TW471086B - Apparatus for testing semiconductor memory - Google Patents

Description

471086 五、發明說明（1) 發明 <發明之領域> 本發明係有關一錄 是關於-種半導體導體記憶體之測試裝^，更特別 加於記憶體元件的之測試裝置，該裝置藉由改變施 裝設環境下的準確二，因而可實作出記憶體元件在真實 的主機板進行測 統（如PC、網站電腦：狀態，此記憶體元件將使用電腦系 細或伺服器電腦等） 試0 <背景技藝說明>

I t Γ I ’在使用半導體記憶體的裝置，如SDRAM(同 二心^子取記憶體）、RAMBUS DRAM、或SRAM (靜態隨 二：ί °己憶體）中，為於裝置的組裝作業之後檢查内部電 %你’性或可靠性，已組裝的裝置將裝設於一插座上，然 ^ =特殊設備進行昂貴的半導體記憶體測試。

卿—=而，因為半導體記憶體測試裝置價格昂貴，故記憶 測武的成本增加。因此，公司的產品競爭力即降 在直^ ^ 由於記憶體元件係使用額外的裝置測試’而非 機枥見％境下進行測試，故不可能實作出吾人所需在PC主 境。上特有的使用環境，此為使用記憶體元件的真實環 通常=克服以上的問題，最近在半導體元件製造領域中， 之兩日=諸如？<：、工作站或词服器等實際使用半導體元件 弘⑽裝置的主機板進行測試。 在使用電腦裝置之主機板的方法中，吾人使用一插

471086 五、發明說明（2) =可分離的方式，在主機板上裝設—記憶體模組或_ 二=導體元件。吾人將欲測試的記憶體模組或單元記憶 ϊ = ί =壞然後操作電腦裝置’使吾人可犧 的兩=在上述方法中’由f腦裝置之電源供應單元提供 兄若施加的電壓改變，則測試結果可能會改變。 <發明之總論> 裝置因ΐ :明ΐ目的為提:共一種測試半導體記憶體的 1置可以克服以往技蟄中遭遇的問題。 本發明之另一目的為提供根據本 例的測試半導體記憶體 :=貫施 提供由電源供應單元供應的某與 憶體兀件之實際裝設環境的準確操作狀態:' 、、己 試裝ί達了-種半導體記憶體的測 ΓΡΠΓ Φ血疮I —包源控制杈組，用於根據來自主機板之 元的輸出ί 早：)二電源控制信號，以變更電源供應單 兀的：出電壓，並提供給半導體記憶體，以及 裝設於安裝在雷：3”’吾人將半導體記憶體 藉由將-電源“單元提供f，此裝置可 促仏的系電壓提供給該半導體記 第7頁 471086

憶體，而測試此半導體記憶體是否損壞。 電源控制模組包含一電源控制器， 板之CPU的電源控制信號，而將電源供 /根據來自主機 調整至某一位準範圍，並提供給半導俨:早凡的輸出電壓 接於電源控制器與半導體記憶體之間;;過;^二：，-連 以箝制過電流。 电机柑制早元， 為達成以上目的，吾人提供了一 具體實施例的半導體記憶體測試裝置，^ 务明之第二 控制佗號，以變更電源供應單元的某=

t體記憶體，以及-介面單元，用於將電源控： 機板的CPU提供給半導體記憶體之測試裝置中的電源控制 权組，吾人將半導體記憶體裝設於安裝在電腦裝置n搞 f上的插座之後，此裝置可藉由將一電源供應單元提供g ” 一電壓提供給該半導體記憶體，而測試此 是否損壞。 守k ‘匕月,

電源控制模組包含一電源控制器，用於根據來自主機 板之CPU的電源控制信號，而將電源供應單元的某一電壓 。周整至某一位準範圍，並提供給半導體記憶體，以及一連 接於電源控制器與半導體記憶體之間的過電流箝制單元， 以箝制過電流。 介面單元為ISA插槽類型、RS2 32連接器類型、並列通 訊琿類型、丁CI類型及一USB類型等組成之類型中的一種。 本發明的其他優點、目的與特性，從以下的描述中將

