TW469464B - Field emission device having a surface passivation layer - Google Patents
Field emission device having a surface passivation layer Download PDFInfo
- Publication number
- TW469464B TW469464B TW089122092A TW89122092A TW469464B TW 469464 B TW469464 B TW 469464B TW 089122092 A TW089122092 A TW 089122092A TW 89122092 A TW89122092 A TW 89122092A TW 469464 B TW469464 B TW 469464B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- field emission
- emission device
- layer
- patent application
- dielectric layer
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/84—Traps for removing or diverting unwanted particles, e.g. negative ions, fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J21/00—Vacuum tubes
- H01J21/02—Tubes with a single discharge path
- H01J21/06—Tubes with a single discharge path having electrostatic control means only
- H01J21/10—Tubes with a single discharge path having electrostatic control means only with one or more immovable internal control electrodes, e.g. triode, pentode, octode
- H01J21/105—Tubes with a single discharge path having electrostatic control means only with one or more immovable internal control electrodes, e.g. triode, pentode, octode with microengineered cathode and control electrodes, e.g. Spindt-type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
- H01J3/021—Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source
- H01J3/022—Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source with microengineered cathode, e.g. Spindt-type
Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Description
469464 A7 B7 五、發明說明(1) 本申請已經在美國以專利申請號碼09/459,119,在 1999/12/10 申請。 發明領域 本發明與場發射裝置有關,更特定地説,與具有表面純 化層的場發射裝置有關。 發明背景 場發射裝置(FED's)在此領域是爲人所知的。在場發射 裝置中,電子從陰極發射且撞擊陽極釋放出氣體種類。發 射的電子也傾向於撞擊已經存在於場發射裝置的氣體種類 且形成帶正電的離子》在場發射裝置裡的離子係從陽極的 高正電位被排斥而導致撞擊陰極的部分。這些帶正電的離 子撞擊陰極的介電層部分可以在其中保留,導致正電位的 建立。正電位的建立一直持續到因爲介電材料的崩潰電愿_ 達到而使得介電層崩潰或是直到正電位太高以至於使電子 轉向且導致它們去撞擊介電層。離子也可能撞擊在場發射 裝置裡的電子發射極,導致發射極毁損和降低場發射裝置 的效能。 撞擊的離子也可能釋放在介電層裡陷住的氣體且因爲介 電層的化學游離而釋放氧。並且,撞擊的離子也會與介電 層裡的元素結合而產生額外的氣體,之後釋放它們至場發 射裝置。除此之外,撞擊的離子也可能撞擊金屬電極且從 塗在金屬電極上的氧化層釋放氣體,因此釋放氣體至場發 射裝置。在場發射裝置裡的其它表面是潛在的氣體來源也 是因爲撞擊電子的關係。 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
I .Jr^» n IT / n n -^-rej· n It ϋ I 1 I 4\ n n n n n n —I I 469464 A7 五、發明說明 2 參照圖式: ΑΜ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖1疋根據本發明且體余说办丨以 圖”姐π 例的場發射裝置剖面 圖2疋根據本發明另_ 共體實施例的場發射裝置剖面 具體實施例的場發射裝置剖面 圖4是根據本發明再— β 圖;及 舟aa實施例的%發射裝置剖面 圖5疋根據本發明再另—; 圖。 冉另具體實施例的場發射裝置剖面 I明詳細描诚 以n?具體實施例是爲了場發射裝置加入表面鈍化層 介電表面。本發明的具體實施例也可以加入 電何釋放層以移除沉積在介電表面上㈣荷。 的具體實㈣包括^表㈣化層於在場發躲置裡= 露介電表面上。 本發明有許多的優點’本發明的方法包括保護在場發射 置之中暴露的介電表面免於電子和離子的轟擊。表面鈍 化層1 9 0不受從撞擊離子造成的化學游離和相關的有害氣 體如氧等等的釋放的影響。這樣具有,防止因爲介電^料 圖; 圖3是根據本發明另 圖; -5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS>A4現格(210 X 297'公爱) 圖; (請先閱讀背面之注意事項再填窝本頁) -t— J 1 ----訂---- I n fc ·1 線 ---ι-ιιι-ί
