垂直遮沒信號與預定參考位準比較，根據比較結果而在第 二檢查參考時間週期可變計數該錯誤偵測之垂直遮沒信號 ，及初始化水平/垂直處理器或者檢查錯誤偵測之垂直遮沒 信號之計數値是否係大於預定之參考計數値。 2 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -------------------訂---------^^_wl (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 510124 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 8. 如申請專利範圍第7項之設備，其中之信號產生器 包括： 第一電阻器，以自其一端輸入垂直遮沒信號； 第二電阻器，以自其一端輸入某一位準之電源； 一電晶體，其一基極連接至第一電阻器之另一端，一 射極連接至地，且一集極連接至第二電阻器之另一端； 第三電阻器，其一端連接至集極；及 第四電阻器，其一端連接至第三電阻器，且其另一端 連接至地。 9. 如申請專利範圍第7項之設備，其中若供錯誤偵測 之垂直遮沒信號之位準係與預定之參考位準相同，該微電 腦增加參考計數値，並計數供錯誤偵測用之垂直遮沒信號 之計數値。 10. 如申請專利範圍第7項之設備，其中若供錯誤偵測 用之垂直遮沒信號之位準係與預定參考位準不同，該微電 腦減少參考計數値，並計數供錯誤偵測用之垂直遮沒信號 之計數値。 11. 如申請專利範圍第7項之設備，其中該第一及第二 檢查參考時間週期分別爲lms及100ms。 12. 如申請專利範圍第7項之設備，其中該參考位準爲 具有大於0V之高位準。 13. 如申請專利範圍第7項之設備，其中該參考計數値 爲1 〇 14. 一種用於偵測及校正裝置之錯誤的設備，包含： 3 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） --------—--------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 510124 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 一水平/垂直處理器，以某一位準之驅動電源之輸入而 作業； 一切換驅動信號產生部，以比較水平/垂直處理器之驅 動電源之電壓位準與一參考電壓位準而產生一切換驅動信 號； 一錯誤偵測信號產生部，在根據自切換驅動信號產生 部所輸出之切換驅動信號而作選擇性驅動時，產生一錯誤 偵測信號；及 一微電腦，根據錯誤偵測信號產生部所輸出之一錯誤 偵測信號，初始化水平/垂直處理器。 I1 2·如申請專利範圍第14項之設備，其中該錯誤偵測 信號產生部包括： 一第九電阻器，以自其一端輸入該切換驅動信號； 一第十電阻器，以自其一端輸入某位準之電源； 一電晶體，將其一基極連接至第九電阻器之另一端’ 一射極連接至地，一集極連接至第十電阻器之另一端，第 十電阻器之一端連接至集極。 16. 如申請專利範圍第14項之設備，其中該切換驅動 信號產生部係自其負端點而輸入一 A伏特之比較電壓，自 其正端點輸入B伏特之參考電壓，因而產生一正A伏特之 位準或者負A伏特之位準的切換驅動信號。 17. 如申請專利範圍第16項之設備，其中A伏特爲 12V，而B伏特爲8V。 (請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁) 一裝 n ϋ ϋ n I n I n i n ϋ - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 2 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）