第8頁 471086 五、發明說明（4) 更為明顯。 <較佳具體實施例之詳細描述> 根據本發明之第一具體實施例的半導體記憶體測試贫 置’將參照附圖加以解釋。 攄也t第1圖所示’吾人提供一電源控制模組30 ’用於根 電腦主機板1之CPU(中央處理單元）的控制信號， ^正電源供應單兀的輸出電壓，並輸出至一裝設於主 將電ΙΛτΛ座Λ的半導體記憶體（未顯示），以及-用於 二I制彳5號伙主機板1的CPU施加至電源控制模組3〇 ，源控制模組30可透過介面單元4〇與插座2分離。 弟2圖顯示電源控制模組3 〇的詳細構造。 γρπ、ΛΓ處所示，吾人提供一電源控制器31，用於根據尸 制至介雷面单兀4〇輸入的電源控制信號，而輸出某—控< 雷；：源供應單元1〇，俾從電源供應單元輸出竿 亚將某-電壓提供給安裝於主機板Μ半導體出記某- 籍制翠元32,以保護電路免於受因短：二 流 而引起的過電流影響。 飞兀仵之錯块插入 电源控制益31包含一用於調整電源 電壓的A/D轉換器。A/D轉換器 有位應元早二之輪出 解析能力。 、另0诅兀或i Z位的 一拍St SO可能由—ISA插槽，或-RS232連接器，赤 、Γ t埠1或一根據連接狀態的USB構成。 ^ ^ Μ實施例的操# ’將參考第3圖的流 471086 五、發明說明（5) 程圖加以解釋。 首先’在步驟S10中’吾人將欲測試的半導體 _ 20裝設於插座内，以測試主機板}，並於步驟S2〇 ° 按鍵輸入單元（未顯示）設定測試模式，以及於步$用 中，開始測試半導體記憶體2〇，且主機幻⑽: 電源控制信號。 _ 系一 電源控制信號透過介面單元40輸人至電源控 在步驟S，S5"，電源控制器31輸出某—控：：； 給電源供應早兀1 0，因而輸出某一電壓。此時，恭^ = 器31使用具有某一解析度的A/D轉換器，將某一泰Μ工 至半導體記憶體20。 ι f _出 吾人使用A/D轉換器，將2, 9伏特〜3· 8伏特的命 (若未設定電壓，在正常使用者模式時使用3·3伏 半導體記憶體20内。若A/D轉換器為一具有8位元解， A/D轉換益，貝U2· 9伏特〜3· 8伏特的電壓範圍將根據。:、 2 56的位準輸出，使不同的電壓被輸出至半導體記憶體 此時，若發生短路狀況，或由於錯誤插入元件引起的 過電流，該過電流將被過電流箝制單元32所箝制，因而保 護了電路。 在步驟S60中’使用者可使用監視器（未顯示）頌示 半導體記憶體2 0的測試狀態，以檢查測試狀能。 ‘ 在本發明的第一具體實施例中’電源控制模组3〇透過 介面單元40接收到來自CPU的電源控制信號，且該信號被

471086 五、發明說明（6) 輸入到電源供應單元10，且 壓，柹锃苴一 Φ re j t 了卜、應早兀Hi W出某一電 ^传某f屋被施加於半導體記憶體20。 在本發明的第二具體實施例中， 一 電壓根據CPU施加的電源控制 Y原；、應早兀提供的 調整^半導體記憶體所需的^而在電源控制模組中 第4圖為一圖形，顯示根據本發明二且每 半導體記憶體測試用裝置的構造。所二aa例之 制模組30安裝於一電源供庫。。， 以處所不，一電源控 之間。 電源么、應早凡110與一半導體記憶體12〇 電源控制模組130透過介 制信號，並調整電源供應翠元11〇施加 回應…原控制信號’而提供給半導體記憶體⑵。 八電源控制模組130包含-電源控制器131，它根據透過 "面皁元140從CPU輸入的電泝批也丨产啤 據透i ，單元1】…认甘二 號’而改變從電源供 ^兀110轭加的某一電壓，並輪出至安裝於電腦裝 中的半導體記憶體12。，以及一具與電源控制哭131 =輸出端點連接的過電流箝制單元132，以保護電路；於 又由於短路或錯誤插入元件引起的過電流所影塑。 電源控制器131包含一A/D轉換器，並根據;主機板的 Γ單單元140提供的電源控制信號，而調整電源供 提供的某-電壓。此處’根據電路元件的構造 ΐί能力換器可能具有8位元的解析能力，或12位元的 介面單元140可能由一 ISA插槽，或一 RS232連接器，