I— I. I 4 6 9 46 4 A7 B7 五、發明說明(3) 崩潰而造成介電層崩溃的優點。這也具有,防止介電層的 化學游離和防止釋放陷住的氣體如〇2, H2〇,c〇,c〇2等等 逃離至場發射裝置的優點。這些氧化的氣體會導致場發射 裝置其它部分包括電子發射結構等等受到進—步的傷害。 同時,這些優點藉由防止裝置裡毁減性的弧形和電子發射 極衰減而延長場發射裝置的生命週期。本發明的另一優點 係爲由表面鈍化層陷住帶正電的離子,以減少在場發射裝 置裡殘餘的氣體負載。 圖1是與本發明具體實施例相符的場發射裝置剖面圖。 場發射裝置100包括基材110,其可由玻璃製造,如珍硼 酸鹽玻璃’矽等等 '場發射裝置尚包括多數的閘電極 150,其由介電層140而與陰極115隔開。 陰極115包括一層具傳導性的材料如鉬(ni〇lybdejmm), 其沉積在基材110上。介電層14〇,從介電材料如梦二氧 化物製造,電性地隔離閘電極i 5 〇和陰極i i 5。與閘電極 150隔開的是陽極180,其從具傳導性的材料製造,因此 定義了空隙區域165。空隙區域165通常消除至低於1〇-6陶 爾(Torr)的壓力。介電層14〇具有垂直表面145,其定義 發射井(well )160。多數的電子發射極i7〇各自沉積在發 射井160内且包括史賓特頂端(spin(jt tips)。介電層140也 包括主表面143。閘電極150沉積在主表面143的一部 份。介電層140的主表面143的剩餘部分暴露至空隙區域 16 5 = 在場發射裝置100操作期間,通常爲三級體(triode )操 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ί清电诏璜穿6之:i意事頃再嗔寫卷頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 t------------l·--l·---I! 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 9 4 6 4 A7 --------B7__________- 五、發明說明(4) 作,適當的電廢施予閘電極15〇,陰極115和陽極180, 用以選擇性地從電子發射極17〇擷取電子而導致他們被導 引至陽極180。典型的電壓組成包括在1〇〇_1〇,〇〇〇伏特範 園内的陽極電壓;在1〇_100伏特範園内的閘電極電壓;和 低於約1 〇伏特的陰極電位,通常爲電子的接地。發射的 電子撞擊陽極180,從該處釋放氣體種類β沿著從電子射 極170到陽極180的軌道,發射的電子也撞擊氣體種類, 有些是從陽極180產生的,·存在空隙區域165。在這樣的 万式下,帶正電的離子在空隙區域165裡產生,如圖】中 包圍的” + ”符號所指示' 當場發射裝置100加入場發射顯示之中,陽極18〇已 經在其上沉積了陰極發光的材料,當其接收電子的時,導 致發光。在刺激之時,普通的陰極發光材料易於釋放相當 多的氣體種類,其也易受電子轟擊的傷害而產生帶正電的 離子。在空隙區域165裡帶正電的離子從高正電位的陽 極18〇被排斥,如圖1的箭頭所指示而導致去撞擊 多數的閘電極150和介電層140的主表面143。那些撞 擊多數閘電極150的電子被釋放而形成閘電流;那些撞 擊介電層14〇的主表面143保留在其中,導致正電位的 建立。在主表面143上正電位建立—直持續到因爲介恭 材料崩溃電|的達成使得介電層14〇崩潰,其通常免 300-500伏特範園,或是持續到正電位太高而使電=轉2 (在圖1由箭頭175所指示)至介電層14〇 & 14 3。 王表面 本紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4規格咖x 297公愛) *— --------- (請先間讀背面之注意事頊再填寫本買> Ί------II 訂----------線- 4 6 9 4 6 4 A7 B7 五、發明說明(5) 根據本發明的具體實施例,表面鈍化層19〇形成在介電 層140的主表面143上。表面鈍化層19〇係從具有大於每 平方ίο6歐姆表面電阻(sheet resistance)的材料所製造。在 圖1的具體實施例中,表面鈍化層190可以從氮化物和可 忽略的氧化物含量製造,例如,鈕氮化物,鈕氮务化物 等,類鑽石的碳和由非氧化物形成的金屬和無氧化物表面. 的氮化物的結合,例如梦氮化物,銘氮化物等。然而,表 面電阻在上述範圍之内和具有合適的薄膜特性的任何材料 都可以使用。合適的薄膜特性包括,適當的黏著在介電層 140的主表面143和電阻,有助於隨後的處理步驟。 表面鈍化層190防止帶正電的離子和電子撞擊在介電層 140的王表面143上。這防止因爲介電材料崩溃而造成介 電層140的崩溃’防止在介電層陷住的氣體逃離且防止介 電層140的化學游離,其導致有害氣體釋放到場發射裝置 100。表面純化層]90把撞擊的帶正電離子犄在場發射裝 置100裡以減少剩餘的氣體負載且不受因撞擊離子而產生 的化學游離和相關有害氣體如氧等釋放的影響。另外,表 面純化層190防止撞擊的離子在介電層14〇中與元素結合 而產生其它的氣體。這些優點藉由減少在場發射装置1〇〇 裡的離子數目而延長場發射裝置的壽命和延長電子發射極 170因帶正電離子與電子發射極ι7〇碰撞,與之相關的下 降。 場發射裝置100的製造包括標準形成史賓特頂端場發射 裝置的方法和進一步包括加入沉積步驟,其中材料層包括 -8 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ' _ Ί ί ----- 訂--—---- - 線· 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 46946 4 A7 ___B7______ 五、發明說明(6 ) 表面鈍化層190,如钽氮化物,鈀氧氮化物,類鑽石的碳 等等,沉積在形成於陰極215上的介電層上。表面鈍化層 190可以藉由嘴濺法(sputtering)或是電漿輔助化學氣相沉 積法(PECVD )沉積,厚度在20-2000埃(angstroms )的範園 之内。標準沉積和圖案的技術可以利用以形成多數的閘電 極150,發射極井16 0和電子發射極170。 圖2是與本發明另一具體實施例相符的場發射裝置200 的剖面圖"圖2包括場發射裝置1 〇 〇 (圖1 )的元件,其參照 方式相似,都是以” 2 ”開頭。在此具體實施例中,表面趣 化層290的沉積是接著多數閘電極250形成之後且覆蓋多 數閘電極2 5 0而與多數閘電極2 5 0的邊緣對齊。舉例來 説,當表面鈍化層290以與形成發射極井相同的光罩順序 而蝕刻,其井邊緣就會對齊。在另一具體實施例中,表面 鈍化層2 9 0可以只覆蓋每個多數閘電極2 5 0的一部份。在 發射極井260蝕刻之後,表面鈍化層290可以藉由蒸發沉 積。這樣減少表面鈍化層290形成之後暴露的處理步驟。 由表面鈍化層290提供的一個優點係保護金屬電極不受撞 擊離子和相關的氣體釋放至場發射裝置200的影響。 圖3又是與本發明另一具體實施例相符的場發射裝置 3 0 0的剖面圖。圖3包括場發射裝置200(圖2)的元件,其 參照方式相似,都是以,,3 ”開頭。在此具體實施例中,場 發射裝置300尚包括電荷釋放層397,與本發明相符。電 荷釋放層397沉積在介電層340和表面鈍化層390之間β 表面純化層3 9〇其屬性允許傳導電流至其下面的電荷釋放 -9- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公楚) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Λ1--------訂--------·-線 I: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(7) 層397。由電荷釋放層397所提供的電子表面電阻預先決 定影響撞擊它的帶正電種類的傳導,因此阻止了場發射裝 置300操作期間,正表面電荷的累積。電荷釋放層397的 表面電阻可以很高以預防在閘電極35〇之間的短路和過度 的電力流失,同時還能傳導及釋放撞擊的電荷。 電何釋放層397是由表面電阻爲每平方ι〇9_ I2歐姆範園 内’厚度爲100-5000埃範園内的材料所製造的s它也可由 非晶矽,傳導的氧化物等所製造,然而,任何表面電阻在 上述範圍裡的材料都可以使用。表面鈍化層39〇和下面的 電荷釋放層397可以使用先前描述的光罩和蝕刻的技術加 以製造且兩個層可以覆蓋每個多數閘電極35〇的部分或是 全部。 圖4又是與本發明另一具體實施例相符的場發射裝置 4 0 0的剖面圖β圖4包括場發射裝置3 〇 〇 (圖3 )的元件,其 參照方式相似,都是以》4 ”開頭。在此具體實施例中,場 發射裝置400尚包括隔絕層498,與本發明相符。隔絕層 498沉積在介電層440和表面鈍化層490之間。因爲表面 純化層 4 9 0 在閘萃取電極(gate extraction electrodes) 4 5 〇 之 間並不提供歐姆接觸,它的表面電阻和厚度可以製成同時 當作表面鈍化層和電荷釋放層》表面電阻可以製造的比參 照圖1 - 3所描述的具體實施例還低。因此較廣範圍的材料 可以用於形成表面純化層490。舉例來説,在此具體實施 例中,表面鈍化層490的厚度可以在100-50,000埃的範園 之中且可以包含上述具體實施例中所引用的材料,和另外 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) -— I.---^------I — -C·-------訂--------線 V- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁). 469464 Δ7 B7 五、發明說明(8) 的材料包括,衲如’高貴金屬,無氧化物的金屬,例如, 金等等。本發明的具體實施例提供了鈍化介電層43〇的主 表面443和釋放過剩的電荷的益處,所有這些都是由—層 做到’潛在地減少了形成場發射裝置4 0 〇所需的製造步驟 數目。這也提供閘電極4 5 0之間非常低的漏電流的益處。 爲了把電荷釋放出場發射裝置400,表面鈍化層490獨立 地連接到接地電子接觸外部場發射裝置4 〇 〇,如圖4所 述。因此提供了給表面電荷的獨立傳導路徑《隔絕層498 可以從矽二氧化物,矽氮化物等等所製造,而電性地隔絕 表面鈍化層490和多數閘電極450。表面鈍化層490和下 面的隔絕層4 9 8可以使用先前描述的光罩和蝕刻的技術加 以製造且兩個層可以覆蓋每個多數閘電極350的部分或是 全部。 圖5又是與本發明另一具體實施例相符的場發射裝置 500的剖面圖。圖5包括場發射裝置400(圖4)的元件,其 參照方式相似.,都是以’’ 5 ”開頭。在此具體實施例中,場 發射裝置500尚包括電荷釋放層597,如圖3,除了電荷 釋放層597是沉積在介電層540的主表面543上的多數閘 電極550之下。表面鈍化層590沉積在電荷釋放層597和 多數閘電極5 5 0之上。表面鈍化層5 9 〇也可以沉積在每個 多數閘電極550的部分之上。 與本發明相符的場發射裝置可能包含其他除了史賓特頂 端之外的電子發射極。其它電子發射極包括,但不限制 於,邊緣發射極和表面/薄膜發射極。邊綠和表面發射極 -11·" 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ,.!--------訂---------線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 9 4 6 4 Α7 Β7 五、發明說明(9) 可以從場發射材料製造,如以碳爲基礎的薄膜包括類鑽石 的碳’非夕0EJ梦類赞石的碳,鐵石和链氮化物。所有在這 些場發射裝置的介電表面,其若不是被裝置的電極所覆 蓋,可能被表面鈍化層覆蓋,其與本發明相符,以保護介 電層,預防釋放氣體至介電層,且陷住轟擊帶正電離子。 同樣地,與本發明相符的場發射裝置可以包含除了三極體 之外的電極組成’如二極體和四極體。與本發明相符的表 面鈍化層也可形成在與電子發射極陣列中最外面的電子發 射極相鄰的介電層上;這些週邊的介電表面可能不包含裝 置電極的部分,但是他們仍然易受表面充電和從離子和電 子轟擊所造成介電崩潰的影響β 雖然我們已經顯示且描述本發明的特定具體實施例,但 是進一步的修改和改善將會發生在精通此領域的人士。所 以’希望大家能了解本發明並不限制於所顯示的特定形 式’我們企圖在增附的申請專利範園中涵蓋所有不與本發 明的精神和範圍背離的所有修改。 <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁> k·-------f 訂---I----線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Claims (1)