471086 五、發明說明（7) 或一並行輸出埠，或一根據連接狀態的USB構成。 在根據本發明之弟二具體貫施例的半導體記憶體測試 裝置中，從電源供應單元11 〇輸入的電壓由電源控制模組 130直接調整，並輸出至半導體記憶體12〇。因此在本發明 的此一具體實施例中，可透過介面單元丨40，在電腦裝X置 中使用與本發明之第一具體實施例不同的外部類型。 一當電源控制模組1 30中，一電源控制信號透過介面單 兀140輸入CPU内時，電源控制模組丨3〇的電源 據電源控制信號，調整從電源供應單元11G輸人根 亚施加於半導體記憶體120。 供的電㈣整為某-位準，並輸出經過位準調整 電二;源供應單元110輸出12伏特的電壓，則當 电原控制^唬輸入，使得CPU ^幻田 憶體m時，電源控制器131會二3二：電？到半導體記 的12伏特電壓調整為3伏特，並輸出^胜應早兀110輸入 記憶體1 2 〇。 輸出3伏特的電壓到半導體 若因短路或錯誤插入單开 過電流箝制單元132箝制，因1過電流’過電流將被 —在本發明的第二具體實 '' 電路。 貫施例相同的操作將予省略。 〃本發明之第一具體 汝以上所述，於本發明中， 之插座中的半導體記憶體進 ^設於電腦裝置主機板 _ β隐體測試時，系統的電源 第12頁 471086 五、發明說明（8) 會根據主機 作出真實的 因此， 行記憶體元 應單元提供 導體記憶體 保護電路。 雖然本 予以揭示， 增添及取代 本發明之領 板的CPU施加的電源控制信號而改變，因而實 測試作業。 ' 在本發明中，吾人在使用電腦裝置的主機板進 件的測試作業時，可變更從電腦裝置之電源供 的電壓，並將其提供給記憶體元件，以增進半^ 測試的效能。此外，吾人亦可箝制過電流，以 ，明的較佳具體實施例，已基於闡釋之目的而 熟悉本技亦之人士將瞭解有各種可能的修改、 ’而不偏離如所附之申請專利範圍 列舉的 域與精神。

第13頁 471086 圖式簡單說明 第1圖為根據本發明的第一具體實施例的半導體記憶 體測試裝置，其構造的圖形； 第2圖為顯示第1圖中裝置之詳細構造的圖形； 第3圖為本發明之第一具體實施例的流程圖； 第4圖為本發明第2具體實施例之半導體記憶體測試用 裝置的構造示意圖。 <圖式中元件名稱與符號對照> I ··主機板 10:電源供應單元 « II 0 :電源供應單元 1 2 0 :半導體記憶體 1 3 0 :電源控制模組 1 3 1 :電源控制器 1 3 2 :過電流箝制單元 1 4 0 :介面單元 2 :插座

20 半 導 體 記 憶 體 30 電 源 控 制 模 組 31 電 源 控 制 器 32 過 電 流 箝 制 XjO 一 早兀 40 介 面 單 元 第14頁

Claims (1)

1. ^71080 案號 89119562 ^ 六、申請專利範圍 """^^~^---棒^卜/y修正 “ 1· -種半導體記憶體的測試裝 纪憶體裝設至安裝於電腦枣 β裝置寸^^導月豆 從一電源供；S單元接# Μ ^置之主機板上的插座之後，將 體，以測試半導體記憶體是$ 4σ γ 口通千V 屺=、 測試裝置包含·· 版疋否知壞，此種半導體記憶體的 一電源控制模組，用於舳 理單元）的電源^ $ 、根據來自主機板之CPU(中央處 元，以變更將一控制信號送至電源供應單 憶體；以及,、^ 70、輪出電壓，並提供給半導體記 !卢接^^機構’用於將來自主機板之⑽的電源控計 琥美供給電源控制模組； ^ ^ 1P J 1〇 其中該電源控制模組包含： 控制；；源ϊϋ機？ ’用於根據來自主機板之CPU的電源 單元之5出電▲:ί达f電源供應單元以調整電源供應 導體記憶體；以及，位準，並提供此已調整之電壓給半 ㈣：;;電；”機構，連接於電源控制機構與半導體記 U筱之間，用於箝制過電流。 么且/由如：Ϊ專利範圍第1項之裝置’、其中該電源控制模 :广由二可透過-介面機構，與主機板的插座分離的' 卡（card)所構成的。 ^ 3.=申請專利範圍第i項之裝置，其中該介 為.一ISA插槽類型、一 RS2 32連接器類型、一並^構T 類型、-m類型，或—USB類型等組成之類型中的阜 第15頁 471086

   --倐 if_ 4 ·—種半導體記憶體的測試裝置，該裝 =體裝設至安裝於電腦裝置之主機板上的插座：：導;; =5:原供應單元提供的某-電壓提供給該半導體記憶 租，以測試半導體記憶體是否此 測試裝置包含： 亍v妝忑口版的 理二、電源控制模組，用於根據來自主機板之CPU(中央處 早=)的電源控制信號’變更電源供應單元的輸出電 壓，亚k供給半導體記憶體；以及 ，提供1: t構，用於將來自主機板之CPu的電源控制信 就提ί、給電源控制模組； 其中該電源控制模組包含： - 护制r Π 2機構’用於根據來自主機板之cpu的電源 圍，並提供給半導體記憶體的=及屯 某一位準範 …ΐ電；箝制機構，連接於電源控制機構與半導體記 憶體之間，用於箝制過電流。 6 5·如申請專利範圍第4項之裝置，其中該電源 組相對於電腦裝置為一外部類型 、 八y、卫 、 收來自的電源控制信號"·.㈣於透過介面機構接 在一 m專利範圍第4項之裝置，其中該介面機構可 為一 ,ISA插4曰類型、一RS232連接器類型、一並行通訊埠 類型、-tci頰型，或一USB類型等組成之類型中的一種。