- 469464 AS B8 C8 D8 六、申請專利範圍 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 '1· 一種場發射裝置包括: 基材; 由基材所支撑的多數電子發射極,其中多數電子發射 择發射電子; 介電層沉積在基材上,其中介電層具有主表面且其中 主表面是相近地配置於多數電子發射極; 表面 '蛛化層沉積在介電層.的主表面上;且 陽極與基材間隔開且沉積以接收由多數電子發射極發 射的電子》 2. 如申請專利範.圍第1項之場發射裝置,進一步包括電荷 ..釋放層配置在介電層的主表面上,其中電荷釋放層配置 在介電層和表面純化層之間。 3. 如申請專利範園第丨項之場發射裝置 的表面電阻大於每平方1〇β+歐姆。 4. 如申請專利範園第1項之場發射裝置 由組氮化物組成。 5..如申請專利範園第1項之場發射裝置 由垣氧氮化物組成。 6. 如申請專利範圍第1項之場發射裝置 由類鑽石碳组成。 7. 如申請專利範圍第X項之場發射裝置 由矽氮化物组成。 8. 如申請專利範圍第1項之場發射裝置 由鋁氮化物組成。 其中表面純化層 其中表面鈍化層 其中表面鈍化層 其中表面鈍化層 其中表面純化層 其中表面鈍化層 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂: --線 -13- 本紙張尺度適用令國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐〉9.如申請專利範園第1項之場發射裝 _ I财衮置,進—步包括隔絕 層,其中隔絕屬沉積在介電層和表面純化層之間/ K).如申請專利範圍第9項之場發射裝置,其中表面純化層 由高貴金屬組成。 L1.如申請專利範園第9項之場發射裝置,其中表面鈍化層 由無氧化物金屬組成。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ·-----訂—— H ϋ n i. 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/459,119 US6373174B1 (en) | 1999-12-10 | 1999-12-10 | Field emission device having a surface passivation layer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW469464B true TW469464B (en) | 2001-12-21 |
Family
ID=23823486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW089122092A TW469464B (en) | 1999-12-10 | 2000-10-20 | Field emission device having a surface passivation layer |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6373174B1 (zh) |
EP (1) | EP1240658B1 (zh) |
AU (1) | AU8007200A (zh) |
DE (1) | DE60014161T2 (zh) |
TW (1) | TW469464B (zh) |
WO (1) | WO2001043156A1 (zh) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6369497B1 (en) * | 1999-03-01 | 2002-04-09 | Micron Technology, Inc. | Method of fabricating row lines of a field emission array and forming pixel openings therethrough by employing two masks |
US6469436B1 (en) * | 2000-01-14 | 2002-10-22 | Micron Technology, Inc. | Radiation shielding for field emitters |
US7622322B2 (en) * | 2001-03-23 | 2009-11-24 | Cornell Research Foundation, Inc. | Method of forming an AlN coated heterojunction field effect transistor |
JP2005085644A (ja) * | 2003-09-10 | 2005-03-31 | Hitachi Displays Ltd | 画像表示装置 |
CN1707724A (zh) * | 2004-06-07 | 2005-12-14 | 清华大学 | 场发射装置及其制造方法 |
CN1707725A (zh) * | 2004-06-11 | 2005-12-14 | 清华大学 | 场发射装置及其制造方法 |
US20060113888A1 (en) * | 2004-12-01 | 2006-06-01 | Huai-Yuan Tseng | Field emission display device with protection structure |
US20080126216A1 (en) * | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Mads Flensted-Jensen | Systems and methods for operating a business that provides telephony services to an enterprise |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4041316A (en) | 1974-09-20 | 1977-08-09 | Hitachi, Ltd. | Field emission electron gun with an evaporation source |
FR2580864B1 (fr) | 1984-12-18 | 1987-05-22 | Thomson Csf | Couche barriere au bombardement ionique pour tube a vide |
JPH01220393A (ja) * | 1988-02-26 | 1989-09-04 | Hitachi Maxell Ltd | 薄膜型エレクトロルミネセンス素子 |
WO1989009479A1 (fr) * | 1988-03-25 | 1989-10-05 | Thomson-Csf | Procede de fabrication de sources d'electrons du type a emission de champ, et son application a la realisation de reseaux d'emetteurs |
US5480748A (en) * | 1992-10-21 | 1996-01-02 | International Business Machines Corporation | Protection of aluminum metallization against chemical attack during photoresist development |
FR2702869B1 (fr) | 1993-03-17 | 1995-04-21 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif d'affichage à micropointes et procédé de fabrication de ce dispositif. |
US5717285A (en) | 1993-03-17 | 1998-02-10 | Commissariat A L 'energie Atomique | Microtip display device having a current limiting layer and a charge avoiding layer |
US5502348A (en) | 1993-12-20 | 1996-03-26 | Motorola, Inc. | Ballistic charge transport device with integral active contaminant absorption means |
US5594296A (en) | 1993-12-27 | 1997-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron source and electron beam apparatus |
US5442193A (en) | 1994-02-22 | 1995-08-15 | Motorola | Microelectronic field emission device with breakdown inhibiting insulated gate electrode |
DE69513581T2 (de) | 1994-08-01 | 2000-09-07 | Motorola Inc | Bogen-Unterdrückungsvorrichtung für eine Feldemissionsvorrichtung |
US5975975A (en) * | 1994-09-16 | 1999-11-02 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for stabilization of threshold voltage in field emission displays |
US6124179A (en) * | 1996-09-05 | 2000-09-26 | Adamic, Jr.; Fred W. | Inverted dielectric isolation process |
US5585301A (en) * | 1995-07-14 | 1996-12-17 | Micron Display Technology, Inc. | Method for forming high resistance resistors for limiting cathode current in field emission displays |
EP0896730B1 (en) | 1996-05-03 | 2003-03-26 | Micron Technology, Inc. | Shielded field emission display |
US5668437A (en) | 1996-05-14 | 1997-09-16 | Micro Display Technology, Inc. | Praseodymium-manganese oxide layer for use in field emission displays |
US5719406A (en) | 1996-10-08 | 1998-02-17 | Motorola, Inc. | Field emission device having a charge bleed-off barrier |
US5760535A (en) | 1996-10-31 | 1998-06-02 | Motorola, Inc. | Field emission device |
US5929560A (en) | 1996-10-31 | 1999-07-27 | Motorola, Inc. | Field emission display having an ion shield |
AU2661399A (en) | 1998-02-09 | 1999-08-23 | Advanced Vision Technologies, Inc. | Confined electron field emission device and fabrication process |
US6064149A (en) * | 1998-02-23 | 2000-05-16 | Micron Technology Inc. | Field emission device with silicon-containing adhesion layer |
US6108210A (en) * | 1998-04-24 | 2000-08-22 | Amerasia International Technology, Inc. | Flip chip devices with flexible conductive adhesive |
US6100195A (en) * | 1998-12-28 | 2000-08-08 | Chartered Semiconductor Manu. Ltd. | Passivation of copper interconnect surfaces with a passivating metal layer |
-
1999
- 1999-12-10 US US09/459,119 patent/US6373174B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-09-10 AU AU80072/00A patent/AU8007200A/en not_active Abandoned
- 2000-10-10 WO PCT/US2000/027997 patent/WO2001043156A1/en active IP Right Grant
- 2000-10-10 EP EP00970738A patent/EP1240658B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-10-10 DE DE60014161T patent/DE60014161T2/de not_active Expired - Fee Related
- 2000-10-20 TW TW089122092A patent/TW469464B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1240658A1 (en) | 2002-09-18 |
DE60014161T2 (de) | 2005-02-17 |
US6373174B1 (en) | 2002-04-16 |
AU8007200A (en) | 2001-06-18 |
WO2001043156A1 (en) | 2001-06-14 |
EP1240658B1 (en) | 2004-09-22 |
DE60014161D1 (de) | 2004-10-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7408236B2 (en) | Method for non-damaging charge injection and system thereof | |
US20160240584A1 (en) | High-performance radiation detectors and methods of fabricating thereof | |
TW469464B (en) | Field emission device having a surface passivation layer | |
TW385467B (en) | Charge dissipation field emission device | |
JPH10134701A (ja) | 電界放出デバイス | |
US3708418A (en) | Apparatus for etching of thin layers of material by ion bombardment | |
CN110970461A (zh) | Mram设备及其形成方法、和mram单元 | |
US11249585B2 (en) | Method of fabricating a substrate, substrate, electronic apparatus, display apparatus, and touch panel | |
US20030057825A1 (en) | Display device | |
US20150001671A1 (en) | Electric field gap device and manufacturing method | |
TW416079B (en) | Field emission display having an ion shield | |
US6924158B2 (en) | Electrode structures | |
JPS5878350A (ja) | 電界放出発生装置とその製造方法 | |
US5717285A (en) | Microtip display device having a current limiting layer and a charge avoiding layer | |
JP2001505355A (ja) | マイクロチップ支持体を通して観測可能なマイクロチップ電子源を備えたディスプレイスクリーンならびにマイクロチップ電子源の製造方法 | |
WO1994014182A1 (fr) | Procede de realisation sur silicium, de cathodes emissives a micropointes, pour ecran plat de petites dimensions, et produits obtenus | |
US6707108B2 (en) | Transient voltage suppressor structure | |
FR2698992A1 (fr) | Ecran plat à micropointes protégées individuellement par dipôle. | |
JP3213248B2 (ja) | 電界電子放出型サージ吸収素子の製造方法 | |
JPH04284325A (ja) | 電界放出型陰極装置 | |
KR20020072313A (ko) | 전계 방출 디스플레이 표면을 스크러빙 및 패시베이팅하는방법 | |
JP3405773B2 (ja) | 微小電界放出陰極装置およびその製造方法 | |
JPS5923875A (ja) | ドライエツチング方法 | |
JPH0950968A (ja) | 半導体素子製造方法および半導体素子 | |
JPH05315076A (ja) | 端面発光型el素子のピクセル形成方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |